CN115483990A - 通信模组的生产测试方法、系统、电子设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例涉及生产过程质量控制技术领域,公开了一种通信模组的生产测试方法、系统、电子设备和存储介质,该方法包括:根据测试夹具、测试夹具的线损值和预设的测试项,获取第一待测模组的测试指标;其中,线损值由测试夹具基于预设的金机获得;若第一待测模组的测试指标不符合预设的测试标准,则获取下一个待测模组作为第二待测模组;根据测试夹具、线损值和测试项,获取第二待测模组的测试指标;若第二待测模组的测试指标不符合测试标准,则基于金机,更新测试夹具的线损值,即自动地确定测试夹具的线损值是否发生变化,并在线损值变化的情况下进行调整,降低测试成本的同时提升通信模组的出厂质量。
Description
技术领域
本申请实施例涉及生产过程质量控制技术领域,特别涉及一种通信模组生产测试方法、系统、电子设备和存储介质。
背景技术
物联网技术是第五代移动通信技术(5th Generation Mobile CommunicationTechnology,简称:5G)研究与应用的热点方向,5G通信模组是海量物联网设备接入物联网的核心必备组件,其集成了基带芯片、射频芯片、存储芯片、电容电阻等各类元器件,并提供标准接口给需要连接物联网的设备。
5G通信模组在生产过程中,需要进行包括射频测试在内的一系列生产测试,5G通信模组生产工厂通常选用一台金机(即标准的、质量良好的5G通信模组)作为测试标准,在测试夹具上测试金机的最大发射功率,将测试到的最大发射功率和金机标定的最大发射功率之间的差值作为测试夹具的线损值,后续在使用这套测试夹具测试待测通信模组时,需要将测试数值加上线损值,在与各项测试的预设标准进行比较,判断待测通信模组是否可以出厂。
然而,通信模组生产工厂往往只是在一定数量的待测通信模组都未通过测试的情况下停止测试,由专业工程师对测试夹具进行排查,判断是否是因测试夹具出现问题(如射频线松动、射频线损坏、夹具整体损坏)而导致连续多个待测通信模组都未通过测试,但这需要耗费大量人力资源,并且测试夹具的损坏不是瞬间发生的,发现损坏前的部分待测通信模组的测试结果不够准确,从而导致通信模组的出厂质量下降。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种通信模组的生产测试方法、系统、电子设备和存储介质,可以及时、自动地确定测试夹具的线损值是否发生变化,并在线损值变化的情况下进行调整,降低测试成本的同时提升通信模组的出厂质量。
为解决上述技术问题,本申请的实施例提供了一种通信模组的生产测试方法,包括以下步骤:根据测试夹具、所述测试夹具的线损值和预设的测试项,获取第一待测模组的测试指标;其中,所述线损值由所述测试夹具基于预设的金机获得;若所述第一待测模组的测试指标不符合预设的测试标准,则获取下一个待测模组作为第二待测模组;根据所述测试夹具、所述线损值和所述测试项,获取所述第二待测模组的测试指标;若所述第二待测模组的测试指标不符合所述测试标准,则基于所述金机,更新所述测试夹具的线损值。
本申请的实施例还提供了一种通信模组的生产测试系统,该系统包括:测试夹具、若干个待测模组、金机、生产测试装置和线损测试装置;所述测试夹具用于固定所述金机和所述若干个待测模组;所述线损测试装置用于在所述生产测试装置进行生产测试之前,根据所述测试夹具和所述金机,确定所述测试夹具的线损值,并将所述线损值发送至所述生产测试装置;所述生产测试装置用于按照所述若干个待测模组在所述测试夹具上的顺序,选定第一待测模组,并根据所述测试夹具、所述线损值和预设的测试项,获取所述第一待测模组的测试指标;所述生产测试装置还用于在所述第一待测模组的测试指标不符合预设的测试标准时,获取下一个待测模组作为第二待测模组,根据所述测试夹具、所述线损值和所述测试项,获取所述第二待测模组的测试指标;所述线损测试装置还用于在所述第二待测模组的测试指标不符合所述测试标准时,根据所述测试夹具和所述金机,更新所述测试夹具的线损值。
本申请的实施例还提供了一种电子设备,包括:至少一个处理器;以及,与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行上述的通信模组的生产测试方法。
本申请的实施例还提供了一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述的通信模组的生产测试方法。
本申请的实施例提供的通信模组的生产测试方法、系统、电子设备和存储介质,在测试的最开始,先由测试夹具基于预设的金机获得测试夹具的线损值,再根据测试夹具、测试夹具的线损值和预设的测试项对第一待测模组进行测试,获取第一待测模组的测试指标,若第一待测模组的测试指标不符合预设的测试标准,则获取下一个待测模组作为第二待测模组,并根据相同的测试夹具、测试夹具的线损值和相同的测试项对第二待测模组进行测试,获取第二待测模组的测试指标,若第二待测模组的测试指标也不符合测试标准,则基于金机,更新测试夹具的线损值,考虑到生产工厂只是在发现连续的一定数量的待测通信模组都未通过测试时,才停止生产由专业工程师检查测试夹具是否出现问题,但测试夹具损坏不是瞬间发生的,在测试夹具彻底损坏之前其线损值已经发生了变化,这就导致测试夹具彻底损坏之前测试的待测模组的测试结果并不准确,而本申请的实施例实时关注测试夹具的线损值变化,一旦连续两个待测模组都未通过测试,就立即重新确定测试夹具的线损值,保证测试时使用的线损值符合测试夹具的真实情况,整个过程无需人工参与,可以及时、自动地确定测试夹具的线损值是否发生变化,并在线损值变化的情况下进行调整,降低测试成本的同时提升了通信模组的出厂质量。
另外,所述线损值由所述测试夹具基于预设的金机获得,具体为:在所述测试夹具上测试得到所述金机的第一最大发射功率;计算所述第一最大发射功率与所述金机的额定最大发射功率之间的第一差值;将所述第一差值作为所述测试夹具的线损值,考虑到通信模组有很多可以测试的射频指标,但最大发射功率最能代表一个通信模组的实际性能,金机的额定最大发射功率可以认为是无任何损耗下的最大发射功率,而测试夹具必然存在损耗,本申请在测试夹具上测试得到金机的第一最大发射功率,第一最大发射功率与额定最大发射功率之间的差值即这套测试夹具的科学的、准确的、符合实际的线损值。
另外,所述基于所述金机,更新所述测试夹具的线损值,包括:在所述测试夹具上测试得到所述金机的第二最大发射功率,并计算所述第二最大发射功率与所述额定最大发射功率之间的第二差值、所述第二差值与所述线损值之间的第三差值;判断所述第三差值是否大于第一预设阈值;若所述第三差值小于或等于所述第一预设阈值,则保持所述测试夹具的线损值不变,并判定所述第一待测模组和所述第二待测模组为次品;若所述第三差值大于所述第一预设阈值,则将所述第二差值作为所述测试夹具的更新线损值,并根据所述测试夹具、所述更新线损值和所述测试项,重新获取所述第一待测模组的测试指标和所述第二待测模组的测试指标,考虑到金机的性能是稳定的、标准的,此时在测试夹具上测试得到的金机的第二最大发射功率符合测试夹具的最新实际情况,服务器计算第二最大发射功率与额定最大发射功率之间的第二差值、第二差值与线损值之间的第三差值,若第三差值小于或等于第一预设阈值,说明测试夹具线损变化不大,可以接受,服务器保持测试夹具的线损值不变并判定这两个待测模组为次品;若第三差值大于第一预设阈值,说明测试夹具线损变化过大,不可接受,服务器将第二差值作为测试夹具的更新线损值重新测试这两个待测模组,进一步提升了通信模组生产测试的准确性,从而提升通信模组的出厂质量。
另外,所述若所述第三差值大于所述第一预设阈值,则将所述第二差值作为所述测试夹具的更新线损值,并根据所述测试夹具、所述更新线损值和所述测试项,重新获取所述第一待测模组测试指标和所述第二待测模组的测试指标,包括:若所述第三差值大于所述第一预设阈值,则判断所述第三差值是否小于第二预设阈值;其中,所述第二预设阈值大于所述第一预设阈值;若所述第三差值大于或等于所述第二预设阈值,则停止测试并生成测试夹具损坏信息;若所述第三差值大于所述第二预设阈值,则将所述第二差值作为所述测试夹具的更新线损值,并根据所述测试夹具、所述更新线损值和所述测试项,重新获取所述第一待测模组的测试指标和所述第二待测模组的测试指标,服务器在确定第三差值大于第一预设阈值之后,还要确定第三差值是否小于第二预设阈值,若第三差值小于第二预设阈值,说明线损值变化虽然很大,不可接受,但测试夹具还没彻底损坏,可以继续测试,服务器则将第二差值作为测试夹具的更新线损值重新测试这两个待测模组;若第三差值大于或等于第二预设阈值,则说明测试夹具彻底损坏,无法继续使用,此时生成测试夹具损坏信息,提醒技术人员更换测试夹具,进一步提升了通信模组生产测试的准确性,从而提升通信模组的出厂质量。
另外,在所述获取第一待测模组的测试指标之后,还包括:若所述第一待测模组的测试指标符合预设的测试标准,则判定所述第一待测模组为良品,并获取下一个待测模组作为新的第一待测模组,本申请的线损调整的触发条件为连续两个待测模组未通过测试,如果第一待测模组通过测试,则直接将下一个待测模组自动补位为第一待测模组,也就不会频繁地转换到金机位置进行测试,保证通信模组的生产测试可以流畅地进行。
另外,在所述获取所述第二待测模组的测试指标之后,还包括:若所述第二待测模组的测试指标符合所述测试标准,则判定所述第一待测模组为次品、所述第二待测模组为良品,并获取下一个待测模组作为新的第一待测模组,本申请的线损调整的触发条件为连续两个待测模组未通过测试,如果第二待测模组通过测试,说明测试夹具没问题,即使有线损值变化也是轻微的、可以接受的变化,而第一待测模组则是实打实地未通过测试,因此判定第一待测模组为次品、第二待测模组为良品,并直接将第二待测模组的下一个待测模组自动补位为第一待测模组,保证通信模组的生产测试可以流畅地进行。
附图说明
一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明,这些示例性说明并不构成对实施例的限定。
图1是本申请的一个实施例提供的通信模组的生产测试方法的流程图一;
图2是本申请的一个实施例中,基于金机,更新测试夹具的线损值的流程图一;
图3是本申请的另一个实施例中,基于金机,更新测试夹具的线损值的流程图二;
图4是本申请的另一个实施例提供的通信模组的生产测试方法的流程图二;
图5是本申请的另一个实施例提供的通信模组的生产测试方法的流程图三;
图6是本申请的另一个实施例提供的通信模组的生产测试系统的示意图;
图7是本申请的另一个实施例提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本申请的各实施例进行详细的阐述。然而,本领域的普通技术人员可以理解,在本申请各实施例中,为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是,即使没有这些技术细节和基于以下各实施例的种种变化和修改,也可以实现本申请所要求保护的技术方案。以下各个实施例的划分是为了描述方便,不应对本申请的具体实现方式构成任何限定,各个实施例在不矛盾的前提下可以相互结合相互引用。
本申请的一个实施例涉及一种通信模组的生产测试方法,应用于电子设备,其中,电子设备可以为终端或服务器,本实施例以及以下各个实施例中电子设备以服务器为例进行说明,下面对本实施例的通信模组的生产测试方法的实现细节进行具体的说明,以下内容仅为方便理解提供的实现细节,并非实施本方案的必须。
本实施例的通信模组的生产测试方法的具体流程可以如图1所示,包括:
步骤101,根据测试夹具、测试夹具的线损值和预设的测试项,获取第一待测模组的测试指标。
具体而言,测试夹具的线损值是由测试夹具在整个生产测试流程开始时,基于预设的金机获得的,此时获得的测试夹具的线损值可以被称为初始线损值,预设的金机是一块与待测模组同规格的、性能优秀的标准通信模组。
在一个例子中,测试夹具上固定有预设的金机和若干待测模组,在整个生产测试流程开始时,服务器先指示测试夹具对准金机,即先对金机进行测试,比如在测试夹具上测试得到金机的第一最大发射功率,再计算第一最大发射功率与金机的额定最大发射功率之间的第一差值,服务器将该第一差值作为测试夹具的线损值,事实上,通信模组有很多可以测试的射频指标,但最大发射功率最能代表一个通信模组的实际性能,金机的额定最大发射功率可以认为是无任何损耗下的最大发射功率,而测试夹具必然存在损耗,服务器在测试夹具上测试得到金机的第一最大发射功率,第一最大发射功率与额定最大发射功率之间的差值即这套测试夹具的科学的、准确的、符合实际的线损值。
在一个例子中,服务器也可以在测试夹具上测试得到金机的第一最小输出功率,再计算第一最小输出功率与金机的额定最小输出功率之间的差值,服务器可以将该差值作为测试夹具的线损值。
在具体实现中,服务器确定测试夹具的线损值后,可以按照各待测模组在测试夹具上的前后顺序,选定第一待测模组,控制测试夹具对准第一待测模组,基于测试夹具的线损值和预设的测试项,对第一待测模组进行生产测试,获取第一待测模组的测试指标,使用测试夹具直接对第一待测模组测试出的是已受夹具损耗的实际指标,用实际指标加上测试夹具的线损值即可得到第一待测模组的测试指标,第一待测模组的测试指标可以反映第一待测模组真实的射频性能,其中,预设的测试项可以由本领域的技术人员根据实际需要进行设置。
在一个例子中,预设的测试项包括但不限于:最大发射功率、最小输出功率、额外最大发射功率回退、power发射关功率、发射信号质量、频率误差等等。
在一个例子中,测试夹具测试出第一待测模组的最大发射功率为28dBm,测试夹具的线损值为0.2dBm,因此第一待测模组的指示最大发射功率的测试指标应为28.2dBm。
步骤102,若第一待测模组的测试指标不符合预设的测试标准,则获取下一个待测模组作为第二待测模组。
在具体实现中,服务器得到第一待测模组的测试指标后,可以判断第一待测模组的测试指标是否符合预设的测试标准,若第一待测模组的测试指标符合预设的测试标准,则判定第一待测模组为良品,若第一待测模组的测试指标不符合预设的测试标准,则先将第一待测模组视为待定状态,并按照各待测模组在测试夹具上的前后顺序,将第一待测模组的下一个待测模组选定为第二待测模组。
在一个例子中,测试项为若干个,预设的测试标准也对应有若干个,只有第一待测模组的各测试项的测试指标,都符合对应的测试标准的情况下,才可以判定第一待测模组为良品,否则就将第一待测模组视为待定状态。
步骤103,根据测试夹具、测试夹具的线损值和测试项,获取第二待测模组的测试指标。
在具体实现中,服务器选定第二待测模组后,可以控制测试夹具对准第二待测模组,基于测试夹具的线损值和测试项,对第二待测模组进行生产测试,获取第二待测模组的测试指标。
步骤104,若第二待测模组的测试指标不符合测试标准,则基于金机,更新测试夹具的线损值。
在具体实现中,服务器得到第二待测模组的测试指标后,可以判断第二待测模组的测试指标是否符合预设的测试标准,若第二待测模组的测试指标符合预设的测试标准,则判定第一待测模组为次品,判定第二待测模组为为良品,若第二待测模组的测试指标不符合预设的测试标准,则说明测试夹具可能出现问题,服务器将第二待测模组也视为待定状态,再控制测试夹具对准金机,更新测试夹具的线损值,并基于更新后的测试夹具的线损值重新对第一待测模组和第二待测模组进行生产测试,进行进一步的判定。
本实施例,在测试的最开始,先由测试夹具基于预设的金机获得测试夹具的线损值,再根据测试夹具、测试夹具的线损值和预设的测试项对第一待测模组进行测试,获取第一待测模组的测试指标,若第一待测模组的测试指标不符合预设的测试标准,则获取下一个待测模组作为第二待测模组,并根据相同的测试夹具、测试夹具的线损值和相同的测试项对第二待测模组进行测试,获取第二待测模组的测试指标,若第二待测模组的测试指标也不符合测试标准,则基于金机,更新测试夹具的线损值,考虑到生产工厂只是在发现连续的一定数量的待测通信模组都未通过测试时,才停止生产由专业工程师检查测试夹具是否出现问题,但测试夹具损坏不是瞬间发生的,在测试夹具彻底损坏之前其线损值已经发生了变化,这就导致测试夹具彻底损坏之前测试的待测模组的测试结果并不准确,而本申请的实施例实时关注测试夹具的线损值变化,一旦连续两个待测模组都未通过测试,就立即重新确定测试夹具的线损值,保证测试时使用的线损值符合测试夹具的真实情况,整个过程无需人工参与,可以及时、自动地确定测试夹具的线损值是否发生变化,并在线损值变化的情况下进行调整,降低测试成本的同时提升了通信模组的出厂质量。
在一个实施例中,服务器基于金机,更新测试夹具的线损值,可以通过如图2所示的各步骤实现,具体包括:
步骤201,在测试夹具上测试得到金机的第二最大发射功率,并计算第二最大发射功率与额定最大发射功率之间的第二差值、第二差值与线损值之间的第三差值。
在具体实现中,服务器在确定第二待测模组的测试指标不符合测试标准后,可以控制待测夹具对准金机,再次对金机进行测试,即在测试夹具上测试得到金机的第二最大发射功率,并计算第二最大发射功率与额定最大发射功率之间的第二差值,同时计算第二差值与测试夹具的线损值(初始线损值)之间的第三差值。
步骤202,判断第三差值是否大于第一预设阈值,如果是,则执行步骤203,否则,执行步骤204。
步骤203,将第二差值作为测试夹具的更新线损值,并根据测试夹具、更新线损值和测试项,重新获取第一待测模组的测试指标和第二待测模组的测试指标。
步骤204,保持测试夹具的线损值不变,并判定第一待测模组和第二待测模组为次品。
在具体实现中,服务器计算出第二差值与测试夹具的线损值之间的第三差值之后,可以判断第三差值是否大于第一预设阈值,如果第三差值大于第一预设阈值,则说明测试夹具的线损值发生了较大程度的恶化,仍使用原来的线损值进行生产测试不科学、不准确,服务器将第二差值作为测试夹具的更新线损值,并根据测试夹具、更新线损值和测试项,重新获取第一待测模组的测试指标和第二待测模组的测试指标,将不符合测试指标的待测模组判定为次品,将符合测试指标的待测模组判定为良品;如果第三差值小于或等于第一预设阈值,说明测试夹具的线损值之发生了微小的变化,可以接受,服务器保持测试夹具的线损值不变,并判定第一待测模组和第二待测模组为次品,避免进行没有意义的重复测试,其中,第一预设阈值可以由本领域的技术人员根据实际需要进行设置。
在一个例子中,第一预设阈值具体为0.5dBm。
本实施例,考虑到金机的性能是稳定的、标准的,此时在测试夹具上测试得到的金机的第二最大发射功率符合测试夹具的最新实际情况,服务器计算第二最大发射功率与额定最大发射功率之间的第二差值、第二差值与线损值之间的第三差值,若第三差值小于或等于第一预设阈值,说明测试夹具线损变化不大,可以接受,服务器保持测试夹具的线损值不变并判定这两个待测模组为次品;若第三差值大于第一预设阈值,说明测试夹具线损变化过大,不可接受,服务器将第二差值作为测试夹具的更新线损值重新测试这两个待测模组,进一步提升了通信模组生产测试的准确性,从而提升通信模组的出厂质量。
在另一个实施例中,服务器基于金机,更新测试夹具的线损值,可以通过如图3所示的各步骤实现,具体包括:
步骤301,在测试夹具上测试得到金机的第二最大发射功率,并计算第二最大发射功率与额定最大发射功率之间的第二差值、第二差值与线损值之间的第三差值。
步骤302,判断第三差值是否大于第一预设阈值,如果是,执行步骤303,否则,执行步骤304。
步骤303,保持测试夹具的线损值不变,并判定第一待测模组和第二待测模组为次品。
其中,步骤301至步骤303与步骤201至步骤204大致相同,此处不再赘述。
步骤304,判断第三差值是否小于第二预设阈值,如果是,执行步骤305,否则,执行步骤306。
步骤305,将第二差值作为测试夹具的更新线损值,并根据测试夹具、更新线损值和测试项,重新获取第一待测模组的测试指标和第二待测模组的测试指标。
步骤306,停止测试并生成测试夹具损坏信息。
在具体实现中,服务器在确定第三差值小于或等于第一预设阈值后,已确定测试夹具的线损值发生了恶化,服务器随即判断第三差值是否小于第二预设阈值,值得注意的是,第二预设阈值是大于第一预设阈值的,如果第三差值大于或等于第二预设阈值,说明测试夹具的线损值发生非常大的恶化,极有可能是测试夹具发生损坏,此时服务器停止测试流程,并生成测试夹具损坏信息,及时提醒技术人员修理或者更换测试夹具;如果第三差值小于第二预设阈值,说明测试夹具的线损值虽然发生了恶化,但是测试夹具并未损坏,此时服务器将第二差值作为测试夹具的更新线损值,并根据测试夹具、更新线损值和测试项,重新获取第一待测模组的测试指标和第二待测模组的测试指标,将不符合测试指标的待测模组判定为次品,将符合测试指标的待测模组判定为良品,其中,第一预设阈值和第二预设阈值均可以由本领域的技术人员根据实际需要进行设置。
在一个例子中,第一预设阈值具体为0.5dBm,第二预设阈值具体为2dBm。
本实施例,服务器在确定第三差值大于第一预设阈值之后,还要确定第三差值是否小于第二预设阈值,若第三差值小于第二预设阈值,说明线损值变化虽然很大,不可接受,但测试夹具还没彻底损坏,可以继续测试,服务器则将第二差值作为测试夹具的更新线损值重新测试这两个待测模组;若第三差值大于或等于第二预设阈值,则说明测试夹具彻底损坏,无法继续使用,此时生成测试夹具损坏信息,提醒技术人员更换测试夹具,进一步提升了通信模组生产测试的准确性,从而提升通信模组的出厂质量。
本申请的另一个实施例涉及一种通信模组的生产测试方法,下面对本实施例的通信模组的生产测试方法的实现细节进行具体的说明,以下内容仅为方便理解提供的实现细节,并非实施本方案的必须,本实施例的通信模组的生产测试方法的具体流程可以如图4所示,包括:
步骤401,根据测试夹具、测试夹具的线损值和预设的测试项,获取第一待测模组的测试指标。
其中,步骤401与步骤101大致相同,此处不再赘述。
步骤402,判断第一待测模组的测试指标是否符合预设的测试标准,如果是,执行步骤403,否则,执行步骤404。
步骤403,判定第一待测模组为良品,并获取下一个待测模组作为新的第一待测模组。
在具体实现中,如果服务器判断第一待测模组的测试指标符合预设的测试标准,说明第一待测模组性能良好,服务器判定第一待测模组为良品,并获取下一个待测模组作为新的第一待测模组,此时返回步骤401,根据测试夹具、测试夹具的线损值和预设的测试项,获取新的第一待测模组的测试指标。
步骤404,获取下一个待测模组作为第二待测模组。
步骤405,根据测试夹具、测试夹具的线损值和测试项,获取第二待测模组的测试指标。
步骤406,若第二待测模组的测试指标不符合测试标准,则基于金机,更新测试夹具的线损值。
其中,步骤404至步骤406与步骤102至步骤104大致相同,此处不再赘述。
本实施例,线损调整的触发条件为连续两个待测模组未通过测试,如果第一待测模组通过测试,则直接将下一个待测模组自动补位为第一待测模组,也就不会频繁地转换到金机位置进行测试,保证通信模组的生产测试可以流畅地进行。
本申请的另一个实施例涉及一种通信模组的生产测试方法,下面对本实施例的通信模组的生产测试方法的实现细节进行具体的说明,以下内容仅为方便理解提供的实现细节,并非实施本方案的必须,本实施例的通信模组的生产测试方法的具体流程可以如图5所示,包括:
步骤501,根据测试夹具、测试夹具的线损值和预设的测试项,获取第一待测模组的测试指标。
步骤502,判断第一待测模组的测试指标是否符合预设的测试标准,如果是,执行步骤503,否则,执行步骤504。
步骤503,判定第一待测模组为良品,并获取下一个待测模组作为新的第一待测模组。
步骤504,获取下一个待测模组作为第二待测模组。
步骤505,根据测试夹具、测试夹具的线损值和测试项,获取第二待测模组的测试指标。
其中,步骤501至步骤505与步骤401至步骤405大致相同,此处不再赘述。
步骤506,判断第二待测模组的测试指标是否符合预设的测试标准,如果是,执行步骤507,否则,执行步骤508。
步骤507,判定第一待测模组为次品、第二待测模组为良品,并获取下一个待测模组作为新的第一待测模组。
在具体实现中,服务器在确定第二待测模组的测试指标符合预设的测试标准后,可以判定第一待测模组为次品、第二待测模组为良品,并获取下一个待测模组作为新的第一待测模组,此时返回步骤501,根据测试夹具、测试夹具的线损值和预设的测试项,获取新的第一待测模组的测试指标。
步骤508,基于金机,更新测试夹具的线损值。
其中,步骤508与步骤104大致相同,此处不再赘述。
本实施例,线损调整的触发条件为连续两个待测模组未通过测试,如果第二待测模组通过测试,说明测试夹具没问题,即使有线损值变化也是轻微的、可以接受的变化,而第一待测模组则是实打实地未通过测试,因此判定第一待测模组为次品、第二待测模组为良品,并直接将第二待测模组的下一个待测模组自动补位为第一待测模组,保证通信模组的生产测试可以流畅地进行。
上面各种方法的步骤划分,只是为了描述清楚,实现时可以合并为一个步骤或者对某些步骤进行拆分,分解为多个步骤,只要包括相同的逻辑关系,都在本专利的保护范围内;对算法中或者流程中添加无关紧要的修改或者引入无关紧要的设计,但不改变其算法和流程的核心设计都在该专利的保护范围内。
本申请的另一个实施例涉及一种通信模组的生产测试系统,下面对本实施例的通信模组的生产测试系统的实现细节进行具体的说明,以下内容仅为方便理解提供的实现细节,并非实施本方案的必须,本实施例的通信模组的生产测试系统的示意图可以如图6所示,包括:测试夹具601、待测模组602(图6中示出了六个待测模组,为了方便解释说明,本实施例中统一使用待测模组602进行表述)、金机603、生产测试装置604和线损测试装置605。
测试夹具601用于固定金机603和若干个待测模组602。
线损测试装置605用于在生产测试装置604进行生产测试之前,根据测试夹具601和金机603,确定测试夹具601的线损值,并将线损值发送至生产测试装置604。
生产测试装置604用于按照若干个待测模组602在测试夹具601上的顺序,选定第一待测模组,并根据测试夹具601、线损值和预设的测试项,获取第一待测模组的测试指标。
生产测试装置604还用于在第一待测模组的测试指标不符合预设的测试标准时,获取下一个待测模组作为第二待测模组,根据测试夹具601、线损值和测试项,获取第二待测模组的测试指标。
线损测试装置605还用于在第二待测模组的测试指标不符合测试标准时,根据测试夹具601和金机603,更新测试夹具601的线损值。
在一个例子中,生产测试装置和线损测试装置也可以集成在测试夹具中。
值得一提的是,本实施例中所涉及到的各模块均为逻辑模块,在实际应用中,一个逻辑单元可以是一个物理单元,也可以是一个物理单元的一部分,还可以以多个物理单元的组合实现。此外,为了突出本申请的创新部分,本实施例中并没有将与解决本申请所提出的技术问题关系不太密切的单元引入,但这并不表明本实施例中不存在其它的单元。
本申请另一个实施例涉及一种电子设备,如图7所示,包括:至少一个处理器701;以及,与所述至少一个处理器701通信连接的存储器702;其中,所述存储器702存储有可被所述至少一个处理器701执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器701执行,以使所述至少一个处理器701能够执行上述各实施例中的通信模组的生产测试方法。
其中,存储器和处理器采用总线方式连接,总线可以包括任意数量的互联的总线和桥,总线将一个或多个处理器和存储器的各种电路连接在一起。总线还可以将诸如外围设备、稳压器和功率管理电路等之类的各种其他电路连接在一起,这些都是本领域所公知的,因此,本文不再对其进行进一步描述。总线接口在总线和收发机之间提供接口。收发机可以是一个元件,也可以是多个元件,比如多个接收器和发送器,提供用于在传输介质上与各种其他装置通信的单元。经处理器处理的数据通过天线在无线介质上进行传输,进一步,天线还接收数据并将数据传送给处理器。
处理器负责管理总线和通常的处理,还可以提供各种功能,包括定时,外围接口,电压调节、电源管理以及其他控制功能。而存储器可以被用于存储处理器在执行操作时所使用的数据。
本申请另一个实施例涉及一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序。计算机程序被处理器执行时实现上述方法实施例。
即,本领域技术人员可以理解,实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成,该程序存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一个设备(可以是单片机,芯片等)或处理器(processor)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory,简称:ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,简称:RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
本领域的普通技术人员可以理解,上述各实施例是实现本申请的具体实施例,而在实际应用中,可以在形式上和细节上对其作各种改变,而不偏离本申请的精神和范围。
Claims (10)
1.一种通信模组的生产测试方法,其特征在于,包括:
根据测试夹具、所述测试夹具的线损值和预设的测试项,获取第一待测模组的测试指标;其中,所述线损值由所述测试夹具基于预设的金机获得;
若所述第一待测模组的测试指标不符合预设的测试标准,则获取下一个待测模组作为第二待测模组;
根据所述测试夹具、所述线损值和所述测试项,获取所述第二待测模组的测试指标;
若所述第二待测模组的测试指标不符合所述测试标准,则基于所述金机,更新所述测试夹具的线损值。
2.根据权利要求1所述的通信模组的生产测试方法,其特征在于,所述线损值由所述测试夹具基于预设的金机获得,具体为:
在所述测试夹具上测试得到所述金机的第一最大发射功率;
计算所述第一最大发射功率与所述金机的额定最大发射功率之间的第一差值;
将所述第一差值作为所述测试夹具的线损值。
3.根据权利要求2所述的通信模组的生产测试方法,其特征在于,所述基于所述金机,更新所述测试夹具的线损值,包括:
在所述测试夹具上测试得到所述金机的第二最大发射功率,并计算所述第二最大发射功率与所述额定最大发射功率之间的第二差值、所述第二差值与所述线损值之间的第三差值;
判断所述第三差值是否大于第一预设阈值;
若所述第三差值小于或等于所述第一预设阈值,则保持所述测试夹具的线损值不变,并判定所述第一待测模组和所述第二待测模组为次品;
若所述第三差值大于所述第一预设阈值,则将所述第二差值作为所述测试夹具的更新线损值,并根据所述测试夹具、所述更新线损值和所述测试项,重新获取所述第一待测模组的测试指标和所述第二待测模组的测试指标。
4.根据权利要求2所述的通信模组的生产测试方法,其特征在于,所述若所述第三差值大于所述第一预设阈值,则将所述第二差值作为所述测试夹具的更新线损值,并根据所述测试夹具、所述更新线损值和所述测试项,重新获取所述第一待测模组测试指标和所述第二待测模组的测试指标,包括:
若所述第三差值大于所述第一预设阈值,则判断所述第三差值是否小于第二预设阈值;其中,所述第二预设阈值大于所述第一预设阈值;
若所述第三差值大于或等于所述第二预设阈值,则停止测试并生成测试夹具损坏信息;
若所述第三差值大于所述第二预设阈值,则将所述第二差值作为所述测试夹具的更新线损值,并根据所述测试夹具、所述更新线损值和所述测试项,重新获取所述第一待测模组的测试指标和所述第二待测模组的测试指标。
5.根据权利要求4所述的通信模组的生产测试方法,其特征在于,所述第一预设阈值具体为0.5dBm,所述第二预设阈值具体为2dBm。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的通信模组的生产测试方法,其特征在于,在所述获取第一待测模组的测试指标之后,还包括:
若所述第一待测模组的测试指标符合预设的测试标准,则判定所述第一待测模组为良品,并获取下一个待测模组作为新的第一待测模组。
7.根据权利要求1至5中任一项所述的通信模组的生产测试方法,其特征在于,在所述获取所述第二待测模组的测试指标之后,还包括:
若所述第二待测模组的测试指标符合所述测试标准,则判定所述第一待测模组为次品、所述第二待测模组为良品,并获取下一个待测模组作为新的第一待测模组。
8.一种通信模组的生产测试系统,其特征在于,所述生产测试系统包括:测试夹具、若干个待测模组、金机、生产测试装置和线损测试装置;
所述测试夹具用于固定所述金机和所述若干个待测模组;
所述线损测试装置用于在所述生产测试装置进行生产测试之前,根据所述测试夹具和所述金机,确定所述测试夹具的线损值,并将所述线损值发送至所述生产测试装置;
所述生产测试装置用于按照所述若干个待测模组在所述测试夹具上的顺序,选定第一待测模组,并根据所述测试夹具、所述线损值和预设的测试项,获取所述第一待测模组的测试指标;
所述生产测试装置还用于在所述第一待测模组的测试指标不符合预设的测试标准时,获取下一个待测模组作为第二待测模组,根据所述测试夹具、所述线损值和所述测试项,获取所述第二待测模组的测试指标;
所述线损测试装置还用于在所述第二待测模组的测试指标不符合所述测试标准时,根据所述测试夹具和所述金机,更新所述测试夹具的线损值。
9.一种电子设备,其特征在于,包括:
至少一个处理器;以及,
与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求1至7中任一所述的通信模组的生产测试方法。
10.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的通信模组的生产测试方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210969073.6A CN115483990A (zh) | 2022-08-12 | 2022-08-12 | 通信模组的生产测试方法、系统、电子设备和存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210969073.6A CN115483990A (zh) | 2022-08-12 | 2022-08-12 | 通信模组的生产测试方法、系统、电子设备和存储介质 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN115483990A true CN115483990A (zh) | 2022-12-16 |
Family
ID=84422731
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202210969073.6A Pending CN115483990A (zh) | 2022-08-12 | 2022-08-12 | 通信模组的生产测试方法、系统、电子设备和存储介质 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN115483990A (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116684913A (zh) * | 2023-06-25 | 2023-09-01 | 上海移柯通信技术股份有限公司 | 4g通信模组的测试方法、系统、电子设备及存储介质 |
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- 2022-08-12 CN CN202210969073.6A patent/CN115483990A/zh active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116684913A (zh) * | 2023-06-25 | 2023-09-01 | 上海移柯通信技术股份有限公司 | 4g通信模组的测试方法、系统、电子设备及存储介质 |
CN116684913B (zh) * | 2023-06-25 | 2024-02-13 | 上海移柯通信技术股份有限公司 | 4g通信模组的测试方法、系统、电子设备及存储介质 |
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