WO2022260268A1 - 용접 상태 검사 장치 및 검사 방법 - Google Patents

용접 상태 검사 장치 및 검사 방법 Download PDF

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WO2022260268A1
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lead
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tab
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이정훈
김석진
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주식회사 엘지에너지솔루션
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Definitions

  • the present invention relates to an apparatus and method for inspecting a welding state between a tab protruding from a plurality of electrodes stacked with a separator interposed therebetween and a lead welded to the tab.
  • a secondary battery means a battery that can be charged and discharged, unlike a primary battery that cannot be charged, and is widely used in electronic devices such as mobile phones, laptop computers, and camcorders, or electric vehicles.
  • the lithium secondary battery since the lithium secondary battery has a higher capacity than a nickel-cadmium battery or a nickel-hydrogen battery and has a high energy density per unit weight, the degree of its utilization is rapidly increasing.
  • lithium secondary batteries are also classified according to the structure of the electrode assembly of the cathode/separator/cathode structure.
  • a jelly-like structure in which long sheet-type cathodes and anodes are wound with a separator interposed therebetween.
  • a pouch-type battery having a structure in which a stacked or stacked/folding type electrode assembly is embedded in a pouch-type battery case of an aluminum laminate sheet has attracted a lot of attention for reasons such as low manufacturing cost, light weight, and easy shape deformation. Its usage is gradually increasing.
  • lithium secondary batteries mainly use a lithium-based oxide and a carbon material as a positive electrode active material and a negative electrode active material, respectively.
  • a lithium secondary battery includes an electrode assembly in which a plurality of electrodes each coated with such an electrode active material are disposed with a separator interposed therebetween, and an exterior material for sealing and housing the electrode assembly together with an electrolyte solution.
  • FIG. 1 is a perspective view of a general electrode assembly.
  • the electrode assembly 10 includes a plurality of tabs 20 extending from a plurality of electrodes, and each of the plurality of tabs 20 is welded to the lead 30 .
  • the plurality of tabs 20 may include a plurality of positive electrode tabs extending from the plurality of positive electrodes and a plurality of negative electrode tabs extending from the plurality of negative electrodes.
  • the lead 30 connected to the plurality of positive tabs may be a positive lead
  • the lead 30 connected to the plurality of negative tabs may be a negative lead.
  • 1 shows an electrode assembly 10 in which positive electrode tabs and negative electrode tabs protrude in opposite directions. However, it is not limited thereto, and a configuration in which the positive electrode tab and the negative electrode tab protrude in the same direction is also possible.
  • One problem to be solved by the present invention is to provide a welding state inspection device and inspection method capable of precisely and accurately determining the welding state of a tab and a lead and performing a total inspection.
  • the welding state inspection apparatus may inspect a welding state between a tab protruding from a plurality of electrodes stacked with a separator interposed therebetween and a lead welded to the tab.
  • the welding state inspection device may include a pair of tab probes contacting the tab and spaced apart from each other in a width direction of the tab; and a pair of lead probes contacting the lead and spaced apart from each other in a width direction of the lead.
  • the welding state inspection device determines whether weak welding is performed based on the first resistance value between the pair of tap probes, the second resistance value between one tap probe and one lead probe, and the third resistance value between another tap probe and another lead probe. It may further include a control unit for determining.
  • the control unit may determine weak welding when at least one of the first resistance value, the second resistance value, and the third resistance value exceeds a predetermined critical resistance value.
  • the welding state inspection device includes a first resistance value between the pair of tap probes, a second resistance value between one tap probe and one lead probe, a third resistance value between the other tap probe and the other lead probe, and the pair of leads.
  • a controller may further include determining whether or not weak welding is performed based on the fourth resistance value between the probes.
  • the tap probe and the lead probe may face each other with the tab and the lead interposed therebetween.
  • the pair of tap probes may contact both sides of the tab in a width direction, and the pair of lead probes may contact both sides of the lead in a width direction.
  • Each of the tap probe and the lead probe may include a pair of probe members, one of which applies a current and the other of which senses a voltage. At an end of each probe member, a tip contacting the tab or lead and formed sharp; Alternatively, an opposite surface facing the tab or lead and a plurality of protrusions protruding from the opposite surface and contacting the tab or lead may be provided.
  • One of the tap probe and the lead probe has the tip provided at an end of the pair of probe members, and the other of the tap probe and the lead probe has the opposite surface and the tip at the end of the pair of probe members.
  • a plurality of protrusions may be provided.
  • the tap probe and the lead probe may further include a spring that applies an elastic force so that the probe member protrudes.
  • the welding state inspection method may inspect a welding state between a tab protruding from a plurality of electrodes stacked with a separator interposed therebetween and a lead welded to the tab.
  • the welding state inspection method may include a probe contacting step of contacting a pair of lead probes to the lead and contacting a pair of tab probes to the tab; a resistance measurement step of measuring a first resistance value between the pair of tap probes, a second resistance value between one tap probe and one lead probe, and a third resistance value between another tap probe and another lead probe; and determining whether weak welding is performed based on the first resistance value, the second resistance value, and the third resistance value.
  • the determining step when at least one of the first resistance value, the second resistance value, and the third resistance value exceeds a predetermined critical resistance value, it may be determined that the welding is weak.
  • a fourth resistance value between the pair of lead probes is further measured, and in the determining step, weak welding may be determined by further considering the fourth resistance value.
  • the pair of lead probes may contact both sides of the lead in the width direction
  • the pair of tab probes may contact both sides of the tab in the width direction
  • the lead probe and the tap probe may face each other with the lead and the tab interposed therebetween.
  • the tap probe and the lead probe may include a pair of probe members, one of which applies a current and the other of which senses a voltage. Any one of the tap probe and the lead probe may have a tip provided at an end of the pair of probe members. The other one of the tap probe and the lead probe may have an opposite surface facing the tab or lead and a plurality of protrusions protruding from the opposite surface at an end of the pair of probe members.
  • the tip may contact another one of the tabs and leads.
  • the area where the lead and the tab face each other may include a center area located at the center in the width direction and having a weld bead formed thereon; Side regions located at both ends in the width direction and formed with weld beads; and a non-contact area located between the center area and the side area and not having a weld bead formed thereon.
  • the lead probe and the tap probe may contact the contacted area.
  • the welding state is inspected using a resistance measurement method, there is no need to perform a tensile destructive inspection or the like, and there is an advantage in that a total number of inspections can be performed.
  • weak welding is determined based on a plurality of resistance values measured by a pair of tap probes and a pair of lead probes
  • conventional methods for determining weak welding based on a single resistance value between a pair of probes It has the advantage of being able to measure more precisely and accurately than the method.
  • FIG. 1 is a perspective view of a general electrode assembly.
  • FIG. 2 is a schematic diagram of a welding state inspection device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a schematic diagram showing the operation of the welding state inspection device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a flow chart of a welding state inspection method according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a schematic diagram of a welding state inspection device according to another embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is an exploded view of a tap probe according to another embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is an exploded view of a lead probe according to another embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic diagram of a welding state inspection device according to an embodiment of the present invention
  • Figure 3 is a schematic diagram showing the operation of the welding state inspection device according to an embodiment of the present invention.
  • a welding state inspection device (hereinafter referred to as 'inspection device') according to an embodiment of the present invention may inspect a welding state between the tab 20 and the lead 30 of the electrode assembly 10 .
  • At least a portion of the region 50 where the tab 20 and the lead 30 face each other may be welded to each other, and the type of welding is not limited.
  • the tab 20 and the lead 30 may be welded using any one of ultrasonic welding, laser welding, and electromagnetic pulse welding.
  • the test device may include a tab probe 110 contacting the tab 20 and a lead probe 120 contacting the lead 30 .
  • the pair of tap probes 110 and the pair of lead probes 120 may be probes for measuring microresistance.
  • the tap probe 110 may contact the region 50 from the side of the tab 20
  • the lead probe 120 may contact the region 50 from the side of the lead 30 .
  • a pair of tap probes 110 spaced apart from each other in the width direction of the tap 20 may be provided.
  • a pair of lead probes 120 spaced apart from each other in the width direction of the lead 30 may be provided.
  • the pair of tap probes 110 may contact both sides of the tab 20 in the width direction, and the pair of lead probes 120 may contact both sides of the lead 30 in the width direction.
  • the tap probe 110 and the lead probe 120 may be positioned to face each other with the tab 20 and the lead 30 interposed therebetween.
  • the one tap probe 110 of the pair of tap probes 110 may face the one lead probe 120 of the pair of lead probes 120 .
  • the other tap probe 110 of the pair of tap probes 110 may face the other lead probe 120 of the pair of lead probes 120 .
  • the resistance of the tab 20 and the lead 30 can be measured while being constrained between the pair of tab probes 110 and the pair of lead probes 120 .
  • a controller (not shown) included in the testing device may measure resistance between two probes of the pair of tap probes 110 and the pair of lead probes 120 .
  • the controller may include at least one processor.
  • Each of the probes 110 and 120 includes voltage probe members 112a and 122a and current probe members 112b and 122b, and the controller may use a 4-wire resistance measurement method.
  • this 4-wire resistance measurement method is hardly affected by contact resistance, and thus has the advantage of being able to measure finer resistance more precisely. Since the 2-wire and 4-wire resistance measurement methods are well-known technologies, a detailed description thereof will be omitted.
  • the controller determines the first resistance value between the pair of tap probes 110, the second resistance value between the one tap probe 110 and the one lead probe 120, and the other tap probe 110.
  • a third resistance value between the lead probes 110 may be measured.
  • the control unit may determine whether weak welding is performed between the tab 20 and the lead 30 based on the first to third resistance values. Also, the control unit may determine whether weak welding between the plurality of tabs 20 is performed based on the first resistance value.
  • the controller may further measure a fourth resistance value between the pair of lead probes 120 .
  • the control unit may determine whether weak welding is performed between the tab 20 and the lead 30 based on the first to fourth resistance values.
  • Each probe 110 or 120 may include a body 111 or 121 and a pair of probe members 112 or 122 protruding from the body 111 or 121 .
  • Each of the bodies 111 and 121 may have a hollow cylindrical shape extending in a direction perpendicular to the surface of the tab 20 or the lead 30 .
  • the shapes of the bodies 111 and 121 are not limited thereto.
  • the bodies 111 and 121 may be configured to move toward or away from the tab 20 or the lead 30 or away from the tab 20 or the lead 30 .
  • a lifting mechanism may be connected to the bodies 111 and 121 . Accordingly, each of the probes 110 and 120 may selectively contact the tab 20 or the lead 30 .
  • Each of the probe members 112 and 122 may protrude toward the tab 20 or the lead 30 from the body 111 and 121 .
  • Springs 117 and 127 may be provided inside the bodies 111 and 121 to press the respective probe members 112 and 122 in the protruding direction. Therefore, the probe members 112 and 122 prevent the tab 20 or the lead 30 from being damaged or deformed by being in contact with the tab 20 or the lead 30 while the springs 117 and 127 are compressed. It can be prevented.
  • shields 116 and 126 (see FIGS. 6 and 7) minimizing exposure of the probe members 112 and 122 are provided in the body 111 and 121. may be provided. Therefore, noise can be minimized when measuring resistance by the probe members 112 and 122 .
  • One of the pair of probe members 112 and 122 protruding from each body 111 and 121 is a voltage probe member 112a and 122a for detecting voltage, and the other is a current probe for applying current. It may be members 112b and 122b.
  • the controller determines from the current value flowing through the current probe member 112a of the pair of tap probes 110 and the voltage value measured between the voltage probe member 112b of the pair of tap probes 110. , it is possible to determine the first resistance value.
  • the controller controls the current value flowing through the current probe member 112a of the one-tap probe 110 and the current probe member 122a of the one-lead probe 120, and the voltage probe member of the one-tap probe 110 ( 112b) and the voltage measured between the voltage probe member 122b of the one-lead probe 120, the second resistance value may be determined.
  • the controller controls the current value flowing through the current probe member 112a of the other tap probe 110 and the current probe member 122a of the other lead probe 120, and the voltage probe member of the other tap probe 110 ( 112b) and the voltage probe member 122b of the other lead probe 120, the third resistance value may be determined from the measured voltage value.
  • control unit may determine whether weak welding is performed based on the first to third resistance values. For example, the control unit may determine weak welding when at least one of the first resistance value, the second resistance value, and the third resistance value exceeds a preset threshold resistance value.
  • the fourth resistance value may be determined.
  • control unit may determine whether weak welding is performed based on the first to fourth resistance values. For example, the control unit may determine weak welding when at least one of the first resistance value, the second resistance value, the third resistance value, and the fourth resistance value exceeds a preset threshold resistance value.
  • the tap probe 110 and the lead probe 120 may not contact the weld bead b formed by welding.
  • the area 50 in which the lead 30 and the tab 20 face each other includes a center area 51 located at the center in the width direction, side areas 53 located at both ends in the width direction, and a center area It may include a contacted area 52 located between 51 and the side area 53 and contacted by the tap probe 110 and the lead probe 120 .
  • a plurality of welding beads (b) formed by welding may be formed in a group in the center region 51 . Also, a weld bead (b) may be formed in the side region 53 . On the other hand, the weld bead b may not be formed in the contacted area 52 . That is, the tap probe 110 and the lead probe 120 may not contact the welding bead b.
  • the length of the center region 51 may be longer than that of the side region 53.
  • FIG. 4 is a flow chart of a welding state inspection method according to an embodiment of the present invention.
  • a welding condition inspection method (hereinafter referred to as 'inspection method') according to the present embodiment may be a method for inspecting a welding condition between the tab 20 and the lead 30 . That is, the inspection method may be the control method of the inspection device described above.
  • the inspection method may include a probe contact step (S10), a resistance measurement step (S20), and a determination step (S30).
  • the probe contacting step ( S10 ) may be a step of contacting the pair of lead probes 120 to the lead 30 and contacting the pair of tap probes 110 to the tab 20 .
  • the lead probe 120 and the tap probe 110 may contact the contact area 52 .
  • the lead probe 120 and the tap probe 110 may contact the contact area 52 simultaneously or sequentially with a predetermined time difference.
  • the first resistance value between the pair of tap probes 110, the second resistance value between the one tap probe 110 and the one lead probe 120, and the other tap probe 110 It may be a step of measuring a third resistance value between other lead probes 120 .
  • a fourth resistance value between the pair of lead probes 120 may be further measured. In this regard, the above description is used.
  • the determining step (S30) may be a step of determining whether weak welding is performed between the tab 20 and the lead 30 based on the first to third resistance values.
  • control unit may determine weak welding when at least one of the first to third resistance values exceeds a predetermined critical resistance value.
  • critical resistance values corresponding to the first to third resistance values may be different from each other.
  • the determination step (S30) considers not only the first to third resistance values but also the fourth resistance value, so that the tab 20 and the lead 30 ), it is possible to determine whether or not there is weak welding between
  • the control unit may determine weak welding when at least one of the first to fourth resistance values exceeds a predetermined critical resistance value.
  • critical resistance values corresponding to the first to fourth resistance values may be different from each other.
  • the threshold resistance value may be preset by processing resistance data obtained for a sample group in a statistical method.
  • the resistance value data obtained for a large sample group form a normal distribution curve, and it is safe to assume that an individual with a large deviation from the normal distribution curve is defective in terms of statistical probability. Therefore, the majority of the resistance data of the sample group showing a normal distribution curve have a value close to the average value, and individuals with a large deviation compared to the average value can be estimated to be defective. Therefore, a value obtained by adding n times the standard deviation (n is a natural number) to the average value may be set as the critical resistance value.
  • the critical resistance value may be a value obtained by adding 6 times the standard deviation to the average value.
  • the reliability of a resistance value greater than this critical resistance value may be sufficiently high even if it is estimated as a weak welding defect.
  • FIG. 5 is a schematic diagram of a welding state inspection device according to another embodiment of the present invention
  • FIG. 6 is an exploded view of a tap probe according to another embodiment of the present invention
  • FIG. 7 is a lead probe according to another embodiment of the present invention. is an exploded view.
  • a tip 113 contacting the tab 20 or the lead 30 is provided, or the tip 113 facing the tab 20 or the lead 30 is provided.
  • the opposing surface 123 and a plurality of protrusions 124 protruding from the opposing surface 123 and contacting the tab 20 or the lead 30 may be provided.
  • the tip 113 is provided at an end of one of the probe members of the tap probe 110 and the lead probe 120, and the opposite surface 123 and A plurality of protrusions 124 may be provided.
  • the plurality of protrusions 124 contact either the tab 20 or the lead 30 in the probe contact step (S10) (see FIG. 4). After doing so, the tip 113 may contact either the tab 20 or the other of the leads 30.
  • the tip 113 can contact and operate in a state where the opposing surface 123 and the plurality of protrusions 124 support the tab 20 and the lead 30 over a large area. Accordingly, the possibility of deformation of the tab 20 or the lead 30 due to the contact operation of the tip 113 can be minimized.
  • the tip 113 is provided at the end of the probe member 112 of the tap probe 110, and the opposite surface is provided at the end of the probe member 122 of the lead probe 120.
  • a case in which 123 and protrusion 124 are provided will be described as an example. However, those skilled in the art will be able to easily understand the opposite case.
  • a tip 113 contacting the tab 20 may be provided at an end of a pair of probe members 112 provided in each tap probe 110 .
  • the tip 113 may protrude outward from the body 111, more specifically, the shield 116.
  • the tip 113 may be formed such that its cross-sectional area becomes narrower towards the distal end. That is, the tip 113 may be formed sharp. Accordingly, when an oxide film exists on the surface of the tab 20, the tip 113 may penetrate the oxide film. Accordingly, it is possible to eliminate the concern that the resistance value is not accurately measured by the oxide film.
  • an opposing surface 123 facing the lead 30, and protruding from the opposing surface 123 to contact the lead 30 A plurality of protrusions 124 may be provided.
  • the facing surface 123 may have a plate shape extending radially outward from the probe member.
  • the facing surface 123 may be located outside the body 121, more specifically, the shield 126.
  • the protrusion 124 may be formed such that its cross-sectional area becomes narrower towards the distal end. That is, the protrusion 124 may be formed sharp. Accordingly, when an oxide film exists on the surface of the lead 30, the protrusion 124 may dig into the oxide film. Accordingly, it is possible to eliminate the concern that the resistance value is not accurately measured by the oxide film.

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Abstract

본 발명의 실시예에 따른 용접 상태 검사 장치는, 분리막을 사이에 두고 적층된 복수개의 전극에서 돌출된 탭과, 상기 탭에 용접된 리드 간 용접 상태를 검사할 수 있다. 상기 용접 상태 검사 장치는, 상기 탭에 접촉하고 상기 탭의 폭 방향으로 서로 이격된 한 쌍의 탭 프로브; 및 상기 리드에 접촉하고 상기 리드의 폭 방향으로 서로 이격된 한 쌍의 리드 프로브를 포함할 수 있다.

Description

용접 상태 검사 장치 및 검사 방법
관련출원과의 상호인용
본 출원은 2021년 06월 11일자 한국특허출원 제10-2021-0075923호 및 2022년 04월 11일자 한국특허출원 제10-2022-0044832호에 기초한 우선권의 이익을 주장하며, 해당 한국특허출원의 문헌에 개시된 모든 내용은 본 명세서의 일부로서 포함된다.
기술분야
본 발명은, 분리막을 사이에 두고 적층된 복수개의 전극에서 돌출된 탭과, 상기 탭에 용접된 리드 간 용접 상태를 검사하는 장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 이차전지는 충전이 불가능한 일차 전지와 달리, 충방전이 가능한 전지를 의미하며, 휴대폰, 노트북, 캠코더 등의 전자기기 또는 전기 자동차 등에 널리 사용되고 있다. 특히, 리튬 이차전지는 니켈-카드뮴 전지 또는 니켈-수소 전지보다 큰 용량을 가지며, 단위 중량당 에너지 밀도가 높기 때문에 그 활용 정도가 급속도로 증가되는 추세에 있다.
한편, 리튬 이차전지는 양극/분리막/음극 구조의 전극 조립체가 어떠한 구조로 이루어져 있는지에 따라 분류되기도 하는 바, 대표적으로 긴 시트형의 양극들과 음극들을 분리막이 개재된 상태에서 권취한 구조의 젤리-롤 전극 조립체, 소정 크기의 단위로 절취한 다수의 양극과 음극들을 분리막을 개재한 상태로 순차적으로 적층한 스택형 전극조립체, 소정 단위의 양극과 음극들을 분리막을 개재한 상태로 적층한 바이 셀(bi-cell) 또는 풀 셀(full-cell)들을 권취한 구조의 스택/폴딩형 전극 조립체 등을 들 수 있다.
최근에는, 스택형 또는 스택/폴딩형 전극 조립체를 알루미늄 라미네이트 시트의 파우치형 전지케이스에 내장한 구조의 파우치형 전지가, 낮은 제조비, 가벼운 중량, 용이한 형태 변형 등을 이유로 많은 관심을 모으고 있고 또한 그 사용량이 점차적으로 증가하고 있다.
이러한 리튬 이차전지는 주로 리튬계 산화물과 탄소재를 각각 양극 활물질과 음극 활물질로 사용한다. 리튬 이차전지는, 이러한 전극 활물질이 각각 도포된 복수개의 전극이 세퍼레이터를 사이에 두고 배치된 전극 조립체와, 전극 조립체를 전해액과 함께 밀봉 수납하는 외장재를 구비한다.
도 1은 일반적인 전극 조립체의 사시도이다.
전극 조립체(10)에는 복수 개의 전극으로부터 연장된 복수개의 탭(20)이 구비되며, 이러한 복수개의 탭(20)은 각각 리드(30)와 용접 결합된다. 여기서, 복수개의 탭(20)은 복수개의 양극에서 연장된 복수개의 양극 탭과, 복수개의 음극에서 연장된 복수개의 음극 탭을 포함할 수 있다. 그리고, 복수개의 양극 탭에 연결된 리드(30)는 양극 리드이고, 복수개의 음극 탭에 연결된 리드(30)는 음극 리드일 수 있다. 도 1에는 양극 탭과 음극 탭이 서로 반대 방향으로 돌출된 전극 조립체(10)가 도시된다. 다만 이에 한정되는 것은 아니며, 양극 탭과 음극 탭이 동일한 방향으로 돌출되는 구성도 가능함은 물론이다.
탭(20) 및 리드(30)를 용접할 때, 탭(20)과 탭(20) 사이, 탭(20)과 리드(30)의 사이의 용접을 약하게 행하는 경우에는 용접 불량이 발생하므로, 이 같은 약용접에 의한 용접 불량 여부를 검사하는 과정이 필요하다.
용접부의 약용접 불량을 검사하기 위한 방법으로, 종래에는 피용접물에 대해 용접부를 중심으로 반대 방향으로 잡아당겨 인장 강도를 측정하는 방식을 사용하였다. 그러나, 이 같은 방식은 인장 강도를 측정하는 과정에서 탭(20)이나 리드(30)가 손상되므로, 오차 발생의 가능성이 크고 전수 조사가 불가능한 한계가 있었다.
따라서, 용접부의 약용접 여부를 검사함에 있어서, 전수 검사가 가능하면서도 검출력이 우수한 검사 장치에 대한 기술 개발이 필요한 실정이다.
본 발명이 해결하고자 하는 일 과제는, 탭과 리드의 용접 상태를 정밀하고 정확하게 판별할 수 있으며 전수 조사가 가능한 용접 상태 검사 장치 및 검사 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 실시예에 따른 용접 상태 검사 장치는, 분리막을 사이에 두고 적층된 복수개의 전극에서 돌출된 탭과, 상기 탭에 용접된 리드 간 용접 상태를 검사할 수 있다.
상기 용접 상태 검사 장치는, 상기 탭에 접촉하고 상기 탭의 폭 방향으로 서로 이격된 한 쌍의 탭 프로브; 및 상기 리드에 접촉하고 상기 리드의 폭 방향으로 서로 이격된 한 쌍의 리드 프로브를 포함할 수 있다.
상기 용접 상태 검사 장치는, 상기 한 쌍의 탭 프로브 간 제1저항값, 일 탭 프로브와 일 리드 프로브 간 제2저항값, 타 탭 프로브와 타 리드 프로브 간 제3저항값을 기반으로 약용접 여부를 판별하는 제어부를 더 포함할 수 있다.
상기 제어부는, 상기 제1저항값, 제2저항값 및 제3저항값 중 적어도 하나가 기설정된 임계 저항값을 초과하면, 약용접으로 판단할 수 있다.
상기 용접 상태 검사 장치는, 상기 한 쌍의 탭 프로브 간 제1저항값, 일 탭 프로브와 일 리드 프로브 간 제2저항값, 타 탭 프로브와 타 리드 프로브 간 제3저항값 및 상기 한 쌍의 리드 프로브 간 제4저항값을 기반으로 약용접 여부를 판별하는 제어부를 더 포함할 수 있다.
상기 탭 프로브와 상기 리드 프로브는, 상기 탭 및 리드를 사이에 두고 서로 마주보게 위치할 수 있다.
상기 한 쌍의 탭 프로브는 상기 탭의 폭 방향 양측에 접촉하고, 상기 한 쌍의 리드 프로브는 상기 리드의 폭 방향 양측에 접촉할 수 있다.
상기 탭 프로브 및 리드 프로브 각각은, 어느 하나는 전류를 인가하고 다른 하나는 전압을 감지하는 한 쌍의 프로브 부재를 포함할 수 있다. 각 프로브 부재의 단부에는, 상기 탭 또는 리드에 접촉하며 뾰족하게 형성된 팁; 또는 상기 탭 또는 리드를 마주보는 대향면 및 상기 대향면에서 돌출되어 상기 탭 또는 리드에 접촉하는 복수개의 돌기가 구비될 수 있다.
상기 탭 프로브 및 리드 프로브 중 어느 하나는, 상기 한 쌍의 프로브 부재의 단부에 상기 팁이 구비되고, 상기 탭 프로브 및 리드 프로브 중 다른 하나는, 상기 한 쌍의 프로브 부재의 단부에 상기 대향면 및 복수개의 돌기가 구비될 수 있다.
상기 탭 프로브 및 리드 프로브는, 상기 프로브 부재가 돌출되도록 탄성력을 가하는 스프링을 더 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 용접 상태 검사 방법은, 분리막을 사이에 두고 적층된 복수개의 전극에서 돌출된 탭과, 상기 탭에 용접된 리드 간 용접 상태를 검사할 수 있다. 상기 용접 상태 검사 방법은, 상기 리드에 한 쌍의 리드 프로브를 접촉시키고, 상기 탭에 한 쌍의 탭 프로브를 접촉시키는 프로브 접촉 단계; 상기 한 쌍의 탭 프로브 간 제1저항값과, 일 탭 프로브와 일 리드 프로브 간 제2저항값과, 타 탭 프로브와 타 리드 프로브 간 제3저항값을 측정하는 저항 측정단계; 및 상기 제1저항값, 제2저항값 및 제3저항값을 기반으로 약용접 여부를 판별하는 판별 단계를 포함할 수 있다.
상기 판별 단계에서, 상기 제1저항값, 제2저항값 및 제3저항값 중 적어도 하나가 기설정된 임계 저항값을 초과하면 약용접으로 판단할 수 있다.
상기 저항 측정 단계는, 상기 한 쌍의 리드 프로브 간 제4저항값을 더 측정하고, 상기 판별 단계는, 상기 제4저항값을 더 고려하여 약용접 여부를 판별할 수 있다.
상기 프로브 접촉 단계에서, 상기 한 쌍의 리드 프로브는 상기 리드의 폭 방향 양측에 접촉되고, 상기 한 쌍의 탭 프로브는 상기 탭의 폭 방향 양측에 접촉될 수 있다.
상기 프로브 접촉 단계에서, 상기 리드 프로브 및 탭 프로브는, 상기 리드 및 탭을 사이에 두고 서로 마주보게 위치할 수 있다.
상기 탭 프로브 및 리드 프로브는, 어느 하나는 전류를 인가하고 다른 하나는 전압을 감지하는 한 쌍의 프로브 부재를 포함할 수 있다. 상기 탭 프로브 및 리드 프로브 중 어느 하나는, 상기 한 쌍의 프로브 부재의 단부에 팁이 구비될 수 있다. 상기 탭 프로브 및 리드 프로브 중 다른 하나는, 상기 한 쌍의 프로브 부재의 단부에, 상기 탭 또는 리드를 마주보는 대향면 및 상기 대향면에서 돌출된 복수개의 돌기가 구비될 수 있다.
상기 프로브 접촉 단계에서, 상기 복수개의 돌기가 상기 탭 또는 리드 중 어느 하나에 접촉한 이후, 상기 팁이 상기 탭 또는 리드 중 다른 하나에 접촉할 수 있다.
상기 리드 및 탭이 서로 마주보는 영역은, 폭방향 중앙에 위치하며 용접 비드가 형성된 센터 영역; 폭방향 양 단에 위치하며 용접 비드가 형성된 사이드 영역; 및 상기 센터 영역과 사이드 영역의 사이에 위치하며 용접 비드가 미형성된 피접촉 영역을 포함할 수 있다. 상기 프로브 접촉 단계에서, 상기 리드 프로브 및 탭 프로브는 상기 피접촉 영역에 접촉할 수 있다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 저항 측정 방식을 사용하여 용접 상태를 검사하므로, 인장에 의한 파괴 검사 등을 수행할 필요가 없고, 전수 조사가 가능한 이점이 있다.
또한, 한 쌍의 탭 프로브 및 한 쌍의 리드 프로브에 의해 측정되는 복수의 저항값을 기반으로 약용접 여부를 판별하므로, 한 쌍의 프로브 간 단일의 저항값을 기반으로 약용접 여부를 판별하는 종래 방식보다 정밀하고 정확한 측정이 가능한 이점이 있다.
도 1은 일반적인 전극조립체의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 용접 상태 검사 장치의 모식도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 용접 상태 검사 장치의 작용을 나타낸 모식도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 용접 상태 검사 방법의 순서도이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 용접 상태 검사 장치의 모식도이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 탭 프로브의 분해도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 리드 프로브의 분해도이다.
이하에서는 첨부의 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 이하의 실시예에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분 또는 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 관련 공지 기술에 대한 상세한 설명은 생략하였으며, 본 명세서에서 각 도면의 구성요소들에 참조 부호를 부가함에 있어서는, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일 또는 유사한 참조 부호를 붙이도록 한다
또한, 본 명세서 및 특허청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정하여 해석되어서는 안되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 용접 상태 검사 장치의 모식도이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 용접 상태 검사 장치의 작용을 나타낸 모식도이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 용접 상태 검사 장치(이하, '검사 장치')는, 전극 조립체(10)의 탭(20)과 리드(30) 사이의 용접 상태를 검사할 수 있다.
탭(20)과 리드(30)가 서로 마주보는 영역(50)의 적어도 일부는 서로 용접될 수 있으며, 용접의 종류는 한정되지 않는다. 예를 들어, 탭(20)과 리드(30)는 초음파 용접, 레이저 용접 또는 전자기 펄스 용접 중 어느 하나의 방식으로 용접될 수 있다.
상기 검사 장치는, 탭(20)에 접촉하는 탭 프로브(110)와, 리드(30)에 접촉하는 리드 프로브(120)를 포함할 수 있다. 한 쌍의 탭 프로브(110) 및 한 쌍의 리드 프로브(120)는 미세 저항 측정용 프로브일 수 있다.
좀 더 상세히, 탭 프로브(110)는 탭(20) 측에서 상기 영역(50)에 접촉할 수 있고, 리드 프로브(120)는 리드(30) 측에서 상기 영역(50)에 접촉할 수 있다.
탭 프로브(110)는, 탭(20)의 폭 방향으로 서로 이격된 한 쌍이 구비될 수 있다. 리드 프로브(120)는, 리드(30)의 폭 방향으로 서로 이격된 한 쌍이 구비될 수 있다. 좀 더 상세히, 한 쌍의 탭 프로브(110)는 탭(20)의 폭 방향 양측에 접촉하고, 한 쌍의 리드 프로브(120)는 리드(30)의 폭 방향 양측에 접촉할 수 있다.
탭 프로브(110)와 리드 프로브(120)는, 탭(20) 및 리드(30)를 사이에 두고 서로 마주보게 위치할 수 있다. 좀 더 상세히, 한 쌍의 탭 프로브(110) 중 일 탭 프로브(110)는, 한 쌍의 리드 프로브(120) 중 일 리드 프로브(120)를 마주볼 수 있다. 마찬가지로, 한 쌍의 탭 프로브(110) 중 타 탭 프로브(110)는, 한 쌍의 리드 프로브(120) 중 타 리드 프로브(120)를 마주볼 수 있다.
따라서, 탭(20) 및 리드(30)는, 한 쌍의 탭 프로브(110) 및 한 쌍의 리드 프로브(120)의 사이에서 구속된 상태로 저항이 측정될 수 있다.
검사 장치에 포함된 제어부(미도시)는, 한 쌍의 탭 프로브(110) 및 한 쌍의 리드 프로브(120) 중 2개의 프로브 간 저항을 측정할 수 있다. 상기 제어부는 적어도 하나의 프로세서를 포함할 수 있다.
각 프로브(110)(120)는 전압 프로브 부재(112a)(122a) 및 전류 프로브 부재(112b)(122b)를 포함하고, 제어부는 4 선식 저항 측정 방식을 사용할 수 있다. 이러한 4 선식 저항 측정 방식은, 2선식 저항 측정 방식에 비해 접촉 저항의 영향을 거의 받지 않으므로 보다 미세 저항을 정밀하게 측정할 수 있는 이점이 있다. 2 선식 및 4 선식 저항 측정 방식은 주지 기술이므로 이에 대한 자세한 설명은 생략한다.
좀 더 상세히, 제어부는, 한 쌍의 탭 프로브(110) 간 제1저항값과, 일 탭 프로브(110)와 일 리드 프로브(120) 간 제2저항값과, 타 탭 프로브(110)와 타 리드 프로브(110) 간 제3저항값을 측정할 수 있다. 그리고, 상기 제어부는 상기 제1 내지 제3저항값을 기반으로 탭(20)과 리드(30) 사이의 약용접 여부를 판단할 수 있다. 또한, 상기 제어부는 상기 제1저항값을 기반으로 복수개의 탭(20) 간의 약용접 여부를 판단하는 것도 가능하다.
다만 이에 한정되는 것은 아니며, 상기 제어부는, 한 쌍의 리드 프로브(120) 간 제4저항값을 더 측정할 수 있다. 상기 제어부는, 상기 제1내지 제4저항값을 기반으로 탭(20)과 리드(30) 사이의 약용접 여부를 판단할 수 있다.
이하, 각 프로브(110)(120)의 상세한 구성에 대해 설명한다.
각 프로브(110)(120)는, 몸체(111)(121) 및 상기 몸체(111)(121)에서 돌출된 한 쌍의 프로브 부재(112)(122)를 포함할 수 있다.
각 몸체(111)(121)는 탭(20) 또는 리드(30)의 표면과 직교하는 방향으로 연장된 중공통 형상일 수 있다. 다만, 몸체(111)(121)의 형상이 이에 한정되는 것은 아니다.
몸체(111)(121)는 탭(20)이나 리드(30)에 접근하거나, 탭(20)이나 리드(30)로부터 멀어지도록 이동 가능하게 구성될 수 있다. 예를 들어, 몸체(111)(121)에는 승강 메커니즘이 연결될 수 있다. 따라서, 각 프로브(110)(120)는 탭(20) 또는 리드(30)에 선택적으로 접촉할 수 있다.
각 프로브 부재(112)(122)는 몸체(111)(121)에서 탭(20) 또는 리드(30)를 향해 돌출될 수 있다.
몸체(111)(121)의 내부에는 각 프로브 부재(112)(122)를 돌출 방향으로 가압하는 스프링(117)(127)(도 6 참조)이 구비될 수 있다. 따라서, 프로브 부재(112)(122)는 상기 스프링(117)(127)이 압축되며 탭(20) 또는 리드(30)와 접촉함으로써, 탭(20) 또는 리드(30)가 파손되거나 변형되는 것을 방지할 수 있다.
또한, 도 2 및 도 3에는 도시되어 있지 않으나, 몸체(111)(121)에는 프로브 부재(112)(122)의 노출을 최소화하는 실드(116)(126)(도 6 및 도 7 참조)가 구비될 수 있다. 따라서, 프로브 부재(112)(122)에 의한 저항 측정시에 노이즈가 최소화될 수 있다.
각 몸체(111)(121)에서 돌출된 한 쌍의 프로브 부재(112)(122) 중 어느 하나는 전압을 감지하는 전압 프로브 부재(112a)(122a)이고, 다른 하나는 전류를 인가하는 전류 프로브 부재(112b)(122b)일 수 있다.
이에 따라, 제어부는, 한 쌍의 탭 프로브(110)의 전류 프로브 부재(112a)를 통해 흐르는 전류값과, 한 쌍의 탭 프로브(110)의 전압 프로브 부재(112b) 사이에서 측정된 전압값으로부터, 상기 제1저항값을 결정할 수 있다.
또한, 제어부는, 일 탭 프로브(110)의 전류 프로브 부재(112a) 및 일 리드 프로브(120)의 전류 프로브 부재(122a)를 통해 흐르는 전류값과, 일 탭 프로브(110)의 전압 프로브 부재(112b) 및 일 리드 프로브(120)의 전압 프로브 부재(122b) 사이에서 측정된 전압값으로부터, 상기 제2저항값을 결정할 수 있다.
또한, 제어부는, 타 탭 프로브(110)의 전류 프로브 부재(112a) 및 타 리드 프로브(120)의 전류 프로브 부재(122a)를 통해 흐르는 전류값과, 타 탭 프로브(110)의 전압 프로브 부재(112b) 및 타 리드 프로브(120)의 전압 프로브 부재(122b) 사이에서 측정된 전압값으로부터, 상기 제3저항값을 결정할 수 있다.
따라서, 제어부는 상기 제1 내지 제3저항값을 기반으로 약용접 여부를 판단할 수 있다. 예를 들어, 제어부는, 상기 제1저항값, 제2저항값 및 제3저항값 중 적어도 하나가 기설정된 임계 저항값을 초과하면 약용접으로 판단할 수 있다.
추가적으로, 제어부는, 한 쌍의 리드 프로브(120)의 전류 프로브 부재(122a)를 통해 흐르는 전류값과, 한 쌍의 리드 프로브(120)의 전압 프로브 부재(122b) 사이에서 측정된 전압값으로부터, 상기 제4저항값을 결정할 수 있다.
이 경우, 제어부는 상기 제1 내지 제4저항값을 기반으로 약용접 여부를 판단할 수 있다. 예를 들어, 제어부는, 상기 제1저항값, 제2저항값, 제3저항값 및 제4저항값 중 적어도 하나가 기설정된 임계 저항값을 초과하면 약용접으로 판단할 수 있다.
한편, 탭 프로브(110) 및 리드 프로브(120)는 용접에 의해 형성된 용접 비드(b)와 비접촉할 수 있다.
좀 더 상세히, 리드(30)와 탭(20)이 서로 마주보는 영역(50)은, 폭방향 중앙에 위치한 센터 영역(51)과, 폭방향 양 단에 위치한 사이드 영역(53)과, 센터 영역(51)과 사이드 영역(53)의 사이에 위치하며 탭 프로브(110) 및 리드 프로브(120)가 접촉하는 피접촉 영역(52)을 포함할 수 있다.
센터 영역(51)에는 용접에 의해 형성된 복수개의 용접 비드(bead)(b)가 그룹을 이루어 형성될 수 있다. 또한, 사이드 영역(53)에도 용접 비드(b)가 형성될 수 있다. 반면, 피접촉 영역(52)에는 용접 비드(b)가 형성되지 않을 수 있다. 즉, 탭 프로브(110) 및 리드 프로브(120)는 용접 비드(b)와 비접촉할 수 있다.
탭 프로브(110) 및 리드 프로브(120)가 피접촉 영역(52)에 접촉함으로써, 용접 비드(b)에 의한 접촉 저항을 줄일 수 있다. 따라서, 좀 더 정밀한 저항의 측정이 가능하다.
또한, 사이드 영역(53)에 의해 상기 영역(50)의 양측 모서리가 들뜨거나 박리되는 것을 방지할 수 있다. 다만, 용접 상태의 정밀한 측정을 위해서는 사이드 영역(53)을 최소화하는 것이 바람직하다. 따라서, 탭(20)이나 리드(30)의 폭방향에 대해, 센터 영역(51)의 길이는 사이드 영역(53)의 길이보다 길 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 용접 상태 검사 방법의 순서도이다.
본 실시예에 따른 용접 상태 검사 방법(이하, '검사 방법')은, 탭(20)과 리드(30) 간 용접 상태를 검사하는 방법일 수 있다. 즉, 상기 검사 방법은, 앞서 설명한 검사 장치의 제어 방법일 수 있다.
상기 검사 방법은, 프로브 접촉 단계(S10)와, 저항 측정 단계(S20)와, 판별 단계(S30)를 포함할 수 있다.
프로브 접촉 단계(S10)는, 리드(30)에 한 쌍의 리드 프로브(120)를 접촉시키고, 탭(20)에 한 쌍의 탭 프로브(110)를 접촉시키는 단계일 수 있다.
이 경우, 앞서 설명한 바와 같이, 리드 프로브(120) 및 탭 프로브(110)는 피접촉 영역(52)에 접촉할 수 있다. 리드 프로브(120)와 탭 프로브(110)는 피접촉 영역(52)에 동시에 접촉하거나, 소정의 시간차를 두고 순차적으로 접촉할 수 있다.
저항 측정 단계(S20)는, 한 쌍의 탭 프로브(110) 간 제1저항값과, 일 탭 프로브(110)와 일 리드 프로브(120) 간 제2저항값과, 타 탭 프로브(110)와 타 리드 프로브(120) 간 제3저항값을 측정하는 단계일 수 있다. 저항 측정 단계(S20)는, 한 쌍의 리드 프로브(120) 간 제4저항값을 더 측정할 수도 있다. 이에 대해서는 앞서 설명한 내용을 원용한다.
판별 단계(S30)는 상기 제1 내지 제3저항값을 기반으로 탭(20)과 리드(30) 사이의 약용접 여부를 판별하는 단계일 수 있다.
예를 들어, 제어부는, 상기 제1 내지 제3저항값 중 적어도 하나가 기설정된 임계 저항값을 초과하면 약용접으로 판단할 수 있다. 여기서, 제1 내지 제3저항값에 대응되는 임계 저항값은 서로 다를 수 있다.
저항 측정 단계(S20)에서 상기 제4저항값을 더 측정하는 경우, 판별 단계(S30)는 상기 제1 내지 제3저항값뿐만 아니라, 제4저항값도 고려하여 탭(20)과 리드(30) 사이의 약용접 여부를 판별할 수 있다. 예를 들어, 제어부는, 상기 제1 내지 제4저항값 중 적어도 하나가 기설정된 임계 저항값을 초과하면 약용접으로 판단할 수 있다. 여기서, 제1 내지 제4저항값에 대응되는 임계 저항값은 서로 다를 수 있다.
상기 임계 저항값은, 표본 집단에 대해 획득한 저항값 데이터를 통계적 방식으로 처리하여 기 설정될 수 있다. 좀 더 상세히, 대량의 표본 집단에 대해 획득한 저항값 데이터들은 정규 분포 곡선을 이루게 되는데, 정규 분포 곡선에서 편차가 큰 개체는 통계적 확률상 불량으로 추정해도 무방하다. 따라서, 정규 분포 곡선을 나타내는 표본 집단의 저항값 데이터는, 대다수가 평균값과 근접한 값을 가지게 되고, 상기 평균값에 비해 편차가 큰 개체는 불량으로 추정할 수 있다. 따라서, 상기 평균값에 표준편차의 n배(n은 자연수)를 더한 값을 임계 저항값으로 설정할 수 있다. 일 예로, 임계 저항값은 상기 평균값에 표준편차의 6배를 더한 값일 수 있다. 정규 분포 곡선에서 평균값 대비 표준편차의 6배 편차를 갖는 개체가 발생할 확률은 0.0000001%이므로, 이러한 임계 저항값보다 큰 저항값은 약용접에 의한 불량으로 추정하더라도 그 신뢰도가 충분히 높을 수 있다.
판별 단계(S30)에서 복수의 저항값을 기반으로 약용접 여부를 판별하므로, 한 쌍의 프로브 간 단일의 저항값을 기반으로 약용접 여부를 판별하는 종래 방식보다 정밀하고 정확한 측정이 가능한 이점이 있다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 용접 상태 검사 장치의 모식도이고, 도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 탭 프로브의 분해도이고, 도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 리드 프로브의 분해도이다.
본 실시예의 경우, 각 프로브 부재(112)(122)를 제외하고는 앞서 설명한 일 실시예와 동일하므로, 이하에서 중복되는 내용은 원용하고 차이점을 중심으로 설명한다.
본 실시예에 따른 각 프로브 부재(112)(122)의 단부에는, 탭(20) 또는 리드(30)에 접촉하는 팁(113)이 구비되거나, 탭(20) 또는 리드(30)를 마주보는 대향면(123) 및 상기 대향면(123)에서 돌출되어 탭(20) 또는 리드(30)에 접촉하는 복수개의 돌기(124)가 구비될 수 있다.
좀 더 상세히, 탭 프로브(110) 및 리드 프로브(120) 중 어느 하나의 프로브 부재의 단부에는, 상기 팁(113)이 구비되고, 다른 하나의 프로브 부재의 단부에는, 상기 대향면(123) 및 복수개의 돌기(124)가 구비될 수 있다.
이와 관련하여, 본 실시예에 따른 검사장치에 의한 검사 방법은, 프로브 접촉 단계(S10)(도 4 참조)에서 복수개의 돌기(124)가 탭(20) 또는 리드(30) 중 어느 하나에 접촉한 이후에, 팁(113)이 탭(20) 또는 리드(30) 중 다른 하나에 접촉할 수 있다.
즉, 대향면(123) 및 복수개의 돌기(124)가 탭(20) 및 리드(30)를 넓은 면적으로 지지한 상태에서 팁(113)이 접촉 동작할 수 있다. 이로써, 팁(113)의 접촉 동작에 의해 탭(20) 또는 리드(30)가 변형될 우려를 최소화할 수 있다.
또한, 탭(20) 및 리드(30)를 사이에 두고 서로 마주보는 탭 프로브(110)와 리드 프로브(120)의 정렬이 정확하게 일치하지 않더라도, 탭 프로브(110) 및 리드 프로브(120)의 접촉 동작에 의해 탭(20) 및 리드(30)가 변형되는 것을 최소화할 수 있는 이점이 있다.
이하에서는, 도 5 내지 도 7에 도시된 바와 같이, 탭 프로브(110)의 프로브 부재(112) 단부에 팁(113)이 구비되고, 리드 프로브(120)의 프로브 부재(122) 단부에 대향면(123) 및 돌기(124)가 구비된 경우를 예로 설명한다. 다만 당업자는 반대의 경우도 용이하게 이해할 수 있을 것이다.
각 탭 프로브(110)에 구비된 한 쌍의 프로브 부재(112)의 단부에는, 탭(20)에 접촉하는 팁(113)이 구비될 수 있다. 팁(113)은 몸체(111), 좀 더 상세히는 실드(116)의 외측으로 돌출될 수 있다.
팁(113)은 말단으로 갈수록 단면적이 좁아지게 형성될 수 있다. 즉, 팁(113)은 뾰족하게 형성될 수 있다. 따라서, 탭(20)의 표면상에 산화막이 존재하는 경우, 팁(113)은 상기 산화막을 파고들 수 있다. 이로써 상기 산화막에 의해 저항값이 정확하게 측정되지 않을 우려를 해소할 수 있다.
각 리드 프로브(120)에 구비된 한 쌍의 프로브 부재(122)의 단부에는, 리드(30)를 마주보는 대향면(123)과, 상기 대향면(123)에서 돌출되어 리드(30)에 접촉하는 복수개의 돌기(124)가 구비될 수 있다.
대향면(123)은 프로브 부재에서 반경 외측 방향으로 확장된 판형일 수 있다. 대향면(123)은 몸체(121), 좀 더 상세히는 실드(126)의 외부에 위치할 수 있다.
돌기(124)는 말단으로 갈수록 단면적이 좁아지게 형성될 수 있다. 즉, 돌기(124)은 뾰족하게 형성될 수 있다. 따라서, 리드(30)의 표면상에 산화막이 존재하는 경우, 돌기(124)은 상기 산화막을 파고들 수 있다. 이로써 상기 산화막에 의해 저항값이 정확하게 측정되지 않을 우려를 해소할 수 있다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다.
따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다.
본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
[부호의 설명]
20: 탭 30: 리드
51: 센터 영역 52: 피접촉 영역
53: 사이드 영역 110: 탭 프로브
111: (탭 프로브의) 몸체 112: (탭 프로브의) 프로브 부재
113: 팁
116: (탭 프로브의) 실드 117: (탭 프로브의) 스프링
120; 리드 프로브
121; (리드 프로브의) 몸체 122: (리드 프로브의) 프로브 부재
123: 대향면 124: 돌기
126: (리드 프로브의) 실드 127: (리드 프로브의) 스프링

Claims (17)

  1. 분리막을 사이에 두고 적층된 복수개의 전극에서 돌출된 탭과, 상기 탭에 용접된 리드 간 용접 상태를 검사하는 장치로서,
    상기 탭에 접촉하고 상기 탭의 폭 방향으로 서로 이격된 한 쌍의 탭 프로브; 및
    상기 리드에 접촉하고 상기 리드의 폭 방향으로 서로 이격된 한 쌍의 리드 프로브를 포함하는 용접 상태 검사 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 한 쌍의 탭 프로브 간 제1저항값, 일 탭 프로브와 일 리드 프로브 간 제2저항값, 타 탭 프로브와 타 리드 프로브 간 제3저항값을 기반으로 약용접 여부를 판별하는 제어부를 더 포함하는 용접 상태 검사 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 제1저항값, 제2저항값 및 제3저항값 중 적어도 하나가 기설정된 임계 저항값을 초과하면, 약용접으로 판단하는 용접 상태 검사 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 한 쌍의 탭 프로브 간 제1저항값, 일 탭 프로브와 일 리드 프로브 간 제2저항값, 타 탭 프로브와 타 리드 프로브 간 제3저항값 및 상기 한 쌍의 리드 프로브 간 제4저항값을 기반으로 약용접 여부를 판별하는 제어부를 더 포함하는 용접 상태 검사 장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 탭 프로브와 상기 리드 프로브는, 상기 탭 및 리드를 사이에 두고 서로 마주보게 위치한 용접 상태 검사 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 한 쌍의 탭 프로브는 상기 탭의 폭 방향 양측에 접촉하고,
    상기 한 쌍의 리드 프로브는 상기 리드의 폭 방향 양측에 접촉하는 용접 상태 검사 장치.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 탭 프로브 및 리드 프로브 각각은,
    어느 하나는 전류를 인가하고 다른 하나는 전압을 감지하는 한 쌍의 프로브 부재를 포함하고,
    각 프로브 부재의 단부에는,
    상기 탭 또는 리드에 접촉하며 뾰족하게 형성된 팁; 또는
    상기 탭 또는 리드를 마주보는 대향면 및 상기 대향면에서 돌출되어 상기 탭 또는 리드에 접촉하는 복수개의 돌기가 구비된 용접 상태 검사 장치.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 탭 프로브 및 리드 프로브 중 어느 하나는, 상기 한 쌍의 프로브 부재의 단부에 상기 팁이 구비되고,
    상기 탭 프로브 및 리드 프로브 중 다른 하나는, 상기 한 쌍의 프로브 부재의 단부에 상기 대향면 및 복수개의 돌기가 구비된 용접 상태 검사 장치.
  9. 제 7 항에 있어서,
    상기 탭 프로브 및 리드 프로브는,
    상기 프로브 부재가 돌출되도록 탄성력을 가하는 스프링을 더 포함하는 용접 상태 검사 장치.
  10. 분리막을 사이에 두고 적층된 복수개의 전극에서 돌출된 탭과, 상기 탭에 용접된 리드 간 용접 상태를 검사하는 방법으로서,
    상기 리드에 한 쌍의 리드 프로브를 접촉시키고, 상기 탭에 한 쌍의 탭 프로브를 접촉시키는 프로브 접촉 단계;
    상기 한 쌍의 탭 프로브 간 제1저항값과, 일 탭 프로브와 일 리드 프로브 간 제2저항값과, 타 탭 프로브와 타 리드 프로브 간 제3저항값을 측정하는 저항 측정단계; 및
    상기 제1저항값, 제2저항값 및 제3저항값을 기반으로 약용접 여부를 판별하는 판별 단계를 포함하는 용접 상태 검사 방법.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 판별 단계에서,
    상기 제1저항값, 제2저항값 및 제3저항값 중 적어도 하나가 기설정된 임계 저항값을 초과하면 약용접으로 판단하는 용접 상태 검사 방법.
  12. 제 10 항에 있어서,
    상기 저항 측정 단계는, 상기 한 쌍의 리드 프로브 간 제4저항값을 더 측정하고,
    상기 판별 단계는, 상기 제4저항값을 더 고려하여 약용접 여부를 판별하는 용접 상태 검사 방법.
  13. 제 10 항에 있어서,
    상기 프로브 접촉 단계에서,
    상기 한 쌍의 리드 프로브는 상기 리드의 폭 방향 양측에 접촉되고, 상기 한 쌍의 탭 프로브는 상기 탭의 폭 방향 양측에 접촉되는 용접 상태 검사 방법
  14. 제 10 항에 있어서,
    상기 프로브 접촉 단계에서,
    상기 리드 프로브 및 탭 프로브는, 상기 리드 및 탭을 사이에 두고 서로 마주보게 위치하는 용접 상태 검사 방법.
  15. 제 10 항에 있어서,
    상기 탭 프로브 및 리드 프로브는,
    어느 하나는 전류를 인가하고 다른 하나는 전압을 감지하는 한 쌍의 프로브 부재를 포함하고,
    상기 탭 프로브 및 리드 프로브 중 어느 하나는, 상기 한 쌍의 프로브 부재의 단부에 팁이 구비되며,
    상기 탭 프로브 및 리드 프로브 중 다른 하나는, 상기 한 쌍의 프로브 부재의 단부에, 상기 탭 또는 리드를 마주보는 대향면 및 상기 대향면에서 돌출된 복수개의 돌기가 구비된 용접 상태 검사 방법.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 프로브 접촉 단계에서,
    상기 복수개의 돌기가 상기 탭 또는 리드 중 어느 하나에 접촉한 이후, 상기 팁이 상기 탭 또는 리드 중 다른 하나에 접촉하는 용접 상태 검사 방법.
  17. 제 10 항에 있어서,
    상기 리드 및 탭이 서로 마주보는 영역은,
    폭방향 중앙에 위치하며 용접 비드가 형성된 센터 영역;
    폭방향 양 단에 위치하며 용접 비드가 형성된 사이드 영역; 및
    상기 센터 영역과 사이드 영역의 사이에 위치하며 용접 비드가 미형성된 피접촉 영역을 포함하고,
    상기 프로브 접촉 단계에서,
    상기 리드 프로브 및 탭 프로브는 상기 피접촉 영역에 접촉하는 용접 상태 검사 방법.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20070044647A (ko) * 2005-10-25 2007-04-30 현대자동차주식회사 스폿용접 비파괴 검사장치
JP2010266299A (ja) * 2009-05-14 2010-11-25 Pulstec Industrial Co Ltd スポット溶接検査装置およびスポット溶接検査方法
KR101125216B1 (ko) * 2010-03-31 2012-03-21 모니텍주식회사 용접 검사 장치 및 이를 이용한 용접 검사 방법
US20190240788A1 (en) * 2017-05-02 2019-08-08 Lg Chem, Ltd. Apparatus and Method for Inspecting Welding of Secondary Battery
KR20200058399A (ko) * 2017-09-22 2020-05-27 니혼덴산리드가부시키가이샤 용착 상태 검출 방법 및 용착 상태 검출 장치

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070044647A (ko) * 2005-10-25 2007-04-30 현대자동차주식회사 스폿용접 비파괴 검사장치
JP2010266299A (ja) * 2009-05-14 2010-11-25 Pulstec Industrial Co Ltd スポット溶接検査装置およびスポット溶接検査方法
KR101125216B1 (ko) * 2010-03-31 2012-03-21 모니텍주식회사 용접 검사 장치 및 이를 이용한 용접 검사 방법
US20190240788A1 (en) * 2017-05-02 2019-08-08 Lg Chem, Ltd. Apparatus and Method for Inspecting Welding of Secondary Battery
KR20200058399A (ko) * 2017-09-22 2020-05-27 니혼덴산리드가부시키가이샤 용착 상태 검출 방법 및 용착 상태 검출 장치

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