DE102018124629A1

DE102018124629A1 - Prüfvorrichtung und Verfahren zum Prüfen eines Übergangswiderstandes an mindestens einem Stiftkontakt eines Steckverbinders

Info

Publication number: DE102018124629A1
Application number: DE102018124629.3A
Authority: DE
Inventors: Thomas Führer
Original assignee: Phoenix Contact eMobility GmbH
Current assignee: Phoenix Contact eMobility GmbH
Priority date: 2018-10-05
Filing date: 2018-10-05
Publication date: 2020-04-09
Also published as: DE112019004960A5; WO2020070187A1

Abstract

Gegenstand der Erfindung ist eine Prüfvorrichtung (100) zum Prüfen eines Übergangswiderstands an mindestens einem Stiftkontakt (50) eines Steckverbinders (200), mit mindestens einem ersten Gehäuse (10), mindestens einem in dem ersten Gehäuse (10) angeordneten ersten Prüfkontaktelement (13), welches mit mindestens einer Prüfstromleitung (27) und mit mindestens einer Spannungsabgriffleitung (26) verbunden ist, und mindestens einem in dem ersten Gehäuse (10) angeordneten zweiten Prüfkontaktelement (13b), welches mit mindestens einer Prüfstromleitung (27) und mit mindestens einer Spannungsabgriffleitung (26) verbunden ist,wobei ein erster Kontaktfinger (17a, 18a, 19a) des ersten Prüfkontaktelements (13a) und ein erster Kontaktfinger (17b, 18b, 19b) des zweiten Prüfkontaktelements (13b) ein erstes Kontaktelementepaar (14, 15, 16) ausbilden, wobei die zwei Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) sich gegenüberliegend angeordnet sind, wobei während eines Prüfvorgangs die zwei Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) an einer Außenumfangsfläche des zu prüfenden Stiftkontakts (50) zu einem ersten Zeitpunkt anlegbar sind und über die angelegten Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) eine Bestromung des zu prüfenden Stiftkontakts (50) quer zu einer Längsachse des Stiftkontakts (50) zur Bestimmung des Übergangswiderstands an dem Stiftkontakt (50) durchführbar ist.

Description

Die Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung zum Prüfen eines Übergangswiderstands an mindestens einem Stiftkontakt eines Steckverbinders. Ferner betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Prüfen eines Übergangswiderstands an mindestens einem Stiftkontakt eines Steckverbinders.
Steckverbinder, welche insbesondere zum Laden von Elektrofahrzeugen eingesetzt werden, müssen hinsichtlich ihrer Stabilität und Sicherheit hohen Anforderungen genügen. Zum Laden von Elektrofahrzeugen werden mittlerweile über den Steckverbinder, auch Ladesteckverbinder genannt, Gleichströme in Höhe von bis zu 500 Ampere übertragen. Dabei besteht an den Steckverbinder die Anforderung, dass dieser auch nach mehrjährigem Gebrauch mit Tausenden von Ladezyklen seine Leistungsfähigkeit behält. Defekte an den Stiftkontakten der Steckverbinder, welche durch Verschleiß, Verschmutzungen und/oder Beschädigungen entstehen können, können den Übergangswiderstand an den Stiftkontakten des Steckverbinders erhöhen. Dies führt dann wiederum zu einem erhöhten Spannungsabfall über den Querschnitt der Stiftkontakte, was zu einer Erhöhung der Verlustleistung führt. Die Verlustleistung kann im Extremfall derart stark erhöht sein, dass sich im Betrieb die Stiftkontakte so stark erwärmen, dass das die Stiftkontakte umgebende Kunststoffmaterial aufschmilzt oder sogar in Brand gesetzt wird.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Prüfvorrichtung sowie ein Verfahren zur Verfügung zu stellen, mittels welchen auf einfache Art und Weise Defekte an Stiftkontakten von Steckverbindern erkannt werden können.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß mit den Merkmalen der unabhängigen Ansprüche gelöst. Zweckmäßige Ausgestaltungen und vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
Die Prüfvorrichtung gemäß der Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass diese mindestens ein erstes Gehäuse, mindestens ein in dem ersten Gehäuse angeordnetes erstes Prüfkontaktelement, welches mit mindestens einer Prüfstromleitung und mit mindestens einer Spannungsabgriffleitung verbunden ist, und mindestens ein in dem ersten Gehäuse angeordnetes zweites Prüfkontaktelement, welches mit mindestens einer Prüfstromleitung und mit mindestens einer Spannungsabgriffleitung verbunden ist, aufweist, wobei ein erster Kontaktfinger des ersten Prüfkontaktelements und ein erster Kontaktfinger des zweiten Prüfkontaktelements ein erstes Kontaktelementepaar ausbilden, wobei die zwei Kontaktfinger des ersten Kontaktelementepaars sich gegenüberliegend angeordnet sind, wobei während eines Prüfvorgangs die zwei Kontaktfinger des ersten Kontaktelementepaars an einer Außenumfangsfläche des zu prüfenden Stiftkontakts zu einem ersten Zeitpunkt anlegbar sind und über die angelegten Kontaktfinger eine Bestromung des zu prüfenden Stiftkontakts quer zu einer Längsachse des Stiftkontakts zur Bestimmung des Übergangswiderstands an dem Stiftkontakt durchführbar ist.
Mittels der erfindungsgemäßen Prüfvorrichtung wird es ermöglicht, die elektrischen Eigenschaften der Oberfläche eines Stiftkontakts eines Steckverbinders, insbesondere eines Ladesteckverbinders, zu messen und damit auch zu überprüfen. Die Prüfvorrichtung kann dafür auf ein oder mehrere Stiftkontakte des Steckverbinders aufgesteckt werden. Im aufgesteckten Zustand der Prüfvorrichtung kann eine Kontaktierung der Prüfvorrichtung mit ein oder mehreren Stiftkontakten ausgebildet werden. Dafür weist die Prüfvorrichtung ein erstes und ein zweites Prüfkontaktelement auf, welche in einem das Prüfkontaktelement umgebenden Gehäuse angeordnet sind. Das Gehäuse kann beispielsweise hülsenförmig ausgebildet sein und somit an die Kontur des zylinderförmig ausgebildeten Stiftkontakts angepasst sein. Die Prüfkontaktelemente bilden mindestens ein erstes aus zwei Kontaktfingern ausgebildetes Kontaktelementepaar aus. Mittels der beiden Kontaktfinger eines Kontaktelementepaars erfolgt eine Kontaktierung des zu prüfenden Stiftkontakts. Die Kontaktfinger sind vorzugsweise länglich ausgebildet und erstrecken sich in Längsrichtung bzw. axialer Richtung des Stiftkontakts. Bevorzugt sind die Kontaktfinger federnd ausgebildet. Die Kontaktfinger eines Kontaktelementepaars liegen sich gegenüber, so dass ein Strom quer zur Längsachse des Stiftkontakts von dem einem Kontaktfinger des einen Prüfkontaktelements zu dem gegenüberliegenden anderen Kontaktfinger des anderen Prüfkontaktelements durch den Stiftkontakt geleitet werden kann. Die Kontaktfinger sind bevorzugt derart geformt, dass sie eine punktförmige Anlagefläche an der Außenumfangsfläche des Stiftkontakts ausbilden. Durch die punktförmige Anlagefläche kann mit einer definierten Kontur und mit einer definierten Kontaktnormalkraft eine Kontaktierung zwischen dem jeweiligen Kontaktfinger und dem Stiftkontakt ausgebildet werden. Während einer Prüfung und damit während eines Prüfvorgangs sind die zwei Kontaktfinger des ersten Kontaktelementepaars an der Außenumfangfläche des zu prüfenden Stiftkontakts zu einem ersten Zeitpunkt anlegbar und über die angelegten Kontaktfinger ist eine Bestromung des zu prüfenden Stiftkontakts quer zu seiner Längsachse zur Bestimmung des Übergangswiderstands an dem Stiftkontakt durchführbar. Durch die Bestromung des Stiftkontakts über die sich gegenüberliegenden Kontaktfinger kann ein auftretender Spannungsabfall detektiert bzw. gemessen werden. Über den gemessenen Spannungsabfall kann eine Aussage über den Übergangswiderstand und damit Aussagen über den Verschleißgrad und/oder den Verschmutzungsgrad der Stiftkontakte getroffen werden, so dass mögliche Defekte auf einfache und schnelle Art und Weise frühzeitig erkannt werden können. Der Prüfvorgang beschreibt einen Zeitraum innerhalb welchem der Übergangswiderstand eines Stiftkontakts mittels der Prüfvorrichtung geprüft wird, wenn die Prüfvorrichtung auf den zu prüfenden Stiftkontakt aufgesteckt ist. Über die Prüfstromleitung wird dem Prüfkontaktelement der für die Prüfung notwendige Prüfstrom zur Verfügung gestellt. Dafür ist vorzugsweise jedes Prüfkontaktelement mit einer Prüfstromleitung elektrisch verbunden. Über die Spannungsabgriffleitungen an den Prüfkontaktelementen kann die Messung des Spannungsabfalls erfolgen. Jeweils eine Spannungsabgriffleitung ist dafür vorzugsweise mit einem der Kontaktfinger elektrisch leitend verbunden, so dass jedem Kontaktfinger eine Spannungsabgriffleitung zugeordnet sein kann.
Bevorzugt weist das Prüfkontaktelement nicht nur ein Kontaktelementepaar auf, sondern zwei oder mehr Kontaktelementepaare. Jedes Kontaktelementepaar weist wiederum bevorzugt zwei sich gegenüberliegende Kontaktfinger auf, wobei bei jedem Kontaktelementepaar ein Kontaktfinger Teil des ersten Prüfkontaktelements ist und der andere Kontaktfinger Teil des zweiten Prüfunfkontaktelements ist. Die an einem Prüfkontaktelement angeordneten Kontaktfinger sind vorzugsweise nebeneinander angeordnet, wobei ein Prüfkontaktelement zusammen mit seinen Kontaktfingern vorzugsweise eine Halbkreisform ausbildet. Die Kontaktfinger des ersten und zweiten Prüfkontaktelements können dann zusammen eine kreisrunde Öffnung bzw. einen kreisrunden Aufnahmeraum für den zu prüfenden Stiftkontakt ausbilden.
Beispielsweise kann ein zweiter Kontaktfinger des ersten Prüfkontaktelements und ein zweiter Kontaktfinger des zweiten Prüfkontaktelements ein zweites Kontaktelementepaar ausbilden, wobei die zwei Kontaktfinger des zweiten Kontaktelementepaars sich gegenüberliegend angeordnet sein können, wobei während des Prüfvorgangs die zwei Kontaktfinger des zweiten Kontaktelementepaars an einer Außenumfangsfläche des zu prüfenden Stiftkontakts zu einem zweiten Zeitpunkt anlegbar sind und über die angelegten Kontaktfinger eine Bestromung des zu prüfenden Stiftkontakts quer zu einer Längsachse des Stiftkontakts zur Bestimmung des Übergangswiderstands an dem Stiftkontakt durchführbar sein kann. Sind zwei oder mehr Kontaktelementepaare vorgesehen, so sind die Kontaktfinger eines Kontaktelementepaares zu anderen Zeitpunkten an der Außenumfangsfläche des zu prüfenden Stiftkontakts anlegbar als die Kontaktfinger eines anderen Kontaktelementepaares. Vorzugsweise sind damit zu einem Zeitpunkt immer nur die Kontaktfinger eines Kontaktelementepaares in elektrischen Kontakt mit dem Stiftkontakt. Damit erfolgt eine zeitversetzte Prüfung des Stiftkontakts mit den jeweiligen Kontaktelementepaaren. Desto mehr Kontaktelementepaare vorgesehen sind, umso verlässlicher kann die Prüfung des Stiftkontakts erfolgen. Besonders bevorzugt können die zwei Prüfkontaktelemente drei Kontaktelementepaare ausbilden. Die Kontaktelementepaare sind vorzugsweise jeweils baugleich ausgebildet.
Bevorzugt ist es vorgesehen, dass in dem ersten Gehäuse ein Betätigungselement axial verschiebbar angeordnet ist, mittels welchem die Kontaktfinger des ersten Kontaktelementepaars und/oder die Kontaktfinger des zweiten Kontaktelementepaars in eine geöffnete Position und in eine kontaktierende Position, in welcher die Kontaktfinger an dem zu prüfenden Stiftkontakt angelegt sind, überführbar sind. In der geöffneten Position sind die Kontaktfinger eines Kontaktelementepaars vorzugsweise derart weit voneinander beabstandet, dass der zwischen diesen Kontaktfingern ausgebildete Freiraum größer ist als der Durchmesser des zu prüfenden Stiftkontakts. Dadurch sind die Kontaktfinger in der geöffneten Position von der Außenumfangsfläche des Stiftkontakts beabstandet und liegen gerade nicht an der Außenumfangsfläche des Stiftkontakts an. Im geöffneten Zustand findet damit keine Kontaktierung zwischen denen in der geöffneten Position angeordneten Kontaktfingern eines Kontaktelementepaars und dem zu prüfenden Stiftkontakt statt. Die Überführung der Kontaktfinger der Kontaktelementepaare in die geöffnete Position und in die kontaktierende Position erfolgt mittels des in dem Gehäuse angeordneten Betätigungselement mechanisch. Das Betätigungselement ist dafür vorzugsweise axial verschiebbar in dem Gehäuse gelagert. Axial verschiebbar bedeutet, dass das Betätigungselement in Längserstreckung der Kontaktfinger und auch in Längserstreckung des Gehäuses verschiebbar ist. Durch die Verschiebebewegung können die Kontaktfinger eines Kontaktelementepaars bei der Überführung in die geöffnete Position voneinander wegbewegt werden und bei der Überführung in die kontaktierende Position aufeinander zu bewegt werden.
Das Betätigungselement ist vorzugsweise derart in dem Gehäuse angeordnet, dass das Betätigungselement in einem durch das erste Prüfkontaktelement und durch das zweite Prüfkontaktelement ausgebildeten Innenraum axial verschiebbar angeordnet ist und das Betätigungselement bei einer Verschiebebewegung in Kontakt mit einer Innenfläche der Kontaktfinger des ersten Kontaktelementepaars und/oder des zweiten Kontaktelementepaars bringbar ist. Das Betätigungselement ist vorzugsweise derart positioniert, dass es von den Kontaktfingern der Kontaktelementepaare umschlossen wird, so dass das Betätigungselement in einem durch die Kontaktfinger begrenzten Innenraum der beiden Prüfkontaktelemente axial verschiebbar gelagert ist. Dadurch kann das Betätigungselement bei seiner Verschiebebewegung mit den Kontaktfingern über die Innenflächen der Kontaktfinger zusammenwirken, um diese in die kontaktierende und in die geöffnete Position zu überführen. Bei der Überführung in die geöffnete Position können die Kontaktfinger damit mittels des Betätigungselements nach radial außen bewegt bzw. gedrückt werden.
Bevorzugt ist es vorgesehen, dass an einer Außenumfangsfläche des Betätigungselements Steuerkonturen und dass an einer Innenfläche der Kontaktfinger des ersten Kontaktelementepaars und/oder an einer Innenfläche des zweiten Kontaktelementepaars jeweils eine Gegensteuerkontur ausgebildet ist, wobei mittels der Steuerkonturen und der Gegensteuerkonturen die Kontaktfinger des ersten Kontaktelementepaars zu dem ersten Zeitpunkt in die kontaktierende Position und/oder die Kontaktfinger des zweiten Kontaktelementepaars zu dem zweiten Zeitpunkt in die kontaktierende Position überführbar sind. Mittels der Steuerkonturen und der Gegensteuerkonturen kann damit eine zeitversetzte Kontaktierung der Kontaktelementepaare mit dem zu prüfenden Stiftkontakt erreicht bzw. gesteuert werden, so dass zu einem Zeitpunkt immer nur eines der Kontaktelementepaare mit dem zu prüfenden Stiftkontakt in einer kontaktierenden Position ist und damit an dem Stiftkontakt anliegt. Die anderen Kontaktelementepaare sind dann mittels des Betätigungselements in der geöffneten Position positioniert. Die Steuerkonturen und die Gegensteuerkonturen sind derart ausgebildet, dass diese miteinander zusammenwirken. Bevorzugt weist jeder Kontaktfinger an seiner Innenfläche eine Gegensteuerkontur auf. An dem Betätigungselement ist vorzugsweise für jeden Kontaktfinger eine Steuerkontur ausgebildet. Bevorzugt entspricht damit die Anzahl der Steuerkonturen an dem Betätigungselement der Anzahl der Gegensteuerkonturen an den Kontaktfingern der Prüfkontaktelemente.
Die Steuerkonturen für das erste Kontaktelementepaar sind entlang der Außenumfangsfläche des Betätigungselements vorzugsweise axial versetzt zu den Steuerkonturen für das zweite Kontaktelementepaar angeordnet. Axial versetzt bedeutet, dass die einem Kontaktelementepaar zugeordneten Steuerkonturen in Längsrichtung des Betätigungselements versetzt zu denen einem anderen Kontaktelementepaar zugeordneten Steuerkonturen angeordnet sind. Die Steuerkonturen für unterschiedliche Kontaktelementepaare sind damit vorzugsweise nicht auf einer Höhe entlang der Außenumfangsfläche des Betätigungselements angeordnet. Durch die versetzte Anordnung kann die abwechselnde Kontaktierung der Kontaktelementepaare mit dem zu prüfenden Stiftkontakt erreicht werden. Die beiden Steuerkonturen für ein Kontaktelementepaar bzw. für die beiden Kontaktfinger eines Kontaktelementepaars sind hingegen vorzugsweise auf einer Höhe entlang der Außenumfangsfläche des Betätigungselements angeordnet, so dass eine gleichzeitige Kontaktierung der Kontaktfinger eines Kontaktelementepaares mit dem zu prüfenden Stiftkontakt sichergestellt werden kann. Die an den einzelnen Kontaktfingern der Kontaktelementepaare angeordneten Gegensteuerkonturen sind hingegen vorzugweise alle auf ein und derselben Höhe angeordnet.
Die Steuerkonturen können jeweils in Form von Ausnehmungen ausgebildet sein und die Gegensteuerkonturen können jeweils in Form von Erhebungen ausgebildet sein oder die Steuerkonturen können jeweils in Form von Erhebungen und die Gegensteuerkonturen können jeweils in Form von Ausnehmungen ausgebildet sein. In einer kontaktierenden Position der Kontaktfinger können die jeweiligen Erhebungen dann in die jeweiligen Ausnehmungen eingreifen. Die Erhebungen können beispielsweise halbkugelförmig ausgebildet sein. Die Ausnehmungen können in Form von halbrunden Aussparungen ausgebildet sein.
Zur Ausführung der axialen Verschiebebewegung kann das Betätigungselement mittels einer Gewindespindel antreibbar sein.
Die Prüfvorrichtung kann zusätzlich zu dem ersten Gehäuse ein zweites Gehäuse aufweisen, in welchem ein wie vorstehend beschriebenes erstes Prüfkontaktelement und ein wie vorstehend beschriebenes zweites Prüfkontaktelement angeordnet sein kann. Das zweite Gehäuse ist vorzugsweise baugleich mit dem ersten Gehäuse ausgebildet, so dass das zweite Gehäuse zwei Prüfkontaktelemente aufweisen kann, welche baugleich zu den beiden Prüfkontaktelementen in dem ersten Gehäuse ausgebildet sein können. Durch das Vorsehen eines zweiten Gehäuses können zeitgleich zwei Stiftkontakte eines Steckverbinders geprüft werden. Weiter ist es auch möglich mehr als zwei entsprechende Gehäuse vorzusehen, so dass dann auch zeitgleich mehr als zwei Stiftkontakte geprüft werden können.
Das erste Gehäuse und/oder das zweite Gehäuse können jeweils eine Zentrieröffnung zum Einführen des zu prüfenden Stiftkontakts in das erste Gehäuse und/oder in das zweite Gehäuse aufweisen. Mittels der Zentrieröffnung kann ein positionsgenaues Einführen des Stiftkontakts in die Prüfvorrichtung bzw. in das entsprechende Gehäuse der Prüfvorrichtung erreicht werden, so dass der Stiftkontakt bereits beim Einführen in der gewünschten Position relativ zu den Prüfkontaktelementen ausgerichtet werden kann. Die Zentrieröffnung weist vorzugsweise einen Durchmesser auf, welcher kleiner als der Durchmesser des restlichen Teils des Gehäuses ist, so dass im Bereich der Zentrieröffnung der Durchmesser des Gehäuses reduziert ist. Die Zentrieröffnung kann einstückig mit dem Gehäuse ausgebildet sein. Weiter ist es aber auch möglich, dass ein Hülsenkörper in das Gehäuse eingelegt ist, welches die Zentrieröffnung ausbildet.
Weiter ist es möglich, dass die Prüfvorrichtung ein Hauptgehäuse aufweist, an welchem das erste Gehäuse und/oder das zweite Gehäuse angeordnet sein können, wobei das erste Gehäuse und/oder das zweite Gehäuse an dem Hauptgehäuse schwimmend gelagert sein können. Durch die schwimmende Lagerung der Gehäuse an dem Hauptgehäuse kann das Gehäuse beim Einführen des zu prüfenden Stiftkontakts sowohl radiale als auch axiale Ausgleichsbewegungen ausführen, so dass Positionstoleranzen der Stiftkontakte im Steckverbinder relativ zu der Prüfvorrichtung ausgeglichen werden können.
Die Lösung der erfindungsgemäßen Aufgabe erfolgt ferner mittels eines Verfahrens zum Prüfen eines Übergangswiderstands an mindestens einem Stiftkontakt eines Steckverbinders, mit einer Prüfvorrichtung, welche mindestens ein erstes Gehäuse, mindestens ein in dem ersten Gehäuse angeordnetes erstes Prüfkontaktelement, welches mit mindestens einer Prüfstromleitung und mit mindestens einer Spannungsabgriffleitung verbunden ist, und mindestens ein in dem ersten Gehäuse angeordnetes zweites Prüfkontaktelement, welches mit mindestens einer Prüfstromleitung und mit mindestens einer Spannungsabgriffleitung verbunden ist, aufweist, wobei ein erster Kontaktfinger des ersten Prüfkontaktelements und ein erster Kontaktfinger des zweiten Prüfkontaktelements ein Kontaktelementepaar ausbilden, wobei die zwei Kontaktfinger des ersten Kontaktelementepaars sich gegenüberliegend angeordnet sind, wobei während eines Prüfvorgangs die zwei Kontaktfinger des ersten Kontaktelementepaars an einer Außenumfangsfläche des zu prüfenden Stiftkontakts zu einem ersten Zeitpunkt angelegt werden und über die angelegten Kontaktfinger eine Bestromung des zu prüfenden Stiftkontakts quer zu einer Längsachse des Stiftkontakts zur Bestimmung des Übergangswiderstands an dem Stiftkontakt durchgeführt wird.
Nachfolgend wird die Erfindung unter Bezugnahme auf die anliegenden Zeichnungen anhand bevorzugter Ausführungsformen näher erläutert.
Es zeigen:

1 eine schematische Darstellung eines Steckverbinders und einer Prüfvorrichtung gemäß der Erfindung, wobei die Prüfvorrichtung ein erstes Gehäuse aufweist,
2 eine schematische Darstellung eines Steckverbinders und einer Prüfvorrichtung gemäß der Erfindung, wobei die Prüfvorrichtung ein erstes Gehäuse und ein zweites Gehäuse aufweist,
3 eine schematische Schnittdarstellung durch eine Prüfvorrichtung gemäß der Erfindung,
4 eine schematische Darstellung von zwei zusammen angeordneten Prüfkontaktelementen,
5 eine schematische Darstellung eines in 4 gezeigten Prüfkontaktelements,
6 eine schematische Darstellung des in 5 gezeigten Prüfkontaktelements als Stanzblechabschnitt vor einem Biegen in die endgültige Form,
7 eine schematische Darstellung des in 5 gezeigten Prüfkontaktelements mit einer daran angeordneten Prüfstromleitung und mehreren Spannungsabgriffleitungen,
8 eine schematische Darstellung eines Betätigungselements,
9 eine schematische Schnittdarstellung der Prüfvorrichtung gemäß der Erfindung mit einem eingeführten Stiftkontakt, wobei die Kontaktfinger der Kontaktelementepaare in einer geöffneten Position sind, und
10 eine schematische Schnittdarstellung, bei welcher die Kontaktfinger eines der Kontaktelementepaare in einer kontaktierenden Position mit dem eingeführten Stiftkontakt sind.

1 zeigt eine Prüfvorrichtung 100 zum Prüfen eines Übergangswiderstands an mindestens einem Stiftkontakt 50 eines Steckverbinders 200. Der Steckverbinder 200 ist bei der hier gezeigten Ausgestaltung ein Ladesteckverbinder, welcher zum Laden eines Elektrofahrzeuges dient und in ein Elektrofahrzeug eingebaut werden kann. Zum Prüfen des Stiftkontakts 50 wird die Prüfvorrichtung 100 auf den Stiftkontakt 50 aufgeschoben bzw. aufgesteckt. Das Aufschieben bzw. Aufstecken kann manuell oder automatisiert erfolgen.
Bei der in 1 gezeigten Ausgestaltung weist die Prüfvorrichtung 100 ein erstes Gehäuses 10 und ein Hauptgehäuse 11 auf, wobei das erste Gehäuse 10 an dem Hauptgehäuse 11 angeordnet ist. Das erste Gehäuse 10 ist schwimmend an dem Hauptgehäuse 11 gelagert, so dass das erste Gehäuse 10 relativ zu dem Hauptgehäuse 11 radial und/oder axial beweglich ist, um Positionstoleranzen des Stiftkontakts 50 innerhalb des Steckverbinders 200 beim Aufstecken der Prüfvorrichtung 100 auf den Stiftkontakt 50 ausgleichen zu können.
Das Hauptgehäuse 11 weist eine größere Außenumfangsfläche auf als das erste Gehäuse 10. Sowohl das Hauptgehäuse 11 als auch das erste Gehäuse 10 sind hülsenförmig ausgebildet.
In 2 ist eine Ausgestaltung gezeigt, bei welcher die Prüfvorrichtung 100 nicht nur ein erstes Gehäuse 10, sondern auch ein zweites Gehäuse 12 aufweist. Zum Prüfen kann das erste Gehäuse 10 auf einen Stiftkontakt 50 und das zweite Gehäuse 12 kann auf einen weiteren Stiftkontakt 50 aufgeschoben werden, so dass eine zeitgleiche Prüfung von zwei Stiftkontakten 50 mittels der Prüfvorrichtung 100 durchgeführt werden kann. Das zweite Gehäuse 12 ist ebenso wie das erste Gehäuse 10 schwimmend an dem Hauptgehäuse 11 angeordnet. Die beiden Gehäuse 10, 12 sind parallel zueinander ausgerichtet und nebeneinander angeordnet.
3 zeigt eine Schnittdarstellung einer Prüfvorrichtung 100. In dem jeweiligen Gehäuse 10, 12 sind zwei Prüfkontaktelemente 13a, 13b angeordnet, welche in 4 auch noch einmal einzeln dargestellt sind. Mittels der Prüfkontaktelemente 13a, 13b findet die eigentliche Prüfung des jeweiligen Stiftkontakts 50 statt.
Die Prüfkontaktelemente 13a, 13b bilden bei der in 3 und 4 gezeigten Ausgestaltung drei Kontaktelementepaare 14, 15, 16 aus. Die Kontaktelementepaare 14, 15, 16 sind an Verbindungselementen 37a, 37b angeordnet, welche einstückig mit den Kontaktelementepaaren 14, 15, 16 ausgebildet sein können. Jedem Prüfkontaktelement 13a, 13b ist eines der beiden Verbindungselemente 37a, 37b zugeordnet, so dass das erste Verbindungselement 37a Teil des ersten Prüfkontaktelements 13a und das zweite Verbindungselement 37b Teil des zweiten Prüfkontaktelements 13b ist. Die Kontaktelementepaare 14, 15, 16 und die Verbindungselemente 37a, 37b können aus einem Blechmaterial ausgebildet sein.
Jedes Kontaktelementepaar 14, 15, 16 ist aus zwei sich gegenüberliegend angeordneten Kontaktfingern 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b ausgebildet. Bei den Kontaktfingern 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b eines Kontaktelementepaars 14, 15, 16 ist jeweils ein Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b an dem ersten Prüfkontaktelement 13a und ein Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b an dem zweiten Prüfkontaktelement 13b angeordnet.
Die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b sind länglich ausgebildet und sind mit einem ihrer Enden an einem der Verbindungselemente 37a, 37b angebunden, so dass sich die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b ausgehend von den Verbindungselementen 37a, 37b wegerstrecken. Die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b erstrecken sich in einem eingeführten Zustand des Stiftkontakts 50 in die Prüfvorrichtung 100 parallel zu dem Stiftkontakt 50.
An ihrem freien Ende 20a, 20b, 21a, 21b, 22a, 22b sind die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b in Richtung des eingeführten Stiftkontakts 50 gebogen, insbesondere halbkreisförmig gebogen, ausgebildet. Im Bereich der Biegung, insbesondere mittig der Biegung, weisen die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b jeweils einen Kontaktpunkt 23a, 23b, 24a, 24b, 25a, 25b, über welchen die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b mit dem zu prüfenden Stiftkontakt 50 kontaktiert werden können, auf.
Die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b sind derart angeordnet, dass sie eine ringförmige Öffnung zum Einführen des zu prüfenden Stiftkontakts 50 ausbilden.
Im Bereich der Kontaktpunkte 23a, 23b, 24a, 24b, 25a, 25b sind die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b jeweils mit einer Spannungsabgriffleitung 26 verbunden, so dass über jeden Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b ein Spannungsabgriff erfolgen kann.
Ferner ist jeweils eine Prüfstromleitung 27 an den beiden Prüfkontaktelementen 13a, 13b angebunden, um einen Prüfstrom an das jeweilige Prüfkontaktelement 13a, 13b zu leiten. Die Anbindung der Prüfstromleitung 27 ist, wie in 7 zu erkennen ist, an den Verbindungselementen 37a, 37b ausgebildet. Die Spannungsabgriffleitungen 26 und die Prüfstromleitungen 27 sind aus der Prüfvorrichtung 100 herausgeführt.
Die Prüfkontaktelemente 13a, 13b sind in einem Tragelement 28 angeordnet bzw. gehalten. Dabei sind die Verbindungselemente 37a, 37b in dem Tragelement 28 eingebettet, wohingegen die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b außerhalb des Tragelements 28 positioniert sind. Das Tragelement 28 ist hülsenförmig ausgebildet. Das Tragelement 28 kann aus einem Isolierstoff ausgebildet sein.
Wie in 4 bis 7 zu erkennen ist, bildet jeweils ein Verbindungselement 37a, 37b eine Halbkreisform ausbildet. An jedem Verbindungselement 37a, 37b jeweils eine Prüfstromleitung 27 angeordnet. An jedem der Verbindungselemente 37a, 37b ist jeweils ein Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b der drei Kontaktelementepaare 14, 15, 16 angeordnet.
Die Prüfvorrichtung 100 weist ferner ein Betätigungselement 29 auf, welches beispielsweise in 3 und 8 zu erkennen ist. Das Betätigungselement 29 ist axial verschiebbar, wie mit den Pfeilen angedeutet ist, in dem Gehäuse 10, 12 angeordnet. Mittels der Verschiebebewegung des Betätigungselements 29 können die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b der Kontaktelementepaare 14, 15, 16 in eine geöffnete Position und in eine kontaktierende Position überführt werden.
Das Betätigungselement 29 ist hierfür in einem Innenraum 30 des Prüfkontaktelements 13, welcher durch die Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b begrenzt wird, axial verschiebbar angeordnet. Bei einer Verschiebebewegung ist das Betätigungselement 29 mit seiner Außenumfangsfläche 31 entlang der Innenfläche 38 der Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b verschiebbar.
Das Betätigungselement 29 ist hülsenförmig ausgebildet.
An der Außenumfangsfläche 31 des Betätigungselements 29 ist sind mehrere Steuerkonturen 32 ausgebildet, welche mit an der Innenfläche 38 der Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b angeordneten Gegensteuerkonturen 33 zusammenwirken.
Bei den in den hier gezeigten Ausgestaltungen sind die Steuerkonturen 32 in Form von Ausnehmungen und die Gegensteuerkonturen 33 in Form von Erhebungen ausgebildet. Die Erhebungen sind halbkugelförmig ausgebildet. Beispielsweise können die Erhebungen durch halbkugelförmig ausgebildete Nieten, die an den Kontaktfingern 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b befestigt sind, ausgebildet sein.
Die Steuerkonturen 32 für das erste Kontaktelementepaar 14 sind entlang der Außenumfangsfläche 31 des Betätigungselements 29 axial versetzt zu den Steuerkonturen 32 für das zweite Kontaktelementepaar 15 und die Steuerkonturen 32 für das dritte Kontaktelementepaar 16 sind axial versetzt zu den Steuerkonturen 32 des ersten und des zweiten Kontaktelementepaars 14, 15 angeordnet. Die Steuerkonturen 32 für unterschiedliche Kontaktelementepaare 14, 15, 16 sind damit nicht auf einer Höhe entlang der Außenumfangsfläche 31 des Betätigungselements 29 angeordnet, wie in 8 zu erkennen ist. Durch die versetzte Anordnung kann eine abwechselnde Kontaktierung der Kontaktelementepaare 14, 15, 16 mit dem zu prüfenden Stiftkontakt 50 erreicht werden.
Die beiden Steuerkonturen 32 für ein Kontaktelementepaar 14, 15, 16 bzw. für die beiden Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b eines Kontaktelementepaars 14, 15, 16 sind hingegen auf einer Höhe entlang der Außenumfangsfläche 31 des Betätigungselements 29 angeordnet, so dass eine gleichzeitige Kontaktierung der Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b eines Kontaktelementepaares 14, 15, 16 mit dem zu prüfenden Stiftkontakt 50 sichergestellt werden kann.
Die an den einzelnen Kontaktfingern 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b der Kontaktelementepaare 14, 15, 16 angeordneten Gegensteuerkonturen 33 sind hingegen alle auf ein und derselben Höhe angeordnet und damit nicht versetzt zueinander angeordnet.
Durch die versetzte Anordnung der Steuerkonturen 32 kann erreicht werden, dass die Kontaktfinger 17a, 17b des ersten Kontaktelementepaars 14 zu einem ersten Zeitpunkt in einer kontaktierenden Position mit dem Stiftkontakt 50 sind, die Kontaktfinger 18a, 18b des zweiten Kontaktelementepaars 15 zu einem zweiten Zeitpunkt in einer kontaktierenden Position mit dem Stiftkontakt 50 sind und die Kontaktfinger 19a, 19b des dritten Kontaktelementepaars 15 zu einem dritten Zeitpunkt in einer kontaktierenden Position mit dem Stiftkontakt 50 sind. Die Kontaktelementepaare 14, 15, 16 kontaktieren damit zeitversetzt mit dem zu prüfenden Stiftkontakt 50, so dass die Bestromung des Stiftkontakts 50 quer zu seiner Längsachse für jedes Kontaktelementepaar 15 getrennt stattfindet.
Der zu prüfende Stiftkontakt 50 wird über eine Zentrieröffnung 34 in die Prüfvorrichtung 100 eingeführt. Nach einem Passieren der Zentrieröffnung 34 gelangt der Stiftkontakt 50 in den Bereich der Prüfkontaktelemente 13a, 13b, wie in 9 zu erkennen ist.
Beim Einführen des Stiftkontakts 50 in die Prüfvorrichtung 100 befindet sich das Betätigungselement 29 in der Nähe der freien Enden 20a, 20b, 21a, 21b, 22a, 22b der Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b. In dieser Position des Betätigungselements 29 sind alle Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b mittels des Betätigungselements 29 in einer geöffneten Position gehalten und damit nach radial außen gedrückt, so dass beim Einführen des Stiftkontakts 50 eine Berührung der Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b mit dem Stiftkontakt 50 verhindert werden kann. Es kann damit ein berührungsloses Einführen des Stiftkontakts 50 erreicht werden. In dem Betätigungselement 29 ist eine Bohrung 35 ausgebildet, in welche der Stiftkontakt 50 eingeführt wird. Beim Einführen in die Bohrung 35 richtet sich das Gehäuse 10, 12 relativ zu dem Stiftkontakt 50 aus, so dass eine möglichst genaue Prüfung durchgeführt werden kann. Die Ausrichtung des Stiftkontakts 50 erfolgt über die Zentrieröffnung 34.
Anschließend wird das Betätigungselement 29 in Richtung R nach hinten in Richtung des Hauptgehäuses 11 axial verschoben. Die Verschiebebewegung des Betätigungselements 29 erfolgt mittels einer Gewindespindel 36. Die Gewindespindel 29 greift dafür in ein an dem Betätigungselement 29 ausgebildetes Innengewinde ein.
Das Betätigungselement 29 wird dabei zunächst derart weit nach hinten bewegt, dass die Gegensteuerkonturen 33 der Kontaktfinger 17a, 17b des ersten Kontaktelementepaares 14 in die ihnen zugeordneten Steuerkonturen 32 eingreifen, wodurch die Kontaktfinger 17a, 17b von der geöffneten Position in die kontaktierende Position überführt werden und in dieser kontaktierenden Position an dem Stiftkontakt 50 zum Anliegen kommen, wie beispielhaft in 10 gezeigt ist. Über die Prüfstromleitung 27 wird ein Prüfstrom mit einem Strompuls bekannter Größe und Dauer über die Kontaktfinger 17a, 17b und den Querschnitt des Stiftkontakts 50 geleitet, wobei der entsprechende Spannungsabfall über den Querschnitt des Stiftkontakts 50 im Sinne einer 4-Punkt-Messung gemessen wird und über die Spannungsabgriffleitungen 26 abgeführt wird.
Nach dieser Messung wird das Betätigungselement 29 weiter in Richtung R bewegt, wodurch die Kontaktfinger 17a, 17b des ersten Kontaktelementepaars 14 von der kontaktierenden Position in die geöffnete Position überführt werden und die Kontaktfinger 18a, 18b des zweiten Kontaktelementepaars 15 in die kontaktierende Position überführt werden, indem die Gegensteuerkonturen 33 der Kontaktfinger 18a, 18b des zweiten Kontaktelementepaares 15 in die ihnen zugeordneten Steuerkonturen 32 eingreifen. Der Prüfstrom wird dann über die Kontaktfinger 18a, 18b des zweiten Kontaktelementepaares 15 durch den Querschnitt des Stiftkontakts 50 geleitet, um eine weitere Messung des Spannungsabfalls über den Querschnitt des Stiftkontakts 50 durchzuführen.
Anschließend kann das Betätigungselement 29 weiter in Richtung R bewegt werden, wodurch die Kontaktfinger 18a, 18b des zweiten Kontaktelementepaars 15 von der kontaktierenden Position in die geöffnete Position überführt werden und die Kontaktfinger 19a, 19b des dritten Kontaktelementepaars 16 in die kontaktierende Position überführt werden, indem die Gegensteuerkonturen 33 der Kontaktfinger 19a, 19b des dritten Kontaktelementepaares 16 in die ihnen zugeordneten Steuerkonturen 32 eingreifen. Der Prüfstrom wird dann über die Kontaktfinger 19a, 19b des dritten Kontaktelementepaares 16 durch den Querschnitt des Stiftkontakts 50 geleitet, um eine Messung des Spannungsabfalls über den Querschnitt des Stiftkontakts 50 durchzuführen.
Die Prüfung erfolgt damit an drei verschiedenen Messpunkten des Stiftkontakts 50. Alle drei Messpunkte liegen am gleichen Querschnitt des Stiftkontakts 50 an.
Nach der Messung bzw. Prüfung wird das Betätigungselement 29 wieder entgegen der Richtung R nach vorne bewegt, so dass sich alle Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b wieder in der geöffneten Position befinden und der Stiftkontakt 50 ohne eine Berührung mit den Kontaktfingern 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b und damit verschleißfrei aus der Prüfvorrichtung 100 entfernt werden kann.
An dem zu prüfenden Stiftkontakt 50 wirkenden Kontaktkräfte der Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b werden durch die Kontur der Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b und durch ein durch die Kontur der Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b sich ausbildendes passives Anfedern der Kontaktfinger 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b erreicht. Die Kontaktkräfte sind reproduzierbar.
Bezugszeichenliste

100: Prüfvorrichtung
10: Gehäuse
11: Hauptgehäuse
12: Gehäuse
13a: Erstes Prüfkontaktelement
13b: Zweites Prüfkontaktelement
14: Kontaktelementepaar
15: Kontaktelementepaar
16: Kontaktelementepaar
17a, 17b: Kontaktfinger
18a, 18b: Kontaktfinger
19a, 19b: Kontaktfinger
20a, 20b: freies Ende
21a, 21b: freies Ende
22a, 22b: freies Ende
23a, 23b: Kontaktpunkt
24a, 24b: Kontaktpunkt
25a, 25b: Kontaktpunkt
26: Spannungsabgriffleitung
27: Prüfstromleitung
28: Tragelement
29: Betätigungselement
30: Innenraum
31: Außenumfangsfläche
32: Steuerkontur
33: Gegensteuerkontur
34: Zentrieröffnung
35: Bohrung
36: Gewindespindel
37a, 37b: Verbindungselement
38: Innenfläche
200: Steckverbinder
50: Stiftkontakt

Claims

Prüfvorrichtung (100) zum Prüfen eines Übergangswiderstands an mindestens einem Stiftkontakt (50) eines Steckverbinders (200), mit mindestens einem ersten Gehäuse (10), mindestens einem in dem ersten Gehäuse (10) angeordneten ersten Prüfkontaktelement (13a), welches mit mindestens einer Prüfstromleitung (27) und mit mindestens einer Spannungsabgriffleitung (26) verbunden ist, und mindestens einem in dem ersten Gehäuse (10) angeordneten zweiten Prüfkontaktelement (13b), welches mit mindestens einer Prüfstromleitung (27) und mit mindestens einer Spannungsabgriffleitung (26) verbunden ist, wobei ein erster Kontaktfinger (17a, 18a, 19a) des ersten Prüfkontaktelements (13a) und ein erster Kontaktfinger (17b, 18b, 19b) des zweiten Prüfkontaktelements (13b) ein erstes Kontaktelementepaar (14, 15, 16) ausbilden, wobei die zwei Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) sich gegenüberliegend angeordnet sind, wobei während eines Prüfvorgangs die zwei Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) an einer Außenumfangsfläche des zu prüfenden Stiftkontakts (50) zu einem ersten Zeitpunkt anlegbar sind und über die angelegten Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) eine Bestromung des zu prüfenden Stiftkontakts (50) quer zu einer Längsachse des Stiftkontakts (50) zur Bestimmung des Übergangswiderstands an dem Stiftkontakt (50) durchführbar ist.
Prüfvorrichtung (100) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass ein zweiter Kontaktfinger (17a, 18a, 19a) des ersten Prüfkontaktelements (13a) und ein zweiter Kontaktfinger (17b, 18b, 19b) des zweiten Prüfkontaktelements (13b) ein zweites Kontaktelementepaar (14, 15, 16) ausbilden, wobei die zwei Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des zweiten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) sich gegenüberliegend angeordnet sind, wobei während des Prüfvorgangs die zwei Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des zweiten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) an einer Außenumfangsfläche des zu prüfenden Stiftkontakts (50) zu einem zweiten Zeitpunkt anlegbar sind und über die angelegten Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) eine Bestromung des zu prüfenden Stiftkontakts (50) quer zu einer Längsachse des Stiftkontakts (50) zur Bestimmung des Übergangswiderstands an dem Stiftkontakt (50) durchführbar ist.
Prüfvorrichtung (100) nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass in dem ersten Gehäuse (10) ein Betätigungselement (29) axial verschiebbar angeordnet ist, mittels welchem die Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) und/oder die Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des zweiten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) in eine geöffnete Position und in eine kontaktierende Position, in welcher die Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) an dem zu prüfenden Stiftkontakt (50) angelegt sind, überführbar sind.
Prüfvorrichtung (100) nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass das Betätigungselement (29) in einem durch das erste Prüfkontaktelement (13a) und durch das zweite Prüfkontaktelement (13b) ausgebildeten Innenraum (30) axial verschiebbar angeordnet ist und das Betätigungselement (29) bei einer Verschiebebewegung in Kontakt mit einer Innenfläche (38) der Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) und/oder des zweiten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) bringbar ist.
Prüfvorrichtung (100) nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, dass an einer Außenumfangsfläche (31) des Betätigungselements (29) Steuerkonturen (32) und dass an einer Innenfläche (38) der Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) und/oder an einer Innenfläche (38) der Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des zweiten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) jeweils eine Gegensteuerkontur (33) ausgebildet ist, wobei mittels der Steuerkonturen (32) und der Gegensteuerkonturen (33) die Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) zu dem ersten Zeitpunkt in die kontaktierende Position und/oder die Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des zweiten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) zu dem zweiten Zeitpunkt in die kontaktierende Position überführbar sind.
Prüfvorrichtung (100) nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Steuerkonturen (32) für das erste Kontaktelementepaar (14, 15, 16) entlang der Außenumfangsfläche (31) des Betätigungselements (29) axial versetzt zu den Steuerkonturen (32) des zweiten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) angeordnet sind.
Prüfvorrichtung (100) nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Steuerkonturen (32) jeweils in Form von Ausnehmungen ausgebildet ist und dass die Gegensteuerkonturen (33) jeweils in Form von Erhebungen ausgebildet sind oder dass die Steuerkonturen (32) jeweils in Form von Erhebungen und die Gegensteuerkonturen (33) jeweils in Form von Ausnehmungen ausgebildet sind.
Prüfvorrichtung (100) nach einem der Ansprüche 3 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass das Betätigungselement (29) zur Ausführung der axialen Verschiebebewegung mittels einer Gewindespindel (36) antreibbar ist.
Prüfvorrichtung (100) nach einem der Ansprüche 1 bis 8, gekennzeichnet durch ein zweites Gehäuse (12), in welchem ein erstes Prüfkontaktelement (13a) und ein zweites Prüfkontaktelement (13b) angeordnet sind.
Prüfvorrichtung (100) nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass das erste Gehäuse (10) und/oder das zweite Gehäuse (12) eine Zentrieröffnung (34) zum Einführen des zu prüfenden Stiftkontakts (50) in das erste Gehäuse (10) und/oder das zweite Gehäuse (12) aufweist.
Prüfvorrichtung (100) nach einem der Ansprüche 1 bis 10, gekennzeichnet durch ein Hauptgehäuse (11), an welchem das erste Gehäuse (10) und/oder das zweite Gehäuse (12) angeordnet sind, wobei das erste Gehäuse (10) und/oder das zweite Gehäuse (12) an dem Hauptgehäuse (11) schwimmend gelagert sind.
Verfahren zum Prüfen eines Übergangswiderstands an mindestens einem Stiftkontakt (50) eines Steckverbinders (200), mit einer Prüfvorrichtung (100), welche mindestens ein erstes Gehäuse (10), mindestens ein in dem ersten Gehäuse (10) angeordnetes erstes Prüfkontaktelement (13a), welches mit mindestens einer Prüfstromleitung (27) und mit mindestens einer Spannungsabgriffleitung (26) verbunden ist, und mindestens ein in dem ersten Gehäuse (10) angeordnetes zweites Prüfkontaktelement (13b), welches mit mindestens einer Prüfstromleitung (27) und mit mindestens einer Spannungsabgriffleitung (26) verbunden ist, aufweist, wobei ein erster Kontaktfinger (17a, 18a, 19a) des ersten Prüfkontaktelements (13a) und ein erster Kontaktfinger (17b, 18b, 19b) des zweiten Prüfkontaktelements (13b) ein erstes Kontaktelementepaar (14, 15, 16) ausbilden, wobei die zwei Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) sich gegenüberliegend angeordnet sind, wobei während eines Prüfvorgangs die zwei Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) des ersten Kontaktelementepaars (14, 15, 16) an einer Außenumfangsfläche des zu prüfenden Stiftkontakts (50) zu einem ersten Zeitpunkt angelegt werden und über die angelegten Kontaktfinger (17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b) eine Bestromung des zu prüfenden Stiftkontakts (50) quer zu einer Längsachse des Stiftkontakts (50) zur Bestimmung des Übergangswiderstands an dem Stiftkontakt (50) durchgeführt wird.