WO2017169048A1 - 放射線検出器の製造方法 - Google Patents

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WO2017169048A1
WO2017169048A1 PCT/JP2017/002748 JP2017002748W WO2017169048A1 WO 2017169048 A1 WO2017169048 A1 WO 2017169048A1 JP 2017002748 W JP2017002748 W JP 2017002748W WO 2017169048 A1 WO2017169048 A1 WO 2017169048A1
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resin frame
frame
resin
scintillator layer
frame member
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秀典 上西
楠山　泰
弘武 大澤
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浜松ホトニクス株式会社
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    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation

Definitions

  • One aspect of the present invention relates to a method for manufacturing a radiation detector.
  • Patent Document 1 describes a detector array used in an X-ray imaging system.
  • This detector array has a detector element provided on a glass substrate, a scintillator made of a columnar crystal formed on the detector element, and a sheet that reflects visible light arranged on the scintillator. Yes.
  • the scintillator and the sheet are sealed by a cover fixed to the glass substrate.
  • the cover and the glass substrate are sealed by a metal frame that is bonded using an epoxy sealant. The metal frame surrounds the scintillator away from the scintillator.
  • a scintillator layer made of columnar crystals formed of CsI or the like has deliquescence. For this reason, in a radiation detector having a configuration in which the scintillator layer is surrounded by a frame, it is desirable to maintain high moisture resistance in the region inside the frame.
  • An object of one aspect of the present invention is to provide a method of manufacturing a radiation detector that can improve the moisture resistance of a scintillator layer.
  • a manufacturing method of a radiation detector includes a first step of forming a scintillator layer including a plurality of columnar crystals on a main surface of a sensor panel including a plurality of photoelectric conversion elements by a vapor deposition method, and a scintillator layer.
  • a resin frame is formed on the main surface so as to surround the second step of arranging a frame member made of an inorganic solid material so as to contact the resin frame along the outer periphery of the resin frame, and a protective plate is bonded to the resin frame
  • a third step of sealing the scintillator layer and a fourth step of curing the resin frame are included.
  • a resin frame is arranged on the inner side so as to surround the scintillator layer, and a frame member made of an inorganic solid material is arranged on the outer side of the resin frame. Since the inorganic solid material has moisture resistance, moisture permeation through the frame member does not occur. Therefore, moisture permeability through the resin frame can be suppressed when the frame member made of an inorganic solid material contacts the outer periphery of the resin frame. Therefore, the moisture resistance of the scintillator layer can be improved.
  • the resin frame includes a first resin frame and a second resin frame.
  • the first resin frame is formed so as to surround the scintillator layer, and is formed on the outer periphery of the first resin frame.
  • a frame member may be disposed so as to be in contact with the first resin frame, and the second resin frame may be formed on the first resin frame so as to surround the scintillator layer.
  • the resin frame needs to be formed higher than the frame member. By forming the second resin frame after the frame member is arranged, it is easy to confirm that the height of the second resin frame is higher than that of the frame member.
  • the first resin frame in the second step, may be cured after the frame member is disposed and before the second resin frame is formed. According to this configuration, the position of the frame member is suppressed from shifting when the second resin frame is formed.
  • the resin frame may be formed in contact with the intermediate layer in the second step.
  • region in a resin frame can be enlarged.
  • the effective area is an area where a scintillator layer is formed on the main surface.
  • the resin frame may include an ultraviolet curable resin. Since UV curing resin takes a short time to cure, the manufacturing time can be shortened.
  • the frame member may be a glass rod.
  • the frame member can be easily arranged outside the resin frame.
  • the method for manufacturing a radiation detector it is possible to improve moisture resistance in a region where the scintillator layer is formed.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view of a radiation detector according to an embodiment.
  • FIG. 2 is a plan view of the radiation detector shown in FIG.
  • FIG. 3 is a diagram showing a manufacturing process of the radiation detector shown in FIG.
  • FIG. 4 is a diagram showing a manufacturing process of the radiation detector shown in FIG.
  • FIG. 5 is a schematic diagram for explaining a radiation detector according to a modification.
  • FIG. 6 is a schematic diagram for explaining a radiation detector according to a modification.
  • FIG. 7 is a schematic diagram for explaining a radiation detector according to a modification.
  • FIG. 8 is a schematic diagram for explaining a radiation detector according to a modification.
  • FIG. 9 is a schematic diagram for explaining a radiation detector according to a modification. It is sectional drawing which shows the radiation detector which concerns on a comparative example.
  • the radiation detector described below detects radiation by converting radiation such as X-rays into scintillation light such as visible light.
  • a radiation detector can be used as a device for radiation imaging in, for example, a mammography apparatus, a chest examination apparatus, a CT apparatus, a dental intraoral imaging apparatus, and a radiation camera.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view of a radiation detector according to the present embodiment.
  • FIG. 2 is a plan view of the radiation detector shown in FIG. In FIG. 2, the protective plate is omitted.
  • the radiation detector 1 ⁇ / b> A includes a sensor panel 2, a scintillator layer 3, an intermediate layer 5, a resin frame 6, a frame member 7, and a protection plate 8.
  • the sensor panel 2 has, for example, a rectangular plate shape, and includes a main surface 2s and a plurality of photoelectric conversion elements 10 formed on the main surface 2s. More specifically, the sensor panel 2 has a plate-like base 2p including a main surface 2s.
  • the photoelectric conversion elements 10 are two-dimensionally arranged along the main surface 2s. On the main surface 2s and the photoelectric conversion element 10, a film portion 11 such as a passivation film or a planarization film is formed.
  • the scintillator layer 3 generates scintillation light such as visible light in response to the incidence of radiation such as X-rays.
  • the scintillator layer 3 is provided on the main surface 2 s and the photoelectric conversion element 10 via the film part 11.
  • the scintillator layer 3 is optically coupled to the photoelectric conversion element 10. Therefore, the photoelectric conversion element 10 receives the scintillation light generated in the scintillator layer 3 and outputs an electrical signal corresponding to the scintillation light.
  • the electric signal is extracted to the outside through a wiring (not shown). Thereby, the radiation detector 1 detects a radiation.
  • the scintillator layer 3 is formed, for example, in a rectangular area of the main surface 2s when viewed from the direction intersecting (for example, orthogonal to) the main surface 2s.
  • An inclined portion is provided on the outer edge portion of the scintillator layer 3.
  • the thickness H1 of the scintillator layer 3 decreases in the direction from the center of the scintillator layer 3 toward the edge. Therefore, the overall cross-sectional shape of the scintillator layer 3 is, for example, a trapezoidal shape. That is, the scintillator layer 3 has a surface (upper surface) 3a formed along the main surface 2s and an inclined side surface 3b formed around the surface 3a.
  • the thickness H1 (thickness other than the inclined portion) of the scintillator layer 3 is, for example, about 600 ⁇ m.
  • the scintillator layer 3 includes a plurality of columnar crystals of scintillator material.
  • the scintillator material is a material mainly composed of CsI such as CsI: Tl.
  • the intermediate layer 5 covers the entire surface 3a of the scintillator layer 3 and the entire surface 3b. That is, the periphery of the intermediate layer 5 is in contact with the main surface 2s of the sensor panel 2, and no gap is generated between the periphery of the intermediate layer 5 and the main surface 2s.
  • the intermediate layer 5 prevents the solvent contained in, for example, an ultraviolet curable resin from penetrating into the scintillator layer 3.
  • the intermediate layer 5 has an optical function such as reflection or absorption with respect to scintillation light. That is, the intermediate layer 5 is a light reflection layer or a light absorption layer for scintillation light generated in the scintillator layer 3.
  • the resin frame 6 is provided on the main surface 2s so as to surround the scintillator layer 3 when viewed from the direction intersecting the main surface 2s of the sensor panel 2.
  • the resin frame 6 is, for example, a rectangular ring.
  • the height H2 of the resin frame 6 from the main surface 2s is larger than the height H1 of the scintillator layer 3 from the main surface 2s.
  • the resin frame 6 is interposed between the main surface 2s and the protection plate 8 and joins the main surface 2s and the protection plate 8 to each other.
  • the resin frame 6 is in contact with the intermediate layer 5 that covers the scintillator layer 3. More specifically, the outer peripheral edge of the intermediate layer 5 is in contact with the inner peripheral edge of the resin frame 6.
  • the scintillator layer 3 extends along the intermediate layer 5 so as to contact the resin frame 6.
  • the resin frame 6 is a resin with low moisture permeability made of, for example, an ultraviolet curable epoxy resin.
  • the resin frame 6 is formed of the 1st resin frame 6a and the 2nd resin frame 6b.
  • the first resin frame 6a and the second resin frame 6b are formed of the same ultraviolet curable resin. Therefore, in the drawing, the first resin frame 6a and the second resin frame 6b are schematically illustrated separately, but the first resin frame 6a and the second resin frame 6b are integrated after curing.
  • the frame member 7 is placed on the main surface 2s in a state where it is in contact with the resin frame 6 along the outer periphery of the resin frame 6.
  • the frame member 7 is formed of an inorganic solid material.
  • the frame member 7 is composed of four glass rods 7a made of glass as a raw material.
  • Each of the four glass rods 7a has a columnar shape with a uniform diameter D and has the same shape.
  • the diameter D of the glass rod 7a is larger than the height H1 of the scintillator layer 3 from the main surface 2s, for example, about 1 mm.
  • the four glass rods 7a constitute a frame member 7 having a rectangular ring shape when their end portions come into contact with each other (see FIG. 2).
  • the inner edge side of the frame member 7 is in contact with the resin frame 6 along the outer periphery of the resin frame 6.
  • the outer edge side of the frame member 7 is exposed from the resin frame 6. That is, a part on the inner edge side of the frame member 7 is embedded in the resin frame 6, and the remaining part on the outer edge side of the frame member 7 is exposed from the resin frame 6.
  • the protective plate 8 is, for example, a rectangular flat plate extending along the main surface 2s.
  • the size of the protection plate 8 is larger than the size of the frame member 7 and smaller than the size of the sensor panel 2 in the direction along the main surface 2s.
  • the size of the frame member 7 is the distance between the outer edges of portions facing each other along the main surface 2 s of the frame member 7.
  • the thickness of the protective plate 8 is, for example, about 0.5 mm or more and 2.0 mm or less.
  • the protective plate 8 is made of, for example, a material containing glass, metal, or carbon. Examples of the protective plate 8 include a glass plate, an aluminum plate, and a CFRP (Carbon Fiber Reinforced Plastics) plate.
  • the protection plate 8 transmits radiation.
  • the protective plate 8 is bonded to the resin frame 6 in a state of facing the surface 3 a of the scintillator layer 3 covered with the intermediate layer 5.
  • the distance (height H2) from the main surface 2s of the sensor panel 2 to the protective plate 8 is substantially the same as the diameter D of the glass rod.
  • the protection plate 8 is disposed so as to cover the scintillator layer 3, the intermediate layer 5, the resin frame 6, and the frame member 7 when viewed from the direction intersecting the main surface 2 s.
  • the protection plate 8, the main surface 2s, and the resin frame 6 form a sealed space in which the scintillator layer 3 and the intermediate layer 5 are disposed. Further, the scintillator layer 3 and the intermediate layer 5 and the protective plate 8 are arranged apart from each other. That is, a space S is formed between the scintillator layer 3 and the intermediate layer 5 and the protective plate 8.
  • 3 and 4 are diagrams showing a manufacturing process of the radiation detector.
  • a sensor panel 2 having a plurality of photoelectric conversion elements 10 formed on the main surface 2s is prepared ((a) of FIG. 3).
  • a scintillator layer 3 including a plurality of columnar crystals is formed on the main surface 2s of the sensor panel 2 by a vapor deposition method (first step).
  • a phosphor material for example, CsI: Tl, CsBr: Eu, etc.
  • the scintillator layer 3 is formed.
  • the scintillator layer 3 which makes the trapezoid shape which has the surface 3a and the side surface 3b in sectional view is formed.
  • the surface 3a and the side surface 3b of the scintillator layer 3 are covered with the intermediate layer 5 (fifth step).
  • a coating agent made of a pigment having a light function such as reflection or absorption with respect to scintillation light and a binder resin is prepared.
  • pigments that reflect scintillation light include white pigments such as titanium dioxide, yttrium oxide, zinc oxide, and aluminum oxide.
  • the pigment that absorbs scintillation light include black pigments such as carbon black and iron trioxide.
  • binder resin examples include acrylic organic resins, urethane, epoxy, fluorine, phenol, polyimide, polyvinyl alcohol, polyethylene, polyester, polycarbonate, and polyurethane organic resins.
  • a coating agent is apply
  • the intermediate layer 5 can be produced by drying and curing the resin layer. After creating the intermediate layer 5, the scintillator layer 3 may be activated by firing or the like.
  • a first resin frame 6a is formed on the main surface 2s so as to surround the scintillator layer 3 (second step).
  • the first resin frame 6a is an ultraviolet curable resin such as an epoxy resin, an acrylic resin, or a urethane resin.
  • the first resin frame 6a is formed in contact with the intermediate layer 5 in order to bring the formation position of the first resin frame 6a closer to the scintillator layer 3.
  • the first resin frame 6a can be arranged so that the outer peripheral edge of the intermediate layer 5 and the inner peripheral edge of the first resin frame 6a are in contact with each other.
  • the height H3 of the first resin frame 6a to be formed can be determined by the viscosity of the resin used.
  • the height H3 of the first resin frame 6a can be made higher than half of the height H1 of the scintillator layer 3.
  • the frame member 7 is arranged along the outer periphery of the first resin frame 6a so as to be in contact with the first resin frame 6a (second step).
  • the glass rod 7a is brought into contact with the first resin frame 6a by moving the glass rod 7a disposed on the main surface 2s from the outside of the first resin frame 6a toward the first resin frame 6a.
  • a frame member 7 having a rectangular ring shape is formed by arranging the four glass rods 7a so that the end portions thereof are in contact with each other (see FIG. 2).
  • the first resin frame 6a is cured (fourth step).
  • the 1st resin frame 6a is hardened by irradiating an ultraviolet-ray with respect to the 1st resin frame 6a before hardening. Thereby, the glass rod 7a is fixed to the first resin frame 6a.
  • a second resin frame 6b is formed on the first resin frame 6a so as to surround the scintillator layer 3 (second step).
  • an ultraviolet curable resin similar to the ultraviolet curable resin used for forming the first resin frame 6a can be used.
  • a second resin frame 6b is formed on the first resin frame 6a so as to surround the scintillator layer 3 in the same manner as the first resin frame 6a.
  • the end of the second resin frame 6 b opposite to the main surface 2 s is positioned higher than the frame member 7.
  • the second resin frame 6b may be formed on the first resin frame 6a and the second resin frame 6b may be formed on the glass rod 7a.
  • the height H4 of the second resin frame 6b from the main surface 2s is formed to be higher than the height H5 of the intermediate layer 5.
  • the inner peripheral surface of the frame member 7 is covered with the first resin frame 6a and the second resin frame 6b.
  • the outer peripheral surface of the frame member 7 is exposed from the first resin frame 6a and the second resin frame 6b.
  • the scintillator layer 3 and the intermediate layer 5 are sealed by bonding the protective plate 8 to the resin frame 6 (third step).
  • the protective plate 8 is disposed so as to be in contact with the entire circumference of the second resin frame 6b before being cured.
  • the second resin frame 6b is deformed by pressing the protective plate 8 toward the sensor panel 2 or by its own weight.
  • the distance (height H2) from the main surface 2s of the sensor panel 2 to the protection plate 8 becomes substantially the same as the height of the frame member (diameter D of the glass rod).
  • the second resin frame 6b is cured (fourth step).
  • the second resin frame 6b is cured by irradiating the second resin frame 6b before curing with ultraviolet rays.
  • the protection plate 8 is fixed to the second resin frame 6b. That is, the protection plate 8 is fixed on the main surface 2s via the resin frame 6, and the radiation detector 1A is completed.
  • the resin frame 6 is arranged on the inner side and the frame member 7 made of an inorganic solid material is arranged on the outer side of the resin frame 6 so as to surround the scintillator layer 3.
  • the inorganic solid material has moisture resistance, moisture permeation through the frame member 7 does not occur. Therefore, moisture permeability through the resin frame 6 can be suppressed when the frame member 7 made of an inorganic solid material contacts the outer periphery of the resin frame 6. Therefore, the moisture resistance of the scintillator layer 3 can be improved.
  • the first resin frame 6a is formed so as to surround the scintillator layer 3, and is in contact with the first resin frame 6a along the outer periphery of the first resin frame 6a.
  • a frame member 7 is arranged.
  • the 2nd resin frame 6b is formed on the 1st resin frame 6a so that the scintillator layer 3 may be enclosed.
  • the resin frame 6 needs to be formed higher than the frame member 7.
  • the first resin frame 6a is cured after the frame member 7 is arranged and before the second resin frame 6b is formed. According to this configuration, the position of the frame member 7 is suppressed from shifting when the second resin frame 6b is formed.
  • the surface 3 a and the side surface 3 b of the scintillator layer 3 are covered with the intermediate layer 5. According to this configuration, the solvent contained in the resin frame 6 can be prevented from penetrating into the scintillator layer 3.
  • the resin frame 6 is formed so as to be in contact with the intermediate layer 5. According to this structure, the effective area
  • an ultraviolet curable resin is included as a material for forming the resin frame 6. Since UV curing resin takes a short time to cure, the manufacturing time can be shortened.
  • a glass rod 7 a is used as the frame member 7. In this case, the ultraviolet rays can be efficiently irradiated to the ultraviolet curable resin forming the resin frame 6 by transmitting the ultraviolet rays through the glass rod 7a. Further, the frame member 7 can be easily arranged outside the resin frame 6 by using the glass rod 7a.
  • the concrete composition is not restricted to this embodiment.
  • the arrangement, shape, and the like of each element in the embodiment are examples, and are not limited to this.
  • each modification in one embodiment of the present invention will be described mainly with respect to differences from the above embodiment, and the same elements and members will be denoted by the same reference numerals and detailed description thereof will be omitted.
  • 5 to 7 referred to in the following description even if the resin frame 6 is formed of the first resin frame 6a and the second resin frame 6b, the first resin frame 6a and the second resin frame are used. It is drawn as a resin frame 6 in which the frame 6b is integrated.
  • FIG. 5 (a) and 5 (b) are cross-sectional views showing modifications of the shape of the frame member.
  • the shape of the glass rod 7b which comprises the frame member 7 may be a hexagonal column. Since the prismatic glass rods 7b and 7c are difficult to roll, the glass rods 7b and 7c are easily positioned. In addition, since the bottom and top surfaces of the glass rods 7b and 7c can come into contact with the sensor panel 2 and the protective plate 8 on the surface, the stability of the shape is easily maintained.
  • FIG. 6A the resin frame 6 may be formed away from the outer peripheral edges of the scintillator layer 3 and the intermediate layer 5. Further, as shown in FIG. 6B, the resin frame 6 may be formed so as to contact the inclined surfaces of the scintillator layer 3 and the intermediate layer 5. Further, as shown in FIG. 6C, the resin frame 6 may be formed so as to be in contact with the upper surfaces of the scintillator layer 3 and the intermediate layer 5.
  • FIG. 7 (a) to 7 (c) are cross-sectional views showing modified examples in which the size of the protective plate is different.
  • the protective plate 8 larger than the frame member 7 and smaller than the sensor panel 2 was illustrated, it is not limited to this.
  • the protective plate 8 may be approximately the same size as the sensor panel 2 in the direction along the main surface 2 s.
  • the protective plate 8 may be smaller than the outer edge of the frame member 7 and larger than the inner edge of the frame member 7 in the direction along the main surface 2s.
  • the protective plate 8 extends outside the center of the glass rod 7a.
  • the protective plate 8 may be approximately the same size as the inner edge of the frame member 7 in the direction along the main surface 2s.
  • the resin frame 6 extends to the outside of the protective plate 8.
  • FIG. 8 are cross-sectional views showing modifications of the shape of the intermediate layer 5.
  • the resin frame 6, the frame member 7, and the protective plate 8 are omitted.
  • the arrangement of the resin frame 6, the frame member 7, and the protection plate 8 may adopt the configurations of the embodiments and the modifications.
  • the intermediate layer 5 may extend not only to the surface 3 a and the side surface 3 b of the scintillator layer 3 but also to a portion around the scintillator layer 3 on the main surface 2 s of the sensor panel 2. Good. In this case, the scintillator layer 3 can be more reliably covered with the intermediate layer 5. Further, as shown in FIG.
  • the intermediate layer 5 may be extended to an intermediate position in the vertical direction on the side surface 3 b of the scintillator layer 3. In this case, the intermediate layer 5 is separated from the main surface 2s. Further, as shown in FIG. 8C, only the surface 3 a of the scintillator layer 3 may be covered with the intermediate layer 5. Further, as shown in FIG. 8D, the scintillator layer 3 may be covered with a sheet 105 having a function of suppressing permeation of the solvent instead of the intermediate layer 5. In this case, only the surface 3 a of the scintillator layer 3 may be covered with the sheet 105. As shown in FIGS. 8B to 8D, when the side surface 3b of the scintillator layer 3 is exposed, the scintillator layer 3 is separated from the outer peripheral edge as shown in FIG.
  • the resin frame 6 may be formed.
  • FIG. 9 are plan views showing modifications of the form of the frame member.
  • the protective plate is omitted.
  • it may replace with the glass rod 7a and may form the frame member 7 with the glass rod 7d shorter than the glass rod 7a.
  • the length of the glass rod 7d is, for example, about the same length as one side of the intermediate layer 5 along the main surface 2s, and about the same length as one side of the scintillator layer along the main surface 2s.
  • the four glass rods 7d are arranged apart from each other, thereby forming a rectangular annular frame member 7 having no corners. As shown in FIG.
  • the frame member 7 may be formed of a glass rod 7e shorter than the glass rod 7d instead of the glass rod 7a.
  • the length of the glass rod 7e may be, for example, about 1/3 of one side of the intermediate layer 5 along the main surface 2s.
  • nine glass rods 7e are spaced apart from each other and arranged in an annular shape to form a rectangular annular frame member 7.
  • One side of the frame member 7 having a rectangular ring shape is formed by three glass rods 7e.
  • the glass rods 7d and 7e constituting the frame member 7 may be separated from each other.
  • a single glass rod 7f formed in a rectangular frame shape may be used as the frame member 7 instead of the four glass rods 7a.
  • the frame member 7 may be formed by a pair of glass rods 7g formed in an L shape instead of the glass rod 7a.
  • the frame member 7 is formed by arranging two glass rods 7g in a rectangular frame shape.
  • a single glass rod 7h formed in a rectangular ring shape with curved corners may be used as the frame member 7 instead of the four glass rods 7a.
  • the flat plate shape which has bending may be sufficient, for example.
  • the shape may be such that the distance from the main surface to the central portion of the protective plate is larger than the distance from the main surface to the peripheral portion of the protective plate.
  • the shape bent so that the distance from the main surface to the center part of a protection plate may become smaller than the distance from the main surface to the peripheral part of a protection plate may be sufficient.
  • the frame member is formed of a glass material
  • the present invention is not limited to this, and the frame member may be formed of a metal material such as aluminum.
  • an ultraviolet curable resin is exemplified as a resin material for forming the resin frame, it is not limited to this.
  • the resin frame may be formed of a thermosetting resin.
  • the first resin frame and the second resin frame may be formed of different materials.
  • the space may be filled with a filler made of an elastic material.
  • a mutual structure can be mutually employ
  • the configuration of the glass rods 7b and 7c may be adopted instead of the glass rod 7a.
  • FIG. 10 is a cross-sectional view showing a radiation detector 91 according to a comparative example.
  • the radiation detector 91 includes the sensor panel 2, the scintillator layer 3, the intermediate layer 5, the resin frame 6, and the protective plate 8, and is different from the radiation detector 1A of the above embodiment only in that the frame member 7 is not provided. is doing.
  • the radiation detector 1A having the frame member 7 and the radiation detector 91 not having the frame member 7 were used as samples to test the difference in moisture-proof performance depending on the presence or absence of the frame member 7.
  • each sample was placed in a thermostatic chamber adjusted to a temperature of 50 ° C. and a relative humidity of 90%, and the transition of X-ray characteristics (resolution, light emission amount) was measured. Table 1 shows the resolution measurement results.
  • Table 2 shows the measurement results of the light emission amount.
  • Table 1 shows the relative value of CTF at each time when the initial CTF (resolution: Contrast Transfer Function) is 100%.
  • Table 2 shows the relative value of the light emission amount after each time when the light emission amount of the initial scintillator layer is 100%. From any result, when the frame member was provided, the performance of the radiation detector was not greatly reduced as compared with the case where the frame member was not provided. From these results, it was confirmed that the moisture resistance of the scintillator layer in the radiation detector can be improved by having the frame member.
  • the method for manufacturing a radiation detector it is possible to improve moisture resistance in a region where the scintillator layer is formed.
  • SYMBOLS 1A Radiation detector, 2 ... Sensor panel, 3 ... Scintillator layer, 5 ... Intermediate layer, 6 ... Resin frame, 6a ... 1st resin frame, 6b ... 2nd resin frame, 7 ... Frame member, 7a ... Glass rod, 8 ... Protective plate.

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Abstract

放射線検出器の製造方法は、複数の光電変換素子を含むセンサパネルの主面上に、複数の柱状結晶を含むシンチレータ層を気相堆積法によって形成する第１工程と、シンチレータ層を囲うように主面上に樹脂枠を形成すると共に、樹脂枠の外周に沿って樹脂枠に接するように無機固形材料からなる枠部材を配置する第２工程と、保護板を樹脂枠に接着することにより、シンチレータ層を封止する第３工程と、樹脂枠を硬化する第４工程と、を含む。

Description

放射線検出器の製造方法
　本発明の一側面は、放射線検出器の製造方法に関する。
　特許文献１には、Ｘ線イメージングシステムに用いられる検出器アレイが記載されている。この検出器アレイは、ガラス基板上に設けられた検出器素子と、検出器素子上に形成された柱状結晶よりなるシンチレータと、シンチレータ上に配置された可視光を反射するシートとを有している。シンチレータ及びシートは、ガラス基板に固定されるカバーによって封止されている。例えば、カバーとガラス基板とは、エポキシシーラントを用いて接着される金属フレームによって封止される。金属フレームは、シンチレータから離間してシンチレータを囲んでいる。
特開２００３－２７９６５６号公報
　一般に、ＣｓＩなどによって形成される柱状結晶からなるシンチレータ層は、潮解性を有する。そのため、シンチレータ層を枠体で囲んだ構成を有する放射線検出器では、枠体内側の領域の防湿性を高く保持することが望まれる。
　本発明の一側面は、シンチレータ層の防湿性を高めることができる放射線検出器の製造方法を提供することを目的とする。
　一形態の放射線検出器の製造方法は、複数の光電変換素子を含むセンサパネルの主面上に、複数の柱状結晶を含むシンチレータ層を気相堆積法によって形成する第１工程と、シンチレータ層を囲うように主面上に樹脂枠を形成すると共に、樹脂枠の外周に沿って樹脂枠に接するように無機固形材料からなる枠部材を配置する第２工程と、保護板を樹脂枠に接着することにより、シンチレータ層を封止する第３工程と、樹脂枠を硬化する第４工程と、を含む。
　このような放射線検出器の製造方法によれば、シンチレータ層を囲うように、内側に樹脂枠が配置され、樹脂枠の外側に無機固形材料からなる枠部材が配置されることになる。無機固形材料は防湿性を有しているので、枠部材を介しての透湿は生じない。したがって、無機固形材料からなる枠部材が樹脂枠の外周に接することによって、樹脂枠を介しての透湿を抑制することができる。したがって、シンチレータ層の防湿性を高めることができる。
　また、一形態においては、樹脂枠は、第１樹脂枠と第２樹脂枠とを含み、第２工程では、シンチレータ層を囲うように第１樹脂枠を形成し、第１樹脂枠の外周に沿って第１樹脂枠に接するように枠部材を配置し、シンチレータ層を囲うように第１樹脂枠上に第２樹脂枠を形成してもよい。第２工程の後に行われる第３工程では、樹脂枠が枠部材よりも高く形成されている必要がある。枠部材が配置された後に第２樹脂枠を形成することによって、第２樹脂枠の高さが枠部材よりも高く形成されていることを確認しやすい。
　また、一形態においては、第２工程では、枠部材を配置した後であって、第２樹脂枠を形成する前に、第１樹脂枠を硬化してもよい。この構成によれば、第２樹脂枠を形成する際に枠部材の位置がずれることが抑制される。
　また、一形態においては、第１工程と第２工程との間に、中間層によってシンチレータ層の表面及び側面を被覆する第５工程をさらに含んでもよい。この構成によれば、樹脂枠がシンチレータ層の周辺部分に直接接触してシンチレータ層の周辺部分に溶剤が浸透することを抑制することができる。
　また、一形態においては、第２工程では、中間層と接するように樹脂枠を形成してもよい。この構成によれば、樹脂枠内の領域におけるシンチレータ層の有効領域を大きくすることができる。なお、有効領域とは、主面におけるシンチレータ層が形成された領域である。
　また、一形態においては、樹脂枠は、紫外線硬化樹脂を含んでもよい。紫外線硬化樹脂は硬化に掛かる時間が短いため、製造時間の短縮を図ることができる。
　また、一形態においては、枠部材は、ガラスロッドであってもよい。ガラスロッドを用いることによって、枠部材を樹脂枠の外側に容易に配置することができる。
　一形態の放射線検出器の製造方法によれば、シンチレータ層が形成されている領域の防湿性を高めることができる。
図１は、一実施形態に係る放射線検出器の断面図である。 図２は、図１に示された放射線検出器の平面図である。 図３は、図１に示された放射線検出器の製造工程を示す図である。 図４は、図１に示された放射線検出器の製造工程を示す図である。 図５は、変形例に係る放射線検出器を説明するための模式図である。 図６は、変形例に係る放射線検出器を説明するための模式図である。 図７は、変形例に係る放射線検出器を説明するための模式図である。 図８は、変形例に係る放射線検出器を説明するための模式図である。 図９は、変形例に係る放射線検出器を説明するための模式図である。 比較例に係る放射線検出器を示す断面図である。
　以下、一実施形態に係る実施の形態について図面を参照しながら具体的に説明する。便宜上、実質的に同一の要素には同一の符号を付し、その説明を省略する場合がある。以下に説明する放射線検出器は、Ｘ線等の放射線を可視光等のシンチレーション光に変換して検出する。このような放射線検出器は、例えば、マンモグラフィー装置、胸部検査装置、ＣＴ装置、歯科口内撮影装置、放射線カメラ等において、放射線イメージング用のデバイスとして用いることができる。
　図１は、本実施形態に係る放射線検出器の断面図である。図２は、図１に示された放射線検出器の平面図である。なお、図２では保護板が省略されている。図１，２に示されるように、放射線検出器１Ａは、センサパネル２、シンチレータ層３、中間層５、樹脂枠６、枠部材７、及び保護板８を備えている。
　センサパネル２は、例えば矩形板状であり、主面２ｓと、主面２ｓ上に形成された複数の光電変換素子１０と、を有する。より具体的には、センサパネル２は、主面２ｓを含む板状の基部２ｐを有している。また、光電変換素子１０は、主面２ｓに沿って２次元状に配列されている。主面２ｓ及び光電変換素子１０上には、パッシベーション膜又は平坦化膜等の膜部１１が形成されている。
　シンチレータ層３は、Ｘ線等の放射線の入射に応じて、可視光等のシンチレーション光を生じさせる。シンチレータ層３は、膜部１１を介して、主面２ｓ及び光電変換素子１０上に設けられている。シンチレータ層３は、光電変換素子１０に光学的に結合されている。したがって、光電変換素子１０は、シンチレータ層３において発生したシンチレーション光を入力し、シンチレーション光に応じた電気信号を出力する。電気信号は、図示しない配線等により外部に取り出される。これにより、放射線検出器１は放射線を検出する。
　シンチレータ層３は、例えば、主面２ｓに交差（例えば直交）する方向からみて、主面２ｓの矩形状のエリアに形成されている。シンチレータ層３の外縁部には、傾斜部が設けられている。傾斜部では、シンチレータ層３の中心から縁に向かう方向にシンチレータ層３の厚さＨ１が減少する。したがって、シンチレータ層３の全体としての断面形状は、例えば台形状である。すなわち、シンチレータ層３は、主面２ｓに沿って形成される表面（上面）３ａと、表面３ａの周囲に形成される傾斜した側面３ｂとを有する。
　シンチレータ層３の厚さＨ１（上記の傾斜部以外の厚さ）は、例えば６００μｍ程度である。シンチレータ層３は、シンチレータ材料の複数の柱状結晶を含んでいる。シンチレータ材料は、例えば、ＣｓＩ：ＴｌといったＣｓＩを主成分とする材料である。
　中間層５は、シンチレータ層３の表面３ａの全面を被覆するとともに、側面３ｂの全面を被覆する。すなわち、中間層５の周縁は、センサパネル２の主面２ｓに接触しており、中間層５の周縁と主面２ｓとの間に間隙は生じていない。中間層５は、例えば紫外線硬化樹脂等に含まれる溶剤がシンチレータ層３に浸透することを抑制する。また、中間層５は、例えば、シンチレーション光に対する反射又は吸収等の光機能を有する。すなわち、中間層５は、シンチレータ層３で発生したシンチレーション光に対する光反射層又は光吸収層である。
　樹脂枠６は、センサパネル２の主面２ｓに交差する方向からみてシンチレータ層３を囲うように、主面２ｓ上に設けられている。樹脂枠６は、例えば矩形環状である。主面２ｓからの樹脂枠６の高さＨ２は、主面２ｓからのシンチレータ層３の高さＨ１よりも大きい。樹脂枠６は、主面２ｓと保護板８との間に介在して主面２ｓと保護板８とを互いに接合する。本実施形態では、樹脂枠６は、シンチレータ層３を被覆している中間層５に接している。より具体的には、中間層５の外周縁と樹脂枠６の内周縁とが接している。換言すれば、シンチレータ層３は、中間層５を介して樹脂枠６に接するように沿って延在している。樹脂枠６は、例えば紫外線硬化性を有するエポキシ樹脂等からなる透湿性が低い樹脂である。
　なお、図１に示されるように、樹脂枠６は、第１樹脂枠６ａ及び第２樹脂枠６ｂによって形成されている。本実施形態では、同様の紫外線硬化樹脂によって第１樹脂枠６ａ及び第２樹脂枠６ｂを形成している。そのため、図面では第１樹脂枠６ａと第２樹脂枠６ｂとを模式的に分けて描いているが、硬化後は第１樹脂枠６ａと第２樹脂枠６ｂとが一体となっている。
　枠部材７は、樹脂枠６の外周に沿って樹脂枠６に接した状態で、主面２ｓ上に載置されている。枠部材７は、無機固形材料によって形成されている。本実施形態では、枠部材７はガラスを原材料とした４本のガラスロッド７ａによって構成されている。４本のガラスロッド７ａは、いずれも一様な径Ｄの円柱状をなしており、互いに同形状となっている。ガラスロッド７ａの径Ｄは、主面２ｓからのシンチレータ層３の高さＨ１よりも大きく、例えば１ｍｍ程度である。４本のガラスロッド７ａは、互いの端部同士が接触することによって矩形環状をなす枠部材７を構成している（図２参照）。枠部材７の内縁側は、樹脂枠６の外周に沿って樹脂枠６に接している。一方、枠部材７の外縁側は樹脂枠６から露出している。すなわち、枠部材７の内縁側の一部は樹脂枠６に埋設されており、枠部材７の外縁側の残部は樹脂枠６から露出している。
　保護板８は、例えば、主面２ｓに沿って延びる矩形平板状である。一例として、主面２ｓに沿った方向について、保護板８のサイズは、枠部材７のサイズよりも大きく、且つ、センサパネル２のサイズよりも小さい。なお、枠部材７のサイズとは、枠部材７における主面２ｓに沿って互いに対向する部分の外縁同士の間隔である。保護板８の厚さは、例えば０．５ｍｍ以上２．０ｍｍ以下程度である。保護板８は、例えば、ガラス、金属、又はカーボンを含む材料によって形成されており、一例として、ガラス板、アルミニウム板、ＣＦＲＰ（Carbon Fiber Reinforced Plastics）板等である。保護板８は、放射線を透過する。
　保護板８は、中間層５によって被覆されたシンチレータ層３の表面３ａに対向した状態で樹脂枠６に接着されている。センサパネル２の主面２ｓから保護板８までの距離（高さＨ２）は、ガラスロッドの径Ｄと略同一となっている。保護板８は、主面２ｓに交差する方向からみて、シンチレータ層３、中間層５、樹脂枠６及び枠部材７を覆うように配置されている。保護板８、主面２ｓ及び樹脂枠６は、シンチレータ層３及び中間層５が配置される封止された空間を形成する。また、シンチレータ層３及び中間層５と保護板８とは離間して配置されている。すなわち、シンチレータ層３及び中間層５と保護板８との間には空間Ｓが形成されている。
　次に、放射線検出器１Ａの製造工程について説明する。図３及び図４は、放射線検出器の製造工程を示す図である。
　まず、複数の光電変換素子１０が主面２ｓ上に形成されたセンサパネル２を用意する（図３の（ａ））。続いて、図３の（ｂ）に示されるように、センサパネル２の主面２ｓ上に、複数の柱状結晶を含むシンチレータ層３を気相堆積法によって形成する（第１工程）。この工程では、例えば、蛍光体材料（例えばＣｓＩ：Ｔｌ、ＣｓＢｒ：Ｅｕ等）をセンサパネル２の主面２ｓ上に真空蒸着することによって、主面２ｓ上に蛍光体の柱状結晶を成長させ、シンチレータ層３を形成する。これにより、断面視において表面３ａ及び側面３ｂを有する台形状をなすシンチレータ層３が形成される。
　続いて、図３の（ｃ）に示されるように、中間層５によってシンチレータ層３の表面３ａ及び側面３ｂを被覆する（第５工程）。具体的には、例えば、シンチレーション光に対する反射又は吸収等の光機能を有する顔料とバインダ樹脂とからなる塗布剤を用意する。シンチレーション光を反射する顔料としては、例えば二酸化チタン、酸化イットリウム、酸化亜鉛、酸化アルミニウム等の白色顔料を挙げることができる。また、シンチレーション光を吸収する顔料としては、例えばカーボンブラック、四三酸化鉄等の黒色顔料を挙げることができる。また、バインダ樹脂としては、アクリル系有機樹脂、ウレタン、エポキシ、フッ素、フェノール、ポリイミド、ポリビニルアルコール、ポリエチレン、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリウレタン系有機樹脂等を挙げることができる。そして、シンチレータ層３の表面３ａ及び側面３ｂの全体に対して、塗布剤を塗布し、樹脂層を形成する。次いで、この樹脂層を乾燥させて硬化させることにより中間層５を作製することができる。中間層５を作成した後に、焼成等によってシンチレータ層３を活性化してもよい。
　続いて、図３の（ｄ）に示されるように、シンチレータ層３を囲うように主面２ｓ上に第１樹脂枠６ａを形成する（第２工程）。第１樹脂枠６ａは、例えばエポキシ樹脂、アクリル樹脂、ウレタン樹脂等の紫外線硬化樹脂である。この工程では、第１樹脂枠６ａの形成位置をシンチレータ層３に近付けるために、中間層５と接するように第１樹脂枠６ａを形成する。たとえば図示例のように、中間層５の外周縁と第１樹脂枠６ａの内周縁とが接するように第１樹脂枠６ａを配置することができる。形成する第１樹脂枠６ａの高さＨ３は、使用する樹脂の粘度によって決定することができる。例えば、第１樹脂枠６ａの高さＨ３をシンチレータ層３の高さＨ１の半分よりも高くすることができる。
　続いて、図４の（ａ）に示されるように、第１樹脂枠６ａの外周に沿って第１樹脂枠６ａに接するように枠部材７を配置する（第２工程）。この工程では、例えば、主面２ｓ上に配置されたガラスロッド７ａを第１樹脂枠６ａの外側から第１樹脂枠６ａに向けて移動させることによって、ガラスロッド７ａを第１樹脂枠６ａに接触させる。４本のガラスロッド７ａを互いの端部同士が接触するように配置することによって矩形環状をなす枠部材７を形成する（図２参照）。続いて、枠部材７が形成された後に、第１樹脂枠６ａを硬化する（第４工程）。本実施形態では、硬化前の第１樹脂枠６ａに対して紫外線を照射することによって、第１樹脂枠６ａを硬化させる。これによって、ガラスロッド７ａが第１樹脂枠６ａに固定される。
　続いて、図４の（ｂ）に示されるように、シンチレータ層３を囲うように第１樹脂枠６ａ上に第２樹脂枠６ｂを形成する（第２工程）。この工程では、例えば、第１樹脂枠６ａの形成に用いられた紫外線硬化樹脂と同様の紫外線硬化樹脂を用いることができる。第１樹脂枠６ａ上に、第１樹脂枠６ａと同様にシンチレータ層３を囲むように第２樹脂枠６ｂを形成する。この際、第２樹脂枠６ｂにおける主面２ｓと反対側の端部は、枠部材７よりも高い位置になっている。図示例のように、第１樹脂枠６ａ上に第２樹脂枠６ｂを形成するとともに、ガラスロッド７ａ上に第２樹脂枠６ｂを形成してもよい。また、この工程では、主面２ｓからの第２樹脂枠６ｂの高さＨ４を中間層５の高さＨ５よりも高く形成する。枠部材７の内周面は、第１樹脂枠６ａ及び第２樹脂枠６ｂによって覆われる。一方、枠部材７の外周面は第１樹脂枠６ａ及び第２樹脂枠６ｂから露出している。
　続いて、図４の（ｃ）に示されるように、保護板８を樹脂枠６に接着することにより、シンチレータ層３及び中間層５を封止する（第３工程）。この工程では、硬化前の第２樹脂枠６ｂの全周に接するように保護板８を配置する。この際、保護板８をセンサパネル２側に押圧すること、または、保護板８の自重によって、第２樹脂枠６ｂが変形する。これにより、センサパネル２の主面２ｓから保護板８までの距離（高さＨ２）は、枠部材の高さ（ガラスロッドの径Ｄ）と略同一となる。第２樹脂枠６ｂと保護板８とを接着することによって、主面２ｓ、樹脂枠６及び保護板８で封止された空間が形成される。
　続いて、第２樹脂枠６ｂを硬化する（第４工程）。本実施形態では、硬化前の第２樹脂枠６ｂに対して紫外線を照射することによって、第２樹脂枠６ｂを硬化させる。これによって、保護板８が第２樹脂枠６ｂに固定される。すなわち、保護板８が樹脂枠６を介して主面２ｓ上に固定され、放射線検出器１Ａが完成する。
　以上説明した放射線検出器の製造方法によれば、シンチレータ層３を囲うように、内側に樹脂枠６が配置され、樹脂枠６の外側に無機固形材料からなる枠部材７が配置されることになる。無機固形材料は防湿性を有しているので、枠部材７を介しての透湿は生じない。したがって、無機固形材料からなる枠部材７が樹脂枠６の外周に接することによって、樹脂枠６を介しての透湿を抑制することができる。したがって、シンチレータ層３の防湿性を高めることができる。
　また、樹脂枠６及び枠部材７を配置する工程では、シンチレータ層３を囲うように第１樹脂枠６ａを形成し、第１樹脂枠６ａの外周に沿って第１樹脂枠６ａに接するように枠部材７を配置している。そして、シンチレータ層３を囲うように第１樹脂枠６ａ上に第２樹脂枠６ｂを形成している。保護板８を接着する工程では、樹脂枠６が枠部材７よりも高く形成されている必要がある。枠部材７が配置された後に第２樹脂枠６ｂを形成することによって、第２樹脂枠６ｂの高さが枠部材７よりも高く形成されていることを確認しやすい。
　また、樹脂枠６及び枠部材７を配置する工程では、枠部材７を配置した後であって、第２樹脂枠６ｂを形成する前に、第１樹脂枠６ａを硬化している。この構成によれば、第２樹脂枠６ｂを形成する際に枠部材７の位置がずれることが抑制される。
　また、樹脂枠６を形成する前に中間層５によってシンチレータ層３の表面３ａ及び側面３ｂを被覆している。この構成によれば、樹脂枠６に含まれる溶剤がシンチレータ層３に浸透することを防止することができる。
　また、樹脂枠６及び枠部材７を配置する工程では、中間層５と接するように樹脂枠６を形成している。この構成によれば、樹脂枠６内の領域におけるシンチレータ層３の有効領域を大きくすることができる。
　また、樹脂枠６を形成する材料として紫外線硬化樹脂を含んでいる。紫外線硬化樹脂は硬化に掛かる時間が短いため、製造時間の短縮を図ることができる。また、本実施形態では、枠部材７としてガラスロッド７ａが用いられている。この場合、紫外線がガラスロッド７ａを透過することによって、樹脂枠６を形成する紫外線硬化樹脂に対して、紫外線を効率的に照射することができる。また、ガラスロッド７ａを用いることによって、枠部材７を樹脂枠６の外側に容易に配置することができる。
　以上、一実施形態について図面を参照して詳述したが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではない。例えば、実施形態における各要素の配置、形状等は、一例であって、これに限定されるものではない。以下、本発明の一形態における各変形例について、主として上記実施形態と相違する点について説明し、同一の要素や部材については同一の符号を付して詳しい説明を省略する。なお、以下の説明において参照する図５～図７では、樹脂枠６が第１樹脂枠６ａ及び第２樹脂枠６ｂによって形成されている場合であっても、第１樹脂枠６ａ及び第２樹脂枠６ｂが一体となった樹脂枠６として描いている。
　図５の（ａ）及び（ｂ）は、枠部材の形状についての変形例を示す断面図である。図５では、樹脂枠の近傍のみを示し、シンチレータ層及び中間層を省略している。図５の（ａ）に示すように、枠部材７を構成するガラスロッド７ｂの形状を四角柱状にしてもよい。また、図５の（ｂ）に示すように、枠部材７を構成するガラスロッド７ｃの形状を六角柱状にしてもよい。角柱状のガラスロッド７ｂ，７ｃは転がりにくいため、ガラスロッド７ｂ，７ｃの位置決めを行いやすい。また、ガラスロッド７ｂ，７ｃの底面及び上面がセンサパネル２及び保護板８に対して面で接触し得るので、形状の安定性を保持しやすい。
　図６の（ａ）～（ｃ）は、樹脂枠が配置される位置が異なる変形例を示す断面図である。上記の各実施形態では、樹脂枠６の内縁と中間層５の外縁とが接するように樹脂枠６を形成する例を示したが、これに限定されない。図６の（ａ）に示すように、シンチレータ層３及び中間層５の外周縁から離間させて樹脂枠６を形成してもよい。また、図６の（ｂ）に示すように、シンチレータ層３及び中間層５の傾斜面に接するように樹脂枠６を形成してもよい。また、図６の（ｃ）に示すように、シンチレータ層３及び中間層５の上面に接するように樹脂枠６を形成してもよい。
　図７の（ａ）～（ｃ）は、保護板のサイズが異なる変形例を示す断面図である。上記実施形態では、枠部材７よりも大きく、センサパネル２よりも小さい保護板８を例示したがこれに限定されない。例えば、図７の（ａ）に示すように、主面２ｓに沿った方向についてセンサパネル２の大きさと略同じ大きさの保護板８であってもよい。また、図７の（ｂ）に示すように、主面２ｓに沿った方向について枠部材７の外縁よりも小さく枠部材７の内縁よりも大きい保護板８であってもよい。この例では、保護板８がガラスロッド７ａの中心よりも外側まで延在している。また、図７の（ｃ）に示すように、主面２ｓに沿った方向について枠部材７の内縁と略同じ大きさの保護板８であってもよい。この場合、樹脂枠６が保護板８よりも外側まで延在している。
　図８の（ａ）～（ｃ）は、中間層５の形状についての変形例を示す断面図である。図８では、樹脂枠６、枠部材７及び保護板８を省略している。樹脂枠６、枠部材７及び保護板８の配置等は、各実施形態及び各変形例の構成を採用してもよい。図８の（ａ）に示すように、中間層５をシンチレータ層３の表面３ａ及び側面３ｂだけでなく、センサパネル２の主面２ｓ上におけるシンチレータ層３の周囲の部分まで延在させてもよい。この場合、中間層５によって、より確実にシンチレータ層３を被覆することができる。また、図８の（ｂ）に示すように、中間層５をシンチレータ層３の側面３ｂにおける上下方向の中間位置まで延在させてもよい。この場合、中間層５は主面２ｓから離間している。また、図８の（ｃ）に示すように、中間層５によってシンチレータ層３の表面３ａのみを被覆してもよい。また、図８の（ｄ）に示すように、中間層５に代えて溶剤の浸透を抑制する機能を有するシート１０５によってシンチレータ層３を被覆してもよい。この場合、シート１０５によってシンチレータ層３の表面３ａのみを被覆してもよい。図８の（ｂ）～（ｄ）に示すように、シンチレータ層３の側面３ｂが露出している場合には、図６の（ａ）に示すように、シンチレータ層３の外周縁から離間させて樹脂枠６を形成してもよい。
　図９の（ａ）～（ｅ）は、枠部材の形態についての変形例を示す平面図である。図９では、保護板を省略して示している。図９の（ａ）に示すように、ガラスロッド７ａに代えて、ガラスロッド７ａよりも短いガラスロッド７ｄによって枠部材７を形成してもよい。ガラスロッド７ｄの長さは、例えば主面２ｓに沿った中間層５の一辺と同程度の長さであり、主面２ｓに沿ったシンチレータ層の一辺の長さと同程度の長さである。この変形例では、４本のガラスロッド７ｄが互いに離間して配置されることによって、角部のない矩形環状の枠部材７を形成している。図９の（ｂ）に示すように、ガラスロッド７ａに代えて、ガラスロッド７ｄよりも短いガラスロッド７ｅによって枠部材７を形成してもよい。ガラスロッド７ｅの長さは、例えば主面２ｓに沿った中間層５の一辺の１／３程度の長さであってもよい。この変形例では、９本のガラスロッド７ｅが互いに離間して環状に配置されることによって、矩形環状の枠部材７を形成している。矩形環状をなす枠部材７の一辺は、３本のガラスロッド７ｅによって形成される。図９の（ａ）及び（ｂ）に示すように、枠部材７を構成するガラスロッド７ｄ，７ｅは、互いに離間されてもよい。
　また、図９の（ｃ）に示すように、４本のガラスロッド７ａに代えて、矩形枠状に形成された単一のガラスロッド７ｆを枠部材７として用いてもよい。また、図９の（ｄ）に示すように、ガラスロッド７ａに代えて、Ｌ字状に形成された一対のガラスロッド７ｇによって枠部材７を形成してもよい。この変形例では、２本のガラスロッド７ｇを矩形枠状に配置することによって枠部材７を形成している。また、図９の（ｅ）に示すように、４本のガラスロッド７ａに代えて、角部が湾曲した矩形環状に形成された単一のガラスロッド７ｈを枠部材７として用いてもよい。
　また、上記実施形態では、平板状である保護板を例示したが、例えば、撓みを有する平板状であってもよい。この場合、主面から保護板の中央部分までの距離が、主面から保護板の周辺部分までの距離よりも大きくなるように撓んだ形状であってもよい。また、主面から保護板の中央部分までの距離が、主面から保護板の周辺部分までの距離よりも小さくなるように撓んだ形状であってもよい。
　また、枠部材がガラス材料によって形成されている例を示したが、これに限定されず、例えば、アルミニウム等の金属材料によって形成されていてもよい。
　また、樹脂枠を形成する樹脂材料として紫外線硬化樹脂を例示したが、これに限定されない。例えば、樹脂枠は熱硬化性樹脂によって形成されてもよい。また、第１樹脂枠と第２樹脂枠とは互いに異なる材料によって形成されてもよい。
　また、シンチレータ層及び中間層と保護板との間に空間が形成されている例を示したが、例えば当該空間には弾性材料からなる充填材が充填されていてもよい。
　また、各実施形態及び変形例において、相互の構成を互いに採用することができる。例えば、図６、図７等に示す変形例において、ガラスロッド７ａに代えてガラスロッド７ｂ、７ｃの構成を採用してもよい。
［実施例］
　図１０は、比較例に係る放射線検出器９１を示す断面図である。この放射線検出器９１は、センサパネル２、シンチレータ層３、中間層５、樹脂枠６及び保護板８を備えており、枠部材７を備えない点のみにおいて上記実施形態の放射線検出器１Ａと相違している。本実施例では、枠部材７を有する放射線検出器１Ａと枠部材７を有さない放射線検出器９１とをサンプルとして、枠部材７の有無による防湿性能の違いについて試験した。試験では、温度を５０℃、相対湿度を９０％に調整した恒温槽内に各サンプルを配置し、Ｘ線特性（解像度、発光量）の推移を計測した。解像度の計測結果を表１に示す。また、発光量の計測結果を表２に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000002
　表１では、初期のＣＴＦ（解像度：Contrast Transfer Function）を１００％としたときの、各時間経過時のＣＴＦの相対値を示している。また、表２では、初期のシンチレータ層の発光量を１００％としたときの、各時間経過時の発光量の相対値を示している。いずれの結果からも、枠部材を備えていない場合に比べて、枠部材を備えている場合には、放射線検出器の性能の大きな低下はみられなかった。このような結果から、枠部材を有することによって、放射線検出器におけるシンチレータ層の防湿性を高めることができることが確認された。
　一形態の放射線検出器の製造方法によれば、シンチレータ層が形成されている領域の防湿性を高めることができる。
　１Ａ…放射線検出器、２…センサパネル、３…シンチレータ層、５…中間層、６…樹脂枠、６ａ…第１樹脂枠、６ｂ…第２樹脂枠、７…枠部材、７ａ…ガラスロッド、８…保護板。
 

Claims (7)

  1. 　複数の光電変換素子を含むセンサパネルの主面上に、複数の柱状結晶を含むシンチレータ層を気相堆積法によって形成する第１工程と、
    　前記シンチレータ層を囲うように前記主面上に樹脂枠を形成すると共に、前記樹脂枠の外周に沿って前記樹脂枠に接するように無機固形材料からなる枠部材を配置する第２工程と、
    　保護板を前記樹脂枠に接着することにより、前記シンチレータ層を封止する第３工程と、
    　前記樹脂枠を硬化する第４工程と、を含む、放射線検出器の製造方法。
  2. 　前記樹脂枠は、第１樹脂枠と第２樹脂枠とを含み、
    　前記第２工程では、前記シンチレータ層を囲うように前記第１樹脂枠を形成し、前記第１樹脂枠の外周に沿って前記第１樹脂枠に接するように前記枠部材を配置し、前記シンチレータ層を囲うように前記第１樹脂枠上に前記第２樹脂枠を形成する、請求項１に記載の放射線検出器の製造方法。
  3. 　前記第２工程では、前記枠部材を配置した後であって、前記第２樹脂枠を形成する前に、前記第１樹脂枠を硬化する、請求項２に記載の放射線検出器の製造方法。
  4. 　前記第１工程と前記第２工程との間に、中間層によって前記シンチレータ層の表面及び側面を被覆する第５工程をさらに含む、請求項１～３のいずれか一項に記載の放射線検出器の製造方法。
  5. 　前記第２工程では、前記中間層と接するように前記樹脂枠を形成する、請求項４に記載の放射線検出器の製造方法。
  6. 　前記樹脂枠は紫外線硬化樹脂を含む、請求項１～５のいずれか一項に記載の放射線検出器の製造方法。
  7. 　前記枠部材はガラスロッドである、請求項１～６のいずれか一項に記載の放射線検出器の製造方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021094076A (ja) * 2019-12-13 2021-06-24 コニカミノルタ株式会社 放射線検出パネル及び放射線画像検出器

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7240998B2 (ja) 2018-11-13 2023-03-16 キヤノン電子管デバイス株式会社 放射線検出モジュール、放射線検出器、及び放射線検出モジュールの製造方法
JP7199332B2 (ja) * 2019-10-07 2023-01-05 キヤノン電子管デバイス株式会社 放射線検出モジュールの製造方法
CN112540395A (zh) * 2020-12-04 2021-03-23 清远先导材料有限公司 闪烁晶体阵列及其组装方法和拆卸方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001051951A1 (fr) * 2000-01-13 2001-07-19 Hamamatsu Photonics K.K. Capteur d'image radiologique et panneau de scintillateur
US20030001100A1 (en) * 2001-06-29 2003-01-02 Dejule Michael Clement Cover plate having spacer lip with hermetic barrier for radiation imager and method of manufacturing same
JP2003262676A (ja) * 2001-12-06 2003-09-19 General Electric Co <Ge> ディジタルＸ線検出器アセンブリの寿命を改善する直接式ＣｓＩシンチレータ・コーティング
WO2011108156A1 (ja) * 2010-03-02 2011-09-09 コニカミノルタエムジー株式会社 放射線検出パネル、放射線画像検出器、放射線検出パネルの製造方法および放射線画像検出器の製造方法
JP2012185123A (ja) * 2011-03-08 2012-09-27 Sony Corp 放射線撮像装置および放射線撮像装置の製造方法
JP2015232503A (ja) * 2014-06-10 2015-12-24 株式会社東芝 放射線検出器及びその製造方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2884350B2 (ja) 1989-05-09 1999-04-19 コニカ株式会社 放射線画像変換パネル
AU5878898A (en) 1997-02-14 1998-09-08 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation detection device and method of producing the same
CN1270191C (zh) * 2000-01-13 2006-08-16 浜松光子学株式会社 放射线图像传感器及闪烁器板
US6642524B2 (en) * 2002-01-09 2003-11-04 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Scintillator sealing for solid state X-ray detector
JP2004335580A (ja) 2003-05-01 2004-11-25 Canon Inc 放射線撮像装置の製造方法
US7067817B2 (en) * 2004-01-29 2006-06-27 Hamamatsu Photonics K.K. Radiation image sensor and making method of same
US20080311484A1 (en) * 2007-06-15 2008-12-18 Hamamatsu Photonicfs K.K. Radiation image conversion panel, scintillator panel, and radiation image sensor
JP4764407B2 (ja) 2007-11-20 2011-09-07 東芝電子管デバイス株式会社 放射線検出器及びその製造方法
JP2010243188A (ja) 2009-04-01 2010-10-28 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 放射線検出パネル、放射線画像検出器、放射線検出パネルの製造方法および放射線画像検出器の製造方法
JP2011174830A (ja) * 2010-02-25 2011-09-08 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 放射線検出パネルおよび放射線画像検出器
US8604440B2 (en) * 2010-03-09 2013-12-10 The University Of Chicago Use of flat panel microchannel photomultipliers in sampling calorimeters with timing
JP5178900B2 (ja) 2010-11-08 2013-04-10 富士フイルム株式会社 放射線検出器
JP5728250B2 (ja) 2011-03-01 2015-06-03 キヤノン株式会社 放射線検出装置、シンチレータパネル、それらの製造方法、および放射線検出システム
JP6092568B2 (ja) * 2012-10-11 2017-03-08 キヤノン株式会社 放射線検出装置及び放射線検出システム
JP6523620B2 (ja) * 2014-06-16 2019-06-05 キヤノン電子管デバイス株式会社 放射線検出器及びその製造方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001051951A1 (fr) * 2000-01-13 2001-07-19 Hamamatsu Photonics K.K. Capteur d'image radiologique et panneau de scintillateur
US20030001100A1 (en) * 2001-06-29 2003-01-02 Dejule Michael Clement Cover plate having spacer lip with hermetic barrier for radiation imager and method of manufacturing same
JP2003262676A (ja) * 2001-12-06 2003-09-19 General Electric Co <Ge> ディジタルＸ線検出器アセンブリの寿命を改善する直接式ＣｓＩシンチレータ・コーティング
WO2011108156A1 (ja) * 2010-03-02 2011-09-09 コニカミノルタエムジー株式会社 放射線検出パネル、放射線画像検出器、放射線検出パネルの製造方法および放射線画像検出器の製造方法
JP2012185123A (ja) * 2011-03-08 2012-09-27 Sony Corp 放射線撮像装置および放射線撮像装置の製造方法
JP2015232503A (ja) * 2014-06-10 2015-12-24 株式会社東芝 放射線検出器及びその製造方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP3438704A4 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021094076A (ja) * 2019-12-13 2021-06-24 コニカミノルタ株式会社 放射線検出パネル及び放射線画像検出器
JP7490951B2 (ja) 2019-12-13 2024-05-28 コニカミノルタ株式会社 放射線検出パネル及び放射線画像検出器

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