WO2023115627A1 - 一种ate测试通道的检测装置及方法 - Google Patents

一种ate测试通道的检测装置及方法 Download PDF

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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
    • G01R35/02—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass of auxiliary devices, e.g. of instrument transformers according to prescribed transformation ratio, phase angle, or wattage rating

Definitions

  • the invention belongs to the field of ATE testing, in particular to a detection device and method for an ATE testing channel.
  • the present invention provides a detection device and method for an ATE test channel, which reduces the dependence on proprietary equipment and reduces detection costs during the process of judging whether the calibration of the transmission direction of the test channel is effective.
  • a detection method of an ATE test channel which is used to judge whether the calibration of the sending direction of the test channel is effective; comprising the following steps:
  • step S04 when the waveforms of the test channels are completely aligned, it is determined that the calibration of the sending direction of the test channel is valid.
  • test program controls the format of the waveform sent by each test channel, the sending time, and the high and low levels of the waveform to be the same.
  • test channel has the function of setting a 0 ⁇ 1 logic threshold voltage and outputting a logic 0 ⁇ 1 waveform.
  • test program controls the waveform sent by each test channel to be a square wave.
  • a detection device for an ATE test channel comprising an ATE platform, equal-length wires and an oscilloscope, each test channel in the ATE platform is connected to the oscilloscope by an equal-length wire; the ATE platform includes the same for each test channel
  • a test program controls the test channel to send at least one waveform; when the test program is running, the waveform of each test channel is displayed in the oscilloscope; through the alignment of the waveforms of each test channel, it is judged whether the sending direction calibration of the test channel is effective.
  • test program controls the format of the waveform sent by each test channel, the sending time, and the high and low levels of the waveform to be the same.
  • test program controls the waveform sent by each test channel to be a square wave.
  • the present invention has the following beneficial effects: compared with the process in the prior art that needs to use a special test board and internal commands to check the validity of the calibration, the application only needs an equal-length wire and an oscilloscope to check the validity of the calibration.
  • the waveforms shown in the oscilloscope are all aligned, which means that the calibration of the sending direction of these test channels is valid, and the corresponding test channels can be used for the next test; It means that the calibration of the test channel in the sending direction is invalid, and the test of the corresponding test channel cannot be performed directly, and the test channel needs to be calibrated.
  • the device for judging the validity of calibration in the present invention is simple and easy to operate, greatly improves the efficiency of judging the validity of calibration, and promotes the progress in the field of integrated circuit testing.
  • a detection device and method for an ATE test channel used for judging whether the calibration of the sending direction of the test channel is effective.
  • the ATE platform needs to calibrate the test channel before testing, and the calibration process may not achieve the expected effect. Therefore, after the calibration, it is necessary to further judge the calibration effect to determine whether the calibration effect has reached the expectation. If the calibration result is not judged, the test of the test channel is started directly. When the test result is abnormal, it is impossible to judge whether there is a problem with the test object or the test channel.
  • the device and method of the present application are aimed at judging the validity of the calibration of the AC transmission direction of the test channel, wherein the calibration of the AC transmission direction refers to the calibration of the signal output direction of the test channel; in the ATE test platform, the test data obtained by the test channel needs Transmitting to the next object, the AC sending direction calibration refers to the calibration of the sending process of the test channel to ensure that the data can be sent out accurately.
  • the detection method of a kind of ATE test channel specifically comprises the following steps:
  • test channels Connect at least two test channels that need to be judged for calibration validity to the oscilloscope through wires of equal length.
  • Each board in the ATE platform has a lot of test channels, and these test channels have the function of setting logic 0 ⁇ 1 logic threshold voltage and outputting logic 0 ⁇ 1 waveform, and also have the function of setting the time when the waveform occurs; The logical operation completed within the time constraints.
  • This step occurs after the calibration of the AC transmission direction of the test channel, and further judgment is made on the calibration result to confirm whether the calibration process is effective.
  • S02 Edit the same test program for each test channel in the ATE, and the test program controls the test channel to send at least one waveform.
  • the ATE platform has an editable function. Through programming on the ATE platform, the test program of each test channel can be obtained, and the test program of each test channel is the same. The test program is used to control the corresponding test channel to send out Waveform signal, in view of the same test procedures for each test channel, that is to say, in this step, the test program controls the waveform format, sending time and high and low levels of the waveform sent by each test channel to be the same.
  • test program can control the waveform sent by the test channel to be a square wave.
  • S04 According to the waveform alignment of each test channel, check whether the sending direction calibration of the test channel is valid. When the waveforms of each test channel are completely aligned, it is judged that the calibration of the sending direction of the test channel is effective; when the waveforms of one or more test channels cannot be kept aligned with the waveforms of other test channels, it means that the test channels corresponding to these unaligned waveforms are The AC sending direction calibration did not achieve the desired effect. It is necessary to re-calibrate the AC sending direction for all test channels, and then repeat the above steps to judge the calibration results.
  • equal-length wires are used to connect the test channel and the oscilloscope.
  • the impact of the equal-length wire and the oscilloscope on the test channel is the same, and the test procedure is also the same; It should be completely aligned. If it cannot be completely aligned, it means that the AC sending direction calibration has not achieved the expected effect.
  • a detection device for an ATE test channel includes an ATE platform, equal-length wires and an oscilloscope, and each test channel in the ATE platform is connected to the oscilloscope through an equal-length wire.
  • Each board in the ATE platform has a lot of test channels, and these test channels have the function of setting logic 0 ⁇ 1 logic threshold voltage and outputting logic 0 ⁇ 1 waveform, and also have the function of setting the time when the waveform occurs; The logical operation completed within the time constraints.
  • the ATE platform includes the same test program for each test channel.
  • the test program controls the test channel to send at least one waveform; the test program is used to control the corresponding test channel to send out the waveform signal. Since the test programs of each test channel are the same, That is to say, in this step, the test program controls the waveform format, sending time, and high and low levels of the waveforms sent by each test channel to be the same.
  • the medium-length wires in this application can be wires of any structure, but it is necessary to ensure that the wires connecting different test channels have equal lengths, equal cross-sections, and the same type of wires.
  • the waveform of each test channel is displayed on the oscilloscope; through the alignment of the waveforms of each test channel, it is judged whether the sending direction calibration of the test channel is effective.
  • the waveforms of each test channel are completely aligned, it is judged that the calibration of the transmission direction of the test channel is effective; when the waveforms of one or more test channels cannot be aligned with the waveforms of other test channels, it means that the AC transmission direction calibration of these test channels is not valid. If the expected effect is not achieved, it is necessary to re-calibrate the AC sending direction for all test channels.

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Abstract

一种ATE测试通道的检测方法，用于判断测试通道的发送方向校准是否生效；包括如下步骤：S01：将至少两个测试通道通过等长导线连接至示波器；S02：在ATE平台中针对每个测试通道编辑相同的测试程序，测试程序控制测试通道发送至少一个波形；S03：运行测试程序，在示波器中显示各个测试通道的波形；S04：通过各个测试通道的波形对齐情况，判断测试通道的发送方向校准是否生效。在判断测试通道的发送方向校准是否生效过程中，降低对专有设备的依赖性，降低检测成本。

Description

一种ATE测试通道的检测装置及方法
交叉引用
本申请要求2021年12月24日提交的申请号为CN202111609496.9的中国专利申请的优先权。上述申请的内容以引用方式被包含于此。
技术领域
本发明属于ATE测试领域，具体属于一种ATE测试通道的检测装置及方法。
技术背景
近年来，由于芯片和相关设备禁运，芯片和相关配套设备的国产化进程加快，我国集成电路行业呈井喷式发展，越来越多芯片企业也随之出现，对集成电路测试设备的需求也呈现井喷式的增长，对于集成电路测试设备的检测和维护也变得越来越重要，很多检测方法也都在研究摸索中。
通常情况下，集成电路测试公司在设备正式进行测试前，均需进行业务板卡的AC(Alternating Current；交流电)校准；校准之后的测试通道在使用中遇到问题时，需要确认校准效果是否满足要求。此时需要向供应商请求协助，使用专用测试板和内部命令检查校准有效性。这些命令往往不对外开放，而且专用测试板相对成本较高，且需要厂家技术人员现场调试确认，需要花费较多的时间和成本。因此，在检测AC校准有效性的过程中可能存在如下几个方面的问题：
1.若外请供应商工程师进行现场检测，费用较高，拉高了ATE测试的 成本。
2.在厂商和供应商处于不同城市的情况下，检测周期会拉长。
3.集成电路行业使用的第三方设备常常较为昂贵，动辄数万甚至数十万人民币，花费较大，增加了校准成本
可以看出，确认校准效果是否满足要求的时候，对专门设备的依赖性较大，且成本较高。因此需要设计一种降低成本且简单便捷的确认校准效果的装置和方法。
发明概要
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种ATE测试通道的检测装置及方法，在判断测试通道的发送方向校准是否生效过程中，降低对专有设备的依赖性，降低检测成本。
为了实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：一种ATE测试通道的检测方法，用于判断测试通道的发送方向校准是否生效；包括如下步骤：
S01：将至少两个测试通道通过等长导线连接至示波器；
S02：在ATE平台中针对每个测试通道编辑相同的测试程序，所述测试程序控制测试通道发送至少一个波形；
S03：运行测试程序，在示波器中显示各个测试通道的波形；
S04：通过各个测试通道的波形对齐情况，判断测试通道的发送方向校准是否生效。
进一步的，所述步骤S04中，当各个测试通道的波形完全对齐时，判断测试通道的发送方向校准生效。
进一步的，所述测试程序控制各个测试通道发送的波形格式、发送时刻和波形中高低电平均相同。
进一步的，所述测试通道具有设置0\1逻辑门限电压和输出逻辑0\1波形的功能。
进一步的，所述测试程序控制各个测试通道发送的波形为方形波。
一种ATE测试通道的检测装置，包括ATE平台、等长导线和示波器，所述ATE平台中各个测试通道通过等长导线连接所述示波器；所述ATE平台中包括针对每个测试通道均相同的测试程序，所述测试程序控制测试通道发送至少一个波形；运行测试程序时，在示波器中显示各个测试通道的波形；通过各个测试通道的波形对齐情况，判断测试通道的发送方向校准是否生效。
进一步的，运行测试程序时，当所述示波器中各个测试通道的波形完全对齐时，判断测试通道的发送方向校准生效。
进一步的，所述测试程序控制各个测试通道发送的波形格式、发送时刻和波形中高低电平均相同。
进一步的，所述测试程序控制各个测试通道发送的波形为方形波。
本发明具有如下有益效果：相比现有技术中需要使用专用测试板和内部命令检查校准有效性的工艺，本申请只需要等长导线和示波器即可检查校准有效性，若通过等长导线之后展示在示波器中波形为均为对齐状态，则说明这些测试通道的发送方向校准是有效的，可以采用对应的测试通道进行下一步的测试；若通过等长导线之后展示在示波器中波形不对齐，则说明测试通道在发送方向校准无效，还不能直接进行对应测试通道的测试，需要对测试 通道进行校准。本发明中判断校准有效性的装置简单，操作方便，大大提升了校准有效性的判断效率，推动了集成电路测试领域的进步。
附图说明
附图1为本发明ATE测试通道的检测装置的示意图；
附图2为本发明ATE测试通道的检测方法的流程图。
发明内容
为使本发明的目的、优点和特征更加清楚，以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且未按比例绘制，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。此外，附图所展示的结构往往是实际结构的一部分。特别的，各附图需要展示的侧重点不同，有时会采用不同的比例。
一种ATE测试通道的检测装置和方法，用于判断测试通道的发送方向校准是否生效。ATE平台在进行测试之前均需要对测试通道进行校准，而校准的过程未必能达到预期效果，因此校准之后需要进一步对校准效果进行判断，判断校准效果是否达到了预期。若不对校准结果进行判断，直接开始测试通道的测试，当测试结果异常的时候，无法判断是测试对象出了问题还是测试通道出了问题。
本申请装置和方法就是针对测试通道AC发送方向校准的有效性判断，其中，AC发送方向校准指的是针对测试通道的信号输出方向的校准；在ATE测试平台中，测试通道获取的测试数据需要传输至下一个对象，AC发送方向校准指的是针对测试通道发送过程的校准，确保数据能够准确无误发送出去。
如附图2所示，本申请提供的一种ATE测试通道的检测方法，具体包括如下步骤：
S01：将至少两个需要进行校准有效性判断的测试通道通过等长导线连接至示波器。ATE平台中每块板卡都有很多测试通道，这些测试通道都具有设置逻辑0\1逻辑门限电压和输出逻辑0\1波形的功能，同时具备设置波形发生时刻的功能；同时也具备符合特定的时间内约束内完成的逻辑操作。
本步骤发生在测试通道的AC发送方向校准之后，针对校准的结果进行进一步的判断，确认校准过程是否生效。
S02：在ATE中针对每个测试通道编辑相同的测试程序，测试程序控制测试通道发送至少一个波形。ATE平台具有可编辑功能，通过在ATE平台上的编程，可以得出各个测试通道的测试程序，且每个测试通道的测试程序均是相同的，测试程序用于控制对应的测试通道向外发送波形信号，鉴于各个测试通道的测试程序均相同，也就是说本步骤中测试程序控制各个测试通道发送的波形格式、发送时刻和波形中高低电平均相同。
S03：运行测试程序，在示波器中显示各个测试通道的波形。
鉴于本申请中测试通道都具有设置逻辑0\1逻辑门限电压和输出逻辑0\1波形的功能，测试程序可以控制测试通道发送的波形为方形波。
S04：通过各个测试通道的波形对齐情况，断测试通道的发送方向校准是否生效。当各个测试通道的波形完全对齐时，判断测试通道的发送方向校准生效；当其中一个或多个测试通道的波形不能与其他测试通道的波形保持对齐时，说明这些未对齐波形对应的测试通道的AC发送方向校准并没有达到预期效果，需要对所有的测试通道重新进行AC发送方向校准，再重复上 述步骤来判断校准结果。
本申请中采用等长导线连接测试通道和示波器，等长导线和示波器对于测试通道的影响都是相同的，同时测试程序也相同；若AC发送方向校准有效，则各个测试通道到达示波器的波形就应该完全对齐，若不能完全对齐，则说明AC发送方向校准没有达到预期效果。
如附图1所示，本申请提供的一种ATE测试通道的检测装置，包括ATE平台、等长导线和示波器，ATE平台中各个测试通道通过等长导线连接示波器。ATE平台中每块板卡都有很多测试通道，这些测试通道都具有设置逻辑0\1逻辑门限电压和输出逻辑0\1波形的功能，同时具备设置波形发生时刻的功能；同时也具备符合特定的时间内约束内完成的逻辑操作。
ATE平台中包括针对每个测试通道均相同的测试程序，测试程序控制测试通道发送至少一个波形；测试程序用于控制对应的测试通道向外发送波形信号，鉴于各个测试通道的测试程序均相同，也就是说本步骤中测试程序控制各个测试通道发送的波形格式、发送时刻和波形中高低电平均相同。
本申请中等长导线可以采用任意结构的导线，但需要确保连接不同测试通道的导线的长度相等、截面相等且导线类型相同。
运行测试程序时，在示波器中显示各个测试通道的波形；通过各个测试通道的波形对齐情况，判断测试通道的发送方向校准是否生效。当各个测试通道的波形完全对齐时，判断测试通道的发送方向校准生效；当其中一个或多个测试通道的波形不能与其他测试通道的波形保持对齐时，说明这些测试通道的AC发送方向校准并没有达到预期效果，需要对所有的测试通道重新进行AC发送方向校准。
由于我们的外接电路只需要等长连接线和示波器，示波器厂家一般都会配备不需额外购买，等长连接线的成本基本可以控制在1000人民币以内。因为该发明的测试程序都是在集成电路测试公司可操作的内容下完成，减少了对集成电路测试设备供应商人员的依赖。集成电路测试厂商一旦发现问题就可以自行检测，这个周期非常短，整体降低的成本就非常可观。
可以理解的，以上实施例仅表达了本发明的优选实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制；应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，可以对上述技术特点进行自由组合，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围；因此，凡跟本发明权利要求范围所做的等同变换与修饰，均应属于本发明权利要求的涵盖范围。

Claims (9)

  1. 一种ATE测试通道的检测方法，用于判断测试通道的发送方向校准是否生效；其特征在于，包括如下步骤：
    S01：将至少两个测试通道通过等长导线连接至示波器；
    S02：在ATE平台中针对每个测试通道编辑相同的测试程序，所述测试程序控制测试通道发送至少一个波形；
    S03：运行测试程序，在示波器中显示各个测试通道的波形；
    S04：通过各个测试通道的波形对齐情况，判断测试通道的发送方向校准是否生效。
  2. 根据权利要求1所述的一种ATE测试通道的检测方法，其特征在于，所述步骤S04中，当各个测试通道的波形完全对齐时，判断测试通道的发送方向校准生效。
  3. 根据权利要求1所述的一种ATE测试通道的检测方法，其特征在于，所述测试程序控制各个测试通道发送的波形格式、发送时刻和波形中高低电平均相同。
  4. 根据权利要求3所述的一种ATE测试通道的检测方法，其特征在于，所述测试通道具有设置0\1逻辑门限电压和输出逻辑0\1波形的功能。
  5. 根据权利要求4所述的一种ATE测试通道的检测方法，其特征在于，所述测试程序控制各个测试通道发送的波形为方形波。
  6. 一种ATE测试通道的检测装置，其特征在于，包括ATE平台、等长导线和示波器，所述ATE平台中各个测试通道通过等长导线连接所述示波器；所述ATE平台中包括针对每个测试通道均相同的测试程序，所述测试程序控制测试通道发送至少一个波形；运行测试程序时，在示波器中显示各个测试通道的波形；通过各个测试通道的波形对齐情况，判断测试通道的发送方向校准是否生效。
  7. 根据权利要求6所述的一种ATE测试通道的检测装置，其特征在于，运行测试程序时，当所述示波器中各个测试通道的波形完全对齐时，判断测试通道的发送方向校准生效。
  8. 根据权利要求6所述的一种ATE测试通道的检测装置，其特征在于，所述测试程序控制各个测试通道发送的波形格式、发送时刻和波形中高低电平均相同。
  9. 根据权利要求6所述的一种ATE测试通道的检测装置，其特征在于，所述测试程序控制各个测试通道发送的波形为方形波。
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