WO2012176700A1

WO2012176700A1 - 集積回路、集積回路を備えた表示パネル、集積回路の接続抵抗測定方法

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Publication number: WO2012176700A1
Application number: PCT/JP2012/065328
Authority: WO
Inventors: 誠玉木
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 2011-06-24
Filing date: 2012-06-15
Publication date: 2012-12-27
Anticipated expiration: 2013-12-24

Abstract

集積回路１６は、通常動作時に出力信号を出力側外部配線に出力する出力端子部が対を成して構成される出力端子対部（ＢｏｕｔＡ，ＢｏｕｔＢ）と、入力側外部配線１３と接続されて、接続抵抗測定時に測定信号を入出力する一対の測定信号端子部（Ｂｔ１，Ｂｔ２）と、接続抵抗測定時に、一対の測定信号端子部間の接続状態を切替える第１測定用スイッチＳＷＩＮと、接続抵抗測定時に、一対の測定信号端子部（Ｂｔ１，Ｂｔ２）と出力端子対部（ＢｏｕｔＡ，ＢｏｕｔＢ）との接続状態を切替える第２測定用スイッチ（ＳＷＡ、ＳＷＢ）と、第１測定用スイッチＳＷＩＮおよび第２測定用スイッチ（ＳＷＡ、ＳＷＢ）の切替え動作を制御するスイッチ制御部２０とを備える。

Description

集積回路、集積回路を備えた表示パネル、集積回路の接続抵抗測定方法

　本発明は、集積回路を接続配線に接続した際の接続部の抵抗を測定する技術に関する。

　従来、集積回路を接続配線に接続した際の接続部の抵抗を測定する技術として、例えば、特許文献１に記載の技術が知られている。特許文献１では、集積回路のデータ入力端子とデータ入力ラインとの接続抵抗を測定する際に、集積回路のアナログ処理を停止させ、接続抵抗の測定に係るデータ入力端子を基準電圧（グランド）に接続する技術が開示されている。

特開２０１０－２１０５２６号公報

（発明が解決しようとする課題）
　しかしながら、上記特許文献１に開示の技術では、データ入力側に関する接続抵抗値を、簡易かつより正確に測定できるものの、データ出力側に関する抵抗の測定については記載されておらず、データ出力側に関する抵抗の測定についても簡易かつより正確に測定できる技術が所望されていた。

　本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、集積回路のデータ出力側に関する接続抵抗値を、簡易かつ好適に測定できる技術を提供することを目的とする。

（課題を解決するための手段）
　上記課題を解決するために、本発明に係る集積回路は、外部配線に接続された状態において前記外部配線との接続抵抗を測定する接続抵抗測定機能を有する集積回路であって、入力側外部配線と接続される複数の入力端子部と、通常動作時に、前記複数の入力端子部から入力される入力信号に応じた信号処理を行うことによって出力信号を生成する出力信号生成部と、通常動作時に前記出力信号を出力側外部配線に出力する出力端子部が対を成して構成される出力端子対部と、前記入力側外部配線と接続されて、接続抵抗測定時に測定信号を入出力する一対の測定信号端子部と、接続抵抗測定時に、前記一対の測定信号端子部間の接続状態を切替える第１測定用スイッチと、接続抵抗測定時に、前記一対の測定信号端子部と前記出力端子対部との接続状態を切替える第２測定用スイッチと、接続抵抗測定時に、前記第１測定用スイッチおよび前記第２測定用スイッチの切替え動作を制御するスイッチ制御部とを備える。

　この構成によれば、第１測定用スイッチおよび第２測定用スイッチのスイッチ制御を適宜行うことによって、集積回路のデータ出力側に関する接続抵抗値を、簡易かつ好適に測定することができる。例えば、第１測定用スイッチをオンさせるとともに、第２測定用スイッチをオフさせることによって入力側接続抵抗を測定する。また、第１測定用スイッチをオフさせるとともに、第２測定用スイッチをオンさせることによって入力側接続抵抗と出力側接続抵抗とが加算された接続抵抗を測定する。加算された接続抵抗から入力側接続抵抗を減算することによって出力側接続抵抗を測定できる。

　また、前記スイッチ制御部は、前記一対の測定信号端子部と前記入力側外部配線との間の接続抵抗を測定する際に、前記第１測定用スイッチをオンさせるとともに、前記第２測定用スイッチをオフさせ、前記出力端子対部と前記出力側外部配線との間の接続抵抗を測定する際に、前記第１測定用スイッチをオフさせるとともに、前記第２測定用スイッチをオンさせるようにしてもよい。本構成によれば、集積回路のデータ出力側に関する接続抵抗値を、簡易かつ好適に測定することができる。

　また、前記第１測定用スイッチは、前記一対の測定信号端子部間に設けられた第１電界効果トランジスタによって構成され、前記第２測定用スイッチは、一方の測定信号端子部と一方の出力端子部との間に設けられた第２電界効果トランジスタと、他方の測定信号端子部と他方の出力端子部との間に設けられた第３電界効果トランジスタとによって構成されるようにしてもよい。この構成によれば、電界効果トランジスタのＶ－Ｉ特性から推定される電界効果トランジスタの電圧降下と、接続抵抗測定時に電界効果トランジスタに流れる電流（測定電流）とから電界効果トランジスタのオン抵抗を算出できる。そのため、電界効果トランジスタのオン抵抗を除いて接続抵抗値を測定することができ、より正確な出力側接続抵抗値を得ることができる。

　また、前記測定信号端子部は、前記複数の入力端子部のうちいずれか２個の入力端子部によって構成されるようにしてもよい。この構成によれば、測定信号端子部に限らず、入力端子部に係る接続抵抗を測定することができる。

　また、前記出力信号生成部と各出力端子部との間に設けられ、通常動作時において、前記出力信号生成部の制御によって前記出力信号生成部と各出力端子部との接続状態を切替える複数の出力スイッチをさらに備え、複数の入力端子部は、接続抵抗測定時に、前記スイッチ制御部に電源を供給し、前記出力信号生成部へは電源を供給しない電源入力端子部を含むようにしてもよい。この構成によれば、接続抵抗測定時に、通常動作を行う回路系は接続抵抗測定系と分離されるため、通常動作を行う回路系の影響を受けずに、好適に接続抵抗測定を行うことができる。

　また、前記集積回路は、液晶パネルを駆動する液晶駆動用集積回路であり、前記出力信号生成部は前記入力信号に応じて、前記出力信号として前記液晶パネルを駆動する液晶駆動信号を生成するようにしてもよい。

　また、上記集積回路を表示用集積回路として備えて表示パネルを構成してもよい。この構成によれば、表示用集積回路の接続抵抗を測定することによって表示パネルの歩留まりを向上できる。

　また、前記表示パネルは液晶パネルであり、前記出力信号は前記液晶パネルを駆動する液晶駆動信号であるようにしてもよい。この構成によれば、液晶パネルの歩留まりを向上できる。

　また、本発明に係る接続抵抗測定方法は、外部配線に接続された状態において前記外部配線との接続抵抗を測定する接続抵抗測定機能を有する集積回路において、接続抵抗を測定する方法であって、入力側外部配線と接続されて測定信号を入出力する一対の測定信号端子部と、前記一対の測定信号端子部間の接続状態を切替える第１測定用スイッチと、前記一対の測定信号端子部と前記出力端子対部との接続状態を切替える第２測定用スイッチとを前記集積回路に設ける工程と、前記集積回路を前記外部配線に接続する接続工程と、前記第１測定用スイッチをオンさせるとともに、第２測定用スイッチをオフさせた状態で、前記測定信号を前記一対の測定信号端子部に供給し、前記一対の測定信号端子部間の電圧と、前記一対の測定信号端子部間に流れる電流とを測定し、測定電圧および測定電流に基づいて、前記一対の測定信号端子部と前記入力側外部配線との間の第１接続抵抗を測定する第１測定工程と、前記第１測定用スイッチをオフさせるとともに、第２測定用スイッチをオンさせた状態で、前記測定信号を前記一対の測定信号端子部に供給し、前記一対の測定信号端子部間の電圧と、前記一対の測定信号端子部間に流れる電流とを測定し、測定電圧、測定電流および前記第１接続抵抗に基づいて、前記出力端子対部と前記出力側外部配線との間の第２接続抵抗を測定する第２測定工程とを含む。

　上記測定方法において、前記第１測定用スイッチは、前記一対の測定信号端子部間に設けられた第１電界効果トランジスタによって構成し、前記第２測定用スイッチは、一方の測定信号端子部と一方の出力端子部との間に設けられた第２電界効果トランジスタと、他方の測定信号端子部と他方の出力端子部との間に設けられた第３電界効果トランジスタとによって構成する工程と、前記第１測定工程および第２測定工程は、オンされた電界効果トランジスタのドレイン－ソース間の電圧－電流特性を利用して、前記オンされた電界効果トランジスタによる電圧降下を推定する工程と、推定された前記電圧降下と前記測定電流とから、前記オンされた電界効果トランジスタのオン抵抗を算出する工程と、前記第１接続抵抗あるいは前記第２接続抵抗を測定する際に、算出された前記オン抵抗を除く工程とを含むようにしてもよい。
　また、上記測定方法において、前記接続工程の前において、各電界効果トランジスタに関する、所定のゲート電圧におけるドレイン－ソース間の電圧－電流特性を取得する工程と、前記第１測定工程および第２測定工程において、オンされる電界効果トランジスタを、前記所定のゲート電圧によってオンする工程とをさらに含むようにしてもよい。この場合、より正確に電界効果トランジスタのオン抵抗による電圧降下を推定できる。

　また、上記測定方法において、前記集積回路は、通常動作時に、前記複数の入力端子部から入力される入力信号に応じた信号処理を行うことによって出力信号を生成する出力信号生成部と、前記出力信号生成部と各出力端子部との間に設けられ、通常動作時において、前記出力信号生成部の制御によって、前記出力信号生成部と各出力端子部との接続状態を切替える複数の出力スイッチとを備え、該方法は、接続抵抗測定時において、前記出力信号生成部への電源供給を停止する工程を含むようにしてもよい。

（発明の効果）
　本発明によれば、集積回路のデータ出力側に関する接続抵抗値を、簡易かつ好適に測定できる。

本発明に係る液晶パネルの構成を概略的に示す平面図液晶パネルの配線を示す部分側面図液晶コントローラ・ドライバＩＣの構成を概略的に示すブロック図液晶コントローラ・ドライバＩＣのバンプ配置を概略的に示す平面図接続抵抗測定に係る等価回路図入力側接続抵抗測定に係る処理を示すフローチャート入力側接続抵抗測定時の測定用スイッチの状態を示す説明図入力側接続抵抗測定時のＶ－Ｉ特性を概略的に示すグラフ出力側接続抵抗測定に係る処理を示すフローチャート出力側接続抵抗測定時の測定用スイッチの状態を示す説明図出力側接続抵抗測定時のＶ－Ｉ特性を概略的に示すグラフ

　本発明に係る一実施形態を、図１から図１１を参照して説明する。

　１．液晶パネルの構成
　図１は、本発明に係る液晶パネル（表示パネルの一例）１０の構成を概略的に示す平面図である。液晶パネル１０は、例えば、携帯電話、ＰＤＡ、スマートフォン、タブレット型多機能携帯端末装置に搭載される。図１に示されるように、液晶パネル１０は、ガラス基板１１、複数の入力配線（入力側外部配線の一例）１３、液晶コントローラ・ドライバＩＣ（集積回路の一例）１６、液晶表示部１７、ゲート線（出力側外部配線の一例）Ｌｇ、およびソース線（出力側外部配線の一例）Ｌｓ等を含む。

　液晶パネル１０は、本実施形態では、例えば、ＴＦＴ（Ｔｈｉｎ　Ｆｉｌｍ　Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）カラー液晶パネルであり、液晶コントローラ・ドライバ１６からの液晶駆動信号（出力信号の一例）に応じて、カラー画像を表示する。液晶表示部１７はＴＦＴおよび液晶セルＬＣを含む複数の画素、図示しないカラーフィルタおよびフィルタ側基板等を含む。

　なお、液晶コントローラ・ドライバＩＣ１６（以下、単にＩＣ１６と記す）は単に液晶ドライバとし、液晶コントローラは液晶パネル１０に含まれない構成であってもよい。また、液晶パネル１０はバックライト装置を含んでもよい。

　図２に示されるように、ガラス基板１１上には、例えばＩＴＯからなる複数の入力配線１３、複数のゲート線Ｌｇ、および複数のソース線Ｌｓが、液晶表示部１７の大きさ、すなわち表示画素数の数に応じて形成されている。

　各入力配線１３の一端にはＦＰＣ（フレキシブル基板）２１と接続するためのＦＰＣ用パッド１３ａが形成され、各入力配線１３の他端にはＩＣ１６の入力側パンプＢｉｎと接続するためのＩＣ用パッド部１３ｂが形成されている。

　また、各ゲート線Ｌｇおよびソース線Ｌｓの一端には、ＩＣ１６の出力側パンプ対ＢＰｏｕｔと接続するためのＩＣ用パッド部１５が形成されている。そして、各ゲート線Ｌｇには、液晶表示部１７内の各画素に対応するＴＦＴのゲートに印加するゲート信号（コモンライン選択信号）ＳｇがＩＣ１６から供給される。各ソース線Ｌｓには、ＴＦＴのソースに印加するソース信号（階調信号）ＳｓがＩＣ１６から供給される。

　また、図２に示されるように、ＦＰＣ２１とＦＰＣ用パッド１３ａ、入力側パンプＢｉｎとＩＣ用パッド部１３ｂ、出力側パンプＢｏｕｔとＩＣ用パッド部１５とは、本実施形態では、それぞれ異方性導電材１２によって電気的に接続される。

　２．液晶コントローラ・ドライバＩＣの構成
　次に図３および図４を参照して、ＩＣ１６を説明する。図３はＩＣ１６の構成を概略的に示すブロック図であり、図４は、ＩＣ１６のバンプ配置を概略的に示す平面図である。

　ＩＣ１６は、入力配線１３、ゲート線Ｌｇ、およびソース線Ｌｓに接続された状態において、接続抵抗測定機能を有する。ＩＣ１６は、複数の入力側パンプＢｉｎ（入力端子部の一例）、スイッチ制御部２０、出力信号生成部３０、複数の出力側パンプ対（出力端子対部の一例）ＢＰｏｕｔ、測定信号端子部Ｂｔ１，Ｂｔ２、複数の出力スイッチＱＡ，ＱＢ、第１測定用スイッチＳＷＩＮ、複数の第２測定用スイッチＳＷＡ，ＳＷＢ等を含む。本実施形態において、各測定用スイッチは、図３に示されるようにＦＥＴによって構成されている。なお、各測定用スイッチはＦＥＴに限られない。

　第１測定用スイッチ（第１電界効果トランジスタ）ＳＷＩＮは、一対の測定信号入力バンプ（測定信号端子部の一例）Ｂｔ１，Ｂｔ２間に設けられている。また、各第２測定用スイッチ（第２電界効果トランジスタ）ＳＷＡは、測定信号入力バンプ（一方の測定信号端子部）Ｂｔ１と出力側パンプ（一方の出力端子部）ＢｏｕｔＡとの間に設けられ、各第２測定用スイッチ（第３電界効果トランジスタ）ＳＷＢは、測定信号入力バンプ（他方の測定信号端子部）Ｂｔ２と出力側パンプ（他方の出力端子部）ＢｏｕｔＢとの間に設けられている。

　複数の入力側パンプＢｉｎ１～Ｂｉｎ９は、ＩＣ１６が基板１１に搭載される際に、異方性導電材１２およびＩＣ用パッド１３ｂを介して入力側外部配線１３に接続される。

　複数の出力側パンプ対ＢＰｏｕｔは、ＩＣ１６の通常動作時に、すなわちＩＣ１６が液晶表示部１７に画像を表示させる時に、出力信号Ｓｇ、Ｓｓをゲート線Ｌｇおよびソース線Ｌｓに出力する出力側パンプＢｏｕｔＡおよびＢｏｕｔＢが対を成して構成される。各出力側パンプＢｏｕｔＡと各出力側パンプＢｏｕｔＢは、ゲート線Ｌｇあるいはソース線ＬｓのＩＣ用パッド部１５と異方性導電材１２を介して接続された場合、図４に示されるように、ＩＣ用パッド部１５によって短絡される。すなわち、ＩＣ１６が基板１１に接続されると、各出力側パンプ対ＢＰｏｕｔ内の出力側パンプＢｏｕｔＡと出力側パンプＢｏｕｔＢは電気的に結合される。

　また、複数の出力スイッチＱＡ，ＱＢが、出力信号生成部３０と各出力側パンプＢｏｕｔＡ，ＢｏｕｔＢとの間に設けられる。各出力スイッチＱＡ，ＱＢは、ＩＣ１６の通常動作時において、出力信号生成部３０の切替制御信号Ｕに基づいて、出力信号生成部３０と各出力側パンプＢｏｕｔＡ，ＢｏｕｔＢとの接続状態を切替える。例えば、全ての出力スイッチＱＡ，ＱＢがＩＣ１６の通常動作時においてオンされ、出力信号生成部３０からの出力信号Ｗが各出力側パンプＢｏｕｔＡ，ＢｏｕｔＢに供給される。なお、これに限られず、通常動作時に出力スイッチＱＡ，ＱＢのいずれか一方をオンするようにしてもよい。

　出力信号生成部３０は、ＩＣ１６の通常動作時に、複数の入力側パンプＢｉｎ５～Ｂｉｎ９から入力される入力信号に応じた信号処理を行うことによって複数の出力信号Ｗを生成する。入力信号には、図３に示されるように、例えば、映像信号Ｖｉｄｅｏ、同期信号Ｓｙｎｃ、クロック信号ＣＬＫ、電源Ｖｄｄ２および駆動用電源ＤＶｄｄ等が含まれる。また、複数の出力信号Ｗには、ゲート信号Ｓｇおよびソース信号Ｓｓが含まれる。

　出力信号生成部３０は、図示しない演算回路および増幅回路等の信号処理回路を含み、映像信号Ｖｉｄｅｏ、同期信号Ｓｙｎｃ、クロック信号ＣＬＫ、および駆動用電源ＤＶｄｄ等に基づいてソース信号Ｓｓを生成する。また、出力信号生成部３０は、同期信号Ｓｙｎｃ、クロック信号ＣＬＫ、および駆動用電源ＤＶｄｄ等に基づいてゲート信号Ｓｇを生成する。

　さらに、出力信号生成部３０は、通常動作時に、複数の出力スイッチＱＡ，ＱＢをオンする複数の切替制御信号Ｕを生成する。各切替制御信号は、各出力スイッチＱＡ，ＱＢのゲートに供給される。すなわち、通常動作時には出力スイッチＱＡ，ＱＢがオンされて、各出力側パンプＢｏｕｔＡ，ＢｏｕｔＢからゲート信号Ｓｇおよびソース信号Ｓｓが出力される。なお、ゲート信号Ｓｇあるいはソース信号Ｓｓを、いずれの出力スイッチＱＡ，ＱＢ、すなわち、各出力側パンプＢｏｕｔＡ，ＢｏｕｔＢに供給するかは、液晶表示部１７の画素構成に応じて適宜決定される。

　また、一対の測定信号入力バンプ（測定信号端子部の一例）Ｂｔ１，Ｂｔ２は、異方性導電材１２およびＩＣ用パッド１３ｂを介して入力側外部配線１３に接続され、接続抵抗測定時に測定信号（測定電圧および測定電流）を入出力する。具体的には、測定信号端子部Ｂｔ１から測定電圧Ｖが入力され、測定信号端子部Ｂｔ２から測定電圧Ｖの印加による測定電流Ｉが戻る。

　第１測定用スイッチＳＷＩＮは、ＩＣ１６における接続抵抗測定時に、一対の測定信号端子部Ｂｔ１，Ｂｔ２間の接続状態を切替える。

　スイッチ制御部２０には、第１制御信号Ｃｏｎ１、第２制御信号Ｃｏｎ２および電源Ｖｄｄ１が入力される。スイッチ制御部２０は、第１制御信号Ｃｏｎ１および第２制御信号Ｃｏｎ２に基づいて、第１測定用スイッチＳＷＩＮおよび第２測定用スイッチＳＷＡ，ＳＷＢの切替え動作を制御する。第１制御信号Ｃｏｎ１は、例えば、主にスイッチ制御部２０にスイッチ切替え動作を開始および終了させるタイミング信号である。第２制御信号Ｃｏｎ２は、例えば、出力端子対部ＢＰｏｕｔの抵抗測定を順次行うために、制御する出力端子対部ＢＰｏｕｔを順に走査させるシフト信号である。

　具体的には、スイッチ制御部２０は、一対の測定信号入力バンプＢｔ１，Ｂｔ２と入力側外部配線１３との間の接続抵抗を測定する際には、第１測定用スイッチＳＷＩＮをオンさせるとともに、第２測定用スイッチＳＷＡ，ＳＷＢをオフさせる。一方、出力端子対部ＢＰｏｕｔと出力側外部配線Ｌｇ、Ｌｓとの間の接続抵抗を測定する際に、第１測定用スイッチＳＷＩＮをオフさせるとともに、第２測定用スイッチＳＷＡ，ＳＷＢをオンさせる。

　電源Ｖｄｄ１は、接続抵抗測定時に、スイッチ制御部２０のみに供給する電源である。すなわち、本実施形態においては、接続抵抗測定時に出力信号生成部３０には電源が供給されず、出力信号Ｗ（ゲート信号Ｓｇ、ソース信号Ｓｓ）および制御信号Ｕは生成されない。そのため、接続抵抗測定時に、出力信号生成部３０と各出力端子対部ＢＰｏｕｔ１～ＢＰｏｕｔｎとの電気的制御は遮断される。

　一方、通常動作時には、第１測定用スイッチＳＷＩＮおよび全ての第２測定用スイッチＳＷＡ，ＳＷＢはオフされ、接続抵抗測定系は通常動作する回路系（液晶駆動回路系）とは遮断される。

　３．接続抵抗測定
　次に、本実施形態における接続抵抗測定を図５から図１１を参照して説明する。図５は、接続抵抗測定時の等価回路を示す回路図である。図５に示されるように、接続抵抗測定時、ＦＰＣ２１の所定の端子および入力配線１３を介して測定信号入力バンプＢｔ１，Ｂｔ２に測定電源４１が接続される。また、測定電源４１とＦＰＣ２１との間において、測定電流Ｉを計測する電流計４２が測定電源４１と直列に接続され、測定電圧Ｖを計測する電圧計４３が測定電源４１と並列に接続される。なお、本接続抵抗測定は、例えば、基板１１へのＩＣ接続時の接続検査、出荷前の再検査、市場不良の原因解析、製品耐久試験、および製品保管試験等において利用される。

　図５において、第１入力接続抵抗Ｒｉｎ1は、測定信号入力バンプＢｔ１が異方性導電材１２によってＩＣ用パッド１３ｂに接続された状態の抵抗を示す。すなわち、第１入力接続抵抗Ｒｉｎ1には、測定信号入力バンプＢｔ１および異方性導電材１２による抵抗が含まれる。同様に、第２入力接続抵抗Ｒｉｎ２には、測定信号入力バンプＢｔ２および異方性導電材１２による抵抗が含まれる。また、第１出力接続抵抗ＲｏｕｔＡには、出力側パンプＢｏｕｔＡおよび異方性導電材１２による抵抗が含まれ、第２出力接続抵抗ＲｏｕｔＢには、出力側パンプＢｏｕｔＢおよび異方性導電材１２による抵抗が含まれる。

　３－１．測定信号入力側の接続抵抗測定
　まず、図６から図８を参照して測定信号入力側の接続抵抗の測定について説明する。測定信号入力側の接続抵抗（第１接続抵抗：以下、単に入力接続抵抗という）Ｒｉｎは、第１入力接続抵抗Ｒｉｎ1と第２入力接続抵抗Ｒｉｎ２との合計であり、Ｒｉｎ＝Ｒｉｎ1＋Ｒｉｎ２　となる。

　図６は入力接続抵抗測定に係る処理を示すフローチャートであり、図７は入力接続抵抗測定時の各スイッチの状態を示す説明図である。図８は入力接続抵抗測定時の測定電圧Ｖと測定電流Ｉとの関係（Ｖ－Ｉ特性）を概略的に示すグラフである。

　入力接続抵抗Ｒｉｎの測定においては、図６に示されるように、まず、測定用スイッチ（ＦＥＴ）ＳＷＩＮ、ＳＷＡ、ＳＷＢの特性が、各スイッチの製造時等において測定される（ステップＳ１００）。すなわち、各スイッチがガラス基板１１にボンディングされる前に、所定のゲート電圧のもとで、ドレイン－ソース間電圧とドレイン－ソース間電流との特性（Ｖ－Ｉ特性）が取得される（図８、図１１参照）。そして、接続抵抗測定の際に、Ｖ－Ｉ特性を利用して、各測定用スイッチによる電圧降下が推定される。推定された電圧降下とドレイン－ソース間電流（測定電流）から、各測定用スイッチ（ＦＥＴ）ＳＷＩＮ、ＳＷＡ、ＳＷＢのオン抵抗Ｔｉｎ、（ＴｏｕｔＡ＋ＴｏｕｔＢ）が決定（算出）される。
　なお、各測定用スイッチ（ＦＥＴ）ＳＷＩＮ、ＳＷＡ、ＳＷＢがガラス基板１１にボンディングされた後における、各測定用スイッチをオンするゲート電圧は、事前にＶ－Ｉ特性を取得する際の上記所定のゲート電圧と、ほぼ等しい電圧となるように設計されているものとする。

　次いで、ＩＣ１６が、ガラス基板１１上のＩＣ用パッド部１３ｂ，１５に異方性導電材１２を用いてボンディングされる（ステップＳ１０５）。次いで、ＦＰＣ２１および入力側パンプＢｉｎ３，Ｂｉｎ４を介して、スイッチ制御部２０に電源Ｖｄｄ１が供給される（ステップＳ１１０）。

　続いて、ＦＰＣ２１および入力側パンプＢｉｎ１，Ｂｉｎ２を介して、スイッチ制御部２０に制御信号Ｃｏｎ１，Ｃｏｎ２が供給される。そして、制御信号Ｃｏｎ１，Ｃｏｎ２にしたがって、図７に示されるように、第１測定用スイッチＳＷＩＮのみがオン（導通）とされ、第２測定用スイッチＳＷＡおよび第２測定用スイッチＳＷＢは全てオフ（非導通）とされる（ステップＳ１１５）。

　次いで、ＦＰＣ２１および測定信号入力バンプＢｔ１を介して測定電圧Ｖが印加される。そして、測定電圧Ｖを変化させて、図８に実線で示されるＶ－Ｉ特性（Ｒｉｎ＋Ｔｉｎの特性）が測定される。Ｒｉｎ＋Ｔｉｎの特性では、入力接続抵抗Ｒｉｎと第１測定用スイッチＳＷＩＮのオン抵抗Ｔｉｎが加味された、Ｖ－Ｉ特性が測定される。そのＶ－Ｉ特性から、図８に示されるように、測定電圧Ｖ１、Ｖ２、Ｖ３に対応した電流値Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３が測定される（ステップＳ１２０）。ここで、電圧Ｖ１は、測定電流Ｉが測定電圧Ｖに応じて増加する増加領域内の任意の電圧値であり、電圧Ｖ２は増加領域から測定電流Ｉが飽和する飽和領域へ変化する点での電圧値であり、電圧Ｖ３は飽和領域内の電圧値である。

　その際、本実施形態においては、ΔＶ／ΔＩあるいはΔＩ／ΔＶが急激に変化する点から、測定電圧Ｖ２および測定電流Ｉ２を決定する。この場合、増加領域（０Ｖ－Ｖ２近傍）において、電圧Ｖ１が所定の電圧幅ΔＶで複数箇所、測定される。なお、ここで、電圧幅ΔＶは、例えば、測定電圧Ｖの最大値を５Ｖとすると、０．１Ｖの電圧差とされる。ΔＩはそのΔＶに対応した電流差とされる。
　そして、Ｖ２／Ｉ２（合計抵抗値）＝Ｒｉｎ＋Ｔｉｎ
の関係から、合計抵抗値からオン抵抗Ｔｉｎを差し引いて、すなわち、オン抵抗分を除外して、入力接続抵抗Ｒｉｎが算出される（ステップＳ１２５）
　ここで、オン抵抗Ｔｉｎは、第１測定用スイッチＳＷＩＮの電圧降下、すなわち、ドレイン－ソース電圧Ｖｄｓと、測定電流Ｉ２とから、Ｔｉｎ＝Ｖｄｓ／Ｉ２によって算出される。なお、ドレイン－ソース電圧Ｖｄｓは、図８において、測定電流Ｉ２と「Ｔｉｎの特性」との交点から、Ｖｄｓ１となる。
　次いで測定電圧Ｖを０Ｖに戻して、入力接続抵抗Ｒｉｎの測定を終了する（ステップＳ１３０）。

　３－２．信号出力側の接続抵抗測定
　次いで、図９から図１１を参照して信号出力側の接続抵抗の測定について説明する。信号出力側の接続抵抗（第２接続抵抗：以下、単に出力接続抵抗という）Ｒｏｕｔは、第１出力接続抵抗ＲｏｕｔＡと第２出力接続抵抗ＲｏｕｔＢとの合計であり、
Ｒｏｕｔ＝ＲｏｕｔＡ＋ＲｏｕｔＢ　となる。

　図９は出力接続抵抗測定に係る処理を示すフローチャートであり、図１０は出力接続抵抗測定時の各スイッチの状態を示す説明図である。図１１は出力接続抵抗測定時の測定電圧Ｖと測定電流Ｉとの関係（Ｖ－Ｉ特性）を概略的に示すグラフである。なお、出力接続抵抗Ｒｏｕｔの測定は、各出力端子対部ＢＰｏｕｔ１～ＢＰｏｕｔｎについて行われるが、測定方法は同一のため、説明の便宜上、出力端子対部ＢＰｏｕｔ１についてのみ説明する。なお、全ての出力端子対部ＢＰｏｕｔ１～ＢＰｏｕｔｎについて出力接続抵抗Ｒｏｕｔが測定されることには限定されない。所望の出力端子対部ＢＰｏｕｔ、例えば、不具合に関連した出力端子対部ＢＰｏｕｔに関してのみ出力接続抵抗Ｒｏｕｔを測定するようにしてもよい。

　出力接続抵抗Ｒｏｕｔの測定は、入力接続抵抗Ｒｉｎの測定に引き続いて行われ、制御信号Ｃｏｎ１，Ｃｏｎ２にしたがって、図１０に示されるように、出力端子対部ＢＰｏｕｔ１の一対の第２測定用スイッチＳＷＡ１、ＳＷＢ１のみがオン（導通）とされ、第１測定用スイッチＳＷＩＮおよび他の出力端子対部ＢＰｏｕｔの第２測定用スイッチＳＷＡ、ＳＷＢは全てオフ（非導通）とされる（ステップＳ２００）。

　次いで、ステップＳ１２０と同様に、ＦＰＣ２１および測定信号入力バンプＢｔ１を介して測定電圧Ｖが印加される。そして、測定電圧Ｖを変化させて、図１１に実線で示される、入力接続抵抗Ｒｉｎ、出力接続抵抗Ｒｏｕｔ、第２測定用スイッチＳＷＡ１、ＳＷＢ１のオン抵抗ＴｏｕｔＡ１，ＴｏｕｔＢ１が加味された、Ｖ－Ｉ特性が測定される。そのＶ－Ｉ特性から、図１１に示されるように、ステップＳ１２０と同様に、測定電圧Ｖ５、Ｖ６、Ｖ７に対応した電流値Ｉ５、Ｉ６、Ｉ７が測定される（ステップＳ２０５）。ここで、電圧Ｖ５は、測定電流Ｉが測定電圧Ｖに応じて増加する増加領域の電圧値であり、電圧Ｖ６は増加領域から測定電流Ｉが飽和する飽和領域へ変化する点での電圧値であり、電圧Ｖ７は飽和領域の電圧値である。

　次いで、ステップＳ１２５と同様な方法で、ΔＶ／ΔＩ、あるいはΔＩ／ΔＶが急激に変化する点から、測定電圧Ｖ６および測定電流Ｉ６を決定する。そして、Ｖ６／Ｉ６（合計抵抗値）＝Ｒｉｎ＋Ｒｏｕｔ＋ＴｏｕｔＡ１＋ＴｏｕｔＢ１
の関係から、合計抵抗値からオン抵抗（ＴｏｕｔＡ１＋ＴｏｕｔＢ１）とＲｉｎとを差し引いて、出力接続抵抗Ｒｏｕｔが算出される（ステップＳ２１０）。すなわち、オン抵抗分を除外して、出力接続抵抗Ｒｏｕｔが算出される。ここで、ＴｏｕｔＡ１＋ＴｏｕｔＢ１（オン抵抗の合計値）は、オン抵抗Ｔｉｎと同様に算出される。すなわち、第２測定用スイッチＳＷＡ１、ＳＷＢ１による電圧降下、すなわち、ドレイン－ソース電圧Ｖｄｓの合計値は、図１１において、測定電流Ｉ６と「ＴｏｕｔＡ＋ＴｏｕｔＢの特性」との交点から、Ｖｄｓ２となる。そして、Ｖｄｓ２＝（ＴｏｕｔＡ１＋ＴｏｕｔＢ１）＊Ｉ６の関係から、ＴｏｕｔＡ１＋ＴｏｕｔＢ１が算出される。

　次いで、測定電圧Ｖを０Ｖに戻す（ステップＳ２１５）。そして、全ての出力接続抵抗Ｒｏｕｔの測定が終了した場合には（ステップＳ２２０：ＹＥＳ）、制御信号Ｃｏｎ１，Ｃｏｎ２を測定終了の信号に設定し（ステップＳ２３０）、測定用スイッチを全てオフさせる（ステップＳ２３５）。

　一方、全ての出力接続抵抗Ｒｏｕｔの測定が終了していない場合には（ステップＳ２２０：ＮＯ）、今回測定用のスイッチＳＷＡ、ＳＷＢをオフして、次回測定用のスイッチＳＷＡ、ＳＷＢをオンしてステップＳ２０５の処理に戻る（ステップＳ２２５）。

　４．実施形態の効果
　上記したように、本実施形態においては、第１測定用スイッチＳＷＩＮをオンさせるとともに、第２測定用スイッチＳＷＡ，ＳＷＢをオフさせることによって入力側接続抵抗Ｒｉｎが測定される。また、第１測定用スイッチをオフさせるとともに、第２測定用スイッチをオフさせることによって入力側接続抵抗Ｒｉｎと出力側接続抵抗Ｒｏｕｔとが加算された接続抵抗が測定される。そして、加算された接続抵抗から入力側接続抵抗Ｒｉｎを減算することによって出力側接続抵抗Ｒｏｕｔが測定される。そのため、ＩＣ１６の出力側接続抵抗Ｒｏｕｔを、簡易かつ好適に測定できる。

　また、各接続抵抗Ｒｉｎ，Ｒｏｕｔを測定する際に、第１測定用スイッチＳＷＩＮのオン抵抗Ｔｉｎ、および第２測定用スイッチＳＷＡ，ＳＷＢのオン抵抗ＴｏｕｔＡ，ＴｏｕｔＢが差し引かれる。すなわち、各測定用スイッチのオン抵抗を除外して（差し引いて）各接続抵抗Ｒｉｎ，Ｒｏｕｔの値を測定することができるため、より正確な出力側接続抵抗値を得ることができる。また、オン抵抗を差し引いて接続抵抗を測定する際に、Ｖ－Ｉ特性を測定し、測定電流Ｉが増加領域から測定電飽和領域へ変化する点が利用される。そのため、ＦＥＴ（測定用スイッチ）間の測定誤差を低減させることできる。また、その際、ΔＶ／ΔＩが急激に変化する点、あるいはΔＩ／ΔＶが急激に変化する点が利用される。そのため、Ｖ－Ｉ特性における電流増加領域の任意の一点を利用する場合と比べ、ＦＥＴによる電圧降下分の検出精度が向上され、それによって、接続抵抗測定の精度が向上される。

　また、接続抵抗測定時に、電源入力端子部を介してスイッチ制御部２０に電源が供給され、出力信号生成部３０への電源供給は停止される。それにより、接続抵抗測定時に、出力スイッチＱＡ，ＱＢの制御は停止される。そのため、通常動作を行う回路系は接続抵抗測定系と分離されるため、通常動作を行う回路系の影響を受けずに、好適に接続抵抗測定を行うことができる。また、通常動作時に、第２測定用スイッチＳＷＡ，ＳＷＢはオフされ、接続抵抗測定系は通常動作を行う回路系と分離されるため、接続抵抗測定系の影響を受けずに、好適に通常動作を行うことができる。

　＜他の実施形態＞
　本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。

　（１）上記実施形態においては、測定用スイッチのオン抵抗を加味して接続抵抗を算出する例を示したが、これに限られず、測定用スイッチのオン抵抗を加味せずに接続抵抗を算出するようにしてもよい。

　（２）上記実施形態においては、ΔＶ／ΔＩあるいはΔＩ／ΔＶが、急激に変化する点から、測定電圧Ｖ２，Ｖ６および測定電流Ｉ２，Ｉ６を決定し、測定電圧Ｖ２，Ｖ６および測定電流Ｉ２，Ｉ６から、ドレイン－ソース間電圧Ｖｄｓ、すなわち、オン抵抗を算出する例を示したが、これに限られない。例えば、ΔＶ／ΔＩあるいはΔＩ／ΔＶを求めることなく、単に、図８あるいは図９のＶ－Ｉ特性から、増加領域から飽和領域への変化点である測定電圧Ｖ２，Ｖ６および測定電流Ｉ２，Ｉ６を決定してもよい。あるいは、単に、図８あるいは図９のＶ－Ｉ特性から、電流増加領域における任意の測定電圧Ｖ１，Ｖ５および測定電流Ｉ１，Ｉ５を決定し、図８あるいは図９に示されるＶ－Ｉ特性を利用して、ドレイン－ソース間電圧Ｖｄｓを決定（推定）する。そして、決定されたドレイン－ソース間電圧Ｖｄｓおよび測定電流Ｉ１，Ｉ５からオン抵抗を算出するようにしてもよい。

　（３）上記実施形態においては、ＦＥＴのオン抵抗による電圧降下を推定する際に、ＩＣ１６を基板１１に接続する（接続工程）前において、各ＦＥＴに関する、所定のゲート電圧におけるドレイン－ソース間のＶ－Ｉ特性を取得する例を示したが、これに限られない。事前にＶ－Ｉ特性を取得せずに、例えば、ＦＥＴの仕様書に記載されたＶ－Ｉ特性を利用するようにしてもよい。

　（４）上記実施形態においては、一対の測定信号端子部Ｂｔ１，Ｂｔ２を複数の入力端子部Ｂｉｎとは個別に設ける例を示したがこれに限られない。測定信号端子部を、複数の入力端子部Ｂｉｎのうちいずれか２個の入力端子部によって構成するようにしてもよい。この場合には、測定信号端子部として使用される入力端子部Ｂｉｎを、接続抵抗測定時に内部回路と切り離す、出力スイッチＱＡ，ＱＢと同様な入力スイッチを設けるようにすればよい。この場合、測定信号端子部Ｂｔ１，Ｂｔ２以外の入力側接続抵抗の測定が可能になる。

　（５）上記実施形態では、集積回路として液晶コントローラ・ドライバＩＣに本発明を適用する例を示したが、これに限られない。本発明は、接続抵抗を測定したい如何なる集積回路にも適応できる。また、表示パネルとして液晶パネルを例示したが、他の種類の表示パネル、例えば、ＥＬパネルにも本発明は適用可能である。

１０...液晶パネル、１３...入力側外部配線、１６...液晶コントローラ・ドライバＩＣ（集積回路）、２０...スイッチ制御部、３０...出力信号生成部、Ｂｉｎ...入力側パンプ、ＢｏｕｔＡ，ＢｏｕｔＢ...出力側パンプ、ＢＰｏｕｔ...出力側パンプ対、Ｂｔ１，Ｂｔ２...一対の測定信号端子部、Ｌｇ...ゲート線（出力側外部配線）、Ｌｓ...ソース線（出力側外部配線）、ＱＡ，ＱＢ...出力スイッチ、ＳＷＩＮ...第１測定用スイッチ、ＳＷＡ，ＳＷＢ...第２測定用スイッチ

Claims

　外部配線に接続された状態において前記外部配線との接続抵抗を測定する接続抵抗測定機能を有する集積回路であって、
　入力側外部配線と接続される複数の入力端子部と、
　通常動作時に、前記複数の入力端子部から入力される入力信号に応じた信号処理を行うことによって出力信号を生成する出力信号生成部と、
　通常動作時に前記出力信号を出力側外部配線に出力する出力端子部が対を成して構成される出力端子対部と、
　前記入力側外部配線と接続されて、接続抵抗測定時に測定信号を入出力する一対の測定信号端子部と、
　接続抵抗測定時に、前記一対の測定信号端子部間の接続状態を切替える第１測定用スイッチと、
　接続抵抗測定時に、前記一対の測定信号端子部と前記出力端子対部との接続状態を切替える第２測定用スイッチと、
　接続抵抗測定時に、前記第１測定用スイッチおよび前記第２測定用スイッチの切替え動作を制御するスイッチ制御部と
　を備えた、集積回路。
　前記スイッチ制御部は、
　前記一対の測定信号端子部と前記入力側外部配線との間の接続抵抗を測定する際に、前記第１測定用スイッチをオンさせるとともに、前記第２測定用スイッチをオフさせ、
　前記出力端子対部と前記出力側外部配線との間の接続抵抗を測定する際に、前記第１測定用スイッチをオフさせるとともに、前記第２測定用スイッチをオンさせる、請求項１に記載の集積回路。
　前記第１測定用スイッチは、前記一対の測定信号端子部間に設けられた第１電界効果トランジスタによって構成され、
　前記第２測定用スイッチは、一方の測定信号端子部と一方の出力端子部との間に設けられた第２電界効果トランジスタと、他方の測定信号端子部と他方の出力端子部との間に設けられた第３電界効果トランジスタとによって構成されている、請求項１または請求項２に記載の集積回路。
　前記測定信号端子部は、前記複数の入力端子部のうちいずれか２個の入力端子部によって構成される、請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の集積回路。
　前記出力信号生成部と各出力端子部との間に設けられ、通常動作時において、前記出力信号生成部の制御によって前記出力信号生成部と各出力端子部との接続状態を切替える複数の出力スイッチをさらに備え、
　前記複数の入力端子部は、接続抵抗測定時に、前記スイッチ制御部に電源を供給し、前記出力信号生成部へは電源を供給しない電源入力端子部を含む、請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の集積回路。
　前記集積回路は、液晶パネルを駆動する液晶駆動用集積回路であり、
　前記出力信号生成部は前記入力信号に応じて、前記出力信号として前記液晶パネルを駆動する液晶駆動信号を生成する、請求項１から請求項５のいずれか一項に記載の集積回路。
　請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の集積回路を表示用集積回路として備えた、表示パネル。
　前記表示パネルは液晶パネルであり、
　前記出力信号は前記液晶パネルを駆動する液晶駆動信号である、請求項８に記載の表示パネル。
　外部配線に接続された状態において前記外部配線との接続抵抗を測定する接続抵抗測定機能を有する集積回路において、接続抵抗を測定する方法であって、
　通常動作時に前記出力信号を出力側外部配線に出力する出力端子部が対を成して構成される出力端子対部と、入力側外部配線と接続されて測定信号を入出力する一対の測定信号端子部と、前記一対の測定信号端子部間の接続状態を切替える第１測定用スイッチと、前記一対の測定信号端子部と前記出力端子対部との接続状態を切替える第２測定用スイッチとを前記集積回路に設ける工程と、
　前記集積回路を前記外部配線に接続する接続工程と、
　前記第１測定用スイッチをオンさせるとともに、前記第２測定用スイッチをオフさせた状態で、前記測定信号を前記一対の測定信号端子部に供給し、前記一対の測定信号端子部間の電圧と、前記一対の測定信号端子部間に流れる電流とを測定し、測定電圧および測定電流に基づいて、前記一対の測定信号端子部と前記入力側外部配線との間の第１接続抵抗を測定する第１測定工程と、
　前記第１測定用スイッチをオフさせるとともに、前記第２測定用スイッチをオンさせた状態で、前記測定信号を前記一対の測定信号端子部に供給し、前記一対の測定信号端子部間の電圧と、前記一対の測定信号端子部間に流れる電流とを測定し、測定電圧、測定電流および前記第１接続抵抗に基づいて、前記出力端子対部と前記出力側外部配線との間の第２接続抵抗を測定する第２測定工程と、
　を含む、接続抵抗測定方法。
　前記第１測定用スイッチは、前記一対の測定信号端子部間に設けられた第１電界効果トランジスタによって構成し、前記第２測定用スイッチは、一方の測定信号端子部と一方の出力端子部との間に設けられた第２電界効果トランジスタと、他方の測定信号端子部と他方の出力端子部との間に設けられた第３電界効果トランジスタとによって構成する工程と、
　前記第１測定工程および前記第２測定工程は、
　オンされた電界効果トランジスタのドレイン－ソース間の電圧－電流特性を利用して、前記オンされた電界効果トランジスタによる電圧降下を推定する工程と、
　推定された前記電圧降下と前記測定電流とから、前記オンされた電界効果トランジスタのオン抵抗を算出する工程と、
　前記第１接続抵抗あるいは前記第２接続抵抗を測定する際に、算出された前記オン抵抗を除く工程とを含む、請求項９に記載の接続抵抗測定方法。
　前記接続工程の前において、各電界効果トランジスタに関する、所定のゲート電圧におけるドレイン－ソース間の電圧－電流特性を取得する工程と、
　前記第１測定工程および前記第２測定工程において、オンされる電界効果トランジスタを、前記所定のゲート電圧によってオンする工程と、をさらに含む、請求項９または請求項１０に記載の接続抵抗測定方法。
　前記集積回路は、前記入力側外部配線と接続される複数の入力端子部と、通常動作時に、前記複数の入力端子部から入力される入力信号に応じた信号処理を行うことによって出力信号を生成する出力信号生成部と、前記出力信号生成部と各出力端子部との間に設けられ、通常動作時において、前記出力信号生成部の制御によって、前記出力信号生成部と各出力端子部との接続状態を切替える複数の出力スイッチとを備え、該方法は、
　接続抵抗測定時において、前記出力信号生成部への電源供給を停止する工程を含む、請求項９から請求項１１のいずれか一項に記載の接続抵抗測定方法。