JP2010160133A - テストステーションの自動位置合わせ方法と装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明のテストステーションの自動位置合わせ方法は、以下の工程を含む。まず、テスターによって正確だと検証された後に戻すべきBinを入力する。続いて、自動位置合わせ検査を行うテストステーションを選択する。その後、被試験装置を、自動位置合わせ検査を行うテストステーションに載置する。更に、自動位置合わせ検査を行う。その後、テスターと検査分類装置のテストステーションの位置合わせが正確かどうか判断し、もしテストステーションの位置合わせが不正確の場合は、テストステーションをロックする。
【選択図】図5
Description
12a 信号伝送線
12b 信号伝送線
12c 信号伝送線
12d 信号伝送線
14 被試験装置
20 検査分類装置
22a テストステーション
22b テストステーション
22c テストステーション
22d テストステーション
30 検査分類装置
32 表示装置
34 制御パネル
36 本体
38a フィーダー構造
38b 排出構造
40 テスター
50 検査分類装置
52 テスト領域
54a フィーダー構造
54b 排出構造
58 自動位置合わせモジュール
56 本体
60 グラフィカルユーザーインターフェース
61 表示装置
63 入力装置
62 テストステーションオプション
64 テスターBinオプション
66 関連データオプション
71 テスターによって正確だと検証された後に戻すべきBinを入力する
72 自動位置合わせ検査を行うテストステーションを選択する
73 被試験装置を、自動位置合わせ検査を行うテストステーションに載置する
74 自動位置合わせ検査を行う
75 テスターと検査分類装置のテストステーションの位置合わせが正確かどうか判断する
76 素子を取り出す
77 テストステーションをロックする
Claims (5)
- テスターと、
前記テスターとその間は信号伝送線によって双方向の伝送が行われ、自動位置合わせモジュールを有する本体を含む、検査分類装置と、
を含むことを特徴とするテストステーションの自動位置合わせを行うことができるテストシステム。 - 前記自動位置合わせモジュールはコンピュータ読み込み可能なメディアを含み、前記コンピュータ読み込み可能なメディアは、中央処理装置が実行できるプログラムやコマンドを有してテストステーションの自動位置合わせ方法を実行することができることを特徴とする、請求項1に記載のテストシステム。
- 前記コンピュータ読み込み可能なメディアにおける中央処理装置が実行できるプログラムやコマンドは、テストステーションの自動位置合わせ方法を実行でき、前記方法は、
自動位置合わせ検査を行うテストステーション内の被試験装置に対して,操作者が選択したテスターによって正確だと検証された後に戻すべき容器(Bin)及び操作者が選択した自動位置合わせ検査を行うテストステーションに基づいて自動位置合わせ検査を行う工程と、
テスターと検査分類装置のテストステーションの位置合わせが正確かどうか判断する工程と、
もし、テストステーションの位置合わせが不正確な場合、前記テストステーションをロックする工程と、を含むことを特徴とする、請求項2に記載のテストシステム。 - 操作者が自動位置合わせを行いたい検査分類装置のテストステーションと、テスターによって正確だと検証された後に戻すべき容器(Bin)の、位置合わせが正確かどうか照合・判断する自動位置合わせモジュールと、
操作者が、検査分類装置上で自動位置合わせを実行するテストステーションの選択や入力できるようにするための、又は操作者が、テスターによって正確だと検証された後に戻すべき容器(Bin)の選択や入力ができるにするための、グラフィカルユーザーインターフェースとを含むことを特徴とする、テストステーションの自動位置合わせ裝置。 - 前記コンピュータ読み込み可能なメディアは、中央処理装置が実行できるC/C++言語のプログラム・コマンドを有することでテストステーションの自動位置合わせ方法を実行することができることを特徴とする、請求項4にテストステーション自動位置合わせ裝置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW098100575A TWI386659B (zh) | 2009-01-09 | 2009-01-09 | 測試站自動對位方法與裝置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010160133A true JP2010160133A (ja) | 2010-07-22 |
Family
ID=42577385
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009227311A Pending JP2010160133A (ja) | 2009-01-09 | 2009-09-30 | テストステーションの自動位置合わせ方法と装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010160133A (ja) |
KR (1) | KR101123931B1 (ja) |
TW (1) | TWI386659B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2434206A2 (en) | 2010-09-28 | 2012-03-28 | Ichikoh Industries, Ltd. | Light source unit of semiconductor-type light source of vehicle lighting device and vehicle lighting device |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI495969B (zh) * | 2013-05-08 | 2015-08-11 | Pegatron Corp | 站位順序自動偵測方法 |
CN112444730A (zh) * | 2020-10-15 | 2021-03-05 | 绍兴网策科技有限公司 | 一种多Site模式测试装置防呆方法和测试机防呆方法 |
CN114070765B (zh) * | 2021-11-02 | 2023-05-23 | 广东利扬芯片测试股份有限公司 | 通信接口测试电路及方法 |
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JP2006119137A (ja) * | 2004-10-21 | 2006-05-11 | Samsung Electronics Co Ltd | ハンドラ遠隔制御可能な半導体素子の検査システム及びその作動方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW584922B (en) * | 2002-07-03 | 2004-04-21 | United Test Ct Inc | Method of manufacturing semiconductor package |
KR100493058B1 (ko) * | 2003-04-15 | 2005-06-02 | 삼성전자주식회사 | 소켓 이상 유무를 실시간으로 판단하는 반도체 소자의전기적 검사방법 |
TWM348235U (en) * | 2008-08-29 | 2009-01-01 | Mei-Hui Wu | Structure improvement of testing machine |
-
2009
- 2009-01-09 TW TW098100575A patent/TWI386659B/zh active
- 2009-09-30 JP JP2009227311A patent/JP2010160133A/ja active Pending
- 2009-10-05 KR KR1020090094248A patent/KR101123931B1/ko active IP Right Grant
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Publication number | Publication date |
---|---|
TW201027089A (en) | 2010-07-16 |
TWI386659B (zh) | 2013-02-21 |
KR20100082708A (ko) | 2010-07-19 |
KR101123931B1 (ko) | 2012-03-23 |
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