WO2017038622A1 - 荷電粒子放射線計測方法および荷電粒子放射線計測装置 - Google Patents
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Abstract
Description
他方でZnS:Ag,Cu等は、高密度の放射線による、その発光強度の著しい劣化が問題となっており、高頻度の交換が必要である。
α型SiAlONは、一般式:MySi12-(m+n)Al(m+n)OnN16-n(Mは、Li、Ca、Mg、Y及びランタニド元素(LaとCeを除く)から選ばれる少なくとも1種の元素とEu、Ce、Tb、Yb、Sm、Dy、Er、Prから選ばれる少なくとも1種の発光中心を含む。y=m/p(p:Mの原子価))で示され、0.3<m<4.5、0≦n<2.5の範囲の蛍光体である。
シンチレータを構成するSiAlON蛍光体の組成によって発光波長の調整が可能であり、これにより、計測機器の読み取り効率を改善することができる。
また機構部品、光学部品、ならびに計測部は測定対象に適した幾何学的構造、配置を行う必要があるため、その構造は目的に応じて種々の形態をとってよい。計測部は1次元、2次元の計測機器を用いることで、観察様式を変更可能である。
(実施例1)
β型SiAlON:Eu粉末(デンカ(株)製GR-200グレード、β型SiAlON、平均粒子径:21μm)を水ガラスに分散させて炭素製の板上に塗膜厚み10μm以下で塗布して均一に固定させ、シンチレータを作製した。このシンチレータを図1に示すような放射線計測機器に取り付けて荷電粒子の照射試験を行った。
α型SiAlON:Eu粉末(デンカ(株)製YL-600Aグレード、α型SiAlON、平均粒子径:15μm)を用い、実施例1と同様の方法にてシンチレータを作製し、荷電粒子の照射試験を行った。
比較例1として、上記のβ型SiAlON:Eu粉末に替えてZnS:Ag蛍光体粉末を用い、実施例1と同様の条件にて荷電粒子の照射試験を行った。
また、α型SiAlONを用いた実施例2では、β型SiAlONと比較して長波長側に荷電粒子励起発光が観察された。α型SiAlONの発光強度の高さは、β型SiAlONに比較して低いが、発光スペクトルを積分した発光強度では、同程度の値が得られた。
荷電粒子の照射量の増加とともにZnS:Agを用いた比較例1の発光強度は著しく減衰していくことがわかる。一方、β型SiAlON:Eu蛍光体を用いた実施例1の場合は、発光強度の減衰が見られず高密度照射により蛍光特性が劣化しないことが確認できる。α型SiAlON:Eu蛍光体を用いた実施例2では、発光強度の減衰は見られるが、ZnS:Agを用いた比較例1に比べると減衰は小さいことが分かる。
更に、図2に示すようにビームスポットの2次元的な計測が可能であり、一次放射線の分布を測定することが可能である。
Claims (6)
- SiAlON蛍光体を主成分とする蛍光体を含むシンチレータを用いる荷電粒子放射線計測方法。
- SiAlON蛍光体が、一般式:EuxSi6-zAlzOzN8-zで示され、0.01≦x≦0.5、0<z≦4.2であり、発光中心Euを含有するβ型SiAlONを主成分とする蛍光体である請求項1に記載の荷電粒子放射線計測方法。
- SiAlON蛍光体が、一般式:MySi12-(m+n)Al(m+n)OnN16-n(Mは、Li、Ca、Mg、Y及びランタニド元素(LaとCeを除く)から選ばれる少なくとも1種の元素とEu、Ce、Tb、Yb、Sm、Dy、Er、Prから選ばれる少なくとも1種の発光中心を含む。y=m/p(p:Mの原子価))で示され、0.3<m<4.5、0≦n<2.5の範囲のα型SiAlONを主成分とする蛍光体である請求項1に記載の荷電粒子放射線計測方法。
- SiAlON蛍光体を主成分とする蛍光体を含むシンチレータと、
シンチレータからの光を選択的に集光する光学部品と、
放射線に起因する光を読み取る計測部とを含む、荷電粒子放射線計測装置。 - SiAlON蛍光体が、一般式:EuxSi6-zAlzOzN8-zで示され、0.01≦x≦0.5、0<z≦4.2であり、発光中心Euを含有するβ型SiAlONを主成分とする蛍光体である請求項4に記載の荷電粒子放射線計測装置。
- SiAlON蛍光体が、一般式:MySi12-(m+n)Al(m+n)OnN16-n(Mは、Li、Ca、Mg、Y及びランタニド元素(LaとCeを除く)から選ばれる少なくとも1種の元素とEu、Ce、Tb、Yb、Sm、Dy、Er、Prから選ばれる少なくとも1種の発光中心を含む。y=m/p(p:Mの原子価))で示され、0.3<m<4.5、0≦n<2.5の範囲のα型SiAlONを主成分とする蛍光体である請求項4に記載の荷電粒子放射線計測装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20220029811A (ko) * | 2020-08-27 | 2022-03-10 | 선문대학교 산학협력단 | 온도 센서용 α-사이알론 세라믹스 및 그 제조방법 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116338760A (zh) * | 2021-12-22 | 2023-06-27 | 中硼(厦门)医疗器械有限公司 | 中子剂量测量方法及装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007302757A (ja) * | 2006-05-10 | 2007-11-22 | Denki Kagaku Kogyo Kk | α型サイアロン蛍光体及びその製造方法、並びに照明器具 |
WO2014030637A1 (ja) * | 2012-08-22 | 2014-02-27 | 電気化学工業株式会社 | βサイアロンの製造方法、βサイアロン及び発光装置 |
JP2015111322A (ja) * | 2013-12-06 | 2015-06-18 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 位置検出装置、位置入力装置および画像表示システム |
WO2015133612A1 (ja) * | 2014-03-06 | 2015-09-11 | 公益財団法人神奈川科学技術アカデミー | 透明蛍光サイアロンセラミックスおよびその製造方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6586193B2 (en) * | 1996-04-25 | 2003-07-01 | Genicon Sciences Corporation | Analyte assay using particulate labels |
JP5589196B2 (ja) * | 2005-09-07 | 2014-09-17 | 独立行政法人日本原子力研究開発機構 | ZnS蛍光体を用いた中性子検出用シンチレータ及び粒子線検出用シンチレータ |
CN102643645B (zh) * | 2006-05-10 | 2014-05-07 | 电气化学工业株式会社 | 赛隆荧光粉及其制备方法以及使用该荧光粉的照明器具和发光元件 |
EP2036966B1 (en) * | 2006-07-05 | 2017-10-25 | Ube Industries, Ltd. | Sialon-base oxynitride phosphors and process for production thereof |
JP4891336B2 (ja) * | 2006-11-20 | 2012-03-07 | 電気化学工業株式会社 | 蛍光体及びその製造方法、並びに発光装置 |
JP2010127862A (ja) * | 2008-11-28 | 2010-06-10 | Japan Atomic Energy Agency | α線・β線同時測定式体表面モニタ |
GB2499391B (en) * | 2012-02-14 | 2015-11-04 | Symetrica Ltd | Neutron detector |
JP6042269B2 (ja) * | 2013-05-22 | 2016-12-14 | 住友重機械工業株式会社 | 中性子捕捉療法装置、及び中性子線の測定方法 |
US10221353B2 (en) * | 2014-03-31 | 2019-03-05 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Wavelength converting compositions, wavelength converters and devices including the same |
US10103003B2 (en) * | 2015-03-25 | 2018-10-16 | Hitachi High-Technologies Corporation | Charged particle beam device and sample observation method in charged particle beam device |
CN107710425B (zh) * | 2015-06-24 | 2020-01-17 | 株式会社东芝 | 白色光源系统 |
JP6288061B2 (ja) * | 2015-12-10 | 2018-03-07 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置の製造方法 |
-
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007302757A (ja) * | 2006-05-10 | 2007-11-22 | Denki Kagaku Kogyo Kk | α型サイアロン蛍光体及びその製造方法、並びに照明器具 |
WO2014030637A1 (ja) * | 2012-08-22 | 2014-02-27 | 電気化学工業株式会社 | βサイアロンの製造方法、βサイアロン及び発光装置 |
JP2015111322A (ja) * | 2013-12-06 | 2015-06-18 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 位置検出装置、位置入力装置および画像表示システム |
WO2015133612A1 (ja) * | 2014-03-06 | 2015-09-11 | 公益財団法人神奈川科学技術アカデミー | 透明蛍光サイアロンセラミックスおよびその製造方法 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
See also references of EP3343248A4 * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20220029811A (ko) * | 2020-08-27 | 2022-03-10 | 선문대학교 산학협력단 | 온도 센서용 α-사이알론 세라믹스 및 그 제조방법 |
KR102440648B1 (ko) | 2020-08-27 | 2022-09-07 | 선문대학교 산학협력단 | 온도 센서용 α-사이알론 세라믹스 및 그 제조방법 |
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