WO2022249288A1 - 冷凍サイクル装置 - Google Patents

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悠介 有井
耕平 上田
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Definitions

  • the refrigerant subcooled by the internal heat exchanger (HIC) 30 is branched into the first refrigerant and the second refrigerant by the INJ branch portion 61 .
  • the first refrigerant branched at the INJ branch portion 61 flows through the refrigerant pipe 60 and is led to the expansion valve 40 .
  • the expansion valve 40 expands and decompresses the first refrigerant.
  • the first refrigerant expanded to the low pressure PL flows into the evaporator 50 .
  • the expansion valve 40 is, for example, an electronic expansion valve. When the expansion valve 40 is an electronic expansion valve, the opening degree is adjusted under the control of the controller 90 .
  • the second refrigerant branched at the INJ branching portion 61 flows through the injection pipe 76 and first flows into the INJ expansion valve 71 .
  • a gas vent pipe 74 is a bypass pipe connected between the receiver 72 and the injection pipe 76 .
  • One end of the gas vent pipe 74 is connected to the upper portion of the receiver 72 , and the other end of the gas vent pipe 74 is connected between the flow control valve 73 and the internal heat exchanger (HIC) 30 .
  • the gas vent pipe 74 causes the gas refrigerant in the receiver 72 to flow out to the injection pipe 76 when the on-off valve 75 is open, and stops the outflow of the gas refrigerant in the receiver 72 when the on-off valve 75 is closed. .
  • the composition of the refrigerant flowing through the injection circuit 70 that is, the gas density in the refrigerant can be finely adjusted.
  • the gas vent pipe 74 does not necessarily have to be provided, and may be provided only when necessary.
  • a first pressure sensor 81 for measuring the intermediate pressure PM is installed between the INJ expansion valve 71 and the receiver 72 .
  • the intermediate pressure PM detected by the first pressure sensor 81 is transmitted to the controller 90 .
  • the intermediate pressure PM is the pressure inside the receiver 72 .
  • a second pressure sensor 82 for measuring the high pressure PH is installed between the discharge port of the high-stage compressor 11 and the condenser 20. .
  • the high pressure PH detected by the second pressure sensor 82 is transmitted to the controller 90 .
  • the high pressure PH is the discharge pressure of the high stage compressor 11 .
  • step S2 the controller 90 compares the intermediate pressure PM with the first threshold. As a result of the comparison, if the intermediate pressure PM is greater than the first threshold value, the process proceeds to step S3. On the other hand, as a result of the comparison, if the intermediate pressure PM is equal to or less than the first threshold value, the process of the flow in FIG. 4 is terminated.
  • the control unit 90 may increase the displacement ratio by a predetermined constant amount, or may increase the displacement ratio by an amount corresponding to the value of the intermediate pressure PM .
  • a data table is stored in advance in the storage unit of the control unit 90, in which the value of the intermediate pressure PM and the amount of increase in the displacement ratio are stored in association with each other.
  • the rotational speed ratio of the high-stage compressor 11 to the low-stage compressor 12 may be increased. Specifically, at least one of the rotation speed of the low-stage compressor 12 and the rotation speed of the high-stage compressor 11 is controlled.
  • step S3 the control unit 90 performs the preset first process. This reduces the intermediate pressure PM .
  • the control unit 90 repeats the process of the flow of FIG. 4 at regular intervals.
  • the intermediate pressure PM can be controlled so that the intermediate pressure PM becomes equal to or lower than the critical pressure PK .
  • the liquid refrigerant can be reliably stored in the receiver 72 at the critical pressure PK or less.
  • step S3 as the first process, the displacement ratio of the high-stage compressor 11 to the low-stage compressor 12 is simply increased without increasing the displacement of the high-stage compressor 11.
  • the displacement ratio of the high-stage compressor 11 to the low-stage compressor 12 is increased.
  • an increase in the condensation load of the condenser 20 can be prevented, and an excessive increase in the high pressure PH can be suppressed.
  • the size of the condenser 20 can be reduced (that is, size reduction), and the manufacturing cost of the refrigeration cycle apparatus can be reduced accordingly.
  • FIG. 5 is a flow chart showing the flow of processing of the control method (M2) in the refrigeration cycle apparatus according to Embodiment 1.
  • FIG. 5 the high pressure PH is controlled so as not to exceed the design pressure Pcomp of the high-stage compressor 11 .
  • a compressor has a design pressure Pcomp and a guaranteed pressure Pmax.
  • the design pressure Pcomp is a pressure value that should be taken as a reference in the design calculation of the strength of the compressor.
  • the design pressure Pcomp is set to a value equal to or greater than the maximum internal pressure P of the compressor that can occur during normal operation of the compressor.
  • the design pressure Pcomp is obtained by multiplying the maximum value of the internal pressure P that can appear during normal operation of the compressor by a factor of 1 or more (for example, 1.1).
  • the design pressure Pcomp is obtained by adding a certain value (for example, 0.1 Mpa) to the maximum value of the internal pressure P that can appear during normal operation of the compressor.
  • the guaranteed pressure Pmax of the compressor is a legally defined value based on the design pressure Pcomp of the compressor.
  • the guaranteed pressure Pmax is legally set to a value greater than the design pressure Pcomp of the compressor.
  • the damage pressure Pbr that may damage the compressor is a value with a tolerance on the high pressure side with respect to the guaranteed pressure Pmax. That is, the failure pressure Pbr is a value larger than the guaranteed pressure Pmax.
  • the failure pressure Pbr can be obtained by a compressor endurance test or the like.
  • step S11 the control unit 90 acquires the detected value of the high pressure PH from the second pressure sensor .
  • the second threshold is, for example, the design pressure Pcomp of the high-stage compressor 11.
  • the design pressure Pcomp is obtained by multiplying the maximum value of the internal pressure P that can appear during normal operation of the high-stage compressor 11 by a factor of 1 or more (for example, 1.1).
  • the design pressure Pcomp is obtained by adding a certain value (for example, 0.1 Mpa) to the maximum value of the internal pressure P that can appear during normal operation of the high stage compressor 11 .
  • step S13 the control unit 90 performs the preset second process. This reduces the high pressure PH .
  • the control unit 90 In parallel with the processing of the flow of FIG. 4, the control unit 90 repeatedly performs the processing of the flow of FIG. 5 at regular intervals. However, it is desirable to delay the start timing of the processing of the flow of FIG. 5 by a preset time length from the start timing of the processing of the flow of FIG. Therefore, specifically, for example, the processing of the flow of FIG. 4 and the processing of the flow of FIG. 5 are alternately performed.
  • the high pressure PH can be controlled so that the high pressure PH does not exceed the design pressure Pcomp of the high-stage compressor 11 .
  • FIG. 6 is a ph diagram showing the refrigeration cycle of the refrigeration cycle apparatus according to Embodiment 1.
  • FIG. 6 the horizontal axis indicates the specific enthalpy, and the vertical axis indicates the refrigerant pressure.
  • Points A to J in FIG. 6 correspond to the points shown on the refrigerant circuit diagram of FIG.
  • points C and C1 are actually the same, they are shown slightly shifted for the sake of explanation.
  • the high-stage compressor 11 sucks the refrigerant at intermediate pressure PM (state of point J) and compresses it to high pressure PH (state of point A).
  • the high-temperature and high-pressure gas refrigerant releases heat to the air and is condensed to become a high-pressure PH refrigerant (state of point B).
  • the high-pressure refrigerant passes through an internal heat exchanger (HIC) 30 in the direction of arrow P1 in FIG. 1 and enters a state with an increased degree of subcooling (states of points C and C1).
  • HIC internal heat exchanger
  • the remaining refrigerant (state of point C) that has passed through the internal heat exchanger (HIC) 30 flows into the expansion valve 40 .
  • the high-pressure PH refrigerant is decompressed to the low-pressure PL , and becomes gas-liquid two-phase refrigerant (state of point D).
  • the low-pressure P L two-phase refrigerant (state of point D) flows into the evaporator 50 .
  • the low-pressure PL two-phase refrigerant absorbs heat from the air and evaporates to become a low-pressure PL gas refrigerant (state of point E).
  • This low-pressure P L gas refrigerant flows into the low-stage compressor 12 .
  • the low-stage compressor 12 sucks the refrigerant at the low pressure PL and compresses it to the intermediate pressure PM (state of point F).
  • the intermediate pressure PM gas refrigerant (state of point F) discharged from the low-stage compressor 12 is the intermediate pressure PM two-phase refrigerant ( state of point I) and merge (state of point J). This refrigerant is sucked into the high stage compressor 11 and repeats the same cycle again.
  • Embodiment 1 even if the CO2 refrigerant is used, at least part of it can be reliably stored as liquid refrigerant in the receiver 72 at a critical pressure PK or lower.
  • the high pressure PH which is the discharge pressure of the high-stage compressor 11, can be prevented from excessively rising, and the increase in the condensation load of the condenser 20 can be suppressed.
  • Embodiment 1 an increase in the condensation load of the condenser 20 can be suppressed in this way, so the size of the condenser 20 can be reduced.
  • the manufacturing cost of the condenser 20 is reduced accordingly, and as a result, the manufacturing cost of the entire refrigeration cycle apparatus can be reduced.
  • the refrigeration cycle apparatus according to Embodiment 1 which can control the intermediate pressure PM so as not to exceed the critical pressure PK , is particularly effective when CO 2 is used as the refrigerant.

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Abstract

冷凍サイクル装置は、制御部と、冷媒を第1圧力から第1圧力より高い中間圧まで圧縮する低段圧縮機と、中間圧の冷媒を中間圧から中間圧より高い第2圧力まで圧縮する高段圧縮機と、第2圧力にされた冷媒を空気と熱交換させる凝縮器と、凝縮器から流出された冷媒を第1冷媒と第2冷媒とに分岐するINJ分岐部と、INJ分岐部で分岐された第1冷媒を膨張させて第1圧力まで減圧する膨張弁と、膨張弁から流出された第1冷媒を空気と熱交換させて、第1圧力の第1冷媒を低段圧縮機に向かって流出する蒸発器と、低段圧縮機の吐出口と高段圧縮機の吸入口との間に配置されたINJ合流部と、INJ分岐部とINJ合流部との間に接続され、INJ分岐部で分岐された第2冷媒を高段圧縮機に吸入させるインジェクション回路とを備え、インジェクション回路は、第2冷媒を膨張させるINJ膨張弁と、INJ膨張弁によって膨張された第2冷媒を液冷媒とガス冷媒とに分離して貯留し、貯留した液冷媒をINJ合流部に向かって流出させるレシーバとを備え、制御部は、低段圧縮機の押しのけ量に対する高段圧縮機の押しのけ量の比を制御し、低段圧縮機の押しのけ量は、低段圧縮機の容積と回転数とを乗算した値であり、高段圧縮機の押しのけ量は、高段圧縮機の容積と回転数とを乗算した値である。

Description

冷凍サイクル装置
 本開示は、インジェクション回路を有する冷凍サイクル装置に関する。
 従来より、低段圧縮機と高段圧縮機とを備えて、2段圧縮を行う多段圧縮冷凍サイクル装置が知られている(例えば特許文献1参照)。
 特許文献1に記載の冷凍サイクル装置においては、低段圧縮機、高段圧縮機、放熱器、内部熱交換器、第1膨張弁、および、蒸発器が、冷媒配管によって接続されている。
 また、特許文献1に記載の冷凍サイクル装置においては、中間圧冷媒をバイパスするためのインジェクション回路が設けられている。インジェクション回路の一端は、放熱器と内部熱交換器との間に接続されている。また、インジェクション回路の他端は、低段圧縮機の吐出口と高段圧縮機の吸入口との間に接続されている。インジェクション回路には、第2膨張弁が設けられ、第2膨張弁の下流に、上記の内部熱交換器が配置されている。
 低段圧縮機は、吸入した冷媒を低圧から中間圧まで圧縮する。また、高段圧縮機が、低段圧縮機から吐出された中間圧の冷媒を、高圧まで圧縮する。高段圧縮機から吐出された冷媒は、放熱器に流入される。放熱器では、冷媒と空気との間で熱交換が行われ、冷媒が凝縮される。放熱器で凝縮された冷媒は、内部熱交換器で過冷却が与えられる。以下では、過冷却が与えられた当該冷媒を第1冷媒と呼ぶ。
 一方、放熱器で凝縮された冷媒の一部分は、インジェクション回路に分岐される。インジェクション回路では、当該冷媒は、第2膨張弁で減圧された後に、内部熱交換器に流入される。内部熱交換器では、当該冷媒が、第1冷媒に過冷却を与える。以下では、過冷却を与えた当該冷媒を第2冷媒と呼ぶ。その後、第2冷媒は、低段圧縮機の吐出側で、且つ、高段圧縮機の吸入側に導かれる。
 一方、内部熱交換器で過冷却を与えられた第1冷媒は、第1膨張弁に導かれる。第1膨張弁で膨張させられて低圧となった第1冷媒は、蒸発器に流入される。蒸発器では、第1冷媒と空気との間で熱交換が行われ、第1冷媒が蒸発する。蒸発器で蒸発した第1冷媒は、低段圧縮機に吸入される。
 特許文献1に記載の冷凍サイクル装置においては、冷凍サイクル装置の起動時に、低段圧縮機および高段圧縮機の回転数を、最大能力を発揮する最大回転数よりも低速の回転数で運転を開始して、段階的に回転数を上昇させている。
特開2012-247154号公報
 特許文献1に記載の冷凍サイクル装置で、仮に中間圧の値を制御しようとすると、例えば、高段圧縮機の回転数を増減させることで制御することになる。中間圧の抑制のために、単に高段圧縮機の回転数を増加させた場合、放熱器の凝縮負荷が増大して、高段圧縮機の吐出圧力(すなわち、高圧)が過上昇してしまう可能性がある。
 本開示は、かかる課題を解決するためになされたものであり、中間圧を抑制しつつ、高圧の過上昇を抑えることが可能な、冷凍サイクル装置を得ることを目的とする。
 本開示に係る冷凍サイクル装置は、制御部と、冷媒を第1圧力から前記第1圧力より高い中間圧まで圧縮する低段圧縮機と、前記中間圧の前記冷媒を前記中間圧から前記中間圧より高い第2圧力まで圧縮する高段圧縮機と、前記第2圧力にされた前記冷媒を空気と熱交換させる凝縮器と、前記凝縮器から流出された前記冷媒を第1冷媒と第2冷媒とに分岐するINJ分岐部と、前記INJ分岐部で分岐された前記第1冷媒を膨張させて前記第1圧力まで減圧する膨張弁と、前記膨張弁から流出された前記第1冷媒を空気と熱交換させて、前記第1圧力の前記第1冷媒を前記低段圧縮機に向かって流出する蒸発器と、前記低段圧縮機の吐出口と前記高段圧縮機の吸入口との間に配置されたINJ合流部と、前記INJ分岐部と前記INJ合流部との間に接続され、前記INJ分岐部で分岐された前記第2冷媒を前記高段圧縮機に吸入させるインジェクション回路と、を備え、前記インジェクション回路は、前記第2冷媒を膨張させるINJ膨張弁と、前記INJ膨張弁によって膨張された前記第2冷媒を液冷媒とガス冷媒とに分離して貯留し、貯留した前記液冷媒を前記INJ合流部に向かって流出させるレシーバとを備え、前記制御部は、前記低段圧縮機の押しのけ量に対する前記高段圧縮機の押しのけ量の比を制御し、前記低段圧縮機の前記押しのけ量は、前記低段圧縮機の容積と回転数とを乗算した値であり、前記高段圧縮機の前記押しのけ量は、前記高段圧縮機の容積と回転数とを乗算した値である。
 本開示に係る冷凍サイクル装置によれば、インジェクション回路にレシーバを設け、低段圧縮機に対する高段圧縮機の押しのけ量の比を制御することで、レシーバの内部の圧力である中間圧を制御するようにしたので、中間圧を抑制しつつ、高段圧縮機の吐出圧力である高圧の過上昇を抑えることができる。
実施の形態1に係る冷凍サイクル装置の構成を示す冷媒回路図である。 実施の形態1に係る冷凍サイクル装置に設けられた内部熱交換器(HIC)30の構成の一例を示す斜視図である。 特許文献1に記載の冷凍サイクル装置において、COなどの高圧超臨界冷媒を用いた場合の冷凍サイクルを示したp-h線図である。 実施の形態1に係る冷凍サイクル装置における制御方法(M1)の処理の流れを示すフローチャートである。 実施の形態1に係る冷凍サイクル装置における制御方法(M2)の処理の流れを示すフローチャートである。 実施の形態1に係る冷凍サイクル装置の冷凍サイクルを示したp-h線図である。
 以下、本開示に係る冷凍サイクル装置の実施の形態について図面を参照して説明する。本開示は、以下の実施の形態に限定されるものではなく、本開示の主旨を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。また、本開示は、以下の実施の形態およびその変形例に示す構成のうち、組み合わせ可能な構成のあらゆる組み合わせを含むものである。また、各図において、同一の符号を付したものは、同一の又はこれに相当するものであり、これは明細書の全文において共通している。なお、各図面では、各構成部材の相対的な寸法関係または形状等が実際のものとは異なる場合がある。
 実施の形態1.
 図1は、実施の形態1に係る冷凍サイクル装置の構成を示す冷媒回路図である。冷凍サイクル装置は、図1に示すように、メイン回路として、圧縮機10、凝縮器20、内部熱交換器(HIC(Heat Inter Changer))30、膨張弁40、および、蒸発器50が、冷媒配管60によって接続された冷媒回路を有している。圧縮機10は、高段圧縮機11と低段圧縮機12とを有している。
 冷媒配管60には、図1に示すように、INJ分岐部61とINJ合流部62とが設けられている。INJ分岐部61は、内部熱交換器(HIC)30と膨張弁40との間に配置されている。また、INJ合流部62は、低段圧縮機12の吐出口と高段圧縮機11の吸入口との間に配置されている。
 また、冷凍サイクル装置は、図1に示すように、インジェクション回路70を有している。インジェクション回路70は、後述する中間圧Pの冷媒を流すための中間圧冷媒バイパス回路である。インジェクション回路70の一端はINJ分岐部61に接続され、インジェクション回路70の他端はINJ合流部62に接続されている。
 インジェクション回路70は、INJ膨張弁71、レシーバ72、および、流量調整弁73が、インジェクション管76で接続されて構成されている。また、インジェクション回路70には、ガス抜き管74が設けられていてもよい。ガス抜き管74は、レシーバ72とインジェクション管76とに接続されたバイパス配管である。ガス抜き管74には、開閉弁75を設けるようにしてもよい。
 メイン回路においては、低段圧縮機12、INJ合流部62、高段圧縮機11、凝縮器20、内部熱交換器(HIC)30、INJ分岐部61、膨張弁40、および、蒸発器50の順に、冷媒配管60内を冷媒が流れる。
 また、インジェクション回路70においては、INJ分岐部61、INJ膨張弁71、レシーバ72、流量調整弁73、内部熱交換器(HIC)30、および、INJ合流部62の順に、インジェクション管76内を冷媒が流れる。
 以下、図1に示す冷凍サイクル装置を構成する各機器の構成について説明する。
 低段圧縮機12は、吸入した冷媒を低圧Pから中間圧Pまで圧縮して吐出する。低段圧縮機12は、例えば、インバータ圧縮機である。低段圧縮機12がインバータ圧縮機の場合、インバータ回路など駆動回路により、回転数を任意に変化させ、低段圧縮機12の単位時間あたりの冷媒を送り出す容量を変化させてもよい。その場合、駆動回路は、制御部90によって制御される。なお、低圧Pは、予め設定された第1圧力である。
 高段圧縮機11は、低段圧縮機12から吐出された中間圧Pの冷媒およびインジェクション回路70から流入される中間圧Pの冷媒を、高圧Pまで圧縮する。高段圧縮機11から吐出された冷媒は、凝縮器20に流入される。高段圧縮機11は、例えば、インバータ圧縮機である。高段圧縮機11がインバータ圧縮機の場合、インバータ回路など駆動回路により、回転数を任意に変化させ、高段圧縮機11の単位時間あたりの冷媒を送り出す容量を変化させてもよい。その場合、駆動回路は、制御部90によって制御される。なお、高圧Pは、予め設定された第2圧力である。第2圧力は、第1圧力より大きい。また、中間圧Pは、第1圧力より大きく、且つ、第2圧力より小さい。
 凝縮器20は、例えば、室外に配置される。凝縮器20は、内部を流れる冷媒と空気との間で熱交換を行う熱交換器である。凝縮器20は、例えば、フィンアンドチューブ型熱交換器である。凝縮器20で凝縮されて液化した冷媒は、内部熱交換器(HIC)30に流入される。
 内部熱交換器(HIC)30は、冷媒間の熱交換を行い、一方の冷媒を他方の冷媒が冷却する。内部熱交換器(HIC)30は、図2に示すように、例えば2重管から構成される。図2は、実施の形態1に係る冷凍サイクル装置に設けられた内部熱交換器(HIC)30の構成の一例を示す斜視図である。図2では、説明のため、一部の構成を透過させ破線で示している。図2の例においては、内部熱交換器(HIC)30は、外側に配置された外管31と、外管31の内部に配置された内管32とから構成されている。外管31には、図2の矢印P1の向きに凝縮器20から流出した冷媒が流れ、内管32には、図2の矢印P2の向きにインジェクション管76を流れる冷媒が流れる。図2の矢印で示すように、外管31を流れる冷媒の流れる向き(矢印P1の向き)と内管32を流れる冷媒の流れる向き(矢印P2の向き)とは逆方向であり、それらの冷媒の流れは対向流となっている。なお、内部熱交換器(HIC)30は、図2の例に限定されない。例えば、外管31に、インジェクション管76を流れる冷媒が流れて、内管32に、凝縮器20から流出した冷媒が流れるようにしてもよい。また、内部熱交換器(HIC)30の構成についても、他の構成であってもよい。
 内部熱交換器(HIC)30では、レシーバ72から流出してインジェクション管76を流れる冷媒(後述する第2冷媒)が、凝縮器20から流出した冷媒を冷却して過冷却を与える。過冷却を与えた冷媒(第2冷媒)は、その後もインジェクション管76を流れて、INJ合流部62に導かれる。INJ合流部62は、上述したように、低段圧縮機12の吐出側で、且つ、高段圧縮機11の吸入側に配置されている。
 一方、内部熱交換器(HIC)30で過冷却が与えられた冷媒は、INJ分岐部61で第1冷媒と第2冷媒とに分岐される。INJ分岐部61で分岐された第1冷媒は、冷媒配管60を流れて、膨張弁40に導かれる。膨張弁40は、第1冷媒を膨張させて減圧する。膨張させられて低圧Pとなった第1冷媒は、蒸発器50に流入される。膨張弁40は、例えば、電子膨張弁である。膨張弁40が電子膨張弁で構成されている場合には、制御部90の制御により開度の調整が行われる。
 蒸発器50は、例えば、室内空間に配置される。蒸発器50は、内部を流れる冷媒と空気との間で熱交換を行う熱交換器である。蒸発器50は、例えば、フィンアンドチューブ型熱交換器である。蒸発器50では、第1冷媒と空気との間で熱交換が行われ、第1冷媒が蒸発する。蒸発器50で蒸発してガス化した第1冷媒は、低段圧縮機12に吸入される。低段圧縮機12は、蒸発器50から流出された低圧Pの冷媒を吸入し、当該冷媒を中間圧Pまで圧縮して吐出する。
 一方、INJ分岐部61で分岐された第2冷媒は、インジェクション管76を流れて、まず、INJ膨張弁71に流入される。
 INJ膨張弁71は、第2冷媒を膨張させて減圧する。膨張させられて中間圧Pとなった第2冷媒は、レシーバ72に流入される。INJ膨張弁71は、例えば、電子膨張弁である。INJ膨張弁71が電子膨張弁で構成されている場合には、制御部90の制御により開度の調整が行われる。
 レシーバ72は、INJ膨張弁71で膨張させられて中間圧Pとなった第2冷媒を貯留する。レシーバ72では、第2冷媒が液冷媒とガス冷媒とに分離される。レシーバ72で分離された液冷媒は、インジェクション管76を介して、内部熱交換器(HIC)30の内管32に流入される。内管32を流れる第2冷媒は、外管31を流れる冷媒と熱交換をした後、INJ合流部62に導かれる。このとき、第2冷媒は、内部熱交換器(HIC)30において、外管31を流れる冷媒を冷却して、過冷却を与える。なお、内部熱交換器(HIC)30は、必ずしも設ける必要はなく、必要な場合にのみ設けるようにしてもよい。
 レシーバ72と内部熱交換器(HIC)30との間のインジェクション管76には、流量調整弁73が設けられている。流量調整弁73の開度により、レシーバ72から流出される第2冷媒(液冷媒)の流量が調整される。流量調整弁73は、例えば、電子調整弁である。その場合、流量調整弁73の開度は、制御部90によって制御される。
 INJ合流部62では、インジェクション管76を流れる中間圧Pの第2冷媒と、低段圧縮機12が吐出した中間圧Pの第1冷媒とが合流される。INJ合流部62で合流された冷媒は、高段圧縮機11に吸入される。高段圧縮機11は、吸入した中間圧Pの冷媒を高圧Pまで圧縮して吐出する。
 ガス抜き管74は、レシーバ72とインジェクション管76との間に接続されたバイパス配管である。ガス抜き管74の一端はレシーバ72の上部に接続され、ガス抜き管74の他端は、流量調整弁73と内部熱交換器(HIC)30との間に接続されている。ガス抜き管74は、開閉弁75が開状態のときに、レシーバ72内のガス冷媒をインジェクション管76に流出させ、開閉弁75が閉状態のときには、レシーバ72内のガス冷媒の流出を停止する。これにより、インジェクション回路70を流れる冷媒の組成、すなわち、当該冷媒におけるガス密度を微調整することができる。ただし、ガス抜き管74は、必ずしも設ける必要はなく、必要な場合にのみ設けるようにしてもよい。
 制御部90は、処理回路から構成される。処理回路は、専用のハードウェア、または、プロセッサから構成される。専用のハードウェアは、例えば、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)またはFPGA(Field Programmable Gate Array)などである。プロセッサは、メモリに記憶されるプログラムを実行する。制御部90に設けられた図示しない記憶部は、メモリから構成される。メモリは、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、フラッシュメモリ、EPROM(Erasable Programmable ROM)などの不揮発性または揮発性の半導体メモリ、もしくは、磁気ディスク、フレキシブルディスク、光ディスクなどのディスクである。
 また、図1に示すように、実施の形態1では、INJ膨張弁71とレシーバ72との間に、中間圧Pを測定するための第1圧力センサ81が設置されている。第1圧力センサ81で検出された中間圧Pは、制御部90に送信される。中間圧Pは、レシーバ72の内部の圧力である。
 さらに、図1に示すように、実施の形態1では、高段圧縮機11の吐出口と凝縮器20との間に、高圧Pを測定するための第2圧力センサ82が設置されている。第2圧力センサ82で検出された高圧Pは、制御部90に送信される。高圧Pは、高段圧縮機11の吐出圧力である。
 上述した特許文献1に記載の冷凍サイクル装置では、冷媒として、CO(二酸化炭素)などの高圧超臨界冷媒を用いることは想定していない。一方、実施の形態1に係る冷凍サイクル装置では、COなどの高圧超臨界冷媒を用いることが可能である。仮に、特許文献1に記載の冷凍サイクル装置において、COなどの高圧超臨界冷媒を用いた場合、中間圧が臨界圧を超えてしまう場合がある。
 図3は、特許文献1に記載の冷凍サイクル装置において、COなどの高圧超臨界冷媒を用いた場合の冷凍サイクルを示したp-h線図である。図3において、横軸は比エンタルピを示し、縦軸は冷媒の圧力を示す。また、実線100は飽和蒸気線を示し、実線101は飽和液線を示す。また、Kは、飽和蒸気線100と飽和液線101との交点であり、臨界点を示す。Pは、臨界点Kの圧力である臨界圧を示す。
 図3において、T1は高段圧縮機による圧縮行程、T2は放熱器による凝縮行程、T3は内部熱交換器による熱交換行程である。また、T4は第1膨張弁による膨張行程、T5は蒸発器による蒸発行程、T6は低段圧縮機による圧縮行程である。また、T7は第2膨張弁による膨張行程、T8は内部熱交換器による熱交換行程を示す。
 上述した特許文献1に記載の冷凍サイクル装置においては、中間圧Pを制御しようとすると、例えば、高段圧縮機の回転数を増減させることで、中間圧Pを制御することになる。このとき、中間圧Pを抑制するために、単に、高段圧縮機の回転数を増加させた場合、高段圧縮機の下流の放熱器の凝縮負荷が増大してしまう。その結果、高段圧縮機の吐出圧力である高圧Pが過上昇してしまう可能性がある。その場合、図3に示すように、中間圧Pが、臨界圧Pを超えてしまう可能性がある。
 そこで、実施の形態1に係る冷凍サイクル装置においては、図1に示すように、インジェクション回路70に、レシーバ72と、流量調整弁73とを設けている。さらに、実施の形態1に係る冷凍サイクル装置においては、制御部90が、レシーバ72の内部圧力である中間圧Pを臨界圧P以下に抑制するように制御する。また、その際に、高圧Pが過上昇した場合には、流量調整弁73の開度を低減して、レシーバ72に液冷媒を貯留することで、高圧Pを低下させる。具体的には、以下の制御方法(M1)を用いて、中間圧Pを制御する。また、以下の制御方法(M2)を用いて、高圧Pを制御する。なお、制御方法(M2)の制御は、必要な場合にのみ行う。
 制御方法(M1):中間圧Pが臨界圧P以下になるように制御する。具体的には、低段圧縮機12の押し上げ量に対する高段圧縮機11の押し上げ量の比を増加させることで、中間圧Pを抑制する。
 制御方法(M2):高圧Pが高段圧縮機11の設計圧力を超えないように制御する。具体的には、レシーバ72から流出する液冷媒の流出量を抑制して、レシーバ72に液冷媒を貯留して、高圧Pを低下させる。
 [制御方法(M1)について]
 まず、制御方法(M1)について説明する。図4は、実施の形態1に係る冷凍サイクル装置における制御方法(M1)の処理の流れを示すフローチャートである。図4においては、中間圧Pが第1閾値以下になるように制御する。
 図4に示すように、ステップS1で、制御部90は、第1圧力センサ81から、中間圧Pの検出値を取得する。
 次に、ステップS2で、制御部90は、中間圧Pと第1閾値とを比較する。比較の結果、中間圧Pが第1閾値より大きい場合には、ステップS3に進む。一方、比較の結果、中間圧Pが第1閾値以下の場合は、そのまま、図4のフローの処理を終了する。
 ステップS3では、制御部90は、中間圧Pが第1閾値以下になるように、中間圧Pに対して、予め設定された下記の第1処理を行う。これにより、中間圧Pが低下する。
 第1閾値は、例えば、臨界圧Pである。実施の形態1では、冷媒として、CO(二酸化炭素)を用いることを想定しているため、第1閾値は、例えば、COの臨界圧Pである。COは、臨界温度が31.1℃、臨界圧Pが7.1MPaであることが知られている。従って、第1閾値は、例えば、7.1MPaである。このように、COは、臨界温度31.1℃、臨界圧P7.1MPaという、比較的温和な条件で、超臨界状態にすることができる冷媒である。
 第1処理の例としては、例えば、以下の処理が挙げられる。
 [押しのけ量による制御]
 制御部90は、第1処理として、低段圧縮機12に対する高段圧縮機11の押しのけ量の比を増加させる。すなわち、制御部90は、低段圧縮機12の押しのけ量に対する、高段圧縮機11の押しのけ量の比を増加させる。ここで、低段圧縮機12および高段圧縮機11の押しのけ量は、下記の式(2)で算出される。すなわち、低段圧縮機12と高段圧縮機11との回転数の比だけでなく、低段圧縮機12と高段圧縮機11との容積の比も考慮に入れている。
 低段圧縮機の押しのけ量=低段圧縮機の容積×低段圧縮機の回転数
 高段圧縮機の押しのけ量=高段圧縮機の容積×高段圧縮機の回転数
                            (1)
 制御部90は、予め設定された一定量だけ押しのけ量の比を増加させてもよいが、中間圧Pの値に応じた量だけ押しのけ量の比を増加させてもよい。その場合、制御部90の記憶部に、中間圧Pの値と押しのけ量の比の増加量とを対応させて記憶したデータテーブルを予め格納しておく。また、低段圧縮機12および高段圧縮機11の容積を一定と考えた場合、低段圧縮機12に対する高段圧縮機11の回転数比を増加させるようにしてもよい。具体的には、低段圧縮機12の回転数および高段圧縮機11の回転数のうち、少なくとも一方の回転数を制御する。
 このように、ステップS3で、制御部90は、予め設定された第1処理を行う。これにより、中間圧Pが低下する。制御部90は、図4のフローの処理を一定周期で繰り返し行う。これにより、中間圧Pが臨界圧P以下になるように、中間圧Pを制御することができる。このようにして、中間圧Pを常に臨界圧P以下に制御することで、確実に、臨界圧P以下で、レシーバ72に液冷媒を貯留することができる。
 また、ステップS3では、第1処理として、単に、高段圧縮機11の押しのけ量を増加させずに、低段圧縮機12に対する高段圧縮機11の押しのけ量の比を増加させている。単に高段圧縮機11の押しのけ量を増加させた場合には、凝縮器20の凝縮負荷が増大して、高圧Pが過上昇してしまう可能性がある。そのため、実施の形態1では、低段圧縮機12に対する高段圧縮機11の押しのけ量の比を増加させている。これにより、凝縮器20の凝縮負荷の増大を防止できるため、高圧Pの過上昇を抑制することができる。また、凝縮器20の凝縮負荷の増大を防止できるため、凝縮器20の小型化(すなわち、サイズダウン)が図れて、その分だけ、冷凍サイクル装置の製造コストが削減できる。
 次に、制御方法(M2)について説明する。図5は、実施の形態1に係る冷凍サイクル装置における制御方法(M2)の処理の流れを示すフローチャートである。図5においては、高圧Pが、高段圧縮機11の設計圧力Pcompを超えないように制御する。
 一般に、圧縮機には、設計圧力Pcompおよび保証圧力Pmaxが設定されている。設計圧力Pcompとは、圧縮機の強度の設計計算において基準にとるべき圧力値のことである。設計圧力Pcompは、圧縮機の通常動作中に出現し得る圧縮機の内部圧力Pの最大値以上の値に設定される。設計圧力Pcompは、圧縮機の通常動作中に出現し得る内部圧力Pの最大値に対して、1以上の係数(例えば、1.1)を乗算して求める。あるいは、設計圧力Pcompは、圧縮機の通常動作中に出現し得る内部圧力Pの最大値に対して、或る値(例えば、0.1Mpa)を加算して求める。
 また、圧縮機の保証圧力Pmaxは、圧縮機の設計圧力Pcompに基づいて法的に規定された値である。保証圧力Pmaxは、法律に基づいて、圧縮機の設計圧力Pcompより大きい値に設定される。
 また、圧縮機が破損する可能性のある破損圧力Pbrは、保証圧力Pmaxに対し高圧側に公差を持った値となる。すなわち、破損圧力Pbrは、保証圧力Pmaxより大きい値である。圧縮機の内部の圧力が破損圧力Pbrを超えたときに、圧縮機の筐体を構成している圧力容器は破損する可能性がある。なお、破損圧力Pbrは、圧縮機の耐久実験などにより求められる。
 このように、圧縮機は、設計圧力Pcompに基づいて法的に規定される保証圧力Pmaxを担保するように設計されている。従って、高圧Pが、高段圧縮機11の設計圧力Pcompを超えないように制御することで、高段圧縮機11が破損することを確実に防止することができる。
 図5に示すように、ステップS11で、制御部90は、第2圧力センサ82から、高圧Pの検出値を取得する。
 次に、ステップS12で、制御部90は、高圧Pと第2閾値とを比較する。比較の結果、高圧Pが第2閾値より大きい場合には、ステップS13に進む。一方、比較の結果、高圧Pが第2閾値以下の場合は、そのまま、図5のフローの処理を終了する。
 ステップS13では、制御部90は、高圧Pが第2閾値以下になるように、高圧Pに対して、予め設定された下記の第2処理を行う。これにより、高圧Pが低下する。
 第2閾値は、例えば、高段圧縮機11の設計圧力Pcompである。設計圧力Pcompは、高段圧縮機11の通常動作中に出現し得る内部圧力Pの最大値に対して、1以上の係数(例えば、1.1)を乗算して求める。あるいは、設計圧力Pcompは、高段圧縮機11の通常動作中に出現し得る内部圧力Pの最大値に対して、或る値(例えば、0.1Mpa)を加算して求める。
 第2処理の例としては、例えば、以下の処理が挙げられる。
 [流量調整弁による制御]
 制御部90は、第2処理として、流量調整弁73の開度を低減する。
 制御部90は、予め設定された一定量だけ流量調整弁73の開度を減少させてもよいが、高圧Pの値に応じた量だけ、流量調整弁73の開度を増加させてもよい。その場合、制御部90の記憶部に、高圧Pの値と流量調整弁73の開度の減少量とを対応させて記憶したデータテーブルを予め格納しておく。
 このように、ステップS13で、制御部90は、予め設定された第2処理を行う。これにより、高圧Pが低下する。制御部90は、図4のフローの処理と並行して、図5のフローの処理を一定周期で繰り返し行う。但し、図4のフローの処理の開始タイミングよりも、図5のフローの処理の開始タイミングを、予め設定された時間長だけ、遅延させることが望ましい。そのため、具体的には、例えば、図4のフローの処理と図5のフローの処理とを交互に行う。図5の処理を行うことにより、高圧Pが高段圧縮機11の設計圧力Pcompを超えないように、高圧Pを制御することができる。すなわち、高圧Pが、常に、高圧P>第2閾値の関係を満たすように制御することができる。このようにして、高圧Pを常に第2閾値以下になるように制御することで、凝縮器20の伝熱管として扁平管を使用することが可能になる。扁平管は、円管に比べて、冷媒が流れる流路の内容積(すなわち、流路の断面積)が小さい。そのため、高圧Pが高い場合には、流路の断面積が小さい扁平管を使用することは難しい。実施の形態1では、レシーバ72に液冷媒を貯留することで、レシーバ72内の余剰冷媒を多くすることができるため、高圧Pを抑制することが可能になる。その結果、凝縮器20の伝熱管として、扁平管を使用することが可能になる。実施の形態1では、高圧Pを常に第2閾値以下になるように制御することで、凝縮器20に扁平管を採用することができ、凝縮器20の小型化、および、冷凍サイクル装置の小型化が図れる。
 図6は、実施の形態1に係る冷凍サイクル装置の冷凍サイクルを示したp-h線図である。図6において、横軸は比エンタルピを示し、縦軸は冷媒の圧力を示す。なお、図6におけるA点~J点は、図1の冷媒回路図上に示した点に対応するものである。また、図6において、点Cと点C1とは実際には同じであるが、説明のため、若干ずらして記載している。
 まず、高段圧縮機11は、中間圧Pの冷媒を吸入し(点Jの状態)、高圧Pになるまで圧縮する(点Aの状態)。高段圧縮機11から吐出される高温高圧のガス冷媒(A点の状態)は、凝縮器20に流入される。そして、凝縮器20において、高温高圧のガス冷媒は空気に放熱して凝縮され、高圧Pの冷媒(B点の状態)となる。高圧の冷媒は、図1の矢印P1の向きに、内部熱交換器(HIC)30を通り、さらに過冷却度を増した状態(点Cおよび点C1の状態)となる。内部熱交換器(HIC)30を通った冷媒の一部分(点C1の状態)は、INJ分岐部61を経由して、INJ膨張弁71に流入される。INJ膨張弁71において、高圧Pの冷媒は中間圧Pまで減圧され、レシーバ72に流入されて、気液二相の冷媒(点Hの状態)となる。その後、レシーバ72から流出した液冷媒は、内部熱交換器(HIC)30を、先ほどの矢印P1とは逆向きの矢印P2の向きに通過する。これにより、温度が上昇した中間圧Pの二相冷媒(点Iの状態)となる。
 一方、内部熱交換器(HIC)30を通った残りの冷媒(点Cの状態)は、膨張弁40に流入される。膨張弁40において、高圧Pの冷媒は低圧Pまで減圧され、気液二相の冷媒(点Dの状態)となる。そして、低圧Pの二相冷媒(点Dの状態)は、蒸発器50に流入される。蒸発器50において、低圧Pの二相冷媒は空気から吸熱して蒸発し、低圧Pのガス冷媒(点Eの状態)となる。この低圧Pのガス冷媒は、低段圧縮機12に流入される。低段圧縮機12は、低圧Pの冷媒を吸入し、中間圧Pになるまで圧縮する(点Fの状態)。低段圧縮機12から吐出される中間圧Pのガス冷媒(点Fの状態)は、矢印P2の向きに内部熱交換器(HIC)30から流出された中間圧Pの二相冷媒(点Iの状態)と合流する(点Jの状態)。この冷媒は、高段圧縮機11に吸入され、再度同じサイクルを繰り返す。
 以上のように、実施の形態1に係る冷凍サイクル装置は、レシーバ72および流量調整弁73を有するインジェクション回路70を備えている。また、制御部90が、低段圧縮機12に対する高段圧縮機11の押しのけ量の比を制御することで、COなどの高圧超臨界冷媒を使用した場合においても、中間圧Pが臨界圧Pを超えないように制御することができる。これにより、レシーバ72の内部の圧力を臨界圧P以下に維持することができるので、常時、液冷媒をレシーバ72に貯留することが可能になる。このように、実施の形態1では、CO冷媒であっても、確実に、少なくともその一部分を、臨界圧P以下でレシーバ72に液冷媒として貯留することができる。その結果、高段圧縮機11の吐出圧力である高圧Pの過上昇を防止することができ、凝縮器20の凝縮負荷の増大を抑制できる。
 実施の形態1では、このように、凝縮器20の凝縮負荷の増大を抑制できるため、凝縮器20の小型化(サイズダウン)が可能である。凝縮器20を小型化した場合、その分だけ、凝縮器20の製造コストが低減するため、結果的に、冷凍サイクル装置全体の製造コストを低減することができる。
 また、実施の形態1においては、制御部90が、高圧Pが高段圧縮機11の設計圧力Pcompを超えないように、高圧Pの検出値に基づいて、流量調整弁73の開度を制御する。これにより、レシーバ72から流出される液冷媒の流出量が抑制されて、レシーバ72内に液冷媒を貯留することができる。このようにして、レシーバ72から流出される液冷媒の流出量を抑制することで、高段圧縮機11が吸入する冷媒の量が低減するため、高段圧縮機11の吐出圧力である高圧Pを低減することができる。実施の形態1では、レシーバ72に液冷媒を貯留することで、高圧Pの上昇を抑制することができるため、高段圧縮機11の下流に設けられた凝縮器20において、流路の内容積の小さい扁平管を使用することができる。
 また、COは超臨界冷媒であるため、中間圧Pが臨界圧Pを超える場合が想定される。そのため、中間圧Pが臨界圧Pを超えないように制御できる実施の形態1に係る冷凍サイクル装置は、冷媒としてCOを使用した場合に特に有効である。
 また、実施の形態1に係る冷凍サイクル装置においては、内部熱交換器(HIC)30を設けたため、過冷却を増大できるため、冷凍サイクル装置の性能をさらに向上させることができる。
 10 圧縮機、11 高段圧縮機、12 低段圧縮機、20 凝縮器、31 外管、32 内管、40 膨張弁、50 蒸発器、60 冷媒配管、61 INJ分岐部、62 INJ合流部、70 インジェクション回路、71 INJ膨張弁、72 レシーバ、73 流量調整弁、74 ガス抜き管、75 開閉弁、76 インジェクション管、81 第1圧力センサ、82 第2圧力センサ、90 制御部、100 実線(飽和蒸気線)、101 実線(飽和液線)、K 臨界点、P 内部圧力、P1 矢印、P2 矢印、P 高圧、P 臨界圧、P 低圧、P 中間圧、Pbr 破損圧力、Pcomp 設計圧力、Pmax 保証圧力。

Claims (11)

  1.  制御部と、
     冷媒を第1圧力から前記第1圧力より高い中間圧まで圧縮する低段圧縮機と、
     前記中間圧の前記冷媒を前記中間圧から前記中間圧より高い第2圧力まで圧縮する高段圧縮機と、
     前記第2圧力にされた前記冷媒を空気と熱交換させる凝縮器と、
     前記凝縮器から流出された前記冷媒を第1冷媒と第2冷媒とに分岐するINJ分岐部と、
     前記INJ分岐部で分岐された前記第1冷媒を膨張させて前記第1圧力まで減圧する膨張弁と、
     前記膨張弁から流出された前記第1冷媒を空気と熱交換させて、前記第1圧力の前記第1冷媒を前記低段圧縮機に向かって流出する蒸発器と、
     前記低段圧縮機の吐出口と前記高段圧縮機の吸入口との間に配置されたINJ合流部と、
     前記INJ分岐部と前記INJ合流部との間に接続され、前記INJ分岐部で分岐された前記第2冷媒を前記高段圧縮機に吸入させるインジェクション回路と、
     を備え、
     前記インジェクション回路は、
     前記第2冷媒を膨張させるINJ膨張弁と、
     前記INJ膨張弁によって膨張された前記第2冷媒を液冷媒とガス冷媒とに分離して貯留し、貯留した前記液冷媒を前記INJ合流部に向かって流出させるレシーバと、
     を備え、
     前記制御部は、前記低段圧縮機の押しのけ量に対する前記高段圧縮機の押しのけ量の比を制御し、
     前記低段圧縮機の前記押しのけ量は、前記低段圧縮機の容積と回転数とを乗算した値であり、
     前記高段圧縮機の前記押しのけ量は、前記高段圧縮機の容積と回転数とを乗算した値である、
     冷凍サイクル装置。
  2.  前記制御部は、前記低段圧縮機の押しのけ量に対する前記高段圧縮機の押しのけ量の比を制御することで、前記レシーバの内部圧力である中間圧を第1閾値以下になるように制御する、
     請求項1に記載の冷凍サイクル装置。
  3.  前記制御部は、
     前記低段圧縮機の押しのけ量に対する前記高段圧縮機の押しのけ量の比を増加させることで、前記中間圧を低下させる、
     請求項2に記載の冷凍サイクル装置。
  4.  前記第1閾値は、前記冷媒の臨界点の圧力である臨界圧である、
     請求項2または3に記載の冷凍サイクル装置。
  5.  前記冷媒は、二酸化炭素である、
     請求項1~4のいずれか1項に記載の冷凍サイクル装置。
  6.  前記インジェクション回路は、
     前記レシーバと前記INJ合流部との間に配置され、前記レシーバから流出される前記液冷媒の流出量を調整する流量調整弁を
     備え、
     前記制御部は、前記流量調整弁の開度を制御することで、前記第2圧力を第2閾値以下になるように制御する、
     請求項1~5のいずれか1項に記載の冷凍サイクル装置。
  7.  前記制御部は、
     前記流量調整弁の開度を低減することで、前記第2圧力を低減させる、
     請求項6に記載の冷凍サイクル装置。
  8.  前記第2閾値は、前記高段圧縮機の設計圧力である、
     請求項6または7に記載の冷凍サイクル装置。
  9.  前記凝縮器と前記INJ分岐部との間に配置され、前記凝縮器から流出された前記冷媒に過冷却を与える内部熱交換器を備え、
     前記INJ分岐部は、前記内部熱交換器から流出された前記冷媒を前記第1冷媒と前記第2冷媒とに分岐し、
     前記レシーバは、前記液冷媒を前記内部熱交換器を介して前記INJ合流部に向かって流出する、
     請求項1~8のいずれか1項に記載の冷凍サイクル装置。
  10.  前記INJ膨張弁と前記レシーバとの間に配置され、前記レシーバの内部圧力である前記中間圧を検出する第1圧力センサを備え、
     前記制御部は、前記第1圧力センサで検出された前記中間圧に基づいて、前記中間圧を第1閾値以下になるように制御する、
     請求項2または請求項2に従属する請求項3~9のいずれか1項に記載の冷凍サイクル装置。
  11.  前記高段圧縮機の吐出口側に配置され、前記高段圧縮機の吐出圧力である前記第2圧力を検出する第2圧力センサを備え、
     前記制御部は、前記第2圧力センサで検出された前記第2圧力に基づいて、前記第2圧力を第2閾値以下になるように制御する、
     請求項6~8のいずれか1項に記載の冷凍サイクル装置。
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