WO2020145022A1 - 表示装置 - Google Patents

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WO2020145022A1
WO2020145022A1 PCT/JP2019/048727 JP2019048727W WO2020145022A1 WO 2020145022 A1 WO2020145022 A1 WO 2020145022A1 JP 2019048727 W JP2019048727 W JP 2019048727W WO 2020145022 A1 WO2020145022 A1 WO 2020145022A1
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dam
display device
inorganic
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PCT/JP2019/048727
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定文 平井
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株式会社ジャパンディスプレイ
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    • H10K59/124Insulating layers formed between TFT elements and OLED elements

Definitions

  • One of the embodiments of the present invention relates to a display device and a method for manufacturing the display device.
  • the present invention relates to a display device having a display element exemplified by an organic light emitting element in each pixel, and a manufacturing method thereof.
  • an organic EL (Electroluminescence) display device As an example of the display device, an organic EL (Electroluminescence) display device is known.
  • the organic EL display device includes an organic light emitting element (hereinafter, light emitting element) as a display element in each of a plurality of pixels formed on a substrate.
  • the light-emitting element has a layer containing an organic compound (hereinafter referred to as an EL layer) between a pair of electrodes and is driven by supplying a current between the pair of electrodes.
  • the organic compound is in a charged state by being oxidized or reduced, and further, they are recombined to generate an excited state.
  • One of the embodiments according to the present invention aims to provide a highly reliable display device and a manufacturing method thereof.
  • One of the embodiments of the present invention is a display device.
  • This display device includes a substrate, a transistor, a planarization film, a display element, a partition, and at least one dam.
  • the substrate has a display area and a peripheral area surrounding the display area.
  • the transistor is located on the display area.
  • the planarization film is located on the display area and covers the transistor.
  • the display element includes a pixel electrode located on the planarization film and electrically connected to the transistor.
  • the partition wall covers the end portion of the pixel electrode.
  • At least one dam is located on the peripheral region, is spaced from the planarization film, and surrounds the display region.
  • At least one dam has a pedestal and a stopper.
  • the pedestal contains a material contained in at least one of the planarization film and the partition wall.
  • the stopper is located on the pedestal, contacts the pedestal, and includes an inorganic material. A part of the upper surface of the pedestal of at least one dam is exposed from the stopper.
  • One of the embodiments of the present invention is a display device.
  • This display device includes a substrate, a transistor, a planarization film, a display element, a partition, at least one dam, and an additional dam.
  • the substrate has a display area and a peripheral area surrounding the display area.
  • the transistor is located on the display area.
  • the planarization film is located on the display area and covers the transistor.
  • the display element includes a pixel electrode located on the planarization film and electrically connected to the transistor.
  • the partition wall covers the end portion of the pixel electrode.
  • At least one dam is located on the peripheral region, is spaced from the planarization film, and surrounds the display region.
  • the additional dam is located on the surrounding area.
  • At least one dam has a pedestal and a stopper, and is sandwiched between the flattening film and the additional dam.
  • the pedestal contains a material contained in at least one of the planarization film and the partition wall.
  • the stopper is located on the pedestal, contacts the pedestal, and includes an inorganic material. A part of the upper surface of the pedestal of at least one dam is exposed from the stopper.
  • One of the embodiments of the present invention is a method of manufacturing a display device.
  • This method includes forming a transistor on a substrate, forming a planarization film overlapping with the transistor, forming a pixel electrode electrically connected to the transistor on the planarization film, and forming an end portion of the pixel electrode.
  • At least one dam has a pedestal and a stopper, and the pedestal includes a material contained in at least one of the planarization film and the partition.
  • the stopper is located on the pedestal, contacts the pedestal, and includes an inorganic material.
  • the stopper is formed to expose a part of the upper surface of the pedestal of the at least one dam.
  • One of the embodiments of the present invention is a method of manufacturing a display device.
  • a transistor is formed on a substrate, a planarizing film covering the transistor and a pedestal first layer surrounding the planarizing film are simultaneously formed, and a pixel electrode electrically connected to the transistor is planarized.
  • the stopper is formed so as to expose the upper surface of the second layer.
  • One of the embodiments of the present invention is a method of manufacturing a display device.
  • This method includes forming a transistor on a substrate, forming a planarization film overlapping with the transistor, forming a pixel electrode electrically connected to the transistor on the planarization film, and forming an end portion of the pixel electrode.
  • At least one dam is sandwiched between the planarization film and the additional dam.
  • At least one dam comprises a pedestal and a stopper.
  • the pedestal contains a material contained in at least one of the planarization film and the partition wall.
  • the stopper is located on the pedestal, contacts the pedestal, and includes an inorganic material.
  • the stopper is formed to expose a part of the upper surface of the pedestal of the at least one dam.
  • One of the embodiments of the present invention is a method of manufacturing a display device.
  • This method includes forming a transistor on a substrate, simultaneously forming a planarization film covering the transistor, a first layer of a pedestal surrounding the planarization film, and an additional dam, and a pixel electrically connected to the transistor.
  • Forming on includes forming a pedestal that includes a first layer and a second layer, and a dam that includes a stopper.
  • the additional dam is formed such that the dam is sandwiched between the flattening film and the additional dam.
  • the stopper is formed such that a part of the upper surface of the second layer is exposed from the stopper.
  • 1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment of the present invention.
  • 1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment of the present invention.
  • 1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment of the present invention.
  • 1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment of the present invention.
  • 1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment of the present invention.
  • 1 is a schematic cross-sectional view of a dam of a display device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing the manufacturing process of the display device.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing the manufacturing process of the display device.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing the manufacturing process of the display device according to the embodiment of the present invention.
  • 1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment of the present invention.
  • 1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment of the present invention.
  • 1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment of the present invention.
  • 1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing method of the display device according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing method of the display device according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing method of the display device according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing method of the display device according to the embodiment of the present invention.
  • 1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment of the present invention.
  • 1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment of the present invention.
  • 1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment of the present invention.
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  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing method of the display device according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing method of the display device according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing method of the display device according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing method of the display device according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing method of the display device according to the embodiment of the present invention.
  • 1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment of the present invention.
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  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing method of the display device according to the embodiment of the present invention.
  • 1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment of the present invention.
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  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing method of the display device according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing method of the display device according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing method of the display device according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining the manufacturing method of the display device according to the embodiment
  • the plurality of films may have different functions and roles.
  • these plural films are derived from the films formed as the same layer in the same step and have the same material. Therefore, these plural films are defined as existing in the same layer.
  • a structure is exposed from another structure means a mode in which a part of a structure is not covered by another structure.
  • the part which is not covered by the structure includes a mode in which it is covered by another structure.
  • the display device 100 includes a substrate 102 and a plurality of pixels 104 is provided thereover.
  • the pixels 104 are arranged in a matrix having a plurality of rows and columns.
  • a region including the pixel 104 and a region surrounding the pixel 104 are defined as a display region 106 and a peripheral region of the substrate 102, respectively.
  • a drive circuit for driving the pixels 104 is provided in the peripheral area.
  • two scanning line driving circuits 108 sandwiching the display area 106 and a signal line driving circuit 110 including an analog switch are provided.
  • wiring (not shown) extends to one side of the substrate 102 and is exposed at an end portion of the substrate 102 to form a terminal 112.
  • the terminals 112 are electrically connected to a connector 116 such as a flexible printed circuit (FPC) board.
  • a driving IC 114 for controlling the pixels 104 may be further mounted on the connector 116 or the substrate 102. Note that the function may be realized by the driving IC 114 without providing the signal line driving circuit 110 in the peripheral region.
  • the terminal 112 side of the display device 100 is a lower part, and the opposite side of the terminal 112 is an upper part.
  • the substrate 102 and the display area 106 can be regarded as a quadrangle mainly composed of four sides, the side on the terminal 112 side is the lower side, the side opposite to the terminal 112 is the upper side, and the side between the upper side and the lower side.
  • the sides are called the left and right sides.
  • Pixel 2-1. Pixel Circuit Each pixel 104 is provided with a pixel circuit including a display element 130.
  • the pixel circuit is driven by the scan line driver circuit 108, the signal line driver circuit 110, or the like. As a result, the operation of the display element 130 is controlled, and as a result, an image can be displayed on the display area 106.
  • a pixel circuit will be described using an example in which a light emitting element is used as the display element 130.
  • the configuration of the pixel circuit can be selected arbitrarily, an example of which is shown in FIG. 2 as an equivalent circuit.
  • the pixel circuit shown in FIG. 2 includes a drive transistor 150, a light emission control transistor 154, a correction transistor 152, an initialization transistor 156, a writing transistor 158, a storage capacitor 140, and an additional capacitor 170 in addition to the display element 130. ..
  • the high potential PVDD is applied to the high potential power line 180, and this potential is applied to the pixels 104 connected to each column via the current supply line 182.
  • the display element 130, the drive transistor 150, the light emission control transistor 154, and the correction transistor 152 are connected in series between the high potential power supply line 180 and the low potential power supply line 184.
  • a low potential PVSS is applied to the low potential power supply line 184.
  • the gate of the drive transistor 150 is electrically connected to the first signal line 188 via the initialization transistor 156 and also electrically connected to the second signal line 186 via the write transistor 158.
  • the initialization signal Vini is applied to the first signal line 188, and the video signal Vsig is applied to the second signal line 186.
  • the operation of write transistor 158 is controlled by a scan signal SG applied to write control scan line 190 connected to its gate.
  • the gate of the initialization transistor 156 is connected to the initialization control scan line 192 to which the initialization control signal IG is applied, and the operation is controlled by the initialization control signal IG.
  • a correction control scan line 194 to which the correction control signal CG is applied and a light emission control scan line 198 to which the light emission control signal BG is applied are connected to the gates of the correction transistor 152 and the light emission control transistor 154, respectively.
  • a reset control line 196 is connected to the drain of the drive transistor 150 via the correction transistor 152.
  • the reset control line 196 is connected to the reset transistor 160 provided in the scan line driver circuit 108.
  • the reset transistor 160 is controlled by the reset control signal RG, whereby the reset potential Vrst applied to the reset signal line 200 can be applied to the drain of the drive transistor 150 via the correction transistor 152.
  • a storage capacitor 140 is provided between the source and gate of the drive transistor 150, and an additional capacitor 170 is provided between the source of the drive transistor 150 and the low potential power supply line 184.
  • the additional capacitor 170 may be arranged so that both terminals are connected to the source of the driving transistor 150 and the high potential power supply line 180, respectively.
  • the signal line driving circuit 110 and/or the driving IC 114 outputs the initialization signal Vini and the video signal Vsig to the first signal line 188 and the second signal line 186, respectively.
  • the scanning line driving circuit 108 outputs the scanning signal SG to the writing control scanning line 190, the initialization control signal IG to the initialization control scanning line 192, and the correction control signal CG to the correction control scanning line 194.
  • the light emission control signal BG is output to the light emission control scan line 198
  • the reset control signal RG is output to the gate of the reset transistor 160.
  • the pixel circuit shown in FIG. 2 is merely an example, and there are no restrictions on the number of elements such as transistors and capacitors and the connection relationship.
  • FIG. 3 shows a schematic sectional view of two adjacent pixels 104.
  • FIG. 3 shows a display element 130, a pixel circuit including a storage capacitor 140 connected to the display element 130, a driving transistor 150, an additional capacitor 170, a passivation film 230 provided on the pixel circuit, and the like.
  • the substrate 102 has a function of supporting a circuit formed thereon and can include glass, quartz, or a polymer.
  • a polymer such as polyimide, polyamide, or polycarbonate
  • the display device 100 can be provided with flexibility and a so-called flexible display can be provided.
  • the driving transistor 150 includes a semiconductor film 204, a gate insulating film 206 over the semiconductor film 204, a gate electrode 210 over the gate insulating film 206, a first interlayer film 212 over the gate electrode 210, and a drain over the first interlayer film 212. It has an electrode 214, a source electrode 216, and the like.
  • the semiconductor film 204 may have an active region 204a, a low-concentration impurity region 204b sandwiching the active region 204a, a high-concentration impurity region 204c sandwiching these, and the like.
  • the driving transistor 150 is illustrated as a top-gate transistor in FIG. 3, the structure of the transistor included in the pixel circuit is not limited, and transistors having various structures can be used.
  • the storage capacitor 140 includes a part of the semiconductor film 204 (high-concentration impurity region 204c), a gate insulating film 206 thereover, a capacitor electrode 208 existing in the same layer as the gate electrode 210, and a first interlayer film on the capacitor electrode 208. 212 and a part of the source electrode 216.
  • the gate insulating film 206 and the first interlayer film 212 function as a dielectric of the storage capacitor 140.
  • a second interlayer film 218 and a planarization film 220 thereon are further provided on the drive transistor 150 and the storage capacitor 140.
  • the second interlayer film 218 is provided to prevent impurities from entering elements such as transistors and capacitors in the pixel circuit.
  • the flattening film 220 absorbs unevenness caused by the driving transistor 150, the storage capacitor 140, and the like, so that a flat surface is formed.
  • An opening reaching the source electrode 216 is provided in the flattening film 220 and the second interlayer film 218.
  • a connection pad 224 that covers this opening and a part of the flattening film 220 is provided so as to be in contact with the source electrode 216, and an additional capacitance electrode 172 is formed on the flattening film 220.
  • a third interlayer film 174 is further formed to cover the connection pad 224 and the additional capacitance electrode 172.
  • the third interlayer film 174 does not cover a part of the connection pad 224 in the opening provided in the planarization film 220, but exposes the upper surface of the connection pad 224. This allows electrical connection between the pixel electrode 132 of the display element 130 provided thereon and the connection pad 224.
  • the third interlayer film 174 may be provided with an opening 226 for permitting contact between a partition (also referred to as a rib or a bank) 222 provided thereover and the planarization film 220.
  • the formation of the connection pad 224 and the opening 226 is arbitrary. By providing the connection pad 224, it is possible to prevent the surface of the source electrode 216 from being oxidized in the subsequent process, and to suppress an increase in contact resistance due to this.
  • the opening 226 can function as an opening for discharging impurities such as water and oxygen from the planarization film 220, and by providing the opening 226, the reliability of the semiconductor element in the pixel circuit or the display element 130 can be improved. You can
  • the pixel electrode 132 is provided on the third interlayer film 174 so as to overlap the connection pad 224 and the additional capacitance electrode 172.
  • the pixel electrode 132 is electrically connected to the source electrode 216 via the connection pad 224 in the opening provided in the third interlayer film 174 and the planarization film 220.
  • the additional capacitance 170 is formed by the additional capacitance electrode 172, the third interlayer film 174, and the pixel electrode 132. Therefore, the pixel electrode 132 is shared by the additional capacitance 170 and the display element 130.
  • an inorganic compound containing silicon can be used for the undercoat 202, the gate insulating film 206, the first interlayer film 212, the second interlayer film 218, and the third interlayer film 174.
  • the inorganic compound containing silicon include silicon oxide containing oxygen and silicon, silicon oxynitride and silicon nitride oxide containing oxygen and silicon, and nitrogen, and silicon nitride containing silicon and nitrogen. These films may have a single-layer structure or a laminated structure.
  • the planarization film 220 and the partition wall 222 include an organic compound. Examples of typical organic compounds include acrylic resins, epoxy resins, polysiloxane resins, polyimide resins and polyamide resins.
  • the gate electrode 210, the capacitor electrode 208, the drain electrode 214, and the source electrode 216 are configured to contain titanium, molybdenum, tungsten, tantalum, aluminum, copper, or an alloy thereof. These electrodes may have a structure in which a metal having high conductivity such as aluminum or copper is sandwiched between refractory metals such as titanium, molybdenum, tungsten, and tantalum.
  • the display element 130 includes a pixel electrode 132, a counter electrode 136 on the pixel electrode 132, and an EL layer 134 sandwiched between the pixel electrode 132 and the counter electrode 136.
  • the pixel electrode 132 is a conductive oxide that transmits visible light, such as a mixed oxide of indium and tin (ITO) or a mixed oxide of indium and zinc (IZO), or a metal such as silver or aluminum. Alternatively, it includes alloys of these metals.
  • the pixel electrode 132 may have either a single-layer structure or a laminated structure. In the case of having a laminated structure, for example, a structure in which a film containing a metal is sandwiched between films containing a conductive oxide such as ITO or IZO can be adopted.
  • the EL layer 134 is provided so as to cover the pixel electrode 132 and the partition 222.
  • the EL layer 134 refers to the entire layer provided between the pixel electrode 132 and the counter electrode 136.
  • the EL layer 134 can be composed of a plurality of layers, and can be formed by combining various functional layers such as a charge injection layer, a charge transport layer, a light emitting layer, a charge block layer, and an exciton block layer.
  • the display element 130 can be configured such that all the pixels 104 have the same structure of the EL layer 134, or the adjacent pixels 104 have different structures.
  • FIG. 3 shows a structure in which a hole injecting/transporting layer, a light emitting layer, and an electron injecting/transporting layer are sequentially stacked from the pixel electrode 132 as a typical functional layer in consideration of legibility.
  • the counter electrode 136 is formed over a plurality of pixels 104. That is, the counter electrode 136 is shared by the plurality of pixels 104.
  • the counter electrode 136 includes, for example, a light-transmitting conductive oxide such as ITO or IZO, a metal such as aluminum, magnesium, or silver, or an alloy thereof.
  • a light-transmitting conductive oxide such as ITO or IZO
  • a metal such as aluminum, magnesium, or silver
  • the counter electrode 136 has a reflectance of visible light such as aluminum or silver. It is formed by using a high metal.
  • the pixel electrode 132 is formed so as to include a metal having a high reflectance with respect to visible light, such as aluminum or silver, and the counter electrode 136 is formed. It is formed so as to be transparent to visible light.
  • the counter electrode 136 is made of a film containing a conductive oxide such as ITO or IZO, or a metal thin film containing a metal such as silver, magnesium, or aluminum and having a thickness capable of transmitting visible light. You can
  • a passivation film 230 for protecting the display element 130 is provided on the display region 106 so as to overlap the display element 130.
  • the structure of the passivation film 230 can be arbitrarily selected. For example, as shown in FIG. 3, a first inorganic film 232 containing an inorganic compound, an organic film 234 containing an organic compound, and a second inorganic film containing an inorganic compound are used. A laminated structure including the inorganic film 236 can be applied to the passivation film 230.
  • the above-mentioned silicon-containing inorganic compound can be used as the inorganic compound.
  • the organic compound polymers such as epoxy resin and acrylic resin can be used.
  • the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 having low gas permeability can effectively prevent impurities from entering the organic film 234 and the display element 130 from the outside.
  • the organic film 234 can have a relatively large thickness, and thereby absorbs irregularities caused by the partition wall 222 or foreign matter to provide a flat upper surface. This flattening function of the organic film 234 improves the flatness of the second inorganic film 236 formed thereon and prevents the second inorganic film 236 from being cracked or pinholes. Therefore, the display device 100 can be protected more effectively.
  • a resin film 240 can be provided on the passivation film 230.
  • the resin film 240 protects the display region 106, and as described later, a mask for removing the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 that temporarily cover the terminals 112 when the display device 100 is manufactured. Also works as.
  • This resin film 240 also contains a polymer such as an epoxy resin or an acrylic resin.
  • a polarizing plate, a counter substrate, or the like may be provided on the resin film 240.
  • FIG. 4 shows a schematic top view of the structure of the four corners of the display device 100.
  • the structures of the display element 130, the passivation film 230, the resin film 240, etc. are omitted.
  • the display device 100 has at least one dam 250 that surrounds the display area 106.
  • At least one dam 250 may be composed of a plurality of dams 250.
  • four dams first dam 250-1, second dam 250-2, third dam 250
  • these structures will be described in detail.
  • FIG. 5 A schematic top view of an area 118-1 (see FIG. 1) located on the opposite side of the display area 106 from the terminals 112 is shown in FIG. 5, and a schematic cross-sectional view taken along the chain line AA′ of FIG. As shown in FIG. In these drawings, the peripheral region and a part of the pixel 104 adjacent to the peripheral region are shown.
  • Peripheral Circuit As shown in FIG. 6, in the peripheral region of the upper portion of the substrate 102, one or a plurality of wirings 270, a low-potential power source line 184, and a low-potential power source that extend substantially parallel to the upper side of the substrate 102.
  • a first connection wiring 138 and the like connected to the line 184 is provided.
  • the wiring 270 can function as, for example, a high-potential power supply line 180 for applying PVDD to the pixel electrode 132 and a signal line for transmitting various signals to a driver circuit.
  • the first connection wiring 138 is configured to include a conductive oxide such as ITO or IZO, or a metal such as titanium, tungsten, molybdenum, tantalum, or aluminum.
  • the counter electrode 136 extends from the display area 106 to the peripheral area and is electrically connected to the low potential power supply line 184 in the peripheral area. Since the low-potential power supply line 184 is provided along the outer periphery of the display region 106, this configuration makes it possible to supply substantially the same potential (PVSS) to the entire counter electrode 136 over the entire display region 106.
  • the counter electrode 136 and the low-potential power supply line 184 may be in direct contact with each other, but as shown in FIG. 6, they may be electrically connected via the first connection wiring 138 and the second connection wiring 228. ..
  • the second connection wiring 228 is located on the planarization film 220, and a part of the second connection wiring 228 is exposed from the partition 222 in the plurality of openings 229 formed in the partition 222 (FIGS. 5 and 6). In this opening 229, the counter electrode 136 and the second connection wiring 228 are connected.
  • the second connection wiring 228 can be formed in the same step as the pixel electrode 132; therefore, they can have the same structure and can be in the same layer.
  • the flattening film 220 provided in the display region 106 also extends in the upper side direction of the substrate 102 so as to cover a part of the low-potential power supply line 184 (FIGS. 5 and 6). However, in the peripheral region, part of the planarizing film 220 is removed, and the remaining part forms the first layer 250a that is part of the dam 250. As described later, the planarization film 220 and the first layer 250a can be formed in the same step using a material containing an organic compound (first organic compound). Therefore, the planarization film 220 and the first layer 250a may exist in the same layer, have the same composition, and include the same organic compound. Note that in FIG. 6, the planarization film 220 located under the display element 130 and the planarization film 220 located under the second connection wiring 228 are illustrated as being separated, but the source electrode The openings used to electrically connect 216 and display element 130 do not completely separate them.
  • the partition wall 222 also extends in the upper side direction of the substrate 102 so as to cover a part of the second connection wiring 228 (FIGS. 5 and 6). However, similar to the planarization film 220, part of the partition wall 222 is removed in the peripheral region, and the remaining part forms the second layer 250b that is part of the dam 250. As described later, the partition wall 222 and the second layer 250b can be formed in the same step by using a material containing an organic compound (second organic compound). Therefore, the partition 222 and the second layer 250b may be present in the same layer, have the same composition, and include the same organic compound. A portion formed by the first layer 250a and the second layer 250b is also referred to as a pedestal of the dam 250.
  • FIG. 7(A) A schematic sectional view of the dam 250 is shown in FIG. 7(A).
  • Each dam 250 has a stopper 250c in addition to a first layer 250a, a second layer 250b located on the first layer 250a and in contact with the first layer 250a.
  • the first dam 250-1 to the fourth dam 250-4 have a first stopper 250c-1 to a fourth stopper 250c-4, respectively.
  • each stopper 250c can be provided so as to surround the display area 106 (FIG. 4).
  • the stopper 250c contains a metal (zero-valent metal) or the above-mentioned silicon-containing inorganic compound.
  • the stopper 250c does not cover the entire upper surface of the pedestal, that is, the upper surface of the second layer 250b, but a part thereof. In other words, the bottom surface of the stopper 250c is in contact with part of the top surface of the second layer 250b of the pedestal, and part of the top surface of the second layer 250b is exposed from the stopper 250c.
  • the total height H1 of the first layer 250a and the second layer 250b (that is, the height of the pedestal) H1 is larger than the height H2 of the stopper 250c.
  • the height H1 is twice the height H2. It can be 25 times or less, 2 times or more and 6 times or less, or 2 times or more and 5 times or less (FIG. 7A).
  • the width W1 is larger than the width W2 and is 2 times or more and 100 times or less the width W2.
  • Each pedestal and the stopper 250c can be configured to be 5 times or more and 50 times or less, or 10 times or more and 30 times or less.
  • the side surface of the pedestal is inclined from the normal line of the substrate 102, and the angle formed with the bottom surface thereof, that is, the angle formed with the upper surface of the substrate 102 is smaller than 90°. More specifically, the angle ⁇ 1 between the side surface of the second layer 250b and the upper surface of the substrate 102 is smaller than 90°.
  • the side surface of the stopper 250c may be parallel or substantially parallel to the normal line of the substrate 102 or may be inclined from the normal line, but the angle formed between the side surface of the stopper 250c and its bottom surface, that is, the side surface of the stopper 250c and the substrate.
  • the angle ⁇ 2 formed with the upper surface of 102 is larger than the angle ⁇ 1. Therefore, the side surface of the stopper 250c has a structure that is more steep than the side surface of the pedestal.
  • each dam 250 the number of stoppers 250c is arbitrary, and each dam 250 may include a plurality of stoppers 250c, for example, as shown in FIG. 7(B).
  • the first layers 250a may be connected and integrated between the adjacent dams 250 (FIG. 7C). Since the planarization film 220 is separated from the first layer 250a of at least one of the dams 250, the impurities that have entered the first layer 250a are transported to the display region 106 via the planarization film 220. Is prevented. This contributes to high reliability of the display device 100.
  • the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 of the passivation film 230 are formed so as to surround the organic film 234 and are in contact with each other in the peripheral region (FIG. 6). ). That is, the organic film 234 is sealed by the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236, and this structure effectively prevents impurities from entering the organic film 234.
  • the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 overlap at least a part of the dam 250.
  • the resin film 240 may cover the passivation film 230 not only in the display region 106 but also in the peripheral region, and the ends thereof may coincide with the ends of the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236.
  • the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 are located in a region where the resin film 240 overlaps and are formed so as to be closed in this region.
  • the dam 250 including the first layer 250a, the second layer 250b, and the stopper 250c functions effectively for controlling the positions and shapes of the passivation film 230 and the resin film 240.
  • the first dam 250-1 and the second dam 250-2 have a function of controlling the shape and position of the organic film 234, while the third dam 250-3 and the fourth dam 250-3
  • the dam 250-4 contributes to shape control of the resin film 240 and the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236.
  • the manufacturing method of the display device 100 will be described later, the organic film 234 and the resin film 240 are formed by using an inkjet method, a printing method, or the like.
  • a solution or suspension containing a resin as a raw material of the organic film 234 or the resin film 240 or a precursor thereof (hereinafter, these solutions and suspensions are collectively referred to as a raw material liquid) is used as a first solution.
  • the organic film 234 or the resin film 240 is formed by discharging and coating the same on the inorganic film 232 or the second inorganic film 236, and then distilling off the solvent of the raw material liquid and/or reacting the precursor. ..
  • the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 after a film containing an inorganic compound is formed over substantially the entire surface of the substrate 102 by utilizing a sputtering method or a chemical vapor deposition (CVD) method, the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 are formed thereon. It is formed by dry etching using the resin film 240 formed in the above as a mask. In consideration of this, the positions and shapes of the passivation film 230 and the resin film 240 are such that the raw material liquid that gives the organic film 234 spreads on the first inorganic film 232 and the second shape of the raw material liquid that gives the resin film 240. It is determined by the spread on the inorganic film 236.
  • the raw material liquid that provides the organic film 234 is discharged and applied so as to surely cover the display region 106 so as not to form pinholes on the display region 106, so that part of the raw material liquid overflows from the display region 106.
  • the protruding raw material liquid can be stopped by the first dam 250-1.
  • the organic film 234 can be selectively formed in the first dam 250-1.
  • the second dam 250-2 also has a function of blocking the raw material liquid. The formation of the organic film 234 on the side is prevented.
  • the raw material liquid that gives the resin film 240 is discharged and applied so as to surely cover the display region 106 and the organic film 234, a part of the raw material liquid overflows from the display region 106 and the organic film 234.
  • the protruding raw material liquid is blocked by the third dam 250-3.
  • the resin film 240 overlapping the first dam 250-1 and the second dam 250-2 can be selectively formed in the third dam 250-3.
  • the raw material liquid flows out from the third dam 250-3 to the outside, the raw material liquid is blocked by the fourth dam 250-4, so that the end portion of the substrate 102 is located more than the fourth dam 250-4.
  • the resin film 240 is prevented from being formed on the side.
  • dam 250 of the present embodiment it is possible to more reliably control the spread of the raw material liquid described above. This will be described with reference to FIGS. 8A to 9C.
  • FIG. 8A is a schematic cross-sectional view when the raw material liquid 252 approaches the dam 250 having no stopper 250c and the first inorganic film 232 formed thereon from the display region 106 side. Since the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 are formed on the dam 250, a convex portion due to the dam 250 is also formed on these. A part of the raw material liquid 252 discharged and applied so as to cover the display area 106 flows out from the display area 106 to the peripheral area, and reaches the dam 250 as shown in FIG. 8A.
  • the tip of the raw material liquid 252 contacts the lower end (a in the figure) of the convex portion of the first inorganic film 232, at the lower end a, the angle of the surface of the first inorganic film 232 (that is, the direction of the surface normal). )
  • the end portion of the raw material liquid 252 remains at the lower end a and the side surface above it. This is because the surface tension acts on the raw material liquid 252.
  • the raw material liquid 252 is further added after reaching the state of FIG. 8A, the raw material liquid 252 does not spread beyond the dam 250 unless the gravity acting on the raw material liquid 252 exceeds the surface tension.
  • the gravity acting on the raw material liquid 252 overcomes the surface tension, and the end portion of the raw material liquid 252 crosses the lower end a and the side surface above it.
  • the first layer 250a and the second layer 250b are formed by exposing and developing (wet etching) a photosensitive resin containing an organic compound, the corners between the side surface and the upper surface are rounded. Take on. This roundness of the corners is also reflected in the first inorganic film 232.
  • the dam 250 has a stopper 250c. Therefore, the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 formed on the dam 250 are formed on the convex portion caused by the pedestal and the convex portion caused by the stopper 250c (dotted line ellipse in FIG. 9A). Inner structure).
  • the stopper 250c is formed by dry etching a film containing an inorganic compound. Therefore, the angle ⁇ 2 formed between the side surface and the upper surface of the substrate 102 is larger than the angle ⁇ 1, and the angle between the side surface and the upper surface is rounded as compared with that of the second layer 250b. Gives a relatively clear ridge.
  • the raw material liquid 252 is formed on the lower end (b in FIG. 9B) of the convex portion of the first inorganic film 232 due to the stopper 250c, the side surface thereof, or the ridge of the convex portion (c in FIG. 9C). You can stay. Not only the effect that the stopper 250c raises the height of the dam 250 but also such a mechanism works. Therefore, by applying the dam 250 of the present embodiment, the positions and shapes of the organic film 234 and the resin film 240 can be made more precise. It becomes possible to control.
  • FIG. 10 is a schematic top view of an area 118-2 (see FIG. 1) including a part of the left and right sides of the display device 100, and FIG. 11 is a schematic cross-sectional view taken along the chain line BB′ of FIG. Shown in.
  • FIG. 10 is a schematic top view of an area 118-2 (see FIG. 1) including a part of the left and right sides of the display device 100
  • FIG. 11 is a schematic cross-sectional view taken along the chain line BB′ of FIG. Shown in.
  • the description of the same or similar configuration as that of the region 118-1 may be omitted.
  • the transistors included in the scanning line driving circuit 108 are provided in the peripheral region. Similar to the area 118-1 (FIG. 6 ), the counter electrode 136 extends from the display area 106 to the peripheral area and is electrically connected to the low potential power supply line 184 in the peripheral area. As shown in FIGS. 10 and 11, at least one dam 250 is provided in the peripheral area, and each dam 250 is provided with a stopper 250c. Accordingly, the positions and shapes of the organic film 234 and the resin film 240 can be precisely controlled on the left and right sides of the display device 100.
  • FIG. 12 A schematic top view of an area 118-3 (see FIG. 1) located on the terminal 112 side of the display area 106 is shown in FIG. 12, and a schematic cross-sectional view taken along the chain line CC′ of FIG. 12 is shown in FIG. .. Also in the following description, the description of the same or similar configuration as the regions 118-1 and 118-2 may be omitted.
  • a signal line driving circuit 110 including an analog switch is formed in the peripheral region, and further, one or a plurality of wirings 272 extending substantially parallel to the lower side of the substrate 102, a low potential power supply line. 184, a first connection wiring 138, a second connection wiring 228, and the like which are connected to the low-potential power supply line 184 are provided.
  • a wiring 122 for supplying various signals and power to the pixel 104 and the driver circuit is formed between the display region 106 and the end portion of the substrate 102.
  • the wiring 122 can be formed using a plurality of conductive films formed in different layers. For example, as shown in FIG.
  • the wiring 122 is exposed at the end of the substrate 102 to form the terminal 112.
  • the upper surface of the wiring 122 may be covered with the protective conductive film 124.
  • the protective conductive film 124 is formed at the same time as the pixel electrode 132 or the connection pad 224, for example, and can be in the same layer as these.
  • the counter electrode 136 extends from the display area 106 to the peripheral area and is electrically connected to the low potential power supply line 184 through the first connection wiring 138 and the second connection wiring 228 in the peripheral area.
  • At least one dam 250 is provided in the peripheral region, and each dam 250 includes a stopper 250c. Accordingly, the positions and shapes of the organic film 234 and the resin film 240 can be precisely controlled even on the lower side of the display device 100.
  • the reliability of the display device 100 can be improved by precisely controlling the position and shape of these. it can.
  • the display device 100 by providing at least one dam 250 having the stopper 250c, the positions and shapes of the organic film 234 and the resin film 240 are precisely controlled. Therefore, by applying this embodiment, it is possible to effectively prevent impurities from entering the display device 100, and the display device 100 exhibits high reliability.
  • FIGS. This figure is a schematic cross-sectional view corresponding to FIG. 6.
  • FIG. 14A shows a structure in which the driving transistor 150, the wiring 270, the low-potential power supply line 184, and the second interlayer film 218 which covers these are formed over the substrate 102. Since this structure can be manufactured by applying a known method, the description of the manufacturing method is omitted.
  • the second interlayer film 218 is etched to form an electrical connection between the first connection wiring 138 and the low potential power supply line 184. Are formed in the second interlayer film 218. After that, a first connection wiring 138 is formed over the second interlayer film 218 so as to cover this opening (FIG. 14C).
  • the first connection wiring 138 can be formed by a sputtering method, a CVD method, or the like.
  • the flattening film 220 and the first layer 250a of the dam 250 are formed (FIG. 15A).
  • a photosensitive resin is formed on almost the entire surface of the substrate 102 so as to cover the display area 106 and the peripheral area.
  • the photosensitive resin is selected from photosensitive acrylic resin, epoxy resin, polysiloxane resin, polyimide resin, polyamide resin and the like.
  • the photosensitive resin can be formed by applying a spin coating method, a dip coating method, an inkjet method, a printing method, or the like, but may be formed by sticking a sheet-shaped resin.
  • the photosensitive resin is exposed through a photomask and then developed using an etchant, whereby the planarization film 220 and the first layer 250a are formed.
  • part of the opening for electrical connection between the driving transistor 150 and the display element 130 is formed in the planarization film 220 (FIG. 15A).
  • the second interlayer film 218 is further etched in this opening, and the source electrode 216 is exposed from the planarization film 220 (FIG. 15B).
  • connection pad 224 is formed so as to cover the openings formed in the planarization film 220 and the second interlayer film 218, and the additional capacitance electrode 172 is formed so as to cover a part of the upper surface of the planarization film 220. ..
  • These can also be formed by applying the CVD method or the sputtering method.
  • a protective conductive film 124 may be formed at the same time at the terminal 112 to protect the wiring 122 (see FIG. 13).
  • a third interlayer film 174 which covers the additional capacitance electrode 172 and a part of the connection pad 224 is formed (FIG. 15B).
  • the pixel electrode 132 is formed so as to overlap with the additional capacitance electrode 172
  • the second connection wiring 228 is formed so as to overlap part of the planarization film 220 and the first connection wiring 138 (FIG. 16A).
  • These films and wirings can also be formed by applying the CVD method or the sputtering method. Since the pixel electrode 132 and the second connection wiring 228 can be formed at the same time, they can have the same structure and can be in the same layer.
  • the additional capacitance 170 is formed (see FIG. 3).
  • the partition wall 222 and the second layer 250b of the dam 250 are formed so as to cover the end portion of the pixel electrode 132 and overlap with the first layer 250a of the dam 250 (FIG. 16A). Similar to the first layer 250a, these are also formed by applying a photosensitive resin on almost the entire surface of the substrate 102, exposing the photosensitive resin through a photomask, and performing development using an etchant. At this time, the opening 229 is also formed at the same time. By thus forming the barrier rib 222 and the second layer 250b of the dam 250 at the same time, they can be present in the same layer, have the same composition, and contain the same organic compound.
  • the dam 250 has a material contained in at least one of the flattening film 220 and the partition 222.
  • the first layer 250a and the second layer 250b may include the same material and have the same composition as the planarizing film 220 and the partition 222, respectively.
  • the stopper 250c is formed.
  • the stopper 250c is formed by forming a metal film or a film of an inorganic compound containing silicon on almost the entire surface of the substrate 102 by using a CVD method or a sputtering method, and forming the film by dry etching. Through the above steps, the dam 250 is formed (FIG. 16B).
  • the EL layer 134 is formed so as to cover the partition wall 222 and the pixel electrode 132, and the counter electrode 136 is further formed over the EL layer 134 (FIG. 17A). These are formed by a vapor deposition method or a sputtering method as well as a wet film forming method such as an inkjet method or a printing method.
  • the counter electrode 136 is formed not only to cover the EL layer 134 but also from the display region 106 to the peripheral region so as to be connected to the second connection wiring 228 in the opening 229.
  • the display element 130 is formed by the above steps.
  • the first inorganic film 232 is formed on substantially the entire surface of the substrate 102 by using the CVD method or the sputtering method. As a result, not only the display element 130 but also the dam 250 is covered with the first inorganic film 232 (FIG. 17A).
  • the organic film 234 is formed (FIG. 17B).
  • the organic film 234 is formed by discharging and applying a raw material liquid that provides the organic film 234 onto the display region 106 by an inkjet method or a printing method, and then distilling off the solvent contained in the raw material liquid and/or reacting the precursor. To be done. If necessary, heating or light irradiation may be performed.
  • the raw material liquid is discharged/applied, the raw material liquid protruding from the display area 106 has a damming effect on the dam 250 (for example, the first dam 250-1 and the second dam 250-2) having the stopper 250c (see FIG.
  • the spread range is regulated, and as a result, the position and shape of the organic film 234 are precisely controlled.
  • the organic film 234 is provided so as not to overlap the second dam 250-2 but to overlap a part of the first dam 250-1. You may provide so that it may overlap a part or all.
  • the second inorganic film 236 is formed on the organic film 234 and the first inorganic film 232 by using the CVD method or the sputtering method (FIG. 17B). Since the second inorganic film 236 is also formed on almost the entire surface of the substrate 102, the second inorganic film 236 overlaps the first dam 250-1 to the fourth dam 250-4, and the third dam 250-3. The first inorganic film 232 is in contact with the second inorganic film 236 on the fourth dam 250-4. With this configuration, the organic film 234 is sealed by the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236.
  • the resin film 240 is formed (FIG. 17B). Similar to the organic film 234, the resin film 240 can be formed by using a raw material liquid by an inkjet method or a printing method. When the raw material liquid is discharged/applied, the raw material liquid protruding from the display area 106 has a damming effect on the dam 250 (for example, the third dam 250-3 and the fourth dam 250-4) having the stopper 250c (see FIG. As shown in FIGS. 9A to 9C), the spread range is regulated, and as a result, the position and shape of the resin film 240 are precisely controlled. In the example shown here, the resin film 240 is provided so as not to overlap the fourth dam 250-4 but to overlap a part of the third dam 250-3. You may provide so that it may overlap a part or all.
  • the manufacturing method of this embodiment provides a highly reliable display device.
  • the touch sensor 300 is provided on the display area 106 so as to overlap the display element 130. Specifically, as shown in FIG. 18, a plurality of first touch electrodes 302 arranged in stripes in the column direction and a plurality of first touch electrodes 302 arranged in stripes in the row direction and intersecting the first touch electrodes 302.
  • the second touch electrode 304 is arranged on the display area 106.
  • One of the first touch electrode 302 and the second touch electrode 304 is also referred to as a transmission electrode (Tx), and the other is also referred to as a reception electrode (Rx).
  • the first touch electrode 302 and the second touch electrode 304 each include a plurality of regions (diamond electrodes) having a substantially rectangular shape. In the first touch electrode 302 or the second touch electrode 304, adjacent diamond electrodes are electrically connected by a bridge electrode (described later).
  • the first touch electrode 302 and the second touch electrode 304 are electrically separated from each other with an insulating film (capacitance insulating film 306) not shown in FIG. 18 interposed therebetween, and a capacitance is formed between them.
  • a human finger or the like touches the display area 106 through the first touch electrode 302 and the second touch electrode 304 (hereinafter, this operation is also referred to as touch), and the capacitance is changed. By reading this change, touch is performed. The position of is determined. In this way, the first touch electrode 302 and the second touch electrode 304 form a so-called projected capacitive touch sensor 300.
  • Each diamond electrode may include a conductive oxide that transmits visible light such as ITO or IZO, or may be a mesh-shaped metal film. In the latter case, it is preferable to configure the diamond electrode so that the opening of the mesh overlaps the pixel 104.
  • FIG. 19 shows a schematic sectional view of two adjacent pixels 104.
  • FIG. 19 corresponds to FIG.
  • the touch sensor 300 is provided on the passivation film 230.
  • the first touch electrode 302 and the second touch electrode 304 are arranged on the second inorganic film 236 through an insulating film (not shown).
  • a capacitor insulating film 306 is provided over the first touch electrode 302 and the second touch electrode 304, and a bridge electrode 308 is formed so as to overlap with an opening provided in the capacitor insulating film 306.
  • the bridge electrode 308 electrically connects adjacent diamond electrodes.
  • the first touch electrode 302, the second touch electrode 304, and the capacitive insulating film 306 are the basic structure of the touch sensor 300.
  • the second touch electrode 304 may be provided on the first touch electrode 302 so as to sandwich the capacitor insulating film 306. In this case, the first touch electrode 302 and the second touch electrode 304 exist in different layers.
  • a protective insulating film 320 is provided on the touch sensor 300, and the polarizing plate 400 can be arranged directly thereon or via an insulating film (not shown). Although not shown, a protective insulating film or a counter substrate may be further arranged on the polarizing plate 400.
  • FIG. 20 shows a schematic top view of the structure of the four corners of the display device 330.
  • the structures of the display element 130, the passivation film 230, the touch sensor 300, the polarizing plate 400, etc. are omitted.
  • the display device 330 includes at least one dam 250 having a stopper 250c so as to surround the display region 106.
  • the display device 330 further includes an additional dam 254 between the dam 250 and the terminal 112. Although the additional dam 254 of the present embodiment is selectively formed in the area between the display area 106 and the terminal 112, the additional dam 254 may be provided so as to surround the display area 106 and the dam 250.
  • FIG. 21 is a schematic sectional view of the upper peripheral region region 118-1 (see FIG. 18).
  • FIG. 21 corresponds to FIG.
  • the display device 330 includes a buffer insulating film (also referred to as a buried insulating film) 244 in the peripheral region.
  • the buffer insulating film 244 covers the dam 250 and the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 that cover the dam 250.
  • the stopper 250c is embedded in the buffer insulating film 244, and the buffer insulating film 244 absorbs the unevenness of the dam 250 to provide a flat upper surface and a gently sloping surface.
  • the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 are located in a region overlapping with the buffer insulating film 244 and are closed in this region.
  • the buffer insulating film 244 is provided on the display region 106 so as not to overlap with the pixel 104. Therefore, in the display region 106, the second inorganic film 236 is exposed from the buffer insulating film 244. It is preferable that the buffer insulating film 244 be formed so that its upper surface is aligned with the upper surface of the second inorganic film 236 exposed from the buffer insulating film 244. That is, it is preferable to form the buffer insulating film 244 so that a large step is not generated between the upper surface of the buffer insulating film 244 and the upper surface of the second inorganic film 236 exposed from the buffer insulating film 244.
  • the buffer insulating film 244 also includes an epoxy resin, an acrylic resin, a polycarbonate resin, a polyimide resin, a polyolefin resin, or the like, and can be formed by an inkjet method, a printing method, or the like.
  • the buffer insulating film 244 extends to the end of the substrate 102, and the end matches the end of the substrate 102.
  • the buffer insulating film 244 may be configured such that part of the substrate 102, the undercoat 202, the gate insulating film 206, the first interlayer film 212, or the second interlayer film 218 is exposed from the buffer insulating film 244. Good.
  • FIG. 22 is a schematic cross-sectional view of a region 118-2 (see FIG. 18) including a part of the left and right sides of the display device 330. 22 corresponds to FIG. 11.
  • the description of the same or similar configuration as that of the region 118-1 may be omitted.
  • the peripheral region is provided with the dam 250 and the buffer insulating film 244 that covers the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 that cover the dam 250.
  • a lead wiring 310 is connected to the first touch electrode 302 or the second touch electrode 304. The lead wire 310 extends to the peripheral region and further to the terminal 112.
  • FIG. 23 is a schematic cross-sectional view of a region 118-3 (see FIG. 18) located on the terminal 112 side of the lower peripheral region display region 106.
  • FIG. 23 corresponds to FIG. 13. Also in the following description, the description of the same or similar configuration as the regions 118-1 and 118-2 may be omitted.
  • the additional dam 254 is provided between the end of the substrate 102 and the dam 250 in the area 118-3.
  • the additional dam 254 is arranged so that the dam 250 is sandwiched between the flattening film 220 and the additional dam 254.
  • the additional dam 254 includes a material contained in at least one of the flattening film 220 and the partition 222.
  • the additional dam 254 can be formed at the same time as the flattening film 220 or at the same time as the partition 222.
  • the additional dam 254 may include the organic compound contained in the flattening film 220 and the first layer 250a, and may have the same composition as these.
  • the additional dam 254 may include the organic compound contained in the partition wall 222 and have the same composition.
  • the additional dam 254 can be configured so that its height is smaller than that of the dam 250. Further, the additional dam 254 does not necessarily have to include the stopper 250c. However, although not shown, like the dam 250, the additional dam 254 may have a two-layer structure, and in this case, it has the same structure as the pedestal of the dam 250 and may have the same height.
  • a dam 250 and a buffer insulating film 244 covering the dam 250 and the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 are provided in the peripheral region.
  • the buffer insulating film 244 contacts at least the side surface of the additional dam 254, the ridge between the side surface and the upper surface, or the upper surface.
  • the buffer insulating film 244 may overlap a part of the additional dam 254.
  • a lead wiring 310 connected to the first touch electrode 302 or the second touch electrode 304 extends on the second inorganic film 236 and the buffer insulating film 244.
  • the lead wiring 310 may be in contact with the second inorganic film 236 and the buffer insulating film 244.
  • the lead wire 310 is electrically connected to the terminal 112, so that a signal for detecting a touch is supplied to the first touch electrode 302 and the second touch electrode 304 from an external circuit (not shown).
  • the stopper 250c can be formed so as to include a zero-valent metal, when the stopper 250c and the lead wiring 310 come into contact with each other, the adjacent lead wiring 310 is electrically connected by the stopper 250c, A signal for detecting a touch cannot be independently applied to each of the first touch electrode 302 and the second touch electrode 304.
  • the buffer insulating film 244 is provided so as to overlap the dam 250, and the stopper 250c is covered with the buffer insulating film 244. Therefore, the stopper 250c is insulated from the lead wiring 310, and a short circuit between the stopper 250c and the lead wiring 310 is prevented. Further, the buffer insulating film 244 absorbs unevenness due to the dam 250 and forms a flat surface or a gently sloping upper surface. Since the lead wiring 310 is provided along this upper surface, cutting of the lead wiring 310 can be prevented.
  • the organic film 234 can be formed by an inkjet method or a printing method, and the spread of the raw material liquid is dam (for example, the first dam 250-1 or the second dam 250). -2) can be controlled. Therefore, the organic film 234 can be selectively formed in the first dam 250-1 or the second dam 250-2. As a result, the organic film 234 can be disposed so as to be sealed by the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236, and the passivation film 230 including these can surely cover the display region 106. Therefore, the display device 330 exhibits high reliability.
  • the buffer insulating film 244 can also be formed by an inkjet method or a printing method, and the spread of the raw material liquid is controlled by the additional dam 254. Therefore, the buffer insulating film 244 can be selectively formed in the additional dam 254, and the stopper 250c can be covered with the buffer insulating film 244. As a result, cutting of the lead wire 310 and conduction between the stopper 250c and the lead wire 310 can be effectively prevented.
  • FIG. 24A shows a structure in which the driver transistor 150, the wiring 272, the wiring 122, the signal line driver circuit 110, the second interlayer film 218, and the first connection wiring 138 are formed over the substrate 102. Since this structure can be manufactured by applying a known method or the method described in the first embodiment, the description will be omitted.
  • the flattening film 220, the first layer 250a of the dam 250, and the additional dam 254 are simultaneously formed on the second interlayer film 218. Subsequently, as described in the first embodiment, the second interlayer film 218 is etched in the opening for electrical connection between the driving transistor 150 and the display element 130, and the source electrode 216 is exposed from the flattening film 220. At the same time, the second interlayer film 218 is removed by etching in the region where the terminal 112 is formed (FIG. 24B). Subsequently, the additional capacitance electrode 172, the third interlayer film 174, the pixel electrode 132, and the second connection wiring 228 are formed (FIG. 24C).
  • any of these electrodes and films can be formed by applying the same method as the method described in the first embodiment.
  • the additional dam 254 is formed at the same time as the partition wall 222, it is not necessary to form the additional dam 254 when forming the planarization film 220 and the first layer 250a.
  • the partition wall 222 and the second layer 250b of the dam 250 are formed and the opening 229 is formed so as to cover the end portion of the pixel electrode 132 and the first layer 250a of the dam 250. (FIG. 25(A)). If the additional dam 254 is not formed when the planarizing film 220 and the first layer 250a are formed, the additional dam 254 is formed when the partition wall 222 is formed. After that, the same method as in the first embodiment is applied to form the stopper 250c (FIG. 25B).
  • an EL layer 134 is formed so as to cover the partition wall 222 and the pixel electrode 132, and a counter electrode 136 is formed over the EL layer 134. Further, a first inorganic film 232 is formed on the counter electrode 136. The first inorganic film 232 is also formed over the terminal 112 (FIG. 25B).
  • the organic film 234 is formed, and then the second inorganic film 236 is formed so as to cover the organic film 234.
  • the second inorganic film 236 is also formed over the terminal 112 (FIG. 26A).
  • the passivation film 230 is formed.
  • the EL layer 134, the counter electrode 136, and the passivation film 230 may be formed by the same method as in the first embodiment.
  • the raw material liquid that provides the organic film 234 is formed in a widening range by the dam 250 having the stopper 250c (for example, the first dam 250-1 or the second dam 250-2), and as a result, the organic film 234 The position and shape can be precisely controlled.
  • the organic film 234 is provided so as not to overlap the second dam 250-2 but to overlap a part of the first dam 250-1.
  • the organic film 234 may be provided so as to overlap part or all.
  • a resist mask 242 that overlaps the display region 106, the organic film 234, and part of the dam 250 is formed (FIG. 26B).
  • a solution or suspension of a photosensitive resin is discharged/applied on the display region 106 and the peripheral region so as to cover the organic film 234, and then the solvent is collected. By removing, a film of a photosensitive resin is formed. After that, exposure and development are performed through a photomask to form a resist mask 242.
  • the solution or suspension of the photosensitive resin forms a widened range by the dam 250 having the stopper 250c (for example, the third dam 250-3 or the fourth dam 250-4), and as a result,
  • the position and shape of the resist mask 242 can be precisely controlled.
  • the resist mask 242 is provided so as to partially overlap the first dam 250-1, the second dam 250-2, and the third dam 250-3, but the fourth dam is provided.
  • the resist mask 242 may be provided so as to overlap with part or all of 250-4.
  • first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 are also removed.
  • the wiring 122 or the protective conductive film 124 is exposed, and electrical connection with the connector 116 is possible.
  • the resist mask 242 is then removed by ashing or the like.
  • the buffer insulating film 244 is formed (FIG. 27B).
  • the buffer insulating film 244 is formed by discharging and applying a raw material liquid that provides the buffer insulating film 244 to the peripheral region by an inkjet method or a printing method, and then distilling off the solvent contained in the raw material liquid. If necessary, heating or light irradiation may be performed.
  • the additional dam 254 restricts the range in which the raw material liquid spreads, and as a result, the position and shape of the buffer insulating film 244 can be precisely controlled. Providing the additional dam 254 prevents the buffer insulating film 244 from being formed between the additional dam 254 and the terminal 112.
  • the terminal 112 and the connector 116 connected thereto can be arranged so as to overlap with the board 102.
  • the display device 330 can be housed in a small housing, and an electronic device with a high design is provided.
  • the buffer insulating film 244 exists in the bendable region, not only the display device 330 becomes difficult to bend, but also the buffer insulating film 244 may be cracked, which causes a decrease in reliability.
  • the additional dam 254 it is possible to precisely control the position and shape of the buffer insulating film 244, and thus it is possible to eliminate such a factor of reliability deterioration.
  • a structure of a display device 340 according to one of the embodiments of the present invention and a manufacturing method thereof will be described. Descriptions of the same or similar configurations as in the first and second embodiments may be omitted.
  • FIGS. 28, 29, and 30 are schematic cross-sectional views of the upper peripheral area, the left and right peripheral areas, and the lower peripheral area of the display device 340. These regions correspond to regions 118-1, 118-2 and 118-3 (see FIGS. 1 and 18), respectively, and FIGS. 28 to 30 are schematic sectional views of the display device 330 (see FIGS. 21, 22 and 22). 23) As shown in these figures, one of the differences between the display device 340 and the display device 330 is that the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 have a plurality of dams 250. The first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 may cover a part of the additional dam 254 (FIG. 30). It is possible to more reliably insulate the 310 from the stopper 250c.
  • FIGS. 31A and 31B Manufacturing Method A manufacturing method of the display device 340 is described with reference to FIGS. 31A and 31B. These figures correspond to FIG. Similar to the manufacturing of the display device 330, the first inorganic film 232, the organic film 234, and the second inorganic film 236 of the passivation film 230 are formed on almost the entire surface of the substrate 102 so as to cover the dam 250 and the additional dam 254 ( FIG. 31A). Up to this stage, the position and shape of the organic film 234 are controlled by the dam 250 having the stopper 250c.
  • a resist mask 242 is formed. As shown in FIG. 31A, the resist mask 242 is formed so as to cover all of the dam 250 and part of the additional dam 254, but it may be formed so as to cover all of the additional dam 254. ..
  • the resist mask 242 can be formed by forming a photosensitive resin over almost the entire surface of the substrate 102 so as to cover the display region 106, the dam 250, and the additional dam 254, and then performing exposure through a photomask and development. The exposure is performed so that the photosensitive resin remains on the display region 106, the dam 250, and a part of the additional dam 254 after development.
  • the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 are dry-etched using the resist mask 242 as an etching mask. Through this process, the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 exposed from the resist mask 242 are removed, and at the same time, the wiring 122 or the protective conductive film 124 is exposed at the terminal 112 (FIG. 31B). After that, the resist mask 242 is removed by ashing or the like, and the buffer insulating film 244 is formed as described in the second embodiment (FIG. 31B).
  • the buffer insulating film 244 is formed by an inkjet method, a printing method, or the like, and its position and shape can be controlled by the additional dam 254. Since the subsequent process is the same as that of the second embodiment, the description will be omitted.
  • FIGS. 32 to 35 are a schematic top view of the four corners of the display device 350, and a schematic cross-sectional view of the upper peripheral region, the left and right side peripheral regions, and the lower peripheral region, respectively. 23).
  • the display device 350 has two dams (a first dam 250-1 and a second dam 250-2), and a second dam 250-2 and a substrate 102.
  • the dam 250 having the stopper 250c is not provided between the ends.
  • An additional dam 254 is provided in the lower peripheral area.
  • the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 of the passivation film 230 may be arranged so as to overlap all of the dam 250 having the stopper 250c, and the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 of one dam (the first dam 250-1) may be arranged. It may be arranged so as to cover the whole and a part of another dam (here, the second dam 250-2).
  • the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 may be provided so as to cover the additional dam 254.
  • the buffer insulating film 244 covers the dam 250, so that the lead wiring 310 provided thereon is insulated from the stopper 250c. The position and shape of the buffer insulating film 244 are controlled by the additional dam 254.
  • the display device 350 having such an aspect since the number of the dams 250 can be reduced, it is possible to provide a display device having a smaller peripheral area, which improves the designability of the display device. Contribute.
  • FIG. 36A is a schematic sectional view showing a state in which the display element 130 is formed.
  • two dams 250 surrounding the display area 106 are formed, and an additional dam 254 is formed between the dam 250 and the terminal 112 in the lower peripheral area.
  • the passivation film 230 is formed (FIG. 36(B)).
  • the passivation film 230 can be formed by applying the same method as the method described in the second embodiment.
  • the position and shape of the organic film 234 are controlled by the two dams 250 provided in the peripheral region.
  • a resist mask 242 is formed.
  • the resist mask 242 is formed so as to cover the dam 250 and not the additional dam 254 (FIG. 37A).
  • the resist mask 242 may be formed so as to cover part or all of the additional dam 254.
  • the resist mask 242 can be formed by discharging/coating a photosensitive resin, exposing through a photomask, and developing, as described in the second embodiment. Since the position and the shape of the resist mask 242 are controlled by the photomask, the display device 350 does not need to separately provide the dam 250 for controlling the resist mask 242.
  • the first inorganic film 232 and the second inorganic film 236 exposed from the resist mask 242 are removed, and at the same time, the wiring 122 or the protective conductive film 124 is exposed at the terminal 112 (FIG. 37B).
  • the resist mask 242 is removed by ashing or the like, and the buffer insulating film 244 is formed as described in the second embodiment (FIG. 38).
  • the buffer insulating film 244 is formed by an inkjet method or a printing method, and its position and shape can be controlled by the additional dam 254 or the second dam 250-2. Since the subsequent process is the same as that of the second embodiment, the description will be omitted.
  • the positions and shapes of the passivation film 230, the resin film 240, the resist mask 242, and the buffer insulating film 244 can be precisely adjusted. It is possible to control the display device, and thereby a display device having high reliability can be provided with good reproducibility.
  • an EL display device is mainly illustrated as a disclosure example, but as another application example, another self-luminous display device, a liquid crystal display device, or an electronic paper type display having an electrophoretic element or the like. Any flat panel type display device such as a device can be used. Further, the present invention can be applied to small to large size without any particular limitation.
  • 100 display device, 102: substrate, 104: pixel, 106: display region, 108: scanning line drive circuit, 110: signal line drive circuit, 112: terminal, 114: drive IC, 116: connector, 118-1: region , 118-2: region, 118-3: region, 122: wiring, 122a: wiring, 122b: wiring, 124: protective conductive film, 130: display element, 132: pixel electrode, 134: EL layer, 136: counter electrode.

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Abstract

表示装置は、基板、トランジスタ、平坦化膜、表示素子、隔壁、および少なくとも一つのダムを備える。基板は、表示領域、および表示領域を囲む周辺領域を有する。トランジスタは表示領域上に位置する。平坦化膜は表示領域上に位置し、トランジスタを覆う。表示素子は平坦化膜上に位置し、トランジスタと電気的に接続される画素電極を備える。隔壁は画素電極の端部を覆う。少なくとも一つのダムは、周辺領域上に位置し、平坦化膜から離隔し、表示領域を囲む。少なくとも一つのダムは台座とストッパーを有する。台座は、平坦化膜と隔壁の少なくとも一方に含まれる材料を含む。

Description

表示装置
 本発明の実施形態の一つは、表示装置、および表示装置の製造方法に関する。例えば、有機発光素子に例示される表示素子を各画素に有する表示装置、およびその製造方法に関する。
 表示装置の一例として、有機EL(Electroluminescence)表示装置が知られている。有機EL表示装置は、基板上に形成された複数の画素内の各々に有機発光素子(以下、発光素子)を表示素子として備える。発光素子は一対の電極間に有機化合物を含む層(以下、EL層と記す)を有しており、一対の電極間に電流を供給することで駆動される。発光素子の駆動中、有機化合物は酸化あるいは還元されて荷電された状態をとり、さらにこれらが再結合することによって励起状態が生じる。このような荷電状態や励起状態などの活性種は、電気的に中性の状態、あるいは基底状態と比べて反応性が高いため、他の有機化合物と反応する、あるいは発光素子に浸入した水や酸素などの不純物と容易に反応する。このような反応は発光素子の特性に影響を与え、発光素子の効率の低下や寿命の低減の原因となる。
 このような特性劣化を抑制する方法として、無機化合物を含む膜と有機化合物を含む膜が積層された封止膜を用いることが提案されている。このような構造を有する封止膜を発光素子上に形成することで、不純物の侵入が効果的に抑制され、信頼性の高い表示装置を提供することができる(特許文献1参照)。
米国特許出願公開第2018/0226454号明細書
 本発明に係る実施形態の一つは、高い信頼性を有する表示装置、およびその製造方法を提供することを目的の一つとする。
 本発明の実施形態の一つは表示装置である。この表示装置は、基板、トランジスタ、平坦化膜、表示素子、隔壁、および少なくとも一つのダムを備える。基板は、表示領域、および表示領域を囲む周辺領域を有する。トランジスタは表示領域上に位置する。平坦化膜は表示領域上に位置し、トランジスタを覆う。表示素子は平坦化膜上に位置し、トランジスタと電気的に接続される画素電極を備える。隔壁は画素電極の端部を覆う。少なくとも一つのダムは、周辺領域上に位置し、平坦化膜から離隔し、表示領域を囲む。少なくとも一つのダムは台座とストッパーを有する。台座は、平坦化膜と隔壁の少なくとも一方に含まれる材料を含む。ストッパーは台座上に位置し、台座と接し、無機材料を含む。少なくとも一つのダムの台座の上面の一部は、ストッパーから露出される。
 本発明の実施形態の一つは表示装置である。この表示装置は、基板、トランジスタ、平坦化膜、表示素子、隔壁、少なくとも一つのダム、および付加ダムを備える。基板は、表示領域、および表示領域を囲む周辺領域を有する。トランジスタは表示領域上に位置する。平坦化膜は表示領域上に位置し、トランジスタを覆う。表示素子は平坦化膜上に位置し、トランジスタと電気的に接続される画素電極を備える。隔壁は画素電極の端部を覆う。少なくとも一つのダムは、周辺領域上に位置し、平坦化膜から離隔し、表示領域を囲む。付加ダムは周辺領域上に位置する。少なくとも一つのダムは、台座とストッパーを有し、平坦化膜と付加ダムに挟まれる。台座は、平坦化膜と隔壁の少なくとも一方に含まれる材料を含む。ストッパーは台座上に位置し、台座と接し、無機材料を含む。少なくとも一つのダムの台座の上面の一部は、ストッパーから露出される。
 本発明の実施形態の一つは表示装置を製造する方法である。この方法は、トランジスタを基板上に形成すること、トランジスタと重なる平坦化膜を形成すること、トランジスタと電気的に接続される画素電極を平坦化膜上に形成すること、画素電極の端部を覆う隔壁を形成すること、および平坦化膜を囲む少なくとも一つのダムを形成することを含む。少なくとも一つのダムは、台座とストッパーを有し、台座は、平坦化膜と隔壁の少なくとも一方に含まれる材料を含む。ストッパーは台座上に位置し、台座と接し、無機材料を含む。ストッパーは、少なくとも一つのダムの台座の上面の一部を露出するように形成される。
 本発明の実施形態の一つは表示装置を製造する方法である。この方法は、トランジスタを基板上に形成すること、トランジスタを覆う平坦化膜、および平坦化膜を囲む台座の第1の層を同時に形成すること、トランジスタと電気的に接続される画素電極を平坦化膜上に形成すること、画素電極の端部を覆う隔壁、および第1の層上の第2の層を同時に形成すること、ならびに第2の層に接するストッパーを第2の層上に形成することで、第1の層と第2の層とを含む台座、およびストッパーを備えるダムを形成することを含む。ストッパーは、第2の層の上面を露出するように形成される。
 本発明の実施形態の一つは表示装置を製造する方法である。この方法は、トランジスタを基板上に形成すること、トランジスタと重なる平坦化膜を形成すること、トランジスタと電気的に接続される画素電極を平坦化膜上に形成すること、画素電極の端部を覆う隔壁を形成すること、平坦化膜を囲む少なくとも一つのダムを形成すること、および付加ダムを形成することを含む。少なくとも一つのダムは、平坦化膜と付加ダムに挟まれる。少なくとも一つのダムは、台座とストッパーを備える。台座は、平坦化膜と隔壁の少なくとも一方に含まれる材料を含む。ストッパーは台座上に位置し、台座と接し、無機材料を含む。ストッパーは、少なくとも一つのダムの台座の上面の一部を露出するように形成される。
 本発明の実施形態の一つは表示装置を製造する方法である。この方法は、トランジスタを基板上に形成すること、トランジスタを覆う平坦化膜、平坦化膜を囲む台座の第1の層、および付加ダムを同時に形成すること、トランジスタと電気的に接続される画素電極を平坦化膜上に形成すること、画素電極の端部を覆う隔壁、および第1の層上の第2の層を同時に形成すること、ならびに第2の層に接するストッパーを第2の層上に形成することで、第1の層と第2の層とを含む台座、およびストッパーを備えるダムを形成することを含む。付加ダムは、ダムが平坦化膜と付加ダムに挟まれるように形成される。ストッパーは、第2の層の上面の一部がストッパーから露出されるように形成される。
本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的上面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の画素回路の等価回路。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的上面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的上面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置のダムの模式的断面図。 表示装置の製造工程を示す模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の製造工程を示す模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的上面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的上面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の製造方法を説明するための模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の製造方法を説明するための模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の製造方法を説明するための模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の製造方法を説明するための模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的上面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的上面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の製造方法を説明するための模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の製造方法を説明するための模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の製造方法を説明するための模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の製造方法を説明するための模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の製造方法を説明するための模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的上面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の製造方法を説明するための模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の製造方法を説明するための模式的断面図。 本発明の一実施形態に係る表示装置の製造方法を説明するための模式的断面図。
 以下、本発明の各実施形態について、図面等を参照しつつ説明する。但し、本発明は、その要旨を逸脱しない範囲において様々な態様で実施することができ、以下に例示する実施形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。
 図面は、説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。本明細書と各図において、既出の図に関して説明したものと同様の機能を備えた要素には、同一の符号を付して、重複する説明を省略することがある。
 本明細書と請求項において、ある一つの膜を加工して複数の膜を形成した場合、これら複数の膜は異なる機能、役割を有することがある。しかしながら、これら複数の膜は同一の工程で同一層として形成された膜に由来し、同一の材料を有する。したがって、これら複数の膜は同一層に存在しているものと定義する。
 本明細書および請求項において、ある構造体の上に他の構造体を配置する態様を表現するにあたり、単に「上に」と表記する場合、特に断りの無い限りは、ある構造体に接するように、直上に他の構造体を配置する場合と、ある構造体の上方に、さらに別の構造体を介して他の構造体を配置する場合との両方を含むものとする。
 本明細書および請求項において、「ある構造体が他の構造体から露出するという」という表現は、ある構造体の一部が他の構造体によって覆われていない態様を意味し、この他の構造体によって覆われていない部分は、さらに別の構造体によって覆われる態様も含む。
<第1実施形態>
 本実施形態では、一実施形態に係る表示装置100の構造とその製造方法を記述する。
1.全体構成
 表示装置100の模式的上面図を図1に示す。図1に示すように、表示装置100は基板102を有し、その上に複数の画素104が設けられる。画素104は複数の行と列を有するマトリクス状に配置される。画素104を包含する領域、およびこれを取り囲む領域がそれぞれ基板102の表示領域106と周辺領域として定義される。
 周辺領域には画素104を駆動するための駆動回路が設けられる。図1に示した例では、表示領域106を挟む二つの走査線駆動回路108や、アナログスイッチなどを含む信号線駆動回路110が設けられる。表示領域106や走査線駆動回路108、信号線駆動回路110からは、図示しない配線が基板102の一辺へ延び、基板102の端部で露出されて端子112を形成する。端子112は、フレキシブル印刷回路(FPC)基板などのコネクタ116と電気的に接続される。コネクタ116上、あるいは基板102上には、画素104を制御するための駆動IC114をさらに搭載してもよい。なお、信号線駆動回路110を周辺領域上に設けず、この機能を駆動IC114によって実現してもよい。
 以下の説明では、便宜上、表示装置100の端子112側を下部、端子112と反対側を上部とする。基板102や表示領域106が主に四つの辺で構成される四角形と見做すことができる場合、端子112側の辺を下辺、端子112と反対側の辺を上辺、上辺と下辺の間の辺を左右辺と呼ぶ。
2.画素
2-1.画素回路
 各画素104には、表示素子130を含む画素回路が設けられる。画素回路は走査線駆動回路108や信号線駆動回路110などによって駆動される。これにより、表示素子130の動作が制御され、その結果、画像を表示領域106上に表示することが可能となる。以下、表示素子130として発光素子を用いる例を用いて画素回路を説明する。
 画素回路の構成は任意に選択することができ、その一例を等価回路として図2に示す。図2に示した画素回路は、表示素子130に加え、駆動トランジスタ150、発光制御トランジスタ154、補正トランジスタ152、初期化トランジスタ156、書込トランジスタ158、保持容量140、付加容量170を有している。高電位電源線180には高電位PVDDが与えられ、この電位が電流供給線182を介して各列に接続される画素104に与えられる。表示素子130、駆動トランジスタ150、発光制御トランジスタ154、補正トランジスタ152は、高電位電源線180と低電位電源線184との間で直列に接続される。低電位電源線184には低電位PVSSが与えられる。
 駆動トランジスタ150のゲートは、初期化トランジスタ156を介して第1の信号線188と電気的に接続されるとともに、書込トランジスタ158を介して第2の信号線186と電気的に接続される。第1の信号線188には初期化信号Viniが与えられ、第2の信号線186には映像信号Vsigが与えられる。書込トランジスタ158は、そのゲートに接続される書込制御走査線190に与えられる走査信号SGによって動作が制御される。初期化トランジスタ156のゲートは、初期化制御信号IGが与えられる初期化制御走査線192と接続され、初期化制御信号IGにより動作が制御される。
 補正トランジスタ152と発光制御トランジスタ154のゲートには、補正制御信号CGが印加される補正制御走査線194、発光制御信号BGが印加される発光制御走査線198がそれぞれ接続される。駆動トランジスタ150のドレインには、補正トランジスタ152を介し、リセット制御線196が接続される。リセット制御線196は、走査線駆動回路108に設けられるリセットトランジスタ160と接続される。リセットトランジスタ160はリセット制御信号RGによって制御され、これによりリセット信号線200に与えられるリセット電位Vrstを補正トランジスタ152を介して駆動トランジスタ150のドレインに印加することができる。
 駆動トランジスタ150のソースとゲートとの間に保持容量140が設けられ、駆動トランジスタ150のソースと低電位電源線184の間に付加容量170が設けられる。図示しないが、付加容量170は、両端子がそれぞれ駆動トランジスタ150のソースと高電位電源線180に接続されるように配置してもよい。
 信号線駆動回路110、または/および駆動IC114は、第1の信号線188と第2の信号線186に初期化信号Viniと映像信号Vsigをそれぞれ出力する。一方、走査線駆動回路108は、書込制御走査線190に走査信号SGを出力し、初期化制御走査線192に初期化制御信号IGを出力し、補正制御走査線194に補正制御信号CGを出力し、発光制御走査線198に発光制御信号BGを出力し、リセットトランジスタ160のゲートにリセット制御信号RGを出力する。
 図2に示した画素回路はあくまで一例であり、トランジスタや容量などの素子の数や接続関係に制約はない。
2-2.断面構造
 隣接する二つの画素104の断面模式図を図3に示す。図3には、表示素子130やこれに接続される保持容量140、駆動トランジスタ150、付加容量170などを含む画素回路、画素回路上に設けられるパッシベーション膜230などが示されている。
(1)画素回路
 駆動トランジスタ150や保持容量140などの各種素子は、基板102上にアンダーコート202を介して設けられる。基板102は、この上に形成される回路を支持する機能を有し、ガラスや石英、あるいは高分子を含むことができる。基板102にポリイミドやポリアミド、ポリカルボナートなどの高分子を用いることで、表示装置100に可撓性を付与することができ、いわゆるフレキシブルディスプレイを提供することも可能である。
 駆動トランジスタ150は、半導体膜204、半導体膜204上のゲート絶縁膜206、ゲート絶縁膜206上のゲート電極210、ゲート電極210上の第1の層間膜212、第1の層間膜212上のドレイン電極214、ソース電極216などを有する。半導体膜204は、活性領域204a、活性領域204aを挟持する低濃度不純物領域204b、およびこれらを挟持する高濃度不純物領域204cなどを有してもよい。図3では駆動トランジスタ150はトップゲート構造のトランジスタとして描かれているが、画素回路を構成するトランジスタの構造に制約はなく、種々の構造のトランジスタを利用することができる。
 保持容量140は、半導体膜204の一部(高濃度不純物領域204c)、その上のゲート絶縁膜206、ゲート電極210と同一層に存在する容量電極208、容量電極208上の第1の層間膜212、およびソース電極216の一部によって構成される。ここで、ゲート絶縁膜206と第1の層間膜212は、保持容量140の誘電体として機能する。
 駆動トランジスタ150や保持容量140の上にはさらに、第2の層間膜218とその上の平坦化膜220が設けられる。第2の層間膜218は、画素回路中のトランジスタや容量などの素子に不純物が浸入することを防ぐために設けられる。平坦化膜220によって駆動トランジスタ150や保持容量140などに起因する凹凸が吸収され、平坦な面が形成される。
 平坦化膜220と第2の層間膜218には、ソース電極216に達する開口が設けらる。この開口と平坦化膜220の一部を覆う接続パッド224がソース電極216と接するように設けられるとともに、付加容量電極172が平坦化膜220上に形成される。接続パッド224と付加容量電極172を覆うように第3の層間膜174がさらに形成される。第3の層間膜174は、平坦化膜220に設けられた開口において接続パッド224の一部を覆わず、接続パッド224の上面を露出する。これにより、その上に設けられる表示素子130の画素電極132と接続パッド224間の電気的接続が可能となる。第3の層間膜174には、その上に設けられる隔壁(リブ、あるいはバンクとも呼ばれる)222と平坦化膜220の接触を許容するための開口226を設けてもよい。なお、接続パッド224や開口226の形成は任意である。接続パッド224を設けることで、引き続くプロセスにおいてソース電極216の表面の酸化を防止することができ、これによる接触抵抗の増大を抑制することができる。開口226は、平坦化膜220から水や酸素などの不純物を放出するための開口として機能することができ、これを設けることで画素回路中の半導体素子や表示素子130の信頼性を向上させることができる。
 第3の層間膜174上には、接続パッド224と付加容量電極172と重なるように画素電極132が設けられる。画素電極132は、第3の層間膜174と平坦化膜220に設けられる開口において、接続パッド224を介してソース電極216と電気的に接続される。付加容量電極172、第3の層間膜174、および画素電極132によって付加容量170が形成される。したがって、画素電極132は付加容量170と表示素子130によって共有される。
 アンダーコート202、ゲート絶縁膜206、第1の層間膜212、第2の層間膜218、第3の層間膜174には、例えばケイ素を含む無機化合物を用いることができる。ケイ素を含む無機化合物としては、酸素とケイ素を含む酸化ケイ素、酸素とケイ素、および窒素を含む酸化窒化ケイ素や窒化酸化ケイ素、ケイ素と窒素を含む窒化ケイ素などが挙げられる。これらの膜は単層構造を有していてもよく、積層構造を有していてもよい。平坦化膜220や隔壁222は有機化合物を含む。典型的な有機化合物としては、アクリル樹脂やエポキシ樹脂、ポリシロキサン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂などが例示される。
 ゲート電極210、容量電極208、ドレイン電極214、ソース電極216は、チタン、モリブデン、タングステン、タンタル、アルミニウム、銅、あるいは、これらの合金を含むように構成される。これらの電極は、例えばアルミニウムや銅などの高い導電性を有する金属をチタン、モリブデン、タングステン、タンタルなどの高融点金属で挟持した構造を有するように構成してもよい。
 表示素子130は、画素電極132、画素電極132上の対向電極136、および画素電極132と対向電極136に挟まれるEL層134によって構成される。画素電極132は、インジウムとスズの混合酸化物(ITO)やインジウムと亜鉛の混合酸化物(IZO)などの可視光に対して透過性を示す導電性酸化物、あるいは銀やアルミニウムなどの金属、もしくはこれらの金属の合金を含む。画素電極132は単層構造、積層構造のいずれを有してもよい。積層構造を有する場合、例えばITOやIZOなどの導電性酸化物を含む膜で金属を含む膜を挟持した構造を採用することができる。
 EL層134は、画素電極132と隔壁222を覆うように設けられる。ここでEL層134とは、画素電極132と対向電極136の間に設けられる層全体を指す。EL層134は複数の層から構成することができ、例えば電荷注入層、電荷輸送層、発光層、電荷ブロック層、励起子ブロック層など、種々の機能層を組み合わせて形成することができる。表示素子130は、すべての画素104間でEL層134の構造が同一となる、あるいは隣接する画素104間で構造が異なるように構成することができる。例えば発光層の構造や材料を隣接する画素104間で異なるようにEL層134を形成することで、隣接する画素104から異なる色の発光を得ることができる。すべての画素104において同一のEL層134を用いる場合には、カラーフィルタを設けることで、複数の発光色を得ることが可能となる。図3では、見やすさを考慮し、代表的な機能層として、ホール注入・輸送層、発光層、電子注入・輸送層が画素電極132から順に積層された構造が示されている。
 対向電極136は複数の画素104にわたって形成される。すなわち、対向電極136は複数の画素104によって共有される。対向電極136は、例えばITOやIZOなどの透光性を有する導電性酸化物、あるいはアルミニウム、マグネシウム、銀などの金属、もしくはこれらの合金を含む。EL層134で得られる発光を画素電極132を介して取り出す場合には、導電性酸化物を含むように画素電極132を形成し、対向電極136は、アルミニウムや銀などの可視光に対する反射率の高い金属を用いて形成される。一方、EL層134で得られる発光を対向電極136を介して取り出す場合には、画素電極132は、アルミニウムや銀などの可視光に対する反射率の高い金属を含むように形成され、対向電極136は可視光に対して透過性を示すように形成される。具体的には、ITOやIZOなどの導電性酸化物を含む膜、あるいは銀やマグネシウム、アルミニウムなどの金属を含み、可視光が透過可能な厚さを有する金属薄膜で対向電極136を構成することができる。
(2)パッシベーション膜
 表示領域106上には、表示素子130を保護するためのパッシベーション膜230が表示素子130と重なるように設けられる。パッシベーション膜230の構造は任意に選択することができるが、例えば図3に示すように、無機化合物を含む第1の無機膜232、有機化合物を含む有機膜234、および無機化合物を含む第2の無機膜236を有する積層構造をパッシベーション膜230に適用することができる。この場合、無機化合物としては上述したケイ素を含有する無機化合物を使用することができる。有機化合物としては、エポキシ樹脂やアクリル樹脂などの高分子を使用することができる。
 ガス透過性の低い第1の無機膜232と第2の無機膜236により、外部からの有機膜234や表示素子130への不純物の侵入を効果的に抑制することができる。有機膜234は比較的大きな厚さを有することができ、これにより、隔壁222、あるいは異物などに起因する凹凸を吸収して平坦な上面が与えられる。有機膜234が有するこの平坦化機能により、この上に形成される第2の無機膜236の平坦性が向上するとともに、第2の無機膜236に亀裂やピンホールが発生することを防ぐことができ、より効果的に表示装置100を保護することができる。
(3)その他の構成
 パッシベーション膜230上には、樹脂膜240を設けることができる。樹脂膜240は表示領域106を保護するとともに、後述するように、表示装置100の製造時において一時的に端子112を覆う第1の無機膜232と第2の無機膜236を除去するためのマスクとしても機能する。この樹脂膜240もエポキシ樹脂やアクリル樹脂などの高分子を含む。図示しないが、樹脂膜240上に偏光板や対向基板などを設けてもよい。
3.周辺領域
3-1.構造
 図4に、表示装置100の四隅の構造の模式的上面図を示す。この図では、表示素子130やパッシベーション膜230、樹脂膜240などの構成は省略されている。以下に述べるように、表示装置100は、表示領域106を囲む少なくとも一つのダム250を有している。少なくとも一つのダム250は複数のダム250で構成されてもよく、図4に示した例では、四つのダム(第1のダム250-1、第2のダム250-2、第3のダム250-3、第4のダム250-4)を有する例が示されている。以下、これらの構造を詳細に説明する。
3-2.上部周辺領域
 表示領域106に対して端子112と反対側に位置する領域118-1(図1参照)の上面模式図を図5に、図5の鎖線A-A´に沿った断面模式図を図6に示す。これらの図には、周辺領域、および周辺領域に近接する画素104の一部が示されている。
(1)周辺回路
 図6に示すように、基板102上部の周辺領域には、基板102の上辺とほぼ平行に延伸する一つ、あるいは複数の配線270、低電位電源線184、および低電位電源線184に接続される第1の接続配線138などが設けられる。配線270の数や用途、機能には制約はなく、例えば画素電極132にPVDDを与えるための高電位電源線180、駆動回路に種々の信号を伝達するための信号線として機能することができる。図6では、配線270、低電位電源線184はそれぞれゲート電極210、ソース電極216(ドレイン電極214)と同一の層内に存在する例が示されているが、配線270はソース電極216(ドレイン電極214)と同一の層に存在してもよく、低電位電源線184がゲート電極210と同一の層に存在してもよい。あるいは、配線270や低電位電源線184の両方、または一方は、ゲート電極210やソース電極216(ドレイン電極214)とは異なる層に形成される導電膜で形成してもよい。第1の接続配線138は、ITOやIZOなどの導電性酸化物、あるいはチタンやタングステン、モリブデン、タンタル、アルミニウムなどの金属を含むように構成される。
 対向電極136は、表示領域106から周辺領域へ延伸し、周辺領域において低電位電源線184と電気的に接続される。低電位電源線184は表示領域106の外周に沿って設けられるため、この構成により、表示領域106全体にわたって対向電極136の全体にほぼ同一の電位(PVSS)を供給することが可能となる。対向電極136と低電位電源線184とは直接接してもよいが、図6に示すように、第1の接続配線138や第2の接続配線228を介して電気的接続が行われてもよい。第2の接続配線228は平坦化膜220上に位置し、隔壁222に形成される複数の開口229において一部が隔壁222から露出される(図5、図6)。この開口229において対向電極136と第2の接続配線228が接続される。第2の接続配線228は画素電極132と同一工程で形成することが可能であり、このため、これらは同一の構造を有し、同一の層内に存在することができる。
(2)ダム
 表示領域106に設けられる平坦化膜220は、低電位電源線184の一部を覆うように、基板102の上辺方向にも延在する(図5、図6)。しかしながら周辺領域では、平坦化膜220の一部は除去され、残存する部分によってダム250の一部である第1の層250aが形成される。後述するように、平坦化膜220と第1の層250aは、有機化合物(第1の有機化合物)を含む材料を用い、同一の工程で形成することができる。したがって、平坦化膜220と第1の層250aは同一層内に存在し、同一の組成を有し、同一の有機化合物を含むことができる。なお、図6では、表示素子130の下に位置する平坦化膜220、および第2の接続配線228の下に位置する平坦化膜220は分離されているように描かれているが、ソース電極216と表示素子130の電気的接続に用いられる開口はこれらを完全に分離しない。
 隔壁222は第2の接続配線228の一部を覆うように、基板102の上辺方向にも延在する(図5、図6)。しかしながら平坦化膜220と同様、周辺領域では隔壁222の一部は除去され、残存する部分によってダム250の一部である第2の層250bが形成される。後述するように、隔壁222と第2の層250bは、有機化合物(第2の有機化合物)を含む材料を用い、同一の工程で形成することができる。したがって、隔壁222と第2の層250bは同一層内に存在し、同一の組成を有し、同一の有機化合物を含むことができる。第1の層250aと第2の層250bによって構成される部分をダム250の台座とも呼ぶ。
 ダム250の断面模式図を図7(A)に示す。各ダム250は、第1の層250a、第1の層250a上に位置し、第1の層250aと接する第2の層250bに加え、ストッパー250cを有する。図5、図6に示した例では、第1のダム250-1から第4のダム250-4は、それぞれ第1のストッパー250c-1から第4のストッパー250c-4を有する。台座と同様、各ストッパー250cも表示領域106を囲むように設けることができる(図4)。ストッパー250cは金属(0価の金属)、あるいは上述したケイ素含有無機化合物を含む。金属としては、アルミニウムやチタン、タングステン、モリブデン、タンタル、銅、あるいはこれを含む合金が挙げられる。ストッパー250cは、台座の上面、すなわち第2の層250bの上面の全ては覆わず、一部を覆う。換言すると、ストッパー250cの底面は、台座の第2の層250bの上面の一部と接し、第2の層250bの上面の一部はストッパー250cから露出する。
 第1の層250aと第2の層250bの高さの総和(すなわち、台座の高さ)H1は、ストッパー250cの高さH2と比較して大きく、例えば高さH1は高さH2の2倍以上25倍以下、2倍以上6倍以下、あるいは2倍以上5倍以下とすることができる(図7(A))。第1の層250aの底面の幅をダム250の幅W1、ストッパー250cの底面の幅をストッパー250cの幅W2とした場合、幅W1は幅W2よりも大きく、幅W2の2倍以上100倍以下、5倍以上50倍以下、あるいは10倍以上30倍以下となるよう、各台座とストッパー250cを構成することができる。台座の側面は基板102の法線から傾いており、その底面となす角、すなわち基板102の上面となす角は90°より小さい。より具体的には、第2の層250bの側面と基板102の上面の間の角度θ1は90°より小さい。一方、ストッパー250cの側面は、基板102の法線と平行、あるいはほぼ平行でも良く、あるいは法線から傾いてもよいが、ストッパー250cの側面とその底面となす角、すなわちストッパー250cの側面と基板102の上面となす角度θ2は角度θ1よりも大きい。このため、ストッパー250cの側面は、台座の側面と比較してより切り立った構造となる。
 各ダム250において、ストッパー250cの数は任意であり、例えば図7(B)に示すように、各ダム250は複数のストッパー250cを備えてもよい。また、隣接するダム250間で第1の層250aは繋がって一体化されていてもよい(図7(C))。平坦化膜220は、少なくともいずれか一つのダム250の第1の層250aから分離されるため、第1の層250aに侵入した不純物が平坦化膜220を経由して表示領域106へ輸送されることが防止される。これは、表示装置100の高い信頼性に寄与する。
(3)パッシベーション膜と樹脂膜の構造とその制御
 パッシベーション膜230の第1の無機膜232と第2の無機膜236は、有機膜234を包み込むように形成され、周辺領域では互いに接する(図6)。すなわち、有機膜234は第1の無機膜232と第2の無機膜236によって封止され、この構造により、有機膜234に不純物が浸入することが効果的に防止される。第1の無機膜232と第2の無機膜236は、ダム250の少なくとも一部と重なる。すなわち、第1の無機膜232と第2の無機膜236は一部のダム250と重なり、一部のダム250は第1の無機膜232と第2の無機膜236から露出する。樹脂膜240は、表示領域106においてのみならず、周辺領域でもパッシベーション膜230を覆い、その端部は第1の無機膜232と第2の無機膜236の端部と一致してもよい。換言すると、第1の無機膜232と第2の無機膜236は、樹脂膜240が重なる領域内に位置し、この領域内に閉ざされるように形成される。
 第1の層250a、第2の層250b、およびストッパー250cをそれぞれ備えるダム250は、パッシベーション膜230や樹脂膜240の位置や形状の制御に対して効果的に機能する。具体的には、第1のダム250-1、第2のダム250-2は、有機膜234の形状と位置を制御する機能を有し、一方、第3のダム250-3と第4のダム250-4は、樹脂膜240、および第1の無機膜232と第2の無機膜236の形状制御に寄与する。表示装置100の製造方法は後述するが、有機膜234や樹脂膜240は、インクジェット法や印刷法などを用いて形成される。具体的には、有機膜234や樹脂膜240の原料となる樹脂、あるいはその前駆体を含む溶液、もしくは懸濁液(以下、これらの溶液と懸濁液を総じて原料液と記す)を第1の無機膜232、あるいは第2の無機膜236上に吐出・塗布し、その後原料液の溶媒を溜去する、および/または前駆体を反応させることで有機膜234や樹脂膜240が形成される。一方、第1の無機膜232と第2の無機膜236は、スパッタリング法や化学気相堆積(CVD)法を利用して無機化合物を含む膜を基板102のほぼ全面に形成した後、その上に形成される樹脂膜240をマスクとしてドライエッチングすることで形成される。このことを考慮すると、パッシベーション膜230と樹脂膜240の位置と形状は、有機膜234を与える原料液の第1の無機膜232上での広がり、および樹脂膜240を与える原料液の第2の無機膜236上での広がりによって決定される。
 有機膜234を与える原料液は、表示領域106上においてピンホールを形成しないよう、表示領域106を確実に覆うように吐出・塗布されるため、原料液の一部は表示領域106からはみ出す。はみ出た原料液は第1のダム250-1によって堰き止めることができる。その結果、有機膜234を第1のダム250-1内に選択的に形成することができる。原料液が第1のダム250-1から外側に流出した場合においても、第2のダム250-2も原料液を堰き止める機能を有するため、第2のダム250-2よりも基板102端部側へ有機膜234が形成されることが防止される。
 同様に、樹脂膜240を与える原料液は、表示領域106と有機膜234を確実に覆うように吐出・塗布されるため、一部は表示領域106や有機膜234からはみ出す。はみ出た原料液は第3のダム250-3によって堰き止められる。その結果、第1のダム250-1や第2のダム250-2と重なる樹脂膜240を第3のダム250-3内に選択的に形成することができる。原料液が第3のダム250-3から外側に流出した場合には、第4のダム250-4によって原料液が堰き止められ、これにより、第4のダム250-4よりも基板102端部側へ樹脂膜240が形成されることが防止される。
 特に、本実施形態のダム250を用いることで、上述した原料液の広がりをより確実に制御することができる。これを図8(A)から図9(C)を用いて説明する。
 図8(A)はストッパー250cを持たないダム250とその上に形成された第1の無機膜232に対し、原料液252が表示領域106側から近付いた際の断面模式図である。第1の無機膜232や第2の無機膜236はダム250上に形成されるため、これらにもダム250に起因する凸部が形成される。表示領域106を覆うように吐出・塗布された原料液252は、一部が表示領域106から周辺領域へ流れ出し、図8(A)に示すように、ダム250に達する。原料液252の先端が、第1の無機膜232の凸部の下端(図中、a)に接すると、下端aでは第1の無機膜232の表面の角度(すなわち、表面の法線の方向)が大きく変化するため、原料液252の端部はこの下端aやその上の側面で留まる。これは、原料液252に表面張力が働くためである。図8(A)の状態に達した後にさらに原料液252が加えられても、原料液252に作用する重力が表面張力を上回らない限り、原料液252がダム250を乗り越えて広がらない。
 しかしながら、さらに過剰の原料液252が加えられると、原料液252に作用する重力が表面張力に打ち勝ち、原料液252の端部は下端aやその上の側面を越える。後述するように、第1の層250aと第2の層250bは有機化合物を含む感光性樹脂を露光、現像(ウエットエッチング)することで形成されるため、側面と上面の間の角は丸みを帯びる。この角の丸みは第1の無機膜232にも反映される。このため、一度側面を越えた原料液252は側面と上面の間の角で留まることができず、ダム250を一挙に乗り越えてしまい、原料液252の広がりを制御することができなくなる(図8(B))。
 一方、本実施形態では、ダム250はストッパー250cを有する。このため、ダム250上に形成される第1の無機膜232と第2の無機膜236は、台座に起因する凸部上に、ストッパー250cに起因する凸部(図9(A)における点線楕円内の構造)をさらに有する。ストッパー250cは無機化合物を含む膜をドライエッチングすることで形成される。このため、その側面と基板102の上面とがなす角度θ2は角度θ1よりも大きく、また、側面と上面の間の角は、第2の層250bのそれと比較すると丸みを帯びずに角張り、比較的明確なリッジを与える。このため、原料液252の先端が下端aに達した状態(図9(A))でさらに原料液252が吐出・塗布され、原料液が台座に起因する凸部の側面を超えた場合でも、原料液252はストッパー250cに起因する第1の無機膜232の凸部の下端(図9(B)中、b)やその側面、あるいは凸部のリッジ(図9(C)中、c)で留まることができる。ストッパー250cによりダム250が単に高くなるという効果のみならず、このようなメカニズムが働くため、本実施形態のダム250を適用することで、有機膜234や樹脂膜240の位置や形状をより精密に制御することが可能となる。
3-3.左右辺周辺領域
 表示装置100の左右辺の一部を含む領域118-2(図1参照)の上面模式図を図10に、図10の鎖線B-B´に沿った断面模式図を図11に示す。以下、領域118-1と同一、または類似する構成については説明を割愛することがある。
 図11に示すように、周辺領域には走査線駆動回路108に含まれるトランジスタなどが設けられる。領域118-1と同様(図6)、対向電極136は表示領域106から周辺領域へ延伸し、周辺領域において低電位電源線184と電気的に接続される。図10、図11に示すように、周辺領域には少なくとも一つのダム250が設けられ、それぞれのダム250はストッパー250cを備えている。これにより、表示装置100の左右の辺においても、有機膜234や樹脂膜240の位置や形状を精密に制御することができる。
3-4.下部周辺領域
 表示領域106の端子112側に位置する領域118-3(図1参照)の上面模式図を図12に、図12の鎖線C-C´に沿った断面模式図を図13に示す。以下の説明においても、領域118-1、118-2と同一、または類似する構成については説明を割愛することがある。
 図13に示すように、周辺領域には、アナログスイッチなどを備える信号線駆動回路110が形成され、さらに基板102の下辺とほぼ平行に延伸する一つ、あるいは複数の配線272、低電位電源線184、および低電位電源線184に接続される第1の接続配線138や第2の接続配線228などが設けられる。表示領域106と基板102の端部の間には、画素104や駆動回路へ種々の信号や電源を供給するための配線122が形成される。配線122は異なる層内に形成される複数の導電膜から形成することができ、例えば図13に示すように、駆動トランジスタ150のゲート電極210と同一層に存在する配線122a、およびソース電極216(ドレイン電極214)と同一層に存在する配線122bを接続することで形成することができる。配線122は基板102の端部で露出されて端子112を形成する。端子112においては、配線122の上面は保護導電膜124で覆われていてもよい。保護導電膜124は、例えば画素電極132、あるいは接続パッド224と同時に形成され、これらと同一層に存在することができる。対向電極136は表示領域106から周辺領域へ延伸し、周辺領域において第1の接続配線138や第2の接続配線228を介して低電位電源線184と電気的に接続される。周辺領域には少なくとも一つのダム250が設けられ、それぞれのダム250はストッパー250cを備える。これにより、表示装置100の下辺においても、有機膜234や樹脂膜240の位置や形状を精密に制御することができる。
 表示装置100では、パッシベーション膜230と樹脂膜240によって表示素子130を含む画素回路が保護されるため、これらの位置や形状を精密に制御することで、表示装置100の信頼性を向上させることができる。上述したように表示装置100では、ストッパー250cを有するダム250を少なくとも一つ設けることで、有機膜234や樹脂膜240の位置や形状が精密に制御される。このため、本実施形態を適用することで、不純物が表示装置100へ侵入することを効果的に抑制することができ、表示装置100は高い信頼性を示す。
4.製造方法
 表示装置100の製造方法を図14(A)から図17(B)を用いて説明する。これの図は、図6に対応する断面模式図である。
 図14(A)に、基板102上に駆動トランジスタ150、配線270、低電位電源線184、およびこれらを覆う第2の層間膜218が形成された構造を示す。この構造は公知の方法を適用することで作製できるため、その作製方法の説明は割愛する。
4-1.平坦化膜と第1の層の形成
 図14(B)に示すように、第2の層間膜218をエッチング加工し、第1の接続配線138と低電位電源線184との電気的接続のための開口を第2の層間膜218に形成する。その後、この開口を覆うように、第2の層間膜218上に第1の接続配線138を形成する(図14(C))。第1の接続配線138は、スパッタリング法やCVD法などを適用して形成することができる。
 この後、平坦化膜220、およびダム250の第1の層250aを形成する(図15(A))。具体的には、まず、表示領域106や周辺領域を覆うように、基板102のほぼ全面に感光性樹脂を形成する。感光性樹脂は、感光性を有するアクリル樹脂やエポキシ樹脂、ポリシロキサン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂などから選択される。感光性樹脂の形成は、スピンコート法やディップコーティング法、インクジェット法、印刷法などを適用して行うことができるが、シート状の樹脂を貼り付けることで行ってもよい。引き続き、感光性樹脂に対してフォトマスクを介して露光し、その後エッチャントを用いて現像することで平坦化膜220と第1の層250aが形成される。
 なお、この段階において、駆動トランジスタ150と表示素子130との電気的接続のための開口の一部が平坦化膜220に形成される(図15(A))。その後、この開口においてさらに第2の層間膜218がエッチングされ、ソース電極216が平坦化膜220から露出される(図15(B))。
4-2.ダムの形成
 引き続き、平坦化膜220と第2の層間膜218に形成された開口を覆うように接続パッド224を、平坦化膜220の上面の一部を覆うように付加容量電極172を形成する。これらもCVD法やスパッタリング法を適用して形成することができる。この時、同時に端子112において配線122を保護する保護導電膜124を形成してもよい(図13参照)。
 引き続き、付加容量電極172、および接続パッド224の一部を覆う第3の層間膜174を形成する(図15(B))。さらに付加容量電極172と重なるように画素電極132を、平坦化膜220の一部と第1の接続配線138と重なるように第2の接続配線228を形成する(図16(A))。これらの膜や配線も、CVD法やスパッタリング法を適用して形成することができる。画素電極132と第2の接続配線228は同時に形成することができるため、これらは同一の構造を有し、同一の層内に存在することができる。画素電極132の形成により、付加容量170が形成される(図3参照)。
 さらに、画素電極132の端部を覆うように、かつ、ダム250の第1の層250aと重なるように、隔壁222とダム250の第2の層250bを形成する(図16(A))。これらも第1の層250aと同様、感光性樹脂を基板102のほぼ全面に塗布し、フォトマスクを介した感光性樹脂の露光、エッチャントを用いる現像を行うことで形成される。この時、開口229も同時に形成される。このように隔壁222とダム250の第2の層250bを同時に形成することにより、これらは同一の層内に存在し、同一の組成を有し、同一の有機化合物を含むことができる。したがって、ダム250は、平坦化膜220と隔壁222の少なくとも一方に含まれる材料を有する。また、第1の層250aと第2の層250bはそれぞれ、平坦化膜220と隔壁222と同一の材料を含み、同一の組成を持つことができる。
 この後、ストッパー250cを形成する。ストッパー250cは、CVD法やスパッタリング法を用いて基板102のほぼ全面に金属膜、あるいはケイ素を含む無機化合物の膜を形成し、これをドライエッチングによって成形することで形成される。以上の工程により、ダム250が形成される(図16(B))。
4-3.表示素子の形成
 その後、隔壁222と画素電極132を覆うようにEL層134を形成し、さらにEL層134上に対向電極136を形成する(図17(A))。これらはインクジェット法や印刷法などの湿式成膜法の他、蒸着法やスパッタリング法を用いて形成される。対向電極136はEL層134を覆うのみならず、開口229において第2の接続配線228と接続されるよう、表示領域106から周辺領域に亘って形成される。以上の工程により、表示素子130が形成される。
4-4.パッシベーション膜の形成
 まず、CVD法、あるいはスパッタリング法を利用し、第1の無機膜232を基板102のほぼ全面に形成する。これにより、表示素子130のみならず、ダム250が第1の無機膜232によって覆われる(図17(A))。
 その後、有機膜234を形成する(図17(B))。有機膜234は、これを与える原料液をインクジェット法や印刷法により表示領域106上に吐出・塗布し、その後原料液に含まれる溶媒を溜去する、および/あるいは前駆体を反応させることで形成される。必要に応じ、加熱や光照射を行ってもよい。原料液を吐出・塗布する際、表示領域106からはみ出る原料液は、ストッパー250cを有するダム250(例えば第1のダム250-1、第2のダム250-2)の堰き止め効果(図9(A)から図9(C)参照)により、その広がる範囲が規制され、その結果、有機膜234の位置や形状が精密に制御される。ここで示した例では、有機膜234は第2のダム250-2と重ならずに第1のダム250-1の一部と重なるように設けられるが、第2のダム250-2の一部、あるいは全てと重なるように設けてもよい。
 その後、CVD法、あるいはスパッタリング法を利用し、有機膜234と第1の無機膜232の上に第2の無機膜236が形成される(図17(B))。第2の無機膜236も基板102のほぼ全面に形成されるため、第2の無機膜236は第1のダム250-1から第4のダム250-4と重なり、第3のダム250-3や第4のダム250-4上で第1の無機膜232は第2の無機膜236と接する。この構成によって有機膜234は第1の無機膜232と第2の無機膜236によって封止される。
4-5.樹脂膜の形成
 引き続き、樹脂膜240を形成する(図17(B))。有機膜234と同様、樹脂膜240も、原料液をインクジェット法や印刷法を利用して形成することができる。原料液を吐出・塗布する際、表示領域106からはみ出る原料液は、ストッパー250cを有するダム250(例えば第3のダム250-3、第4のダム250-4)の堰き止め効果(図9(A)から図9(C)参照)により、その広がる範囲が規制され、その結果、樹脂膜240の位置や形状が精密に制御される。ここで示した例では、樹脂膜240は第4のダム250-4と重ならずに第3のダム250-3の一部と重なるように設けられるが、第4のダム250-4の一部、あるいは全てと重なるように設けてもよい。
 その後、樹脂膜240をマスクとして用い、ドライエッチング加工を第1の無機膜232と第2の無機膜236に対して行い、第1の無機膜232と第2の無機膜236を部分的に除去する(図6)。この時、第3のダム250-3の一部と第4のダム250-4が露出されるだけでなく、端子112上に形成される第1の無機膜232と第2の無機膜236も除去される(図13参照)。これにより、導電性を有する配線122、あるいは保護導電膜124が露出し、コネクタ116との電気的接続が可能となる。以上の工程により、表示装置100が製造される。
 上述したように、本実施形態の製造方法を適用することで、パッシベーション膜230や樹脂膜240の位置や形状が精密に制御された表示装置を提供することができる。このため、本実施形態の製造方法により、信頼性の高い表示装置が提供される。
<第2実施形態>
 本実施形態では、本発明の実施形態の一つに係る表示装置330の構造とその製造方法を記述する。第1実施形態と同一、類似する構成については説明を割愛することがある。
1.全体構成
 表示装置330が第1実施形態の表示装置100と異なる点の一つは、前者では表示素子130と重なるように表示領域106上にタッチセンサ300が設けられる点である。具体的には図18に示すように、列方向にストライプ状に配列される複数の第1のタッチ電極302と、行方向にストライプ状に配列され、第1のタッチ電極302と交差する複数の第2のタッチ電極304が表示領域106上に配置される。第1のタッチ電極302と第2のタッチ電極304の一方は送信電極(Tx)、他方は受信電極(Rx)とも呼ばれる。第1のタッチ電極302と第2のタッチ電極304は、それぞれほぼ四角形の形状を有する複数の領域(ダイアモンド電極)を備える。第1のタッチ電極302、あるいは第2のタッチ電極304において、隣接するダイアモンド電極はブリッジ電極(後述)によって電気的に接続される。第1のタッチ電極302と第2のタッチ電極304は、図18では示されない絶縁膜(容量絶縁膜306)を介して互いに離間して電気的に独立しており、これらの間で容量が形成される。人の指などが第1のタッチ電極302と第2のタッチ電極304を介して表示領域106に触れる(以下、この動作をタッチとも呼ぶ)ことで容量が変化し、この変化を読み取ることでタッチの位置が決定される。このように、第1のタッチ電極302と第2のタッチ電極304により、いわゆる投影型静電容量方式のタッチセンサ300が形成される。
 各ダイアモンド電極は、ITOやIZOなどの可視光を透過する導電性酸化物を含んでもよく、あるいはメッシュ状の金属膜であってもよい。後者の場合、メッシュの開口部が画素104と重なるようにダイアモンド電極を構成することが好ましい。
2.断面構造
 隣接する二つの画素104の断面模式図を図19に示す。図19は図3に対応する。タッチセンサ300はパッシベーション膜230上に設けられる。具体的には、図示しない絶縁膜を介し、第2の無機膜236上に第1のタッチ電極302や第2のタッチ電極304が配置される。第1のタッチ電極302と第2のタッチ電極304上には容量絶縁膜306が設けられ、容量絶縁膜306に設けられる開口と重なるようにブリッジ電極308が形成される。ブリッジ電極308により、隣接するダイアモンド電極が電気的に接続される。第1のタッチ電極302、第2のタッチ電極304、および容量絶縁膜306がタッチセンサ300の基本構造である。図示しないが、容量絶縁膜306を挟むように、第1のタッチ電極302上に第2のタッチ電極304を設けてもよい。この場合、第1のタッチ電極302と第2のタッチ電極304は互いに異なる層に存在する。
 タッチセンサ300上には保護絶縁膜320が設けられ、その上に直接、あるいは図示しない絶縁膜を介して偏光板400を配置することができる。図示しないが、偏光板400上にはさらに保護絶縁膜や対向基板を配置してもよい。
3.周辺領域
3-1.構造
 図20に、表示装置330の四隅の構造の模式的上面図を示す。この図では、表示素子130やパッシベーション膜230、タッチセンサ300、偏光板400などの構成は省略されている。表示装置100と同様、表示装置330もストッパー250cを有するダム250が少なくとも一つ、表示領域106を囲むように備える。表示装置330はさらに、ダム250と端子112の間に、付加ダム254を有する。本実施形態の付加ダム254は、表示領域106と端子112の間の領域に選択的に形成されるが、表示領域106やダム250を囲むように付加ダム254を設けてもよい。
3-2.上部周辺領域
 領域118-1(図18参照)の断面模式図を図21に示す。図21は図6に対応する。図21に示すように、表示装置330は、周辺領域に緩衝絶縁膜(埋込絶縁膜とも呼ばれる)244を備える。緩衝絶縁膜244は、ダム250、およびダム250を覆う第1の無機膜232と第2の無機膜236を覆う。これにより、ストッパー250cは緩衝絶縁膜244に埋め込まれ、緩衝絶縁膜244はダム250による凹凸を吸収して平坦な上面となだらかに傾斜する面を与える。また、第1の無機膜232と第2の無機膜236は、緩衝絶縁膜244と重なる領域内に位置し、この領域内に閉ざされる。
 緩衝絶縁膜244は、表示領域106上では画素104と重ならないように設けられる。したがって表示領域106では、第2の無機膜236は緩衝絶縁膜244から露出する。緩衝絶縁膜244は、その上面と、緩衝絶縁膜244から露出する第2の無機膜236の上面とが一致するように形成することが好ましい。すなわち、緩衝絶縁膜244の上面と、緩衝絶縁膜244から露出する第2の無機膜236の上面とによって大きな段差が生じないよう、緩衝絶縁膜244を形成することが好ましい。緩衝絶縁膜244もエポキシ樹脂やアクリル樹脂、ポリカルボナート樹脂、ポリイミド樹脂、ポリオレフィン樹脂などを含み、インクジェット法や印刷法などを適用して形成することができる。
 図21に示した例では、緩衝絶縁膜244は基板102の端部まで伸び、その端部と基板102の端部が一致する。ただし、基板102、アンダーコート202、ゲート絶縁膜206、第1の層間膜212、あるいは第2の層間膜218の一部が緩衝絶縁膜244から露出するように緩衝絶縁膜244を構成してもよい。
3-3.左右辺周辺領域
 表示装置330の左右辺の一部を含む領域118-2(図18参照)の断面模式図を図22に示す。図22は、図11に対応する。以下、領域118-1と同一、または類似する構成については説明を割愛することがある。
 領域118-1と同様、図22に示すように、周辺領域には、ダム250、およびダム250を覆う第1の無機膜232と第2の無機膜236を覆う緩衝絶縁膜244が設けられる。第1のタッチ電極302、あるいは第2のタッチ電極304にはリード配線310が接続される。リード配線310は周辺領域へ延伸し、さらに端子112へ延伸する。
3-4.下部周辺領域
 表示領域106の端子112側に位置する領域118-3(図18参照)の断面模式図を図23に示す。図23は図13に対応する。以下の説明においても、領域118-1、118-2と同一、あるいは類似する構成については説明を割愛することがある。
 上述したように、領域118-3には、基板102の端部とダム250の間に付加ダム254が設けられる。付加ダム254は、平坦化膜220と付加ダム254によってダム250が挟まれるように配置される。付加ダム254は、平坦化膜220と隔壁222の少なくとも一方に含まれる材料を含む。後述するように、付加ダム254は平坦化膜220と同時、あるいは隔壁222と同時に形成することができる。前者の場合、付加ダム254は平坦化膜220や第1の層250aに含まれる有機化合物を含み、これらと同一の組成を有することができる。後者の場合、付加ダム254は隔壁222に含まれる有機化合物を含み、これと同一の組成を有することができる。
 図23に示すように、付加ダム254は、その高さがダム250よりも小さくなるように構成することができる。また、付加ダム254は必ずしもストッパー250cを備える必要は無い。ただし、図示しないが、ダム250と同様、付加ダム254も二層構造を有してもよく、この場合、ダム250の台座と同様の構造を有し、同様の高さを有することができる。
 領域118-1、118-2と同様、周辺領域には、ダム250、およびダム250を覆う第1の無機膜232と第2の無機膜236を覆う緩衝絶縁膜244が設けられる。図23に示すように、緩衝絶縁膜244は、少なくとも付加ダム254の側面、側面と上面の間のリッジ、あるいは上面と接する。緩衝絶縁膜244は付加ダム254の一部と重なってもよい。タッチセンサ300からは、第1のタッチ電極302、あるいは第2のタッチ電極304と接続されるリード配線310が第2の無機膜236や緩衝絶縁膜244上を延伸する。リード配線310は第2の無機膜236や緩衝絶縁膜244と接してもよい。リード配線310は端子112と電気的に接続され、これにより、タッチを検出するための信号が図示しない外部回路から第1のタッチ電極302と第2のタッチ電極304に供給される。
 上述したように、ストッパー250cは0価の金属を含むように形成することができるため、ストッパー250cとリード配線310が接すると、隣接するリード配線310がストッパー250cによって電気的に接続されてしまい、タッチを検出するための信号を第1のタッチ電極302と第2のタッチ電極304のそれぞれに独立して与えることができない。しかしながら、緩衝絶縁膜244はダム250と重なるように設けられ、ストッパー250cは緩衝絶縁膜244によって覆われる。このため、ストッパー250cはリード配線310から絶縁され、ストッパー250cとリード配線310との短絡が防がれる。また、緩衝絶縁膜244はダム250に起因する凹凸を吸収し、平坦な表面やなだらかに傾斜した上面を形成する。この上面に沿ってリード配線310が設けられるため、リード配線310の切断を防止することができる。
 表示装置100と同様、表示装置330においても、有機膜234はインクジェット法や印刷法で形成することができ、その原料液の広がりはダム(例えば第1のダム250-1や第2のダム250-2)によって制御することができる。このため、有機膜234を第1のダム250-1、あるいは第2のダム250-2内に選択的に形成することができる。その結果、有機膜234は第1の無機膜232と第2の無機膜236に封止され、かつ、これらを含むパッシベーション膜230が表示領域106を確実に覆うように配置することができる。したがって、表示装置330は高い信頼性を示す。
 同様に緩衝絶縁膜244もインクジェット法や印刷法で形成することができ、その原料液の広がりは付加ダム254によって制御される。このため、緩衝絶縁膜244を付加ダム254内に選択的に形成することができるとともに、ストッパー250cを緩衝絶縁膜244によって覆うことができる。その結果、リード配線310の切断や、ストッパー250cとリード配線310間の導通を効果的に防止することができる。
4.製造方法
 表示装置330の製造方法を図24(A)から図27(B)を用いて説明する。これらの図は、図23に対応する。
 図24(A)に、基板102上に駆動トランジスタ150、配線272、配線122、信号線駆動回路110、第2の層間膜218、および第1の接続配線138が形成された構造を示す。この構造は公知の方法や第1実施形態で述べた方法を適用することで作製できるため、説明は割愛する。
4-1.平坦化膜、第1の層、付加ダムの形成
 第2の層間膜218上に平坦化膜220、ダム250の第1の層250a、および付加ダム254を同時に形成する。引き続き、第1実施形態で述べたように、駆動トランジスタ150と表示素子130との電気的接続のための開口において第2の層間膜218がエッチングされ、ソース電極216が平坦化膜220から露出されるとともに、端子112が形成される領域において第2の層間膜218がエッチングにより除去される(図24(B))。引き続き、付加容量電極172、第3の層間膜174、画素電極132、および第2の接続配線228を形成する(図24(C))。これらの電極や膜はいずれも第1実施形態で述べた方法と同様の方法を適用して形成することができる。図示しないが、付加ダム254を隔壁222と同時に形成する場合には、平坦化膜220と第1の層250aの形成時に付加ダム254を形成する必要は無い。
 この後、画素電極132の端部を覆うように、かつ、ダム250の第1の層250aを覆うように、隔壁222とダム250の第2の層250bを形成するとともに、開口229を形成する(図25(A))。平坦化膜220と第1の層250aの形成時に付加ダム254を形成しない場合には、隔壁222を形成する際に付加ダム254が形成される。この後、第1実施形態と同様の方法を適用し、ストッパー250cを形成する(図25(B))。
4-2.表示素子とパッシベーション膜の形成
 その後、隔壁222と画素電極132を覆うように、EL層134を形成し、EL層134上に対向電極136を形成する。さらに対向電極136上に第1の無機膜232を形成する。第1の無機膜232は、端子112上にも形成される(図25(B))。
 その後、有機膜234を形成し、さらに有機膜234を覆うように第2の無機膜236を形成する。第2の無機膜236は、端子112上にも形成される(図26(A))。これによりパッシベーション膜230が形成される。EL層134や対向電極136、パッシベーション膜230は、第1実施形態と同様の方法によって形成すればよい。有機膜234を与える原料液は、ストッパー250cを有するダム250(例えば第1のダム250-1、あるいは第2のダム250-2)により、その広がる範囲が形成され、その結果、有機膜234の位置や形状を精密に制御することができる。ここで示した例では、有機膜234は第2のダム250-2とは重ならず第1のダム250-1の一部と重なるように設けられるが、第2のダム250-2の一部、あるいは全てと重なるように有機膜234を設けてもよい。
 引き続き、表示領域106や有機膜234、およびダム250の一部と重なるレジストマスク242を形成する(図26(B))。具体的には、インクジェット法や印刷法を利用し、感光性樹脂の溶液、あるいは懸濁液を、有機膜234を覆うよう、表示領域106や周辺領域上に吐出・塗布し、その後溶媒を溜去することで、感光性樹脂の膜を形成する。その後、フォトマスクを介する露光と現像を行うことでレジストマスク242が形成される。この時、感光性樹脂の溶液や懸濁液は、ストッパー250cを有するダム250(例えば第3のダム250-3、あるいは第4のダム250-4)により、その広がる範囲が形成され、その結果、レジストマスク242の位置や形状を精密に制御することができる。ここで示した例では、レジストマスク242は第1のダム250-1、第2のダム250-2、および第3のダム250-3の一部と重なるように設けられるが、第4のダム250-4の一部、あるいは全てと重なるようにレジストマスク242を設けてもよい。
 その後、レジストマスク242をマスクとして用い、ドライエッチング加工を第1の無機膜232と第2の無機膜236に対して行い、第1の無機膜232と第2の無機膜236を部分的に除去する(図27(A))。この時、端子112上に形成される第1の無機膜232と第2の無機膜236も除去される。これにより、配線122、あるいは保護導電膜124が露出し、コネクタ116との電気的接続が可能となる。レジストマスク242はその後アッシングなどにより除去される。
 この後、緩衝絶縁膜244を形成する(図27(B))。緩衝絶縁膜244は、これを与える原料液をインクジェット法や印刷法により周辺領域に吐出・塗布し、その後原料液に含まれる溶媒を溜去することで形成される。必要に応じ、加熱や光照射を行ってもよい。付加ダム254により、この原料液が広がる範囲が規制され、その結果、緩衝絶縁膜244の位置や形状を精密に制御することができる。付加ダム254を設けることで、緩衝絶縁膜244が付加ダム254と端子112の間に形成されることが防止される。付加ダム254と端子112の間で基板102を折り曲げることで、端子112やそれに接続されるコネクタ116を基板102と重なるように配置することができる。これにより、表示装置330を小型の筐体に収納することができ、デザイン性の高い電子デバイスが提供される。この時、折り曲げられる領域に緩衝絶縁膜244が存在すると、表示装置330が折り曲げにくくなるだけでなく、緩衝絶縁膜244にクラックが生じることがあり、これは信頼性の低下の原因となる。しかしながら、付加ダム254を設けることで、緩衝絶縁膜244の位置や形状を精密に制御することができるため、このような信頼性低下の要因を排除することが可能となる。
<第3実施形態>
 本実施形態では、本発明の実施形態の一つに係る表示装置340の構造とその製造方法を記述する。第1、第2実施形態と同一、類似する構成については説明を割愛することがある。
1.周辺領域の構造
 表示装置340の上部周辺領域、左右辺周辺領域、下部周辺領域の断面模式図をそれぞれ図28、図29、図30に示す。これらの領域はそれぞれ領域118-1、118-2、118-3((図1、図18参照)に対応し、図28から図30は表示装置330の断面模式図(図21、図22、図23)に対応する。これらの図に示すように、表示装置340が表示装置330と異なる点の一つは、第1の無機膜232と第2の無機膜236が、複数のダム250のすべてを覆う点である。第1の無機膜232と第2の無機膜236は、付加ダム254の一部を覆ってもよい(図30)。このような構成を採用することで、リード配線310をより確実にストッパー250cから絶縁することが可能となる。
2.製造方法
 表示装置340の製造方法を、図31(A)、図31(B)を用いて説明する。これらの図は図30に対応する。表示装置330の製造と同様、パッシベーション膜230の第1の無機膜232、有機膜234、第2の無機膜236をダム250と付加ダム254を覆うように、基板102のほぼ全面に形成する(図31(A))。この段階までで、有機膜234の位置と形状は、ストッパー250cを有するダム250によって制御される。
 この後、レジストマスク242を形成する。図31(A)に示すように、レジストマスク242は、ダム250のすべてを覆い、付加ダム254の一部を覆うように形成するが、付加ダム254のすべてを覆うように形成してもよい。レジストマスク242は、表示領域106やダム250、付加ダム254を覆うように感光性樹脂を基板102のほぼ全面に形成し、その後フォトマスクを介する露光、および現像によって形成することができる。露光は、感光性樹脂が現像後に表示領域106、ダム250、および付加ダム254の一部の上で残存するように行う。
 この後、レジストマスク242をエッチングマスクとして用い、第1の無機膜232と第2の無機膜236をドライエッチングする。この過程により、レジストマスク242から露出した第1の無機膜232と第2の無機膜236が除去され、同時に端子112において配線122、あるいは保護導電膜124が露出する(図31(B))。その後レジストマスク242をアッシングなどにより除去し、さらに第2実施形態で述べたように緩衝絶縁膜244を形成する(図31(B))。緩衝絶縁膜244はインクジェット法や印刷法などによって形成され、その位置や形状は付加ダム254によって制御することができる。その後の過程は第2実施形態のそれと同様なので、説明は割愛する。
<第4実施形態>
 本実施形態では、本発明の実施形態の一つに係る表示装置350の構造とその製造方法を記述する。第1から第3実施形態と同一、類似する構成については説明を割愛することがある。
1.周辺領域の構造
 表示装置350が表示装置330と相違する点の一つは、レジストマスク242の位置や形状を制御するためのダム(例えば表示装置330における第3のダム250-3や第4のダム250-4)を設けない点である。具体的な説明を図32から図35を用いて行う。これらの図はそれぞれ、表示装置350の四隅の上面模式図、および上部周辺領域、左右辺周辺領域、下部周辺領域の断面模式図であり、表示装置330の上面と断面の模式図(図20から図23)に対応する。
 これらの図に示されるように、表示装置350は二つのダム(第1のダム250-1と第2のダム250-2)を有しており、第2のダム250-2と基板102の端部の間には、ストッパー250cを有するダム250は設けられない。下部周辺領域には付加ダム254が設けられる。パッシベーション膜230の第1の無機膜232と第2の無機膜236は、ストッパー250cを有するダム250のすべてと重なるように配置してもよく、一つのダム(第1のダム250-1)の全体を覆い、他のダム(ここでは第2のダム250-2)の一部を覆うように配置してもよい。図示しないが、第1の無機膜232と第2の無機膜236は、付加ダム254を覆うように設けてもよい。緩衝絶縁膜244はダム250を覆い、これにより、その上に設けられるリード配線310がストッパー250cから絶縁される。緩衝絶縁膜244の位置と形状は、付加ダム254によって制御される。
 このような態様を有する表示装置350では、ダム250の数を低減することができるため、より周辺領域の面積の小さい表示装置を提供することができ、このことは表示装置のデザイン性の向上に寄与する。
2.製造方法
 表示装置350の製造方法を図36(A)から図38を用いて説明する。これらの図は、図35に対応する。
 第2実施形態の表示装置330と同様に、表示素子130までを形成する。図36(A)は、表示素子130までが形成された状態を示す断面模式図である。ここでは、表示領域106を囲むダム250は二つ形成され、下部周辺領域においては、ダム250と端子112の間に付加ダム254が形成される。
 引き続き、パッシベーション膜230を形成する(図36(B))。パッシベーション膜230は、第2実施形態で述べた方法と同様の方法を適用することで形成することができる。周辺領域に設けられる二つのダム250により、有機膜234の位置と形状が制御される。
 その後、レジストマスク242を形成する。ここで示した例では、レジストマスク242は、ダム250を覆い、付加ダム254を覆わないように形成される(図37(A))。図示しないが、付加ダム254の一部、あるいは全てを覆うようにレジストマスク242を形成してもよい。レジストマスク242は、第2実施形態で述べたように、感光性樹脂の吐出・塗布、フォトマスクを介した露光、および現像によって形成することができる。フォトマスクによってレジストマスク242の位置や形状が制御されるため、表示装置350では、レジストマスク242の制御のためのダム250を別途設けなくてもよい。
 引き続き、レジストマスク242から露出した第1の無機膜232と第2の無機膜236が除去され、同時に端子112において配線122、あるいは保護導電膜124が露出する(図37(B))。その後レジストマスク242をアッシングなどにより除去し、さらに第2実施形態で述べたように緩衝絶縁膜244を形成する(図38)。緩衝絶縁膜244はインクジェット法や印刷法などによって形成され、その位置や形状は付加ダム254、あるいは第2のダム250-2によって制御することができる。その後の過程は第2実施形態と同様であるため、説明は割愛する。
 以上述べたように、ストッパー250cを有するダム250を表示領域106を囲むように少なくとも一つ設けることにより、パッシベーション膜230や樹脂膜240、レジストマスク242、緩衝絶縁膜244の位置や形状を精密に制御することが可能となり、これにより、高い信頼性を有する表示装置を再現性良く提供することができる。
 上述した各実施形態の態様によりもたらされる作用効果とは異なる他の作用効果であっても、本明細書の記載から明らかなもの、または、当業者において容易に予測し得るものについては、当然に本発明によりもたらされるものと解される。
 本明細書においては、開示例として主にEL表示装置の場合を例示したが、他の適用例として、その他の自発光型表示装置、液晶表示装置、あるいは電気泳動素子などを有する電子ペーパ型表示装置など、あらゆるフラットパネル型の表示装置が挙げられる。また、中小型から大型まで、特に限定することなく適用が可能である。
 上述した各実施形態の態様によりもたらされる作用効果とは異なる他の作用効果であっても、本明細書の記載から明らかなもの、または、当業者において容易に予測し得るものについては、当然に本発明によりもたらされるものと解される。
 100:表示装置、102:基板、104:画素、106:表示領域、108:走査線駆動回路、110:信号線駆動回路、112:端子、114:駆動IC、116:コネクタ、118-1:領域、118-2:領域、118-3:領域、122:配線、122a:配線、122b:配線、124:保護導電膜、130:表示素子、132:画素電極、134:EL層、136:対向電極、138:第1の接続配線、140:保持容量、150:駆動トランジスタ、152:補正トランジスタ、154:発光制御トランジスタ、156:初期化トランジスタ、158:書込トランジスタ、160:リセットトランジスタ、170:付加容量、172:付加容量電極、174:第3の層間膜、180:高電位電源線、182:電流供給線、184:低電位電源線、186:第2の信号線、188:第1の信号線、190:書込制御走査線、192:初期化制御走査線、194:補正制御走査線、196:リセット制御線、198:発光制御走査線、200:リセット信号線、202:アンダーコート、204:半導体膜、204a:活性領域、204b:低濃度不純物領域、204c:高濃度不純物領域、206:ゲート絶縁膜、208:容量電極、210:ゲート電極、212:第1の層間膜、214:ドレイン電極、216:ソース電極、218:第2の層間膜、219:感光性樹脂、220:平坦化膜、222:隔壁、224:接続パッド、226:開口、228:第2の接続配線、229:開口、230:パッシベーション膜、232:第1の無機膜、234:有機膜、236:第2の無機膜、240:樹脂膜、242:レジストマスク、244:緩衝絶縁膜、250:ダム、250-1:第1のダム、250c-1:第1のストッパー、250-2:第2のダム、250c-2:第2のストッパー、250-3:第3のダム、250c-3:第3のストッパー、250-4:第4のダム、250c-4:第4のストッパー、250a:第1の層、250b:第2の層、250c:ストッパー、252:原料液、254:付加ダム、270:配線、272:配線、300:タッチセンサ、302:第1のタッチ電極、304:第2のタッチ電極、306:容量絶縁膜、308:ブリッジ電極、310:リード配線、320:保護絶縁膜、330:表示装置、340:表示装置、350:表示装置、400:偏光板

Claims (20)

  1.  表示領域、および前記表示領域を囲む周辺領域を有する基板、
     前記表示領域上のトランジスタ、
     前記表示領域上に位置し、前記トランジスタを覆う平坦化膜、
     前記平坦化膜上に位置し、前記トランジスタと電気的に接続される画素電極を備える表示素子、
     前記画素電極の端部を覆う隔壁、ならびに
     前記周辺領域上に位置し、前記平坦化膜から離隔し、前記表示領域を囲む少なくとも一つのダムを有し、
     前記少なくとも一つのダムは、
      前記平坦化膜と前記隔壁の少なくとも一方に含まれる材料を含む台座、および
      前記台座上に位置し、前記台座と接し、無機材料を含むストッパーを有し、
     前記少なくとも一つのダムの台座の上面の一部は、前記ストッパーから露出される表示装置。
  2.  前記無機材料は、ケイ素含有無機化合物と0価金属から選択される、請求項1に記載の表示装置。
  3.  前記台座は、
      前記平坦化膜に含まれる第1の有機化合物を含む第1の層、および
      前記第1の層上に位置し、前記第1の層と前記ストッパーに接し、前記隔壁に含まれる第2の有機化合物を含む第2の層を有する、請求項1に記載の表示装置。
  4.  前記ストッパーの側面と前記基板の上面の間の角度は、前記第2の層の側面と前記基板の前記上面の間の角度よりも大きい、請求項3に記載の表示装置。
  5.  前記表示領域上にパッシベーション膜をさらに有し、
     前記パッシベーション膜は、
      第1の無機膜、
      前記第1の無機膜上の有機膜、および
      前記有機膜上の第2の無機膜を有し、
     前記少なくとも一つのダムは複数のダムを有し、
     前記第1の無機膜と前記第2の無機膜は、前記複数のダムの少なくとも一つと重なる、請求項1に記載の表示装置。
  6.  前記第1の無機膜と前記第2の無機膜は、前記複数のダムと重なる、請求項5に記載の表示装置。
  7.  前記パッシベーション膜上に樹脂膜をさらに有し、
     前記樹脂膜は、前記複数のダムの少なくとも一つと重なる、請求項5に記載の表示装置。
  8.  前記第1の無機膜と前記第2の無機膜は、前記樹脂膜と重なる領域に位置する、請求項7に記載の表示装置。
  9.  前記表示領域上にタッチセンサをさらに有する、請求項1に記載の表示装置。
  10.  表示領域、および前記表示領域を囲む周辺領域を有する基板、
     前記表示領域上のトランジスタ、
     前記表示領域上に位置し、前記トランジスタを覆う平坦化膜、
     前記平坦化膜上に位置し、前記トランジスタと電気的に接続される画素電極を備える表示素子、
     前記画素電極の端部を覆う隔壁、
     前記周辺領域上に位置し、前記平坦化膜から離隔し、前記表示領域を囲む少なくとも一つのダム、ならびに
     前記周辺領域上の付加ダムを有し、
     前記少なくとも一つのダムは、前記平坦化膜と前記付加ダムに挟まれ、
     前記少なくとも一つのダムは、
      前記平坦化膜と前記隔壁の少なくとも一方に含まれる材料を含む台座、および
      前記台座上に位置し、前記台座と接し、無機材料を含むストッパーを有し、
     前記少なくとも一つのダムの台座の上面の一部は、前記ストッパーから露出される表示装置。
  11.  前記無機材料は、ケイ素含有無機化合物と0価金属から選択される、請求項10に記載の表示装置。
  12.  前記台座は、
      前記平坦化膜に含まれる第1の有機化合物を含む第1の層、および
      前記第1の層上に位置し、前記第1の層と前記ストッパーに接し、前記隔壁に含まれる第2の有機化合物を含む第2の層を有する、請求項10に記載の表示装置。
  13.  前記ストッパーの側面と前記基板の上面の間の角度は、前記第2の層の側面と前記基板の前記上面の間の角度よりも大きい、請求項12に記載の表示装置。
  14.  前記表示領域上にパッシベーション膜をさらに有し、
     前記パッシベーション膜は、
      第1の無機膜、
      前記第1の無機膜上の有機膜、および
      前記有機膜上の第2の無機膜を有し、
     前記少なくとも一つのダムは複数のダムを有し、
     前記第1の無機膜と前記第2の無機膜は、前記複数のダムの少なくとも一つと重なる、請求項10に記載の表示装置。
  15.  前記第1の無機膜と前記第2の無機膜は、前記複数のダムと重なる、請求項14に記載の表示装置。
  16.  前記複数のダムと重なる絶縁膜をさらに有する、請求項14に記載の表示装置。
  17.  前記絶縁膜は前記付加ダムと重なる、請求項16に記載の表示装置。
  18.  前記第1の無機膜と前記第2の無機膜の端部は、前記絶縁膜と重なる領域内に位置する、請求項16に記載の表示装置。
  19.  前記表示領域上のタッチセンサ、および
     前記タッチセンサと電気的に接続され、前記絶縁膜上を延伸する配線をさらに有する、請求項16に記載の表示装置。
  20.  前記付加ダムは、前記少なくとも一つのダムを囲む、請求項10に記載の表示装置。
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