WO2020070187A1 - Prüfvorrichtung und verfahren zum prüfen eines übergangswiderstandes an mindestens einem stiftkontakt eines steckverbinders - Google Patents

Prüfvorrichtung und verfahren zum prüfen eines übergangswiderstandes an mindestens einem stiftkontakt eines steckverbinders

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WO2020070187A1
WO2020070187A1 PCT/EP2019/076695 EP2019076695W WO2020070187A1 WO 2020070187 A1 WO2020070187 A1 WO 2020070187A1 EP 2019076695 W EP2019076695 W EP 2019076695W WO 2020070187 A1 WO2020070187 A1 WO 2020070187A1
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contact
test
housing
pair
pin
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Application number
PCT/EP2019/076695
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English (en)
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Inventor
Thomas Führer
Original Assignee
Phoenix Contact E-Mobility Gmbh
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Filing date
Publication date
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/68—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board
    • G01R31/69—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board of terminals at the end of a cable or a wire harness; of plugs; of sockets, e.g. wall sockets or power sockets in appliances
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02—Contact members
    • H01R13/10—Sockets for co-operation with pins or blades
    • H01R13/11—Resilient sockets
    • H01R13/111—Resilient sockets co-operating with pins having a circular transverse section
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Definitions

  • the invention relates to a test device for testing a contact resistance on at least one pin contact of a connector.
  • the invention further relates to a method for testing a contact resistance on at least one pin contact of a connector.
  • Connectors which are used in particular to charge electric vehicles, must meet high requirements with regard to their stability and safety. For charging electric vehicles, direct currents of up to 500 amperes are now transmitted via the connector, also known as the charging connector.
  • the connector has to be able to retain its performance even after several years of use with thousands of charging cycles. Defects in the pin contacts of the plug connector, which can result from wear, dirt and / or damage, can increase the contact resistance at the pin contacts of the plug connector. This in turn leads to an increased voltage drop across the cross section of the pin contacts, which leads to an increase in power loss. In extreme cases, the power loss can be increased to such an extent that during operation the pin contacts heat up so much that the plastic material surrounding the pin contacts melts or is even set on fire.
  • the invention is therefore based on the object to provide a test device and a method by means of which defects in pin contacts of plug connectors can be detected in a simple manner.
  • the test device is characterized in that it has at least one first housing, at least one first test contact element arranged in the first housing, which is connected to at least one test power line and at least one voltage tap line, and at least one arranged in the first housing second
  • Test contact element which is connected to at least one test current line and to at least one voltage tap line, wherein a first contact finger of the first test contact element and a first contact finger of the second test contact element form a first contact element pair, the two contact fingers of the first contact element pair being arranged opposite one another , wherein during a test process the two contact fingers of the first contact element pair can be applied to an outer circumferential surface of the pin contact to be tested at a first point in time and, via the contact fingers applied, energization of the pin contact to be tested transversely to a longitudinal axis of the pin contact for determining the contact resistance at the pin contact is feasible.
  • the test device By means of the test device according to the invention, it is made possible to measure and thus also to check the electrical properties of the surface of a pin contact of a connector, in particular a charging connector.
  • the test device can be plugged onto one or more pin contacts of the connector.
  • the test device can be contacted with one or more pin contacts.
  • the test device has a first and a second test contact element, which are arranged in a housing surrounding the test contact element.
  • the housing can, for example, be sleeve-shaped and thus be adapted to the contour of the cylindrical pin contact.
  • the test contact elements form at least a first pair of contact elements formed from two contact fingers. By means of the two contact fingers of a pair of contact elements, contact is made with the device to be tested
  • the contact fingers are preferably elongated and extend in the longitudinal direction or axial direction of the pin contact.
  • the contact fingers are preferably resilient.
  • the contact fingers of a pair of contact elements lie opposite one another, so that a current transverse to the longitudinal axis of the pin contact from one contact finger of one test contact element to the opposite other contact finger of the other test contact element can be passed through the pin contact.
  • the contact fingers are preferably shaped such that they form a punctiform contact surface on the outer circumferential surface of the pin contact. Due to the punctiform contact surface, a contact between the respective contact finger and the pin contact can be formed with a defined contour and with a defined normal contact force.
  • the two contact fingers of the first contact element pair can be placed on the outer circumferential surface of the pin contact to be tested at a first point in time and the applied contact finger is energized across the longitudinal axis of the pin contact to determine the contact resistance the pin contact feasible.
  • the current supply to the pin contact via the contact fingers lying opposite one another can detect or measure a voltage drop that occurs. About the measured
  • a drop in voltage can make a statement about the contact resistance and thus statements about the degree of wear and / or the degree of contamination of the pin contacts, so that possible defects can be detected early and easily in a quick and easy manner.
  • the test procedure describes a period within which the contact resistance of a
  • Pin contact is checked by means of the test device when the test device is plugged onto the pin contact to be tested.
  • the test current element is made available to the test contact element via the test power line.
  • each test contact element is preferably electrically connected to a test power line.
  • the voltage drop can be measured via the voltage tapping lines on the test contact elements.
  • a voltage tap line is preferably connected in an electrically conductive manner to one of the contact fingers, so that each
  • the test contact element preferably has not only one contact element pair, but two or more contact element pairs.
  • Each pair of contact elements in turn preferably has two opposing contact fingers, with each pair of contacts one contact finger being part of the first test contact element and the other contact finger being part of the second
  • Test contact element is.
  • the contact fingers arranged on a test contact element are preferably arranged next to one another, a test contact element, together with its contact fingers, preferably forming a semicircular shape.
  • the contact fingers of the first and second test contact elements can then together form a circular opening or a circular run of the receiving space for the pin contact to be tested.
  • a second contact finger of the first test contact element and a second contact finger of the second test contact element can form a second contact element pair, wherein the two contact fingers of the second contact element pair can be arranged opposite one another, wherein the two contact fingers of the second contact element pair on an outer circumferential surface of the to during the test process testing pin contact can be applied at a second point in time and the applied contact fingers energize the pin contact to be tested transversely to a longitudinal axis of the pin contact for determining the contact resistance at the
  • Pin contact can be carried out. If two or more pairs of contact elements are provided, the contact fingers of a pair of contact elements can be placed at other times on the outer circumferential surface of the pin contact to be tested than the contact fingers of another pair of contact elements. Preferably, only the Druckfin ger of a pair of contact elements are in electrical contact with the pin contact at a time. This means that the pin contact with the respective contact element pairs is checked at different times. The more pairs of contact elements are provided, the more reliably the pin contact can be checked. Especially preferred, the two test contact elements can form three contact element pairs. The pairs of contact elements are preferably constructed identically.
  • an actuating element is arranged axially displaceably in the first housing, by means of which the contact fingers of the first pair of contact elements and / or the contact fingers of the second pair of contact elements are in an open position and in a contacting position in which the contact fingers on the one to be tested Pin contact are created, are transferable.
  • the contact fingers of a pair of contact elements are preferred spaced so far apart that the space formed between these contact fingers is larger than the diameter of the pin contact to be tested. As a result, the contact fingers are in the open position of the
  • the outer circumferential surface of the pin contact is spaced apart and are not in contact with the outer circumferential surface of the pin contact.
  • the actuating element is preferably axially slidably mounted in the housing Ge.
  • Axially displaceable means that
  • Actuating element in the longitudinal extension of the contact finger and also in the longitudinal extension of the housing is displaceable. Through the displacement movement, the contact fingers of a contact tissecru can be moved away from each other during the transfer to the open position and moved towards each other during the transfer into the contacting position.
  • the actuating element is preferably arranged in the housing such that the actuating element is arranged axially displaceably in an interior space formed by the first test contact element and by the second test contact element and the actuating element is in contact with an inner surface of the contact fingers of the first contact element pair during a displacement movement and / or the second pair of contact elements can be brought.
  • the actuating element is preferably positioned such that it is enclosed by the contact fingers of the contact element pairs, so that the actuating element is axially displaceably mounted in an interior space of the two test contact elements delimited by the contact fingers.
  • the actuating element can also be used for its displacement movement the contact fingers on the inner surfaces of the contact fingers to ⁇ sammen invade to this to transfer in the contacting and in the geöff designated position.
  • the contact fingers When moving into the open position, the contact fingers can thus be moved or pressed radially outward by means of the actuating element.
  • control contours are formed on an outer circumferential surface of the actuating element and that a counter control contour is formed on an inner surface of the contact fingers of the first pair of contact elements and / or on an inner surface of the second pair of contact elements, the contact fingers of the first being formed by means of the control contours and the counter control contours
  • Contact element pair at the first time in the contacting position and / or the contact fingers of the second contact element pair can be transferred to the contacting position at the second time.
  • control contours and the counter-control contours By means of the control contours and the counter-control contours, a time-delayed contacting of the contact element pairs with the pin contact to be tested can thus be achieved or controlled, so that only one of the contact element pairs with the pin contact to be checked is in a contacting position at any one time and thus on the pin contact.
  • the other pairs of contact elements are then positioned in the open position by means of the actuating element.
  • the control contours and the counter control contours are configured such that usammenmycin them together Z.
  • Each contact finger preferably has a counter control contour on its inner surface.
  • a control contour is preferably formed on the actuating element for each contact finger.
  • the number of control contours on the actuating element preferably corresponds to the number of counter-control contours on the contact fingers of the test contact elements.
  • the control contours for the first pair of contact elements are preferably arranged along the outer peripheral surface of the actuating element axially offset from the control contours for the second pair of contact elements.
  • Axially offset means that the control contours assigned to a pair of contact elements are offset in the longitudinal direction of the actuating element to those control contours assigned to another pair of contact elements.
  • the control contours for different contacts element pairs are thus preferably not arranged at a height along the outer peripheral surface of the actuating element.
  • the two control contours for a pair of contact elements or for the two contact fingers of a pair of contact elements are preferably arranged at a height along the outer circumferential surface of the actuating element, so that simultaneous contacting of the contact fingers of a pair of contact elements with the pin contact to be tested can be ensured.
  • the counter control contours arranged on the individual contact fingers of the pairs of contact elements are preferably all arranged at one and the same height.
  • the control contours can each be designed in the form of recesses and the counter-control contours can each be designed in the form of elevations or the control contours can each be configured in the form of elevations and the counter-control contours can each be designed in the form of recesses.
  • the respective elevations can then engage in the respective recesses.
  • the elevations can be hemispherical, for example.
  • the recesses can be designed in the form of semicircular recesses.
  • the actuating element can be driven by means of a threaded spindle.
  • the test device can have a second housing in which a first test contact element as described above and a second test contact element as described above can be arranged.
  • the second housing is preferably of identical construction to the first housing, so that the second housing can have two test contact elements which can be of identical construction to the two test contact elements in the first housing.
  • the first housing and / or the second housing can each have a centering opening for introducing the pin contact to be tested into the first housing and / or into the second housing.
  • a positionally accurate insertion of the pin contact into the test device or into the corresponding housing of the test device can be achieved, so that the pin contact can be aligned relative to the test contact elements as soon as it is inserted in the desired position.
  • the centering opening preferably has a diameter which is smaller than the diameter of the rest of the housing part, so that in the region of
  • the centering opening can be integrally formed with the housing. Furthermore, it is also possible for a sleeve body to be inserted into the housing, which forms the centering opening. It is further possible that the test device has a main housing, on which the first housing and / or the second housing can be arranged, wherein the first housing and / or the second housing can be floating on the main housing. Due to the floating mounting of the housing on the main housing, the housing can perform both radial and axial compensating movements when the pin contact to be tested is inserted, so that position tolerances of the pin contacts in the connector relative to the test device can be compensated.
  • the object according to the invention is also achieved by means of a method for testing a contact resistance on at least one pin contact of a connector, with a test device which has at least one first housing, at least one first test contact arranged in the first housing and which has at least one test power line and is connected to at least one voltage tap line, and has at least one second test contact element arranged in the first housing and connected to at least one test current line and to at least one voltage tap line, a first contact finger of the first test contact element and a first contact finger of the second test contact element form a pair of contact elements, the two contact fingers of the first pair of contact elements being arranged opposite one another, the two contact fingers of the first pair of contact elements during a test operation are applied to an outer circumferential surface of the pin contact to be tested at a first point in time and current is applied to the pin contact to be tested transversely to a longitudinal axis of the pin contact to determine the contact resistance at the pin contact via the applied contact fingers.
  • FIG. 1 is a schematic representation of a connector and a test device according to the invention, the test device having a first housing,
  • FIG. 2 is a schematic representation of a connector and a test device according to the invention, the test device having a first housing and a second housing,
  • FIG. 3 is a schematic sectional view through a test device according to the invention.
  • Fig. 5 shows a schematic illustration of a test contact element shown in FIG. 4,
  • Fig. 6 is a schematic representation of that shown in Fig. 5
  • Test contact element as a stamped sheet metal section before bending into the final shape
  • Fig. 7 is a schematic representation of that shown in Fig. 5
  • Test contact element with an attached test power line and several voltage tap lines,
  • FIG. 8 is a schematic representation of an actuating element
  • FIG. 9 is a schematic sectional view of the educavorrich device according to the invention with an introduced
  • Fig. 10 is a schematic sectional view in which the
  • Fig. 1 shows a test device 100 for testing a transition resistance on at least one pin contact 50 of a connector 200.
  • the connector 200 is a charging connector in the embodiment shown here, which is used to charge an electric vehicle and can be installed in an electric vehicle.
  • the test device 100 is pushed or plugged onto the pin contact 50. Sliding on or plugging on can be done manually or automatically.
  • the test device 100 has a first housing 10 and a main housing 11, the first housing 10 being arranged on the main housing 11.
  • the first housing 10 is floating on the main housing 11, so that the first housing 10 relative to the main housing 11 is radially and / or axially movable to position tolerances of the pin contact 50 within the connector 200 when plugging the tester 100 on the pin contact 50 to be able to compensate.
  • the main housing 11 has a larger outer circumferential surface than the first housing 10. Both the main housing 11 and the first housing 10 are sleeve-shaped.
  • FIG. 2 shows an embodiment in which the test device 100 has not only a first housing 10 but also a second housing 12.
  • the first housing 10 can be pushed onto a pin contact 50 and the second housing 12 can be pushed onto a further pin contact 50, so that a simultaneous test of two pin contacts 50 can be carried out by means of the test device 100.
  • the second housing 12, like the first housing 10, is arranged in a floating manner on the main housing 11.
  • the two housings 10, 12 are aligned parallel to one another and arranged ne next to one another.
  • FIG. 3 shows a sectional illustration of a test device 100.
  • Two test contact elements 13a, 13b are arranged in the respective housing 10, 12, which are also shown individually in FIG. 4.
  • the actual test of the respective pin contact 50 takes place by means of the test contact elements 13a, 13b.
  • the test contact elements 13a, 13b form three pairs of contact elements 14, 15, 16.
  • the contact element pairs 14, 15, 16 are arranged on connecting elements 37a, 37b, which may be formed in one piece with the contact element pairs 14, 15, 16.
  • Each test contact element 13a, 13b is assigned one of the two connecting elements 37a, 37b, so that the first connecting element 37a is part of the first test contact element 13a and the second connecting element 37b is part of the second test contact element 13b.
  • the contact element pairs 14, 15, 16 and the connecting elements 37a, 37b can be formed from a sheet metal material.
  • Each pair of contact elements 14, 15, 16 is formed from two contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b arranged opposite one another.
  • the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b of a pair of contact elements 14, 15, 16 each is a contact finger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b on the first test contact element 13a and a contact finger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b on the second Test contact element 13b is arranged.
  • the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b are elongated and are connected at one of their ends to one of the connecting elements 37a, 37b, so that the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b proceed Extend from the connecting elements 37a, 37b.
  • the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b extend in an inserted state of the pin contact 50 into the test device 100 parallel to the pin contact 50.
  • the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b are bent, in particular bent semicircularly, in the direction of the inserted pin contact 50.
  • the contact fingers 17a, 17b, 19a, 19b are bent, in particular bent semicircularly, in the direction of the inserted pin contact 50.
  • 18a, 18b, 19a, 19b each have a contact point 23a, 23b, 24a, 24b, 25a, 25b, via which the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b can be contacted with the pin contact 50 to be tested.
  • the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b are arranged in such a way that they form an annular opening for inserting the pin contact 50 to be tested.
  • the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b are each connected to a voltage tap line 26, so that each contact finger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b, a voltage can be accessed.
  • a test current line 27 is connected to the two test contact elements 13a, 13b in order to conduct a test current to the respective test contact element 13a, 13b.
  • the connection of the test power line 27, as can be seen in FIG. 7, is formed on the connecting elements 37a, 37b.
  • the voltage tap lines 26 and the test current lines 27 are led out of the test device 100.
  • test contact elements 13a, 13b are arranged or held in a support element 28.
  • the connecting elements 37a, 37b are embedded in the support element 28, whereas the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b are positioned outside the support element 28.
  • the support member 28 is sleeve-shaped.
  • the support element 28 can be made from a
  • Insulating material should be formed.
  • a connecting element 37a, 37b forms a semicircular shape.
  • a test current line 27 is arranged on each connecting element 37a, 37b.
  • a contact finger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b of the three pairs of contact elements 14, 15, 16 is arranged on each of the connecting elements 37a, 37b.
  • the test device 100 also has an actuating element 29, which can be seen, for example, in FIGS. 3 and 8.
  • the actuating element 29 is axially displaceable, as indicated by the arrows, in the housing 10, 12.
  • the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b of the contact pairs 14, 15, 16 can be transferred into an open position and into a contacting position.
  • the actuating element 29 is axially displaceable in an interior 30 of the test contact element 13, which is delimited by the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b arranged. With a sliding movement, the actuating element 29 is displaceable with its outer peripheral surface 31 along the inner surface 38 of the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b.
  • the actuating element 29 is sleeve-shaped.
  • a plurality of control contours 32 are formed on the outer circumferential surface 31 of the actuating element 29, which interact with counter-control contours 33 Z arranged on the inner surface 38 of the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b.
  • control contours 32 in the form of recesses and the Gegenberichtkontu ren 33 are formed in the form of surveys.
  • the elevations are hemispherical.
  • the elevations can be formed by hemispherical rivets which are attached to the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b.
  • the control contours 32 for the first pair of contact elements 14 are axially offset along the outer peripheral surface 31 of the actuating element 29 to the control contours 32 for the second pair of contact elements 15 and the control contours 32 for the third pair of contact elements 16 are axially offset to the control contours Ren 32 of the first and second Contact element pair 14, 15 arranged.
  • the control contours 32 for different contact tenseparare 14, 15, 16 are thus not at a height ent along the outer peripheral surface 31 of the actuating element 29, as can be seen in Fig. 8. Due to the offset arrangement, an alternating contacting of the contact element pairs 14, 15, 16 with the pin contact 50 to be tested can be sufficient.
  • the two control contours 32 for a pair of contact elements 14, 15, 16 and for the two contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b of a pair of contact elements 14, 15, 16, however, are arranged at one level along the outer peripheral surface 31 of the actuating element 29 , so that a simultaneous contacting of the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b of a pair of contact elements 14, 15, 16 with the pin contact 50 to be tested can be ensured.
  • the contact fingers 17a, 17b of the first contact element pair 14 are in a contacting position with the pin contact 50 at a first point in time
  • the contact fingers 18a, 18b of the second contact element pair 15 at a second point in time are in a contacting position with the pin contact 50
  • the contact fingers 19a, 19b of the third contact element pair 15 are in a contacting position with the pin contact 50 at a third time.
  • the contact element pairs 14, 15, 16 thus make contact with the pin contact 50 to be tested at different times, so that the current supply to the pin contact 50 takes place separately for each contact element pair 15 transversely to its longitudinal axis.
  • the pin contact 50 to be tested is introduced into the test device 100 via a centering opening 34. After passing through the centering opening 34, the pin contact 50 reaches the area of the test contact elements 13a, 13b, as can be seen in FIG. 9.
  • the actuating element 29 is located in the vicinity of the free ends 20a, 20b, 21a, 21b, 22a, 22b of the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b.
  • Insertion of the pin contact 50 can be achieved.
  • a bore 35 is formed, into which the pin contact 50 is inserted.
  • the housing 10, 12 aligns relative to the pin contact 50, so that the most accurate possible check can be carried out.
  • the pin contact 50 is aligned via the centering opening 34.
  • the actuating element 29 is displaced axially in the direction R towards the rear in the direction of the main housing 11.
  • the displacement movement of the actuating element 29 takes place by means of a threaded spindle 36.
  • the threaded spindle 29 therefore engages in an internal thread formed on the actuating element 29.
  • the actuating element 29 is initially moved so far to the rear that the counter control contours 33 of the contact fingers 17a, 17b of the first pair of contact elements 14 engage in the control contours 32 assigned to them, whereby the contact fingers 17a, 17b from the open position to the contacting position be transferred and in this
  • test current with a current pulse be known size and duration on the contact fingers 17a, 17b and passed the cross section of the pin contact 50, the corresponding voltage drop across the cross section of the pin contact 50 being measured in the sense of a 4-point measurement and being discharged via the voltage tap lines 26.
  • the actuating element 29 is moved further in the direction R, as a result of which the contact fingers 17a, 17b of the first pair of contact elements 14 are transferred from the contacting position to the open position and the contact fingers 18a, 18b of the second pair of contact elements 15 into the contacting position Position to be transferred by the
  • Counter-control contours 33 of the contact fingers 18a, 18b of the second pair of contact elements 15 engage in the associated control contours 32.
  • the test current is then passed via the contact fingers 18a, 18b of the second pair of contact elements 15 through the cross section of the pin contact 50 in order to carry out a further measurement of the voltage drop across the cross section of the pin contact 50.
  • the actuating element 29 can then be moved further in the direction R, as a result of which the contact fingers 18a, 18b of the second pair of contact elements 15 are transferred from the contacting position into the open position and the contact fingers 19a, 19b of the third pair of contact elements 16 into the contacting position be transferred by the
  • Counter-control contours 33 of the contact fingers 19a, 19b of the third pair of contact elements 16 engage in the associated control contours 32.
  • the test current is then passed over the contact fingers 19a, 19b of the third pair of contact elements 16 through the cross section of the pin contact 50 in order to carry out a measurement of the voltage drop across the cross section of the pin contact 50.
  • the test is thus carried out at three different measuring points of the pin contact 50. All three measuring points lie on the same cross section of the pin contact 50.
  • the actuating element 29 is moved forward again in the direction R, so that all contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b are again in the open position and the pin contact 50 is not in contact with the Contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b and thus wear-free can be removed from the test device 100.
  • Contact forces of the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b acting on the pin contact 50 to be tested are determined by the contour of the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b and by the contour of the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b passive springing of the contact fingers 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b.
  • the contact forces are reproducible.

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Abstract

Gegenstand der Erfindung ist eine Prüfvorrichtung (100) zum Prüfen eines Übergangswiderstands an mindestens einem Stiftkontakt (50) eines Steckverbinders (200), mit mindestens einem ersten Gehäuse (10), mindestens einem in dem ersten Gehäuse (10) angeordneten ersten Prüfkontaktelernent (13), welches mit mindestens einer Prüfstromleitung (27) und mit mindestens einer Spannungsabgriffleitung (26) verbunden ist, und mindestens einem in dem ersten Gehäuse (10) angeordneten zweiten Prüfkontaktelement (13b), welches mit mindestens einer Prüfstromleitung (27) und mit mindestens einer Spannungsabgriffleitung (26) verbunden ist,wobei ein erster Kontaktfinger (17a, 18a, 19a) des ersten Prüfkontaktelernents (13a) und ein erster Kontaktfinger (17b, 18b, 19b) des zweiten Prüfkontaktelernents (13b) ein erstes Kontaktelernentepaar (14, 15, 16) ausbilden, wobei die zwei Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelernentepaars (14, 15, 16) sich gegenüberliegend angeordnet sind, wobei während eines Prüfvorgangs die zwei Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelernentepaars (14, 15, 16) an einer Außenumfangsfläche des zu prüfenden Stiftkontakts (50) zu einem ersten Zeitpunkt anlegbar sind und über die angelegten Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) eine Bestromung des zu prüfenden Stiftkontakts (50) quer zu einer Längsachse des Stiftkontakts (50) zur Bestimmung des ÜbergangswiderStands an dem Stiftkontakt (50) durchführbar ist.

Description

Prüfvorrichtung und Verfahren zum Prüfen eines Übergangswiderstandes an mindestens einem Stiftkontakt eines Steckverbinders
Die Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung zum Prüfen eines Übergangswiderstands an mindestens einem Stiftkontakt eines Steckverbinders. Ferner betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Prüfen eines Übergangswiderstands an mindestens einem Stiftkontakt eines Steckverbinders.
Steckverbinder, welche insbesondere zum Laden von Elektrofahr zeugen eingesetzt werden, müssen hinsichtlich ihrer Stabilität und Sicherheit hohen Anforderungen genügen. Zum Laden von Elektrofahrzeugen werden mittlerweile über den Steckverbinder, auch Ladesteckverbinder genannt, Gleichströme in Höhe von bis zu 500 Ampere übertragen. Dabei besteht an den Steckverbinder die Anforderung, dass dieser auch nach mehrjährigem Gebrauch mit Tausenden von Ladezyklen seine Leistungsfähigkeit behält. Defekte an den Stiftkontakten der Steckverbinder, welche durch Verschleiß, Verschmutzungen und/oder Beschädigungen entstehen können, können den Übergangswiderstand an den Stiftkontakten des Steckverbinders erhöhen. Dies führt dann wiederum zu einem erhöhten Spannungsabfall über den Querschnitt der Stiftkon takte, was zu einer Erhöhung der Verlustleistung führt. Die Verlustleistung kann im Extremfall derart stark erhöht sein, dass sich im Betrieb die Stiftkontakte so stark erwärmen, dass das die Stiftkontakte umgebende Kunststoffmaterial aufschmilzt oder sogar in Brand gesetzt wird. Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Prüfvor richtung sowie ein Verfahren zur Verfügung zu stellen, mittels welchen auf einfache Art und Weise Defekte an Stiftkontakten von Steckverbindern erkannt werden können.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß mit den Merkmalen der unab hängigen Ansprüche gelöst. Zweckmäßige Ausgestaltungen und vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unter ansprüchen angegeben.
Die Prüfvorrichtung gemäß der Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass diese mindestens ein erstes Gehäuse, mindestens ein in dem ersten Gehäuse angeordnetes erstes Prüfkontaktelement, welches mit mindestens einer PrüfStromleitung und mit mindes tens einer Spannungsabgriffleitung verbunden ist, und mindes tens ein in dem ersten Gehäuse angeordnetes zweites
Prüfkontaktelement, welches mit mindestens einer Prüfstromlei- tung und mit mindestens einer Spannungsabgriffleitung verbun den ist, aufweist, wobei ein erster Kontaktfinger des ersten Prüfkontaktelements und ein erster Kontaktfinger des zweiten Prüfkontaktelements ein erstes Kontaktelementepaar ausbilden, wobei die zwei Kontaktfinger des ersten Kontaktelementepaars sich gegenüberliegend angeordnet sind, wobei während eines Prüfvorgangs die zwei Kontaktfinger des ersten Kontaktelemen tepaars an einer Außenumfangsfläche des zu prüfenden Stiftkon takts zu einem ersten Zeitpunkt anlegbar sind und über die angelegten Kontaktfinger eine Bestromung des zu prüfenden Stiftkontakts quer zu einer Längsachse des Stiftkontakts zur Bestimmung des Übergangswiderstands an dem Stiftkontakt durch führbar ist.
Mittels der erfindungsgemäßen Prüfvorrichtung wird es ermög licht, die elektrischen Eigenschaften der Oberfläche eines Stiftkontakts eines Steckverbinders, insbesondere eines Lade steckverbinders, zu messen und damit auch zu überprüfen. Die Prüfvorrichtung kann dafür auf ein oder mehrere Stiftkontakte des Steckverbinders aufgesteckt werden. Im aufgesteckten Zu stand der Prüfvorrichtung kann eine Kontaktierung der Prüfvor richtung mit ein oder mehreren Stiftkontakten ausgebildet werden. Dafür weist die Prüfvorrichtung ein erstes und ein zweites Prüfkontaktelement auf, welche in einem das Prüfkon taktelement umgebenden Gehäuse angeordnet sind. Das Gehäuse kann beispielsweise hülsenförmig ausgebildet sein und somit an die Kontur des zylinderförmig ausgebildeten Stiftkontakts an gepasst sein. Die Prüfkontaktelemente bilden mindestens ein erstes aus zwei Kontaktfingern ausgebildetes Kontaktelemente paar aus. Mittels der beiden Kontaktfinger eines Kontaktele mentepaars erfolgt eine Kontaktierung des zu prüfenden
Stiftkontakts . Die Kontaktfinger sind vorzugsweise länglich ausgebildet und erstrecken sich in Längsrichtung bzw. axialer Richtung des Stiftkontakts . Bevorzugt sind die Kontaktfinger federnd ausgebildet. Die Kontaktfinger eines Kontaktelemente paars liegen sich gegenüber, so dass ein Strom quer zur Längs achse des Stiftkontakts von dem einem Kontaktfinger des einen Prüfkontaktelements zu dem gegenüberliegenden anderen Kontakt finger des anderen Prüfkontaktelements durch den Stiftkontakt geleitet werden kann. Die Kontaktfinger sind bevorzugt derart geformt, dass sie eine punktförmige Anlagefläche an der Außen umfangsfläche des Stiftkontakts ausbilden. Durch die punktför mige Anlagefläche kann mit einer definierten Kontur und mit einer definierten Kontaktnormalkraft eine Kontaktierung zwi schen dem jeweiligen Kontaktfinger und dem Stiftkontakt ausge bildet werden. Während einer Prüfung und damit während eines Prüfvorgangs sind die zwei Kontaktfinger des ersten Kontakte lementepaars an der Außenumfangfläche des zu prüfenden Stift kontakts zu einem ersten Zeitpunkt anlegbar und über die angelegten Kontaktfinger ist eine Bestromung des zu prüfenden Stiftkontakts quer zu seiner Längsachse zur Bestimmung des Übergangswiderstands an dem Stiftkontakt durchführbar. Durch die Bestromung des Stiftkontakts über die sich gegenüberlie genden Kontaktfinger kann ein auftretender Spannungsabfall de- tektiert bzw. gemessen werden. Über den gemessenen
Spannungsabfall kann eine Aussage über den Übergangswiderstand und damit Aussagen über den Verschleißgrad und/oder den Ver schmutzungsgrad der Stiftkontakte getroffen werden, so dass mögliche Defekte auf einfache und schnelle Art und Weise früh zeitig erkannt werden können. Der Prüfvorgang beschreibt einen Zeitraum innerhalb welchem der Übergangswiderstand eines
Stiftkontakts mittels der Prüfvorrichtung geprüft wird, wenn die Prüfvorrichtung auf den zu prüfenden Stiftkontakt aufge steckt ist. Über die PrüfStromleitung wird dem Prüfkontaktele- ment der für die Prüfung notwendige Prüfstrom zur Verfügung gestellt. Dafür ist vorzugsweise jedes Prüfkontaktelement mit einer PrüfStromleitung elektrisch verbunden. Über die Span nungsabgriffleitungen an den Prüfkontaktelementen kann die Messung des Spannungsabfalls erfolgen. Jeweils eine Spannungs abgriffleitung ist dafür vorzugsweise mit einem der Kontakt finger elektrisch leitend verbunden, so dass jedem
Kontaktfinger eine Spannungsabgriffleitung zugeordnet sein kann .
Bevorzugt weist das Prüfkontaktelement nicht nur ein Kontakte lementepaar auf, sondern zwei oder mehr Kontaktelementepaare. Jedes Kontaktelementepaar weist wiederum bevorzugt zwei sich gegenüberliegende Kontaktfinger auf, wobei bei jedem Kontakte lementepaar ein Kontaktfinger Teil des ersten Prüfkontaktele- ments ist und der andere Kontaktfinger Teil des zweiten
Prüfunfkontaktelements ist. Die an einem Prüfkontaktelement angeordneten Kontaktfinger sind vorzugsweise nebeneinander an geordnet, wobei ein Prüfkontaktelement zusammen mit seinen Kontaktfingern vorzugsweise eine Halbkreisform ausbildet. Die Kontaktfinger des ersten und zweiten Prüfkontaktelements kön nen dann zusammen eine kreisrunde Öffnung bzw. einen kreisrun den Aufnahmeraum für den zu prüfenden Stiftkontakt ausbilden. Beispielsweise kann ein zweiter Kontaktfinger des ersten Prüf kontaktelements und ein zweiter Kontaktfinger des zweiten Prüfkontaktelements ein zweites Kontaktelementepaar ausbilden, wobei die zwei Kontaktfinger des zweiten Kontaktelementepaars sich gegenüberliegend angeordnet sein können, wobei während des Prüfvorgangs die zwei Kontaktfinger des zweiten Kontakte lementepaars an einer Außenumfangsfläche des zu prüfenden Stiftkontakts zu einem zweiten Zeitpunkt anlegbar sind und über die angelegten Kontaktfinger eine Bestromung des zu prü fenden Stiftkontakts quer zu einer Längsachse des Stiftkon takts zur Bestimmung des Übergangswiderstands an dem
Stiftkontakt durchführbar sein kann. Sind zwei oder mehr Kon taktelementepaare vorgesehen, so sind die Kontaktfinger eines Kontaktelementepaares zu anderen Zeitpunkten an der Außenum fangsfläche des zu prüfenden Stiftkontakts anlegbar als die Kontaktfinger eines anderen Kontaktelementepaares. Vorzugs weise sind damit zu einem Zeitpunkt immer nur die Kontaktfin ger eines Kontaktelementepaares in elektrischen Kontakt mit dem Stiftkontakt . Damit erfolgt eine zeitversetzte Prüfung des Stiftkontakts mit den jeweiligen Kontaktelementepaaren. Desto mehr Kontaktelementepaare vorgesehen sind, umso verlässlicher kann die Prüfung des Stiftkontakts erfolgen. Besonders bevor zugt können die zwei Prüfkontaktelemente drei Kontaktelemente paare ausbilden. Die Kontaktelementepaare sind vorzugsweise jeweils baugleich ausgebildet.
Bevorzugt ist es vorgesehen, dass in dem ersten Gehäuse ein Betätigungselement axial verschiebbar angeordnet ist, mittels welchem die Kontaktfinger des ersten Kontaktelementepaars und/oder die Kontaktfinger des zweiten Kontaktelementepaars in eine geöffnete Position und in eine kontaktierende Position, in welcher die Kontaktfinger an dem zu prüfenden Stiftkontakt angelegt sind, überführbar sind. In der geöffneten Position sind die Kontaktfinger eines Kontaktelementepaars vorzugsweise derart weit voneinander beabstandet, dass der zwischen diesen Kontaktfingern ausgebildete Freiraum größer ist als der Durch messer des zu prüfenden Stiftkontakts . Dadurch sind die Kon taktfinger in der geöffneten Position von der
Außenumfangsfläche des Stiftkontakts beabstandet und liegen gerade nicht an der Außenumfangsfläche des Stiftkontakts an.
Im geöffneten Zustand findet damit keine Kontaktierung zwi schen denen in der geöffneten Position angeordneten Kontakt fingern eines Kontaktelementepaars und dem zu prüfenden
Stiftkontakt statt. Die Überführung der Kontaktfinger der Kon taktelementepaare in die geöffnete Position und in die kontak tierende Position erfolgt mittels des in dem Gehäuse
angeordneten Betätigungselement mechanisch. Das Betätigungs element ist dafür vorzugsweise axial verschiebbar in dem Ge häuse gelagert. Axial verschiebbar bedeutet, dass das
Betätigungselement in Längserstreckung der Kontaktfinger und auch in Längserstreckung des Gehäuses verschiebbar ist. Durch die Verschiebebewegung können die Kontaktfinger eines Kontak telementepaars bei der Überführung in die geöffnete Position voneinander wegbewegt werden und bei der Überführung in die kontaktierende Position aufeinander zu bewegt werden.
Das Betätigungselement ist vorzugsweise derart in dem Gehäuse angeordnet, dass das Betätigungselement in einem durch das erste Prüfkontaktelement und durch das zweite Prüfkontaktele- ment ausgebildeten Innenraum axial verschiebbar angeordnet ist und das Betätigungselement bei einer Verschiebebewegung in Kontakt mit einer Innenfläche der Kontaktfinger des ersten Kontaktelementepaars und/oder des zweiten Kontaktelementepaars bringbar ist. Das Betätigungselement ist vorzugsweise derart positioniert, dass es von den Kontaktfingern der Kontaktele mentepaare umschlossen wird, so dass das Betätigungselement in einem durch die Kontaktfinger begrenzten Innenraum der beiden Prüfkontaktelemente axial verschiebbar gelagert ist. Dadurch kann das Betätigungselement bei seiner Verschiebebewegung mit den Kontaktfingern über die Innenflächen der Kontaktfinger Zu¬ sammenwirken, um diese in die kontaktierende und in die geöff nete Position zu überführen. Bei der Überführung in die geöffnete Position können die Kontaktfinger damit mittels des Betätigungselements nach radial außen bewegt bzw. gedrückt werden .
Bevorzugt ist es vorgesehen, dass an einer Außenumfangsfläche des Betätigungselements Steuerkonturen und dass an einer In nenfläche der Kontaktfinger des ersten Kontaktelementepaars und/oder an einer Innenfläche des zweiten Kontaktelementepaars jeweils eine Gegensteuerkontur ausgebildet ist, wobei mittels der Steuerkonturen und der Gegensteuerkonturen die Kontaktfin ger des ersten Kontaktelementepaars zu dem ersten Zeitpunkt in die kontaktierende Position und/oder die Kontaktfinger des zweiten Kontaktelementepaars zu dem zweiten Zeitpunkt in die kontaktierende Position überführbar sind. Mittels der Steuer konturen und der Gegensteuerkonturen kann damit eine zeitver setzte Kontaktierung der Kontaktelementepaare mit dem zu prüfenden Stiftkontakt erreicht bzw. gesteuert werden, so dass zu einem Zeitpunkt immer nur eines der Kontaktelementepaare mit dem zu prüfenden Stiftkontakt in einer kontaktierenden Po sition ist und damit an dem Stiftkontakt anliegt. Die anderen Kontaktelementepaare sind dann mittels des Betätigungselements in der geöffneten Position positioniert. Die Steuerkonturen und die Gegensteuerkonturen sind derart ausgebildet, dass diese miteinander Zusammenwirken. Bevorzugt weist jeder Kon taktfinger an seiner Innenfläche eine Gegensteuerkontur auf.
An dem Betätigungselement ist vorzugsweise für jeden Kontakt finger eine Steuerkontur ausgebildet. Bevorzugt entspricht da mit die Anzahl der Steuerkonturen an dem Betätigungselement der Anzahl der Gegensteuerkonturen an den Kontaktfingern der Prüfkontaktelemente . Die Steuerkonturen für das erste Kontaktelementepaar sind ent lang der Außenumfangsfläche des Betätigungselements vorzugs weise axial versetzt zu den Steuerkonturen für das zweite Kontaktelementepaar angeordnet. Axial versetzt bedeutet, dass die einem Kontaktelementepaar zugeordneten Steuerkonturen in Längsrichtung des Betätigungselements versetzt zu denen einem anderen Kontaktelementepaar zugeordneten Steuerkonturen ange ordnet sind. Die Steuerkonturen für unterschiedliche Kontakte lementepaare sind damit vorzugsweise nicht auf einer Höhe entlang der Außenumfangsfläche des Betätigungselements ange ordnet. Durch die versetzte Anordnung kann die abwechselnde Kontaktierung der Kontaktelementepaare mit dem zu prüfenden Stiftkontakt erreicht werden. Die beiden Steuerkonturen für ein Kontaktelementepaar bzw. für die beiden Kontaktfinger ei nes Kontaktelementepaars sind hingegen vorzugsweise auf einer Höhe entlang der Außenumfangsfläche des Betätigungselements angeordnet, so dass eine gleichzeitige Kontaktierung der Kon taktfinger eines Kontaktelementepaares mit dem zu prüfenden Stiftkontakt sichergestellt werden kann. Die an den einzelnen Kontaktfingern der Kontaktelementepaare angeordneten Gegen steuerkonturen sind hingegen vorzugweise alle auf ein und der selben Höhe angeordnet.
Die Steuerkonturen können jeweils in Form von Ausnehmungen ausgebildet sein und die Gegensteuerkonturen können jeweils in Form von Erhebungen ausgebildet sein oder die Steuerkonturen können jeweils in Form von Erhebungen und die Gegensteuerkon turen können jeweils in Form von Ausnehmungen ausgebildet sein. In einer kontaktierenden Position der Kontaktfinger kön nen die jeweiligen Erhebungen dann in die jeweiligen Ausneh mungen eingreifen. Die Erhebungen können beispielsweise halbkugelförmig ausgebildet sein. Die Ausnehmungen können in Form von halbrunden Aussparungen ausgebildet sein. Zur Ausführung der axialen Verschiebebewegung kann das Betäti gungselement mittels einer Gewindespindel antreibbar sein.
Die Prüfvorrichtung kann zusätzlich zu dem ersten Gehäuse ein zweites Gehäuse aufweisen, in welchem ein wie vorstehend be schriebenes erstes Prüfkontaktelement und ein wie vorstehend beschriebenes zweites Prüfkontaktelement angeordnet sein kann. Das zweite Gehäuse ist vorzugsweise baugleich mit dem ersten Gehäuse ausgebildet, so dass das zweite Gehäuse zwei Prüfkon taktelemente aufweisen kann, welche baugleich zu den beiden Prüfkontaktelementen in dem ersten Gehäuse ausgebildet sein können. Durch das Vorsehen eines zweiten Gehäuses können zeit gleich zwei Stiftkontakte eines Steckverbinders geprüft wer den. Weiter ist es auch möglich mehr als zwei entsprechende Gehäuse vorzusehen, so dass dann auch zeitgleich mehr als zwei Stiftkontakte geprüft werden können.
Das erste Gehäuse und/oder das zweite Gehäuse können jeweils eine Zentrieröffnung zum Einführen des zu prüfenden Stiftkon takts in das erste Gehäuse und/oder in das zweite Gehäuse auf- weisen. Mittels der Zentrieröffnung kann ein positionsgenaues Einführen des Stiftkontakts in die Prüfvorrichtung bzw. in das entsprechende Gehäuse der Prüfvorrichtung erreicht werden, so dass der Stiftkontakt bereits beim Einführen in der gewünsch ten Position relativ zu den Prüfkontaktelementen ausgerichtet werden kann. Die Zentrieröffnung weist vorzugsweise einen Durchmesser auf, welcher kleiner als der Durchmesser des rest lichen Teils des Gehäuses ist, so dass im Bereich der
Zentrieröffnung der Durchmesser des Gehäuses reduziert ist.
Die Zentrieröffnung kann einstückig mit dem Gehäuse ausgebil det sein. Weiter ist es aber auch möglich, dass ein Hülsenkör per in das Gehäuse eingelegt ist, welches die Zentrieröffnung ausbildet . Weiter ist es möglich, dass die Prüfvorrichtung ein Hauptge häuse aufweist, an welchem das erste Gehäuse und/oder das zweite Gehäuse angeordnet sein können, wobei das erste Gehäuse und/oder das zweite Gehäuse an dem Hauptgehäuse schwimmend ge lagert sein können. Durch die schwimmende Lagerung der Gehäuse an dem Hauptgehäuse kann das Gehäuse beim Einführen des zu prüfenden Stiftkontakts sowohl radiale als auch axiale Aus gleichsbewegungen ausführen, so dass Positionstoleranzen der Stiftkontakte im Steckverbinder relativ zu der Prüfvorrichtung ausgeglichen werden können.
Die Lösung der erfindungsgemäßen Aufgabe erfolgt ferner mit tels eines Verfahrens zum Prüfen eines Übergangswiderstands an mindestens einem Stiftkontakt eines Steckverbinders, mit einer Prüfvorrichtung, welche mindestens ein erstes Gehäuse, mindes tens ein in dem ersten Gehäuse angeordnetes erstes Prüfkontak telement, welches mit mindestens einer PrüfStromleitung und mit mindestens einer Spannungsabgriffleitung verbunden ist, und mindestens ein in dem ersten Gehäuse angeordnetes zweites Prüfkontaktelement, welches mit mindestens einer Prüfstromlei- tung und mit mindestens einer Spannungsabgriffleitung verbun den ist, aufweist, wobei ein erster Kontaktfinger des ersten Prüfkontaktelements und ein erster Kontaktfinger des zweiten Prüfkontaktelements ein Kontaktelementepaar ausbilden, wobei die zwei Kontaktfinger des ersten Kontaktelementepaars sich gegenüberliegend angeordnet sind, wobei während eines Prüfvor gangs die zwei Kontaktfinger des ersten Kontaktelementepaars an einer Außenumfangsfläche des zu prüfenden Stiftkontakts zu einem ersten Zeitpunkt angelegt werden und über die angelegten Kontaktfinger eine Bestromung des zu prüfenden Stiftkontakts quer zu einer Längsachse des Stiftkontakts zur Bestimmung des Übergangswiderstands an dem Stiftkontakt durchgeführt wird. Nachfolgend wird die Erfindung unter Bezugnahme auf die anlie genden Zeichnungen anhand bevorzugter Ausführungsformen näher erläutert .
Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung eines Steckverbinders und einer Prüfvorrichtung gemäß der Erfindung, wobei die Prüfvorrichtung ein erstes Gehäuse aufweist,
Fig. 2 eine schematische Darstellung eines Steckverbinders und einer Prüfvorrichtung gemäß der Erfindung, wobei die Prüfvorrichtung ein erstes Gehäuse und ein zwei tes Gehäuse aufweist,
Fig. 3 eine schematische Schnittdarstellung durch eine Prüf vorrichtung gemäß der Erfindung,
Fig. 4 eine schematische Darstellung von zwei zusammen ange ordneten Prüfkontaktelementen,
Fig . 5 eine schematische Darstellung eines in Fig. 4 gezeig ten Prüfkontaktelements ,
Fig. 6 eine schematische Darstellung des in Fig. 5 gezeigten
Prüfkontaktelements als Stanzblechabschnitt vor einem Biegen in die endgültige Form,
Fig. 7 eine schematische Darstellung des in Fig. 5 gezeigten
Prüfkontaktelements mit einer daran angeordneten PrüfStromleitung und mehreren Spannungsabgriffleitun- gen,
Fig. 8 eine schematische Darstellung eines Betätigungsele ments, Fig. 9 eine schematische Schnittdarstellung der Prüfvorrich tung gemäß der Erfindung mit einem eingeführten
Stiftkontakt, wobei die Kontaktfinger der Kontaktele mentepaare in einer geöffneten Position sind, und
Fig. 10 eine schematische Schnittdarstellung, bei welcher die
Kontaktfinger eines der Kontaktelementepaare in einer kontaktierenden Position mit dem eingeführten Stift kontakt sind.
Fig. 1 zeigt eine Prüfvorrichtung 100 zum Prüfen eines Über gangswiderstands an mindestens einem Stiftkontakt 50 eines Steckverbinders 200. Der Steckverbinder 200 ist bei der hier gezeigten Ausgestaltung ein Ladesteckverbinder, welcher zum Laden eines Elektrofahrzeuges dient und in ein Elektrofahrzeug eingebaut werden kann. Zum Prüfen des Stiftkontakts 50 wird die Prüfvorrichtung 100 auf den Stiftkontakt 50 aufgeschoben bzw. aufgesteckt. Das Aufschieben bzw. Aufstecken kann manuell oder automatisiert erfolgen.
Bei der in Fig. 1 gezeigten Ausgestaltung weist die Prüfvor richtung 100 ein erstes Gehäuses 10 und ein Hauptgehäuse 11 auf, wobei das erste Gehäuse 10 an dem Hauptgehäuse 11 ange ordnet ist. Das erste Gehäuse 10 ist schwimmend an dem Haupt gehäuse 11 gelagert, so dass das erste Gehäuse 10 relativ zu dem Hauptgehäuse 11 radial und/oder axial beweglich ist, um Positionstoleranzen des Stiftkontakts 50 innerhalb des Steck verbinders 200 beim Aufstecken der Prüfvorrichtung 100 auf den Stiftkontakt 50 ausgleichen zu können.
Das Hauptgehäuse 11 weist eine größere Außenumfangsfläche auf als das erste Gehäuse 10. Sowohl das Hauptgehäuse 11 als auch das erste Gehäuse 10 sind hülsenförmig ausgebildet. In Fig. 2 ist eine Ausgestaltung gezeigt, bei welcher die Prüfvorrichtung 100 nicht nur ein erstes Gehäuse 10, sondern auch ein zweites Gehäuse 12 aufweist. Zum Prüfen kann das erste Gehäuse 10 auf einen Stiftkontakt 50 und das zweite Ge häuse 12 kann auf einen weiteren Stiftkontakt 50 aufgeschoben werden, so dass eine zeitgleiche Prüfung von zwei Stiftkontak ten 50 mittels der Prüfvorrichtung 100 durchgeführt werden kann. Das zweite Gehäuse 12 ist ebenso wie das erste Gehäuse 10 schwimmend an dem Hauptgehäuse 11 angeordnet. Die beiden Gehäuse 10, 12 sind parallel zueinander ausgerichtet und ne beneinander angeordnet.
Fig. 3 zeigt eine Schnittdarstellung einer Prüfvorrichtung 100. In dem jeweiligen Gehäuse 10, 12 sind zwei Prüfkontakte- lemente 13a, 13b angeordnet, welche in Fig. 4 auch noch einmal einzeln dargestellt sind. Mittels der Prüfkontaktelemente 13a, 13b findet die eigentliche Prüfung des jeweiligen Stiftkon takts 50 statt.
Die Prüfkontaktelemente 13a, 13b bilden bei der in Fig. 3 und 4 gezeigten Ausgestaltung drei Kontaktelementepaare 14, 15, 16 aus. Die Kontaktelementepaare 14, 15, 16 sind an Verbindungs elementen 37a, 37b angeordnet, welche einstückig mit den Kon taktelementepaaren 14, 15, 16 ausgebildet sein können. Jedem Prüfkontaktelement 13a, 13b ist eines der beiden Verbindungs elemente 37a, 37b zugeordnet, so dass das erste Verbindungs element 37a Teil des ersten Prüfkontaktelements 13a und das zweite Verbindungselement 37b Teil des zweiten Prüfkontaktele ments 13b ist. Die Kontaktelementepaare 14, 15, 16 und die Verbindungselemente 37a, 37b können aus einem Blechmaterial ausgebildet sein.
Jedes Kontaktelementepaar 14, 15, 16 ist aus zwei sich gegen überliegend angeordneten Kontaktfingern 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b ausgebildet. Bei den Kontaktfingern 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b eines Kontaktelementepaars 14, 15, 16 ist je weils ein Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b an dem ersten Prüfkontaktelement 13a und ein Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b an dem zweiten Prüfkontaktelement 13b ange ordnet .
Die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b sind länglich ausgebildet und sind mit einem ihrer Enden an einem der Ver bindungselemente 37a, 37b angebunden, so dass sich die Kon taktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b ausgehend von den Verbindungselementen 37a, 37b wegerstrecken. Die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b erstrecken sich in einem einge führten Zustand des Stiftkontakts 50 in die Prüfvorrichtung 100 parallel zu dem Stiftkontakt 50.
An ihrem freien Ende 20a, 20b, 21a, 21b, 22a, 22b sind die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b in Richtung des eingeführten Stiftkontakts 50 gebogen, insbesondere halbkreis förmig gebogen, ausgebildet. Im Bereich der Biegung, insbeson dere mittig der Biegung, weisen die Kontaktfinger 17a, 17b,
18a, 18b, 19a, 19b jeweils einen Kontaktpunkt 23a, 23b, 24a, 24b, 25a, 25b, über welchen die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b mit dem zu prüfenden Stiftkontakt 50 kontaktiert werden können, auf.
Die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b sind derart an geordnet, dass sie eine ringförmige Öffnung zum Einführen des zu prüfenden Stiftkontakts 50 ausbilden.
Im Bereich der Kontaktpunkte 23a, 23b, 24a, 24b, 25a, 25b sind die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b jeweils mit ei ner Spannungsabgriffleitung 26 verbunden, so dass über jeden Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b ein Spannungsab griff erfolgen kann. Ferner ist jeweils eine PrüfStromleitung 27 an den beiden Prüfkontaktelementen 13a, 13b angebunden, um einen Prüfstrom an das jeweilige Prüfkontaktelement 13a, 13b zu leiten. Die Anbindung der PrüfStromleitung 27 ist, wie in Fig. 7 zu erken nen ist, an den Verbindungselementen 37a, 37b ausgebildet. Die Spannungsabgriffleitungen 26 und die PrüfStromleitungen 27 sind aus der Prüfvorrichtung 100 herausgeführt.
Die Prüfkontaktelemente 13a, 13b sind in einem Tragelement 28 angeordnet bzw. gehalten. Dabei sind die Verbindungselemente 37a, 37b in dem Tragelement 28 eingebettet, wohingegen die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b außerhalb des Tra gelements 28 positioniert sind. Das Tragelement 28 ist hülsen förmig ausgebildet. Das Tragelement 28 kann aus einem
Isolierstoff ausgebildet sein.
Wie in Fig. 4 bis Fig. 7 zu erkennen ist, bildet jeweils ein Verbindungselement 37a, 37b eine Halbkreisform ausbildet. An jedem Verbindungselement 37a, 37b jeweils eine Prüfstromlei- tung 27 angeordnet. An jedem der Verbindungselemente 37a, 37b ist jeweils ein Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b der drei Kontaktelementepaare 14, 15, 16 angeordnet.
Die Prüfvorrichtung 100 weist ferner ein Betätigungselement 29 auf, welches beispielsweise in Fig. 3 und Fig. 8 zu erkennen ist. Das Betätigungselement 29 ist axial verschiebbar, wie mit den Pfeilen angedeutet ist, in dem Gehäuse 10, 12 angeordnet. Mittels der Verschiebebewegung des Betätigungselements 29 kön nen die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b der Kontak telementepaare 14, 15, 16 in eine geöffnete Position und in eine kontaktierende Position überführt werden.
Das Betätigungselement 29 ist hierfür in einem Innenraum 30 des Prüfkontaktelements 13, welcher durch die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b begrenzt wird, axial verschiebbar angeordnet. Bei einer Verschiebebewegung ist das Betätigungs element 29 mit seiner Außenumfangsfläche 31 entlang der Innen fläche 38 der Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b verschiebbar .
Das Betätigungselement 29 ist hülsenförmig ausgebildet.
An der Außenumfangsfläche 31 des Betätigungselements 29 ist sind mehrere Steuerkonturen 32 ausgebildet, welche mit an der Innenfläche 38 der Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b angeordneten Gegensteuerkonturen 33 Zusammenwirken.
Bei den in den hier gezeigten Ausgestaltungen sind die Steuer konturen 32 in Form von Ausnehmungen und die Gegensteuerkontu ren 33 in Form von Erhebungen ausgebildet. Die Erhebungen sind halbkugelförmig ausgebildet. Beispielsweise können die Erhe bungen durch halbkugelförmig ausgebildete Nieten, die an den Kontaktfingern 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b befestigt sind, ausgebildet sein.
Die Steuerkonturen 32 für das erste Kontaktelementepaar 14 sind entlang der Außenumfangsfläche 31 des Betätigungselements 29 axial versetzt zu den Steuerkonturen 32 für das zweite Kon taktelementepaar 15 und die Steuerkonturen 32 für das dritte Kontaktelementepaar 16 sind axial versetzt zu den Steuerkontu ren 32 des ersten und des zweiten Kontaktelementepaars 14, 15 angeordnet. Die Steuerkonturen 32 für unterschiedliche Kontak telementepaare 14, 15, 16 sind damit nicht auf einer Höhe ent lang der Außenumfangsfläche 31 des Betätigungselements 29 angeordnet, wie in Fig. 8 zu erkennen ist. Durch die versetzte Anordnung kann eine abwechselnde Kontaktierung der Kontaktele mentepaare 14, 15, 16 mit dem zu prüfenden Stiftkontakt 50 er reicht werden. Die beiden Steuerkonturen 32 für ein Kontaktelementepaar 14, 15, 16 bzw. für die beiden Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b eines Kontaktelementepaars 14, 15, 16 sind hingegen auf einer Höhe entlang der Außenumfangsfläche 31 des Betäti gungselements 29 angeordnet, so dass eine gleichzeitige Kon taktierung der Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b eines Kontaktelementepaares 14, 15, 16 mit dem zu prüfenden Stiftkontakt 50 sichergestellt werden kann.
Die an den einzelnen Kontaktfingern 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b der Kontaktelementepaare 14, 15, 16 angeordneten Gegen steuerkonturen 33 sind hingegen alle auf ein und derselben Höhe angeordnet und damit nicht versetzt zueinander angeord net .
Durch die versetzte Anordnung der Steuerkonturen 32 kann er reicht werden, dass die Kontaktfinger 17a, 17b des ersten Kon taktelementepaars 14 zu einem ersten Zeitpunkt in einer kontaktierenden Position mit dem Stiftkontakt 50 sind, die Kontaktfinger 18a, 18b des zweiten Kontaktelementepaars 15 zu einem zweiten Zeitpunkt in einer kontaktierenden Position mit dem Stiftkontakt 50 sind und die Kontaktfinger 19a, 19b des dritten Kontaktelementepaars 15 zu einem dritten Zeitpunkt in einer kontaktierenden Position mit dem Stiftkontakt 50 sind. Die Kontaktelementepaare 14, 15, 16 kontaktieren damit zeit versetzt mit dem zu prüfenden Stiftkontakt 50, so dass die Bestromung des Stiftkontakts 50 quer zu seiner Längsachse für jedes Kontaktelementepaar 15 getrennt stattfindet.
Der zu prüfende Stiftkontakt 50 wird über eine Zentrieröffnung 34 in die Prüfvorrichtung 100 eingeführt. Nach einem Passieren der Zentrieröffnung 34 gelangt der Stiftkontakt 50 in den Be reich der Prüfkontaktelemente 13a, 13b, wie in Fig. 9 zu er kennen ist. Beim Einführen des Stiftkontakts 50 in die Prüfvorrichtung 100 befindet sich das Betätigungselement 29 in der Nähe der freien Enden 20a, 20b, 21a, 21b, 22a, 22b der Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b. In dieser Position des Betätigungselements 29 sind alle Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b mit tels des Betätigungselements 29 in einer geöffneten Position gehalten und damit nach radial außen gedrückt, so dass beim Einführen des Stiftkontakts 50 eine Berührung der Kontaktfin ger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b mit dem Stiftkontakt 50 ver hindert werden kann. Es kann damit ein berührungsloses
Einführen des Stiftkontakts 50 erreicht werden. In dem Betäti gungselement 29 ist eine Bohrung 35 ausgebildet, in welche der Stiftkontakt 50 eingeführt wird. Beim Einführen in die Bohrung 35 richtet sich das Gehäuse 10, 12 relativ zu dem Stiftkontakt 50 aus, so dass eine möglichst genaue Prüfung durchgeführt werden kann. Die Ausrichtung des Stiftkontakts 50 erfolgt über die Zentrieröffnung 34.
Anschließend wird das Betätigungselement 29 in Richtung R nach hinten in Richtung des Hauptgehäuses 11 axial verschoben. Die Verschiebebewegung des Betätigungselements 29 erfolgt mittels einer Gewindespindel 36. Die Gewindespindel 29 greift dafür in ein an dem Betätigungselement 29 ausgebildetes Innengewinde ein .
Das Betätigungselement 29 wird dabei zunächst derart weit nach hinten bewegt, dass die Gegensteuerkonturen 33 der Kontaktfin ger 17a, 17b des ersten Kontaktelementepaares 14 in die ihnen zugeordneten Steuerkonturen 32 eingreifen, wodurch die Kon taktfinger 17a, 17b von der geöffneten Position in die kontak tierende Position überführt werden und in dieser
kontaktierenden Position an dem Stiftkontakt 50 zum Anliegen kommen, wie beispielhaft in Fig. 10 gezeigt ist. Über die PrüfStromleitung 27 wird ein Prüfstrom mit einem Strompuls be kannter Größe und Dauer über die Kontaktfinger 17a, 17b und den Querschnitt des Stiftkontakts 50 geleitet, wobei der ent sprechende Spannungsabfall über den Querschnitt des Stiftkon takts 50 im Sinne einer 4-Punkt-Messung gemessen wird und über die Spannungsabgriffleitungen 26 abgeführt wird.
Nach dieser Messung wird das Betätigungselement 29 weiter in Richtung R bewegt, wodurch die Kontaktfinger 17a, 17b des ers ten Kontaktelementepaars 14 von der kontaktierenden Position in die geöffnete Position überführt werden und die Kontaktfin- ger 18a, 18b des zweiten Kontaktelementepaars 15 in die kon taktierende Position überführt werden, indem die
Gegensteuerkonturen 33 der Kontaktfinger 18a, 18b des zweiten Kontaktelementepaares 15 in die ihnen zugeordneten Steuerkon turen 32 eingreifen. Der Prüfstrom wird dann über die Kontakt- finger 18a, 18b des zweiten Kontaktelementepaares 15 durch den Querschnitt des Stiftkontakts 50 geleitet, um eine weitere Messung des Spannungsabfalls über den Querschnitt des Stift kontakts 50 durchzuführen. Anschließend kann das Betätigungselement 29 weiter in Richtung R bewegt werden, wodurch die Kontaktfinger 18a, 18b des zwei ten Kontaktelementepaars 15 von der kontaktierenden Position in die geöffnete Position überführt werden und die Kontaktfin ger 19a, 19b des dritten Kontaktelementepaars 16 in die kon- taktierende Position überführt werden, indem die
Gegensteuerkonturen 33 der Kontaktfinger 19a, 19b des dritten Kontaktelementepaares 16 in die ihnen zugeordneten Steuerkon turen 32 eingreifen. Der Prüfstrom wird dann über die Kontakt finger 19a, 19b des dritten Kontaktelementepaares 16 durch den Querschnitt des Stiftkontakts 50 geleitet, um eine Messung des Spannungsabfalls über den Querschnitt des Stiftkontakts 50 durchzuführen . Die Prüfung erfolgt damit an drei verschiedenen Messpunkten des Stiftkontakts 50. Alle drei Messpunkte liegen am gleichen Querschnitt des Stiftkontakts 50 an. Nach der Messung bzw. Prüfung wird das Betätigungselement 29 wieder entgegen der Richtung R nach vorne bewegt, so dass sich alle Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b wieder in der geöffneten Position befinden und der Stiftkontakt 50 ohne eine Berührung mit den Kontaktfingern 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b und damit verschleißfrei aus der Prüfvorrichtung 100 entfernt werden kann.
An dem zu prüfenden Stiftkontakt 50 wirkenden Kontaktkräfte der Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b werden durch die Kontur der Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b und durch ein durch die Kontur der Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b sich ausbildendes passives Anfedern der Kontakt finger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b erreicht. Die Kontakt kräfte sind reproduzierbar.
BezugsZeichen
100 Prüfvorrichtung
10 Gehäuse
11 Hauptgehäuse
12 Gehäuse
13a Erstes Prüfkontaktelement
13b Zweites Prüfkontaktelement
14 Kontaktelernentepaar
15 Kontaktelernentepaar
16 Kontaktelernentepaar
17a, 17b Kontaktfinger
18a, 18b Kontaktfinger
19a, 19b Kontaktfinger
20a, 20b freies Ende
21a, 21b freies Ende
22a, 22b freies Ende
23a, 23b Kontaktpunkt
24a, 24b Kontaktpunkt
25a, 25b Kontaktpunkt
26 Spannungsabgriffleitung
27 PrüfStromleitung
28 Tragelement
29 Betätigungselement
30 Innenraum
31 Außenumfangsfläche
32 Steuerkontur
33 GegenSteuerkontur
34 Zentrieröffnung
35 Bohrung
36 Gewindespindel
37a, 37b Verbindungselement
38 Innenfläche
200 Steckverbinder 50 Stiftkontakt

Claims

Patentansprüche
1. Prüfvorrichtung (100) zum Prüfen eines Übergangswider
stands an mindestens einem Stiftkontakt (50) eines Steck verbinders (200), mit
mindestens einem ersten Gehäuse (10),
mindestens einem in dem ersten Gehäuse (10) angeordneten ersten Prüfkontaktelement (13a), welches mit mindestens einer PrüfStromleitung (27) und mit mindestens einer Span nungsabgriffleitung (26) verbunden ist, und
mindestens einem in dem ersten Gehäuse (10) angeordneten zweiten Prüfkontaktelement (13b), welches mit mindestens einer PrüfStromleitung (27) und mit mindestens einer Span nungsabgriffleitung (26) verbunden ist,
wobei ein erster Kontaktfinger (17a, 18a, 19a) des ersten Prüfkontaktelements (13a) und ein erster Kontaktfinger (17b, 18b, 19b) des zweiten Prüfkontaktelements (13b) ein erstes Kontaktelementepaar (14, 15, 16) ausbilden, wobei die zwei Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) sich gegenüber liegend angeordnet sind,
wobei während eines Prüfvorgangs die zwei Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelemente paars (14, 15, 16) an einer Außenumfangsfläche des zu prü fenden Stiftkontakts (50) zu einem ersten Zeitpunkt anlegbar sind und über die angelegten Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) eine Bestromung des zu prüfenden Stiftkontakts (50) quer zu einer Längsachse des Stiftkon takts (50) zur Bestimmung des Übergangswiderstands an dem Stiftkontakt (50) durchführbar ist.
2. Prüfvorrichtung (100) nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, dass ein zweiter Kontaktfinger (17a, 18a, 19a) des ersten Prüfkontaktelements (13a) und ein zweiter Kon taktfinger (17b, 18b, 19b) des zweiten Prüfkontaktelements (13b) ein zweites Kontaktelementepaar (14, 15, 16) ausbil den, wobei die zwei Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b,
19a, 19b) des zweiten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) sich gegenüberliegend angeordnet sind, wobei während des Prüfvorgangs die zwei Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des zweiten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) an einer Außenumfangsfläche des zu prüfenden Stiftkontakts (50) zu einem zweiten Zeitpunkt anlegbar sind und über die angelegten Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) eine Bestromung des zu prüfenden Stiftkontakts (50) quer zu einer Längsachse des Stiftkontakts (50) zur Bestimmung des Übergangswiderstands an dem Stiftkontakt (50) durch führbar ist.
3. Prüfvorrichtung (100) nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge kennzeichnet, dass in dem ersten Gehäuse (10) ein Betäti gungselement (29) axial verschiebbar angeordnet ist, mittels welchem die Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b,
19a, 19b) des ersten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) und/oder die Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des zweiten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) in eine ge öffnete Position und in eine kontaktierende Position, in welcher die Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) an dem zu prüfenden Stiftkontakt (50) angelegt sind, über- führbar sind.
4. Prüfvorrichtung (100) nach Anspruch 3, dadurch gekenn
zeichnet, dass das Betätigungselement (29) in einem durch das erste Prüfkontaktelement (13a) und durch das zweite Prüfkontaktelement (13b) ausgebildeten Innenraum (30) axial verschiebbar angeordnet ist und das Betätigungsele ment (29) bei einer Verschiebebewegung in Kontakt mit ei ner Innenfläche (38) der Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelementepaars (14, 15,
16) und/oder des zweiten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) bringbar ist.
5. Prüfvorrichtung (100) nach Anspruch 3 oder 4, dadurch ge kennzeichnet, dass an einer Außenumfangsfläche (31) des Betätigungselements (29) Steuerkonturen (32) und dass an einer Innenfläche (38) der Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelementepaars (14, 15,
16) und/oder an einer Innenfläche (38) der Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des zweiten Kontaktelemen tepaars (14, 15, 16) jeweils eine Gegensteuerkontur (33) ausgebildet ist, wobei mittels der Steuerkonturen (32) und der Gegensteuerkonturen (33) die Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelementepaars (14,
15, 16) zu dem ersten Zeitpunkt in die kontaktierende Po sition und/oder die Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b,
19a, 19b) des zweiten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) zu dem zweiten Zeitpunkt in die kontaktierende Position über- führbar sind.
6. Prüfvorrichtung (100) nach Anspruch 5, dadurch gekenn
zeichnet, dass die Steuerkonturen (32) für das erste Kon taktelementepaar (14, 15, 16) entlang der
Außenumfangsfläche (31) des Betätigungselements (29) axial versetzt zu den Steuerkonturen (32) des zweiten Kontakte lementepaars (14, 15, 16) angeordnet sind.
7. Prüfvorrichtung (100) nach Anspruch 5 oder 6, dadurch ge kennzeichnet, dass die Steuerkonturen (32) jeweils in Form von Ausnehmungen ausgebildet ist und dass die Gegensteuer konturen (33) jeweils in Form von Erhebungen ausgebildet sind oder dass die Steuerkonturen (32) jeweils in Form von Erhebungen und die Gegensteuerkonturen (33) jeweils in Form von Ausnehmungen ausgebildet sind.
8. Prüfvorrichtung (100) nach einem der Ansprüche 3 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass das Betätigungselement (29) zur Ausführung der axialen Verschiebebewegung mittels ei ner Gewindespindel (36) antreibbar ist.
9. Prüfvorrichtung (100) nach einem der Ansprüche 1 bis 8, gekennzeichnet durch ein zweites Gehäuse (12), in welchem ein erstes Prüfkontaktelement (13a) und ein zweites Prüf kontaktelement (13b) angeordnet sind.
10. Prüfvorrichtung (100) nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass das erste Gehäuse (10) und/o der das zweite Gehäuse (12) eine Zentrieröffnung (34) zum Einführen des zu prüfenden Stiftkontakts (50) in das erste Gehäuse (10) und/oder das zweite Gehäuse (12) aufweist.
11. Prüfvorrichtung (100) nach einem der Ansprüche 1 bis 10, gekennzeichnet durch ein Hauptgehäuse (11), an welchem das erste Gehäuse (10) und/oder das zweite Gehäuse (12) ange ordnet sind, wobei das erste Gehäuse (10) und/oder das zweite Gehäuse (12) an dem Hauptgehäuse (11) schwimmend gelagert sind.
12. Verfahren zum Prüfen eines Übergangswiderstands an mindes tens einem Stiftkontakt (50) eines Steckverbinders (200), mit einer Prüfvorrichtung (100), welche mindestens ein erstes Gehäuse (10), mindestens ein in dem ersten Gehäuse (10) angeordnetes erstes Prüfkontaktelement (13a), welches mit mindestens einer PrüfStromleitung (27) und mit mindes tens einer Spannungsabgriffleitung (26) verbunden ist, und mindestens ein in dem ersten Gehäuse (10) angeordnetes zweites Prüfkontaktelement (13b), welches mit mindestens einer PrüfStromleitung (27) und mit mindestens einer Span nungsabgriffleitung (26) verbunden ist, aufweist, wobei ein erster Kontaktfinger (17a, 18a, 19a) des ersten Prüf kontaktelements (13a) und ein erster Kontaktfinger (17b, 18b, 19b) des zweiten Prüfkontaktelements (13b) ein erstes Kontaktelementepaar (14, 15, 16) ausbilden, wobei die zwei Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten
Kontaktelementepaars (14, 15, 16) sich gegenüberliegend angeordnet sind, wobei während eines Prüfvorgangs die zwei Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) an einer Außenumfangs- fläche des zu prüfenden Stiftkontakts (50) zu einem ersten
Zeitpunkt angelegt werden und über die angelegten Kontakt finger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) eine Bestromung des zu prüfenden Stiftkontakts (50) quer zu einer Längsachse des Stiftkontakts (50) zur Bestimmung des Übergangswider stands an dem Stiftkontakt (50) durchgeführt wird.
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