WO2021087972A1 - 一种样本分析系统及其样本调度方法 - Google Patents

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WO2021087972A1
WO2021087972A1 PCT/CN2019/116685 CN2019116685W WO2021087972A1 WO 2021087972 A1 WO2021087972 A1 WO 2021087972A1 CN 2019116685 W CN2019116685 W CN 2019116685W WO 2021087972 A1 WO2021087972 A1 WO 2021087972A1
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sample
tested
optional
analyzer
test
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PCT/CN2019/116685
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English (en)
French (fr)
Inventor
黄立新
李积新
Original Assignee
深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor

Definitions

  • the present invention relates to the field of medical equipment, in particular to a sample analysis system and a sample scheduling method thereof.
  • the biochemical analyzer system and the immune analyzer system are responsible for testing the samples (specimen) on the sample rack.
  • the sample rack is scheduled, as long as the biochemical analyzer system/immune analyzer is equipped to handle the For the capacity of the sample to be tested, the sample rack will be planned and dispatched to the front-end track of the corresponding analyzer.
  • the current technology mainly has the following shortcomings:
  • the sample rack may be dispatched to the front end of the analyzer that does not meet the conditions for starting the test.
  • the sample rack may be dispatched to an analyzer that meets the conditions for starting the test, but the sample rack is not prioritized to the analyzer that can start the test immediately.
  • the existing scheduling efficiency is not high.
  • the present invention mainly provides a sample analysis system and a sample scheduling method thereof.
  • an embodiment provides a sample scheduling method of a sample analysis system, the sample analysis system includes at least two cascaded sample analyzers, and the scheduling method includes:
  • test item find an optional sample analyzer in the sample analysis system that can execute the test item;
  • the scheduling plan of the sample to be tested is determined according to the waiting time.
  • an embodiment provides a sample scheduling method of a sample analysis system, the sample analysis system includes at least two cascaded sample analyzers, and the scheduling method includes:
  • the optional sample analyzer is a sample analyzer that can execute the test item in the sample analysis system
  • the scheduling plan of the sample to be tested is determined according to the state information of the optional sample analyzer.
  • an embodiment provides a sample analysis system, including:
  • the input module is used to receive the sample to be tested put by the user and obtain the identification information of the sample to be tested;
  • At least two cascaded sample analyzers for testing the sample to be tested
  • a scheduling device configured to schedule the sample to be tested through the track and according to the scheduling plan of the sample to be tested
  • the processor is configured to determine the test item of the sample to be tested according to the identification information of the sample to be tested obtained by the input module, and find out the optional samples that can execute the test item in the sample analysis system according to the test item Analyzer; determine the scheduling plan of the sample to be tested according to the state information of the optional sample analyzer.
  • an embodiment provides a sample analysis system, including:
  • Memory used to store programs
  • the processor is configured to execute the program stored in the memory to implement the above-mentioned method.
  • an embodiment provides a computer-readable storage medium, including a program, which can be executed by a processor to implement the method as described above.
  • the test items of the sample to be tested and the status information of the optional sample analyzer are acquired; the scheduling plan of the sample to be tested is determined according to the status information of the optional sample analyzer, thereby improving Improve scheduling efficiency.
  • FIG. 1 is a structural block diagram of a sample analysis system provided by an embodiment
  • Figure 2 is a structural block diagram of a sample analysis system provided by an embodiment
  • FIG. 3 is a flowchart of a sample scheduling method provided by an embodiment
  • FIG. 4 is a flowchart of a sample scheduling method provided by an embodiment
  • FIG. 5 is a specific flowchart of step 22 in FIG. 4;
  • Fig. 6 is a flowchart of a sample scheduling method provided by an embodiment.
  • connection and “connection” mentioned in this application include direct and indirect connection (connection) unless otherwise specified.
  • the sample analysis system includes a plurality of cascaded sample analyzers 10 to form a pipelined test system. 1 and 2, in order to better test samples in a streamlined form, in some embodiments of a sample analysis system cascaded with multiple sample analyzers, it may also include an input module 20 and a pre-processing module 30. One or more of the track 40, the scheduling device 50, and the post-processing module 60. It should be noted that Figure 1 shows three sample analyzers, and Figure 2 shows two sample analyzers. This is just for illustration and is not used to limit the number of sample analyzers in the sample analysis system. It is two or three.
  • the sample analyzer 10 is used to test samples.
  • sample analyzers 10 may be the same type of analyzers, for example, all are biochemical analyzers or all of immunoassay analyzers, or they may be different types of analyzers, such as biochemical analyzers, immune analyzers, coagulation analyzers, and the like. This can be configured according to the needs of users and departments.
  • the input module 20 may be used to receive the sample to be tested put in by the user. In some embodiments, the input module 20 can also obtain identification information of the sample to be tested. The user can put the sample to be tested into the input module 20, for example, the input module 20 can scan the barcode or two-dimensional code on the sample to be tested with a scanning device to obtain the identification information of the sample to be tested.
  • the identification information serves as a unique identification of the sample to be tested, and at least is associated with the test item of the sample to be tested.
  • the identification information may include, for example, sample number, sample category, sample source information, and so on.
  • the pre-processing module 30 is used to perform pre-processing on the sample to be tested received by the input module 20. Generally, after the user puts the sample into the input module 20, the input module 20 scans the sample, and the scheduling device 50 then dispatches the sample to the pre-processing module 30 for pre-processing, and the pre-processed sample will continue to be processed again. The processing module 30 is dispatched to the corresponding sample analyzer 10 for testing.
  • the pre-processing module 30 may include one or more of a centrifugation module, a serum detection module, a cap removing module, and a dispensing module.
  • a general pre-processing procedure of the pre-processing module 30 is: the centrifugation module receives the sample dispatched by the input module 20 and centrifuges the sample; the serum detection module detects the serum of the centrifuged sample to determine whether it can be used for subsequent determinations, If the amount of serum is insufficient or the quality is unqualified, it cannot be used for subsequent determination; if the test passes, the sample is dispatched to the decap module, and the cap removal module removes the cap of the sample. If there is a dispensing module, it will be dispensed The module divides the sample with the lid removed, and then dispatches the divided sample to the corresponding sample analyzer 10 for measurement.
  • the sample is dispatched from the lid removal module to the corresponding sample analysis
  • the measurement is performed in the instrument 10.
  • the pre-processing module 30 is not necessary.
  • the sample analysis system of some embodiments may not include the pre-processing module 30.
  • FIG. 1 is an example.
  • the sample analysis system of some embodiments may also include the pre-processing module 30.
  • Figure 2 is an example.
  • the track 40 is used to connect various devices.
  • the track 40 connects the input module 20 and a plurality of sample analyzers 10 so that samples can be dispatched from the input module 20 to each sample analyzer 10 through the track 40 for testing.
  • the track 40 is connected to the input module 20, the pre-processing module 30, each sample analyzer 10, and the post-processing module 60 in sequence.
  • the scheduling device 50 is used for scheduling samples through the track 40, for example, scheduling the samples from the input module 20 to the sample analyzer 10, for example, scheduling from one sample analyzer 10 to another sample analyzer 10.
  • the post-processing module 60 is used to complete the post-processing of the sample.
  • the post-processing module 60 includes one or more of a filming/capping module, a refrigerated storage module, and a filming/decapping module.
  • Membrane/Cover module is used to coat or cap the sample.
  • the refrigerated storage module is used to store samples.
  • the defilming/decapping module is used to defilm or decap the sample.
  • a general post-processing process of the post-processing module 60 is: after all the items that need to be determined in the sample are sucked in the corresponding sample analyzer 10, it will then be dispatched to the filming/capping module, and filming/capping.
  • the module will add film or cover to the sample after the measurement, and then dispatch it to the refrigerated storage module for storage; if the sample needs to be retested, the sample will be dispatched from the refrigerated storage module and be used in the film removal/decap module The film or lid is removed and then dispatched to the corresponding sample analyzer 10 for measurement.
  • the post-processing module 60 is not necessary.
  • the sample analysis system of some embodiments may not include the post-processing module 60.
  • FIG. 1 is an example.
  • the sample analysis system of some embodiments may also include the post-processing module 60.
  • Figure 2 is an example.
  • the human-computer interaction device 80 is used for human-computer interaction, that is, receiving user input and outputting visual information; it can receive user input by using a keyboard, operating buttons, mouse, trackball, etc., or a touch screen integrated with the display. Control screen; its output visual information can use a display.
  • each sample analyzer or module may also be provided with a module buffer area, the track 40 may also have a track buffer area, and the entire track 40 may be a circular track.
  • the buffer area is used to buffer samples for flexible scheduling of samples.
  • Figures 1 and 2 do not reflect the signal connection between the various sample analyzers and modules in the sample analysis system.
  • the processor 70 is connected to each sample analyzer 10, the input module 20, and the pre-processing module. 30. Signal connections such as the track 40, the dispatching device 50, the post-processing module 60, and the human-computer interaction device 80.
  • the processor 70 is the control center of the sample analysis system, and is used to manage and control the various analyzers and modules of the sample analysis system, so as to realize the streamlined test of the sample.
  • the processor 70 of this application can be set separately from the sample analyzer (a processor other than the sample analyzer completes the scheduling method of this application), or it can be a processor in a sample analyzer (a sample analysis The processor of the instrument completes the scheduling method of this application), or it can be a processor in multiple sample analyzers (the processors of multiple sample analyzers cooperate to complete the scheduling method of this application).
  • the method for scheduling samples by the processor 70 includes the following steps:
  • Step 1 The processor 70 obtains the test items of the sample to be tested and the state information of the optional sample analyzer corresponding to the sample to be tested.
  • the optional sample analyzer is a sample analyzer that can execute test items corresponding to the sample to be tested in the sample analysis system.
  • the optional sample analyzer corresponding to the sample to be tested can be specified by the user through the human-computer interaction device 80, or can be determined by the processor 70 according to the test item, and this embodiment adopts the latter.
  • this step includes:
  • the input module 20 receives the sample to be tested inserted by the user, and scans the barcode or QR code on the sample to be tested through the scanning device to obtain the identification information of the sample to be tested.
  • the processor 70 obtains the identification information of the sample to be tested through the input module 20; and determines the test item of the sample to be tested according to the identification information of the sample to be tested.
  • Step 12 This application is mainly for scheduling and planning for common tests.
  • Common tests are test items that can be performed by multiple sample analyzers.
  • the processor 70 finds out which test items can be executed in the sample analysis system. Select the sample analyzer and obtain the status information of the optional sample analyzer. In other words, each optional sample analyzer found can test the test item.
  • the processor 70 determines the scheduling plan of the sample to be tested according to the state information of the optional sample analyzer.
  • the state information is the state reflected by the sample analyzer 10, visible to the naked eye of the user or visible through the screen of the human-computer interaction device 80, and is basically the hardware state of the sample analyzer, as shown in Table 1 and Table 2 below.
  • Table 1 Various status information of the immune analyzer and its corresponding start-up test adjustment
  • Fail Idle uninitialized Fail unknown Fail Idle (unstable temperature) Fail Idle (dust cover open) Fail Reagent loading (open lid when idle) Fail Stop Fail restore Fail Shutting down Fail Shut down Fail idle Success test Success Reagent loading (close lid or open lid during test) Wait Incubate Wait Test (dust cover open) Fail
  • Fail status information Start test conditions Uninitialized Fail unknown Fail initialization Fail restore Fail Stop Fail Idle (unstable temperature) Fail Test (temperature instability) Fail Shutting down Fail Shut down Fail Reagent loading (open lid when idle) Fail Incubate Wait idle Success test Success Reagent loading (close lid or open lid during test) Wait Sample loading Wait Dormant Wait wake Wait Margin detection Fail debugging Fail Basic performance Fail
  • the processor 70 may indirectly determine the scheduling plan of the sample to be tested according to the status information, or directly determine the scheduling plan of the sample to be tested according to the status information, which is described in detail in two embodiments in this application.
  • step 2 includes:
  • Step 21 The processor 70 determines the waiting time required for the sample to be tested to enter the optional sample analyzer for testing according to the state information of the optional sample analyzer.
  • Some states of the optional sample analyzer (such as idle state) can directly test the sample to be tested without waiting, and some states (such as reagent loading, sample loading, hibernation, etc.) need to wait for a while before the sample to be tested can be tested. And some states (such as maintenance, shutdown, etc.) need to wait a very long time to test the sample under test. Therefore, in this embodiment, the processor 70 obtains, according to the state information of the optional sample analyzer, the first time Ts required for the optional sample analyzer to switch from the current state to immediately processing the sample, and obtains the optional sample analyzer.
  • the second time T1 required for the sample analyzer to process the samples remaining on the front-end rail is preset with the time required for various states to switch to the idle state, that is, the first time Ts, as shown in Table 3 below:
  • Table 3 The first time it takes for the various states of different analyzers to switch to processing samples
  • the processor 70 can know the corresponding first time Ts according to the state of the optional sample analyzer.
  • the second time T1 is 0. If a sample rack is used for transportation, the processor 70 can know the front-end track according to the position of the sample currently being processed on the sample rack. Since the number of samples retained on the upper limit is fixed, the second time T1 can be calculated according to the time required for the test and the number of retained samples.
  • the waiting time Tw is calculated and the preparation time is also taken into consideration, and the processor 70 obtains the preparation time required before the test sample is tested.
  • the preparation time includes at least one of the time Tt required for the sample to be tested to be transported from the buffer area to the sample loading position on the front-end rail of the optional sample analyzer, and the reserved margin time To.
  • the preparation time includes Tt and To.
  • Step 22 The processor 70 determines the scheduling plan of the sample to be tested according to the waiting time Tw. If there are at least two optional sample analyzers, select the optional sample analyzer with the shortest waiting time Tw as the target sample analyzer for the sample to be tested.
  • the target sample analyzer is the optional sample used for the final test of the sample to be tested Analyzer. Specifically, as shown in FIG. 5, step 22 specifically includes:
  • the processor 70 compares the waiting time Tw with the first threshold time Tx and the second threshold time Ty, where the second threshold time Ty is less than the first threshold time Tx. See steps 221 and 222 for details.
  • Step 221 The processor 70 determines whether the waiting time Tw corresponding to all optional sample analyzers is greater than the first threshold time Tx, and if yes, execute step 223; otherwise, execute step 222. In other words, as long as there is a waiting time Tw that does not If it is greater than the first threshold time Tx, step 222 is executed.
  • Step 222 The processor 70 determines whether the waiting time Tw corresponding to all the optional sample analyzers is greater than the second threshold time Ty, and if yes, proceed to step 224; otherwise, proceed to step 225. In other words, at least one waiting time Tw is not If it is greater than the second threshold time Ty (that is, at least one Tw ⁇ Ty), step 225 is executed.
  • Step 223 The processor 70 invalidates the test of the sample to be tested.
  • the first threshold time Tx is a threshold used to determine whether the sample to be tested has test significance, in other words, it is a threshold used to screen out optional analyzers that do not meet the test conditions.
  • the "start test conditions" in Table 1 and Table 2 are the states corresponding to "Fail”.
  • the first time corresponding to these states is relatively large (24h).
  • the waiting time Tw is also very large, and there is no measurement. Therefore, all optional sample analyzers need to test the sample to be tested, and the waiting time exceeds the first threshold time Tx, and the test of the sample to be tested is invalidated.
  • the first threshold time Tx can be set according to actual conditions, usually in hours.
  • Step 224 The processor 70 transfers the sample to be tested to the buffer area for waiting. If the sample to be tested is in the buffer area, no action is taken.
  • the buffer area can be a track buffer area or a buffer area of the sample analyzer.
  • Step 225 The processor 70 selects the optional sample analyzer with the shortest waiting time Tw as the target sample analyzer of the sample to be tested, and transports the sample to be tested to the track front end of the target sample analyzer through the scheduling device 50, and starts the target sample analysis
  • the instrument performs the test corresponding to the test item on the sample to be tested.
  • the target sample analyzer reacts the sample to be tested with the reagent and measures the luminescence value, and then obtains the concentration of the effective component according to the luminescence value. If there is more than one optional sample analyzer with the shortest waiting time Tw, one of them is randomly selected as the target sample analyzer, or the one closest to the sample to be tested is selected as the target sample analyzer.
  • the waiting time is calculated, and the scheduling plan of the sample to be tested is determined according to the waiting time, thereby improving the scheduling efficiency.
  • step 2 includes:
  • the processor 70 determines the test priority corresponding to the state information according to the state information of the optional sample analyzer. For example, when the state information is in the idle state or the normal test state, the processor 70 determines the test priority of the optional sample analyzer as high; when the state information is a state that requires the current state to be switched before the test can be performed, the The test priority of the optional sample analyzer is determined to be intermediate; when the status information indicates that the test cannot be performed, the test priority of the optional sample analyzer is determined to be low. As shown in Table 3, reagent loading (open lid), reagent loading (close lid), automatic mixing, automatic effect detection, draining condensate, dormancy, wake-up, incubation, sample loading, etc.
  • the other states are the state where the test cannot be performed (that is, the state that does not meet the test conditions).
  • Step 22' The processor 70 determines the scheduling plan of the sample to be tested according to the test priority. If there are at least two optional sample analyzers, the optional sample analyzer with the highest test priority is selected as the target sample analyzer of the sample to be tested. For example, when the test priority of the optional sample analyzer is low, the processor 70 invalidates the test of the sample to be tested. When the test priority of at least one optional sample analyzer is advanced, the processor 70 uses the optional sample analyzer with the advanced test priority as the target sample analyzer of the sample to be tested. Similarly, the advanced optional If there are multiple sample analyzers, select one randomly or the nearest one as the target sample analyzer.
  • the processor 70 sends the sample to be tested to the buffer area for waiting through the scheduling device 50. In this way, the efficiency of sample testing can also be improved.
  • the program may be stored in a computer-readable storage medium.
  • the storage medium may include: read-only memory, random access memory, magnetic disk, optical disk, hard disk, etc.
  • the computer executes the program to realize the above-mentioned functions.
  • the program is stored in the memory of the device, and when the program in the memory is executed by the processor, all or part of the above functions can be realized.
  • the program can also be stored in a storage medium such as a server, another computer, a magnetic disk, an optical disk, a flash disk, or a mobile hard disk, and saved by downloading or copying.
  • a storage medium such as a server, another computer, a magnetic disk, an optical disk, a flash disk, or a mobile hard disk, and saved by downloading or copying.
  • the program in the memory is executed by the processor, all or part of the functions in the foregoing embodiments can be realized.
  • the principles herein can be reflected in a computer program product on a computer-readable storage medium, which is pre-installed with computer-readable program code.
  • a computer-readable storage medium Any tangible, non-transitory computer-readable storage medium can be used, including magnetic storage devices (hard disks, floppy disks, etc.), optical storage devices (CD-ROM, DVD, Blu Ray disks, etc.), flash memory and/or the like .
  • These computer program instructions can be loaded on a general-purpose computer, a special-purpose computer, or other programmable data processing equipment to form a machine, so that these instructions executed on the computer or other programmable data processing device can generate a device that realizes the specified function.
  • Computer program instructions can also be stored in a computer-readable memory, which can instruct a computer or other programmable data processing equipment to operate in a specific manner, so that the instructions stored in the computer-readable memory can form a piece of Manufactured products, including realizing devices that realize designated functions.
  • Computer program instructions can also be loaded on a computer or other programmable data processing equipment, thereby executing a series of operation steps on the computer or other programmable equipment to produce a computer-implemented process, so that the execution of the computer or other programmable equipment Instructions can provide steps for implementing specified functions.
  • Coupled refers to physical connection, electrical connection, magnetic connection, optical connection, communication connection, functional connection and/or any other connection.

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Abstract

一种样本分析系统的样本调度方法，样本分析系统包括至少两个级联的样本分析仪，调度方法包括：获取待测样本的标识信息；根据待测样本的标识信息确定待测样本的测试项目；根据测试项目，找出样本分析系统中能执行测试项目的可选样本分析仪；根据可选样本分析仪的状态信息确定待测样本进入可选样本分析仪进行测试所需的等待时间；根据等待时间确定待测样本的调度规划，从而提高了调度效率。

Description

一种样本分析系统及其样本调度方法 技术领域
本发明涉及医疗器械领域，具体涉及一种样本分析系统及其样本调度方法。
背景技术
当前的样本分析系统中，由生化分析仪系统和免疫分析仪系统负责对样本架上的待测样本(标本)进行测试，在调度样本架时，只要生化分析仪系统/免疫分析仪具备处理该待测样本的能力，样本架就会规划并调度到对应分析仪的前端轨道。
当前的技术主要有如下缺点：
对于共有类测试，即具备处理该待测样本能力的分析仪有多个，此种情况下，样本架可能会被调度到不满足启动测试条件的分析仪的前端。样本架可能调度到了满足启动测试条件的分析仪，但没有优先将样本架调度到能立刻启动测试的分析仪。总的来说，现有的调度效率不高。
发明内容
本发明主要提供一种样本分析系统及其样本调度方法。
根据第一方面，一种实施例中提供一种样本分析系统的样本调度方法，所述样本分析系统包括至少两个级联的样本分析仪，所述调度方法包括：
获取待测样本的标识信息；
根据待测样本的标识信息确定待测样本的测试项目；
根据所述测试项目，找出样本分析系统中能执行所述测试项目的可选样本分析仪；
根据所述可选样本分析仪的状态信息确定所述待测样本进入可选样本分析仪进行测试所需的等待时间；
根据所述等待时间确定所述待测样本的调度规划。
根据第二方面，一种实施例中提供一种样本分析系统的样本调度方法，所述样本分析系统包括至少两个级联的样本分析仪，所述调度方法 包括：
获取待测样本的测试项目以及可选样本分析仪的状态信息；所述可选样本分析仪为所述样本分析系统中能执行所述测试项目的样本分析仪；
根据所述可选样本分析仪的状态信息确定所述待测样本的调度规划。
根据第三方面，一种实施例中提供一种样本分析系统，包括：
输入模块，用于接收用户放入的待测样本并获取待测样本的标识信息；
至少两个级联的样本分析仪，用于对待测样本进行测试；
轨道，用于连接所述样本分析仪和输入模块；
调度装置，用于通过所述轨道并根据待测样本的调度规划来调度待测样本；
处理器，用于根据所述输入模块获取的待测样本的标识信息，确定待测样本的测试项目，并根据所述测试项目，找出样本分析系统中能执行所述测试项目的可选样本分析仪；根据所述可选样本分析仪的状态信息确定所述待测样本的调度规划。
根据第四方面，一种实施例中提供一种样本分析系统，包括：
存储器，用于存储程序；
处理器，用于执行所述存储器存储的程序以实现如上所述的方法。
根据第五方面，一种实施例中提供一种计算机可读存储介质，包括程序，所述程序能够被处理器执行以实现如上所述的方法。
依据上述实施例的样本分析系统及其样本调度方法，获取待测样本的测试项目以及可选样本分析仪的状态信息；根据可选样本分析仪的状态信息确定待测样本的调度规划，从而提高了调度效率。
附图说明
图1为一实施例提供的样本分析系统的结构框图；
图2为一实施例提供的样本分析系统的结构框图；
图3为一实施例提供的样本调度方法的流程图；
图4为一实施例提供的样本调度方法的流程图；
图5为图4中步骤22的具体流程图；
图6为一实施例提供的样本调度方法的流程图。
具体实施方式
下面通过具体实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中，很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而，本领域技术人员可以毫不费力的认识到，其中部分特征在不同情况下是可以省略的，或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下，本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述，这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没，而对于本领域技术人员而言，详细描述这些相关操作并不是必要的，他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。
另外，说明书中所描述的特点、操作或者特征可以以任意适当的方式结合形成各种实施方式。同时，方法描述中的各步骤或者动作也可以按照本领域技术人员所能显而易见的方式进行顺序调换或调整。因此，说明书和附图中的各种顺序只是为了清楚描述某一个实施例，并不意味着是必须的顺序，除非另有说明其中某个顺序是必须遵循的。
本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。
一些实施例中样本分析系统包括多个级联的样本分析仪10，以形成流水线式的测试系统。请参照图1和图2，为了更好地以流水线化的形式测试样本，在级联有多个样本分析仪的样本分析系统的一些实施例中，其还可以包括输入模块20、前处理模块30、轨道40、调度装置50和后处理模块60中的一者或多者。需要说明的是，图1中显示的是三个样本分析仪，图2中显示的是两个样本分析仪，这只是用于示意，并不用于限定样本分析系统的样本分析仪的数量只能是两个或三个。
样本分析仪10用于对样本进行测试。本申请的样本分析系统中，级联的样本分析仪10的数量至少有两个。这些样本分析仪10可以是同类型的分析仪，例如都是生化分析仪或都是免疫分析仪，也可以是不同型号的分析仪，例如是生化分析仪、免疫分析仪、凝血分析仪等。这可以根据用户和科室的需求来配置。
输入模块20可以用于接收用户放入的待测样本。一些实施例中输入模块20还可以并获取待测样本的标识信息。用户可以将需要测试的样本放入输入模块20中，输入模块20例如可以通过扫描装置扫描待测样本上的条形码或者二维码等标签，以获取待测样本的标识信息。标识信息作为待测样本的唯一标识，至少关联有待测样本的测试项目。标识信息例如可以包括样本编号、样本类别、样本源信息等。
前处理模块30用于对输入模块20接收到的待测样本进行前处理。一般地，用户将样本放入到输入模块20后，输入模块20对样本进行扫描完，调度装置50则会接着将样本调度到前处理模块30中进行前处理，前处理完的样本再会接着从前处理模块30中调度到相应的样本分析仪10中进行测试。前处理模块30可以包括离心模块、血清检测模块、去盖模块和分注模块中的一者或多者。前处理模块30通常的一个前处理流程为：离心模块接收由输入模块20调度过来的样本，并对样本进行离心；血清检测模块检测离心处理后的样本的血清，判断是否可用于后续的测定，如果血清量不够，或者质量不合格，则不能用于后续的测定；如果检测通过，则样本又被调度到去盖模块，去盖模块将样本的盖子去掉，若有分注模块，则分注模块对去掉盖子后的样本进行分样，然后将分样后的样本调度到相应的样本分析仪10中进行测定，如果没有分注模块，则样本就从去盖模块被调度到相应的样本分析仪10中进行测定。需要说明的是，前处理模块30不是必需的，一些实施例的样本分析系统可以不包括前处理模块30，例如图1就是一个例子，一些实施例的样本分析系统也可以包括前处理模块30，例如图2就是一个例子。
轨道40用于将各设备连接起来。例如轨道40将输入模块20和多个样本分析仪10连接起来，使得样本可以通过轨道40从输入模块20调度到各个样本分析仪10中进行测试。在一些包括前处理模块30和后处理模块60的例子中，轨道40则依次连接输入模块20、前处理模块30、各样本分析仪10和后处理模块60。
调度装置50用于通过轨道40调度样本，例如将样本从输入模块20中调度到样本分析仪10中，例如从一台样本分析仪10中调度到另一台样本分析仪10中。
后处理模块60用于完成对样本的后处理。后处理模块60包括加膜/加盖模块、冷藏存储模块和去膜/去盖模块中的一者或多者。加膜/加盖 模块用于对样本加膜或加盖。冷藏存储模块用于存储样本。去膜/去盖模块用于对样本进行去膜或去盖。后处理模块60通常的一个后处理流程为：样本其所有需要测定的项目在相应的样本分析仪10中都被吸样后，接着会被调度到加膜/加盖模块，加膜/加盖模块对测定完成的样本进行加膜或加盖，然后再调度到冷藏存储模块进行存储；若样本需要重测，则样本会被从冷藏存储模块调度出来，并在去膜/去盖模块中被去膜或去盖，然后被调度到相应的样本分析仪10进行测定。需要说明的是，后处理模块60不是必需的，一些实施例的样本分析系统可以不包括后处理模块60，例如图1就是一个例子，一些实施例的样本分析系统也可以包括后处理模块60，例如图2就是一个例子。
人机交互装置80用于进行人机交互，即接收用户的输入和输出可视化信息；其接收用户的输入可采用键盘、操作按钮、鼠标、轨迹球等，也可以采用与显示器集成在一起的触控屏；其输出可视化信息可以采用显示器。
本申请提供的样本分析系统中，各个样本分析仪或模块还可以设置有模块缓存区，轨道40也可以具有轨道缓存区，整个轨道40可以为循环轨道。缓存区用于缓存样本，以便于灵活的调度样本。
以上是本申请一些实施例的样本分析系统的一些结构上的说明。图1和图2中并未体现样本分析系统中各个样本分析仪、模块之间的信号连接，实际上，样本分析系统中，处理器70与各个样本分析仪10、输入模块20、前处理模块30、轨道40、调度装置50、后处理模块60、以及人机交互装置80等信号连接。
处理器70为样本分析系统的控制中枢，用于对样本分析系统的各个分析仪、模块进行管理和控制，以实现样本的流水化测试。本申请的处理器70可单独于样本分析仪设置(由样本分析仪以外的处理器完成本申请的调度方法)，也可以是某一台样本分析仪中的处理器(由某一台样本分析仪的处理器完成本申请的调度方法)，还可以是多台样本分析仪中的处理器(由多台样本分析仪的处理器协作完成本申请的调度方法)。处理器70对样本的调度方法，如图3所示，包括如下步骤：
步骤1、处理器70获取待测样本的测试项目以及该待测样本对应的可选样本分析仪的状态信息。可选样本分析仪为样本分析系统中能执行对应待测样本的测试项目的样本分析仪。待测样本对应的可选样本分析 仪可由用户通过人机交互装置80指定，也可由处理器70根据测试项目来确定，本实施例采用后者。例如图4所示，本步骤包括：
步骤11、输入模块20接收用户放入的待测样本，通过扫描装置扫描待测样本上的条形码或者二维码等标签，获取待测样本的标识信息。处理器70通过输入模块20获取到待测样本的标识信息；根据待测样本的标识信息确定待测样本的测试项目。
步骤12、本申请主要针对共有类测试进行调度规划，共有类测试是多个样本分析仪都能进行的测试项目，处理器70根据测试项目，找出样本分析系统中能执行该测试项目的可选样本分析仪，并获取可选样本分析仪的状态信息，换而言之，找出的每个可选样本分析仪都能对该测试项目进行测试。
步骤2、处理器70根据可选样本分析仪的状态信息确定待测样本的调度规划。状态信息是样本分析仪10反映出来的、用户肉眼可见或者通过人机交互装置80的屏幕可见的状态，基本就是样本分析仪的硬件状态，如下表1和表2所示。
表1：免疫分析仪的各种状态信息及其对应的启动测试调节
状态信息 启动测试条件
未初始化 Fail
未知 Fail
空闲(温度不稳定) Fail
空闲(防尘罩打开) Fail
试剂装载(空闲下开盖) Fail
停止 Fail
恢复 Fail
关机中 Fail
关机 Fail
空闲 Success
测试 Success
试剂装载(关盖或测试中开盖) Wait
孵育 Wait
测试(防尘罩打开) Fail
测试(温度不稳定) Fail
自动效应检测(每隔4小时启动) Success
自动混匀 Wait
排冷凝水(用户不可见) Wait
自动日常清洁 Fail
调试 Fail
基础性能 Fail
维护 Fail
诊断 Fail
表2：生化分析仪的各种状态信息及其对应的启动测试调节
状态信息 启动测试条件
未初始化 Fail
未知 Fail
初始化 Fail
恢复 Fail
停止 Fail
空闲(温度不稳定) Fail
测试(温度不稳定) Fail
关机中 Fail
关机 Fail
试剂装载(空闲下开盖) Fail
孵育 Wait
空闲 Success
测试 Success
试剂装载(关盖或测试中开盖) Wait
样本装载 Wait
休眠 Wait
唤醒 Wait
余量检测 Fail
调试 Fail
基础性能 Fail
维护 Fail
诊断 Fail
其中，处理器70可以根据状态信息间接的确定待测样本的调度规划，也可以根据状态信息直接确定待测样本的调度规划，本申请通过两个实施例分别进行详细说明。
实施例一，本实施例中，处理器70根据状态信息间接的确定待测样本的调度规划。具体的，如图4所示，步骤2包括：
步骤21、处理器70根据可选样本分析仪的状态信息确定待测样本进入可选样本分析仪进行测试所需的等待时间。可选样本分析仪的有些状态(如空闲状态)可以直接对待测样本进行测试而无需等待，有些状态(如试剂装载、样本装载、休眠等状态)则需等待一会才能对待测样本进行测试，而有些状态(如维护、关机等状态)则需要等待非常长的时间才能对待测样本进行测试。因此，本实施例中，处理器70根据可选样本分析仪的状态信息得到所述可选样本分析仪从当前状态切换到能立即处理样本所需的第一时间Ts，以及得到所述可选样本分析仪处理完前端轨道上留存的样本所需的第二时间Tl。样本分析仪或样本分析系统预先设置有各种状态切换到空闲状态所需的时间，也就是第一时间Ts，例如下表3所示：
表3：不同分析仪的各种状态切换到处理样本所需的第一时间
Figure PCTCN2019116685-appb-000001
Figure PCTCN2019116685-appb-000002
因此，处理器70根据可选样本分析仪的状态即可得知对应的第一时间Ts。本申请提供的样本分析系统，若采用单个样本进行运输，则第二时间Tl为0，若采用样本架运输，处理器70根据当前正在处理的样本在样本架上的位置即可得知前端轨道上留存的样本的数量，由于对样本进行测试的时间是固定的，因此根据测试所需的时间以及留存样本的数量即可计算得到第二时间Tl。得到第一时间Ts和第二时间Tl后，处理器70至少根据第一时间Ts和第二时间Tl计算待测样本进入可选样本分析仪进行测试所需的等待时间Tw，例如，Tw＝Ts+Tl。本实施例中，计算等待时间Tw还将准备时间考虑进来，处理器70获取待测样本进行测试前所需的准备时间。准备时间包括：待测样本从缓存区运输到可选样本分析仪前端轨道加样位所需的时间Tt，和预留的余量时间To中的至少一种。本实施例中，准备时间包括Tt和To。处理器70将第一时间Ts和第二时间Tl相加之后减去准备时间，得到等待时间Tw，即，Tw＝Ts+Tl-Tt-To。如此，得到的等待时间即考虑了分析仪端的情况，又考虑了样本端的情况，准确性高。
步骤22、处理器70根据等待时间Tw确定待测样本的调度规划。如果可选样本分析仪有至少两台，则选择等待时间Tw最短的可选样本分析仪作为待测样本的目标样本分析仪，目标样本分析仪就是用来最终对待测样本进行测试的可选样本分析仪。具体的，如图5所示，步骤22具体包括：
处理器70比较等待时间Tw与第一阈值时间Tx、第二阈值时间Ty的大小，其中第二阈值时间Ty小于第一阈值时间Tx。具体见步骤221和222。
步骤221、处理器70判断所有可选样本分析仪对应的等待时间Tw是否均大于第一阈值时间Tx，若是则执行步骤223；否则执行步骤222，换而言之，只要有一个等待时间Tw不大于第一阈值时间Tx，则执行步骤222。
步骤222、处理器70判断所有可选样本分析仪对应的等待时间Tw是否均大于第二阈值时间Ty，若是则执行步骤224；否则执行步骤225，换而言之，至少有一个等待时间Tw不大于第二阈值时间Ty(即，至少一个Tw≤Ty)则执行步骤225。
步骤223、处理器70将待测样本的测试作废。对于分析仪来说，第一阈值时间Tx是用来判断待检测样本是否具有测试意义的阈值，换而言之，是用来将不具备测试条件的可选分析仪筛选出来的阈值。例如表1和表2中“启动测试条件”为“Fail”对应的状态，这些状态对应的第一时间相对较大(24h)，此种情况得到的等待时间Tw也很大，已没有测量的价值，因此，所有可选样本分析仪要测试待测样本，等待时间都超过第一阈值时间Tx，则将待测样本的测试作废。第一阈值时间Tx可根据实际情况进行设置，通常以小时计。
步骤224、处理器70将待测样本输送到缓存区等待。如果待测样本本身就在缓存区，则不作动作。该缓存区可以是轨道缓存区，也可以是样本分析仪的缓存区。
步骤225、处理器70选择等待时间Tw最短的可选样本分析仪作为待测样本的目标样本分析仪，并通过调度装置50将待测样本运输到目标样本分析仪的轨道前端，启动目标样本分析仪对该待测样本进行对应测试项目的测试，例如目标样本分析仪将待测样本与试剂反应并测量发光值，进而根据发光值得到有效成分的浓度。如果等待时间Tw最短的可选样本分析仪不止一个，那么随机选取其中的一个作为目标样本分析仪，或者选取离待测样本最近的那个作为目标样本分析仪。第二阈值时间Ty是用来判断该将待测样本运输到缓存区暂存，还是该运输到对应可选样本分析仪的阈值，其必然小于第一阈值时间Tx，其可以是0，或者是略高于0的一个时间。当有分析仪对应的Tw<＝0时，表示当前的待测样本 运输到该分析仪轨道前端，可以立即开始进行测试。
可见，本实施例通过计算等待时间，进而根据等待时间确定待测样本的调度规划，提高了调度效率。
实施例二，本实施例中，处理器70根据状态信息直接确定待测样本的调度规划。具体的，如图6所示，步骤2包括：
步骤21’、处理器70根据可选样本分析仪的状态信息确定状态信息对应的测试优先级。例如，处理器70在状态信息为空闲状态或正常测试状态时，将该可选样本分析仪的测试优先级确定为高级；在状态信息为需要切换当前状态之后才能进行测试的状态时，将该可选样本分析仪的测试优先级确定为中级；在状态信息为无法进行测试的状态时，将该可选样本分析仪的测试优先级确定为低级。如表3中，试剂装载(开盖)、试剂装载(关盖)、自动混匀、自动效应检测、排冷凝水、休眠、唤醒、孵育、样本装载等状态都属于需要切换当前状态之后才能进行测试的状态。除了空闲状态、正常测试状态、需要切换当前状态之后才能进行测试的状态以外，其他状态为无法进行测试的状态(也就是不满足测试条件的状态)。
步骤22’、处理器70根据测试优先级确定待测样本的调度规划。如果所述可选样本分析仪有至少两台，则选择测试优先级最高的可选样本分析仪作为所述待测样本的目标样本分析仪。例如，在可选样本分析仪的测试优先级均为低级时，处理器70将所述待测样本的测试作废。在至少一个可选样本分析仪的测试优先级为高级时，处理器70将测试优先级为高级的可选样本分析仪作为所述待测样本的目标样本分析仪，同样的，高级的可选样本分析仪有多个，则随机选取一个或者选取最近的那个作为目标样本分析仪。在可选样本分析仪的测试优先级没有高级，且至少一个可选样本分析仪的测试优先级为中级时，处理器70通过调度装置50将所述待测样本输送到缓存区等待。如此，也能提高样本测试的效率。
本领域技术人员可以理解，上述实施方式中各种方法的全部或部分功能可以通过硬件的方式实现，也可以通过计算机程序的方式实现。当上述实施方式中全部或部分功能通过计算机程序的方式实现时，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质可以包括：只读存储器、随机存储器、磁盘、光盘、硬盘等，通过计算机执行该程序以实现上述功能。例如，将程序存储在设备的存储器中，当通过处理器执行存储器 中程序，即可实现上述全部或部分功能。另外，当上述实施方式中全部或部分功能通过计算机程序的方式实现时，该程序也可以存储在服务器、另一计算机、磁盘、光盘、闪存盘或移动硬盘等存储介质中，通过下载或复制保存到本地设备的存储器中，或对本地设备的系统进行版本更新，当通过处理器执行存储器中的程序时，即可实现上述实施方式中全部或部分功能。
本文参照了各种示范实施例进行说明。然而，本领域的技术人员将认识到，在不脱离本文范围的情况下，可以对示范性实施例做出改变和修正。例如，各种操作步骤以及用于执行操作步骤的组件，可以根据特定的应用或考虑与系统的操作相关联的任何数量的成本函数以不同的方式实现(例如一个或多个步骤可以被删除、修改或结合到其他步骤中)。
另外，如本领域技术人员所理解的，本文的原理可以反映在计算机可读存储介质上的计算机程序产品中，该可读存储介质预装有计算机可读程序代码。任何有形的、非暂时性的计算机可读存储介质皆可被使用，包括磁存储设备(硬盘、软盘等)、光学存储设备(CD-ROM、DVD、Blu Ray盘等)、闪存和/或诸如此类。这些计算机程序指令可被加载到通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理设备上以形成机器，使得这些在计算机上或其他可编程数据处理装置上执行的指令可以生成实现指定的功能的装置。这些计算机程序指令也可以存储在计算机可读存储器中，该计算机可读存储器可以指示计算机或其他可编程数据处理设备以特定的方式运行，这样存储在计算机可读存储器中的指令就可以形成一件制造品，包括实现指定功能的实现装置。计算机程序指令也可以加载到计算机或其他可编程数据处理设备上，从而在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生一个计算机实现的进程，使得在计算机或其他可编程设备上执行的指令可以提供用于实现指定功能的步骤。
虽然在各种实施例中已经示出了本文的原理，但是许多特别适用于特定环境和操作要求的结构、布置、比例、元件、材料和部件的修改可以在不脱离本披露的原则和范围内使用。以上修改和其他改变或修正将被包含在本文的范围之内。
前述具体说明已参照各种实施例进行了描述。然而，本领域技术人员将认识到，可以在不脱离本披露的范围的情况下进行各种修正和改变。因此，对于本披露的考虑将是说明性的而非限制性的意义上的，并且所 有这些修改都将被包含在其范围内。同样，有关于各种实施例的优点、其他优点和问题的解决方案已如上所述。然而，益处、优点、问题的解决方案以及任何能产生这些的要素，或使其变得更明确的解决方案都不应被解释为关键的、必需的或必要的。本文中所用的术语“包括”和其任何其他变体，皆属于非排他性包含，这样包括要素列表的过程、方法、文章或设备不仅包括这些要素，还包括未明确列出的或不属于该过程、方法、系统、文章或设备的其他要素。此外，本文中所使用的术语“耦合”和其任何其他变体都是指物理连接、电连接、磁连接、光连接、通信连接、功能连接和/或任何其他连接。
具有本领域技术的人将认识到，在不脱离本发明的基本原理的情况下，可以对上述实施例的细节进行许多改变。因此，本发明的范围应根据以下权利要求确定。

Claims (21)

  1. 一种样本分析系统的样本调度方法,所述样本分析系统包括至少两个级联的样本分析仪，其特征在于，所述调度方法包括：
    获取待测样本的标识信息；
    根据待测样本的标识信息确定待测样本的测试项目；
    根据所述测试项目，找出样本分析系统中能执行所述测试项目的可选样本分析仪；
    根据所述可选样本分析仪的状态信息确定所述待测样本进入可选样本分析仪进行测试所需的等待时间；
    根据所述等待时间确定所述待测样本的调度规划。
  2. 一种样本分析系统的样本调度方法,所述样本分析系统包括至少两个级联的样本分析仪，其特征在于，所述调度方法包括：
    获取待测样本的测试项目以及可选样本分析仪的状态信息；所述可选样本分析仪为所述样本分析系统中能执行所述测试项目的样本分析仪；
    根据所述可选样本分析仪的状态信息确定所述待测样本的调度规划。
  3. 如权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述可选样本分析仪的状态信息确定所述待测样本的调度规划包括：
    根据所述可选样本分析仪的状态信息确定所述待测样本进入可选样本分析仪进行测试所需的等待时间；
    根据所述等待时间确定所述待测样本的调度规划。
  4. 如权利要求1或3所述的方法，其特征在于，根据所述等待时间确定所述待测样本的调度规划包括：
    如果所述可选样本分析仪有至少两台，则选择等待时间最短的可选样本分析仪作为所述待测样本的目标样本分析仪。
  5. 如权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述可选样本分析仪的状态信息确定所述待测样本的调度规划包括：
    根据所述可选样本分析仪的状态信息确定状态信息对应的测试优先级；
    如果所述可选样本分析仪有至少两台，则选择测试优先级最高的可选样本分析仪作为所述待测样本的目标样本分析仪。
  6. 如权利要求1或3所述的方法，其特征在于，根据所述等待时间确定所述待测样本的调度规划包括：
    比较所述等待时间与第一阈值时间、第二阈值时间的大小，其中所述第二阈值时间小于第一阈值时间；
    在所有的等待时间均大于第一阈值时间时，将所述待测样本的测试作废；和/或，
    在至少一个等待时间小于或等于第二阈值时间时，选择等待时间最短的可选样本分析仪作为所述待测样本的目标样本分析仪；和/或，
    在至少一个等待时间小于或等于第一阈值时间且大于第二阈值时间时，将所述待测样本输送到缓存区等待。
  7. 如权利要求1或3所述的方法，其特征在于，根据所述可选样本分析仪的状态信息确定所述待测样本进入可选样本分析仪进行测试所需的等待时间包括：
    根据所述可选样本分析仪的状态信息得到所述可选样本分析仪从当前状态切换到能立即处理样本所需的第一时间，以及得到所述可选样本分析仪处理完前端轨道上留存的样本所需的第二时间；
    至少根据所述第一时间和第二时间计算所述待测样本进入所述可选样本分析仪进行测试所需的等待时间。
  8. 如权利要求7所述的方法，其特征在于，至少根据所述第一时间和第二时间计算所述待测样本进入所述可选样本分析仪进行测试所需的等待时间包括：
    获取待测样本进行测试前所需的准备时间；所述准备时间包括：待测样本从缓存区运输到可选样本分析仪前端轨道加样位所需的时间，和预留的余量时间中的至少一种；
    将所述第一时间和第二时间相加之后减去准备时间，得到所述等待时间。
  9. 如权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述可选样本分析仪的状态信息确定状态信息对应的测试优先级包括：
    若所述状态信息包括空闲状态或正常测试状态，则确定对应的测试优先级为高级；
    若所述状态信息包括需要切换当前状态之后才能进行测试的状态，则确定对应的测试优先级为中级；
    若所述状态信息包括无法进行测试的状态，则确定对应的测试优先级为低级。
  10. 如权利要求9所述的方法，其特征在于，还包括：
    在至少一个可选样本分析仪的测试优先级为高级时，将测试优先级为高级的可选样本分析仪作为所述待测样本的目标样本分析仪；和/或，
    在可选样本分析仪的测试优先级没有高级，且至少一个可选样本分析仪的测试优先级为中级时，将所述待测样本输送到缓存区等待；和/或，
    在可选样本分析仪的测试优先级均为低级时，将所述待测样本的测试作废。
  11. 一种样本分析系统，其特征在于，包括：
    输入模块，用于接收用户放入的待测样本并获取待测样本的标识信息；
    至少两个级联的样本分析仪，用于对待测样本进行测试；
    轨道，用于连接所述样本分析仪和输入模块；
    调度装置，用于通过所述轨道并根据待测样本的调度规划来调度待测样本；
    处理器，用于根据所述输入模块获取的待测样本的标识信息，确定待测样本的测试项目，并根据所述测试项目，找出样本分析系统中能执行所述测试项目的可选样本分析仪；根据所述可选样本分析仪的状态信息确定所述待测样本的调度规划。
  12. 如权利要求11所述的系统，其特征在于，所述处理器根据所述可选样本分析仪的状态信息确定所述待测样本的调度规划包括：
    根据所述可选样本分析仪的状态信息确定所述待测样本进入可选样本分析仪进行测试所需的等待时间；
    根据所述等待时间确定所述待测样本的调度规划。
  13. 如权利要求12所述的系统，其特征在于，所述处理器根据所述等待时间确定所述待测样本的调度规划包括：
    如果所述可选样本分析仪有至少两台，则选择等待时间最短的可选样本分析仪作为所述待测样本的目标样本分析仪。
  14. 如权利要求11所述的系统，其特征在于，所述处理器根据所述可选样本分析仪的状态信息确定所述待测样本的调度规划包括：
    根据所述可选样本分析仪的状态信息确定状态信息对应的测试优先级；
    如果所述可选样本分析仪有至少两台，则选择测试优先级最高的可选样本分析仪作为所述待测样本的目标样本分析仪。
  15. 如权利要求12所述的系统，其特征在于，所述处理器根据所述等待时间确定所述待测样本的调度规划包括：
    比较所述等待时间与第一阈值时间、第二阈值时间的大小，其中所述第二阈值时间小于第一阈值时间；
    在所有的等待时间均大于第一阈值时间时，将所述待测样本的测试作废；和/或，
    在至少一个等待时间小于或等于第二阈值时间时，选择等待时间最短的可选样本分析仪作为所述待测样本的目标样本分析仪；和/或，
    在至少一个等待时间小于或等于第一阈值时间且大于第二阈值时间时，通过所述调度装置将所述待测样本输送到缓存区等待。
  16. 如权利要求12所述的系统，其特征在于，所述处理器根据所述可选样本分析仪的状态信息确定所述待测样本进入可选样本分析仪进行测试所需的等待时间包括：
    根据所述可选样本分析仪的状态信息得到所述可选样本分析仪从当前状态切换到能立即处理样本所需的第一时间，以及得到所述可选样本分析仪处理完前端轨道上留存的样本所需的第二时间；
    至少根据所述第一时间和第二时间计算所述待测样本进入所述可选样本分析仪进行测试所需的等待时间。
  17. 如权利要求16所述的系统，其特征在于，所述处理器至少根据所述第一时间和第二时间计算所述待测样本进入所述可选样本分析仪进行测试所需的等待时间包括：
    获取待测样本进行测试前所需的准备时间；所述准备时间包括：待测样本从缓存区运输到可选样本分析仪前端轨道加样位所需的时间，和预留的余量时间中的至少一种；
    将所述第一时间和第二时间相加之后减去准备时间，得到所述等待时间。
  18. 如权利要求14所述的系统，其特征在于，所述处理器根据所述目标样本分析仪的状态信息确定状态信息对应的测试优先级包括：
    若所述状态信息包括空闲状态或正常测试状态，则确定对应的测试优先级为高级；
    若所述状态信息包括需要切换当前状态之后才能进行测试的状态，则确定对应的测试优先级为中级；
    若所述状态信息包括无法进行测试的状态，则确定对应的测试优先级为低级。
  19. 如权利要求18所述的系统，其特征在于，所述处理器还用于：
    在至少一个可选样本分析仪的测试优先级为中级时，将所述待测样本输送到缓存区等待；和/或，
    在可选样本分析仪的测试优先级均为低级时，将所述待测样本的测试作废。
  20. 一种样本分析系统，其特征在于包括：
    存储器，用于存储程序；
    处理器，用于执行所述存储器存储的程序以实现如权利要求1-10中任一项所述的方法。
  21. 一种计算机可读存储介质，其特征在于，包括程序，所述程序能够被处理器执行以实现如权利要求1-10中任一项所述的方法。
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