WO2013000663A1 - Verfahren und anordnung zur abstandsmessung bei einer laserbearbeitungsanlage - Google Patents

Verfahren und anordnung zur abstandsmessung bei einer laserbearbeitungsanlage Download PDF

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WO2013000663A1
WO2013000663A1 PCT/EP2012/060414 EP2012060414W WO2013000663A1 WO 2013000663 A1 WO2013000663 A1 WO 2013000663A1 EP 2012060414 W EP2012060414 W EP 2012060414W WO 2013000663 A1 WO2013000663 A1 WO 2013000663A1
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WO
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reference beam
workpiece
acousto
arrangement
optical
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PCT/EP2012/060414
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English (en)
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Andreas Russ
Pawel Drabarek
Roland Gauch
Gerald Franz
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Robert Bosch Gmbh
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02—Interferometers
    • G01B9/0209—Low-coherence interferometers
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/04—Automatically aligning, aiming or focusing the laser beam, e.g. using the back-scattered light
    • B23K26/046—Automatically focusing the laser beam
    • B23K26/048—Automatically focusing the laser beam by controlling the distance between laser head and workpiece

Definitions

  • the invention relates to a method for measuring the distance to a workpiece in a laser processing system, in which a processing beam which is reflected from the workpiece with a reference beam, which is coupled by means of a beam splitter from the processing beam superimposed on the principle of a short-coherent Interfe- rometers and Contrast values of the superimposed wavefronts are evaluated by means of a detector arrangement and a change in distance is determined therefrom.
  • the invention further relates to a measuring arrangement for carrying out the method according to the invention.
  • Laser processing systems allow a relative movement between one or more workpieces to be machined and a machining head to allow a removing and / or connecting material processing.
  • the machining head is equipped with an integrated or separately designed laser or electron beam source.
  • Typical fields of application for such a processing installation are the removal of material from a workpiece by means of a laser beam (laser ablation) or the welding of plastic parts or metal parts by means of a laser or electron beam.
  • high quality requirements are imposed on such machining processes, which, inter alia, also require precise guidance of the high-energy machining beam relative to the workpiece and control of the machining result.
  • complex sensor devices are usually required. Since the sensors for the application of the known measuring methods of the high-energy processing beam strong often a minimum distance must be maintained between the processing location of the processing beam and the measuring point.
  • the publication DE 10 2007 016444 A1 describes a processing device with at least one processing head, which is designed to provide at least one high-energy processing beam, in particular an electron beam or a laser beam. It is provided that the machining head is assigned at least one designed as an optical coherence tomography scanner, which is provided for a surface scan. In this arrangement or in the method described there, a separate measuring beam and the high-energy processing beam for the purpose of determining the distance to the workpiece surface are brought to interfering by means of interference evaluation.
  • the published patent application DE 101 55 203 A1 describes a laser processing device with a laser processing device for producing a processing beam directed to a processing point of a workpiece and a measuring system softening an illumination device and an observation device for detecting surface data of the workpiece in the region of the processing point at at least one measuring point. It is provided that the measuring system is at least partially connected to the processing device and is designed to detect SD surface data or vibrations, the measuring system is designed in the manner of an interferometer with a short coherent light source as a white light interferometer or KoHorenzlidat or is a confocal measuring device. It can u.a. be provided that is used as the illumination device of the processing laser, although no embodiment is disclosed for this variant.
  • the object relating to the method is achieved by using a phase modulator, beam expander or acousto-optic deflectors (AOD) and a diffraction optical grating in a Littrow configuration for modulating the transit time of the reference beam or the processing beam serving as measuring beam.
  • AOD acousto-optic deflectors
  • a reference mirror with modulation unit of the interferometer comprising a phase modulator, beam expander or acousto-optic deflectors and an optical diffraction grating in a Littrow.
  • the transit time modulation takes place by means of a modulation of the optical path length, whereby a first angular deflection of the reference beam and by means of a second acoustooptic deflector connected downstream of the first acoustooptic deflector reverse one of the first angular deflection Angle deflection and thus a parallel displacement of the reference beam is generated.
  • An upstream phase modulator in the form of, for example, an electro-optical modulator makes it possible to measure the interference contrast at different optical path differences.
  • An acousto-optic modulator consists of a transparent solid, glass or a crystal to which a piezoelectric element is attached at one end to produce sound waves. At the other end is a sound absorber to avoid reflections and standing waves.
  • the deflection of the light in an acousto-optical modulator works on the principle of diffraction of light on an optical grating.
  • the optical grating consists in the density fluctuations of a sound wave passing through the crystal.
  • the sound wave with signal frequencies of typically 10 to 2000 MHz causes a crystal in the periodic change of the density and thus a periodic modulation of the refractive index.
  • the reference beam is reflected back into itself as a result of the Littrow configuration. Due to the parallel displacement of the reference beam, this configuration causes a displacement of the optical path.
  • optical diffraction gratings so-called blaze grids can be used, which are characterized by a special topography of the surface.
  • the acousto-optic deflectors with AOD modulation signals which are generated by an AOD driver, are driven in parallel and the position of contrast maxima with respect to the signal values of the AOD modulation signals is evaluated. This allows a very accurate determination of changes in distance during a period of the AOD modulation signal.
  • the reference beam is widened by means of a beam expander and directed onto the optical diffraction grating inclined to the reference beam and, as a result of the Littrow configuration, the reference beam is reflected back into it.
  • This also allows a modulation of the optical path length in the reference arm of the measuring arrangement.
  • the reflected light wave has a wavefront having different optical path lengths.
  • a beam expander can be used as a telescope formed lens arrangement, wherein the reference beam is typically expanded to about 10 mm.
  • upstream phase modulator in the form of, for example, an electro-optical modulator allows to measure the interference contrast at different optical path differences.
  • the reference beam is superimposed after its reflection on the optical diffraction grating with the reflected beam from the workpiece and expanded by a second beam expander, wherein the interference pattern formed by a line or image sensor detected and the location of contrast maxima with respect to the position on the line or image sensor.
  • the detector arrangement is designed using line expanders as line or image sensors according to the principle of CCDs or CMOS cameras, as provided by a preferred embodiment variant, the interference patterns formed can be detected with high accuracy.
  • these sensors are characterized by a high contrast, so that contrast maxima for determining the workpiece positions can be optimally evaluated.
  • a preferred application of the method provides for the use for controlling a focal position of the machining beam, a capillary depth of a weld, a drilling depth or a removal depth.
  • FIG. 1 shows a schematic representation of a measuring arrangement in a laser processing system
  • FIG. 2 shows a measuring arrangement with acoustooptic deflectors
  • FIG. 3 shows a photodetector signal waveform diagram for two distances of a workpiece
  • FIG. 5 shows a further signal course diagram for two distances of the workpiece, measured with a line or area detector.
  • FIG. 1 schematically shows a principal measuring arrangement in a laser processing installation 1.
  • an ultrashort pulse laser (UKP) can be used as the laser source 10 or as the processing laser.
  • the ultrashort pulse laser has a short coherence length in the range of 1 mm.
  • the light beam is split in a beam splitter 20 into two partial beams, a measuring beam and a reference beam. It is advantageous if the beam splitter 20 has a high transmission of, for example, 96%.
  • the processing beam 1 1, which is a measuring beam at the same time, is usually conducted via a scanner arrangement 30 with corresponding optics 31 to the workpiece 40 to be processed, which is usually located on a processing table 50.
  • the reference beam is converted into a reference mirror with a modulation unit 60 headed.
  • the modulation unit modulates the optical path length and the light phase of the reference beam.
  • the light reflected on the workpiece 40 is guided on its return path to the beam splitter 20, superimposed with the reference beam and illuminates a detector arrangement 70, which is designed as a photodetector.
  • the two beams may interfere when the difference of the optical paths is less than the coherence length of the light.
  • the contrast of the interference signal decreases as the differences of the optical paths increase.
  • the light is converted into an electrical signal and sent to an evaluation computer 80. By evaluating the interference contrast with respect to the path length modulator signal, the distance or change in distance to the workpiece is measured.
  • FIG. 2 shows an exemplary arrangement of a measuring arrangement, in which the reference mirror with modulation unit 60 from FIG. 1 comprises two acousto-optic
  • Deflectors (AOD) 62, 63 and a phase modulator 61 is formed.
  • the reference beam passes through the phase modulator 61, which may be formed as an electro-optical modulator.
  • the phase modulation is used to measure the interference contrast at different optical path differences.
  • the modulation of the optical path length is effected by the use of a first acousto-optic deflector 62 and a second acousto-optic deflector 63 and a diffraction grating 64, which are arranged in a Littrow configuration.
  • the diffraction optical grating 64 is tilted with respect to the light beam axis such that the diffracted light beam travels back as if it had been reflected perpendicularly by a mirror.
  • the parallel, horizontal displacement of the reference beam due to the inclined optical diffraction grating 64 generates a path length modulation.
  • This parallel shift is realized by the two AODs, which are driven by the same signal of an AOD driver 90.
  • the first angular deflection of the light beam in the first acousto-optic deflector 62 is transferred by a second to the first negative angular deflection in the second acousto-optic deflector 63 in the parallel, horizontal displacement, so that an optical displacement 65 by the different beam position at the scanning start 66th and 67 at the scan end.
  • the distance or pitch change 207 of the workpiece 40 is measured by taking the position of a maximum at the contrast 201 with respect to the instantaneous frequency of the AOD modulation signal for the deflection angle over time 202 within a period 208 of the AOD signal , FIG.
  • FIG. 3 shows this schematically in a signal waveform diagram 200, in which the contrast 201 is represented as a photodetector signal course for a first and a second workpiece position 204, 206.
  • the distance change 207 can be determined by evaluating the maxima 203, 205 for the two workpiece positions 204, 206.
  • FIG. 4 schematically shows an alternative measuring arrangement to FIG. 2, in which the reference mirror with modulation unit 60 is designed with a beam expander 100 and the optical diffraction grating 64.
  • the reference beam passes through the e.g. is designed as an electro-optical modulator phase modulator 61 and is then in the beam expander 100, which is designed as a telescope, expanded and illuminated with a large diameter, typically proves e.g. 10 mm, the optical diffraction grating 64 in also a Littrow configuration.
  • the reflected light wave has a wavefront having different optical path lengths.
  • the reference wave is superimposed on the reflected wave on the workpiece 40 in the beam splitter 20 and expanded by means of a second beam splitter 100.
  • the two partial beams then illuminate the detector arrangement 70, which in this case is designed as a line or image sensor in the form of a CCD or a CMOS camera.
  • the distance or the change in distance 207 to the workpiece 40 is measured, in which the position of the contrast maximum is evaluated with respect to positions on the line or image sensor, as shown schematically in FIG.
  • the distance between the maxima 203, 205 for the workpiece positions 204, 206 and thus the change in distance 207 with respect to a lateral extent of the detector surface or line 209 is shown.

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Vermessung des Abstandes zu einem Werkstück bei einer Laserbearbeitungsanlage, bei der ein Bearbeitungsstrahl, welcher vom Werkstück reflektiert wird, mit einem Referenzstrahl, der mittels eines Strahlteilers vom Bearbeitungsstrahl ausgekoppelt wird, nach dem Prinzip eines kurzkohärenten Interferometers überlagert und Kontrastwerte der überlagerten Wellenfronten mittels einer Detektoranordnung ausgewertet und daraus eine Abstandsänderung bestimmt wird. Erfindungsgemäß ist dabei vorgesehen, dass für eine Modulation der Laufzeit des Referenzstrahls oder des als Messstrahl dienenden Bearbeitungsstrahls ein Phasenmodulator, Strahlaufweiter oder akustooptische Deflektoren und ein optisches Beugungsgitter in einer Littrow-Konfiguration eingesetzt werden. Die Erfindung sieht weiterhin eine entsprechende Anordnung zur Durchführung des Verfahrens vor. Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren und der Messanordnung zur Durchführung des Verfahrens können exakte Abstandsmessungen zwischen dem Bearbeitungskopf und der Werkstückoberfläche durchgeführt werden, wobei lediglich der Bearbeitungsstrahl zur Beleuchtung der Oberfläche benötigt wird, was die Komplexität und damit die Kosten für eine derartige Anlage senkt.

Description

Beschreibung
Titel
Verfahren und Anordnung zur Abstandsmessung bei einer Laserbearbeitungsanlage Stand der Technik
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Vermessung des Abstandes zu einem Werkstück bei einer Laserbearbeitungsanlage, bei der ein Bearbeitungsstrahl, welcher vom Werkstück reflektiert wird, mit einem Referenzstrahl, der mittels eines Strahlteilers vom Bearbeitungsstrahl ausgekoppelt wird, nach dem Prinzip eines kurzkohärenten Interfe- rometers überlagert und Kontrastwerte der überlagerten Wellenfronten mittels einer Detektoranordnung ausgewertet und daraus eine Abstandsänderung bestimmt wird.
Die Erfindung betrifft weiterhin eine Messanordnung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens.
Laserbearbeitungsanlagen ermöglichen eine Relativbewegung zwischen einem oder mehreren zu bearbeitenden Werkstücken und einem Bearbeitungskopf, um eine abtragende und/ oder verbindende Materialbearbeitung zu ermöglichen. Der Bearbeitungskopf ist mit einer integrierten oder separat ausgeführten Laser- oder Elektronenstrahl- quelle ausgerüstet. Typische Anwendungsgebiete für eine derartige Bearbeitungsanlage sind das Abtragen von Material eines Werkstücks mittels eines Laserstrahls (Lase- rablation) oder das Verschweißen von Kunststoffteilen oder Metallteilen mittels eines Laser- oder Elektronenstrahls. Je nach Anwendungsgebiet werden an derartige Bearbeitungsprozesse hohe Qualitätsanforderungen gestellt, die unter anderem auch eine exakte Führung des hochenergetischen Bearbeitungsstrahls gegenüber dem Werkstück sowie eine Kontrolle des Bearbeitungsergebnisses erfordern. Dazu sind in der Regel aufwendige Sensoreinrichtungen erforderlich. Da die Sensoren für die Anwendung der bekannten Messverfahren von dem energiereichen Bearbeitungsstrahl stark beeinflusst werden, ist oft ein Mindestabstand zwischen dem Bearbeitungsort des Bearbeitungsstrahls und der Messstelle einzuhalten.
Einer Oberflächenabtastung zum Zwecke einer exakten Abstandsnachführung kommt bei derartigen Bearbeitungseinrichtungen eine besondere Bedeutung zu. In der Offenlegungsschrift DE 10 2007 016444 A1 ist eine Bearbeitungseinrichtung mit wenigstens einem Bearbeitungskopf beschrieben, der zur Bereitstellung wenigstens eines hochenergetischen Bearbeitungsstrahls, insbesondere eines Elektronen- oder Laserstrahls ausgebildet ist. Dabei ist vorgesehen, dass dem Bearbeitungskopf wenigstens eine als optischer Kohärenztomograph ausgebildete Abtasteinrichtung zugeordnet ist, die für eine Oberflächenabtastung vorgesehen ist. Bei dieser Anordnung bzw. bei dem dort beschrieben Verfahren werden ein separater Messstrahl und der hochenergetische Bearbeitungsstrahl zum Zwecke der Abstandsbestimmung zur Werkstückoberfläche mittels Interferenzauswertung zum Interferieren gebracht.
Die Offenlegungsschrift DE 101 55 203 A1 beschreibt eine Laserbearbeitungsvorrichtung mit einem Laser-Bearbeitungsgerät zum Erzeugen eines an eine Bearbeitungsstelle eines Werkstücks gelenkten Bearbeitungsstrahls und einem eine Beleuchtungseinrichtung und eine Beobachtungsvorrichtung aufweichenden Messsystems zum Erfassen von Oberflächendaten des Werkstücks im Bereich der Bearbeitungsstelle an mindestens einer Messstelle. Dabei ist vorgesehen, dass das Messsystem zumindest teilweise mit dem Bearbeitungsgerät verbunden ist und zum Erfassen von SD-Oberflächendaten oder Schwingungen ausgebildet ist, wobei das Messsystem nach Art eines Interferometers mit kurzkohärenter Lichtquelle als Weißlichtinterferometer oder Kohärenzlidat ausgebildet ist oder eine konfokale Messvorrichtung ist. Dabei kann u.a. vorgesehen sein, dass als Beleuchtungsvorrichtung der Bearbeitungslaser ausgenutzt ist, wobei allerdings für diese Variante kein Ausführungsbeispiel offenbart wird.
Es ist daher Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren zur Abstandsmessung bereit zu stel- len, bei dem das Licht des Bearbeitungslasers, ohne eine zweite Strahlquelle einsetzen zu müssen, zur Abstandsmessung verwendet wird.
Es ist weiterhin Aufgabe der Erfindung, eine entsprechende Messanordnung zur Durchführung des Verfahrens bereitzustellen. Offenbarung der Erfindung
Die das Verfahren betreffende Aufgabe wird dadurch gelöst, dass für eine Modulation der Laufzeit des Referenzstrahls oder des als Messstrahl dienenden Bearbeitungs- Strahls ein Phasenmodulator, Strahlaufweiter oder akustooptische Deflektoren (AOD) und ein optisches Beugungsgitter in einer Littrow-Konfiguration eingesetzt werden.
Die die Messanordnung betreffende Aufgabe wird dadurch gelöst, ein Referenzspiegel mit Modulationseinheit des Interferometers einen Phasenmodulator, Strahlaufweiter oder akustooptische Deflektoren und ein optisches Beugungsgitter in einer Littrow-
Konfiguration aufweisen.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren und der Messanordnung zur Durchführung des Verfahrens können exakte Abstandsmessungen zwischen dem Bearbeitungskopf und der Werkstückoberfläche durchgeführt werden, wobei lediglich der Bearbeitungsstrahl zur Beleuchtung der Oberfläche benötigt wird, was die Komplexität und damit die Kosten für eine derartige Anlage senkt.
Dabei ist in einer bevorzugten Verfahrensvariante vorgesehen, dass die Laufzeitmodu- lation mittels einer Modulation der optischen Weglänge erfolgt, wobei mittels eines ersten akustooptischen Deflektors eine erste Winkelablenkung des Referenzstrahls und mittels eines, dem ersten akustooptischen Deflektor nachgeschalteten zweiten akustooptischen Deflektors eine der ersten Winkelablenkung vorzeichenmäßig umgekehrte Winkelablenkung und damit eine parallele Verschiebung des Referenzstrahles erzeugt wird. Dies ermöglicht eine sehr genaue Einstellung der Parallel-Verschiebung der
Strahllage. Ein dabei vorgeschalteter Phasenmodulator in Form z.B. eines elektroopti- schen Modulators ermöglicht es, den Interferenzkontrast bei unterschiedlichen optischen Wegdifferenzen zu messen. Ein akustooptischer Modulator besteht aus einem durchsichtigen Festkörper, Glas oder einem Kristall, an dem zur Erzeugung von Schallwellen an einem Ende ein Piezoelement angebracht ist. Am anderen Ende befindet sich ein Schallabsorber, um Reflexionen und stehende Wellen zu vermeiden. Die Ablenkung des Lichts in einem akustooptischen Modulator funktioniert nach dem Prinzip der Beugung von Licht an einem optischen Gitter. Das optische Gitter besteht in den Dichteschwankungen einer den Kristall durchlaufenden Schallwelle. Die Schallwel- le mit Signalfrequenzen von typischerweise 10 bis 2000 MHz bewirkt im Kristall eine periodische Änderung der Dichte und damit eine periodische Modulation des Brechungsindex.
Wird der parallel verschobene Referenzstrahl auf das zum Referenzstrahl geneigte op- tische Beugungsgitter geleitet, wird infolge der Littrow-Konfiguration der Referenzstrahl in sich zurück reflektiert. Durch die parallele Verschiebung des Referenzstrahls wird durch diese Konfiguration eine Verschiebung des optischen Wegs bewirkt. Als optische Beugungsgitter können so genannte Blazegitter verwendet werden, die sich durch eine spezielle Topografie der Oberfläche auszeichnen.
Dabei ist in einer bevorzugten Verfahrensvariante vorgesehen, dass die akustoopti- schen Deflektoren mit AOD-Modulationssignalen, welche von einem AOD-Treiber generiert werden, parallel angesteuert werden und die Lage von Kontrastmaxima in Bezug auf die Signalwerte der AOD-Modulationssignale ausgewertet werden. Dies er- möglicht eine sehr genaue Bestimmung von Abstandsänderungen während einer Periode des AOD-Modulationssignals.
In einer alternativen Messanordnung wird der Referenzstrahl mittels eines Strahlauf- weiters aufgeweitet und auf das zum Referenzstrahl geneigte optische Beugungsgitter geleitet und infolge der Littrow-Konfiguration der Referenzstrahl in sich zurück reflektiert. Dies ermöglicht ebenfalls eine Modulation der optischen Weglänge im Referenzarm der Messanordnung. In dieser Anordnung hat die rückgebeugte Lichtwelle eine Wellenfront, die unterschiedliche, optische Weglängen aufweist. Als Strahlaufweiter kann eine als Teleskop ausgebildete Linsenanordnung verwendet werden, wobei der Referenzstrahl typischerweise auf etwa 10 mm aufgeweitet wird. Ein dabei ebenfalls vorgeschalteter Phasenmodulator in Form z.B. eines elektrooptischen Modulators ermöglicht, den Interferenzkontrast bei unterschiedlichen optischen Wegdifferenzen zu messen. Zur Auswertung des Abstandes bzw. der Abstandsänderungen ist vorgesehen, dass der Referenzstrahl nach seiner Reflektion am optischen Beugungsgitter mit dem vom Werkstück reflektierten Strahl überlagert und von einem zweiten Strahlaufweiter aufgeweitet wird, wobei das dabei gebildete Interferenzmuster von einem Linien- oder Bildsensor detektiert und die Lage von Kontrastmaxima in Bezug auf die Position auf dem Linien- oder Bildsensor ausgewertet werden. Ist die Detektoranordnung bei Verwendung von Strahlaufweitern als Linien- oder Bildsensoren nach dem Prinzip von CCDs oder CMOS-Kameras ausgeführt, wie dies eine bevorzugte Ausführungsvariante vorsieht, können die gebildeten Interferenzmuster mit hoher Genauigkeit detektiert werden. Zudem zeichnen sich diese Sensoren durch ei- nen hohen Kontrast aus, so dass Kontrastmaxima zur Bestimmung der Werkstückpositionen optimal ausgewertet werden können.
Eine bevorzugte Anwendung des Verfahrens, wie es zuvor mit seinen Varianten beschrieben wurde, sieht den Einsatz zur Regelung einer Fokuslage des Bearbeitungs- Strahls, einer Kapillartiefe einer Schweißung, einer Bohrtiefe oder einer Abtragtiefe vor.
Mit den beschriebenen Maßnahmen können in Richtung nahe der Senkrechten zur Messstelle besonders enge Hohlräume erkannt und vermessen werden.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand eines in den Figuren dargestellten Ausfüh- rungsbeispiels näher erläutert. Es zeigen:
Figur 1 in schematischer Darstellung eine Messanordnung bei einer Laserbearbeitungsanlage,
Figur 2 eine Messanordnung mit akustooptischen Deflektoren,
Figur 3 ein Fotodetektor-Signalverlaufsdiagramm für zwei Abstände eines Werkstücks,
Figur 4 eine Messanordnung mit Strahlaufweiter und
Figur 5 ein weiteres Signalverlaufsdiagramm für zwei Abstände des Werkstücks, gemessen mit einem Linien- bzw. Flächendetektor.
Figur 1 zeigt schematisch eine prinzipielle Messanordnung bei einer Laserbearbeitungsanlage 1. Als Laserquelle 10 bzw. als Bearbeitungslaser kann beispielsweise ein Ultrakurzpulslaser (UKP) eingesetzt werden. Das Licht des Ultrakurzpulslasers hat eine kurze Kohärenzlänge im Bereich von 1 mm. Der Lichtstrahl wird in einem Strahlteiler 20 in zwei Teilstrahlen, einem Messstrahl und einem Referenzstrahl aufgeteilt. Vorteilhaft ist, wenn der Strahlteiler 20 eine große Transmission von beispielsweise 96 % aufweist. Der Bearbeitungsstrahl 1 1 , der gleichzeitig Messstrahl ist, wird üblicherweise über eine Scanneranordnung 30 mit entsprechender Optik 31 zu dem zu bearbeitenden Werkstück 40, welches sich üblicherweise auf einem Bearbeitungstisch 50 befin- det, geleitet. Der Referenzstrahl wird zu einem Referenzspiegel mit einer Modulations- einheit 60 geleitet. Die Modulationseinheit moduliert die optische Weglänge und die Lichtphase des Referenzstrahls.
Das auf dem Werkstück 40 reflektierte Licht wird auf seinem Rückweg zu dem Strahl- teiler 20 geleitet, mit dem Referenzstrahl überlagert und beleuchtet eine Detektoranordnung 70, welche als Fotodektor ausgebildet ist. Die beiden Strahlen können interferieren, wenn die Differenz der optischen Wege kleiner als die Kohärenzlänge des Lichtes ist. Der Kontrast des Interferenzsignals nimmt mit Zunahme der Differenzen der optischen Wege ab. Das Licht wird in ein elektrisches Signal umgewandelt und zu einem Auswerterechner 80 geleitet. Durch die Auswertung des Interferenzkontrastes in Bezug auf das Signal des Weglängen-Modulators wird der Abstand bzw. die Abstandsänderung zu dem Werkstück gemessen.
In Figur 2 ist eine beispielhafte Anordnung einer Messanordnung dargestellt, bei der der Referenzspiegel mit Modulationseinheit 60 aus Figur 1 aus zwei akustooptischen
Deflektoren (AOD) 62, 63 und einen Phasenmodulator 61 ausgebildet ist. Der Referenzstrahl durchläuft den Phasenmodulator 61 , der als elektrooptischer Modulator ausgebildet sein kann. Die Phasenmodulation wird benutzt, um den Interferenzkontrast bei unterschiedlichen optischen Wegdifferenzen zu messen. Die Modulation der optischen Weglänge erfolgt durch den Einsatz eines ersten akustooptischen Deflektors 62 und eines zweiten akustooptischen Deflektors 63 sowie einem optischen Beugungsgitter 64, welche in einer Littrow-Konfiguration angeordnet werden. In dieser Konfiguration ist das optische Beugungsgitter 64 in Bezug auf die Lichtstrahlachse derart geneigt, dass der gebeugte Lichtstrahl in sich zurück läuft, als wäre er lotrecht von einem Spiegel re- flektiert worden. Dabei erzeugt die parallele, horizontale Verschiebung des Referenzstrahles aufgrund des geneigten optischen Beugungsgitters 64 eine Weglängen-Modulation.
Diese parallele Verschiebung wird durch die zwei AODs realisiert, welche mit dem glei- chen Signal eines AOD-Treibers 90 angesteuert werden. In dieser Anordnung wird die erste Winkelablenkung des Lichtstrahls im ersten akustooptischen Deflektor 62 durch eine zweite zur ersten negativen Winkelablenkung im zweiten akustooptischen Deflektor 63 in die parallel, horizontale Verschiebung transferiert, so dass sich eine optische Wegverschiebung 65 durch die unterschiedliche Strahllage am Scann-Anfang 66 und am Scann-Ende 67 ergibt. Der Abstand bzw. eine Abstandsanderung 207 des Werkstückes 40 wird, gemessen, in dem die Lage eines Maximums beim Kontrast 201 in Bezug auf die momentane Frequenz des AOD-Modulationssignals für den Ablenkwinkel über die Zeit 202 innerhalb einer Periode 208 des AOD-Signals ausgewertet wird. Figur 3 zeigt dies schematisch in einem Signalverlaufsdiagramm 200, bei dem der Kontrast 201 als Fotodetektor- Signalverlauf für eine erste und eine zweite Werkstückposition 204, 206 dargestellt ist. Die Abstandsanderung 207 kann dabei durch Auswertung der Maxima 203, 205 für die beiden Werkstückpositionen 204, 206 bestimmt werden.
Figur 4 zeigt schematisch eine zur Figur 2 alternative Messanordnung, bei der der Referenzspiegel mit Modulationseinheit 60 mit einem Strahlaufweiter 100 und dem optischen Beugungsgitter 64 ausgebildet ist. Der Referenzstrahl durchläuft den z.B. als elektrooptischen Modulator ausgebildeten Phasenmodulator 61 und wird anschließend in dem Strahlaufweiter 100, welcher als Teleskop ausgebildet ist, aufgeweitet und beleuchtet mit einem großen Durchmesser, typisch erweise z.B. 10 mm das optische Beugungsgitter 64 in ebenfalls einer Littrow-Konfiguration. In dieser Anordnung hat die rückgebeugte Lichtwelle eine Wellenfront, die unterschiedliche, optische Weglängen aufweist. Die Referenzwelle wird mit der auf dem Werkstück 40 reflektierten Welle im Strahlteiler 20 überlagert und mittels eines zweiten Strahlteilers 100 aufgeweitet. Die beiden Teilstrahle beleuchten anschließend die Detektoranordnung 70, welche in diesem Fall als Linien- oder Bildsensor in Form eines CCD oder einer CMOS-Kamera ausgebildet ist.
Der Abstand bzw. die Abstandsänderung 207 zum Werkstück 40 wird gemessen, in dem die Lage des Kontrastmaximums in Bezug auf Positionen auf dem Linien- oder Bildsensor ausgewertet wird, wie dies in Figur 5 schematisch gezeigt ist. Im Gegensatz zu der in Figur 3 gezeigten Auswertung, ist der Abstand der Maxima 203, 205 für die Werkstückpositionen 204, 206 und damit die Abstandsänderung 207 in Bezug auf eine laterale Ausdehnung der Detektorfläche bzw. -linie 209 dargestellt.

Claims

Ansprüche
1 . Verfahren zur Vermessung des Abstandes zu einem Werkstück (40) bei einer Laserbearbeitungsanlage (1 ), bei der ein Bearbeitungsstrahl (1 1 ), welcher vom Werkstück (40) reflektiert wird, mit einem Referenzstrahl, der mittels eines Strahlteilers (20) vom Bearbeitungsstrahl (1 1 ) ausgekoppelt wird, nach dem Prinzip eines kurzkohärenten Interferometers überlagert und Kontrastwerte der überlagerten Wellenfronten mittels einer Detektoranordnung (70) ausgewertet und daraus eine Abstandsänderung (207) bestimmt wird, dadurch gekennzeichnet, dass für eine Modulation der Laufzeit des Referenzstrahls oder des als Messstrahl dienenden Bearbeitungsstrahls (1 1 ) ein Phasenmodulator (61 ), Strahlaufweiter (100) oder akustooptische Deflektoren (62, 63) und ein optisches Beugungsgitter (64) in einer Littrow-Konfiguration eingesetzt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die Laufzeitmodulation mittels einer Modulation der optischen Weglänge erfolgt, wobei mittels eines ersten akustooptischen Deflektors (62) eine erste Winkelablenkung des Referenzstrahls und mittels eines, dem ersten akustooptischen Deflektor (62) nachgeschalteten zweiten akustooptischen Deflektors (63) eine der ersten Winkelablenkung vorzeichenmäßig umgekehrte Winkelablenkung und damit eine parallele Verschiebung des Referenzstrahles erzeugt wird.
3. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass der parallel verschobene Referenzstrahl auf das zum Referenzstrahl geneigte optische Beugungsgitter (64) geleitet und infolge der Littrow-Konfiguration der Referenzstrahl in sich zurück reflektiert wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die akustooptischen Deflektoren (62, 63) mit AOD-Modulationssignalen, welche von einem AOD-Treiber (90) generiert werden, parallel angesteuert werden und die Lage von Kontrastmaxima in Bezug auf die Signalwerte der AOD- Modulationssignale ausgewertet werden.
5. Verfahren nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass der Referenzstrahl mittels eines Strahlaufweiters (100) aufgeweitet und auf das zum Referenzstrahl geneigte optische Beugungsgitter (64) geleitet und infolge der Littrow-Konfigura- tion der Referenzstrahl in sich zurück reflektiert wird.
Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Referenzstrahl nach seiner Reflektion am optischen Beugungsgitter (64) mit dem vom Werkstück (40) reflektierten Strahl überlagert und von einem zweiten Strahlaufweiter (100) aufgeweitet wird, wobei das dabei gebildete Interferenzmuster von einem Linienoder Bildsensor detektiert und die Lage von Kontrastmaxima in Bezug auf die Position auf dem Linien- oder Bildsensor ausgewertet werden.
Anwendung des Verfahrens gemäß den Ansprüchen 1 bis 6 zur Regelung einer Fokuslage des Bearbeitungsstrahls (1 1 ), einer Kapillartiefe einer Schweißung, einer Bohrtiefe oder einer Abtragtiefe.
8. Anordnung zur Vermessung des Abstandes zu einem Werkstück (40) bei einer
Laserbearbeitungsanlage (1 ), bei der ein Bearbeitungsstrahl (1 1 ), welcher vom Werkstück (40) reflektiert wird, mit einem Referenzstrahl, der mittels eines Strahlteilers (20) vom Bearbeitungsstrahl (1 1 ) auskoppelbar ist, nach dem Prinzip eines kurzkohärenten Interferometers überlagert und Kontrastwerte der überlagerten Wellenfronten mittels einer Detektoranordnung (70) auswertbar und daraus eine
Abstandsänderung (207) bestimmbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass ein Referenzspiegel mit Modulationseinheit (60) des Interferometers einen Phasenmodulator (61 ), Strahlaufweiter (100) oder akustooptische Deflektoren (62, 63) und ein optisches Beugungsgitter (64) in einer Littrow-Konfiguration aufweisen.
9. Anordnung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Detektoranordnung (70) bei Verwendung von Strahlaufweitern (100) als Linien- oder Bildsensoren nach dem Prinzip von CCDs oder CMOS-Kameras ausgeführt ist.
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