CN108650034A - 一种射频设备的增益校准方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种射频设备的增益校准方法及装置。所述方法包括：根据获取到的待校准设备的设备信息所包括的设备型号信息和生产批次信息，获取第一参考校准值，进而可以根据第一参考校准值对待校准设备进行增益校准。由于第一参考校准值是根据与待校准设备的设备型号信息和生产批次信息均一致的已校准设备得到的，因此，该第一校准值具有较高的可信性；且，相对于现有技术中通过仪表手工测量的方式进行增益校准，本发明实施例中所采用的方法操作相对简单，耗时相对较短，有效提高了射频设备的增益校准的效率。
Description
技术领域
本发明涉及终端技术领域，尤其涉及一种射频设备的增益校准方法及装置。
背景技术
目前，射频设备的期望性能和实际性能会存在差异，产生这种差异的原因有很多，比如元器件制作性能不一致、射频设备在不同温度下性能产生变化等。为了解决这一问题，通常会在电路中增加可变的增益电路，通过后期动态调节来达到与期望性能接近的目的。
现有技术中常规的调节方法为，先通过仪表手工测量射频设备的实际增益值，然后根据得到的实际增益值与期望增益值计算得到补偿值，并根据补偿值调整增益电路的电阻或电压，从而达到期望的性能。然而，这种方法针对每台设备都需要进行手工测量，操作比较繁琐，耗时也较长。
基于此，目前亟需一种射频设备的增益校准方法，用于解决现有技术中采用仪表手工测量的方式导致操作繁琐、耗时长的问题。
发明内容
本发明实施例提供一种射频设备的增益校准方法及装置，以解决现有技术中采用仪表手工测量的方式导致操作繁琐、耗时长的技术问题。
本发明实施例提供一种射频设备的增益校准方法，所述方法包括：
获取待校准设备的设备信息；所述设备信息包括设备型号信息和生产批次信息；
获取第一参考校准值；所述第一参考校准值是至少根据与所述待校准设备的设备型号信息和生产批次信息均一致的已校准设备得到的；
根据所述第一参考校准值对所述待校准设备进行增益校准。
可选地，所述方法还包括：
若确定不存在所述第一参考校准值，则通过仪表测量的方式获取所述待校准设备的实际增益值；
根据所述待校准设备的实际增益值和预设增益值，确定所述待校准设备的实际校准值；
根据所述待校准设备的实际校准值对所述待校准设备进行增益校准，以使所述待校准设备的实际增益值与所述预设增益值相同；所述待校准设备的实际校准值用于作为已校准设备来确定第一参考校准值。
可选地，所述待校准设备的实际校准值用于作为已校准设备来确定第一参考校准值，包括：
若确定所述已校准设备的实际校准值的个数达到第一阈值，则根据与所述第一阈值对应的多个实际校准值，确定所述第一参考校准值；
将所述第一参考校准值与所述已校准设备的设备信息对应存储。
可选地，所述待校准设备的实际校准值用于作为已校准设备来确定第一参考校准值，包括：
若确定存在第二参考校准值，且所述已校准设备的实际校准值的个数达到第二阈值，则根据与所述第二阈值对应的多个实际校准值和所述第二参考校准值，确定所述第一参考校准值；所述第二参考值是根据与所述待校准设备的设备型号信息一致且生产批次信息不一致的已校准设备得到的；所述第二阈值小于预设阈值；
将所述第一参考校准值与所述已校准设备的设备信息对应存储。
可选地，在根据所述第一参考校准值对所述待校准设备进行增益校准之后，所述方法还包括：
获取所述待校准设备校准后的增益值；
根据所述待校准设备校准后的增益值和预设增益值，确定所述待校准设备的校准误差；
若确定所述校准误差大于等于第三阈值，则根据所述校准误差对所述待校准设备再次进行增益校准。
本发明实施例提供一种射频设备的增益校准装置，所述装置包括：
获取单元，用于获取待校准设备的设备信息和第一参考校准值；所述设备信息包括设备型号信息和生产批次信息；所述第一参考校准值是至少根据与所述待校准设备的设备型号信息和生产批次信息均一致的已校准设备得到的；
处理单元，用于根据所述第一参考校准值对所述待校准设备进行增益校准。
可选地，所述处理单元还用于：
若确定不存在所述第一参考校准值，则通过仪表测量的方式获取所述待校准设备的实际增益值；
根据所述待校准设备的实际增益值和预设增益值，确定所述待校准设备的实际校准值；
根据所述待校准设备的实际校准值对所述待校准设备进行增益校准，以使所述待校准设备的实际增益值与所述预设增益值相同；所述待校准设备的实际校准值用于作为已校准设备来确定第一参考校准值。
可选地，所述处理单元具体用于：
若确定所述已校准设备的实际校准值的个数达到第一阈值，则根据与所述第一阈值对应的多个实际校准值，确定所述第一参考校准值；
将所述第一参考校准值与所述已校准设备的设备信息对应存储。
可选地，所述处理单元具体用于：
若确定存在第二参考校准值，且所述已校准设备的实际校准值的个数达到第二阈值，则根据与所述第二阈值对应的多个实际校准值和所述第二参考校准值，确定所述第一参考校准值；所述第二参考值是根据与所述待校准设备的设备型号信息一致且生产批次信息不一致的已校准设备得到的；所述第二阈值小于预设阈值；
将所述第一参考校准值与所述已校准设备的设备信息对应存储。
可选地，在所述处理单元根据所述第一参考校准值对所述待校准设备进行增益校准之后，所述获取单元还用于：
获取所述待校准设备校准后的增益值；
所述处理单元还用于，根据所述待校准设备校准后的增益值和预设增益值，确定所述待校准设备的校准误差；
若确定所述校准误差大于等于第三阈值，则根据所述校准误差对所述待校准设备再次进行增益校准。
本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机实现执行上述所述的方法。
本发明实施例提供一种计算机设备，包括：
存储器，用于存储程序指令；
处理器，用于调用所述存储器中存储的程序指令，按照获得的程序执行上述所述的方法。
本发明实施例中，根据获取到的待校准设备的设备信息所包括的设备型号信息和生产批次信息，获取第一参考校准值，进而可以根据第一参考校准值对待校准设备进行增益校准。本发明实施例中，由于第一参考校准值是根据与待校准设备的设备型号信息和生产批次信息均一致的已校准设备得到的，因此，该第一校准值具有较高的可信性；且，相对于现有技术中通过仪表手工测量的方式进行增益校准，本发明实施例中所采用的方法操作相对简单，耗时相对较短，有效提高了射频设备的增益校准的效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种射频设备的增益校准方法对应的流程示意图；
图2为本发明实施例提供的一种不存在第一参考校准值的射频设备的增益校准方法对应的流程示意图；
图3a为本发明实施例中一种仪表测试的场景示意图；
图3b为本发明实施例中另一种仪表测试的场景示意图；
图4为本发明实施例提供的一种第一参考校准值的确定方式对应的流程示意图；
图5为本发明实施例还提供一种检测校准后的校准误差的方法对应的流程示意图；
图6为本发明实施例中所涉及到的流程示意图；
图7为本发明实施例提供的一种射频设备的增益校准装置的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部份实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
图1示例性示出了本发明实施例提供的一种射频设备的增益校准方法对应的流程示意图，如图1所示，具体包括如下步骤：
步骤101，获取待校准设备的设备信息。
步骤102，获取第一参考校准值；所述第一参考校准值是至少根据与所述待校准设备的设备型号信息和生产批次信息均一致的已校准设备得到的。
步骤103，根据所述第一参考校准值对所述待校准设备进行增益校准。
本发明实施例中，根据获取到的待校准设备的设备信息所包括的设备型号信息和生产批次信息，获取第一参考校准值，进而可以根据第一参考校准值对待校准设备进行增益校准。本发明实施例中，由于第一参考校准值是根据与待校准设备的设备型号信息和生产批次信息均一致的已校准设备得到的，因此，该第一校准值具有较高的可信性；且，相对于现有技术中通过仪表手工测量的方式进行增益校准，本发明实施例中所采用的方法操作相对简单，耗时相对较短，有效提高了射频设备的增益校准的效率。
具体来说，步骤101中，设备信息可以包括多种信息，例如，设备信息可以包括设备型号信息、生产批次信息、设备名称信息、设备参数信息等。如表1所示，为设备信息的一种示例，待校准设备1的设备型号为型号A，生产批次为第一批次；待校准设备2的设备型号为型号B，生产批次为第一批次；待校准设备3的设备型号为型号A，生产批次为第二批次。从表1中可以看出，相同型号的两个设备，其生产批次可以不同，如表1中示出的待校准设备1和待校准设备3；相同生产批次的两个设备，其设备型号也可以不同，如表1中示出的待校准设备1和待校准设备2。
表1：设备信息的一种示例
| 待校准设备 | 设备型号信息 | 生产批次信息 |
| 待校准设备1 | 型号A | 第一批次 |
| 待校准设备2 | 型号B | 第一批次 |
| 待校准设备3 | 型号A | 第二批次 |
步骤102中，可以从预设数据库中获取第一参考校准值，其中，预设数据库用于存储已校准设备的参考校准值及对应的设备信息。如表2所示，为预设数据库中的存储内容的一种示例，已校准设备1的设备型号为型号A，生产批次为第一批次，参考校准值为2dB；已校准设备2的设备型号为型号B，生产批次为第二批次，参考校准值为-2dB；已校准设备3的设备型号为型号C，生产批次为第二批次，参考校准值为3dB。
表2：预设数据库中的存储内容的一种示例
进一步地，第一参考校准值是至少根据与所述待校准设备的设备型号信息和生产批次信息均一致的已校准设备得到的。举个例子，以上述表1中示出的待校准设备1为例，在表2示出的预设数据库中查找后可知，表2中的已校准设备1的设备型号信息和生产批次信息与待校准设备1均一致，因此，可将已校准设备1的参考校准值作为第一参考校准值，即第一参考校准值为2dB。
考虑到具体实施过程中，可能出现预设数据库中不存在第一参考校准值的情况，例如，以上述表1中示出的待校准设备2为例，在表2示出的预设数据库中查找后可知，表2中不存在与待校准设备1的设备型号信息和生产批次信息均一致的设备。针对这种情况，图2示例性示出了本发明实施例提供的一种不存在第一参考校准值的射频设备的增益校准方法对应的流程示意图，如图2所示，包括如下步骤：
步骤201，通过仪表测量的方式获取所述待校准设备的实际增益值。
具体来说，若确定不存在第一参考校准值，则可以通过仪表测量的方式获取待校准设备的实际增益值。具体实施过程中，根据不同的适用场景，待校准设备的实际增益值的测量方式也会不同，一个示例中，如图3a所示，为本发明实施例中一种仪表测试的场景示意图，以测量直放站的射频增益为例，发射天线发射的信号A通过直放站的放大电路放大后，由接收天线接收放大后的信号A，测量仪器在接收天线端测量信号放大后的信号A，从而确定信号A通过直放站放大后的增益。
另一个示例中，如图3b所示，为本发明实施例中另一种仪表测试的场景示意图，以测量移动终端的射频增益为例，移动终端的天线接收到信号B后，通过内部的放大电路对信号B进行处理，并通过测量仪器测出信号B在移动终端内部放大后的增益。
步骤202，根据所述待校准设备的实际增益值和预设增益值，确定所述待校准设备的实际校准值。
具体来说，预设增益值可以是本领域技术人员根据经验和实际情况确定的，具体不做限定。本发明实施例中，待校准设备的实际校准值具体可以通过以下方式确定：
Y＝P-Q
其中，Y为待校准设备的实际校准值；P为待校准设备的实际增益值；Q为预设增益值。
举个例子，如表3所示，为待校准设备的实际校准值的一种示例，若设定预设增益值为50dB，待校准设备1的实际增益值为48dB，则实际校准值为-2dB；待校准设备2的实际增益值为51dB，则实际校准值为1dB；待校准设备3的实际增益值为52dB，则实际校准值为2dB。
表3：实际校准值的一种示例
| 待校准设备 | 实际增益值 | 预设增益值 | 实际校准值 |
| 待校准设备1 | 48dB | 50dB | -2dB |
| 待校准设备2 | 51dB | 50dB | 1dB |
| 待校准设备3 | 52dB | 50dB | 2dB |
步骤203，根据所述待校准设备的实际校准值对所述待校准设备进行增益校准，以使所述待校准设备的实际增益值与所述预设增益值相同；所述待校准设备的实际校准值用于作为已校准设备来确定第一参考校准值。
具体实施过程中，射频设备除了设置放大电路之外，还会设置增益电路，用于根据实际校准时进行调整，以使待校准设备的实际增益值与预设增益值相同。其中，待校准设备的实际校准值还可以用于确定第一参考校准值，具体的确定方式有多种，一种可能的实现方式为，若确定所述已校准设备的实际校准值的个数达到第一阈值，则根据与所述第一阈值对应的多个实际校准值，确定所述第一参考校准值。其中，第一阈值可以是本领域技术人员根据经验和实际情况确定，具体不做限定。
举个例子，如表4所示，为一组待校准设备的示例，以表4中示出的待校准设备1为例，该设备的设备型号为型号A，生产批次为第二批次，通过查找上述表2中的预设数据库，可知表2中不存在与待校准设备1的设备型号信息和生产批次信息均一致的已校准设备，因此，针对待校准设备1，可通过仪表测量的方式获取所述待校准设备的实际增益值为51dB，若预设增益值为50dB，则可以确定实际校准值为1dB，进而可以根据待校准设备1的实际校准值对该待校准设备进行增益校准。进一步地，若第一阈值设定为5个，则针对表4中的待校准设备2、待校准设备3、待校准设备4和待校准设备5，均可采用与待校准设备1同样方法进行增益校准；且，在校准完待校准设备5之后，可得到5个实际校准值，即实际校准值的个数达到第一阈值，则可以根据这5个实际校准值确定第一参考校准值。其中，第一参考校准值具体的确定方式有多种，比如，可以是将多个实际校准值的平均值作为第一参考校准值；或者，可以是将多个实际校准值去除最大值和最小值之后的平均值作为第一参考校准值；或者，也可以是将多个实际校准值中出现次数最多的值作为第一参考校准值，具体不做限定。更进一步地，以将多个实际校准值的平均值作为第一参考校准值为例，第一参考校准值为2dB，则针对表4中示出的待校准设备6，可直接采用第一参考校准值对该待校准设备进行增益校准。
表4：一组待校准设备的示例
| 待校准设备 | 设备型号信息 | 生产批次信息 | 实际增益值 | 实际校准值 |
| 待校准设备1 | 型号A | 第二批次 | 51dB | 1dB |
| 待校准设备2 | 型号A | 第二批次 | 52dB | 2dB |
| 待校准设备3 | 型号A | 第二批次 | 53dB | 3dB |
| 待校准设备4 | 型号A | 第二批次 | 51dB | 2dB |
| 待校准设备5 | 型号A | 第二批次 | 54dB | 2dB |
| 待校准设备6 | 型号A | 第二批次 |
另一种可能的实现方式为，若确定存在第二参考校准值，且所述已校准设备的实际校准值的个数达到第二阈值，则根据与所述第二阈值对应的多个实际校准值和所述第二参考校准值，确定所述第一参考校准值。其中，第二参考值是根据与所述待校准设备的设备型号信息一致且生产批次信息不一致的已校准设备得到的。
本领域技术人员可以根据经验和实际情况设定第二阈值，本发明实施例中，可以设定第二阈值小于预设阈值。其中，该预设阈值可以是上文所描述的第一阈值，也可以是本领域技术人员根据经验和实际情况设定的，具体不做限定。如此，在预设数据库中存在第二参考值的情况下，可以减少仪表测量的次数，进而能够降低操作的复杂度。
具体地，根据与第二阈值对应的多个实际校准值和第二参考校准值，确定第一参考校准值。如图4所示，为本发明实施例提供的一种第一参考校准值的确定方式对应的流程示意图，具体包括如下步骤：
步骤401，根据与第二阈值对应的多个实际校准值，确定出一个参考值。
其中，该参考值的确定方式与上文所描述的第一参考校准值的确定方式相似，在此不再赘述。
步骤402，判断所述参考值与第二参考校准值的差值的绝对值是否小于预设差值阈值，若小于，则执行步骤403；若大于，则执行步骤404。
其中，预设差值阈值为本领域技术人员可以根据经验和实际情况确定的，具体不做限定。
步骤403，将第二参考校准值确定为第一参考校准值。
步骤404，继续获取实际校准值，若已校准设备的实际校准值的个数达到第一阈值，则根据与所述第一阈值对应的多个实际校准值，确定第一参考校准值。
为了更加清楚地描述上述步骤401至步骤404所示出的流程，下面进行举例说明，以上述表4中示出的待校准设备1为例，该设备的设备型号为型号A，生产批次为第二批次，通过查找上述表2中的预设数据库，可知表2中不存在与待校准设备1的设备型号信息和生产批次信息均一致的已校准设备，但存在与待校准设备1的设备型号信息一致的已校准设备1，即第二参考校准值为2dB。针对待校准设备1，可通过仪表测量的方式获取所述待校准设备的实际增益值为51dB，若预设增益值为50dB，则可以确定实际校准值为1dB，进而可以根据待校准设备1的实际校准值对该待校准设备进行增益校准。进一步地，若第二阈值设定为3个，则针对表4中的待校准设备2和待校准设备3均可采用与待校准设备1同样方法进行增益校准；且，在校准完待校准设备3之后，可得到3个实际校准值，即实际校准值的个数达到第一阈值，则可以根据这3个实际校准值的平均值确定参考值为2dB；进一步地，若预先设定预设差值阈值设定为0.5dB，则由于上述参考值与第二参考校准值的差值为0，小于预设差值阈值，可将第二参考校准值作为第一参考校准值，即第一参考校准值为2dB，则针对表4中示出的待校准设备4、待校准设备5和待校准设备6，可直接采用第一参考校准值对待校准设备4、待校准设备5和待校准设备6进行增益校准。
进一步地，为了降低校准误差，提高校准精度，本发明实施例还提供一种检测校准后的校准误差的方法，如图5所示，具体包括以下步骤：
步骤501，获取所述已校准设备的增益值。
步骤502，根据所述已校准设备的增益值和预设增益值，确定所述已校准设备的校准误差。
步骤503，若确定所述校准误差大于等于第三阈值，则根据所述校准误差对所述已校准设备再次进行增益校准。
本发明实施例通过上述步骤501至步骤503所描述的方法，能够在校准完设备之后，进一步测量已校准设备的增益值，进而确定校准误差，并进行微调，从而能够提高射频设备增益值的精确度，提升射频设备的性能。
为了更清楚地介绍上述射频设备的增益校准方法，下面结合图6，对本发明实施例中所涉及到的流程进行整体性说明。如图6所示，可以包括以下步骤：
步骤601，获取待校准设备的设备信息。
步骤602，判断预设数据库中是否存在第一参考校准值，若存在，则执行步骤603；若不存在，则执行步骤604。
步骤603，获取第一参考校准值，根据所述第一参考校准值对所述待校准设备进行增益校准。
步骤604，通过仪表测量的方式获取所述待校准设备的实际增益值，进而确定待校准设备的实际校准值，以及根据所述待校准设备的实际校准值对所述待校准设备进行增益校准，以使所述待校准设备的实际增益值与所述预设增益值相同。
步骤605，判断预设数据库中是否存在第二参考校准值，若存在，则执行步骤606；若不存在，则执行步骤611。
步骤606，获取第二参考校准值。
步骤607，判断已校准设备的实际校准值的个数是否达到第二阈值，若达到第二阈值，则执行步骤608；若未达到第二阈值，则返回步骤607。
步骤608，根据与第二阈值对应的多个实际校准值，确定出一个参考值。
步骤609，判断所述参考值与第二参考校准值的差值的绝对值是否小于预设差值阈值，若小于，则执行步骤610；若大于，则执行步骤611。
步骤610，将第二参考校准值确定为第一参考校准值。
步骤611，判断已校准设备的实际校准值的个数达到第一阈值，若达到第一阈值，则执行步骤612；若未达到第一阈值，则返回步骤611。
步骤612，根据与所述第一阈值对应的多个实际校准值，确定所述第一参考校准值。
本发明实施例中，由于第一参考校准值是根据与待校准设备的设备型号信息和生产批次信息均一致的已校准设备得到的，因此，该第一校准值具有较高的可信性；且，相对于现有技术中通过仪表手工测量的方式进行增益校准，本发明实施例操作相对简单，耗时相对较短，有效提高了射频设备的增益校准的效率。
基于同样的发明构思，图7示例性示出了本发明实施例提供的一种射频设备的增益校准装置的结构示意图，如图7所示，该装置包括获取单元701、处理单元702；其中，
获取单元701，用于获取待校准设备的设备信息和第一参考校准值；所述设备信息包括设备型号信息和生产批次信息；所述第一参考校准值是至少根据与所述待校准设备的设备型号信息和生产批次信息均一致的已校准设备得到的；
处理单元702，用于根据所述第一参考校准值对所述待校准设备进行增益校准。
可选地，所述处理单元702还用于：
若确定不存在所述第一参考校准值，则通过仪表测量的方式获取所述待校准设备的实际增益值；
根据所述待校准设备的实际增益值和预设增益值，确定所述待校准设备的实际校准值；
根据所述待校准设备的实际校准值对所述待校准设备进行增益校准，以使所述待校准设备的实际增益值与所述预设增益值相同；所述待校准设备的实际校准值用于作为已校准设备来确定第一参考校准值。
可选地，所述处理单元702具体用于：
若确定所述已校准设备的实际校准值的个数达到第一阈值，则根据与所述第一阈值对应的多个实际校准值，确定所述第一参考校准值；
将所述第一参考校准值与所述已校准设备的设备信息对应存储。
可选地，所述处理单元702具体用于：
若确定存在第二参考校准值，且所述已校准设备的实际校准值的个数达到第二阈值，则根据与所述第二阈值对应的多个实际校准值和所述第二参考校准值，确定所述第一参考校准值；所述第二参考值是根据与所述待校准设备的设备型号信息一致且生产批次信息不一致的已校准设备得到的；所述第二阈值小于预设阈值；
将所述第一参考校准值与所述已校准设备的设备信息对应存储。
可选地，在所述处理单元702根据所述第一参考校准值对所述待校准设备进行增益校准之后，所述获取单元701还用于：
获取所述待校准设备校准后的增益值；
所述处理单元702还用于，根据所述待校准设备校准后的增益值和预设增益值，确定所述待校准设备的校准误差；
若确定所述校准误差大于等于第三阈值，则根据所述校准误差对所述待校准设备再次进行增益校准。
本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机实现执行上述所述的方法。
本发明实施例提供一种计算机设备，包括：
存储器，用于存储程序指令；
处理器，用于调用所述存储器中存储的程序指令，按照获得的程序执行上述所述的方法。
本发明实施例中，根据获取到的待校准设备的设备信息所包括的设备型号信息和生产批次信息，获取第一参考校准值，进而可以根据第一参考校准值对待校准设备进行增益校准。本发明实施例中，由于第一参考校准值是根据与待校准设备的设备型号信息和生产批次信息均一致的已校准设备得到的，因此，该第一校准值具有较高的可信性；且，相对于现有技术中通过仪表手工测量的方式进行增益校准，本发明实施例中所采用的方法操作相对简单，耗时相对较短，有效提高了射频设备的增益校准的效率。
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程值处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程值处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程值处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程值处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (12)
1.一种射频设备的增益校准方法，其特征在于，所述方法包括：
获取待校准设备的设备信息；所述设备信息包括设备型号信息和生产批次信息；
若确定存在第一参考校准值，则获取所述第一参考校准值；所述第一参考校准值是至少根据与所述待校准设备的设备型号信息和生产批次信息均一致的已校准设备得到的；
根据所述第一参考校准值对所述待校准设备进行增益校准。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
若确定不存在所述第一参考校准值，则通过仪表测量的方式获取所述待校准设备的实际增益值；
根据所述待校准设备的实际增益值和预设增益值，确定所述待校准设备的实际校准值；
根据所述待校准设备的实际校准值对所述待校准设备进行增益校准，以使所述待校准设备的实际增益值与所述预设增益值相同；所述待校准设备的实际校准值用于作为已校准设备来确定第一参考校准值。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待校准设备的实际校准值用于作为已校准设备来确定第一参考校准值，包括：
若确定所述已校准设备的实际校准值的个数达到第一阈值，则根据与所述第一阈值对应的多个实际校准值，确定所述第一参考校准值；
将所述第一参考校准值与所述已校准设备的设备信息对应存储。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待校准设备的实际校准值用于作为已校准设备来确定第一参考校准值，包括：
若确定存在第二参考校准值，且所述已校准设备的实际校准值的个数达到第二阈值，则根据与所述第二阈值对应的多个实际校准值和所述第二参考校准值，确定所述第一参考校准值；所述第二参考值是根据与所述待校准设备的设备型号信息一致且生产批次信息不一致的已校准设备得到的；所述第二阈值小于预设阈值；
将所述第一参考校准值与所述已校准设备的设备信息对应存储。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，在根据所述第一参考校准值对所述待校准设备进行增益校准之后，所述方法还包括：
获取所述待校准设备校准后的增益值；
根据所述待校准设备校准后的增益值和预设增益值，确定所述待校准设备的校准误差；
若确定所述校准误差大于等于第三阈值，则根据所述校准误差对所述待校准设备再次进行增益校准。
6.一种射频设备的增益校准装置，其特征在于，所述装置包括：
获取单元，用于获取待校准设备的设备信息和第一参考校准值；所述设备信息包括设备型号信息和生产批次信息；所述第一参考校准值是至少根据与所述待校准设备的设备型号信息和生产批次信息均一致的已校准设备得到的；
处理单元，用于根据所述第一参考校准值对所述待校准设备进行增益校准。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述处理单元还用于：
若确定不存在所述第一参考校准值，则通过仪表测量的方式获取所述待校准设备的实际增益值；
根据所述待校准设备的实际增益值和预设增益值，确定所述待校准设备的实际校准值；
根据所述待校准设备的实际校准值对所述待校准设备进行增益校准，以使所述待校准设备的实际增益值与所述预设增益值相同；所述待校准设备的实际校准值用于作为已校准设备来确定第一参考校准值。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述处理单元具体用于：
若确定所述已校准设备的实际校准值的个数达到第一阈值，则根据与所述第一阈值对应的多个实际校准值，确定所述第一参考校准值；
将所述第一参考校准值与所述已校准设备的设备信息对应存储。
9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述处理单元具体用于：
若确定存在第二参考校准值，且所述已校准设备的实际校准值的个数达到第二阈值，则根据与所述第二阈值对应的多个实际校准值和所述第二参考校准值，确定所述第一参考校准值；所述第二参考值是根据与所述待校准设备的设备型号信息一致且生产批次信息不一致的已校准设备得到的；所述第二阈值小于预设阈值；
将所述第一参考校准值与所述已校准设备的设备信息对应存储。
10.根据权利要求6至9中任一项所述的装置，其特征在于，在所述处理单元根据所述第一参考校准值对所述待校准设备进行增益校准之后，所述获取单元还用于：
获取所述待校准设备校准后的增益值；
所述处理单元还用于，根据所述待校准设备校准后的增益值和预设增益值，确定所述待校准设备的校准误差；
若确定所述校准误差大于等于第三阈值，则根据所述校准误差对所述待校准设备再次进行增益校准。
11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机实现执行权利要求1至5中任一项所述的方法。
12.一种计算机设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储程序指令；
处理器，用于调用所述存储器中存储的程序指令，按照获得的程序执行如权利要求1至5任一权利要求所述的方法。
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