WO2022210331A1 - 絶縁電線およびワイヤーハーネス - Google Patents
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Definitions
- the insulated wire 1 has a non-uniform distribution of the deformation rate of the wire 12 in the cross section in relation to the manufacturing method as described above.
- the deformation rate of the wire 12 is an index indicating how much the wire 12 has a cross-sectional shape that deviates from a circular shape.
- a deformation rate D of the wire 12 can be expressed by the following formula (1).
- the thickness of the insulating coating was 1 mm for the samples with a conductor cross-sectional area of 15 mm 2 and 2 mm for the other two samples.
- cross-sectional samples were prepared in each of the flat portion and the low flat portion in the same manner as in Test [2]. It should be noted that the flat electric wire used as a raw material for the low-flat electric wire in this test [3] has a higher adhesion of the insulating coating to the conductor than that used in the test [2].
- the flat portion and the low flat portion have similar values for the outer circumference length of the conductor.
- the circumference difference ratio is also a small value of 5% or less.
- the length of the outer periphery of the conductor is almost unchanged due to the flattening caused by the deformation of the conductor.
- the outer periphery of the flattened conductor covered with the insulating coating forms a low flat portion due to the deformation of the conductor, and the change in the outer peripheral length of the conductor is limited by the inner peripheral length of the insulating coating.
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Abstract
Description
最初に本開示の実施形態を列記して説明する。
本開示の第一の形態にかかる絶縁電線は、複数の素線が撚り合わせられた導体と、前記導体の外周を被覆する絶縁被覆と、を有する絶縁電線であって、前記導体を構成する前記素線のそれぞれ、および前記絶縁被覆を相互に連続させて、扁平部と、低扁平部と、を軸線方向に沿って有し、前記絶縁電線の軸線方向に直交する断面における前記導体の外形が、前記扁平部において、扁平形状をとり、かつ前記低扁平部において、前記扁平部よりも扁平度の小さい形状をとり、前記扁平部および前記低扁平部の両方の前記導体の前記断面において、前記導体の外周に面する外周部のうち、前記扁平形状の幅方向外側に対応する幅方向端部において、前記導体の中央部よりも、前記素線の円形からの変形率が小さくなっている。
以下に、本開示の実施形態にかかる絶縁電線およびワイヤーハーネスについて、図面を用いて詳細に説明する。本明細書において、絶縁電線の各部の形状に関して、直線、平行、垂直等、部材の形状や配置を示す概念には、長さにして概ね±15%程度、また角度にして概ね±15°程度のずれ等、この種の絶縁電線において許容される範囲で、幾何的な概念からの誤差を含むものとする。本明細書において、絶縁電線や導体の断面とは、特記しない限り、軸線方向(長手方向)に垂直に切断した断面を示すものとする。
図1Aに、本開示の一実施形態にかかる絶縁電線1を斜視図にて表示する。また、図1B,1Cに、それぞれ図1A中のA-A線およびB-B線にて切断した断面図を簡略化して示す。さらに、図2および図3に、それぞれ、図1Bに対応する扁平部、および図1Cに対応する低扁平部の断面を詳細に表示する。
本実施形態にかかる絶縁電線1は、上記のような製造方法とも関連して、断面における素線12の変形率に、不均一な分布を有している。ここで、素線12の変形率とは、ある素線12が円形からどれだけ逸脱した断面形状を有しているかを示す指標である。実際に導体11に含まれる、ある素線12について、断面を横切る最長の直線の長さを長径Aとし、その素線12の断面積と同じ面積を有する円の直径を円直径Rとすると、素線12の変形率Dを、以下の式(1)ように表すことができる。
D=(A-R)/R×100% (1)
なお、幅方向端部や中央部等、導体11の断面の一部の部位の素線12の変形率を評価する場合には、素線12の変形におけるばらつき等の影響を低減する観点から、図2,3に示す領域R1~R3のように、ある程度の面積にわたる領域に含まれる複数の素線12に対する平均値として、変形率を見積もることが好ましい。例えば、導体11の幅wの10~30%程度の長さにわたる辺を有する四角形やそのような長さの直径を有する円に囲まれた領域を設定すればよい。
上記のように、扁平形状に成形した導体11の外周に絶縁被覆13を設けた原料扁平電線を用いて、扁平部20と低扁平部30を有する本実施形態にかかる絶縁電線1を形成する場合に、図4に示すように、低扁平部30において、導体11と絶縁被覆13の間に、素線12に占められない空隙が生じることが多い。原料扁平電線の外から導体11に力を加えて低扁平部30を形成する際に、導体11は変形するが、絶縁被覆13の内周の長さはほぼ変化しないからである。導体11に対して幅相当方向(y方向)の外側から内側に向かって力を印加し、幅相当方向に導体11を圧縮することに対応して、幅相当方向に沿って導体11の外側の領域にあたる幅方向導体外領域R4に、高さ相当方向に沿って導体11の外側の領域にあたる高さ方向導体外領域R5よりも、大きな空隙が形成されやすい。つまり、導体11と絶縁被覆13の内周面との距離が、幅方向導体外領域R4において、高さ方向導体外領域R5よりも大きくなりやすく、幅方向導体外領域R4への空隙の偏在が起こる。低扁平部30のみならず、低扁平部30と扁平部20の間の境界部においても、同様に、幅方向導体外領域R4への空隙の偏在が生じる場合がある。
ΔL=|L1-L2|/L1 (2)
なお、導体11の外周長は、断面において、導体11の最外周に配置された素線12の輪郭を、滑らかにつないだ輪郭線の長さとして評価すればよい。周長差比率ΔLが5%以下になっている等、扁平部20と低扁平部30の間で、導体11の外周長の差が小さくなった状態は、低扁平部30において、絶縁被覆13を加熱して導体11の外周に密着させる場合にも、維持される。絶縁被覆13の加熱による導体11への密着を行わない場合には、導体11の外周長L1,L2の代わりに、絶縁被覆13の内周長を用いて、周長差比率ΔLを評価してもよい。
本実施形態にかかる絶縁電線1においては、断面における空隙率が、低扁平部30において、扁平部20よりも大きくなっていることが好ましい。ここで、空隙率とは、絶縁電線1の断面において、絶縁被覆13の内周に囲まれた領域の面積のうち、素線12に占められない空隙の面積の割合を指す。
Vr=V2/V1 (3)
さらには、空隙率比Vrが、1.5以上、また2.0以上となっているとよい。また、低扁平部30における空隙率の値(V2)が、35%以上、さらには40%以上、45%以上となっているとよい。すると、低扁平部30において、高い柔軟性を確保しやすくなる。扁平部20においても、高さ相当方向への曲げ柔軟性を確保する観点から、空隙率(V1)が10%以上であることが好ましい。柔軟性の観点からは、空隙率(V1,V2)に特に上限は設けられないが、扁平部20および低扁平部30のそれぞれにおいて、所定の導体11の外形を安定に保持する等の観点から、おおむね50%以下としておくとよい。
まず、扁平電線に低扁平部を形成した場合と、形成していない場合について、曲げ柔軟性を比較した。
最初に、扁平電線を作製した。まず、アルミニウム合金の素線を撚り合わせた断面円形の撚線を準備し、その撚線をローラによって扁平形状に圧縮することで、導体を作製した。撚線としては、導体断面積が130mm2、素線径が0.42mmのものを用いた。扁平形状の縦横比w/hは約3とした。作製した導体の外周に、押出成形によって、絶縁被覆を形成した。絶縁被覆の構成材料としては、架橋ポリエチレンを用い、絶縁被覆の厚さは、2mmとした。
上記で作製した各絶縁電線に対して、柔軟性を評価した。評価においては、図5に示すように、長さ50cmに切り出した絶縁電線1の一端に、重さ500gの錘T2を取り付け、他端から25cmの位置を支点T1として水平方向に支持した(図中破線にて表示)。この際、絶縁電線1の扁平形状の幅相当方向(y方向)を重力方向に配置し、絶縁電線1が錘T2の重力によって幅相当方向に曲げられるようにした。また、低扁平化電線については、低扁平部を形成した領域の中央に支点T1が配置されるようにした。各絶縁電線1について、錘T2を取り付けた端部が、錘の重力T2によって水平位置から垂下した距離d1を計測した。
下の表1に、扁平電線と、低扁平化電線について、端部の垂下距離d1を示す。
次に、扁平部と低扁平部で、導体を構成する素線の変形について比較した。
上記試験[1]と同様にして、扁平電線の軸線方向の中途部に低扁平部を形成して、低扁平化電線を作製した。ただし、低扁平部を形成した後、絶縁被覆の加熱による導体への絶縁被覆の密着は行っていない。導体断面積は130mmm2とし、導体の縦横比w/hは、扁平部で約3、低扁平部で約1とした。得られた低扁平化電線をアクリル樹脂に包埋して固定し、扁平部と低扁平部のそれぞれにおいて、軸線方向に垂直に切断して、断面試料を作製した。
扁平部および低扁平部のそれぞれの断面試料に対して、顕微鏡観察を行い、断面の各部における素線の変形について評価した。特に、低扁平部については、断面を撮影した顕微鏡画像を用いて、代表的な箇所について、素線の変形率を定量的に評価した。つまり、所定の領域に含まれる素線に対して、素線径を計測し、上記式(1)に従って、素線の変形率(D)を見積もった。各領域内で、得られた素線変形率の平均値を記録した。
図6A,6Bに、それぞれ、扁平部および低扁平部の断面を撮影した画像を示す。また、下の表2に、低扁平部について、各部の素線変形率を評価した結果を示す。
(試料の準備)
上記試験[1]と同様にして、扁平電線の軸線方向の中途部に低扁平部を形成して、低扁平化電線を作製した。ただし、低扁平部を形成した後、絶縁被覆の加熱による導体への絶縁被覆の密着は行っていない。扁平電線としては、導体断面積が15mmm2、60mmm2、130mmm2の3とおりのものを用いた。導体の縦横比w/hは、扁平部で約3、低扁平部で約1とした。絶縁被覆の厚さは、導体断面積が15mm2の試料では1mm、他2種の試料については2mmとした。製造された各絶縁電線に対して、試験[2]と同様に、扁平部と低扁平部のそれぞれにおいて、断面試料を作製した。なお、この試験[3]において低扁平化電線の原料として用いた扁平電線は、試験[2]で用いたものよりも、導体に対する絶縁被覆の密着性が高いものである。
各断面試料に対して、顕微鏡画像を撮影したうえで、画像解析によって、導体の外周長および空隙率を計測した。導体の外周長としては、画像中で、導体の外周を滑らかに結んで、輪郭線を設定し、その輪郭線の長さを計測した。空隙率としては、断面画像中で、絶縁被覆の内側の領域の面積のうち、素線に占められていない領域の総面積が占める割合を算出した。
図7A~7Cに各絶縁電線の扁平部および低扁平部の断面画像を示す。それぞれ、導体断面積が15mmm2、60mmm2、130mmm2の場合について、左側に扁平部を、右側に低扁平部を表示している。また、下の表3に、各試料の扁平部と低扁平部について、導体の外周長と空隙率の値をまとめる。導体の外周長については、上記式(2)によって求められる周長差比率ΔLも表示している。また、空隙率については、上記式(3)によって求められる空隙率比Vrも表示している。
最後に、扁平電線の変形による低扁平化により、導体と絶縁被覆の間に生じる空隙の分布について調べた。
上記試験[2]で用いた試料を、この試験においても、そのまま用いた。試料となる絶縁電線をアクリル樹脂に包埋して固定したうえで、扁平部および低扁平部、また扁平部と低扁平部の間の境界部のそれぞれの箇所において切断して、断面試料を作製した。
各位置で絶縁電線を切断して作製した断面試料に対して顕微鏡画像を撮影し、上記試験[3]と同様にして、画像解析によって空隙率を計測した。
図8Aに、試料として用いた絶縁電線の外観写真を示す。写真は、扁平部の扁平面に対向する方向から撮影したものであり、左側が扁平部、右側が低扁平部となっている。写真中には、切断により断面試料を得た位置も合わせて表示している。図8Bに、各位置での断面の顕微鏡画像を表示している。各画像の上方に表示した符号が、図8A中に示した切断位置P1~P5と対応しており、位置P1が扁平部、位置P2が扁平部と低扁平部の間の境界部、位置P3~P5が低扁平部にあたる。なお、試験[2]で素線の変形率の解析に用いた断面画像は、位置P1および位置P5の断面に対応するものである。
11 導体
12 素線
13 絶縁被覆
20 扁平部
30 低扁平部
40 遷移領域
d1 垂下距離
h 導体の高さ
w 導体の幅
x 絶縁電線の軸線方向
y 幅相当方向
z 高さ相当方向
P1~P5 切断位置
R1 中央部の領域
R2 幅方向端部の領域
R3 高さ方向端部の領域
R4 幅方向導体外領域
R5 高さ方向導体外領域
T1 支点
T2 錘
Claims (12)
- 複数の素線が撚り合わせられた導体と、
前記導体の外周を被覆する絶縁被覆と、を有する絶縁電線であって、
前記導体を構成する前記素線のそれぞれ、および前記絶縁被覆を相互に連続させて、扁平部と、低扁平部と、を軸線方向に沿って有し、
前記絶縁電線の軸線方向に直交する断面における前記導体の外形が、前記扁平部において、扁平形状をとり、かつ前記低扁平部において、前記扁平部よりも扁平度の小さい形状をとり、
前記扁平部および前記低扁平部の両方の前記導体の前記断面において、前記導体の外周に面する外周部のうち、前記扁平形状の幅方向外側に対応する幅方向端部において、前記導体の中央部よりも、前記素線の円形からの変形率が小さくなっている、絶縁電線。 - 前記扁平部および前記低扁平部の両方の前記導体の前記断面において、前記導体の外周に面する外周部のうち、前記幅方向端部において、前記扁平形状の高さ方向外側に対応する高さ方向端部よりも、前記素線の円形からの変形率が小さくなっている、請求項1に記載の絶縁電線。
- 前記低扁平部において、前記素線の円形からの変形率が、前記幅方向端部において、前記中央部の70%以下となっている、請求項1または請求項2に記載の絶縁電線。
- 前記低扁平部において、前記素線の円形からの変形率が、前記中央部で、5%以上となっている、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の絶縁電線。
- 前記断面における前記絶縁被覆の内周に囲まれた領域の面積のうち、素線に占められない空隙の割合である空隙率が、前記低扁平部において前記扁平部よりも大きい、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の絶縁電線。
- 前記断面において、前記扁平部と前記低扁平部との間における前記導体の外周の長さの差が、前記扁平部における前記導体の外周の長さの5%以下である、請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の絶縁電線。
- 前記扁平部と前記低扁平部の両方において、前記導体の外周に、前記絶縁被覆が密着している、請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の絶縁電線。
- 前記絶縁被覆は、前記扁平部と前記低扁平部の間に、前記導体の外形が連続的な傾斜を有して変化する遷移領域を有し、前記遷移領域においても、前記導体の外周に、前記絶縁被覆が密着している、請求項7に記載の絶縁電線。
- 前記低扁平部の前記断面において、前記扁平形状の幅方向および高さ方向に対応する方向に沿って、前記導体の外側の領域を、それぞれ、幅方向導体外領域および高さ方向導体外領域として、
前記幅方向導体外領域において、前記導体と前記絶縁被覆との間に、前記高さ方向導体外領域よりも大きな空隙が形成されている、請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の絶縁電線。 - 前記絶縁電線は、軸線方向に沿って、複数の前記扁平部を有し、
2つの前記扁平部の間に、前記低扁平部を有する、請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の絶縁電線。 - 複数の素線が撚り合わせられた導体を扁平形状に圧縮し、外周を絶縁被覆で被覆して絶縁電線とした後、
前記絶縁電線の軸線方向に沿って一部の領域において、前記扁平形状の幅方向外側から内側に向かって力を加えて、前記導体の扁平度を低下させることで、低扁平部を形成するとともに、
前記低扁平部とした領域以外を、扁平部として残して製造される、絶縁電線。 - 請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の絶縁電線を含む、ワイヤーハーネス。
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