WO2023127119A1 - 印刷物検査装置、印刷物検査方法、及びコンピュータ可読媒体 - Google Patents

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WO2023127119A1
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ovd
image
printed matter
inspection
template
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広太郎 村瀬
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日本電気株式会社
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G—PHYSICS
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    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined

Definitions

  • the present disclosure relates to a printed matter inspection device, a printed matter inspection method, and a computer-readable medium, and in particular, a printed matter inspection device, a printed matter inspection method, and a computer-readable medium for inspecting a printed matter having an OVD (Optical Variable Device) attached on a base material.
  • OVD Optical Variable Device
  • the inspection of printed matter is carried out in consideration of the printing process of the printed matter to be inspected and various factors that occur when imaging the printed matter.
  • the variation factors include position shift during printing and luminance value change due to reflection of illumination light during imaging.
  • masking setting outside the inspection target
  • the locations where these fluctuations may occur it is possible to perform the inspection without affecting the inspection accuracy.
  • OVD may be affixed to printed materials such as banknotes, securities, gift certificates, cash vouchers, cards, etc. for the purpose of preventing counterfeiting.
  • the shape of the OVD includes a circular shape as shown in FIG. 1, a rectangular shape, and the like.
  • the luminance value varies greatly due to reflection of illumination light during photographing. Therefore, as shown in FIG. 1, the OVD is masked in the printed matter inspection method according to the related art.
  • the OVD sticking position varies. Therefore, in the printed matter inspection method according to the related art, the area where the OVD may exist is also masked in consideration of the positional deviation of the OVD.
  • a defect may occur in a non-OVD area (hereinafter referred to as a dead zone area) of the mask area.
  • the area where OVD may exist is also masked.
  • defects within the dead zone are also masked, and there have been cases where defects within the dead zone cannot be detected.
  • Patent Document 1 an inspection method for inspecting a non-OVD dead zone area in a mask area is not disclosed.
  • an object of the present disclosure is to provide a printed matter inspection apparatus, a printed matter inspection method, and a computer-readable medium capable of inspecting a dead zone area other than OVD in a mask area in printed matter inspection. be.
  • a print inspection device includes: A printed matter inspection device for inspecting printed matter to which an OVD (Optical Variable Device) is attached, a matching template creation unit for creating a matching template image for specifying the OVD pasting position by template matching; Using the matching template image, the OVD pasting position in the image to be inspected obtained by photographing the printed matter is specified, the specified OVD pasting position is masked, and the OVD pasting position is masked.
  • a defect detection unit that detects defects in the inspection target image based on the difference image between the inspection target image and the inspection template image; Prepare.
  • a print inspection method includes: A printed matter inspection method performed by a printed matter inspection device for inspecting a printed matter to which an OVD (Optical Variable Device) is attached, a matching template creating step of creating a matching template image for specifying the OVD pasting position by template matching; Using the matching template image, the OVD pasting position in the image to be inspected obtained by photographing the printed matter is specified, the specified OVD pasting position is masked, and the OVD pasting position is masked.
  • a defect detection step of detecting a defect in the inspection target image based on a difference image between the inspection target image and the inspection template image; including.
  • a computer-readable medium comprises: A non-transitory computer-readable medium storing a program to be executed by a printed matter inspection device that inspects printed matter to which an OVD (Optical Variable Device) is attached, Said program a matching template creating step of creating a matching template image for specifying the OVD pasting position by template matching; Using the matching template image, the OVD pasting position in the image to be inspected obtained by photographing the printed matter is specified, the specified OVD pasting position is masked, and the OVD pasting position is masked. a defect detection step of detecting a defect in the inspection target image based on a difference image between the inspection target image and the inspection template image; including.
  • OVD Optical Variable Device
  • FIG. 5 is a diagram showing an example of an OVD pasting position, a mask area, and a dead zone area on a printed matter
  • FIG. 10 is a diagram showing an image example of positional deviation of OVD
  • FIG. 10 is a diagram showing an example in which a defect in a dead zone region cannot be detected by the printed matter inspection method according to the related art
  • 1 is a diagram illustrating a configuration example of a printed matter inspection apparatus according to Embodiment 1
  • FIG. FIG. 5 is a diagram showing an example of a method for creating a matching template image according to Embodiment 1; It is a figure which shows the example of the printed matter inspection method which concerns on related technology.
  • FIG. 5 is a diagram showing an example of an OVD pasting position, a mask area, and a dead zone area on a printed matter
  • FIG. 10 is a diagram showing an image example of positional deviation of OVD
  • FIG. 10 is a diagram showing an example in which a defect in a dead zone
  • FIG. 10 is a diagram illustrating an example of a method for creating a detection template image according to related technology
  • 4A and 4B are diagrams illustrating an example of a method for creating a detection template image according to the first embodiment
  • FIG. FIG. 3 is a diagram showing an example of a printed matter inspection method according to the first embodiment
  • FIG. 5 is a flowchart showing an example of the flow of matching template image creation processing, inspection template image creation processing, and inspection processing in the printed matter inspection apparatus according to the first embodiment
  • FIG. 10 is a diagram illustrating a configuration example of a printed matter inspection apparatus according to Embodiment 2
  • FIG. 11 is a diagram illustrating an example hardware configuration of a printed matter inspection apparatus according to a third embodiment
  • the printed matter inspection apparatus 10 can also inspect the non-OVD dead zone area among the mask areas according to the related art on the printed matter to be inspected. It is possible.
  • the printed matter inspection apparatus 10 includes a matching template creation device 11, an inspection template creation device 12, a defect detection device 13, an image input device 14, and a memory. a device 15;
  • the matching template creation device 11 is connected to the inspection template creation device 12, the defect detection device 13, and the storage device 15, and includes a calculation unit 111 and an image output unit 112.
  • the matching template creation device 11 creates a matching template image for specifying the OVD pasting position by template matching. As shown in FIG. 5, the matching template creation device 11 calculates the brightness value variance of each pixel in a plurality of learning OVD images, and selects a pixel having a relatively small brightness value variance compared to other regions. The image of the area (pattern) in which is gathered is used as the template image for matching.
  • the calculation unit 111 reads a plurality of learning OVD images stored in the storage device 15 in advance, and calculates luminance value variance of each pixel in the plurality of learning OVD images. After the brightness value variance of each pixel is calculated by the calculation unit 111, the image output unit 112 extracts a region in which pixels having a relatively small brightness value variance compared to other regions gather, and outputs the extracted region. image as a template image for matching.
  • the matching template image has a shape obtained by cutting out part of the pattern drawn in the OVD, and although it cannot be shown in a specific shape, it is shown in a star shape in FIG. 5 for the sake of simplicity.
  • a matching template image output from the matching template creation device 11 is input to the inspection template creation device 12 and the defect detection device 13 .
  • the inspection template creation device 12 is connected to the matching template creation device 11, the defect detection device 13, and the storage device 15, and includes an OVD position detection section 121, a calculation section 122, and an image output section 123. .
  • the inspection template creation device 12 creates an inspection template image for detecting defects in the image to be inspected.
  • the printed matter is inspected using the difference image between the image to be inspected and the inspection template image. If a defect exists on the printed matter, the defect can be detected because only the defective portion appears on the differential image.
  • the OVD in the mask area does not actually appear on the difference image, in order to show the positional relationship between the mask area, the OVD, and the defect, in FIGS. , the mask area and the OVD.
  • the inspection template creation device 12 creates an inspection template image from a plurality of learning normal paper images stored in the storage device 15 in advance.
  • the normal paper image for learning is a defect-free image in which it has been confirmed in advance that there is no defect on the base material of the printed matter except for the OVD and its surroundings.
  • the normal paper image for learning may be a defect-free image in which no defect exists on the base material of the printed material except for the mask area according to the related art.
  • the pixels in the area where the OVD may exist were not added to the inspection template image, including the dead zone area, in consideration of the positional deviation of the OVD.
  • the OVD pasting position can be identified by template matching using a matching template image. Therefore, in the first embodiment, as shown in FIG. 8, the pixels in the dead zone area of the mask area according to the related art can be added to the inspection template image (that is, mask area can be narrowed).
  • the OVD position detection unit 121 uses the matching template created by the matching template creation device 11 to identify the OVD pasting position for each of the plurality of normal learning papers.
  • the calculation unit 122 adds each pixel of the area excluding the OVD pasting position specified by the OVD position detection unit 121 to the inspection template image for each of the plurality of sheets of normal learning paper. Then, the calculation unit 122 calculates the average brightness value of each pixel in the area excluding the OVD pasting positions on the plurality of sheets of normal learning paper.
  • the image output unit 123 outputs an image obtained by overwriting each pixel of the inspection template image with the average brightness value of each pixel calculated by the calculation unit 122 as an inspection template image.
  • the inspection template image output from the inspection template creation device 12 is input to the defect detection device 13 .
  • the image input device 14 is connected to the defect detection device 13 and includes an imaging section 141 and an image output section 142 .
  • the image capturing unit 141 captures an image of a printed matter to be inspected.
  • the image output unit 142 outputs an image obtained by imaging by the imaging unit 141 as an image to be inspected.
  • the image to be inspected output from the image input device 14 is input to the defect detection device 13 .
  • the defect detection device 13 is connected to the matching template creation device 11, the inspection template creation device 12, and the image input device 14, and includes an OVD position detection section 131, an OVD mask setting section 132, and a defect difference calculation section 133. , and a determination unit 134 .
  • the defect detection device 13 detects defects in the image to be inspected.
  • the OVD position detection unit 131 uses the matching template image created by the matching template creation device 11 to identify the OVD pasting position in the image to be inspected.
  • the OVD mask setting unit 132 performs mask processing limited to the OVD based on the position information of the OVD sticking position specified by the OVD position detection unit 131 .
  • the defect difference calculation unit 133 calculates a difference image between the inspection template image created by the inspection template creation device 12 and the inspection target image in which the OVD pasting position is masked by the OVD mask setting unit 132 .
  • the determination unit 134 determines whether or not a defect exists in the inspection target image based on the difference image calculated by the defect difference calculation unit 133 .
  • the area where the OVD may exist (the mask area according to the related technology) is masked in consideration of the positional deviation of the OVD.
  • the OVD pasting position in the image to be inspected can be identified. Therefore, in Embodiment 1, since it is possible to mask only the OVD, a wide-range mask in consideration of the positional deviation of the OVD is not required. As a result, it becomes possible to inspect even the dead zone area of the mask area according to the related art.
  • the matching template creation device 11 inputs a plurality of learning OVD images read from the storage device 15 and develops them on a memory (not shown) (S101). .
  • the OVD image for learning read here needs to have the OVD and its surrounding area cut out, and the position of the OVD needs to be aligned in advance between a plurality of OVD images for learning. be.
  • the matching template creation device 11 calculates the brightness value of each pixel in each of the plurality of learning OVD images input in S101, and calculates the brightness value of each pixel. is added to the memory array corresponding to each pixel in the learning OVD image (S102).
  • the matching template creation device 11 calculates the brightness value variance of each pixel based on the brightness value of each pixel stored in the array on the memory (S103). .
  • the matching template creation device 11 extracts an area having relatively small luminance value variance compared to other areas from the areas on the learning OVD image (S104).
  • the matching template creation device 11 outputs the image of the region with small luminance value variance extracted in S104 to the inspection template creation device 12 and the defect detection device 13 as a matching template image (S105). .
  • the inspection template creation device 12 inputs a plurality of learning normal paper images read from the storage device 15 and develops them in a memory (not shown) (S111). ).
  • the learning normal paper image read here must be an image in which it has been confirmed in advance that there is no defect on the base material of the printed matter except for the OVD and its surroundings.
  • the inspection template creation device 12 reads the matching template image created by the matching template creation device 11 (S112).
  • the inspection template creation apparatus 12 uses the matching template image read in S112 for each of the plurality of normal paper images for learning input in S111, and affixes them to the normal paper images for learning.
  • the OVD pasting position is specified by template matching (S113).
  • the inspection template creation device 12 calculates the luminance value of each pixel in the area on the learning normal paper image excluding the OVD pasting position specified in S113, and calculates the luminance value of each pixel. is added to the memory array corresponding to each pixel in the learning normal paper image (S114). In other words, the luminance values of pixels at the same position are added up between a plurality of learning normal paper images.
  • the processing of S113 and S114 is performed for the input number of normal paper images for learning j (j is an integer equal to or greater than 2).
  • the inspection template creation device 12 repeats the OVD pasting position specifying process and the brightness value addition process for the number of inputs, and then converts the brightness value of each pixel stored in the array on the memory into a learning normal.
  • the inspection template creation device 12 By dividing by the number of input paper images, the average luminance value of each pixel is calculated (S115). However, normally, the number of added normal paper images for learning (input number) differs for each pixel. Therefore, it should be noted that the divisor is also different for each pixel.
  • the inspection template creation device 12 overwrites each pixel of the inspection template image with the average luminance value of each pixel stored in the array on the memory (S116), and the inspection template image is transferred to the defect detection device 13. (S117).
  • the defect detection device 13 develops the image to be inspected input from the image input device 14 on the memory (S121).
  • the defect detection device 13 reads the matching template image created by the matching template creation device 11 (S122).
  • the defect detection device 13 uses the matching template image read in S122 to identify the pasting position of the OVD pasted on the inspection target image by template matching (S123).
  • the defect detection device 13 does not perform subsequent processing. Possible reasons for the low matching score include that the OVD is not attached on the printed matter, part of the attached OVD is missing, and the OVD is misaligned beyond the amount of misalignment that can normally occur. , all of these events are due to defects in the OVD itself. An image to be inspected in which the OVD itself has a defect is excluded from the inspection in the first embodiment. It should be noted that the above numerical value of 95% of the matching score is only an example and is not limited to this numerical value.
  • the defect detection device 13 places a mask on the OVD pasting position specified in S123, and sets the area where the mask is placed as a non-inspection area (S124).
  • the defect detection device 13 reads the inspection template image created by the inspection template creation device 12 (S125), and in S124 calculates a difference image between the inspection target image in which the mask is arranged and the inspection template image. (S126). If defects are present in the image to be inspected, only the defects appear in the difference image. Therefore, the defect detection device 13 inspects the difference image including the dead zone area (S127). If there is an area in which a difference exceeding a predetermined shape or size is detected on the difference image, that area becomes a defect candidate.
  • the matching template creation device 11 creates a matching template image for specifying the pasting position of the OVD by template matching.
  • the defect detection device 13 uses the matching template image to specify the OVD pasting position in the inspection target image, masks the specified OVD sticking position, and compares the inspection target image with the masked OVD sticking position to the inspection target image. Defects in the image to be inspected are detected based on the difference image from the template image for inspection.
  • the defect detection device 13 can specify the OVD pasting position in the inspection target image using the matching template image. Therefore, since it is possible to mask only the OVD, it is not necessary to use a wide-range mask in consideration of the positional deviation of the OVD. As a result, it becomes possible to inspect even the dead zone area of the mask area according to the related art.
  • the matching template creation device 11 calculates the brightness value variance of each pixel in a plurality of learning OVD images, and uses the image of the region with relatively small brightness value variance as compared to other regions for matching. Create as a template image.
  • the inspection template creation apparatus 12 uses the matching template image for each of the plurality of learning normal paper images to identify the OVD pasting position, and creates a plurality of learning normal paper images.
  • the inspection template image is obtained by calculating the average brightness value of each pixel in the area other than the OVD pasting position in the normal paper image, and overwriting each pixel in the inspection template image with the calculated average brightness value of each pixel. to create
  • the inspection template creation device 12 can specify the OVD pasting position on each of the plurality of learning normal paper images using the matching template image. Therefore, it is possible to add the pixels of the dead zone area in the mask area according to the related technology to the inspection template image. This makes it possible to create an inspection template image that can be used for inspection by the defect detection device 13 .
  • the printed matter inspection apparatus 20 includes a matching template creation unit 21 and a defect detection unit 22.
  • a printed matter inspection apparatus 20 according to the second embodiment is an apparatus for inspecting a printed matter to which an OVD is attached.
  • the matching template creation unit 21 creates a matching template image for specifying the OVD pasting position by template matching.
  • the defect detection unit 22 uses the matching template image to identify the OVD pasting position in the inspection target image obtained by photographing the printed matter to be inspected, masks the identified OVD pasting position, and detects the OVD. Defects in the inspection image are detected based on the difference image between the inspection template image and the inspection template image in which the pasting position is masked.
  • the defect detection unit 22 can specify the pasting position of the OVD in the image to be inspected using the matching template image. Therefore, since it is possible to mask only the OVD, it is not necessary to use a wide-range mask in consideration of the positional deviation of the OVD. As a result, it becomes possible to inspect even the dead zone area of the mask area according to the related art.
  • the matching template creation unit 21 calculates the brightness value of each pixel in each of the plurality of learning OVD images, and calculates the brightness of each pixel in each of the plurality of learning OVD images. Based on the values, the brightness value variance of each pixel is calculated, an area with relatively small brightness value variance compared to other areas is extracted, and the image of the extracted area is created as a matching template image.
  • each of the plurality of OVD images for learning is an image in which a region including the OVD and its surroundings is cut out, and the position of the OVD is aligned between the plurality of OVD images for learning. Also good.
  • the printed matter inspection apparatus 20 may further include an inspection template creation unit that creates an inspection template image.
  • the inspection template creation unit uses the matching template image for each of the plurality of normal paper images for learning to specify the pasting position of the OVD in the normal paper image for learning, and pastes the specified OVD.
  • the brightness value of each pixel in the region other than the position is calculated, and the average brightness value of each pixel is calculated based on the brightness value of each pixel in the region other than the OVD pasting position in each of the plurality of normal paper images for learning.
  • the inspection template image may be created by overwriting each pixel in the inspection template image with the calculated average luminance value of each pixel.
  • the inspection template creating section can identify the OVD pasting position in each of the plurality of learning normal paper images using the matching template image. Therefore, it is possible to add the pixels of the dead zone area in the mask area according to the related technology to the inspection template image. This makes it possible to create an inspection template image that can be used for inspection by the defect detection unit 22 .
  • Each of the plurality of normal paper images for learning may be an image in which it is confirmed that there are no defects in areas other than the OVD and its surroundings.
  • the printed matter inspection apparatus 30 according to the third embodiment includes a processor 31 and a memory 32. As shown in FIG. 12, the printed matter inspection apparatus 30 according to the third embodiment includes a processor 31 and a memory 32. As shown in FIG. 12, the printed matter inspection apparatus 30 according to the third embodiment includes a processor 31 and a memory 32. As shown in FIG. 12, the printed matter inspection apparatus 30 according to the third embodiment includes a processor 31 and a memory 32. As shown in FIG. 12, the printed matter inspection apparatus 30 according to the third embodiment includes a processor 31 and a memory 32. As shown in FIG.
  • the processor 31 may be, for example, a microprocessor, MPU (Micro Processing Unit), or CPU (Central Processing Unit). Processor 31 may include multiple processors.
  • the memory 32 is configured by a combination of volatile memory and nonvolatile memory.
  • Memory 32 may include storage located remotely from processor 31 .
  • the processor 31 may access the memory 32 via an I (Input)/O (Output) interface (not shown).
  • the printed matter inspection apparatuses 10 and 20 according to the first and second embodiments described above can have the hardware configuration shown in FIG.
  • a program is stored in the memory 32 .
  • This program includes a group of instructions (or software code) that, when read into a computer, cause the computer to perform one or more of the functions described in Embodiments 1 and 2 above.
  • the constituent elements of the printed matter inspection apparatuses 10 and 20 described above may be implemented by the processor 31 reading and executing a program stored in the memory 32 . Further, the storage function provided by the components of the printed matter inspection apparatuses 10 and 20 described above may be realized by the memory 32 .
  • the above-described program may be stored in a non-transitory computer-readable medium or a tangible storage medium.
  • computer readable media or tangible storage media may include random-access memory (RAM), read-only memory (ROM), flash memory, solid-state drives (SSD) or other memory technology, CDs - ROM, digital versatile disc (DVD), Blu-ray disc or other optical disc storage, magnetic cassette, magnetic tape, magnetic disc storage or other magnetic storage device.
  • the program may also be transmitted on a transitory computer-readable medium or communication medium.
  • transitory computer readable media or communication media include electrical, optical, acoustic, or other forms of propagated signals.

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Abstract

本開示は、ＯＶＤが貼付された印刷物を検査する印刷物検査装置（２０）に関する。印刷物検査装置（２０）は、ＯＶＤの貼付位置をテンプレートマッチングにより特定するためのマッチング用テンプレート画像を作成するマッチング用テンプレート作成部（２１）と、マッチング用テンプレート画像を用いて、印刷物を撮影して得られた検査対象画像におけるＯＶＤの貼付位置を特定し、特定されたＯＶＤの貼付位置をマスクし、ＯＶＤの貼付位置がマスクされた検査対象画像と検査用テンプレート画像との差分画像に基づいて、検査対象画像における欠陥を検出する欠陥検出部（２２）と、を備える。

Description

印刷物検査装置、印刷物検査方法、及びコンピュータ可読媒体
　本開示は、印刷物検査装置、印刷物検査方法、及びコンピュータ可読媒体に関し、特に、基材上にＯＶＤ（Optical Variable Device）が貼付された印刷物を検査する印刷物検査装置、印刷物検査方法、及びコンピュータ可読媒体に関する。
　印刷物の検査は、検査対象とする印刷物の印刷工程や、印刷物の撮像時に生じる様々な変動要因を考慮して実施されている。例えば、変動要因としては、印刷時の位置ずれや撮像時の照明光反射による輝度値変化等がある。印刷物の検査では、これらの変動が起こりえる場所をマスク（検査対象外に設定）することで、検査精度に影響を与えずに検査を行うことを可能としている。
　また、印刷物の中でも、銀行券、有価証券、商品券、金券類、カード類等の印刷物上には、偽造防止を目的として、ＯＶＤが貼付される場合がある。ＯＶＤの形状には、図１に示されるような円形状のものや長方形のもの等がある。しかし、ＯＶＤは、その形状にかかわらず、その光学的特性から撮影時の照明光反射による輝度値変化が激しい。そのため、図１に示されるように、関連技術に係る印刷物検査方法では、ＯＶＤがマスクされる。また、図２に示されるように、ＯＶＤの貼付位置にはバラつきがある。そのため、関連技術に係る印刷物検査方法では、ＯＶＤの位置ずれを考慮して、ＯＶＤが存在しうる領域もマスクされてきた。
特許第４７５３１８１号公報
　しかし、マスク領域のうちＯＶＤでない領域（以下、不感帯領域と称す）に欠陥が生じる場合がある。上記したような関連技術に係る印刷物検査方法では、ＯＶＤが存在しうる領域もマスクされてしまう。そのため、図３に示されるように、不感帯領域内の欠陥もマスクされてしまうため、不感帯領域内の欠陥を検出できない場合があった。ＯＶＤの検査方法については開示されているが（例えば、特許文献１）、マスク領域のうちＯＶＤではない不感帯領域を検査する検査方法については開示されていない。
　そこで本開示の目的は、上述した課題を鑑み、印刷物検査において、マスク領域のうちＯＶＤではない不感帯領域を検査することが可能な印刷物検査装置、印刷物検査方法、及びコンピュータ可読媒体を提供することにある。
　一態様による印刷物検査装置は、
　ＯＶＤ（Optical Variable Device）が貼付された印刷物を検査する印刷物検査装置であって、
　ＯＶＤの貼付位置をテンプレートマッチングにより特定するためのマッチング用テンプレート画像を作成するマッチング用テンプレート作成部と、
　前記マッチング用テンプレート画像を用いて、前記印刷物を撮影して得られた検査対象画像におけるＯＶＤの貼付位置を特定し、特定されたＯＶＤの貼付位置をマスクし、ＯＶＤの貼付位置がマスクされた前記検査対象画像と検査用テンプレート画像との差分画像に基づいて、前記検査対象画像における欠陥を検出する欠陥検出部と、
　を備える。
　一態様による印刷物検査方法は、
　ＯＶＤ（Optical Variable Device）が貼付された印刷物を検査する印刷物検査装置が行う印刷物検査方法であって、
　ＯＶＤの貼付位置をテンプレートマッチングにより特定するためのマッチング用テンプレート画像を作成するマッチング用テンプレート作成ステップと、
　前記マッチング用テンプレート画像を用いて、前記印刷物を撮影して得られた検査対象画像におけるＯＶＤの貼付位置を特定し、特定されたＯＶＤの貼付位置をマスクし、ＯＶＤの貼付位置がマスクされた前記検査対象画像と検査用テンプレート画像との差分画像に基づいて、前記検査対象画像における欠陥を検出する欠陥検出ステップと、
　を含む。
　一態様によるコンピュータ可読媒体は、
　ＯＶＤ（Optical Variable Device）が貼付された印刷物を検査する印刷物検査装置に実行させるプログラムが格納された非一時的なコンピュータ可読媒体であって、
　前記プログラムは、
　ＯＶＤの貼付位置をテンプレートマッチングにより特定するためのマッチング用テンプレート画像を作成するマッチング用テンプレート作成ステップと、
　前記マッチング用テンプレート画像を用いて、前記印刷物を撮影して得られた検査対象画像におけるＯＶＤの貼付位置を特定し、特定されたＯＶＤの貼付位置をマスクし、ＯＶＤの貼付位置がマスクされた前記検査対象画像と検査用テンプレート画像との差分画像に基づいて、前記検査対象画像における欠陥を検出する欠陥検出ステップと、
　を含む。
　上述の態様によれば、印刷物検査において、マスク領域のうちＯＶＤではない不感帯領域を検査することが可能な印刷物検査装置、印刷物検査方法、及びコンピュータ可読媒体を提供できるという効果が得られる。
印刷物におけるＯＶＤの貼付位置、マスク領域、及び不感帯領域の例を示す図である。 ＯＶＤの位置ずれのイメージ例を示す図である。 関連技術に係る印刷物検査方法では、不感帯領域内の欠陥を検出できない例を示す図である。 実施の形態１に係る印刷物検査装置の構成例を示す図である。 実施の形態１に係るマッチング用テンプレート画像の作成方法の例を示す図である。 関連技術に係る印刷物検査方法の例を示す図である。 関連技術に係る検出用テンプレート画像の作成方法の例を示す図である。 実施の形態１に係る検出用テンプレート画像の作成方法の例を示す図である。 実施の形態１に係る印刷物検査方法の例を示す図である。 実施の形態１に係る印刷物検査装置におけるマッチング用テンプレート画像の作成処理、検査用テンプレート画像の作成処理、及び、検査処理の流れの例を示すフローチャートである。 実施の形態２に係る印刷物検査装置の構成例を示す図である。 実施の形態３に係る印刷物検査装置のハードウェア構成例を示す図である。
　以下、図面を参照して本開示の実施の形態について説明する。なお、以下の記載及び図面は、説明の明確化のため、適宜、省略及び簡略化がなされている。また、以下の各図面において、同一の要素には同一の符号が付されており、必要に応じて重複説明は省略されている。
＜実施の形態１＞
　本実施の形態１に係る印刷物検査装置１０は、図１に示されたように、検査対象の印刷物上の、関連技術に係るマスク領域のうち、ＯＶＤではない不感帯領域についても、検査することが可能である。
　まず、図４を参照して、本実施の形態１に係る印刷物検査装置１０の構成例について説明する。図４に示されるように、本実施の形態１に係る印刷物検査装置１０は、マッチング用テンプレート作成装置１１と、検査用テンプレート作成装置１２と、欠陥検出装置１３と、画像入力装置１４と、記憶装置１５と、を備える。
　マッチング用テンプレート作成装置１１は、検査用テンプレート作成装置１２、欠陥検出装置１３、及び記憶装置１５と接続されており、演算部１１１と、画像出力部１１２と、を備える。マッチング用テンプレート作成装置１１は、ＯＶＤの貼付位置をテンプレートマッチングにより特定するためのマッチング用テンプレート画像を作成する。マッチング用テンプレート作成装置１１は、図５に示されように、複数枚の学習用ＯＶＤ画像における各画素の輝度値分散を算出し、他の領域と比較して相対的に輝度値分散の小さい画素が集まった領域（図柄）の画像をマッチング用テンプレート画像とする。演算部１１１は、あらかじめ記憶装置１５に記憶された複数枚の学習用ＯＶＤ画像を読み込み、複数枚の学習用ＯＶＤ画像における各画素の輝度値分散を算出する。画像出力部１１２は、演算部１１１により各画素の輝度値分散が算出された後に、他の領域と比較して相対的に輝度値分散の小さい画素が集まった領域を抽出し、抽出された領域の画像をマッチング用テンプレート画像として出力する。ここで、マッチング用テンプレート画像は、ＯＶＤ内に描かれた図柄の一部を切り取った形状となり、特定の形状で示せるものではないが、図５では簡単のため星形で示している。マッチング用テンプレート作成装置１１から出力されたマッチング用テンプレート画像は、検査用テンプレート作成装置１２及び欠陥検出装置１３に入力される。
　検査用テンプレート作成装置１２は、マッチング用テンプレート作成装置１１、欠陥検出装置１３、及び記憶装置１５と接続されており、ＯＶＤ位置検出部１２１と、演算部１２２と、画像出力部１２３と、を備える。検査用テンプレート作成装置１２は、検査対象画像における欠陥を検出するための検査用テンプレート画像を作成する。
　印刷物の検査は、図６に示されるように、検査対象画像と検査用テンプレート画像との差分画像を用いて実施される。印刷物上に欠陥が存在した場合は、欠陥部分のみが差分画像上に現れるため、欠陥を検出できる。ここで、実際には、差分画像上にマスク領域内のＯＶＤは現れないが、マスク領域とＯＶＤ及び欠陥との位置関係を示すために、図６、上述の図３、及び後述の図９では、マスク領域及びＯＶＤを図示している。
　検査用テンプレート作成装置１２は、あらかじめ記憶装置１５に記憶された複数枚の学習用正常紙画像から検査用テンプレート画像を作成する。学習用正常紙画像は、あらかじめＯＶＤ及びその周囲を除く印刷物の基材上に欠陥が存在しないことを確認された無欠陥の画像である。例えば、学習用正常紙画像は、関連技術に係るマスク領域を除く印刷物の基材上に欠陥が存在しない無欠陥の画像としても良い。
　印刷物の検査では、検査対象とする印刷物の印刷工程や、印刷物の撮像時に生じる様々な正常紙の変動を考慮するため、図７に示されるように、複数枚の学習用正常紙画像における各画素の輝度値平均を算出し、検査用テンプレート画像を作成する。すなわち、学習用正常紙画像の平均値画像を検査用テンプレート画像として用いる。
　関連技術に係る印刷物検査方法では、ＯＶＤの位置ずれを考慮し、ＯＶＤが存在しうる領域（関連技術に係るマスク領域）の画素は、不感帯領域を含め検査用テンプレート画像に加算していなかった。これに対して、本実施の形態１では、マッチング用テンプレート画像を用いたテンプレートマッチングによりＯＶＤの貼付位置を特定できる。そのため、本実施の形態１では、図８に示されるように、関連技術に係るマスク領域のうちの不感帯領域の画素を、検査用テンプレート画像に加算することができる（すなわち、検査用テンプレート画像のマスク領域を狭めることができる）。
　ＯＶＤ位置検出部１２１は、複数枚の学習用正常紙の各々について、マッチング用テンプレート作成装置１１により作成されたマッチング用テンプレートを用いて、ＯＶＤの貼付位置を特定する。演算部１２２は、複数枚の学習用正常紙の各々について、ＯＶＤ位置検出部１２１により特定されたＯＶＤの貼付位置を除いた領域の各画素を検査用テンプレート画像に加算する。そして、演算部１２２は、複数枚の学習用正常紙におけるＯＶＤの貼付位置を除いた領域の各画素の輝度値平均を算出する。画像出力部１２３は、検査用テンプレート画像の各画素に対し、演算部１２２により算出された各画素の輝度値平均を上書きした画像を、検査用テンプレート画像として出力する。検査用テンプレート作成装置１２から出力された検査用テンプレート画像は、欠陥検出装置１３に入力される。
　画像入力装置１４は、欠陥検出装置１３と接続されており、撮像部１４１と、画像出力部１４２と、を備える。撮像部１４１は、検査対象の印刷物を撮影する。画像出力部１４２は、撮像部１４１の撮影により得られた画像を検査対象画像として出力する。画像入力装置１４から出力された検査対象画像は、欠陥検出装置１３に入力される。
　欠陥検出装置１３は、マッチング用テンプレート作成装置１１、検査用テンプレート作成装置１２、及び画像入力装置１４と接続されており、ＯＶＤ位置検出部１３１と、ＯＶＤマスク設定部１３２と、欠陥差分演算部１３３と、判定部１３４と、を備える。欠陥検出装置１３は、検査対象画像における欠陥を検出する。図９に示されるように、ＯＶＤ位置検出部１３１は、マッチング用テンプレート作成装置１１により作成されたマッチング用テンプレート画像を用いて、検査対象画像におけるＯＶＤの貼付位置を特定する。ＯＶＤマスク設定部１３２は、ＯＶＤ位置検出部１３１により特定されたＯＶＤの貼付位置の位置情報に基づいて、ＯＶＤに限定してマスク処理を行う。欠陥差分演算部１３３は、検査用テンプレート作成装置１２により作成された検査用テンプレート画像と、ＯＶＤマスク設定部１３２によりＯＶＤの貼付位置がマスクされた検査対象画像と、の差分画像を算出する。判定部１３４は、欠陥差分演算部１３３により算出された差分画像に基づいて、検査対象画像に欠陥が存在するか否かを判定する。
　関連技術に係る印刷物検査方法では、ＯＶＤの位置ずれを考慮し、ＯＶＤが存在しうる領域（関連技術に係るマスク領域）をマスクしていた。これに対して、本実施の形態１では、検査対象画像におけるＯＶＤの貼付位置を特定できる。そのため、本実施の形態１では、ＯＶＤに限定してマスクすることが可能となるため、ＯＶＤの位置ずれを考慮した広範囲のマスクが不要となる。その結果、関連技術に係るマスク領域のうちの不感帯領域についても検査することが可能となる。
　以下、図１０を参照して、本実施の形態１に係る印刷物検査装置１０におけるマッチング用テンプレート画像の作成処理Ｓ１０、検査用テンプレート画像の作成処理Ｓ１１、及び、検査処理Ｓ１２の流れの例について説明する。
　最初に、マッチング用テンプレート作成処理Ｓ１０では、まず、マッチング用テンプレート作成装置１１は、記憶装置１５から読み込んだ複数枚の学習用ＯＶＤ画像を入力し、メモリ（不図示）上に展開する（Ｓ１０１）。ここで読み込まれる学習用ＯＶＤ画像は、図５に示されるように、ＯＶＤ及びその周囲を含む領域が切り取られ、ＯＶＤの位置があらかじめ複数枚の学習用ＯＶＤ画像間で位置合わせされている必要がある。次に、マッチング用テンプレート作成装置１１は、Ｓ１０１で入力された複数枚の学習用ＯＶＤ画像の各々について、その学習用ＯＶＤ画像における各画素の輝度値を算出し、算出された各画素の輝度値を、学習用ＯＶＤ画像における各画素と対応したメモリ上の配列に加算する（Ｓ１０２）。すなわち、同一位置にある画素の輝度値を、複数枚の学習用ＯＶＤ画像間で足し合わせる。Ｓ１０２の処理は、入力枚数ｉ（ｉは２以上の整数）分の学習用ＯＶＤ画像について行われる。マッチング用テンプレート作成装置１１は、輝度値の加算処理を入力枚数分繰り返した後、メモリ上の配列に格納された各画素の輝度値に基づいて、各画素の輝度値分散を算出する（Ｓ１０３）。次に、マッチング用テンプレート作成装置１１は、学習用ＯＶＤ画像上の領域の中から、他の領域と比較して相対的に輝度値分散の小さい領域を抽出する（Ｓ１０４）。次に、マッチング用テンプレート作成装置１１は、Ｓ１０４で抽出された、輝度値分散の小さい領域の画像を、マッチング用テンプレート画像として、検査用テンプレート作成装置１２及び欠陥検出装置１３に出力する（Ｓ１０５）。
　続いて、検査用テンプレート作成処理Ｓ１１では、まず、検査用テンプレート作成装置１２は、記憶装置１５から読み込んだ複数枚の学習用正常紙画像を入力し、メモリ（不図示）上に展開する（Ｓ１１１）。ここで読み込まれる学習用正常紙画像は、あらかじめＯＶＤ及びその周辺を除く印刷物の基材上に欠陥が存在しないことを確認された画像である必要がある。次に、検査用テンプレート作成装置１２は、マッチング用テンプレート作成装置１１により作成されたマッチング用テンプレート画像を読み込む（Ｓ１１２）。次に、検査用テンプレート作成装置１２は、Ｓ１１１で入力された複数枚の学習用正常紙画像の各々について、Ｓ１１２で読み込まれたマッチング用テンプレート画像を用いて、学習用正常紙画像に貼付されたＯＶＤの貼付位置を、テンプレートマッチングによって特定する（Ｓ１１３）。次に、検査用テンプレート作成装置１２は、学習用正常紙画像上の領域のうち、Ｓ１１３で特定されたＯＶＤの貼付位置を除いた領域の各画素の輝度値を算出し、算出された各画素の輝度値を、学習用正常紙画像における各画素と対応したメモリ上の配列に加算する（Ｓ１１４）。すなわち、同一位置にある画素の輝度値を、複数枚の学習用正常紙画像間で足し合わせる。Ｓ１１３及びＳ１１４の処理は、入力枚数ｊ（ｊは２以上の整数）分の学習用正常紙画像について行われる。検査用テンプレート作成装置１２は、ＯＶＤの貼付位置の特定処理と、輝度値の加算処理と、を入力枚数分繰り返した後、メモリ上の配列に格納された各画素の輝度値を、学習用正常紙画像の入力枚数で除算することで、各画素の輝度値平均を算出する（Ｓ１１５）。ただし、通常は、画素毎に、加算された学習用正常紙画像の枚数（入力枚数）が異なる。そのため、画素毎に除数も異なることに注意する必要がある。その後、検査用テンプレート作成装置１２は、検査用テンプレート画像の各画素に、メモリ上の配列に格納された各画素の輝度値平均を上書きし（Ｓ１１６）、その検査用テンプレート画像を欠陥検出装置１３に出力する（Ｓ１１７）。
　続いて、検査処理Ｓ１２では、まず、欠陥検出装置１３は、画像入力装置１４から入力された検査対象画像をメモリ上に展開する（Ｓ１２１）。次に、欠陥検出装置１３は、マッチング用テンプレート作成装置１１により作成されたマッチング用テンプレート画像を読み込む（Ｓ１２２）。次に、欠陥検出装置１３は、Ｓ１２２で読み込まれたマッチングテンプレート画像を用いて、検査対象画像に貼付されたＯＶＤの貼付位置を、テンプレートマッチングによって特定する（Ｓ１２３）。
　ここで、テンプレートマッチングのマッチングスコアがあらかじめ設定された基準画像に対するマッチングスコアの９５％未満であった場合、欠陥検出装置１３は、以降の処理を行わない。マッチングスコアが低い理由として、ＯＶＤが印刷物上に貼付されていない、貼付されたＯＶＤの一部が欠けている、通常起こりうるＯＶＤの位置ずれ量を超えて位置ずれしている、などが考えられ、これらの事象はいずれもＯＶＤそのものの欠陥に起因するものである。ＯＶＤそのものに欠陥が生じている検査対象画像は、本実施の形態１における検査の対象外となる。なお、上記のマッチングスコアの９５％という数値は、一例であって、この数値に限定されないことに注意する必要がある。
　次に、欠陥検出装置１３は、Ｓ１２３で特定されたＯＶＤの貼付位置上にマスクを配置し、マスクを配置した領域を検査対象外領域として設定する（Ｓ１２４）。次に、欠陥検出装置１３は、検査用テンプレート作成装置１２により作成された検査用テンプレート画像を読み込み（Ｓ１２５）、Ｓ１２４でマスクが配置された検査対象画像と検査用テンプレート画像との差分画像を算出する（Ｓ１２６）。検査対象画像に欠陥が存在する場合、欠陥のみが差分画像に現れる。そのため、欠陥検出装置１３は、不感帯領域を含めた差分画像上を検査する（Ｓ１２７）。差分画像上であらかじめ定められた形状や大きさを超える差分が検出された領域がある場合には、その領域が欠陥候補となる。
　上述したように本実施の形態１によれば、マッチング用テンプレート作成装置１１は、ＯＶＤの貼付位置をテンプレートマッチングにより特定するためのマッチング用テンプレート画像を作成する。欠陥検出装置１３は、マッチング用テンプレート画像を用いて、検査対象画像におけるＯＶＤの貼付位置を特定し、特定されたＯＶＤの貼付位置をマスクし、ＯＶＤの貼付位置がマスクされた検査対象画像と検査用テンプレート画像との差分画像に基づいて、検査対象画像における欠陥を検出する。
　このように、本実施の形態１では、欠陥検出装置１３は、マッチング用テンプレート画像を用いて、検査対象画像におけるＯＶＤの貼付位置を特定できる。そのため、ＯＶＤに限定してマスクすることが可能となるため、ＯＶＤの位置ずれを考慮した広範囲のマスクが不要となる。その結果、関連技術に係るマスク領域のうちの不感帯領域についても検査することが可能となる。
　なお、マッチング用テンプレート作成装置１１は、複数枚の学習用ＯＶＤ画像における各画素の輝度値分散を算出し、他の領域と比較して相対的に輝度値分散が小さい領域の画像を、マッチング用テンプレート画像として作成する。
　また、本実施の形態１では、検査用テンプレート作成装置１２は、複数枚の学習用正常紙画像の各々について、マッチング用テンプレート画像を用いて、ＯＶＤの貼付位置を特定し、複数枚の学習用正常紙画像におけるＯＶＤの貼付位置以外の領域の各画素の輝度値平均を算出し、検査用テンプレート画像における各画素に、算出された各画素の輝度値平均を上書きすることで、検査用テンプレート画像を作成する。
　このように、本実施の形態１では、検査用テンプレート作成装置１２は、マッチング用テンプレート画像を用いて複数枚の学習用正常紙画像の各々におけるＯＶＤの貼付位置を特定できる。そのため、関連技術に係るマスク領域のうちの不感帯領域の画素を、検査用テンプレート画像に加算することができる。これにより、欠陥検出装置１３による検査に使用可能な検査用テンプレート画像を作成することが可能となる。
＜実施の形態２＞
　続いて、図１１を参照して、本実施の形態２に係る印刷物検査装置２０の構成例について説明する。本実施の形態２は、上述した実施の形態１を上位概念化した実施の形態に相当する。
　図１１に示されるように、本実施の形態２に係る印刷物検査装置２０は、マッチング用テンプレート作成部２１と、欠陥検出部２２と、を備える。本実施の形態２に係る印刷物検査装置２０は、ＯＶＤが貼付された印刷物を検査する装置である。
　マッチング用テンプレート作成部２１は、ＯＶＤの貼付位置をテンプレートマッチングにより特定するためのマッチング用テンプレート画像を作成する。
　欠陥検出部２２は、マッチング用テンプレート画像を用いて、検査対象の印刷物を撮影して得られた検査対象画像におけるＯＶＤの貼付位置を特定し、特定されたＯＶＤの貼付位置をマスクし、ＯＶＤの貼付位置がマスクされた検査対象画像と検査用テンプレート画像との差分画像に基づいて、検査対象画像における欠陥を検出する。
　これによれば、欠陥検出部２２は、マッチング用テンプレート画像を用いて、検査対象画像におけるＯＶＤの貼付位置を特定できる。そのため、ＯＶＤに限定してマスクすることが可能となるため、ＯＶＤの位置ずれを考慮した広範囲のマスクが不要となる。その結果、関連技術に係るマスク領域のうちの不感帯領域についても検査することが可能となる。
　なお、マッチング用テンプレート作成部２１は、複数枚の学習用ＯＶＤ画像の各々について、その学習用ＯＶＤ画像における各画素の輝度値を算出し、複数枚の学習用ＯＶＤ画像の各々における各画素の輝度値に基づいて、それら各画素の輝度値分散を算出し、他の領域と比較して相対的に輝度値分散が小さい領域を抽出し、抽出された領域の画像を、マッチング用テンプレート画像として作成しても良い。また、複数枚の学習用ＯＶＤ画像の各々は、ＯＶＤ及びその周囲を含む領域が切り取られた画像であり、ＯＶＤの位置が複数枚の学習用ＯＶＤ画像間で位置合わせされているものであっても良い。
　また、本実施の形態２に係る印刷物検査装置２０は、検査用テンプレート画像を作成する検査用テンプレート作成部をさらに備えても良い。また、検査用テンプレート作成部は、複数枚の学習用正常紙画像の各々について、マッチング用テンプレート画像を用いて、その学習用正常紙画像におけるＯＶＤの貼付位置を特定し、特定されたＯＶＤの貼付位置以外の領域の各画素の輝度値を算出し、複数枚の学習用正常紙画像の各々におけるＯＶＤの貼付位置以外の領域の各画素の輝度値に基づいて、それら各画素の輝度値平均を算出し、検査用テンプレート画像における各画素に、算出された各画素の輝度値平均を上書きすることで、検査用テンプレート画像を作成しても良い。
　これによれば、検査用テンプレート作成部は、マッチング用テンプレート画像を用いて複数枚の学習用正常紙画像の各々におけるＯＶＤの貼付位置を特定できる。そのため、関連技術に係るマスク領域のうちの不感帯領域の画素を、検査用テンプレート画像に加算することができる。これにより、欠陥検出部２２による検査に使用可能な検査用テンプレート画像を作成することが可能となる。
　なお、複数枚の学習用正常紙画像の各々は、ＯＶＤ及びその周囲以外の領域に欠陥が無いことが確認された画像であっても良い。
＜実施の形態３＞
　続いて、図１２を参照して、本実施の形態３に係る印刷物検査装置３０のハードウェア構成例について説明する。
　図１２に示されるように、本実施の形態３に係る印刷物検査装置３０は、プロセッサ３１と、メモリ３２と、を備える。
　プロセッサ３１は、例えば、マイクロプロセッサ、ＭＰＵ（Micro Processing Unit）、又はＣＰＵ（Central Processing Unit）であっても良い。プロセッサ３１は、複数のプロセッサを含んでも良い。
　メモリ３２は、揮発性メモリ及び不揮発性メモリの組み合わせによって構成される。メモリ３２は、プロセッサ３１から離れて配置されたストレージを含んでも良い。この場合、プロセッサ３１は、図示されていないＩ（Input）／Ｏ（Output）インタフェースを介してメモリ３２にアクセスしても良い。
　上述した実施の形態１，２に係る印刷物検査装置１０，２０は、図１２に示されるハードウェア構成を有することができる。メモリ３２には、プログラムが記憶される。このプログラムは、コンピュータに読み込まれた場合に、上述した実施の形態１，２で説明された１又はそれ以上の機能をコンピュータに行わせるための命令群（又はソフトウェアコード）を含む。上述した印刷物検査装置１０，２０における構成要素は、プロセッサ３１がメモリ３２に記憶されたプログラムを読み込んで実行することにより実現されても良い。また、上述した印刷物検査装置１０，２０における構成要素が備える記憶機能は、メモリ３２により実現されても良い。
　また、上述したプログラムは、非一時的なコンピュータ可読媒体又は実体のある記憶媒体に格納されても良い。限定ではなく例として、コンピュータ可読媒体又は実体のある記憶媒体は、random-access memory（RAM）、read-only memory（ROM）、フラッシュメモリ、solid-state drive（SSD）又はその他のメモリ技術、CD-ROM、digital versatile disc（DVD）、Blu-ray（登録商標）ディスク又はその他の光ディスクストレージ、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスクストレージ又はその他の磁気ストレージデバイスを含む。プログラムは、一時的なコンピュータ可読媒体又は通信媒体上で送信されても良い。限定ではなく例として、一時的なコンピュータ可読媒体又は通信媒体は、電気的、光学的、音響的、又はその他の形式の伝搬信号を含む。
　以上、実施形態を参照して本開示を説明したが、本開示は上述した実施形態に限定されるものではない。本開示の構成や詳細には、本開示のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
　１０　印刷物検査装置
　１１　マッチング用テンプレート作成装置
　１１１　演算部
　１１２　画像出力部
　１２　検査用テンプレート作成装置
　１２１　ＯＶＤ位置検出部
　１２２　演算部
　１２３　画像出力部
　１３　欠陥検出装置
　１３１　ＯＶＤ位置検出部
　１３２　ＯＶＤマスク設定部
　１３３　欠陥差分演算部
　１３４　判定部
　１４　画像入力装置
　１４１　撮像部
　１４２　画像出力部
　１５　記憶装置
　２０　印刷物検査装置
　２１　マッチング用テンプレート作成部
　２２　欠陥検出部
　３０　印刷物検査装置
　３１　プロセッサ
　３２　メモリ

Claims (7)

  1. 　ＯＶＤ（Optical Variable Device）が貼付された印刷物を検査する印刷物検査装置であって、
    　ＯＶＤの貼付位置をテンプレートマッチングにより特定するためのマッチング用テンプレート画像を作成するマッチング用テンプレート作成部と、
    　前記マッチング用テンプレート画像を用いて、前記印刷物を撮影して得られた検査対象画像におけるＯＶＤの貼付位置を特定し、特定されたＯＶＤの貼付位置をマスクし、ＯＶＤの貼付位置がマスクされた前記検査対象画像と検査用テンプレート画像との差分画像に基づいて、前記検査対象画像における欠陥を検出する欠陥検出部と、
    　を備える、印刷物検査装置。
  2. 　前記マッチング用テンプレート作成部は、
    　複数枚の学習用ＯＶＤ画像の各々について、当該学習用ＯＶＤ画像における各画素の輝度値を算出し、
    　前記複数枚の学習用ＯＶＤ画像の各々における各画素の輝度値に基づいて、当該各画素の輝度値分散を算出し、
    　他の領域と比較して相対的に輝度値分散が小さい領域を抽出し、
    　抽出された領域の画像を、前記マッチング用テンプレート画像として作成する、
    　請求項１に記載の印刷物検査装置。
  3. 　前記複数枚の学習用ＯＶＤ画像の各々は、ＯＶＤ及びその周囲を含む領域が切り取られた画像であり、ＯＶＤの位置が前記複数枚の学習用ＯＶＤ画像間で位置合わせされている、
    　請求項２に記載の印刷物検査装置。
  4. 　前記検査用テンプレート画像を作成する検査用テンプレート作成部をさらに備え、
    　前記検査用テンプレート作成部は、
    　複数枚の学習用正常紙画像の各々について、前記マッチング用テンプレート画像を用いて、当該学習用正常紙画像におけるＯＶＤの貼付位置を特定し、特定されたＯＶＤの貼付位置以外の領域の各画素の輝度値を算出し、
    　前記複数枚の学習用正常紙画像の各々におけるＯＶＤの貼付位置以外の領域の各画素の輝度値に基づいて、当該各画素の輝度値平均を算出し、
    　前記検査用テンプレート画像における各画素に、算出された各画素の輝度値平均を上書きすることで、前記検査用テンプレート画像を作成する、
    　請求項１から３のいずれか１項に記載の印刷物検査装置。
  5. 　前記複数枚の学習用正常紙画像の各々は、ＯＶＤ及びその周囲以外の領域に欠陥が無いことが確認された画像である、
    　請求項４に記載の印刷物検査装置。
  6. 　ＯＶＤ（Optical Variable Device）が貼付された印刷物を検査する印刷物検査装置が行う印刷物検査方法であって、
    　ＯＶＤの貼付位置をテンプレートマッチングにより特定するためのマッチング用テンプレート画像を作成するマッチング用テンプレート作成ステップと、
    　前記マッチング用テンプレート画像を用いて、前記印刷物を撮影して得られた検査対象画像におけるＯＶＤの貼付位置を特定し、特定されたＯＶＤの貼付位置をマスクし、ＯＶＤの貼付位置がマスクされた前記検査対象画像と検査用テンプレート画像との差分画像に基づいて、前記検査対象画像における欠陥を検出する欠陥検出ステップと、
    　を含む、印刷物検査方法。
  7. 　ＯＶＤ（Optical Variable Device）が貼付された印刷物を検査する印刷物検査装置に実行させるプログラムが格納された非一時的なコンピュータ可読媒体であって、
    　前記プログラムは、
    　ＯＶＤの貼付位置をテンプレートマッチングにより特定するためのマッチング用テンプレート画像を作成するマッチング用テンプレート作成ステップと、
    　前記マッチング用テンプレート画像を用いて、前記印刷物を撮影して得られた検査対象画像におけるＯＶＤの貼付位置を特定し、特定されたＯＶＤの貼付位置をマスクし、ＯＶＤの貼付位置がマスクされた前記検査対象画像と検査用テンプレート画像との差分画像に基づいて、前記検査対象画像における欠陥を検出する欠陥検出ステップと、
    　を含む、コンピュータ可読媒体。
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