WO2012124316A1 - 赤外線撮像装置 - Google Patents

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optical system
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imaging device
secondary mirror
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健太 須藤
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Nikon Corp
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    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B13/00—Optical objectives specially designed for the purposes specified below
    • G02B13/14—Optical objectives specially designed for the purposes specified below for use with infrared or ultraviolet radiation
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
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    • G02B17/00—Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
    • G02B17/08—Catadioptric systems
    • G02B17/0804—Catadioptric systems using two curved mirrors
    • G02B17/0808—Catadioptric systems using two curved mirrors on-axis systems with at least one of the mirrors having a central aperture
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B23/00—Telescopes, e.g. binoculars; Periscopes; Instruments for viewing the inside of hollow bodies; Viewfinders; Optical aiming or sighting devices
    • G02B23/02—Telescopes, e.g. binoculars; Periscopes; Instruments for viewing the inside of hollow bodies; Viewfinders; Optical aiming or sighting devices involving prisms or mirrors
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/20—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from infrared radiation only

Definitions

  • the present invention relates to an infrared imaging device.
  • the exit pupil of the infrared optical system is matched with the cold aperture that is an aperture stop (aperture matching), and S An image with a good / N (signal-to-noise ratio) is obtained.
  • JP-A-10-206986 Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-113797
  • the infrared imaging device described in Patent Document 1 has a configuration in which infrared rays from other than the object to be detected, which becomes detection noise, are shielded by a central shielding portion provided at the opening portion of the cold door patcher.
  • a central shielding portion provided at the opening portion of the cold door patcher.
  • the central shielding part is a special structure attached to the opening of the cold door patcher through a thin arm part, it is difficult to uniformly cool the central shielding part to the same temperature as its peripheral part, There is a possibility that the S / N deterioration of the obtained image may occur.
  • the infrared imaging device described in Patent Document 2 causes detection noise by disposing an objective optical system that forms an intermediate image and a re-imaging optical system that is located on the image side of the intermediate image so as to be decentered from each other. Unnecessary infrared rays are prevented from entering the center of the aperture and reaching the detector.
  • the objective optical system since the objective optical system requires an off-axis optical design, it is difficult to correct aberrations during the design, and the effective diameter of the lens and mirror is greatly increased with respect to the entrance pupil diameter. May increase the size of the apparatus.
  • the present invention has been made in view of such a problem, and includes an objective optical system having a non-passing portion where light from a test object does not pass in the vicinity of the optical axis in a state where aperture matching is achieved.
  • Infrared imaging that can prevent infrared rays unnecessary for imaging from objects other than the test object from being mixed into the infrared detector by using a cold door aperture with a simple circular opening that does not have a special shape, without increasing the size of the device
  • An object is to provide an apparatus.
  • an infrared optical system that collects infrared rays from a test object, an infrared imaging device that receives infrared rays from the infrared optical system, and A cold door aperture that prevents an infrared ray unnecessary for imaging from other than the object to be detected from entering the infrared imaging device, and the infrared optical system includes a main mirror disposed opposite to the optical axis.
  • An objective optical system that sequentially reflects infrared rays from the test object by the primary mirror and the secondary mirror to form an intermediate image of the test object, and the intermediate formed by the objective optical system.
  • an infrared imaging device having a re-imaging optical system that re-forms an image on the infrared imaging device, and a non-passing portion where infrared rays from the object to be examined do not pass in a center portion of the secondary mirror
  • the center of the secondary mirror corresponding to the non-passing part An infrared imaging apparatus is provided which is characterized in that it is formed in a concave shape which satisfies the following condition. L / 1.2 ⁇ R ⁇ 1.5L However, R: absolute value of the radius of curvature of the central part of the secondary mirror corresponding to the non-passing part, L: Distance from the intermediate image forming position to the center of the secondary mirror corresponding to the non-passing portion.
  • a special apparatus can be used without increasing the size of the apparatus. It is possible to provide an infrared imaging apparatus capable of preventing infrared rays unnecessary for imaging from other than the object to be detected from being mixed into the infrared detector by using a cold door aperture having a simple circular opening which is not a shape.
  • FIG. 1 is a diagram for explaining an infrared imaging device (having a Cassegrain type objective optical system) according to the present embodiment, showing a cross-sectional configuration thereof and an optical path diagram of a luminous flux in a ring shape following the opening of a main mirror.
  • the shape of the secondary mirror and the state where the axial light beam is reflected by the non-passing portion of the infrared light from the test object at the center of the secondary mirror are shown.
  • It is a figure explaining the infrared imaging device which concerns on said embodiment, and shows the optical path figure of the light beam in an opening center part.
  • FIG. 2 shows an optical path diagram of a light beam at the center of an aperture in a comparative infrared imaging device in which aperture matching is achieved and there is a non-passing portion of infrared rays from a test object at the center of the secondary mirror.
  • the infrared imaging device includes an infrared optical system 10 and an infrared detector 20.
  • the infrared optical system 10 is for collecting heat radiated from an object to be examined (not shown), that is, infrared rays, and includes a primary mirror 11 and a secondary mirror 12 which are arranged to face each other along the optical axis AX.
  • An objective optical system 13 that sequentially reflects the infrared rays from the object to be examined by the primary mirror 11 and the secondary mirror 12 to form an intermediate image of the object to be examined, and the intermediate image formed by the objective optical system 13 ( And a re-imaging optical system 14 that re-forms on the infrared imaging device 21 (in the infrared detector 20).
  • the infrared detector 20 is disposed at a position where infrared rays from the object to be collected are collected by the infrared optical system 10, and an infrared imaging device 21 that receives infrared rays from the infrared optical system 10, and the infrared optical system 10.
  • the cold door patcher 22 is disposed between the infrared imaging element 21 and the infrared imaging element 21 so as to prevent unnecessary infrared rays from entering from the periphery (side or oblique) of the imaging surface of the infrared imaging element 21.
  • a cooling device (not shown) that cools the infrared imaging element 21 to a low temperature (for example, about the temperature of liquid nitrogen) and removes infrared rays emitted from the infrared imaging element 21 as much as possible.
  • the cold door aperture 22 has a simple circular opening at the center, and the position and the size of the opening diameter are the position and the size of the exit pupil of the infrared optical system 10 (re-imaging optical system 14). It is designed to match the (exit pupil diameter), that is, to achieve aperture matching. By taking aperture matching in this way, it is possible to efficiently suppress that infrared light unnecessary for imaging other than the test object is incident on the infrared detector 20 and to obtain a good infrared image from the test object. I can do it.
  • heat (infrared rays) radiated from the test object is sequentially reflected by the primary mirror 11 and the secondary mirror 12 constituting the objective optical system 13 to form an intermediate image of the test object.
  • the thermal image (infrared image) of the object to be inspected is obtained by condensing the light from the intermediate image again on the infrared imaging element 21 (via the cold aperture 22) by the re-imaging optical system 14. It has come to be obtained.
  • the objective optical system 13 includes a primary mirror 11 that is a concave reflecting mirror (with a concave surface facing the secondary mirror 12) having an opening 11a in the center, and a secondary mirror that is a convex reflecting mirror (with a convex surface facing the primary mirror 11).
  • 12 is a so-called Cassegrain type optical system.
  • the light beam traveling from the primary mirror 11 to the secondary mirror 12 becomes an annular light beam 15 following the opening 11a of the primary mirror 11, there is a portion in the vicinity of the optical axis AX where there is no light beam from the test object. To do. That is, a non-passing portion 12 f where the infrared rays from the test object that has become the annular light flux 15 as described above does not pass exists at the center of the secondary mirror 12.
  • the non-passing portion 12f present at the center of the secondary mirror 12 is formed in a concave shape that satisfies the following conditional expression (1). That is, the reflecting surface of the secondary mirror 12 has two different shapes including the concave reflecting surface 12f and the convex reflecting surface 12A.
  • R absolute value of the radius of curvature of the central portion of the secondary mirror 12 corresponding to the non-passing portion 12f
  • L Distance from the intermediate image formation position M to the center of the secondary mirror 12 corresponding to the non-passing portion 12f.
  • the lower limit is preferably set to L / 1.1 in order to better exhibit the effect of satisfying conditional expression (1).
  • the upper limit value is preferably set to 1.2L.
  • the concave non-passing portion 12f of the sub mirror 12 is arranged at a position conjugate with the exit pupil of the infrared optical system 10 (re-imaging optical system 14).
  • the concave non-passing portion 12f of the secondary mirror 12f It is also conjugate with the aperture 22.
  • the central part of the secondary mirror 12 which is a convex mirror has such a special shape, the light beam (axial light beam) 16 passing through the central part of the opening 11a of the primary mirror 11 is not concavely shaped on the secondary mirror 12. The light is reflected by the passage portion 12f and returns directly to the center of the opening 11a. Therefore, the optical path diagram of the light flux at the center of the aperture 11a is as shown in FIG. 3, and the light beam emitted from the center point O of the imaging surface of the infrared imaging device 21 is reflected by the concave non-passing portion 12f of the secondary mirror 12.
  • the light beam emitted from the point A on the imaging surface is reflected by the concave non-passing portion 12f of the sub mirror 12 and returns to the point A ′ that is symmetric with respect to the optical axis. That is, the light beam existing at the center of the opening 11a forms an image on the imaging surface itself of the infrared imaging element 21 by reflection at the concave non-passing portion 12f of the sub mirror 12.
  • the light beam at the center of the aperture 11a is different from the optical system of the comparative example as shown in FIG. 11 (to be described later) (that is, not emitted from the main mirror 11 or its surrounding barrel), and is all infrared. It comes from the inside of the detector 20. However, since the inside of the infrared detector 20 is cooled to a very low temperature by the cooling device (not shown) as described above, unnecessary infrared rays at the center of the opening 11a are not detected.
  • the diameter of the concave non-passing portion 12f of the secondary mirror 12 is d1 (see FIG. 2), the opening diameter of the opening 11a of the primary mirror 11 is D1, and the effective diameter D2 of the primary mirror 11 is set.
  • the non-passing portion 12f is formed by forming the non-passing portion 12f through which the infrared rays from the test object at the center of the secondary mirror 12 do not pass in a concave shape. It is possible to prevent unnecessary infrared rays from being mixed into the infrared imaging element 21 and to allow only infrared rays from the object to be detected to enter the infrared imaging element 21. As a result, noise incident on the infrared detector 20 can be suppressed, and the detection sensitivity of the infrared detector 20 can be improved.
  • the present invention is not limited to the first embodiment, and various developments are possible.
  • the same members as those used in the infrared imaging device of the first embodiment or those having the same function are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.
  • the infrared imaging apparatus according to the second embodiment will be described with reference to FIGS.
  • a Cassegrain type optical system in which the secondary mirror 12 is a convex mirror is used as the objective optical system 13, but as shown in FIG. 4, in the infrared imaging apparatus according to the present embodiment, the objective optical system is used.
  • a Gregory type optical system 13 in which the secondary mirror 12 'is a concave mirror. In this case, an infrared imaging device essentially equivalent to the first embodiment can be obtained.
  • the light beam traveling from the primary mirror 11 to the secondary mirror 12 becomes the annular light beam 15 following the opening 11a of the primary mirror 11, and therefore, near the optical axis AX, the light beam from the object to be inspected.
  • the non-passing portion 12f ′ present at the center of the secondary mirror 12 ′ is formed in a concave shape that satisfies the following conditional expression (1) ′, as in the above-described embodiment. That is, the reflecting surface of the secondary mirror 12 'has two concave reflecting surfaces 12f' and 12B having different curvature radii.
  • R ′ absolute value of the radius of curvature of the central portion of the secondary mirror 12 ′ corresponding to the non-passing portion 12f ′
  • L ′ distance from the formation position M of the intermediate image to the center of the secondary mirror 12 ′ corresponding to the non-passing portion 12f ′.
  • the lower limit value is preferably set to L ′ / 1.1 in order to better exhibit the effect of satisfying conditional expression (1) ′.
  • the upper limit value is preferably set to 1.2 L'.
  • the non-passing portion 12f ′ existing in the central portion of the secondary mirror 12 ′ has an intermediate image formation position M on the optical axis AX as the center of curvature.
  • the concave non-passing portion 12f ′ of the secondary mirror 12 ′ is arranged at a position conjugate with the exit pupil of the infrared optical system 10 (re-imaging optical system 14). Since the position of the exit pupil of the infrared optical system 10 (re-imaging optical system 14) coincides with the position of the cold door aperture 22, the concave non-passing portion 12f 'of the secondary mirror 12f' is the cold door aperture 22. Is also conjugate.
  • the light beam (axial light beam) 16 passing through the central part of the opening 11a of the primary mirror 11 does not pass through the concave shape of the secondary mirror 12 ′.
  • the light is reflected by the portion 12f ′ and returns directly to the center of the opening 11a. Therefore, the optical path diagram of the light flux at the center of the opening 11a is as shown in FIG. 6, and the light beam emitted from the center point O of the imaging surface of the infrared imaging device 21 is at the concave non-passing portion 12f ′ of the secondary mirror 12 ′.
  • the reflected light returns to the point O, and the light beam emitted from the point A on the imaging surface is reflected by the concave non-passing portion 12f ′ of the secondary mirror 12 ′ and returns to the point A ′ that is symmetric with respect to the optical axis. That is, the light beam existing in the central portion of the opening 11a forms an image on the imaging surface itself of the infrared imaging element 21 by reflection at the concave non-passing portion 12f ′ of the sub mirror 12 ′.
  • the light beam at the center of the opening 11a is all generated from the inside of the infrared detector 20, but since the inside of the infrared detector 20 is cooled to a very low temperature by a cooling device (not shown), the opening Unnecessary infrared rays in the center of 11a are not detected. Therefore, the same effect as the infrared imaging device of the above embodiment can be obtained.
  • the infrared imaging device is a mirror having an opening 30a for guiding infrared rays from a test object (not shown) to the infrared optical system 10 at one end. It is stored in the cylinder 30.
  • the secondary mirror 12 is supported in the lens barrel 30 by spiders 32 that extend radially from a pedestal 31 that fixes the secondary mirror 12.
  • the concave non-passing portion 12 f is provided at the center of the secondary mirror 12, so that unnecessary infrared light at the center of the opening 11 a is not mixed into the infrared detector 20.
  • the spider 32 also shields the light flux, so that unnecessary infrared radiation from the spider 32 becomes a problem.
  • the spider 32 is configured such that the outer surface 32a on the side of the primary mirror 11 is a plane that is perpendicular to the optical axis AX and has a high reflectance with respect to infrared rays. desirable.
  • the spider 32 is a parallel plate in which each surface is arranged in a direction orthogonal to the optical axis AX of the primary mirror 11, and the outer surface 32a on the primary mirror 11 side has a reflectance with respect to infrared rays. It is a high mirror surface. According to this configuration, the optical path diagram of the light beam shielded by the spider 32 is as shown in FIG.
  • the light beam emitted from the center point O of the imaging surface of the infrared imaging device 21 is the secondary mirror 12 and the primary mirror 11.
  • the primary mirror 11 and the secondary mirror 12 are sequentially passed back to the point O.
  • the light beam emitted from the point A on the imaging surface is reflected by the mirror surface 32a on the primary mirror 11 side of the spider 32 through the secondary mirror 12 and the primary mirror 11 in this order, and then the primary mirror 11 and the secondary mirror 12 are moved.
  • the process returns to the point A ′ that is symmetrical with respect to the optical axis. That is, the light beam shielded by the spider 32 forms an image on the imaging surface itself of the infrared imaging element 21 by reflection at the mirror surface 32a of the spider 32 on the primary mirror 11 side.
  • the light beam shielded by the spider 32 is generated from the inside of the infrared detector 20 in the same manner as the light beam at the center of the opening 11a.
  • the inside of the infrared detector 20 is cooled to an extremely low temperature by the cooling device (not shown) as described above, unnecessary infrared rays from the spider 32 are not detected.
  • the size of the apparatus is increased while the objective optical system having the non-passing portion where the light from the test object does not pass in the vicinity of the optical axis in a state where the aperture is aligned.
  • the center part of the secondary mirror corresponding to the non-passing part is formed in a concave shape, which is unnecessary for imaging from the non-passing part.
  • An infrared imaging device with good detection sensitivity can be provided without infrared rays being mixed into the infrared detector.
  • the infrared imaging apparatus of the comparative example mainly includes an infrared optical system 10 and an infrared detector 20.
  • the infrared optical system 10 includes an objective optical system 13 and a re-imaging optical system 14.
  • the infrared optical system 10 condenses heat radiated from an object to be examined (not shown), that is, infrared rays, and the imaging device of the infrared detector 20. An image is formed on the surface 21.
  • the infrared detector 20 is disposed at a position where infrared rays from the object to be collected are collected by the infrared optical system 10, and has a plurality of light receiving elements on the imaging element surface 21.
  • the infrared detector 10 removes the influence of infrared rays (for example, self-radiation of the lens barrel) unnecessary for imaging radiated from other than the test object.
  • a cold door aperture 22 having an opening through which the infrared light collected by the infrared optical system 10 passes is disposed between the image pickup device 21 and the infrared image pickup device 21 so as to surround the image pickup device surface 21 (side or oblique). The unnecessary door light is blocked, the cold door aperture 22 and the infrared detector 20 are cooled to a low temperature (almost liquid nitrogen temperature), and the infrared rays radiated from them are removed as much as possible.
  • the opening provided in the cold door aperture 22 is designed so that the position and size (exit pupil diameter) of the exit pupil of the infrared optical system 10 coincide with each other. It is called “consistent state”. In this way, the cold door aperture 22 takes aperture alignment with the exit pupil of the infrared optical system 10 so that the infrared detector 20 efficiently uses infrared light unnecessary for imaging other than the test object of the infrared optical system 10. It can suppress well, and can take in only the infrared light of the test object.
  • the infrared optical system 10 is configured, for example, a primary mirror 11 having an opening 11a at the center, and a secondary mirror 12 that directs infrared rays reflected by the primary mirror 11 toward the opening 11a of the primary mirror 11;
  • the Cassegrain-type objective optical system 13 constituted by the above when the infrared light from the object to be examined is reflected by the main mirror 11, it becomes an annular luminous flux 15 that follows the opening 11a of the main mirror 11, and is hollow. It becomes the state of. That is, as shown in FIG.
  • the light beam (axial light beam) 16 at the center of the opening 11a is an infrared ray that is unnecessary for imaging from other than the test object radiated from the opening 11a of the primary mirror 11 and its periphery. . Even if aperture matching is performed in this way, if infrared light unnecessary for imaging occurs in the center of the opening 11a, the mixed infrared light is detected as noise as it is, and the S / N (signal-to-noise ratio) of the obtained image is detected. ).
  • the amount of such detection noise varies depending on the angle of view of the luminous flux.
  • the detection noise on the optical axis has a high ratio in which the source is inside the infrared detector 10, but the infrared imaging device cools the infrared detector 10 as described above and removes unnecessary infrared light as much as possible. Therefore, it tends to be smaller than a light beam having a field angle outside the optical axis.
  • the detection noise has a gradient at the central portion and the peripheral portion of the infrared detector 20, and a so-called Narcissus phenomenon in which an image like the cold door aperture 22 is visible at the central portion of the image pickup device surface 21 may occur. .
  • the center portion of the secondary mirror is formed in a concave shape while providing an objective optical system having a non-passing portion in a state in which the aperture is aligned.

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Abstract

 赤外光学系10は、光軸AXに沿って対向配置された主鏡11と副鏡12とを含み、被検物体(不図示)からの赤外線を主鏡11及び副鏡12で順次反射し被検物体の中間像を形成する対物光学系13を有し、副鏡12の中心部には被検物体からの赤外線が通過しない不通過部分12fが存在する赤外線撮像装置において、この副鏡12の中心部の不通過部分12fは、以下の条件式(1)を満足する凹面状に形成されている。 L/1.2 < R < 1.5L … (1) 但し、 R:不通過部分12fに対応する副鏡12の中心部の曲率半径の絶対値、 L:前記中間像形成位置から前記不通過部分に対応する前記副鏡の中心部までの距離。

Description

赤外線撮像装置
 本発明は、赤外線撮像装置に関するものである。
 暗闇などにおいて肉眼では見えない被写体を、赤外線を利用して可視像に変換する赤外線撮像装置では、赤外光学系の射出瞳を開口絞りであるコールドアパチャーに一致(開口整合)させて、S/N(信号雑音比)の良い画像が得られるように構成されている。赤外光学系として、例えば、中心部に開口を有する主鏡と、主鏡で反射された赤外線を主鏡の開口に向かわせる副鏡とからなるカセグレン型の光学系を用いた場合、被検物体からの赤外線は主鏡で反射されると、主鏡の開口に倣った輪帯光束(いわゆる中抜けの状態)となるため、上記のように開口整合を取っていても、開口の中心部に撮像に不要な赤外線が混入すれば、S/Nを劣化させるおそれがある。そこで、このような問題を解決するため、種々の赤外線撮像装置が開示されている(例えば、特許文献1及び2を参照)。
特開平10-206986号公報 特開平9-113797号公報
 特許文献1に記載の赤外線撮像装置は、検出雑音となる被検物体以外からの赤外線を、コールドアパチャーの開口部に設けた中心遮蔽部で遮蔽する構成となっている。この場合、当然のことながら、コールドアパチャーとともに中心遮蔽部も、液体窒素程度の温度に冷却する必要がある。しかしながら、中心遮蔽部は細い腕部を介してコールドアパチャーの開口部に取り付けられている特殊な構造であるため、中心遮蔽部をその周辺部と同じ温度に均一に冷却することは困難であり、得られる画像のS/Nの劣化が発生するおそれがあった。
 特許文献2に記載の赤外線撮像装置は、中間像を形成する対物光学系と、中間像より像側に位置する再結像光学系とを互いに偏芯して配置することにより、検出雑音となる不要な赤外線が開口中心部に混入して検出器に到達することを防いでいる。しかしながら、このような構成の場合、対物光学系には軸外しの光学設計が必要となるため、設計の際の収差補正が難しくなったり、入射瞳径に対してレンズやミラーの有効径が大幅に大きくなり装置の大型化を招いたりするおそれがある。
 本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであり、開口整合の取れた状態で、光軸付近に被検物体からの光が通過しない不通過部分を有する対物光学系を備えながらも、装置を大型化することなく、特殊な形状ではない単純な円形開口のコールドアパチャーを用いて、被検物体以外からの撮像に不要な赤外線が赤外線検出器へと混入することを防止できる赤外線撮像装置を提供することを目的とする。
 このような目的を達成するため、本発明を例示する態様に従えば、被検物体からの赤外線を集光する赤外光学系と、前記赤外光学系からの赤外線を受光する赤外線撮像素子と、前記赤外線撮像素子へ前記被検物体以外からの撮像に不要な赤外線が入射することを防ぐコールドアパチャーとを有し、前記赤外光学系は、光軸に沿って対向配置された主鏡と副鏡とを含み、前記被検物体からの赤外線を前記主鏡及び前記副鏡で順次反射し前記被検物体の中間像を形成する対物光学系と、前記対物光学系により形成された前記中間像を前記赤外線撮像素子上に再形成する再結像光学系とを有し、前記副鏡の中心部には前記被検物体からの赤外線が通過しない不通過部分が存在する赤外線撮像装置において、前記不通過部分に対応する前記副鏡の中心部は、以下の条件式を満足する凹面状に形成されていることを特徴とする赤外線撮像装置が提供される。
   L/1.2 < R < 1.5L
 但し、
 R:前記不通過部分に対応する前記副鏡の中心部の曲率半径の絶対値、
 L:前記中間像形成位置から前記不通過部分に対応する前記副鏡の中心部までの距離。
 本発明によれば、開口整合の取れた状態で、光軸付近に被検物体からの光が通過しない不通過部分を有する対物光学系を備えながらも、装置を大型化することなく、特殊な形状ではない単純な円形開口のコールドアパチャーを用いて、被検物体以外からの撮像に不要な赤外線が赤外線検出器へと混入することを防止できる赤外線撮像装置を提供することができる。
本実施形態に係る(カセグレン型の対物光学系を有する)赤外線撮像装置を説明する図であり、その断面構成と、主鏡の開口に倣って輪帯状になった光束の光路図を示す。 上記の実施形態に係る赤外線撮像装置における、副鏡の形状と、副鏡の中心部にある被検物体からの赤外線の不通過部分にて軸上光束が反射する様子を示す。 上記の実施形態に係る赤外線撮像装置を説明する図であり、開口中心部における光束の光路図を示す。 第2の実施形態に係る(グレゴリー型の対物光学系を有する)赤外線撮像装置を説明する図であり、その断面構成と、主鏡の開口に倣って輪帯状になった光束の光路図を示す。 第2の実施形態に係る赤外線撮像装置における、副鏡の形状と、副鏡の中心部にある被検物体からの赤外線の不通過部分にて軸上光束が反射する様子を示す。 第2の実施形態に係る赤外線撮像装置を説明する図であり、開口中心部の光束の光路図を示す。 第3の実施形態に係る赤外線撮像装置を説明する図であり、スパイダーに遮蔽されない光束の光路図を示す。 第3の実施形態に係る赤外線撮像装置を説明する図であり、被検物体側から見た鏡筒の開口の断面図を示す。 第3の実施形態に係る赤外線撮像装置を説明する図であり、この装置内でのスパイダーに遮蔽される光束の光路図を示す。 開口整合が取れていて副鏡の中心部に被検物体からの赤外線の不通過部分が存在する比較例の赤外線撮像装置において、主鏡の開口に倣って輪帯状になった光束の光路図を示す。 開口整合が取れていて副鏡の中心部に被検物体からの赤外線の不通過部分が存在する比較例の赤外線撮像装置において、開口中心部の光束の光路図を示す。
 以下、本発明の実施形態について、図面を用いて説明する。説明を分かりやすくするため、図中の副鏡12の曲率半径はいずれも誇張して描かれている。
 本実施形態に係る赤外線撮像装置は、図1に示すように、赤外光学系10と、赤外線検出器20とを有して構成されている。
 赤外光学系10は、被検物体(不図示)から放射される熱、すなわち赤外線を集光するためのものであり、光軸AXに沿って対向配置された主鏡11と副鏡12とを有し、被検物体からの赤外線を主鏡11及び副鏡12で順次反射し被検物体の中間像を形成する対物光学系13と、対物光学系13により形成された前記中間像を(赤外線検出器20内の)赤外線撮像素子21上に再形成する再結像光学系14とを有する。
 赤外線検出器20は、赤外光学系10により被検物体からの赤外線が集光される位置に配置され、赤外光学系10からの赤外線を受光する赤外線撮像素子21と、赤外光学系10と赤外線撮像素子21との間に配置され、赤外線撮像素子21の撮像面の周囲(側方や斜方)からの不要な赤外線が入射することを防ぐコールドアパチャー22と、赤外線検出器20の内部や赤外線撮像素子21を低温(例えば、液体窒素温度程度)に冷却し、これら自身から自己放射される赤外線を極力除去する冷却装置(不図示)とを有する。
 コールドアパチャー22は、中心部に単純な円形開口を有するものであり、その位置と開口径の大きさが、赤外光学系10(再結像光学系14)の射出瞳の位置とその大きさ(射出瞳の径)と一致するように、すなわち開口整合が取れるように設計されている。このように開口整合を取ることにより、被検物体以外の撮像に不要な赤外光が赤外線検出器20内に入射することを効率良く抑え、被検物体からの赤外線画像を良好に得ることができるようにしている。
 上記構成を有する赤外線撮像装置では、被検物体から放射される熱(赤外線)を対物光学系13を構成する主鏡11および副鏡12で順次反射して前記被検物体の中間像を形成し、この中間像からの光を再結像光学系14により(コールドアパチャー22を介して)赤外線撮像素子21上に再び集光し結像させることで、被検物体の熱画像(赤外線画像)が得られるようになっている。
 対物光学系13は、中心部に開口11aを有する(副鏡12に凹面を向けた)凹面反射鏡である主鏡11と、(主鏡11に凸面を向けた)凸面反射鏡である副鏡12とから構成される、いわゆるカセグレン型の光学系となっている。この場合、主鏡11から副鏡12へと向かう光束は主鏡11の開口11aに倣って輪帯光束15となるため、光軸AX付近には被検物体からの光束が存在しない部分が存在する。すなわち、副鏡12の中心部には、上記のような輪帯光束15となった被検物体からの赤外線が通過しない不通過部分12fが存在する。
 そこで、本実施形態では、この副鏡12の中心部に存在する不通過部分12fを、以下の条件式(1)を満足するような凹面状に形成する。すなわち、副鏡12の反射面は、この凹面状の反射面12fと、凸面状の反射面12Aとからなる異なる2つの形状を有することになる。
   L/1.2 < R < 1.5L …(1)
 但し、
 R:不通過部分12fに対応する副鏡12の中心部の曲率半径の絶対値、
 L:中間像の形成位置Mから不通過部分12fに対応する副鏡12の中心部までの距離。
 なお、条件式(1)を満足させることによる効果を、より良好に発揮させるためには下限値をL/1.1とすることが好ましい。また、条件式(1)を満足させることによる効果を、より良好に発揮させるためには上限値を1.2Lとすることが好ましい。
 また、副鏡12の中心部に存在する不通過部分12fは、図2に示すように、光軸AX上の対物光学系13(不図示)による中間像の形成位置Mを曲率中心とする(言い換えれば、副鏡12の光軸中心Moから対物光学系13による中間像の形成位置Mまでの距離Lを曲率半径とする(∴R=L))凹面状に形成するのが最も好ましい。本実施形態においては、R=L=600mmである。
 そして、このような副鏡12の凹面状の不通過部分12fを、赤外光学系10(再結像光学系14)の射出瞳と共役となる位置に配置する。上述したように赤外光学系10(再結像光学系14)の射出瞳の位置はコールドアパチャー22の位置に一致しているため、この副鏡12fの凹面状の不通過部分12fは、コールドアパチャー22に対しても共役となる。
 凸面鏡である副鏡12の中心部がこのような特殊な形状となっているため、主鏡11の開口11aの中心部を通る光束(軸上光束)16は、副鏡12の凹面状の不通過部分12fで反射して、そのまま開口11aの中心部に戻ることになる。よって、開口11aの中心部の光束の光路図は図3のようになり、赤外線撮像素子21の撮像面の中心点Oから発した光線は副鏡12の凹面状の不通過部分12fで反射して点Oに戻り、前記撮像面の点Aから発した光線は副鏡12の凹面状の不通過部分12fで反射して光軸対称である点A´に戻ることになる。つまり、開口11aの中心部に存在する光束は副鏡12の凹面状の不通過部分12fでの反射により、赤外線撮像素子21の撮像面自身を結像することになる。
 したがって、開口11aの中心部の光束は、後述の図11に示すような比較例の光学系とは異なり(すなわち主鏡11やその周辺の鏡筒部から放射されたものではなく)、全て赤外線検出器20の内部から生じたものとなる。しかしながら、赤外線検出器20の内部は、上記のように冷却装置(不図示)により極低温に冷却されているため、開口11aの中心部の不要な赤外線は検出されないことになる。
 なお、副鏡12の凹面状の不通過部分12fの径の大きさは、これをd1とし(図2参照)、主鏡11の開口11aの開口径をD1とし、主鏡11の有効径D2とし、副鏡12の有効径をd2としたとき、d1=d2×(D1/D2)で導くことができる。本実施形態のように、副鏡12の不通過部分12fとコールドアパチャー22とが共役となるように配置すれば、前記不通過部分12fの径d1の大きさは最小となり、副鏡12の反射面全体に占める不通過部分12fの割合を最小限に抑えることが可能となる。
 以上のような本実施形態に係る赤外線撮像装置によれば、副鏡12の中心部の被検物体からの赤外線が通過しない不通過部分12fを凹面状に形成することによって、前記不通過部分12fからの不要な赤外線が赤外線撮像素子21へと混入することを防ぎ、被検物体からの赤外線のみを赤外線撮像素子21に入射させことができる。その結果、赤外線検出器20に入射するノイズを抑え、赤外線検出器20における検出感度を向上させることができる。
 なお、本発明は、第1の実施形態に限定されず、様々な展開が可能である。以下、第1の実施形態の赤外線撮像装置で用いた部材と同じもの、もしくは同等の機能を有するものについては、同じ記号を付してその説明を省略する。
 ここで、図4~図6を用いて、第2の実施形態に係る赤外線撮像装置について説明する。例えば、上述の実施形態では対物光学系13として副鏡12が凸面鏡であるカセグレン型の光学系を用いているが、図4に示すように、本実施形態に係る赤外線撮像装置では、対物光学系13として副鏡12´が凹面鏡であるグレゴリー型の光学系を用いることも可能である。この場合、第1の実施形態と本質的に同等な赤外線撮像装置を得ることができる。
 グレゴリー型の光学系を用いる場合も、主鏡11から副鏡12へと向かう光束は主鏡11の開口11aに倣って輪帯光束15となるため、光軸AX付近には被検物体からの光束が存在しない部分が存在する。すなわち、副鏡12´の中心部には、上記のような輪帯光束15となった被検物体からの赤外線が通過しない不通過部分12f´が存在する。
 ここで、副鏡12´の中心部に存在する不通過部分12f´を、上述の実施形態と同様に、以下の条件式(1)´を満足するような凹面状に形成する。すなわち、副鏡12´の反射面は、曲率半径の異なる2つの凹面状の反射面12f´と12Bとを有することになる。
   L´/1.2 < R´ < 1.5L´ …(1)´
 但し、
 R´:不通過部分12f´に対応する副鏡12´の中心部の曲率半径の絶対値、
 L´:中間像の形成位置Mから不通過部分12f´に対応する副鏡12´の中心部までの距離。
 なお、条件式(1)´を満足させることによる効果を、より良好に発揮させるためには下限値をL′/1.1とすることが好ましい。また、条件式(1)´を満足させることによる効果を、より良好に発揮させるためには上限値を1.2L′とすることが好ましい。
 また、副鏡12´の中心部に存在する不通過部分12f´を、図5に示すように、光軸AX上の対物光学系13(不図示)による中間像の形成位置Mを曲率中心とする(言い換えれば、副鏡12´の光軸中心Mo´から対物光学系13による中間像の形成位置Mまでの距離L´を曲率半径とする(∴R´=L´))凹面状に形成するのが最も好ましい。本実施形態においては、R´=L´=600mmである。
 そして、副鏡12´の凹面状の不通過部分12f´を、赤外光学系10(再結像光学系14)の射出瞳と共役となる位置に配置する。赤外光学系10(再結像光学系14)の射出瞳の位置はコールドアパチャー22の位置に一致しているため、この副鏡12f´の凹面状の不通過部分12f´は、コールドアパチャー22に対しても共役となる。
 副鏡12´の中心部がこのような特殊な形状となっているため、主鏡11の開口11aの中心部を通る光束(軸上光束)16は、副鏡12´の凹面状の不通過部分12f´で反射して、そのまま開口11aの中心部に戻ることになる。よって、開口11aの中心部の光束の光路図は図6のようになり、赤外線撮像素子21の撮像面の中心点Oから発した光線は副鏡12´の凹面状の不通過部分12f´で反射して点Oに戻り、前記撮像面の点Aから発した光線は副鏡12´の凹面状の不通過部分12f´で反射して光軸対称である点A´に戻ることになる。つまり、開口11aの中心部に存在する光束は副鏡12´の凹面状の不通過部分12f´での反射により、赤外線撮像素子21の撮像面自身を結像することになる。
 したがって、開口11aの中心部の光束は、全て赤外線検出器20の内部から生じたものとなるが、赤外線検出器20の内部は冷却装置(不図示)により極低温に冷却されているため、開口11aの中心部の不要な赤外線は検出されない。よって、上記実施形態の赤外線撮像装置と同様の効果を得ることができる。
 続いて、図7~図9を用いて、第3の実施形態に係る赤外線撮像装置について説明する。この実施形態に係る赤外線撮像装置は、図7及び図8で示すように、一端に被検物体(不図示)からの赤外線を赤外光学系10へと導くための開口30aが形成された鏡筒30内に収納されている。副鏡12は、鏡筒30内に、副鏡12を固定する台座31から放射状に延びたスパイダー32によって支持されている。
 赤外線撮像装置1では、上述したように副鏡12の中心部に凹面状の不通過部分12fを有することによって、開口11aの中心部の不要な赤外線が赤外検出器20に混入することはない。しかしながら、図8に示すように、スパイダー32も光束を遮蔽するため、スパイダー32からの不要な赤外線の混入が問題となる。
 こうした問題を解決するため、スパイダー32は、主鏡11側の外面32aが、光軸AXに対して垂直な平面であり、且つ、赤外線に対して反射率の高い鏡面で構成されていることが望ましい。本実施形態においては、スパイダー32は、各面が主鏡11の光軸AXに対して直交する向きで配置された平行平板であり、主鏡11側の外面32aが赤外線に対して反射率の高い鏡面となっている。この構成によれば、スパイダー32により遮蔽される光束の光路図は、図9に示すようになり、赤外線撮像素子21の撮像面の中心点Oから発した光線は、副鏡12、主鏡11を順に経てスパイダー32の主鏡11側の鏡面32aで反射した後、主鏡11、副鏡12を順に経て点Oに戻る。また、前記撮像面の点Aから発した光線も、同様に、副鏡12、主鏡11を順に経てスパイダー32の主鏡11側の鏡面32aで反射した後、主鏡11、副鏡12を順に経て光軸対称である点A´に戻る。つまり、スパイダー32に遮蔽される光束は、スパイダー32の主鏡11側の鏡面32aでの反射により、赤外線撮像素子21の撮像面自身を結像することになる。
 したがって、上述の開口11aの中心部の光束と同様に、スパイダー32に遮蔽される光束は、全て赤外線検出器20の内部から生じたものとなる。しかしながら、赤外線検出器20の内部は、上記のように冷却装置(不図示)により極低温に冷却されているため、スパイダー32による不要な赤外線は検出されない。
 以上のように、本発明によれば、開口整合の取れた状態で、光軸付近に被検物体からの光が通過しない不通過部分を有する対物光学系を備えながらも、装置を大型化することなく、特殊な形状ではない単純な円形開口のコールドアパチャーを用いて、前記不通過部分に対応する副鏡の中心部を凹面状に形成することにより、前記不通過部分からの撮像に不要な赤外線が赤外線検出器へ混入することがなく、検出感度が良好な赤外線撮像装置を提供することができる。
 ここで、比較のため、比較例の赤外線撮像装置について説明する。比較例の赤外線撮像装置は、図10に示すように、主に、赤外光学系10と、赤外線検出器20とから構成されている。赤外光学系10は、対物光学系13と再結像光学系14とを有し、被検物体(不図示)から放射される熱、すなわち赤外線を集光し、赤外線検出器20の撮像素子面21上に結像させている。赤外線検出器20は、赤外光学系10により被検物体からの赤外線が集光される位置に配置され、撮像素子面21上に複数の受光素子を有している。
 そして、このような赤外線撮像装置では、赤外線検出器10にて、被検物以外から放射される撮像に不要な赤外線(例えば、鏡筒の自己放射)の影響を取り除くため、赤外光学系10と赤外線撮像素子21との間に、赤外光学系10によって集光された赤外線を通過させる開口部を備えたコールドアパチャー22を配置して、撮像素子面21の周囲(側方や斜方)からの不要光を遮断するとともに、このコールドアパチャー22と赤外線検出器20を低温(ほぼ液体窒素温度)に冷却し、これら自体から放射する赤外線を極力除去する構成となっている。
 また、コールドアパチャー22が備えている開口部は、赤外光学系10の射出瞳の位置と大きさ(射出瞳の径)が一致するように設計されており、このような状態は一般に「開口整合の取れた状態」と呼ばれている。このように、コールドアパチャー22が赤外光学系10の射出瞳と開口整合を取ることにより、赤外線検出器20において、赤外光学系10の被検物体以外の撮像に不要な赤外光を効率良く抑えることができ、被検物体の赤外光のみを取り入れることができるようになっている。
 しかしながら、前記赤外光学系10を構成する際に、例えば、中心部に開口11aを有する主鏡11と、主鏡11で反射された赤外線を主鏡11の開口11aに向かわせる副鏡12とから構成されたカセグレン型の対物光学系13を用いた場合、被検物体からの赤外線は主鏡11で反射されると、この主鏡11の開口11aに倣った輪帯光束15となり、中抜けの状態となる。つまり、図11に示すように、開口11aの中心部の光束(軸上光束)16は、主鏡11の開口11aやその周辺から放射された被検物体以外からの撮像に不要な赤外線である。このように開口整合を取っていても、開口11aの中心部に撮像に不要な赤外線の混入が発生すれば、混入した赤外線はそのまま雑音として検出され、得られる画像のS/N(信号雑音比)を悪化させる。
 また、こうした検出雑音は、光束の画角に依存してその量が異なる。光軸上の検出雑音は、その源が赤外線検出器10の内部である割合が多いが、赤外線撮像装置では上述のように赤外線検出器10を冷却し不要な赤外光を極力除去する構成となっているため、光軸外の画角を有する光束と比較して小さくなる傾向がある。その結果、赤外線検出器20の中心部と周辺部とでは検出雑音に勾配が生じ、撮像素子面21の中心部にコールドアパチャー22の像のようなものが見える、いわゆるナルシサス現象を生じることがある。
 これに対して、上述したように本実施形態に係る赤外線撮像装置では、開口整合の取れた状態で、不通過部分を有する対物光学系を備えながらも、副鏡の中心部を凹面状に形成することによって、前記不通過部分からの不要な赤外線が赤外線検出器へと混入するのを防ぎ、S/Nの良好な画像が得られるようになっている。
 1   赤外線撮像装置
 10  赤外光学系
 11  主鏡
 11a 主鏡の開口
 12  副鏡
 12f 副鏡中心部の不通過部分
 13  対物光学系
 14  再結像光学系
 20  赤外線検出器
 21  赤外線撮像素子
 22  コールドアパチャー
 30  鏡筒
 30a 鏡筒の開口
 31  台座
 32  スパイダー
 AX  光軸

Claims (5)

  1.  被検物体からの赤外線を集光する赤外光学系と、前記赤外光学系からの赤外線を受光する赤外線撮像素子と、前記赤外線撮像素子へ前記被検物体以外からの撮像に不要な赤外線が入射することを防ぐコールドアパチャーとを有し、
     前記赤外光学系は、光軸に沿って対向配置された主鏡と副鏡とを含み、前記被検物体からの赤外線を前記主鏡及び前記副鏡で順次反射し前記被検物体の中間像を形成する対物光学系と、前記対物光学系により形成された前記中間像を前記赤外線撮像素子上に再形成する再結像光学系とを有し、
     前記副鏡の中心部には前記被検物体からの赤外線が通過しない不通過部分が存在する赤外線撮像装置において、
     前記不通過部分に対応する前記副鏡の中心部は、以下の条件式を満足する凹面状に形成されていることを特徴とする赤外線撮像装置。
       L/1.2 < R < 1.5L
     但し、
     R:前記不通過部分に対応する前記副鏡の中心部の曲率半径の絶対値、
     L:前記中間像形成位置から前記不通過部分に対応する前記副鏡の中心部までの距離。
  2.  前記不通過部分に対応する前記副鏡の中心部は、前記対物光学系による前記光軸上の前記中間像形成位置を曲率中心とする凹面状に形成されていることを特徴とする請求項1に記載の赤外線撮像装置。
  3.  前記副鏡の前記不通過部分は、前記赤外光学系の射出瞳と共役関係にあることを特徴とする請求項1又は2に記載の赤外線撮像装置。
  4.  前記赤外光学系の射出瞳の位置は、前記コールドアパチャーの位置と一致していることを特徴とする請求項1~3のいずれか一項に記載の赤外線撮像装置。
  5.  前記赤外線撮像装置は、一端に前記被検物体からの赤外線を前記赤外光学系へと導くための開口が形成された鏡筒内に収納されており、
     前記鏡筒は前記開口に前記副鏡を固定保持するスパイダーを有し、
     前記スパイダーは、前記主鏡側の外面が、前記光軸に対して垂直な平面であり、且つ、赤外線に対して反射率の高い鏡面で構成されていることを特徴とする請求項1~4のいずれか一項に記載の赤外線撮像装置。
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