WO2019130856A1 - Particle image display device, particle image display program, particle image display method, and particle measurement system - Google Patents
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Abstract
In order to provide a particle image display device 3 that enables an operator to easily and intuitively image a particle dispersion state, the device is set to be provided with: a particle information acquisition unit 31 that acquires particle information about particles dispersed in a dispersion medium from one or more types of particle measurement devices 1, 2 which measure the particle information; a deformation rule storage unit 34 that stores a prescribed deformation rule; and a deformed image generation unit 33 that generates a deformed image indicating a deformed particle dispersion mode different from an actual particle dispersion mode in the dispersion medium by applying the deformation rule to the particle information and converting the information.
Description
本発明は、粒子径分布など、分散している粒子に関する情報を粒子測定装置から取得し、粒子の分散態様を画像化して表示する粒子画像表示装置等に関するものである。
The present invention relates to a particle image display apparatus or the like that acquires information on dispersed particles, such as particle size distribution, from a particle measurement device, and images and displays the dispersion mode of the particles.
前記粒子測定装置の１つとして、例えば光散乱式の粒子径分布測定装置が知られている。
For example, a light scattering type particle size distribution measuring apparatus is known as one of the particle measuring apparatuses.
この種の粒子径分布測定装置としては、例えば、分散媒中の粒子に光を照射して得られる散乱光又は回折光の強度に基づいて粒子径分布を測定する光散乱式のものや、ＣＣＤカメラや光学系などを用いて、分散媒中の実際の粒子分散態様を撮像し、その撮像画像を解析して粒子径分布の他、粒子のアスペクト比や長さ、色など、個々の粒子形態までをも測定可能な画像解析式のものなどが知られている。
As this type of particle size distribution measuring apparatus, for example, a light scattering type that measures particle size distribution based on the intensity of scattered light or diffracted light obtained by irradiating light to particles in a dispersion medium, or CCD The actual particle dispersion mode in the dispersion medium is imaged using a camera, an optical system, etc., and the imaged image is analyzed to analyze individual particle forms such as particle aspect ratio, length, color, etc. in addition to particle size distribution. There are known image analysis types that can measure up to.
しかして、光散乱式のものは、測定時間が比較的短いが、粒子の個々の形態までも測定することは難しく、逆に画像解析式のものは、多数の画像を撮像・解析しなければならないので、測定時間は長いものの、粒子の個々の形態までも測定することができる。
Thus, although the light scattering type has a relatively short measurement time, it is difficult to measure even the individual form of the particle, and conversely, the image analysis type has to capture and analyze a large number of images. Because the measurement time is long, even individual forms of particles can be measured.
そこで、従来、これらを組み合わせて使用することも考えられている（特許文献１）。
Then, conventionally, it is also considered to use combining these (patent document 1).
しかしながら、光散乱式及び画像解析式のいずれのものも、実際に分散浮遊している粒子状態のイメージが湧きにくく直感的な状態把握が難しいという問題がある。
However, in any of the light scattering type and the image analysis type, there is a problem that the image of the particle state which is actually dispersed and floated is hard to see and intuitive state grasp is difficult.
そのため、オペレータになじみにくい、使いにくいといった感覚を抱かせるだけでなく、例えばこの粒子径分布測定装置を用いて、顔料などの粒子関連製品における品質管理を行う場合、オペレータは、直感的にではなく、丹念に測定結果データを解析しなければならなくなり、時間がかかったり、遺漏が生じたりする恐れがある。
Therefore, in addition to giving the operator a sense of being unfamiliar and unfamiliar to the operator, the operator is not intuitive, for example, when performing quality control on particle related products such as pigments using this particle size distribution measuring device. Because it is necessary to analyze the measurement result data carefully, it may take time and omissions may occur.
具体的に説明すると、光散乱式のものにおいては、測定結果がグラフや数値等で表示されるので、習熟しているオペレータといえども直感的な状態把握が難しい。
Specifically, in the light scattering type, since the measurement result is displayed as a graph or a numerical value, even an operator who is skilled in the art can not intuitively grasp the state.
他方、画像解析式のものは、実際に分散浮遊している粒子の撮像画像を得ているので一見すると、直感的な状態把握は容易にできるようにも思われる。しかしながら、実際には、このような撮像画像を見ても、粒子濃度が低いため統計的に１つの画像に粒子が含まれる確率が低くなって粒子を認識しにくくなったり、粒子径のばらつきがあって大きい粒子が視認できるように表示倍率を定めると、小さい粒子が視認できなくなったりするといった場合が多々あり、結局のところ、粒子状態のイメージが湧きにくく直感的な状態把握が難しい。
On the other hand, in the image analysis type, since the captured image of the dispersed and floating particles is actually obtained, it seems that intuitively grasping the state can be easily performed at first glance. However, in reality, even when such a captured image is viewed, the particle concentration is low, and the probability that particles are included in one image statistically becomes low, which makes it difficult to recognize particles, or particle diameter variation. If the display magnification is determined so that large particles can be visually recognized, small particles can not be visually recognized in many cases, and as a result, the image of the particle state is hard to see and intuitive state grasp is difficult.
そして、このような問題は、粒子径分布測定装置のみならず、他の種類の粒子測定装置でも生じ得る。
And such a problem may arise not only in a particle size distribution measuring device but in other types of particle measuring devices.
本発明は、上記問題点を解決すべく、正確な結果が求められるという測定装置業界における常識を覆してなされた画期的なものであって、測定結果から得られる忠実な粒子分散態様の画像を表すのではなく、要求される特徴等が強調されたデフォルメ画像を測定結果から生成することにより、オペレータをして粒子分散状態の直感的イメージを容易に湧起せしめるべく図ったものである。
The present invention is an epoch-making one that goes beyond the common sense in the measuring device industry that accurate results are required in order to solve the above problems, and a faithful particle dispersion image obtained from the measurement results By generating a deformed image from the measurement result in which the required features and the like are emphasized, rather than representing the image, it is intended that the operator can easily generate an intuitive image of the particle dispersion state.
すなわち、本発明に係る粒子画像表示装置は、分散している粒子に関する情報である粒子情報を、１種類又は複数種類の粒子測定装置から取得する粒子情報取得部と、所定のデフォルメルールを格納しているデフォルメルール格納部と、前記粒子情報に前記デフォルメルールを適用して換算し、実際の粒子分散態様、すなわち、前記粒子測定装置から得られた粒子分散態様とは異なったデフォルメされた粒子分散態様を画像化したデフォルメ画像を生成するデフォルメ画像生成部とを備えていることを特徴とする。
That is, the particle image display apparatus according to the present invention stores a particle information acquisition unit that acquires particle information, which is information on dispersed particles, from one or more types of particle measurement apparatuses, and a predetermined deformation rule. And the actual particle dispersion mode, that is, the deformed particle dispersion mode different from the particle dispersion mode obtained from the particle measurement device. And a deformed image generation unit that generates a deformed image in which the aspect is imaged.
なお、ここでいう「分散している粒子」とは、液体、気体などの分散媒中に分散している粒子の他、プレパラートなどに固定されて分散している粒子等も含む意味である。また、「粒子」とは、固体粒子や液体粒子（霧状体など）の他、液中の気体粒子（気泡など）や液中の液体粒子（エマルジョンや水中の油粒子）なども含む意味である。
The term "dispersed particles" as used herein means not only particles dispersed in a dispersion medium such as liquid and gas, but also particles etc. which are fixed and dispersed in a preparation or the like. In addition, "particles" means not only solid particles and liquid particles (such as mists), but also gas particles (such as air bubbles) in the liquid and liquid particles (such as emulsion and oil particles in water) in the liquid. is there.
上述した本発明によれば、測定結果から得られる忠実な粒子分散態様の画像を表すのではなく、例えば要求される特徴等が強調されたデフォルメ画像を測定結果から生成することができるので、粒子分散状態の直感的イメージを容易に湧起できる。
According to the present invention described above, it is possible to generate a deformed image in which, for example, a required feature or the like is emphasized from the measurement result, instead of representing an image of a faithful particle dispersion mode obtained from the measurement result. Intuitive image of distributed state can be easily generated.
また、その結果、なじみやすく使いやすいといった感覚をオペレータに抱かせることができるようになるだけでなく、例えば、顔料などの粒子関連製品における品質管理を行う場合に、このデフォルメ画像から、オペレータは、直感的に分散する粒子状態を把握することができるので、オペレータによる測定結果データのチェック効率の向上や、チェック遺漏の減少等を期待できる。
Moreover, as a result, not only can the operator feel that the user is familiar and easy to use, but also, for example, when performing quality control in particle related products such as pigments, the operator can use the deformed image to Since it is possible to intuitively understand the dispersed particle state, it is possible to expect an improvement in the check efficiency of measurement result data by the operator and a decrease in leaked check.
１００…粒子測定システム
１…第１粒子測定装置（光散乱式粒子径分布測定装置）
２…第２粒子測定装置（画像解析式粒子径分布測定装置、粒子形態測定装置）
３…粒子画像表示装置
３１…粒子情報取得部
３２…設定情報取得部
３３…デフォルメ画像生成部
３４…デフォルメルール格納部
３５…粒子モデル格納部 100 ... particle measuring system 1 ... first particle measuring device (light scattering type particle size distribution measuring device)
2 Second particle measuring device (image analysis type particle size distribution measuring device, particle shape measuring device)
3 ... particleimage display device 31 ... particle information acquisition unit 32 ... setting information acquisition unit 33 ... deformation image generation unit 34 ... deformation rule storage unit 35 ... particle model storage unit
１…第１粒子測定装置（光散乱式粒子径分布測定装置）
２…第２粒子測定装置（画像解析式粒子径分布測定装置、粒子形態測定装置）
３…粒子画像表示装置
３１…粒子情報取得部
３２…設定情報取得部
３３…デフォルメ画像生成部
３４…デフォルメルール格納部
３５…粒子モデル格納部 100 ... particle measuring system 1 ... first particle measuring device (light scattering type particle size distribution measuring device)
2 Second particle measuring device (image analysis type particle size distribution measuring device, particle shape measuring device)
3 ... particle
以下に図面を参照して本発明の一実施形態を説明する。本実施形態に係る粒子測定システム１００は、図１に示すように、分散媒中に分散する粒子に関する情報である粒子情報を測定する複数（ここでは２種類）の粒子測定装置と、前記粒子測定装置に接続された粒子画像表示装置３とを備えたものである。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. The particle measurement system 100 according to the present embodiment, as shown in FIG. 1, includes a plurality of (here, two types of) particle measurement devices that measure particle information that is information about particles dispersed in a dispersion medium, and the particle measurement And a particle image display device 3 connected to the device.
第１粒子測定装置１は、ここではいわゆる静的光散乱式の粒子径分布測定装置である。この第１粒子測定装置１は、分散媒中に分散させた粒子（以下、試料ともいう。）にレーザ光などの測定光を照射して得られる回折光及び又は散乱光の角度ごとの光強度の分布を測定する光センサと、その光センサの信号に基づいて、前記粒子情報の一つである粒子径分布に関する情報（以下、粒子径分布情報ともいう。）を算出し、出力する情報処理機構（これは物理的に一体である必要はない）とを備えたものである。ここでの粒子径分布情報には、体積基準の個数分布情報、個数基準の個数分布情報、密度情報など、いくつかの種類が含まれる。
Here, the first particle measurement device 1 is a so-called static light scattering type particle diameter distribution measurement device. The first particle measuring device 1 is a light intensity for each angle of diffracted light and / or scattered light obtained by irradiating measurement light such as laser light to particles (hereinafter also referred to as sample) dispersed in a dispersion medium. Information processing (hereinafter, also referred to as particle size distribution information) relating to particle size distribution, which is one of the particle information, based on an optical sensor that measures the distribution of the light and a signal of the optical sensor And a mechanism (which need not be physically integral). The particle size distribution information here includes several types such as volume-based number distribution information, number-based number distribution information, density information, and the like.
なお、粒子径分布を測定する第１粒子測定装置１としては、上述した静的光散乱式のもののみならず、動的光散乱式のものでもよい。この動的光散乱式粒子径分布装置によれば、後述する粒子形態情報として、凝集度を示すゼータ電位も得られる。その他、遠心沈降式、カウンター式、ふるいを利用したもの、微分型静電分級器（DMA）などの粒子径分布測定装置でも構わない。
As the first particle measuring device 1 for measuring the particle size distribution, not only the above-mentioned static light scattering type but also the dynamic light scattering type may be used. According to this dynamic light scattering type particle size distribution device, a zeta potential indicating the degree of aggregation can also be obtained as particle shape information to be described later. In addition, particle size distribution measuring devices such as centrifugal sedimentation type, counter type, one using a sieve, differential type electrostatic classifier (DMA) may be used.
第２粒子測定装置２は、ここでは画像解析式の粒子径分布測定装置であり、粒子形態測定装置としての機能を有する。この第２粒子測定装置２は、前記第１粒子測定装置１で測定される試料と同じ試料（厳密には同じ試料のみならず、同じ由来の試料も含む。）を測定するものであり、例えば試料を挟んで対向配置した光源及びＣＣＤなどの撮像センサと、テレセントリックレンズ光学系と、情報処理機構（これは物理的に一体である必要はない）とを具備している。そして、光源から射出され、試料を経た透過光がテレセントリックレンズ系などを介して前記撮像センサに投影されるようにしてあり、前記情報処理機構において、前記撮像センサから個々の粒子の輪郭画像を取得し、それに基づいて、粒子径分布情報の他、その他の粒子情報である粒子形態に関する情報（以下、粒子形態情報ともいう。）を算出し、出力するように構成されている。
Here, the second particle measurement device 2 is an image analysis type particle diameter distribution measurement device, and has a function as a particle shape measurement device. The second particle measurement device 2 measures the same sample as the sample measured by the first particle measurement device 1 (strictly speaking, it includes not only the same sample but also the sample derived from the same). It comprises an imaging sensor such as a light source and a CCD disposed opposite to each other with a sample interposed therebetween, a telecentric lens optical system, and an information processing mechanism (which need not be physically integrated). The transmitted light emitted from the light source and transmitted through the sample is projected onto the imaging sensor via a telecentric lens system or the like, and in the information processing mechanism, contour images of individual particles are acquired from the imaging sensor Based on the information, it is configured to calculate and output information on particle morphology (hereinafter also referred to as particle morphology information) which is particle information other than particle diameter distribution information.
ところで、ここでいう粒子形態とは、粒子の形状、色彩、模様及びそれらの組み合わせのことである。また、粒子形態情報としては、粒子個々の長軸長さ、短軸長さ、アスペクト比、円形度、凹凸度などがある。
By the way, the term "particle form" as used herein refers to the shape, color, pattern and combination of particles. Further, as particle shape information, there are long-axis length, short-axis length, aspect ratio, circularity, unevenness, etc. of individual particles.
なお、粒子形態を測定する第２粒子測定装置２としては、前述のような粒子の透過光を撮像してその輪郭を得るタイプのみならず、粒子からの反射光を撮像してその画像を得るタイプのものでもよい。その場合は、粒子形態情報として、色や表面形状を得ることができる。
As the second particle measuring device 2 for measuring the form of particles, not only the type in which the transmitted light of the particles as described above is imaged to obtain the outline thereof, but also the reflected light from the particles is imaged to obtain the image It may be of the type. In that case, color or surface shape can be obtained as particle shape information.
また、粒子測定装置としてはそれに限られず、ＳＥＭ、ＴＥＭ、光学式顕微鏡、ラマン顕微鏡などを用いてもよい。その場合は、二次電子、反射電子、透過電子、蛍光Ｘ線、カソードルミネッセンス、ラマン光などの測定により、粒子情報として材質、結晶性、元素、組成、分子構造などに関する他の物性情報も得ることができる。
In addition, the particle measuring apparatus is not limited thereto, and an SEM, a TEM, an optical microscope, a Raman microscope, or the like may be used. In that case, measurement of secondary electrons, reflected electrons, transmitted electrons, fluorescent X-rays, cathode luminescence, Raman light, etc. also obtains other physical property information on material, crystallinity, element, composition, molecular structure etc. as particle information. be able to.
粒子画像表示装置３は、ＣＰＵやメモリ、各種ドライバーなどを備えたいわゆるコンピュータであり、前記メモリに格納した所定のプログラムにしたがって、ＣＰＵとその周辺機器が協働することによって、後述する粒子情報取得部３１、設定情報取得部３２、デフォルメ画像生成部３３、デフォルメルール格納部３４、粒子モデル格納部３５等としての機能を発揮するものである。
The particle image display device 3 is a so-called computer provided with a CPU, a memory, various drivers and the like, and particle information acquisition described later by cooperation of the CPU and its peripheral devices according to a predetermined program stored in the memory It exerts functions as the unit 31, the setting information acquisition unit 32, the deformation image generation unit 33, the deformation rule storage unit 34, the particle model storage unit 35, and the like.
次に、前記各部について、当該粒子画像表示装置３の動作の説明を兼ねて詳述する。
Next, each part will be described in detail together with the description of the operation of the particle image display device 3.
まず、粒子情報取得部３１が、前記第１粒子測定装置１及び第２粒子測定装置２から出力される試料の粒子情報、すなわち前記粒子径分布情報及び粒子形態情報をそれぞれ取得する。
First, the particle information acquisition unit 31 acquires particle information of the sample output from the first particle measurement device 1 and the second particle measurement device 2, that is, the particle size distribution information and the particle shape information.
その一方で、設定情報取得部３２が、試料、すなわち分散媒及び粒子に関する設定情報を受け付ける。設定情報とは、前記粒子情報とは異なる周辺情報のことであり、分散媒又は粒子に関する既知情報（例えば、分散媒の流動状態、温度、分散媒の粘性、粒子及び分散媒の比重など）の他、画像表示に関する情報である画像設定情報（例えば、２Ｄ／３Ｄ表示、静止画／動画など）がある。これらはオペレータが入力する場合もあれば、前記粒子測定装置から送信される場合もある。
On the other hand, the setting information acquisition unit 32 receives setting information on the sample, that is, the dispersion medium and the particles. The setting information is peripheral information different from the particle information, and is known information about the dispersion medium or particles (for example, fluid state of dispersion medium, temperature, viscosity of dispersion medium, specific gravity of particles and dispersion medium, etc.) In addition, there are image setting information (for example, 2D / 3D display, still image / moving image, etc.) which is information related to image display. These may be input by the operator or may be transmitted from the particle measurement device.
次に、前記デフォルメ画像生成部３３が、前記粒子情報及び設定情報からそれらの相関を特定するとともに、その相関を加味して前記粒子情報及び設定情報から実際の分散粒子の態様（以下、実粒子分散態様ともいう。）を推定算出する。そして、その実分散粒子態様から、あるいは前記粒子情報及び設定情報から、デフォルメルール格納部３４及び粒子モデル格納部３５を参照して、実際に試料を撮像した実画像とは異なるデフォルメ画像を生成する。
Next, the deformed image generation unit 33 identifies the correlation thereof from the particle information and the setting information, and in consideration of the correlation, an aspect of the actual dispersed particles from the particle information and the setting information (hereinafter, actual particles) Estimated and calculated. Then, from the actual dispersion particle mode, or from the particle information and the setting information, a deformation image different from the actual image obtained by actually imaging the sample is generated with reference to the deformation rule storage unit 34 and the particle model storage unit 35.
具体的に説明する。
This will be described specifically.
前記デフォルメルール格納部３４には、デフォルメ画像を生成する場合に用いられる１以上のデフォルメルールが予め格納されており、これら各デフォルメルールに応じて、所定の表示強調事項が強調される。
The deformation rule storage unit 34 stores in advance one or more deformation rules used when generating a deformation image, and a predetermined display emphasizing item is emphasized according to each of the deformation rules.
この実施形態においては、サイズデフォルメルール、距離デフォルメルール及び動きデフォルメルールが、デフォルメルール格納部３４に設けられている。
In this embodiment, the size deformation rule, the distance deformation rule, and the motion deformation rule are provided in the deformation rule storage unit 34.
サイズデフォルメルールとは、粒子径や粒子長さなどの粒子サイズをデフォルメする際に用いられるルールである。このサイズデフォルメルールによれば、例えば粒子径の異なる２つの粒子が存在した場合、大きな粒子の径の小さな粒子の径に対する比率が大きくなればなるほど、デフォルメ画像で表される大きな粒子の径が実際よりも小さくなる（あるいは、デフォルメ画像で表される小さな粒子の径が実際よりも大きくなる）。具体例としては、対数で圧縮換算するルールを挙げることができる。この場合、例えば２つの粒子の実際の径の比が１０００倍であっても、デフォルメ画像では３倍に換算される。
The size deformation rule is a rule used when deforming a particle size such as particle diameter or particle length. According to the size deformation rule, for example, when two particles having different particle sizes are present, the larger the ratio of the large particle size to the small particle size, the larger the particle size of the large particle represented by the deformed image is actually Smaller than this (or the smaller particles represented in the deformed image will be larger than they actually are). As a specific example, there can be mentioned a rule for compression conversion by logarithm. In this case, for example, even if the ratio of the actual diameters of the two particles is 1000, it is converted to 3 in the deformed image.
距離デフォルメルールとは、粒子径などの粒子サイズと密度との関係で粒子間の距離をデフォルメするためのルールで。この距離デフォルメルールによれば、例えば、密度から算出される粒子間距離が粒子径よりも大きくなればなるほど、デフォルメ画像で表される粒子間距離が小さくなるようにデフォルメされる。具体的には、例えば前記同様、対数で圧縮換算するルールである。この場合、例えば粒子径に対し粒子間距離が１０００倍であっても、デフォルメ画像での粒子間距離は粒子径の３倍に換算される。
Distance A deformation rule is a rule for deforming the distance between particles in relation to particle size and density such as particle diameter. According to this distance deformation rule, for example, as the interparticle distance calculated from the density becomes larger than the particle diameter, the interparticle distance represented by the deformed image is deformed so as to be smaller. Specifically, for example, in the same manner as described above, it is a rule for compression conversion by logarithm. In this case, even if the distance between particles is 1000 times the particle diameter, for example, the distance between particles in the deformed image is converted to three times the particle diameter.
その他、例えば粒子の動き（ブラウン運動、流動移動速度など）などについても、所定の動きデフォルメルールが定められている。
In addition, a predetermined movement deformation rule is also defined, for example, for the movement of particles (Brownian movement, flow movement speed, etc.).
なお、オペレータがこのデフォルメルール格納部３４にアクセスして、前記デフォルメルールの変更、追加、削除をすることもできるようにしてある。
The operator can also access the deformation rule storage unit 34 to change, add, or delete the deformation rule.
粒子モデル格納部３５には、デフォルメ画像で用いられる、予め定められた複数種類（この例では、図２に示すように、球、棒、円盤、泡の４種類）の粒子モデルが格納されている。
The particle model storage unit 35 stores particle models of a plurality of predetermined types (in this example, four types of spheres, rods, disks, and bubbles as shown in FIG. 2) used in the deformed image. There is.
なお、オペレータがこの粒子モデル格納部３５にアクセスし、粒子モデルの変更、追加、削除をすることもできるようにしてある。
An operator can access the particle model storage unit 35 to change, add, or delete particle models.
次に、前記デフォルメ画像生成部３３によるデフォルメ画像の生成ステップについて、その一例を説明する。なお、下記各ステップの順序変更やステップの省略、追加等をしても構わない。
Next, an example of the generation step of the deformed image by the deformed image generation unit 33 will be described. The order of the following steps may be changed, or steps may be omitted or added.
まず、デフォルメ画像生成部３３は、デフォルメ画像で表示されるモデル粒子の種類を設定し（図３ステップＳ１）、粒子モデル格納部３５に格納されているモデル粒子の形態を変形する（図３ステップＳ２）。
First, the deformed image generation unit 33 sets the type of model particle displayed as a deformed image (step S1 in FIG. 3), and deforms the form of the model particle stored in the particle model storage unit 35 (step 3 in FIG. 3). S2).
そのために、デフォルメ画像生成部３３は、前記設定情報と、第２粒子測定装置２（画像解析式粒子径分布測定装置）からの粒子情報（粒子形態）とを取得して参照する。
Therefore, the deformed image generation unit 33 acquires and refers to the setting information and particle information (particle form) from the second particle measurement device 2 (image analysis type particle diameter distribution measurement device).
具体的に説明すると、例えば、第２粒子測定装置２からの粒子形態情報としてアスペクト比が取得された場合、デフォルメ画像生成部３３は、そのアスペクト比に応じて粒子モデルを決定する。例えばアスペクト比が１に近ければ、粒子モデルを球と設定し、アスペクト比が１から所定以上離れた値であれば、粒子モデルを棒と設定する。
Specifically, for example, when an aspect ratio is acquired as particle shape information from the second particle measurement device 2, the deformed image generation unit 33 determines a particle model according to the aspect ratio. For example, if the aspect ratio is close to 1, the particle model is set as a sphere, and if the aspect ratio is a value separated by 1 or more from 1, the particle model is set as a rod.
他方、例えば試料設定情報において、粒子形状が板形状などの設定があれば、デフォルメ画像生成部３３は、粒子モデルとして円盤を設定する。
On the other hand, for example, if the particle shape is set to a plate shape or the like in the sample setting information, the deformed image generation unit 33 sets a disk as a particle model.
次に、デフォルメ画像生成部３３は、前述のように設定した粒子モデルの形状を、第２粒子測定装置２からの粒子形態情報に応じて変形する。例えば、粒子モデルに棒が設定されており、アスペクト比が１０であれば、表示モデル格納部にあるデフォルトの棒形状から、アスペクト比が１０の棒形状に変形する。円盤であれば、アスペクト比に応じて、厚みと直径との比を変更する。
Next, the deformed image generation unit 33 deforms the shape of the particle model set as described above according to the particle shape information from the second particle measurement device 2. For example, if a rod is set in the particle model and the aspect ratio is 10, the default rod shape in the display model storage unit is deformed to a rod shape with an aspect ratio of 10. If it is a disk, the ratio of thickness to diameter is changed according to the aspect ratio.
次に、デフォルメ画像生成部３３は、デフォルメ画像で表示される粒子の大きさを決定する（図３ステップＳ３）。
Next, the deformed image generation unit 33 determines the size of the particle displayed in the deformed image (step S3 in FIG. 3).
具体的には、第１粒子測定装置１から得られる粒子径分布情報に基づいて、粒子の実際の大きさを算出し、そのうえで、デフォルメルール格納部３４に格納されている径デフォルメルールにしたがって、デフォルメ画像で表示される粒子の大きさを決定する。
Specifically, the actual size of the particle is calculated based on the particle size distribution information obtained from the first particle measurement device 1, and then, according to the diameter deformation rule stored in the deformation rule storage unit 34, Determine the size of the particle displayed in the deformed image.
例えば、前述したように、第１粒子測定装置１から得られる粒子径分布に２つの山があって、分布グラフ形状から代表径の異なる２種類の粒子があるとデフォルメ画像生成部３３が判断し、その代表径に１０００倍の違いがあれば、該デフォルメ画像生成部３３は、これを対数で換算して、デフォルメ画像に表示される粒子の大きさの違いがいずれかの粒子径を基準として３倍となるように設定する。
For example, as described above, the deformation image generation unit 33 determines that there are two peaks in the particle size distribution obtained from the first particle measurement device 1 and two types of particles having different representative diameters from the distribution graph shape. If there is a difference of 1000 times in the representative diameter, the deformed image generation unit 33 converts this in logarithm and the difference in the size of the particles displayed in the deformed image is based on any particle diameter Set to triple.
さらに、デフォルメ画像生成部３３は、デフォルメ画像で表示される粒子間距離を決定する（図３ステップＳ４）。
Furthermore, the deformed image generation unit 33 determines the inter-particle distance displayed in the deformed image (step S4 in FIG. 3).
具体的には、第１粒子測定装置１から得られる頻度や密度に基づいて実際の粒子間距離を算出するとともに、これを粒子径と比較し、デフォルメルール格納部３４に格納されている距離デフォルメルールにしたがって、デフォルメ画像で表示される粒子間距離を決定する。
Specifically, the actual inter-particle distance is calculated based on the frequency and density obtained from the first particle measurement device 1, and this is compared with the particle diameter, and the distance deformation stored in the deformation rule storage unit 34 According to the rules, determine the inter-particle distance displayed in the deformed image.
なお、頻度や密度であるが、この実施形態では、前記デフォルメ画像生成部３３は、例えば、粒子形態情報や設定情報などから、アスペクト比が１に近く、粒子形態が球形に近いと推定される場合には、粒子径分布として、粒子径分布情報どおりの頻度で分散媒中に粒子が分散していると推定算出し、各径の粒子の密度をその頻度から算出する。また、例えば、粒子形態情報から粒子が長手方向を有するような形態であると推定される場合には、粒子径分布情報において、その粒子の長手方向長さと短手方向長さとに２つの山ができるため、粒子径分布情報を換算し、その換算した粒子径分布に基づいて、実際の粒子分布の頻度を算出し、それに基づいて各径の粒子の密度を算出する。
In this embodiment, the deformation image generation unit 33 estimates that the aspect ratio is close to 1 and the particle form is close to a sphere in this embodiment, for example, from the particle form information and the setting information. In this case, as the particle size distribution, it is estimated that the particles are dispersed in the dispersion medium with the frequency as the particle size distribution information, and the density of the particles of each diameter is calculated from the frequency. Also, for example, when it is estimated from the particle shape information that the particle has a longitudinal direction, in the particle diameter distribution information, two peaks are present in the longitudinal length and the latitudinal length of the particle. Since it is possible, the particle diameter distribution information is converted, the frequency of the actual particle distribution is calculated based on the converted particle diameter distribution, and the density of particles of each diameter is calculated based thereon.
ここでは、例えば、粒子径に対し粒子間距離が１０００倍であった場合、対数で換算されて粒子間距離が粒子径の３倍となるように設定される。
Here, for example, when the interparticle distance is 1000 times the particle diameter, the interparticle distance is set so as to be three times the particle diameter by logarithmic conversion.
加えて、デフォルメ画像生成部３３は、設定情報を参照して、デフォルメ画像で表示される粒子の動きを決定する（図３ステップＳ５）。例えば、試料設定情報から、分散媒の流動状態が、静止状態、対流状態、撹拌状態、流通状態などを得ると、その分散媒の流動状態に応じた動きを粒子が行うように設定する。このとき、視覚上、粒子の動く速度が速すぎたり、遅すぎたりする場合は、前記デフォルメルール格納部３４に格納されている動きデフォルメルールにしたがって、粒子の仮想画像上での動く速度を実際の速度から変更する。その他、例えば比重の違いによる各粒子の沈降あるいは上昇動作、ブラウン運動なども、前記動きデフォルメルールにしたがって設定する。
In addition, the deformed image generation unit 33 refers to the setting information to determine the movement of particles displayed in the deformed image (step S5 in FIG. 3). For example, when the flow state of the dispersion medium is obtained from the sample setting information as the stationary state, the convection state, the stirring state, the circulation state, etc., the particles are set to perform the movement according to the flow state of the dispersion medium. At this time, if the movement speed of the particle is too fast or too slow, the movement speed of the particle on the virtual image is actually determined according to the movement deformation rule stored in the deformation rule storage unit 34. Change from the speed of In addition, for example, settling or rising motion of each particle due to difference in specific gravity, Brownian motion, etc. are also set in accordance with the motion deformation rule.
このようにして、デフォルメ画像生成部３３によって生成されたデフォルメ画像は、図１に示すように、画像データとしてディスプレイ４に送信され、表示される（図３ステップＳ６）。
Thus, as shown in FIG. 1, the deformed image generated by the deformed image generation unit 33 is transmitted as image data to the display 4 and displayed (step S6 in FIG. 3).
さらにこの実施形態では、ディスプレイ４での表示態様として、例えばオペレータが設定した画像設定情報によって、２Ｄ／３Ｄ、静止画／動画等に切り替えることができるようにしてある。
Furthermore, in this embodiment, the display mode on the display 4 can be switched to 2D / 3D, still image / moving image or the like according to, for example, image setting information set by the operator.
また、この実施形態では、前記デフォルメ画像に加えて、粒子情報をもディスプレイ４に送信し、それら粒子情報が示す粒子径分布情報やアスペクト比などの測定データを数値乃至グラフで、前記デフォルメ画像と同時または切り替えてディスプレイ４に表示できるようにもしてある。これはデフォルメ画像を見ながらも、正しい測定データを同時に確認できるようにするためである。
Further, in this embodiment, in addition to the deformed image, particle information is also transmitted to the display 4 and measurement data such as particle diameter distribution information and aspect ratio indicated by the particle information are displayed as numerical values or graphs in the deformed image At the same time or switching, it can be displayed on the display 4. This is to make it possible to simultaneously confirm correct measurement data while looking at the deformed image.
しかして、上述した本実施形態によれば、測定結果から得られる忠実な粒子分散態様の画像を表すのではなく、例えば要求される特徴等が強調されたデフォルメ画像を測定結果から生成することができるので、粒子分散状態の直感的イメージを容易に湧起できる。
Thus, according to the present embodiment described above, it is possible not to represent an image of a faithful particle dispersion mode obtained from the measurement result, but to generate, for example, a deformed image in which a required feature or the like is emphasized. Since it can be done, intuitive images of particle dispersion can be easily generated.
また、その結果、なじみやすく使いやすいといった感覚をオペレータに抱かせることができるようになる。
Also, as a result, it is possible to give the operator a sense of familiarity and ease of use.
なお、本発明は前記実施形態に限られるものではない。
The present invention is not limited to the above embodiment.
例えば、異常な粒子や異常ではないが存在を確認したい粒子といった特定粒子を粒子情報から検出した場合は、その数が微小であっても、存在確率や表示優先順位を上げるなどして、必ずデフォルメ画像上に存在させるようにしたり、あるいは、色や形を異ならせるなどしたりして強調して表示するようにしてもよい。
For example, when a specific particle such as an abnormal particle or a particle which is not abnormal but whose presence is to be confirmed is detected from particle information, the deformation is always caused by raising the existence probability or display priority even if the number is small. It may be displayed on an image, or may be highlighted by making the color or the shape different.
その一例を挙げる。
デフォルメ画像生成部において、例えば、粒子情報の値が、例えば、予め定めた範囲を外れた粒子や、予め定めた範囲内の粒子を抽出したり、測定対象となっている試料において、粒子情報の値が、統計的に所定範囲から外れているものや所定範囲に入っているものなどを抽出したりして、特定粒子を抽出する。 An example is given.
In the deformed image generation unit, for example, particles whose value of particle information is out of a predetermined range or particles in a predetermined range are extracted, or in a sample to be measured, particle information Specific particles are extracted by, for example, extracting values whose values are out of a predetermined range statistically or in a predetermined range.
デフォルメ画像生成部において、例えば、粒子情報の値が、例えば、予め定めた範囲を外れた粒子や、予め定めた範囲内の粒子を抽出したり、測定対象となっている試料において、粒子情報の値が、統計的に所定範囲から外れているものや所定範囲に入っているものなどを抽出したりして、特定粒子を抽出する。 An example is given.
In the deformed image generation unit, for example, particles whose value of particle information is out of a predetermined range or particles in a predetermined range are extracted, or in a sample to be measured, particle information Specific particles are extracted by, for example, extracting values whose values are out of a predetermined range statistically or in a predetermined range.
より具体的には、例えば、粒子形態情報において、極端に細長い粒子や大きい粒子などのように、円形度、凹凸度、アスペクト比などがあらかじめ設定された範囲外である、あるいは、粒子径分布情報において粒子径が他の粒子径に比べてある統計量から外れた値のものなどを特定粒子として抽出する。
More specifically, for example, in the particle shape information, the degree of circularity, the degree of unevenness, the aspect ratio, etc. are out of the preset ranges, such as extremely long particles or large particles, or the particle size distribution information The particle size is extracted as a specific particle, for example, the value of which deviates from a certain statistic compared to other particle sizes.
なお、前述では１種類の粒子情報に基づいて特定粒子を抽出したが、その他に、複数種の粒子情報から所定の関係式、テーブルなどで算出される多変量値が規定外のものや、統計から外れた値のものなどを特定粒子として抽出してもよい。また、パターンマッチング等の画像認識によって特定粒子を抽出してもよい。
In the above, specific particles are extracted based on one type of particle information, but in addition, multivariate values calculated from a plurality of types of particle information in predetermined relational expressions, tables, etc. are out of specification, or statistics You may extract as a specific particle the thing of the value etc. which deviated from. Alternatively, specific particles may be extracted by image recognition such as pattern matching.
そして、このように抽出された特定粒子を、前記デフォルメ画像に加えて表示するわけであるが、その際、この例では、図４に示すように、他の粒子とは形状や色が異なる特定粒子モデルを格納しておき、その特定粒子モデルを図５に示すように、デフォルメ画像に加えて表示する。
Then, the specific particles extracted in this way are added to the deformed image and displayed, but in this case, in this example, as shown in FIG. The particle model is stored, and the specific particle model is displayed in addition to the deformed image as shown in FIG.
このようにすれば、オペレータは、このデフォルメ画像を一見するだけで、異常を認識できたり、所定粒子の存在や頻度等を把握できたりするので、品質管理等における測定結果データのチェック効率の向上やチェック遺漏の減少等に大きく資することができるようになる。
In this way, the operator can recognize an abnormality or grasp the presence or frequency of a predetermined particle or the like simply by looking at this deformed image, thereby improving the check efficiency of measurement result data in quality control and the like. It will be able to contribute significantly to the reduction of checks and omissions.
また、設定情報として、凝集の有無を設けるようにしても構わない。この場合、例えば粒径分布情報から大きな径の粒子が把握された場合、設定情報に凝集ありとあれば、デフォルメ画像生成部３３は、大径の粒子ではなく、複数の粒子が凝集したデフォルメ画像を生成するようにすればよい。また、動的光散乱式龍径分布装置など、粒子情報として分散粒子の凝集度を測定できる粒子測定装置を用いた場合は、その凝集度に基づいてデフォルメ画像を生成してもよい。
Further, as setting information, the presence or absence of aggregation may be provided. In this case, for example, when particles having a large diameter are grasped from particle size distribution information, if aggregation is present in the setting information, the deformed image generation unit 33 is not a large diameter particle but a deformed image in which a plurality of particles are aggregated. Should be generated. When a particle measuring device capable of measuring the degree of aggregation of dispersed particles as particle information such as a dynamic light scattering type dragon diameter distribution device is used, a deformed image may be generated based on the degree of aggregation.
さらに、前記実施形態では、デフォルメ画像に形状モデルを用いたが、形状モデルとして実画像を用いてよいし、あるいは、画像解析式粒子径分布測定装置から得られる粒子の形態を利用してデフォルメ画像を生成しても構わない。
Furthermore, although a shape model is used for the deformed image in the above embodiment, an actual image may be used as the shape model, or a deformed image may be obtained using the form of particles obtained from an image analysis type particle size distribution measuring apparatus. You may generate
各時刻で測定された粒子情報に基づいてそれぞれ生成された各デフォルメ画像を、ディスプレイ４上で測定時刻順に切り替えて表示したり、同一画面に並べて表示したりしても構わない。このようにすれば、粒子の動きやその形態の変化などを、より直感的に把握できるようになる。
The deformed images respectively generated based on the particle information measured at each time may be switched and displayed on the display 4 in the order of measurement time, or may be displayed side by side on the same screen. In this way, it is possible to more intuitively grasp the movement of the particle and the change in its form.
その際、デフォルメルールとして、時間デフォルメルールを加えてもよい。例えば、実際の１ｕｓを１ｓ間隔で拡張表示したり、実際の１０ｓを１ｓ間隔で短縮表示したりするルールである。
At that time, time deformation rules may be added as deformation rules. For example, it is a rule to expand and display an actual 1 us at an interval of 1 s, or to shorten an actual 10 s to an interval of 1 s.
その他、デフォルメルールとして、経時変化デフォルメルールなども考えられる。経時変化デフォルメルールとは、時間経過によって、どのように粒子の形態や数が変化するかを定めたルールである。粒子の形態や数の変化とは、例えば、時間経過に伴う凝集粒子の分散、単一粒子の破壊、気泡の減少、増加、縮小、拡大などである。
Besides, as a deformation rule, a temporal change deformation rule may be considered. Temporal change The deformation rule is a rule that defines how the form and number of particles change with the passage of time. The change in the form or number of particles is, for example, the dispersion of aggregated particles over time, the destruction of single particles, the decrease, the increase, the decrease, the increase, or the like of bubbles.
この経時変化デフォルメルールとしては、異なる２つの時刻（第１時刻及び第２時刻）それぞれでの粒子の形態等が与えられた場合に、その間の形態変化を定めるルールであってもよいし、ある時刻のみでの粒子の形態等が与えられた場合に、その前又は後での粒子の経時変化を、その他の粒子情報や設定情報を参照して定めるようにしたルールであってもよい。
The temporal change deformation rule may be a rule that defines a change in form between particles given the form of particles at each of two different times (first and second times). When the form of the particle only at time is given, the rule may be such that the temporal change of the particle before or after that is determined with reference to other particle information and setting information.
前者の経時変化デフォルメルールは、例えば、粒子測定装置において異なる時刻で粒子を測定し、それら各時刻で取得された粒子情報からそれぞれデフォルメ画像を生成した場合に、その間を補足するように動画形式のデフォルメ画像を生成できる。例えば、第１時刻で取得した粒子と、第２時刻に取得した粒子とが対応するものであって、その形態等が変化していた場合には、前記経時変化デフォルメルールを適用してその間に粒子が徐々に変化する態様を、動画のデフォルメ画像で連続的に滑らかに表示することができる。また、第１の時刻と第２の時刻との間での、測定がされていないある時刻でのデフォルメ画像（静止画）を生成することもできる。
The former time-varying deformation rule, for example, measures particles at different times in a particle measurement device, and generates a deformation image from the particle information acquired at each of these times, to supplement the interval, so as to supplement the interval It can generate deformed images. For example, when the particles acquired at the first time correspond to the particles acquired at the second time, and the form or the like has changed, the time-lapse deformation rule is applied and the interval between them is applied. An aspect in which particles gradually change can be displayed continuously and smoothly in a deformed image of a moving image. It is also possible to generate a deformed image (still image) at a certain time when measurement is not performed between the first time and the second time.
また、後者の経時変化デフォルメルールは、１回の測定で済むうえ、異なる時刻での粒子の対応をとらなくてよいので、簡便にデフォルメ画像を生成できる。
Further, the latter time-lapse deformation rule is only required to be measured once, and it is not necessary to take correspondence of particles at different times, so a deformed image can be generated easily.
粒子測定装置は単一でも構わない。粒子測定装置が、光散乱式のもの単一であれば、オペレータが粒子形状を指定するようにすればよい。例えば、粒子径分布情報から代表径が２つあると判断された場合、オペレータが粒子形状を球形状と指定すれば、２つの径の球状の粒子が、大きさや距離、動き等がデフォルメされたデフォルメ画像として表示される。一方、オペレータが、粒子形状を異形状（例えば棒状や円盤状）と指定すれば、２つの代表径の比と同じアスペクト比を有する１種類のみの粒子が、大きさや距離、動き等がデフォルメされたデフォルメ画像として表示される。
The particle measuring device may be single. If the particle measuring apparatus is a single light scattering type, the operator may specify the particle shape. For example, when it is determined from the particle size distribution information that there are two representative diameters, if the operator designates the particle shape to be spherical, spherical particles of two diameters are deformed in size, distance, movement, etc. Displayed as a deformed image. On the other hand, if the operator designates the particle shape to be anomalous (for example, rod-like or disc-like), only one type of particle having the same aspect ratio as the ratio of the two representative diameters is deformed in size, distance, movement, etc. Is displayed as a deformed image.
また、デフォルメ画像に表示される各粒子に、粒子測定装置で測定された粒子情報を紐づけておいてもよい。このようにすれば、例えば、デフォルメ画像中でいずれかの粒子をクリックなどして選択することにより、その粒子の測定データを表示することができる。より具体的には、デフォルメ画像中でいずれかの粒子をクリックすると、ディスプレイ４上に、前記第２粒子測定装置２によって得られた、当該粒子を含む実際の撮像画像を表示するようにしたり、あるいは、前記第１粒子測定装置によって得られた粒子径分布グラフ上に、当該粒子の位置を示すようにしたり、あるいは、実際の粒子径、アスペクト比、色などの形態や、材質、屈折率など物性を数値やテキストで表示するようにしても構わない。
In addition, particle information measured by the particle measuring device may be linked to each particle displayed in the deformed image. In this way, for example, measurement data of the particles can be displayed by selecting any particle in the deformed image by clicking or the like. More specifically, when any particle is clicked in the deformed image, an actual captured image including the particle obtained by the second particle measuring device 2 is displayed on the display 4, or Alternatively, the position of the particles may be indicated on the particle diameter distribution graph obtained by the first particle measuring device, or the actual particle diameter, aspect ratio, color or other form, material, refractive index, etc. Physical properties may be displayed as numerical values or text.
このようにすれば、オペレータは大量の実データから選択された特徴のある実データのみを容易に参照できるようになり、チェック効率の向上やチェック遺漏の減少につながる。
In this way, the operator can easily refer to only the actual data having a feature selected from a large amount of actual data, leading to an improvement in check efficiency and a reduction in check omissions.
さらに、測定されるべき粒子は、分散媒中に分散している粒子のみならず、分散媒が蒸発してプレパラートなどに固定されている分散状態の粒子でも構わない。
Furthermore, the particles to be measured may be not only particles dispersed in the dispersion medium, but also particles in a dispersed state in which the dispersion medium is evaporated and fixed to a preparation or the like.
その他、本発明は前記実施形態に限られることなく、その趣旨を逸脱しない範囲で種々変形が可能であるのはいうまでもない。
In addition, it goes without saying that the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention.
本発明によれば、測定結果から得られる忠実な粒子分散態様の画像を表すのではなく、例えば要求される特徴等が強調されたデフォルメ画像を測定結果から生成して、粒子分散状態の直感的イメージを容易に湧起できる粒子画像表示装置を提供できる。
According to the present invention, instead of representing an image of a faithful particle dispersion mode obtained from measurement results, for example, a deformed image in which a required feature or the like is emphasized is generated from the measurement results, and the particle dispersion state is intuitive It is possible to provide a particle image display device capable of easily causing an image.
According to the present invention, instead of representing an image of a faithful particle dispersion mode obtained from measurement results, for example, a deformed image in which a required feature or the like is emphasized is generated from the measurement results, and the particle dispersion state is intuitive It is possible to provide a particle image display device capable of easily causing an image.
Claims (9)
- 分散している粒子に関する情報である粒子情報を測定する１又は複数種類の粒子測定装置から、前記粒子情報を取得する粒子情報取得部と、
所定のデフォルメルールを格納しているデフォルメルール格納部と、
前記粒子情報に前記デフォルメルールを適用して換算し、デフォルメされた粒子分散態様を示すデフォルメ画像を生成するデフォルメ画像生成部とを備えていることを特徴とする粒子画像表示装置。 A particle information acquisition unit that acquires the particle information from one or more types of particle measurement devices that measure particle information that is information related to dispersed particles;
A deformation rule storage unit storing predetermined deformation rules;
A particle image display apparatus comprising: a deformed image generation unit configured to convert the particle information by applying the deformation rule and generate a deformed image indicating a deformed particle dispersion mode. - モデル化した複数種類の粒子形態を示す粒子モデル格納している粒子モデル格納部をさらに備え、
前記デフォルメ画像生成部が、前記粒子情報に基づいて１又は複数種類の前記粒子モデルを前記粒子モデル格納部から抽出し、抽出された前記粒子モデルを用いた前記デフォルメ画像を生成するものである請求項１記載の粒子画像表示装置。 A particle model storage unit storing a particle model storing a plurality of types of particle morphology modeled;
The deformed image generation unit extracts one or more types of particle models from the particle model storage unit based on the particle information, and generates the deformed image using the extracted particle model. The particle image display device according to Item 1. - 前記デフォルメルールが、所定の表示強調事項を定めたものであり、
前記デフォルメ画像生成部は、前記表示強調事項が強調されたデフォルメ画像を生成するものである請求項１記載の粒子画像表示装置。 The deformation rule defines predetermined display emphasis matters,
The particle image display device according to claim 1, wherein the deformed image generation unit generates a deformed image in which the display emphasis item is emphasized. - 前記デフォルメ画像生成部が、前記粒子情報とは異なる周辺情報である設定情報を受け付け、該設定情報をも加味して前記デフォルメ画像を生成するものである請求項１記載の粒子画像表示装置。 The particle image display device according to claim 1, wherein the deformed image generation unit receives setting information which is peripheral information different from the particle information, and generates the deformed image also in consideration of the setting information.
- 前記デフォルメ画像生成部が、前記粒子測定装置の測定データと前記デフォルメ画像とを同一画面に同時表示するための画像信号を出力するものである請求項１記載の粒子画像表示装置。 The particle image display device according to claim 1, wherein the deformation image generation unit outputs an image signal for simultaneously displaying the measurement data of the particle measurement device and the deformation image on the same screen.
- 前記粒子に光を照射して得られる散乱光又は回折光の強度に基づいて、粒子情報の１つである粒子径分布を測定する粒子径分布測定装置と、前記粒子を撮像し、粒子情報の１つである個々の粒子形態を測定する粒子形態測定装置とが、前記粒子測定装置として設けてあり、
前記粒子情報取得部が、前記粒子径分布に関する情報である粒子径分布情報及び粒子形態に関する情報である粒子形態情報を取得するものである請求項１記載の粒子画像表示装置。 A particle size distribution measuring device for measuring a particle size distribution, which is one of particle information, based on the intensity of scattered light or diffracted light obtained by irradiating the particles with light; A particle shape measuring device for measuring one particle shape of each particle is provided as the particle measuring device;
The particle image display device according to claim 1, wherein the particle information acquisition unit acquires particle size distribution information which is information related to the particle size distribution and particle form information which is information related to the particle form. - 分散している粒子を測定する１又は複数種類の粒子測定装置と、
前記粒子測定装置に接続された粒子画像表示装置とを備え、
前記粒子画像表示装置が、
前記粒子に関する情報である粒子情報を前記粒子測定装置から取得する粒子情報取得部と、
所定のデフォルメルールを格納しているデフォルメルール格納部と、
前記粒子情報に前記デフォルメルールを適用して換算し、デフォルメされた粒子分散態様を示すデフォルメ画像を生成するデフォルメ画像生成部とを備えたものであることを特徴とする粒子測定システム。 One or more types of particle measuring devices for measuring dispersed particles;
A particle image display device connected to the particle measurement device;
The particle image display device is
A particle information acquisition unit that acquires particle information, which is information on the particles, from the particle measurement device;
A deformation rule storage unit storing predetermined deformation rules;
A particle measurement system comprising: a deformed image generation unit that converts the particle information by applying the deformation rule and generates a deformed image indicating a deformed particle dispersion mode. - 分散している粒子に関する情報である粒子情報を測定する、１又は複数種類の粒子測定装置から前記粒子情報を取得する粒子情報取得部と、
所定のデフォルメルールを格納しているデフォルメルール格納部と、
前記粒子情報に前記デフォルメルールを適用して換算し、デフォルメされた粒子分散態様を示すデフォルメ画像を生成するデフォルメ画像生成部としての機能をコンピュータに発揮させることを特徴とする粒子画像表示プログラム。 A particle information acquisition unit that acquires particle information from one or more types of particle measurement devices that measures particle information that is information related to dispersed particles;
A deformation rule storage unit storing predetermined deformation rules;
A particle image display program comprising: causing a computer to exhibit a function as a deformed image generation unit that converts the particle information by applying the deformation rule and generates a deformed image indicating a deformed particle dispersion mode. - 分散している粒子を測定し、測定された粒子に関する情報である粒子情報を出力する１又は複数種類の粒子測定装置から前記粒子情報を取得し、
前記粒子情報に、所定のデフォルメルールを適用して換算し、デフォルメされた粒子分散態様を示すデフォルメ画像を生成することを特徴とする粒子画像表示方法。 Measuring the dispersed particles, and acquiring the particle information from one or more types of particle measurement devices that output particle information that is information about the measured particles;
A particle image display method characterized by applying a predetermined deformation rule to the particle information and converting it to generate a deformed image showing a deformed particle dispersion mode.
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Legal Events
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| 121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 18894216 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
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| NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: DE |
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| 122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
Ref document number: 18894216 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
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| NENP | Non-entry into the national phase |
Ref country code: JP |