WO2021112481A1 - 전극조립체 제조방법 및 제조장치, 그를 포함한 이차전지 제조방법 - Google Patents

전극조립체 제조방법 및 제조장치, 그를 포함한 이차전지 제조방법 Download PDF

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서태준
이우용
권춘호
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Definitions

  • the present invention relates to an electrode assembly manufacturing method and manufacturing apparatus capable of increasing stacking alignment, and a secondary battery manufacturing method including the same.
  • a secondary battery refers to a battery capable of charging and discharging unlike a primary battery that cannot be charged, and such secondary batteries are widely used in high-tech electronic devices such as phones, notebook computers, and camcorders.
  • the secondary battery is classified into a can-type secondary battery in which an electrode assembly is embedded in a metal can and a pouch-type secondary battery in which an electrode assembly is embedded in a pouch, and the electrode assembly has a stack-type structure, a wound-type (jelly roll type) structure or a stack. It is classified as a /folding structure, and the stacked electrode assembly has a structure in which a plurality of basic units are stacked.
  • the stacked electrode assembly has a problem in that a plurality of basic units are not uniformly stacked.
  • the present invention was invented to solve the above problems, and the present invention is to provide a method and apparatus for manufacturing an electrode assembly capable of increasing the degree of stacking alignment by measuring the position of a basic unit, and a method for manufacturing a secondary battery including the same The purpose.
  • the electrode assembly manufacturing method of the present invention for achieving the above object is (a) a plurality of basic units in which a first electrode, a separator, a second electrode and a separator are sequentially stacked from a first setting position to a second setting position transferring to (b) The basic unit is photographed at the first set position, and the distance between the full-width end, which is the end in the full-width direction of the first electrode, and the full-width end, which is the end in the full-width direction of the second electrode, provided in the first photographed primitive (A1) ), the distance (A2) between the full-width end of the first electrode provided in the photographed second basic unit and the full-width end of the second electrode in the full-width direction (A2), the nth element provided on the photographed nth basic unit A measuring step of measuring the distance (An) between the full-width end of the first electrode in the full-width direction and the full-width end of the second electrode in the full-width direction; (c) When
  • the step (b) may further include a step of determining that A1 measured in the A measurement process is within the input set value, judging it as normal, and judging it as defective if it is located outside the A1 measurement process.
  • the step (b) may further include a step of removing the basic unit so as not to be transferred to the second setting position when it is determined that the basic unit is defective at the first setting position.
  • step (b) the distance between the full width end of the first electrode and the full width end of the second electrode of the basic unit may be measured at the first set position using a vision alignment tester.
  • the step (c) further includes the step of checking whether the reference point (O) of the second installation position matches the reference point of the basic unit, and the reference point of the basic unit is a line corresponding to and equal in the full width direction of the basic unit; It may be a point at which equal equal lines intersect in the direction of the full length.
  • step (c) further includes a process of moving the basic unit to match the reference point (O) of the second installation position and the reference point of the basic unit can do.
  • the step (g) may further include a step of adjusting the position of the second basic unit by a difference between C1 and A1 of the first basic unit when it is determined that the stacking is defective in the full width inspection process.
  • the first electrode may have a smaller area than the second electrode.
  • the step (g) may further include a step of bonding the first basic unit and the second basic unit when it is determined that the normal stacking is performed.
  • step (h) after step (g), stacking an n-th basic unit transferred to a second setting position through a first setting position on top of the second basic unit; (i) providing a Bn measurement process of measuring a full width distance (Bn) from a reference point (O) of a second set position to the end of the first electrode full width of the n-th basic unit; (j) Measure the distance (Cn) between the end of the full width of the first electrode of the second base unit and the end of the full width of the second electrode of the nth base unit by adding Bn and An of the nth base unit and then subtracting B2 of the second base unit providing a Cn measurement process; and (k) comparing Cn with A2 of the second basic unit, and determining that the stack is normal if it is located within the input error value, and judging that the stack is defective if it is located outside the input error value.
  • step (b) the distance (D1) between the full-length end of the first electrode provided in the photographed first basic unit and the full-length end of the second electrode in the full-length direction, the photographed second basic unit
  • an E1 measuring step of measuring a distance (E1) from the reference point (O) of the second set position to the full-length end of the first electrode of the first basic unit wherein the step (e) includes the reference point ( and E2 measuring step of measuring the distance (E2) from O) to the full length end of the first electrode of the second basic unit, wherein the step (f) is performed by adding E2 and D2 of the second basic unit and then subtracting E1 for the first and measuring a distance (F1) between the full-length end of the first electrode of the basic unit and the full-length end of the second electrode of the second basic unit, wherein the step (g) includes: the F1 and D1 of the first basic unit; After preparing for , it may further include a full-length inspection process of determining that the stacking is normal if it is located within the input error value, and determining that it is a defective stacking if it is located outside the error value.
  • the step (g) may further include a step of adjusting the position of the second basic unit by a difference between the F1 and D1 of the first basic unit when it is determined that the stacking is defective in the electric length inspection process.
  • the step (i) further includes an En measuring step of measuring a distance (En) from the reference point (O) of the second set position to the full-length end of the first electrode of the n-th basic unit, and the step (j) is the n-th The Fn measurement process of measuring the distance (Fn) between the full length end of the first electrode of the second base unit and the full length end of the second electrode of the nth base unit by adding En and Dn of the base unit, then subtracting D2 of the second base unit Further, the step (k) may further include a step of comparing Fn and D2 of the second basic unit, determining that the stack is normal if it is located within the input error value, and determining that the stack is defective if it is located outside the input error value. have.
  • the secondary battery manufacturing method of the present invention comprises the steps of (A) manufacturing an electrode assembly according to claim 1; and (B) accommodating the electrode assembly in a battery case, and injecting an electrolyte into the battery case to manufacture a secondary battery.
  • the electrode assembly manufacturing apparatus of the present invention includes: a loading box in which a plurality of basic units in which a first electrode, a separator, a second electrode and a separator are sequentially stacked are stacked in a vertical direction; Transfer of transferring the uppermost basic unit among the basic units loaded in the loading box to the first setting position (H1), and then transferring the basic unit at the first setting position (H1) to the second setting position (H2) absence; The distance A1 from the end of the first electrode provided in the first transferred basic unit to the end of the second electrode at the first set position H1 and the end of the first electrode provided in the second transferred basic unit a first measuring member for measuring the distance A2 from the to the end of the second electrode; and measuring the first transferred basic unit transferred to the second setting position H2, but measuring the distance B1 from the reference point O of the second setting position H2 to the end of the first electrode of the first transferred basic unit and measure the distance (B2) from the reference point (O) of the second set position (H2) to the tip of the first electrode of
  • the electrode assembly manufacturing method of the present invention can check the stacking failure of the mutually stacked basic units, and in particular, when the stacking is defective, the position of the basic units can be changed by an error value to increase the stacking alignment.
  • FIG. 1 is a side view showing an electrode assembly according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a view showing an electrode assembly manufacturing apparatus according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a flowchart illustrating a method for manufacturing an electrode assembly according to a first embodiment of the present invention.
  • FIGS. 4A and 4B are side views showing step (b) of the method for manufacturing an electrode assembly according to the first embodiment of the present invention.
  • Fig. 5 is a plan view of Fig. 4A;
  • 6A and 6B are side views showing step (c) of the method for manufacturing an electrode assembly according to the first embodiment of the present invention.
  • Fig. 7 is a plan view of Fig. 6a;
  • step (c) of the electrode assembly manufacturing method is a side view showing a process of correcting the position in step (c) of the electrode assembly manufacturing method according to the first embodiment of the present invention.
  • Figure 9 is a side view showing the step (d) of the electrode assembly manufacturing method according to the first embodiment of the present invention.
  • FIGS 10A and 10B are side views showing steps (e), (f) and (g) of the electrode assembly manufacturing method according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 11A and 11B are side views showing steps (h), (i), (j) and (k) of the electrode assembly manufacturing method according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 12 is a cross-sectional view illustrating a secondary battery according to a second embodiment of the present invention.
  • the same number of electrodes and separators are alternately arranged and integrally coupled basic units 110 are repeatedly arranged. have a structure
  • the electrode assembly 100 includes a plurality of basic units 110 stacked in the vertical direction, and the basic unit 110 includes a first electrode 111 and a separator ( 112), the second electrode 113, and the separator 112 have a four-layer structure in which they are sequentially stacked.
  • the first electrode 111 and the second electrode 113 are opposite to each other.
  • the first electrode 111 is an anode
  • the second electrode 113 is a cathode.
  • the first electrode 111 has a smaller area than the second electrode 113 .
  • the electrode assembly 100 according to the first embodiment of the present invention having such a laminated structure is manufactured through an electrode assembly manufacturing apparatus.
  • a plurality of basic units are stacked in the vertical direction, but can be stacked to be aligned in the same position, stacking box 200 , a transfer member 300 , a first measuring member 400 , and a second measuring member 500 .
  • the loading box 200 is for loading the plurality of basic units 110 in the vertical direction. A loading space opened upward is formed, and the plurality of basic units 110 are loaded in the loading space.
  • the transfer member 300 withdraws the basic unit 110 loaded at the top of the basic unit 110 loaded in the loading box 200 out of the loading box 200, and then transports it to the first setting position H1, Again, the basic unit 110 at the first setting position H1 is transferred to the second setting position H2.
  • the transfer member 300 may be a gripper or a conveyor belt.
  • the first measuring member 400 is for measuring the position of the basic unit 110 at the first setting position H1 , and includes a first lighting unit 410 and a first measuring unit 420 .
  • the first lighting unit 410 is provided on the bottom surface of the basic unit 110 at the first setting position H1, and illuminates by irradiating light toward the bottom surface of the basic unit 110 . Then, the second electrode 113 is illuminated on the separator 112 located at the top by the light of the first lighting unit 410 , and thus the position of the second electrode 113 disposed between the separators 112 is confirmed.
  • the first measuring unit 420 is for measuring the basic unit transferred to the first setting position H1, and the first transferred basic unit 110 at the first setting position H1 (hereinafter referred to as the basic unit)
  • the distance A1 between the end of the first electrode 111 and the end of the second electrode 113 displayed on the separator 112 in the photographed image is obtained by photographing the upper portion of the basic unit 110 and provided on the upper portion of the measure
  • the first measurement unit 420 photographs the upper portion of the basic unit 110 at the first set position H1, and the tip of the first electrode 111 in the photographed upper surface image of the basic unit 110 . to measure the distance A1 from the to the end of the second electrode 113 . At this time, if the measured A1 is located within the input setting value, the first measurement unit 420 determines that it is normal, and if it is located outside the input setting value, it is determined that it is defective. In particular, if the first measuring unit 420 determines that it is defective, it removes the defective basic unit 110 at the first setting position H1 so that it is not transferred to the second setting position H2.
  • the first measuring unit 420 includes the end of the first electrode 111 of the second basic unit transferred second to the first setting position H1 and the end of the second electrode 113 displayed on the separator 112 .
  • the distance A2 and the end of the first electrode 111 of the n-th basic unit transferred to the n-th base unit to the first set position H1 and the end of the second electrode 113 displayed on the separator 112 Measure the distance (An) continuously.
  • the second measuring member 500 is for measuring the basic unit 110 transferred to the second setting position H2 , and includes a second lighting unit 510 and a second measuring unit 520 .
  • the second lighting unit 510 is provided under the basic unit 110 transferred to the second setting position H2 and illuminates by irradiating light toward the basic unit 110 transferred to the second setting position H2. do.
  • the second measuring unit 520 is for measuring the basic unit 110 transferred to the second setting position H2, and the first basic unit 110 is measured from the reference point O of the second setting position H2.
  • the distance B1 to the end of the first electrode 111 is measured, and from the reference point O of the second set position H2, the second transferred basic unit stacked on the upper side of the first basic unit (hereinafter referred to as the second basic unit) ) to the end of the first electrode 111, measure the distance B2, add B2 and A2 of the second base unit 110, then subtract B1 of the first base unit 110 to obtain the first base unit 110
  • the distance C1 between the end of the first electrode 111 and the end of the second electrode 113 of the second basic unit 110 is measured, and the difference between C1 and A1 of the first basic unit is calculated within the input error value. If it is located, it is judged as normal lamination, and if it is located outside, it is determined as defective lamination.
  • the second measuring member 500 measures the stacking alignment of the basic unit 110 sequentially stacked at the second setting position H2 through the second lighting unit 510 and the second measuring unit 520 .
  • the degree of stacking alignment can be increased by adjusting the position of the second basic unit by the error value.
  • the basic units 110 can be sequentially stacked at the same position, and as a result, the stacking alignment can be increased.
  • the method for manufacturing an electrode assembly according to the first embodiment of the present invention includes (a) a basic unit transfer step, (b) a basic unit measurement step at a first set position, (c) ) measuring the distance between the second set position and the first basic unit, (d) stacking the first and second basic units, (e) measuring the distance between the second setting position and the second basic unit, (f) the first basic unit measuring a distance between the unit and the second basic unit; and (g) determining whether the unit is defective by comparing the measured value of the first basic unit with the measured value of the second basic unit.
  • x shown in FIG. 1 is the full width direction of the basic unit
  • y is the full length direction of the basic unit.
  • step (a) referring to FIG. 2 , the plurality of basic units 110 loaded in the loading box 200 are moved one by one from the first setting position H1 to the second setting position H2 using the transfer member 300 .
  • step (a) is transferred to
  • the first basic unit 110 loaded at the top among the plurality of basic units 110 loaded in the loading box 200 is transferred to the first setting position H1, and after the setting time, the first basic unit 110 is transferred to the first setting position H1.
  • the basic unit 110 at the setting position H1 is transferred to the second setting position H2.
  • the second basic unit 110 loaded on the top of the plurality of basic units 110 is transferred to the first setting position H1, and after the setting time, the second basic unit 110 is located at the first setting position H1.
  • step (a) all of the basic units 110 loaded in the loading box 200 are transferred.
  • step (a) when the first basic unit 110 is located at the second set position H2, the second basic unit 110 is stacked thereon, and up to the n-th basic unit 110 is laminated. Accordingly, an electrode assembly in which the first basic unit, the second basic unit, and the nth basic unit are stacked from bottom to top is manufactured at the second setting position H2.
  • the basic unit 100 has a four-layer structure in which a first electrode 111 , a separator 112 , a second electrode 113 , and a separator 112 are sequentially stacked.
  • a basic unit first drawn out from the loading box 200 is referred to as a first basic unit, and reference numeral 110A is used.
  • the second basic unit withdrawn from the loading box 200 and stacked on top of the first basic unit 100A is referred to as the second basic unit, and reference numeral 110B is used.
  • the n-th base unit drawn out from the loading box 200 and stacked on top of the second base unit 100B is referred to as the n-th base unit, and reference numeral 110N is used.
  • an arrangement plate for arranging the basic unit is provided at the first setting position H1 and the second setting position H2, and the basic unit can be stably arranged through the arrangement plate.
  • step (a) the first basic unit 110A among the plurality of basic units loaded in the loading box 200 is transferred from the first setting position H1 to the second setting position H2.
  • Step (b) includes a measurement process A, and the measurement process A is, as shown in FIG. 4A , the basic unit transferred to the first setting position H1 using the first measurement member 400, that is, The first basic unit 100A is photographed, and the end of the first electrode 111 provided in the first basic unit 100A in the photographed image in the full width direction (x) (the right end of the first electrode as seen in FIG. 4A ) The distance A1 between the full-width end and the full-width end of the second electrode 113 in the full width direction (x) (the right end of the second electrode as seen in FIG. 4A ) is measured.
  • A1 denotes a distance from the full-width end of the first electrode 111 provided in the first basic unit to the full-width end of the second electrode 113 .
  • the first electrode 111 has a smaller area than the second electrode 113 , and thus the position of the second electrode 113 disposed between the separators 112 can be effectively photographed through a perspective view.
  • the step (b) further includes a step of determining that the measured A1 is located within the input set value as normal, and determining that the measured A1 is located outside the set value as defective. That is, the step (b) further includes a step of inspecting whether the basic unit is defective, and checks whether there is a defect by checking a stacking error between the first electrode 111 and the second electrode 113 stacked up and down. do.
  • step (b) when the measured A1 is located within the input set value, the reference point of the first electrode 111 and the reference point of the second electrode 113 are stacked on the same vertical line. It is determined, and if the measured A1 is located outside the input set value, the reference point of the first electrode 111 and the reference point of the second electrode 113 are not stacked on the same vertical line, and thus it is determined that the stack is defective.
  • step (b) further includes a step of removing the first basic unit 110A from being transferred to the second setting position H2 when it is determined that the first basic unit 110A is defective at the first setting position H1. That is, in step (b), the first basic unit 110A determined to be defective is removed so that the electrode assembly is not manufactured as the defective basic unit.
  • the first measuring member 400 is the first electrode 111 full width end and the second electrode 113 full width of the first basic unit 100A transferred to the first set position H1 using a vision alignment inspection machine. Measure the distance (A1) between the ends.
  • the Vision Alignment Inspector uses a camera to measure the quantity, omission, location, shape, dimension, barcode, and external defects of the product by taking an image of the product, and using the captured image, it is difficult to check the difficult precision defects with the human eye. can all be detected.
  • the input setting value may be 1.0 mm or less. That is, when A1 is greater than or equal to 1.0 mm, there is a possibility that a short circuit may occur due to a lamination defect of the first electrode 111 and the second electrode 113 . Accordingly, in step (b), only the basic unit having an A1 of 1.0 mm or less is transferred to the second setting position H2 to prevent a defective electrode assembly from being manufactured.
  • step (b) further includes a D measuring process, wherein the D measuring process is the full length of the first electrode 111 in the image taken by the first measuring member 400 as shown in FIG. 4B .
  • the distance D1 between the full-length end, which is the end in the direction y, and the full-length end, which is the end in the full-length direction (y) of the second electrode 113 is measured.
  • the D1 denotes a distance from the full-length end of the first electrode 111 to the full-length end of the second electrode 113 .
  • step (b) is characterized in that it is determined as normal when the measured A1 and D1 are located within the input set values, and includes a process of determining whether the measured A1 and D1 are located outside the set value. Due to such a characteristic, it is possible to prevent a defective electrode assembly from being manufactured by checking in advance whether the basic unit is defective.
  • step (b) is characterized in that, if the basic unit is judged to be defective at the first setting position, it further includes a step of removing it so as not to be transferred to the second setting position. Due to such a characteristic, it is possible to prevent stacking of defective basic units.
  • Step (c) includes a B1 measuring process, and as shown in FIGS. 5 and 6A , when the first basic unit 110A of which A1 is measured is transferred to the second set position H2, , by using the second measuring member 500 to measure the distance B1 from the reference point O of the second setting position H2 to the end of the full width of the first electrode 111 of the first basic unit 110A.
  • the step (c) further includes a step of checking whether the reference point O of the second installation position H2 matches the reference point of the first basic unit 110A, as shown in FIGS. 7 and 8 . do. That is, in step (c), if the reference point O of the second installation position H2 coincides with the reference point Oa of the first basic unit 110A, it is determined as normal, and the reference point of the second installation position H2 ( O) and the reference point Oa of the first basic unit 110A do not match, it is determined as defective. In particular, in step (c), when the reference point O of the second installation position H2 and the reference point Oa of the first basic unit 110A do not match, the first basic unit 110A is removed using the transfer member 300 .
  • the reference point Oa of the first basic unit 110A may be a point where a line corresponding to the first basic unit 110A in the full width direction (x) and a line corresponding to the corresponding equal in the full length direction (y) intersect the first basic unit 110A. have. Accordingly, the measured value of the basic unit transferred to the second installation position H2 can be uniformly measured.
  • the reference line of the first and second electrodes 111 and 113 may be an equal line corresponding to the first and second electrodes 111 and 113 in the width direction.
  • step (c) includes a process of measuring E1, in which, as shown in FIGS. 5 and 6B , the first basic unit 110A of which D1 is measured is located at the second set position H2.
  • the distance E1 is measured from the reference point O of the second setting position H2 to the full length end of the first electrode 111 of the first basic unit 110A by using the second measuring member 500 .
  • step (d) the second basic unit is transferred to the second set position (H2) through the first set position (H1) on top of the first base unit 110A, where B1 is measured ( 110B) is laminated. Accordingly, a laminate in which the second basic unit 110B and the first basic unit 110A are vertically disposed at the second set position H2 may be manufactured.
  • the second basic unit 110B includes the full-width end of the first electrode 111 (the right end of the first electrode as seen in FIG. 10A ) and the second portion provided in the second basic unit 100B at the first setting position H1 .
  • the distance A2 between the full-width ends of the electrodes 113 (the right ends of the second electrode as seen in FIG. 10A ) is measured.
  • the distance D2 between the full-length end of the first electrode 111 and the full-length end of the second electrode 113 at the first set position H1 is measured.
  • Step (e) includes a process for measuring B2, and the process for measuring B2 is, as shown in FIG. 10A , the first electrode of the second basic unit 100B from the reference point O of the second set position H2 ( 111) Measure the distance (B2) to the end of the full width.
  • step (e) includes a process of measuring E2, and as shown in FIG. 10B , the process of measuring E2 is the first of the second basic unit 100B from the reference point O of the second set position H2. Measure the distance E2 to the end of the electrode 111 full length.
  • Step (f) includes a C1 measurement process, wherein the C1 measurement process adds B2 and A2 of the second basic unit 110B, and then subtracts B1 of the first basic unit 110A to obtain the first electrode of the first basic unit 110A.
  • Step (111) A distance C1 between the end of the full width and the end of the full width of the second electrode 113 of the second basic unit 110B is measured.
  • step (f) includes the F1 measurement process, and the F1 measurement process adds E2 and D2 of the second basic unit 110B, and then subtracts E1 of the first basic unit 110A to obtain the first basic unit 110A.
  • the distance F1 between the full-length end of the first electrode 111 and the full-length end of the second electrode 113 of the second basic unit 110B is measured.
  • Step (g) includes a full-width inspection step of inspecting alignment in the full width direction (x) of the first basic unit and the second basic unit, wherein the full-width inspection step compares C1 with A1 of the first basic unit 110A, If it is located within the input error value, it is determined as normal lamination, and if it is located outside the input error value, it is determined as defective lamination.
  • the error value may be 0.1 to 2 mm.
  • step (g) if the C1 and A1 of the first basic unit 110A are located within the error value, the full-width end of the first electrode 111 of the first basic unit 110A and the second basic unit 110B) The full-width end of the second electrode 113 is located on the same vertical line, and thus it is determined as a normal stacking. And when C1 and A1 of the first basic unit 110A are located outside the error value, the full width end of the first electrode 111 of the first basic unit 110A and the full width end of the second electrode 113 of the second basic unit 110B are It is judged to be defective as it is greatly separated.
  • step (g) if C1 and A1 of the first basic unit 110A are different, the second basic unit 110B is positioned by the error value of C1 and A1 of the first basic unit 110A , and thus the stacking alignment degree of the first basic unit 110A and the second basic unit 110B in the full width direction may be increased.
  • step (g) includes a full-length inspection step of inspecting the alignment of the first and second basic units in the full-length direction (y), and the full-length inspection step compares F1 with D1 of the first basic unit 110A. After that, if it is located within the input error value, it is determined as normal lamination, and if it is located outside, it is determined as defective lamination.
  • step (g) if the F1 and D1 of the first basic unit 110A are within the error values, the full-length end of the first electrode 111 of the first basic unit 110A and the second basic unit 110B) The full-length end of the second electrode 113 is located on the same vertical line, and thus it is determined as a normal stacking. And when F1 and D1 of the first basic unit 110A are located outside the error value, the full-length end of the first electrode 111 of the first basic unit 110A and the full-length end of the second electrode 113 of the second basic unit 110B are It is judged to be defective as it is greatly separated.
  • the full-length inspection process in step (g) includes a step of adjusting the position of the second basic unit 110B by the error value of F1 and D1 if D1 of the first basic unit 110A is different from F1, Accordingly, the stacking alignment degree of the first basic unit 110A and the second basic unit 110B in the longitudinal direction y may be increased.
  • the step (g) further includes a step of bonding the first basic unit 110A and the second basic unit 110B when it is determined that the stacking is normal in the full-width inspection process and the full-length inspection process, thereby preventing the occurrence of meandering defects. prevent.
  • the bonding force between the first basic unit 110A and the second basic unit 110B is weaker than the bonding strength between the electrode and the separator provided in the first basic unit 110A and the second basic unit 110B. Accordingly, even when the first basic unit 110A and the second basic unit 110B are separated, the separation of the electrode and the separator provided in the first basic unit 110A and the second basic unit 110B can be prevented.
  • the steps (h), (i), (j) and (k) may be further included.
  • step (h) after step (g), the n-th basic unit 110N transferred to the second setting position H2 through the first setting position H1 is stacked on top of the second basic unit 110B. .
  • the n-th basic unit 110N includes the full-width end of the first electrode 111 provided in the n-th basic unit 100N at the first setting position H1 (the right end of the first electrode as seen in FIG. 11A ) and A distance An is measured between the ends of the full width of the second electrode 113 (the right end of the second electrode when viewed in FIG. 11A ).
  • step (h) the full-length end (the right end of the first electrode as seen in FIG. 11B ) and the second electrode provided in the n-th basic unit 100N at the first setting position H1 The distance Dn between the full length ends of (113) (the right end of the second electrode as seen in FIG. 11B) is measured.
  • Step (i) includes a Bn measuring process.
  • the Bn measuring process is from the reference point O of the second set position H2 to the end of the first electrode 111 of the nth basic unit 110N. Measure the distance (Bn) to
  • step (i) includes an En measuring process, and referring to FIG. 11B , the first electrode 111 of the nth basic unit 110N from the reference point O of the second set position H2. Measure the distance (En) to the end.
  • Step (j) includes a Cn measurement process, wherein the Cn measurement process adds Bn and An of the nth basic unit 110N, and then subtracts B2 of the second basic unit 110B to obtain the first value of the second basic unit 110B.
  • the distance Cn between the end of the full width of the electrode 111 and the end of the full width of the second electrode 113 of the n-th basic unit 110N is measured.
  • step (j) includes the Fn measurement process, and the Fn measurement process adds En and Dn of the nth basic unit 110N, and then subtracts E2 of the second basic unit 110B to obtain the second basic unit 110B.
  • the distance Fn between the full-length end of the first electrode 111 and the full-length end of the second electrode 113 of the n-th basic unit 110N is measured.
  • Step (k) includes a full-width inspection step of checking the alignment of the second basic unit and the n-th basic unit in the full width direction, wherein the full-width inspection step compares Cn with A2 of the second basic unit 110B, If it is located within the specified error value, it is judged as normal lamination, and if it is located outside, it is judged as defective lamination.
  • the criterion for judging normal or bad is the same as in step (g) described above.
  • step (k) includes a full-length inspection step of checking the alignment of the second basic unit and the n-th basic unit in the full-length direction, and the full-length inspection step is performed after preparing Fn and D2 of the second basic unit 110B. , if it is located within the input error value, it is judged as normal lamination, and if it is located outside the input error value, it is determined as defective lamination. On the other hand, the criterion for judging normal or bad is the same as in step (g) described above.
  • the electrode assembly 100 having an increased stacking alignment degree can be manufactured by stacking the plurality of basic units 110 in the vertical direction as described above.
  • the secondary battery manufacturing method includes (A) manufacturing an electrode assembly 100, and (B) attaching the electrode assembly 100 to a battery case ( 120), and injecting an electrolyte into the battery case 120 to manufacture the secondary battery 10.
  • step (A) is the same as the method for manufacturing the electrode assembly according to the first embodiment described above, and thus overlapping description will be omitted.
  • the occurrence of defects can be greatly reduced, and the marketability can be increased by manufacturing the secondary battery 10 including the electrode assembly 100 having an increased alignment.

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Abstract

본 발명은 전극조립체 제조방법으로서, (a) 복수개의 기본단위체를 하나씩 제1 설정위치에서 제2 설정위치까지 이송하는 단계; (b) 기본단위체에 구비된 제1 전극의 전폭방향으로 끝단인 전폭 끝단과 제2 전극의 전폭방향으로 끝단인 전폭 끝단 사이의 거리를 측정하는 단계; (c) 제2 설정위치의 기준점(O)으로부터 기본단위체의 제1 전극 전폭 끝단까지 거리(B1)를 측정하는 단계; (d) 첫번째 기본단위체의 상부에 두번째 기본단위체를 적층하는 단계; (e) 제2 설정위치의 기준점(O)으로부터 두번째 기본단위체의 제1 전극 전폭 끝단까지 거리(B2)를 측정하는 단계; (f) B2와 A2를 더한 다음, B1을 빼서 첫번째 기본단위체의 제1 전극 전폭 끝단과 두번째 기본단위체의 제2 전극 전폭 끝단 사이의 거리(C1)를 측정하는 단계; 및 (g) 상기 C1과 A1을 대비하여 불량 적층을 판단하는 단계를 포함한다.

Description

전극조립체 제조방법 및 제조장치, 그를 포함한 이차전지 제조방법
관련출원과의 상호인용
본 출원은 2019년 12월 06일자 한국특허출원 제10-2019-0161729호 및 2020년 11월 18일자 한국특허출원 제10-2020-0154997호에 기초한 우선권의 이익을 주장하며, 해당 한국특허출원의 문헌에 개시된 모든 내용은 본 명세서의 일부로서 포함된다.
기술분야
본 발명은 적층 정렬도를 높일 수 있는 전극조립체 제조방법 및 제조장치, 그를 포함한 이차전지 제조방법에 관한 것이다.
일반적으로 이차전지(secondary battery)는 충전이 불가능한 일차 전지와는 달리 충전 및 방전이 가능한 전지를 말하며, 이러한 이차전지는 폰, 노트북 컴퓨터 및 캠코더 등의 첨단 전자 기기 분야에서 널리 사용되고 있다.
상기한 이차전지는 전극조립체가 금속 캔에 내장되는 캔형 이차전지와, 전극조립체가 파우치에 내장되는 파우치형 이차전지로 분류되고, 상기 전극조립체는 스택형 구조, 권취형(젤리롤형) 구조 또는 스택/폴딩형 구조로 분류되며, 상기 스택형 전극조립체는 복수개의 기본단위체가 적층되는 구조를 가진다.
그러나 상기한 스택형 전극조립체는 복수개의 기본단위체가 균일하게 적층되지 못하는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 발명된 것으로, 본 발명은 기본단위체의 위치 측정을 통해 적층 정렬도를 높일 수 있는 전극조립체 제조방법 및 제조장치, 그를 포함한 이차전지 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 전극조립체 제조방법은 (a) 제1 전극, 분리막, 제2 전극 및 분리막이 순차적으로 적층된 복수개의 기본단위체를 하나씩 제1 설정위치에서 제2 설정위치까지 이송하는 단계; (b) 제1 설정위치에서 기본단위체를 촬영하고, 촬영된 첫번째 기본단위체에 구비된 제1 전극의 전폭방향으로 끝단인 전폭 끝단과 제2 전극의 전폭방향으로 끝단인 전폭 끝단 사이의 거리(A1), 촬영된 두번째 기본단위체에 구비된 제1 전극의 전폭방향으로 끝단인 전폭 끝단과 제2 전극의 전폭방향으로 끝단인 전폭 끝단 사이의 거리(A2), 촬영된 n번째 기본단위체에 구비된 제1 전극의 전폭방향으로 끝단인 전폭 끝단과 제2 전극의 전폭방향으로 끝단인 전폭 끝단 사이의 거리(An)를 측정하는 A 측정공정을 구비하는 단계; (c) A1이 측정된 첫번째 기본단위체가 제2 설정 위치에 이송되면, 제2 설정위치의 기준점(O)으로부터 첫번째 기본단위체의 제1 전극 전폭 끝단까지 거리(B1)를 측정하는 B1 측정공정을 구비하는 단계; (d) 첫번째 기본단위체의 상부에 제1 설정위치를 통해 제2 설정 위치에 이송되는 두번째 기본단위체를 적층하는 단계; (e) 제2 설정위치의 기준점(O)으로부터 두번째 기본단위체의 제1 전극 전폭 끝단까지 거리(B2)를 측정하는 B2 측정공정을 구비하는 단계; (f) B2와 A2를 더한 다음, B1을 빼서 첫번째 기본단위체의 제1 전극 전폭 끝단과 두번째 기본단위체의 제2 전극 전폭 끝단 사이의 거리(C1)를 측정하는 C1 측정공정을 구비하는 단계; 및 (g) 상기 C1과 A1을 대비한 후, 입력된 오차값 내에 위치하면 정상 적층으로 판단하고, 외에 위치하면 불량 적층으로 판단하는 전폭검사공정을 구비하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 (b) 단계는 A 측정공정에서 측정된 A1이 입력된 설정값 내에 위치하면, 정상으로 판단하고, 외에 위치하면 불량으로 판단하는 공정을 더 포함할 수 있다.
상기 (b) 단계는 제1 설정위치에서 기본단위체가 불량으로 판단되면, 제2 설정위치로 이송되지 않도록 제거하는 공정을 더 포함할 수 있다.
상기 (b) 단계는 비전 얼라인 검사기를 이용하여 제1 설정위치에서 기본단위체의 제1 전극 전폭 끝단과 제2 전극의 전폭 끝단 사이의 거리를 측정할 수 있다.
상기 (c) 단계는 제2 설치위치의 기준점(O)과 기본단위체의 기준점의 일치 여부를 검사하는 공정을 더 포함하고, 상기 기본단위체의 기준점은 상기 기본단위체의 전폭방향으로 대응되게 균등하는 선과 전장방향으로 대응되게 균등하는 선이 교차하는 지점일 수 있다.
상기 (c) 단계는 제2 설치위치의 기준점(O)과 기본단위체의 기준점이 불일치하면, 기본단위체를 이동시켜서 제2 설치위치의 기준점(O)과 기본단위체의 기준점을 일치시키는 공정을 더 포함할 수 있다.
상기 (g) 단계는 전폭 검사공정에서 불량 적층으로 판단되면, 상기 C1과 첫번째 기본단위체의 A1을 대비한 차이값만큼 두번째 기본단위체의 위치를 조절하는 공정을 더 포함할 수 있다.
상기 (a) 단계에서 상기 제1 전극은 제2 전극 보다 작은 면적을 가질 수 있다.
상기 (g) 단계는 정상 적층으로 판단되면, 첫번째 기본단위체와 두번째 기본단위체를 접합하는 공정을 더 포함할 수 있다.
(h) 상기 (g) 단계 후, 두번째 기본단위체의 상부에 제1 설정위치를 통해 제2 설정 위치에 이송되는 n번째 기본단위체를 적층하는 단계; (i) 제2 설정위치의 기준점(O)으로부터 n번째 기본단위체의 제1 전극 전폭끝단까지 전폭거리(Bn)를 측정하는 Bn 측정공정을 구비하는 단계; (j) n번째 기본단위체의 Bn와 An을 더한 다음, 두번째 기본단위체의 B2를 빼서 두번째 기본단위체의 제1 전극 전폭 끝단과 n번째 기본단위체의 제2 전극 전폭 끝단 사이의 거리(Cn)를 측정하는 Cn 측정공정을 구비하는 단계; 및 (k) 상기 Cn과 두번째 기본단위체의 A2을 대비한 후, 입력된 오차값 내에 위치하면 정상 적층으로 판단하고, 외에 위치하면 불량 적층으로 판단하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 (b) 단계는, 촬영된 첫번째 기본단위체에 구비된 제1 전극의 전장방향으로 끝단인 전장 끝단과 제2 전극의 전장방향으로 끝단인 전장 끝단 사이의 거리(D1), 촬영된 두번째 기본단위체에 구비된 제1 전극의 전장방향으로 끝단인 전장 끝단과 제2 전극의 전장방향으로 끝단인 전장 끝단 사이의 거리(D2), 촬영된 n번째 기본단위체에 구비된 제1 전극의 전장방향으로 끝단인 전장 끝단과 제2 전극의 전장방향으로 끝단인 전장 끝단 사이의 거리(Dn)를 측정하는 D 측정공정을 더 포함하고, 상기 (c) 단계는, 첫번째 기본단위체가 제2 설정 위치에 이송되면, 제2 설정위치의 기준점(O)으로부터 첫번째 기본단위체의 제1 전극 전장끝단까지 거리(E1)를 측정하는 E1 측정공정을 더 포함하며, 상기 (e) 단계는, 제2 설정위치의 기준점(O)으로부터 두번째 기본단위체의 제1 전극 전장 끝단까지 거리(E2)를 측정하는 E2 측정공정을 더 포함하고, 상기 (f) 단계는, 두번째 기본단위체의 E2와 D2를 더한 다음, E1을 빼서 첫번째 기본단위체의 제1 전극 전장 끝단과 두번째 기본단위체의 제2 전극 전장 끝단 사이의 거리(F1)를 측정하는 F1 측정공정을 더 포함하며, 상기 (g) 단계는, 상기 F1과 첫번째 기본단위체의 D1을 대비한 후, 입력된 오차값 내에 위치하면 정상 적층으로 판단하고, 외에 위치하면 불량 적층으로 판단하는 전장 검사공정을 더 포함할 수 있다.
상기 (g) 단계는, 상기 전장검사공정에서 불량 적층으로 판단되면, 상기 F1과 첫번째 기본단위체의 D1를 대비한 차이값만큼 두번째 기본단위체의 위치를 조절하는 공정을 더 포함할 수 있다.
상기 (i) 단계는 제2 설정위치의 기준점(O)으로부터 n번째 기본단위체의 제1 전극 전장끝단까지 거리(En)를 측정하는 En 측정공정을 더 포함하고, 상기 (j) 단계는 n번째 기본단위체의 En와 Dn을 더한 다음, 두번째 기본단위체의 D2를 빼서 두번째 기본단위체의 제1 전극 전장 끝단과 n번째 기본단위체의 제2 전극 전장 끝단 사이의 거리(Fn)를 측정하는 Fn 측정공정을 더 포함하며, 상기 (k) 단계는 상기 Fn과 두번째 기본단위체의 D2을 대비한 후, 입력된 오차값 내에 위치하면 정상 적층으로 판단하고, 외에 위치하면 불량 적층으로 판단하는 공정을 더 포함할 수 있다.
한편, 본 발명의 이차전지 제조방법은 (A)청구항 1에 의해 전극조립체를 제조하는 단계; 및 (B)상기 전극조립체를 전지케이스에 수용하고, 전지케이스에 전해액을 주입하여 이차전지를 제조하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 전극조립체 제조장치는 제1 전극, 분리막, 제2 전극 및 분리막이 순차적으로 적층된 복수개의 기본단위체가 상하방향을 따라 적재되는 적재함; 상기 적재함에 적재된 기본단위체 중 최상단에 적재된 기본단위체를 제1 설정위치(H1)로 이송하고, 다시 제1 설정위치(H1)에 있는 기본단위체를 제2 설정위치(H2)로 이송하는 이송부재; 상기 제1 설정위치(H1)에 있는 첫번째 이송된 기본단위체에 구비된 제1 전극의 끝단에서 제2 전극의 끝단까지의 거리(A1)와, 두번째 이송된 기본단위체에 구비된 제1 전극의 끝단에서 제2 전극의 끝단까지의 거리(A2)를 측정하는 제1 측정부재; 및 제2 설정위치(H2)에 이송된 첫번째 이송된 기본단위체를 측정하되, 제2 설정위치(H2)의 기준점(O)으로부터 첫번째 이송된 기본단위체의 제1 전극 끝단까지 거리(B1)를 측정하고, 제2 설정위치(H2)의 기준점(O)으로부터 첫번째 이송된 기본단위체의 상측에 적층되는 두번째 이송된 기본단위체의 제1 전극 끝단까지 거리(B2)를 측정하며, 두번째 이송된 기본단위체의 B2와 A2를 더한 다음, 첫번째 이송된 기본단위체의 B1을 빼서 첫번째 이송된 기본단위체의 제1 전극 끝단과 두번째 이송된 기본단위체의 제2 전극 끝단 사이의 거리(C1)를 측정하고, 상기 C1과 첫번째 이송된 기본단위체의 A1을 대비한 차이값이 입력된 오차값 내에 위치하면 정상 적층으로 판단하고, 외에 위치하면 불량 적층으로 판단하는 제2 측정부재를 포함할 수 있다.
본 발명의 전극조립체 제조방법은 상호 적층되는 기본단위체의 적층 불량을 확인할 수 있고, 특히 적층 불량시 오차값만큼 기본단위체의 위치를 변경하여 적층 정렬도를 높일 수 있다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체를 도시한 측면도.
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조장치를 도시한 도면.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조방법을 나타낸 순서도.
도 4a 및 도 4b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조방법의 (b)단계를 나타낸 측면도.
도 5는 도 4a의 평면도.
도 6a 및 도 6b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조방법의 (c) 단계를 나타낸 측면도.
도 7은 도 6a의 평면도.
도 8은 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조방법의 (c) 단계에서 위치를 보정하는 공정을 나타낸 측면도.
도 9는 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조방법의 (d) 단계를 나타낸 측면도.
도 10a 및 도 10b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조방법의 (e), (f) 및 (g) 단계를 나타낸 측면도.
도 11a 및 도 11b는 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조방법의 (h), (i), (j) 및 (k) 단계를 나타낸 측면도.
도 12는 본 발명의 제2 실시예에 따른 이차전지를 도시한 단면도.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
[본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체]
본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체(100)는 도 1에 도시되어 있는 것과 같이, 서로 동일한 개수의 전극과 분리막이 교대로 배치되어 일체로 결합된 기본 단위체(110)가 반복적으로 배치된 구조를 가진다.
일례로, 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체(100)는 상하방향으로 적층되는 복수개의 기본단위체(110)를 포함하고, 상기 기본단위체(110)는 제1 전극(111), 분리막(112), 제2 전극(113) 및 분리막(112)이 순차적으로 적층된 4층 구조를 가진다.
이때 제1 전극(111)과 제2 전극(113)은 서로 반대되는 전극이다. 예를 들어, 제1 전극(111)이 양극이면 제2 전극(113)은 음극이다. 그리고 제1 전극(111)은 제2 전극(113) 보다 작은 면적을 가진다.
이와 같은 적층 구조를 가진 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체(100)는 전극조립체 제조장치를 통해 제조된다.
[본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조장치]
본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조장치는 도 2에 도시되어 있는 것과 같이, 복수개의 기본단위체를 상하방향을 따라 적층하되, 동일한 위치에 정렬되게 적층할 수 있는 것으로, 적재함(200), 이송부재(300), 제1 측정부재(400), 제2 측정부재(500)를 포함한다.
적재함
적재함(200)은 복수개의 기본단위체(110)를 상하방향을 따라 적재하기 위한 것으로, 상부방향으로 개방된 적재공간이 형성되고, 상기 적재공간에 복수개의 기본단위체(110)가 적재된다.
이송부재
이송부재(300)는 적재함(200)에 적재된 기본단위체(110) 중 최상단에 적재된 기본단위체(110)를 상기 적재함(200) 밖으로 인출한 다음, 제1 설정위치(H1)로 이송하고, 다시 제1 설정위치(H1)에 있는 기본단위체(110)를 제2 설정위치(H2)로 이송한다. 여기서 이송부재(300)는 그리퍼 또는 컨베이어벨트일 수 있다.
제1 측정부재
제1 측정부재(400)는 제1 설정위치(H1)에 있는 기본단위체(110)의 위치를 측정하기 위한 것으로, 제1 조명부(410)와 제1 측정부(420)를 포함한다.
상기 제1 조명부(410)는 제1 설정위치(H1)에 있는 기본단위체(110)의 저면에 구비되고, 기본단위체(110)의 저면을 향해 빛을 조사하여 조명한다. 그러면 제1 조명부(410)의 빛에 의해 제2 전극(113)이 최상단에 위치한 분리막(112)에 비치게 되고, 이에 따라 분리막(112) 사이에 배치된 제2 전극(113)의 위치를 확인할 수 있다.
상기 제1 측정부(420)는 제1 설정위치(H1)에 이송된 기본단위체를 측정하기 위한 것으로, 제1 설정위치(H1)에 있는 첫번째 이송된 기본단위체(110)(이하, 기본단위체)의 상부에 구비되고 기본단위체(110)의 상부를 촬영하며, 촬영된 영상에서 제1 전극(111)의 끝단과 분리막(112)에 표시된 제2 전극(113)의 끝단 사이의 거리(A1)를 측정한다.
즉, 상기 제1 측정부(420)는 제1 설정위치(H1)에 있는 기본단위체(110)의 상부를 촬영하고, 촬영된 기본단위체(110)의 상면 영상에서 제1 전극(111)의 끝단에서 제2 전극(113)의 끝단까지의 거리(A1)를 측정한다. 이때 상기 제1 측정부(420)는 측정된 A1이 입력된 설정값 내에 위치하면, 정상으로 판단하고, 입력된 설정값 외에 위치하면 불량으로 판단한다. 특히 상기 제1 측정부(420)는 불량으로 판단하면 제1 설정위치(H1)에 있는 불량 기본단위체(110)를 제2 설정위치(H2)로 이송되지 않게 제거한다.
한편, 상기 제1 측정부(420)는 제1 설정위치(H1)에 두번째로 이송된 두번째 기본단위체의 제1 전극(111)의 끝단과 분리막(112)에 표시된 제2 전극(113)의 끝단 사이의 거리(A2)와, 제1 설정위치(H1)에 n번째로 이송된 n번째 기본단위체의 제1 전극(111)의 끝단과 분리막(112)에 표시된 제2 전극(113)의 끝단 사이의 거리(An)를 연속하여 측정한다.
제2 측정부재
제2 측정부재(500)는 제2 설정위치(H2)에 이송된 기본단위체(110)를 측정하기 위한 것으로, 제2 조명부(510)와 제2 측정부(520)를 포함한다.
상기 제2 조명부(510)는 제2 설정위치(H2)에 이송된 기본단위체(110)의 하부에 구비되고 제2 설정위치(H2)에 이송된 기본단위체(110)를 향해 빛을 조사하여 조명한다.
상기 제2 측정부(520)는 제2 설정위치(H2)에 이송된 기본단위체(110)를 측정하기 위한 것으로, 제2 설정위치(H2)의 기준점(O)으로부터 첫번째 기본단위체(110)의 제1 전극(111) 끝단까지 거리(B1)를 측정하고, 제2 설정위치(H2)의 기준점(O)으로부터 첫번째 기본단위체의 상측에 적층된 두번째 이송된 기본단위체(이하, 두번째 기본단위체라 함)의 제1 전극(111) 끝단까지 거리(B2)를 측정하며, 두번째 기본단위체(110)의 B2와 A2를 더한 다음, 첫번째 기본단위체(110)의 B1을 빼서 첫번째 기본단위체(110)의 제1 전극(111) 끝단과 두번째 기본단위체(110)의 제2 전극(113) 끝단 사이의 거리(C1)를 측정하고, 상기 C1과 첫번째 기본단위체의 A1을 대비한 차이값이 입력된 오차값 내에 위치하면 정상 적층으로 판단하고, 외에 위치하면 불량 적층으로 판단한다.
즉, 상기 제2 측정부재(500)는 제2 조명부(510)와 제2 측정부(520)를 통해 제2 설정위치(H2)에 순차적으로 적층되는 기본단위체(110)의 적층 정렬도를 측정할 수 있으며, 특히 적층 오차가 발생하면 오차값만큼 두번째 기본단위체의 위치를 조절하여 적층 정렬도를 높일 수 있다.
따라서 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조장치는 기본단위체(110)를 동일한 위치에 순차적으로 적층할 수 있으며, 그 결과 적층 정렬도를 높일 수 있다.
이하, 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조장치를 이용한 제조방법을 설명한다.
[본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조방법]
본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조방법은 도 3 내지 도 11b에 도시되어 있는 것과 같이, (a)기본단위체 이송단계, (b)제1 설정위치에 있는 기본단위체 측정단계, (c) 제2 설정위치와 첫번째 기본단위체 사이의 거리 측정단계, (d)첫번째 기본단위체와 두번째 기본단위체 적층 단계, (e) 제2 설정위치와 두번째 기본단위체 사이의 거리 측정단계, (f)첫번째 기본단위체와 두번째 기본단위체 사이의 거리를 측정하는 단계, (g)첫번째 기본단위체의 측정값과 두번째 기본단위체의 측정값을 대비하여 불량여부를 판단하는 단계를 포함한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하면 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조방법을 상세히 설명한다. 한편, 도 1에 표시된 x가 기본단위체의 전폭방향이고, y가 기본단위체의 전장방향이다.
(a) 단계
상기 (a) 단계는 도 2를 참조하면, 적재함(200)에 적재된 복수개의 기본단위체(110)를 이송부재(300)를 이용하여 하나씩 제1 설정위치(H1)에서 제2 설정위치(H2)까지 이송한다. 일례로, 상기 (a) 단계는 적재함(200)에 적재된 복수개의 기본단위체(110) 중 최상단에 적재된 첫번째 기본단위체(110)를 제1 설정위치(H1)까지 이송하고, 설정시간 후 제1 설정위치(H1)에 있는 기본단위체(110)를 제2 설정위치(H2)까지 이송한다. 다음으로 복수개의 기본단위체(110) 중 최상단에 적재된 두번째 기본단위체(110)를 제1 설정위치(H1)까지 이송하고, 설정시간 후 제1 설정위치(H1)에 있는 두번째 기본단위체(110)를 제2 설정위치(H2)까지 이송한다. 다음으로 복수개의 기본단위체(110) 중 최상단에 적재된 n번째 기본단위체(110)를 제1 설정위치(H1)까지 이송하고, 설정시간 후 제1 설정위치(H1)에 있는 n번째 기본단위체(110)를 제2 설정위치(H2)까지 이송한다. 이와 같은 방법으로 상기 (a) 단계는 적재함(200)에 적재된 기본단위체(110)를 모두 이송한다.
이때 상기 (a) 단계는 제2 설정위치(H2)에 첫번째 기본단위체(110)가 있을 경우 그 위에 두번째 기본단위체(110)를 적층하는 방법으로, n번째 기본단위체(110)까지 적층한다. 이에 따라 제2 설정위치(H2)에는 첫번째 기본단위체, 두번째 기본단위체, n번째 기본단위체가 하에서 상으로 적층되는 전극조립체가 제조된다.
한편, 기본단위체(100)는 제1 전극(111), 분리막(112), 제2 전극(113) 및 분리막(112)이 순차적으로 적층된 4층 구조를 가진다.
이하, 설명의 명확성을 위해 적재함(200)에서 첫번째로 인출되는 기본단위체를 첫번째 기본단위체라 하고 도면부호 110A를 사용한다. 그리고 적재함(200)에서 두번째로 인출되어 첫번째 기본단위체(100A)의 상부에 적층되는 기본단위체를 두번째 기본단위체라 하고 도면부호 110B를 사용한다. 그리고 적재함(200)에서 n번째로 인출되어 두번째 기본단위체(100B)의 상부에 적층되는 기본단위체를 n번째 기본단위체라 하고 도면부호 110N을 사용한다.
한편, 제1 설정위치(H1)와 제2 설정위치(H2)에는 기본단위체를 배치하기 위한 배치판이 구비되며, 상기 배치판을 통해 기본단위체를 안정적으로 배치할 수 있다.
따라서 상기 (a) 단계는 적재함(200)에 적재된 복수개의 기본단위체 중 첫번째 기본단위체(110A)를 제1 설정위치(H1)에서 제2 설정위치(H2)까지 이송하는 한다.
(b) 단계
(b) 단계는 A 측정공정을 포함하고, 상기 A 측정공정은 도 4a에 도시되어 있는 것과 같이, 제1 측정부재(400)를 이용하여 제1 설정위치(H1)에 이송된 기본단위체, 즉 첫번째 기본단위체(100A)를 촬영하고, 촬영된 영상에서 첫번째 기본단위체(100A)에 구비된 제1 전극(111)의 전폭방향(x)으로 끝단(도 4a에서 보았을 때 제1 전극의 우측 끝단)인 전폭 끝단과 제2 전극(113)의 전폭방향(x)으로 끝단(도 4a에서 보았을 때 제2 전극의 우측 끝단)인 전폭 끝단 사이의 거리(A1)를 측정한다.
즉, 상기 A1은 첫번째 기본단위체에 구비된 제1 전극(111)의 전폭 끝단에서 제2 전극(113)의 전폭 끝단까지 거리를 말한다.
이때 제1 전극(111)은 제2 전극(113) 보다 작은 면적을 가지며, 이에 따라 분리막(112) 사이에 배치된 제2 전극(113)의 위치를 효과적으로 투시 촬영할 수 있다.
여기서 상기 (b)단계는 측정된 A1이 입력된 설정값 내에 위치하면, 정상으로 판단하고, 설정값 외에 위치하면 불량으로 판단하는 공정을 더 포함한다. 즉 상기 (b)단계는 기본단위체의 불량여부를 검사하는 공정을 더 포함하는 것으로, 상하로 적층된 제1 전극(111)과 제2 전극(113) 사이의 적층 오차를 확인하여 불량여부를 검사한다.
보다 구체적으로 설명하면, 상기 (b)단계는 측정된 A1이 입력된 설정값 내에 위치하면 제1 전극(111)의 기준점과 제2 전극(113)의 기준점이 동일한 수직선 상에 적층된 정상 적층으로 판단하고, 측정된 A1이 입력된 설정값 외에 위치하면 제1 전극(111)의 기준점과 제2 전극(113)의 기준점이 동일한 수직선 상에 적층되지 않았기에 불량 적층으로 판단한다.
한편, 상기 (b)단계는 제1 설정위치(H1)에서 첫번째 기본단위체(110A)가 불량으로 판단되면, 제2 설정위치(H2)로 이송되지 않도록 제거하는 공정을 더 포함한다. 즉, 상기 (b)단계는 불량 기본단위체로 전극조립체가 제조되지 않도록 불량으로 판명된 첫번째 기본단위체(110A)를 제거한다.
한편, 제1 측정부재(400)는 비전 얼라인 검사기를 이용하여 제1 설정위치(H1)에 이송된 첫번째 기본단위체(100A)의 제1 전극(111) 전폭 끝단과 제2 전극(113) 전폭 끝단 사이의 거리(A1)을 측정한다. 여기서 비전 얼라인 검사기는 제품의 수량, 누락, 위치, 형상, 치수, 바코드, 외관결함 등을 카메라를 이용하여 제품의 이미지를 촬영하고, 촬영된 이미지를 이용하여 사람 눈으로 확인할 수 없는 어려운 정밀 불량까지 모두 검출할 수 있다.
한편 입력된 설정값은 1.0mm 이하일 수 있다. 즉, A1이 1.0mm 이상일 경우 제1 전극(111)과 제2 전극(113)의 적층 불량으로 인해 쇼트가 발생할 가능성이 있다. 이에 따라 상기 (b)단계는 A1이 1.0mm 이하인 기본단위체만 제2 설정위치(H2)로 이송하여 불량 전극조립체가 제조되는 것을 방지한다.
한편, A 측정공정은 제1 설정위치(H1)에 두번째로 이송된 두번째 기본단위체의 제1 전극(111)의 전폭 끝단과 분리막(112)에 표시된 제2 전극(113)의 전폭 끝단 사이의 거리(A2)와, 제1 설정위치(H1)에 n번째로 이송된 n번째 기본단위체의 제1 전극(111)의 전폭 끝단과 분리막(112)에 표시된 제2 전극(113)의 전폭 끝단 사이의 거리(An)를 연속하여 측정한다.
한편, (b) 단계는 D 측정공정을 더 포함하고, 상기 D 측정공정은 도 4b에 도시되어 있는 것과 같이, 제1 측정부재(400)에 의해 촬영된 영상에서 제1 전극(111)의 전장방향(y)으로 끝단인 전장 끝단과 제2 전극(113)의 전장방향(y)으로 끝단인 전장 끝단 사이의 거리(D1)을 측정한다.
즉, 상기 D1은 제1 전극(111)의 전장 끝단에서 제2 전극(113)의 전장 끝단까지 거리를 말한다.
따라서 (b)단계는 측정된 A1 및 D1이 입력된 설정값 내에 위치하면, 정상으로 판단하고, 외에 위치하면 불량으로 판단하는 공정을 포함하는 것에 특징을 가진다. 이와 같은 특징으로 인해 기본단위체의 불량여부를 미연에 확인하여 불량 전극조립체가 제조되는 것을 방지할 수 있다.
또한, (b)단계는 제1 설정위치에서 기본단위체가 불량으로 판단되면, 제2 설정위치로 이송되지 않도록 제거하는 공정을 더 포함하는 것에 특징을 가진다. 이와 같은 특징으로 인해 불량 기본단위체가 적층되는 것을 방지할 수 있다.
한편, D 측정공정은 제1 설정위치(H1)에 두번째로 이송된 두번째 기본단위체의 제1 전극(111)의 전장 끝단과 분리막(112)에 표시된 제2 전극(113)의 전장 끝단 사이의 거리(D2)와, 제1 설정위치(H1)에 n번째로 이송된 n번째 기본단위체의 제1 전극(111)의 전장 끝단과 분리막(112)에 표시된 제2 전극(113)의 전장 끝단 사이의 거리(Dn)를 연속하여 측정한다.
(c) 단계
(c) 단계는 B1 측정공정을 포함하며, 상기 B1 측정공정은 도 5 및 도 6a에 도시되어 있는 것과 같이, A1이 측정된 첫번째 기본단위체(110A)가 제2 설정 위치(H2)에 이송되면, 제2 측정부재(500)를 이용하여 제2 설정위치(H2)의 기준점(O)으로부터 첫번째 기본단위체(110A)의 제1 전극(111) 전폭 끝단까지 거리(B1)를 측정한다.
이때 상기 (c) 단계는 도 7 및 도 8에 도시되어 있는 것과 같이, 제2 설치위치(H2)의 기준점(O)과 첫번째 기본단위체(110A)의 기준점의 일치 여부를 검사하는 공정을 더 포함한다. 즉, 상기 (c) 단계는 제2 설치위치(H2)의 기준점(O)과 첫번째 기본단위체(110A)의 기준점(Oa)이 일치하면 정상으로 판단하고, 제2 설치위치(H2)의 기준점(O)과 첫번째 기본단위체(110A)의 기준점(Oa)이 불일치하면 불량으로 판단한다. 특히 상기 (c) 단계는 제2 설치위치(H2)의 기준점(O)과 첫번째 기본단위체(110A)의 기준점(Oa)이 불일치하면, 이송부재(300)를 이용하여 첫번째 기본단위체(110A)를 제2 설치위치(H2)의 기준점(O)과 첫번째 기본단위체(110A)의 기준점(Oa) 사이의 오차값만큼 이동시키며, 이에 따라 제2 설치위치(H2)의 기준점(O)에 첫번째 기본단위체(110A)의 기준점(Oa)을 일치시킨다.
한편, 첫번째 기본단위체(110A)의 기준점(Oa)은 상기 첫번째 기본단위체(110A)를 전폭방향(x)으로 대응되게 균등하는 선과 전장방향(y)으로 대응되게 균등하는 선이 교차하는 지점일 수 있다. 이에 따라 제2 설치위치(H2)에 이송되는 기본 단위체의 측정값을 균일하게 측정할 수 있다. 물론 제1 및 제2 전극(111)(113)의 기준선은 제1 및 제2 전극(111)(113)을 폭방향으로 대응되게 균등하는 선일 수 있다.
한편, (c) 단계는 E1 측정공정을 포함하며, 상기 E1 측정공정은 도 5 및 도 6b에 도시되어 있는 것과 같이, D1이 측정된 첫번째 기본단위체(110A)가 제2 설정 위치(H2)에 이송되면, 제2 측정부재(500)를 이용하여 제2 설정위치(H2)의 기준점(O)으로부터 첫번째 기본단위체(110A)의 제1 전극(111) 전장 끝단까지 거리(E1)를 측정한다.
(d) 단계
(d) 단계는 도 9에 도시되어 있는 것과 같이, B1이 측정된 첫번째 기본단위체(110A)의 상부에 제1 설정위치(H1)를 통해 제2 설정 위치(H2)에 이송되는 두번째 기본단위체(110B)를 적층한다. 이에 따라 제2 설정 위치(H2)에는 두번째 기본단위체(110B)와 첫번째 기본단위체(110A)가 상하방향으로 배치되는 적층체를 제조할 수 있다.
이때 두번째 기본단위체(110B)는 제1 설정위치(H1)에서 두번째 기본단위체(100B)에 구비된 제1 전극(111)의 전폭 끝단(도 10a에서 보았을 때 제1 전극의 우측 끝단)과 제2 전극(113)의 전폭 끝단(도 10a에서 보았을 때 제2 전극의 우측 끝단) 사이의 거리(A2)가 측정된다.
또한, 두번째 기본단위체(110B)는 제1 설정위치(H1)에서 제1 전극(111)의 전장 끝단과 제2 전극(113)의 전장 끝단 사이의 거리(D2)가 측정된다.
(e) 단계
(e) 단계는 B2 측정공정을 포함하고, 상기 B2 측정공정은 도 10a에 도시되어있는 것과 같이, 제2 설정위치(H2)의 기준점(O)으로부터 두번째 기본단위체(100B)의 제1 전극(111) 전폭 끝단까지 거리(B2)를 측정한다.
한편, (e) 단계는 E2 측정공정을 포함하고, 상기 E2 측정공정은 도 10b에 도시되어 있는 것과 같이, 제2 설정위치(H2)의 기준점(O)으로부터 두번째 기본단위체(100B)의 제1 전극(111) 전장 끝단까지 거리(E2)를 측정한다.
(f) 단계
(f) 단계는 C1 측정공정을 포함하고, C1 측정공정은 두번째 기본단위체(110B)의 B2와 A2를 더한 다음, 첫번째 기본단위체(110A)의 B1을 빼서 첫번째 기본단위체(110A)의 제1 전극(111) 전폭 끝단과 두번째 기본단위체(110B)의 제2 전극(113) 전폭 끝단 사이의 거리(C1)를 측정한다.
즉, B2+A2-B1=C1의 계산식을 얻을 수 있다.
한편, (f) 단계는 F1 측정공정을 포함하고, F1 측정공정은 두번째 기본단위체(110B)의 E2와 D2를 더한 다음, 첫번째 기본단위체(110A)의 E1을 빼서 첫번째 기본단위체(110A)의 제1 전극(111) 전장 끝단과 두번째 기본단위체(110B)의 제2 전극(113) 전장 끝단 사이의 거리(F1)를 측정한다.
즉, E2+D2-E1=F1의 계산식을 얻을 수 있다.
(g) 단계
(g) 단계는 첫번째 기본단위체와 두번째 기본단위체의 전폭방향(x) 정렬도를 검사하는 전폭 검사공정을 포함하고, 전폭 검사공정은 상기 C1과 첫번째 기본단위체(110A)의 A1을 대비한 후, 입력된 오차값 내에 위치하면 정상 적층으로 판단하고, 외에 위치하면 불량 적층으로 판단한다. 여기서 오차값은 0.1~2mm일 수 있다.
즉, (g) 단계의 전폭 검사공정은 상기 C1과 첫번째 기본단위체(110A)의 A1이 오차값 내에 위치하면 첫번째 기본단위체(110A)의 제1 전극(111) 전폭 끝단과 두번째 기본단위체(110B)의 제2 전극(113) 전폭 끝단이 동일한 수직선 상에 위치하며, 이에 따라 정상 적층으로 판단한다. 그리고 상기 C1과 첫번째 기본단위체(110A)의 A1이 오차값 외에 위치하면 첫번째 기본단위체(110A)의 제1 전극(111) 전폭 끝단과 두번째 기본단위체(110B)의 제2 전극(113) 전폭 끝단이 크게 이격된 것으로 불량으로 판단한다.
한편, 상기 (g) 단계의 전폭 검사공정은 상기 C1와 첫번째 기본단위체(110A)의 A1이 다르면, 상기 C1과 상기 첫번째 기본단위체(110A)의 A1의 오차값만큼 두번째 기본단위체(110B)를 위치를 조절하는 공정을 포함하며, 이에 따라 첫번째 기본단위체(110A)와 두번째 기본단위체(110B)의 전폭방향으로 적층 정렬도를 높일 수 있다.
한편, (g) 단계는 첫번째 기본단위체와 두번째 기본단위체의 전장방향(y) 정렬도를 검사하는 전장 검사공정을 포함하고, 전장 검사공정은 상기 F1과 첫번째 기본단위체(110A)의 D1을 대비한 후, 입력된 오차값 내에 위치하면 정상 적층으로 판단하고, 외에 위치하면 불량 적층으로 판단한다.
즉, (g) 단계의 전장 검사공정은 상기 F1과 첫번째 기본단위체(110A)의 D1이 오차값 내에 위치하면 첫번째 기본단위체(110A)의 제1 전극(111) 전장 끝단과 두번째 기본단위체(110B)의 제2 전극(113) 전장 끝단이 동일한 수직선 상에 위치하며, 이에 따라 정상 적층으로 판단한다. 그리고 상기 F1과 첫번째 기본단위체(110A)의 D1이 오차값 외에 위치하면 첫번째 기본단위체(110A)의 제1 전극(111) 전장 끝단과 두번째 기본단위체(110B)의 제2 전극(113) 전장 끝단이 크게 이격된 것으로 불량으로 판단한다.
한편, 상기 (g) 단계의 전장 검사공정은 상기 F1와 첫번째 기본단위체(110A)의 D1이 다르면, F1과 D1의 오차값만큼 두번째 기본단위체(110B)를 위치를 조절하는 공정을 포함하며, 이에 따라 첫번째 기본단위체(110A)와 두번째 기본단위체(110B)의 전장방향(y)으로 적층 정렬도를 높일 수 있다.
한편, 상기 (g) 단계는 전폭 검사공정과 전장 검사공정에서 정상 적층으로 판단되면, 첫번째 기본단위체(110A)와 두번째 기본단위체(110B)를 접합하는 공정을 더 포함하며, 이에 따라 사행불량 발생을 방지한다.
여기서 상기 첫번째 기본단위체(110A)와 두번째 기본단위체(110B)의 접합력은 상기 첫번째 기본단위체(110A)와 두번째 기본단위체(110B) 내에 구비된 전극과 분리막 사이의 접합력 보다 약한 접합력을 가지며, 이에 따라 필요에 따라 상기 첫번째 기본단위체(110A)와 두번째 기본단위체(110B)를 분리시키더라도 상기 첫번째 기본단위체(110A)와 두번째 기본단위체(110B) 내에 구비된 전극과 분리막이 분리되는 것을 방지할 수 있다.
한편, 상기 (g) 단계 후, (h) 단계, (i) 단계, (j) 단계 및 (k) 단계를 더 포함할 수 있다.
(h) 단계
(h) 단계는 상기 (g) 단계 후, 두번째 기본단위체(110B)의 상부에 제1 설정위치(H1)를 통해 제2 설정 위치(H2)에 이송되는 n번째 기본단위체(110N)를 적층한다.
이때 n번째 기본단위체(110N)는 제1 설정위치(H1)에서 n번째 기본단위체(100N)에 구비된 제1 전극(111)의 전폭 끝단(도 11a에서 보았을 때 제1 전극의 우측 끝단)과 제2 전극(113)의 전폭 끝단(도 11a에서 보았을 때 제2 전극의 우측 끝단) 사이의 거리(An)가 측정된다.
또한 (h) 단계는 제1 설정위치(H1)에서 n번째 기본단위체(100N)에 구비된 제1 전극(111)의 전장 끝단(도 11b에서 보았을 때 제1 전극의 우측 끝단)과 제2 전극(113)의 전장 끝단(도 11b에서 보았을 때 제2 전극의 우측 끝단) 사이의 거리(Dn)가 측정된다.
(i) 단계
(i) 단계는 Bn 측정공정을 포함하고, Bn 측정공정은 도 11a를 참조하면, 제2 설정위치(H2)의 기준점(O)으로부터 n번째 기본단위체(110N)의 제1 전극(111) 끝단까지 거리(Bn)를 측정한다.
또한, (i) 단계는 En 측정공정을 포함하고, En 측정공정은 도 11b를 참조하면 제2 설정위치(H2)의 기준점(O)으로부터 n번째 기본단위체(110N)의 제1 전극(111) 끝단까지 거리(En)를 측정한다.
(j) 단계
(j) 단계는 Cn 측정공정을 포함하고, Cn 측정공정은 n번째 기본단위체(110N)의 Bn와 An을 더한 다음, 두번째 기본단위체(110B)의 B2를 빼서 두번째 기본단위체(110B)의 제1 전극(111) 전폭 끝단과 n번째 기본단위체(110N)의 제2 전극(113) 전폭 끝단 사이의 거리(Cn)를 측정한다.
즉, Bn+An-B2=Cn의 계산식을 얻을 수 있다.
또한, (j) 단계는 Fn 측정공정을 포함하고, Fn 측정공정은 n번째 기본단위체(110N)의 En와 Dn을 더한 다음, 두번째 기본단위체(110B)의 E2를 빼서 두번째 기본단위체(110B)의 제1 전극(111) 전장 끝단과 n번째 기본단위체(110N)의 제2 전극(113) 전장 끝단 사이의 거리(Fn)를 측정한다.
즉, En+Dn-E2=Fn의 계산식을 얻을 수 있다.
(k) 단계
(k) 단계는 두번째 기본단위체와 n번째 기본단위체의 전폭방향으로 정렬도를 검사하는 전폭 검사공정을 포함하고, 전폭 검사공정은 상기 Cn과 두번째 기본단위체(110B)의 A2를 대비한 후, 입력된 오차값 내에 위치하면 정상 적층으로 판단하고, 외에 위치하면 불량 적층으로 판단한다. 한편, 정상 또는 불량 판단 기준은 앞에서 설명한 (g) 단계와 동일하다.
또한, (k) 단계는 두번째 기본단위체와 n번째 기본단위체의 전장방향으로 정렬도를 검사하는 전장 검사공정을 포함하고, 전장 검사공정은 상기 Fn과 두번째 기본단위체(110B)의 D2를 대비한 후, 입력된 오차값 내에 위치하면 정상 적층으로 판단하고, 외에 위치하면 불량 적층으로 판단한다. 한편, 정상 또는 불량 판단 기준은 앞에서 설명한 (g) 단계와 동일하다.
따라서 본 발명의 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조방법은 상기와 같이 복수개의 기본단위체(110)를 상하방향으로 적층함으로써 적층 정렬도를 높인 전극조립체(100)를 제조할 수 있다.
이하, 본 발명의 다른 실시예를 설명함에 있어 전술한 실시예와 동일한 기능 및 방법을 가지는 구성 및 방법에 대해서는 동일한 구성부호를 사용하며, 중복되는 설명은 생략한다.
[본 발명의 제2 실시예에 따른 이차전지 제조방법]
본 발명의 제2 실시예에 따른 이차전지 제조방법은 도 12에 도시되어 있는 것과 같이, (A)전극조립체(100)를 제조하는 단계, 및 (B)상기 전극조립체(100)를 전지케이스(120)에 수용하고, 전지케이스(120)에 전해액을 주입하여 이차전지(10)를 제조하는 단계를 포함한다.
여기서 상기 (A) 단계는 앞에서 설명한 제1 실시예에 따른 전극조립체 제조방법과 동일하며, 이에 따라 중복되는 설명은 생략한다.
따라서 본 발명의 제2 실시예에 따른 이차전지 제조방법은 정렬도를 높인 전극조립체(100)를 포함하여 이차전지(10)를 제조함으로써 불량발생을 크게 낮출 수 있고, 상품성은 높일 수 있다.
본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 다양한 실시 형태가 가능하다.
[부호의 설명]
100: 전극조립체
110: 기본단위체
120: 전지케이스

Claims (15)

  1. (a) 제1 전극, 분리막, 제2 전극 및 분리막이 순차적으로 적층된 복수개의 기본단위체를 하나씩 제1 설정위치에서 제2 설정위치까지 이송하는 단계;
    (b) 제1 설정위치에서 기본단위체를 촬영하고, 촬영된 첫번째 기본단위체에 구비된 제1 전극의 전폭방향으로 끝단인 전폭 끝단과 제2 전극의 전폭방향으로 끝단인 전폭 끝단 사이의 거리(A1), 촬영된 두번째 기본단위체에 구비된 제1 전극의 전폭방향으로 끝단인 전폭 끝단과 제2 전극의 전폭방향으로 끝단인 전폭 끝단 사이의 거리(A2), 촬영된 n번째 기본단위체에 구비된 제1 전극의 전폭방향으로 끝단인 전폭 끝단과 제2 전극의 전폭방향으로 끝단인 전폭 끝단 사이의 거리(An)를 측정하는 A 측정공정을 구비하는 단계;
    (c) A1이 측정된 첫번째 기본단위체가 제2 설정 위치에 이송되면, 제2 설정위치의 기준점(O)으로부터 첫번째 기본단위체의 제1 전극 전폭 끝단까지 거리(B1)를 측정하는 B1 측정공정을 구비하는 단계;
    (d) 첫번째 기본단위체의 상부에 제1 설정위치를 통해 제2 설정 위치에 이송되는 두번째 기본단위체를 적층하는 단계;
    (e) 제2 설정위치의 기준점(O)으로부터 두번째 기본단위체의 제1 전극 전폭 끝단까지 거리(B2)를 측정하는 B2 측정공정을 구비하는 단계;
    (f) B2와 A2를 더한 다음, B1을 빼서 첫번째 기본단위체의 제1 전극 전폭 끝단과 두번째 기본단위체의 제2 전극 전폭 끝단 사이의 거리(C1)를 측정하는 C1 측정공정을 구비하는 단계; 및
    (g) 상기 C1과 A1을 대비한 후, 입력된 오차값 내에 위치하면 정상 적층으로 판단하고, 외에 위치하면 불량 적층으로 판단하는 전폭검사공정을 구비하는 단계를 포함하는 전극조립체 제조방법.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 (b) 단계는 A 측정공정에서 측정된 A1이 입력된 설정값 내에 위치하면, 정상으로 판단하고, 외에 위치하면 불량으로 판단하는 공정을 더 포함하는 전극조립체 제조방법.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 (b) 단계는 제1 설정위치에서 기본단위체가 불량으로 판단되면, 제2 설정위치로 이송되지 않도록 제거하는 공정을 더 포함하는 전극조립체 제조방법.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 (b) 단계는 비전 얼라인 검사기를 이용하여 제1 설정위치에서 기본단위체의 제1 전극 전폭 끝단과 제2 전극의 전폭 끝단 사이의 거리를 측정하는 전극조립체 제조방법.
  5. 청구항 1에 있어서,
    상기 (c) 단계는 제2 설치위치의 기준점(O)과 기본단위체의 기준점의 일치여부를 검사하는 공정을 더 포함하고,
    상기 기본단위체의 기준점은 상기 기본단위체의 전폭방향으로 대응되게 균등하는 선과 전장방향으로 대응되게 균등하는 선이 교차하는 지점인 전극조립체 제조방법.
  6. 청구항 5에 있어서,
    상기 (c) 단계는 제2 설치위치의 기준점(O)과 기본단위체의 기준점이 불일치하면, 기본단위체를 이동시켜서 제2 설치위치의 기준점(O)과 기본단위체의 기준점을 일치시키는 공정을 더 포함하는 전극조립체 제조방법.
  7. 청구항 1에 있어서,
    상기 (g) 단계는 전폭 검사공정에서 불량 적층으로 판단되면, 상기 C1과 첫번째 기본단위체의 A1을 대비한 차이값만큼 두번째 기본단위체의 위치를 조절하는 공정을 더 포함하는 전극조립체 제조방법.
  8. 청구항 1에 있어서,
    상기 (a) 단계에서 상기 제1 전극은 제2 전극 보다 작은 면적을 가지는 전극조립체 제조방법.
  9. 청구항 1에 있어서,
    상기 (g) 단계는 정상 적층으로 판단되면, 첫번째 기본단위체와 두번째 기본단위체를 접합하는 공정을 더 포함하는 전극조립체 제조방법.
  10. 청구항 1에 있어서,
    (h) 상기 (g) 단계 후, 두번째 기본단위체의 상부에 제1 설정위치를 통해 제2 설정 위치에 이송되는 n번째 기본단위체를 적층하는 단계;
    (i) 제2 설정위치의 기준점(O)으로부터 n번째 기본단위체의 제1 전극 전폭끝단까지 전폭거리(Bn)를 측정하는 Bn 측정공정을 구비하는 단계;
    (j) n번째 기본단위체의 Bn와 An을 더한 다음, 두번째 기본단위체의 B2를 빼서 두번째 기본단위체의 제1 전극 전폭 끝단과 n번째 기본단위체의 제2 전극 전폭 끝단 사이의 거리(Cn)를 측정하는 Cn 측정공정을 구비하는 단계; 및
    (k) 상기 Cn과 두번째 기본단위체의 A2을 대비한 후, 입력된 오차값 내에 위치하면 정상 적층으로 판단하고, 외에 위치하면 불량 적층으로 판단하는 단계를 더 포함하는 전극조립체 제조방법.
  11. 청구항 10에 있어서,
    상기 (b) 단계는, 촬영된 첫번째 기본단위체에 구비된 제1 전극의 전장방향으로 끝단인 전장 끝단과 제2 전극의 전장방향으로 끝단인 전장 끝단 사이의 거리(D1), 촬영된 두번째 기본단위체에 구비된 제1 전극의 전장방향으로 끝단인 전장 끝단과 제2 전극의 전장방향으로 끝단인 전장 끝단 사이의 거리(D2), 촬영된 n번째 기본단위체에 구비된 제1 전극의 전장방향으로 끝단인 전장 끝단과 제2 전극의 전장방향으로 끝단인 전장 끝단 사이의 거리(Dn)를 측정하는 D 측정공정을 더 포함하고,
    상기 (c) 단계는, 첫번째 기본단위체가 제2 설정 위치에 이송되면, 제2 설정위치의 기준점(O)으로부터 첫번째 기본단위체의 제1 전극 전장끝단까지 거리(E1)를 측정하는 E1 측정공정을 더 포함하며,
    상기 (e) 단계는, 제2 설정위치의 기준점(O)으로부터 두번째 기본단위체의 제1 전극 전장 끝단까지 거리(E2)를 측정하는 E2 측정공정을 더 포함하고,
    상기 (f) 단계는, 두번째 기본단위체의 E2와 D2를 더한 다음, E1을 빼서 첫번째 기본단위체의 제1 전극 전장 끝단과 두번째 기본단위체의 제2 전극 전장 끝단 사이의 거리(F1)를 측정하는 F1 측정공정을 더 포함하며,
    상기 (g) 단계는, 상기 F1과 첫번째 기본단위체의 D1을 대비한 후, 입력된 오차값 내에 위치하면 정상 적층으로 판단하고, 외에 위치하면 불량 적층으로 판단하는 전장 검사공정을 더 포함하는 전극조립체 제조방법.
  12. 청구항 11에 있어서,
    상기 (g) 단계는, 상기 전장검사공정에서 불량 적층으로 판단되면, 상기 F1과 첫번째 기본단위체의 D1를 대비한 차이값만큼 두번째 기본단위체의 위치를 조절하는 공정을 더 포함하는 전극조립체 제조방법.
  13. 청구항 11에 있어서,
    상기 (i) 단계는 제2 설정위치의 기준점(O)으로부터 n번째 기본단위체의 제1 전극 전장끝단까지 거리(En)를 측정하는 En 측정공정을 더 포함하고,
    상기 (j) 단계는 n번째 기본단위체의 En와 Dn을 더한 다음, 두번째 기본단위체의 D2를 빼서 두번째 기본단위체의 제1 전극 전장 끝단과 n번째 기본단위체의 제2 전극 전장 끝단 사이의 거리(Fn)를 측정하는 Fn 측정공정을 더 포함하며,
    상기 (k) 단계는 상기 Fn과 두번째 기본단위체의 D2을 대비한 후, 입력된 오차값 내에 위치하면 정상 적층으로 판단하고, 외에 위치하면 불량 적층으로 판단하는 공정을 더 포함하는 전극조립체 제조방법.
  14. (A)청구항 1에 의해 전극조립체를 제조하는 단계; 및
    (B)상기 전극조립체를 전지케이스에 수용하고, 전지케이스에 전해액을 주입하여 이차전지를 제조하는 단계를 포함하는 이차전지 제조방법.
  15. 전극조립체 제조장치로서,
    제1 전극, 분리막, 제2 전극 및 분리막이 순차적으로 적층된 복수개의 기본단위체가 상하방향을 따라 적재되는 적재함;
    상기 적재함에 적재된 기본단위체 중 최상단에 적재된 기본단위체를 제1 설정위치(H1)로 이송하고, 다시 제1 설정위치(H1)에 있는 기본단위체를 제2 설정위치(H2)로 이송하는 이송부재;
    상기 제1 설정위치(H1)에 있는 첫번째 이송된 기본단위체에 구비된 제1 전극의 끝단에서 제2 전극의 끝단까지의 거리(A1)와, 두번째 이송된 기본단위체에 구비된 제1 전극의 끝단에서 제2 전극의 끝단까지의 거리(A2)를 측정하는 제1 측정부재; 및
    제2 설정위치(H2)에 이송된 첫번째 이송된 기본단위체를 측정하되, 제2 설정위치(H2)의 기준점(O)으로부터 첫번째 이송된 기본단위체의 제1 전극 끝단까지 거리(B1)를 측정하고, 제2 설정위치(H2)의 기준점(O)으로부터 첫번째 이송된 기본단위체의 상측에 적층되는 두번째 이송된 기본단위체의 제1 전극 끝단까지 거리(B2)를 측정하며, 두번째 이송된 기본단위체의 B2와 A2를 더한 다음, 첫번째 이송된 기본단위체의 B1을 빼서 첫번째 이송된 기본단위체의 제1 전극 끝단과 두번째 이송된 기본단위체의 제2 전극 끝단 사이의 거리(C1)를 측정하고, 상기 C1과 첫번째 이송된 기본단위체의 A1을 대비한 차이값이 입력된 오차값 내에 위치하면 정상 적층으로 판단하고, 외에 위치하면 불량 적층으로 판단하는 제2 측정부재를 포함하는 전극조립체 제조장치.
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