WO2022052428A1 - 一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法及系统 - Google Patents

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WO2022052428A1
WO2022052428A1 PCT/CN2021/079234 CN2021079234W WO2022052428A1 WO 2022052428 A1 WO2022052428 A1 WO 2022052428A1 CN 2021079234 W CN2021079234 W CN 2021079234W WO 2022052428 A1 WO2022052428 A1 WO 2022052428A1
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radio frequency
module
control
frequency signal
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PCT/CN2021/079234
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祖东辉
刘大伟
刘森
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翱捷科技(深圳)有限公司
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    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/20—Monitoring; Testing of receivers
    • H04B17/21—Monitoring; Testing of receivers for calibration; for correcting measurements
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
    • H04B17/11—Monitoring; Testing of transmitters for calibration
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/20—Monitoring; Testing of receivers
    • H04B17/24—Monitoring; Testing of receivers with feedback of measurements to the transmitter

Definitions

  • the present disclosure relates to the technical field of electronic communication, and in particular, to an automatic calibration method and system for measuring parameters of a chip radio frequency signal delay.
  • Radio frequency calibration will be written into the designated position of the chip, which is used for the chip to work with ideal radio frequency indicators in the official work.
  • the radio frequency parameters of WiFi, BLE, ZIGBEE, GNSS, LORA, NB-IOT and other chips are used for the chip to work with ideal radio frequency indicators in the official work.
  • the calibration of the delay measurement parameters of the chip RF signal is usually a fixed value set by the upper computer calibration tool, or manual calibration is performed according to different chip manufacturers, different batches and different channel frequencies. Therefore, the existing parameter calibration methods have the problem of causing low plant efficiency or calibration failure.
  • the embodiments of the present disclosure provide an automatic calibration method and system for measuring parameters of a chip radio frequency signal delay, so as to improve the problems of low factory efficiency or calibration failure caused by the existing unreasonable delay parameter settings.
  • the present invention provides the following technical solutions:
  • An automatic calibration method for a chip radio frequency signal delay measurement parameter including first measurement and cyclic measurement; the first measurement includes the following steps:
  • control module stops sending the radio frequency signal, and performs the next measurement after the interval T2, repeats the measurement N times, and obtains the measurement value of N times;
  • the cycle measurement includes the following steps:
  • the initial values T1, T2, ⁇ E, k, and N of the parameters in the first measurement are all empirical values.
  • the value of T1 is 100-1000ms.
  • the value of T2 is 0.5s.
  • the mean error threshold ⁇ E is 1-10%.
  • the variance reference multiple is 1-2.
  • the present invention also provides an automatic calibration system of the above-mentioned automatic calibration method for measuring parameters of chip radio frequency signal delay, including: a control module, a module and a measuring instrument, the measuring instrument is used to measure the radio frequency emitted by the module
  • the control module is used to control the module to transmit and/or stop transmitting a specified radio frequency signal, and to control the measurement instrument to start and/or stop measurement, and to read the measurement value of the measurement instrument.
  • control module includes: a chip control module, a time control module, an instrument control and RF acquisition module;
  • the chip control module is used to control the chip in the module to transmit and/or stop transmitting the radio frequency signal of the specified frequency
  • the time control module is used to obtain the time when the chip control module sends the control command to the module, and after the delay time t current , controls the instrument control and RF acquisition module to send the measurement control command to the measurement instrument , the time control module is also used to obtain the next delay time t next ; the instrument control and RF acquisition module is used to control the measuring instrument to measure the radio frequency signal and read the measurement value.
  • control module further includes an indicator statistics module, which is configured to calculate the average value and variance of multiple measurements after acquiring the measurement values from the instrument control and RF acquisition module.
  • the invention provides an automatic calibration method and system for measuring parameters of a chip radio frequency signal delay, which improves the problems of low factory efficiency or calibration failure caused by the existing unreasonable delay parameter setting, and can find out the problem that the radio frequency signal is stably transmitted. Time point, so as to ensure the stability of the RF signal index, with the least time delay, to provide the best factory efficiency. Therefore, the present invention can replace manual calibration to select an appropriate delay time, which not only improves mass production efficiency, but also reduces uncertainty caused by manual operation and saves labor costs.
  • FIG. 1 is a schematic structural diagram of an automatic calibration system of the present invention
  • FIG. 2 is a schematic diagram of the first measurement process in the automatic calibration method of the present invention.
  • FIG. 3 is a schematic diagram of the cycle measurement process in the automatic calibration method of the present invention.
  • an embodiment of the present disclosure provides an automatic calibration system for measuring parameters of a chip radio frequency signal delay, including: a control module, a module, and a measuring instrument, the control module is responsible for the control of the entire system, and the measuring instrument For measuring the radio frequency signal emitted by the module, the control module is used to control the module to transmit and/or stop transmitting the specified radio frequency signal, and to control the measuring instrument to start and/or stop the measurement, and read The measurement value of the measuring instrument.
  • the control module includes: a chip control module, a time control module, an instrument control and RF (radio frequency) acquisition module, and an index statistics module.
  • the chip control module is used to control the behavior of the chip, and control the chip in the module to transmit and/or stop transmitting radio frequency signals of a specified frequency.
  • the time control module is used for the synchronization of the internal time of the control module, obtains the time when the chip control module sends the control command to the module, and after the delay time t current , controls the instrument control and RF acquisition module to send the control instruction to the module.
  • the measurement instrument sends a measurement control instruction, the time control module is further configured to obtain the next delay time t next from the index statistics module, and the time control module also sets an interval time T2 for controlling multiple measurements.
  • the instrument control and RF acquisition module is used to control the measurement instrument to measure the radio frequency signal and read the measurement value.
  • the indicator statistics module is used to calculate the average value and variance of multiple measurements after acquiring the measurement values from the instrument control and RF acquisition module.
  • the automatic calibration system of the present invention can automatically measure the stable starting time of the emission index (eg power) of the radio frequency chip module at a certain frequency.
  • the radio frequency chip transmits radio frequency signals, there will be a period of time until the radio frequency signal is stably transmitted after the transmission command is issued, which is also the time for the chip to warm up (preheating). This period of time will vary greatly depending on the chip.
  • the provided method for automatically acquiring the time can find out the time point at which the radio frequency signal is stably transmitted. In order to ensure the stability of the RF signal index, the minimum time delay is used to provide the best factory efficiency.
  • an automatic calibration method of a chip radio frequency signal delay measurement parameter of the present invention including the first measurement and the cyclic measurement; the first measurement includes the following steps:
  • control module stops sending the radio frequency signal, and performs the next measurement after the interval T2, repeats the measurement N times, and obtains the measurement value of N times;
  • the cycle measurement includes the following steps:
  • the index measurement interval time T2 remains unchanged, the time control module sends a start command to the chip control module, and after a delay of t current , sends a command to measure the radio frequency index at the next time to the instrument control and RF measurement module, repeating the above
  • t next + or t next- is the next t current
  • the method used in the present invention needs to set the initial value first, and then is mainly divided into two steps: the first measurement and the cyclic measurement.
  • the objective of the present invention is to find a suitable delay t stop , the radio frequency signal transmitted by the chip before the delay point does not reach a steady state, that is, ⁇ E n > ⁇ E or D 1 >kD 0 (where E is the index of the same chip multiple times)
  • the mean value of the measurement, D is the variance of the measured values of the same chip index); at the same time, the radio frequency signal transmitted after the delay point reaches a steady state, that is, ⁇ E n ⁇ E and D1 ⁇ kD 0 .
  • the initial values that need to be set or measured for this method include:
  • the first measurement delay time this value can be set according to experience to a time sufficient to make all chips on the market reach a steady state, preferably 100-1000ms.
  • the interval time of index measurement this value can be set according to experience, which is enough to make all the chips on the market turn off the interval time from the end of the last RF signal transmission to the start of the next RF signal transmission, preferably 0.5s.
  • N is the number of times of multiple measurements on the same chip. After multiple measurements, the mean value E and the variance D can be obtained.
  • the value can be set according to the engineer's experience, and is preferably 10 times.
  • ⁇ E the mean error threshold, the maximum acceptable error percentage between the measured mean E and the initial measured mean E 0 , this value can be set according to experience, preferably 1-10%.
  • K the variance reference multiple, the maximum acceptable multiple of the measured variance D and the initial measured variance D 0 , this value can be set according to the experience of engineers, preferably 1-2.
  • the above-mentioned t 2 0.5T1
  • the use basis of formula (1) and formula (2) are based on the use of binary search in the algorithm, and the used scene is the sorted data.
  • the used scene is the sorted data.
  • it is a process that a chip is unstable from preheating to stable, and the degree of stability increases or becomes constant with time, and the data is a sort of data. So for sorted data, using binary search is efficient. is the minimum time-differentiated granularity achieved for the measurement tool, which can vary from tool to tool.
  • the significance of obtaining the mean is to reduce the error of a certain measurement
  • the significance of the variance is that the fluctuations in the unstable state may be large but the mean value is close to the steady state.
  • the time control module in the control module sends an instruction to start the measurement to the chip control module.
  • the chip control module controls the module chip to send radio frequency signals.
  • the time control module sends a read command to the instrument control and RF acquisition module after a delay of T1.
  • the instrument control module controls the measuring instrument to receive the index measurement value of the radio frequency signal at this moment, and the RF acquisition module receives the measurement value from the instrument and transmits it to the index statistics module.
  • the chip control module controls the chip to turn off RF (ie radio frequency) signal transmission.
  • the time control module sends an instruction with the same delay as the last time to the chip control module and the instrument control and RF acquisition module again to start the second test.
  • the chip control module has completed N tests in total under the initial measurement.
  • the power statistics module counts the power mean value E 0 and variance D 0 of N times.
  • the average power E 0 is 15dBm, and the variance D 0 is 0.037;
  • the next step is to perform cyclic measurement:

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

本发明提供了一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法及系统，该系统包括：控制模块、模组和测量仪器，所述测量仪器用于测量所述模组发射的射频信号，所述控制模块用于控制所述模组发射和/或停止发射指定射频信号，以及控制所述测量仪器开始测量和/或停止测量，并读取测量仪器的测量值。运用该系统可以自动测量射频芯片模组在某一频率下稳定发射射频信号的起始时间，本发明提供的自动校准该时间的方法，可以找出射频信号稳定发射的时间起始点，从而保证射频信号指标稳定的前提下用最少的时间延时，提供最佳的工厂效率。

Description

一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法及系统 技术领域
本公开涉及电子通讯技术领域，尤其涉及一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法及系统。
背景技术
具有射频功能的模组在出厂时需要对其进行射频参数校准，射频校准的校准值会写入芯片的指定位置，用于芯片正式工作中以理想的射频指标工作。例如WiFi、BLE、ZIGBEE、GNSS、LORA、NB-IOT等芯片的射频参数。
目前，芯片射频信号延时测量参数的校准通常是上位机校准工具设定固定值，或者是根据芯片厂商的不同、批次的不同及信道频率的不同进行手动校准。因此现有的参数校准方法存在导致工厂效率低或校准失败的问题。
发明内容
有鉴于此，本公开实施例提供一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法及系统，改进现有不合理的延时参数设定导致的工厂效率低或者校准失败的问题。
为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法，包括首次测量和循环测量；所述首次测量包括如下步骤：
S01、设定参数的初始值；
所述初始值包括首次延时时间t before＝T1，指标测量间隔时间T2，均值误差阈值ΔE，方差基准倍数k，同一延时时间的测量次数N；
S02、控制模块控制模组发送射频信号，并在延时t before＝T1时刻之后控制测量仪器测量该时刻的射频信号，同时获取该时刻的测量值；
S03、控制模块控制模组停止发送射频信号，并在间隔T2时间后进行下一次测量，重复测量N次，得到N次的测量值；
S04、由N次的测量值得到首次测量的指标均值E 0、首次测量的指标方差D 0；
所述循环测量包括如下步骤：
S11、重复所述首次测量的步骤，得到第二次测量的指标均值E 1、第二次测量的指标方差D 1，其中，t current＝t 2＝0.5T1；
S12、将首次测量中得到的指标均值E 0、指标方差D 0分别与S11中第二次测量的指标均值E 1、指标方差D 1比较，计算均值误差百分比，得到ΔE 1，
其中，
Figure PCTCN2021079234-appb-000001
S13、若ΔE 1>ΔE或D 1>kD 0，则误差超限，下一次延时时间t(next+)由公 式(1)确定：
Figure PCTCN2021079234-appb-000002
若ΔE 1<ΔE且D1≤kD 0，则误差未超限，下一次延时时间t(next-)由公式(2)确定：
Figure PCTCN2021079234-appb-000003
S14、获取目标延时时间t stop：
若满足：
Figure PCTCN2021079234-appb-000004
则得到t stop＝t current
若否，则继续进行循环测量，至获取目标延时时间t stop。
进一步地，所述首次测量中参数的初始值T1、T2、ΔE、k、N均为经验值。
在一种优选的实施方式中，所述T1的值为100-1000ms。
在一种优选的实施方式中，所述T2的值为0.5s。
在一种优选的实施方式中，所述均值误差阈值ΔE为1-10％。
在一种优选的实施方式中，所述方差基准倍数为1-2。
本发明还提供一种如上述的芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法的自动校准系统，包括：控制模块、模组和测量仪器，所述测量仪器用于测量所述模组发射的射频信号，所述控制模块用于控制所述模组发射和/或停止发 射指定射频信号，以及控制所述测量仪器开始测量和/或停止测量，并读取测量仪器的测量值。
进一步地，所述控制模块包括：芯片控制模块、时间控制模块、仪器控制与RF获取模块；
所述芯片控制模块用于控制模组中芯片发射和/或停止发射指定频率的射频信号；
所述时间控制模块用于获取所述芯片控制模块向模组发送控制指令的时间，并在经过延时时间t current后，控制所述仪器控制与RF获取模块向所述测量仪器发送测量控制指令，所述时间控制模块还用于获取下一次延时时间t next；所述仪器控制与RF获取模块用于控制测量仪器测量射频信号，并读取测量值。
进一步地，所述控制模块还包括指标统计模块，所述指标统计模块用于从所述仪器控制与RF获取模块中获取测量值后计算多次测量的平均值、方差。
本发明的一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法及系统，改进了现有不合理的延时参数设定导致的工厂效率低或者校准失败的问题，可以找出射频信号稳定发射的时间点，从而保证射频信号指标稳定的前提下用最少的时间延时，提供最佳的工厂效率。因此本发明可以代替人工校准选合适的延时时间，既提升了量产效率又能够减少人为操作带来的不确定，节省了人工成本。
附图说明
为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使 用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本发明的自动校准系统结构示意图；
图2为本发明的自动校准方法中首次测量过程示意图；
图3为本发明的自动校准方法中循环测量过程示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本公开实施例进行详细描述。
以下通过特定的具体实例说明本公开的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本公开的其他优点与功效。显然，所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。本公开还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本公开的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。基于本公开中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
要说明的是，下文描述在所附权利要求书的范围内的实施例的各种方面。应显而易见，本文中所描述的方面可体现于广泛多种形式中，且本文中所描述 的任何特定结构及/或功能仅为说明性的。基于本公开，所属领域的技术人员应了解，本文中所描述的一个方面可与任何其它方面独立地实施，且可以各种方式组合这些方面中的两者或两者以上。举例来说，可使用本文中所阐述的任何数目个方面来实施设备及/或实践方法。另外，可使用除了本文中所阐述的方面中的一或多者之外的其它结构及/或功能性实施此设备及/或实践此方法。
还需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本公开的基本构想，图式中仅显示与本公开中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。
另外，在以下描述中，提供具体细节是为了便于透彻理解实例。然而，所属领域的技术人员将理解，可在没有这些特定细节的情况下实践所述方面。
如图1所示，本公开实施例提供一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准系统，包括：控制模块、模组和测量仪器，所述控制模块负责整个系统的控制，所述测量仪器用于测量所述模组发射的射频信号，所述控制模块用于控制所述模组发射和/或停止发射指定射频信号，以及控制所述测量仪器开始测量和/或停止测量，并读取测量仪器的测量值。所述控制模块包括：芯片控制模块、时间控制模块、仪器控制与RF(射频)获取模块和指标统计模块。
具体地，所述芯片控制模块用于控制芯片的行为，控制模组中芯片发射和/或停止发射指定频率的射频信号。所述时间控制模块用于控制模块内部时间 的同步，获取所述芯片控制模块向模组发送控制指令的时间，并在经过延时时间t current后，控制所述仪器控制与RF获取模块向所述测量仪器发送测量控制指令，所述时间控制模块还用于从指标统计模块获取下一次延时时间t next，并且，时间控制模块中还设定了控制多次测量的间隔时间T2。所述仪器控制与RF获取模块用于控制测量仪器测量射频信号，并读取测量值。所述指标统计模块用于从所述仪器控制与RF获取模块中获取测量值后计算多次测量的平均值、方差。
本发明的自动校准系统可以自动测量射频芯片模组在某一频率下发射指标(如功率)稳定的起始时间。射频芯片在发射射频信号时，在发射指令下达之后到稳定的发射射频信号有一段时间，也是芯片warm up(预热)的时间，这段时间根据芯片的不同会有很大的差别，本发明提供的自动获取该时间的方法，可以找出射频信号稳定发射的时间点。从而保证射频信号指标稳定的前提下用最少的时间延时，提供最佳的工厂效率。
参考图2和图3，说明本发明的一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法，包括首次测量和循环测量；所述首次测量包括如下步骤：
S01、设定参数的初始值；
所述初始值包括首次延时时间t before＝T1，指标测量间隔时间T2，均值误差阈值ΔE，方差基准倍数k，同一延时时间的测量次数N；
S02、控制模块控制模组发送射频信号，并在延时t before＝T1时刻之后控制 测量仪器测量该时刻的射频信号，同时获取该时刻的测量值；
具体地，对芯片第一次指标(如功率)测量：时间控制模块向芯片控制模块传递开始测量的指令，芯片控制模块控制芯片发送射频信号；时间控制模块延时t current＝T1之后向仪器控制与RF获取模块发送读取指令；仪器控制与RF获取模块控制测量仪器接收该时刻射频信号的各种测量值，并接收仪器传来的测量值，再传输给指标统计模块。
S03、控制模块控制模组停止发送射频信号，并在间隔T2时刻后进行下一次测量，重复测量N次，得到N次的测量值；
S04、由N次的测量值得到首次测量的指标均值E 0、首次测量的指标方差D 0；
所述循环测量包括如下步骤：
S11、指标测量间隔时间T2保持不变，时间控制模块向芯片控制模块发送开始指令，并在延时t current之后向仪器控制与RF测量模块发送测量次时刻下的射频指标的命令，重复所述首次测量的步骤，得到第二次测量的指标均值E 1、第二次测量的指标方差D 1，其中，t current＝t 2＝0.5T1；
S12、将首次测量中得到的指标均值E 0、指标方差D 0分别与S11中第二次测量的指标均值E 1、指标方差D 1比较，计算均值误差百分比，得到ΔE 1，
其中，
Figure PCTCN2021079234-appb-000005
S13、若ΔE 1>ΔE或D 1>kD 0，则误差超限，芯片warm up没有结束，下一次延时时间t(next+)由公式(1)确定：
Figure PCTCN2021079234-appb-000006
若ΔE 1<ΔE且D1≤kD 0，则误差未超限，下一次延时时间t(next-)由公式(2)确定：
Figure PCTCN2021079234-appb-000007
S14、获取目标延时时间t stop：
若满足：
Figure PCTCN2021079234-appb-000008
则得到t stop＝t current；
若否，则继续进行循环测量，至获取目标延时时间t stop。
上述过程中，得到t next+或t next-之后，t next+或t next-就为下一次的t current，本次的t current就为下一次的t before；用下一次的t current和下一次的t before计算，如果
Figure PCTCN2021079234-appb-000009
则停止，得到t stop＝t current，t stop为系统确定的目标延时时间，否则从步骤S11开始下一次循环测试。
本发明使用的方法要先设定初始值，之后主要分为首次测定与循环测定两个步骤。本发明的目标为找出合适的延时t stop，芯片在该延时点之前发射的射频信号没有达到稳态，即ΔE n>ΔE或D 1>kD 0(其中E为同一芯片指标多次测 量的均值，D为同一芯片指标多次测量值的方差)；同时在该延时点之后发射的射频信号达到稳态,即ΔE n<ΔE且D1≤kD 0。
该方法需要设定或测量而得的初始值包括：
T1，首次测量延时时间，该值可根据经验设定一个能够足以使所有市面上芯片达到稳态的时间，优选为100-1000ms。
T2，指标测量的间隔时间，该值可根据经验设定能够足以使所有市面上芯片关闭上一次射频信号发射结束到下一次射频信号发射开始的间隔时间，优选为0.5s。
N，同一芯片多次测量的次数，多次测量后可得到均值E和方差D该值可根据工程师经验设定，优选为10次。
ΔE，均值误差阈值，测量的均值E与初始测量均值E 0能接受的最大误差百分比，该值可根据经验设定，优选为1-10％。
K，方差基准倍数，测量的方差D与初始测量方差D 0能接受的最大倍数，该值可根据工程师经验设定，优选为1-2。
本发明中，上述的t 2＝0.5T1，及公式(1)和公式(2)的使用依据是使用算法里的二分法查找，使用的场景是已经排序过的数据。本例中是一个芯片从预热不稳定到稳定的过程，稳定程度随时间增长而增大或恒定，数据是一种排序过的数据。所以对于排序过的数据，使用二分法查找是高效的。
Figure PCTCN2021079234-appb-000010
是达到了测量工具的最小时间区分粒度，该值可随不 同工具而不同。另外获取均值的意义在于减小某次测量的误差，方差的意义在于可能出现的不稳态下的波动大但是均值却接近稳态的情况。
根据本发明的一个具体实施例：
首次测量芯片稳态下的技术指标：
1、根据测量的指标种类设定初始值：首次测量延时时间：t before＝T1＝800ms；指标测量的间隔时间：T2＝0.5s；功率均值误差阈值：ΔE＝2％；功率方差基准倍数：k＝1.5；同一延时时间下测量次数：N＝10。
2、控制模块中的时间控制模块向芯片控制模块发送开始测量的指令。
3、芯片控制模块控制模组芯片发送射频信号。
4、时间控制模块延时T1之后向仪器控制与RF获取模块发送读取指令。
5、仪器控制模块控制测量仪器接收该时刻射频信号的指标测量值，RF获取模块接收仪器传来的测量值，并传输给指标统计模块。
6、芯片控制模块控制芯片关闭RF(即射频)信号发射。
7、时间控制模块在T2之后再次向芯片控制模块和仪器控制与RF获取模块发送与上次相同延时的指令，开始第二次测试。
8、芯片控制模块在初次测量下，共完成N次测试。
9、功率统计模块统计N次的功率均值E 0，方差D 0。
例如针对某WiFi芯片的11G，11M，7信道的下的平均功率E 0为15dBm，方差D 0为0.037；
接下来进行循环测量步骤：
1、原值T2不变，t current为原来t before的1/2，即t current＝t 2＝0.5T1，并重复首次测量的过程，共计测量N次，每次测量结果为x 1,x 2,…,x N。
2、统计上述测量得到的均值E 1，方差D 1；
则：
Figure PCTCN2021079234-appb-000011
Figure PCTCN2021079234-appb-000012
3、将上述均值E 1，方差D 1与首次参数均值E 0，方差D 0相比较，计算均值误差百分比ΔE 1，
4、当ΔE 1>ΔE或D 1>KD 0(ΔE 1<ΔE且D 1≤KD 0)，得到t next+(t next-)：
例如，首次测量的10个数据：15.0,15.1,15.0,15.0,15.1,14.9,14.8,15.2,14.9,15.0，求得E 0＝15，D 0＝0.01333；
第二次测量的10个数据：14.8,14.6,14.7,14.2,14.5,14.6,14.1,14.7,14.3,14.7，求得E 1＝14.52，D 1＝0.05733；
由于此时，T1＝800ms，t current＝t 2＝400ms，
Figure PCTCN2021079234-appb-000013
不成立，因此需要求得t next，
其中：设定ΔE＝2％，k＝1.5；
Figure PCTCN2021079234-appb-000014
由于ΔE 1>ΔE,D 1＝0.05733>1.5×D 0
所以
Figure PCTCN2021079234-appb-000015
再进行下一次判断：
若：
Figure PCTCN2021079234-appb-000016
不成立，再开始下一轮循环测量，直至条件
Figure PCTCN2021079234-appb-000017
成立时，获取t stop＝t current。
以上所述，仅为本公开的具体实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此，本公开的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (9)

  1. 一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法，其特征在于，包括首次测量和循环测量；所述首次测量包括如下步骤：
    S01、设定参数的初始值；
    所述初始值包括首次延时时间t before＝T1，指标测量间隔时间T2，均值误差阈值ΔE，方差基准倍数k，同一延时时间的测量次数N；
    S02、控制模块控制模组发送射频信号，并在延时t before＝T1时刻之后控制测量仪器测量该时刻的射频信号，同时获取该时刻的测量值；
    S03、控制模块控制模组停止发送射频信号，并在间隔T2时间后进行下一次测量，重复测量N次，得到N次的测量值；
    S04、由N次的测量值得到首次测量的指标均值E 0、首次测量的指标方差D 0；
    所述循环测量包括如下步骤：
    S11、重复所述首次测量的步骤，得到第二次测量的指标均值E 1、第二次测量的指标方差D 1，其中，t current＝t 2＝0.5T1；
    S12、将首次测量中得到的指标均值E 0、指标方差D 0分别与S11中第二次测量的指标均值E 1、指标方差D 1比较，计算均值误差百分比，得到ΔE 1；
    其中，
    Figure PCTCN2021079234-appb-100001
    S13、若ΔE 1>ΔE或D 1>kD 0，则误差超限，下一次延时时间t(next+)由公式(1)确定：
    Figure PCTCN2021079234-appb-100002
    若ΔE 1<ΔE且D1≤kD 0，则误差未超限，下一次延时时间t(next-)由公式(2)确定：
    Figure PCTCN2021079234-appb-100003
    S14、获取目标延时时间t stop：
    若满足：
    Figure PCTCN2021079234-appb-100004
    则得到t stop＝t current；
    若否，则继续进行循环测量，至获取目标延时时间t stop。
  2. 根据权利要求1所述的自动校准方法，其特征在于，所述首次测量中参数的初始值T1、T2、ΔE、k、N均为经验值。
  3. 根据权利要求2所述的自动校准方法，其特征在于，所述T1的值为100-1000ms。
  4. 根据权利要求2所述的自动校准方法，其特征在于，所述T2的值为0.5s。
  5. 根据权利要求2所述的自动校准方法，其特征在于，所述均值误差阈值ΔE为1-10％。
  6. 根据权利要求2所述的自动校准方法，其特征在于，所述方差基准倍数k的范围为1-2。
  7. 一种如权利要求1至6任一项所述的芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法的自动校准系统，其特征在于，包括：控制模块、模组和测量仪器，所述测量仪器用于测量所述模组发射的射频信号，所述控制模块用于控制所述模组发射和/或停止发射指定射频信号，以及控制所述测量仪器开始测量和/或停止测量，并读取测量仪器的测量值。
  8. 根据权利要求7所述的自动校准系统，其特征在于，所述控制模块包括：芯片控制模块、时间控制模块、仪器控制与RF获取模块；
    所述芯片控制模块用于控制模组中芯片发射和/或停止发射指定频率的射频信号；
    所述时间控制模块用于获取所述芯片控制模块向模组发送控制指令的时间，并在经过延时时间t current后，控制所述仪器控制与RF获取模块向所述测量仪器发送测量控制指令，所述时间控制模块还用于获取下一次延时时间t next；
    所述仪器控制与RF获取模块用于控制测量仪器测量射频信号，并读取测量值。
  9. 根据权利要求8所述的自动校准系统，其特征在于，所述控制模块还包括指标统计模块，所述指标统计模块用于从所述仪器控制与RF获取模块中获取测量值后计算多次测量的平均值、方差。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111835440B (zh) * 2020-09-10 2021-03-23 翱捷科技(深圳)有限公司 一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法及系统

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080262890A1 (en) * 2007-04-19 2008-10-23 Korupolu Madhukar R System and method for selecting and scheduling corrective actions for automated storage management
CN102073033A (zh) * 2009-11-25 2011-05-25 中国科学院电子学研究所 可动态校准的高精度步进延迟产生方法
CN105628218A (zh) * 2015-12-23 2016-06-01 索尔思光电（成都）有限公司 一种光模块芯片温度校准方法
CN108830008A (zh) * 2018-06-28 2018-11-16 中国科学院微电子研究所 一种标准单元库全模型的测试方法及测试系统
CN109039496A (zh) * 2018-08-23 2018-12-18 北京无线电计量测试研究所 一种双向比对调制解调器时延变化辅助测量装置和方法
CN111488120A (zh) * 2019-01-28 2020-08-04 西部数据技术公司 用于自适应芯片启用设置时间的数据存储系统和方法
CN111835440A (zh) * 2020-09-10 2020-10-27 翱捷科技(深圳)有限公司 一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法及系统

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107566061B (zh) * 2017-08-23 2021-04-09 成都天奥技术发展有限公司 微波秒级时延校准系统

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080262890A1 (en) * 2007-04-19 2008-10-23 Korupolu Madhukar R System and method for selecting and scheduling corrective actions for automated storage management
CN102073033A (zh) * 2009-11-25 2011-05-25 中国科学院电子学研究所 可动态校准的高精度步进延迟产生方法
CN105628218A (zh) * 2015-12-23 2016-06-01 索尔思光电（成都）有限公司 一种光模块芯片温度校准方法
CN108830008A (zh) * 2018-06-28 2018-11-16 中国科学院微电子研究所 一种标准单元库全模型的测试方法及测试系统
CN109039496A (zh) * 2018-08-23 2018-12-18 北京无线电计量测试研究所 一种双向比对调制解调器时延变化辅助测量装置和方法
CN111488120A (zh) * 2019-01-28 2020-08-04 西部数据技术公司 用于自适应芯片启用设置时间的数据存储系统和方法
CN111835440A (zh) * 2020-09-10 2020-10-27 翱捷科技(深圳)有限公司 一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法及系统

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