CN115356561B - 线损校准方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例涉及生产过程质量控制技术领域，公开了一种线损校准方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质，该方法包括：根据测试夹具、初始线损值和预设的测试标准对待测模组进行质量测试，检测所述待测模组是否为良品，所述初始线损值根据所述测试夹具和预设的金机获得；在检测出N件良品的情况下，将所述N件良品作为基准组，并继续质量测试；在再次检测出M件良品的情况下，将再次检测出的所述M件良品作为对照组；根据所述基准组、所述对照组、所述测试夹具、所述初始线损值和所述金机，获取所述测试夹具的更新线损值，从而及时发现测试夹具的线损变化，并对测试夹具的线损值进行调整，提升出厂的通信模组在性能上的一致性。
Description
技术领域
本申请实施例涉及生产过程质量控制技术领域，特别涉及一种线损校准方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质。
背景技术
物联网技术是第五代移动通信技术(5th Generation Mobile CommunicationTechnology，简称：5G)研究与应用的热点方向，5G通信模组是海量物联网设备接入物联网的核心必备组件，其集成了基带芯片、射频芯片、存储芯片、电容电阻等各类元器件，并提供标准接口给需要连接物联网的设备。
5G通信模组在生产过程中，需要进行包括射频测试在内的一系列生产测试，5G通信模组生产工厂通常选用一台金机(即标准的、质量良好的5G通信模组)作为测试标准，在测试夹具上测试金机的最大发射功率，将测试到的最大发射功率和金机标定的最大发射功率之间的差值作为测试夹具的线损值，后续在使用这套测试夹具测试待测通信模组时，需要将测试数值加上线损值，在与各项测试的预设标准进行比较，判断待测通信模组是否可以出厂。
然而，通信模组的生产测试持续进行，测试夹具长时间处于工作状态，测试夹具的包括顶针等部件在长时间的使用过程中会逐渐地发生微量形变，这些形变的累加会导致测试夹具的线损值逐渐增加，原来标定的线损值已经不不合理，仍使用原来标定的线损值就导致测试的时间越长，测试结果就越不准确，严重影响了出厂的通信模组在性能上的一致性。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种线损校准方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质，可以及时发现测试夹具的线损变化，并对测试夹具的线损值进行调整，提升出厂的通信模组在性能上的一致性。
为解决上述技术问题，本申请的实施例提供了一种线损校准方法，包括以下步骤：根据测试夹具、初始线损值和预设的测试标准对待测模组进行质量测试，检测所述待测模组是否为良品；其中，所述初始线损值根据所述测试夹具和预设的金机获得；在检测出N件良品的情况下，将所述N件良品作为基准组，并继续所述质量测试；在再次检测出M件良品的情况下，将再次检测出的所述M件良品作为对照组；其中，所述N和所述M均为大于0的整数；根据所述基准组、所述对照组、所述测试夹具、所述初始线损值和所述金机，获取所述测试夹具的更新线损值。
本申请的实施例还提供了一种线损校准系统，所述系统包括：测试夹具、若干个待测模组、金机、质量测试装置和线损校准装置；所述测试夹具用于固定所述金机和所述若干个待测模组；所述线损校准装置用于在所述质量测试装置进行质量测试之前，根据所述测试夹具和所述金机，确定所述测试夹具的初始线损值，并将所述初始线损值发送至所述质量测试装置；所述质量测试装置用于根据所述测试夹具、所述初始线损值和预设的测试标准对所述待测模组进行质量测试，检测所述待测模组是否为良品；所述线损校准装置还用于在检测出N件良品的情况下，将所述N件良品作为基准组，继续所述质量测试，并在再次检测出M件良品的情况下，将再次检测出的所述M件良品作为对照组，根据所述基准组、所述对照组、所述测试夹具、所述初始线损值和所述金机，获取所述测试夹具的更新线损值，所述N和所述M均为大于0的整数。
本申请的实施例还提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行上述的线损校准方法。
本申请的实施例还提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的线损校准方法。
本申请的实施例提供的线损校准方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质，先根据测试夹具、初始线损值和预设的测试标准对待测模组进行质量测试，检测待测模组是否为良品，初始线损值是根据测试夹具和预设的金机获得的，在检测出N件良品的情况下，将这N件良品作为基准组，并继续进行对待测模组的质量测试，随后在再次检测出M件良品的情况下，将再次检测出的这M件良品作为对照组，最后根据基准组、对照组、测试夹具、测试夹具的初始线损值和预设的金机，获取测试夹具的更新线损值，考虑到随着生产质量测试的进行、工作时间的不断增加，测试夹具的实际的线损值相较于初始线损值已经发生了一定的变化，仍使用原来标定的初始线损值会导致测试结果不准确，出厂的通信模组的性能不一致，而本申请在测试出一定数量的良品后即可进入线损校准流程，将先测试出的一批良品作为基准组，后测试出的一批良品作为对照组，根据有着时间顺序前后的基准组和对照组对测试夹具的初始线损值进行更新，及时获得测试夹具的实际线损值，使得生产质量测试过程中使用的数据都是及时的、贴近真实情况的，从而提升出厂的通信模组在性能上的一致性。
另外，在所述将再次检测出的所述M件良品作为对照组之后，所述根据所述基准组、所述对照组、所述测试夹具、所述初始线损值和所述金机，获取所述测试夹具的更新线损值之前，还包括：根据所述基准组中的所述N件良品的最大发射功率计算第一均值，并将所述第一均值作为所述基准组的基准均值；根据所述对照组中的所述M件良品的最大发射功率计算第二均值，并将所述第二均值作为所述对照组的对照均值；所述根据所述基准组、所述对照组、所述测试夹具、所述初始线损值和所述金机，获取所述测试夹具的更新线损值，具体为：根据所述基准均值、所述对照均值、所述测试夹具、所述初始线损值和所述金机，获取所述测试夹具的更新线损值，对于通信模组来说，射频测试是至关重要的测试，与射频相关的指标是衡量通信模组性能优劣的基础，而最大发射功率则是与射频相关的指标中的最直接的体现，同一批次生产的通信模组在性能上应当保持尽量一致，本申请以基准组中各良品的最大发射功率均值，以及对照组中各良品的最大发射功率均值为更新测试夹具的线损值的基础，就是从通信模组在性能上的一致性出发调整线损值，使得后续生产出的通信模组可以更好地与之前生产的通信模组保持在性能上的一致性。
另外，在所述继续所述质量测试之后，包括：将所述对照均值作为新的基准均值；在再次检测出P件良品的情况下，计算再次检测出的所述P件良品的最大发射功率的第三均值，并将所述第三均值为新的对照均值；其中，所述P为大于0的整数，考虑到测试夹具的线损值是缓慢恶化的，当前基准均值和对照均值之间差距不大不代表后续使用过程中测试夹具的线损值不会恶化，因此在确定测试夹具的线损值没有发生恶化后，可以将对照均值作为新的基准均值，获取新的对照组、新的对照均值，继续进行线损校准。
另外，在所述继续所述质量测试之后，包括：根据所述基准均值和所述对照均值计算第四均值，将所述第四均值作为新的基准均值；在再次检测出Q件良品的情况下，计算再次检测出的所述Q件良品的最大发射功率的第五均值，并将所述第五均值为新的对照均值；其中，所述Q为大于0的整数，考虑到测试夹具的线损值是缓慢恶化的，因此直接将对照均值作为新的基准均值会损失掉原基准组与原对照组之间的差异，因此本申请将原基准均值和原对照均值之间的均值作为新的基准均值，将原基准组与原对照组之间的差异考虑在内，从而可以更加准确、更加科学地确定测试夹具的线损值是否恶化。
另外，所述初始线损值根据所述测试夹具和预设的金机获得，具体包括：在所述测试夹具上测试得到所述金机的初始最大发射功率；计算所述初始最大发射功率与所述金机的额定最大发射功率之间的第三差值；将所述第三差值作为所述测试夹具的初始线损值，通信模组有很多可以测试的射频指标，但最大发射功率最能代表一个通信模组的实际性能，金机的额定最大发射功率可以认为是无任何损耗下的最大发射功率，而测试夹具必然存在损耗，本申请在生产测试开始时先在测试夹具上测试得到金机的初始最大发射功率，初始最大发射功率与额定最大发射功率之间的差值即这套测试夹具的科学的、准确的、符合实际的初始线损值。
附图说明
一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定。
图1是本申请的一个实施例提供的线损校准方法的流程图一；
图2是本申请的另一个实施例提供的线损校准方法的流程图二；
图3是本申请的一个实施例中，根据基准均值、对照均值、测试夹具、初始线损值和金机，获取测试夹具的更新线损值的流程图一；
图4是本申请的一个实施例中，通信模组在性能上的一致性的示意图；
图5是本申请的另一个实施例中，根据基准均值、对照均值、测试夹具、初始线损值和金机，获取测试夹具的更新线损值的流程图二；
图6是本申请的另一个实施例中，根据基准均值、对照均值、测试夹具、初始线损值和金机，获取测试夹具的更新线损值的流程图三；
图7是本申请的另一个实施例提供的线损校准系统的示意图；
图8是本申请的另一个实施例提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请的各实施例进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本申请各实施例中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施例的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。以下各个实施例的划分是为了描述方便，不应对本申请的具体实现方式构成任何限定，各个实施例在不矛盾的前提下可以相互结合相互引用。
本申请的一个实施例涉及一种线损校准方法，应用于电子设备，其中，电子设备可以为终端或服务器，本实施例以及以下各个实施例中电子设备以服务器为例进行说明，下面对本实施例的线损校准方法的实现细节进行具体的说明，以下内容仅为方便理解提供的实现细节，并非实施本方案的必须。
本实施例的线损校准方法的具体流程可以如图1所示，包括：
步骤101，根据测试夹具、初始线损值和预设的测试标准对待测模组进行质量测试，检测待测模组是否为良品。
具体而言，测试夹具的初始线损值是在整个对通信模组的质量测试过程之前，根据测试夹具和预设的金机获得的，预设的金机是一块与待测模组同规格的、性能优秀的标准通信模组。
在一个例子中，测试夹具上固定有预设的金机和若干待测模组，在整个质量测试流程开始之前，服务器先指示测试夹具对准金机，即先对金机进行测试，比如在测试夹具上测试得到金机的第一最小输出功率，再计算第一最小输出功率与金机的额定最小输出功率之间的差值，服务器可以将该差值作为测试夹具的线损值。
在具体实现中，服务器获取到测试夹具的初始线损值后，可以按照各待测模组在测试夹具上的前后顺序，依次对各待测模组进行质量测试，服务器控制测试夹具对准待测模组，根据初始线损值和预设的测试标准对该待测模组进行相应的质量测试，检测该待测模组是否为良品，如果该待测模组的质量测试结果符合预设的测试标准，则判定该待测模组为良品，如果该待测模组的质量测试结果不符合预设的测试标准，则判定该待测模组为次品，其中，预设的测试标准可以由本领域的技术人员根据实际需要进行设置。
在一个例子中，预设的测试标准与预设的测试项相对应，预设的测试项包括但不限于：最大发射功率、最小输出功率、额外最大发射功率回退、power发射关功率、发射信号质量、频率误差等等。
步骤102，在检测出N件良品的情况下，将所述N件良品作为基准组，并继续质量测试。
在具体实现中，服务器实时对待测模组的质量测试结果进行监控，判定为良品的待测模组进入出厂区，判定为次品的待测模组进入返工区，服务器在检测出N件良品的情况下，也就是出厂区已经累积N件良品的情况下，将所述N件良品作为基准组，并继续质量测试，继续监控待测模组的质量测试结果，其中，N为大于0的整数。
在一个例子中，N通常设为100。
步骤103，在再次检测出M件良品的情况下，将再次检测出的所述M件良品作为对照组。
在具体实现中，服务器在获取基准组后，继续对待测模组的质量测试结果进行监控，在再次检测出M件良品的情况下，也就是出厂区又累积了M件良品的情况下，将再次检测出的M件良品作为对照组，此时质量测试流程暂停，进入线损校准流程，其中，M为大于0的整数。
在一个例子中，为了提升对照实验的严谨性，M和N通常都设为100。
步骤104，根据基准组、对照组、测试夹具、初始线损值和金机，获取测试夹具的更新线损值。
具体而言中，服务器获取基准组和对照组后，可以根据基准组、对照组、测试夹具、初始线损值和金机，获取测试夹具的更新线损值。
在一个例子中，对待测模组进行的质量测试包括最小输出功率测试，服务器计算基准组中各良品的最小输出功率的均值，并计算对照组中各良品的最小输出功率的均值，若两个均值之间的差值大于预设的更新阈值，则服务器重新根据测试夹具和均值，确定测试夹具的更新线损值。
本实施例，服务器先根据测试夹具、初始线损值和预设的测试标准对待测模组进行质量测试，检测待测模组是否为良品，初始线损值是根据测试夹具和预设的金机获得的，在检测出N件良品的情况下，将这N件良品作为基准组，并继续进行对待测模组的质量测试，随后在再次检测出M件良品的情况下，将再次检测出的这M件良品作为对照组，最后根据基准组、对照组、测试夹具、测试夹具的初始线损值和预设的金机，获取测试夹具的更新线损值，考虑到随着生产质量测试的进行、工作时间的不断增加，测试夹具的实际的线损值相较于初始线损值已经发生了一定的变化，仍使用原来标定的初始线损值会导致测试结果不准确，出厂的通信模组的性能不一致，而本申请的实施例在测试出一定数量的良品后即可进入线损校准流程，将先测试出的一批良品作为基准组，后测试出的一批良品作为对照组，根据有着时间顺序前后的基准组和对照组对测试夹具的初始线损值进行更新，及时获得测试夹具的实际线损值，使得生产质量测试过程中使用的数据都是及时的、贴近真实情况的，从而提升出厂的通信模组在性能上的一致性。
本申请的另一个实施例涉及一种线损校准方法，下面对本实施例的线损校准方法的实现细节进行具体的说明，以下内容仅为方便理解提供的实现细节，并非实施本方案的必须，本实施例的线损校准方法的具体流程可以如图2所示，包括：
步骤201，根据测试夹具、初始线损值和预设的测试标准对待测模组进行质量测试，检测待测模组是否为良品。
步骤202，在检测出N件良品的情况下，将所述N件良品作为基准组，并继续质量测试。
步骤203，在再次检测出M件良品的情况下，将再次检测出的所述M件良品作为对照组。
其中，步骤201至步骤203与步骤101至步骤103大致相同，此处不再赘述。
步骤204，根据基准组中的N件良品的最大发射功率计算第一均值，并将第一均值作为基准组的基准均值。
具体而言，服务器在得到基准组后，可以分别获取基准组中的N件良品的最大发射功率，计算这N件良品的最大发射功率的第一均值，将该第一均值作为基准组的基准均值。
步骤205，根据对照组中的M件良品的最大发射功率计算第二均值，并将第二均值作为对照组的对照均值。
具体而言，服务器在得到对照组后，可以分别获取对照组中的M件良品的最大发射功率，计算这M件良品的最大发射功率的第二均值，将该第二均值作为对照组的对照均值。
步骤206，根据基准均值、对照均值、测试夹具、初始线损值和金机，获取测试夹具的更新线损值。
具体而言，服务器在计算得到基准均值和对照均值后，可以根据基准均值、对照均值、测试夹具、初始线损值和金机，对测试夹具的线损值进行更新，获取测试夹具的更新线损值。
在一个例子中，服务器根据基准均值、对照均值、测试夹具、初始线损值和金机，获取测试夹具的更新线损值，可以通过如图3所示的步骤实现，具体包括：
步骤301，计算基准均值与对照均值之间的第一差值，并判断第一差值是否小于第一预设阈值，如果是，则执行步骤302，否则，执行步骤303。
步骤302，继续质量测试。
在具体实现中，服务器在计算得到基准均值和对照均值之后，可以计算基准均值与对照均值之间的第一差值，并判断该第一差值是否小于第一预设阈值，如果该第一差值小于第一预设阈值，说明基准组中的良品和对照组中的良品在性能方面保持了一致性，测试夹具的线损值没有发生变化，或者只发生了微小的、可以接受的变化，服务器无需更新测试夹具的线损值，直接继续进行对待测模组的质量测试，其中，第一预设阈值可以由本领域的技术人员根据实际需要进行设置。
在一个例子中，第一预设阈值具体为0.2dBm。
步骤303，在测试夹具上测试金机的当前最大发射功率。
步骤304，计算当前最大发射功率与金机的额定最大发射功率之间的第二差值，并将第二差值作为测试夹具的更新线损值。
在具体实现中，如果第一差值大于或等于预设阈值，也就是基准均值与对照均值之间相差较大，这说明测试夹具的线损值发生了不可接受的恶化，如果不更新测试夹具的线损值，后续判定的良品与之前判定的良品无法保持在性能上的一致性，服务器此时控制测试夹具对准金机，对金机进行测试，即在测试夹具上测试金机的当前最大发射功率，并计算当前最大发射功率与金机的额定最大发射功率之间的第二差值，将第二差值作为测试夹具的更新线损值，后续使用更新线损值进行质量测试，从而可以保证出厂的通信模组在性能上的一致性。
在一个例子中，通信模组在性能上的一致性可以如图4所示，假设测试夹具的初始线损值为1dBm，服务器设置第一预设阈值为0.2dBm，如果在质量测试过程中不进行本申请提出的动态的线损校准，随着时间的推移，测试夹具的线损值会逐渐从1dBm恶化为2dBm，在质量测试开始时，良品的最大发射功率为23dBm，随着测试的进行，实际上线损值已恶化为2dBm，但测试过程中仍使用初始线损值1dBm，这就导致后面判定的良品的最大发射功率只有22dBm，前后性能不一致，而本申请动态调整线损值，始终保持线损值的误差不超过0.2dBm，出厂的通信模组的最大发射功率介于22.8dBm至23dBm之间，保持了性能的一致性。
本实施例，考虑到对于通信模组来说，射频测试是至关重要的测试，与射频相关的指标是衡量通信模组性能优劣的基础，而最大发射功率则是与射频相关的指标中的最直接的体现，同一批次生产的通信模组在性能上应当保持尽量一致，本申请以基准组中各良品的最大发射功率均值，以及对照组中各良品的最大发射功率均值为更新测试夹具的线损值的基础，就是从通信模组在性能上的一致性出发调整线损值，使得后续生产出的通信模组可以更好地与之前生产的通信模组保持在性能上的一致性。
在另一个实施例中，服务器根据基准均值、对照均值、测试夹具、初始线损值和金机，获取测试夹具的更新线损值，可以通过如图5所示的步骤实现，具体包括：
步骤401，计算基准均值与对照均值之间的第一差值，并判断第一差值是否小于第一预设阈值，如果是，执行步骤402，否则，执行步骤405。
步骤402，继续质量测试。
其中，步骤401至步骤402与步骤301至步骤302大致相同，此处不再赘述。
步骤403，将对照均值作为新的基准均值。
步骤404，在再次检测出P件良品的情况下，计算再次检测出的P件良品的最大发射功率的第三均值，并将第三均值为新的对照均值。
在具体实现中，虽然当前基准均值与当前对照均值之间的第一差值小于第一预设阈值，即测试夹具的线损值还未恶化，但这并不代表后续使用过程中测试夹具的线损值不发生恶化，此时服务器放行原基准组中的良品出厂，并将原对照组作为新的基准组，将原对照均值作为新的基准均值，同时继续监控待测模组的质量检测结果，在再次检测出P件良品的情况下，也就是出厂区再次累积P件良品的情况下，服务器将这P件良品作为新的对照组，计算这P件良品的最大发射功率的第三均值，并将第三均值作为新的对照均值，此时服务器反回步骤401，计算新的基准均值与新的对照均值之间的第一差值，其中，P为大于0的整数。
在一个例子中，为了提升对照实验的严谨性，P、M和N通常都设为100。
步骤405，在测试夹具上测试金机的当前最大发射功率。
步骤406，计算当前最大发射功率与金机的额定最大发射功率之间的第二差值，并将第二差值作为测试夹具的更新线损值。
其中，步骤405至步骤406与步骤303至步骤304大致相同，此处不再赘述。
本实施例，考虑到测试夹具的线损值是缓慢恶化的，当前基准均值和对照均值之间差距不大不代表后续使用过程中测试夹具的线损值不会恶化，因此在确定测试夹具的线损值没有发生恶化后，可以将对照均值作为新的基准均值，获取新的对照组、新的对照均值，继续进行线损校准。
在另一个实施例中，服务器根据基准均值、对照均值、测试夹具、初始线损值和金机，获取测试夹具的更新线损值，可以通过如图6所示的步骤实现，具体包括：
步骤501，计算基准均值与对照均值之间的第一差值，并判断第一差值是否小于第一预设阈值，如果是，执行步骤502，否则，执行步骤505。
步骤502，继续质量测试。
其中，步骤501至步骤502与步骤301至步骤302大致相同，此处不再赘述。
步骤503，根据基准均值和对照均值计算第四均值，将第四均值作为新的基准均值。
步骤504，在再次检测出Q件良品的情况下，计算再次检测出的Q件良品的最大发射功率的第五均值，并将第五均值为新的对照均值。
在具体实现中，虽然当前基准均值与当前对照均值之间的第一差值小于第一预设阈值，即测试夹具的线损值还未恶化，但这并不代表后续使用过程中测试夹具的线损值不发生恶化，此时服务器放行原基准组中的良品出厂，并计算原基准均值与对照均值之间的第四均值，将该第四均值作为新的基准均值，同时继续监控待测模组的质量检测结果，在再次检测出Q件良品的情况下，也就是出厂区再次累积Q件良品的情况下，服务器将这Q件良品作为新的对照组，计算这Q件良品的最大发射功率的第五均值，并将第五均值作为新的对照均值，此时服务器反回步骤501，计算新的基准均值与新的对照均值之间的第一差值，其中，Q为大于0的整数。
在一个例子中，为了提升对照实验的严谨性，Q、M和N通常都设为100。
步骤505，在测试夹具上测试金机的当前最大发射功率。
步骤506，计算当前最大发射功率与金机的额定最大发射功率之间的第二差值，并将第二差值作为测试夹具的更新线损值。
其中，步骤505至步骤506与步骤303至步骤304大致相同，此处不再赘述。
本实施例，考虑到测试夹具的线损值是缓慢恶化的，当前基准均值和对照均值之间差距不大不代表后续使用过程中测试夹具的线损值不会恶化，因此在确定测试夹具的线损值没有发生恶化后，可以将对照均值作为新的基准均值，获取新的对照组、新的对照均值，继续进行线损校准。
在一个实施例中，服务器在质量测试开始前，先控制测试夹具对准金机，对金机进行相应的测试，比如在测试夹具上测试得到金机的初始最大发射功率，在计算初始最大发射功率与金机的额定最大发射功率之间的第三差值，最后将该第三差值作为测试夹具的初始线损值，考虑到通信模组有很多可以测试的射频指标，但最大发射功率最能代表一个通信模组的实际性能，金机的额定最大发射功率可以认为是无任何损耗下的最大发射功率，而测试夹具必然存在损耗，本申请在生产测试开始时先在测试夹具上测试得到金机的初始最大发射功率，初始最大发射功率与额定最大发射功率之间的差值即这套测试夹具的科学的、准确的、符合实际的初始线损值。
上面各种方法的步骤划分，只是为了描述清楚，实现时可以合并为一个步骤或者对某些步骤进行拆分，分解为多个步骤，只要包括相同的逻辑关系，都在本专利的保护范围内；对算法中或者流程中添加无关紧要的修改或者引入无关紧要的设计，但不改变其算法和流程的核心设计都在该专利的保护范围内。
本申请的另一个实施例涉及一种线损校准系统，下面对本实施例的线损校准系统的实现细节进行具体的说明，以下内容仅为方便理解提供的实现细节，并非实施本方案的必须，本实施例的线损校准系统的示意图可以如图7所示，包括：测试夹具601、待测模组602(图7中示出了六个待测模组，为了方便解释说明，本实施例中统一使用待测模组602进行表述)、金机603、质量测试装置604和线损校准装置605。
测试夹具601用于固定金机603和若干个待测模组602。
线损校准装置605用于在质量测试装置604进行质量测试之前，根据测试夹具601和金机603，确定测试夹具601的初始线损值，并将初始线损值发送至质量测试装置604。
质量测试装置604用于根据测试夹具601、初始线损值和预设的测试标准对待测模组602进行质量测试，检测待测模组602是否为良品。
生产测试装置604还用于在第一待测模组的测试指标不符合预设的测试标准时，获取下一个待测模组作为第二待测模组，根据测试夹具601、线损值和测试项，获取第二待测模组的测试指标。
线损校准装置605还用于在检测出N件良品的情况下，将所述N件良品作为基准组，继续质量测试，并在再次检测出M件良品的情况下，将再次检测出的所述M件良品作为对照组，根据基准组、对照组、测试夹具601、初始线损值和金机603，获取测试夹具601的更新线损值，其中，N和M均为大于0的整数。
在一个例子中，质量测试装置和线损校准装置也可以集成在测试夹具中。
值得一提的是，本实施例中所涉及到的各模块均为逻辑模块，在实际应用中，一个逻辑单元可以是一个物理单元，也可以是一个物理单元的一部分，还可以以多个物理单元的组合实现。此外，为了突出本申请的创新部分，本实施例中并没有将与解决本申请所提出的技术问题关系不太密切的单元引入，但这并不表明本实施例中不存在其它的单元。
本申请另一个实施例涉及一种电子设备，如图8所示，包括：至少一个处理器701；以及，与所述至少一个处理器701通信连接的存储器702；其中，所述存储器702存储有可被所述至少一个处理器701执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器701执行，以使所述至少一个处理器701能够执行上述各实施例中的线损校准方法。
其中，存储器和处理器采用总线方式连接，总线可以包括任意数量的互联的总线和桥，总线将一个或多个处理器和存储器的各种电路连接在一起。总线还可以将诸如外围设备、稳压器和功率管理电路等之类的各种其他电路连接在一起，这些都是本领域所公知的，因此，本文不再对其进行进一步描述。总线接口在总线和收发机之间提供接口。收发机可以是一个元件，也可以是多个元件，比如多个接收器和发送器，提供用于在传输介质上与各种其他装置通信的单元。经处理器处理的数据通过天线在无线介质上进行传输，进一步，天线还接收数据并将数据传送给处理器。
处理器负责管理总线和通常的处理，还可以提供各种功能，包括定时，外围接口，电压调节、电源管理以及其他控制功能。而存储器可以被用于存储处理器在执行操作时所使用的数据。
本申请另一个实施例涉及一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序。计算机程序被处理器执行时实现上述方法实施例。
即，本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一个设备(可以是单片机，芯片等)或处理器(processor)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory，简称：ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称：RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施例是实现本申请的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本申请的精神和范围。
Claims (8)
1.一种线损校准方法，其特征在于，包括：
根据测试夹具、初始线损值和预设的测试标准对待测模组进行质量测试，检测所述待测模组是否为良品；其中，所述初始线损值根据所述测试夹具和预设的金机获得；
在检测出N件良品的情况下，将所述N件良品作为基准组，并继续所述质量测试；
在再次检测出M件良品的情况下，将再次检测出的所述M件良品作为对照组；其中，所述N和所述M均为大于0的整数；
根据所述基准组、所述对照组、所述测试夹具、所述初始线损值和所述金机，获取所述测试夹具的更新线损值；
在所述将再次检测出的所述M件良品作为对照组之后，所述根据所述基准组、所述对照组、所述测试夹具、所述初始线损值和所述金机，获取所述测试夹具的更新线损值之前，还包括：
根据所述基准组中的所述N件良品的最大发射功率计算第一均值，并将所述第一均值作为所述基准组的基准均值；
根据所述对照组中的所述M件良品的最大发射功率计算第二均值，并将所述第二均值作为所述对照组的对照均值；
所述根据所述基准组、所述对照组、所述测试夹具、所述初始线损值和所述金机，获取所述测试夹具的更新线损值，具体包括：
计算所述基准均值与所述对照均值之间的第一差值，并判断所述第一差值是否小于第一预设阈值；
若所述第一差值小于所述第一预设阈值，则继续所述质量测试；
若所述第一差值大于或等于所述第一预设阈值，则在所述测试夹具上测试所述金机的当前最大发射功率；
计算所述当前最大发射功率与所述金机的额定最大发射功率之间的第二差值，并将所述第二差值作为所述测试夹具的更新线损值。
2.根据权利要求1所述的线损校准方法，其特征在于，在所述继续所述质量测试之后，包括：
将所述对照均值作为新的基准均值；
在再次检测出P件良品的情况下，计算再次检测出的所述P件良品的最大发射功率的第三均值，并将所述第三均值为新的对照均值；其中，所述P为大于0的整数。
3.根据权利要求1所述的线损校准方法，其特征在于，在所述继续所述质量测试之后，包括：
根据所述基准均值和所述对照均值计算第四均值，将所述第四均值作为新的基准均值；
在再次检测出Q件良品的情况下，计算再次检测出的所述Q件良品的最大发射功率的第五均值，并将所述第五均值为新的对照均值；其中，所述Q为大于0的整数。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的线损校准方法，其特征在于，所述第一预设阈值具体为0.2dBm。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的线损校准方法，其特征在于，所述初始线损值根据所述测试夹具和预设的金机获得，具体包括：
在所述测试夹具上测试得到所述金机的初始最大发射功率；
计算所述初始最大发射功率与所述金机的额定最大发射功率之间的第三差值；
将所述第三差值作为所述测试夹具的初始线损值。
6.一种线损校准系统，其特征在于，所述线损校准系统包括：测试夹具、若干个待测模组、金机、质量测试装置和线损校准装置；
所述测试夹具用于固定所述金机和所述若干个待测模组；
所述线损校准装置用于在所述质量测试装置进行质量测试之前，根据所述测试夹具和所述金机，确定所述测试夹具的初始线损值，并将所述初始线损值发送至所述质量测试装置；
所述质量测试装置用于根据所述测试夹具、所述初始线损值和预设的测试标准对所述待测模组进行质量测试，检测所述待测模组是否为良品；
所述线损校准装置还用于在检测出N件良品的情况下，将所述N件良品作为基准组，继续所述质量测试，并在再次检测出M件良品的情况下，将再次检测出的所述M件良品作为对照组，根据所述基准组、所述对照组、所述测试夹具、所述初始线损值和所述金机，获取所述测试夹具的更新线损值，所述N和所述M均为大于0的整数；
在所述将再次检测出的所述M件良品作为对照组之后，所述根据所述基准组、所述对照组、所述测试夹具、所述初始线损值和所述金机，获取所述测试夹具的更新线损值之前，还包括：
根据所述基准组中的所述N件良品的最大发射功率计算第一均值，并将所述第一均值作为所述基准组的基准均值；
根据所述对照组中的所述M件良品的最大发射功率计算第二均值，并将所述第二均值作为所述对照组的对照均值；
所述根据所述基准组、所述对照组、所述测试夹具、所述初始线损值和所述金机，获取所述测试夹具的更新线损值，具体包括：
计算所述基准均值与所述对照均值之间的第一差值，并判断所述第一差值是否小于第一预设阈值；
若所述第一差值小于所述第一预设阈值，则继续所述质量测试；
若所述第一差值大于或等于所述第一预设阈值，则在所述测试夹具上测试所述金机的当前最大发射功率；
计算所述当前最大发射功率与所述金机的额定最大发射功率之间的第二差值，并将所述第二差值作为所述测试夹具的更新线损值。
7.一种电子设备，其特征在于，包括：
至少一个处理器；以及，
与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求1至5中任一所述的线损校准方法。
8.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至5中任一项所述的线损校准方法。
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