WO2011152459A1 - 光蓄電装置 - Google Patents

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WO2011152459A1
WO2011152459A1 PCT/JP2011/062604 JP2011062604W WO2011152459A1 WO 2011152459 A1 WO2011152459 A1 WO 2011152459A1 JP 2011062604 W JP2011062604 W JP 2011062604W WO 2011152459 A1 WO2011152459 A1 WO 2011152459A1
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photoelectric conversion
conversion element
conductive layer
layer
metal
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PCT/JP2011/062604
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English (en)
French (fr)
Inventor
穂世 ブリセニョ
Original Assignee
株式会社Si-Nano
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
    • H01L31/07Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the Schottky type
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02SGENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
    • H02S40/00Components or accessories in combination with PV modules, not provided for in groups H02S10/00 - H02S30/00
    • H02S40/30Electrical components
    • H02S40/38Energy storage means, e.g. batteries, structurally associated with PV modules
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E70/00Other energy conversion or management systems reducing GHG emissions
    • Y02E70/30Systems combining energy storage with energy generation of non-fossil origin

Definitions

  • the present invention relates to an optical power storage device that generates electric power by photoelectric conversion and stores the generated electric power.
  • Patent Document 1 describes a photoelectric conversion element using surface plasmon resonance.
  • An uneven structure having a uniform period is formed on the surface of the metal layer of the element.
  • a semiconductor layer is laminated on the concavo-convex structure, and a transparent electrode is further laminated thereon.
  • Another electrode is laminated on the back surface of the metal layer.
  • Non-Patent Document 1 describes that near-infrared light of 1 ⁇ m to 2 ⁇ m can be detected by an optical sensor in which CoSi 2 is laminated on n-type Si.
  • Non-Patent Document 2 describes that infrared light of 1 ⁇ m to 5 ⁇ m can be detected by an optical sensor in which CoSi 2 is laminated on p-type SiGe.
  • Non-Patent Document 3 describes that infrared light of 1 ⁇ m to 6 ⁇ m can be detected by an optical sensor in which Pt is stacked on p-type Si.
  • Non-Patent Document 4 describes that light of 10 ⁇ m or less can be detected by an optical sensor in which Ir is laminated on Si.
  • the sensitive band of a photoelectric conversion element such as a Schottky photodiode differs depending on whether the semiconductor is n-type or p-type.
  • the n-type has sensitivity from the visible light region to the near infrared region, and is not very sensitive to the infrared region having a longer wavelength than the near infrared region.
  • the p-type has sensitivity in the infrared region and is not very sensitive to the visible light region.
  • the use of electric power does not always coincide with the time of light reception and thus the time of power generation.
  • the present invention has been made in view of the above circumstances, and it is convenient to increase the light use efficiency by widening the wavelength band in which photoelectric conversion is possible, and to be able to handle even when the power usage is different from the light reception time.
  • the purpose is to improve sex.
  • the present invention has been made in order to solve the above-described problem, and includes a photovoltaic power generation unit that generates power by light, and a power storage unit that is connected to the photovoltaic generation unit and stores the generated power.
  • the first and second photoelectric conversion elements connected in series, parallel, or series-parallel to each other, and each of the first and second photoelectric conversion elements is stacked on the semiconductor layer and the semiconductor layer Comprising a conductive layer and a metal nanostructure having a plurality of (preferably many) periodic structures stacked on the conductive layer, each periodic structure comprising a plurality of first protrusions protruding in the direction of the stacking;
  • the arrangement interval of the first protrusions varies depending on the periodic structure, the semiconductor layer of the first photoelectric conversion element is an n-type semiconductor layer, and the semiconductor layer of the second photoelectric conversion element is a p-type semiconductor layer. It is characterized by being.
  • each photoelectric conversion element When light enters each photoelectric conversion element, photocarriers are generated by photoelectric conversion at the Schottky junction between the semiconductor layer and the conductive layer.
  • the sensitivity of photoelectric conversion can be increased by the metal nanostructure near the Schottky junction.
  • the sensitivity In the first photoelectric conversion element, the sensitivity can be increased with respect to light from the visible light region to the near infrared region.
  • the sensitivity to infrared light can be increased. Therefore, by combining the first and second photoelectric conversion elements, the wavelength band in which photoelectric conversion can be performed can be widened, and the light utilization efficiency can be increased. By storing the power generated by these photoelectric conversion elements in the power storage unit, it is possible to supply power even when light is not being received.
  • the first photoelectric conversion element and the second photoelectric conversion element may be stacked in the thickness direction of each other. Then, the light receiving area of each photoelectric conversion element can be sufficiently increased. Therefore, the amount of received light and thus the amount of power generation can be increased. In particular, the amount of light received by the photoelectric conversion element arranged on the front side (light incident side), and thus the amount of power generation, can be sufficiently increased.
  • the first photoelectric conversion element may be disposed on the front side (light incident side), and the second photoelectric conversion element may be disposed on the front side (light incident side). When the incident light is biased from the visible light region to the near infrared region, it is preferable to dispose the first photoelectric conversion element on the front side (light incident side). When the incident light is biased toward the infrared region, the second photoelectric conversion element is preferably arranged on the front side (light incident side).
  • the first photoelectric conversion element and the second photoelectric conversion element may be arranged in a plane direction orthogonal to the thickness direction of each other. Then, light can be directly incident on the first and second photoelectric conversion elements, respectively. Accordingly, each of the first and second photoelectric conversion elements can sufficiently receive the sensitive wavelength component in the incident light and cause photoelectric conversion. Therefore, the power generation amount of the photovoltaic unit can be increased.
  • the first photoelectric conversion element is preferably provided with a nanostructure made of an n-type semiconductor having sensitivity in the ultraviolet region.
  • the photoelectric conversion sensitivity of the first photoelectric conversion element can be increased.
  • the sensitivity on the short wavelength side of the sensitive band of the first photoelectric conversion element can be increased.
  • a semiconductor having sensitivity in the ultraviolet region refers to a semiconductor having a property that carriers are excited when irradiated with ultraviolet light having a wavelength of 0.4 ⁇ m or less. Examples of such a semiconductor include zinc oxide (ZnO), which is an n-type semiconductor, and other examples include n-type gallium nitride (n-GaN).
  • the n-type semiconductor nanostructure is preferably a nanostructure such as a nanowire, nanoneedle, nanotube, or nanorod.
  • a nanostructure such as a nanowire, nanoneedle, nanotube, or nanorod.
  • the second photoelectric conversion element is preferably provided with a nanostructure made of a p-type semiconductor having sensitivity in the infrared region.
  • the photoelectric conversion sensitivity in a 2nd photoelectric conversion element can be raised.
  • the sensitivity on the long wavelength side of the sensitive band of the second photoelectric conversion element can be increased.
  • a semiconductor having sensitivity in the infrared region refers to a semiconductor having a property in which carriers are excited when irradiated with infrared light having a wavelength of, for example, 0.7 ⁇ m or more. Examples of such a semiconductor include p-type gallium nitride (p-GaN) and carbon.
  • the p-type semiconductor nanostructure is preferably a nanostructure such as a nanotube, nanowire, nanoneedle, nanotube, or nanorod.
  • the metal component constituting the conductive layer of each photoelectric conversion element examples include Co, Fe, W, Ni, Al, and Ti. These metal elements listed have relatively high melting points and excellent mechanical properties at high temperatures.
  • the conductive layer may be a metal, or a mixture or alloy of a metal and a semiconductor. Examples of the metal or semiconductor mixture or alloy include metal silicide. When the semiconductor layer is made of silicon, the conductive layer may be a metal silicide formed by diffusing the metal component and the surface layer portion of the semiconductor layer. The diffusion can be performed by, for example, annealing.
  • the metals listed above (Co, Fe, W, Ni, Al, Ti) are suitable for silicidation.
  • a pair of positive and negative electrodes on the conductive layer of each photoelectric conversion element, and use these electrodes as connection terminals for the other photoelectric conversion element or the power storage unit. It is preferable to interpose a polarity determining layer between the cathode electrode of the first photoelectric conversion element and the conductive layer. It is preferable to interpose a polarity determining layer between the anode electrode of the second photoelectric conversion element and the conductive layer.
  • the polarity determining layer may be a barrier layer made of an insulator such as alumina or resin, or may be a convex layer integrally protruding from the semiconductor layer of the element.
  • the first photoelectric conversion element incident light is absorbed by the Schottky junction between the semiconductor layer and the conductive layer to generate photocarriers (electron-hole pairs), and electrons are generated on the side of the semiconductor layer by the electric field of the depletion layer. Move to. Along with this, electrons flow from the anode electrode into the conductive layer. Electrons flow along the conductive layer toward the cathode electrode.
  • incident light is absorbed by the Schottky junction between the semiconductor layer and the conductive layer to generate photocarriers (electron-hole pairs), and holes are generated in the semiconductor layer by the electric field of the depletion layer. Move to the side. Along with this, holes flow from the cathode electrode into the conductive layer. Holes flow toward the anode electrode along the conductive layer. In this way, an electrode that becomes an anode and an electrode that becomes a cathode of each photoelectric conversion element can be reliably determined.
  • the cathode electrode and the conductive layer form a capacitor with the barrier layer interposed therebetween.
  • electrons are accumulated in a portion of the conductive layer facing the cathode electrode.
  • the polarity determining layer is a barrier layer made of an insulator or the like
  • the anode electrode and the conductive layer form a capacitor with the barrier layer interposed therebetween.
  • holes are accumulated in a portion of the conductive layer facing the anode electrode. Therefore, the electrode to be the anode and the electrode to be the cathode can be determined reliably.
  • the barrier layer preferably has a thickness of less than 1 nm.
  • the convex layer is in Schottky contact with the end face of the conductive layer on the cathode electrode side and in ohmic contact with the cathode electrode.
  • the electrons of the carriers can flow toward the convex layer side and thus toward the cathode electrode at the Schottky junction between the convex layer and the conductive layer, and the polarity can be reliably determined.
  • the convex layer is in Schottky contact with the end surface of the conductive layer on the anode electrode side and in ohmic contact with the anode electrode.
  • holes of carriers can flow toward the convex layer side and thus toward the anode electrode at the Schottky junction between the convex layer and the conductive layer, and the polarity can be reliably determined.
  • the electrode serving as the anode and the electrode serving as the cathode may be determined.
  • the metal nanostructure contributes to the increase of the light-induced electric field.
  • the metal nanostructure is preferably an aggregate of nanosized metal fine particles. It is preferable to use Au, Ag, Pt, Cu, or Pd as the metal constituting the metal fine particles. These listed metal elements have relatively high chemical stability, are not easily alloyed, and are not easily combined with a semiconductor such as Si. Therefore, surface plasmon can be formed reliably.
  • the metal nanostructure is preferably provided in a portion between the pair of electrodes in the conductive layer, and more preferably widely distributed in a portion between the pair of electrodes.
  • the metal nanostructure is formed as follows, for example.
  • a metal raw material to be the metal nanostructure is disposed on the conductive layer and annealed.
  • the shape or property of the metal raw material is not particularly limited, and may be any of a thin film shape, a small piece shape, a small lump shape, a granular shape, a powder shape, a colloidal shape, a fiber shape, a wire shape, and a dot shape. It may be a property.
  • the annealing treatment the fine particles of the metal raw material diffuse along the surface of the conductive layer. Due to the diffusion, the fine particles of the metal raw material are branched in multiple stages or multiple, for example, an aggregate having a fractal structure. Thereby, the metal nanostructure can be easily formed.
  • Sub-micron or nano-order irregularities are formed on the surface of the metal nanostructure.
  • the surface of the metal nanostructure includes a large number of protrusions protruding in the stacking direction (thickness direction), for example, in
  • the electrode may also be used as a metal raw material for the metal nanostructure.
  • the metal constituting the electrode may be diffused around the electrode in a cluster shape or a fractal shape by annealing. Then, the metal nanostructure can be formed in the vicinity of the electrode.
  • the electrode and the metal nanostructure include the same metal component.
  • the periodic structure preferably has a random period. It is preferable that the period of the periodic structure is changed. That is, it is preferable that the arrangement interval of the first protrusions differs according to the periodic structure. Thereby, it can respond to the light of a different wavelength according to a periodic structure. Therefore, the wavelength range in which the metal nanostructure can be sensitive as a whole can be widened. Therefore, it is possible to provide a photoelectric conversion element that can cope with a wide band extending from the visible light region to the infrared light region.
  • the arrangement interval (cycle) of the first protrusions is preferably about 0.1 to 1 times the wavelength ⁇ of the incident light, and more preferably about 0.1 times the wavelength ⁇ .
  • the arrangement interval (period) of the first protrusions is preferably about 0.1 to 1 times the sensitive wavelength of the Schottky element formed by the semiconductor layer and the conductive layer.
  • the periodic structure is sensitively sensitive to incident light having a wavelength ⁇ of about 1 to 10 times (particularly about 10 times the period) of the first convex portion constituting the periodic structure and plasmon resonance. This contributes to the amplification of the light-induced electric field.
  • the period of the periodic structure of the first photoelectric conversion element (the arrangement interval of the first protrusions) is preferably smaller than the period of the periodic structure of the second photoelectric conversion element (the arrangement interval of the first protrusions).
  • the arrangement interval (period) of the first convex portions of the first photoelectric conversion element is more preferably about 100 nm or less. This makes it possible to have good sensitivity to light in the infrared light region to the visible light region having a wavelength of about 1 ⁇ m or less.
  • the arrangement interval (cycle) of the first convex portions of the second photoelectric conversion element is more preferably about 150 nm or less. Thereby, it is possible to have good sensitivity to infrared light having a wavelength of about 1 ⁇ m to 4 ⁇ m.
  • the protrusion height of the first protrusion is preferably about 10 nm to 20 nm.
  • At least one of the periodic structures is about 0.1 to 1 times as large as any wavelength within a certain wavelength range (preferably from the visible light region to the infrared light region) (particularly about 0.1 times the size). ) Is preferably provided. Thus, if the incident light is included in the wavelength range, at least one periodic structure of the metal nanostructure can be sensitive to the incident light.
  • the metal nanostructure further includes a plurality of second protrusions protruding larger than the first protrusions, the second protrusions are dispersed from each other, and each second protrusion is one of the periodic structures. It is preferable that they are arranged on top of each other or close to each other.
  • a near-field interaction occurs between the second protrusions constituting the random structure or between the first and second protrusions (K. Kobayashi, et.al., Progress in Nano-Electro-Optecs I. ed. M. Ohtsu, p. 119 (Sptinger-Verlag, Berlin, 2003)). Due to the synergistic effect of this near-field interaction and plasmon resonance, the photo-induced electric field can be further amplified and the sensitivity can be increased. Even if the incident light is weak, the photovoltaic force can be generated with high sensitivity.
  • the protruding height of the second protrusion is preferably about 50 nm to 200 nm.
  • the dispersion interval of the second protrusions (the distance between adjacent second protrusions) is preferably greater than the wavelength of incident light, and is greater than the sensitive wavelength of a Schottky element formed by the semiconductor layer and the conductive layer. preferable. It is preferable that the dispersion interval of the 2nd convex part of a 1st photoelectric conversion element is smaller than the dispersion interval of the 2nd convex part of a 2nd photoelectric conversion element.
  • the dispersion interval of the second convex portions of the first photoelectric conversion element is preferably 1 ⁇ m or more, and preferably about 2 ⁇ m to 3 ⁇ m.
  • the dispersion interval of the second convex portions of the second photoelectric conversion element is preferably about 3 ⁇ m to 5 ⁇ m. Thereby, it can avoid that the adjacent 2nd convex part interferes and weakens an electric field.
  • the upper limit of the dispersion interval of the second convex portions of the first photoelectric conversion element is preferably about 3 ⁇ m to 5 ⁇ m.
  • the upper limit of the dispersion interval of the second convex portions of the second photoelectric conversion element is preferably about 5 ⁇ m to 6 ⁇ m.
  • the metal nanostructure may be mixed with an insulator such as a carbon compound to form an MIM structure.
  • light in a wide wavelength range from the visible light range to the infrared range can be converted into electric power, and the electric power can be stored. Therefore, even when the power generation unit does not generate power or when the amount of power generation is small, the stored power can be supplied, and convenience can be improved.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing a schematic structure of the photovoltaic device according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing a schematic structure of the photovoltaic device according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating a schematic structure of the photovoltaic device according to the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view showing a schematic structure of the photovoltaic device according to the fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view showing a schematic structure of the photovoltaic device according to the fifth embodiment of the present invention.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing a schematic structure of the photovoltaic device according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing a schematic structure of the photovoltaic device according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a cross-
  • FIG. 6 is a cross-sectional view showing a schematic structure of the photovoltaic device according to the sixth embodiment of the present invention.
  • FIG. 7A is an image obtained by observing one part of the surface of the metal nanostructure in Example 1 with an SEM (scanning electron microscope).
  • FIG.7 (b) observed the location different from Fig.7 (a) of the surface of the metal nanostructure in Example 1 by SEM.
  • FIG. 8 is a stereoscopic image obtained by observing the surface structure of the metal nanostructure in Example 1 with an AFM (atomic force microscope).
  • FIG. 9 is an explanatory diagram of the stereoscopic image of FIG.
  • FIG. 1 shows an optical power storage device 1 according to the first embodiment of the present invention.
  • the photovoltaic power storage device 1 includes a photovoltaic power generation unit 2 and a power storage unit 3 connected to the photovoltaic power generation unit 2.
  • the photovoltaic unit 2 generates electricity with incident light.
  • the power storage unit 3 stores the generated power. Details will be described below.
  • the photovoltaic unit 2 includes a first photoelectric conversion element 10 and a second photoelectric conversion element 20. These photoelectric conversion elements 10 and 20 are electrically connected in parallel.
  • the first photoelectric conversion element 10 includes an n-type semiconductor layer 11, a conductive layer 12, and a metal nanostructure 13.
  • a conductive layer 12 is stacked on the n-type semiconductor layer 11.
  • Metal nanostructures 13 are stacked on the conductive layer 12.
  • the semiconductor layer 11 is made of silicon (Si). However, the present invention is not limited to this, and the semiconductor layer 11 may be composed of another semiconductor such as Ge or GaAs.
  • the semiconductor layer 11 is doped with an n-type impurity such as P (phosphorus).
  • the semiconductor layer 11 constitutes an n-type semiconductor.
  • the n-type semiconductor layer 11 also serves as a substrate for the first photoelectric conversion element 10.
  • the semiconductor layer 11 is composed of a silicon substrate.
  • the silicon substrate is doped with n-type impurities.
  • a silicon wafer or the like can be used as the silicon substrate.
  • the shape retention of the first photoelectric conversion element 10 is ensured by the silicon substrate.
  • the substrate may be provided separately from the n-type semiconductor layer 11.
  • the n-type semiconductor layer 11 may be coated on a substrate made of glass or a resin film.
  • the n-type semiconductor layer 11 may be formed on the surface of the separate substrate by CVD or the like.
  • the conductive layer 12 covers the entire surface of the substrate 11 (upper surface in FIG. 1).
  • the conductive layer 12 is made of metal silicide and has conductivity.
  • the silicon on the surface layer of the silicon substrate 11 is self-organized to constitute the silicon component of the conductive layer 12.
  • the metal component constituting the conductive layer 12 include Co, Fe, W, Ni, Al, and Ti. However, the metal component is not limited to these.
  • Co is used as a metal component constituting the conductive layer 12.
  • Conductive layer 12 is formed by CoSix, preferably are composed of CoSi 2. Thereby, a good Schottky interface is formed between the conductive layer 12 and the semiconductor layer 11.
  • the conductive layer 12 may be composed of only a metal component.
  • the thickness of the conductive layer 12 is about several nm to several tens of nm, and preferably about several nm.
  • the thickness of the conductive layer 12 in the drawing is exaggerated with respect to the thickness of the substrate 11, the electrodes 14, 15, the metal nanostructure 13, and the like.
  • Metal nanostructures 13 are provided on the surface of the conductive layer 12 (upper surface in FIG. 1).
  • the metal nanostructures 13 are widely distributed on the surface of the conductive layer 12.
  • the metal nanostructure 13 is disposed in a portion between electrodes 14 and 15 (hereinafter referred to as “interelectrode portion”) on the surface of the conductive layer 12, and more preferably the entire interelectrode portion. Is distributed.
  • the metal nanostructure 13 may be stacked only on a part of the conductive layer 12. For example, the metal nanostructure 13 may be provided only in the vicinity of the electrode 14 or 15 of the conductive layer 12.
  • the metal nanostructure 13 is composed mainly of a metal such as Au, Ag, Pt, Cu, or Pd.
  • Au is used as the metal constituting the metal nanostructure 13.
  • the metal nanostructure 13 is an Au-rich structure.
  • An insulator such as a carbon compound may be mixed in the metal constituting the metal nanostructure 13, and the metal nanostructure 13 has a metal-insulator-metal (MIM) metal-insulator-metal (MIM) structure. It may be.
  • the metal nanostructure 13 has a structure in which Au nanoparticles are aggregated in a cluster or fractal shape (see FIGS. 8 and 9).
  • the aggregate of Au nano-particles of the metal nanostructure 13 includes a large number of protrusions protruding in the thickness direction or stacking direction (upward in FIG. 1) of the first photoelectric conversion element 10. These convex portions are gathered in a cluster. Alternatively, it has a fractal structure in which an aggregate of Au nanoparticles is diffused so as to branch multiple times.
  • the metal nanostructure 13 includes a large number of first protrusions 13a and second protrusions 13b. A part of the many convex parts constitutes the first convex part 13a, and the other part constitutes the second convex part 13b.
  • the metal nanostructure 13 has at least one periodic structure 13c.
  • the metal nanostructure 13 has a plurality, a large number, or an infinite number of periodic structures 13c.
  • One periodic structure 13c is constituted by a plurality of adjacent convex portions 13a, 13a,.
  • the first protrusions 13a, 13a constituting each periodic structure 13c are arranged at a certain interval (period) along the surface direction of the element 10 (direction orthogonal to the stacking direction).
  • the arrangement interval (period) of the first protrusions 13a differs depending on the periodic structure 13c.
  • the arrangement interval (period) of the first protrusions 13a in the periodic structure 13c is preferably about several tens of nm to several ⁇ m, and more preferably about 40 nm to 100 nm.
  • This arrangement interval (period) is preferably about 0.1 to 1 times the wavelength of the incident light L, and more preferably about 0.1 times.
  • the arrangement interval (period) is about 0.1 to 1 times the sensitive wavelength (visible light region to infrared light region) of the Schottky element composed of the n-type semiconductor layer 11 and the conductive layer 12.
  • about 0.1 times is more preferable.
  • the metal nanostructure 13 preferably includes at least one periodic structure having an arrangement interval of about 0.1 to 1 times the arbitrary wavelength within the sensitive region of the Schottky element.
  • the metal nanostructure 13 has a plurality of second protrusions 13b dispersed therein.
  • Each 2nd convex part 13b is arrange
  • the 2nd convex part 13b has a larger protrusion height than the 1st convex part 13a, and a sharpness (ratio of protrusion height and the width of a bottom part) is larger than the 1st convex part 13a.
  • the protruding height of the second convex portion 13b is preferably about 50 nm to 200 nm.
  • the dispersion interval between the second convex portions 13b is preferably larger than the wavelength of incident light.
  • the dispersion interval is preferably 1 ⁇ m or more, and preferably about 2 ⁇ m to 3 ⁇ m.
  • the upper limit of the dispersion interval between the second convex portions 13b is preferably about 3 ⁇ m to 5 ⁇ m.
  • a pair of electrodes 14 and 15 are disposed on the conductive layer 12 at positions separated from each other.
  • one electrode 14 cathode electrode
  • the other electrode 15 anode electrode
  • the arrangement of the electrodes 14 and 15 is not limited to the above.
  • one of the electrodes 14 and 15 may be disposed at the central portion of the first photoelectric conversion element 10, and the other of the electrodes 14 and 15 may be disposed at four corners (peripheral portions) of the first photoelectric conversion element 10.
  • the electrodes 14 and 15 are made of a metal such as Au, Ag, Pt, Cu, or Pd.
  • Au is used as the second metal constituting the electrodes 14 and 15. Therefore, the electrodes 14 and 15 are made of the same metal component as the metal component constituting the metal nanostructure 13.
  • the metal component constituting the metal nanostructure 13 and the metal component constituting the electrodes 14 and 15 may be different from each other.
  • the two electrodes 14 and 15 may be composed of different metal components.
  • a barrier layer 16 (polarity determining layer) is interposed between the cathode electrode 14 and the conductive layer 12.
  • the barrier layer 16 is made of an insulator such as alumina, SiO 2 , SiN, or a carbon compound (for example, resin).
  • the thickness of the barrier layer 16 is small enough to cause a tunnel effect.
  • the thickness of the barrier layer 16 is angstrom order, ie less than 1 nm. In the drawing, the thickness of the barrier layer 16 is exaggerated with respect to the thickness of the conductive layer 12, the metal nanostructure 13, and the like.
  • the electrode 14 and the conductive layer 12 are opposed to each other with the barrier layer 16 in between to constitute a capacitor.
  • carriers (electrons) generated by photoelectric conversion are accumulated in the portion of the conductive layer 12 facing the electrode 14.
  • the electrode 14 becomes a cathode.
  • the electrode 15 becomes an anode.
  • the anode electrode 15 and the conductive layer 12 are in direct contact.
  • the anode electrode 15 is in ohmic contact with the conductive layer 12.
  • the second photoelectric conversion element 20 has substantially the same structure as the first photoelectric conversion element 10. That is, the second photoelectric conversion element 20 includes a semiconductor layer 21, a conductive layer 22, and a metal nanostructure 23. A conductive layer 22 is stacked on the semiconductor layer 21. Metal nanostructures 23 are stacked on the conductive layer 22.
  • the second photoelectric conversion element 20 is different from the first photoelectric conversion element 10 in that the semiconductor layer 21 is p-type.
  • the semiconductor layer 21 is doped with a p-type impurity such as B (boron).
  • the semiconductor layer 21 is made of silicon (Si).
  • the present invention is not limited to this, and the semiconductor layer 21 may be composed of another semiconductor such as Ge or GaAs.
  • the p-type semiconductor layer 21 also serves as a substrate for the second photoelectric conversion element 20.
  • the p-type semiconductor layer 21 is composed of a silicon substrate doped with p-type impurities. A silicon wafer or the like can be used as the silicon substrate. The shape retention of the second photoelectric conversion element 20 is ensured by the silicon substrate.
  • the substrate may be provided separately from the p-type semiconductor layer 21.
  • the p-type semiconductor layer 21 may be coated on a substrate made of glass or a resin film.
  • the p-type semiconductor layer 21 may be formed on the surface of the separate substrate by CVD or the like.
  • the conductive layer 22 covers the entire surface of the substrate 21 (upper surface in FIG. 1).
  • the conductive layer 22 is made of metal silicide and has conductivity.
  • the silicon on the surface layer of the silicon substrate 21 is self-organized to constitute the silicon component of the conductive layer 22.
  • the metal component constituting the conductive layer 22 include Co, Fe, W, Ni, Al, and Ti. However, the metal component is not limited to these.
  • Co is used as a metal component constituting the conductive layer 22.
  • Conductive layer 22 is formed by CoSix, preferably are composed of CoSi 2. Thereby, a good Schottky interface is formed between the conductive layer 22 and the semiconductor layer 21.
  • the conductive layer 22 may be composed of only a metal component.
  • the thickness of the conductive layer 22 is about several nm to several tens of nm. The thickness of the conductive layer 22 in the drawing is exaggerated with respect to the thickness of the substrate 21, the metal nanostructure 23, and the like.
  • Metal nanostructures 23 are provided on the surface of the conductive layer 22 (upper surface in FIG. 1).
  • the metal nanostructures 23 are widely distributed on the surface of the conductive layer 22.
  • the metal nanostructure 23 is arranged in a portion between electrodes 24 and 25 (hereinafter referred to as “interelectrode portion”) on the surface of the conductive layer 22, and more preferably the entire interelectrode portion. Is distributed.
  • the metal nanostructures 23 are not limited to being stacked on substantially the entire surface of the conductive layer 22, and may be stacked only on a part of the conductive layer 22.
  • the metal nanostructure 23 is composed mainly of a metal such as Au, Ag, Pt, Cu, or Pd.
  • Au is used as the metal constituting the metal nanostructure 23.
  • the metal nanostructure 23 is an Au-rich structure.
  • the metal constituting the metal nanostructure 23 may be mixed with an insulator such as a carbon compound, and the metal nanostructure 23 may have an MIM structure.
  • the metal nanostructure 23 has a structure in which Au nanoparticles are aggregated in a cluster shape or a fractal shape (see FIGS. 8 and 9).
  • the aggregate of Au nano-particles of the metal nanostructure 23 includes a large number of protrusions protruding in the thickness direction or the stacking direction (upward in FIG. 1) of the second photoelectric conversion element 20. These convex portions are gathered in a cluster. Alternatively, it has a fractal structure in which an aggregate of Au nanoparticles is diffused so as to branch multiple times.
  • the metal nanostructure 23 includes a large number of first protrusions 23a and second protrusions 23b. In the metal nanostructure 23, a part of the many protrusions constitutes the first protrusion 23a, and the other part constitutes the second protrusion 23b.
  • the metal nanostructure 23 has at least one periodic structure 23c.
  • the metal nanostructure 23 has a plurality, a large number, or an infinite number of periodic structures 23c.
  • One periodic structure 23c is constituted by a plurality of adjacent convex portions 23a, 23a... In the above-described many convex portions of the metal nanostructure 23.
  • the first protrusions 23a, 23a,... Constituting each periodic structure 23c are arranged at a certain interval (period) along the surface direction of the element 10 (direction orthogonal to the stacking direction). The arrangement interval (period) of the first protrusions 23a differs depending on the periodic structure 23c.
  • the arrangement interval (period) of the first protrusions 23a in these periodic structures 23c is preferably about several tens of nm to several ⁇ m, more preferably slightly larger than that of the first photoelectric conversion element, and more preferably about 60 nm to 150 nm. preferable.
  • This arrangement interval (period) is preferably about 0.1 to 1 times the wavelength of the incident light L, and more preferably about 0.1 times.
  • the arrangement interval (period) is preferably about 0.1 to 1 times the sensitive wavelength (infrared light region) of the Schottky element composed of the P-type semiconductor layer 21 and the conductive layer 22. About 0.1 times is more preferable.
  • the metal nanostructure 23 has at least one periodic structure having an arrangement interval of about 0.1 to 1 times the arbitrary wavelength within the sensitive region of the Schottky element including the P-type semiconductor layer 21 and the conductive layer 22. It is preferable to include one.
  • a plurality of second convex portions 23b are dispersed and arranged in the metal nanostructure 23.
  • Each 2nd convex part 23b is arrange
  • the second convex portion 23b has a larger protruding height than the first convex portion 23a, and has a higher sharpness (ratio of the protruding height and the width of the bottom portion) than the first convex portion 23a.
  • the protruding height of the second convex portion 23b is preferably about 50 nm to 200 nm.
  • the dispersion interval between the second convex portions 23b is preferably larger than the incident wavelength or the sensitive wavelength of the Schottky element composed of the p-type semiconductor layer 21 and the conductive layer 22, and the second convex portion 13b of the first photoelectric conversion element 10 is used. It is preferable that it is larger than the dispersion interval.
  • the dispersion interval between the second protrusions 23b is preferably about 3 ⁇ m to 5 ⁇ m.
  • the upper limit of the dispersion interval between the second convex portions 23b is preferably about 5 ⁇ m to 6 ⁇ m.
  • a pair of electrodes 24 and 25 are disposed on the conductive layer 22 at positions separated from each other.
  • one electrode 24 anode electrode
  • the other electrode 25 cathode electrode
  • the arrangement of the electrodes 24 and 25 is not limited to the above.
  • one of the electrodes 24 and 25 may be disposed at the center of the second photoelectric conversion element 20, and the other of the electrodes 24 and 25 may be disposed at four corners (peripheral parts) of the second photoelectric conversion element 20.
  • the electrodes 24 and 25 are made of a metal such as Au, Ag, Pt, Cu, or Pd.
  • Au is used as the second metal constituting the electrodes 24 and 25. Therefore, the electrodes 24 and 25 are made of the same metal component as the metal component constituting the metal nanostructure 23.
  • the metal component constituting the metal nanostructure 23 and the metal component constituting the electrodes 24 and 25 may be different from each other.
  • the two electrodes 24 and 25 may be composed of different metal components.
  • the electrodes 24 and 25 may be made of a metal component different from the electrodes 14 and 15 of the first photoelectric conversion element 10.
  • a barrier layer 26 (polarity determining layer) is interposed between the anode electrode 24 and the conductive layer 22.
  • the barrier layer 26 is made of an insulator such as alumina, SiO 2 , SiN, or a carbon compound (for example, resin).
  • the thickness of the barrier layer 26 is sufficiently small to cause a tunnel effect.
  • the thickness of the barrier layer 26 is angstrom order, ie less than 1 nm. In the drawing, the thickness of the barrier layer 26 is exaggerated with respect to the thickness of the conductive layer 22, the metal nanostructure 23, and the like.
  • the electrode 24 and the conductive layer 22 are opposed to each other with the barrier layer 26 in between to constitute a capacitor. As will be described later, carriers (holes) generated by photoelectric conversion are accumulated in a portion facing the electrode 24 of the conductive layer 22. Thus, the electrode 24 becomes an anode. The electrode 25 becomes a cathode.
  • the cathode electrode 25 and the conductive layer 22 are in direct contact.
  • the cathode electrode 25 is in ohmic contact with the conductive layer 22.
  • the first photoelectric conversion element 10 and the second photoelectric conversion element 20 are stacked in the thickness direction (up and down in FIG. 1).
  • the 1st photoelectric conversion element 10 is arrange
  • the 2nd photoelectric conversion element 20 is arrange
  • a slight gap is formed between the photoelectric conversion elements 10 and 20.
  • the photoelectric conversion elements 10 and 20 are arranged so as to intersect the incident direction of the light L, and preferably arranged so as to be substantially orthogonal to the incident direction.
  • the metal nanostructures 13 and 23 of the photoelectric conversion elements 0 and 20 are directed to the front side (incident side of the light L), and the substrates 11 and 21 are directed to the back side.
  • the first photoelectric conversion element 10 and the second photoelectric conversion element 20 are connected in parallel.
  • the power storage unit 3 includes a pair of electrodes 31 and 32 and a dielectric layer 33 sandwiched between the electrodes 31 and 32 to constitute a capacitor.
  • the material of the dielectric layer 33 is a dielectric (insulator), and examples thereof include alumina, resin, silicon oxide, and silicon nitride. However, the said material is not limited to these.
  • the negative electrode 31 is provided with a terminal 31e.
  • a terminal 32 e is provided on the positive electrode 32.
  • the negative electrode terminal 31 e of the power storage unit 3 is connected to the negative electrode of the photovoltaic unit 2.
  • the positive terminal 32 e of the power storage unit 2 is connected to the positive electrode of the photovoltaic unit 2.
  • the 1st photoelectric conversion element 10 is produced as follows. [First conductive layer material coating step] A P-doped n-type silicon substrate 11 is prepared. Co, which is a raw material component of the conductive layer 12, is formed on the substrate 11. As the Co film forming method, PVD (Physical Vapor Deposition) such as sputtering or vapor deposition can be employed. Not limited to PVD, Co may be coated by other film forming methods such as spin coating.
  • PVD Physical Vapor Deposition
  • a barrier layer 16 made of an insulator (for example, alumina) having an angstrom order thickness is disposed at a position where the first electrode 14 is to be disposed on the Co film.
  • the arrangement of the barrier layer 16 can be performed by various film forming methods such as CVD.
  • a metal raw material (Au) to be the first electrode 14 is provided on the barrier layer 16. Further, a metal raw material (Au) to be the second electrode 15 is provided at a position where the second electrode 15 is to be disposed on the Co film.
  • the metal raw material (Au) for the electrodes 14 and 15 can be arranged by various film forming methods such as sputtering and vapor deposition.
  • a metal raw material (Au) that becomes the metal nanostructure 13 is disposed between the electrodes 14 and 15 on the Co film.
  • the shape or property of the metal raw material (Au) of the metal nanostructure 13 is not particularly limited, and is a thin film, small piece, small lump, granular, powder, colloid, fiber, wire, dot, etc. Any of these may be used, and other shapes or properties may be used.
  • the metal raw material (Au) is in the form of a thin film, it can be formed by PVD such as sputtering or vapor deposition.
  • a part of the metal raw material (Au) to be the electrodes 14 and 15 can be diffused into the inter-electrode part in the diffusion process described later to form the metal nanostructure 13, in which case the metal nanostructure raw material arranging step is omitted. May be.
  • the temperature condition for the annealing treatment is preferably about 400 ° C. to 800 ° C., more preferably about 600 ° C.
  • the annealing treatment is performed in a 100% inert gas atmosphere as much as possible.
  • a rare gas such as He, Ar, Ne or the like can be used, and N 2 may also be used.
  • the pressure condition for the annealing treatment is in the vicinity of atmospheric pressure, for example, about several Pa lower than atmospheric pressure.
  • the Co is diffused into Si constituting the surface portion of the substrate 11 by the annealing treatment.
  • the CoSix layer 12 formed by self-organizing the surface portion of the Si substrate 11 is formed, and the semiconductor layer 11 and the conductive layer 12 can be securely bonded by Schottky.
  • the annealing treatment Au fine particles arranged on the conductive layer 12 are diffused so as to form clusters or fractals along the surface of the conductive layer 12. That is, Au fine particles diffuse so as to branch into multiple, and become an aggregate of a fractal structure.
  • the surface of the aggregate has sub-micron or nano-order irregularities and is clustered.
  • the metal nanostructure 13 can be formed naturally.
  • the first photoelectric conversion element 10 can be manufactured.
  • a manufacturing procedure of the second photoelectric conversion element 20 will be described.
  • a B-doped p-type silicon substrate 21 is prepared as a substrate.
  • the p-type silicon substrate 21 is sequentially subjected to a conductive layer material coating process, a barrier arrangement process, a metal nanostructure material arrangement process, and a diffusion process.
  • Co which is a raw material component of the conductive layer 22, is formed on the p-type silicon substrate 21 by PVD or the like.
  • a barrier layer 26 made of an insulator (eg, alumina) having a thickness of angstrom order is formed by CVD or the like at a position where the first electrode 24 is to be disposed on the Co film.
  • a metal raw material (Au) to be the first electrode 24 is disposed on the barrier layer 26. Further, a metal raw material (Au) to be the second electrode 25 is disposed at a position where the second electrode 25 is to be disposed on the Co film.
  • the metal raw material (Au) for the electrodes 24 and 25 can be arranged by various film forming methods such as sputtering and vapor deposition.
  • a metal raw material (Au) that becomes the metal nanostructure 23 is disposed between the electrodes 24 and 25 on the Co film.
  • the shape or property of the metal raw material (Au) of the metal nanostructure 23 is not particularly limited, and is a thin film shape, small piece shape, small lump shape, granular shape, powder shape, colloidal shape, fiber shape, wire shape, dot shape, or the like. Any of these may be used, and other shapes or properties may be used.
  • the metal raw material (Au) of the metal nanostructure 23 is in the form of a thin film, it can be formed by PVD such as sputtering or vapor deposition.
  • a part of the metal raw material (Au) to be the electrodes 24 and 25 can be diffused into the interelectrode portion in the second diffusion step described later to form the metal nanostructure 23.
  • the second metal nanostructure raw material The arranging step may be omitted.
  • the temperature condition for the annealing treatment is preferably about 400 ° C. to 800 ° C., more preferably about 600 ° C.
  • the annealing treatment is performed in a 100% inert gas atmosphere as much as possible.
  • a rare gas such as He, Ar, Ne or the like can be used, and N 2 may also be used.
  • the pressure condition for the annealing treatment is in the vicinity of atmospheric pressure, for example, about several Pa lower than atmospheric pressure.
  • the Co is diffused into Si constituting the surface portion of the substrate 21 by the annealing process.
  • the CoSix layer 22 formed by self-organizing the surface portion of the Si substrate 21 is formed, and the semiconductor layer 21 and the conductive layer 22 can be securely bonded by Schottky.
  • Au fine particles arranged on the conductive layer 22 diffuse so as to form clusters or fractals along the surface of the conductive layer 22. That is, Au fine particles diffuse so as to branch into multiple, and become an aggregate of a fractal structure.
  • the surface of the aggregate has sub-micron or nano-order irregularities and is clustered.
  • the metal nanostructure 23 can be naturally formed. In this way, the 2nd photoelectric conversion element 20 can be produced.
  • the manufacture of the first photoelectric conversion element 10 and the manufacture of the second photoelectric conversion element 20 may be performed in parallel.
  • the substrates 11 and 21 may be placed in a common annealing bath and the first and second diffusion steps may be performed simultaneously.
  • the first photoelectric conversion element 10 and the second photoelectric conversion element 20 produced as described above are connected in parallel. Further, the photovoltaic unit 2 and the power storage unit 3 are connected. In this way, the optical power storage device 1 can be manufactured.
  • the operation of the optical power storage device 1 will be described.
  • the light L enters the first photoelectric conversion element 10.
  • photoelectric conversion occurs in the first photoelectric conversion element 10 and electric power is generated.
  • the light L transmitted through the first photoelectric conversion element 10 further enters the second photoelectric conversion element 20.
  • photoelectric conversion occurs in the second photoelectric conversion element 20, and electric power is generated.
  • Electric power generated by the photoelectric conversion elements 10 and 20 is stored in the power storage unit 3. Therefore, electric power can be supplied even during light reception and thus not during power generation.
  • the areas of the photoelectric conversion elements 10 and 20 can be approximately the same as the installation area of the optical power storage device 1. Therefore, the light receiving efficiency can be sufficiently increased.
  • the operation of the photoelectric conversion elements 10 and 20 will be further described in detail.
  • the n-type first photoelectric conversion element 10 is sensitive to light in the visible light region to the near infrared region (specifically, a wavelength of about 0.4 ⁇ m to 2 ⁇ m) of the incident light L.
  • the electrons of the photocarrier move to the n-Si layer 11 side by the electric field of the depletion layer. Along with this, electrons flow from the electrode 15 into the conductive layer 12. A current can flow smoothly between the electrode 15 and the conductive layer 12. Electrons flow to the electrode 14 side along the conductive layer 12. Electrons are accumulated in a portion of the conductive layer 12 facing the electrode 14. The electrons can pass through the barrier layer 16 due to the tunnel effect and move to the electrode 14. Thereby, a photo-induced current can be taken out. Therefore, the electrode 14 becomes a cathode. The electrode 15 becomes the anode.
  • the electrode 15 serving as the anode and the electrode 14 serving as the cathode can be determined, and the direction of the photoinduced current can be controlled. Therefore, the current-voltage characteristic can be reliably asymmetrical between the positive side and the negative side, and a clean diode characteristic can be obtained.
  • the sensitivity of photoelectric conversion of the first photoelectric conversion element 10 can be increased by the metal nanostructure 13 in the vicinity of the Schottky junction. Plasmon is localized on the surface of the Au nanoparticle constituting the metal nanostructure 13. The surface plasmon and incident light resonate to generate a large electric field.
  • the periodic structure 13c of the metal nanostructure 13 increases the sensitivity of photoelectric conversion with respect to incident light having a wavelength corresponding to the period (the arrangement interval of the first protrusions 13a).
  • the periodic structure 13c is sensitively sensitive to incident light having a wavelength of about 1 to 10 times, particularly about 10 times the period, and causes plasmon resonance.
  • the wavelength range which the metal nanostructure 13 can respond can be widened.
  • near-field light is generated around the second convex portion 13b.
  • a large light-induced electric field can be generated by a synergistic effect of the near-field light and plasmon resonance by the periodic structure 13c. Accordingly, it is sensitive to light having a wavelength ranging from the visible light region to the infrared light region, and photoelectric conversion can be reliably caused. Even if the incident light is weak, the photovoltaic force can be generated with high sensitivity.
  • the dispersion interval of the second convex portions 13b By making the dispersion interval of the second convex portions 13b larger than the wavelength of incident light (visible light region to infrared light region), preferably 1 ⁇ m or more, more preferably 2 ⁇ m to 3 ⁇ m, the adjacent second convex portions 13b. , 13b can be prevented from interfering with each other to weaken the electric field.
  • the upper limit of the dispersion interval of the second protrusions 13b By setting the upper limit of the dispersion interval of the second protrusions 13b to 3 ⁇ m to 5 ⁇ m, the existence density of the second protrusions 13b can be maintained high, and the number of periodic structures 13c that can cause interaction with the second protrusions 13b is reduced. Can be secured, and the sensitive band can be reliably widened. Therefore, it is possible to provide the photoelectric conversion element 1 that can cope with a wide band extending from the visible light region to the infrared light region.
  • the transmitted light mainly has a wavelength outside the sensitive band of the first photoelectric conversion element 10.
  • the transmitted light is incident on the second photoelectric conversion element 20.
  • photocarriers are generated at the Schottky junction between the p-type semiconductor layer 21 and the conductive layer 22.
  • the p-type second photoelectric conversion element 20 has sensitivity to light in the infrared region (specifically, a wavelength of about 1 ⁇ m to 4 ⁇ m).
  • the holes of the photocarrier move to the p-Si layer 21 side by the electric field of the depletion layer. Along with this, holes flow from the electrode 25 into the conductive layer 22. A current can flow smoothly between the electrode 25 and the conductive layer 22. Holes flow toward the electrode 24 along the conductive layer 22. Holes are accumulated in the portion of the conductive layer 22 facing the electrode 24. This hole can penetrate the barrier layer 26 by the tunnel effect and move to the electrode 24. Thereby, a photo-induced current can be taken out. Therefore, the electrode 24 becomes an anode. The electrode 25 becomes the cathode. In this way, the electrode 24 serving as the anode and the electrode 25 serving as the cathode can be determined, and the direction of the photoinduced current can be controlled. Therefore, the current-voltage characteristic can be reliably asymmetrical between the positive side and the negative side, and a clean diode characteristic can be obtained.
  • the sensitivity of photoelectric conversion of the second photoelectric conversion element 20 can be increased by the metal nanostructure 23 in the vicinity of the Schottky junction. Plasmon is localized on the surface of the Au nanoparticle constituting the metal nanostructure 23. The surface plasmon and incident light resonate to generate a large electric field.
  • the periodic structure 23c of the metal nanostructure 23 increases the sensitivity of photoelectric conversion with respect to incident light having a wavelength corresponding to the period (the arrangement interval of the first protrusions 23a).
  • the periodic structure 23c is sensitively sensitive to incident light having a wavelength of about 1 to 10 times, especially about 10 times the period, and causes plasmon resonance.
  • the wavelength range which the metal nanostructure 23 can respond can be widened.
  • near-field light is generated around the second convex portion 23B.
  • a large light-induced electric field can be generated by a synergistic effect of the near-field light and plasmon resonance by the periodic structure 23c.
  • it is sensitive to the light in the infrared region of about 1 ⁇ m to 4 ⁇ m that has passed through the first photoelectric conversion element 1, and the photoelectric conversion can surely occur. Even if the incident light is weak, the photovoltaic force can be generated with high sensitivity.
  • the dispersion interval of the second convex portions 23b By making the dispersion interval of the second convex portions 23b larger than the wavelength of the incident light, it is possible to avoid the adjacent second convex portions 23b and 23b from interfering with each other and weakening the electric field.
  • the upper limit of the dispersion interval of the second protrusions 23b for example, about 5 ⁇ m to 6 ⁇ m
  • the existence density of the second protrusions 23b can be maintained high, and the periodic structure 23c that can cause interaction with the second protrusions 23b.
  • the sensitive band can be widened reliably. Therefore, the photoelectric conversion element 1A that can sufficiently cope with the infrared light region can be provided.
  • the optical power storage device 1 it goes without saying that during the day, even after sunset, infrared light scattered in the atmosphere is photoelectrically converted to obtain electric power, which can be stored. By absorbing infrared light, thermal conversion of infrared light can be prevented, and it can also be expected as a measure against global warming.
  • FIG. 2 shows a second embodiment of the present invention.
  • the photoelectric conversion elements 10 and 20 are connected in series instead of the parallel connection of the first embodiment.
  • the other configuration of the second embodiment is the same as that of the first embodiment.
  • FIG. 3 shows a third embodiment of the present invention.
  • the 1st photoelectric conversion element 10 and the 2nd photoelectric conversion element 20 are arranged in the surface direction orthogonal to each thickness direction.
  • the photoelectric conversion elements 10 and 20 are connected in parallel.
  • the light L directly enters the first photoelectric conversion element 10 and the second photoelectric conversion element 20, respectively.
  • incident light is not blocked by the other photoelectric conversion element. Therefore, both photoelectric conversion elements 10 and 20 can sufficiently receive the light in the sensitive band overlapping each other and perform photoelectric conversion. Therefore, the photoelectric conversion capability of these photoelectric conversion elements 10 and 20 can be fully expressed.
  • the photoelectric conversion elements 10 and 20 are connected in series instead of the parallel connection of the third embodiment.
  • Other configurations of the fourth embodiment are the same as those of the third embodiment.
  • the light receiving area of each of the photoelectric conversion elements 10 and 20 is about half that of the first and second embodiments.
  • the wavelength range of light to be subjected to photoelectric conversion is biased to the sensitive band of one of the photoelectric conversion elements 10 and 20, it is preferable to employ the first and second embodiments.
  • FIG. 5 shows a fifth embodiment of the present invention.
  • the fifth embodiment relates to a modification of the fourth embodiment.
  • a zinc oxide nanostructure 41 is provided on the surface (upper surface in FIG. 5) of the first photoelectric conversion element 10.
  • Zinc oxide constitutes an n-type semiconductor.
  • the nanostructure 41 is composed of nanowires, and is projected on the surface of the first photoelectric conversion element 10.
  • the nanostructure 41 protrudes from the metal nanostructure 13.
  • the metal nanostructure 13 is coated only on a part of the conductive layer 12, the nanostructure 41 may protrude from the conductive layer 12 in a portion where the metal nanostructure 13 is not coated.
  • the nanowire can be formed by CVD, PVD, sol-gel method or the like.
  • the nanostructure 41 is not limited to a nanowire, and may be a nanoneedle, a nanotube, or a nanorod.
  • a carbon nanostructure 42 is provided on the surface of the second photoelectric conversion element 20 (upper surface in FIG. 5).
  • the carbon nanostructure 42 is composed of carbon (carbon) nanotubes, and is protruded from the surface of the second photoelectric conversion element 20.
  • the carbon nanostructure 42 protrudes from the metal nanostructure 23.
  • the carbon nanotube can be formed by CVD, PVD, sol-gel method or the like.
  • the nanostructure 42 is not limited to a nanotube, and may be a nanowire, a nanoneedle, or a nanorod.
  • the photoelectric conversion sensitivity in the first photoelectric conversion element 10 can be increased by the zinc oxide nanostructure 41.
  • the sensitivity on the short wavelength side of the sensitive band of the first photoelectric conversion element 10 can be increased.
  • the sensitivity can be improved for light from an ultraviolet light region of less than about 0.4 ⁇ m to a visible light region of about 1 ⁇ m.
  • the photoelectric conversion sensitivity in the second photoelectric conversion element 20 can be increased by the carbon nanostructure 42. In particular, the sensitivity on the long wavelength side of the sensitive band of the second photoelectric conversion element 20 can be increased.
  • the sensitivity can be improved for light from a visible light range of about 2 ⁇ m to an infrared light range of about 4 ⁇ m. Since the carbon nanostructure 41 is composed of carbon nanotubes, the quantum efficiency is high, and as a result, the sensitivity of the second photoelectric conversion element 20 can be reliably increased. As a result, the wavelength band capable of photoelectric conversion can be further expanded to both the short wavelength side and the long wavelength side.
  • FIG. 6 shows a sixth embodiment of the present invention.
  • the sixth embodiment relates to a modification of the polarity determining layer.
  • a convex layer 17 is provided as a polarity determining layer in place of the barrier layer 16 described above.
  • the convex layer 17 is formed integrally with the n-type semiconductor layer 11.
  • a portion close to the cathode electrode 14 on the surface (upper surface) of the semiconductor layer 11 protrudes, and this protruding portion constitutes a convex layer 17.
  • the protruding height of the convex layer 17 is approximately the same as the thickness of the conductive layer 12, and is, for example, approximately 1 nm to 10 nm, and preferably approximately several nm.
  • the width dimension (left and right dimensions in FIG. 6) of the convex layer 17 is, for example, about several hundred ⁇ m to about 1 mm.
  • the protruding height (vertical dimension) of the convex layer 17 is exaggerated with respect to the width (horizontal dimension).
  • the convex layer 17 is interposed between the end portion of the conductive layer 12 on the cathode electrode 14 side and the cathode electrode 14.
  • One side surface (left side surface in FIG. 6) of the convex layer 17 is in Schottky contact with the end surface of the conductive layer 12.
  • the other side surface (right side surface in FIG. 6) of the convex layer 17 is in ohmic contact with the cathode electrode 14.
  • the metal nanostructure 13 is formed so as to straddle the conductive layer 12 and the upper surface of the convex layer 17.
  • the metal nanostructure 13 may be provided only on the upper surface of the convex layer 17. Alternatively, the metal nanostructure 13 may be provided only on the upper surface of the conductive layer 12.
  • the p-type second photoelectric conversion element 20 is provided with a convex layer 27 as a polarity determining layer instead of the barrier layer 26 described above.
  • the convex layer 27 is formed integrally with the p-type semiconductor layer 21. A portion near the anode electrode 24 on the surface (upper surface) of the semiconductor layer 21 protrudes, and this protruding portion constitutes a protruding layer 27.
  • the protruding height of the convex layer 27 is about the same as the thickness of the conductive layer 22, for example, about 1 nm to 10 nm, and preferably about several nm.
  • the width dimension of the convex layer 27 (left and right dimensions in FIG. 6) is, for example, about several hundred ⁇ m to about 1 mm. In FIG. 6, the protruding height (vertical dimension) of the convex layer 27 is exaggerated with respect to the width (horizontal dimension).
  • the convex layer 27 is interposed between the anode electrode 24 end of the conductive layer 22 and the anode electrode 24 side.
  • One side surface (right side surface in FIG. 6) of the convex layer 27 is in Schottky contact with the end surface of the conductive layer 22.
  • the other side surface (left side surface in FIG. 6) of the convex layer 27 is in ohmic contact with the anode electrode 24.
  • Metal nanostructures 23 are formed so as to extend from the conductive layer 22 to the upper surface of the convex layer 27.
  • the metal nanostructure 23 may be provided only on the upper surface of the convex layer 27. Alternatively, the metal nanostructure 23 may be provided only on the upper surface of the conductive layer 22.
  • the electrode 14 can be a cathode.
  • the electrode 15 can be an anode.
  • the end of the conductive layer 22 Photo carriers are also generated at the Schottky junction with the convex layer 27.
  • the holes of the carriers flow to the convex layer 27 side and thus to the electrode 24 by the depletion layer electric field between the conductive layer 22 and the convex layer 27. Therefore, the electrode 24 can be an anode.
  • the electrode 25 can be a cathode.
  • the photovoltaic unit 2 may include two or more of at least one of the first photoelectric conversion element 20 and the second photoelectric conversion element 20.
  • the photovoltaic unit 2 may include three or more photoelectric conversion elements 10 and 20. Two or more photoelectric conversion elements 10 and 20 may be connected in series and parallel.
  • the barrier layers 16 and 26 may be interposed between at least a part of the conductive layers 12 and 22 and the electrodes 14 and 24, and are not necessarily interposed between the conductive layers 12 and 22 and the electrodes 14 and 24. There is no need.
  • the metal component constituting the conductive layers 12 and 22 is not limited to Co, but may be Fe, W, Ni, Al, Ti, or the like.
  • the metal component constituting the metal nanostructures 13 and 23 is not limited to Au, and may be Ag, Pt, Cu, Pd, or the like.
  • a plurality of embodiments may be combined with each other.
  • the first photoelectric conversion element and the second photoelectric conversion element may partially overlap each other in the thickness direction and may be shifted in a plane direction orthogonal to the thickness direction.
  • the nanostructures 41 and 42 similar to those of the fifth embodiment may be provided in the photoelectric conversion elements 10 and 20 of the first to third embodiments.
  • the convex layers 17 and 27 similar to those in the sixth embodiment (FIG. 6) may be applied as the polarity determining layer.
  • the two types of nanostructures 41 and 42 only the zinc oxide nanostructure 41 is provided in the first photoelectric conversion element 10, and the second photoelectric conversion element 20 is not provided with the carbon nanostructure 42. Good.
  • the two types of nanostructures 41 and 42 only the carbon nanostructure 42 is provided in the second photoelectric conversion element 20, and the first photoelectric conversion element 10 is not provided with the zinc oxide nanostructure 41. Good.
  • the order may be changed or changed as appropriate.
  • the second photoelectric conversion element 20 may be disposed on the front side (incident side, upper side), and the first photoelectric conversion element 10 may be disposed on the back side (lower side).
  • the substrate 11 of the photoelectric conversion element 10 may be directed to the front side (incident side of the light L), and the metal nanostructure 13 may be directed to the back side.
  • the substrate 21 of the photoelectric conversion element 20 may be directed to the front side (incident side of the light L), and the metal nanostructure 23 may be directed to the back side.
  • Example 1 fabrication and observation of metal nanostructures were performed.
  • the metal nanostructure was produced as follows.
  • a Co film was formed on the entire surface of a substantially square n-type Si substrate by sputtering.
  • the thickness of the Co film was 8 nm.
  • the thickness of the Au film was about 10 nm.
  • annealing treatment was performed.
  • the atmosphere gas for the annealing treatment was He 100%.
  • the annealing temperature was 600 ° C.
  • the annealing time was 3 minutes.
  • FIGS. 7A and 7B show the images. It was confirmed that the fine particles of the Au film diffused along the surface of the CoSix film, and a metal nanostructure was naturally formed around the Au film. The morphology of the metal nanostructure was different depending on the location. As shown in FIG. 2B, a fractal structure was formed in the metal nanostructure depending on the location.
  • FIG. 8 shows the image.
  • FIG. 9 duplicates and explains the image of FIG.
  • Sub-order or nano-order irregularities were formed on the surface of the metal nanostructure, and a cluster structure or fractal structure was confirmed.
  • a large number of periodic structures 13c and a large number of second convex portions 13b were confirmed in the uneven shape.
  • Each periodic structure 13c includes a plurality of first protrusions 13a, and the first protrusions 13a are arranged at random periods (arrangement intervals) according to the periodic structure 13c.
  • the period of the periodic structure 13c was approximately 100 nm or less.
  • the protruding height of each first convex portion 13a was about 10 nm to 20 nm.
  • Each 2nd convex part 13b has been arrange
  • the protrusion height of the second protrusion 13b is larger than the protrusion height of the first protrusion 13a, and is about 50 nm to 200 nm.
  • the dispersion interval of the second protrusions 13b was about 2 ⁇ m to 3 ⁇ m.
  • the present invention is applicable to, for example, a solar storage battery.

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Abstract

【課題】光電変換素子により光電変換可能な波長帯域を広くし、かつ電力使用時が受光時とずれていても対応可能にする。 【解決手段】光蓄電装置1は、光発電部2と、蓄電部3を備えている。光発電部2は第1、第2光電変換素子10,20を含む。各光電変換素子10,20が、半導体層11,21と、導電層12,22と、ランダムな周期の周期構造13cを複数有する金属ナノ構造13,23を含む。第1光電変換素子10の半導体層11は、n型半導体層である。第2光電変換素子20の半導体層21は、p型半導体層である。

Description

光蓄電装置
 本発明は、光電変換により発電し、かつ発電した電力を蓄電する光蓄電装置に関する。
 例えば特許文献1には、表面プラズモン共鳴を利用した光電変換素子が記載されている。素子の金属層の表面に一様な周期の凹凸構造が形成されている。凹凸構造上に半導体層が積層され、更にその上に透明電極が積層されている。金属層の裏面には他の電極が積層されている。素子に光が入射すると、金属層の凹凸構造側の表面の電子が入射光と共鳴して振動し、電流が発生する。
 特許文献2に記載の光電変換素子では、表面に2種以上の微粒子を設け、少なくとも2つの波長帯域で表面プラズモン共鳴を起こすようにしている。
 また、n型Siに厚さ数μm以上のAuを積層したショットキー型の光センサーによって可視光を検出できることが1960年代から知られている。
 非特許文献1には、n型SiにCoSiを積層した光センサーによって1μm~2μmの近赤外光を検出できることが記載されている。
 非特許文献2には、p型SiGeにCoSiを積層した光センサーによって1μm~5μmの赤外光を検出できることが記載されている。
 非特許文献3には、p型SiにPtを積層した光センサーによって1μm~6μmの赤外光を検出できることが記載されている。
 非特許文献4には、SiにIrを積層した光センサーによって10μm以下の光を検出できることが記載されている。
特開2007-073794号公報 特開2010-021189号公報
Roca,Elisenda,et al., Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering 2525(2), 456(1995) S.Kolondinski,et al., Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering2554, 175(1995) J.M.Mooney and J.Silverman, IEEE Trans.Electron DevicesED-32, 33-39(1985) B-Y.Tsaur, M.M. Weeks, R.Trubiano and P.W.Pellegrini, IEEE Electron Device Left.9,650-653(1988)
 非特許文献1~4からも明らかな通り、ショットキーフォトダイオード等の光電変換素子の感応帯域は、半導体がn型であるかp型であるかによって異なっている。n型は、可視光域から近赤外域に感度を持っており、近赤外域より長波長の赤外域にはあまり感応しない。p型は、赤外域に感度を持っており、可視光域にはあまり感応しない。また、電力の使用時が、必ずしも受光時ひいては発電時と一致しているとは限らない。
 本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、光電変換可能な波長帯域を広くして光の利用効率を高め、かつ電力使用時が受光時とずれていても対応できるようにして利便性を高めることを目的とする。
 本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、光により発電する光発電部と、前記光発電部に接続されて前記発電した電力を蓄電する蓄電部とを備え、前記光発電部が、互いに直列、並列、又は直並列に接続された第1、第2光電変換素子を含み、前記第1、第2光電変換素子の各々が、半導体層と、前記半導体層に積層された導電層と、前記導電層に積層された複数(好ましくは多数)の周期構造を有する金属ナノ構造とを含み、前記各周期構造が前記積層の方向に突出する複数の第1凸部からなり、前記第1凸部の配置間隔が前記周期構造に応じて異なり、前記第1光電変換素子の半導体層が、n型半導体層であり、前記第2光電変換素子の半導体層が、p型半導体層であることを特徴とする。
 各光電変換素子に光が入射すると、半導体層と導電層とのショットキー接合部において光電変換によりフォトキャリアが生成される。かつ、上記ショットキー接合部の近傍の金属ナノ構造によって光電変換の感度を高めることができる。第1光電変換素子では、可視光域から近赤外域の光に対し感度を高めることができる。第2光電変換素子では、赤外域の光に対し感度を高めることができる。したがって、第1、第2の光電変換素子を組み合わせることによって、光電変換可能な波長帯域を広くでき、光の利用効率を高めることができる。これら光電変換素子にて発電した電力を蓄電部に蓄電しておくことにより、受光中でなくても電力を供給することができる。
 前記第1光電変換素子と前記第2光電変換素子とが、互いの厚さ方向に重ねられていてもよい。
 そうすると、各光電変換素子の受光面積を十分に大きくすることができる。したがって、受光量ひいては発電量を大きくできる。特に、表側(光の入射側)に配置された光電変換素子の受光量ひいては発電量を十分に大きくできる。第1光電変換素子を表側(光の入射側)に配置してもよく、第2光電変換素子を表側(光の入射側)に配置してもよい。入射光が可視光域から近赤外域に偏っている場合は、第1光電変換素子を表側(光の入射側)に配置することが好ましい。入射光が赤外域に偏っている場合は、第2光電変換素子を表側(光の入射側)に配置することが好ましい。
 前記第1光電変換素子と前記第2光電変換素子とが、互いの厚さ方向と直交する面方向に並べられていてもよい。
 そうすると、光が第1、第2光電変換素子にそれぞれ直接的に入射するようにできる。したがって、第1、第2光電変換素子の各々が入射光中の感応波長成分を十分に受光して光電変換を起こすことができる。よって、光発電部の発電量を大きくすることができる。
 前記第1光電変換素子に紫外域に感度を持つn型半導体からなるナノ構造体が設けられていることが好ましい。
 これによって、第1光電変換素子の光電変換感度を高めることができる。特に、第1光電変換素子の感応帯域のうち短波長側の感度を高めることができる。紫外域に感度を持つ半導体とは、波長が例えば0.4μm以下の紫外光が照射されるとキャリアが励起される性質を有する半導体を言う。このような半導体として、例えばn型半導体である酸化亜鉛(ZnO)が挙げられ、その他、n型の窒化ガリウム(n-GaN)等が挙げられる。n型半導体ナノ構造体は、ナノワイヤー、ナノニードル、ナノチューブ、ナノロッド等のナノ構造になっていることが好ましい。これにより、量子効率を高めることができ、ひいては第1光電変換素子の感度を確実に高めることができる。この結果、発電量を増大できる。
 前記第2光電変換素子に赤外域に感度を持つp型半導体からなるナノ構造体が設けられていることが好ましい。
 これによって、第2光電変換素子における光電変換感度を高めることができる。特に、第2光電変換素子の感応帯域のうち長波長側の感度を高めることができる。赤外域に感度を持つ半導体とは、波長が例えば0.7μm以上の赤外光が照射されるとキャリアが励起される性質を有する半導体を言う。このような半導体として、例えばp型の窒化ガリウム(p-GaN)や炭素等が挙げられる。p型半導体ナノ構造体は、ナノチューブ、ナノワイヤー、ナノニードル、ナノチューブ、ナノロッド等のナノ構造いnなっていることが好ましい。これにより、量子効率を高めることができ、ひいては第2光電変換素子の感度を確実に高めることができ、この結果、発電量を増大できる。
 各光電変換素子の導電層を構成する金属成分として例えばCo、Fe、W、Ni、Al、又はTiが挙げられる。これら列記の金属元素は、融点が比較的高く、高温下における機械的性質が優れている。前記導電層は、金属でもよく、金属と半導体の混合物ないしは合金でもよい。金属と半導体の混合物ないしは合金として、例えば金属シリサイドが挙げられる。前記半導体層がシリコンからなる場合、前記導電層が、前記金属成分と前記半導体層の表層部分とが相互に拡散してなる金属シリサイドであってもよい。上記拡散は、例えばアニール処理によって行なうことができる。上記列記の金属(Co、Fe、W、Ni、Al、Ti)はシリサイド化に適している。
 各光電変換素子の導電層に正負一対の電極を設け、これら電極を他方の光電変換素子又は蓄電部との接続端子とするのが好ましい。
 第1光電変換素子のカソード電極と導電層との間に極性確定層を介在させることが好ましい。第2光電変換素子のアノード電極と導電層との間に極性確定層を介在させることが好ましい。極性確定層は、アルミナ、樹脂等の絶縁体等からなる障壁層であってもよく、素子の半導体層から一体に突出された凸層であってもよい。
 第1光電変換素子においては、入射光が半導体層と導電層とのショットキー接合部に吸収されてフォトキャリア(電子-正孔対)が生成され、電子が空乏層の電界によって半導体層の側へ移動する。これに伴って、アノード電極から導電層に電子が流れ込む。導電層に沿って電子がカソード電極の側へ流れる。
 第2光電変換素子においては、入射光が半導体層と導電層とのショットキー接合部に吸収されてフォトキャリア(電子-正孔対)が生成され、正孔が空乏層の電界によって半導体層の側へ移動する。これに伴って、カソード電極から導電層に正孔が流れ込む。導電層に沿って正孔がアノード電極の側へ流れる。
 このようにして、各光電変換素子のアノードになる電極とカソードになる電極を確実に定めることができる。
 第1光電変換素子において前記極性確定層が絶縁体等からなる障壁層である場合、カソード電極と導電層とが、障壁層を挟んでコンデンサを形成する。これによって、導電層におけるカソード電極と対向する部分に電子が蓄積される。第2光電変換素子において前記極性確定層が絶縁体等からなる障壁層である場合、アノード電極と導電層とが、障壁層を挟んでコンデンサを形成する。これによって、導電層におけるアノード電極と対向する部分に正孔が蓄積される。したがって、アノードになる電極とカソードになる電極を確実に定めることができる。
 前記障壁層の厚さは、1nm未満であることが好ましい。これによって、キャリアがトンネル効果等によって障壁層を確実に通過でき、光誘起電流を確実に取り出すことができる。
 前記第1光電変換素子において、前記凸層が、前記導電層のカソード電極側の端面とショットキー接触し、かつ前記カソード電極とオーミック接触していることが好ましい。これによって、凸層と導電層とのショットキー接合部においてキャリアの電子が凸層側ひいてはカソード電極へ向けて流れるようにでき、極性を確実に確定できる。
 前記第2光電変換素子において、前記凸層が、前記導電層のアノード電極側の端面とショットキー接触し、かつ前記アノード電極とオーミック接触していることが好ましい。これによって、凸層と導電層とのショットキー接合部においてキャリアの正孔が凸層側ひいてはアノード電極へ向けて流れるようにでき、極性を確実に確定できる。
 前記導電層の成分組成等を一方の電極から他方の電極に向かう方向に沿って不均一にすることによって、アノードになる電極とカソードになる電極を確定させてもよい。
 前記金属ナノ構造に光が入射すると、プラズモン共鳴が起きる。これにより、金属ナノ構造が光誘起電場の増大に寄与する。
 前記金属ナノ構造は、ナノサイズの金属微粒子の集合体であることが好ましい。前記金属微粒子を構成する金属としては、Au、Ag、Pt、Cu、又はPdを用いることが好ましい。これら列記の金属元素は、化学的安定性が比較的高く、合金化しにくく、Si等の半導体と化合しにくい。そのため、表面プラズモンを確実に形成できる。
 前記金属ナノ構造は、前記導電層における前記一対の電極どうし間の部分に設けられていることが好ましく、前記一対の電極どうし間の部分に広く分布していることがより好ましい。
 前記金属ナノ構造は、例えば次のようにして形成する。前記金属ナノ構造となるべき金属原料を前記導電層上に配置し、アニール処理する。前記金属原料の形状ないし性状は、特に限定が無く、薄膜状、小片状、小塊状、粒状、粉体状、コロイド状、ファイバー状、ワイヤー状、ドット状の何れでもよく、その他の形状ないし性状でもよい。前記アニール処理によって、前記金属原料の微粒子が前記導電層の表面に沿って拡散する。拡散によって前記金属原料の微粒子が多段ないしは多重に枝分かれし、例えばフラクタル構造の集合体になる。これによって、前記金属ナノ構造を容易に形成できる。前記金属ナノ構造の表面には、サブミクロンないしはナノオーダーの凹凸が形成されている。前記金属ナノ構造の表面は、積層方向(厚さ方向)に突出する多数の凸部を含み、例えばクラスター状になる。
 前記電極を前記金属ナノ構造の金属原料として兼用してもよい。前記電極を構成する金属をアニール処理によって前記電極の周辺にクラスター状又はフラクタル状になるよう拡散させてもよい。そうすると、前記電極の近傍に前記金属ナノ構造を形成できる。この場合、前記電極と前記金属ナノ構造とは、互いに同一の金属成分を含む。
 前記金属ナノ構造において、前記周期構造がランダムな周期を有していることが好ましい。前記周期構造の周期が変化していることが好ましい。すなわち、前記第1凸部の配置間隔が周期構造に応じて異なっていることが好ましい。これにより、周期構造に応じて異なる波長の光に感応するようにできる。したがって、全体として金属ナノ構造が感応可能な波長域を広くすることができる。よって、可視光領域から赤外光領域に及ぶ広帯域に対応可能な光電変換素子を提供できる。
 第1凸部の配置間隔(周期)は、入射光の波長λの約0.1倍~1倍程度であることが好ましく、波長λの0.1倍程度がより好ましい。又は第1凸部の配置間隔(周期)は、半導体層と導電層とで作るショットキー素子の感応波長の約0.1倍~1倍程度であることが好ましい。前記周期構造は、当該周期構造を構成する第1凸部の周期の約1倍~10倍程度(特に上記周期の10倍程度)の波長λを有する入射光に対し敏感に感応してプラズモン共鳴を起こし、光誘起電場の増幅に寄与する。
 第1光電変換素子の周期構造の周期(第1凸部の配置間隔)が、第2光電変換素子の周期構造の周期(第1凸部の配置間隔)より小さいことが好ましい。第1光電変換素子の第1凸部の配置間隔(周期)は、約100nm以下であることがより好ましい。これにより、波長が約1μm以下の赤外光域~可視光域の光に対し良好な感度を持つことができる。第2光電変換素子の第1凸部の配置間隔(周期)は、約150nm以下であることがより好ましい。これにより、波長が約1μm~4μmの赤外光に対し良好な感度を持つことができる。
 第1凸部の突出高さは、約10nm~20nm程度であることが好ましい。
 前記周期構造の少なくとも1つが、ある波長範囲内(好ましくは可視光域から赤外光域)の任意の波長の約0.1倍~1倍の大きさ(特に0.1倍程度の大きさ)の配置間隔を有することが好ましい。これによって、入射光が上記波長範囲内に含まれていれば、金属ナノ構造の少なくとも1つの周期構造がその入射光に対し感度を持つようにできる。
 前記金属ナノ構造が、前記第1凸部より大きく突出する複数の第2凸部を更に含み、これら第2凸部が互いに分散し、かつ各第2凸部が、前記周期構造の何れか1つと重なって又は近接して配置されていることが好ましい。
 前記金属ナノ構造に光が入射すると、前記ランダム構造を構成する第2凸部どうし間又は第1、第2凸部どうし間に近接場相互作用が起きる(K. Kobayashi, et.al., Progress
in Nano-Electro-Optecs I. ed. M. Ohtsu, p.119 (Sptinger-Verlag, Berlin, 2003)参照)。この近接場相互作用とプラズモン共鳴との相乗効果によって、光誘起電場を一層増幅させることができ、感度を高めることができる。入射光が微弱であっても、光起電力を高感度に発生させることができる。
 前記第2凸部の突出高さは、約50nm~200nm程度であることが好ましい。
 前記第2凸部の分散間隔(隣り合う第2凸部どうしの離間距離)は、入射光の波長より大きいことが好ましく、半導体層と導電層とで作るショットキー素子の感応波長より大きいことが好ましい。
 第1光電変換素子の第2凸部の分散間隔は、第2光電変換素子の第2凸部の分散間隔より小さいことが好ましい。例えば、第1光電変換素子の前記第2凸部の分散間隔は、1μm以上であることが好ましく、約2μm~3μm程度であることが好ましい。第2光電変換素子の前記第2凸部の分散間隔は、約3μm~5μm程度であることが好ましい。これにより、隣り合う第2凸部どうしが干渉して電場を弱めてしまうのを回避できる。
 第1光電変換素子の第2凸部の分散間隔の上限は、3μm~5μm程度であることが好ましい。第2光電変換素子の第2凸部の分散間隔の上限は、5μm~6μm程度であることが好ましい。これによって、第2凸部の存在密度を確保でき、第2凸部との相互作用を生じ得る周期構造の数を確保でき、感応帯域を確実に広くできる。
 前記金属ナノ構造に炭素化合物等の絶縁体が混在し、M-I-M構造が形成されていてもよい。
 本発明によれば、可視光域から赤外域にわたる広波長域の光を電力に変換でき、かつ上記電力を蓄電できる。したがって、光発電部により発電していない時又は発電量が小さい時でも、蓄電しておいた電力を供給でき、利便性を向上できる。
図1は、本発明の第1実施形態に係る光蓄電装置の概略構造を示す断面図である。 図2は、本発明の第2実施形態に係る光蓄電装置の概略構造を示す断面図である。 図3は、本発明の第3実施形態に係る光蓄電装置の概略構造を示す断面図である。 図4は、本発明の第4実施形態に係る光蓄電装置の概略構造を示す断面図である。 図5は、本発明の第5実施形態に係る光蓄電装置の概略構造を示す断面図である。 図6は、本発明の第6実施形態に係る光蓄電装置の概略構造を示す断面図である。 図7(a)は、実施例1における金属ナノ構造の表面の一箇所をSEM(走査型電子顕微鏡)で観察した画像である。 図7(b)は、実施例1における金属ナノ構造の表面の、図7(a)とは異なる箇所をSEMで観察した 図8は、実施例1における金属ナノ構造の表面構造をAFM(原子間力顕微鏡)にて観察した立体画像である。 図9は、図8の立体画像の解説図である。
 以下、本発明の実施形態を図面にしたがって説明する。
 図1は、本発明の第1実施形態に係る光蓄電装置1を示したものである。光蓄電装置1は、光発電部2と、この光発電部2に接続された蓄電部3とを備えている。光発電部2が、入射光により発電する。蓄電部3が、上記発電した電力を蓄電する。以下、詳述する。
 光発電部2は、第1光電変換素子10と、第2光電変換素子20を含む。これら光電変換素子10,20が電気的に並列接続されている。
 第1光電変換素子10は、n型半導体層11と、導電層12と、金属ナノ構造13を含む。n型半導体層11上に導電層12が積層されている。導電層12上に金属ナノ構造13が積層されている。
 半導体層11は、シリコン(Si)にて構成されている。ただし、これに限られず、半導体層11がGe、GaAs等の他の半導体にて構成されていてもよい。半導体層11には、P(リン)等のn型不純物がドープされている。半導体層11は、n型半導体を構成している。
 n型半導体層11は、第1光電変換素子10の基板を兼ねている。半導体層11は、シリコン基板にて構成されている。シリコン基板にn型不純物がドープされている。シリコン基板として、シリコンウェハ等を用いることができる。シリコン基板によって、第1光電変換素子10の保形性が確保されている。基板がn型半導体層11とは別途に設けられていてもよい。例えば、ガラスや樹脂フィルムからなる基板にn型半導体層11が被膜されていてもよい。上記別途の基板の表面にCVD等によってn型半導体層11を成膜してもよい。
 導電層12は、基板11の表面(図1において上面)の全体を覆っている。導電層12は、金属シリサイドにて構成され、導電性を有している。シリコン基板11の表層のシリコンが自己組織化し、導電層12のシリコン成分を構成している。導電層12を構成する金属成分としては、Co、Fe、W、Ni、Al、Ti等が挙げられる。ただし、上記金属成分は、これらに限定されるものではない。ここでは、導電層12を構成する金属成分として、Coが用いられている。導電層12がCoSixにて構成され、好ましくはCoSiにて構成されている。これにより、導電層12と半導体層11との間に良好なショットキー界面が形成されている。導電層12が、金属成分のみにて構成されていてもよい。導電層12の厚さは、数nm~数十nm程度であり、好ましくは数nm程度である。図面の導電層12の厚さは、基板11、電極14,15、や金属ナノ構造13等の厚さに対して誇張されている。
 導電層12の表面(図1において上面)に金属ナノ構造13が設けられている。金属ナノ構造13は、導電層12の表面に広く分布している。ここでは、金属ナノ構造13は、導電層12の表面における後記電極14,15どうしの間の部分(以下「電極間部分」と称す)に配置されており、より好ましくは上記電極間部分の全体に分布している。金属ナノ構造13は、導電層12の一部分にだけ積層されていてもよい。例えば、金属ナノ構造13が、導電層12の電極14又は15の近傍部分にだけ設けられていてもよい。
 金属ナノ構造13は、Au、Ag、Pt、Cu、Pd等の金属を主成分として構成されている。ここでは、金属ナノ構造13を構成する金属として、Auが用いられている。金属ナノ構造13は、Auリッチの構造物である。金属ナノ構造13を構成する金属に炭素化合物等の絶縁体が混在していてもよく、金属ナノ構造13が金属-絶縁体-金属(M-I-M:metal-insulator-metal)構造になっていてもよい。
 金属ナノ構造13の表面には、サブミクロンないしはナノオーダーの凹凸が形成されている。詳述すると、金属ナノ構造13は、Auのナノ微粒子がクラスター状又はフラクタル状に集合した構造になっている(図8及び図9参照)。金属ナノ構造13のAuナノ微粒子の集合体は、第1光電変換素子10の厚さ方向ないしは積層方向(図1において上方)に突出する多数の凸部を含む。これら凸部がクラスター状に集合している。或いは、Auナノ粒子の集合体が多重に枝分かれするよう拡散したフラクタル構造になっている。金属ナノ構造13は、多数の第1凸部13aと、第2凸部13bを含む。上記多数の凸部の一部が第1凸部13aを構成し、他の一部が第2凸部13bを構成している。
 金属ナノ構造13は、少なくとも1つの周期構造13cを有している。好ましくは、金属ナノ構造13は、複数ないしは多数ないしは無数の周期構造13cを有している。金属ナノ構造13の上記多数の凸部における隣り合う複数の凸部13a,13a…によって1つの周期構造13cが構成されている。各周期構造13cを構成する第1凸部13a,13a…どうしは、素子10の面方向(積層方向と直交する方向)に沿ってある間隔(周期)で配列されている。周期構造13cに応じて第1凸部13aの配置間隔(周期)が異なっている。これら周期構造13cにおける第1凸部13aの配置間隔(周期)は、数十nmから数μm程度が好ましく、約40nm~100nm程度がより好ましい。この配置間隔(周期)は、入射光Lの波長の約0.1倍~1倍程度であることが好ましく、約0.1倍程度がより好ましい。更に、上記配置間隔(周期)は、n型半導体層11と導電層12とからなるショットキー素子の感応波長(可視光域から赤外光域)の約0.1倍~1倍程度であることが好ましく、約0.1倍程度がより好ましい。金属ナノ構造13は、上記ショットキー素子の感応域内の任意の波長の約0.1倍~1倍の大きさの配置間隔を有する周期構造を少なくとも1つ含むことが好ましい。
 更に、金属ナノ構造13には、複数の第2凸部13bが分散して配置されている。各第2凸部13bは、何れかの周期構造13cと重なるように配置されている。又は、各第2凸部13bは、何れかの周期構造13cに近接して配置されている。第2凸部13bは、第1凸部13aより突出高さが大きく、第1凸部13aより尖り度(突出高さと底部の幅の比)が大きい。第2凸部13bの突出高さは、約50nm~200nm程度であることが好ましい。第2凸部13bどうしの分散間隔は、入射光の波長より大きいことが好ましい。例えば、上記分散間隔は、1μm以上であることが好ましく、約2μm~3μm程度であることが好ましい。第2凸部13bどうしの分散間隔の上限は、3μm~5μm程度であることが好ましい。
 導電層12上の互いに離れた位置に一対の電極14,15が配置されている。ここでは、一方の電極14(カソード電極)が、導電層12の上面の一端部(図1において右)に配置されている。他方の電極15(アノード電極)が、導電層12の上面の他端部(図1において左)に配置されている。電極14,15の配置は、上記に限られない。例えば、電極14,15の一方が第1光電変換素子10の中央部に配置され、電極14,15の他方が第1光電変換素子10の四隅(周辺部)に配置されていてもよい。
 電極14,15は、Au、Ag、Pt、Cu、Pd等の金属にて構成されている。ここでは、電極14,15を構成する第2金属として、Auが用いられている。したがって、電極14,15は、金属ナノ構造13を構成する金属成分と同じ金属成分にて構成されている。金属ナノ構造13を構成する金属成分と電極14,15を構成する金属成分とが、互いに異なっていてもよい。2つの電極14,15が互いに異なる金属成分にて構成されていてもよい。
 カソード電極14と導電層12との間に障壁層16(極性確定層)が介在されている。障壁層16は、アルミナ、SiO、SiN、炭素化合物(例えば樹脂)等の絶縁体にて構成されている。障壁層16の厚さは、トンネル効果を生じ得る程度に十分小さい。例えば、障壁層16の厚さは、オングストロームオーダーすなわち1nm未満である。図面において、障壁層16の厚さは、導電層12や金属ナノ構造13等の厚さに対し誇張されている。
 電極14と導電層12が、障壁層16を挟んで対峙することによって、コンデンサを構成している。後述するように、導電層12の電極14と対峙する部分には、光電変換にて生じたキャリア(電子)が蓄積される。これにより、電極14がカソードになる。電極15はアノードになる。
 アノード電極15と導電層12は、直接的に接触している。好ましくは、アノード電極15は、導電層12にオーミック接合している。
 次に、第2光電変換素子20について説明する。第2光電変換素子20は、第1光電変換素子10と略同様の構造になっている。すなわち、第2光電変換素子20は、半導体層21と、導電層22と、金属ナノ構造23を含む。半導体層21上に導電層22が積層されている。導電層22上に金属ナノ構造23が積層されている。
 第2光電変換素子20が第1光電変換素子10と異なる点は、半導体層21がp型である点である。半導体層21には、B(ボロン)等のp型不純物がドープされている。半導体層21は、シリコン(Si)にて構成されている。これに限られず、半導体層21がGe、GaAs等の他の半導体にて構成されていてもよい。
 p型半導体層21は、第2光電変換素子20の基板を兼ねている。p型半導体層21は、p型不純物がドープされたシリコン基板にて構成されている。シリコン基板として、シリコンウェハ等を用いることができる。シリコン基板によって、第2光電変換素子20の保形性が確保されている。基板がp型半導体層21とは別途に設けられていてもよい。例えば、ガラスや樹脂フィルムからなる基板にp型半導体層21が被膜されていてもよい。上記別途の基板の表面にCVD等によってp型半導体層21を成膜してもよい。
 導電層22は、基板21の表面(図1において上面)の全体を覆っている。導電層22は、金属シリサイドにて構成され、導電性を有している。シリコン基板21の表層のシリコンが自己組織化し、導電層22のシリコン成分を構成している。導電層22を構成する金属成分としては、Co、Fe、W、Ni、Al、Ti等が挙げられる。ただし、上記金属成分は、これらに限定されるものではない。ここでは、導電層22を構成する金属成分として、Coが用いられている。導電層22がCoSixにて構成され、好ましくはCoSiにて構成されている。これにより、導電層22と半導体層21との間に良好なショットキー界面が形成されている。導電層22が、金属成分のみにて構成されていてもよい。導電層22の厚さは、数nm~数十nm程度である。図面の導電層22の厚さは、基板21及び金属ナノ構造23等の厚さに対して誇張されている。
 導電層22の表面(図1において上面)に金属ナノ構造23が設けられている。金属ナノ構造23は、導電層22の表面に広く分布している。ここでは、金属ナノ構造23は、導電層22の表面における後記電極24,25どうしの間の部分(以下「電極間部分」と称す)に配置されており、より好ましくは上記電極間部分の全体に分布している。金属ナノ構造23は、導電層22の表面の略全体に積層されているのに限られず、導電層22の一部分にだけ積層されていてもよい。
 金属ナノ構造23は、Au、Ag、Pt、Cu、Pd等の金属を主成分として構成されている。ここでは、金属ナノ構造23を構成する金属として、Auが用いられている。金属ナノ構造23は、Auリッチの構造物である。金属ナノ構造23を構成する金属に炭素化合物等の絶縁体が混在していてもよく、金属ナノ構造23がM-I-M構造になっていてもよい。
 金属ナノ構造23の表面には、サブミクロンないしはナノオーダーの凹凸が形成されている。詳述すると、金属ナノ構造23は、Auのナノ微粒子がクラスター状又はフラクタル状に集合した構造になっている(図8及び図9参照)。金属ナノ構造23のAuナノ微粒子の集合体は、第2光電変換素子20の厚さ方向ないしは積層方向(図1において上方)に突出する多数の凸部を含む。これら凸部がクラスター状に集合している。或いは、Auナノ粒子の集合体が多重に枝分かれするよう拡散したフラクタル構造になっている。金属ナノ構造23は、多数の第1凸部23aと、第2凸部23bを含む。金属ナノ構造23における上記多数の凸部の一部が第1凸部23aを構成し、他の一部が第2凸部23bを構成している。
 金属ナノ構造23は、少なくとも1つの周期構造23cを有している。好ましくは、金属ナノ構造23は、複数ないしは多数ないしは無数の周期構造23cを有している。金属ナノ構造23の上記多数の凸部における隣り合う複数の凸部23a,23a…によって1つの周期構造23cが構成されている。各周期構造23cを構成する第1凸部23a,23a…どうしは、素子10の面方向(積層方向と直交する方向)に沿ってある間隔(周期)で配列されている。周期構造23cに応じて第1凸部23aの配置間隔(周期)が異なっている。これら周期構造23cにおける第1凸部23aの配置間隔(周期)は、数十nmから数μm程度が好ましく、第1光電変換素子のそれよりやや大きいことがより好ましく、約60nm~150nm程度がより好ましい。この配置間隔(周期)は、入射光Lの波長の約0.1倍~1倍程度であることが好ましく、約0.1倍程度がより好ましい。更に、上記配置間隔(周期)は、P型半導体層21と導電層22とからなるショットキー素子の感応波長(赤外光域)の約0.1倍~1倍程度であることが好ましく、約0.1倍程度がより好ましい。金属ナノ構造23は、P型半導体層21と導電層22とからなるショットキー素子の感応域内の任意の波長の約0.1倍~1倍の大きさの配置間隔を有する周期構造を少なくとも1つ含むことが好ましい。
 更に、金属ナノ構造23には、複数の第2凸部23bが分散して配置されている。各第2凸部23bは、何れかの周期構造23cと重なるように配置されている。又は、各第2凸部23bは、何れかの周期構造23cに近接して配置されている。第2凸部23bは、第1凸部23aより突出高さが大きく、第1凸部23aより尖り度(突出高さと底部の幅の比)が大きい。第2凸部23bの突出高さは、約50nm~200nm程度であることが好ましい。第2凸部23bどうしの分散間隔は、入射波長ないしはp型半導体層21と導電層22とからなるショットキー素子の感応波長より大きいことが好ましく、第1光電変換素子10の第2凸部13bの分散間隔より大きいことが好ましい。例えば第2凸部23bどうしの分散間隔は、3μm~5μm程度であることが好ましい。第2凸部23bどうしの分散間隔の上限は、5μm~6μm程度が好ましい。
 導電層22上の互いに離れた位置に一対の電極24,25が配置されている。ここでは、一方の電極24(アノード電極)が、導電層22の上面の一端部(図1において右)に配置されている。他方の電極25(カソード電極)が、導電層22の上面の他端部(図1において左)に配置されている。電極24,25の配置は、上記に限られない。例えば、電極24,25の一方が第2光電変換素子20の中央部に配置され、電極24,25の他方が第2光電変換素子20の四隅(周辺部)に配置されていてもよい。
 電極24,25は、Au、Ag、Pt、Cu、Pd等の金属にて構成されている。ここでは、電極24,25を構成する第2金属として、Auが用いられている。したがって、電極24,25は、金属ナノ構造23を構成する金属成分と同じ金属成分にて構成されている。金属ナノ構造23を構成する金属成分と電極24,25を構成する金属成分とが、互いに異なっていてもよい。2つの電極24,25が互いに異なる金属成分にて構成されていてもよい。電極24,25が、第1光電変換素子10の電極14,15とは異なる金属成分にて構成されていてもよい。
 アノード電極24と導電層22との間に障壁層26(極性確定層)が介在されている。障壁層26は、アルミナ、SiO、SiN、炭素化合物(例えば樹脂)等の絶縁体にて構成されている。障壁層26の厚さは、トンネル効果を生じ得る程度に十分小さい。例えば、障壁層26の厚さは、オングストロームオーダーすなわち1nm未満である。図面において、障壁層26の厚さは、導電層22や金属ナノ構造23等の厚さに対し誇張されている。
 電極24と導電層22が、障壁層26を挟んで対峙することによって、コンデンサを構成している。後述するように、導電層22の電極24と対峙する部分には、光電変換にて生じたキャリア(正孔)が蓄積される。これより、電極24がアノードになる。電極25はカソードになる。
 カソード電極25と導電層22は、直接的に接触している。好ましくは、カソード電極25は、導電層22にオーミック接合している。
 第1光電変換素子10と第2光電変換素子20が互いの厚さ方向(図1において上下)に重ねられている。ここでは、第1光電変換素子10が表側(光Lの入射側、上側)に配置され、第2光電変換素子20が裏側(下側)に配置されている。光電変換素子10,20どうしの間には若干の隙間が形成されている。
 各光電変換素子10,20は、光Lの入射方向に対し交差するように配置され、好ましくは上記入射方向に対し略直交するように配置されている。各光電変換素子0,20の金属ナノ構造13,23が表側(光Lの入射側)に向けられ、基板11,21が裏側に向けられている。
 第1光電変換素子10と第2光電変換素子20が並列に接続されている。
 蓄電部3は、一対の電極31,32と、これら電極31,32の間に挟まれた誘電体層33を備え、コンデンサを構成している。誘電体層33の材質は、誘電体(絶縁体)であり、例えばアルミナ、樹脂、酸化シリコン、窒化シリコン等が挙げられる。ただし、上記材質は、これらに限定されるものではない。負極31に端子31eが設けられている。正極32に端子32eが設けられている。
 光発電部2の負極に蓄電部3の負極端子31eが接続されている。光発電部2の正極に蓄電部2の正極端子32eが接続されている。
 光蓄電装置1の製造方法を説明する。
 第1光電変換素子10は、次のようにして作製する。
[第1導電層原料被膜工程]
 Pドープのn型シリコン基板11を用意する。基板11上に導電層12の原料成分であるCoを成膜する。Co成膜方法として、スパッタリングや蒸着等のPVD(Physical Vapour Deposition)を採用できる。PVDに限られず、スピンコート等の他の成膜方法にてCoを被膜してもよい。
[第1障壁配置工程]
 上記Co膜上の第1電極14が配置されるべき位置に、オングストロームオーダーの厚さの絶縁体(例えばアルミナ)からなる障壁層16を配置する。障壁層16の配置は、CVD等の種々の成膜方法にて行なうことができる。
[第1電極配置工程]
 上記障壁層16上に第1電極14となる金属原料(Au)を設ける。また、Co膜上の第2電極15が配置されるべき位置に第2電極15となる金属原料(Au)を設ける。電極14,15用の金属原料(Au)の配置は、スパッタリング、蒸着等の種々の成膜方法にて行なうことができる。
[第1金属ナノ構造原料配置工程]
 更に、上記Co膜上の電極14,15間の部分に金属ナノ構造13となる金属原料(Au)を配置する。上記金属ナノ構造13の金属原料(Au)の形状ないし性状は、特に限定が無く、薄膜状、小片状、小塊状、粒状、粉体状、コロイド状、ファイバー状、ワイヤー状、ドット状等の何れでもよく、その他の形状ないし性状でもよい。上記金属原料(Au)が薄膜状である場合、例えばスパッタリングや蒸着等のPVDによって成膜することができる。上記電極14,15となる金属原料(Au)の一部を、後記の拡散工程において電極間部分に拡散させて金属ナノ構造13とすることもでき、その場合、金属ナノ構造原料配置工程を省略してもよい。
[第1拡散工程]
 次に、基板11をアニール処理槽に入れ、アニール処理を行なう。アニール処理の温度条件は、400℃~800℃程度が好ましく、600℃程度がより好ましい。アニール処理は、可及的に100%の不活性ガス雰囲気にて行なう。アニール処理用の不活性ガスとして、He、Ar、Ne等の希ガスを用いることができ、その他、Nを用いてもよい。アニール処理の圧力条件は、大気圧近傍であり、例えば大気圧より数Pa程度低圧である。
 上記アニール処理によって、基板11の表面部分を構成するSiにCoが拡散する。これにより、Si基板11の表面部分を自己組織化してなるCoSix層12が形成され、半導体層11と導電層12を確実にショットキー接合させることができる。
 更に、上記アニール処理によって、導電層12上に配置したAuの微粒子が、導電層12の表面に沿ってクラスター又はフラクタルを形成するよう拡散する。すなわち、Au微粒子が多重に枝分かれするよう拡散し、フラクタル構造の集合体になる。集合体の表面は、サブミクロンないしはナノオーダーの凹凸を有し、クラスター状になる。これにより、金属ナノ構造13を自然形成できる。
 こうして、第1光電変換素子10を作製できる。
 次に、第2光電変換素子20の作製手順を説明する。
 第2光電変換素子20の作製に際しては、基板としてBドープのp型シリコン基板21を用意する。そして、第1光電変換素子10の作製手順と同様に、p型シリコン基板21に対し、導電層原料被膜工程、障壁配置工程、金属ナノ構造原料配置工程、拡散工程を順次施す。
[第2導電層原料被膜工程]
 p型シリコン基板21上に導電層22の原料成分であるCoをPVD等によって成膜する。
[第2障壁配置工程]
 上記Co膜上の第1電極24が配置されるべき位置に、オングストロームオーダーの厚さの絶縁体(例えばアルミナ)からなる障壁層26をCVD等によって成膜する。
[第2電極配置工程]
 上記障壁層26上に第1電極24となる金属原料(Au)を配置する。また、Co膜上の第2電極25が配置されるべき位置に第2電極25となる金属原料(Au)を配置する。電極24,25用の金属原料(Au)の配置は、スパッタリング、蒸着等の種々の成膜方法にて行なうことができる。
[第2金属ナノ構造原料配置工程]
 更に、上記Co膜上の電極24,25間の部分に金属ナノ構造23となる金属原料(Au)を配置する。上記金属ナノ構造23の金属原料(Au)の形状ないし性状は、特に限定が無く、薄膜状、小片状、小塊状、粒状、粉体状、コロイド状、ファイバー状、ワイヤー状、ドット状等の何れでもよく、その他の形状ないし性状でもよい。上記金属ナノ構造23の金属原料(Au)が薄膜状である場合、例えばスパッタリングや蒸着等のPVDによって成膜することができる。上記電極24,25となる金属原料(Au)の一部を、後記の第2拡散工程において電極間部分に拡散させて金属ナノ構造23とすることもでき、その場合、第2金属ナノ構造原料配置工程を省略してもよい。
[第2拡散工程]
 次に、基板21をアニール処理槽に入れ、アニール処理を行なう。アニール処理の温度条件は、400℃~800℃程度が好ましく、600℃程度がより好ましい。アニール処理は、可及的に100%の不活性ガス雰囲気にて行なう。アニール処理用の不活性ガスとして、He、Ar、Ne等の希ガスを用いることができ、その他、Nを用いてもよい。アニール処理の圧力条件は、大気圧近傍であり、例えば大気圧より数Pa程度低圧である。
 上記アニール処理によって、基板21の表面部分を構成するSiにCoが拡散する。これにより、Si基板21の表面部分を自己組織化してなるCoSix層22が形成され、半導体層21と導電層22を確実にショットキー接合させることができる。
 更に、上記アニール処理によって、導電層22上に配置したAuの微粒子が、導電層22の表面に沿ってクラスター又はフラクタルを形成するよう拡散する。すなわち、Au微粒子が多重に枝分かれするよう拡散し、フラクタル構造の集合体になる。集合体の表面は、サブミクロンないしはナノオーダーの凹凸を有し、クラスター状になる。これにより、金属ナノ構造23を自然形成できる。
 こうして、第2光電変換素子20を作製できる。
 第1光電変換素子10の製造と第2光電変換素子20の製造を併行して行なってもよい。例えば、基板11,21を共通のアニール処理槽に入れ、第1、第2拡散工程を同時に行なってもよい。
 上記のようにして作製した第1光電変換素子10及び第2光電変換素子20を並列接続する。更に、光発電部2と蓄電部3を接続する。こうして、光蓄電装置1を作製できる。
 上記光蓄電装置1の動作を説明する。
 光Lが第1光電変換素子10に入射する。これにより、第1光電変換素子10において光電変換が起き、電力が発生する。第1光電変換素子10を透過した光Lが更に第2光電変換素子20に入射する。これにより、第2光電変換素子20において光電変換が起き、電力が発生する。光電変換素子10,20で発生した電力が蓄電部3に蓄電される。よって、受光中ひいては発電中でなくても電力を供給することができる。
 光蓄電装置1は、各光電変換素子10,20の面積を光蓄電装置1の設置面積と略同じ大きさにすることができる。したがって、受光効率を十分に高くできる。
 光電変換素子10,20の作用を更に詳述する。
 第1光電変換素子10では、入射光Lによってn型半導体層11と導電層12のショットキー接合部でフォトキャリアが発生する。特に、n型の第1光電変換素子10は、入射光Lのうち可視光域から近赤外域(具体的には波長約0.4μm~2μm程度)の光に対し感度を持つ。
 上記フォトキャリアの電子は、空乏層の電界によってn-Si層11側へ移動する。これに伴って、電極15から導電層12に電子が流れ込む。電極15と導電層12との間では、電流がスムーズに流れ得る。導電層12に沿って電子が電極14側へ流れる。導電層12における電極14と対向する部分には電子が蓄積される。この電子は、トンネル効果により障壁層16を潜り抜け、電極14に移動することができる。これにより、光誘起電流を取り出すことができる。したがって、電極14がカソードになる。電極15がアノードになる。このようにして、アノードになる電極15とカソードになる電極14を確定でき、光誘起電流の向きを制御できる。よって、電流-電圧特性を正側と負側で確実に非対称にでき、きれいなダイオード特性を得ることができる。
 光誘起電場が導電層12の面方向に沿って形成されるため、キャリアが上記面方向に加速され、化合物半導体レベルの高速で移動できる。
 さらに、上記ショットキー接合部の近傍の金属ナノ構造13によって、第1光電変換素子10の光電変換の感度を高めることができる。金属ナノ構造13を構成するAuナノ微粒子の表面にはプラズモンが局在する。この表面プラズモンと入射光が共鳴し、大きな電場が発生する。金属ナノ構造13の周期構造13cは、その周期(第1凸部13aの配置間隔)に応じた波長の入射光に対する光電変換の感度を高める。周期構造13cは、その周期の約1倍~10倍程度、特に約10倍の波長の入射光に対し敏感に感応してプラズモン共鳴を起こす。第1凸部13aの周期は周期構造13cに応じて異なるから、金属ナノ構造13が感応可能な波長域を広くすることができる。更に、第2凸部13bの周囲に近接場光が発生する。この近接場光と上記周期構造13cによるプラズモン共鳴との相乗効果によって、大きな光誘起電場を発生させることができる。これによって、可視光領域から赤外光領域に及ぶ波長の光に対し敏感に感応し、光電変換を確実に起こすことができる。入射光が微弱であっても、光起電力を高感度に発生させることができる。第2凸部13bの分散間隔を入射光の波長(可視光域~赤外光域)より大きくし、好ましくは1μm以上、より好ましくは2μm~3μmとすることによって、隣接する第2凸部13b,13bどうしが干渉して電場を弱めるのを回避できる。第2凸部13bの分散間隔の上限を3μm~5μmとすることによって、第2凸部13bの存在密度を高く維持でき、第2凸部13bとの相互作用を生じ得る周期構造13cの数を確保でき、感応帯域を確実に広くできる。よって、可視光領域から赤外光領域に及ぶ広帯域に対応可能な光電変換素子1を提供できる。
 第1光電変換素子10に入射した光Lのうち一部が第1光電変換素子10を透過する。透過光は、主に第1光電変換素子10の感応帯域外の波長を有している。第1光電変換素子10を構成する膜12,13を薄くすることで、上記透過光を確実に得ることができる。
 上記透過光が、第2光電変換素子20に入射する。これによって、p型半導体層21と導電層22のショットキー結合部でフォトキャリアが発生する。特に、p型の第2光電変換素子20は、赤外域(具体的には波長約1μm~4μm程度)の光に対し感度を持つ。
 上記フォトキャリアの正孔は、空乏層の電界によってp-Si層21側へ移動する。これに伴って、電極25から導電層22に正孔が流れ込む。電極25と導電層22との間では、電流がスムーズに流れ得る。導電層22に沿って正孔が電極24側へ流れる。導電層22における電極24と対向する部分には正孔が蓄積される。この正孔は、トンネル効果により障壁層26を潜り抜け、電極24に移動することができる。これにより、光誘起電流を取り出すことができる。したがって、電極24がアノードになる。電極25がカソードになる。このようにして、アノードになる電極24とカソードになる電極25を確定でき、光誘起電流の向きを制御できる。よって、電流-電圧特性を正側と負側で確実に非対称にでき、きれいなダイオード特性を得ることができる。
 光誘起電場が導電層22の面方向に沿って形成されるため、キャリアが上記面方向に加速され、化合物半導体レベルの高速で移動できる。
 さらに、上記ショットキー接合部の近傍の金属ナノ構造23によって、第2光電変換素子20の光電変換の感度を高めることができる。金属ナノ構造23を構成するAuナノ微粒子の表面にはプラズモンが局在する。この表面プラズモンと入射光が共鳴し、大きな電場が発生する。金属ナノ構造23の周期構造23cは、その周期(第1凸部23aの配置間隔)に応じた波長の入射光に対する光電変換の感度を高める。周期構造23cは、その周期の約1倍~10倍程度、特に約10倍の波長の入射光に対し敏感に感応してプラズモン共鳴を起こす。第1凸部23aの周期は周期構造23cに応じて異なるから、金属ナノ構造23が感応可能な波長域を広くすることができる。更に、第2凸部23Bの周囲に近接場光が発生する。この近接場光と上記周期構造23cによるプラズモン共鳴との相乗効果によって、大きな光誘起電場を発生させることができる。これによって、第1光電変換素子1を透過した約1μm~4μmの赤外光域の光に敏感に感応し、光電変換を確実に起こすことができる。入射光が微弱であっても、光起電力を高感度に発生させることができる。第2凸部23bの分散間隔を入射光の波長より大きくすることによって、隣接する第2凸部23b,23bどうしが干渉して電場を弱めるのを回避できる。第2凸部23bの分散間隔の上限を定める(例えば5μm~6μm程度)ことによって、第2凸部23bの存在密度を高く維持でき、第2凸部23bとの相互作用を生じ得る周期構造23cの数を確保でき、感応帯域を確実に広くできる。よって、赤外光域に十分に対応可能な光電変換素子1Aを提供できる。
 光蓄電装置1によれば、日中は言うまでも無く、日没後でも大気中に散乱する赤外光を光電変換して電力を得、これを蓄電できる。赤外光を吸収することにより、赤外光の熱変換を防止でき、地球温暖化対策の手段としても期待できる。
 次に、本発明の他の実施形態を説明する。以下の実施形態において、既述の形態と重複する内容に関しては図面に同一符号を付して説明を省略する。
 図2は、本発明の第2実施形態を示したものである。第2実施形態では、光電変換素子10,20が、第1実施形態の並列接続に代えて、直列に接続されている。第2実施形態のそれ以外の構成は、第1実施形態と同じである。
 上述した第1、第2実施形態では、各光電変換素子10,20の受光面積ひいては発電可能な面積を十分に大きくできる。その一方で、下側の光電変換素子20については、入射光の一部が上側の光電変換素子10で遮られる。特に、下側の光電変換素子20の感応帯域のうち上側の光電変換素子10の感応帯域と重複する波長の光が上側の光電変換素子10で遮られやすい。以下の第3、第4実施形態は、第1、第2実施形態の上記短所を解消したものである。
 図3は、本発明の第3実施形態を示したものである。第3実施形態では、第1光電変換素子10及び第2光電変換素子20が、互いの厚さ方向と直交する面方向に並べられている。光電変換素子10,20は並列に接続されている。
 第3実施形態では、光Lが第1光電変換素子10と第2光電変換素子20にそれぞれ直接的に入射する。何れの光電変換素子10,20においても、入射光が他方の光電変換素子によって遮られることがない。したがって、両方の光電変換素子10,20が互いに重複する感応帯域の光を十分に受光して光電変換することができる。よって、これら光電変換素子10,20の光電変換能力を十分に発現させることができる。
 図4に示すように、本発明の第4実施形態では、光電変換素子10,20が、第3実施形態の並列接続に代えて、直列に接続されている。第4実施形態のそれ以外の構成は、第3実施形態と同じである。
 第3、第4実施形態では、各光電変換素子10,20の受光面積が第1、第2実施形態の約半分になる。
 受光面積を優先する場合は第1、第2実施形態を採用するのが好ましい。或いは、光電変換する光の波長域が何れか一方の光電変換素子10,20の感応帯域に偏っている場合には、第1、第2実施形態を採用するのが好ましい。光電変換素子10,20双方の光電変換能力を十分に活用したい場合には、第3、第4実施形態を採用するのが好ましい。
 図5は、本発明の第5実施形態を示したものである。第5実施形態は、第4実施形態の変形例に係る。第1光電変換素子10の表面(図5において上面)に酸化亜鉛のナノ構造体41が設けられている。酸化亜鉛は、n型半導体を構成している。ナノ構造体41は、ナノワイヤーにて構成され、第1光電変換素子10の表面に突き立てられている。ここでは、ナノ構造体41は、金属ナノ構造体13から突出されている。なお、金属ナノ構造体13が導電層12の一部分だけに被膜されている場合、金属ナノ構造体13が被膜されていない部分については、ナノ構造体41が導電層12から突出されていてもよい。ナノワイヤーは、CVD、PVD、ゾルゲル法等によって形成できる。ナノ構造体41は、ナノワイヤーに限られず、ナノニードルでもよく、ナノチューブでもよく、ナノロッドでもよい。
 第2光電変換素子20の表面(図5において上面)には炭素のナノ構造体42が設けられている。炭素ナノ構造体42は、炭素(カーボン)ナノチューブにて構成され、第2光電変換素子20の表面に突き立てられている。ここでは、炭素ナノ構造体42は、金属ナノ構造体23から突出されている。なお、金属ナノ構造体23が導電層22の一部分だけに被膜されている場合、金属ナノ構造体23が被膜されていない部分については、炭素ナノ構造体42が導電層22から突出されていてもよい。カーボンナノチューブは、CVD、PVD、ゾルゲル法等によって形成できる。ナノ構造体42は、ナノチューブに限られず、ナノワイヤーでもよく、ナノニードルでもよく、ナノロッドでもよい。
 第5実施形態によれば、酸化亜鉛ナノ構造体41によって、第1光電変換素子10における光電変換感度を高めることができる。特に、第1光電変換素子10の感応帯域のうち短波長側の感度を高めることができる。具体的には、約0.4μm未満の紫外光域から1μm程度の可視光域までの光に対し、感度を向上させることができる。酸化亜鉛ナノ構造体41がナノワイヤーであることで量子効率を高めることができ、ひいては第1光電変換素子10の感度を確実に高めることができる。さらに、炭素ナノ構造体42によって、第2光電変換素子20における光電変換感度を高めることができる。特に、第2光電変換素子20の感応帯域のうち長波長側の感度を高めることができる。具体的には、2μm程度の可視光域から約4μm強の赤外光域までの光に対し、感度を向上させることができる。炭素ナノ構造体41がカーボンナノチューブにて構成されているため、量子効率が高く、ひいては第2光電変換素子20の感度を確実に高めることができる。これによって、光電変換可能な波長帯域を短波長側にも長波長側にも更に拡大することができる。
 図6は、本発明の第6実施形態を示したものである。第6実施形態は、極性確定層の変形例に係る。n型の第1光電変換素子10には、極性確定層として、既述の障壁層16に代えて凸層17が設けられている。凸層17は、n型半導体層11と一体に形成されている。半導体層11の表面(上面)のカソード電極14寄りの部分が突出され、この突出部が凸層17を構成している。凸層17の突出高さは、導電層12の厚さと同程度であり、例えば約1nm~10nm程度であり、好ましくは数nm程度である。凸層17の幅寸法(図6において左右の寸法)は、例えば数100μm~約1mm程度である。図6において、凸層17の突出高さ(上下寸法)は、幅(左右寸法)に対して誇張されている。
 凸層17は、導電層12のカソード電極14側の端部とカソード電極14との間に介在されている。凸層17の一側面(図6において左側面)が、導電層12の端面とショットキー接触している。凸層17の他側面(図6において右側面)が、カソード電極14とオーミック接触している。金属ナノ構造13が、導電層12から凸層17の上面に跨るように形成されている。金属ナノ構造13は、凸層17の上面だけに設けられていてもよい。或いは、金属ナノ構造13が、導電層12の上面にだけ設けられていてもよい。
 p型の第2光電変換素子20には、極性確定層として、既述の障壁層26に代えて凸層27が設けられている。凸層27は、p型半導体層21と一体に形成されている。半導体層21の表面(上面)のアノード電極24寄りの部分が突出され、この突出部が凸層27を構成している。凸層27の突出高さは、導電層22の厚さと同程度であり、例えば約1nm~10nm程度であり、好ましくは数nm程度である。凸層27の幅寸法(図6において左右の寸法)は、例えば数100μm~約1mm程度である。図6において、凸層27の突出高さ(上下寸法)は、幅(左右寸法)に対して誇張されている。
 凸層27は、導電層22のアノード電極24側の端部とアノード電極24との間に介在されている。凸層27の一側面(図6において右側面)が、導電層22の端面とショットキー接触している。凸層27の他側面(図6において左側面)が、アノード電極24とオーミック接触している。金属ナノ構造23が、導電層22から凸層27の上面に跨るように形成されている。金属ナノ構造23は、凸層27の上面だけに設けられていてもよい。或いは、金属ナノ構造23が、導電層22の上面にだけ設けられていてもよい。
 第6実施形態の光発電部2に光が入射すると、n型の第1光電変換素子10においては、導電層12の底部と半導体層11との間のショットキー接合部でフォトキャリアが生成されるのに加えて、導電層12の端部と凸層17とのショットキー接合部においてもフォトキャリアが生成される。このキャリアの電子が、導電層12と凸層17との間の空乏層電界によって凸層17側ひいては電極14へ流れる。したがって、電極14をカソードにすることができる。電極15をアノードにすることができる。
 また、p型の第2光電変換素子20においては、導電層22の底部と半導体層21との間のショットキー接合部でフォトキャリアが生成されるのに加えて、導電層22の端部と凸層27とのショットキー接合部においてもフォトキャリアが生成される。このキャリアの正孔が、導電層22と凸層27との間の空乏層電界によって凸層27側ひいては電極24へ流れる。したがって、電極24をアノードにすることができる。電極25をカソードにすることができる。
 本発明は、上記実施形態に限定されず、発明の要旨を変更しない限りにおいて種々の改変をなすことができる。
 例えば、光発電部2が、第1光電変換素子20第2光電変換素子20の少なくとも一方を2つ以上含んでいてもよい。光発電部2が光電変換素子10,20を3つ以上含んでいてもよい。2つ以上の光電変換素子10,20が直並列に接続されていてもよい。
 障壁層16,26は、導電層12,22と電極14,24の間の少なくとも一部分に介在されていればよく、必ずしも導電層12,22と電極14,24の間の全体に介在されている必要はない。
 導電層12,22を構成する金属成分は、Coに限られず、Fe、W、Ni、Al、Ti等であってもよい。
 金属ナノ構造13,23を構成する金属成分は、Auに限られず、Ag、Pt、Cu、Pd等であってもよい。
 複数の実施形態を互いに組み合わせてもよい。例えば第1光電変換素子と第2光電変換素子が、互いの厚さ方向に部分的に重なりあい、かつ上記厚さ方向と直交する面方向にずれていてもよい。
 第1~第3実施形態の光電変換素子10,20に、第5実施形態と同様のナノ構造体41,42を設けてもよい。第1~第3実施形態において、極性確定層として、障壁層16,26に代えて、第6実施形態(図6)と同様の凸層17,27を適用してもよい。
 2種類のナノ構造体41,42のうち酸化亜鉛ナノ構造体41のみを第1光電変換素子10に設けることにし、第2光電変換素子20には炭素ナノ構造体42を設けないことにしてもよい。
 2種類のナノ構造体41,42のうち炭素ナノ構造体42のみを第2光電変換素子20に設けることにし、第1光電変換素子10には酸化亜鉛ナノ構造体41を設けないことにしてもよい。
 光蓄電装置1の製造工程は、適宜、順序の入れ替え、ないしは変更を行なってもよい。
 第1、第2実施形態において、第2光電変換素子20が表側(入射側、上側)に配置され、第1光電変換素子10が裏側(下側)に配置されていてもよい。
 光電変換素子10の基板11が表側(光Lの入射側)に向けられ、金属ナノ構造13が裏側に向けられていてもよい。光電変換素子20の基板21が表側(光Lの入射側)に向けられ、金属ナノ構造23が裏側に向けられていてもよい。
 実施例を説明する。本発明が以下の実施例に限定されないことは言うまでもない。
 実施例1では、金属ナノ構造の作製及び観察を行った。金属ナノ構造は、次のようにして作製した。
 ほぼ正方形のn型Si基板の表面全体にCo膜をスパッタリングにて成膜した。Co膜の厚さは8nmとした。
 次に、5分間有機洗浄した後、マスク印刷を行ってCo膜の表面の四隅と中央に厚さAu膜をスパッタリングで成膜した。Au膜の厚さは、約10nmであった、
 次に、アニール処理を行った。アニール処理の雰囲気ガスは、He100%とした。アニール温度は600℃であった。アニール処理時間は3分とした。
 アニール処理によって、n型Si基板の表層部分にCoが拡散してCoSixが形成された。
 上記Au膜の近傍の2つの場所をSEM(走査型電子顕微鏡)にて観察した。図7(a)及び(b)が、その画像である。Au膜の微粒子がCoSix膜の表面に沿って拡散し、Au膜の周囲に金属ナノ構造が自然形成されたことが確認された。金属ナノ構造の形態は、場所に応じて異なっていた。同図(b)に示すように、金属ナノ構造には、場所によってフラクタル構造が形成されていた。
 上記金属ナノ構造の幾つかの地点にレーザー光(波長635nm)を照射し、ゼロバイアスでの光誘起電流が最大になった地点の表面構造をAFM(原子間力顕微鏡)にて立体的に観察した。
 図8がその画像である。図9は、図8の画像を模写し、解説したものである。
 金属ナノ構造の表面にはサブオーダーないしはナノオーダーの凹凸が形成されており、クラスター構造ないしはフラクタル構造が確認された。更に、上記凹凸形状の中に、多数の周期構造13cと、多数の第2凸部13bが確認された。各周期構造13cは、複数の第1凸部13aを含み、これら第1凸部13aが周期構造13cに応じたランダムな周期(配置間隔)で配列されていた。周期構造13cの周期は、おおよそ100nm以下であった。各第1凸部13aの突出高さは約10nm~20nm程度であった。各第2凸部13bは、ある周期構造13cと重なって配置されているか、又は周期構造13cの近傍に配置されていた。第2凸部13bの突出高さは、第1凸部13aより突出高さより大きく、約50nm~200nm程度であった。第2凸部13bの分散間隔は、おおよそ2μm~3μm程度であった。
 本発明は、例えば太陽光蓄電池等に適用可能である。
L   入射光
1   光蓄電装置
2   光発電部
10  第1光電変換素子
11  n型半導体層、基板
12  導電層
13  金属ナノ構造
13a 第1凸部
13b 第2凸部
13c 周期構造
14  第1電極(一方の電極)
15  第2電極(他方の電極)
16  障壁層(極性確定層)
17  凸層(極性確定層)
20  第2光電変換素子
21  p型半導体層、基板
22  導電層
23  金属ナノ構造
23a 第1凸部
23b 第2凸部
23c 周期構造
23d ランダム構造
24  第1電極(一方の電極)
25  第2電極(他方の電極)
26  障壁層(極性確定層)
27  凸層(極性確定層)
3   蓄電部
31  負極
31e 端子
32  正極
32e 端子
33  誘電体層
41  酸化亜鉛ナノ構造体
42  炭素ナノ構造体

Claims (7)

  1.  光により発電する光発電部と、前記光発電部に接続されて前記発電した電力を蓄電する蓄電部とを備え、前記光発電部が、互いに直列、並列、又は直並列に接続された第1、第2光電変換素子を含み、前記第1、第2光電変換素子の各々が、半導体層と、前記半導体層に積層された導電層と、前記導電層に積層された複数の周期構造を有する金属ナノ構造とを含み、前記各周期構造が前記積層の方向に突出する複数の第1凸部からなり、前記第1凸部の配置間隔が前記周期構造に応じて異なり、前記第1光電変換素子の半導体層が、n型半導体層であり、前記第2光電変換素子の半導体層が、p型半導体層であることを特徴とする光蓄電装置。
  2.  前記周期構造の少なくとも1つが、可視光域から赤外域のある波長範囲内の任意の波長の0.1倍~1倍の大きさの配置間隔を有することを特徴とする請求項1に記載の光蓄電装置。
  3.  前記金属ナノ構造が、前記第1凸部より大きく突出する複数の第2凸部を更に含み、これら第2凸部が互いに分散し、かつ各第2凸部が、前記周期構造の何れか1つと重なって又は近接して配置されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の光蓄電装置。
  4.  前記第1光電変換素子と前記第2光電変換素子とが、互いの厚さ方向に重ねられていることを特徴とする請求項1~3の何れか1項に記載の光蓄電装置。
  5.  前記第1光電変換素子と前記第2光電変換素子とが、互いの厚さ方向と直交する面方向に並べられていることを特徴とする請求項1~3の何れか1項に記載の光蓄電装置。
  6.  前記第1光電変換素子に紫外域に感度を持つn型半導体からなるナノ構造体が設けられていることを特徴とする請求項1~5の何れか1項に記載の光蓄電装置。
  7.  前記第2光電変換素子に赤外域に感度を持つp型半導体からなるナノ構造体が設けられていることを特徴とする請求項1~6の何れか1項に記載の光蓄電装置。
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