WO2020049676A1 - 処理装置、システム、方法及び非一時的なコンピュータ可読媒体 - Google Patents
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Abstract
異物を検出する際に、誤検出を低減することが可能な処理装置、システム、方法及び非一時的なコンピュータ可読媒体を提供する。対象物（５１）の表面の所定点（ｐｐ）と対象物（５１）の外部の第１測定位置（ｐ１）との間の第１距離データ（ｄ１）を取得し、所定点（ｐｐ）と対象物（５１）の外部の第２測定位置（ｐ２）との間の第２距離データ（ｄ２）を取得する取得手段（１１１）と、第１距離データ（ｄ１）と第２距離データ（ｄ２）との差分データ（ｄｄ）を計算する差分計算手段（１１２）と、差分データ（ｄｄ）に基づいて、第１距離データ（ｄ１）又は第２距離データ（ｄ２）の一部を削除する差分削除手段（１１３）と、を備える。取得手段（１１１）は、所定点（ｐｐ）と第２測定位置（ｐ２）とを結ぶ直線（Ｌ１）と対象物（５１）の表面との交点（ｘ１）所定点（ｐｐ）として第２距離データ（ｄ２）を取得する。
Description
本開示は、処理装置、システム、方法及び非一時的なコンピュータ可読媒体に関するものであり、特に、異物を検出する際に、誤検出を低減することが可能な処理装置、システム、方法及び非一時的なコンピュータ可読媒体に関する。
変電所などの電力施設において、鳥が巣を作ることがある。電力施設の電線の上に鳥の巣が作られると、電線同士がショートし、大規模な停電が発生する恐れがある。そこで、レーザ測距（ＬｉＤＡＲ：Light Detection and Ranging）装置を使用して対象物までの距離データを３次元的に取得し、営巣前の観測結果と比較してそれらの差分を求めることにより異物を検出している。
特許文献１には、第１の視点から建物のレーザースキャンを行い、三次元点群位置データを得て、他方で第２の視点から第１の視点でオクルージョンとなる建物の部分のステレオペア画像の撮影を行い、第２の視点で得たステレオ画像と第１の視点で得た三次元点群位置データとの対応関係を求めることで、当該三次元点群位置データを利用してのステレオペア画像撮影装置のキャリブレーションを行なう方法が記載されている。また、特許文献１には、三次元点群位置データの中から、非面領域の三次元点群位置データを除去する方法が記載されている。具体的には、特許文献１には、局所曲率を予め設定しておいた閾値と比較し、閾値を超える局所曲率の局所領域を非面領域と判定する方法と、局所領域の各点と対応する局所平面との距離を計算し、これらの距離の平均が予め設定した閾値よりも大きい場合、当該局所領域を非面領域と判定する方法と、隣接する局所領域において、対応する局所平面同士の向きを比較し、この局所平面の向きの違いが閾値を超えている場合、比較の対象となった局所領域が非面領域に属していると判定する方法と、が記載されている。しかしながら、特許文献１には、対象物と第１測定位置との間の第１距離データを取得し、対象物と第２測定位置との間の第２距離データを取得し、第１距離データと第２距離データとの差分データに基づいて、第１距離データ又は第２距離データの一部を削除することは、記載されていない。
特許文献２には、路面領域点群検出部が、３次元点群のうちの平面近似誤差が小さい３次元点からなる点群に対して、３次元点の法線方向の類似度を用いたクラスタリングを行い、３次元点群クラスタを、路面領域点群として検出する。窪み量推定部が、路面領域点群のうちの３次元点について局所的に求めた平面候補と、近傍の３次元点について局所的に求めた平面候補とを連結する滑らかさと、平面候補の尤度とを評価する評価関数を最適化するように、３次元点の各々における平面を推定し、推定された平面より鉛直下側にある３次元点からなる点群をクラスタリングし、クラスタに属する３次元点における、推定された平面との法線方向の距離の最大値を、窪み量として推定する方法が記載されている。また、特許文献２には、並走する車や対向車の影響により分割された道路領域、すなわち別のクラスタになった点群については、その高さ情報を用いて統合を行うことが記載されている。また、特許文献２には、路面領域点群の周辺に存在する陥没点群を統合処理することが記載されている。しかしながら、特許文献２には、対象物と第１測定位置との間の第１距離データを取得し、対象物と第２測定位置との間の第２距離データを取得し、第１距離データと第２距離データとの差分データに基づいて、第１距離データ又は第２距離データの一部を削除することは、記載されていない。
上記のように、レーザ測距装置を使用して鳥の巣などの異物を検出していた。しかしながら、営巣前のレーザ測距装置の測定位置と営巣後のレーザ測距装置の測定位置とでは測定位置が異なり、これに起因する誤検出が発生するという問題があった。
本開示の目的は、上述した課題のいずれかを解決する処理装置、システム、方法及び非一時的なコンピュータ可読媒体を提供することにある。
本開示に係る処理装置は、
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを取得し、前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを取得する取得手段と、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算する差分計算手段と、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除する差分削除手段と、
を備え、
前記取得手段は、前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得する。
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを取得し、前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを取得する取得手段と、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算する差分計算手段と、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除する差分削除手段と、
を備え、
前記取得手段は、前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得する。
本開示に係るシステムは、
距離測定装置と処理装置と異物検出装置とを備え、
前記距離測定装置は、
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを測定し、前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを測定し、
前記処理装置は、
前記第１距離データと前記第２距離データとを取得する取得手段と、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算する差分計算手段と、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除する差分削除手段と、を有し、
前記取得手段は、前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得し、
前記異物検出装置は、
前記削除後の前記第１距離データと前記削除後の前記第２距離データとに基づいて、異物を検出する。
距離測定装置と処理装置と異物検出装置とを備え、
前記距離測定装置は、
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを測定し、前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを測定し、
前記処理装置は、
前記第１距離データと前記第２距離データとを取得する取得手段と、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算する差分計算手段と、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除する差分削除手段と、を有し、
前記取得手段は、前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得し、
前記異物検出装置は、
前記削除後の前記第１距離データと前記削除後の前記第２距離データとに基づいて、異物を検出する。
本開示に係る方法は、
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを取得することと、
前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを取得することと、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算することと、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除することと、
前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得すること、
を備える。
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを取得することと、
前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを取得することと、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算することと、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除することと、
前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得すること、
を備える。
本開示に係る非一時的なコンピュータ可読媒体には、
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを取得することと、
前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを取得することと、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算することと、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除することと、
前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得すること、
をコンピュータに実行させるプログラムが格納される。
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを取得することと、
前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを取得することと、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算することと、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除することと、
前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得すること、
をコンピュータに実行させるプログラムが格納される。
本開示によれば、異物を検出する際に、誤検出を低減することが可能な処理装置、システム、方法及び非一時的なコンピュータ可読媒体を提供することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。各図面において、同一又は対応する要素には同一の符号が付されており、説明の明確化のため、必要に応じて重複説明を省略する。
［実施の形態］
図１は、実施の形態に係る処理装置を例示するブロック図である。
図２は、実施の形態に係るシステムを例示するブロック図である。
図３は、実施の形態に係る距離測定装置による距離データの測定を例示する図である。
図３は、対象物と距離測定装置とを上方（方向Ｚ）から見た図である。
図１は、実施の形態に係る処理装置を例示するブロック図である。
図２は、実施の形態に係るシステムを例示するブロック図である。
図３は、実施の形態に係る距離測定装置による距離データの測定を例示する図である。
図３は、対象物と距離測定装置とを上方（方向Ｚ）から見た図である。
図１に示すように、実施の形態に係る処理装置１１は、取得手段１１１と差分計算手段１１２と差分削除手段１１３とを備える。
図２に示すように、実施の形態に係るシステム１０は、距離測定装置１２と処理装置１１と異物検出装置１３とを備える。
先ず、距離測定装置１２で距離データを測定した際の影について説明する。
図３に示すように、営巣前における距離測定装置１２が設置された位置を第１測定位置ｐ１とする。営巣後における距離測定装置１２が設置された位置を第２測定位置ｐ２とする。第１測定位置ｐ１と第２測定位置ｐ２とは、営巣前後の距離測定装置１２が設置された測定位置であり、それらは必ずしも同じ位置ではなく多少のずれが生じる。また、図３に示す例では、対象物５１は、分離した対象物５１ａと対象物５１ｂとからなるものとする。
図３に示すように、営巣前における距離測定装置１２が設置された位置を第１測定位置ｐ１とする。営巣後における距離測定装置１２が設置された位置を第２測定位置ｐ２とする。第１測定位置ｐ１と第２測定位置ｐ２とは、営巣前後の距離測定装置１２が設置された測定位置であり、それらは必ずしも同じ位置ではなく多少のずれが生じる。また、図３に示す例では、対象物５１は、分離した対象物５１ａと対象物５１ｂとからなるものとする。
距離測定装置１２は、対象物５１の表面の所定点ｐｐと対象物５１の外部の第１測定位置ｐ１との間の距離である第１距離データｄ１を測定する。距離測定装置１２は、所定点ｐｐと対象物５１の外部の第２測定位置ｐ２との間の距離である第２距離データｄ２を測定する。具体的には、対象物５１の表面に複数の点ｐｐｎが存在しており、距離測定装置１２は、複数の点ｐｐｎのうちの第１所定点ｐｐ１と第１測定位置ｐ１との間の第１距離データｄ１１を測定する。また、距離測定装置１２は、第１所定点ｐｐ１と、第２測定位置ｐ２との間の第２距離データｄ２１を測定する。複数の点ｐｐｎのｎは整数とする。距離測定装置１２は、第１距離データｄ１１を測定するときも、第２距離データｄ２１を測定するときも、どちらも同じ第１所定点ｐｐ１からの距離を測定する。
処理装置１１は、第１距離データｄ１又は第２距離データｄ２に対応する対象物５１の表面の所定点ｐｐを、対象物５１と共に表示する表示部をさらに備えてもよい。
尚、対象物５１の表面の複数の点ｐｐｎのそれぞれと第１測定位置ｐ１との間を測定した結果、取得された複数の第１距離データｄ１を第１点群と称することもある。また、対象物５１の表面の複数の点ｐｐｎのそれぞれと第２測定位置ｐ２との間を測定した結果、取得された複数の第２距離データｄ２を第２点群と称することもある。
対象物５１の表面の複数の所定点ｐｐは、等間隔で配列されてもよい。
対象物５１の表面の複数の所定点ｐｐは、方向Ｙに沿って並び、方向Ｙと交差する方向Ｚに沿って並ぶようにしてもよい。方向Ｙを第１方向と称し、方向Ｚを第２方向と称することもある。
複数の点ｐｐｎからの距離を測定するとき、対象物５１の一部である対象物５１ａに遮られることにより、第２距離データｄ２を測定できない場合がある。例えば、距離測定装置１２が、対象物５１ｂの表面の第１所定点ｐｐ１と第２測定位置ｐ２との間の第２距離データｄ２を測定する場合である。距離測定装置１２が第２距離データｄ２を測定できない対象物５１の部分を影Ｓ１と称する。影Ｓ１は、第１測定位置ｐ１と第２測定位置ｐ２とが異なることに起因して生じる。影Ｓ１は、距離測定装置１２の測定位置の違いにより生じる。
距離測定装置１２は、第２距離データｄ２を対象物５１ａに遮られることにより測定できない場合、第１所定点ｐｐ１と第２測定位置ｐ２とを結ぶ直線Ｌ１と対象物５１の表面との交点ｘ１を所定点ｐｐとして第２距離データｄ２を測定する。交点ｘ１は、直線Ｌ１において、対象物５１と第２測定位置ｐ２との間の距離が最短となる点である。
対象物５１ｂ上の表面の第１所定点ｐｐ１と第１測定位置ｐ１との間の第１距離データｄ１は、正しく測定できる。しかしながら、対象物５１ｂ上の表面の第１所定点ｐｐ１と第２測定位置ｐ２との間の第２距離データｄ２は、対象物５１ａに遮られることにより正しく測定できない。その結果、第１距離データｄ１と第２距離データｄ２との間に必要以上に大きな差分が生じる。第１距離データｄ１と第２距離データｄ２との差分が所定差分閾値以上の場合、異物があると判断される。すなわち、距離測定装置１２の測定位置の違いから生じた影Ｓ１の影響により、異物が無い場合でも異物があると誤って判断される。異物が無い場合に異物があるとの誤検出を低減するため、影Ｓ１に対応する第１距離データｄ１又は第２距離データｄ２の一部を削除する必要がある。
そこで、実施の形態に係る処理装置１１は、以下のようにして、影Ｓ１に対応する第１距離データｄ１又は第２距離データｄ２の一部を削除して、異物を検出する際の誤検出を低減する。
実施の形態に係るシステムの動作を説明する。
図４は、実施の形態に係るシステムの動作を例示するフローチャートである。
図４は、実施の形態に係るシステムの動作を例示するフローチャートである。
図４に示すように、取得手段１１１は、対象物５１の表面の所定点ｐｐと対象物５１の外部の第１測定位置ｐ１との間の距離である第１距離データｄ１を取得する（ステップＳ１０１）。
取得手段１１１は、所定点ｐｐと対象物５１の外部の第２測定位置ｐ２との間の距離である第２距離データｄ２を取得する（ステップＳ１０２）。取得手段１１１は、距離測定装置１２が測定した第１距離データｄ１と第２距離データｄ２とを取得する。
取得手段１１１は、図３に示すように、第２距離データｄ２を対象物５１ａに遮られることにより測定できない場合、第１所定点ｐｐ１と第２測定位置ｐ２とを結ぶ直線Ｌ１と対象物５１の表面との交点ｘ１を所定点ｐｐとして第２距離データｄ２を取得する。交点ｘ１は、直線Ｌ１において、対象物５１と第２測定位置ｐ２との間の距離が最短となる点である。取得手段１１１は、距離測定装置１２が測定した第２距離データｄ２を取得する。
差分計算手段１１２は、第１距離データｄ１と第２距離データｄ２との差分である差分データｄｄを計算するため、それらを重ね合わせる（ステップＳ１０３）。
差分計算手段１１２は、第１距離データｄ１と第２距離データｄ２との差分データｄｄを計算する（ステップＳ１０４）。
第１距離データｄ１は、複数の点ｐｐｎのそれぞれと第１測定位置ｐ１との間の距離である。よって、第１距離データｄ１は複数個が存在する。第２距離データｄ２は、複数の点ｐｐｎのそれぞれと第２測定位置ｐ２との間の距離である。よって、第２距離データｄ２は複数個が存在する。差分データｄｄは、第１距離データｄ１と第２距離データｄ２との差分である。よって、差分データｄｄは複数個が存在する。差分データｄｄの１つは、複数の点ｐｐｎのうちの第１所定点ｐｐ１に対応する第１距離データｄ１１と、複数の点ｐｐｎのうちの第１所定点ｐｐ１に対応する第２距離データｄ２１と、の間の差分である。差分データｄｄを計算する場合、同じ所定点ｐｐに対応する第１距離データｄ１と第２距離データｄ２との差分を計算する。差分データｄｄは複数個が存在し、これを差分点群と称することもある。
差分削除手段１１３は、差分データｄｄに基づいて、第１測定位置ｐ１と第２測定位置ｐ２との違いにより生じた影Ｓ１に対応する第１距離データｄ１又は第２距離データｄ２の一部を削除する（ステップＳ１０５）。尚、第１距離データｄ１と第２距離データｄ２とを総称して、単に、距離データと称することもある。
ここで、ステップＳ１０５の詳細を説明する。
図５は、実施の形態に係る差分削除手段の動作を例示するフローチャートである。
図６は、対象物と距離測定装置とを上方（方向Ｚ）から見た図である。
図５は、実施の形態に係る差分削除手段の動作を例示するフローチャートである。
図６は、対象物と距離測定装置とを上方（方向Ｚ）から見た図である。
図５に示すように、差分削除手段１１３は、差分計算手段１１２から差分データｄｄを取得する（ステップＳ１０５１）。
差分削除手段１１３は、取得手段１１１から第２距離データｄ２を取得する（ステップＳ１０５２）。
差分削除手段１１３は、差分データｄｄが差分閾値以上となる第１距離データｄ１を第１差分距離データｄｄ１として特定する。図６に示すように、差分削除手段１１３は、第１差分距離データｄｄ１に対応する対象物５１の表面の所定点ｐｐを第１特定点ｐｐｓ１として特定する。差分削除手段１１３は、第１特定点ｐｐｓ１と第２測定位置ｐ２とを結ぶ直線Ｌ２を計算する（ステップＳ１０５３）。
差分削除手段１１３は、直線Ｌ２と対象物５１の表面の所定点ｐｐとの間の最短距離を計算する（ステップＳ１０５４）。
差分削除手段１１３は、計算した最短距離が所定距離Ｒよりも長いか否かを判断する（ステップＳ１０５５）。
差分削除手段１１３は、計算した最短距離が所定距離Ｒよりも長くない場合（ステップＳ１０５５：Ｎｏ）、最短距離に対応する対象物５１の表面の所定点ｐｐを第１所定特定点ｐｐｓｓ１として特定する。すなわち、差分削除手段１１３は、計算した直線Ｌ２から所定距離Ｒ以内に含まれる対象物５１の表面の所定点ｐｐを第１所定特定点ｐｐｓｓ１として特定する。
差分削除手段１１３は、ステップＳ１０５５がＮｏの場合、第１所定特定点ｐｐｓｓ１に対応する第１距離データｄ１を第１所定距離データｄ１ｒとして特定する。差分削除手段１１３は、第１所定距離データｄ１ｒを削除する（ステップＳ１０５６）。
差分削除手段１１３は、計算した最短距離が所定距離Ｒよりも長い場合（ステップＳ１０５５：Ｙｅｓ）、第１所定距離データｄ１ｒをそのまま残す（ステップＳ１０５７）。
これにより、影Ｓ１に対応する第１距離データｄ１である第１所定距離データｄ１ｒが削除されるので、異物を検出する際に誤検出を低減することが可能となる。
次に、ステップＳ１０５の別の方法を説明する。
図７は、実施の形態に係る差分削除手段の動作を例示するフローチャートである。
図８は、実施の形態に係る距離測定装置による第２距離データを例示する図である。
図８は、対象物と距離測定装置との間の距離を画像の濃淡で示す。濃い色は距離が長いことを示し、淡い色は距離が短いことを示す。
図８は、距離の画像Ａと距離の画像Ｂとを重ねて表示する。
図８は、第１差分距離データに対応する対象物５１の表面の所定点ｐｐである差分点ｐｐｄの画像Ｄも伴わせて示す。
図８は、対象物を前方（方向Ｘ）から見た図である。
図７は、実施の形態に係る差分削除手段の動作を例示するフローチャートである。
図８は、実施の形態に係る距離測定装置による第２距離データを例示する図である。
図８は、対象物と距離測定装置との間の距離を画像の濃淡で示す。濃い色は距離が長いことを示し、淡い色は距離が短いことを示す。
図８は、距離の画像Ａと距離の画像Ｂとを重ねて表示する。
図８は、第１差分距離データに対応する対象物５１の表面の所定点ｐｐである差分点ｐｐｄの画像Ｄも伴わせて示す。
図８は、対象物を前方（方向Ｘ）から見た図である。
図７に示すように、差分削除手段１１３は、差分計算手段１１２から差分データｄｄを取得する（ステップＳ２０５１）。差分削除手段１１３は、差分データｄｄが差分閾値以上である第１距離データｄ１を第１差分距離データｄｄ１として特定する。
差分削除手段１１３は、取得手段１１１から第２距離データｄ２を取得する（ステップＳ２０５２）。
図８に示すように、差分削除手段１１３は、第１差分距離データｄｄ１を第２測定位置ｐ２からの距離の画像Ａにする（ステップＳ２０５３）。
差分削除手段１１３は、第２距離データｄ２を第２測定位置ｐ２からの距離の画像Ｂにする（ステップＳ２０５４）。
差分削除手段１１３は、画像Ａの距離データが画像Ｂの距離データよりも短いか否かを判断する（ステップＳ２０５５）。すなわち、差分削除手段１１３は、第１差分距離データｄｄ１が第２距離データｄ２よりも短いか否かを判断する。
差分削除手段１１３は、画像Ａの距離データが画像Ｂの距離データよりも短い場合（ステップＳ２０５５：Ｙｅｓ）、第１差分距離データｄｄ１を残す（ステップＳ２０５７）。すなわち、差分削除手段１１３は、第１差分距離データｄｄ１が第２距離データｄ２よりも短い場合、第１差分距離データｄｄ１を残す。
差分削除手段１１３は、画像Ａの距離データが画像Ｂの距離データよりも短くない場合（ステップＳ２０５５：Ｎｏ）、第１差分距離データｄｄ１を削除する（ステップＳ２０５６）。すなわち、差分削除手段１１３は、第２距離データｄ２以上の第１差分距離データｄｄ１を削除する。
尚、差分閾値を０よりも大きな値としてよい。
これにより、影Ｓ１に対応する第１距離データｄ１である第１差分距離データｄｄ１が削除されるので、異物を検出する際に誤検出を低減することが可能となる。
次に、図４に示すステップＳ１０５の後、差分削除手段１１３は、重ね合わせによる誤差を削除する（ステップＳ１０６）。
ここで、重ね合わせ時の誤差を説明する。
図９は、対象物と距離測定装置とを上方（方向Ｚ）から見た図である。
図１０は、対象物に対する距離データを重ね合わせた場合を模式的に例示した図である。
図９は、対象物と距離測定装置とを上方（方向Ｚ）から見た図である。
図１０は、対象物に対する距離データを重ね合わせた場合を模式的に例示した図である。
図９に示すように、第１距離データｄ１ａと第２距離データｄ２ａとの差分データは、他の差分データと比べて大きくなる。同様に、第１距離データｄ１ｂと第２距離データｄ２ｂとの差分データは、他の差分データと比べて大きくなる。この様子を模式的に示したものが図１０である。図１０に示すように、対象物５１ａの端部５１ａ１、端部５１ａ２、対象物５１ｂの端部５１ｂ１及び端部５１ｂ２では、距離データの誤差が大きくなる。
ただし、第１距離データｄ１ａとは、所定点ｐｐａと第１測定位置ｐ１との間の距離であり、第２距離データｄ２ａとは、所定点ｐｐａと第２測定位置ｐ２との間の距離である。また、第１距離データｄ１ｂとは、所定点ｐｐｂと第１測定位置ｐ１との間の距離であり、第２距離データｄ２ｂとは、所定点ｐｐｂと第２測定位置ｐ２との間の距離である。
異物の検出においては、例えば、第１距離データｄ１と第２距離データｄ２との差分が所定差分閾値以上の場合、異物があると判断される。距離データを重ね合わせたことにより生じた距離データの誤差の影響により、異物が無い場合でも異物があると判断される。よって、距離データの誤差の影響を低減するため、第１距離データｄ１又は第２距離データｄ２の一部を削除する必要がある。
ここで、重ね合わせ時の距離データの誤差を検討する。
図１１は、第２距離データと差分データとを例示するグラフである。
図１１の縦軸は距離を示し、縦軸は距離を示す。
図１１では、第２距離データを基準にして差分データを示す。
図１１では、重ね合わせ誤差の差分データと、ランダム誤差の差分データと、を示す。
図１２は、図１１に示す差分データの割合を例示するグラフである。
図１２の縦軸は差分データの距離に対する割合を示し、横軸は距離を示す。
図１１は、第２距離データと差分データとを例示するグラフである。
図１１の縦軸は距離を示し、縦軸は距離を示す。
図１１では、第２距離データを基準にして差分データを示す。
図１１では、重ね合わせ誤差の差分データと、ランダム誤差の差分データと、を示す。
図１２は、図１１に示す差分データの割合を例示するグラフである。
図１２の縦軸は差分データの距離に対する割合を示し、横軸は距離を示す。
図１１に示すように、第２距離データは自データを基準にしているので、距離が０となる。図１１に示す第１差分距離データｄｄ１は、例えば、図９に示す第１距離データｄ１ａと第２距離データｄ２ａとの差分である。尚、重ね合わせ時の誤差を、重ね合わせ誤差と称する。
図１１及び図１２に示すように、重ね合わせ誤差の差分データは、バラツキが小さく、対象物（構造物）に対して「面的」に分布する。一方、営巣前後の差分データは、バラツキが大きく、対象物に対して「ランダム」に分布する。これをランダム誤差と称する。すなわち、重ね合わせ誤差の差分データのバラツキは、ランダム誤差の差分データのバラツキよりも小さい。
そこで、実施の形態に係る処理装置１１の差分削除手段１１３は、距離データの重ね合わせ時の誤差の影響を低減するため、以下のようにして、第１距離データｄ１又は第２距離データｄ２の一部を削除する。
差分削除手段１１３は、図４に示すステップＳ１０６を行う。
図１３は、実施の形態に係る差分削除手段の動作を例示するフローチャートである。
図１３は、実施の形態に係る差分削除手段の動作を例示するフローチャートである。
図１３に示すように、差分削除手段１１３は、差分計算手段１１２から差分データｄｄを取得する（ステップＳ１０６１）。差分削除手段１１３は、差分データｄｄが差分閾値以上である第１距離データｄ１を第１差分距離データｄｄ１として特定する。
差分削除手段１１３は、取得手段１１１から第２距離データｄ２を取得する（ステップＳ１０６２）。
差分削除手段１１３は、第１差分距離データｄｄ１に対応する対象物５１の表面の所定点から、第２距離データｄ２に対応する対象物５１の表面の所定点までの最短距離を計算する（ステップＳ１０６３）。
具体的には、図１１に示すように、差分削除手段１１３は、第１差分距離データｄｄ１に対応する対象物５１の表面の所定点ｐｐを第１差分点ｐｐｄ１として特定する。差分削除手段１１３は、差分データｄｄが差分閾値以上となる第２距離データｄ２を第２差分距離データｄｄ２として特定する。差分削除手段１１３は、第２差分距離データｄｄ２に対応する対象物５１の表面の所定点ｐｐを第２差分点ｐｐｄ２として特定する。
差分削除手段１１３は、第１差分点ｐｐｄ１の隣の対象物５１の表面の所定点ｐｐを隣接第１差分点ｐｐｄ１ａとして特定する。差分削除手段１１３は、第２差分点の隣の対象物５１の表面の所定点ｐｐを隣接第２差分点ｐｐｄ２ａとして特定する。
差分削除手段１１３は、第１差分点ｐｐｄ１と第２差分点ｐｐｄ２との間の第１所定差分距離データｄｄ１ｒを計算する。すなわち、第１差分距離データｄｄ１の１つに対応する対象物５１の表面の第１差分点ｐｐｄ１から、第２距離データｄ２の１つに対応する対象物５１の表面の第２差分点ｐｐｄ２までの最短距離である第１所定差分距離データｄｄ１ｒを計算する。これを全ての第１差分距離データｄｄ１に対して行う（ステップＳ１０６３）。
差分削除手段１１３は、解析用ボクセルサイズに基づいて、対象物５１を所定サイズのボクセルに分割する（ステップＳ１０６４）。
差分削除手段１１３は、計算した最短距離が距離閾値よりも短い第１差分距離データｄｄ１を削除する（ステップＳ１０６５）。
差分削除手段１１３は、図１１に示す差分データｄｄ（第１差分距離データｄｄ１）のグラフの勾配を計算する（ステップＳ１０６６）。
具体的には、図１１に示すように、差分削除手段１１３は、隣接第１差分点ｐｐｄ１ａと隣接第２差分点ｐｐｄ２ａとの間の第２所定差分距離データｄｄ２ｒを計算する。差分削除手段１１３は、第２差分点ｐｐｄ２と隣接第２差分点ｐｐｄ２ａとの間の隣接差分距離データｄｄｊを計算する。差分削除手段１１３は、隣接差分距離データｄｄｊを、第２所定差分距離データｄｄ２ｒから第１所定差分距離データｄｄ１ｒを差し引いた距離で除算して第１勾配を計算する。
差分削除手段１１３は、第１勾配が勾配閾値よりも大きいか否かを判断する（ステップＳ１０６７）。尚、第１勾配を、単に勾配と称することもある。
差分削除手段１１３は、第１勾配が勾配閾値以下の場合（ステップＳ１０６７：Ｎｏ）、第１差分距離データｄｄ１を残す（ステップＳ１０６８）。
差分削除手段１１３は、第１勾配が勾配閾値よりも大きい場合（ステップＳ１０６７：Ｙｅｓ）、第１差分距離データｄｄ１を削除する（ステップＳ１０６９）。
これにより、距離データの重ね合わせ時の誤差の影響を低減できるので、異物を検出する際に誤検出を低減することが可能となる。
次に、図４に示すステップＳ１０６の後、異物検出装置１３は、削除後の第１距離データｄ１と削除後の第２距離データｄ２とに基づいて、異物を検出する（ステップＳ１０７）。具体的には、削除後の第１距離データｄ１と削除後の第２距離データｄ２との差分を計算し、計算した差分が所定差分閾値以上の場合、異物があると判断して異物を検出（抽出）する。
以上、説明したように、実施の形態によれば、異物を検出する際に、誤検出を低減することが可能な処理装置、システム、方法及び非一時的なコンピュータ可読媒体を提供することができる。
尚、上記の実施の形態では、本発明をハードウェアの構成として説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。本発明は、各構成要素の処理を、ＣＰＵ（Central Processing Unit）にコンピュータプログラムを実行させることにより実現することも可能である。
上記の実施の形態において、プログラムは、様々なタイプの非一時的なコンピュータ可読媒体（non-transitory computer readable medium）を用いて格納され、コンピュータに供給することができる。非一時的なコンピュータ可読媒体は、様々なタイプの実態のある記録媒体(tangible storage medium)を含む。非一時的なコンピュータ可読媒体の例は、磁気記録媒体（具体的にはフレキシブルディスク、磁気テープ、ハードディスクドライブ）、光磁気記録媒体（具体的には光磁気ディスク）、ＣＤ－ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＣＤ－Ｒ、ＣＤ－Ｒ／Ｗ、半導体メモリ（具体的には、マスクＲＯＭ、ＰＲＯＭ（Programmable ROM）、ＥＰＲＯＭ(Erasable PROM)）、フラッシュＲＯＭ、ＲＡＭ(Random Access Memory)を含む。また、プログラムは、様々なタイプの一時的なコンピュータ可読媒体（transitory computer readable medium）によってコンピュータに供給されてもよい。一時的なコンピュータ可読媒体の例は、電気信号、光信号、及び電磁波を含む。一時的なコンピュータ可読媒体は、電線及び光ファイバ等の有線通信路、又は無線通信路を介して、プログラムをコンピュータに供給できる。
以上、実施の形態を参照して本願発明を説明したが、本願発明は上記によって限定されるものではない。本願発明の構成や詳細には、発明のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
尚、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。
上記の実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうるが、以下には限られない。
（付記１）
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを取得し、前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを取得する取得手段と、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算する差分計算手段と、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除する差分削除手段と、
を備え、
前記取得手段は、前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得する、
処理装置。
（付記２）
前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上となる前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第１差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第１特定点として特定し、
前記第１特定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線から所定距離以内に含まれる前記対象物の表面の前記所定点を第１所定特定点として特定し、
前記第１所定特定点に対応する前記第１距離データを第１所定距離データとして特定し、
前記第１所定距離データを削除する、
付記１に記載の処理装置。
（付記３）
前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上である前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第２距離データ以上の前記第１差分距離データを削除する、
付記１に記載の処理装置。
（付記４）
前記差分閾値は、０よりも大きな値である、
付記３に記載の処理装置。
（付記５）
前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上となる前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第１差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第１差分点として特定し、
前記差分データが前記差分閾値以上となる前記第２距離データを第２差分距離データとして特定し、
前記第２差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第２差分点として特定し、
前記第１差分点の隣の前記対象物の表面の前記所定点を隣接第１差分点として特定し、
前記第２差分点の隣の前記対象物の表面の前記所定点を隣接第２差分点として特定し、
前記第１差分点と前記第２差分点との間の第１所定差分距離データを計算し、
前記隣接第１差分点と前記隣接第２差分点との間の第２所定差分距離データを計算し、
前記第２差分点と前記隣接第２差分点との間の隣接差分距離データを計算し、
前記隣接差分距離データを、前記第２所定差分距離データから前記第１所定差分距離データを差し引いた距離で除算して第１勾配を計算し、
前記第１勾配が勾配閾値よりも大きい場合、前記第１差分距離データを削除する、
付記１乃至４のいずれか１つに記載の処理装置。
（付記６）
前記対象物の表面の複数の前記所定点は、等間隔で配列される、
付記１乃至５のいずれか１つに記載の処理装置。
（付記７）
前記対象物の表面の複数の前記所定点は、第１方向に沿って並び、前記第１方向と交差する第２方向に沿って並ぶ、
付記１乃至６のいずれか１つに記載の処理装置。
（付記８）
前記第１距離データ又は前記第２距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を、前記対象物と共に表示する表示部をさらに備えた、
付記１乃至７のいずれか１つに記載の処理装置。
（付記９）
距離測定装置と処理装置と異物検出装置とを備え、
前記距離測定装置は、
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを測定し、前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを測定し、
前記処理装置は、
前記第１距離データと前記第２距離データとを取得する取得手段と、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算する差分計算手段と、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除する差分削除手段と、を有し、
前記取得手段は、前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得し、
前記異物検出装置は、
前記削除後の前記第１距離データと前記削除後の前記第２距離データとに基づいて、異物を検出する、
システム。
（付記１０）
前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上となる前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第１差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第１特定点として特定し、
前記第１特定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線から所定距離以内に含まれる前記対象物の表面の前記所定点を第１所定特定点として特定し、
前記第１所定特定点に対応する前記第１距離データを第１所定距離データとして特定し、
前記第１所定距離データを削除する、
付記９に記載のシステム。
（付記１１）
前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上である前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第２距離データ以上の前記第１差分距離データを削除する、
付記９に記載のシステム。
（付記１２）
前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上となる前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第１差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第１差分点として特定し、
前記差分データが前記差分閾値以上となる前記第２距離データを第２差分距離データとして特定し、
前記第２差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第２差分点として特定し、
前記第１差分点の隣の前記対象物の表面の前記所定点を隣接第１差分点として特定し、
前記第２差分点の隣の前記対象物の表面の前記所定点を隣接第２差分点として特定し、
前記第１差分点と前記第２差分点との間の第１所定差分距離データを計算し、
前記隣接第１差分点と前記隣接第２差分点との間の第２所定差分距離データを計算し、
前記第２差分点と前記隣接第２差分点との間の隣接差分距離データを計算し、
前記隣接差分距離データを、前記第２所定差分距離データから前記第１所定差分距離データを差し引いた距離で除算して第１勾配を計算し、
前記第１勾配が勾配閾値よりも大きい場合、前記第１差分距離データを削除する、
付記９乃至１１のいずれか１つに記載のシステム。
（付記１３）
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを取得することと、
前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを取得することと、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算することと、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除することと、
前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得すること、
を備える方法。
（付記１４）
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを取得することと、
前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを取得することと、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算することと、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除することと、
前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得すること、
をコンピュータに実行させるプログラムが格納される非一時的なコンピュータ可読媒体。
（付記１）
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを取得し、前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを取得する取得手段と、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算する差分計算手段と、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除する差分削除手段と、
を備え、
前記取得手段は、前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得する、
処理装置。
（付記２）
前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上となる前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第１差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第１特定点として特定し、
前記第１特定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線から所定距離以内に含まれる前記対象物の表面の前記所定点を第１所定特定点として特定し、
前記第１所定特定点に対応する前記第１距離データを第１所定距離データとして特定し、
前記第１所定距離データを削除する、
付記１に記載の処理装置。
（付記３）
前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上である前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第２距離データ以上の前記第１差分距離データを削除する、
付記１に記載の処理装置。
（付記４）
前記差分閾値は、０よりも大きな値である、
付記３に記載の処理装置。
（付記５）
前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上となる前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第１差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第１差分点として特定し、
前記差分データが前記差分閾値以上となる前記第２距離データを第２差分距離データとして特定し、
前記第２差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第２差分点として特定し、
前記第１差分点の隣の前記対象物の表面の前記所定点を隣接第１差分点として特定し、
前記第２差分点の隣の前記対象物の表面の前記所定点を隣接第２差分点として特定し、
前記第１差分点と前記第２差分点との間の第１所定差分距離データを計算し、
前記隣接第１差分点と前記隣接第２差分点との間の第２所定差分距離データを計算し、
前記第２差分点と前記隣接第２差分点との間の隣接差分距離データを計算し、
前記隣接差分距離データを、前記第２所定差分距離データから前記第１所定差分距離データを差し引いた距離で除算して第１勾配を計算し、
前記第１勾配が勾配閾値よりも大きい場合、前記第１差分距離データを削除する、
付記１乃至４のいずれか１つに記載の処理装置。
（付記６）
前記対象物の表面の複数の前記所定点は、等間隔で配列される、
付記１乃至５のいずれか１つに記載の処理装置。
（付記７）
前記対象物の表面の複数の前記所定点は、第１方向に沿って並び、前記第１方向と交差する第２方向に沿って並ぶ、
付記１乃至６のいずれか１つに記載の処理装置。
（付記８）
前記第１距離データ又は前記第２距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を、前記対象物と共に表示する表示部をさらに備えた、
付記１乃至７のいずれか１つに記載の処理装置。
（付記９）
距離測定装置と処理装置と異物検出装置とを備え、
前記距離測定装置は、
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを測定し、前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを測定し、
前記処理装置は、
前記第１距離データと前記第２距離データとを取得する取得手段と、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算する差分計算手段と、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除する差分削除手段と、を有し、
前記取得手段は、前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得し、
前記異物検出装置は、
前記削除後の前記第１距離データと前記削除後の前記第２距離データとに基づいて、異物を検出する、
システム。
（付記１０）
前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上となる前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第１差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第１特定点として特定し、
前記第１特定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線から所定距離以内に含まれる前記対象物の表面の前記所定点を第１所定特定点として特定し、
前記第１所定特定点に対応する前記第１距離データを第１所定距離データとして特定し、
前記第１所定距離データを削除する、
付記９に記載のシステム。
（付記１１）
前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上である前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第２距離データ以上の前記第１差分距離データを削除する、
付記９に記載のシステム。
（付記１２）
前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上となる前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第１差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第１差分点として特定し、
前記差分データが前記差分閾値以上となる前記第２距離データを第２差分距離データとして特定し、
前記第２差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第２差分点として特定し、
前記第１差分点の隣の前記対象物の表面の前記所定点を隣接第１差分点として特定し、
前記第２差分点の隣の前記対象物の表面の前記所定点を隣接第２差分点として特定し、
前記第１差分点と前記第２差分点との間の第１所定差分距離データを計算し、
前記隣接第１差分点と前記隣接第２差分点との間の第２所定差分距離データを計算し、
前記第２差分点と前記隣接第２差分点との間の隣接差分距離データを計算し、
前記隣接差分距離データを、前記第２所定差分距離データから前記第１所定差分距離データを差し引いた距離で除算して第１勾配を計算し、
前記第１勾配が勾配閾値よりも大きい場合、前記第１差分距離データを削除する、
付記９乃至１１のいずれか１つに記載のシステム。
（付記１３）
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを取得することと、
前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを取得することと、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算することと、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除することと、
前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得すること、
を備える方法。
（付記１４）
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを取得することと、
前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを取得することと、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算することと、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除することと、
前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得すること、
をコンピュータに実行させるプログラムが格納される非一時的なコンピュータ可読媒体。
１０：システム
１１：処理装置
１１１：取得手段
１１２：差分計算手段
１１３：差分削除手段
１２：距離測定装置
１３：異物検出装置
５１、５１ａ、５１ｂ：対象物
５１ａ１、５１ａ２、５１ｂ１、５１ｂ２：端部
ｐ１：第１測定位置
ｐ２：第２測定位置
ｘ１：交点
ｐｐ、ｐｐａ、ｐｐｂ：所定点
ｐｐ１：第１所定点
ｐｐｓ１：第１特定点
ｐｐｓｓ１：第１所定特定点
ｐｐｄ：差分点
ｐｐｄ１：第１差分点
ｐｐｄ２：第２差分点
ｐｐｄ１ａ：隣接第１差分点
ｐｐｄ２ａ：隣接第２差分点
ｐｐｎ：複数の点
ｄ１、ｄ１１、ｄ１ａ、ｄ１ｂ：第１距離データ
ｄ２、ｄ２１、ｄ２ａ、ｄ２ｂ：第２距離データ
ｄ１ｒ：第１所定距離データ
ｄｄ：差分データ
ｄｄ１：第１差分距離データ
ｄｄ２：第２差分距離データ
ｄｄ１ｒ：第１所定差分距離データ
ｄｄ２ｒ：第２所定差分距離データ
ｄｄｊ：隣接差分距離データ
Ａ、Ｂ、Ｄ：画像
Ｒ：所定距離
Ｌ１、Ｌ２：直線
Ｓ１：影
１１：処理装置
１１１：取得手段
１１２：差分計算手段
１１３：差分削除手段
１２：距離測定装置
１３：異物検出装置
５１、５１ａ、５１ｂ：対象物
５１ａ１、５１ａ２、５１ｂ１、５１ｂ２：端部
ｐ１：第１測定位置
ｐ２：第２測定位置
ｘ１：交点
ｐｐ、ｐｐａ、ｐｐｂ：所定点
ｐｐ１：第１所定点
ｐｐｓ１：第１特定点
ｐｐｓｓ１：第１所定特定点
ｐｐｄ：差分点
ｐｐｄ１：第１差分点
ｐｐｄ２：第２差分点
ｐｐｄ１ａ：隣接第１差分点
ｐｐｄ２ａ：隣接第２差分点
ｐｐｎ：複数の点
ｄ１、ｄ１１、ｄ１ａ、ｄ１ｂ：第１距離データ
ｄ２、ｄ２１、ｄ２ａ、ｄ２ｂ：第２距離データ
ｄ１ｒ：第１所定距離データ
ｄｄ：差分データ
ｄｄ１：第１差分距離データ
ｄｄ２：第２差分距離データ
ｄｄ１ｒ：第１所定差分距離データ
ｄｄ２ｒ：第２所定差分距離データ
ｄｄｊ：隣接差分距離データ
Ａ、Ｂ、Ｄ：画像
Ｒ：所定距離
Ｌ１、Ｌ２：直線
Ｓ１：影
Claims (14)
- 対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを取得し、前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを取得する取得手段と、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算する差分計算手段と、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除する差分削除手段と、
を備え、
前記取得手段は、前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得する、
処理装置。 - 前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上となる前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第１差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第１特定点として特定し、
前記第１特定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線から所定距離以内に含まれる前記対象物の表面の前記所定点を第１所定特定点として特定し、
前記第１所定特定点に対応する前記第１距離データを第１所定距離データとして特定し、
前記第１所定距離データを削除する、
請求項１に記載の処理装置。 - 前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上である前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第２距離データ以上の前記第１差分距離データを削除する、
請求項１に記載の処理装置。 - 前記差分閾値は、０よりも大きな値である、
請求項３に記載の処理装置。 - 前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上となる前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第１差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第１差分点として特定し、
前記差分データが前記差分閾値以上となる前記第２距離データを第２差分距離データとして特定し、
前記第２差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第２差分点として特定し、
前記第１差分点の隣の前記対象物の表面の前記所定点を隣接第１差分点として特定し、
前記第２差分点の隣の前記対象物の表面の前記所定点を隣接第２差分点として特定し、
前記第１差分点と前記第２差分点との間の第１所定差分距離データを計算し、
前記隣接第１差分点と前記隣接第２差分点との間の第２所定差分距離データを計算し、
前記第２差分点と前記隣接第２差分点との間の隣接差分距離データを計算し、
前記隣接差分距離データを、前記第２所定差分距離データから前記第１所定差分距離データを差し引いた距離で除算して第１勾配を計算し、
前記第１勾配が勾配閾値よりも大きい場合、前記第１差分距離データを削除する、
請求項１乃至４のいずれか１つに記載の処理装置。 - 前記対象物の表面の複数の前記所定点は、等間隔で配列される、
請求項１乃至５のいずれか１つに記載の処理装置。 - 前記対象物の表面の複数の前記所定点は、第１方向に沿って並び、前記第１方向と交差する第２方向に沿って並ぶ、
請求項１乃至６のいずれか１つに記載の処理装置。 - 前記第１距離データ又は前記第２距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を、前記対象物と共に表示する表示部をさらに備えた、
請求項１乃至７のいずれか１つに記載の処理装置。 - 距離測定装置と処理装置と異物検出装置とを備え、
前記距離測定装置は、
対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを測定し、前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを測定し、
前記処理装置は、
前記第１距離データと前記第２距離データとを取得する取得手段と、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算する差分計算手段と、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除する差分削除手段と、を有し、
前記取得手段は、前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得し、
前記異物検出装置は、
前記削除後の前記第１距離データと前記削除後の前記第２距離データとに基づいて、異物を検出する、
システム。 - 前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上となる前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第１差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第１特定点として特定し、
前記第１特定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線から所定距離以内に含まれる前記対象物の表面の前記所定点を第１所定特定点として特定し、
前記第１所定特定点に対応する前記第１距離データを第１所定距離データとして特定し、
前記第１所定距離データを削除する、
請求項９に記載のシステム。 - 前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上である前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第２距離データ以上の前記第１差分距離データを削除する、
請求項９に記載のシステム。 - 前記差分削除手段は、
前記差分データが差分閾値以上となる前記第１距離データを第１差分距離データとして特定し、
前記第１差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第１差分点として特定し、
前記差分データが前記差分閾値以上となる前記第２距離データを第２差分距離データとして特定し、
前記第２差分距離データに対応する前記対象物の表面の前記所定点を第２差分点として特定し、
前記第１差分点の隣の前記対象物の表面の前記所定点を隣接第１差分点として特定し、
前記第２差分点の隣の前記対象物の表面の前記所定点を隣接第２差分点として特定し、
前記第１差分点と前記第２差分点との間の第１所定差分距離データを計算し、
前記隣接第１差分点と前記隣接第２差分点との間の第２所定差分距離データを計算し、
前記第２差分点と前記隣接第２差分点との間の隣接差分距離データを計算し、
前記隣接差分距離データを、前記第２所定差分距離データから前記第１所定差分距離データを差し引いた距離で除算して第１勾配を計算し、
前記第１勾配が勾配閾値よりも大きい場合、前記第１差分距離データを削除する、
請求項９乃至１１のいずれか１つに記載のシステム。 - 対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを取得することと、
前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを取得することと、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算することと、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除することと、
前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得すること、
を備える方法。 - 対象物の表面の所定点と前記対象物の外部の第１測定位置との間の第１距離データを取得することと、
前記所定点と前記対象物の外部の第２測定位置との間の第２距離データを取得することと、
前記第１距離データと前記第２距離データとの差分データを計算することと、
前記差分データに基づいて、前記第１距離データ又は前記第２距離データの一部を削除することと、
前記第２距離データを前記対象物の一部に遮られることにより測定できない場合、前記所定点と前記第２測定位置とを結ぶ直線と前記対象物の表面との交点であって前記対象物と前記第２測定位置との間の距離が最短となる前記交点を前記所定点として前記第２距離データを取得すること、
をコンピュータに実行させるプログラムが格納される非一時的なコンピュータ可読媒体。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020540937A JP7060100B2 (ja) | 2018-09-06 | 2018-09-06 | 処理装置、システム、方法及びプログラム |
| PCT/JP2018/032982 WO2020049676A1 (ja) | 2018-09-06 | 2018-09-06 | 処理装置、システム、方法及び非一時的なコンピュータ可読媒体 |
| US17/273,490 US20210341581A1 (en) | 2018-09-06 | 2018-09-06 | Processing device, system, method, and non-transitory computer readable medium |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2018/032982 WO2020049676A1 (ja) | 2018-09-06 | 2018-09-06 | 処理装置、システム、方法及び非一時的なコンピュータ可読媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| WO2020049676A1 true WO2020049676A1 (ja) | 2020-03-12 |
Family
ID=69721895
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PCT/JP2018/032982 WO2020049676A1 (ja) | 2018-09-06 | 2018-09-06 | 処理装置、システム、方法及び非一時的なコンピュータ可読媒体 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20210341581A1 (ja) |
| JP (1) | JP7060100B2 (ja) |
| WO (1) | WO2020049676A1 (ja) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003296708A (ja) * | 2002-03-29 | 2003-10-17 | Minolta Co Ltd | データ処理方法、データ処理プログラムおよび記録媒体 |
| JP2006214893A (ja) * | 2005-02-04 | 2006-08-17 | Iwate Univ | 対象物測定方法及びコンピュータシステムを用いて対象物の三次元形状を計測するためのコンピュータソフトウエアプログラム |
| JP2012093334A (ja) * | 2010-09-30 | 2012-05-17 | Jvc Kenwood Corp | 異物検出装置、異物検出方法、異物検出プログラム |
| US20130070048A1 (en) * | 2011-09-21 | 2013-03-21 | National Applied Research Laboratories | Formation Apparatus Using Digital Image Correlation |
| JP2017166933A (ja) * | 2016-03-15 | 2017-09-21 | 富士通株式会社 | 情報処理装置及び情報合成プログラム |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6554169B2 (ja) * | 2015-06-10 | 2019-07-31 | 株式会社日立製作所 | 物体認識装置及び物体認識システム |
| US10721393B2 (en) * | 2017-12-29 | 2020-07-21 | Axis Ab | Laser ranging and illumination |
-
2018
- 2018-09-06 US US17/273,490 patent/US20210341581A1/en active Pending
- 2018-09-06 JP JP2020540937A patent/JP7060100B2/ja active Active
- 2018-09-06 WO PCT/JP2018/032982 patent/WO2020049676A1/ja active Application Filing
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP7060100B2 (ja) | 2022-04-26 |
| JPWO2020049676A1 (ja) | 2021-08-12 |
| US20210341581A1 (en) | 2021-11-04 |
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|
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|
| 122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
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