WO2020090782A1 - 電磁波発生装置及び電磁波発生システム - Google Patents

電磁波発生装置及び電磁波発生システム Download PDF

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WO2020090782A1
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wave generation
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田中 博之
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パイオニア株式会社
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    • H01L29/06Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions
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    • H03B2200/0084Functional aspects of oscillators dedicated to Terahertz frequencies

Definitions

  • the present invention relates to an electromagnetic wave generation device and an electromagnetic wave generation system.
  • a device that performs nondestructive inspection using electromagnetic waves such as an X-ray inspection device, is known.
  • Such an apparatus includes a transmitter that transmits an electromagnetic wave and a receiver that receives the electromagnetic wave, and the electromagnetic wave is transmitted from the transmitter to the inspection object, and the signal transmitted or reflected by the inspection object is received by the receiver. Then, the presence of the inspection object is detected.
  • a resonance tunnel diode Resonant Tunneling Diode
  • An electromagnetic wave generation element such as an RTD has a low conversion efficiency of an electromagnetic wave output (or generated) to electric power input by applying a bias voltage, and an output per element is low. small. Therefore, when it is assumed to be used for a technique such as nondestructive inspection, it is necessary to simultaneously oscillate a plurality of electromagnetic wave generating elements to increase the total output. Along with this, the larger the number of electromagnetic wave generating elements that are simultaneously oscillated to increase the total output, the larger the power that is simultaneously consumed.
  • an electromagnetic wave generator including a plurality of electromagnetic wave generating elements, it is possible to reduce the instantaneous maximum power consumption during an electromagnetic wave generating operation.
  • the invention according to claim 1 is A plurality of electromagnetic wave generating elements divided into a plurality of groups, A control unit that oscillates the plurality of electromagnetic wave generation elements while shifting the timing in group units, It is an electromagnetic wave generator provided with.
  • the invention according to claim 13 is An electromagnetic wave generator according to any one of claims 1 to 12, An electromagnetic wave detection device that operates a plurality of electromagnetic wave detection elements divided into a plurality of groups while shifting the timing in group units, and detects the electromagnetic waves generated by the plurality of electromagnetic wave generation elements, It is an electromagnetic wave generation system equipped with.
  • FIG. 9 is a timing chart of the oscillation operation of each group during operation of the electromagnetic wave generation system of the first modified example.
  • 9 is a timing chart of the oscillation operation of each group during operation of the electromagnetic wave generation system of the second modified example. It is a timing chart of the oscillation operation of each group at the time of operation of the electromagnetic wave generation system of the third modified example. It is a schematic diagram of the electromagnetic wave generation part of the 4th modification.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of an electromagnetic wave generation system 10 of this embodiment.
  • FIG. 5 is a schematic diagram showing a state in which the measurement object MO is measured using the electromagnetic wave generation system 10 of the present embodiment.
  • the electromagnetic wave generation system 10 includes an electromagnetic wave generation device 20, an electromagnetic wave detection device 30, and a control device 40 (an example of a control unit).
  • the electromagnetic wave generation system 10 causes the electromagnetic wave generation device 20 to generate an electromagnetic wave W toward the measurement object MO, and causes the electromagnetic wave detection device 30 to detect the electromagnetic wave W transmitted or reflected by the measurement object MO, and the control device 40.
  • FIG. 2 is a schematic diagram of the electromagnetic wave generation device 20 and the control device 40.
  • the electromagnetic wave generation device 20 includes an electromagnetic wave generation unit 22 and a bias voltage generation unit 24 (hereinafter, referred to as voltage generation unit 24).
  • the electromagnetic wave generation unit 22 is connected to the voltage generation unit 24, and the voltage generation unit 24 is connected to the control device 40.
  • FIG. 3 is a schematic diagram of the electromagnetic wave generator 22.
  • the electromagnetic wave generation unit 22 includes a substrate 22A and a plurality of electromagnetic wave generation elements 22B.
  • the substrate 22A is, for example, long.
  • the longitudinal direction (an example of a linear direction) of the substrate 22A is the X direction
  • the lateral direction is the Y direction
  • the thickness direction is the Z direction.
  • the board 22A is a so-called printed wiring board on which a wiring pattern for mounting a plurality of electromagnetic wave generating elements 22B and for connecting an output terminal (not shown) of the voltage generator 24 is formed.
  • the number N of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B in the present embodiment is 100 as an example.
  • the electromagnetic wave generating elements included in the plurality of electromagnetic wave generating elements 22B are referred to as electromagnetic wave generating elements 22B01, 22B02, 22B03, ..., 22B98, 22B99, 22B100.
  • the electromagnetic wave generation elements 22B01, 22B02, 22B03, ..., 22B98, 22B99, 22B100 are arranged in the order described from one end side to the other end side in the X direction, as shown in FIG. In this state, it is mounted on one surface of the board 22A.
  • the number N is set to 100 for the sake of convenience, but the number N may not be 100 as long as it is 3 or more.
  • the number N may be 3 or more and less than 100, or may be more than 100.
  • the electromagnetic wave generation unit 22 is controlled by the control device 40 during the operation of the electromagnetic wave generation system 10 so as to be movable in a predetermined range in the Y direction (see FIG. 5). Therefore, the electromagnetic wave generation device 20 includes a drive mechanism (not shown) for moving the electromagnetic wave generation unit 22.
  • Each of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B is an element that generates a terahertz wave.
  • the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B are, for example, resonance tunnel diodes that generate an electromagnetic wave W having a center frequency of about 300 GHz (hereinafter, referred to as an oscillation frequency in this specification). Note that the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B may not be resonance tunnel diodes as long as they are elements that generate terahertz waves.
  • the terahertz wave is said to be an electromagnetic wave having a shorter wavelength than a millimeter wave and a longer wavelength than infrared.
  • the terahertz wave is an electromagnetic wave that has both properties of light waves and radio waves, and for example, transmits (or easily transmits) cloth, paper, wood, plastic, ceramics, etc., and does not transmit metal, water, etc. (or It is difficult to penetrate).
  • the frequency of the terahertz wave is an electromagnetic wave having a frequency of about 1 THz (wavelength corresponds to about 300 ⁇ m), but its range is not generally defined clearly. Therefore, in this specification, the range of the wavelength of the terahertz wave is defined as a range of 70 GHz or more and 10 THz or less.
  • the oscillation frequencies of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B of the present embodiment are set to around 300 GHz as an example. However, if the oscillation frequency is in the terahertz wave band, that is, if the oscillation frequency is in the range of 70 GHz or higher and 10 THz or lower, the oscillation frequencies of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B may not be around 300 GHz.
  • the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B of the present embodiment are divided into a plurality (20 pieces) of groups as an example.
  • each of the 20 groups is arranged in the order from the one end side to the multiple end side in the X direction in the order of the first group G1, the second group G2, the third group G3 ,. , 18th group G18, 19th group G19, and 20th group G20.
  • each group is composed of a combination of a plurality (five) of electromagnetic wave generating elements 22B.
  • the technical significance of dividing the plurality of electromagnetic wave generating elements 22B into a plurality of groups will be described later in the description of the operation of the electromagnetic wave generating system 10 of the present embodiment.
  • the number n of the plurality of groups is 20, and the number of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B forming each group is 5. However, if the number of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B forming each group is two or more, the number n of the plurality of groups may not be 20.
  • All the electromagnetic wave generating elements 22B01, 22B02, 22B03, 22B04, 22B05 that compose the first group G1 are, for example, elements that oscillate at oscillation frequencies of 310 GHz, 290 GHz, 300 GHz, 308 GHz, and 292 GHz, respectively. That is, the electromagnetic wave generating elements 22B01, 22B02, 22B03, 22B04, 22B05 of the first group G1 oscillate at different oscillation frequencies when the same bias voltage is applied.
  • the average value of the oscillation frequencies of all the electromagnetic wave generation elements 22B01, 22B02, 22B03, 22B04, 22B05 forming the first group G1 is 300 GHz
  • the maximum value of the oscillation frequency is 310 GHz
  • the minimum value of the oscillation frequency is 290 GHz.
  • each of the second group G2 to the twentieth group G20 all the electromagnetic wave generating elements 22B constituting each group are elements that oscillate at different oscillation frequencies. It is configured.
  • the difference between the average value and the maximum value and the minimum value of the oscillation frequencies in each of the second group G2 to the twentieth group G20 may not be the same as in the case of the first group G1.
  • the average value of the oscillation frequencies of each group may be about 300 GHz as an example, and the difference between the maximum value and the minimum value of the oscillation frequencies of each group may be 1 GHz or more and 100 GHz or less as an example.
  • the voltage generation unit 24 has a function of being controlled by the control device 40 and applying a bias voltage for causing the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B to oscillate to the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B.
  • the voltage generation unit 24 is composed of individual power supply units 2401, 2402, 2403, ..., 2498, 2499, 24100.
  • the individual power supply units 2401, 2402, 2403, ..., 2498, 2499, 24100 are respectively connected to the electromagnetic wave generating elements 22B01, 22B02, 22B03, ..., 22B98, 22B99, 22B100.
  • the voltage generation unit 24 of the present embodiment individually applies a bias voltage to the electromagnetic wave generation elements 22B01, 22B02, 22B03, ..., 22B98, 22B99, 22B100 of the electromagnetic wave generation unit 22.
  • the individual power supply units 2401, 2402, 2403, ..., 2498, 2499, and 24100 of this embodiment output bias voltages of the same magnitude under the control of the control device 40. Is set (see FIG. 6).
  • the control device 40 has a function of controlling the electromagnetic wave generation device 20, a function of controlling the electromagnetic wave detection device 30, and a function of analyzing the shape or the like of the measuring object MO based on the detection result of the electromagnetic wave W by the electromagnetic wave detection device 30.
  • the control device 40 has a storage unit 42.
  • the storage unit 42 stores a control program CP for the control device 40 to control the electromagnetic wave generation device 20 and the electromagnetic wave detection device 30 to perform the measurement operation of the measurement object MO.
  • the control device 40 controls the electromagnetic wave generation device 20 and the electromagnetic wave detection device 30 according to the control program CP to perform the measurement operation of the measurement object MO.
  • the specific function of the control device 40 will be described in the description of the operation of the electromagnetic wave generation system 10 of the present embodiment described later.
  • the electromagnetic wave detection device 30 has a function of detecting an electromagnetic wave W generated by the electromagnetic wave generation device 20 toward the measurement object MO and transmitted or reflected through the measurement object MO.
  • the electromagnetic wave detection device 30 includes an electromagnetic wave detection unit 32 and a drive mechanism (not shown) as an example.
  • the electromagnetic wave detection unit 32 has a long substrate 34 and a plurality of electromagnetic wave detection elements 36.
  • the long board 34 is a printed wiring board, and is arranged so as to face the electromagnetic wave generation section 22 with its longitudinal direction aligned with the X direction (see FIGS. 1 and 5).
  • the plurality of electromagnetic wave detection elements 36 are mounted on the surface of the substrate 34 facing the electromagnetic wave generator 22 in a state of being arranged from one end side to the other end side in the X direction of the substrate 34. That is, the electromagnetic wave detection unit 32 faces the electromagnetic wave generation unit 22 in a state along the same direction as the electromagnetic wave generation unit 22.
  • the number of the plurality of electromagnetic wave detection elements 36 is the same as the number N of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B, that is, 100 in the present embodiment.
  • the plurality of electromagnetic wave detection elements 36 are divided into a plurality (20 pieces) of groups as shown in FIG.
  • each of the 20 groups is arranged in order from one end side to the other end side in the X direction in the order of the first group H1, the second group H2, the third group H3 ,. , 18th group H18, 19th group H19, and 20th group H20.
  • each group is configured by a combination of a plurality (five) of electromagnetic wave detection elements 36.
  • the number of the plurality of electromagnetic wave detection elements 36 is 100, which is the same as the number N of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B, but if the number is the same as the number N of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B. The number does not have to be 100.
  • the technical significance of dividing the plurality of electromagnetic wave detection elements 36 into a plurality of groups will be described later in the description of the operation of the electromagnetic wave generation system 10 of the present embodiment.
  • the plurality of electromagnetic wave detection elements 36 are, for example, resonance tunnel diodes capable of detecting the electromagnetic waves W generated by the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B.
  • the plurality of electromagnetic wave detection elements 36 need not be resonance tunnel diodes as long as they are elements capable of detecting terahertz waves.
  • the drive mechanism (not shown) has a function of moving the electromagnetic wave detection unit 32 within a predetermined range in the Y direction under the control of the control device 40 during the operation of the electromagnetic wave generation system 10 (see FIG. 5).
  • FIG. 5 is a diagram showing a state in which the electromagnetic wave generator 22 and the electromagnetic wave detector 32 are located at the positions in the initial state.
  • the measurer sets the measurement object MO between the electromagnetic wave generation device 20 and the electromagnetic wave detection device 30, as shown in FIG.
  • the measurement object MO is arranged along the thickness direction Z direction (the direction in which the electromagnetic wave generation unit 22 and the electromagnetic wave detection unit 32 face each other).
  • the control device 40 controls the electromagnetic wave generation device 20 and the electromagnetic wave detection device 30 according to the control program CP stored in the storage unit 42.
  • the electromagnetic wave generation system 10 operates as follows.
  • the control device 40 controls the individual power supply units 2401 to 2405 of the voltage generation unit 24 to cause the individual power supply units 2401 to 2405 to output bias voltages of the same magnitude for a predetermined period (see FIGS. 1 and 6). ).
  • the electromagnetic wave generating elements 22B01 to 22B05 forming the first group G1 of the electromagnetic wave generating unit 22 oscillate for a period determined by the oscillation frequencies of 310 GHz, 290 GHz, 300 GHz, 308 GHz, and 292 GHz, respectively (see FIG. 3). ..
  • the electromagnetic waves W generated from the first group G1 are emitted toward the electromagnetic wave detection unit 32 side in the Z direction (see FIG. 1).
  • the control device 40 controls the five electromagnetic wave detection elements 36 forming the first group H1 of the electromagnetic wave detection unit 32 during the oscillation period of the first group G1 so as to control the five electromagnetic wave detection elements forming the first group H1.
  • the electromagnetic wave W that has passed through the envelope is detected by the electromagnetic wave detection element 36 (see FIGS. 1 and 4).
  • the control device 40 causes the electromagnetic wave detection unit 32 to transmit information about the electromagnetic wave W detected by the first group H1 of the electromagnetic wave detection unit 32 to the control device 40.
  • Information about the transmitted electromagnetic wave W is stored in the storage unit 42.
  • the control device 40 controls the individual power supply units 2406 to 2410 of the voltage generation unit 24 to cause the individual power supply units 2406 to 2410 to output the bias voltage of the same magnitude for a predetermined period (see FIGS. 1 and 6). ).
  • the electromagnetic wave generating elements 22B06 to 22B10 forming the second group G2 of the electromagnetic wave generating unit 22 oscillate at different oscillation frequencies for a predetermined period.
  • the control device 40 controls the five electromagnetic wave detection elements 36 that form the second group H2 of the electromagnetic wave detection unit 32 during the oscillation period of the second group G2 to make the five electromagnetic waves that form the second group H2.
  • the electromagnetic wave W that has passed through the envelope is detected by the electromagnetic wave detection element 36 (see FIGS. 1 and 4).
  • the control device 40 causes the electromagnetic wave detection unit 32 to transmit information about the electromagnetic wave W detected by the second group H2 of the electromagnetic wave detection unit 32 to the control device 40. Information about the transmitted electromagnetic wave W is stored in the storage unit 42.
  • the control device 40 controls the electromagnetic wave generation device 20 and the electromagnetic wave detection device 30 to oscillate the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B while shifting the timing in group units (see FIG. 6).
  • the storage unit 42 of the control device 40 stores information about the electromagnetic wave W at the initial position in the Y direction of the measurement object MO.
  • an operation of causing the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B to oscillate at a position determined in the Y direction by the control device 40 while shifting the timing in group units is referred to as a basic scan operation.
  • the electromagnetic wave detection device 30 causes the control device 40 to operate the plurality of electromagnetic wave detection elements 36 while shifting the timing in group units, and detect the electromagnetic waves W generated by the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B.
  • the basic scan operation of the present embodiment can be defined as follows. That is, the basic scan operation is a group in which the oscillation start timing of the m-th group (m is a natural number of 2 or more and n or less) oscillates to the (m-1) -th group when the number of groups is n
  • the control device 40 causes the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B to oscillate at the same time as the oscillation end timing.
  • control device 40 controls the drive mechanism of the electromagnetic wave generation device 20 and the drive mechanism of the electromagnetic wave detection device 30 to set the electromagnetic wave generation unit 22 and the electromagnetic wave detection unit 32 from one end side to the other end side in the Y direction. Move a distance. Then, the control device 40 controls the electromagnetic wave generation device 20 and the electromagnetic wave detection device 30 to cause the electromagnetic wave generation unit 22 and the electromagnetic wave detection unit 32 to perform the basic scan operation.
  • the control device 40 further moves the electromagnetic wave generation unit 22 and the electromagnetic wave detection unit 32 by a predetermined distance from one end side to the other end side in the Y direction, and causes the electromagnetic wave generation unit 22 and the electromagnetic wave detection unit 32 to perform a basic scan operation.
  • the control device 40 causes the electromagnetic wave generation device 20 and the electromagnetic wave detection device 30 to repeatedly perform the movement of the electromagnetic wave generation unit 22 and the electromagnetic wave detection unit 32 and the basic scan operation.
  • the control device 40 causes the electromagnetic wave generation unit 22 and the electromagnetic wave.
  • the detector 32 is moved to the initial position (see FIG. 5).
  • the storage unit 42 of the control device 40 stores information about the electromagnetic waves W transmitted from the electromagnetic wave detection unit 32 after each basic scan operation (each position in the Y direction). (One-dimensional information in) is stored.
  • the control device 40 combines the one-dimensional information at each position in the Y direction and converts it into a two-dimensional image in the moving range in the Y direction.
  • a portion containing the metal member and a portion not containing the metal member are displayed on a monitor (not shown) as, for example, a binarized image.
  • the shape of the measurement object MO (in the present embodiment, the shape of the metal member) is analyzed. After that, when the control device 40 moves the electromagnetic wave generation unit 22 and the electromagnetic wave detection unit 32 to the initial positions by the drive mechanism, the measurement operation of the measurement target MO of the electromagnetic wave generation system 10 of the present embodiment ends.
  • the first effect is the effect of oscillating the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B divided into a plurality of groups while shifting the timing in group units.
  • the instantaneous maximum power consumption maximum value of power consumption instantaneously consumed
  • the electromagnetic wave generation device 20 of the present embodiment oscillates the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B divided into a plurality of groups while shifting the timing in group units (see FIGS. 3 and 6).
  • the instantaneous maximum power consumption is the sum of the power consumption of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B forming each group. Therefore, the electromagnetic wave generation device 20 of the present embodiment can reduce the instantaneous maximum power consumption during the electromagnetic wave generation operation, as compared with the mode in which all of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B are simultaneously oscillated. Accordingly, the electromagnetic wave generation system 10 of the present embodiment can reduce the instantaneous maximum power consumption during the measurement operation of the measurement object MO. Note that this effect becomes more remarkable when the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B are elements that oscillate so-called terahertz waves.
  • the second effect is that at least one electromagnetic wave generation element 22B included in the same group oscillates at an oscillation frequency different from that of the other electromagnetic wave generation elements 22B.
  • the electromagnetic waves W emitted from each electromagnetic wave generation element 22B have a coherent relationship. Therefore, the electromagnetic waves W emitted from the respective electromagnetic wave generation elements 22B are likely to interfere with each other.
  • all the electromagnetic wave generation elements 22B included in each group of this embodiment have mutually different oscillation frequencies (see FIG. 3).
  • the electromagnetic waves W emitted from each electromagnetic wave generation element 22B are compared to the configuration in which all the electromagnetic wave generation elements 22B included in the group oscillate at the same oscillation frequency without a phase difference. Does not interfere (or is difficult to do).
  • the first effect can be obtained even in the case where all the electromagnetic wave generation elements 22B included in the group oscillate at the same oscillation frequency without a phase difference in order to explain this effect. It can be said that it plays. From this point, it can be said that “a configuration in which all the electromagnetic wave generation elements 22B included in the group oscillate at the same oscillation frequency without a phase difference” is included in the technical scope of the present invention.
  • the third effect is that the difference between the maximum value and the minimum value of the plurality of electromagnetic wave generating elements 22B included in the same group is set to 1 GHz or more and 100 GHz or less.
  • the difference between the maximum value and the minimum value of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B is 0 GHz ( ⁇ 1 GHz).
  • the electromagnetic waves W may interfere.
  • the electromagnetic wave detection unit 32 has a low detection accuracy of the electromagnetic wave W.
  • the difference between the maximum value and the minimum value of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B included in the same group is set to 1 GHz or more and 100 GHz or less. Therefore, according to the present embodiment, the electromagnetic wave W is less likely to be interfered with as compared with the configuration in which the difference between the maximum value and the minimum value of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B is less than 1 GHz, and the electromagnetic wave detection unit is greater than the configuration in which the difference is greater than 100 GHz. The detection accuracy of the electromagnetic wave W at 32 is high.
  • each group of the electromagnetic wave generation units 22 is configured by a combination of a plurality of electromagnetic wave generation elements 22B that are continuously arranged among the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B.
  • the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B of each group are continuously arranged in the X direction (see FIG. 3).
  • the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B forming each group generate the electromagnetic waves W in a lump. Therefore, the electromagnetic wave generators 20 of the present embodiment have a plurality of measurement target objects MO as compared with, for example, a configuration in which they are discontinuously arranged along the X direction (for example, refer to the third modified example of FIG. 13).
  • the electromagnetic waves W emitted from the electromagnetic wave generation element 22B can be concentrated and made incident.
  • the electromagnetic wave generation system 10 of the present embodiment has high measurement accuracy of the measurement object MO.
  • the electromagnetic wave generation system 10A of the present embodiment is different from that of the first embodiment in that the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B included in the electromagnetic wave generation unit 22 of the electromagnetic wave generation device 20A are grouped. Specifically, as shown in FIG. 7, the electromagnetic wave generating element 22B at the other end in the X direction of the first group G1 is replaced by the electromagnetic wave generating element 22B at one end in the X direction of the second group G2. Also serves as. Similarly, the electromagnetic wave generating element 22B at the other end in the X direction of the second group G2 also serves as the electromagnetic wave generating element 22B at the one end in the X direction of the third group G3.
  • a part of the electromagnetic wave generating elements 22B of the m-th group (m is a natural number of 1 or more) also serves as a part of the electromagnetic wave generating elements 22B of the (m + 1) th group.
  • the electromagnetic wave generating element 22B at one end and the electromagnetic wave generating element 22B at the other end in the X direction of each group in the case of the present embodiment are twice as large as those in the first embodiment.
  • the electromagnetic wave W is generated for the period. Therefore, in the case of the present embodiment, the detection accuracy of the electromagnetic wave W at the joint (boundary) portion of each group can be increased.
  • the other effects of this embodiment are similar to those of the first embodiment.
  • the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B forming each group of the electromagnetic wave generation unit 22 of the electromagnetic wave generation device 20B all have the same oscillation frequency.
  • the control device 40 causes all the electromagnetic wave generation elements 22B of each group to oscillate in different phases.
  • the “equivalent oscillation frequency” means, for example, a frequency in the range of 99.5% or more and 100.5% or less of the oscillation frequency A with respect to the oscillation frequency A.
  • the electromagnetic waves W emitted from each electromagnetic wave generation element 22B can be compared to the case where all the electromagnetic wave generation elements 22B included in the group oscillate at the same oscillation frequency without a phase difference. Hard to interfere (or not interfere).
  • the other effects of this embodiment are similar to those of the first embodiment.
  • all of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B forming each group of the electromagnetic wave generation unit 22 of the electromagnetic wave generation device 20C have the same oscillation frequency. That is, the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B of the present embodiment oscillate at the same oscillation frequency when the same bias voltage is applied.
  • the voltage generator 24 (see FIG. 2) of the electromagnetic wave generation device 20C of the electromagnetic wave generation system 10C according to the present exemplary embodiment is controlled by the control device 40 to cause the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B forming each group to operate. Different bias voltages are applied.
  • the voltage generation unit 24 in the present embodiment is an example of the voltage application unit. The above is the description of the portions of the present embodiment different from those of the first embodiment.
  • the voltage generation unit 24 controlled by the control device 40 applies different bias voltages to the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B forming each group.
  • the plurality of electromagnetic wave generating elements 22B oscillate at different oscillation frequencies.
  • the values indicated by the bars of the electromagnetic wave generating elements 22B01 to 22B05 in the graph of FIG. 9 indicate the oscillation frequencies when different bias voltages are applied to the respective elements. Therefore, in the electromagnetic wave generation device 20C of the present embodiment, the electromagnetic waves W emitted from each electromagnetic wave generation element 22B are less likely to interfere with each other as compared with the mode in which all the electromagnetic wave generation elements 22B included in the group oscillate at the same oscillation frequency ( Or do not interfere). The other effects of this embodiment are similar to those of the first embodiment.
  • the electromagnetic wave generation system 10 is, for example, a device that analyzes the shape or the like of the measuring object MO using the electromagnetic wave W.
  • the electromagnetic wave generation system does not have to be a device that analyzes the shape or the like of the measurement target MO as long as the electromagnetic waves are generated by oscillating the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B while shifting the timing in group units.
  • various sensors, tomography, and other systems may be used.
  • the above modification examples can also be applied to the second to fourth embodiments.
  • the number of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B forming each group is the same.
  • the numbers of the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B that configure each group may not be the same.
  • the above modification examples can also be applied to the second to fourth embodiments.
  • the above modification examples can also be applied to the second to fourth embodiments.
  • control device 40 is assumed to be a component different from the electromagnetic wave generation device 20 and the electromagnetic wave detection device 30.
  • the constituent elements that control the electromagnetic wave generation device 20 are regarded as a part of the electromagnetic wave generation device 20
  • the constituent elements that control the electromagnetic wave detection device 30 are part of the electromagnetic wave detection device 30. May be regarded as The above modification examples can also be applied to the second to fourth embodiments.
  • all the groups formed by the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B are combinations of the electromagnetic wave generation elements 22B having different oscillation frequencies.
  • the configuration (not shown) in which at least two electromagnetic wave generating elements 22B that oscillate at different oscillation frequencies are included in at least one group out of all the groups is different from the comparative configuration in the description of the second effect. Therefore, it can be said that the electromagnetic waves W are less likely to interfere with each other. Therefore, a mode (not shown) in which at least two electromagnetic wave generating elements 22B that oscillate at different oscillation frequencies are included in at least one group of all the groups belongs to the technical scope of the present invention. ..
  • the control device 40 oscillates all the electromagnetic wave generation elements 22B of each group in different phases.
  • at least one of the groups of the electromagnetic wave generation unit 22 includes at least two electromagnetic wave generation elements 22B that oscillate at the same oscillation frequency, and the at least two electromagnetic wave generation elements 22B oscillate at different phases.
  • the electromagnetic wave W emitted from each electromagnetic wave generation element 22B is less likely to interfere (or does not interfere) as compared with the comparative example of the third embodiment.
  • At least one of the groups of the electromagnetic wave generation unit 22 includes at least two electromagnetic wave generation elements 22B that oscillate at the same oscillation frequency, and the at least two electromagnetic wave generation elements 22B oscillate at different phases.
  • the mode (illustration omitted) is a mode that belongs to the technical scope of the present invention.
  • the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B forming each group of the electromagnetic wave generation unit 22 of the electromagnetic wave generation device 20C all have the same oscillation frequency, and the voltage generation unit 24 uses the plurality of the electromagnetic wave generation elements 22B. It is assumed that different bias voltages are applied to the electromagnetic wave generation element 22B. However, at least one group includes at least two electromagnetic wave generating elements that oscillate at the same oscillation frequency when the same bias voltage is applied, and the voltage applying unit has at least two electromagnetic wave generating elements different from each other.
  • the mode (not shown) in which different bias voltages are applied to at least two electromagnetic wave generating elements so as to oscillate at the oscillation frequency is the electromagnetic wave W emitted from each electromagnetic wave generating element 22B as compared with the comparative example of the fourth embodiment. Is difficult to interfere with (or does not interfere with). Therefore, at least one group includes at least two electromagnetic wave generating elements that oscillate at the same oscillation frequency when the same bias voltage is applied, and the voltage applying unit has at least two electromagnetic wave generating elements different from each other.
  • a mode (not shown) in which different bias voltages are applied to at least two electromagnetic wave generating elements so as to oscillate at the oscillation frequency is a mode within the technical scope of the present invention.
  • the oscillation start timing of the m-th group (m is a natural number of 2 or more and n or less) oscillates to the m-1th It is assumed that the timing is the same as the oscillation end timing of the group (see FIG. 6).
  • an example of setting the relationship between the oscillation start timing and the oscillation end timing of each group as shown in FIG. 6 is performed by oscillating the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B while shifting the timing in group units.
  • an example of causing the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B to oscillate while shifting the timing on a group-by-group basis may be, for example, the form of the first modification shown in FIG.
  • the oscillation start timing of the m-th group (m is a natural number of 2 or more and n or less) is after the oscillation end timing of the m-1st group. It may be. Even in the case of the first modified example, the same effect as that of the case of the first embodiment can be obtained.
  • an example of oscillating the plurality of electromagnetic wave generating elements 22B while shifting the timing in group units may be, for example, the form of a second modification shown in FIG. That is, when the number of the plurality of groups is n, the oscillation start timing of the m-th group (m is a natural number of 2 or more and n or less) is greater than the oscillation end timing of the m-1st group. You may come before. Even in the case of the first modified example, the same effect as that of the case of the first embodiment can be obtained.
  • the second modified example is effective in that the oscillation operation (measurement operation) can be completed in a shorter period than in the first to fourth embodiments and the first modified example.
  • an example of oscillating the plurality of electromagnetic wave generating elements 22B while shifting the timing in group units may be, for example, the form of a third modified example shown in FIG. That is, a mode in which the oscillation timings of the first embodiment, the first modified example, and the second modified example are combined may be used.
  • each group of the electromagnetic wave generation units 22 is configured by a combination of a plurality of electromagnetic wave generation elements 22B that are consecutively arranged among the plurality of electromagnetic wave generation elements 22B (see FIG. 3). ..
  • the plurality of electromagnetic wave generating elements 22B are divided into at least two or more groups, the combination of the plurality of electromagnetic wave generating elements 22B forming each group does not have to be arranged consecutively.
  • a plurality of electromagnetic wave generation elements 22B forming one group may be arranged discontinuously.

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Abstract

複数の電磁波発生素子を備えた電磁波発生装置において、電磁波の発生動作時の瞬間最大消費電力を低減する。具体的には、この電磁波発生装置は、複数のグループに分けられている複数の電磁波発生素子と、前記複数の電磁波発生素子をグループ単位でタイミングをずらしながら発振させる制御部と、を備える。例えば制御部は、複数のグループの数をn個とした場合に、m番目(mは2以上n以下の自然数)に発振するグループの発振開始タイミングがm-1番目に発振するグループの発振終了タイミングと同時又は後になるように、複数の電磁波発生素子を発振させる。

Description

電磁波発生装置及び電磁波発生システム
 本発明は、電磁波発生装置及び電磁波発生システムに関する。
 例えばX線検査装置のように、電磁波を利用して非破壊検査等を行う装置が知られている。このような装置は、電磁波を送信する送信器と、電磁波を受信する受信器とを備え、送信器から被検査物に向けて電磁波を送信し、被検査物で透過又は反射した信号を受信器で受信して、被検査物の存在を検出する。
 ところで、近年、上記のような装置において、電磁波にテラヘルツ波を利用することの期待が高まりつつある。テラヘルツ波を発生させる電磁波発生素子としては、例えば共鳴トンネルダイオード(Resonant Tunneling Diode、以下、RTDという。)が知られている。RTDのような電磁波発生素子は、バイアス電圧を印加することにより入力される電力に対して、出力される(或いは発生する)電磁波の電力への変換効率が低く、且つ、1素子当たりの出力が小さい。そのため、非破壊検査等の技術への利用を想定した場合、複数の電磁波発生素子を同時に発振させて総出力を大きくする必要がある。これに伴い、総出力を大きくするために同時に発振させる電磁波発生素子の数量を多くするほど、同時に消費される電力が大きくなる。
 本発明が解決しようとする課題としては、複数の電磁波発生素子を備えた電磁波発生装置において、電磁波の発生動作時の瞬間最大消費電力を低減することが一例として挙げられる。
 請求項1に記載の発明は、
 複数のグループに分けられている複数の電磁波発生素子と、
 前記複数の電磁波発生素子をグループ単位でタイミングをずらしながら発振させる制御部と、
 を備える電磁波発生装置である。
 請求項13に記載の発明は、
 請求項1~12のいずれか1項に記載の電磁波発生装置と、
 複数のグループに分けられている複数の電磁波検出素子をグループ単位でタイミングをずらしながら作動させ、前記複数の電磁波発生素子が発生した電磁波を検出する電磁波検出装置と、
 を備える電磁波発生システムである。
 上述した目的、およびその他の目的、特徴および利点は、以下に述べる好適な実施の形態、およびそれに付随する以下の図面によってさらに明らかになる。
第1実施形態の電磁波発生システムの概略図である。 第1実施形態の電磁波発生装置及び制御装置の概略図である。 第1実施形態の電磁波発生部の概略図である。 第1実施形態の電磁波検出装置を構成する電磁波検出部の概略図である。 第1実施形態の電磁波発生システムを用いて測定対象物を測定している状態を示す概略図である。 第1実施形態の電磁波発生システムの動作時における、複数のグループに分けられた複数のグループの発振動作のタイミングチャートである。 第2実施形態の電磁波発生部の概略図である。 第3実施形態の各グループの電磁波発生素子から発生する各電磁波の波形を示す図である。 第4実施形態の各グループに含まれ同等の発振周波数を有するすべての電磁波発生素子に、それぞれ異なるバイアス電圧を印加した場合の各電磁波発生素子の発振周波数を示す。 第1変形例の電磁波発生システムの動作時における、各グループの発振動作のタイミングチャートである。 第2変形例の電磁波発生システムの動作時における、各グループの発振動作のタイミングチャートである。 第3変形例の電磁波発生システムの動作時における、各グループの発振動作のタイミングチャートである。 第4変形例の電磁波発生部の概略図である。
≪概要≫
 以下、本発明の一例である、第1実施形態、第2実施形態及び第3実施形態並びに複数の変形例について図面を参照しながら説明する。なお、参照するすべての図面では同様の機能を有する構成要素に同様の符号を付し、明細書では適宜説明を省略する。
≪第1実施形態≫
 以下、第1実施形態について図面を参照しながら説明する。まず、本実施形態の電磁波発生システム10(図1及び図5参照)の機能及び構成について説明する。次いで、本実施形態の電磁波発生システム10の動作について説明する。次いで、本実施形態の効果について説明する。
<第1実施形態の電磁波発生システムの機能及び構成>
 図1は、本実施形態の電磁波発生システム10の概略図である。図5は、本実施形態の電磁波発生システム10を用いて測定対象物MOを測定している状態を示す概略図である。電磁波発生システム10は、電磁波発生装置20と、電磁波検出装置30と、制御装置40(制御部の一例)とを備えている。電磁波発生システム10は、一例として、測定対象物MOに向けて電磁波発生装置20に電磁波Wを発生させ、測定対象物MOを透過又は反射した電磁波Wを電磁波検出装置30に検出させ、制御装置40に測定対象物MOの形状等を解析させる機能を有する。
〔電磁波発生装置及び制御装置〕
 図2は、電磁波発生装置20及び制御装置40の概略図である。電磁波発生装置20は、電磁波発生部22と、バイアス電圧生成部24(以下、電圧生成部24という。)とを備えている。電磁波発生部22は電圧生成部24に接続され、電圧生成部24は制御装置40に接続されている。
(電磁波発生部)
 図3は、電磁波発生部22の概略図である。電磁波発生部22は、基板22Aと、複数の電磁波発生素子22Bとを有している。
 基板22Aは、図3に示されるように、一例として、長尺とされている。以下の説明では、基板22Aの長手方向(直線方向の一例)をX方向とし、短手方向をY方向とし、厚み方向をZ方向とする。基板22Aは、複数の電磁波発生素子22Bを実装するため及び電圧生成部24の出力端子(図示省略)を接合するための配線パターンが形成された、いわゆるプリント配線基板とされている。
 本実施形態における、複数の電磁波発生素子22Bの数量Nは、一例として、100個とされている。ここで、複数の電磁波発生素子22Bに含まれる各電磁波発生素子を、電磁波発生素子22B01、22B02、22B03、・・・、22B98、22B99、22B100とする。そして、電磁波発生素子22B01、22B02、22B03、・・・、22B98、22B99、22B100は、図3に示されるように、X方向の一端側から他端側に亘ってこれらの記載順で並べられた状態で、基板22Aの一方の面に実装されている。
 本実施形態の説明では、便宜上、数量Nを100個としたが、数量Nは3個以上であれば100個でなくてもよい。例えば、数量Nは、3個以上100個よりも少なくてもよいし、100個よりも多くてもよい。
 なお、電磁波発生部22は、電磁波発生システム10の動作時に、制御装置40に制御されて、Y方向の定められた範囲を移動可能とされている(図5参照)。そのため、電磁波発生装置20は、電磁波発生部22を移動させるための駆動機構(図示省略)を備えている。
 複数の電磁波発生素子22Bは、それぞれ、テラヘルツ波を発生させる素子とされている。そして、複数の電磁波発生素子22Bは、一例として、それぞれ300GHz前後の中心周波数(以下、本明細書では発振周波数という。)の電磁波Wを発生させる共鳴トンネルダイオードとされている。なお、複数の電磁波発生素子22Bは、テラヘルツ波を発生させる素子であれば、共鳴トンネルダイオードでなくてもよい。
 ここで、テラヘルツ波とは、ミリ波よりも短波長で赤外線よりも長波長の電磁波と言われている。テラヘルツ波は、光波及び電波の両方の性質を兼ね備えていた電磁波であり、例えば、布、紙、木、プラスチック、陶磁器等を透過し(又は透過し易く)、金属、水等は透過しない(又は透過し難い)という性質を有する。一般的に、テラヘルツ波の周波数は1THz前後(波長は300μm前後に相当)の電磁波とも言われているが、その範囲について一般的に明確な定義はない。そこで、本明細書では、テラヘルツ波の波長の範囲を70GHz以上10THz以下の範囲と定義する。
 なお、前述のとおり、本実施形態の複数の電磁波発生素子22Bの発振周波数は、一例として300GHz前後とされている。ただし、発振周波数がテラヘルツ波帯の周波数であれば、すなわち、発振周波数が70GHz以上10THz以下の範囲内であれば、複数の電磁波発生素子22Bの発振周波数は、300GHz前後でなくてもよい。
 本実施形態の複数の電磁波発生素子22Bは、図3に示されるように、一例として、複数(20個)のグループに分けられている。本実施形態では、20個に分けられた各グループを、X方向の一端側から多端側に亘って並べられている順に、第1グループG1、第2グループG2、第3グループG3、・・・、第18グループG18、第19グループG19、第20グループG20とする。各グループは、一例として複数(5個)の電磁波発生素子22Bの組合せで構成されている。複数の電磁波発生素子22Bを複数のグループに分けることの技術的意義については、後述する本実施形態の電磁波発生システム10の動作の説明の中で説明する。
 なお、本実施形態の説明では、便宜上、複数のグループの数nを20個、各グループを構成する複数の電磁波発生素子22Bの数量を5個としている。ただし、各グループを構成する複数の電磁波発生素子22Bの数量が2個以上であれば、複数のグループの数nは20個でなくてもよい。
 第1グループG1を構成するすべての電磁波発生素子22B01、22B02、22B03、22B04、22B05は、一例として、それぞれ、310GHz、290GHz、300GHz、308GHz、292GHzの発振周波数で発振する素子とされている。すなわち、第1グループG1の電磁波発生素子22B01、22B02、22B03、22B04、22B05は、同じバイアス電圧が印加されると、それぞれ異なる発振周波数で発振するようになっている。また、第1グループG1を構成するすべての電磁波発生素子22B01、22B02、22B03、22B04、22B05の発振周波数の平均値は300GHz、発振周波数の最大値は310GHz、発振周波数の最小値は290GHzとされている。すなわち、第1グループG1の発振周波数の最大値と最小値との差は、20GHz(=310GHz-290GHz)である。
 ここで、第2グループG2~第20グループG20の各グループの場合も、第1グループの場合と同様に、それぞれのグループを構成するすべての電磁波発生素子22Bがそれぞれ異なる発振周波数で発振する素子で構成されている。ただし、第2グループG2~第20グループG20の各グループにおける発振周波数の平均値及び最大値と最小値との差は、第1グループG1の場合と同じでなくてもよい。具体的には、各グループの発振周波数の平均値が一例として300GHz前後であればよく、各グループの発振周波数の最大値と最小値との差が一例として1GHz以上100GHz以下であればよい。
(バイアス電圧生成部)
 次に、電圧生成部24について図2を参照しながら説明する。
 電圧生成部24は、制御装置40に制御されて、複数の電磁波発生素子22Bが発振するためのバイアス電圧を複数の電磁波発生素子22Bに印加する機能を有する。電圧生成部24は、個別電源部2401、2402、2403、・・・、2498、2499、24100で構成されている。そして、個別電源部2401、2402、2403、・・・、2498、2499、24100は、それぞれ、電磁波発生素子22B01、22B02、22B03、・・・、22B98、22B99、22B100に接続されている。すなわち、本実施形態の電圧生成部24は、電磁波発生部22の電磁波発生素子22B01、22B02、22B03、・・・、22B98、22B99、22B100に、個別にバイアス電圧を印加するようになっている。なお、本実施形態の個別電源部2401、2402、2403、・・・、2498、2499、24100は、制御装置40に制御されることで、同じ大きさのバイアス電圧をそれぞれ定められたタイミングで出力するように設定されている(図6参照)。
(制御装置)
 次に、制御装置40について図1及び図2を参照しながら説明する。
 制御装置40は、電磁波発生装置20を制御する機能と、電磁波検出装置30を制御する機能と、電磁波検出装置30による電磁波Wの検出結果等に基づいて測定対象物MOの形状等を解析する機能とを有する。制御装置40は、記憶部42を有している。記憶部42には、制御装置40が電磁波発生装置20及び電磁波検出装置30を制御して、測定対象物MOの測定動作を行うための制御プログラムCPが記憶されている。制御装置40は、制御プログラムCPに従い電磁波発生装置20及び電磁波検出装置30を制御して、測定対象物MOの測定動作を行うようになっている。制御装置40の具体的な機能については、後述する本実施形態の電磁波発生システム10の動作の説明の中で説明する。
〔電磁波検出装置〕
 次に、電磁波検出装置30について図1及び図4を参照しながら説明する。
 電磁波検出装置30は、図1に示されるように、電磁波発生装置20が測定対象物MOに向けて発生させ、測定対象物MOを透過又は反射した電磁波Wを検出する機能を有する。
 電磁波検出装置30は、図4に示されるように、一例として、電磁波検出部32と、駆動機構(図示省略)とを備えている。電磁波検出部32は、長尺な基板34と、複数の電磁波検出素子36とを有している。長尺な基板34は、プリント配線基板とされて、その長手方向をX方向に沿わせた状態で、電磁波発生部22に対向して配置されている(図1及び図5参照)。複数の電磁波検出素子36は、基板34におけるX方向の一端側から他端側に亘って並べられた状態で、基板34における電磁波発生部22に向く面に実装されている。すなわち、電磁波検出部32は、電磁波発生部22と同じ方向に沿った状態で、電磁波発生部22に対向している。複数の電磁波検出素子36の数量は、複数の電磁波発生素子22Bの数量Nと同じ数量、すなわち、本実施形態の場合は100個とされている。
 また、複数の電磁波検出素子36は、図4に示されるように、複数(20個)のグループに分けられている。本実施形態では、20個に分けられた各グループを、X方向の一端側から多端側に亘って並べられている順に、第1グループH1、第2グループH2、第3グループH3、・・・、第18グループH18、第19グループH19、第20グループH20とする。各グループは、一例として複数(5個)の電磁波検出素子36の組合せで構成されている。なお、本実施形態の説明では、複数の電磁波検出素子36の数量を複数の電磁波発生素子22Bの数量Nと同じ100個としたが、複数の電磁波発生素子22Bの数量Nと同じ数量であれば100個でなくてもよい。複数の電磁波検出素子36を複数のグループに分けることの技術的意義については、後述する本実施形態の電磁波発生システム10の動作の説明の中で説明する。
 複数の電磁波検出素子36は、一例として、複数の電磁波発生素子22Bが発生する電磁波Wを検出可能な共鳴トンネルダイオードとされている。ただし、テラヘルツ波を検出可能な素子であれば、複数の電磁波検出素子36は共鳴トンネルダイオードでなくてもよい。
 駆動機構(図示省略)は、電磁波発生システム10の動作時に、制御装置40に制御されて、電磁波検出部32をY方向の定められた範囲で移動させる機能を有する(図5参照)。
 以上が、第1実施形態の電磁波発生システム10の機能及び構成についての説明である。
<第1実施形態の電磁波発生システムの動作>
 次に、本実施形態の電磁波発生システム10の動作(測定対象物MOの測定動作)について、図1~図6を参照しながら説明する。以下の説明では、測定対象物MOの一例を紙製の封筒に収容されている金属製部材(図示省略)とする。
 なお、初期状態では、電磁波発生部22と電磁波検出部32とは、Z方向において互いに対向しつつ、Y方向の定められた位置(Y方向に移動可能な範囲のうちY方向の一端となる位置)に位置している。図5は、電磁波発生部22及び電磁波検出部32が初期状態での位置に位置している状態を示した図である。
 最初に、測定者は、図1に示されるように、電磁波発生装置20と電磁波検出装置30との間に、測定対象物MOをセットする。この場合、測定対象物MOは、その厚み方向Z方向(電磁波発生部22と電磁波検出部32との対向方向)に沿わせた状態で配置される。次いで、測定者が電磁波発生システム10の動作スイッチ(図示省略)をオンにすると、制御装置40は、記憶部42に記憶されている制御プログラムCPに従い、電磁波発生装置20及び電磁波検出装置30の制御を開始する。制御開始後の電磁波発生システム10は、以下のように作動する。
 まず、制御装置40は、電圧生成部24の個別電源部2401~2405を制御して、個別電源部2401~2405に同じ大きさのバイアス電圧を定められた期間出力させる(図1及び図6参照)。これに伴い、電磁波発生部22の第1グループG1を構成する電磁波発生素子22B01~22B05は、それぞれ、310GHz、290GHz、300GHz、308GHz、292GHzの発振周波数で定められた期間発振する(図3参照)。これに伴い、第1グループG1から発生した電磁波Wは、Z方向における電磁波検出部32側に向けて出射される(図1参照)。そして、第1グループG1から発生した電磁波Wのうち金属製部材に入射した電磁波Wは金属製部材に反射され、封筒のみに入射した電磁波WはZ方向に沿って封筒を透過する(図1参照)。
 また、制御装置40は、第1グループG1の発振期間中、電磁波検出部32の第1グループH1を構成する5個の電磁波検出素子36を制御して、第1グループH1を構成する5個の電磁波検出素子36に封筒を透過した電磁波Wを検出させる(図1及び図4参照)。そして、制御装置40は、電磁波検出部32の第1グループH1が検出した電磁波Wに関する情報を、電磁波検出部32から制御装置40に送信させる。送信された電磁波Wに関する情報は、記憶部42に記憶される。
 次いで、制御装置40は、電圧生成部24の個別電源部2406~2410を制御して、個別電源部2406~2410に同じ大きさのバイアス電圧を定められた期間出力させる(図1及び図6参照)。これに伴い、電磁波発生部22の第2グループG2を構成する電磁波発生素子22B06~22B10は、それぞれ、異なる発振周波数で定められた期間発振する。
 また、制御装置40は、第2グループG2の発振期間中、電磁波検出部32の第2グループH2を構成する5個の電磁波検出素子36を制御して、第2グループH2を構成する5個の電磁波検出素子36に封筒を透過した電磁波Wを検出させる(図1及び図4参照)。そして、制御装置40は、電磁波検出部32の第2グループH2が検出した電磁波Wに関する情報を、電磁波検出部32から制御装置40に送信させる。送信された電磁波Wに関する情報は、記憶部42に記憶される。
 次いで、制御装置40は、電磁波発生部22の第3グループG3~第20グループG20がそれぞれ電磁波検出部32の第3グループH3~第20グループH20とともに、前述の第1グループG1及び第2グループG2と同様の動作を行わせる。すなわち、制御装置40は、電磁波発生装置20及び電磁波検出装置30を制御して、複数の電磁波発生素子22Bをグループ単位でタイミングをずらしながら発振させる(図6参照)。これに伴い、制御装置40の記憶部42には、測定対象物MOにおけるY方向の初期位置での電磁波Wに関する情報が記憶される。以下の説明では、制御装置40によりY方向の定められた位置で複数の電磁波発生素子22Bをグループ単位でタイミングをずらしながら発振させる動作を、基本スキャン動作という。なお、この場合、電磁波検出装置30は、制御装置40により、複数の電磁波検出素子36をグループ単位でタイミングをずらしながら作動させて、複数の電磁波発生素子22Bが発生した電磁波Wを検知する。
 ここで、本実施形態の基本スキャン動作を別言すると、以下のとおりに定義することができる。すなわち、基本スキャン動作とは、複数のグループの数をn個とした場合に、m番目(mは2以上n以下の自然数)に発振するグループの発振開始タイミングがm-1番目に発振するグループの発振終了タイミングと同時になるように、制御装置40が複数の電磁波発生素子22Bを発振させる動作である。
 次いで、制御装置40は、電磁波発生装置20の駆動機構及び電磁波検出装置30の駆動機構を制御して、電磁波発生部22及び電磁波検出部32をそれぞれY方向の一端側から他端側に定められた距離移動させる。その後、制御装置40は、電磁波発生装置20及び電磁波検出装置30を制御して、電磁波発生部22及び電磁波検出部32に基本スキャン動作を行わせる。
 次いで、制御装置40は、さらに、電磁波発生部22及び電磁波検出部32をそれぞれY方向の一端側から他端側に定められた距離移動させ、電磁波発生部22及び電磁波検出部32に基本スキャン動作を行わせる。制御装置40は、電磁波発生部22及び電磁波検出部32の移動と、基本スキャン動作とを、電磁波発生装置20及び電磁波検出装置30に繰り返し行わせる。そして、電磁波発生部22及び電磁波検出部32のY方向に移動可能な範囲のうちのY方向の他端となる位置での基本スキャン動作が終了すると、制御装置40は、電磁波発生部22及び電磁波検出部32を初期位置(図5参照)に移動させる。
 Y方向の他端となる位置での基本スキャン動作が終了すると、制御装置40の記憶部42には、各基本スキャン動作後に電磁波検出部32から送信された電磁波Wに関する情報(Y方向の各位置での一次元の情報)が記憶される。制御装置40は、制御プログラムCPに従い、Y方向の各位置での一次元の情報を組み合わせて、Y方向の移動範囲での二次元の像に変換する。その結果、紙製の封筒のうち、金属製部材が収容されている部分と、金属製部材が収容されていない部分とが例えば2値化された像としてモニター(図示省略)に表示される。以上のようにして、測定対象物MOの形状(本実施形態の場合は金属製部材の形状)が解析される。
 その後、制御装置40が駆動機構により電磁波発生部22及び電磁波検出部32を初期位置に移動させると、本実施形態の電磁波発生システム10の測定対象物MOの測定動作が終了する。
 以上が、第1実施形態の電磁波発生システム10の動作についての説明である。
<第1実施形態の効果>
 次に、本実施形態の効果(第1~第6の効果)について図面を参照しながら説明する。
〔第1の効果〕
 第1の効果は、複数のグループに分けられている複数の電磁波発生素子22Bをグループ単位でタイミングをずらしながら発振させることの効果である。
 例えば、複数の電磁波発生素子22Bのすべてを同時に発振させる形態の場合、電磁波の発生動作時の瞬間最大消費電力(瞬間的に消費される消費電力の最大値)はすべての電磁波発生素子22Bの消費電力の和となる。
 これに対して、本実施形態の電磁波発生装置20は、複数のグループに分けられている複数の電磁波発生素子22Bをグループ単位でタイミングをずらしながら発振させる(図3及び図6参照)。そのため、本実施形態の電磁波発生装置20の場合、瞬間最大消費電力は各グループを構成する複数の電磁波発生素子22Bの消費電力の和となる。
 したがって、本実施形態の電磁波発生装置20は、複数の電磁波発生素子22Bのすべてを同時に発振させる形態に比べて、電磁波の発生動作時の瞬間最大消費電力を低減することができる。これに伴い、本実施形態の電磁波発生システム10は、測定対象物MOの測定動作時の瞬間最大消費電力を低減することができる。
 なお、本効果は、複数の電磁波発生素子22Bがいわゆるテラヘルツ波を発振する素子である場合により顕著となる。
〔第2の効果〕
 第2の効果は、同じグループに含まれる少なくとも1個の電磁波発生素子22Bが他の電磁波発生素子22Bと異なる発振周波数で発振することの効果である。
 例えば、各グループに含まれるすべての電磁波発生素子22Bが同等の発振周波数で位相差無しで発振する形態の場合、各電磁波発生素子22Bから出射した電磁波Wはコヒーレントな関係を有する。そのため、各電磁波発生素子22Bから出射した電磁波Wは干渉し易い。
 これに対して、本実施形態の各グループに含まれるすべての電磁波発生素子22Bは、互いに異なる発振周波数を有する(図3参照)。
 したがって、本実施形態の電磁波発生装置20は、グループに含まれるすべての電磁波発生素子22Bが同等の発振周波数で位相差無しで発振する構成に比べて、各電磁波発生素子22Bから出射した電磁波Wが干渉しない(又はし難い)。
 なお、本効果を説明するために、比較対象とされた「グループに含まれるすべての電磁波発生素子22Bが同等の発振周波数で位相差無しで発振する形態」であっても、第1の効果を奏する構成といえる。この点から、「グループに含まれるすべての電磁波発生素子22Bが同等の発振周波数で位相差無しで発振する構成」は、本発明の技術的範囲に含まれるといえる。
〔第3の効果〕
 第3の効果は、同じグループに含まれる複数の電磁波発生素子22Bの最大値と最小値との差が1GHz以上100GHz以下とされていることの効果である。
 第2の効果の比較形態はすべての電磁波発生素子22Bが同等の発振周波数で発振するため、複数の電磁波発生素子22Bの最大値と最小値との差が0GHz(<1GHz)である。この比較形態の場合は、前述のとおり、電磁波Wが干渉する虞がある。
 また、複数の電磁波発生素子22Bの最大値と最小値との差が100GHzよりも大きい形態の場合、電磁波検出部32での電磁波Wの検出精度が低くなる。
 これに対して、本実施形態の場合、同じグループに含まれる複数の電磁波発生素子22Bの最大値と最小値との差が1GHz以上100GHz以下とされている。
 したがって、本実施形態は、複数の電磁波発生素子22Bの最大値と最小値との差が1GHz未満の形態に比べて電磁波Wの干渉が起こり難く、100GHzよりも大きい形態に比べて、電磁波検出部32での電磁波Wの検出精度が高い。
〔第4の効果〕
 第4の効果は、電磁波発生部22の各グループは複数の電磁波発生素子22Bのうち連続して並ぶ複数の電磁波発生素子22Bの組合せで構成されていることの効果である。
 本実施形態の場合、各グループの複数の電磁波発生素子22Bは、それぞれがX方向に沿って連続して並んでいる(図3参照)。別言すると、各グループを構成する複数の電磁波発生素子22Bは、塊となって電磁波Wを発生する。
 したがって、本実施形態の電磁波発生装置20は、例えば、X方向に沿って不連続に並んでいる形態(例えば、図13の第3変形例を参照)に比べて、測定対象物MOに複数の電磁波発生素子22Bから出射する電磁波Wを集中して入射させることができる。これに伴い、本実施形態の電磁波発生システム10は、測定対象物MOの測定精度が高い。
 以上が、第1実施形態の効果についての説明である。そして、以上が、第1実施形態についての説明である。
≪第2実施形態≫
 次に、第2実施形態について図7を参照しながら説明する。本実施形態については、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明する。なお、本実施形態の説明において、第1実施形態と同じ構成要素等については同じ名称、符号等を用いることにする。
 本実施形態の電磁波発生システム10Aは、電磁波発生装置20Aの電磁波発生部22が有する複数の電磁波発生素子22Bのグループ分けの点で、第1実施形態の場合と異なる。具体的には、図7に示されるように、第1グループG1におけるX方向の他端側端部の電磁波発生素子22Bが第2グループG2におけるX方向の一端側端部の電磁波発生素子22Bを兼ねている。同じように、第2グループG2におけるX方向の他端側端部の電磁波発生素子22Bが第3グループG3におけるX方向の一端側端部の電磁波発生素子22Bを兼ねている。すなわち、第mグループ(mは1以上の自然数)の一部の電磁波発生素子22Bは、第(m+1)グループの一部の電磁波発生素子22Bを兼ねている。以上が、本実施形態における第1実施形態の場合(図3参照)と異なる部分についての説明である。
 以上のような構成のため、本実施形態の場合の各グループのX方向の一端部の電磁波発生素子22B及び他端部の電磁波発生素子22Bは、第1実施形態の場合と異なり、2倍の期間電磁波Wを発生する。そのため、本実施形態の場合、各グループの繋ぎ目(境界)部分の電磁波Wの検出精度を高くすることができる。
 本実施形態のその他の効果は、第1実施形態の場合と同様である。
 以上が、第2実施形態についての説明である。
≪第3実施形態≫
 次に、第3実施形態について図8を参照しながら説明する。本実施形態については、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明する。なお、本実施形態の説明において、第1実施形態と同じ構成要素等については同じ名称、符号等を用いることにする。
 本実施形態の電磁波発生システム10Bは、電磁波発生装置20Bの電磁波発生部22の各グループを構成する複数の電磁波発生素子22Bがすべて同等の発振周波数を有する。そのうえで、本実施形態の場合、制御装置40は、各グループのすべての電磁波発生素子22Bをそれぞれ異なる位相で発振させる。以上が、本実施形態における第1実施形態の場合と異なる部分についての説明である。なお、本明細書において、「同等の発振周波数」とは、一例として、発振周波数Aに対して、発振周波数Aの99.5%以上100.5%以下の範囲の周波数を意味する。
 ここで、第1実施形態の効果の説明のうち第2の効果の比較形態とされた「グループに含まれるすべての電磁波発生素子22Bが同等の発振周波数で位相差無しで発振する形態」の場合、各電磁波発生素子22Bから出射した電磁波Wは干渉し易い。
 これに対して、本実施形態の場合、同じグループのすべての電磁波発生素子22Bはそれぞれ同等の発振周波数を有するものの、それぞれ異なる位相で発振する。図8の位相差を表すグラフは、一例として、第1グループG1を構成する電磁波発生素子22B01~22B05をモデルとしたグラフである。
 したがって、本実施形態の電磁波発生装置20Bは、グループに含まれるすべての電磁波発生素子22Bが同等の発振周波数で位相差無しで発振する形態に比べて、各電磁波発生素子22Bから出射した電磁波Wが干渉し難い(又は干渉しない)。
 本実施形態のその他の効果は、第1実施形態の場合と同様である。
 以上が、第3実施形態についての説明である。
≪第4実施形態≫
 次に、第4実施形態について図9を参照しながら説明する。本実施形態については、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明する。なお、本実施形態の説明において、第1実施形態と同じ構成要素等については同じ名称、符号等を用いることにする。
 本実施形態の電磁波発生システム10Cは、電磁波発生装置20Cの電磁波発生部22の各グループを構成する複数の電磁波発生素子22Bがすべて同等の発振周波数を有する。すなわち、本実施形態の複数の電磁波発生素子22Bは、同じバイアス電圧が印加されると同等の発振周波数で発振する。
 また、本実施形態の電磁波発生システム10Cの電磁波発生装置20Cの電圧生成部24(図2を援用して参照)は、制御装置40に制御され、各グループを構成する複数の電磁波発生素子22Bにそれぞれ異なるバイアス電圧を印加する。ここで、本実施形態における電圧生成部24は、電圧印加部の一例である。以上が、本実施形態における第1実施形態の場合と異なる部分についての説明である。
 ここで、第1実施形態の効果の説明のうち第2の効果の比較形態とされた「グループに含まれるすべての電磁波発生素子22Bが同等の発振周波数で位相差無しで発振する形態」の場合、各電磁波発生素子22Bから出射した電磁波Wが干渉し易い。図9のグラフにおける標準値とは、一例として第1グループG1のすべての電磁波発生素子22B01~22B05の標準に発振周波数(定められたバイアス電圧を印加した場合の発振周波数)を示す。
 これに対して、本実施形態の場合、制御装置40に制御された電圧生成部24は、各グループを構成する複数の電磁波発生素子22Bにそれぞれ異なるバイアス電圧を印加する。その結果、複数の電磁波発生素子22Bは、それぞれ異なる発振周波数で発振する。図9のグラフにおける各電磁波発生素子22B01~22B05の棒で示される値は、それぞれに異なるバイアス電圧が印加された場合の発振周波数を示す。
 したがって、本実施形態の電磁波発生装置20Cは、グループに含まれるすべての電磁波発生素子22Bが同等の発振周波数で発振する形態に比べて、各電磁波発生素子22Bから出射した電磁波Wが干渉し難い(又は干渉しない)。
 本実施形態のその他の効果は、第1実施形態の場合と同様である。
 以上が、第4実施形態についての説明である。
 以上のとおり、本発明について特定の実施形態を一例として説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されるものではない。本発明の技術的範囲には、例えば、下記のような形態(変形例)も含まれる。
 例えば、第1実施形態の説明では、電磁波発生システム10が、一例として、電磁波Wを用いて測定対象物MOの形状等を解析する装置であるとした。しかしながら、複数の電磁波発生素子22Bをグループ単位でタイミングをずらしながら発振させることで電磁波を発生させる形態であれば、電磁波発生システムは測定対象物MOの形状等を解析する装置でなくてもよい。例えば、各種センサー、トモグラフィその他のシステムであってもよい。以上の変形例は、第2~第4実施形態にも適用できる。
 また、第1実施形態の説明では、複数の電磁波発生素子22Bが分けられた複数のグループにおいて、各グループを構成する複数の電磁波発生素子22Bの数量はそれぞれ同数量として説明した。しかしながら、各グループを構成する複数の電磁波発生素子22Bの数量は同数量でなくてもよい。以上の変形例は、第2~第4実施形態にも適用できる。
 また、第1実施形態では、各グループを構成する複数の電磁波発生素子22Bを発振させる期間(定められた期間)が同じ長さの期間であるかの如く説明した(図6参照)。しかしながら、複数の電磁波発生素子22Bをグループ単位でタイミングをずらしながら発振させることで電磁波を発生させる形態であれば、各グループの発振期間は異なる長さの期間としてもよい。以上の変形例は、第2~第4実施形態にも適用できる。
 また、第1実施形態の説明では、制御装置40が電磁波発生装置20及び電磁波検出装置30とは別の構成要素であるとした。しかしながら、制御装置40を構成する構成要素のうち、電磁波発生装置20を制御する構成要素を電磁波発生装置20の一部とみなし、電磁波検出装置30を制御する構成要素を電磁波検出装置30の一部とみなしてもよい。以上の変形例は、第2~第4実施形態にも適用できる。
 また、第1実施形態の説明では、複数の電磁波発生素子22Bで構成されるすべてのグループがそれぞれ異なる発振周波数を有する電磁波発生素子22Bの組合せであるとした。
 しかしながら、すべてのグループのうち少なくとも1個のグループに異なる発振周波数で発振する少なくとも2個の電磁波発生素子22Bが含まれている形態(図示省略)は、第2の効果の説明における比較形態に比べて、電磁波Wが干渉し難いといえる。
 したがって、すべてのグループのうち少なくとも1個のグループに異なる発振周波数で発振する少なくとも2個の電磁波発生素子22Bが含まれている形態(図示省略)は、本発明の技術的範囲に属する形態である。
 また、第3実施形態の説明では、電磁波発生部22の各グループを構成する複数の電磁波発生素子22Bがすべて同等の発振周波数を有するとした。そのうえで、第3実施形態では、制御装置40が各グループのすべての電磁波発生素子22Bをそれぞれ異なる位相で発振させるとした。
 しかしながら、電磁波発生部22の各グループのうち少なくとも1個のグループが同等の発振周波数で発振する少なくとも2個の電磁波発生素子22Bを含み、この少なくとも2個の電磁波発生素子22Bをそれぞれ異なる位相で発振させる形態(図示省略)は、第3実施形態の比較形態に比べて、各電磁波発生素子22Bから出射した電磁波Wが干渉し難い(又は干渉しない)。
 したがって、電磁波発生部22の各グループのうち少なくとも1個のグループが同等の発振周波数で発振する少なくとも2個の電磁波発生素子22Bを含み、この少なくとも2個の電磁波発生素子22Bをそれぞれ異なる位相で発振させる形態(図示省略)は、本発明の技術的範囲に属する形態である。
 また、第4実施形態の説明では、電磁波発生装置20Cの電磁波発生部22の各グループを構成する複数の電磁波発生素子22Bがすべて同等の発振周波数を有し、電圧生成部24は、当該複数の電磁波発生素子22Bにそれぞれ異なるバイアス電圧を印加するとした。
 しかしながら、少なくとも1個のグループが同じバイアス電圧が印加されると同等の発振周波数で発振する少なくとも2個の電磁波発生素子を含んでおり、前記電圧印加部が少なくとも2個の電磁波発生素子が互いに異なる発振周波数で発振するように、少なくとも2個の電磁波発生素子に異なるバイアス電圧を印加する形態(図示省略)は、第4実施形態の比較形態に比べて、各電磁波発生素子22Bから出射した電磁波Wが干渉し難い(又は干渉しない)。
 したがって、少なくとも1個のグループが同じバイアス電圧が印加されると同等の発振周波数で発振する少なくとも2個の電磁波発生素子を含んでおり、前記電圧印加部が少なくとも2個の電磁波発生素子が互いに異なる発振周波数で発振するように、少なくとも2個の電磁波発生素子に異なるバイアス電圧を印加する形態(図示省略)は、本発明の技術的範囲に属する形態である。
 また、第1実施形態の説明では、複数のグループの数をn個とした場合に、m番目(mは2以上n以下の自然数)に発振するグループの発振開始タイミングがm-1番目に発振するグループの発振終了タイミングと同時になるとした(図6参照)。そして、第1実施形態では、各グループの発振開始タイミングと発振終了タイミングとを図6のような関係にすることを、複数の電磁波発生素子22Bをグループ単位でタイミングをずらしながら発振させることの一例とした。
 しかしながら、複数の電磁波発生素子22Bをグループ単位でタイミングをずらしながら発振させることの一例は、例えば、図10に示される第1変形例のような形態であってもよい。すなわち、複数のグループの数をn個とした場合に、m番目(mは2以上n以下の自然数)に発振するグループの発振開始タイミングがm-1番目に発振するグループの発振終了タイミングの後になるようにしてもよい。第1変形例の場合であっても、第1実施形態の場合と同様の効果を奏する。
 また、複数の電磁波発生素子22Bをグループ単位でタイミングをずらしながら発振させることの一例は、例えば、図11に示される第2変形例のような形態であってもよい。すなわち、複数のグループの数をn個とした場合に、m番目(mは2以上n以下の自然数)に発振するグループの発振開始タイミングがm-1番目に発振するグループの発振終了タイミングよりも前になるようにしてもよい。第1変形例の場合であっても、第1実施形態の場合と同様の効果を奏する。また、第2変形例の場合、第1~第4実施形態及び第1変形例に比べて、発振動作(測定動作)を短い期間で終了させることができる点で有効といえる。
 また、複数の電磁波発生素子22Bをグループ単位でタイミングをずらしながら発振させることの一例は、例えば、図12に示される第3変形例のような形態であってもよい。すなわち、第1実施形態、第1変形例及び第2変形例の発振のタイミングを組合せた形態であってもよい。
 また、第1実施形態の説明では、電磁波発生部22の各グループは複数の電磁波発生素子22Bのうち連続して並ぶ複数の電磁波発生素子22Bの組合せで構成されているとした(図3参照)。
 しかしながら、複数の電磁波発生素子22Bが少なくとも2つ以上のグループに分けられていれば、各グループを構成する複数の電磁波発生素子22Bの組合せは連続して並んでいなくてもよい。例えば、図13に示される第3変形例のように、1つのグループを構成する複数の電磁波発生素子22Bが不連続に並んでいてもよい。
 この出願は、2018年10月30日に出願された日本出願特願2018-203595号を基礎とする優先権を主張し、その開示の全てをここに取り込む。
10  電磁波発生システム
10A  電磁波発生システム
10B  電磁波発生システム
10C  電磁波発生システム
20  電磁波発生装置
20A  電磁波発生装置
20B  電磁波発生装置
20C  電磁波発生装置
22  電磁波発生部
22A  基板
22B  電磁波発生素子
24  電圧生成部
30  電磁波検出装置
32  電磁波検出部
34  基板
36  電磁波検出素子
40  制御装置(制御部の一例)
42  記憶部
CP  制御プログラム
MO  測定対象物

Claims (13)

  1.  複数のグループに分けられている複数の電磁波発生素子と、
     前記複数の電磁波発生素子をグループ単位でタイミングをずらしながら発振させる制御部と、
     を備える電磁波発生装置。
  2.  前記制御部は、前記複数のグループの数をn個とした場合に、m番目(mは2以上n以下の自然数)に発振する前記グループの発振開始タイミングがm-1番目に発振する前記グループの発振終了タイミングと同時又は後になるように、前記複数の電磁波発生素子を発振させる、
     請求項1に記載の電磁波発生装置。
  3.  前記制御部は、前記複数のグループの数をn個とした場合に、m番目(mは2以上n以下の自然数)に発振する前記グループの発振開始タイミングがm-1番目に発振する前記グループの発振終了タイミングよりも前になるように、前記複数の電磁波発生素子を発振させる、
     請求項1に記載の電磁波発生装置。
  4.  前記電磁波発生素子の発振周波数は、70GHz以上10THz以下とされている、
     請求項1~3のいずれか1項に記載の電磁波発生装置。
  5.  少なくとも1個の前記グループは、異なる発振周波数で発振する少なくとも2個の前記電磁波発生素子を含んでいる、
     請求項1~4のいずれか1項に記載の電磁波発生装置。
  6.  少なくとも1個の前記グループに含まれるすべての前記電磁波発生素子は、それぞれ異なる発振周波数で発振する前記電磁波発生素子とされている、
     請求項1~5のいずれか1項に記載の電磁波発生装置。
  7.  前記異なる発振周波数の最大値と最小値との差は、1GHz以上100GHz以下とされている、
     請求項5又は6に記載の電磁波発生装置。
  8.  少なくとも1個の前記グループは、同等の発振周波数で発振する少なくとも2個の前記電磁波発生素子を含んでおり、
     前記制御部は、前記少なくとも2個の前記電磁波発生素子をそれぞれ異なる位相で発振させる、
     請求項1~5のいずれか1項に記載の電磁波発生装置。
  9.  少なくとも1個の前記グループに含まれるすべての前記電磁波発生素子は、それぞれ同等の発振周波数で発振する前記電磁波発生素子とされ、
     前記制御部は、すべての前記電磁波発生素子のうちの少なくとも2個の前記電磁波発生素子をそれぞれ異なる位相で発振させる、
     請求項1~5のいずれか1項に記載の電磁波発生装置。
  10.  前記複数の電磁波発生素子にバイアス電圧を印加する電圧印加部を備え、
     少なくとも1個の前記グループは、同じバイアス電圧が印加されると同等の発振周波数で発振する少なくとも2個の前記電磁波発生素子を含んでおり、
     前記電圧印加部は、前記少なくとも2個の前記電磁波発生素子が互いに異なる発振周波数で発振するように、前記少なくとも2個の前記電磁波発生素子に異なるバイアス電圧を印加する、
     請求項1~5のいずれか1項に記載の電磁波発生装置。
  11.  前記複数の電磁波発生素子は、直線方向に沿って並べられており、
     前記グループは、前記複数の電磁波発生素子のうち連続して並ぶ複数の前記電磁波発生素子の組合せで構成されている、
     請求項1~10のいずれか1項に記載の電磁波発生装置。
  12.  前記電磁波発生素子は、共鳴トンネルダイオードとされている、
     請求項1~11のいずれか1項に記載の電磁波発生装置。
  13.  請求項1~12のいずれか1項に記載の電磁波発生装置と、
     複数のグループに分けられている複数の電磁波検出素子をグループ単位でタイミングをずらしながら作動させ、前記複数の電磁波発生素子が発生した電磁波を検出する電磁波検出装置と、
     を備える電磁波発生システム。
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