WO2020174982A1 - 半導体レーザモジュール - Google Patents
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Definitions
- the present disclosure relates to a semiconductor laser module.
- a semiconductor laser chip is used as a light source that emits such high-power laser light. Since the emitted light from the semiconductor laser chip diverges, a semiconductor laser module in which a semiconductor laser chip and a collimator element (collimating element) are combined is used (for example, see Patent Document 1).
- the stem on which the semiconductor laser chip is arranged has a parabolic reflection surface (that is, a mirror surface) that collimates the light emitted from the semiconductor laser chip.
- a concave reflector is provided. As a result, it is attempting to collimate the light emitted from the semiconductor laser chip without providing a separate collimator element.
- Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-1808271
- the present disclosure solves such a problem by providing a semiconductor laser module having a semiconductor laser chip and a collimator element having a mirror surface, in which a mirror surface can be easily formed.
- the purpose is to provide. ⁇ 02020/174982 2 (:171?2020/002996
- one aspect of a semiconductor laser module is at least one semiconductor laser chip, at least one first collimator element, and at least one semiconductor laser chip.
- each of the at least one semiconductor laser chip has an emission point for emitting a laser beam
- each of the semiconductor laser chips is arranged on the bottom so that the emission direction of the laser light and the main surface of the bottom are parallel to each other, and the divergence in the first axial direction perpendicular to the propagation direction of the laser light is The angle is larger than the divergence angle in the propagation direction and the second axis direction perpendicular to the first axis, and each of the at least one first collimator element faces the exit point in the package.
- Has a concave mirror surface which reflects the laser light toward the opening and reduces the divergence angle of the laser light in the first axial direction.
- the first collimator element does not have to be integrated with a part of the housing. Therefore, since the first collimator element can be formed by itself, the first collimator element having the mirror surface having a desired shape can be easily formed.
- the spot diameter due to the divergence of the laser light is closer to the emission point than the case where the laser light is collimated on the emission surface of the transmissive collimator lens.
- Laser light can be collimated at a position where the increment is relatively small. Therefore, it is possible to form a laser beam having a smaller spot diameter on the fast axis (first axis). As a result, the density of laser light can be increased. Also, since the spot diameter of the laser light on the fast axis can be reduced, the fast and slow axes of the laser light ( ⁇ 02020/174982 3 (:171?2020/002996
- the optical distance required to bring the spot diameter ratio (in the second axis) to a specified value can be reduced. Therefore, the semiconductor laser module can be downsized.
- the semiconductor laser module further includes at least one submount bonded to the bottom portion, and each of the at least one semiconductor laser chip includes the at least one submount. It may be joined to the bottom portion via.
- the surface of each of the at least one submount includes a front surface extending in a direction intersecting the emission direction of the laser light,
- Each of the two first collimator elements may be arranged such that the mirror surface faces the front surface.
- the first collimator element is provided separately from the submount on which the semiconductor laser chip is mounted.
- the first collimator element can be formed more easily than in the case where the first collimator element is formed integrally with the submount.
- At least one second collimator element is further provided, and each of the at least one second collimator element is the at least one first collimator element.
- the divergence angle of the laser beam reflected by each of the elements in the second axial direction may be reduced.
- the laser light from the semiconductor laser chip can be collimated by reducing the divergence angles in both the first axis and the second axis.
- the cap member has an inner side surface arranged on the body side and an outer side surface arranged on the back side of the inner side surface.
- the at least one second collimator element may be arranged on the outer side surface.
- a cylindrical surface is a surface that does not have a curvature in one direction parallel to the surface of a lens or a mirror, and a cylindrical surface has a curvature in a direction perpendicular to the above-mentioned one direction.
- cylindrical lens and the cylindrical mirror in this specification refer to the lens and the mirror having the above-mentioned cylindrical surface.
- the cap member has an inner side surface that is a surface on the main body side, and an outer side surface that is disposed on the back side of the inner side surface.
- the at least one second collimator element may be arranged on the inner surface.
- the outer surface of the cap member can be flattened as compared with the case where the second collimator element is arranged on the outer surface of the cap member. Therefore, the additional component can be easily mounted on the outer side surface of the cap member.
- the at least one second collimator element and the window member may be integrally molded.
- the package may seal an internal space.
- Contamination of scientific elements can cause problems such as beam quality degradation.
- the semiconductor laser module of the present disclosure by sealing the package, it is possible to prevent siloxane from flowing from the outside of the package to the inside, so that the optical element is prevented from being contaminated with siloxane. Can be suppressed. Therefore, deterioration of the beam quality of the laser light can be suppressed.
- the at least one semiconductor laser chip and the at least one first collimator element are bonded to the package with a bonding member containing no resin.
- the amount of siloxane existing in the sealed package can be reduced. Therefore, for example, even when the laser light is light in a short wavelength band from ultraviolet to blue, an optical element using siloxane is used. It is possible to suppress the contamination of the laser beam and the accompanying deterioration of the beam quality of the laser beam.
- an optical distance from the emitting point to a mirror surface of the first collimator element, of the at least one first collimator element, into which the laser light is incident. May be greater than or equal to 30 and less than or equal to 300.
- the position near the emission point that is, the position where the spot diameter increase due to the divergence of the laser light is relatively small. This allows you to collimate the laser light. Therefore, a laser beam having a smaller spot diameter can be formed on the first axis. Along with this, it is possible to increase the density of laser light.
- an optical distance from the emission point to a second collimator element of the at least one second collimator element to which the laser light is incident is 1 It may be greater than or equal to 450 and less than or equal to 420.
- the optical distance from the emitting point to the second collimator element is 1 450 or more, the optical distance from the emitting point to the first collimator element is about 700. ⁇ 02020/174982 6 ⁇ (: 171?2020/002996
- the interference between the first collimator element and the second collimator element can be suppressed.
- the spot diameter 0 3 of the laser beam on the second axis can be suppressed to about 100 or less. Therefore, it is possible to suppress the loss that occurs when the laser light is incident on the tip lens of a general optical fiber with a tip lens. Further, it is possible to suppress the size increase of the semiconductor laser module.
- an optical distance from the emission point to a second collimator element of the at least one second collimator element into which the laser light is incident is 9 It may be not less than 0 and not more than 420.
- the optical distance from the emission point to the second collimator element is 900 or more, even if the optical distance from the emission point to the first collimator element is as large as about 700, the first collimator It is possible to suppress the interference between the element and the second collimator element. Further, since the optical distance from the emission point to the second collimator element is 420 or less, the spot diameter 0 3 of the laser beam on the second axis can be suppressed to about 100 or less. Therefore, it is possible to suppress the loss that occurs when the laser light is incident on the tip lens of a general optical fiber with a tip lens. Further, it is possible to suppress the size increase of the semiconductor laser module.
- At least one of the cap member and the top surface portion is a bonding region where the cap member and the top surface portion overlap with each other in a plan view of the bottom portion.
- a first protrusion whose cross-sectional area changes depending on the position in the direction perpendicular to the main surface of the bottom, and a second protrusion whose cross-sectional area does not change depending on the position in the direction perpendicular to the main surface of the bottom. And a part.
- the shape of the second protrusion hardly changes,
- the two projections can improve the positional accuracy of the cap member with respect to the top surface.
- At least one semiconductor laser chip includes a plurality of semiconductor laser chips, and the at least one first collimator element is arranged to face all the emission points of the plurality of semiconductor laser chips. It may include two first collimator elements.
- the number of the first collimator elements can be reduced. Further, since all the laser beams are collimated and reflected by the same first collimator element, it is possible to suppress the positional deviation between the plurality of laser beams.
- the maximum width in the emission direction of the laser light of each of the at least one first collimator element is the maximum width in the emission direction of the mirror surface. May be more than double.
- the portion other than the mirror surface is larger, and thus the handling of the first collimator element can be facilitated. ..
- the bonding area can be expanded compared to the case where the width of the first collimator element in the laser beam emission direction is about the maximum width of the mirror surface. .. Therefore, the bonding strength between the first collimator element and the bottom can be increased.
- a beam twister arranged outside the package may be further provided.
- the laser light can be rotated by a predetermined angle with respect to the optical axis.
- one aspect of the semiconductor laser module according to the present disclosure may further include an optical fiber with a tip lens that receives the laser light reflected by the at least one first collimator element.
- the laser light can be easily introduced into the optical fiber. Moreover, since the optical fiber and the lens are integrated, the labor for adjusting the optical axis can be reduced.
- ⁇ 02020/174982 8 ⁇ (: 171?2020/002996
- Each of the at least one second collimator element has a convex surface portion, and the number of the emission points is (where n 3) the mirror on the optical axis of the laser beam from the emission points. Assuming that the optical distance to the surface is 1-(3, the spot diameter on the second axis in the convex surface portion of the laser beam is 0 3
- the spot diameters of the n laser beams in the first axis are different from the spot diameters in the second axis. Can be suppressed from becoming too small. Therefore, the entire cross section of the optical fiber can be effectively used when introducing n laser beams into an optical fiber having a circular cross section.
- a distance between two adjacent emission points is May be more than 1.2 times.
- the main body has a side portion arranged along an outer edge of the bottom portion, and the side portion is electrically connected to the semiconductor laser chip and the semiconductor laser chip. It may have a plurality of lead pins that are electrically connected. [0047] By using such lead pins, power can be easily supplied to the semiconductor laser chip from outside the package.
- a semiconductor laser module including a semiconductor laser chip and a collimator element having a mirror surface, the semiconductor laser module having a mirror surface easily formed.
- Fig. 1 is a schematic plan view showing an overall configuration of a semiconductor laser module according to the first embodiment.
- FIG. 2 is a schematic first cross-sectional view showing the overall configuration of the semiconductor laser module according to the first embodiment. ⁇ 02020/174982 9 (:171?2020/002996
- FIG. 3 is a schematic second cross-sectional view showing the overall configuration of the semiconductor laser module according to the first embodiment.
- FIG. 4 is a schematic first cross-sectional view showing the overall configuration of the semiconductor laser module according to the first embodiment.
- FIG. 5 is a schematic second cross-sectional view showing the overall configuration of the semiconductor laser module according to the first embodiment.
- FIG. 68 is a schematic side view showing a first collimator element according to a comparative example.
- FIG. 6 is a schematic side view showing the first collimator element according to the first embodiment.
- FIG. 7 is a schematic diagram for explaining the action on the second axis of the semiconductor laser module according to the comparative example and the first embodiment.
- FIG. 8 is a schematic diagram illustrating conditions required for the first collimator element according to the first embodiment.
- FIG. 9 is a schematic cross-sectional view showing a first step of the method for manufacturing the semiconductor laser module according to the first embodiment.
- FIG. 10 is a schematic sectional view showing a second step of the method for manufacturing the semiconductor laser module according to the first embodiment.
- FIG. 11 is a schematic cross-sectional view showing a third step of the method for manufacturing the semiconductor laser module according to the first embodiment.
- FIG. 12 is a schematic cross-sectional view showing a fourth step of the method for manufacturing the semiconductor laser module according to the first embodiment.
- FIG. 13 is a schematic cross-sectional view showing a fifth step of the method for manufacturing the semiconductor laser module according to the first embodiment.
- FIG. 14 is a schematic cross-sectional view showing a sixth step of the method for manufacturing the semiconductor laser module according to the first embodiment.
- FIG. 15 is a schematic cross-sectional view showing a seventh step of the method for manufacturing the semiconductor laser module according to the first embodiment. ⁇ 02020/174982 10 (:171?2020/002996
- FIG. 16 is a schematic sectional view showing an eighth step of the method for manufacturing the semiconductor laser module according to the first embodiment.
- FIG. 17 is a schematic cross-sectional view showing a ninth step of the method for manufacturing the semiconductor laser module according to the first embodiment.
- FIG. 18 is a schematic plan view showing an overall configuration of a semiconductor laser module according to a second embodiment.
- FIG. 19 is a schematic first cross-sectional view showing the overall structure of the semiconductor laser module according to the second embodiment.
- FIG. 20 is a schematic second cross-sectional view showing the overall configuration of a semiconductor laser module according to the second embodiment.
- FIG. 21 is a schematic first cross-sectional view showing the overall structure of the semiconductor laser module according to the second embodiment.
- FIG. 22 is a schematic second cross-sectional view showing the overall configuration of the semiconductor laser module according to the second embodiment.
- FIG. 23 is a schematic diagram showing a relationship between a second collimator element according to the second embodiment and a laser beam.
- FIG. 24 is a schematic plan view showing an overall configuration of a semiconductor laser module according to a third embodiment.
- FIG. 25 is a schematic first cross-sectional view showing the overall configuration of the semiconductor laser module according to the third embodiment.
- FIG. 26 is a schematic second cross-sectional view showing the overall configuration of the semiconductor laser module according to the third embodiment.
- FIG. 27 is a schematic plan view showing an overall configuration of a semiconductor laser module according to the fourth embodiment.
- FIG. 28 is a schematic first cross-sectional view showing the overall structure of the semiconductor laser module according to the fourth embodiment.
- FIG. 29 is a schematic second cross-sectional view showing the overall configuration of the semiconductor laser module according to the fourth embodiment. ⁇ 0 2020/17498 2 1 1 ⁇ (: 171? 2020 /002996
- FIG. 30 is a schematic first cross-sectional view showing the overall configuration of a semiconductor laser module according to the fifth embodiment.
- FIG. 31 is a schematic second cross-sectional view showing the overall structure of a semiconductor laser module according to the fifth embodiment.
- FIG. 32 is a schematic plan view showing a configuration of the semiconductor laser module according to the sixth embodiment excluding the cap member and the window member.
- FIG. 33 is a schematic cross-sectional view showing the configuration of the semiconductor laser module according to the sixth embodiment except the cap member and the window member.
- FIG. 34 is a schematic plan view showing an overall configuration of a semiconductor laser module according to the sixth embodiment.
- FIG. 35 is a schematic sectional view showing an overall configuration of a semiconductor laser module according to the sixth embodiment.
- FIG. 36 is a schematic cross-sectional view showing the shape of the window member according to the sixth embodiment.
- FIG. 37 is a schematic plan view showing the overall configuration of a semiconductor laser module according to the seventh embodiment.
- FIG. 38 is a schematic sectional view showing an overall configuration of a semiconductor laser module according to the seventh embodiment.
- FIG. 39 is a schematic cross-sectional view showing the shape of the window member according to the seventh embodiment.
- each drawing is a schematic view, and is not necessarily strictly illustrated. Therefore, the scales, etc. in each figure do not necessarily match.
- the substantially same components are designated by the same reference numerals, and overlapping explanations will be omitted or simplified.
- the terms “upper” and “lower” do not refer to an upward direction (vertical upward) and a downward direction (vertical downward) in absolute spatial recognition, but in a laminated structure. It is used as a term defined by the relative positional relationship based on the stacking order. Also, the terms “upper” and “lower” refer to two components not only when the two components are spaced apart from each other and there is another component between the two components. It also applies when they are placed in contact with each other.
- the semiconductor laser module according to the first embodiment will be described.
- FIGS. 1, 2, and 3 are a schematic plan view, a first sectional view, and a second sectional view, respectively, showing the overall configuration of the semiconductor laser module 10 according to the present embodiment.
- FIG. 2 shows a cross section taken along the line I-I shown in FIG.
- FIG. 3 shows a cross section taken along the line I I -I I shown in FIG.
- the vertical direction is the axial direction
- the two directions perpendicular to the axial direction and perpendicular to each other are the X-axis direction and the V-axis direction.
- the positive direction of the X axis, the positive direction of the so axis, and the positive direction of the lateral axis are drawn so as to be a right-handed coordinate system.
- the positive direction is perpendicular to the plane of the paper and faces toward the front
- the positive direction of the X axis (not shown in Fig. 2) is perpendicular to the plane of the paper and toward the back.
- the semiconductor laser module 10 is a module that emits laser light, and includes a package 20 as shown in FIGS. 1 to 3.
- the yule 10 further includes a semiconductor laser chip 40 and a first collimator element 50.
- the semiconductor laser module 10 further includes a second collimator element 31, a submount 42, and a heat sink 44.
- the package 20 is a housing in which at least one semiconductor laser chip 40 and at least one first collimator element 50 are arranged.
- the package 20 has a main body 21, a cap member 26 attached to the top surface 25, and a window member 27.
- body 2 1 is a bottomed cylindrical member having a top surface portion 2 5 flat bottom 2 2 and the opening 2 1 3 is formed.
- the opening 2 13 is an example of a first opening formed at the end of the main body 21 opposite to the end where the bottom 22 is arranged.
- the main body 21 has a bottom portion 22 and side portions 23.
- the bottom portion 22 is a flat plate-shaped member located at the bottom of the main body 21.
- bottom 22 is a rectangular flat plate-like member, and semiconductor laser chip 40 and the like are arranged on the main surface of bottom 22 located inside package 20.
- the material for forming the bottom portion 22 is not particularly limited, but may be, for example, O-based alloy or O-based alloy. By using such a material having a high thermal conductivity, it is possible to promote the dissipation of heat generated from the semiconductor laser chip 40 or the like.
- the side portion 23 is a tubular member that is erected on the inner main surface of the package 20 in the bottom portion 22.
- the bottom portion 2 2 is arranged at one open end of the side portion 23.
- the cap member 26 is arranged on the top surface portion 25 which is the other opening end portion.
- the top surface portion 25 is a surface of the end portion of the side portion 23 facing the cap member 26.
- the side portion 23 is a tubular member that is arranged along the outer edge of the bottom portion 22 and has openings formed at both ends.
- a rectangular opening is formed in the side portion 23.
- the opening formed in the top surface portion 25 of the side portion 23 is the first opening (opening described above). Is.
- the side portion 23 and the bottom portion 22 are air-tightly joined by, for example, a joining member having a higher melting point than solder such as a filler.
- the side portion 23 has a plurality of leads electrically connected to the semiconductor laser chip 40. ⁇ 02020/174982 14 (:171?2020/002996
- the side portion 23 has two lead pins 24.
- the lead pins 24 extend from outside the package 20 through the sides 23 into the package 20. Since the side portion 23 has such a lead pin 24, power can be easily supplied to the semiconductor laser chip 40 from the outside of the package 20.
- the material for forming the lead pin 24 is not particularly limited as long as it is a conductive material, and is, for example, ⁇ , ⁇ -based alloy, ⁇ or ⁇ -based alloy.
- the portion surrounding the lead pin 24 is formed of an insulating member such as low melting glass. This allows the lead pins 24 and package 20 to be isolated.
- the material of the side portion 23 other than the lead pin 24 and the portion surrounding the lead pin 24 is not particularly limited, and may be, for example, a 6- or 6- based alloy.
- the top surface portion 25 has a bottom portion 2 2 in a joint region 200 where the cap member 26 and the top portion 25 overlap in a plan view of the bottom portion 2 2.
- the plan view of the bottom portion 22 means a plan view of the main surface of the bottom portion 22.
- the first protrusion portion 61 is a portion for joining the top surface portion 25 and the cap member 26 by projection resistance welding. As shown in FIGS. 2 and 3, the first protrusion 61 is a protrusion having a triangular cross section, and the cross-sectional area decreases as the distance from the bottom 22 increases. In other words, the width of the first protrusion 61 (that is, the width of the first protrusion 61 in the cross section perpendicular to the longitudinal direction) decreases as the distance from the bottom 22 increases.
- the first protrusion 61 is formed continuously over the entire circumference around the opening 2 13. Thereby, the airtightness between the top surface portion 25 and the cap member 26 can be maintained.
- the second protrusion 63 is a portion for positioning the cap member 26 with respect to the top surface 25 of the main body 21.
- the second protrusion 63 is open. ⁇ 0 2020/17498 2 1 5 ⁇ (: 171? 2020 /002996
- the second protruding portion 63 does not necessarily have to be formed over the entire circumference of the opening 2113.
- the second protrusions 6 3 may be formed intermittently (in other words, discretely) along the periphery of the openings 2 13.
- the top surface portion 25 has the first projection portion 6 1 and the second projection portion 6 3 so that the cap member 26 and the top surface portion 25 are separated from each other. Even when the spaces are joined by projection resistance welding using the first protrusions 61, the shape of the second protrusions 6 3 hardly changes. It is possible to improve the positional accuracy of the top surface part 25.
- the cap member 26 is a member attached to the top surface portion 25 of the main body 21.
- the cap member 26 has an inner side surface arranged on the main body 21 side and an outer side surface arranged on the back side of the inner side surface. As shown in FIG. 1, the cap member 26 overlaps the top surface portion 25 over the entire circumference of the opening 2 13 in a plan view of the bottom portion 22.
- an opening 2 63 is formed at a position overlapping the opening 2 13 of the main body 21 in a plan view of the bottom 22.
- the opening 26 3 is an example of a second opening penetrating the cap member 26 in the vicinity of the center of the cap member 26 in plan view.
- the material forming the cap member 26 is not particularly limited, but may be, for example, 6 or a 6-based alloy.
- the cap member 26 has a bottom portion 2 2 and a top surface portion 25 which are overlapped with each other in a joint region 200 in a plan view of the bottom portion 22. It has a first protrusion 62 whose cross-sectional area changes according to the position in the direction perpendicular to the main surface (see Fig. 1 for the joint area 200 of the bottom 22 in plan view). The first protrusion 62 is arranged on the inner surface of the cap member 26.
- the first protrusion 62 is a portion for joining the top surface 25 and the cap member 26 by projection resistance welding. As shown in FIG. 2 and FIG. 3, the first protrusion 62 is a protrusion having a triangular cross section, and it approaches the bottom 22. ⁇ 02020/174982 16 ⁇ (: 171?2020/002996
- the cross-sectional area is reduced.
- the width of the first protrusion 62 (that is, the width of the first protrusion 62 in a cross section perpendicular to the longitudinal direction) decreases as the width approaches the bottom 22.
- the first protrusion 62 is formed continuously over the entire circumference of the opening 2 13. Thereby, the airtightness between the top surface portion 25 and the cap member 26 can be maintained.
- the double projection resistance welding by the first protrusions 61 and 62 is used, and thus the top surface portion 25 and the key surface portion 25 are connected to each other as compared with the case of using the single projection welding resistance. The airtightness maintaining performance between the cap member 26 and the cap member 26 can be improved.
- the window member 27 is a member that is arranged on the cap member 26 and has a light-transmitting property. In the present embodiment, the window member 27 closes the opening 26 3 of the cap member 26.
- the second collimator element 31 and the window member 27 are integrally formed. As shown in FIGS. 2 and 3, the portion of the window member 27 that includes the optical axis of the laser light is the second collimator element 31. 2 and 3, the end of the region where the laser light propagates is indicated by a broken line.
- the window member 27 is a flat plate portion arranged around the second collimator element 31.
- the flat plate portion 28 is joined to the cap member 26.
- the material forming the window member 27 is not particularly limited as long as it is a translucent material.
- the window member 27 is made of glass, for example.
- the window member 27 and the cap member 26 are hermetically joined by the joining member 29.
- the joining member 29 is not particularly limited, but for example, low-melting glass can be used.
- the window member 27 is provided with an alignment mark 8 which is a mark for adjusting the optical axes of the laser beam and the second collimator element 31.
- an alignment mark 8 which is a mark for adjusting the optical axes of the laser beam and the second collimator element 31.
- the constituent elements of the package 20 according to the present embodiment are hermetically joined together. That is, the package 20 seals the internal space. As a result, it is possible to suppress the contamination of the optical elements and the like arranged in the space inside the package 20.
- the laser light is light in the short wavelength band from ultraviolet to blue
- siloxane (3 ⁇ oxane) generated from resin is attracted to the area with high light intensity and deposited on the optical path of the optical element. To do.
- contamination of the optical element can cause problems such as beam quality deterioration.
- the semiconductor laser module 10 of the present embodiment by sealing the package 20 it is possible to suppress the inflow of siloxane from the outside to the inside of the package 20. Therefore, the optical element is contaminated with siloxane. Can be suppressed. Therefore, the beam quality deterioration of the laser light can be suppressed.
- the semiconductor laser chip 40 is the light source of the semiconductor laser module 10,
- the semiconductor laser chip 40 has a substrate, a semiconductor laminated structure laminated on the substrate, and an optical waveguide having a width of, for example, about 10 or more and 500 or less formed on the semiconductor laminated structure.
- the point corresponding to the side surface on the emission side of the light emitting layer in the semiconductor laminated structure is the emission point 40 3 .
- the configuration of the semiconductor laser chip 40 is not particularly limited as long as it can emit laser light.
- the semiconductor laser chip 40 is a nitride-based semiconductor laser chip that emits ultraviolet or blue short-wavelength band laser light.
- the semiconductor laser chip 40 is arranged on the bottom 22 so that the emission direction of the laser light and the main surface of the bottom 22 are parallel to each other.
- the emission direction of the laser light from emission point 40 3 is the so-axis direction
- the main surface of bottom 22 is parallel to the X V plane.
- the semiconductor laser chip 40 is bonded to the bottom 22 via the submount 42.
- the laser light emitted from the semiconductor laser chip 40 propagates along the first axis (fast axis) which is the beam axis in the direction parallel to the stacking direction of the above semiconductor multilayer structure. ⁇ 02020/174982 18 ⁇ (: 171?2020/002996
- Second axis (slow axis: 3 axes) which is a beam axis perpendicular to the direction and perpendicular to the stacking direction.
- the divergence angle in the second axial direction is larger than 0 II.
- the first axis and the second axis between the emission point 40 3 and the first collimator element 50 are axes parallel to the 2 axis and the X axis, respectively.
- the semiconductor laser chip 40 is electrically connected to the lead pins 24 by wires.
- the lead pin 24 to which a low potential is applied and the n- side electrode (not shown) of the semiconductor laser chip are connected by a wire.
- the lead pin 24 to which a high potential is applied and the side electrode (not shown) of the semiconductor laser chip are connected by a wire.
- the wire connecting the lead pin 24 and the side electrode is not shown in FIG.
- the submount 42 is a base that is joined to the bottom 22.
- a semiconductor laser chip 40 is mounted on 2.
- the submount 42 has a rectangular parallelepiped shape, and the surface of the submount 42 has a front surface 4 2 I 1 extending in a direction intersecting the laser light emission direction (V-axis direction). Including.
- the front surface 42 is parallel to the X plane.
- the material forming the submount 42 is not particularly limited. Materials for forming the submount 42 include, for example, single crystal substrates (3 substrates, 3 ⁇ 3 substrates, etc.), ceramics (I 1 ⁇ 1 substrates, 3 substrates (3 substrates, etc.), diamond substrates, alloys (-- , ⁇ ri _ 1 ⁇ /1 ⁇ ), Composite materials O Lee diamond, 89-diamond, etc.) can be used.
- the submount 42 is bonded to the bottom 22 via the heat sink 44. That is, the semiconductor laser chip 40 is bonded to the bottom 22 through the submount 42 and the heat sink 44.
- the semiconductor laser chip 40 is bonded to the submount 42 by the bonding member 41.
- the material forming the joining member 41 is not particularly limited, but is Au 3 n solder, for example.
- the submount 42 is in contact with the heat sink 44 through the joining member 43. ⁇ 02020/174982 19 ⁇ (: 171?2020/002996
- joining member 43 for example, 8 3 n solder can be used.
- the heat sink 44 is a base joined to the bottom 22 and dissipates heat generated by the semiconductor laser chip 40 and the like.
- the heat sink 44 has a rectangular parallelepiped shape, and is joined to the main surface of the bottom portion 22 via the joining member 45.
- the material forming the heat sink 44 is not particularly limited as long as it has a high thermal conductivity, and is, for example, an O-based material.
- As the joining member 45 for example, a low melting point solder having a melting point lower than that of the joining member 43 (melting point: 1400° to 250°°.
- the surface of the heat sink 4 4 may be plated in order to enhance the bonding strength between the heat sink 4 4 and the bonding members 43 and 45.
- 1 ⁇ 1 I-8 re-plating may be applied to the surface of the Sinkichi Toshin 4.
- the first collimator element 50 is a one-dimensional concave mirror, and is arranged in the package 20 so as to face the emission point 4033 of the semiconductor laser chip 40.
- the first collimator element 50 is a cylindrical mirror having a mirror surface 5 0 ".
- the mirror surface 50 0" has no curvature in one direction parallel to the surface and has a cross section perpendicular to the one direction. It has a concave shape.
- the concave reflecting surface can be selected as spherical surface, aspherical surface, parabolic surface, etc. according to the optical design. are arranged so as to be concave reflective surface Te.
- the mirror surface 5 0 reflects toward the laser beam to the opening 2 1 3, and to reduce the divergence angle in a first axial direction of the laser beam.
- the mirror surface 5 0 reflects the laser light propagating in the V-axis direction in the biaxial directions and changes the direction of the laser light by 90°.
- the laser light reflected by the mirror surface 5 0" The light is incident on the second collimator element 31.
- the mirror surface 5 0 ′ overlaps the aperture 2 18 and the aperture 2 6 8.
- the first collimator element 50 is arranged.
- the positions of the mirror surface 50 “in the X-axis direction and the V-axis direction are the X-axis direction of the openings 2 1 3 and 2 6 3”. ⁇ 02020/174982 20 (:171?2020/002996
- the first collimator element 50 is arranged so as to coincide with the position in the V-axis direction.
- the mirror surface 5 0 has a parabolic shape whose focal point is the emission point 4 0 3 of the emission surface of the semiconductor laser chip 40.
- the mirror surface 5 0 " is in the X-axis direction. This is a parabolic surface parallel to the X-axis direction that does not have a refractive index in the direction of 1.
- the divergence angle of the laser light emitted from the emission point 40 3 in the first axial direction can be reduced, that is, the mirror.
- the surface 50 "reduces the divergence angle of the laser light in the first axis direction.
- the optical axis conversion by the reflection of the laser light is performed.
- the sub-mount 40 is arranged on the sub-mount 42 so as to project from the sub-mount 42 toward the first collimator element 50.
- the sub-mount of the first collimator element 50 adjacent to the mirror surface 50 " It is preferable to form the first collimator element 50 so that the focal point of the mirror surface 50 "is located on the extension surface of the surface facing the mount 42. By doing this, the semiconductor laser chip 40 is manufactured. By aligning the emission point 40 3 on the emission surface with the above-mentioned extension surface, the emission point 40 3 can be focused on the mirror surface 50 0 ".
- the optical axis of the laser light the vertical direction (the axial direction of Fig. 1 to Fig. 3), the spot position of the laser light can be visually confirmed, so that the visual alignment of the optical axis can be achieved. It can be done easily. As a result, the productivity of the semiconductor laser module 10 is improved, and the cost can be reduced.
- the first axis of the laser light reflected by the mirror surface 50 is parallel to the so axis.
- the first collimator element 50 has a shape in which a region including one side of the upper surface of a rectangular parallelepiped is cut out, and is formed by cutting out.
- the surface is a parabolic surface (mirror surface 50 0. Note that the cross section parallel to the 7th plane of the mirror surface 50 0, which is a parabolic surface, has the output point 40 3 or the output point 40 3 It has a parabolic shape with a point on a straight line parallel to the X-axis direction as the focal point. ⁇ 0 2020/174982 21 ⁇ (: 171? 2020 /002996
- a reflective film that enhances the reflectance of the laser light may be formed on the mirror surface 50 ".
- the reflective film for example, a dielectric multilayer film may be used.
- the reflective film is a metal film. It may be.
- the first collimator element 50 has a mirror surface 5 0 ", which is the front surface 4 of the submount 4 2.
- the first collimator element 50 which is not integrally formed with the submount 42 on which the semiconductor laser chip 40 is mounted, is provided.
- the first collimator element 50 can be easily formed with improved accuracy of the paraboloid, as compared with the case where the first collimator element 50 is integrally formed with the submount 42.
- the material forming the first collimator element 50 is not limited, but may be glass, for example. When glass is used as described above, the first collimator element 50 having a desired shape can be easily formed by a high temperature mold press or the like.
- the first collimator element 50 is joined to the package 20 by the joining member 5 1.
- the first collimator element 50 is bonded to the package 20 via the heat sink 44.
- the joining member 51 does not contain any resin.
- a resin having no low melting point may be used as the joining member 51. This can reduce the amount of siloxane present in the sealed package, so that, for example, even if the laser light is light in the short wavelength band from ultraviolet to blue, contamination of the optical element by siloxane and It is possible to suppress the deterioration of the beam quality of the laser light which accompanies it. Incidentally.
- ozone cleaning such as UV irradiation can be used to further suppress contamination and consequent deterioration of the beam quality of the laser light.
- a metal film is formed on the joint surface of the first collimator element 50 with the joint member 51 in order to enhance the joint strength with the joint member 51. May be done.
- the I and the layers may be laminated in order from the joint surface side.
- the metal film may be a metal film obtained by laminating two or more of just 1:, 8, and 0', 1 ⁇ 1.
- the glass forming the first collimator element 50 in order from the bonding surface side. And dense ⁇ 02020/174982 22 ⁇ (: 171?2020/002996
- a material having good adhesiveness, a material having a barrier property against 3 contained in the joining member 51, and a material having 3 n easily diffused contained in the joining member 51 may be laminated.
- the second collimator element 31 is an element that reduces the divergence angle in the second axis direction of the laser light reflected by the first collimator element 50.
- the second collimator element 31 has a curvature with respect to the surface defined by the second axial direction and the traveling direction of light, and has a convex shape toward the bottom 22. It is a cylindrical lens.
- the second collimator element 3 1 is disposed so as to face the mirror surface 50 ′ so that the laser light reflected by the first collimator element 50 is incident, The divergence angle of the laser beam in the direction of the father axis is reduced, and as described above, the second collimator element 31 is integrally molded with the window member 27.
- the second collimator element 31 is a cap member. It is arranged on the outer side surface of 2 6 This makes it possible to reduce the size of the package 20 compared to the case where the second collimator element 31 is arranged on the inner side surface of the cap member 26.
- an anti-reflection coating film for laser light is formed on the incident surface and the emission surface of the laser light.
- the non-reflection coating film may be any film as long as it suppresses the reflection of laser light, and is not limited to a film that does not completely reflect laser light.
- the semiconductor laser module 10 may be combined with another optical element such as an optical fiber.
- a configuration example of such a semiconductor laser module will be described with reference to FIGS. 4 and 5.
- 4 and 5 are a schematic first sectional view and a schematic second sectional view, respectively, showing the overall configuration of the semiconductor laser module 11 according to the present embodiment.
- 4 and 5 show sectional views of the semiconductor laser module 11 at the same positions as the sectional views shown in FIGS. 2 and 3, respectively.
- the semiconductor laser module 11 includes the above-mentioned semiconductor laser module 10 and the optical fiber 80 with the tip lens.
- the semiconductor laser module 11 is ⁇ 02020/174982 23 ⁇ (: 171?2020/002996
- Ruda 70 is further provided.
- the optical fiber 80 with the tip lens is a light guide member that receives the laser light reflected by the first collimator element 50.
- the optical fiber 80 with a tip lens is an assembly having an optical fiber 82, a condenser lens 84, a ferrule 83, and a flange 81.
- the optical fiber 82 is a waveguide that guides the laser light incident on the end face.
- the condenser lens 84 is an optical element that converges the laser light on the end face of the optical fiber 82.
- a non-reflective coating film for the laser light is formed on the incident surface and the emission surface of the laser light of the surface of the condenser lens 84.
- the antireflection coating film may be any film as long as it suppresses the reflection of laser light, and is not limited to a film that does not completely reflect laser light.
- the ferrule 83 is a member which is fixed to the flange 81 and holds the optical fiber 82 and the condenser lens 84.
- the flange 81 is a flange fixed to the fiber holder 70, and holds the optical fiber 82 and the condenser lens 84 via the ferrule 83.
- Phi/ ⁇ Holder 70 is a member for holding the optical fiber 80 with the tip lens.
- the fiber holder 70 has a fixed portion 71 and a tubular portion 72.
- the fixing portion 71 is a portion fixed to the package 20 and covers the cap member 26.
- An opening is formed in the fixed portion 7 1 at a position facing the second collimator element 3 1, and a tubular portion 7 2 is arranged around the opening.
- the cylindrical part 7 2 is a cylindrical part into which the optical fiber 8 2 and the condenser lens 8 4 are inserted, and is formed in the cylindrical part 7 2 at the position of the opening formed in the fixed part 7 1. It is fixed to the fixed part 7 1 so that the holes are arranged.
- the laser light emitted from the second collimator element 31 can be made incident on the optical fiber 82 through the opening formed in the fixed portion 71.
- the opening of the fixing portion 71 is installed so as to face the convex laser light incident surface of the second collimator element 31.
- the material forming the fiber holder 70 is not particularly limited, but is, for example, 6 or 6-based alloy.
- the fiber holder 70 and the side 23 of the body 21 are ⁇ 02020/174982 24 (:171?2020/002996
- the optical fiber 80 with a tip lens may be joined to the fiber holder 70 by spot welding.
- the fiber holder 70 is positioned by visual alignment so that the center of the hole of the cylindrical part 72 of the fiber holder and the spot 3 of the laser beam of the second collimator element 31 are aligned, and then spot welded. It may be fixed to the main body 21 by means of.
- the semiconductor laser module 11 includes the optical fiber 80 with a tip lens that receives the laser light reflected by the first collimator element 50. This allows the laser light to be easily introduced into the optical fiber 82. Further, since the optical fiber 8 2 and the condenser lens 8 4 are integrated, the labor for adjusting the optical axis can be reduced.
- the optical fiber with a tip lens 80 causes the semiconductor laser chip 40 to emit light, and the optical fiber with a tip lens 80 is centered by active alignment so that the optical power received by the optical fiber with a tip lens 80 is maximized. It may be fixed to the fiber holder by welding.
- 6A and 6B are schematic side views showing the first collimator element according to the comparative example and the present embodiment, respectively. 6A and 6B also show a semiconductor laser chip 40 that emits the laser light incident on the first collimator element and a submount 42 that mounts the semiconductor laser chip 40. There is.
- the mounting surface shown in FIGS. 68 and 66 corresponds to, for example, the upper surface of the heat sink 44.
- the first collimator element 105 shown in FIG. 68 is a semiconductor laser chip 4
- the cylindrical lens 3 is a cylindrical lens that reduces the divergence angle of the laser light emitted from 0 in the first axis (axial) direction.
- the cylindrical surface that collimates the laser light is the surface on the downstream side of the laser light (that is, the exit surface) in order to reduce the effect of aberration. ⁇ 02020/174982 25 ⁇ (: 171?2020/002996
- the optical distance R o 0 from the emission point 4 0 3 (in other words, the end face 4 0 6 of the semiconductor laser chip 40 where the emission point 4 0 3 is arranged) to the cylindrical surface shown in Fig. 68 is reduced. Difficult to do. For example, it is theoretically possible to reduce the optical distance by reducing the size of the first collimator element 105. However, since the size of the first collimator element 1500 is small, it becomes difficult to handle the first collimator element 1550, and therefore there is a limit to the reduction of the optical distance roti. Generally, the minimum value of the optical distance roti 0 is about 300.
- the width of the divergence of the laser light before reaching the cylindrical surface becomes large. Becomes relatively large. Therefore, the width of the laser beam collimated by the first collimator element 105 0 in the first axis 0 0 becomes relatively large.
- the first collimator element 50 reduces the divergence angle in the first axial direction by the mirror surface 50 ′′.
- the emission point 4 0 3 and the mirror surface 50 ′′ can easily be reduced.
- the optical distance 1 can be reduced to about 50 or less. Therefore, the collimated laser light first
- the width width 0 1 on the axis of 1 can be significantly reduced as compared with the width width 0 0 of the comparative example.
- the first collimator element 50 since the laser light is collimated by the mirror plane 50, the first collimator element 1 0 5 0 according to the comparative example.
- the laser light is collimated on the exit surface of a transmissive collimator lens like the one shown above, at a position closer to the exit point 408, that is, at a position where the spot diameter increase due to laser light divergence is relatively small. Therefore, it is possible to collimate the laser light.Therefore, it is possible to form a laser light having a smaller spot diameter on the first axis, which enables a higher density of the laser light.
- the optical distance aperture 1 is made smaller, for example, the maximum width of the mirror surface 50 in the emitting direction.
- the width of the first collimator element 50 is larger than that of the mirror surface 50 whose width is about the maximum width of the mirror surface 50, the handling of the first collimator element 50 can be facilitated.
- the bonding area is smaller than that when the width of the first collimator element 50 in the laser beam emission direction is about the maximum width of the mirror surface 50. Therefore, it is possible to increase the joint strength between the first collimator element 50 and the bottom portion 22. In the present embodiment, the joint strength between the first collimator element 50 and the sub-mount 42 is increased. it can.
- FIG. 7 is a schematic diagram for explaining the action on the second axis of the semiconductor laser module according to the comparative example and the present embodiment.
- the schematic diagram ( 31 ) in Fig. 7 shows the relationship between the semiconductor laser module according to the comparative example and the spot diameter on the second axis of the laser light.
- the schematic diagram (32) in Fig. 7 shows the relationship between the optical distance from the emission point 40 3 (optical distance through which laser light propagates) and the spot shape of laser light in the semiconductor laser module according to the comparative example.
- the schematic diagram (case 1) in FIG. 7 shows the relationship between the semiconductor laser module according to the present embodiment and the spot diameter of the laser beam on the second axis.
- FIG. 7 shows the relationship between the optical distance from the emission point 40 3 (optical distance through which laser light propagates) and the spot shape of laser light in the semiconductor laser module according to the present embodiment. Show.
- the collimating surface is formed on the exit surface side as the second collimator element 31. ⁇ 02020/174982 27 ((171?2020/002996
- the semiconductor laser module according to the comparative example has a semiconductor laser chip 40, a submount 42 and a first collimator element 1 shown in FIG. In addition to 0 50, the second collimator element 3 1 according to the present embodiment is provided.
- the aspect ratio of the spot shape of the laser light emitted from the semiconductor laser chip 40 (hereinafter also referred to as the beam aspect ratio). .), in the vicinity of the exit points 4 0 3, for example,
- the laser light is emitted from the second collimator element 1500 of the semiconductor laser module according to the comparative example until it reaches the second collimator surface. It diverges more in the first axial direction than in the axial direction. Therefore, for example, when the optical distance is 0 at the exit surface of the first collimator element 1 05 0 (the position where the optical distance from the exit point 4 0 3 is 0 0), The aspect ratio is about 2.6:1. Downstream of the first collimator element 105 0, the laser light does not diverge in the first axial direction but diverges in the second axial direction.
- the second collimator element is set so that the beam aspect ratio of the laser light emitted from the second collimator element 3 1 is the same as the beam aspect ratio in the vicinity of the emission point 40 3.
- the position of the exit surface (collimate surface) of 31 is defined.
- the optical distance (optical path length) from the exit point 40 3 to the exit surface (collimate surface) of the second collimator element 31 is defined as the mouth 30.
- the optical distance port 30 is 9. It becomes a degree.
- the optical distance roti 1 from the emission point 40 3 to the mirror surface 5 0 "of the first collimator element 50 is compared. Since the optical distance can be significantly reduced from 0 in the example, the divergence of the laser light in the first axis direction is small on the mirror surface 50 ". For example, when the optical distance 1 is about 100. In addition, the beam aspect ratio at the mirror surface 50 of the first collimator element 50 is about 1.5:1. ⁇ 02020/174982 28 ⁇ (: 171?2020/002996
- the laser light does not diverge in the first axial direction but diverges in the second axial direction.
- the beam aspect ratio of the laser light emitted from the second collimator element 3 1 is set to be the same as the beam aspect ratio in the vicinity of the emission point 40 3.
- the position of the exit surface (collimating surface) of the second collimator element 3 1 is determined. As shown in the schematic diagram (distance 1) in Fig. 7, let the optical distance from the emission point 40 3 to the emission surface (collimate surface) of the second collimator element 3 1 be the mouth 3 1.
- the optical distance port 31 is 3.3. It is a degree.
- the emission point 4_Rei 3 3.
- the beam aspect ratio is 3:8, which is the ratio of the spot diameter on the second axis to the spot diameter on the first axis compared to the desired beam aspect ratio (1:8). Is 3 times larger.
- the ratio of the spot diameters of the laser light on the first axis and the second axis is It is possible to reduce the optical distance required for obtaining a predetermined value.
- the optical distance port 3 1 from the emission point 4 0 3 to the second collimator element 3 1 can be greatly shortened compared to the optical distance 0 3 0 of the comparative example.
- the package 20 and the semiconductor laser module 10 can be downsized.
- the spot diameter of the collimated laser light emitted from the second collimator element 31 is set to the laser light emitted from the semiconductor laser module according to the comparative example. It can be reduced to about 1/3 of the spot diameter. Therefore, according to the semiconductor laser module 10 according to the present embodiment, the light density of the emitted laser light can be made higher than the light density of the laser light emitted from the semiconductor laser module of the comparative example.
- the laser diode module 10 ⁇ 02020/174982 29 ⁇ (: 171?2020/002996
- the number of parts can be reduced.
- FIG. 8 is a schematic diagram for explaining the conditions required for the first collimator element 50 according to the present embodiment.
- FIG. 8 shows the semiconductor laser chip 40, the submount 42, and the first collimator element 50.
- the heights of the submounts 1 to 13 II are 300, and the number of laser beams from the semiconductor laser chip 40 is the first.
- the horizontal coordinate on the surface on which the submount 42 and the first collimator element 50 shown in Fig. 8 are arranged is 0, and the horizontal coordinate at the emission point 4 03 is 300 0 (that is, , The horizontal coordinate of the upper surface of the submount 42 is regarded as the horizontal coordinate of the emission point 4 0 3 ), and the so coordinate at the emission point 4 0 3 is 0, it is a parabolic surface having the emission point 4 08 as a focal point. It is assumed that the following equation (1) holds for the coordinates of the upper point (so, ⁇ ) on the mirror surface 50.
- ⁇ coordinate of the emission point 4 0 3 disposed at the focus of the paraboloid is represented by + ⁇ with ⁇ .
- the coordinates of the exit point are 3001, the following formula (2) is established.
- the laser light should not be radiated to the surfaces other than the mirror surface 5 0 "of the first collimator element 50 (condition 1), and the laser beam should be applied from the bottom surface of the first collimator element 50 to the mirror surface 5 0"
- the minimum value of the distances 1 to 1 80 1 to the bottom of 1 is 1 00 (condition 2) is the condition required for the first collimator element 50.
- the minimum value of 80 1 is determined in consideration of the productivity of the first collimator element 50. It is difficult to produce the first collimator element 50 in which the distance 1 to 1801 is less than 100, with a high yield.
- the distance 1 to 1 801 corresponds to ⁇ in the above formula (1), so ⁇ becomes 1 000 or more. Therefore, from equation (2), becomes less than 200.
- the height 1 to 1801 at the bottom of the mirror surface 50 is set as the emission point. It is made lower than the height of 403 by 15 or more, that is, is set to be 15 or more.
- the spot diameter 0 [] of the laser beam collimated by the first collimator element 50 at the first axis is expressed by the following formula (6). Holds.
- spot diameter n is 28, It is 370.
- the spot diameter of the laser beam that can be incident on the optical fiber 80 with a tip lens is about 100,000 or less. Therefore, the spot diameter on the first axis of the laser light emitted from the semiconductor laser module 10 according to the present embodiment uses another condenser lens or the like. ⁇ 0 2020/174982 31 ⁇ (: 171? 2020 /002996
- the optical distance !_ 80 from the output point 40 3 to the mirror surface 5 0 "of the first collimator element 50 is 3 001 or more, 3 It may be less than or equal to 0 0.
- the distance from the emission point 40 3 to the mirror surface 50 of the first collimator element 50 it is possible to obtain a position close to the emission point 40 3. That is, the laser beam can be collimated at a position where the spot diameter increase due to the divergence of the laser beam is relatively small, so that the laser beam having a smaller spot diameter can be formed on the first axis. As a result, it is possible to increase the density of laser light.
- FIGS. 9 to 17 are schematic cross-sectional views showing each step of the manufacturing method of the semiconductor laser modules 10 and 11 according to the present embodiment.
- the semiconductor laser chip 40 is mounted on the submount 42.
- the semiconductor laser chip 40 is bonded to the submount 42 using a resin-free bonding member 41 (for example, 8 u 3 n solder).
- the submount 42 on which the semiconductor laser chip 40 is mounted is bonded to the heat sink 44.
- the submount 42 is joined to the heat sink 4 4 by using a joining member 4 3 containing no resin (eg, 8 u 3 n solder).
- the surface of the heat sink 44 is plated with, for example, 1 ⁇ 1-18.
- the plating applied to the surface of the heat sink 44 may be a combination of one or more of the following: 91 % 30 % 89.
- the first collimator element is attached to the heat sink 44.
- the first collimator element 50 is made of resin. ⁇ 0 2020/174982 32 ⁇ (: 171? 2020 /002996
- the first collimator element 50 has a mirror surface
- the first collimator element It is arranged so as to face the front of the 42. Also, the first collimator element
- a metal film is formed on the bonding surface of the first collimator element 50 with the heat sink 44 (that is, the surface facing the heat sink 44).
- the metal layer 5001 is formed on the bonding surface of the first collimator element 50 with the heat sink 44.
- the first collimator element 50 is made of glass and is molded by a high temperature die press or the like.
- a reflection film made of a dielectric multilayer film is laminated on the mirror surface 50 ". The structure of the reflection film is appropriately determined according to the wavelength of the laser light. ,,,,,,,
- ⁇ 1 ⁇ 1 or more may be a laminated metal film.
- a material having good adhesion to the glass forming the first collimator element 50, the bonding member 5 A material having a barrier property against 3 n contained in 1 and a material easily diffused in 3 contained in the bonding member 51 may be laminated.
- the heat sink 4 4 to which the semiconductor laser chip 40, the submount 42 and the first collimator element 50 are bonded is bonded to the bottom 2 2 of the body 2 1. It In the present embodiment, the heat sink 44 is joined to the bottom 22 by using the joining member 45 made of low melting point solder.
- the semiconductor laser chip 40 and the lead pin 24 are connected by a wire.
- the lead pin 24 to which a low potential is applied and the n-side electrode (not shown) of the semiconductor laser chip are connected by a wire.
- the lead pin 24 to which a high potential is applied and the side electrode (not shown) of the semiconductor laser chip are connected by a wire.
- the wire connecting the lead pin 24 and the side electrode is not shown in FIG.
- the cap member 26 and the main body 21 are joined.
- the cap member is formed by projection resistance welding. ⁇ 02020/174982 33 ⁇ (: 171?2020/002996
- the window member 27 is joined to the cap member 26 prior to this step.
- the window member 27 is joined to the cap member 26 by using the joining member 29 made of a low melting point glass containing no resin.
- the second protrusion 6 3 whose cross-sectional area does not change depending on the position in the direction perpendicular to the main surface of the bottom 2 2 is formed on the top surface 25. Since the cross-sectional area of the second protruding portion 63 is constant, even if a voltage is applied to the cap member 26, the current does not concentrate at the tip of the second protruding portion 63. Therefore, the second protrusion 63 does not substantially melt. In this way, the shape of the second protrusion 63 hardly changes, so that the cap member 26 can be positioned with respect to the top surface 25 by the second protrusion 63. As a result, the positional accuracy of the cap member 26 with respect to the top surface portion 25 can be improved.
- the semiconductor laser module 10 shown in FIG. 15 is manufactured by the above steps.
- a phi/ ⁇ holder 70 is bonded to the top surface 25 of the main body 21 of the semiconductor laser module 10.
- the fiber holder 70 is joined to the top surface 25 by spot welding.
- spot weld marks 91 are formed at the spot weld spots.
- the optical fiber 80 with the tip lens is joined to the fiber holder 70.
- the tip portion of the optical fiber 8 2 of the optical fiber 8 0 with a tip lens is placed inside the tubular portion 7 2 of the fiber holder 70.
- spot weld marks 91 are formed at the spot weld spots.
- the semiconductor laser module 11 is manufactured by the above steps.
- the semiconductor laser module according to the second embodiment will be described.
- the semiconductor laser module according to the present embodiment is different from the semiconductor laser modules 10 and 11 according to the first embodiment mainly in that a plurality of semiconductor laser chips 40 are provided.
- the semiconductor laser module according to the present embodiment will be described focusing on the differences from the semiconductor laser modules 10 and 11 according to the first embodiment.
- FIG. 18, FIG. 19 and FIG. 20 are schematic plan views, a first sectional view and a second sectional view, respectively, showing the overall configuration of the semiconductor laser module 110 according to the present embodiment. It is a figure.
- FIG. 19 shows a cross section taken along line X--X--X--X shown in FIG.
- FIG. 20 shows a cross section taken along line XX—XX shown in FIG.
- the semiconductor laser module 110 is equipped with a package 120. As shown in FIG. 20, the semiconductor laser module 110 further includes three semiconductor laser chips 40 and one first collimator element 150. In the present embodiment, the semiconductor laser module 1 10 further includes three second collimator elements 1 3 1, three submounts 4 2 and one heat sink 1 4 4.
- the package 120 is a housing in which three semiconductor laser chips 40 and one first collimator element 150 are arranged inside.
- the package 120 has a main body 121, a cap member 126 attached to the top surface 125, and a window member 127. ⁇ 0 2020/174982 35 ⁇ (: 171? 2020 /002996
- the main body 1 2 1 has a top surface portion 1 2 5 having a flat bottom portion 1 2 2 and an opening 1 2 1 3. It is a bottomed cylindrical member having and.
- the opening 1 2 1 3 is an example of a first opening formed at the end of the main body 1 2 1 opposite to the end where the bottom portion 1 2 2 is arranged.
- the main body 1 21 has a bottom portion 1 2 2 and side portions 1 2 3. Bottom portion 1 2 2 has the same configuration as bottom portion 2 2 according to the first embodiment.
- the side portion 1 23 is different from the side portion 2 3 according to the first embodiment in the number of lead pins 24, and is the same in other points. In this embodiment, as shown in FIG.
- the side portion 123 has six lead pins.
- the top surface portion 1 2 5 forms a joint region 1 2 0 0 where the cap member 1 2 6 and the top surface portion 1 2 5 overlap in the plan view of the bottom portion 1 2 2.
- the cross-sectional area changes depending on the position of the first protrusion 6 1 whose cutting area changes according to the position in the direction perpendicular to the main surface of the bottom 1 2 2 and the position in the direction perpendicular to the main surface of the bottom 1 2 2.
- No second protrusion 63 is provided.
- the cap member 1 2 6 is a member attached to the top surface portion 1 2 5 of the main body 1 2 1.
- the cap member 1 26 has an inner surface arranged on the main body 1 21 side and an outer surface arranged on the back side of the inner surface. As shown in FIG. 18, the cap member 1 26 overlaps with the top surface portion 1 2 5 over the entire circumference of the opening 1 2 1 3 in a plan view of the bottom portion 1 2 2.
- An opening 1 2 6 3 is formed in the cap member 1 2 6 at a position overlapping the opening 1 2 1 3 of the main body 1 2 1 in a plan view of the bottom portion 1 2 2.
- the opening 1 2 6 3 is an example of a second opening penetrating the cap member 1 26 in the vicinity of the center of the cap member 1 26 in plan view.
- the cap member 1 2 6 has a joining region 1 2 0 0 where the cap member 1 2 6 and the top surface 1 2 5 overlap with each other in plan view of the bottom portion 1 2 2.
- it has a first protrusion 6 2 whose cross-sectional area changes depending on the position in the direction perpendicular to the main surface of the bottom 1 22 2.
- the window member 127 is a member which is arranged on the cap member 126 and has a light-transmitting property. In the present embodiment, the window member 127 covers the opening 1263 of the cap member 126. In the present embodiment, the three second collimator elements 1 3 1 and the window ⁇ 02020/174982 36 ⁇ (: 171?2020/002996
- Material 1 2 7 and 1 are integrally molded. As shown in FIGS. 19 and 20, the portion of the window member 1 27 including the optical axis of the laser light is the second collimator element 1 3 1.
- the window member 127 has a flat plate portion 128 arranged around the second collimator element 131.
- the flat plate portion 1 2 8 is joined to the cap member 1 2 6.
- the window member 1 27 and the cap member 1 26 are hermetically joined by the joining member 29.
- Each of the three semiconductor laser chips 40 has the same configuration as the semiconductor laser chip 40 according to the first embodiment. Further, each of the three submounts 42 has the same structure as the submount 42 according to the first embodiment. The three semiconductor laser chips 40 are mounted on the three submounts 42, respectively.
- Heat sink 1 4 4 has the same configuration as heat sink 4 4 according to the first embodiment except for the dimensions.
- Three submounts 4 2 are bonded to the heatsink 1 4 4.
- the three submounts 42 are arranged on the upper surface of the heat sink 14.4 in a direction perpendicular to the emission direction of laser light (that is, the X-axis direction in FIGS. 18 to 20). More specifically, the positions of the three semiconductor laser chips 40 at the respective emission points 40 3 in the laser beam emission direction (that is, in the axial direction of FIGS. 18 to 20) should be the same.
- Three semiconductor laser chips 40 and three submounts 42 are arranged.
- the 1st collimator element 150 is a single cylindrical mirror
- the mirror surface 15 0 reflects the laser light from the three semiconductor laser chips 40 toward the apertures 1 2 1 3 and reduces the divergence angle of each laser light in the first axial direction.
- Mirror surface 150 “The three laser beams reflected by the three laser beams are respectively incident on the three second collimator elements 1 3 1.
- the mirror surface 1 5 0 “The first collimator element 150 is arranged so that the opening 1 2 1 3 and the opening 1 2 6 3 overlap. ⁇ 02020/174982 37 ⁇ (: 171?2020/002996
- first collimator element 150 is arranged so that the mirror surface 150 "is opposed to each front surface 42 of the three sub-mounts 42.
- the mirror surface 150 has a parabolic shape whose focal point is the emission point 40 3 of the three semiconductor laser chips 40.
- the mirror surface 150" is the X-axis. It is a parabolic surface parallel to the X-axis direction that does not have a curvature in the direction..
- the distance from each of the emission points 4 0 3 of the three semiconductor laser chips 40 to the mirror surface 150 is equal to each other.
- Laser light is emitted in the so-axis direction from each of the three semiconductor laser chips 40. Further, the fast axis of the laser light emitted from the three semiconductor laser chips 40 is the axial direction, and the slow axis is the slow axis.
- Each of the three second collimator elements 1 3 1 is an element that reduces the divergence angle of the laser light reflected by the first collimator element 1 50 in the second axial direction.
- each of the three second collimator elements 1 3 1 has a convex surface portion, as shown in FIG. More specifically, each of the three second collimator elements 1 3 1 is a cylindrical lens having a convex shape in a direction away from the bottom portion 1 2 2. In other words, each of the three second collimator elements 1 3 1 is a cylindrical lens in which a cylindrical surface is formed on the emitting surface. As shown in FIG.
- each of the three second collimator elements 1 3 1 reduces the divergence angle of the laser light in the direction of the second axis, that is, the father axis.
- the second collimator element 1 3 1 is integrally formed with the window member 1 27.
- the second collimator element 1 3 1 is arranged on the outer surface of the cap member 1 26.
- the size of the package 120 can be reduced as compared with the case where the second collimator element 1 3 1 is arranged on the inner side surface of the cap member 1 26.
- the three second collimator elements 1 3 1 are arranged on the optical paths of the three laser beams reflected by the first collimator element 1 50, respectively.
- the semiconductor laser module 110 has the plurality of semiconductor laser chips 40 and all the emission points 403 of the plurality of semiconductor laser chips 40. It is provided with one first collimator element 150 arranged so as to face each other. As a result, the number of first collimator elements 150 can be reduced. Further, since all the laser beams are collimated and reflected by the same first collimator element 150, it is possible to suppress the positional deviation between the plurality of laser beams.
- the emission point 4 0 3 is set. They may be arranged on a straight line in the direction of the father axis. In the present embodiment, the number of semiconductor laser chips 40 is set to 3, but the number is not limited to this. The number of semiconductor laser chips 40 may be plural.
- FIGS. 21 and 22 are a schematic first sectional view and a schematic second sectional view, respectively, showing the overall configuration of the semiconductor laser module 1 11 according to the present embodiment.
- 21 and 22 show sectional views of the semiconductor laser module 1 11 at the same positions as the sectional views shown in FIGS. 19 and 20, respectively.
- the semiconductor laser module 1 11 is provided with the above-mentioned semiconductor laser module 110 and three optical fibers with tip lens 80. Moreover, in the present embodiment, the semiconductor laser module 1 1 1 1 1 further includes a fiber holder 1 7 0.
- the optical fiber 80 with the tip lens has the same configuration as the optical fiber 80 with the tip lens according to the first embodiment. ⁇ 02020/174982 39 (:171?2020/002996
- the fiber holder 170 is a member that holds the three optical fibers with tip lenses 80.
- the fiber holder 1700 has a fixed portion 1171 and a tubular portion 72.
- the fixed portion 1 71 is a portion fixed to the package 1 20 and covers the cap member 1 2 6.
- An opening is formed in the fixed portion 1 71 at a position facing each of the three second collimator elements 1 3 1.
- the fixed portion 1711 is provided with three openings.
- a cylindrical portion 72 is arranged around each opening. Cylindrical portion 72 has the same configuration as tubular portion 72 according to the first embodiment.
- the fiber holder 170 and the side portion 1 23 of the main body 1 21 are joined by, for example, spot welding. 21 and 22 show spot weld marks 91 formed by spot welding. Further, the optical fiber 80 with the tip lens may also be joined to the fiber holder 170 by spot welding. The positioning and fixing of the fiber holder 170 and the main body 121, and the positioning and fixing of the optical fiber with a tip lens 80 and the fiber holder 170 may be performed by the same method as in the first embodiment. ..
- FIG. 23 is a schematic diagram showing the relationship between the second collimator element 1 3 1 according to the present embodiment and laser light.
- the schematic diagram ( 3 ) in FIG. 23 is a diagram showing the relationship between the second collimator element 1 3 1 according to the present embodiment and the spot shape of the laser beam on the second axis.
- the schematic diagram (well) in FIG. 23 shows the relationship between the second collimator element 31 according to the first embodiment and the spot shape of the laser beam on the second axis. Schematic of Figure 23 ⁇ 02020/174982 40 40 (: 171?2020/002996
- a semiconductor laser chip 40 is also shown in (a) and ().
- the second collimator element 31 shown in the schematic diagram (distance) in Fig. 23 is a cylindrical lens having a cylindrical surface formed on the laser light incident surface.
- the aberration is larger than that of the second collimator element 131 according to the present embodiment, so that the beam quality of the laser light is deteriorated.
- the contour of the spot of the laser light emitted from the second collimator element 31 is blurred. Therefore, for example, when the laser light is incident on the optical fiber, the peripheral portion of the spot of the laser light is not incident on the optical fiber, which may increase the loss.
- the second collimator element 1 3 1 according to the present embodiment is a cylindrical lens in which a cylindrical surface is formed on the emission surface of laser light, and therefore the second collimator element 3 1 according to the first embodiment Less aberration. Therefore, the quality of the laser light emitted from the second collimator element 1 3 1 is better than that of the laser light emitted from the second collimator element 3 1 according to the first embodiment. Along with this, the contour of the spot of the laser light emitted from the second collimator element 1 3 1 becomes clear. Therefore, for example, it is possible to reduce the loss when the laser light is incident on the optical fiber.
- the cap member 1 2 6 on which the second collimator element 1 3 1 is arranged is arranged on the inner side surface on the main body 1 2 1 side and on the back side of the inner side surface. And an outer surface.
- the second collimator element 1 3 1 is arranged on the outer surface of the cap member 1 2 6.
- the second collimator element 1311 needs to have a thickness of about 400 or more and 800 or less in consideration of the strength of the glass as the constituent material, the manufacturing method, and the like.
- the cap member 1 is used as the second collimator element 1 3 1.
- the optical distance from the emission point 4 0 3 to the second collimator element 1 3 1 is , 1450 or more and 4200 or less. Since the optical distance from the output point 4 0 3 to the second collimator element 1 3 1 is 1 450 or more, the optical distance from the output point 4 0 3 to the first collimator element 1 50 is 7 0.
- the interference between the first collimator element 150 and the second collimator element 1 31 can be suppressed even if it is relatively large, such as ⁇ .
- the beam aspect ratio can be made smaller than 1:1 (the aspect ratio of the first axis can be made small) by setting the optical distance to 1 450 001 or more. Also, since the optical distance from the emission point 4 0 3 to the second collimator element 1 3 1 is less than 4 200, the spot diameter 0 3 on the second axis of the laser light is set to 1 0. It can be suppressed to less than ⁇ ⁇ . Therefore, it is possible to suppress the loss that occurs when the laser light is incident on the tip lens of the optical fiber 80 with a tip lens as shown in FIGS. 21 and 22. Further, it is possible to suppress the increase in size of the semiconductor laser module.
- the optical distance from the emission point 4 03 to the second collimator element 1 3 1 is the distance from the emission point 4 0 3 to the part of the second collimator element 1 3 1 that has a collimating effect. Means the optical distance of.
- the second collimator element 31 as shown in the schematic view (3) of FIG. 23 may be arranged on the inner side surface of the cap member 1 26.
- the outer surface of the cap member 1 26 can be flattened more than when the second collimator element 3 1 is arranged on the outer surface of the cap member 1 26. Therefore, the additional component can be easily mounted on the outer surface of the cap member.
- the optical distance from the emission point 4 0 3 to the second collimator element 1 3 1 is 900 or more, the optical distance from the emission point 4 0 3 to the first collimator element 1 50 is about 700. Even if it is relatively large, it is possible to suppress the interference between the first collimator element 150 and the second collimator element 1 31.
- the spot diameter 0 3 on the second axis of the laser beam is set to 1 0 0 0. It can be suppressed to the following level. Therefore, it is possible to suppress the loss that occurs when the laser light is incident on the tip lens of the optical fiber 80 with the tip lens as shown in FIGS. 21 and 22. Further, it is possible to suppress the increase in size of the semiconductor laser module.
- the number of emission points 40 3 is n (however, n 3 1), and the optical distance from the emission point 40 3 to the mirror surface 150 0 “on the optical axis of the laser beam is !_80, the following equation may be established with the spot diameter of the second axis of the laser light on the convex surface (cylindrical surface) of the second collimator element 1 3 1 as the number 0 3.
- the semiconductor laser module according to the third embodiment will be described.
- the semiconductor laser module according to the present embodiment differs from the semiconductor laser module 110 according to the second embodiment in that it further includes a beam twister.
- the semiconductor laser module according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 24 to 26, focusing on differences from the semiconductor laser module 110 according to the second embodiment.
- FIGS. 24, 25, and 26 are schematic plan views, a first sectional view, and a second sectional view, respectively, showing the overall configuration of the semiconductor laser module 210 according to the present embodiment. It is a figure.
- FIG. 25 shows a cross section taken along the line X X V—X X V shown in FIG.
- FIG. 26 shows a cross section taken along the line X X V I — X X V shown in FIG. 24 and 26, the plan view of the end face of the optical fiber 82 into which the laser light is incident and the schematic diagram of the spot 3 of the laser light incident on the end face are also shown in the broken line frame. Is shown.
- the semiconductor laser module 210 includes a package 120. As shown in FIG. 26, the semiconductor laser module 210 further includes three semiconductor laser chips 40 and one first collimator element 150. In this embodiment, the semiconductor laser module 210 is further provided with three second collimator elements 1 31, three submounts 4 2 and one heat sink 1 4 4. Each of the above-described components of the semiconductor laser module 210 has the same configuration as each component according to the second embodiment.
- the semiconductor laser module 210 has a beam twister 2 6 arranged outside the package 120. ⁇ 02020/174982 44 ⁇ (: 171?2020/002996
- the beam twister 260 is an optical element that rotates the incident laser light in the direction of the spot and emits the laser light.
- the beam twister 260 rotates the first axis (fast axis) of the three laser beams from the so-axial direction to the axial direction and makes the second axis (slow axis) the X-axis direction. To rotate in the axial direction.
- the beam twister 260 further converts the propagation directions of the three laser beams from the major axis direction to the father axis direction.
- the beam twister 260 according to the present embodiment can be realized by, for example, a plurality of mirrors that reflect each laser beam.
- the beam twister 260 is designed to emit three laser beams in the first axial direction (at the position emitted from the beam twister 260). They are arranged in the state of being separated in the axial direction) and emitted. Therefore, three laser lights can be incident on one optical fiber 82. This makes it possible to realize a high-power laser light source.
- a semiconductor laser module according to the fourth embodiment will be described.
- the semiconductor laser module according to the present embodiment is different from the semiconductor laser module 210 according to the third embodiment mainly in the configuration of the beam twister and the arrangement of the semiconductor laser chips.
- the semiconductor laser module according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 27 to 29, focusing on the differences from the semiconductor laser module 210 according to the third embodiment.
- Figs. 27, 28, and 29 are schematic plan views, a first sectional view, and a second sectional view, respectively, showing the overall configuration of the semiconductor laser module 310 according to the present embodiment. It is a figure.
- FIG. 28 a cross section taken along the line XXV ⁇ I XXVII shown in FIG. 27 is shown.
- FIG. 29 shows a cross section taken along the line XX _ _ _ ⁇ ⁇ X shown in Fig. 27.
- a plan view of the end face of the optical fiber 82 on which the laser light is incident and a schematic diagram of the spot 3 of the laser light incident on the end face are shown in a broken line frame. Are shown. ⁇ 02020/174982 45 ((171?2020/002996
- the semiconductor laser module 310 includes a package 320. As shown in FIG. 29, the semiconductor laser module 310 includes three semiconductor laser chips 40 and three first collimator elements.
- the semiconductor laser module 310 further includes three second collimator elements 331, three submounts 42, and one heat sink 144. Further, the semiconductor laser module 310 further includes a beam twister 360.
- the package 320 is a housing in which three semiconductor laser chips 40 and three first collimator elements 50 are arranged.
- the package 320 includes a main body 121, a cap member 326 attached to the top surface 125, and a window member 327.
- Main body 1 21 according to the present embodiment has the same configuration as main body 1 2 1 according to the second and third embodiments.
- the cap member 326 is a member attached to the top surface portion 125 of the main body 121.
- the cap member 326 has an inner side surface arranged on the main body 1 21 side and an outer side surface arranged on the back side of the inner side surface.
- the cap member 3 2 6 has an opening 3 2 at a position overlapping the opening 1 2 1 3 of the main body 1 2 1 in plan view of the bottom 1 2 2.
- the opening 3 2 6 3 is an example of a second opening penetrating the cap member 3 26 in the vicinity of the center of the cap member 3 26 in plan view.
- the cap member 3 26 has a first protrusion 6 2 as in the cap members 1 26 according to the second and third embodiments.
- the window member 327 is a member that is disposed on the cap member 326 and has a light-transmitting property.
- the window member 32 7 closes the opening 3 26 3 of the cap member 3 26.
- the three second collimator elements 3 3 1 and the window member 3 27 are integrally formed. As shown in FIGS. 28 and 29, a portion of the window member 327 including the optical axis of the laser light is the second collimator element 331.
- the window member 32 7 is a flat plate arranged around the second collimator element 3 31. ⁇ 02020/174982 46 ⁇ (: 171?2020/002996
- the flat plate portion 3 28 is joined to the cap member 3 26.
- the window member 327 and the cap member 326 are hermetically joined by the joining member 29.
- Each of the three semiconductor laser chips 40 has the same configuration as the semiconductor laser chip 40 according to the first embodiment. Further, each of the three submounts 42 has the same structure as the submount 42 according to the first embodiment. The three semiconductor laser chips 40 are mounted on the three submounts 42, respectively.
- the heat sink 1 4 4 has the same configuration as the heat sink 1 4 4 according to the second and third embodiments.
- Three submounts 4 2 are bonded to the heatsink 1 4 4.
- the three submounts 42 are arranged on the upper surface of the heat sink 1 44 in a direction perpendicular to the laser light emission direction (that is, X in Figs. 27 to 29). Axial direction).
- the three emission points 40 3 of the three semiconductor laser chips 40 are arranged so that their positions in the emission direction of the laser beam (that is, the so-axis direction in FIGS. 27 to 29) are different from each other.
- One semiconductor laser chip 40 and three submounts 42 are arranged.
- the three first collimator elements 50 have the same configuration as the first collimator element 50 according to the first embodiment. As shown in FIGS. 27 and 29, the three first collimator elements 50 are arranged on the upper surface of the heat sink 144 so as to be separated from each other in the direction perpendicular to the laser light emission direction. In the present embodiment, the three first collimator elements 50 are arranged such that their positions in the laser light emission direction (that is, the V-axis direction in FIGS. 27 to 29) of the three first collimator elements 50 are different from each other. Are placed. The distances from the emission points 40 3 of the three semiconductor laser chips 40 to the mirror surfaces 5 0 of the three first collimator elements 50 are equal to each other.
- Each of the three semiconductor laser chips 40 Laser light is emitted in the optical axis direction from the semiconductor laser chip 40. Further, the fast axis of the laser light emitted from the three semiconductor laser chips 40 is the axial direction, and the slow axis is the father axis direction.
- the beam twister 360 turns the direction of the spot of the incident laser light. ⁇ 02020/174982 47 ⁇ (: 171?2020/002996
- the beam twister 360 does not rotate the first axis (fast axis) of the three laser beams but rotates the second axis (slow axis) from the X axis direction to the outer axis direction. Let Further, the beam twister 360 further converts the propagation directions of the three laser beams from the axial direction to the X-axis direction.
- the beam twister 260 according to this embodiment can be realized by, for example, a plurality of mirrors that reflect each laser beam. In the beam twister 360 according to the present embodiment, the incident positions of the three laser beams are different from each other in the so-axis direction. As a result, as shown in FIG.
- the beam twister 360 can be realized by, for example, a plurality of mirrors that reflect each laser light.
- the beam twister 360 has three laser beams, as shown in Fig. 27.
- a semiconductor laser module according to the fifth embodiment will be described.
- the semiconductor laser module according to the present embodiment differs from the semiconductor laser module 110 according to the second embodiment mainly in that a single semiconductor laser chip has a plurality of emission points.
- the semiconductor laser module according to the present embodiment will be described below with reference to FIGS. 30 and 31 focusing on the differences from the semiconductor laser module 110 according to the second embodiment.
- FIGs. 30 and 31 are a schematic first cross-sectional view and a schematic second cross-sectional view, respectively, showing the overall configuration of the semiconductor laser module 410 according to the present embodiment.
- FIG. 30 a cross section along the optical axis of one laser beam is shown.
- FIG. 31 shows a cross section that passes through the semiconductor laser chip 440 and is perpendicular to the laser light emission direction (V-axis direction).
- the semiconductor laser module 410 is ⁇ 02020/174982 48 ⁇ (: 171?2020/002996
- the semiconductor laser module 410 further includes one semiconductor laser chip 440 and one first collimator element 450.
- the semiconductor laser module 410 further includes six second collimator elements 431, one submount 442, and one heatsink 444.
- the package 420 is a housing in which one semiconductor laser chip 440 and one first collimator element 450 are arranged inside.
- the package 420 has a main body 1 21, a cap member 4 2 6 attached to the top surface 1 2 5, and a window member 4 2 7.
- Main body 1 21 according to the present embodiment has the same configuration as main body 1 21 according to second to fourth embodiments.
- the cap member 426 is a member attached to the top surface 1125 of the main body 1211.
- the cap member 426 has an inner surface arranged on the main body 1 21 side and an outer surface arranged on the back side of the inner surface.
- the cap member 4 26 overlaps with the top surface 1 2 5 over the entire circumference around the opening 1 2 1 8 in plan view of the bottom 1 2 2.
- the cap member 4 26 has an opening 4 2 6 3 formed at a position overlapping the opening 1 2 1 3 of the main body 1 2 1 in a plan view of the bottom portion 1 2 2.
- the opening 426 is an example of a second opening penetrating the cap member 426 near the center of the cap member 426 in plan view.
- the cap member 4 26 has the first protrusion 6 2 as in the cap members 1 2 6 according to the second and third embodiments.
- the window member 427 is a member which is disposed on the cap member 426 and has a light-transmitting property.
- the window member 42 7 closes the opening 4 26 3 of the cap member 4 26.
- the six second collimator elements 4 3 1 and the window member 4 27 are integrally formed. As shown in FIGS. 30 and 31, a portion of the window member 427 including the optical axis of the laser beam is the second collimator element 431.
- the window member 427 is a flat member arranged around the second collimator element 431. ⁇ 02020/174982 49 ⁇ (: 171?2020/002996
- the flat plate portion 428 is joined to the cap member 426.
- the window member 42 7 and the cap member 42 6 are hermetically joined by a joining member 29.
- the semiconductor laser chip 440 differs from the semiconductor laser chip 40 according to the first embodiment in that it has a plurality of emission points.
- semiconductor laser chip 440 has six emission points. Therefore, the semiconductor laser chip 440 emits six laser beams arranged in the X-axis direction.
- the fast axis of each laser beam emitted from the semiconductor laser chip 440 is the axial direction, and the slow axis is the father axis direction.
- the number of emission points of the semiconductor laser chip 440 is not particularly limited as long as it is plural.
- the submount 4 4 2 is a base joined to the bottom 1 2 2.
- the submount 4 4 2 has the same configuration as the submount 4 2 according to the first embodiment except that the semiconductor laser chip 4 4 0 is mounted.
- Heat sink 4 44 has the same configuration as heat sink 1 4 4 according to the second embodiment.
- the first collimator element 450 has a concave mirror surface 450 arranged to face all the emission points of the semiconductor laser chip 440 in the package 420.
- the mirror surface 45 0 "reflects the laser light from the six emission points toward the aperture 1 2 1 3 and reduces the divergence angle of each laser light in the first axis direction.
- the six laser beams reflected by the mirror surface 450 are incident on the six second collimator elements 431 respectively.
- the first collimator element 450 is arranged so that the mirror surface 450 and the opening 1 2 1 3 and the opening 4 2 6 3 overlap.
- the mirror surface 450 has a focus on the six emission points of the semiconductor laser chip 440. ⁇ 02020/174982 50 ((171?2020/002996
- the mirror surface 450 reduces the divergence angle of the six laser beams in the first axis direction. This makes it possible to reduce the divergence angle of the six laser beams by using the six first collimator elements that respectively reflect the six laser beams. It is possible to reduce the number of parts of the semiconductor laser module 4 10. Also, it is possible to reduce the labor for adjusting the position of the first collimator element 450.
- Each of the six second collimator elements 431 is an element that reduces the divergence angle in the second axial direction of the laser light reflected by the first collimator element 450.
- each of the six second collimator elements 4 3 1 is a cylindrical lens having a convex shape in a direction away from the bottom 1 22 2.
- each of the six second collimator elements 431 is a cylindrical lens having a cylindrical surface on the exit surface.
- Each of the six second collimator elements 4 3 1 reduces the divergence angle of the laser beam in the X axis direction, which is the second axis, as shown in FIG. 3 1.
- the six second collimator elements 431 are arranged on the optical paths of the six laser beams reflected by the first collimator elements 450, respectively.
- the semiconductor laser chip 440 has a plurality of emission points, each of which emits a laser beam. As a result, compared to the case where a plurality of semiconductor laser chips each having one emission point are used, the time and labor for adjusting the position of the semiconductor laser chips can be reduced, and at the same time, the positional deviation between the plurality of laser beams can be suppressed.
- a semiconductor laser module according to the sixth embodiment will be described.
- the semiconductor laser module according to the present embodiment differs from the semiconductor laser module 110 according to the second embodiment mainly in that a plurality of semiconductor laser chips are arranged in a matrix.
- the semiconductor laser module according to the present embodiment will be described below with reference to FIGS. 32 to 36, focusing on the differences from the semiconductor laser module 110 according to the second embodiment. ⁇ 0 2020/174982 51 ⁇ (: 171? 2020/002996
- FIGs. 32 and 33 are a schematic plan view and a cross-sectional view showing the configuration of the semiconductor laser module 510 according to the present embodiment, excluding the cap member 526 and the window member 527, respectively. It is a figure.
- FIG. 33 shows a cross section taken along the line XX X ⁇ I-XX XX I I shown in FIG. 34 and 35 are a schematic plan view and a sectional view, respectively, showing the overall configuration of the semiconductor laser module 510 according to the present embodiment.
- FIG. 35 a cross section taken along line X X X V—X X X V shown in FIG. 34 is shown.
- FIG. 36 is a schematic cross-sectional view showing the shape of window member 52 7 according to the present embodiment.
- Fig. 36 shows a cross section of the window member 527 parallel to the 2X plane.
- the semiconductor laser module 510 includes a package 52. As shown in Fig. 32 and Fig. 33, the semiconductor laser module 510 includes a plurality of semiconductor laser chips 40 arranged in a matrix and four first collimator elements 550. Further prepare. In the present embodiment, the semiconductor laser module 5 10 further includes five second collimator elements 5 3 1, a plurality of submounts 4 2 arranged in a matrix, and four heat sinks 5 4 4. ..
- the semiconductor laser module 510 includes a package 52.
- the semiconductor laser module 510 includes a plurality of semiconductor laser chips 40 arranged in a matrix and four first collimator elements 550. Further prepare.
- the semiconductor laser module 5 10 further includes five second collimator elements 5 3 1, a plurality of submounts 4 2 arranged in a matrix, and four heat sinks 5 4 4. .
- FIG. 2 similarly to FIG. 2, as shown in FIG.
- the semiconductor laser chip 40 is so arranged that the emission surface of the semiconductor laser chip 40 is aligned with the focal position of the mirror surface 5 50 ′ and ,
- the semiconductor laser chip 40 is arranged so as to project from the submount 42 toward the first collimator element 55.
- the semiconductor laser chip 40 has an emission surface of the semiconductor laser chip 40.
- the sub-mount 42 may be arranged on the sub-mount 42 so that the side surface thereof faces the first collimator element 550.
- the package 520 is a housing in which a plurality of semiconductor laser chips 40 and four first collimator elements 550 are arranged inside. As shown in FIGS. 34 and 35, the package 520 has a main body 521, a cap member 526 attached to the top surface 525, and a window member 527.
- the main body 5 21 has a flat plate-shaped bottom 5 2 2 and an opening 5 2 1 3. ⁇ 0 2020/174982 52 ⁇ (: 171? 2020 /002996
- the opening 5 2 1 3 is an example of a first opening formed at the end of the main body 5 2 1 opposite to the end where the bottom 5 2 2 is arranged.
- the main body 5 2 1 has a bottom portion 5 2 2 and side portions 5 2 3.
- the bottom portion 52 2 is a flat plate-shaped member located at the bottom of the main body 52 1.
- the bottom portion 52 2 is a rectangular flat plate-like member, and a plurality of semiconductor laser chips 40, etc. are formed on the main surface of the bottom portion 52 2 located inside the package 5 20. Are placed.
- the side portion 52 3 is a tubular member that is erected on the inner main surface of the package 5 20 in the bottom portion 52 2.
- the bottom 5 2 2 is arranged at one open end of the side 5 2 3.
- the cap member 526 is arranged on the top surface 525 which is the other opening end.
- the top surface part 5 2 5 is a surface facing the cap member 5 2 6 among the end surfaces of the side part 5 2 3.
- the side portion 52 3 is a tubular member that is arranged along the outer edge of the bottom portion 52 2 and has openings formed at both ends.
- a rectangular opening is formed in the side portion 5 23.
- the opening formed in the top surface portion 5 25 of the side portion 5 23 is the above-mentioned first opening (opening 5 2 13).
- the [021 1] side portion 52 3 has a plurality of lead pins 24 electrically connected to the semiconductor laser chip 40.
- the side 523 has eight lead pins 24.
- four lead pins 24 are arranged at one end in the X-axis direction of the side portions 52, and four lead pins 24 at the other end.
- the top surface portion 5 2 5 is similar to the top surface portion 1 2 5 according to Embodiment 2 in that the first projection portion
- the cap member 526 is a member attached to the top surface 525 of the main body 521.
- the cap member 526 has an inner surface arranged on the main body 521 side and an outer surface arranged on the back side of the inner surface. As shown in FIG. 35, the cap member 5 26 overlaps with the top surface 5 2 5 over the entire circumference of the opening 5 2 1 3 in a plan view of the bottom 5 2 2.
- the cap member 5 2 6 has an opening 5 2 6 3 at a position overlapping the opening 5 2 1 3 of the main body 5 2 1 in plan view of the bottom 5 2 2. ⁇ 0 2020/174982 53 ⁇ (: 171? 2020 /002996
- the opening 5 26 is an example of a second opening penetrating the cap member 5 26 in the vicinity of the center of the cap member 5 26 in a plan view.
- the material forming the cap member 526 is not particularly limited, but may be, for example, a 6- or 6-based alloy.
- the cap member 5 26 has a first protrusion 6 2 similarly to the cap member 1 26 according to the second embodiment.
- the window member 527 is a member that is disposed on the cap member 526 and has a light-transmitting property. In the present embodiment, the window member 5 27 closes the opening 5 2 6 3 of the cap member 5 26. In the present embodiment, as shown in FIGS. 34 to 36, the second collimator element 531 and the window member 527 are integrally formed. A portion of the window member 52 7 including the optical axis of the laser beam is the second collimator element 5 31.
- the semiconductor laser module 5 10 is provided with five second collimation elements 5 3 1 each facing four semiconductor laser chips 40 arranged in the So-axis direction and extending in the So-axis direction. As described above, by integrating the second collimator element 5 3 1 and the window member 5 27, the number of parts of the semiconductor laser module 5 10 can be reduced, so that the assembling process can be simplified.
- the window member 527 has a flat plate portion 528 arranged around the second collimator element 531.
- the flat plate portion 5 2 8 is joined to the cap member 5 2 6.
- Each of the plurality of semiconductor laser chips 40 has the same configuration as the semiconductor laser chip 40 according to the first embodiment.
- the semiconductor laser module 510 according to this embodiment includes 20 semiconductor laser chips 40 arranged in a matrix.
- five semiconductor laser chips 40 arranged in the X-axis direction are arranged in four sets in the So-axis direction.
- Each semiconductor laser chip 40 is supplied with power from the lead pin 24.
- the lead pin 24 located at the left end of FIG. 32 is a lead pin to which a high potential is applied, and the lead pin 24 located at the right end is a lead pin to which a low potential is applied.
- Each lead pin 24 located at the left end is connected to the corresponding lead pin 24 at the right end via five semiconductor laser chips 40 arranged in the X-axis direction and connected in series.
- the five elements arranged in the X-axis direction are ⁇ 0 2020/174982 54 ⁇ (: 171? 2020 /002996
- the same current can be supplied to the semiconductor laser chip 40.
- the lead pin 24 and the semiconductor laser chip 40 and the semiconductor laser chips 40 adjacent to each other in the X-axis direction are electrically connected by wires. More specifically, the figure
- a semiconductor laser chip 4 0 (from the left side) of the wire whose one end is connected to the n-side electrode (not shown) of the semiconductor laser chip 40 at the left end in 32
- the second semiconductor laser chip 40 is connected to the submount 42.
- the wire is connected to the side electrode (not shown) of the semiconductor laser chip 40 via the submount 42.
- the wire connects the second semiconductor laser chip 40 from the left and the third semiconductor laser chip 40 from the left, and the third semiconductor laser chip 40 from the left and the fourth semiconductor laser chip from the left.
- the semiconductor laser chip 40 is connected, and the fourth semiconductor laser chip 40 from the left and the fifth semiconductor laser chip 40 from the left are connected.
- Each of the plurality of submounts 42 has the same configuration as the submount 42 according to the first embodiment.
- the multiple submounts 42 are arranged in a matrix.
- Each submount 42 has a single semiconductor laser chip.
- the heat sink 544 is a base that is joined to the bottom portion 522, and five submounts 42 arranged in the X-axis direction are joined.
- the first collimator element 550 is a concave mirror that is arranged so as to face all the emission points of the five semiconductor laser chips 40 arranged in the X-axis direction in the package 520.
- the mirror surface 5 50 “reflects the laser light from the five emission points toward the opening 5 2 1 3 and also has the first surface of each laser light. The divergence angle in the axial direction of is reduced.
- the five laser beams reflected by the mirror surface 5 50 "are incident on the five second collimator elements 5 3 1.
- the first collimator element 550 is arranged such that the mirror surface 550, “, and the opening 521 3 and the opening 526 3 are overlapped with each other in the plan view of the bottom 522. ⁇ 02020/174982 55 ((171?2020/002996
- the mirror surface 55 0 "has a parabolic shape whose focal point is the emission point of the semiconductor laser chip 40. This allows the first axis of each laser beam emitted from the five emission points. The divergence angle in the direction can be reduced, which can reduce the number of parts of the semiconductor laser module 510 compared to the case of using the five first collimator elements that respectively reflect five laser beams. It is possible to reduce the trouble of adjusting the position of 5 50.
- Each of the five second collimator elements 531 is an element that reduces the divergence angle of the laser light reflected by the first collimator element 550 in the second axial direction.
- Four laser beams arranged in the so-axis direction are incident on each second collimator element 531.
- each of the five second collimator elements 5 3 1 is a cylindrical lens having a convex shape in a direction away from the bottom 5 22 2.
- each of the five second collimator elements 531 is a cylindrical lens having a cylindrical surface on the exit surface.
- Each of the five second collimator elements 531 reduces the divergence angle of the laser light in the X-axis direction, which is the second axis.
- the five second collimator elements 531 are arranged on the optical paths of the five laser beams reflected by the first collimator element 550, respectively.
- each of the five second collimator elements 5 3 1 arranged in the X-axis direction emits four laser beams arranged in the So-axis direction.
- 20 laser beams arranged in a matrix are emitted from the five second collimator elements 5 3 1.
- the semiconductor laser module 510 emits a plurality of laser beams arranged in a matrix. High power laser light can be obtained by collecting these laser lights.
- a semiconductor laser module according to the seventh embodiment will be described.
- the semiconductor laser module according to the present embodiment is different from the semiconductor laser module 510 according to the sixth embodiment in the configuration of the window member.
- the semiconductor laser module according to the sixth embodiment will be described. ⁇ 02020/174982 56 ⁇ (: 171?2020/002996
- FIG. 37 and Fig. 38 are a schematic plan view and a sectional view, respectively, showing the overall configuration of the semiconductor laser module 610 according to the present embodiment.
- FIG. 38 shows a cross section taken along the line X X X V I I X X X V I I shown in FIG.
- FIG. 39 is a schematic cross-sectional view showing the shape of the window member 62 7 according to the present embodiment.
- FIG. 39 shows a cross section of the window member 627 parallel to the X plane.
- the semiconductor laser module 61 0 includes a package 6 20. Similar to the semiconductor laser module 510 according to the sixth embodiment, the semiconductor laser module 61 0 includes a plurality of semiconductor laser chips 40 arranged in a matrix and four first collimator elements 550. Further prepare. In the present embodiment, the semiconductor laser module 610 further includes a plurality of submounts 42 arranged in a matrix and four heat sinks 544. As shown in FIG. 37, the semiconductor laser module 610 further includes a plurality of second collimator elements 631 arranged in a matrix.
- the package 620 is a housing in which a plurality of semiconductor laser chips 40 and four first collimator elements 550 are arranged inside. As shown in FIGS. 37 and 38, the package 620 has a main body 521, a cap member 526 attached to the top surface 525, and a window member 627.
- Main body 521 and cap member 526 have the same configuration as main body 521 and cap member 526 according to the sixth embodiment.
- the window member 627 is a member which is disposed on the cap member 526 and has a light-transmitting property. In this embodiment, the window member 6 27 closes the opening 5 2 6 3 of the cap member 5 26. In the present embodiment, as shown in FIGS. 37 to 39, the window member 627 has a flat plate portion 628 and a plurality of second collimator elements 631. In the present embodiment, the window member 627 has a plurality of second collimator elements 631. ⁇ 02020/174982 57 ⁇ (: 171?2020/002996
- the semiconductor laser module 6 10 includes a plurality of second collimator elements 6 3 1 arranged in a matrix.
- the second collimator element 6 3 1 is fixed to the flat plate portion 6 2 8 so that the second collimator element 6 3 1 is arranged at the position corresponding to the laser beam of each semiconductor laser chip 40. It becomes possible to do.
- it can be fixed to the flat plate portion 6 28. Therefore, even when the position of the output point 4 0 3 varies, efficiently, so it is possible to extract light in the same direction.
- the method of fixing the second collimator element 6 3 1 to the flat plate portion 6 2 8 is not particularly limited.
- the second collimator element 6 31 may be fixed to the flat plate portion 6 28 by spot welding, soldering or the like at a position apart from the optical path.
- a metal film should be formed in advance on portions other than the spot welding or the optical path for soldering, and the second collimator element 6 3 1 and the flat plate portion 6 28 should be formed on both sides.
- a non-reflective coating film may be formed in advance.
- the flat plate portion 628 is joined to the cap member 526.
- the plurality of second collimator elements 6 31 project from the flat plate portion 6 28 in a direction away from the bottom portion 52 2.
- the semiconductor laser module 610 includes a plurality of second collimator elements 631 arranged in a matrix.
- the semiconductor laser module 610 having such a configuration can also achieve the same effects as the semiconductor laser module according to the sixth embodiment.
- the semiconductor laser module according to the present disclosure has been described above based on each embodiment, but the present disclosure is not limited to each of the above embodiments.
- the top surface portion has the first protrusion portion 61 and the second protrusion portion 63
- the cap member has the first protrusion portion 62.
- the configurations of the portion and the second protrusion are not limited to this. Small cap member and top surface ⁇ 02020/174982 58 ⁇ (: 171?2020/002996
- At least one of them has a first protrusion whose cross-sectional area changes depending on the position in the direction perpendicular to the main surface of the bottom, and a cross-sectional area in the contact area where the cap member and the top surface overlap in plan view of the bottom. May have the same second protrusion.
- the cap member may have the second protrusion.
- only one of the cap member and the top surface portion may have the first protrusion.
- the semiconductor laser module of the present disclosure can be used, for example, as a processing laser light source.
- Second collimator element 40 440 Semiconductor laser chip
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Abstract
半導体レーザモジュール(10)は、半導体レーザチップ(40)と、第1コリメータ素子(50)と、パッケージ(20)とを備え、パッケージ(20)は、底部(22)と開口(21a)が形成された天面部(25)とを有する本体(21)と、キャップ部材(26)と、窓部材(27)とを有し、半導体レーザチップ(40)は、レーザ光を出射する出射点(40a)を有し、半導体レーザチップ(40)は、レーザ光の出射方向と底部(22)の主面とが平行となるよう底部(22)に配置され、レーザ光の第1の軸方向における発散角は、第1の軸と垂直な第2の軸方向における発散角より大きく、第1コリメータ素子(50)は、凹型のミラー面(50r)を有し、ミラー面(50r)は、レーザ光を開口(21a)に向けて反射し、かつ、レーザ光の第1の軸方向における発散角を低減する。
Description
\¥0 2020/174982 1 卩(:17 2020 /002996 明 細 書
発明の名称 : 半導体レーザモジュール
技術分野
[0001 ] 本開示は、 半導体レーザモジュールに関する。
背景技術
[0002] 従来、 高パワーのレーザ光が加工用途において利用されている。 このよう な高パワーのレーザ光を出射する光源として半導体レーザチップが用いられ ている。 半導体レーザチップからの出射光は発散するため、 半導体レーザチ ップとコリメータ素子 (平行光化素子) とを組み合わせた半導体レーザモジ ュールが用いられている (例えば、 特許文献 1など参照) 。
[0003] 特許文献 1 に記載された半導体装置においては、 半導体レーザチップが配 置されるステムに半導体レーザチップからの出射光をコリメートする放物面 状の反射面 (つまり、 ミラー面) を有する凹面反射鏡が設けられている。 こ れにより、 コリメータ素子を別途設けることなしに、 半導体レーザチップか らの出射光をコリメートしようとしている。
先行技術文献
特許文献
[0004] 特許文献 1 :特開昭 6 0 - 1 8 2 7 8 1号公報
発明の概要
発明が解決しようとする課題
[0005] しかしながら、 特許文献 1 に記載された半導体装置においては、 金属など からなるステムに反射面を形成するため、 反射面を有する素子を単体で形成 する場合より、 放物面状の反射面の形成が困難である。
[0006] 本開示は、 このような課題を解決するものであり、 半導体レーザチップと 、 ミラー面を有するコリメータ素子とを有する半導体レーザモジュールであ つて、 ミラー面の形成が容易な半導体レーザモジュールを提供することを目 的とする。
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課題を解決するための手段
[0007] 上記課題を解決するために、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態 様は、 少なくとも一つの半導体レーザチップと、 少なくとも一つの第 1 コリ メータ素子と、 前記少なくとも一つの半導体レーザチップと前記少なくとも 一つの第 1 コリメータ素子とが内部に配置されるパッケージとを備え、 前記 パッケージは、 平板状の底部と開口が形成された天面部とを有する有底筒状 の本体と、 前記天面部に取り付けられるキャップ部材と、 前記キャップ部材 に配置され、 透光性を有する窓部材とを有し、 前記少なくとも一つの半導体 レーザチップの各々は、 レーザ光を出射する出射点を有し、 前記少なくとも _つの半導体レーザチップの各々は、 前記レーザ光の出射方向と前記底部の 主面とが平行となるよう前記底部に配置され、 前記レーザ光の伝搬方向と垂 直な第 1の軸方向における発散角は、 前記伝搬方向及び前記第 1の軸と垂直 な第 2の軸方向における発散角より大きく、 前記少なくとも一つの第 1 コリ メータ素子の各々は、 前記/ ッケージ内において前記出射点に対向して配置 される凹型のミラー面を有し、 前記ミラー面は、 前記レーザ光を前記開口に 向けて反射し、 かつ、 前記レーザ光の前記第 1の軸方向における発散角を低 減する。
[0008] このように第 1 コリメータ素子は、 特許文献 1 に記載された凹面反射鏡と は異なり、 筐体の一部と一体化されなくてよい。 したがって、 第 1 コリメー 夕素子を単体で形成することができるため、 所望の形状を有するミラー面を 有する第 1 コリメータ素子を容易に形成できる。
[0009] また、 ミラー面によってレーザ光をコリメートするため、 透過型のコリメ —タレンズの出射面においてレーザ光をコリメートする場合より、 出射点に 近い位置で、 つまりレーザ光の発散によるスポッ ト径の増大幅が比較的小さ い位置で、 レーザ光をコリメートできる。 したがって、 ファスト軸 (第 1の 軸) において、 より小さいスポッ ト径を有するレーザ光を形成できる。 これ に伴い、 レーザ光の高密度化が可能となる。 また、 ファスト軸におけるレー ザ光のスポッ ト径を低減できるため、 レーザ光のファスト軸及びスロー軸 (
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第 2の軸) におけるスポッ ト径の比を、 所定の値にするために必要な光学距 離を低減できる。 したがって、 半導体レーザモジュールを小型化することが 可能となる。
[0010] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記底部 に接合される少なくとも一つのサブマウントをさらに備え、 前記少なくとも —つの半導体レーザチップの各々は、 前記少なくとも一つのサブマウントを 介して、 前記底部に接合されてもよい。
[001 1 ] このようなサブマウントに半導体レーザチップを実装することにより、 半 導体レーザチップで発生する熱をサブマウントを介して放散できる。
[0012] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記少な くとも一つのサブマウントの各々の表面は、 前記レーザ光の出射方向と交差 する方向に延びる前面を含み、 前記少なくとも一つの第 1 コリメータ素子の 各々は、 前記ミラー面が前記前面に対向するように配置されてもよい。
[0013] このように半導体レーザチップが実装されるサブマウントとは別に第 1 コ リメータ素子を設けられる。 これにより、 第 1 コリメータ素子をサブマウン 卜と一体的に形成する場合より、 第 1 コリメータ素子を容易に形成できる。
[0014] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 少なくと も一つの第 2コリメータ素子をさらに備え、 前記少なくとも一つの第 2コリ メータ素子の各々は、 前記少なくとも一つの第 1 コリメータ素子の各々で反 射された前記レーザ光の前記第 2の軸方向における発散角を低減してもよい
[0015] これにより、 半導体レーザチップからのレーザ光を第 1の軸及び第 2の軸 の両方向の発散角を低減することで、 コリメートできる。
[0016] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記キャ ップ部材は、 前記本体側に配置される内側面と、 前記内側面の裏側に配置さ れる外側面とを有し、 前記少なくとも一つの第 2コリメータ素子は、 前記外 側面に配置されてもよい。
[0017] これにより、 第 2コリメータ素子がキャップ部材の内側面に配置される場
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合より、 パッケージの寸法を低減できる。 また、 第 2のコリメータ素子とし て、 キャップ部材側の面が平面であり、 当該面の裏側の面 (外側の面) がシ リンドリカル面などの凸形状を有する面であるレンズを用いることで、 第 2 コリメータ素子の収差を低減できる。 したがって、 半導体レーザモジュール からの出射光のビーム品質の劣化を抑制できる。 なお、 この明細書では、 シ リンドリカル面とは、 レンズやミラーの表面に平行な一方向について、 曲率 を持っていない面であり、 シリンドリカル面には、 前述の一方向と垂直な方 向について曲率が一定の円筒面だけでなく、 前述の一方向と垂直な方向につ いて曲率が変化する面 (例えば、 放物柱面など) も含むこととする。 またこ の明細書でのシリンドリカルレンズやシリンドリカルミラーは、 前述のシリ ンドリカル面を有するレンズやミラーのことである。
[0018] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記キャ ップ部材は、 前記本体側の面である内側面と、 前記内側面の裏側に配置され る外側面とを有し、 前記少なくとも一つの第 2コリメータ素子は、 前記内側 面に配置されてもよい。
[0019] これにより、 第 2コリメータ素子がキャップ部材の外側面に配置される場 合より、 キャップ部材の外側面を平坦化できる。 このため、 キャップ部材の 外側面に追加部品を容易に実装できる。
[0020] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記少な くとも一つの第 2コリメータ素子と前記窓部材とは一体成形されてもよい。
[0021 ] これにより、 半導体レーザモジュールの部品点数を削減できるため、 組立 工程を簡素化できる。
[0022] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記パッ ケージは、 内部の空間を封止してもよい。
[0023] これにより、 パッケージの内部の空間に配置された光学素子などの汚染を 抑制できる。 例えば、 レーザ光が紫外から青色にかけての短波長帯域の光で ある場合、 樹脂などから発生するシロキサン (3 丨 丨 o x a n e) が光の強 度が高い領域に引き寄せられて光学素子の光路上に堆積する。 このように光
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学素子が汚染されることで、 ビーム品質劣化などの問題が発生し得る。 本開 示に係る半導体レーザモジュールの一態様によれば、 パッケージを封止する ことで、 パッケージの外部から内部にシロキサンが流入することを抑制でき るため、 光学素子がシロキサンで汚染されることを抑制できる。 したがって 、 レーザ光のビーム品質劣化を抑制できる。
[0024] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記少な くとも一つの半導体レーザチップ及び前記少なくとも一つの第 1 コリメータ 素子は、 樹脂を含まない接合部材で前記パッケージに接合されていてもよい
[0025] これにより、 封止されたパッケージ内に存在するシロキサンの量を低減で きるため、 例えば、 レーザ光が紫外から青色にかけての短波長帯域の光であ る場合にも、 シロキサンによる光学素子の汚染及びそれに伴うレーザ光のビ —ム品質劣化を抑制できる。
[0026] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記出射 点から、 前記少なくとも一つの第 1 コリメータ素子のうち前記レーザ光が入 射する第 1 コリメータ素子のミラー面までの光学距離は、 3 0 以上、 3 0 0 以下であってもよい。
[0027] このように、 出射点から第 1 コリメータ素子のミラー面までの距離を低減 することで、 出射点に近い位置で、 つまりレーザ光の発散によるスポッ ト径 の増大幅が比較的小さい位置で、 レーザ光をコリメートできる。 したがって 、 第 1の軸において、 より小さいスポッ ト径を有するレーザ光を形成できる 。 これに伴い、 レーザ光の高密度化が可能となる。
[0028] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記出射 点から、 前記少なくとも一つの第 2コリメータ素子のうち前記レーザ光が入 射する第 2コリメータ素子までの光学距離は、 1 4 5 0 以上、 4 2 0 0 以下であってもよい。
[0029] 出射点から第 2コリメータ素子までの光学距離が 1 4 5 0 以上である ことにより、 出射点から第 1 コリメータ素子までの光学距離が 7 0 0 程
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度と比較的大きい場合でも、 第 1 コリメータ素子と、 第 2コリメータ素子と の干渉を抑制できる。 また、 出射点から第 2コリメータ素子までの光学距離 が 4 2 0〇 以下であることにより、 レーザ光の第 2の軸におけるスポッ 卜径巳 0 3を 1 0 0 0 以下程度に抑制できる。 このため、 一般的な先端 レンズ付き光ファイバの先端レンズにレーザ光を入射する際に発生する損失 を抑制できる。 また、 半導体レーザモジュールの大型化を抑制できる。
[0030] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記出射 点から、 前記少なくとも一つの第 2コリメータ素子のうち前記レーザ光が入 射する第 2コリメータ素子までの光学距離は、 9 0 0 以上、 4 2 0 0 以下であってもよい。
[0031 ] 出射点から第 2コリメータ素子までの光学距離が 9 0〇 以上であるこ とにより、 出射点から第 1 コリメータ素子までの光学距離が 7 0 0 程度 と比較的大きい場合でも、 第 1 コリメータ素子と、 第 2コリメータ素子との 干渉を抑制できる。 また、 出射点から第 2コリメータ素子までの光学距離が 4 2 0〇 以下であることにより、 レーザ光の第 2の軸におけるスポッ ト 径巳 0 3を 1 0 0 0 以下程度に抑制できる。 このため、 一般的な先端レ ンズ付き光ファイバの先端レンズにレーザ光を入射する際に発生する損失を 抑制できる。 また、 半導体レーザモジュールの大型化を抑制できる。
[0032] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記キャ ップ部材及び前記天面部の少なくとも一方は、 前記底部の平面視において前 記キャップ部材と前記天面部とが重なる接合領域に、 前記底部の主面に垂直 な方向の位置に応じて断面積が変化する第 1突起部と、 前記底部の主面に垂 直な方向の位置に応じて断面積が変化しない第 2突起部とを有してもよい。
[0033] 例えば、 キャップ部材と天面部との間が第 1突起部を用いたプロジェクシ ョン抵抗溶接によて接合される場合にも、 第 2突起部の形状はほとんど変化 しないため、 第 2突起部によって、 キャップ部材の天面部に対する位置精度 を高めることができる。
[0034] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記少な
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くとも一つの半導体レーザチップは、 複数の半導体レーザチップを含み、 前 記少なくとも一つの第 1 コリメータ素子は、 前記複数の半導体レーザチップ のすベての前記出射点に対向して配置される一つの第 1 コリメータ素子を含 んでもよい。
[0035] これにより、 第 1 コリメータ素子の個数を削減できる。 また、 すべてのレ —ザ光が同一の第 1 コリメータ素子でコリメート及び反射されるため、 複数 のレーザ光間の位置ずれを抑制できる。
[0036] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記少な くとも一つの第 1 コリメータ素子の各々の前記レーザ光の出射方向における 最大幅は、 前記ミラー面の出射方向における最大幅の 2倍以上であってもよ い。
[0037] これにより、 第 1 コリメータ素子のレーザ光の出射方向における幅がミラ 一面の最大幅程度である場合より、 ミラー面以外の部分が大きくなるため、 第 1 コリメータ素子のハンドリングを容易化できる。 また、 例えば、 第 1 コ リメータ素子をパッケージの底部などに接合する場合に、 第 1 コリメータ素 子のレーザ光の出射方向における幅がミラー面の最大幅程度である場合より 、 接合面積を拡大できる。 したがって、 第 1 コリメータ素子と底部などとの 接合強度を増大できる。
[0038] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記パッ ケージの外側に配置されるビームツイスタをさらに備えてもよい。
[0039] これにより、 レーザ光を光軸に対して所定の角度だけ回転させることがで きる。
[0040] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記少な くとも一つの第 1 コリメータ素子により反射された前記レーザ光を受光する 先端レンズ付き光ファイバをさらに備えてもよい。
[0041 ] これにより、 レーザ光を容易に光ファイバに導入できる。 また、 光ファイ パとレンズとが一体化されているため、 光軸調整の手間を削減できる。
[0042] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記少な
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くとも一つの第 2コリメータ素子の各々は、 凸面部を備え、 前記出射点の個 数を门 (ただし、 n ³ 1) , 前記出射点から、 前記レーザ光の光軸上におけ る前記ミラー面までの光学距離を 1- (3、 前記レーザ光の前記凸面部にお ける前記第 2の軸におけるスポッ ト径を巳 0 3として
が成り立ってもよい。
[0043] これにより、 门個のレーザ光を第 1の軸方向に配列する際に、 n個のレー ザ光の第 1の軸におけるスポッ ト径に対して、 第 2の軸におけるスポッ ト径 が小さくなりすぎることを抑制できる。 したがって、 断面が円形の光ファイ バなどに n個のレーザ光を導入する際に、 光ファイバの断面全体を有効に利 用することができる。
[0045] これにより、 隣り合う二つのレーザ光が干渉することを抑制できる。
[0046] また、 本開示に係る半導体レーザモジュールの一態様において、 前記本体 は、 前記底部の外縁に沿って配置される側部を有し、 前記側部は、 前記半導 体レーザチップと電気的に接続される複数のリードピンを有してもよい。 [0047] このようなリードピンを用いることで、 パッケージの外部から半導体レー ザチップに容易に電力を供給できる。
発明の効果
[0048] 本開示によれば、 半導体レーザチップと、 ミラー面を有するコリメータ素 子とを有する半導体レーザモジュールであって、 ミラー面の形成が容易な半 導体レーザモジュールを提供できる。
図面の簡単な説明
[0049] [図 1]図 1は、 実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュールの全体構成を示す 模式的な平面図である。
[図 2]図 2は、 実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュールの全体構成を示す 模式的な第 1の断面図である。
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[図 3]図 3は、 実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュールの全体構成を示す 模式的な第 2の断面図である。
[図 4]図 4は、 実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュールの全体構成を示す 模式的な第 1の断面図である。
[図 5]図 5は、 実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュールの全体構成を示す 模式的な第 2の断面図である。
[図 6八]図 6八は、 比較例に係る第 1 コリメータ素子を示す模式的な側面図で ある。
[図 68]図 6巳は、 実施の形態 1 に係る第 1 コリメータ素子を示す模式的な側 面図である。
[図 7]図 7は、 比較例及び実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュールの第 2 の軸における作用を説明する模式図である。
[図 8]図 8は、 実施の形態 1 に係る第 1 コリメータ素子に求められる条件を説 明する模式図である。
[図 9]図 9は、 実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュールの製造方法の第 1 工程を示す模式的な断面図である。
[図 10]図 1 0は、 実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュールの製造方法の 第 2工程を示す模式的な断面図である。
[図 1 1]図 1 1は、 実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュールの製造方法の 第 3工程を示す模式的な断面図である。
[図 12]図 1 2は、 実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュールの製造方法の 第 4工程を示す模式的な断面図である。
[図 13]図 1 3は、 実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュールの製造方法の 第 5工程を示す模式的な断面図である。
[図 14]図 1 4は、 実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュールの製造方法の 第 6工程を示す模式的な断面図である。
[図 15]図 1 5は、 実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュールの製造方法の 第 7工程を示す模式的な断面図である。
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[図 16]図 1 6は、 実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュールの製造方法の 第 8工程を示す模式的な断面図である。
[図 17]図 1 7は、 実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュールの製造方法の 第 9工程を示す模式的な断面図である。
[図 18]図 1 8は、 実施の形態 2に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な平面図である。
[図 19]図 1 9は、 実施の形態 2に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な第 1の断面図である。
[図 20]図 2 0は、 実施の形態 2に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な第 2の断面図である。
[図 21]図 2 1は、 実施の形態 2に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な第 1の断面図である。
[図 22]図 2 2は、 実施の形態 2に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な第 2の断面図である。
[図 23]図 2 3は、 実施の形態 2に係る第 2コリメータ素子と、 レーザ光との 関係を示す模式図である。
[図 24]図 2 4は、 実施の形態 3に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な平面図である。
[図 25]図 2 5は、 実施の形態 3に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な第 1の断面図である。
[図 26]図 2 6は、 実施の形態 3に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な第 2の断面図である。
[図 27]図 2 7は、 実施の形態 4に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な平面図である。
[図 28]図 2 8は、 実施の形態 4に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な第 1の断面図である。
[図 29]図 2 9は、 実施の形態 4に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な第 2の断面図である。
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[図 30]図 3 0は、 実施の形態 5に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な第 1の断面図である。
[図 31]図 3 1は、 実施の形態 5に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な第 2の断面図である。
[図 32]図 3 2は、 実施の形態 6に係る半導体レーザモジュールのキヤップ部 材及び窓部材を除く構成を示す模式的な平面図である。
[図 33]図 3 3は、 実施の形態 6に係る半導体レーザモジュールのキヤップ部 材及び窓部材を除く構成を示す模式的な断面図である。
[図 34]図 3 4は、 実施の形態 6に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な平面図である。
[図 35]図 3 5は、 実施の形態 6に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な断面図である。
[図 36]図 3 6は、 実施の形態 6に係る窓部材の形状を示す模式的な断面図で ある。
[図 37]図 3 7は、 実施の形態 7に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な平面図である。
[図 38]図 3 8は、 実施の形態 7に係る半導体レーザモジュールの全体構成を 示す模式的な断面図である。
[図 39]図 3 9は、 実施の形態 7に係る窓部材の形状を示す模式的な断面図で ある。
発明を実施するための形態
[0050] 以下、 本開示の実施の形態について、 図面を参照しながら説明する。 なお 、 以下に説明する実施の形態は、 いずれも本開示の一具体例を示すものであ る。 したがって、 以下の実施の形態で示される、 数値、 形状、 材料、 構成要 素、 及び、 構成要素の配置位置や接続形態などは、 _例であって本開示を限 定する主旨ではない。 よって、 以下の実施の形態における構成要素のうち、 本開示の最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素について は、 任意の構成要素として説明される。
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[0051 ] また、 各図は模式図であり、 必ずしも厳密に図示されたものではない。 し たがって、 各図において縮尺等は必ずしも一致していない。 なお、 各図にお いて、 実質的に同一の構成に対しては同一の符号を付しており、 重複する説 明は省略又は簡略化する。
[0052] また、 本明細書において、 「上方」 及び 「下方」 という用語は、 絶対的な 空間認識における上方向 (鉛直上方) 及び下方向 (鉛直下方) を指すもので はなく、 積層構成における積層順を基に相対的な位置関係により規定される 用語として用いる。 また、 「上方」 及び 「下方」 という用語は、 2つの構成 要素が互いに間隔をあけて配置されて 2つの構成要素の間に別の構成要素が 存在する場合のみならず、 2つの構成要素が互いに接する状態で配置される 場合にも適用される。
[0053] (実施の形態 1)
実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュールについて説明する。
[0054] [ 1 — 1 . 全体構成]
まず、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュールの全体構成について図 1〜図 3を用いて説明する。 図 1、 図 2及び図 3は、 それぞれ本実施の形態 に係る半導体レーザモジュール 1 0の全体構成を示す模式的な平面図、 第 1 の断面図及び第 2の断面図である。 図 2においては、 図 1 に示される 丨 丨 一 I 丨線における断面が示されている。 図 3においては、 図 1 に示される 丨 I I - I I 丨線における断面が示されている。 なお、 これらの図及び以下の図 において、 鉛直方向を å軸方向とし、 å軸方向に垂直であり、 かつ、 互いに 垂直な二つの方向を X軸方向及び V軸方向としている。 図において、 X軸の 正の方向、 ソ軸の正の方向と、 å軸の正の方向は、 右手系座標系となるよう に描かれており、 例えば、 図 1 において記載のない å軸の正の方向は紙面に 垂直で手前の方向を向いており、 図 2において記載のない X軸の正の方向は 紙面に垂直で奥の方向を向いている。
[0055] 半導体レーザモジュール 1 0は、 レーザ光を出射するモジュールであり、 図 1〜図 3に示されるように、 パッケージ 2 0を備える。 半導体レーザモジ
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ユール 1 0は、 図 2及び図 3に示されるように、 半導体レーザチップ 4 0と 、 第 1 コリメータ素子 5 0とをさらに備える。 本実施の形態では、 半導体レ —ザモジユール 1 0は、 第 2コリメータ素子 3 1 と、 サブマウント 4 2と、 ヒ _トシンク 4 4とをさらに備える。
[0056] パッケージ 2 0は、 少なくとも一つの半導体レーザチップ 4 0と、 少なく とも一つの第 1 コリメータ素子 5 0とが内部に配置される筐体である。 パッ ケージ 2 0は、 本体 2 1 と、 天面部 2 5に取り付けられたキャップ部材 2 6 と、 窓部材 2 7とを有する。
[0057] 本体 2 1は、 平板状の底部 2 2と開口 2 1 3が形成された天面部 2 5とを 有する有底筒状の部材である。 開口 2 1 3は、 本体 2 1 における底部 2 2が 配置される端部の反対側の端部に形成された第 1開口の一例である。 本実施 の形態では、 本体 2 1は、 底部 2 2と、 側部 2 3とを有する。
[0058] 底部 2 2は、 本体 2 1の底に位置する平板状部材である。 本実施の形態で は、 底部 2 2は、 矩形の平板状部材であり、 底部 2 2における、 パッケージ 2 0の内側に位置する主面に、 半導体レーザチップ 4 0などが配置される。 底部 2 2を形成する材料は、 特に限定されないが、 例えば、 〇リ又は〇リ系 合金であってもよい。 このような熱伝導率の高い材料を用いることで、 半導 体レーザチップ 4 0などから発生する熱の放散を促進できる。
[0059] 側部 2 3は、 底部 2 2におけるパッケージ 2 0の内側の主面に立設される 筒状部材である。 側部 2 3の一方の開口端部に底部 2 2が配置される。 また 、 他方の開口端部である天面部 2 5にキャップ部材 2 6が配置される。 言い 換えると、 天面部 2 5は、 側部 2 3の端面のうち、 キャップ部材 2 6と対向 する面である。 本実施の形態では、 側部 2 3は、 底部 2 2の外縁に沿って配 置され、 両端部に開口が形成された筒状の部材である。 側部 2 3には矩形の 開口が形成されている。 側部 2 3の天面部 2 5に形成された開口が上述した 第 1開口 (開口
である。 側部 2 3と底部 2 2との間は、 例えば、 ろ う材などのはんだより融点が高い接合部材によって気密に接合される。
[0060] 側部 2 3は、 半導体レーザチップ 4 0と電気的に接続される複数のリード
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ピン 2 4を有する。 図 1及び図 2に示される例では、 側部 2 3は、 二つのリ —ドピン 2 4を有する。 図 2に示されるように、 リードピン 2 4は、 パッケ —ジ 2 0の外部から側部 2 3を貫通してパッケージ 2 0の内部に延びる。 側 部 2 3がこのようなリードピン 2 4を有することにより、 パッケージ 2 0の 外部から半導体レーザチップ 4 0に容易に電力を供給できる。 リードピン 2 4を形成する材料は導電性材料であれば特に限定されないが、 例えば、 〇リ 、 〇リ系の合金、 ㊀又は ㊀系の合金である。 図^^しないが、 側部 2 3の うち、 リードピン 2 4を囲む部分は、 例えば低融点ガラスなどの絶縁性部材 で形成される。 これにより、 リードピン 2 4とパッケージ 2 0とを絶縁でき る。 また、 側部 2 3のうち、 リードピン 2 4及びそれを囲む部分以外の部分 を形成する材料は特に限定されないが、 例えば、 6又は 6系の合金など であつてもよい。
[0061 ] 天面部 2 5は、 図 2及び図 3に示されるように、 底部 2 2の平面視におい てキャップ部材 2 6と天面部 2 5とが重なる接合領域 2 0〇に、 底部 2 2の 主面に垂直な方向の位置に応じて断面積が変化する第 1突起部 6 1 と、 底部 2 2の主面に垂直な方向の位置に応じて断面積が変化しない第 2突起部 6 3 とを有する。 なお、 以下では、 底部 2 2の平面視とは、 底部 2 2の主面の平 面視を意味する。
[0062] 第 1突起部 6 1は、 天面部 2 5とキャップ部材 2 6とをプロジェクシヨン 抵抗溶接によって接合するための部分である。 図 2及び図 3に示されるよう に、 第 1突起部 6 1は、 断面が三角形状の突起であり、 底部 2 2から遠ざか るにしたがって断面積が減少する。 言い換えると、 第 1突起部 6 1の幅 (つ まり、 第 1突起部 6 1の長手方向に垂直な断面における幅) は、 底部 2 2か ら遠ざかるにしたがって減少する。 第 1突起部 6 1は、 開口 2 1 3の周囲の 全周にわたって連続的に形成されている。 これにより、 天面部 2 5とキャッ プ部材 2 6との間の気密を保持することができる。
[0063] 第 2突起部 6 3は、 本体 2 1の天面部 2 5に対するキャップ部材 2 6の位 置決めを行うための部分である。 本実施の形態では、 第 2突起部 6 3は、 開
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口 2 1 3の周囲の全周にわたって形成されている。 これにより、 天面部 2 5 に対するキャップ部材 2 6の位置決めをより精密に行うことができる。 なお 、 第 2突起部 6 3は、 必ずしも、 開口 2 1 3の周囲の全周にわたって形成さ れていなくてもよい。 例えば、 第 2突起部 6 3は、 開口 2 1 3の周囲に沿っ て断続的に (言い換えると、 離散的に) 形成されていてもよい。
[0064] 以上のように、 本実施の形態に係る天面部 2 5は、 第 1突起部 6 1 と第 2 突起部 6 3とを有することにより、 キャップ部材 2 6と天面部 2 5との間が 第 1突起部 6 1 を用いたプロジェクシヨン抵抗溶接によって接合される場合 にも、 第 2突起部 6 3の形状はほとんど変化しないため、 第 2突起部 6 3に よって、 キャップ部材 2 6の天面部 2 5に対する位置精度を高めることがで きる。
[0065] キャップ部材 2 6は、 本体 2 1の天面部 2 5に取り付けられる部材である 。 キャップ部材 2 6は、 本体 2 1側に配置される内側面と、 内側面の裏側に 配置される外側面とを有する。 図 1 に示されるように、 キャップ部材 2 6は 、 底部 2 2の平面視において、 開口 2 1 3の周囲の全周にわたって天面部 2 5と重なる。 キャップ部材 2 6には、 底部 2 2の平面視において、 本体 2 1 の開口 2 1 3と重なる位置に開口 2 6 3が形成されている。 開口 2 6 3は、 キャップ部材 2 6の平面視における中央付近において、 キャップ部材 2 6を 貫通する第 2開口の一例である。 キャップ部材 2 6を形成する材料は、 特に 限定されないが、 例えば、 6又は 6系の合金などであってもよい。
[0066] キャップ部材 2 6は、 図 2及び図 3に示されるように、 底部 2 2の平面視 においてキャップ部材 2 6と天面部 2 5とが重なる接合領域 2 0〇に、 底部 2 2の主面に垂直な方向の位置に応じて断面積が変化する第 1突起部 6 2を 有する (底部 2 2の平面視における接合領域 2 0〇については図 1 を参照さ れたい) 。 第 1突起部 6 2は、 キャップ部材 2 6の内側面に配置される。
[0067] 第 1突起部 6 2は、 天面部 2 5とキャップ部材 2 6とをプロジェクシヨン 抵抗溶接によって接合するための部分である。 図 2及び図 3に示されるよう に、 第 1突起部 6 2は、 断面が三角形状の突起であり、 底部 2 2に近づくに
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したがって断面積が減少する。 言い換えると、 第 1突起部 6 2の幅 (つまり 、 第 1突起部 6 2の長手方向に垂直な断面における幅) は、 底部 2 2に近づ くにしたがって減少する。 第 1突起部 6 2は、 開口 2 1 3の周囲の全周にわ たって連続的に形成されている。 これにより、 天面部 2 5とキャップ部材 2 6との間の気密を保持することができる。 さらに、 本実施の形態では、 第 1 突起部 6 1及び 6 2による二重プロジェクシヨン抵抗溶接を用いることによ って、 単一のプロジェクシヨン溶接抵抗を用いる場合より、 天面部 2 5とキ ャップ部材 2 6との間の気密保持性能を高めることができる。
[0068] 窓部材 2 7は、 キャップ部材 2 6に配置され、 透光性を有する部材である 。 本実施の形態では、 窓部材 2 7は、 キャップ部材 2 6の開口 2 6 3を塞ぐ 。 本実施の形態では、 第 2コリメータ素子 3 1 と、 窓部材 2 7とが一体成形 されている。 図 2及び図 3に示されるように、 窓部材 2 7のうち、 レーザ光 の光軸を含む部分が第 2コリメータ素子 3 1である。 なお、 図 2及び図 3に おいて、 レーザ光が伝搬する領域の端部が破線で示されている。 このように 、 第 2コリメータ素子 3 1 と、 窓部材 2 7とを一体化することで、 半導体レ —ザモジュール 1 0の部品点数を削減できるため、 組立工程を簡素化できる
[0069] また、 窓部材 2 7は、 第 2コリメータ素子 3 1の周囲に配置される平板部
2 8を有する。 平板部 2 8は、 キャップ部材 2 6と接合される。 窓部材 2 7 を形成する材料は、 透光性材料であれば特に限定されない。 窓部材 2 7は、 例えば、 ガラスで形成される。 本実施の形態では、 窓部材 2 7と、 キャップ 部材 2 6との間は、 接合部材 2 9によって気密に接合される。 接合部材 2 9 は、 特に限定されないが、 例えば、 低融点ガラスなどを用いることができる
[0070] また、 窓部材 2 7には、 図 1 に示されるようにレーザ光と第 2コリメータ 素子 3 1 との光軸調整を行うための印であるアライメントマーク八 が形成 されている。 アライメントマーク八 の位置にレーザ光のスポッ ト 3 の位 置を合わせることで、 第 2コリメータ素子の光軸調整を容易に行うことがで
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きる。
[0071 ] 以上のように、 本実施の形態に係るパッケージ 2 0の各構成要素間は、 気 密に接合される。 つまり、 パッケージ 2 0は、 内部の空間を封止する。 これ により、 パッケージ 2 0の内部の空間に配置された光学素子などの汚染を抑 制できる。 例えば、 レーザ光が紫外から青色にかけての短波長帯域の光であ る場合、 樹脂などから発生するシロキサン (3 丨 丨 o x a n e) が光の強度 が高い領域に引き寄せられて光学素子の光路上に堆積する。 このように光学 素子が汚染されることで、 ビーム品質劣化などの問題が発生し得る。 本実施 の形態に係る半導体レーザモジュール 1 0によれば、 パッケージ 2 0を封止 することで、 パッケージ 2 0の外部から内部にシロキサンが流入することを 抑制できるため、 光学素子がシロキサンで汚染されることを抑制できる。 し たがって、 レーザ光のビーム品質劣化を抑制できる。
[0072] 半導体レーザチップ 4 0は、 半導体レーザモジュール 1 0の光源であり、
2つの端面を有する光導波路と、 一方の端面に配置される出射点 4 0 3とを 有する半導体発光素子である。 より詳しくは、 半導体レーザチップ 4 0は、 基板と、 基板上に積層された半導体積層構造と、 半導体積層構造に形成され た例えば 1 〇 以上 5 0〇 以下程度の幅の光導波路とを有する。 半導 体積層構造における発光層の出射側側面に相当する点が出射点 4 0 3である 。 半導体レーザチップ 4 0の構成は、 レーザ光を出射できれば特に限定され ない。 本実施の形態では、 半導体レーザチップ 4 0は、 紫外又は青色の短波 長帯域のレーザ光を出射する窒化物系半導体レーザチップである。
[0073] 半導体レーザチップ 4 0は、 レーザ光の出射方向と底部 2 2の主面とが平 行となるよう底部 2 2に配置される。 本実施の形態では、 図 2に示されるよ うに、 出射点 4 0 3からのレーザ光の出射方向は、 ソ軸方向であり、 底部 2 2の主面は、 X V平面に平行である。 半導体レーザチップ 4 0は、 サブマウ ント 4 2を介して底部 2 2に接合される。
[0074] 半導体レーザチップ 4 0から出射するレーザ光は、 上記の半導体積層構造 の積層方向と平行な方向のビーム軸である第 1の軸 (ファスト軸) と、 伝搬
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第 2の軸方向における発散角 0 IIより大きい。 本実施の形態では、 出射点 4 0 3から第 1 コリメータ素子 5 0までの間における第 1の軸及び第 2の軸は 、 それぞれ 2軸及び X軸と平行な軸である。
[0075] 半導体レーザチップ 4 0は、 リードピン 2 4とワイヤ によって電気的に 接続される。 本実施の形態では、 低電位が印加されるリードピン 2 4と半導 体レーザチップの n側電極 (不図示) とがワイヤ によって接続される。 ま た、 高電位が印加されるリードピン 2 4と半導体レーザチップの 側電極 ( 不図示) とがワイヤ によって接続される。 これにより、 半導体レーザチッ プ 4 0にリードピン 2 4を介して電力が供給される。 図 2には、 リードピン 2 4と 側電極とを接続するワイヤ は図示されていない。
[0076] サブマウント 4 2は、 底部 2 2に接合される基台である。 サブマウント 4
2には、 半導体レーザチップ 4 0が実装される。 本実施の形態では、 サブマ ウント 4 2は、 直方体状の形状を有し、 サブマウント 4 2の表面は、 レーザ 光の出射方向 (V軸方向) と交差する方向に延びる前面 4 2 I1を含む。 前面 4 2干は、 å X平面に平行である。 サブマウント 4 2を形成する材料は、 特 に限定されない。 サブマウント 4 2を形成する材料として、 例えば、 単結晶 基板 (3 丨基板、 3 丨 <3基板など) 、 セラミック ( I 1\1基板、 3 丨 (3基板 など) 、 ダイヤモンド基板、 合金 ( - 、 〇リ _ 1\/1〇など) 、 複合材料
〇リーダイヤモンド、 八 9—ダイヤモンドなど) を用いる ことができる。 本実施の形態では、 サブマウント 4 2は、 ヒートシンク 4 4 を介して底部 2 2に接合される。 つまり、 半導体レーザチップ 4 0は、 サブ マウント 4 2及びヒートシンク 4 4を介して底部 2 2に接合される。 半導体 レーザチップ 4 0は、 接合部材 4 1 によってサブマウント 4 2に接合される 。 接合部材 4 1 を形成する材料は、 特に限定されないが、 例えば、 A u 3 n はんだである。
[0077] また、 サブマウント 4 2は、 接合部材 4 3を介してヒートシンク 4 4に接
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合される。 接合部材 4 3として、 例えば、 八リ 3 nはんだを用いることがで きる。
[0078] ヒートシンク 4 4は、 底部 2 2に接合される基台であり、 半導体レーザチ ップ 4 0などが発生する熱を放散する。 本実施の形態では、 ヒートシンク 4 4は、 直方体状の形状を有し、 接合部材 4 5を介して底部 2 2の主面に接合 される。 ヒートシンク 4 4を形成する材料は、 熱伝導率が高い材料であれば 特に限定されず、 例えば、 〇リ系材料である。 接合部材 4 5として、 例えば 、 接合部材 4 3より融点の低い低融点はんだ (融点: 1 4 0 °〇〜2 5 0 °〇。
3 〇 八 、 〇リ、 八リ、 巳 し 1\1 し
1 门の内の一つ以上材料の組 み合わせで構成される材料、 例えば、 S n A g C u) などを用いることがで きる。 また、 ヒートシンク 4 4と接合部材 4 3及び 4 5との間の接合強度を 高めるために、 ヒートシンク 4 4の表面にメッキ処理を施してもよい。 例え ば、 匕一トシンク 4 4の表面に 1\1 I -八リメッキを施してもよい。
[0079] 第 1 コリメータ素子 5 0は、 一次元凹ミラーであり、 パッケージ 2 0内に おいて半導体レーザチップ 4 0の出射点 4 0 3に対向して配置される。 第 1 コリメータ素子 5 0は、 ミラー面 5 0 「を有するシリンドリカルミラーであ る。 ミラー面 5 0 「は、 表面に平行な一方向について曲率を持っておらず、 当該一方向と垂直な断面が凹型の形状を有する。 凹型の反射面は、 光学設計 に応じて、 球面、 非球面、 放物面などを選択することができる。 第 1 コリメ —夕素子 5 0は、 第 1の軸に対して凹型の反射面となるように配置される。 ミラー面 5 0 「は、 レーザ光を開口 2 1 3に向けて反射し、 かつ、 レーザ光 の第 1の軸方向における発散角を低減する。 本実施の形態では、 ミラー面 5 〇 「は、 V軸方向に伝搬するレーザ光を 2軸方向に反射し、 レーザ光の向き を 9 0 ° 変化させる。 ミラー面 5 0 「によって反射されたレーザ光は、 第 2 コリメータ素子 3 1 に入射される。 これを可能とするために、 底部 2 2の平 面視において、 ミラー面 5 0 「と、 開口 2 1 8及び開口 2 6 8とが重なるよ うに、 第 1 コリメータ素子 5 0が配置される。 言い換えると、 ミラー面 5 0 「の X軸方向及び V軸方向の位置が、 開口 2 1 3及び開口 2 6 3の X軸方向
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及び V軸方向の位置と一致するように第 1 コリメータ素子 5 0が配置される
[0080] ミラー面 5 0 「は、 半導体レーザチップ 4 0の出射面の出射点 4 0 3を焦 点とする放物面状の形状を有する。 なお、 ミラー面 5 0 「は、 X軸方向に曲 率を持っていない X軸方向と平行な放物柱面である。 これにより、 出射点 4 0 3から出射したレーザ光の第 1の軸方向における発散角を低減できる。 つ まり、 ミラー面 5 0 「はレーザ光を第 1の軸方向における発散角を低減する 。 このように、 本実施の形態に係る第 1 コリメータ素子 5 0によれば、 レー ザ光の反射による光軸変換と、 コリメートとを同時に行うことができる。 し たがって、 半導体レーザモジュール 1 0の部品点数を削減できる。 また、 第 1 コリメータ素子 5 0の位置調整などの手間を削減できる。 また、 半導体レ —ザチップ 4 0は、 サブマウント 4 2から第 1 コリメータ素子 5 0に向かっ て突出するように、 サブマウント 4 2上に配置されている。 ミラー面 5 0 「 と隣接する第 1 コリメータ素子 5 0のサブマウント 4 2と対向する面の延長 面上に、 ミラー面 5 0 「の焦点が位置するように、 第 1 コリメータ素子 5 0 を形成することが好ましい。 こうすることで、 半導体レーザチップ 4 0の出 射面の出射点 4 0 3を前述の延長面上に位置合わせすることで、 出射点 4 0 3をミラー面 5 0 「の焦点に合わせることができる。
[0081 ] また、 レーザ光の光軸を鉛直方向 (図 1〜図 3の å軸方向) とすることで 、 レーザ光のスポッ ト位置を目視にて確認できるため、 光軸のビジュアルア ライメントを容易に行うことができる。 これにより、 半導体レーザモジュー ル 1 0の生産性が向上するため、 低コスト化を実現できる。 なお、 ミラー面 5 0 で反射されたレーザ光の第 1の軸は、 ソ軸に平行となる。
[0082] 図 2及び図 3に示されるように、 第 1 コリメータ素子 5 0は、 直方体の上 面の一辺を含む領域が切り欠かれた形状を有し、 切り欠かれることで形成さ れた面が放物面 (ミラー面 5 0 〇 である。 なお、 放物面であるミラー面 5 0 「の 7 å平面に平行な断面は、 出射点 4〇 3、 又は、 出射点 4〇 3を通り X軸方向に平行な直線上の点を焦点とする放物線状の形状を有する。 また、
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ミラー面 5 0 「には、 レーザ光の反射率を高める反射膜が形成されていても よい。 反射膜として、 例えば、 誘電体多層膜を用いることができる。 なお、 反射膜は、 金属膜であってもよい。
[0083] 第 1 コリメータ素子 5 0は、 ミラー面 5 0 「がサブマウント 4 2の前面 4
2干に対向するように配置される。 このように、 半導体レーザチップ 4 0が 実装されるサブマウント 4 2と一体的に形成されていない第 1 コリメータ素 子 5 0が設けられる。 これにより、 第 1 コリメータ素子 5 0をサブマウント 4 2と一体的に形成する場合より、 第 1 コリメータ素子 5 0を、 放物面の精 度を向上して、 容易に形成できる。 第 1 コリメータ素子 5 0を形成する材料 は、 限定されないが、 例えば、 ガラスであってもよい。 このようにガラスを 用いる場合には、 所望の形状を有する第 1 コリメータ素子 5 0を高温金型プ レスなどによって容易に形成できる。
[0084] 第 1 コリメータ素子 5 0は、 接合部材 5 1 によってパッケージ 2 0に接合 されている。 本実施の形態では、 第 1 コリメータ素子 5 0は、 ヒートシンク 4 4を介してパッケージ 2 0に接合されている。 また、 接合部材 5 1は、 樹 脂を含まない。 具体的には、 接合部材 5 1 として、 樹脂を含まない低融点は んだなどを用いることができる。 これにより、 封止されたパッケージ内に存 在するシロキサンの量を低減できるため、 例えば、 レーザ光が紫外から青色 にかけての短波長帯域の光である場合にも、 シロキサンによる光学素子の汚 染及びそれに伴うレーザ光のビーム品質劣化を抑制できる。 なお。 パッケー ジを封止する前に、 紫外線照射などによるオゾンクリーニングで、 汚染及び それに伴うレーザ光のビーム品質劣化をさらに抑制できる。 第 1 コリメータ 素子 5 0がガラスで形成される場合には、 接合部材 5 1 との接合強度を高め るために、 第 1 コリメータ素子 5 0の接合部材 5 1 との接合面に金属膜を形 成してもよい。 例えば、 第 1 コリメータ素子 5 0の接合部材 5 1 との接合面 に、 接合面側から順に、 丁 し I及び リを積層してもよい。 金属膜は、 丁 し 1:、 八リ、 〇 「、 1\1 し の 2つ以上を積層した金属膜であって もよい。 接合面側から順に、 第 1 コリメータ素子 5 0を形成するガラスと密
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着性のよい材料、 接合部材 5 1 に含まれる 3 に対するバリア性のある材料 、 接合部材 5 1 に含まれる 3 nの拡散しやすい材料を積層してもよい。
[0085] 第 2コリメータ素子 3 1は、 第 1 コリメータ素子 5 0で反射されたレーザ 光の第 2の軸方向における発散角を低減する素子である。 本実施の形態では 、 第 2コリメータ素子 3 1は、 第 2の軸方向と光の進行方向で定義される面 に対して、 曲率を有し、 底部 2 2に向かって凸型の形状を有するシリンドリ カルレンズである。 第 2コリメータ素子 3 1は、 図 3に示されるように、 第 1 コリメータ素子 5 0で反射されたレーザ光が入射するように、 ミラー面 5 0 「と対向して配置され、 第 2の軸である父軸方向におけるレーザ光の発散 角を低減する。 また、 上述したとおり、 第 2コリメータ素子 3 1は、 窓部材 2 7と一体成形されている。 第 2コリメータ素子 3 1は、 キャップ部材 2 6 の外側面に配置される。 これにより、 第 2コリメータ素子 3 1がキャップ部 材 2 6の内側面に配置される場合より、 パッケージ 2 0の寸法を低減できる
[0086] 第 2コリメータ素子の表面のうち、 レーザ光の入射面及び出射面には、 レ —ザ光に対する無反射コート膜が形成されている。 なお、 無反射コート膜は 、 レーザ光の反射を抑制する膜であればよく、 レーザ光を完全に反射させな い膜に限定されない。
[0087] なお、 半導体レーザモジュール 1 〇に、 光ファイバなどの他の光学素子な どが組み合わせられてもよい。 このような半導体レーザモジュールの構成例 について図 4及び図 5を用いて説明する。 図 4及び図 5は、 それぞれ本実施 の形態に係る半導体レーザモジュール 1 1の全体構成を示す模式的な第 1の 断面図及び第 2の断面図である。 図 4及び図 5には、 それぞれ図 2及び図 3 に示される断面図と同様の位置における半導体レーザモジュール 1 1の断面 図が示されている。
[0088] 図 4及び図 5に示されるように、 半導体レーザモジュール 1 1は、 上述し た半導体レーザモジュール 1 〇と、 先端レンズ付き光ファイバ 8 0とを備え る。 また、 本実施の形態では、 半導体レーザモジュール 1 1は、 ファイバホ
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ルダ 7 0をさらに備える。
[0089] 先端レンズ付き光ファイバ 8 0は、 第 1 コリメータ素子 5 0により反射さ れたレーザ光を受光する導光部材である。 本実施の形態では、 先端レンズ付 き光ファイバ 8 0は、 光ファイバ 8 2と、 集光レンズ 8 4と、 フェルール 8 3と、 フランジ 8 1 とを有するアセンブリである。
[0090] 光ファイバ 8 2は、 端面に入射されたレーザ光を導く導波路である。 集光 レンズ 8 4は、 レーザ光を光ファイバ 8 2の端面に収束させる光学素子であ る。 なお、 集光レンズ 8 4の表面のうち、 レーザ光の入射面及び出射面には 、 レーザ光に対する無反射コート膜が形成されている。 なお、 無反射コート 膜は、 レーザ光の反射を抑制する膜であればよく、 レーザ光を完全に反射さ せない膜に限定されない。 フェルール 8 3は、 フランジ 8 1 に固定され、 光 ファイバ 8 2及び集光レンズ 8 4を保持する部材である。 フランジ 8 1は、 ファイバホルダ 7 0に固定されるフランジであり、 フェルール 8 3を介して 、 光ファイバ 8 2及び集光レンズ 8 4を保持する。
[0091 ] ファイ/《ホルダ 7 0は、 先端レンズ付き光ファイバ 8 0を保持する部材で ある。 ファイバホルダ 7 0は、 固定部 7 1 と、 筒状部 7 2とを有する。 固定 部 7 1は、 パッケージ 2 0に固定される部分であり、 キャップ部材 2 6を覆 う。 固定部 7 1 における第 2コリメータ素子 3 1 に対向する位置には、 開口 が形成されており、 当該開口の周囲に筒状部 7 2が配置される。 筒状部 7 2 は、 光ファイバ 8 2及び集光レンズ 8 4などが揷入される筒状の部分であり 、 固定部 7 1 に形成された開口の位置に、 筒状部 7 2に形成された穴が配置 されるように、 固定部 7 1 に固定されている。 これにより、 第 2コリメータ 素子 3 1から出射されたレーザ光を、 固定部 7 1 に形成された開口を介して 光ファイバ 8 2に入射させることができる。 ここで、 固定部 7 1の開口は、 第 2コリメータ素子 3 1の凸型の形状を有するレーザ光入射面と対向するよ うに設置されている。
[0092] ファイバホルダ 7 0を形成する材料は特に限定されないが、 例えば、 6 又は 6系の合金である。 ファイバホルダ 7 0と本体 2 1の側部 2 3とは、
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例えばスポッ ト溶接などを用いて接合される。 図 4及び図 5には、 スポッ ト 溶接によって形成されるスポッ ト溶接痕 9 1が示されている。 また、 先端レ ンズ付き光ファイバ 8 0も、 スポッ ト溶接によって、 ファイバホルダ 7 0と 接合されてもよい。 ファイバホルダ 7 0は、 ファイバホルダの筒状部 7 2の 穴の中心と第 2コリメータ素子 3 1のレーザ光のスポッ ト 3 が一致するよ うに、 ビジュアルアライメントにより位置決めを行った後、 スポッ ト溶接に より本体 2 1 に固定してもよい。
[0093] 以上のように、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュール 1 1は、 第 1 コリメータ素子 5 0により反射されたレーザ光を受光する先端レンズ付き光 ファイバ 8 0を備える。 これにより、 レーザ光を容易に光ファイバ 8 2に導 入できる。 また、 光ファイバ 8 2と集光レンズ 8 4とが一体化されているた め、 光軸調整の手間を削減できる。 先端レンズ付き光ファイバ 8 0は、 半導 体レーザチップ 4 0を発光させ、 先端レンズ付き光ファイバ 8 0で受けた光 パワーが最大になるようにアクティプアライメントにより中心位置決めを行 った後、 スポッ ト溶接によりファイバホルダに固定してもよい。
[0094] [ 1 - 2 . 作用効果]
次に、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュール 1 〇及び 1 1の作用効 果について図 6八、 図 6巳及び図 7を用いて説明する。 図 6八及び図 6巳は 、 それぞれ比較例及び本実施の形態に係る第 1 コリメータ素子を示す模式的 な側面図である。 図 6八及び図 6巳には、 第 1 コリメータ素子に入射される レーザ光を出射する半導体レーザチップ 4 0と、 半導体レーザチップ 4 0が 実装されるサブマウント 4 2とが併せて示されている。 また、 図 6八及び図 6巳に示される実装面は、 例えば、 ヒートシンク 4 4の上面に相当する。
[0095] 図 6八に示される第 1 コリメータ素子 1 0 5 0は、 半導体レーザチップ 4
0から出射されるレーザ光の第 1の軸 (å軸) 方向における発散角を低減す るシリンドリカルレンズである。 第 1 コリメータ素子 1 0 5 0のようなシリ ンドリカルレンズにおいては、 収差の影響を低減するために、 レーザ光をコ リメートするシリンドリカル面がレーザ光の下流側の面 (つまり、 出射面)
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に配置される。 このため、 図 6八に示される出射点 4 0 3 (言い換えると出 射点 4 0 3が配置される半導体レーザチップ 4 0の端面 4 0 6) からシリン ドリカル面までの光学距離ロチ 0を低減するのが難しい。 例えば、 第 1 コリ メータ素子 1 〇 5 0を小型化することで光学距離 0干 0を低減することも原 理的には可能である。 しかしながら、 第 1 コリメータ素子 1 0 5 0の寸法が 小さくなることで第 1 コリメータ素子 1 0 5 0のハンドリングが困難となる ため、 光学距離ロチ 0の低減には限界がある。 一般的に、 光学距離ロチ 0の 最小値は、 3 0 0 程度である。 以上のように、 比較例に係る第 1 コリメ —夕素子 1 0 5 0では、 光学距離口干 0が比較的大きくなることに伴い、 シ リンドリカル面に到達するまでにレーザ光が発散する幅が比較的大きくなる 。 したがって、 第 1 コリメータ素子 1 0 5 0によってコリメートされたレー ザ光の第 1の軸における幅巳 0 0が比較的大きくなる。
[0096] 一方、 本実施の形態に係る第 1 コリメータ素子 5 0は、 ミラー面 5 0 「に よって、 第 1の軸方向における発散角の低減を行う。 本実施の形態では、 出 射点 4 0 3とミラー面 5 0 「との光学距離 0チ 1 を容易に低減できる。 例え ば、 光学距離ロチ 1は、 5 0 以下程度に低減され得る。 このため、 コリ メートされたレーザ光の第 1の軸における幅巳 0 1 を比較例の幅巳 0 0 と比較して大幅に低減できる。
[0097] 以上のように本実施の形態に係る第 1 コリメータ素子 5 0によれば、 ミラ —面 5 0 「によってレーザ光をコリメートするため、 比較例に係る第 1 コリ メータ素子 1 0 5 0のような透過型のコリメータレンズの出射面においてレ —ザ光をコリメートする場合より、 出射点 4 0 8に近い位置で、 つまりレー ザ光の発散によるスポッ ト径の増大幅が比較的小さい位置で、 レーザ光をコ リメートできる。 したがって、 第 1の軸において、 より小さいスポッ ト径を 有するレーザ光を形成できる。 これに伴い、 レーザ光の高密度化が可能とな る。 また、 本実施の形態に係る第 1 コリメータ素子 5 0では、 光学距離口干 1 を小さく しても、 第 1 コリメータ素子 5 0全体を小型化する必要がない。 例えば、 ミラー面 5 0 の出射方向における最大幅 (図 6巳に示される幅巳
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) を小さくする場合にも、 第 1 コリメータ素子 5 0のミラー面 5 0 「以外の 部分 (図 6巳に示される幅八の部分) を大きく してもレーザ光に与える影響 はないため、 レーザ光の出射方向における最大幅 (図 6巳に示される幅八十 巳) を大きくすることができる。 このため、 第 1 コリメータ素子 5 0のハン ドリングの容易性を維持しつつ、 出射点 4 0 3からミラー面 5 0 「までの光 学距離口干 1 を低減できる。 例えば、 第 1 コリメータ素子 5 0の各々のレー ザ光の出射方向における最大幅 (図 6巳に示される幅八十巳) は、 ミラー面 5 0 の出射方向における最大幅 (図 6巳に示される幅巳) の 2倍以上であ ってもよい。 これにより、 第 1 コリメータ素子 5 0のレーザ光の出射方向に おける幅がミラー面 5 0 の最大幅程度である場合より、 ミラー面 5 0 「以 外の部分が大きくなるため、 第 1 コリメータ素子 5 0のハンドリングを容易 化できる。 また、 例えば、 第 1 コリメータ素子 5 0をパッケージの底部 2 2 などに接合する場合に、 第 1 コリメータ素子 5 0のレーザ光の出射方向にお ける幅がミラー面 5 0 「の最大幅程度である場合より、 接合面積を拡大でき る。 したがって、 第 1 コリメータ素子 5 0と底部 2 2などとの接合強度を増 大できる。 本実施の形態においては、 第 1 コリメータ素子 5 0とサブマウン 卜 4 2との接合強度を増大できる。
[0098] 図 7は、 比較例及び本実施の形態に係る半導体レーザモジュールの第 2の 軸における作用を説明する模式図である。 図 7の模式図 (3 1) は、 比較例 に係る半導体レーザモジュールと、 レーザ光の第 2の軸におけるスポッ ト径 との関係を示す。 図 7の模式図 (3 2) は、 比較例に係る半導体レーザモジ ュールにおける出射点 4 0 3からの光学距離 (レーザ光が伝搬する光学距離 ) とレーザ光のスポッ ト形状との関係を示す。 図 7の模式図 (匕 1) は、 本 実施の形態に係る半導体レーザモジュールと、 レーザ光の第 2の軸における スポッ ト径との関係を示す。 図 7の模式図 (匕 2) は、 本実施の形態に係る 半導体レーザモジュールにおける出射点 4 0 3からの光学距離 (レーザ光が 伝搬する光学距離) とレーザ光のスポッ ト形状との関係を示す。 なお、 図 7 においては、 第 2コリメータ素子 3 1 としてコリメート面が出射面側に形成
\¥02020/174982 27 卩(:171?2020/002996
されている素子を用いる例が:^されている。
[0099] 図 7の模式図 (3 1) に示されるように、 比較例に係る半導体レーザモジ ュールは、 図 6八に示される半導体レーザチップ 4 0、 サブマウント 4 2及 び第 1 コリメータ素子 1 0 5 0に加えて、 本実施の形態に係る第 2コリメー 夕素子 3 1 を備える。
[0100] 図 7の模式図 (3 2) 及び (匕 2) に示されるように、 半導体レーザチッ プ 4 0から出射されたレーザ光のスポッ ト形状のアスペクト比 (以下、 ビー ムアスペクト比ともいう。 ) は、 出射点 4 0 3の近傍においては、 例えば、
1 : 8である。 模式図 (3 1) 及び (3 2) において、 レーザ光は、 比較例 に係る半導体レーザモジュールの第 1 コリメータ素子 1 0 5 0の出射面 (コ リメート面) に到達するまでに、 第 2の軸方向より第 1の軸方向において大 きく発散する。 このため、 第 1 コリメータ素子 1 0 5 0の出射面 (出射点 4 0 3からの光学距離が 0干 0である位置) において、 例えば、 光学距離口干 0が 3 0 0 である場合、 ビームアスペクト比が 2 . 6 : 1程度となる。 第 1 コリメータ素子 1 0 5 0の下流では、 レーザ光は第 1の軸方向において 発散せず、 第 2の軸方向において発散する。 図 7に示される比較例では、 第 2コリメータ素子 3 1 を出射したレーザ光のビームアスぺクト比を出射点 4 0 3の近傍におけるビームアスぺクト比と同一とするように、 第 2コリメー 夕素子 3 1の出射面 (コリメート面) の位置が定められている。 図 7の模式 図 (3 1) に示されるように、 出射点 4 0 3から第 2コリメータ素子 3 1の 出射面 (コリメート面) までの光学距離 (光路長) を口 3 0としている。 本 比較例では、 光学距離口 3 0は、 9 .
程度となる。
[0101 ] —方、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュール 1 0においては、 上述 のとおり、 出射点 4 0 3から第 1 コリメータ素子 5 0のミラー面 5 0 「まで の光学距離ロチ 1 を比較例の光学距離ロチ 0より大幅に低減できるため、 ミ ラー面 5 0 「において、 第 1の軸方向におけるレーザ光の発散は小さい。 例 えば、 光学距離口干 1が、 1 0 0 程度の場合に、 第 1 コリメータ素子 5 0のミラー面 5 0 「におけるビームアスペクト比は、 1 . 5 : 1程度である
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。 第 1 コリメータ素子 5 0の下流で、 レーザ光は第 1の軸方向において発散 せず、 第 2の軸方向において発散する。 本実施の形態では、 上記比較例と同 様に第 2コリメータ素子 3 1 を出射したレーザ光のビームアスぺクト比を出 射点 4 0 3の近傍におけるビームアスぺクト比と同一とするように、 第 2コ リメ _夕素子 3 1の出射面 (コリメート面) の位置が定められている。 図 7 の模式図 (匕 1) に示されるように、 出射点 4 0 3から第 2コリメータ素子 3 1の出射面 (コリメート面) までの光学距離を口 3 1 とする。 本実施の形 態では、 光学距離口 3 1は、 3 . 3
程度である。 なお、 比較例において 、 出射点 4〇 3から 3 .
の位置では、 ビームアスペクト比は、 3 : 8であり、 所望のビームアスペクト比 (1 : 8) と比較して、 第 1の軸のス ポッ ト径に対する第 2の軸におけるスポッ ト径の比が 3倍大きい。
[0102] 以上のように、 本実施の形態では、 第 1の軸におけるレーザ光のスポッ ト 径を低減できるため、 レーザ光の第 1の軸及び第 2の軸におけるスポッ ト径 の比を、 所定の値にするために必要な光学距離を低減できる。 例えば、 出射 点 4 0 3から第 2コリメータ素子 3 1 までの光学距離口 3 1 を比較例の光学 距離 0 3 0より大幅に短縮できる。 これにより、 パッケージ 2 0及び半導体 レーザモジュール 1 0の小型化が可能となる。
[0103] また、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュールでは、 第 2コリメータ 素子 3 1から出射されるコリメートされたレーザ光のスポッ ト径を、 比較例 に係る半導体レーザモジュールから出射されるレーザ光のスポッ ト径の 1 / 3程度に低減できる。 このため、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュー ル 1 0によれば、 出射されるレーザ光の光密度を、 比較例の半導体レーザモ ジュールから出射されるレーザ光の光密度より高めることができる。
[0104] また、 レーザ光のスポッ ト径を低減することで、 図 4及び図 5に示される ような先端レンズ付き光ファイバ 8 0の先端レンズにレーザ光を入射する際 に発生する損失を抑制できる。 このため、 半導体レーザモジュール 1 0から の出射光を、 他の集光レンズなどを介することなく、 直接、 先端レンズ付き 光ファイバ 8 0に入射できる。 したがって、 半導体レーザモジュール 1 0の
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部品点数を削減できる。
[0105] [ 1 _ 3 . 第 1 コリメータ素子の寸法例]
次に、 本実施の形態に係る第 1 コリメータ素子 5 0の寸法例について、 図 8を用いて説明する。 図 8は、 本実施の形態に係る第 1 コリメータ素子 5 0 に求められる条件を説明する模式図である。 図 8には、 半導体レーザチップ 4 0と、 サブマウント 4 2と、 第 1 コリメータ素子 5 0とが示されている。 なお、 出射点 4 0 3からミラー面 5 0 「までの距離 !_ 八〇が最小である場 合 (1_ 八〇= 1_ 八〇〇1 丨 n) の第 1 コリメータ素子 5 0が実線で示され ており、 距離!- 八〇が最大である場合 (1_ 八〇= 1_ 八〇 3 X) の第 1 コリメータ素子 5 0が破線で示されている。
0 ° である場合の例が示されている。
[0107] また、 図 8に示されるサブマウント 4 2及び第 1 コリメータ素子 5 0が配 置される面における å座標を 0とし、 出射点 4 0 3における å座標を 3 0 0 とみなし (つまり、 サブマウント 4 2の上面の å座標を出射点 4 0 3の å座標とみなし) 、 出射点 4 0 3におけるソ座標を 0とすると、 出射点 4 0 8を焦点とする放物面であるミラー面 5 0 「上の点の座標 (ソ、 å) につい て以下の式 (1) が成り立つと仮定する。
[0108] å =ソ 2 / (4 ) +〇 ( 1)
[0109] ここで、 放物面の焦点に配置される出射点 4 0 3のå座標は、 及び〇を 用いて +〇で表される。 上述したとおり、 出射点の å座標は 3 0 0 〇1で あるため、 以下の式 (2) が成り立つ。
[01 10] +〇= 3 0 0 (2)
[01 1 1 ] また、 レーザ光が、 第 1 コリメータ素子 5 0のミラー面 5 0 「以外の面に 照射されないこと (条件 1) と、 第 1 コリメータ素子 5 0の下面からミラー 面 5 0 「の最下部までの距離 1~1 八〇 1の最小値が 1 〇〇 であること ( 条件 2) とを、 第 1 コリメータ素子 5 0に求められる条件とする。 距離 ! !
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八〇 1の最小値は、 第 1 コリメータ素子 50の生産性を考慮して決定されて いる。 距離 1~1 八〇 1が 1 〇〇 未満である第 1 コリメータ素子 50を歩 留まり良く生産することは困難である。
[0112] 以上の条件より、 距離 1~1 八〇 1は、 上記式 (1) の〇に相当するため、 〇は 1 〇〇 以上となる。 したがって、 式 (2) より、 は 200以下と なる。
[0113] また、 第 1 コリメータ素子 50を実装する際に、 半導体レーザチップ 40 と干渉することを抑制するために、 ミラ—面 50 「の最下部の高さ 1~1 八〇 1 を出射点 403の高さより 1 5 以上低くする。 つまり、 を 1 5以上 とする。 以上より、 について、 以下の式 (3) が成り立つ。
[0114] 1 5 £ £ 200 (3)
[0115] この場合、 出射点 403からミラー面 50 「までの光学距離 !_ 八(3 [ 〇1] について、 式 (1) 〜式 (3) から以下の式 (4) が成り立つ。
[0116] 30£!_ 八〇£ 400 (4)
[0117] また、 式 (1) 〜式 (4) と、 上記条件 1 とから、 第 1 コリメータ素子 5
0の高さ 1~1 八〇2 [ ] について概算すると以下の式 (5) が成り立つ
[0118] 3 1 2 £ 1~1 八〇 2 £ 700 (5)
[0119] 以上の式 ( 1) 〜式 (5) から、 第 1 コリメータ素子 50によってコリメ —卜されたレーザ光の第 1の軸におけるスポッ ト径巳 0 [ ] について 、 以下の式 (6) が成り立つ。
[0120] 28£巳0 £370 (6)
[0121] つまり、 スポッ ト径巳
nは、 28 であり、 最
370 である。 ここで、 上述した先端レンズ付き 光ファイバ 80の一般的な先端レンズの仕様から、 先端レンズ付き光ファイ バ 80に入射できるレーザ光のスポッ ト径は、 1 〇〇〇 以下程度である 。 したがって、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュール 1 0から出射さ れるレーザ光の第 1の軸におけるスポッ ト径は、 他の集光レンズなどを用い
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ることなく先端レンズ付き光ファイバ 8 0に入射できる程度に十分小さい。
[0122] 以上のような数値例を考慮すると、 出射点 4〇 3から、 第 1 コリメータ素 子 5 0のミラー面 5 0 「までの光学距離 !_ 八〇は、 3 0 〇1以上、 3 0 0 以下であってもよい。 このように、 出射点 4 0 3から第 1 コリメータ素 子 5 0のミラー面 5 0 「までの距離を低減することで、 出射点 4 0 3に近い 位置で、 つまりレーザ光の発散によるスポッ ト径の増大幅が比較的小さい位 置で、 レーザ光をコリメートできる。 したがって、 第 1の軸において、 より 小さいスポッ ト径を有するレーザ光を形成できる。 これに伴い、 レーザ光の 高密度化が可能となる。
[0123] [ 1 - 4 . 製造方法]
次に、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュール 1 〇及び 1 1の製造方 法について、 図 9〜図 1 7を用いて説明する。 図 9〜図 1 7は、 本実施の形 態に係る半導体レーザモジュール 1 0及び 1 1の製造方法の各工程を示す模 式的な断面図である。
[0124] まず、 図 9に示されるように、 サブマウント 4 2に半導体レーザチップ 4 〇が実装される。 本実施の形態では、 サブマウント 4 2に、 樹脂を含まない 接合部材 4 1 (例えば八 u 3 nはんだ) を用いて半導体レーザチップ 4 0を 接合する。
[0125] 次に、 図 1 0に示されるように、 半導体レーザチップ 4 0が実装されたサ ブマウント 4 2が、 ヒートシンク 4 4に接合される。 本実施の形態では、 サ ブマウント 4 2は、 樹脂を含まない接合部材 4 3 (例えば八 u 3 nはんだ) を用いてヒートシンク 4 4に接合される。 また、 ヒートシンク 4 4と接合部 材 4 3との間の接合強度を高めるために、 ヒートシンク 4 4の表面に例えば 、 1\1 丨 一八リなどのメッキが施されている。 ヒートシンク 4 4の表面に施さ れるメッキは、 し 八リ、 9〇1 % 3 〇 % 八 9の一つ以上の組み合わせによ るメッキであってもよい。
[0126] 次に、 図 1 1 に示されるように、 ヒートシンク 4 4に第 1 コリメータ素子
5 0が接合される。 本実施の形態では、 第 1 コリメータ素子 5 0は、 樹脂を
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含まない接合部材 5 1 (低融点はんだ) を用いてヒートシンク 4 4に接合さ れる。 この際、 第 1 コリメータ素子 5 0は、 ミラー面 5 0 「がサブマウント
4 2の前面 4 2干に対向するように配置される。 また、 第 1 コリメータ素子
5 0と接合部材 4 3との間の接合強度を高めるために、 第 1 コリメータ素子 5 0のヒートシンク 4 4との接合面 (つまり、 ヒートシンク 4 4と対向する 面) に金属膜が形成されている。 具体的には、 第 1 コリメータ素子 5 0の接 合面に、 接合面側から順に、 丁 し 1:及び リが積層されている。 これに より、 第 1 コリメータ素子 5 0のヒートシンク 4 4との接合面には、 金属層 5 0〇1が形成される。 なお、 第 1 コリメータ素子 5 0は、 ガラスで形成され ており、 高温金型プレスなどによって成形される。 また、 ミラー面 5 0 「に は、 誘電体多層膜からなる反射膜が積層される。 なお、 反射膜の構成は、 レ —ザ光の波長に応じて適宜決定される。 尚、 金属膜は、 丁 し 、 八リ、
〇 「、 1\1 し の 2つ以上を積層した金属膜であってもよい。 接合面側か ら順に、 第 1 コリメータ素子 5 0を形成するガラスと密着性のよい材料、 接 合部材 5 1 に含まれる 3 nに対するバリア性のある材料、 接合部材 5 1 に含 まれる 3 の拡散しやすい材料を積層してもよい。
[0127] 次に、 図 1 2に示されるように、 半導体レーザチップ 4 0、 サブマウント 4 2及び第 1 コリメータ素子 5 0が接合されたヒートシンク 4 4が本体 2 1 の底部 2 2に接合される。 本実施の形態では、 ヒートシンク 4 4は、 低融点 はんだからなる接合部材 4 5を用いて底部 2 2に接合される。
[0128] 次に、 図 1 3に示されるように、 半導体レーザチップ 4 0とリードピン 2 4とがワイヤ で接続される。 本実施の形態では、 低電位が印加されるリー ドピン 2 4と半導体レーザチップの n側電極 (不図示) とがワイヤ によっ て接続される。 また、 高電位が印加されるリードピン 2 4と半導体レーザチ ップの 側電極 (不図示) とがワイヤ によって接続される。 図 1 3には、 リードピン 2 4と 側電極を接続するワイヤ は図示されていない。
[0129] 次に、 図 1 4に示されるように、 キャップ部材 2 6と本体 2 1 とが接合さ れる。 本実施の形態では、 プロジヱクション抵抗溶接によってキャップ部材
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2 6と本体 2 1 とが接合される。 具体的には、 接合領域 2 0〇において、 キ ャップ部材 2 6を本体 2 1の天面部 2 5に向けて圧力を加えながら、 キャッ プ部材 2 6に電圧を印加する。 これにより、 第 1突起部 6 1及び 6 2におい て、 第 1突起部 6 1及び 6 2の先端及び先端が接触する部分がジュール熱に よって溶融する。
[0130] 続いて、 キャップ部材 2 6への電圧の印加を停止して溶融した金属を冷却 することで、 キャップ部材 2 6と本体 2 1 とが接合される。 なお、 図 1 4に 示されるように、 キャップ部材 2 6には、 本工程に先立って、 窓部材 2 7が 接合される。 本実施の形態では、 窓部材 2 7は、 樹脂を含まない低融点ガラ スからなる接合部材 2 9を用いてキャップ部材 2 6に接合される。
[0131 ] ここで、 本実施の形態では、 底部 2 2の主面に垂直な方向の位置に応じて 断面積が変化しない第 2突起部 6 3が天面部 2 5に形成されている。 第 2突 起部 6 3の断面積が一定であるため、 キャップ部材 2 6に電圧が印加されて も、 第 2突起部 6 3の先端部に電流が集中しない。 したがって、 第 2突起部 6 3は実質的に溶融しない。 このように、 第 2突起部 6 3の形状はほとんど 変化しないため、 第 2突起部 6 3によって、 天面部 2 5に対するキャップ部 材 2 6の位置決めを行うことができる。 これにより、 キャップ部材 2 6の天 面部 2 5に対する位置精度を高めることができる。
[0132] 以上のような工程によって、 図 1 5に示される半導体レーザモジュール 1 〇が製造される。
[0133] 続いて、 半導体レーザモジュール 1 1の製造方法について説明する。
[0134] 図 1 6に示されるように、 半導体レーザモジュール 1 0の本体 2 1の天面 部 2 5にファイ/《ホルダ 7 0を接合する。 本実施の形態では、 スポッ ト溶接 によって、 天面部 2 5にファイバホルダ 7 0を接合する。 これにより、 スポ ッ ト溶接を行った箇所に、 スポッ ト溶接痕 9 1が形成される。
[0135] 次に、 図 1 7に示されるように、 ファイバホルダ 7 0に、 先端レンズ付き 光ファイバ 8 0を接合する。 本実施の形態では、 ファイバホルダ 7 0の筒状 部 7 2の内部に先端レンズ付き光ファイバ 8 0の光ファイバ 8 2の先端部を
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揷入し、 フランジ 8 1 と筒状部 7 2とをスポッ ト溶接によって接合する。 こ れにより、 スポッ ト溶接を行った箇所に、 スポッ ト溶接痕 9 1が形成される
[0136] 以上のような工程によって、 半導体レーザモジュール 1 1が製造される。
[0137] (実施の形態 2)
実施の形態 2に係る半導体レーザモジュールについて説明する。 本実施の 形態に係る半導体レーザモジュールは、 主に、 複数の半導体レーザチップ 4 0を備える点において、 実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュール 1 0及 び 1 1 と相違する。 以下、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュールにつ いて、 実施の形態 1 に係る半導体レーザモジュール 1 0及び 1 1 との相違点 を中心に説明する。
[0138] [ 2 - 1 . 全体構成]
まず、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュール 1 1 〇の全体構成につ いて、 図 1 8〜図 2 0を用いて説明する。 図 1 8、 図 1 9及び図 2 0は、 そ れぞれ本実施の形態に係る半導体レーザモジュール 1 1 〇の全体構成を示す 模式的な平面図、 第 1の断面図及び第 2の断面図である。 図 1 9においては 、 図 1 8に示される X 丨 X— X 丨 X線における断面が示されている。 図 2 0 においては、 図 1 8に示される X X— X X線における断面が示されている。
[0139] 図 1 8〜図 2 0に示されるように、 半導体レーザモジュール 1 1 〇は、 パ ッケージ 1 2 0を備える。 半導体レーザモジュール 1 1 〇は、 図 2 0に示さ れるように、 三つの半導体レーザチップ 4 0と、 一つの第 1 コリメータ素子 1 5 0とをさらに備える。 本実施の形態では、 半導体レーザモジュール 1 1 0は、 三つの第 2コリメータ素子 1 3 1 と、 三つのサブマウント 4 2と、 一 つのヒ _トシンク 1 4 4とをさらに備える。
[0140] パッケージ 1 2 0は、 三つの半導体レーザチップ 4 0と、 一つの第 1 コリ メータ素子 1 5 0とが内部に配置される筐体である。 パッケージ 1 2 0は、 本体 1 2 1 と、 天面部 1 2 5に取り付けられたキャップ部材 1 2 6と、 窓部 材 1 2 7とを有する。
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[0141 ] 本実施の形態に係る本体 1 2 1は、 図 1 9及び図 2 0に示されるように、 平板状の底部 1 2 2と開口 1 2 1 3が形成された天面部 1 2 5とを有する有 底筒状の部材である。 開口 1 2 1 3は、 本体 1 2 1 における底部 1 2 2が配 置される端部の反対側の端部に形成された第 1開口の一例である。 本体 1 2 1は、 底部 1 2 2と、 側部 1 2 3とを有する。 底部 1 2 2は、 実施の形態 1 に係る底部 2 2と同様の構成を有する。 側部 1 2 3は、 実施の形態 1 に係る 側部 2 3と、 リードピン 2 4の本数において相違し、 その他の点において一 致する。 本実施の形態では、 図 1 8に示されるように、 側部 1 2 3は、 6本 のリードピンを有する。 天面部 1 2 5は、 図 1 9及び図 2 0に示されるよう に、 底部 1 2 2の平面視においてキャップ部材 1 2 6と天面部 1 2 5とが重 なる接合領域 1 2 0〇に、 底部 1 2 2の主面に垂直な方向の位置に応じて断 面積が変化する第 1突起部 6 1 と、 底部 1 2 2の主面に垂直な方向の位置に 応じて断面積が変化しない第 2突起部 6 3とを有する。
[0142] キャップ部材 1 2 6は、 本体 1 2 1の天面部 1 2 5に取り付けられる部材 である。 キャップ部材 1 2 6は、 本体 1 2 1側に配置される内側面と、 内側 面の裏側に配置される外側面とを有する。 図 1 8に示されるように、 キャッ プ部材 1 2 6は、 底部 1 2 2の平面視において、 開口 1 2 1 3の周囲の全周 にわたって天面部 1 2 5と重なる。 キャップ部材 1 2 6には、 底部 1 2 2の 平面視において、 本体 1 2 1の開口 1 2 1 3と重なる位置に開口 1 2 6 3が 形成されている。 開口 1 2 6 3は、 キャップ部材 1 2 6の平面視における中 央付近において、 キャップ部材 1 2 6を貫通する第 2開口の一例である。 キ ャップ部材 1 2 6は、 図 1 9及び図 2 0に示されるように、 底部 1 2 2の平 面視においてキャップ部材 1 2 6と天面部 1 2 5とが重なる接合領域 1 2 0 〇に、 底部 1 2 2の主面に垂直な方向の位置に応じて断面積が変化する第 1 突起部 6 2を有する。
[0143] 窓部材 1 2 7は、 キャップ部材 1 2 6に配置され、 透光性を有する部材で ある。 本実施の形態では、 窓部材 1 2 7は、 キャップ部材 1 2 6の開口 1 2 6 3を塞ぐ。 本実施の形態では、 三つの第 2コリメータ素子 1 3 1 と、 窓部
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材 1 2 7とが一体成形されている。 図 1 9及び図 2 0に示されるように、 窓 部材 1 2 7のうち、 レーザ光の光軸を含む部分が第 2コリメータ素子 1 3 1 である。
[0144] また、 窓部材 1 2 7は、 第 2コリメータ素子 1 3 1の周囲に配置される平 板部 1 2 8を有する。 平板部 1 2 8は、 キャップ部材 1 2 6と接合される。 窓部材 1 2 7と、 キャップ部材 1 2 6との間は、 接合部材 2 9によって気密 に接合される。
[0145] 三つの半導体レーザチップ 4 0の各々は、 実施の形態 1 に係る半導体レー ザチップ 4 0と同様の構成を有する。 また、 三つのサブマウント 4 2の各々 は、 実施の形態 1 に係るサブマウント 4 2と同様の構成を有する。 三つの半 導体レーザチップ 4 0は、 それぞれ三つのサブマウント 4 2に実装される。
[0146] ヒートシンク 1 4 4は、 寸法以外は、 実施の形態 1 に係るヒートシンク 4 4と同様の構成を有する。 ヒートシンク 1 4 4には、 三つのサブマウント 4 2が接合される。 三つのサブマウント 4 2は、 ヒートシンク 1 4 4の上面に おいて、 レーザ光の出射方向に垂直な方向 (つまり、 図 1 8〜図 2 0の X軸 方向) に配列される。 より詳細には、 三つの半導体レーザチップ 4 0の各出 射点 4 0 3のレーザ光の出射方向 (つまり、 図 1 8〜図 2 0のソ軸方向) に おける位置が同一となるように三つの半導体レーザチップ 4 0及び三つのサ ブマウント 4 2が配置される。
[0147] 第 1 コリメータ素子 1 5 0は単一のシリンドリカルミラーで、 パッケージ
1 2 0内において三つの半導体レーザチップ 4〇のすベての出射点 4 0 3に 対向して配置される凹型のミラー面 1 5 0 「を有する。 本実施の形態では、 ミラー面 1 5 0 「は、 三つの半導体レーザチップ 4 0からのレーザ光を開口 1 2 1 3に向けて反射し、 かつ、 各レーザ光の第 1の軸方向における発散角 を低減する。 ミラー面 1 5 0 「によって反射された三つのレーザ光は、 それ ぞれ三つの第 2コリメータ素子 1 3 1 に入射される。 これを可能とするため に、 底部 1 2 2の平面視において、 ミラー面 1 5 0 「と、 開口 1 2 1 3及び 開口 1 2 6 3とが重なるように、 第 1 コリメータ素子 1 5 0が配置される。
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また、 第 1 コリメータ素子 1 5 0は、 ミラー面 1 5 0 「が三つのサブマウン 卜 4 2の各前面 4 2チに対向するように配置される。
[0148] ミラー面 1 5 0 「は、 三つの半導体レーザチップ 4 0の出射点 4 0 3を焦 点とする放物面状の形状を有する。 なお、 ミラー面 1 5 0 「は、 X軸方向に 曲率を持っていない X軸方向と平行な放物柱面である。 三つの半導体レーザ チップ 4 0の出射点 4 0 3の各々からミラー面 1 5 0 「までの距離は、 互い に等しい。 三つの半導体レーザチップ 4 0の各々からは、 ソ軸方向にレーザ 光が出射する。 また、 三つの半導体レーザチップ 4 0から出射されるレーザ 光のファスト軸は å軸方向であり、 スロー軸は父軸方向である。 これにより 、 三つの出射点 4 0 3から出射した各レーザ光の第 1の軸方向における発散 角を低減できる。 つまり、 ミラー面 1 5 0 「は三つのレーザ光の第 1の軸方 向における発散角を低減する。 これにより、 三つのレーザ光をそれぞれ反射 する三つの第 1 コリメータ素子を用いる場合より、 半導体レーザモジュール 1 1 〇の部品点数を削減できる。
[0149] 三つの第 2コリメータ素子 1 3 1の各々は、 第 1 コリメータ素子 1 5 0で 反射されたレーザ光の第 2の軸方向における発散角を低減する素子である。 本実施の形態では、 三つの第 2コリメータ素子 1 3 1の各々は、 図 2 0に示 されるように、 凸面部を備える。 より詳しくは、 三つの第 2コリメータ素子 1 3 1の各々は、 底部 1 2 2から遠ざかる向きに凸型の形状を有するシリン ドリカルレンズである。 言い換えると、 三つの第 2コリメータ素子 1 3 1の 各々は、 出射面にシリンドリカル面が形成されたシリンドリカルレンズであ る。 三つの第 2コリメータ素子 1 3 1の各々は、 図 2 0に示されるように、 第 2の軸である父軸方向におけるレーザ光の発散角を低減する。 また、 上述 したとおり、 第 2コリメータ素子 1 3 1は、 窓部材 1 2 7と一体成形されて いる。 また、 第 2コリメータ素子 1 3 1は、 キャップ部材 1 2 6の外側面に 配置される。 これにより、 第 2コリメータ素子 1 3 1がキャップ部材 1 2 6 の内側面に配置される場合より、 パッケージ 1 2 0の寸法を低減できる。 ま た、 第 2コリメータ素子 1 3 1のコリメート面をレーザ光の出射面に配置す
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ることで、 ビーム収差を抑制することができる。 三つの第 2コリメータ素子 1 3 1は、 それぞれ第 1 コリメータ素子 1 5 0によって反射された三つのレ —ザ光の光路上に配置される。
[0150] 以上のように、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュール 1 1 0は、 複 数の半導体レーザチップ 4 0と、 複数の半導体レーザチップ 4 0のすベての 出射点 4 0 3に対向して配置される一つの第 1 コリメータ素子 1 5 0と備え る。 これにより、 第 1 コリメータ素子 1 5 0の個数を削減できる。 また、 す ベてのレーザ光が同一の第 1 コリメータ素子 1 5 0でコリメート及び反射さ れるため、 複数のレーザ光間の位置ずれを抑制できる。 また、 第 2コリメー 夕素子 1 3 1でのレーザ光のソ軸方向位置やスポッ トサイズを揃えるために 、 ヒートシンク 1 4 4上にサブマウント 4 2を実装する際には、 出射点 4 0 3が父軸方向に一直線上に配置されてもよい。 なお、 本実施の形態では、 半 導体レーザチップ 4 0の個数を 3としたが、 これに限定されない。 半導体レ —ザチップ 4 0の個数は複数であればよい。
[0151 ] また、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュール 1 1 0においても、 実 施の形態 1 に係る半導体レーザモジュール 1 0と同様に、 光ファイバなどの 他の光学素子などが組み合わせられてもよい。 このような半導体レーザモジ ュールの構成例について図 2 1及び図 2 2を用いて説明する。 図 2 1及び図 2 2は、 それぞれ本実施の形態に係る半導体レーザモジュール 1 1 1の全体 構成を示す模式的な第 1の断面図及び第 2の断面図である。 図 2 1及び図 2 2には、 それぞれ図 1 9及び図 2 0に示される断面図と同様の位置における 半導体レーザモジュール 1 1 1の断面図が示されている。
[0152] 図 2 1及び図 2 2に示されるように、 半導体レーザモジュール 1 1 1は、 上述した半導体レーザモジュール 1 1 〇と、 三つの先端レンズ付き光ファイ バ 8 0とを備える。 また、 本実施の形態では、 半導体レーザモジュール 1 1 1は、 ファイバホルダ 1 7 0をさらに備える。
[0153] 先端レンズ付き光ファイバ 8 0は、 実施の形態 1 に係る先端レンズ付き光 ファイバ 8 0と同様の構成を有する。
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[0154] ファイバホルダ 1 7 0は、 三つの先端レンズ付き光ファイバ 8 0を保持す る部材である。 ファイバホルダ 1 7 0は、 固定部 1 7 1 と、 筒状部 7 2とを 有する。 固定部 1 7 1は、 パッケージ 1 2 0に固定される部分であり、 キャ ップ部材 1 2 6を覆う。 固定部 1 7 1 における、 三つの第 2コリメータ素子 1 3 1の各々に対向する位置には、 開口が形成されている。 つまり、 固定部 1 7 1 には、 三つの開口が設けられている。 当該各開口の周囲に筒状部 7 2 が配置される。 筒状部 7 2は、 実施の形態 1 に係る筒状部 7 2と同様の構成 を有する。 これにより、 三つの第 2コリメータ素子 1 3 1から出射されたレ —ザ光を、 それぞれ、 固定部 1 7 1 に形成された三つの開口を介して三つの 光ファイバ 8 2に入射することができる。
[0155] ファイバホルダ 1 7 0と本体 1 2 1の側部 1 2 3とは、 例えばスポッ ト溶 接などを用いて接合される。 図 2 1及び図 2 2には、 スポッ ト溶接によって 形成されるスポッ ト溶接痕 9 1が示されている。 また、 先端レンズ付き光フ ァイバ 8 0も、 スポッ ト溶接によって、 ファイバホルダ 1 7 0と接合されて もよい。 ファイバホルダ 1 7 0と本体 1 2 1 との位置決め及び固定、 先端レ ンズ付き光ファイバ 8 0とファイバホルダ 1 7 0との位置決め及び固定は、 実施の形態 1 と同様の方法で行ってもよい。
[0156] [ 2 - 2 . 作用効果]
次に、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュール 1 1 0の第 2コリメー 夕素子 1 3 1の作用効果について説明する。
[0157] 本実施の形態に係る第 2コリメータ素子 1 3 1は、 上述したように出射面 にシリンドリカル面が形成されている。 このような第 2コリメータ素子 1 3 1の作用効果について図 2 3を用いて説明する。 図 2 3は、 本実施の形態に 係る第 2コリメータ素子 1 3 1 と、 レーザ光との関係を示す模式図である。 図 2 3の模式図 (3) は、 本実施の形態に係る第 2コリメータ素子 1 3 1 と レーザ光の第 2の軸におけるスポッ ト形状との関係を示す図である。 図 2 3 の模式図 (匕) は、 実施の形態 1 に係る第 2コリメータ素子 3 1 とレーザ光 の第 2の軸におけるスポッ ト形状との関係を示す図である。 図 2 3の模式図
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(a) 及び (匕) には、 半導体レーザチップ 4 0も併せて示されている。
[0158] 図 2 3の模式図 (3) 及び (匕) のいずれの場合も、 出射点 4 0 3から出 射されたレーザ光が第 2の軸方向において発散角 0 で発散し、 各第 2のコ リメータ素子でコリメートされる。 これにより、 第 2の軸におけるスポッ ト 径が巳 0 3であるレーザ光が得られる。
[0159] 図 2 3の模式図 (匕) に示される第 2コリメータ素子 3 1は、 レーザ光の 入射面にシリンドリカル面が形成されたシリンドリカルレンズである。 この ような第 2コリメータ素子 3 1では、 本実施の形態に係る第 2コリメータ素 子 1 3 1 より収差が大きくなるため、 レーザ光のビーム品質が低下する。 こ れに伴い、 第 2コリメータ素子 3 1から出射したレーザ光のスポッ トの輪郭 がぼやける。 このため、 例えば、 レーザ光を光ファイバに入射する場合、 レ —ザ光のスポッ トの周縁部が光ファイバ内に入射されず、 損失が増大するお それがある。
[0160] 一方、 本実施の形態に係る第 2コリメータ素子 1 3 1は、 レーザ光の出射 面にシリンドリカル面が形成されたシリンドリカルレンズであるため、 実施 の形態 1 に係る第 2コリメータ素子 3 1 より収差が小さい。 したがって、 第 2コリメータ素子 1 3 1から出射したレーザ光の品質は、 実施の形態 1 に係 る第 2コリメータ素子 3 1から出射したレーザ光より良い。 これに伴い、 第 2コリメータ素子 1 3 1から出射したレーザ光のスポッ トの輪郭が明瞭とな る。 このため、 例えば、 レーザ光を光ファイバに入射する場合における損失 を低減できる。
[0161 ] また、 本実施の形態では、 第 2コリメータ素子 1 3 1が配置されるキャッ プ部材 1 2 6は、 本体 1 2 1側に配置される内側面と、 内側面の裏側に配置 される外側面とを有する。 第 2コリメータ素子 1 3 1は、 キャップ部材 1 2 6の外側面に配置される。 これにより、 第 2コリメータ素子 1 3 1がキャッ プ部材 1 2 6の内側面に配置される場合より、 パッケージの寸法を低減でき る。 具体的には、 図 2 3に示されるように、 第 2コリメータ素子 1 3 1は、
4 0 0 以上、 8 0 0 以下程度の厚さ 3を有するため、 キャップ部
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材 1 2 6の内側面に配置される場合には、 厚さ 3だけ、 パッケージ 1 2 0 の高さを高くする必要がある。 なお、 第 2コリメータ素子 1 3 1は、 構成材 料となるガラスの強度、 製法などを考慮すると 4 0〇 以上、 8 0 0 以下程度の厚さが必要となる。
[0162] また、 上述したように第 2コリメータ素子 1 3 1 として、 キャップ部材 1
2 6側の面 (レーザ光の入射面) が平面であり、 当該面の裏側の面 (外側の 面、 言い換えるとレーザ光の出射面) がシリンドリカル面などの凸形状を有 する面であるレンズを用いることで、 第 2コリメータ素子の収差を低減でき る。 したがって、 半導体レーザモジュールからの出射光のビーム品質の劣化 を抑制できる。
[0163] 以上のように、 第 2コリメータ素子 1 3 1が、 キャップ部材 1 2 6の外側 面に配置される場合、 出射点 4 0 3から第 2コリメータ素子 1 3 1 までの光 学距離は、 1 4 5 0 以上、 4 2 0 0 以下であってもよい。 出射点 4 0 3から第 2コリメータ素子 1 3 1 までの光学距離が、 1 4 5 0 以上で あることにより、 出射点 4 0 3から第 1 コリメータ素子 1 5 0までの光学距 離が 7 0〇 程度と比較的大きい場合でも、 第 1 コリメータ素子 1 5 0と 、 第 2コリメータ素子 1 3 1 との干渉を抑制できる。 さらに、 1 4 5 0 〇1 以上の光学距離とすることで、 ビームアスペクト比を 1 : 1 より小さく (第 1の軸のアスペクト比を小さく) できる。 また、 出射点 4 0 3から第 2コリ メータ素子 1 3 1 までの光学距離が 4 2 0 0 以下であることにより、 レ —ザ光の第 2の軸におけるスポッ ト径巳 0 3を 1 〇〇〇 以下程度に抑制 できる。 このため、 図 2 1及び図 2 2に示されるような先端レンズ付き光フ ァイバ 8 0の先端レンズにレーザ光を入射する際に発生する損失を抑制でき る。 また、 半導体レ—ザモジュール】 】 0の大型化を抑制できる。 なお、 こ こで、 出射点 4 0 3から第 2コリメータ素子 1 3 1 までの光学距離とは、 出 射点 4 0 3から、 第 2コリメータ素子 1 3 1のうちコリメート作用がある部 分までの光学距離を意味する。 本実施の形態では、 出射点 4 0 3から第 2コ リメータ素子 1 3 1 までの光学距離とは、 出射点 4 0 3から第 2コリメータ
\¥02020/174982 42 卩(:171?2020/002996
素子 1 3 1の出射面までの光学距離を意味する。
[0164] また、 図 2 3の模式図 (3) に示されるような第 2コリメータ素子 3 1は 、 キャップ部材 1 2 6の内側面に配置されてもよい。 これにより、 第 2コリ メータ素子 3 1がキャップ部材 1 2 6の外側面に配置される場合より、 キャ ップ部材 1 2 6の外側面を平坦化できる。 このため、 キャップ部材の外側面 に追加部品を容易に実装できる。
[0165] また、 第 2コリメータ素子 1 3 1が、 キャップ部材 1 2 6の内側面に配置 される場合、 出射点 4 0 3から第 2コリメータ素子 3 1 までの光学距離は、
9 0 0 〇1以上、 4 2 0 0 〇1以下であってもよい。 出射点 4 0 3から第 2 コリメータ素子 1 3 1 までの光学距離が、 9 0〇 以上であることにより 、 出射点 4 0 3から第 1 コリメータ素子 1 5 0までの光学距離が 7 0〇 程度と比較的大きい場合でも、 第 1 コリメータ素子 1 5 0と、 第 2コリメー 夕素子 1 3 1 との干渉を抑制できる。 また、 出射点 4 0 3から第 2コリメー 夕素子 1 3 1 までの光学距離が 4 2 0〇 以下であることにより、 レーザ 光の第 2の軸におけるスポッ ト径巳 0 3を 1 0 0 0 以下程度に抑制でき る。 このため、 図 2 1及び図 2 2に示されるような先端レンズ付き光ファイ バ 8 0の先端レンズにレーザ光を入射する際に発生する損失を抑制できる。 また、 半導体レ—ザモジュール】 】 0の大型化を抑制できる。
[0166] また、 一般に、 出射点 4 0 3の個数を n (ただし、 n ³ 1) とし、 出射点 4 0 3から、 レーザ光の光軸上におけるミラー面 1 5 0 「までの光学距離を !_ 八〇、 第 2コリメータ素子 1 3 1の凸面部 (シリンドリカル面) におけ るレーザ光の第 2の軸のスポッ ト径を巳 0 3として以下の式が成り立っても よい。
[0168] これにより、 光ファイバの先端において、 1·!個のレーザ光を第 1の軸方向 に配列する際に、 门個のレーザ光の第 1の軸におけるスポッ ト径に対して、 第 2の軸におけるスポッ ト径が小さくなりすぎることを抑制できる。 したが って、 断面が円形の光ファイバなどに门個のレーザ光を導入する際に、 光フ
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ァイ/ の断面全体を有効に利用することができる。
2倍以上であってもよい。 これにより、 隣り合う二つのレーザ光が干渉する ことを抑制できる。
[0170] (実施の形態 3)
実施の形態 3に係る半導体レーザモジュールについて説明する。 本実施の 形態に係る半導体レーザモジュールは、 ビームツイスタをさらに備える点に おいて、 実施の形態 2に係る半導体レーザモジュール 1 1 0と相違する。 以 下、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュールについて、 実施の形態 2に 係る半導体レーザモジュール 1 1 0との相違点を中心に図 2 4〜図 2 6を用 いて説明する。
[0171 ] 図 2 4、 図 2 5及び図 2 6は、 それぞれ本実施の形態に係る半導体レーザ モジュール 2 1 0の全体構成を示す模式的な平面図、 第 1の断面図及び第 2 の断面図である。 図 2 5においては、 図 2 4に示される X X V— X X V線に おける断面が示されている。 図 2 6においては、 図 2 4に示される X X V I — X X V 丨線における断面が示されている。 なお、 図 2 4及び図 2 6には、 レーザ光が入射される光ファイバ 8 2の端面の平面図と、 当該端面に入射さ れるレーザ光のスポッ ト 3 の模式図が破線枠内に併せて示されている。
[0172] 図 2 4〜図 2 6に示されるように、 半導体レーザモジュール 2 1 0は、 パ ッケージ 1 2 0を備える。 半導体レーザモジュール 2 1 0は、 図 2 6に示さ れるように、 三つの半導体レーザチップ 4 0と、 一つの第 1 コリメータ素子 1 5 0とをさらに備える。 本実施の形態では、 半導体レーザモジュール 2 1 0は、 三つの第 2コリメータ素子 1 3 1 と、 三つのサブマウント 4 2と、 一 つのヒートシンク 1 4 4とをさらに備える。 半導体レーザモジュール 2 1 0 の上記各構成要素は、 実施の形態 2に係る各構成要素と同様の構成を有する
[0173] 本実施の形態に係る半導体レーザモジュール 2 1 0は、 図 2 4〜図 2 6に 示されるように、 パッケージ 1 2 0の外側に配置されるビームツイスタ 2 6
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0をさらに備える。
[0174] ビームツイスタ 2 6 0は、 入射されたレーザ光のスポッ トの向きを回転さ せて出射する光学素子である。 本実施の形態では、 ビームツイスタ 2 6 0は 、 三つのレーザ光の第 1の軸 (ファスト軸) をソ軸方向から å軸方向に回転 させ、 第 2の軸 (スロー軸) を X軸方向からソ軸方向に回転させる。 また、 ビームツイスタ 2 6 0は、 さらに、 三つのレーザ光の伝搬方向を å軸方向か ら父軸方向に変換する。 本実施の形態に係るビームツイスタ 2 6 0は、 例え ば、 各レーザ光を反射させる複数のミラーによって実現できる。
[0175] ビームツイスタ 2 6 0は、 図 2 4及び図 2 6に示されるように、 三つのレ —ザ光を第 1の軸方向 (ビームツイスタ 2 6 0から出射された位置において は、 å軸方向) に分離した状態で配列して出射する。 したがって、 三つのレ —ザ光を一つの光ファイバ 8 2に入射することができる。 これにより、 高パ ワーのレーザ光源を実現できる。
[0176] (実施の形態 4)
実施の形態 4に係る半導体レーザモジュールについて説明する。 本実施の 形態に係る半導体レーザモジュールは、 主にビームツイスタの構成及び半導 体レーザチップの配置において実施の形態 3に係る半導体レーザモジュール 2 1 0と相違する。 以下、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュールにつ いて、 実施の形態 3に係る半導体レーザモジュール 2 1 0との相違点を中心 に図 2 7〜図 2 9を用いて説明する。
[0177] 図 2 7、 図 2 8及び図 2 9は、 それぞれ本実施の形態に係る半導体レーザ モジュール 3 1 0の全体構成を示す模式的な平面図、 第 1の断面図及び第 2 の断面図である。 図 2 8においては、 図 2 7に示される X X V 丨 丨 I - X X V I I 丨線における断面が示されている。 図 2 9においては、 図 2 7に示さ れる X X 丨 乂_乂乂 丨 X線における断面が示されている。 なお、 図 2 7及び 図 2 9には、 レーザ光が入射される光ファイバ 8 2の端面の平面図と、 当該 端面に入射されるレーザ光のスポッ ト 3 の模式図が破線枠内に併せて示さ れている。
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[0178] 図 2 7〜図 2 9に示されるように、 半導体レーザモジュール 3 1 0は、 パ ッケージ 3 2 0を備える。 半導体レーザモジュール 3 1 0は、 図 2 9に示さ れるように、 三つの半導体レーザチップ 4 0と、 三つの第 1 コリメータ素子
5 0とをさらに備える。 本実施の形態では、 半導体レーザモジュール 3 1 0 は、 三つの第 2コリメータ素子 3 3 1 と、 三つのサブマウント 4 2と、 一つ のヒートシンク 1 4 4とをさらに備える。 また、 半導体レーザモジュール 3 1 0は、 ビームツイスタ 3 6 0をさらに備える。
[0179] パッケージ 3 2 0は、 三つの半導体レーザチップ 4 0と、 三つの第 1 コリ メータ素子 5 0とが内部に配置される筐体である。 パッケージ 3 2 0は、 本 体 1 2 1 と、 天面部 1 2 5に取り付けられたキャップ部材 3 2 6と、 窓部材 3 2 7とを有する。
[0180] 本実施の形態に係る本体 1 2 1は、 実施の形態 2及び 3に係る本体 1 2 1 と同様の構成を有する。
[0181 ] キャップ部材 3 2 6は、 本体 1 2 1の天面部 1 2 5に取り付けられる部材 である。 キャップ部材 3 2 6は、 本体 1 2 1側に配置される内側面と、 内側 面の裏側に配置される外側面とを有する。 キャップ部材 3 2 6には、 底部 1 2 2の平面視において、 本体 1 2 1の開口 1 2 1 3と重なる位置に開口 3 2
6 3が形成されている (図 2 8及び図 2 9参照) 。 開口 3 2 6 3は、 キャッ プ部材 3 2 6の平面視における中央付近において、 キャップ部材 3 2 6を貫 通する第 2開口の一例である。 キャップ部材 3 2 6は、 実施の形態 2及び 3 に係るキャップ部材 1 2 6と同様に第 1突起部 6 2を有する。
[0182] 窓部材 3 2 7は、 キャップ部材 3 2 6に配置され、 透光性を有する部材で ある。 本実施の形態では、 窓部材 3 2 7は、 キャップ部材 3 2 6の開口 3 2 6 3を塞ぐ。 本実施の形態では、 三つの第 2コリメータ素子 3 3 1 と、 窓部 材 3 2 7とが一体成形されている。 図 2 8及び図 2 9に示されるように、 窓 部材 3 2 7のうち、 レーザ光の光軸を含む部分が第 2コリメータ素子 3 3 1 である。
[0183] また、 窓部材 3 2 7は、 第 2コリメータ素子 3 3 1の周囲に配置される平
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板部 3 2 8を有する。 平板部 3 2 8は、 キャップ部材 3 2 6と接合される。 窓部材 3 2 7と、 キャップ部材 3 2 6との間は、 接合部材 2 9によって気密 に接合される。
[0184] 三つの半導体レーザチップ 4 0の各々は、 実施の形態 1 に係る半導体レー ザチップ 4 0と同様の構成を有する。 また、 三つのサブマウント 4 2の各々 は、 実施の形態 1 に係るサブマウント 4 2と同様の構成を有する。 三つの半 導体レーザチップ 4 0は、 それぞれ三つのサブマウント 4 2に実装される。
[0185] ヒートシンク 1 4 4は、 実施の形態 2及び 3に係るヒートシンク 1 4 4と 同様の構成を有する。 ヒートシンク 1 4 4には、 三つのサブマウント 4 2が 接合される。 三つのサブマウント 4 2は、 図 2 7及び図 2 9に示されるよう に、 ヒートシンク 1 4 4の上面において、 レーザ光の出射方向に垂直な方向 (つまり、 図 2 7〜図 2 9の X軸方向) に離隔して配置される。 本実施の形 態では、 三つの半導体レーザチップ 4 0の各出射点 4 0 3のレーザ光の出射 方向 (つまり、 図 2 7〜図 2 9のソ軸方向) における位置が互いに異なるよ うに三つの半導体レーザチップ 4 0及び三つのサブマウント 4 2が配置され る。
[0186] 三つの第 1 コリメータ素子 5 0は、 実施の形態 1 に係る第 1 コリメータ素 子 5 0と同様の構成を有する。 三つの第 1 コリメータ素子 5 0は、 図 2 7及 び図 2 9に示されるように、 ヒートシンク 1 4 4の上面において、 レーザ光 の出射方向に垂直な方向に離隔して配置される。 本実施の形態では、 三つの 第 1 コリメータ素子 5 0のレーザ光の出射方向 (つまり、 図 2 7〜図 2 9の V軸方向) における位置が互いに異なるように三つの第 1 コリメータ素子 5 0が配置される。 三つの半導体レーザチップ 4〇の出射点 4 0 3の各々から 、 三つの第 1 コリメータ素子 5 0の各々ミラー面 5 0 「までの距離は、 互い に等しい。 三つの半導体レーザチップ 4 0の各々からは、 ソ軸方向にレーザ 光が出射する。 また、 三つの半導体レーザチップ 4 0から出射されるレーザ 光のファスト軸は å軸方向であり、 スロー軸は父軸方向である。
[0187] ビームツイスタ 3 6 0は、 入射されたレーザ光のスポッ トの向きを回転さ
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せて出射する光学素子である。 本実施の形態では、 ビームツイスタ 3 6 0は 、 三つのレーザ光の第 1の軸 (ファスト軸) を回転させず、 第 2の軸 (スロ —軸) を X軸方向から å軸方向に回転させる。 また、 ビームツイスタ 3 6 0 は、 さらに、 三つのレーザ光の伝搬方向を å軸方向から X軸方向に変換する 。 本実施の形態に係るビームツイスタ 2 6 0は、 例えば、 各レーザ光を反射 させる複数のミラーによって実現できる。 本実施の形態に係るビームツイス 夕 3 6 0には、 三つのレーザ光の入射位置のソ軸方向の位置が互いに異なる 。 これにより、 図 2 7に示されるように、 三つのレーザ光の伝搬方向を å軸 方向から X軸方向に変換することで、 三つのレーザ光をソ軸方向に配列する ことができる。 本実施の形態に係るビームツイスタ 3 6 0は、 例えば、 各レ —ザ光を反射させる複数のミラーによって実現できる。
[0188] ビームツイスタ 3 6 0は、 図 2 7に示されるように、 三つのレーザ光を第
1の軸方向に配列して出射する。 したがって、 三つのレーザ光を一つの光フ ァイバ 8 2に入射することができる。 これにより、 高パワーのレーザ光源を 実現できる。
[0189] (実施の形態 5)
実施の形態 5に係る半導体レーザモジュールについて説明する。 本実施の 形態に係る半導体レーザモジュールは、 主に単一の半導体レーザチップが複 数の出射点を有する点において、 実施の形態 2に係る半導体レーザモジュー ル 1 1 0と相違する。 以下、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュールに ついて、 実施の形態 2に係る半導体レーザモジュール 1 1 0との相違点を中 心に図 3 0及び図 3 1 を用いて説明する。
[0190] 図 3 0及び図 3 1は、 それぞれ本実施の形態に係る半導体レーザモジュー ル 4 1 0の全体構成を示す模式的な第 1の断面図及び第 2の断面図である。 図 3 0においては、 一つのレーザ光の光軸に沿った断面が示されている。 図 3 1 においては、 半導体レーザチップ 4 4 0を通り、 レーザ光の出射方向 ( V軸方向) に垂直な断面が示されている。
[0191 ] 図 3 0及び図 3 1 に示されるように、 半導体レーザモジュール 4 1 0は、
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パッケージ 4 2 0を備える。 半導体レーザモジュール 4 1 0は、 一つの半導 体レーザチップ 4 4 0と、 一つの第 1 コリメータ素子 4 5 0とをさらに備え る。 本実施の形態では、 半導体レーザモジュール 4 1 0は、 六つの第 2コリ メータ素子 4 3 1 と、 一つのサブマウント 4 4 2と、 一つのヒートシンク 4 4 4とをさらに備える。
[0192] パッケージ 4 2 0は、 一つの半導体レーザチップ 4 4 0と、 一つの第 1 コ リメータ素子 4 5 0とが内部に配置される筐体である。 パッケージ 4 2 0は 、 本体 1 2 1 と、 天面部 1 2 5に取り付けられたキャップ部材 4 2 6と、 窓 部材 4 2 7とを有する。
[0193] 本実施の形態に係る本体 1 2 1は、 実施の形態 2〜 4に係る本体 1 2 1 と 同様の構成を有する。
[0194] キャップ部材 4 2 6は、 本体 1 2 1の天面部 1 2 5に取り付けられる部材 である。 キャップ部材 4 2 6は、 本体 1 2 1側に配置される内側面と、 内側 面の裏側に配置される外側面とを有する。 キャップ部材 4 2 6は、 底部 1 2 2の平面視において、 開口 1 2 1 8の周囲の全周にわたって天面部 1 2 5と 重なる。 キャップ部材 4 2 6には、 底部 1 2 2の平面視において、 本体 1 2 1の開口 1 2 1 3と重なる位置に開口 4 2 6 3が形成されている。 開口 4 2 6 3は、 キャップ部材 4 2 6の平面視における中央付近において、 キャップ 部材 4 2 6を貫通する第 2開口の一例である。 キャップ部材 4 2 6は、 実施 の形態 2及び 3に係るキャップ部材 1 2 6と同様に第 1突起部 6 2を有する
[0195] 窓部材 4 2 7は、 キャップ部材 4 2 6に配置され、 透光性を有する部材で ある。 本実施の形態では、 窓部材 4 2 7は、 キャップ部材 4 2 6の開口 4 2 6 3を塞ぐ。 本実施の形態では、 六つの第 2コリメータ素子 4 3 1 と、 窓部 材 4 2 7とが一体成形されている。 図 3 0及び図 3 1 に示されるように、 窓 部材 4 2 7のうち、 レーザ光の光軸を含む部分が第 2コリメータ素子 4 3 1 である。
[0196] また、 窓部材 4 2 7は、 第 2コリメータ素子 4 3 1の周囲に配置される平
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板部 4 2 8を有する。 平板部 4 2 8は、 キャップ部材 4 2 6と接合される。 窓部材 4 2 7と、 キャップ部材 4 2 6との間は、 接合部材 2 9によって気密 に接合される。
[0197] 半導体レーザチップ 4 4 0は、 複数の出射点を有する点において、 実施の 形態 1 に係る半導体レーザチップ 4 0と相違する。 本実施の形態では、 図 3 1 に示されるように、 半導体レーザチップ 4 4 0は、 六つの出射点を有する 。 したがって、 半導体レーザチップ 4 4 0は、 X軸方向に配列された六つの レーザ光を出射する。 半導体レーザチップ 4 4 0から出射される各々のレー ザ光のファスト軸は å軸方向であり、 スロー軸は父軸方向である。 これによ り、 各々が一つの出射点を有する複数の半導体レーザチップを用いる場合よ り、 半導体レーザチップの位置調整などの手間を削減でき、 かつ、 複数のレ —ザ光間の位置ずれを抑制できる。 なお、 半導体レーザチップ 4 4 0が有す る出射点の個数は複数であれば、 特に限定されない。
[0198] サブマウント 4 4 2は、 底部 1 2 2に接合される基台である。 サブマウン 卜 4 4 2には、 半導体レーザチップ 4 4 0が実装される点以外は、 実施の形 態 1 に係るサブマウント 4 2と同様の構成を有する。
[0199] ヒートシンク 4 4 4は、 実施の形態 2に係るヒートシンク 1 4 4と同様の 構成を有する。
[0200] 第 1 コリメータ素子 4 5 0は、 パッケージ 4 2 0内において半導体レーザ チップ 4 4 0のすベての出射点に対向して配置される凹型のミラー面 4 5 0 「を有する。 本実施の形態では、 ミラー面 4 5 0 「は、 六つの出射点からの レーザ光を開口 1 2 1 3に向けて反射し、 かつ、 各レーザ光の第 1の軸方向 における発散角を低減する。 ミラー面 4 5 0 「によって反射された六つのレ —ザ光は、 それぞれ六つの第 2コリメータ素子 4 3 1 に入射される。 これを 可能とするために、 底部 1 2 2の平面視において、 ミラー面 4 5 0 「と、 開 口 1 2 1 3及び開口 4 2 6 3とが重なるように、 第 1 コリメータ素子 4 5 0 が配置される。
[0201 ] ミラー面 4 5 0 「は、 半導体レーザチップ 4 4 0の六つの出射点を焦点と
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する放物面状の形状を有する。 これにより、 六つの出射点から出射した各レ —ザ光の第 1の軸方向における発散角を低減できる。 つまり、 ミラー面 4 5 0 「は六つのレーザ光を第 1の軸方向における発散角を低減する。 これによ り、 六つのレーザ光をそれぞれ反射する六つの第 1 コリメータ素子を用いる 場合より、 半導体レーザモジュール 4 1 0の部品点数を削減できる。 また、 第 1 コリメータ素子 4 5 0の位置調整などの手間を削減できる。
[0202] 六つの第 2コリメータ素子 4 3 1の各々は、 第 1 コリメータ素子 4 5 0で 反射されたレーザ光の第 2の軸方向における発散角を低減する素子である。 本実施の形態では、 六つの第 2コリメータ素子 4 3 1の各々は、 底部 1 2 2 から遠ざかる向きに凸型の形状を有するシリンドリカルレンズである。 言い 換えると、 六つの第 2コリメータ素子 4 3 1の各々は、 出射面にシリンドリ カル面が形成されたシリンドリカルレンズである。 六つの第 2コリメータ素 子 4 3 1の各々は、 図 3 1 に示されるように、 第 2の軸である X軸方向にお けるレーザ光の発散角を低減する。 六つの第 2コリメータ素子 4 3 1は、 そ れぞれ第 1 コリメータ素子 4 5 0によって反射された六つのレーザ光の光路 上に配置される。
[0203] 以上のように、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュール 4 1 0は、 半 導体レーザチップ 4 4 0は、 各々がレーザ光を出射する複数の出射点を有す る。 これにより、 各々が一つの出射点を有する複数の半導体レーザチップを 用いる場合より、 半導体レーザチップの位置調整などの手間を削減でき、 か つ、 複数のレーザ光間の位置ずれを抑制できる。
[0204] (実施の形態 6)
実施の形態 6に係る半導体レーザモジュールについて説明する。 本実施の 形態に係る半導体レーザモジュールは、 主に、 複数の半導体レーザチップが マトリクス状に配置されている点において、 実施の形態 2に係る半導体レー ザモジュール 1 1 0と相違する。 以下、 本実施の形態に係る半導体レーザモ ジュールについて、 実施の形態 2に係る半導体レーザモジュール 1 1 0との 相違点を中心に図 3 2〜図 3 6を用いて説明する。
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[0205] 図 3 2及び図 3 3は、 それぞれ本実施の形態に係る半導体レーザモジュー ル 5 1 0のキャップ部材 5 2 6及び窓部材 5 2 7を除く構成を示す模式的な 平面図及び断面図である。 図 3 3においては、 図 3 2に示される X X X 丨 丨 I - X X X I I 丨線における断面が示されている。 図 3 4及び図 3 5は、 そ れぞれ本実施の形態に係る半導体レーザモジュール 5 1 0の全体構成を示す 模式的な平面図及び断面図である。 図 3 5においては、 図 3 4に示される X X X V— X X X V線における断面が示されている。 図 3 6は、 本実施の形態 に係る窓部材 5 2 7の形状を示す模式的な断面図である。 図 3 6には、 窓部 材 5 2 7の 2 X平面に平行な断面が示されている。
[0206] 図 3 4及び図 3 5に示されるように、 半導体レーザモジュール 5 1 0は、 パッケージ 5 2 0を備える。 図 3 2及び図 3 3に示されるように、 半導体レ —ザモジュール 5 1 0は、 マトリクス状に配列された複数の半導体レーザチ ップ 4 0と、 四つの第 1 コリメータ素子 5 5 0とをさらに備える。 本実施の 形態では、 半導体レーザモジュール 5 1 0は、 五つの第 2コリメータ素子 5 3 1 と、 マトリクス状に配列された複数のサブマウント 4 2と、 四つのヒー トシンク 5 4 4とをさらに備える。 ここで、 図 2と同様に、 図 3 3に示され るように、 半導体レーザチップ 4 0は、 半導体レーザチップ 4 0の出射面が ミラー面 5 5 0 「の焦点位置に合うように、 かつ、 サブマウント 4 2から第 1 コリメータ素子 5 5 0に向かって突出するように、 サブマウント 4 2上に 配置されている。 なお、 半導体レーザチップ 4 0は、 半導体レーザチップ 4 0の出射面が、 サブマウント 4 2の第 1 コリメータ素子 5 5 0に対向する側 面と一致するように、 サブマウント 4 2上に配置されていても構わない。
[0207] パッケージ 5 2 0は、 図 3 5に示されるように、 複数の半導体レーザチッ プ 4 0と、 四つの第 1 コリメータ素子 5 5 0とが内部に配置される筐体であ る。 パッケージ 5 2 0は、 図 3 4及び図 3 5に示されるように、 本体 5 2 1 と、 天面部 5 2 5に取り付けられたキャップ部材 5 2 6と、 窓部材 5 2 7と を有する。
[0208] 本実施の形態に係る本体 5 2 1は、 平板状の底部 5 2 2と開口 5 2 1 3が
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形成された天面部 5 2 5とを有する有底筒状の部材である。 開口 5 2 1 3は 、 本体 5 2 1 における底部 5 2 2が配置される端部の反対側の端部に形成さ れた第 1開口の一例である。 本実施の形態では、 本体 5 2 1は、 底部 5 2 2 と、 側部 5 2 3とを有する。
[0209] 底部 5 2 2は、 本体 5 2 1の底に位置する平板状部材である。 本実施の形 態では、 底部 5 2 2は、 矩形の平板状部材であり、 底部 5 2 2における、 パ ッケージ 5 2 0の内側に位置する主面に、 複数の半導体レーザチップ 4 0な どが配置される。
[0210] 側部 5 2 3は、 底部 5 2 2におけるパッケージ 5 2 0の内側の主面に立設 される筒状部材である。 側部 5 2 3の一方の開口端部に底部 5 2 2が配置さ れる。 また、 他方の開口端部である天面部 5 2 5にキャップ部材 5 2 6が配 置される。 言い換えると、 天面部 5 2 5は、 側部 5 2 3の端面のうち、 キャ ップ部材 5 2 6と対向する面である。 本実施の形態では、 側部 5 2 3は、 底 部 5 2 2の外縁に沿って配置され、 両端部に開口が形成された筒状の部材で ある。 側部 5 2 3には矩形の開口が形成されている。 側部 5 2 3の天面部 5 2 5に形成された開口が上述した第 1開口 (開口 5 2 1 3) である。
[021 1 ] 側部 5 2 3は、 半導体レーザチップ 4 0と電気的に接続される複数のリー ドピン 2 4を有する。 図 3 2に示される例では、 側部 5 2 3は、 八つのリー ドピン 2 4を有する。 本実施の形態では、 側部 5 2 3のうち X軸方向の一方 の端部に四つ、 他方の端部に四つのリードピン 2 4が配置されている。
[0212] 天面部 5 2 5は、 実施の形態 2に係る天面部 1 2 5と同様に、 第 1突起部
6 1 と、 第 2突起部 6 3とを有する。
[0213] キャップ部材 5 2 6は、 本体 5 2 1の天面部 5 2 5に取り付けられる部材 である。 キャップ部材 5 2 6は、 本体 5 2 1側に配置される内側面と、 内側 面の裏側に配置される外側面とを有する。 図 3 5に示されるように、 キャッ プ部材 5 2 6は、 底部 5 2 2の平面視において、 開口 5 2 1 3の周囲の全周 にわたって天面部 5 2 5と重なる。 キャップ部材 5 2 6には、 底部 5 2 2の 平面視において、 本体 5 2 1の開口 5 2 1 3と重なる位置に開口 5 2 6 3が
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形成されている。 開口 5 2 6 は、 キャップ部材 5 2 6の平面視における中 央付近において、 キャップ部材 5 2 6を貫通する第 2開口の一例である。 キ ャップ部材 5 2 6を形成する材料は、 特に限定されないが、 例えば、 6又 は 6系の合金などであってもよい。 キャップ部材 5 2 6は、 実施の形態 2 に係るキャップ部材 1 2 6と同様に第 1突起部 6 2を有する。
[0214] 窓部材 5 2 7は、 キャップ部材 5 2 6に配置され、 透光性を有する部材で ある。 本実施の形態では、 窓部材 5 2 7は、 キャップ部材 5 2 6の開口 5 2 6 3を塞ぐ。 本実施の形態では、 図 3 4〜図 3 6に示されるように、 第 2コ リメータ素子 5 3 1 と、 窓部材 5 2 7とが一体成形されている。 窓部材 5 2 7のうち、 レーザ光の光軸を含む部分が第 2コリメータ素子 5 3 1である。 半導体レーザモジュール 5 1 0は、 各々がソ軸方向に配列された四つの半導 体レーザチップ 4 0に対向し、 かつ、 ソ軸方向に延びる五つの第 2コリメー 夕素子 5 3 1 を備える。 このように、 第 2コリメータ素子 5 3 1 と、 窓部材 5 2 7とを一体化することで、 半導体レーザモジュール 5 1 0の部品点数を 削減できるため、 組立工程を簡素化できる。
[0215] また、 窓部材 5 2 7は、 第 2コリメータ素子 5 3 1の周囲に配置される平 板部 5 2 8を有する。 平板部 5 2 8は、 キャップ部材 5 2 6と接合される。
[0216] 複数の半導体レーザチップ 4 0の各々は、 実施の形態 1 に係る半導体レー ザチップ 4 0と同様の構成を有する。 本実施の形態に係る半導体レーザモジ ュール 5 1 0は、 図 3 2に示されるように、 マトリクス状に配列された 2 0 個の半導体レーザチップ 4 0を備える。 本実施の形態では、 X軸方向に配列 された五つの半導体レーザチップ 4 0がソ軸方向に四組配列されている。 各 半導体レーザチップ 4 0は、 リードピン 2 4から電力が供給される。 図 3 2 の左側端部に位置するリードピン 2 4は、 高電位が印加されるリードピンで あり、 右側端部に位置するリードピン 2 4が低電位が印加されるリードピン である。 左端に位置する各リードピン 2 4は、 X軸方向に配列され、 かつ、 直列に接続された五つ半導体レーザチップ 4 0を介して、 右端の対応するリ —ドピン 2 4に接続されている。 これにより、 X軸方向に配列された五つの
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半導体レーザチップ 4 0に同一の電流を供給できる。 なお、 リードピン 2 4 と半導体レーザチップ 4 0との間、 及び、 X軸方向に隣り合う半導体レーザ チップ 4 0間は、 ワイヤ で電気的に接続されている。 より具体的には、 図
3 2における左端の半導体レーザチップ 4 0のn側電極 (不図示) に一端が 接続されたワイヤ の他端がその半導体レーザチップ 4 0の右隣に配置され た半導体レーザチップ 4 0 (左から 2番目の半導体レーザチップ 4 0) が配 置されるサブマウント 4 2に接続される。 これにより、 ワイヤ がサブマウ ント 4 2を介して半導体レーザチップ 4 0の 側電極 (不図示) に接続され る。 同様に、 ワイヤ によって、 左から 2番目の半導体レーザチップ 4 0と 、 左から 3番目の半導体レーザチップ 4 0とが接続され、 左から 3番目の半 導体レーザチップ 4 0と、 左から 4番目の半導体レーザチップ 4 0とが接続 され、 左から 4番目の半導体レーザチップ 4 0と、 左から 5番目の半導体レ —ザチップ 4 0とが接続される。
[0217] 複数のサブマウント 4 2の各々は、 実施の形態 1 に係るサブマウント 4 2 と同様の構成を有する。 複数のサブマウント 4 2は、 マトリクス状に配列さ れている。 複数のサブマウント 4 2の各々には、 一つの半導体レーザチップ
4 0が実装される。
[0218] ヒートシンク 5 4 4は、 底部 5 2 2に接合される基台であり、 X軸方向に 配列された五つのサブマウント 4 2が接合される。
[0219] 第 1 コリメータ素子 5 5 0は、 パッケージ 5 2 0内において X軸方向に配 列された五つの半導体レーザチップ 4 0のすベての出射点に対向して配置さ れる凹型のミラー面 5 5 0 「を有する。 本実施の形態では、 ミラー面 5 5 0 「は、 五つの出射点からのレーザ光を開口 5 2 1 3に向けて反射し、 かつ、 各レーザ光の第 1の軸方向における発散角を低減する。 ミラー面 5 5 0 「に よって反射された五つのレーザ光は、 それぞれ五つの第 2コリメータ素子 5 3 1 に入射される。 これを可能とするために、 底部 5 2 2の平面視において 、 ミラー面 5 5 0 「と、 開口 5 2 1 3及び開口 5 2 6 3とが重なるように、 第 1 コリメータ素子 5 5 0が配置される。
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[0220] ミラー面 5 5 0 「は、 半導体レーザチップ 4 0の出射点を焦点とする放物 面状の形状を有する。 これにより、 五つの出射点から出射した各レーザ光の 第 1の軸方向における発散角を低減できる。 これにより、 五つのレーザ光を それぞれ反射する五つの第 1 コリメータ素子を用いる場合より、 半導体レー ザモジュール 5 1 0の部品点数を削減できる。 また、 第 1 コリメータ素子 5 5 0の位置調整などの手間を削減できる。
[0221 ] 五つの第 2コリメータ素子 5 3 1の各々は、 第 1 コリメータ素子 5 5 0で 反射されたレーザ光の第 2の軸方向における発散角を低減する素子である。 各第 2コリメータ素子 5 3 1 には、 ソ軸方向に配列された四つのレーザ光が 入射される。 本実施の形態では、 図 3 6に示されるように、 五つの第 2コリ メータ素子 5 3 1の各々は、 底部 5 2 2から遠ざかる向きに凸型の形状を有 するシリンドリカルレンズである。 言い換えると、 五つの第 2コリメータ素 子 5 3 1の各々は、 出射面にシリンドリカル面が形成されたシリンドリカル レンズである。 五つの第 2コリメータ素子 5 3 1の各々は、 第 2の軸である X軸方向におけるレーザ光の発散角を低減する。 五つの第 2コリメータ素子 5 3 1は、 それぞれ第 1 コリメータ素子 5 5 0によって反射された五つのレ —ザ光の光路上に配置される。 これにより、 X軸方向に配列された五つの第 2コリメータ素子 5 3 1の各々からソ軸方向に配列された四つのレーザ光が 出射される。 これにより、 五つの第 2コリメータ素子 5 3 1からマトリクス 状に配列された 2 0個のレーザ光が出射される。
[0222] 以上のように、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュール 5 1 0は、 マ トリクス状に配列された複数のレーザ光を出射する。 これらのレーザ光を集 光することにより、 高パワーのレーザ光を得られる。
[0223] (実施の形態 7)
実施の形態 7に係る半導体レーザモジュールについて説明する。 本実施の 形態に係る半導体レーザモジュールは、 窓部材の構成において、 実施の形態 6に係る半導体レーザモジュール 5 1 0と相違する。 以下、 本実施の形態に 係る半導体レ—ザモジュールについて、 実施の形態 6に係る半導体レーザモ
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ジュール 5 1 0との相違点を中心に図 3 7〜図 3 9を用いて説明する。
[0224] 図 3 7及び図 3 8は、 それぞれ本実施の形態に係る半導体レーザモジュー ル 6 1 0の全体構成を示す模式的な平面図及び断面図である。 図 3 8におい ては、 図 3 7に示される X X X V 丨 丨 I - X X X V I I 丨線における断面が 示されている。 図 3 9は、 本実施の形態に係る窓部材 6 2 7の形状を示す模 式的な断面図である。 図 3 9には、 窓部材 6 2 7の å X平面に平行な断面が 示されている。
[0225] 図 3 7及び図 3 8に示されるように、 半導体レーザモジュール 6 1 0は、 パッケージ 6 2 0を備える。 半導体レーザモジュール 6 1 0は、 実施の形態 6に係る半導体レーザモジュール 5 1 0と同様に、 マトリクス状に配列され た複数の半導体レーザチップ 4 0と、 四つの第 1 コリメータ素子 5 5 0とを さらに備える。 本実施の形態では、 半導体レーザモジュール 6 1 0は、 マト リクス状に配列された複数のサブマウント 4 2と、 四つのヒートシンク 5 4 4とをさらに備える。 半導体レーザモジュール 6 1 0は、 図 3 7に示される ように、 マトリクス状に配列された複数の第 2コリメータ素子 6 3 1 をさら に備える。
[0226] パッケージ 6 2 0は、 図 3 8に示されるように、 複数の半導体レーザチッ プ 4 0と、 四つの第 1 コリメータ素子 5 5 0とが内部に配置される筐体であ る。 パッケージ 6 2 0は、 図 3 7及び図 3 8に示されるように、 本体 5 2 1 と、 天面部 5 2 5に取り付けられたキャップ部材 5 2 6と、 窓部材 6 2 7と を有する。
[0227] 本体 5 2 1及びキャップ部材 5 2 6は、 実施の形態 6に係る本体 5 2 1及 びキャップ部材 5 2 6と同様の構成を有する。
[0228] 窓部材 6 2 7は、 キャップ部材 5 2 6に配置され、 透光性を有する部材で ある。 本実施の形態では、 窓部材 6 2 7は、 キャップ部材 5 2 6の開口 5 2 6 3を塞ぐ。 本実施の形態では、 図 3 7〜図 3 9に示されるように、 窓部材 6 2 7は、 平板部 6 2 8と、 複数の第 2コリメータ素子 6 3 1 とを有する。 本実施の形態では、 窓部材 6 2 7は、 複数の第 2コリメータ素子 6 3 1 を平
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板部 6 2 8に固定することにより形成されている。 半導体レーザモジュール 6 1 0は、 マトリクス状に配列された複数の第 2コリメータ素子 6 3 1 を備 える。 このように、 第 2コリメータ素子 6 3 1 を、 平板部 6 2 8に固定する 構成とすることで、 各半導体レーザチップ 4 0のレーザ光に対応する位置に 第 2コリメータ素子 6 3 1 を配置することが可能となる。 言い換えると、 各 第 2コリメータ素子 6 3 1の位置を各レーザ光の位置に合わせて微調整した 後に、 平板部 6 2 8に固定できる。 よって、 出射点 4 0 3の位置がばらつい た場合でも、 効率よく、 同一の方向に光を取り出すことが出来るようになる 。 なお、 第 2コリメータ素子 6 3 1の平板部 6 2 8への固定方法は特に限定 されない。 例えば、 第 2コリメータ素子 6 3 1は、 光路から離れた位置にお いて、 スポッ ト溶接、 又は、 半田などによって平板部 6 2 8に固定されても よい。 なお、 この場合、 スポッ ト溶接、 又は、 半田接合する光路以外の部分 には、 あらかじめ金属膜を形成しておき、 また、 第 2コリメータ素子 6 3 1 と平板部 6 2 8の各々の両面には無反射コート膜を形成しておいてもよい。
[0229] また、 平板部 6 2 8は、 キャップ部材 5 2 6と接合される。 本実施の形態 では、 図 3 8及び図 3 9に示されるように、 複数の第 2コリメータ素子 6 3 1は、 底部 5 2 2から遠ざかる向きに平板部 6 2 8から突出する。
[0230] 以上のように、 本実施の形態に係る半導体レーザモジュール 6 1 0は、 マ トリクス状に配列された複数の第 2コリメータ素子 6 3 1 を備える。 このよ うな構成を有する半導体レーザモジュール 6 1 0においても、 実施の形態 6 に係る半導体レーザモジュ ルと同様の効果を奏することができる。
[0231 ] (変形例など)
以上、 本開示に係る半導体レーザモジュールについて、 各実施の形態に基 づいて説明したが、 本開示は、 上記各実施の形態に限定されるものではない
[0232] 例えば、 上記各実施の形態においては、 天面部が第 1突起部 6 1及び第 2 突起部 6 3を有し、 キャップ部材が第 1突起部 6 2を有したが、 第 1突起部 及び第 2突起部の構成はこれに限定されない。 キャップ部材及び天面部の少
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なくとも一方が、 底部の平面視においてキャップ部材と天面部とが重なる接 合領域に、 底部の主面に垂直な方向の位置に応じて断面積が変化する第 1突 起部と、 断面積が同一の第 2突起部とを有してもよい。 例えば、 キャップ部 材が、 第 2突起部を有してもよい。 また、 キャップ部材及び天面部の一方だ けが、 第 1突起部を有してもよい。
[0233] また、 上記各実施の形態に対して当業者が思いつく各種変形を施して得ら れる形態や、 本開示の趣旨を逸脱しない範囲で上記各実施の形態における構 成要素及び機能を任意に組み合わせることで実現される形態も本開示に含ま れる。
産業上の利用可能性
[0234] 本開示の半導体レーザモジュールは、 例えば、 加工用レーザ光源として利 用可能である。
符号の説明
[0235] 1 0、 1 1、 1 1 0, 1 1 1、 2 1 0、 3 1 0、 4 1 0、 5 1 0、 6 1 0 半導体レーザモジュール
20、 1 20、 320、 420、 520、 620 パッケージ 20〇, 1 20〇 接合領域
2 1、 1 2 1、 52 1 本体
2 1 3, 263、 1 2 1 3、 1 263、 3263、 4263、 52 1 3、 5263 開口
22、 1 22、 522 底部
23、 1 23、 523 很〇部
24 リードピン
25、 1 25、 525 天面部
26、 1 26、 326、 426、 526 キャップ部材
27、 1 27、 327、 427、 527、 627 窓部材
28、 1 28、 328、 428、 528、 628 平板部
29、 4 1、 43、 45, 5 1 接合部材
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3 1、 1 3 1、 33 1、 43 1、 53 1、 63 1 第 2コリメータ素子 40、 440 半導体レーザチップ
403 出射点
406 端面
42, 442 サブマウント
42† 前面
44、 1 44、 444、 544 ヒートシンク
50、 1 50、 450、 550、 1 050 第 1 コリメータ素子 5〇 1"、 1 50 「、 450 「、 550 「 ミラー面
6 1 , 62 第 1突起部
63 第 2突起部
70、 1 70 ファイバホルダ
7 1、 1 7 1 固定部
72 筒状部
80 先端レンズ付き光ファイバ
81 フランジ
82 光ファイバ
83 フェル _ル
84 集光レンズ
9 1 スポッ ト溶接痕
260、 360 ビームツイスタ
八01 アライメントマーク
3 スポッ ト
Claims
[請求項 1 ] 少なくとも一つの半導体レーザチップと、
少なくとも一つの第 1 コリメータ素子と、
前記少なくとも一つの半導体レーザチップと前記少なくとも一つの 第 1 コリメータ素子とが内部に配置されるパッケージとを備え、 前記パッケージは、 平板状の底部と開口が形成された天面部とを有 する有底筒状の本体と、 前記天面部に取り付けられるキャップ部材と 、 前記キャップ部材に配置され、 透光性を有する窓部材とを有し、 前記少なくとも一つの半導体レーザチップの各々は、 レーザ光を出 射する出射点を有し、
前記少なくとも一つの半導体レーザチップの各々は、 前記レーザ光 の出射方向と前記底部の主面とが平行となるよう前記底部に配置され 前記レーザ光の伝搬方向と垂直な第 1の軸方向における発散角は、 前記伝搬方向及び前記第 1の軸と垂直な第 2の軸方向における発散角 より大きく、
前記少なくとも一つの第 1 コリメータ素子の各々は、 前記パッケー ジ内において前記出射点に対向して配置される凹型のミラー面を有し \
前記ミラー面は、 前記レーザ光を前記開口に向けて反射し、 かつ、 前記レーザ光の前記第 1の軸方向における発散角を低減する
半導体レーザモジュール。
[請求項 2] 前記底部に接合される少なくとも一つのサブマウントをさらに備え 前記少なくとも一つの半導体レーザチップの各々は、 前記少なくと も一つのサブマウントを介して、 前記底部に接合される
請求項 1 に記載の半導体レーザモジュール。
[請求項 3] 前記少なくとも一つのサブマウントの各々の表面は、 前記レーザ光
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の出射方向と交差する方向に延びる前面を含み、
前記少なくとも一つの第 1 コリメータ素子の各々は、 前記ミラー面 が前記前面に対向するように配置される
請求項 2に記載の半導体レーザモジュール。
[請求項 4] 少なくとも一つの第 2コリメータ素子をさらに備え、
前記少なくとも一つの第 2コリメータ素子の各々は、 前記少なくと も一つの第 1 コリメータ素子の各々で反射された前記レーザ光の前記 第 2の軸方向における発散角を低減する
請求項 1〜 3のいずれか 1項に記載の半導体レーザモジュール。
[請求項 5] 前記キャップ部材は、 前記本体側に配置される内側面と、 前記内側 面の裏側に配置される外側面とを有し、
前記少なくとも一つの第 2コリメータ素子は、 前記外側面に配置さ れる
請求項 4に記載の半導体レーザモジュール。
[請求項 6] 前記キャップ部材は、 前記本体側の面である内側面と、 前記内側面 の裏側に配置される外側面とを有し、
前記少なくとも一つの第 2コリメータ素子は、 前記内側面に配置さ れる
請求項 4に記載の半導体レーザモジュール。
[請求項 7] 前記少なくとも一つの第 2コリメータ素子と前記窓部材とは一体成 形されている
請求項 4〜 6のいずれか 1項に記載の半導体レーザモジュール。
[請求項 8] 前記パッケージは、 内部の空間を封止する
請求項 1〜 7のいずれか 1項に記載の半導体レーザモジュール。
[請求項 9] 前記少なくとも一つの半導体レーザチップ及び前記少なくとも一つ の第 1 コリメータ素子は、 樹脂を含まない接合部材で前記パッケージ に接合されている
請求項 8に記載の半導体レーザモジュール。
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[請求項 10] 前記出射点から、 前記少なくとも一つの第 1 コリメータ素子のうち 前記レーザ光が入射する第 1 コリメータ素子のミラー面までの光学距 離は、 3 0 以上、 3 0 0 〇!以下である
請求項 1〜 9のいずれか 1項に記載の半導体レーザモジュール。
[請求項 1 1 ] 前記出射点から、 前記少なくとも一つの第 2コリメータ素子のうち 前記レーザ光が入射する第 2コリメータ素子までの光学距離は、 1 4 5 0 以上、 4 2 0 0 〇!以下である
請求項 5に記載の半導体レーザモジュール。
[請求項 12] 前記出射点から、 前記少なくとも一つの第 2コリメータ素子のうち 前記レーザ光が入射する第 2コリメータ素子までの光学距離は、 9 0 〇 〇!以上、 4 2 0 0 〇!以下である
請求項 6に記載の半導体レーザモジュール。
[請求項 13] 前記キャップ部材及び前記天面部の少なくとも一方は、 前記底部の 平面視において前記キャップ部材と前記天面部とが重なる接合領域に 、 前記底部の主面に垂直な方向の位置に応じて断面積が変化する第 1 突起部と、 前記底部の主面に垂直な方向の位置に応じて断面積が変化 しない第 2突起部とを有する
請求項 8又は 9に記載の半導体レーザモジュール。
[請求項 14] 前記少なくとも一つの半導体レーザチップは、 複数の半導体レーザ チップを含み、
前記少なくとも一つの第 1 コリメータ素子は、 前記複数の半導体レ —ザチップのすべての前記出射点に対向して配置される一つの第 1 コ リメータ素子を含む
請求項 1 に記載の半導体レーザモジュール。
[請求項 15] 前記少なくとも一つの第 1 コリメータ素子の各々の前記レーザ光の 出射方向における最大幅は、 前記ミラー面の出射方向における最大幅 の 2倍以上である
請求項 1〜 1 4のいずれか 1項に記載の半導体レーザモジュール。
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[請求項 16] 前記パッケージの外側に配置されるビームツイスタをさらに備える 請求項 4に記載の半導体レーザモジュール。
[請求項 17] 前記少なくとも一つの第 1 コリメータ素子により反射された前記レ —ザ光を受光する先端レンズ付き光ファイバをさらに備える
請求項 1〜 1 6のいずれか 1項に記載の半導体レーザモジュール。
[請求項 18] 前記少なくとも一つの第 2コリメータ素子の各々は、 凸面部を備え 前記出射点の個数を !·! (ただし、 11 ³ 1) % 前記出射点から、 前記 レーザ光の光軸上における前記ミラー面までの光学距離を !_ 八〇、 前記レーザ光の前記凸面部における前記第 2の軸におけるスポッ ト径 を巳 0 3として
が成り立つ
請求項 4に記載の半導体レーザモジュール。
請求項 1 8に記載の半導体レーザモジュール。
[請求項 20] 前記本体は、 前記底部の外縁に沿って配置される側部を有し、 前記側部は、 前記半導体レーザチップと電気的に接続される複数の リードピンを有する
請求項 1〜 1 9のいずれか 1項に記載の半導体レーザモジュール。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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