WO2010098325A1 - 超音波探傷画像の分析装置 - Google Patents

超音波探傷画像の分析装置 Download PDF

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WO2010098325A1
WO2010098325A1 PCT/JP2010/052773 JP2010052773W WO2010098325A1 WO 2010098325 A1 WO2010098325 A1 WO 2010098325A1 JP 2010052773 W JP2010052773 W JP 2010052773W WO 2010098325 A1 WO2010098325 A1 WO 2010098325A1
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WO
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flaw detection
detection image
image
defect
contrast
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PCT/JP2010/052773
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English (en)
French (fr)
Inventor
北川 朋亮
浩 竹本
Original Assignee
三菱重工業株式会社
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    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/04Analysing solids
    • G01N29/06Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
    • G01N29/0654Imaging
    • G01N29/069Defect imaging, localisation and sizing using, e.g. time of flight diffraction [TOFD], synthetic aperture focusing technique [SAFT], Amplituden-Laufzeit-Ortskurven [ALOK] technique
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/44Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
    • G01N29/4409Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor by comparison
    • G01N29/4427Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor by comparison with stored values, e.g. threshold values
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • G06T7/0008Industrial image inspection checking presence/absence
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    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
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    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • G06T7/001Industrial image inspection using an image reference approach
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/26Scanned objects
    • G01N2291/269Various geometry objects
    • G01N2291/2694Wings or other aircraft parts

Definitions

  • the present invention relates to an apparatus for analyzing an ultrasonic flaw detection image, and is devised so as to reduce the labor and time for inspecting a defect and to accurately detect the defect regardless of the level of proficiency.
  • Aircraft main wings are conventionally made of aluminum alloy or titanium alloy, but recently, carbon fiber reinforced plastic (CFRP), which is a combination of carbon fiber and resin, has been used.
  • CFRP carbon fiber reinforced plastic
  • damage to the wings can be directly linked to a major accident, so it is extremely important to find defects through maintenance and inspection work.
  • Defects that occur in aircraft wings include scratches, foreign objects, and peeling, and ultrasonic flaw detection is employed as a non-destructive inspection that detects these defects.
  • a flaw detection waveform signal composed of a surface echo Es and a bottom echo Eb as shown in FIG. 11 is obtained.
  • a flaw detection waveform signal including a surface echo Es, a bottom face echo Eb, and a defect echo Ed as shown in FIG. 12 is obtained.
  • the flaw detection range A When the flaw detection range A is narrow, it is possible to detect a defect (detection of the defect echo Ed) by visually observing the waveform of the flaw detection waveform signal over the entire flaw detection path P, but the flaw detection range A is wide. In this case, it takes a long time to visually check the waveform of the flaw detection waveform signal over the entire flaw detection path P.
  • the flaw detection waveform signal is converted into a flaw detection image signal representing a flaw detection image in which the luminance value of the defective portion changes with respect to the luminance value of the healthy portion, and the flaw detection image based on this flaw detection image signal is visually confirmed.
  • the flaw detection inspection is performed in a short time.
  • a detailed analysis can be performed by confirming the flaw detection waveform that is the basis of the flaw detection image.
  • FIG. 15 is an example of a flaw detection image of a healthy part
  • FIG. 16 is an example of a flaw detection image (TOF image) of a defective part
  • FIG. 17 is an example of a flaw detection image (AMP image) of a defective part.
  • the luminance of the defective portion changes with respect to the luminance of the healthy portion, and the defective portion can be inspected quickly and easily by visual inspection.
  • the waveform shape of the flaw detection waveform signal and the occurrence of noise vary depending on the type of defect and the thickness, shape, material, etc. of the flaw detection site, so it is possible to accurately determine the presence or absence of a defect with only one flaw detection image. There are things that cannot be done.
  • multiple gates with different positions and heights are set according to the type of defect and the thickness, shape, and material of the flaw detection site, and a plurality of flaw detection image signals are generated.
  • the presence or absence of defects is comprehensively determined by visually checking the flaw detection images.
  • one flaw detection waveform signal obtained when the probe is moved along the flaw detection path P is converted by a plurality of different signal conversion processing methods to obtain a plurality of flaw detection image signals.
  • the presence or absence of a defect is comprehensively determined using the flaw detection images based on the plurality of types of flaw detection image signals.
  • the conversion from the flaw detection waveform signal to the TOF flaw detection image signal and the conversion from the flaw detection waveform signal to the AMP flaw detection image signal are different signal conversion processing methods, and the flaw detection waveform signal is converted to the TOF flaw detection image signal.
  • the signal conversion processing method is different even when the gate G is different, and the signal conversion processing method is different even when the gate G is different when converting the flaw detection waveform signal to the AMP flaw detection image signal. In a sense, it is called “a plurality of different signal conversion processing methods”.
  • the flaw detection waveform signal Flaw detection image I1 based on the TOF flaw detection image signal that has undergone signal conversion processing with the first gate set, flaw detection image I2 based on the TOF flaw detection image signal that has undergone signal conversion processing with the second gate set to the flaw detection waveform signal, and flaw detection The flaw detection image I3 based on the AMP flaw detection image signal obtained by converting the waveform signal by setting the third gate and the flaw detection image I4 based on the AMP flaw detection image signal obtained by converting the flaw detection waveform signal by setting the fourth gate. Assume that you can evaluate.
  • the entire surface of the main wing is subjected to ultrasonic flaw detection, but it takes too much time to analyze all the flaw detection waveforms obtained by this flaw detection waveform signal.
  • Signal conversion processing is performed by a plurality of different signal conversion processing methods to convert the signals into a plurality of flaw detection image signals, and a defective part is visually identified on a plurality of flaw detection images based on the plurality of flaw detection image signals.
  • the brightness value of the defective part becomes larger (or smaller) compared to the healthy part, so the defective part is identified by visually checking the luminance change between the healthy part and the defective part. Yes.
  • the type and arrangement of the flaw detection image to be visually checked differ depending on the type of defect to be detected and the difference in the part (shape, thickness, material, etc.), and the flaw detection image display magnification or The contrast is also different.
  • the way in which ultrasonic waves are reflected differs depending on the type of defect and the thickness, shape, and material of each part. For this reason, the inspector detects the defect while repeatedly changing the type and arrangement of the flaw detection image to be displayed, the display range (magnification), and the contrast depending on the type and part of the defect.
  • FIG. 18 is a flowchart and FIGS. 19 to 21 showing flaw detection waveform images displayed on the display screen of the image display device.
  • a plurality of flaw detection image signals obtained by performing signal conversion processing on flaw detection waveform signals obtained by ultrasonic flaw detection on the main wing of an aircraft are recorded in the flaw detection image signal database in advance. It shall be.
  • step S3 the type of defect to be examined is determined by the operator's knowledge (such as the structure, shape, thickness, and material of the wing, the characteristics of ultrasonic flaw detection, and knowledge of inspection experience accumulated so far) Judgment based on.
  • the operator selects one or a plurality of necessary flaw detection images according to the determined defect type, and arranges the selected images on the display screen 1 of the image display device as shown in FIG. It is displayed (step S4).
  • the type of defect is D1
  • the flaw detection image I1 and the flaw detection image I3 are selected, and both the flaw detection images I1 and I3 are displayed side by side.
  • the flaw detection images I1 and I3 are displayed so as to be superimposed on, for example, 28 divided areas R1 to R28 divided into 4 ⁇ 7 by dividing lines shown by dotted lines in FIG. That is, the flaw detection images I1 and I3 are divided into images on the divided areas R1 to R28, respectively.
  • the operator changes the display range of the flaw detection images I1 and I3. Specifically, the start position of the X and Y coordinates to be displayed and the end position of the X and Y coordinates are changed to specify the partition area to be displayed and the display magnification is optimally changed as shown in FIG. In addition, among the flaw detection images I1 and I3, for example, an image in a predetermined range on the partition region R1 is enlarged and displayed (step S5).
  • the operator adjusts the contrast of the image (FIG. 20) obtained by enlarging the flaw detection images I1 and I3 on the partition region R1, and emphasizes the contrast between the image of the healthy part and the image of the defective part (step S6).
  • the level of contrast that should be adjusted according to the type of defect depends on the knowledge of the operator (the structure, shape, thickness, and material of the wing, the type of defect, and the characteristics of ultrasonic inspection) And knowledge of inspection experience accumulated so far).
  • the operator visually confirms the image (FIG. 21) obtained by enlarging the flaw detection images I1 and I3 on the partition region R and adjusting the contrast (step S7).
  • the operator changes the display range of the flaw detection images I1 and I3 from an image obtained by enlarging the image on the divided area R1 to an image obtained by enlarging the images on the divided areas R2 to R28 one after another.
  • an enlarged image on R2 to R28 is selected, an optimal change of display magnification, contrast adjustment, and visual inspection of a defective portion are shown in steps 5, 6 and 7, respectively, depending on the situation of the selected partition area. Inspect.
  • the defect type to be evaluated is changed to another type of defect (for example, the defect D2) (step S3).
  • the defect site is inspected in the same manner as the defect D1.
  • step S9 the evaluation is completed (step S9), and the analysis operation of the flaw detection image is completed. (Step S10).
  • a specific partition area may be skipped to the next partition area without analyzing the flaw detection image. This is to reduce time and effort if knowledge and experience have shown from the outset that, depending on the specific image selected and the specific defect selected, it is not possible to detect a defect in a specific area. This is because the flaw detection screen analysis in a specific section area is skipped.
  • the type and arrangement of the image to be displayed, the display range (magnification), and the contrast change depending on the type of defect and the partition area. Change takes time. Furthermore, an inexperienced inspector may mistake the type and arrangement of images to be displayed, the display range (magnification), and contrast, and there is a risk of missing detection of defects.
  • the present invention provides an ultrasonic flaw detection image analyzer that can reduce the time and effort for inspecting a defect and can accurately detect the defect regardless of the level of proficiency. For the purpose.
  • a database unit for flaw detection image signals in which a plurality of flaw detection image signals obtained by signal conversion of the same flaw detection waveform signal by a plurality of different signal conversion processing techniques, The type of defect to be inspected, the flaw detection image to be used according to the type of defect to be inspected, the arrangement pattern of the flaw detection image to be used, and the display range indicating the range of the image area to be displayed among the image areas of the flaw detection image to be used
  • a flaw detection condition database section in which a flaw detection condition database constructed by arranging a large number of inspection procedure commands having information indicating a contrast instruction value that defines the contrast of an image in the display range in the order of execution; It consists of a flaw detection image analyzer, The flaw detection image analyzer is The inspection procedure commands in the flaw detection condition database are sequentially fetched based on an input command from the outside, and each time the inspection procedure command is fetched, the flaw detection image signal corresponding to
  • the configuration of the present invention is as follows.
  • a database unit for flaw detection image signals in which a plurality of flaw detection image signals obtained by signal conversion of the same flaw detection waveform signal by a plurality of different signal conversion processing techniques,
  • a first flaw detection constructed by arranging a number of inspection procedure commands having information indicating a type of defect to be inspected and a display range indicating the range of the image area to be displayed among the image areas of the flaw detection image to be used.
  • a flaw detection condition database section in which a second flaw detection condition database defining a contrast instruction value is stored;
  • a CAD model unit having design data having at least data on the thickness, shape and material of the inspection object; It consists of a flaw detection image analyzer,
  • the flaw detection image analyzer is The inspection procedure commands in the first flaw detection condition database are sequentially fetched based on external input commands, Each time an inspection procedure command is captured, the thickness, shape, and material of the corresponding portion of the inspection object corresponding to the display range indicated by the acquired inspection procedure command are captured from the CAD model and incorporated into the inspection procedure command.
  • the flaw detection image to be used and the arrangement pattern of the flaw detection image to be used which are defined with respect to the combination pattern of the type of defect and the plate thickness, shape and material taken from the CAD model, with reference to the flaw detection condition database , Capture the contrast indication value that defines the contrast of the image in the display range,
  • the flaw detection image signal corresponding to the flaw detection image to be used is fetched from the flaw detection image signal database unit, and the flaw detection image based on the flaw detection image signal is displayed on the display device with the captured image arrangement pattern and the contrast of the captured display range. It is characterized by making it.
  • the configuration of the present invention is as follows.
  • a database unit for flaw detection image signals in which a plurality of flaw detection image signals obtained by signal conversion of the same flaw detection waveform signal by a plurality of different signal conversion processing techniques,
  • a first flaw detection constructed by arranging a number of inspection procedure commands having information indicating a type of defect to be inspected and a display range indicating the range of the image area to be displayed among the image areas of the flaw detection image to be used.
  • a flaw detection condition database section in which a second flaw detection condition database defining a contrast instruction value is stored;
  • a CAD model unit having design data having at least data on the shape and material of the inspection object;
  • a plate thickness measuring device for measuring the plate thickness of the inspection object; It consists of a flaw detection image analyzer,
  • the flaw detection image analyzer is The inspection procedure commands in the first flaw detection condition database are sequentially fetched based on external input commands, Each time an inspection procedure command is fetched, the shape and material of the corresponding part of the inspection object corresponding to the display range indicated by the fetched inspection procedure command are taken from the CAD model and incorporated into the inspection procedure command at the same time.
  • the plate thickness measured by the plate thickness measuring device is taken as the plate thickness of the corresponding portion of the inspection object corresponding to the display range indicated by the command, and the type of defect and the CAD model are referenced with reference to the second flaw detection condition database.
  • Capture contrast indication value The flaw detection image signal corresponding to the flaw detection image to be used is fetched from the flaw detection image signal database unit, and the flaw detection image based on the flaw detection image signal is displayed on the display device with the captured image arrangement pattern and the contrast of the captured display range. It is characterized by making it.
  • an optimal image is sequentially displayed in an optimal arrangement pattern according to the defect to be inspected, with an optimal display range and contrast.
  • the inspector does not have to manually change the image selection / placement pattern, display range, and contrast, and the labor and time of the inspection can be reduced. Further, it is possible to accurately detect defects regardless of the proficiency level of the inspector, and there is no defect detection failure.
  • FIG. 1 is a configuration diagram showing an ultrasonic flaw detection image analyzer according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 3 is a data diagram showing a flaw detection condition database used in Embodiment 1.
  • FIG. 3 is a flowchart showing an operation state of the first embodiment.
  • the block diagram which shows the analyzer of the ultrasonic flaw detection image which concerns on Example 2 of this invention.
  • FIG. 6 is a data diagram showing a first flaw detection condition database used in Example 2;
  • FIG. 6 is a data diagram showing a second flaw detection condition database used in the second embodiment.
  • FIG. 6 is a flowchart showing an operation state of the second embodiment.
  • the block diagram which shows the analyzer of the ultrasonic flaw detection image which concerns on Example 3 of this invention.
  • FIG. 9 is a flowchart showing an operation state of the third embodiment.
  • the wave form diagram which shows the example of a flaw detection waveform.
  • the wave form diagram which shows the example of a flaw detection waveform.
  • the wave form diagram which shows the example of a flaw detection waveform and a gate.
  • the wave form diagram which shows the example of a flaw detection waveform and a gate.
  • the flowchart which shows the conventional flaw detection image analysis procedure.
  • FIG. 1 is a block diagram showing an ultrasonic flaw detection image analyzer according to Embodiment 1 of the present invention.
  • This ultrasonic flaw detection image analysis apparatus includes a flaw detection image analysis apparatus 10, an input device 20, an image display device 30, a flaw detection condition database unit 40, and a flaw detection image signal database unit 50.
  • a plurality of flaw detection image signals i1 to in are stored in advance.
  • the plurality of flaw detection image signals i1 to in are obtained by converting a flaw detection waveform signal obtained by moving an ultrasonic probe along a flaw detection path set on the main wing of an aircraft into a plurality of different signal conversion processing methods (TOF). It is obtained by performing signal conversion processing by an image signal conversion processing method, an AMP image signal conversion processing method, or a signal conversion processing method in which gates are different in these signal conversion processing methods.
  • TOF signal conversion processing methods
  • the flaw detection condition database unit 40 stores in advance a flaw detection condition database as shown in FIG.
  • This flaw detection condition database is a database constructed by arranging a large number of inspection procedure commands C in the order of execution.
  • Each inspection procedure command C includes a defect type to be inspected, a flaw detection image to be used according to the type of defect to be inspected, an arrangement pattern of the flaw detection image to be used, and an image to be displayed among the image areas of the flaw detection image to be used.
  • a display range indicating the range of the region and a contrast instruction value (a minimum value and a maximum value of contrast) defining the contrast of the image in the display range are configured.
  • the type of defect to be inspected is D1
  • the flaw detection image used in accordance with the type of defect D1 to be inspected is I1
  • the arrangement pattern of the flaw detection image I1 to be used is one image.
  • the display range indicating the range of the image region to be displayed among the image regions of the flaw detection image I1 to be used is maximized on the screen, the start position X1 on the X axis is 0, the end position X2 is 10, and the Y axis
  • the upper start position Y1 is 0 and the end position Y2 is 20.
  • the contrast indication value defining the contrast of the image in the display range is 20 and the contrast indicating value is 40. Yes.
  • the type of defect to be inspected is D2
  • the flaw detection images used according to the type of defect D2 to be inspected are I1 and I4
  • the arrangement pattern of the flaw detection images I1 and I4 to be used is The two images are displayed side by side, and the display range indicating the range of the image area to be displayed among the image areas of the flaw detection images I1 and I4 used is 0 at the start position X1 on the X axis.
  • the end position X2 is 10, the start position Y1 on the Y-axis is 0, the end position Y2 is 20, and the minimum contrast value of the contrast instruction value that defines the contrast of the image in the display range is 20 for the flaw detection image I1.
  • the information is configured to be 30 for I4, 40 for the flaw detection image I2, and 50 for the flaw detection image I4.
  • inspection procedure commands for example, commands C1, C2, C3, C4
  • the display range of a plurality of inspection procedure commands set consecutively in the execution order to detect the same type of defect is an inspection procedure that follows the display range indicated by the preceding inspection procedure command.
  • the display range indicated by the command is misaligned.
  • Each inspection procedure command C has a flaw detection image to be used according to the type of defect so that the defect can be optimally detected in consideration of the type of defect and the shape, thickness, and material of each part.
  • the image arrangement pattern, display range (magnification), and contrast are determined in advance.
  • each inspection procedure command C can be modified as necessary. This correction can be performed by the operator inputting correction data via the input device 20.
  • the flaw detection inspection can be executed.
  • step S1 in FIG. 3 When an operator starts an inspection operation (step S1 in FIG. 3), a command for opening a flaw detection image and instructing the start of evaluation is input to the flaw detection image analysis device 10 via the input device 20 (step S1). S2, S3). Then, the flaw detection image analysis apparatus 10 takes in the flaw detection image signals i1 to in from the flaw detection image signal database unit 50, and stores the flaw detection image signals i1 to in in the memory in the flaw detection image analysis apparatus 10. Then, an automatic operation is started by the flaw detection image analyzer 10 (step S4).
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 refers to the flaw detection condition database in the flaw detection condition database unit 40 and sequentially executes inspections based on the information indicated by the inspection procedure command C.
  • the flaw detection image analyzer 10 first acquires an inspection procedure command C1 to acquire that the type of defect to be inspected is D1 (step S5), and the flaw detection image to be used is I1 and one flaw detection image I1. Is maximized and displayed on the screen, and the flaw detection image I1 based on the flaw detection image signal i1 is maximized and displayed on the display screen 31 of the screen display device 30 (step S6).
  • the flaw detection image analyzer 10 displays the display range (the start position X1 on the X axis is 0 and the end position X2 is 10, the start position Y1 on the Y axis is 0 and the end position Y2 is 20), and the image in the display range of the flaw detection image I1 is maximized and displayed on the display screen 31 (step 7).
  • the flaw detection image analyzer 10 acquires the contrast instruction value (minimum contrast value is 20 and the maximum contrast value is 40) based on the inspection procedure command C1, and is maximized and displayed on the display screen 31.
  • the contrast of the image in the display range area of the flaw detection image I1 is adjusted according to the contrast instruction value (step S8).
  • the operator displays the flaw detection image (display area (magnification) specified by the inspection procedure command C1 in the flaw detection image I1) displayed on the display screen 31 of the image display device 30 with a specific contrast.
  • the image maximized and displayed on the screen 31 is visually confirmed to evaluate the presence or absence of the defect D1 (step S9).
  • step S10 When the presence / absence of the visual defect D1 is evaluated, the worker issues a command to proceed (step S10).
  • the flaw detection image analyzer 10 takes in the inspection procedure command C2, operates the steps S5 to S8 based on the inspection procedure command C2, and among the flaw detection images I1 specified by the inspection procedure command C2, An image with a specific contrast is maximized and displayed on the display screen 31 within the display range of the specific area.
  • the operator displays the flaw detection image (display area (magnification) specified by the inspection procedure command C2 in the flaw detection image I1) displayed on the display screen 31 of the image display device 30 with a specific contrast.
  • the image maximized and displayed on the screen 31 is visually confirmed to evaluate the presence or absence of the defect D1 (step S9).
  • step S10 When the presence / absence of the visual defect D1 is evaluated, the worker issues a command to proceed (step S10).
  • Such an operation is also executed for inspection procedure commands C3, C4,.
  • the flaw detection image analyzer 10 inspects the inspection procedure command for inspecting the defect D2 in order to inspect the presence or absence of the next defect D2.
  • the command C101 is fetched.
  • the flaw detection image analyzer 10 first acquires an inspection procedure command C101 to acquire that the type of defect to be inspected is D2 (step S5), and the flaw detection images to be used are I1 and I4, and two flaw detections are performed. Obtaining that the images I1 and I4 are displayed horizontally aligned on the screen, and the flaw detection images I1 and I4 based on the flaw detection signals i1 and i4 are displayed horizontally aligned on the display screen 31 of the screen display device 30 ( Step S6).
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 displays the display range (the start position X1 on the X axis is 0 and the end position X2 is 10, the start position Y1 on the Y axis is 0 and the end position based on the inspection procedure command C101. Y2 is 20), and the images in the display range of the flaw detection images I1 and I4 are horizontally aligned and displayed on the display screen 31 (step 7).
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 performs flaw detection with a contrast instruction value (the minimum contrast value is 20 for the flaw detection image I1, the flaw detection image I4 is 30, and the maximum contrast value is 40 for the flaw detection image I1.
  • the image I4 is 50)
  • the contrast of the image in the display range area of the flaw detection images I1 and I4 displayed horizontally aligned on the display screen 31 is determined according to the contrast instruction value. Adjust (step S8).
  • the operator displays a flaw detection image (a specific area display range (magnification) designated by the inspection procedure command C101 out of the flaw detection images I1 and I4) displayed on the display screen 31 of the image display device 30 with a specific contrast. Then, the presence / absence of the defect D2 is evaluated by visually confirming the image displayed side by side on the display screen 31 (step S9).
  • a flaw detection image a specific area display range (magnification) designated by the inspection procedure command C101 out of the flaw detection images I1 and I4
  • step S10 When the presence / absence of the visual defect D2 is evaluated, the worker issues a command to proceed (step S10).
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 takes in the inspection procedure command C102, performs the operations of Steps S5 to S8 based on the inspection procedure command C102, and outputs the flaw detection images I1 and I4 designated by the inspection procedure command C102.
  • images of a specific contrast are horizontally aligned and displayed on the display screen 31 within the display range of the specific region.
  • the operator displays a flaw detection image (display area (magnification) specified by the inspection procedure command C102 out of the flaw detection images I1 and I4) and a specific contrast displayed on the display screen 31 of the image display device 30. Then, the presence / absence of the defect D2 is evaluated by visually confirming the image displayed side by side on the display screen 31 (step S9).
  • step S10 When the presence / absence of the visual defect D2 is evaluated, the worker issues a command to proceed (step S10).
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 inspects the presence or absence of the next defect D3. CN is taken in and the same processing as described above is performed to display an image. The operator can visually check the displayed image to evaluate the presence or absence of defects.
  • step S12 When the inspection procedure command C is executed to the end and the evaluation of all the defects is completed (step S12), the flaw detection image analyzer 10 ends the automatic operation (step S13), and the flaw detection image analysis work (defect detection work) is performed. Completion (step S14).
  • the part and type of the defect are stored in the flaw detection image analyzer 10, and after the defect inspection operation is completed, the stored defective part is displayed on the display screen 31 for each defect type. It can also be set to display.
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 performs automatic operation, and according to the type of each defect, an optimal type of image is in an optimal arrangement state, and with an optimal display range (magnification) and optimal contrast,
  • the images are sequentially displayed on the display screen 31 of the image display device 30. For this reason, the operator can inspect the defect by looking at the display screen without selecting an image or changing the display position or display magnification. Therefore, the defect can be easily inspected in a short time and even an inexperienced inspector can accurately inspect the defect without omission.
  • FIG. 4 is a block diagram showing an ultrasonic flaw detection image analyzer according to Embodiment 2 of the present invention.
  • This ultrasonic flaw detection image analyzer includes a flaw detection image analysis device 10, an input device 20, an image display device 30, a flaw detection condition database unit 40, a flaw detection image signal database unit 50, and a three-dimensional CAD model unit 60. It consists of
  • the three-dimensional CAD model unit 60 stores various data necessary for designing an inspection object (for example, the main wing of an aircraft), for example, design data such as plate thickness, shape, material, dimensions, and structure. .
  • a plurality of flaw detection image signals i1 to in are stored in advance.
  • the plurality of flaw detection image signals i1 to in are obtained by converting a flaw detection waveform signal obtained by moving an ultrasonic probe along a flaw detection path set on the main wing of an aircraft into a plurality of different signal conversion processing methods (TOF). It is obtained by performing signal conversion processing by an image signal conversion processing method, an AMP image signal conversion processing method, or a signal conversion processing method in which gates are different in these signal conversion processing methods.
  • TOF signal conversion processing methods
  • a first flaw detection condition database DB1 as shown in FIG. 5 and a second flaw detection condition data DB2 as shown in FIG. 6 are stored in advance.
  • the first flaw detection condition database DB1 shown in FIG. 5 is a database constructed by arranging a large number of inspection procedure commands C in the order of execution.
  • the thickness, shape, and material data are already described, but initially, the thickness, shape, and material data are not stored, and are stored in the three-dimensional CAD model unit 60 as described later.
  • the CAD data being read is taken in by reference.
  • Each inspection procedure command C includes a defect type to be inspected and a display range indicating a range of an image area to be displayed among the image areas of the flaw detection image. Has been.
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 calculates the plate thickness, shape, and material of the corresponding portion of the inspection object (main wing) corresponding to the display range from the CAD data. Acquired and incorporated (recorded) in each inspection procedure command C.
  • the type of defect to be inspected is D1
  • the display range indicating the range of the image area to be displayed among the image areas of the flaw detection image to be used ends when the start position X1 on the X axis is 0 It is composed of information indicating that the position X2 is 10, the start position Y1 on the Y axis is 0, and the end position Y2 is 20.
  • the type of defect to be inspected is D2
  • the display range indicating the range of the image area to be displayed among the image areas of the flaw detection image to be used is 0 at the start position X1 on the X axis. It is composed of information indicating that the end position X2 is 10, the start position Y1 on the Y axis is 0, and the end position Y2 is 20.
  • inspection procedure commands for example, commands C1, C2, C3, C4
  • the display range of a plurality of inspection procedure commands set consecutively in the execution order to detect the same type of defect is an inspection procedure that follows the display range indicated by the preceding inspection procedure command.
  • the display range indicated by the command is misaligned.
  • the second flaw detection condition database DB2 includes a flaw detection image to be used, a flaw detection image arrangement pattern to be used, and a display range image for each pattern in which a defect type, a plate thickness, a shape, and a material are combined. Contrast indication values (minimum and maximum contrast values) that define the contrast are defined.
  • the second flaw detection condition database DB2 uses flaw detection depending on the type of defect so that the defect can be optimally detected in consideration of the type of defect and the shape, thickness, and material of each part.
  • the image, the arrangement pattern of the image, and the contrast are determined in advance.
  • the contents of the flaw detection condition databases DB1 and DB2 can be modified as necessary. This correction can be performed by the operator inputting correction data via the input device 20.
  • step S1 in FIG. 7 When the worker starts the inspection work (step S1 in FIG. 7), a command for opening the flaw detection image and instructing the start of the evaluation is input to the flaw detection image analysis device 10 via the input device 20 (step S1). S2, S3). Then, the flaw detection image analysis apparatus 10 takes in the flaw detection image signals i1 to in from the flaw detection image signal database unit 50, and stores the flaw detection image signals i1 to in in the memory in the flaw detection image analysis apparatus 10. Then, an automatic operation is started by the flaw detection image analyzer 10 (step S4).
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 refers to the first flaw detection condition database DB1 of the flaw detection condition database unit 40, and sequentially executes inspections based on information indicated by the inspection procedure command C.
  • the flaw detection image analyzer 10 first acquires the inspection procedure command C1 to acquire that the type of defect to be inspected is D1 (step S5), and ends the display range (the start position X1 on the X axis is 0) (The position X2 is 10, the start position Y1 on the Y axis is 0, and the end position Y2 is 20) (step S6).
  • the flaw detection image analyzer 10 stores the thickness, shape, and material of the corresponding portion of the inspection object (main wing) corresponding to the display range acquired in step 6 in the three-dimensional CAD model unit 60.
  • the CAD data is taken in by reference, and the taken CAD data (plate thickness is 10, shape is F1, material is M1) is incorporated into the inspection procedure command C1 and stored (step S7).
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 refers to the second flaw detection condition database DB2 of the flaw detection condition database unit 40, and determines the defect type D1, the thickness (10), the shape (F1), and the material (M1).
  • the flaw detection image to be used which is set to the combined pattern, is I1, and the arrangement pattern of the flaw detection image I1 to be used is to maximize one image on the screen and define the contrast of the image in the display range.
  • Information indicating that the contrast indication value is 20 and the contrast maximum value is 40 is acquired (step 8).
  • the inspection procedure command C1 of the first flaw detection condition database DB1 the CAD data stored in the three-dimensional CAD model unit 60, and the second flaw detection condition database DB2
  • the types of defects to be inspected Is D1 the flaw detection image used according to the type of defect D1 to be inspected is I1
  • the arrangement pattern of the flaw detection image I1 to be used is to maximize one image on the screen.
  • the display range indicating the range of the image area to be displayed among the image areas of I1 is that the start position X1 on the X axis is 0, the end position X2 is 10, the start position Y1 on the Y axis is 0, and the end position Y2 is 20
  • the contrast minimum value of the contrast instruction value defining the contrast of the image in the display range is 20
  • the contrast maximum value is 40.
  • the flaw detection image analyzer 10 has the display range (the start position X1 on the X axis is 0 and the end position X2 is 10) of the flaw detection image I1 based on the flaw detection image signal i1.
  • the start position Y1 on the Y-axis being 0 and the end position Y2 being 20
  • one image is maximized with the above-described contrast (contrast minimum value 20 and contrast maximum value 40)
  • the image display device 30 displays It is displayed on the image 31.
  • the operator displays the flaw detection image displayed on the display screen 31 of the image display device 30 (maximum on the display screen 31 with a specific contrast within the display range (magnification) of a specific area of the flaw detection image I1). And the presence or absence of the defect D1 is evaluated (step S9).
  • step S10 When the presence / absence of the visual defect D1 is evaluated, the worker issues a command to proceed (step S10).
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 takes in the inspection procedure command C2, and refers to the inspection procedure command C2, the CAD data stored in the three-dimensional CAD model unit 60, and the second flaw detection condition database DB2.
  • the display range of a specific area in the flaw detection image I1 (the start position X1 on the X axis is 10, the end position X2 is 20, and the start position Y1 on the Y axis is 0.
  • the end position Y2 is 20
  • one image is maximized and displayed on the display screen 31 with a specific contrast (the minimum contrast value is 20 and the maximum contrast value is 40).
  • the operator displays the flaw detection image displayed on the display screen 31 of the image display device 30 (maximum on the display screen 31 with a specific contrast within the display range (magnification) of a specific area of the flaw detection image I1). And the presence or absence of the defect D1 is evaluated (step S9).
  • step S10 When the presence / absence of the visual defect D1 is evaluated, the worker issues a command to proceed (step S10).
  • the flaw detection image analyzer 10 inspects the inspection procedure command for inspecting the defect D2 in order to inspect the presence or absence of the next defect D2.
  • the command C101 is fetched.
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 first acquires the inspection procedure command C101 to acquire that the type of defect to be inspected is D2 (step S5), and ends the display range (the start position X1 on the X axis is 0) (The position X2 is 10, the start position Y1 on the Y axis is 0, and the end position Y2 is 20) (step S6).
  • the flaw detection image analyzer 10 stores the thickness, shape, and material of the corresponding portion of the inspection object (main wing) corresponding to the display range acquired in step 6 in the three-dimensional CAD model unit 60.
  • the CAD data is taken in, and the taken CAD data (plate thickness is 10, shape is F2, material is M2) is incorporated into the inspection procedure command C101 and stored (step S7).
  • the flaw detection image analyzer 10 refers to the second flaw detection condition database DB2 of the flaw detection condition database unit 40, and determines the defect type D2, the plate thickness (10), the shape (F2), and the material (M2).
  • the flaw detection images to be used which are set to the combined pattern are I1 and I3, and the arrangement pattern of the flaw detection images I1 and I2 to be used is to arrange the two images side by side.
  • Information indicating that the minimum contrast value of the contrast instruction value that defines the contrast of the image is 20 for the flaw detection image I1, 30 for the flaw detection image I3, 40 for the flaw detection image I1, and 50 for the flaw detection image I3. Obtain (step 8).
  • the types of defects to be inspected Is D2 are I1 and I3, and the arrangement pattern of the flaw detection images I1 and I3 to be used is by arranging the two images side by side.
  • the display range indicating the range of the image area to be displayed among the image areas of the flaw detection images I1 and I3 to be used is a start position X1 on the X axis of 0 and an end position X2 of 10, and a start position Y1 on the Y axis.
  • Is 0 and the end position Y2 is 20, and the contrast minimum value that defines the contrast of the image in the display range is 20 for the flaw detection image I1 and 30 for the flaw detection image I3.
  • the flaw detection image analyzer 10 includes the display range (the start position X1 on the X axis is 0 and the end position of the flaw detection images I1 and I3 based on the flaw detection image signals i1 and i3).
  • X2 is 10 and the start position Y1 on the Y axis is 0 and the end position Y2 is 20).
  • the above contrast (the minimum contrast value is 20 for the flaw detection image I1, 30 for the flaw detection image I3, and the maximum contrast value is the flaw detection image).
  • the two images are horizontally aligned and displayed on the display image 31 of the image display device 30 at 40 for I1 and 50 for the flaw detection image I3).
  • the operator arranges horizontally on the display screen 31 with a specific contrast within the display range (magnification) of a specific region of the flaw detection images (the flaw detection images I1 and I3) displayed on the display screen 31 of the image display device 30. Then, the presence / absence of the defect D2 is evaluated by visually confirming the image displayed and displayed (step S9).
  • step S10 When the presence / absence of the visual defect D2 is evaluated, the worker issues a command to proceed (step S10).
  • the flaw detection image analyzer 10 takes in the inspection procedure command C102 and refers to the inspection procedure command C102, the CAD data stored in the three-dimensional CAD model unit 60, and the second flaw detection condition database DB2.
  • the display range of a specific area in the flaw detection images I1 and I3 (the start position X1 on the X axis is 10, the end position X2 is 20, and the start position Y1 on the Y axis is 0 and end position Y2 is 20) with a specific contrast (minimum contrast value is 20 for flaw detection image I1, 30 for flaw detection image I3, maximum contrast value is 40 for flaw detection image I1, 50 for flaw detection image I3), Two images are arranged horizontally and displayed on the display screen 31.
  • the operator arranges horizontally on the display screen 31 with a specific contrast within the display range (magnification) of a specific region of the flaw detection images (the flaw detection images I1 and I3) displayed on the display screen 31 of the image display device 30.
  • the image displayed in this manner is visually checked to evaluate the presence or absence of the defect D2 (step S9).
  • step S10 When the presence / absence of the visual defect D2 is evaluated, the worker issues a command to proceed (step S10).
  • Such an operation is executed with reference to the CAD data stored in the three-dimensional CAD model unit 60 and the second flaw detection condition database DB2 even in the inspection procedure commands C103. I will do it.
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 inspects the presence or absence of the next defect D3. CN is taken in and the same processing as described above is performed to display an image. The operator can visually check the displayed image to evaluate the presence or absence of defects.
  • step S12 When the inspection procedure command C is executed to the end and the evaluation of all the defects is completed (step S12), the flaw detection image analyzer 10 ends the automatic operation (step S13), and the flaw detection image analysis work (defect detection work) is performed. Completion (step S14).
  • the part and type of the defect are stored in the flaw detection image analyzer 10, and after the defect inspection operation is completed, the stored defective part is displayed on the display screen 31 for each defect type. It can also be set to display.
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 performs automatic operation, and according to the type of each defect, an optimal type of image is in an optimal arrangement state, and with an optimal display range (magnification) and optimal contrast,
  • the images are sequentially displayed on the display screen 31 of the image display device 30. For this reason, the operator can inspect the defect by looking at the display screen without selecting an image or changing the display position or display magnification. Therefore, the defect can be easily inspected in a short time and even an inexperienced inspector can accurately inspect the defect without omission.
  • FIG. 8 is a block diagram showing an ultrasonic flaw detection image analyzer according to Embodiment 3 of the present invention.
  • This ultrasonic flaw detection image analyzer includes a flaw detection image analysis device 10, an input device 20, an image display device 30, a flaw detection condition database unit 40, a flaw detection image signal database unit 50, and a three-dimensional CAD model unit 60. And a plate thickness measuring device 70.
  • the plate thickness measuring device 70 measures the plate thickness of an inspection object (for example, the main wing of an aircraft) and outputs a measured value (plate thickness).
  • the three-dimensional CAD model unit 60 stores various data necessary for designing an inspection object (for example, the main wing of an aircraft), for example, design data such as plate thickness, shape, material, dimensions, and structure. .
  • a plurality of flaw detection image signals i1 to in are stored in advance.
  • the plurality of flaw detection image signals i1 to in are obtained by converting a flaw detection waveform signal obtained by moving an ultrasonic probe along a flaw detection path set on the main wing of an aircraft into a plurality of different signal conversion processing methods (TOF). It is obtained by performing signal conversion processing by an image signal conversion processing method, an AMP image signal conversion processing method, or a signal conversion processing method in which gates are different in these signal conversion processing methods.
  • TOF signal conversion processing methods
  • a first flaw detection condition database DB1 as shown in FIG. 5 and a second flaw detection condition data DB2 as shown in FIG. 6 are stored in advance.
  • the first flaw detection condition database DB1 shown in FIG. 5 is a database constructed by arranging a large number of inspection procedure commands C in the order of execution.
  • the thickness, shape, and material data have already been described, but at the beginning, the thickness, shape, and material data are not stored. As will be described later, the shape and material are three-dimensional.
  • the CAD data stored in the CAD model unit 60 is referred to, and the measured value (plate thickness) obtained by actually measuring the plate thickness of the inspection target portion of the blade by the plate thickness measuring device 70 with respect to the plate thickness. It is something to capture.
  • Each inspection procedure command C includes a defect type to be inspected and a display range indicating a range of an image area to be displayed among the image areas of the flaw detection image. Has been.
  • the flaw detection image analyzer 10 acquires the shape and material of the corresponding portion of the inspection object (main wing) corresponding to the display range from the CAD data. Incorporating (recording) in each inspection procedure command C, obtaining the plate thickness measured by the plate thickness measuring device 70 as the thickness of the corresponding portion of the inspection object (main wing) corresponding to the display range, Incorporate into C (record).
  • the type of defect to be inspected is D1
  • the display range indicating the range of the image area to be displayed among the image areas of the flaw detection image to be used ends when the start position X1 on the X axis is 0 It is composed of information indicating that the position X2 is 10, the start position Y1 on the Y axis is 0, and the end position Y2 is 20.
  • the type of defect to be inspected is D2
  • the display range indicating the range of the image area to be displayed among the image areas of the flaw detection image to be used is 0 at the start position X1 on the X axis. It is composed of information indicating that the end position X2 is 10, the start position Y1 on the Y axis is 0, and the end position Y2 is 20.
  • inspection procedure commands for example, commands C1, C2, C3, C4
  • the display range of a plurality of inspection procedure commands set consecutively in the execution order to detect the same type of defect is an inspection procedure that follows the display range indicated by the preceding inspection procedure command.
  • the display range indicated by the command is misaligned.
  • the second flaw detection condition database DB2 includes a flaw detection image to be used, a flaw detection image arrangement pattern to be used, and a display range image for each pattern in which a defect type, a plate thickness, a shape, and a material are combined. Contrast indication values (minimum and maximum contrast values) that define the contrast are defined.
  • the second flaw detection condition database DB2 uses flaw detection depending on the type of defect so that the defect can be optimally detected in consideration of the type of defect and the shape, thickness, and material of each part.
  • the image, the arrangement pattern of the image, and the contrast are determined in advance.
  • the contents of the flaw detection condition databases DB1 and DB2 can be modified as necessary. This correction can be performed by the operator inputting correction data via the input device 20.
  • step S1 in FIG. 9 When the worker starts the inspection work (step S1 in FIG. 9), a command for opening the flaw detection image and instructing the start of the evaluation is input to the flaw detection image analysis apparatus 10 via the input device 20 (step S1). S2, S3). Then, the flaw detection image analysis apparatus 10 takes in the flaw detection image signals i1 to in from the flaw detection image signal database unit 50, and stores the flaw detection image signals i1 to in in the memory in the flaw detection image analysis apparatus 10. Then, an automatic operation is started by the flaw detection image analyzer 10 (step S4).
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 refers to the first flaw detection condition database DB1 of the flaw detection condition database unit 40, and sequentially executes inspections based on information indicated by the inspection procedure command C.
  • the flaw detection image analyzer 10 first acquires the inspection procedure command C1 to acquire that the type of defect to be inspected is D1 (step S5), and ends the display range (the start position X1 on the X axis is 0) (The position X2 is 10, the start position Y1 on the Y axis is 0, and the end position Y2 is 20) (step S6).
  • the flaw detection image analyzer 10 uses the CAD data stored in the three-dimensional CAD model unit 60 for the shape and material of the corresponding part of the inspection object (main wing) corresponding to the display range acquired in step 6.
  • the CAD data shape is F1 and material is M1 fetched by reference and incorporated is stored in the inspection procedure command C1 (step S7).
  • the thickness of the corresponding portion of the inspection object is measured by the thickness measuring device 70, and the flaw detection image analysis device 10 takes in the measured thickness and takes the acquired thickness data (thickness is 10). Then, it is stored in the inspection procedure command C1 (step S8).
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 refers to the second flaw detection condition database DB2 of the flaw detection condition database unit 40, and determines the defect type D1, the thickness (10), the shape (F1), and the material (M1).
  • the flaw detection image to be used which is set to the combined pattern, is I1, and the arrangement pattern of the flaw detection image I1 to be used is to maximize one image on the screen and define the contrast of the image in the display range.
  • Information indicating that the contrast indication value is 20 and the contrast maximum value is 40 is acquired (step 9).
  • the inspection procedure command C1 of the first flaw detection condition database DB1 the CAD data stored in the three-dimensional CAD model unit 60, the plate thickness data measured by the plate thickness measuring device 70, and the second flaw detection conditions
  • the type of defect to be inspected is D1
  • the flaw detection image used in accordance with the type of defect D1 to be inspected is I1
  • the arrangement pattern of the flaw detection image I1 to be used is one image.
  • the display range indicating the range of the image region to be displayed among the image regions of the flaw detection image I1 to be used is maximized on the screen, the start position X1 on the X axis is 0, the end position X2 is 10, and the Y axis
  • the upper start position Y1 is 0 and the end position Y2 is 20, and the contrast minimum value of the contrast instruction value that defines the contrast of the image in the display range is 20, It can acquire information indicating that the value is 40.
  • the flaw detection image analyzer 10 has the display range (the start position X1 on the X axis is 0 and the end position X2 is 10) of the flaw detection image I1 based on the flaw detection image signal i1.
  • the start position Y1 on the Y-axis being 0 and the end position Y2 being 20
  • one image is maximized with the above-described contrast (contrast minimum value 20 and contrast maximum value 40)
  • the image display device 30 displays It is displayed on the image 31.
  • the operator displays the flaw detection image displayed on the display screen 31 of the image display device 30 (maximum on the display screen 31 with a specific contrast within the display range (magnification) of a specific area of the flaw detection image I1). And the presence or absence of the defect D1 is evaluated (step S10).
  • step S11 When the presence / absence of the visual defect D1 is evaluated, the worker issues a command to proceed (step S11).
  • the flaw detection image analyzer 10 takes in the inspection procedure command C2, and acquires the inspection procedure command C2, CAD data stored in the three-dimensional CAD model unit 60, and the plate thickness data measured by the plate thickness measuring device 70.
  • the operations in steps S5 to S9 are performed to display the display range of a specific area in the flaw detection image I1 (the start position X1 on the X axis is 10 and the end position X2 is 20 with the start position Y1 on the Y-axis being 0 and the end position Y2 being 20) with a specific contrast (minimum contrast value 20 and maximum contrast value 40) and maximizing one image on the display screen 31 To display.
  • the operator displays the flaw detection image displayed on the display screen 31 of the image display device 30 (maximum on the display screen 31 with a specific contrast within the display range (magnification) of a specific area of the flaw detection image I1). And the presence or absence of the defect D1 is evaluated (step S10).
  • step S11 When the presence / absence of the visual defect D1 is evaluated, the worker issues a command to proceed (step S11).
  • the CAD data stored in the three-dimensional CAD model unit 60 and the plate thickness measured by the plate thickness measuring device 70 are used. This is executed while referring to the data and the second flaw detection condition database DB2.
  • the flaw detection image analyzer 10 inspects the inspection procedure command that inspects the defect D2 in order to inspect the presence or absence of the next defect D2.
  • the command C101 is fetched.
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 first acquires the inspection procedure command C101 to acquire that the type of defect to be inspected is D2 (step S5), and ends the display range (the start position X1 on the X axis is 0) (The position X2 is 10, the start position Y1 on the Y axis is 0, and the end position Y2 is 20) (step S6).
  • the flaw detection image analyzer 10 uses the CAD data stored in the three-dimensional CAD model unit 60 for the shape and material of the corresponding part of the inspection object (main wing) corresponding to the display range acquired in step 6.
  • the CAD data fetched by reference and the fetched CAD data are incorporated and stored in the inspection procedure command C101 (step S7).
  • the thickness of the corresponding portion of the inspection object is measured by the thickness measuring device 70, and the flaw detection image analysis device 10 takes in the measured thickness and takes the acquired thickness data (thickness is 10). Then, it is stored in the inspection procedure command C1 (step S8).
  • the flaw detection image analyzer 10 refers to the second flaw detection condition database DB2 of the flaw detection condition database unit 40, and determines the defect type D2, the plate thickness (10), the shape (F2), and the material (M2).
  • the flaw detection images to be used set to the combined pattern are I1 and I3, and the arrangement pattern of the flaw detection images I1 and I3 to be used is to arrange the two images side by side, Information indicating that the minimum contrast value of the contrast instruction value that defines the contrast of the image is 20 for the flaw detection image I1, 30 for the flaw detection image I3, 40 for the flaw detection image I1, and 50 for the flaw detection image I3. Obtain (step 9).
  • the inspection procedure command C2 of the first flaw detection condition database DB1 the CAD data stored in the three-dimensional CAD model unit 60, the plate thickness data measured by the plate thickness measuring device 70, and the second flaw detection conditions
  • the type of defect to be inspected is D2
  • the flaw detection images used according to the type of defect D2 to be inspected are I1 and I3
  • the arrangement pattern of the flaw detection images I1 and I3 to be used is 2 This is to arrange the images horizontally, and the display range indicating the range of the image area to be displayed among the image areas of the flaw detection images I1 and I3 to be used ends when the start position X1 on the X axis is 0
  • the position X2 is 10
  • the start position Y1 on the Y-axis is 0
  • the end position Y2 is 20, and the minimum contrast value of the contrast instruction value that defines the contrast of the image in the display range
  • flaw detection image I1 20 a 30 in the flaw detection image I3, it acquires
  • the flaw detection image analyzer 10 includes the display range (the start position X1 on the X axis is 0 and the end position of the flaw detection images I1 and I3 based on the flaw detection image signals i1 and i3).
  • X2 is 10 and the start position Y1 on the Y axis is 0 and the end position Y2 is 20).
  • the above contrast (the minimum contrast value is 20 for the flaw detection image I1, 30 for the flaw detection image I3, and the maximum contrast value is the flaw detection image).
  • the two images are horizontally aligned and displayed on the display image 31 of the image display device 30 at 40 for I1 and 50 for the flaw detection image I3).
  • the operator arranges horizontally on the display screen 31 with a specific contrast within the display range (magnification) of a specific region of the flaw detection images (the flaw detection images I1 and I3) displayed on the display screen 31 of the image display device 30. Then, the presence / absence of the defect D2 is evaluated by visually confirming the image displayed and displayed (step S10).
  • step S11 When the presence / absence of the visual defect D2 is evaluated, the operator issues a command to proceed (step S11).
  • the flaw detection image analyzer 10 takes in the inspection procedure command C102, and the inspection procedure command C102, the CAD data stored in the three-dimensional CAD model unit 60, the plate thickness data measured by the plate thickness measuring device 70, and Referring to the second flaw detection condition database DB2, the operations in steps S5 to S9 are performed to display the display range of a specific area in the flaw detection images I1 and I3 (the start position X1 on the X axis is 10 and the end position). X2 is 20, the start position Y1 on the Y-axis is 0, and the end position Y2 is 20.
  • the specific contrast is 20 for the flaw detection image I1, 30 for the flaw detection image I3, and the maximum contrast is the flaw detection value.
  • the image I1 is 40 and the flaw detection image I3 is 50), and the two images are horizontally aligned and displayed on the display screen 31.
  • the operator arranges horizontally on the display screen 31 with a specific contrast within the display range (magnification) of a specific region of the flaw detection images (the flaw detection images I1 and I3) displayed on the display screen 31 of the image display device 30.
  • the image displayed) is visually checked to evaluate the presence or absence of the defect D2 (step S10).
  • step S11 When the presence / absence of the visual defect D2 is evaluated, the operator issues a command to proceed (step S11).
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 inspects the presence or absence of the next defect D3. CN is taken in and the same processing as described above is performed to display an image. The operator can visually check the displayed image to evaluate the presence or absence of defects.
  • step S13 When the inspection procedure command C is executed to the end and evaluation of all the defects is completed (step S13), the flaw detection image analysis apparatus 10 ends the automatic operation (step S14), and the flaw detection image analysis work (defect detection work) is performed. Completion (step S15).
  • the part and type of the defect are stored in the flaw detection image analyzer 10, and after the defect inspection operation is completed, the stored defective part is displayed on the display screen 31 for each defect type. It can also be set to display.
  • the flaw detection image analysis apparatus 10 performs automatic operation, and according to the type of each defect, an optimal type of image is in an optimal arrangement state, and with an optimal display range (magnification) and optimal contrast,
  • the images are sequentially displayed on the display screen 31 of the image display device 30. For this reason, the operator can inspect the defect by looking at the display screen without selecting an image or changing the display position or display magnification. Therefore, the defect can be easily inspected in a short time and even an inexperienced inspector can accurately inspect the defect without omission.
  • the plate thickness of the site to be inspected is actually measured by the plate thickness measuring device 70, it is not necessary to store the plate thickness data in the database. Therefore, even if there is a variation in plate thickness for each inspection object, a flaw detection inspection can be performed using correct setting conditions (plate thickness dimensions).
  • the present invention can be applied not only when detecting defects in aircraft wings, but also when detecting defects by ultrasonic flaw detection for various inspection target products that can detect defects by ultrasonic flaw detection.
  • Flaw detection image analyzer 20 Input device 30 Image display apparatus 31 Display screen 40 Flaw detection condition database part 50 Flaw detection image signal database part 60 Three-dimensional CAD model part 70 Plate thickness measurement apparatus

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Abstract

 探傷画像分析装置(10)は、探傷条件データベース(40)に記憶した検査手順コマンドを取り込み、取り込んだ当該検査手順コマンドで示す探傷画像に対応する探傷画像信号を探傷画像信号用データベース部(50)から取り込み、この探傷画像信号に基づく探傷画像を、検査手順コマンドで示す画像の配置パターンで、検査手順コマンドで示す表示範囲とコントラストで表示装置(30)に表示させる。これにより、超音波探傷画像を観察して欠陥を検出する場合において、検査する欠陥に応じて最適な画像を、最適な配置パターンで、最適な表示範囲とコントラストで順次表示することができる。

Description

超音波探傷画像の分析装置
  本発明は、超音波探傷画像の分析装置に関し、欠陥を検査するための手間や時間を軽減すると共に、習熟度によらずに正確に欠陥を検出することができるように工夫したものである。
 航空機の主翼は、従来ではアルミニウム合金やチタン合金で製造されていたが、最近では、炭素繊維と樹脂を組み合わせた炭素繊維強化プラスチック(CFRP)が使用されてきている。
 航空機においては、翼の損傷は大事故に直結する危険があるため、保守・点検作業をして欠陥を発見することは極めて重要である。
 航空機の翼に発生する欠陥としては、傷や、異物や、剥離などがあり、これらの欠陥を検出する非破壊検査として、超音波探傷検査が採用されている。
 ここで、超音波探傷検査の一般的な手法を先に説明しておく。
 図10に示すように、探傷範囲Aが広範囲である場合には、探傷パスPを設定しこの探傷パスPに沿い超音波探触子を移動させていって、超音波による探傷波形信号(応答波形信号)を取得する。
 探傷パスP上のある1点において、その部位が健全部位であれば、図11に示すような表面エコーEsと底面エコーEbとからなる探傷波形信号が得られる。一方、探傷パスP上のある1点において、その部位が欠陥部位であれば、図12に示すような表面エコーEsと底面エコーEbと欠陥エコーEdからなる探傷波形信号が得られる。
 探傷範囲Aが狭い場合には、探傷パスPの全体にわたって探傷波形信号の波形を目視観察することにより欠陥の検出(欠陥エコーEdの検出)をすることも可能であるが、探傷範囲Aが広い場合には、探傷パスP全体にわたって探傷波形信号の波形を目視確認すると膨大な時間がかかってしまう。
 そこで、探傷波形信号を信号変換処理して、健全部位の輝度値に対して欠陥部位の輝度値が変化する探傷画像を表す探傷画像信号に変換し、この探傷画像信号による探傷画像を目視確認して欠陥の有無を判定することにより、短時間で探傷検査をしている。
 また、欠陥の存在が認められた場合には、探傷画像の基礎となっている探傷波形を確認することにより、詳細な分析もできる。
 探傷波形信号から探傷画像信号に信号変換する信号変換処理の手法としては、TOF画像信号変換処理とAMP画像信号変換処理が知られている。
 信号変換処理をするには、健全部位の探傷波形信号を示す図13、及び、欠陥部位の探傷波形信号を示す図14において、表面エコーEsと底面エコーEbの間の位置に所定高さで所定範囲のゲートGを設定しておく。
 TOF画像に変換するには、設定したゲートGと欠陥エコーEdが交わる位置を、輝度値に変換する。AMP画像に変換するには、設定したゲートGと交わった欠陥エコーEdの高さを、輝度値に変換する。
 なお、欠陥エコーが複数ある場合には、ゲートGと最初に交わるエコーを欠陥エコーEdとして使用したり、ゲートGと交わるエコーのうち、最大高さのエコーを欠陥エコーEdとして使用するなどのバージョンがある。
 図15は健全部位の探傷画像の一例であり、図16は欠陥部位の探傷画像(TOF画像)の一例であり、図17は欠陥部位の探傷画像(AMP画像)の一例である。
 これらの図に示すように、探傷画像では、健全部位の輝度に対して、欠陥部位の輝度が変化しており、目視により迅速・簡易に欠陥部位を検査することができる。
 ここで、探傷波形信号の波形形状やノイズの発生状況は、欠陥の種類や探傷部位の板厚・形状・材質などによって異なるため、1つの探傷画像だけで欠陥の有無を正確に判定することができないことがある。
 このため、欠陥の種類や探傷部位の板厚・形状・材質に応じて、位置や高さの異なる複数のゲートを設定し、複数の探傷画像信号を生成して、複数の探傷画像信号による複数の探傷画像をそれぞれ目視確認することにより、欠陥の有無を総合的に判定している。
 つまり、探傷パスPに沿い探触子を移動させていったときに得た1つの探傷波形信号を、複数種類の異なる信号変換処理手法により信号変換して、複数種類の探傷画像信号を得て、これら複数種類の探傷画像信号による探傷画像を用いて欠陥の有無を総合的に判断している。
 なお、探傷波形信号からTOF探傷画像信号に変換することと、探傷波形信号からAMP探傷画像信号に変換することは、異なる信号変換処理手法であり、また、探傷波形信号からTOF探傷画像信号に変換する際にゲートGが異なっている場合にも異なる信号変換処理手法であり、探傷波形信号からAMP探傷画像信号に変換する際にゲートGが異なっている場合にも異なる信号変換処理手法であるという意味で、「複数種類の異なる信号変換処理手法」と言っている。
 1つの探傷波形信号を信号変換して得た、複数種類の探傷画像信号による探傷画像により欠陥の有無を総合的に判断する一般的な例を、次に説明する。
 例えば欠陥の種類がD1,D2の2種類、探傷部位の板厚が10mm、探傷部位の材質がM1,M2の2種類、探傷部位の形状がF1,F2の2種類の場合に、探傷波形信号を第1のゲートを設定して信号変換処理したTOF探傷画像信号による探傷画像I1と、探傷波形信号を第2のゲートを設定して信号変換処理したTOF探傷画像信号による探傷画像I2と、探傷波形信号を第3のゲートを設定して信号変換処理したAMP探傷画像信号による探傷画像I3と、探傷波形信号を第4のゲートを設定して信号変換処理したAMP探傷画像信号による探傷画像I4によって評価できるとする。
 探傷画像I1~I4の割り付けが、表1のようになったとすると、探傷画像I1~I4を順番に目視確認することで、全ての欠陥を評価できることになる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 ここで、航空機の主翼を、超音波探傷検査する従来の手法を説明する。
 航空機の主翼の検査では、主翼の全面を超音波探傷検査しているが、この検査により得た探傷波形信号による探傷波形を全て分析するのは時間がかかりすぎるため、取得した探傷波形信号を、複数種類の異なる信号変換処理手法により信号変換処理して、複数の探傷画像信号に変換し、複数の探傷画像信号による複数の探傷画像上で欠陥部位を目視により特定している。
 探傷画像上では、健全部位と比較して欠陥部位の輝度値が大きくなる(または小さくなる)ため、健全部位と欠陥部位との間の輝度変化を目視確認することにより、欠陥部位を特定している。
 この場合、検出しようとする欠陥の種類や、部位の違い(形状、板厚、材質など)によって目視確認する探傷画像の種類や配置が異なり、また、欠陥を検出しやすい探傷画像の表示倍率やコントラストも異なる。これは、欠陥の種類や、各部位の板厚や形状や材質によって、超音波の反射の仕方が異なるためである。
 このため、検査員は、欠陥の種類や部位の違いによって、表示する探傷画像の種類や配置、表示範囲(倍率)やコントラストを繰り返し変更しながら欠陥を検出している。
 このような従来の検査手法の詳細を、フローチャートである図18、ならびに、画像表示装置の表示画面に表示した探傷波形画像を示す図19~図21を参照して説明する。
 航空機の主翼を超音波探傷検査して得た探傷波形信号を、複数種類の異なる信号変換処理手法により信号変換処理して求めた複数の探傷画像信号が、予め探傷画像信号用データベースに記録されているものとする。
 作業者が目視検査作業を開始する際には(図18のステップS1)、複数の探傷画像信号による複数の探傷画像I1~Inを開く(ステップS2)。
 次に、評価する欠陥の種類(例えば第1の種類の欠陥D1)を決める(ステップS3)。
 どのような種類の欠陥を調べるかは、作業者の持っている知識(翼の構造・形状・板厚・材質や、超音波探傷検査の特性や、今までに蓄積した検査経験の知識など)を基に判断される。
 作業者は、決定した欠陥の種類に応じて必要となる1つまたは複数の探傷画像を選択し、選択した画像を、図19に示すように画像表示装置の表示画面1上に、整列させて表示させる(ステップS4)。
 例えば欠陥の種類がD1である場合には、探傷画像I1と探傷画像I3を選択し、両探傷画像I1,I3を横並びに整列させて表示させる。
 この場合、探傷画像I1,I3は、図19に点線で示す区画線により例えば、4×7の28個に区画された区画領域R1~R28上に重ねて表示される。つまり、探傷画像I1,I3は、それぞれ、区画領域R1~R28上の画像に区画される。
 なお欠陥の種類に応じて、どのような探傷画像を選択してどのように画像を配列するかは、作業者の持っている知識(翼の構造・形状・板厚・材質や、欠陥の種類や、超音波探傷検査の特性や、今までに蓄積した検査経験の知識など)を基に判断される。
 作業者は、探傷画像I1,I3の表示範囲を変更する。
 具体的には、表示するX,Y座標の開始位置とX,Y座標の終了位置を変更して、表示すべき区画領域を特定すると共に表示倍率を最適に変更して、図19に示すように、探傷画像I1,I3のうち、例えば区画領域R1上の所定範囲の画像を拡大して表示する(ステップS5)。
 欠陥の種類に応じて、どの程度まで表示倍率を拡大調整すれば良いかや、どの区画領域の画像を表示すれば良いかは、作業者の持っている知識(翼の構造・形状・板厚・材質や、欠陥の種類や、超音波探傷検査の特性や、今までに蓄積した検査経験の知識など)を基に判断される。
 図20の状態では、区画領域R1上の画像を拡大しただけであるので、欠陥部位を示す画像(黒塗りした部分)と健全部位とのコントラストが明確でない。
 そこで、作業者は、区画領域R1上の探傷画像I1,I3を拡大した画像(図20)のコントラスト調整をして、健全部位の画像と欠陥部位の画像とのコントラストを強調する(ステップS6)。
 欠陥の種類に応じて、どの程度までコントラストを調整すればよいかは、作業者の持っている知識(翼の構造・形状・板厚・材質や、欠陥の種類や、超音波探傷検査の特性や、今までに蓄積した検査経験の知識など)を基に判断される。
 作業者は、区画領域R上の探傷画像I1,I3を拡大し且つコントラスト調整した画像(図21)を目視確認して欠陥部位の有無を評価する(ステップS7)。
 作業者は、探傷画像I1,I3の表示範囲を、区画領域R1上の画像を拡大した画像から、次々と、区画領域R2~R28上の画像を拡大した画像に変更していき、各区画領域R2~R28上の拡大画像を選択したときに、選択した区画領域の状況に応じて、それぞれステップ5,6,7に示す、表示倍率の最適な変更と、コントラスト調整と、目視による欠陥部位の検査をする。
 全ての区画領域R1~R28上の画像について、欠陥D1の有無について検査したら(ステップS8)、こんどは、評価する欠陥の種類を別の種類の欠陥(例えば欠陥D2)に変更する(ステップS3)。
 欠陥D2についても、欠陥D1と同様にして、欠陥部位の検査をする。
 このようにして、欠陥の種類を順次変更していき、すべての種類の欠陥について、欠陥部位の検査をしたら評価を完了し(ステップS9)、探傷画像の分析作業を完了する。(ステップS10)。
 なお欠陥の種類によっては、特定の区画領域については、探傷画像の分析をせずに、次の区画領域にスキップすることもある。
 これは、選択した特定の画像と選択した特定の欠陥によっては、特定の区画領域での欠陥検出ができないことが知識や経験により初めから分かっている場合には、時間と労力を削減するために、特定の区画領域での探傷画面分析をスキップしているからである。
特開平9-251364号公報
 ところで、上述した探傷画像信号を用いて主翼の検査をする従来手法では、表示する画像の種類や配置、表示範囲(倍率)やコントラストが、欠陥の種類や、区画領域によって変化するため、これらの変更に時間がかかる。
 更に、経験の浅い検査員は、表示する画像の種類や配置、表示範囲(倍率)やコントラストを間違えてしまう可能性があり、欠陥の検出漏れが発生するリスクがある。
 本発明は、上記従来技術に鑑み、欠陥を検査するための手間や時間を軽減すると共に、習熟度によらずに正確に欠陥を検出することができる、超音波探傷画像の分析装置を提供することを目的とする。
 上記課題を解決する本発明の構成は、
 同一の探傷波形信号を複数種類の異なる信号変換処理手法により信号変換して得た複数の探傷画像信号が記憶された探傷画像信号用データベース部と、
 検査する欠陥の種類と、検査する欠陥の種類に応じて使用する探傷画像と、使用する探傷画像の配置パターンと、使用する探傷画像の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲と、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値を情報として有する多数の検査手順コマンドが実行順番に沿い並んで構築された探傷条件データベースが記憶された探傷条件データベース部と、
 探傷画像分析装置とで構成されており、
 前記探傷画像分析装置は、
 前記探傷条件データベースの検査手順コマンドを、外部からの入力指令に基づき順に取り込み、検査手順コマンドを取り込む毎に、取り込んだ当該検査手順コマンドで示す探傷画像に対応する探傷画像信号を前記探傷画像信号用データベース部から取り込み、この探傷画像信号に基づく探傷画像を、当該検査手順コマンドで示す画像の配置パターンで、当該検査手順コマンドで示す表示範囲とコントラストで表示装置に表示させることを特徴とする。
 また本発明の構成は、
 同一の探傷波形信号を複数種類の異なる信号変換処理手法により信号変換して得た複数の探傷画像信号が記憶された探傷画像信号用データベース部と、
 検査する欠陥の種類と、使用する探傷画像の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲を情報として有する多数の検査手順コマンドが実行順番に沿い並んで構築された第1の探傷条件データベースと、欠陥の種類と、板厚と、形状と、材質とを組み合わせた各パターン毎に、使用する探傷画像と、使用する探傷画像の配置パターンと、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値を規定する第2の探傷条件データベースとが記憶された探傷条件データベース部と、
 検査対象物の板厚、形状、材質のデータを少なくとも有する設計データを有するCADモデル部と、
 探傷画像分析装置とで構成されており、
 前記探傷画像分析装置は、
 前記第1の探傷条件データベースの検査手順コマンドを、外部からの入力指令に基づき順に取り込み、
 検査手順コマンドを取り込む毎に、取り込んだ当該検査手順コマンドで示す表示範囲に対応する検査対象物の対応部分の板厚、形状、材質を前記CADモデルから取り込んで検査手順コマンドに組み込むと共に、第2の探傷条件データベースを参照して、欠陥の種類と前記CADモデルから取り込んだ板厚、形状、材質の組み合わせパターンに対して規定されている、使用する探傷画像と、使用する探傷画像の配置パターンと、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値を取り込み、
 使用する探傷画像に対応する探傷画像信号を前記探傷画像信号用データベース部から取り込み、この探傷画像信号に基づく探傷画像を、取り込んだ画像の配置パターンで、取り込んだ表示範囲とコントラストで表示装置に表示させることを特徴とする。
 また本発明の構成は、
 同一の探傷波形信号を複数種類の異なる信号変換処理手法により信号変換して得た複数の探傷画像信号が記憶された探傷画像信号用データベース部と、
 検査する欠陥の種類と、使用する探傷画像の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲を情報として有する多数の検査手順コマンドが実行順番に沿い並んで構築された第1の探傷条件データベースと、欠陥の種類と、板厚と、形状と、材質とを組み合わせた各パターン毎に、使用する探傷画像と、使用する探傷画像の配置パターンと、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値を規定する第2の探傷条件データベースとが記憶された探傷条件データベース部と、
 検査対象物の形状、材質のデータを少なくとも有する設計データを有するCADモデル部と、
 検査対象物の板厚を計測する板厚計測装置と、
 探傷画像分析装置とで構成されており、
 前記探傷画像分析装置は、
 前記第1の探傷条件データベースの検査手順コマンドを、外部からの入力指令に基づき順に取り込み、
 検査手順コマンドを取り込む毎に、取り込んだ当該検査手順コマンドで示す表示範囲に対応する検査対象物の対応部分の形状、材質を前記CADモデルから取り込んで検査手順コマンドに組み込むと同時に取り込んだ当該検査手順コマンドで示す表示範囲に対応する検査対象物の対応部分の板厚として前記板厚計測装置により計測した板厚を取り込むと共に、第2の探傷条件データベースを参照して、欠陥の種類と前記CADモデル及び前記板厚計測装置から取り込んだ板厚、形状、材質の組み合わせパターンに対して規定されている、使用する探傷画像と、使用する探傷画像の配置パターンと、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値を取り込み、
 使用する探傷画像に対応する探傷画像信号を前記探傷画像信号用データベース部から取り込み、この探傷画像信号に基づく探傷画像を、取り込んだ画像の配置パターンで、取り込んだ表示範囲とコントラストで表示装置に表示させることを特徴とする。
 本発明によれば、超音波探傷画像を観察して欠陥を検出する場合において、検査する欠陥に応じて最適な画像が最適な配置パターンで、最適な表示範囲とコントラストで順次表示されるため、検査員が手動により画像選択・配置パターン、表示範囲、コントラストを変更する手間がなくなり、検査の手間や時間を軽減することができる。
 また、検査員の習熟度によらずに、正確に欠陥の検出をすることができ、欠陥の検出漏れがなくなる。
本発明の実施例1に係る超音波探傷画像の分析装置を示す構成図。 実施例1で用いる探傷条件データベースを示すデータ図。 実施例1の動作状態を示すフロー図。 本発明の実施例2に係る超音波探傷画像の分析装置を示す構成図。 実施例2で用いる第1の探傷条件データベースを示すデータ図。 実施例2で用いる第2の探傷条件データベースを示すデータ図。 実施例2の動作状態を示すフロー図。 本発明の実施例3に係る超音波探傷画像の分析装置を示す構成図。 実施例3の動作状態を示すフロー図。 探傷パスの例を示す説明図。 探傷波形の例を示す波形図。 探傷波形の例を示す波形図。 探傷波形とゲートの例を示す波形図。 探傷波形とゲートの例を示す波形図。 健全部位の探傷画像を示す画像図。 欠陥部位の探傷画像を示す画像図。 欠陥部位の探傷画像を示す画像図。 従来の探傷画像分析手順を示すフロー図。 従来の探傷画像を示す画像図。 従来の探傷画像を示す画像図。 従来の探傷画像を示す画像図。
 以下、本発明の実施の形態について、実施例に基づき詳細に説明する。
 図1は本発明の実施例1に係る超音波探傷画像の分析装置を示すブロック図である。この超音波探傷画像の分析装置は、探傷画像分析装置10と、入力装置20と、画像表示装置30と、探傷条件データベース部40と、探傷画像信号用データベース部50とで構成されている。
 探傷画像信号用データベース部50には、複数の探傷画像信号i1~inが予め記憶されている。これら複数の探傷画像信号i1~inは、航空機の主翼上に設定した探傷パスに沿い超音波探触子を移動させていって取得した探傷波形信号を、複数種類の異なる信号変換処理手法(TOF画像信号変換処理手法や、AMP画像信号変換処理手法や、これらの信号変換処理手法においてゲートを異ならせた信号変換処理手法)により信号変換処理して得たものである。
 これら探傷画像信号i1~inを、探傷画像分析装置10を介して画像表示装置30に送ることにより、表示画面31に探傷画像I1~Inを表示することができる。
 探傷条件データベース部40には、図2に示すような、探傷条件データベースが予め記憶されている。この探傷条件データベースは、多数の検査手順コマンドCが実行順番に沿い並んで構築されたデータベースである。
 各検査手順コマンドCは、検査する欠陥の種類と、検査する欠陥の種類に応じて使用する探傷画像と、使用する探傷画像の配置パターンと、使用する探傷画像の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲と、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値(コントラストの最小値と最大値)とから構成されている。
 例えば、検査手順コマンドC1は、検査する欠陥の種類がD1であり、検査する欠陥の種類D1に応じて使用する探傷画像がI1であり、使用する探傷画像I1の配置パターンは1個の画像を画面に最大化することであり、使用する探傷画像I1の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲がX軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20であり、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値のコントラスト最小値が20、コントラスト最大値が40であることを示す情報により構成されている。
 また例えば、検査手順コマンドC101は、検査する欠陥の種類がD2であり、検査する欠陥の種類D2に応じて使用する探傷画像がI1とI4であり、使用する探傷画像I1,I4の配置パターンは2個の画像を横に整列して表示することであり、使用する探傷画像I1,I4の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲がX軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20であり、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値のコントラスト最小値が探傷画像I1では20、探傷画像I4では30で、コントラスト最大値が探傷画像I2では40,探傷画像I4では50であることを示す情報により構成されている。
 探傷条件データベースでは、同一種類の欠陥(例えば欠陥D1)を検査するための検査手順コマンド(例えばコマンドC1,C2,C3,C4・・・)は、実行順番に沿い連続して設定されている。
 更に、同一種類の欠陥を検出するため実行順番に沿い連続して設定された複数の検査手順コマンドの表示範囲は、先行する検査手順コマンドで指示される表示範囲に対して、後行する検査手順コマンドで指示される表示範囲が位置的にズレている。
 各検査手順コマンドCは、欠陥の種類や、各部位の形状、板厚、材質を考慮して、欠陥を最適に検出することができるように、欠陥の種類に応じて、使用する探傷画像や、画像の配置パターンや、表示範囲(倍率)やコントラストを予め決定したものである。
 なお必要に応じて、各検査手順コマンドCの内容を、修正することもできる。この修正は、作業者が入力装置20を介して修正データを入力することにより行うことができる。
 作業者が、入力装置20を介して、探傷画像分析装置10に対して検査開始指示を入力することにより、探傷検査を実行することができる。
 次に、図3に示すフローチャートも参照しつつ、実施例1の動作状態を説明する。
 作業者が検査作業を開始する際には(図3のステップS1)、入力装置20を介して、探傷画像を開くと共に評価の開始を指示する指令を、探傷画像分析装置10に入力する(ステップS2,S3)。
 そうすると、探傷画像分析装置10は探傷画像信号用データベース部50から探傷画像信号i1~inを取り込み、探傷画像分析装置10内のメモリに探傷画像信号i1~inを記憶する。
 そして、探傷画像分析装置10により自動操作が開始される(ステップS4)。
 探傷画像分析装置10では、探傷条件データベース部40の探傷条件データベースを参照して、検査手順コマンドCで示す情報に基づき、検査を順番に実行していく。
 探傷画像分析装置10は、先ず検査手順コマンドC1を取り込むことにより、検査すべき欠陥の種類がD1であることを取得し(ステップS5)、使用する探傷画像がI1であり1個の探傷画像I1を画面に最大化して表示することを取得して、探傷画像信号i1に基づく探傷画像I1を画面表示装置30の表示画面31に最大化して表示する(ステップS6)。
 また、探傷画像分析装置10は、検査手順コマンドC1を基に、表示範囲(X軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10であり、Y軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20であること)を取得し、探傷画像I1のうち上記表示範囲の領域の画像を表示画面31に最大化して表示する(ステップ7)。
 更に、探傷画像分析装置10は、検査手順コマンドC1を基に、コントラスト指示値(コントラスト最小値が20で、コントラスト最大値が40であること)を取得し、表示画面31に最大化して表示された、探傷画像I1のうちの表示範囲の領域の画像のコントラストを、上記コントラスト指示値に応じて調整する(ステップS8)。
 作業者は、画像表示装置30の表示画面31に表示された、探傷画像(探傷画像I1のうち検査手順コマンドC1により指定された、特定の領域の表示範囲(倍率)で、特定のコントラストで表示画面31に最大化されて表示された画像)を目視確認して欠陥D1の有無を評価する(ステップS9)。
 目視による欠陥D1の有無を評価したら、作業者は次に進める指令を出す(ステップS10)。
 そうすると、探傷画像分析装置10は、検査手順コマンドC2を取り込み、この検査手順コマンドC2を基に、ステップS5~S8の動作をして、検査手順コマンドC2により指定された、探傷画像I1のうち、特定の領域の表示範囲で、特定のコントラストの画像を最大化して表示画面31に表示する。
 作業者は、画像表示装置30の表示画面31に表示された、探傷画像(探傷画像I1のうち検査手順コマンドC2により指定された、特定の領域の表示範囲(倍率)で、特定のコントラストで表示画面31に最大化されて表示された画像)を目視確認して欠陥D1の有無を評価する(ステップS9)。
 目視による欠陥D1の有無を評価したら、作業者は次に進める指令を出す(ステップS10)。
 このような動作を、連続して設定された検査手順コマンドC3,C4,・・・においても実行していく。
 欠陥D1の有無の検査について画面全体の評価が完了したら(ステップS11)、次の欠陥D2の有無の検査をするため、探傷画像分析装置10は、欠陥D2を検査する検査手順コマンドである検査手順コマンドC101を取り込む。
 探傷画像分析装置10は、先ず検査手順コマンドC101を取り込むことにより、検査すべき欠陥の種類がD2であることを取得し(ステップS5)、使用する探傷画像がI1,I4であり2個の探傷画像I1,I4を画面に横に整列して表示することを取得して、探傷信号i1,i4に基づく探傷画像I1,I4を画面表示装置30の表示画面31に横に整列して表示する(ステップS6)。
 また、探傷画像分析装置10は、検査手順コマンドC101を基に、表示範囲(X軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10であり、Y軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20であること)を取得し、探傷画像I1,I4のうち上記表示範囲の領域の画像を表示画面31に横に整列して表示する(ステップ7)。
 更に、探傷画像分析装置10は、検査手順コマンドC101を基に、コントラスト指示値(コントラスト最小値が探傷画像I1は20で探傷画像I4は30であり、コントラスト最大値が探傷画像I1は40で探傷画像I4は50であること)を取得し、表示画面31に横に整列して表示された、探傷画像I1,I4のうちの表示範囲の領域の画像のコントラストを、上記コントラスト指示値に応じて調整する(ステップS8)。
 作業者は、画像表示装置30の表示画面31に表示された、探傷画像(探傷画像I1,I4のうち検査手順コマンドC101により指定された、特定の領域の表示範囲(倍率)で、特定のコントラストで表示画面31に横に整列して表示された画像)を目視確認して欠陥D2の有無を評価する(ステップS9)。
 目視による欠陥D2の有無を評価したら、作業者は次に進める指令を出す(ステップS10)。
 そうすると、探傷画像分析装置10は、検査手順コマンドC102を取り込み、この検査手順コマンドC102を基に、ステップS5~S8の動作をして、検査手順コマンドC102により指定された、探傷画像I1,I4のうち、特定の領域の表示範囲で、特定のコントラストの画像を横に整列して表示画面31に表示する。
 作業者は、画像表示装置30の表示画面31に表示された、探傷画像(探傷画像I1,I4のうち検査手順コマンドC102により指定された、特定の領域の表示範囲(倍率)で、特定のコントラストで表示画面31に横に整列して表示された画像)を目視確認して欠陥D2の有無を評価する(ステップS9)。
 目視による欠陥D2の有無を評価したら、作業者は次に進める指令を出す(ステップS10)。
 このような動作を、連続して設定された検査手順コマンドC103・・・においても実行していく。
 欠陥D2の有無の検査について画面全体の評価が完了したら(ステップS11)、次の欠陥D3の有無を検査するため、探傷画像分析装置10は、欠陥D3を検査する検査手順コマンドである検査手順コマンドCNを取り込み、前述したのと同様な処理をして画像を表示し、作業者は表示された画像を目視確認して欠陥の有無を評価することができる。
 検査手順コマンドCが最後まで実行されて全ての欠陥の評価が完了したら(ステップS12)、探傷画像分析装置10は自動操作を終了し(ステップS13)、探傷画像の分析作業(欠陥検出作業)を完了する(ステップS14)。
 なお作業者が欠陥を目視確認したら、欠陥の部位や種類を探傷画像分析装置10に記憶させておき、欠陥検査の作業完了後に、記憶させていた欠陥部位を欠陥種類毎に表示画面31上に表示するように設定することもできる。
 このように、探傷画像分析装置10が自動操作を行い、各欠陥の種類に応じて、最適な種類の画像が最適な配置状態で、しかも、最適な表示範囲(倍率)と最適なコントラストで、順次、画像表示装置30の表示画面31に表示される。このため、作業者は画像の選択や表示位置や表示倍率等の変更操作をすることなく、表示画面を見て欠陥の検査を行うことができる。
 したがって、短時間で容易に欠陥の検査ができると共に、経験の浅い検査員であっても検査漏れなく正確に欠陥検査をすることができる。
 図4は本発明の実施例2に係る超音波探傷画像の分析装置を示すブロック図である。この超音波探傷画像の分析装置は、探傷画像分析装置10と、入力装置20と、画像表示装置30と、探傷条件データベース部40と、探傷画像信号用データベース部50と、三次元CADモデル部60で構成されている。
 三次元CADモデル部60には、検査対象物(例えば航空機の主翼)を設計するために必要な各種のデータ、例えば、板厚、形状、材質、寸法、構造等の設計データが記憶されている。
 探傷画像信号用データベース部50には、複数の探傷画像信号i1~inが予め記憶されている。これら複数の探傷画像信号i1~inは、航空機の主翼上に設定した探傷パスに沿い超音波探触子を移動させていって取得した探傷波形信号を、複数種類の異なる信号変換処理手法(TOF画像信号変換処理手法や、AMP画像信号変換処理手法や、これらの信号変換処理手法においてゲートを異ならせた信号変換処理手法)により信号変換処理して得たものである。
 これら探傷画像信号i1~inを、探傷画像分析装置10を介して画像表示装置30に送ることにより、表示画面31に探傷画像I1~Inを表示することができる。
 探傷条件データベース部40には、図5に示すような第1の探傷条件データベースDB1と、図6に示すような第2の探傷条件データDB2が予め記憶されている。
 図5に示す第1の探傷条件データベースDB1は、多数の検査手順コマンドCが実行順番に沿い並んで構築されたデータベースである。図5では、板厚、形状、材質のデータが既に記載されているが、当初では板厚、形状、材質のデータは記憶されておらず、後述するように、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータを参照して取り込むものである。
 図5に示す第1の探傷条件データベースDB1を説明すると、各検査手順コマンドCは、検査する欠陥の種類と、探傷画像の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲とから構成されている。
 後述するように、各検査手順コマンドCを実行する際には、探傷画像分析装置10は、表示範囲に対応する、検査対象物(主翼)の対応部分の板厚、形状、材質をCADデータから取得して、各検査手順コマンドCに組み込む(記録する)。
 例えば、検査手順コマンドC1は、検査する欠陥の種類がD1であり、使用する探傷画像の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲がX軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20であることを示す情報により構成されている。
 また例えば、検査手順コマンドC101は、検査する欠陥の種類がD2であり、使用する探傷画像の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲がX軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20であることを示す情報により構成されている。
 第1の探傷条件データベースDB1では、同一種類の欠陥(例えば欠陥D1)を検査するための検査手順コマンド(例えばコマンドC1,C2,C3,C4・・・)は、実行順番に沿い連続して設定されている。
 更に、同一種類の欠陥を検出するため実行順番に沿い連続して設定された複数の検査手順コマンドの表示範囲は、先行する検査手順コマンドで指示される表示範囲に対して、後行する検査手順コマンドで指示される表示範囲が位置的にズレている。
 次に図6に示す第2の探傷条件データベースDB2について説明する。第2の探傷条件データベースDB2は、欠陥の種類と、板厚と、形状と、材質とを組み合わせた各パターン毎に、使用する探傷画像と、使用する探傷画像の配置パターンと、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値(コントラストの最小値と最大値)が規定されている。
 第2の探傷条件データベースDB2は、欠陥の種類や、各部位の形状、板厚、材質を考慮して、欠陥を最適に検出することができるように、欠陥の種類に応じて、使用する探傷画像や、画像の配置パターンや、コントラストを予め決定したものである。
 なお必要に応じて、探傷条件データベースDB1,DB2の内容を、修正することもできる。この修正は、作業者が入力装置20を介して修正データを入力することにより行うことができる。
 次に、図7に示すフローチャートも参照しつつ、実施例2の動作状態を説明する。
 作業者が検査作業を開始する際には(図7のステップS1)、入力装置20を介して、探傷画像を開くと共に評価の開始を指示する指令を、探傷画像分析装置10に入力する(ステップS2,S3)。
 そうすると、探傷画像分析装置10は探傷画像信号用データベース部50から探傷画像信号i1~inを取り込み、探傷画像分析装置10内のメモリに探傷画像信号i1~inを記憶する。
 そして、探傷画像分析装置10により自動操作が開始される(ステップS4)。
 探傷画像分析装置10では、探傷条件データベース部40の第1の探傷条件データベースDB1を参照して、検査手順コマンドCで示す情報に基づき、検査を順番に実行していく。
 探傷画像分析装置10は、先ず検査手順コマンドC1を取り込むことにより、検査すべき欠陥の種類がD1であることを取得し(ステップS5)、表示範囲(X軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10であり、Y軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20であること)を取得する(ステップS6)。
 次に探傷画像分析装置10は、ステップ6にて取得した表示範囲に対応する、検査対象物(主翼)の対応部分の板厚、形状、材質を、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータを参照して取り込み、取り込んだCADデータ(板厚が10、形状がF1、材質がM1)を、検査手順コマンドC1に組み込んで記憶する(ステップS7)。
 探傷画像分析装置10は、探傷条件データベース部40の第2の探傷条件データベースDB2を参照して、欠陥の種類D1と、板厚(10)と、形状(F1)と、材質(M1)とを組み合わせたパターンに設定されている、使用する探傷画像がI1であり、使用する探傷画像I1の配置パターンは1個の画像を画面に最大化することであり、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値のコントラスト最小値が20、コントラスト最大値が40であることを示す情報を取得する(ステップ8)。
 このように第1の探傷条件データベースDB1の検査手順コマンドC1と、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータと、第2の探傷条件データベースDB2を参照することにより、検査する欠陥の種類がD1であり、検査する欠陥の種類D1に応じて使用する探傷画像がI1であり、使用する探傷画像I1の配置パターンは1個の画像を画面に最大化することであり、使用する探傷画像I1の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲がX軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20であり、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値のコントラスト最小値が20、コントラスト最大値が40であることを示す情報を取得できる。
 このようにして取得した情報を基に、探傷画像分析装置10は、探傷画像信号i1に基づく探傷画像I1のうち、上記表示範囲(X軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20)のものを、上記コントラスト(コントラスト最小値が20、コントラスト最大値が40)で、1画像を最大化して画像表示装置30の表示画像31に表示する。
 作業者は、画像表示装置30の表示画面31に表示された、探傷画像(探傷画像I1のうち、特定の領域の表示範囲(倍率)で、特定のコントラストで表示画面31に最大化されて表示された画像)を目視確認して欠陥D1の有無を評価する(ステップS9)。
 目視による欠陥D1の有無を評価したら、作業者は次に進める指令を出す(ステップS10)。
 そうすると、探傷画像分析装置10は、検査手順コマンドC2を取り込み、この検査手順コマンドC2と、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータと、第2の探傷条件データベースDB2を参照しつつ、ステップS5~S8の動作をして、探傷画像I1のうち、特定の領域の表示範囲(X軸上の開始位置X1が10で終了位置X2が20でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20)のものを、特定のコントラスト(コントラスト最小値が20、コントラスト最大値が40)で、1画像を最大化して表示画面31に表示する。
 作業者は、画像表示装置30の表示画面31に表示された、探傷画像(探傷画像I1のうち、特定の領域の表示範囲(倍率)で、特定のコントラストで表示画面31に最大化されて表示された画像)を目視確認して欠陥D1の有無を評価する(ステップS9)。
 目視による欠陥D1の有無を評価したら、作業者は次に進める指令を出す(ステップS10)。
 このような動作を、連続して設定された検査手順コマンドC3,C4,・・・においても、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータと、第2の探傷条件データベースDB2を参照しつつ、実行していく。
 欠陥D1の有無の検査について画面全体の評価が完了したら(ステップS11)、次の欠陥D2の有無の検査をするため、探傷画像分析装置10は、欠陥D2を検査する検査手順コマンドである検査手順コマンドC101を取り込む。
 探傷画像分析装置10は、先ず検査手順コマンドC101を取り込むことにより、検査すべき欠陥の種類がD2であることを取得し(ステップS5)、表示範囲(X軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10であり、Y軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20であること)を取得する(ステップS6)。
 次に探傷画像分析装置10は、ステップ6にて取得した表示範囲に対応する、検査対象物(主翼)の対応部分の板厚、形状、材質を、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータを参照して取り込み、取り込んだCADデータ(板厚が10、形状がF2、材質がM2)を、検査手順コマンドC101に組み込んで記憶する(ステップS7)。
 探傷画像分析装置10は、探傷条件データベース部40の第2の探傷条件データベースDB2を参照して、欠陥の種類D2と、板厚(10)と、形状(F2)と、材質(M2)とを組み合わせたパターンに設定されている、使用する探傷画像がI1,I3であり、使用する探傷画像I1,I2の配置パターンは2個の画像を横に整列して配置することであり、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値のコントラスト最小値が探傷画像I1では20、探傷画像I3では30であり、コントラスト最大値が探傷画像I1では40、探傷画像I3では50であることを示す情報を取得する(ステップ8)。
 このように第1の探傷条件データベースDB1の検査手順コマンドC2と、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータと、第2の探傷条件データベースDB2を参照することにより、検査する欠陥の種類がD2であり、検査する欠陥の種類D2に応じて使用する探傷画像がI1,I3であり、使用する探傷画像I1,I3の配置パターンは2個の画像を横に整列して配置することであり、使用する探傷画像I1,I3の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲がX軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20であり、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値のコントラスト最小値が探傷画像I1では20、探傷画像I3では30であり、コントラスト最大値が探傷画像I1では40、探傷画像I3では50であることを示す情報を取得できる。
 このようにして取得した情報を基に、探傷画像分析装置10は、探傷画像信号i1,i3に基づく探傷画像I1,I3のうち、上記表示範囲(X軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20)のものを、上記コントラスト(コントラスト最小値が探傷画像I1では20、探傷画像I3では30、コントラスト最大値が探傷画像I1では40、探傷画像I3では50)で、2画像を横に整列して画像表示装置30の表示画像31に表示する。
 作業者は、画像表示装置30の表示画面31に表示された、探傷画像(探傷画像I1,I3のうち、特定の領域の表示範囲(倍率)で、特定のコントラストで表示画面31に横に整列して配置されて表示された画像)を目視確認して欠陥D2の有無を評価する(ステップS9)。
 目視による欠陥D2の有無を評価したら、作業者は次に進める指令を出す(ステップS10)。
 そうすると、探傷画像分析装置10は、検査手順コマンドC102を取り込み、この検査手順コマンドC102と、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータと、第2の探傷条件データベースDB2を参照しつつ、ステップS5~S8の動作をして、探傷画像I1,I3のうち、特定の領域の表示範囲(X軸上の開始位置X1が10で終了位置X2が20でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20)のものを、特定のコントラスト(コントラスト最小値が探傷画像I1では20、探傷画像I3では30、コントラスト最大値が探傷画像I1では40、探傷画像I3では50)で、2画像を横に整列して表示画面31に表示する。
 作業者は、画像表示装置30の表示画面31に表示された、探傷画像(探傷画像I1,I3のうち、特定の領域の表示範囲(倍率)で、特定のコントラストで表示画面31に横に整列して表示された画像)を目視確認して欠陥D2の有無を評価する(ステップS9)。
 目視による欠陥D2の有無を評価したら、作業者は次に進める指令を出す(ステップS10)。
 このような動作を、連続して設定された検査手順コマンドC103・・・においても、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータと、第2の探傷条件データベースDB2を参照しつつ、実行していく。
 欠陥D2の有無の検査について画面全体の評価が完了したら(ステップS11)、次の欠陥D3の有無を検査するため、探傷画像分析装置10は、欠陥D3を検査する検査手順コマンドである検査手順コマンドCNを取り込み、前述したのと同様な処理をして画像を表示し、作業者は表示された画像を目視確認して欠陥の有無を評価することができる。
 検査手順コマンドCが最後まで実行されて全ての欠陥の評価が完了したら(ステップS12)、探傷画像分析装置10は自動操作を終了し(ステップS13)、探傷画像の分析作業(欠陥検出作業)を完了する(ステップS14)。
 なお作業者が欠陥を目視確認したら、欠陥の部位や種類を探傷画像分析装置10に記憶させておき、欠陥検査の作業完了後に、記憶させていた欠陥部位を欠陥種類毎に表示画面31上に表示するように設定することもできる。
 このように、探傷画像分析装置10が自動操作を行い、各欠陥の種類に応じて、最適な種類の画像が最適な配置状態で、しかも、最適な表示範囲(倍率)と最適なコントラストで、順次、画像表示装置30の表示画面31に表示される。このため、作業者は画像の選択や表示位置や表示倍率等の変更操作をすることなく、表示画面を見て欠陥の検査を行うことができる。
 したがって、短時間で容易に欠陥の検査ができると共に、経験の浅い検査員であっても検査漏れなく正確に欠陥検査をすることができる。
 また、欠陥の種類と板厚、形状、材質を基に、第2の探傷条件データベースDB2から、使用する探傷画像、画像の配置パターン、コントラストを取得するため、全ての検査手順コマンドに、個々に、使用する探傷画像、画像の配置パターン、コントラストを登録しておく必要がなくなる。このため、全体として、探傷条件データベースを作成することが容易になる。
 図8は本発明の実施例3に係る超音波探傷画像の分析装置を示すブロック図である。この超音波探傷画像の分析装置は、探傷画像分析装置10と、入力装置20と、画像表示装置30と、探傷条件データベース部40と、探傷画像信号用データベース部50と、三次元CADモデル部60と、板厚計測装置70で構成されている。
 板厚計測装置70は、検査対象物(例えば航空機の主翼)の板厚を実測して、計測値(板厚)を出力する。
 三次元CADモデル部60には、検査対象物(例えば航空機の主翼)を設計するために必要な各種のデータ、例えば、板厚、形状、材質、寸法、構造等の設計データが記憶されている。
 探傷画像信号用データベース部50には、複数の探傷画像信号i1~inが予め記憶されている。これら複数の探傷画像信号i1~inは、航空機の主翼上に設定した探傷パスに沿い超音波探触子を移動させていって取得した探傷波形信号を、複数種類の異なる信号変換処理手法(TOF画像信号変換処理手法や、AMP画像信号変換処理手法や、これらの信号変換処理手法においてゲートを異ならせた信号変換処理手法)により信号変換処理して得たものである。
 これら探傷画像信号i1~inを、探傷画像分析装置10を介して画像表示装置30に送ることにより、表示画面31に探傷画像I1~Inを表示することができる。
 探傷条件データベース部40には、実施例2と同様に、図5に示すような第1の探傷条件データベースDB1と、図6に示すような第2の探傷条件データDB2が予め記憶されている。
 図5に示す第1の探傷条件データベースDB1は、多数の検査手順コマンドCが実行順番に沿い並んで構築されたデータベースである。図5では、板厚、形状、材質のデータが既に記載されているが、当初では板厚、形状、材質のデータは記憶されておらず、後述するように、形状及び材質については、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータを参照して取り込み、板厚については板厚計測装置70により翼のうち検査対象部分の板厚を実計測して得た計測値(板厚)を取り込むものである。
 図5に示す第1の探傷条件データベースDB1を説明すると、各検査手順コマンドCは、検査する欠陥の種類と、探傷画像の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲とから構成されている。
 後述するように、各検査手順コマンドCを実行する際には、探傷画像分析装置10は、表示範囲に対応する検査対象物(主翼)の対応部分の形状、材質を、CADデータから取得して各検査手順コマンドCに組み込む(記録する)と共に、表示範囲に対応する検査対象物(主翼)の対応部分の板厚として、板厚計測装置70により実測した板厚を取得して各検査手順コマンドCに組み込む(記録する)。
 例えば、検査手順コマンドC1は、検査する欠陥の種類がD1であり、使用する探傷画像の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲がX軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20であることを示す情報により構成されている。
 また例えば、検査手順コマンドC101は、検査する欠陥の種類がD2であり、使用する探傷画像の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲がX軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20であることを示す情報により構成されている。
 第1の探傷条件データベースDB1では、同一種類の欠陥(例えば欠陥D1)を検査するための検査手順コマンド(例えばコマンドC1,C2,C3,C4・・・)は、実行順番に沿い連続して設定されている。
 更に、同一種類の欠陥を検出するため実行順番に沿い連続して設定された複数の検査手順コマンドの表示範囲は、先行する検査手順コマンドで指示される表示範囲に対して、後行する検査手順コマンドで指示される表示範囲が位置的にズレている。
 次に図6に示す第2の探傷条件データベースDB2について説明する。第2の探傷条件データベースDB2は、欠陥の種類と、板厚と、形状と、材質とを組み合わせた各パターン毎に、使用する探傷画像と、使用する探傷画像の配置パターンと、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値(コントラストの最小値と最大値)が規定されている。
 第2の探傷条件データベースDB2は、欠陥の種類や、各部位の形状、板厚、材質を考慮して、欠陥を最適に検出することができるように、欠陥の種類に応じて、使用する探傷画像や、画像の配置パターンや、コントラストを予め決定したものである。
 なお必要に応じて、探傷条件データベースDB1,DB2の内容を、修正することもできる。この修正は、作業者が入力装置20を介して修正データを入力することにより行うことができる。
 次に、図9に示すフローチャートも参照しつつ、実施例3の動作状態を説明する。
 作業者が検査作業を開始する際には(図9のステップS1)、入力装置20を介して、探傷画像を開くと共に評価の開始を指示する指令を、探傷画像分析装置10に入力する(ステップS2,S3)。
 そうすると、探傷画像分析装置10は探傷画像信号用データベース部50から探傷画像信号i1~inを取り込み、探傷画像分析装置10内のメモリに探傷画像信号i1~inを記憶する。
 そして、探傷画像分析装置10により自動操作が開始される(ステップS4)。
 探傷画像分析装置10では、探傷条件データベース部40の第1の探傷条件データベースDB1を参照して、検査手順コマンドCで示す情報に基づき、検査を順番に実行していく。
 探傷画像分析装置10は、先ず検査手順コマンドC1を取り込むことにより、検査すべき欠陥の種類がD1であることを取得し(ステップS5)、表示範囲(X軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10であり、Y軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20であること)を取得する(ステップS6)。
 次に探傷画像分析装置10は、ステップ6にて取得した表示範囲に対応する、検査対象物(主翼)の対応部分の形状、材質を、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータを参照して取り込み、取り込んだCADデータ(形状がF1、材質がM1)を、検査手順コマンドC1に組み込んで記憶する(ステップS7)。
 また検査対象物(主翼)の対応部分の板厚を、板厚計測装置70により計測し、探傷画像分析装置10は、計測した板厚を取り込み、取り込んだ板厚データ(板厚が10)を、検査手順コマンドC1に組み込んで記憶する(ステップS8)。
 探傷画像分析装置10は、探傷条件データベース部40の第2の探傷条件データベースDB2を参照して、欠陥の種類D1と、板厚(10)と、形状(F1)と、材質(M1)とを組み合わせたパターンに設定されている、使用する探傷画像がI1であり、使用する探傷画像I1の配置パターンは1個の画像を画面に最大化することであり、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値のコントラスト最小値が20、コントラスト最大値が40であることを示す情報を取得する(ステップ9)。
 このように第1の探傷条件データベースDB1の検査手順コマンドC1と、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータと、板厚計測装置70により計測した板厚データと、第2の探傷条件データベースDB2を参照することにより、検査する欠陥の種類がD1であり、検査する欠陥の種類D1に応じて使用する探傷画像がI1であり、使用する探傷画像I1の配置パターンは1個の画像を画面に最大化することであり、使用する探傷画像I1の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲がX軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20であり、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値のコントラスト最小値が20、コントラスト最大値が40であることを示す情報を取得できる。
 このようにして取得した情報を基に、探傷画像分析装置10は、探傷画像信号i1に基づく探傷画像I1のうち、上記表示範囲(X軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20)のものを、上記コントラスト(コントラスト最小値が20、コントラスト最大値が40)で、1画像を最大化して画像表示装置30の表示画像31に表示する。
 作業者は、画像表示装置30の表示画面31に表示された、探傷画像(探傷画像I1のうち、特定の領域の表示範囲(倍率)で、特定のコントラストで表示画面31に最大化されて表示された画像)を目視確認して欠陥D1の有無を評価する(ステップS10)。
 目視による欠陥D1の有無を評価したら、作業者は次に進める指令を出す(ステップS11)。
 そうすると、探傷画像分析装置10は、検査手順コマンドC2を取り込み、この検査手順コマンドC2と、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータと、板厚計測装置70により計測した板厚データと、第2の探傷条件データベースDB2を参照しつつ、ステップS5~S9の動作をして、探傷画像I1のうち、特定の領域の表示範囲(X軸上の開始位置X1が10で終了位置X2が20でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20)のものを、特定のコントラスト(コントラスト最小値が20、コントラスト最大値が40)で、1画像を最大化して表示画面31に表示する。
 作業者は、画像表示装置30の表示画面31に表示された、探傷画像(探傷画像I1のうち、特定の領域の表示範囲(倍率)で、特定のコントラストで表示画面31に最大化されて表示された画像)を目視確認して欠陥D1の有無を評価する(ステップS10)。
 目視による欠陥D1の有無を評価したら、作業者は次に進める指令を出す(ステップS11)。
 このような動作を、連続して設定された検査手順コマンドC3,C4,・・・においても、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータと、板厚計測装置70により計測した板厚データと、第2の探傷条件データベースDB2を参照しつつ、実行していく。
 欠陥D1の有無の検査について画面全体の評価が完了したら(ステップS12)、次の欠陥D2の有無の検査をするため、探傷画像分析装置10は、欠陥D2を検査する検査手順コマンドである検査手順コマンドC101を取り込む。
 探傷画像分析装置10は、先ず検査手順コマンドC101を取り込むことにより、検査すべき欠陥の種類がD2であることを取得し(ステップS5)、表示範囲(X軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10であり、Y軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20であること)を取得する(ステップS6)。
 次に探傷画像分析装置10は、ステップ6にて取得した表示範囲に対応する、検査対象物(主翼)の対応部分の形状、材質を、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータを参照して取り込み、取り込んだCADデータ(形状がF2、材質がM2)を、検査手順コマンドC101に組み込んで記憶する(ステップS7)。
 また検査対象物(主翼)の対応部分の板厚を、板厚計測装置70により計測し、探傷画像分析装置10は、計測した板厚を取り込み、取り込んだ板厚データ(板厚が10)を、検査手順コマンドC1に組み込んで記憶する(ステップS8)。
 探傷画像分析装置10は、探傷条件データベース部40の第2の探傷条件データベースDB2を参照して、欠陥の種類D2と、板厚(10)と、形状(F2)と、材質(M2)とを組み合わせたパターンに設定されている、使用する探傷画像がI1,I3であり、使用する探傷画像I1,I3の配置パターンは2個の画像を横に整列して配置することであり、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値のコントラスト最小値が探傷画像I1では20、探傷画像I3では30であり、コントラスト最大値が探傷画像I1では40、探傷画像I3では50であることを示す情報を取得する(ステップ9)。
 このように第1の探傷条件データベースDB1の検査手順コマンドC2と、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータと、板厚計測装置70により計測した板厚データと、第2の探傷条件データベースDB2を参照することにより、検査する欠陥の種類がD2であり、検査する欠陥の種類D2に応じて使用する探傷画像がI1,I3であり、使用する探傷画像I1,I3の配置パターンは2個の画像を横に整列して配置することであり、使用する探傷画像I1,I3の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲がX軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20であり、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値のコントラスト最小値が探傷画像I1では20、探傷画像I3では30であり、コントラスト最大値が探傷画像I1では40、探傷画像I3では50であることを示す情報を取得できる。
 このようにして取得した情報を基に、探傷画像分析装置10は、探傷画像信号i1,i3に基づく探傷画像I1,I3のうち、上記表示範囲(X軸上の開始位置X1が0で終了位置X2が10でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20)のものを、上記コントラスト(コントラスト最小値が探傷画像I1では20、探傷画像I3では30、コントラスト最大値が探傷画像I1では40、探傷画像I3では50)で、2画像を横に整列して画像表示装置30の表示画像31に表示する。
 作業者は、画像表示装置30の表示画面31に表示された、探傷画像(探傷画像I1,I3のうち、特定の領域の表示範囲(倍率)で、特定のコントラストで表示画面31に横に整列して配置されて表示された画像)を目視確認して欠陥D2の有無を評価する(ステップS10)。
 目視による欠陥D2の有無を評価したら、作業者は次に進める指令を出す(ステップS11)。
 そうすると、探傷画像分析装置10は、検査手順コマンドC102を取り込み、この検査手順コマンドC102と、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータと、板厚計測装置70により計測した板厚データと、第2の探傷条件データベースDB2を参照しつつ、ステップS5~S9の動作をして、探傷画像I1,I3のうち、特定の領域の表示範囲(X軸上の開始位置X1が10で終了位置X2が20でありY軸上の開始位置Y1が0で終了位置Y2が20)のものを、特定のコントラスト(コントラスト最小値が探傷画像I1では20、探傷画像I3では30、コントラスト最大値が探傷画像I1では40、探傷画像I3では50)で、2画像を横に整列して表示画面31に表示する。
 作業者は、画像表示装置30の表示画面31に表示された、探傷画像(探傷画像I1,I3のうち、特定の領域の表示範囲(倍率)で、特定のコントラストで表示画面31に横に整列して表示された画像)を目視確認して欠陥D2の有無を評価する(ステップS10)。
 目視による欠陥D2の有無を評価したら、作業者は次に進める指令を出す(ステップS11)。
 このような動作を、連続して設定された検査手順コマンドC103・・・においても、三次元CADモデル部60に記憶しているCADデータと、板厚計測装置70により計測した板厚データと、第2の探傷条件データベースDB2を参照しつつ、実行していく。
 欠陥D2の有無の検査について画面全体の評価が完了したら(ステップS12)、次の欠陥D3の有無を検査するため、探傷画像分析装置10は、欠陥D3を検査する検査手順コマンドである検査手順コマンドCNを取り込み、前述したのと同様な処理をして画像を表示し、作業者は表示された画像を目視確認して欠陥の有無を評価することができる。
 検査手順コマンドCが最後まで実行されて全ての欠陥の評価が完了したら(ステップS13)、探傷画像分析装置10は自動操作を終了し(ステップS14)、探傷画像の分析作業(欠陥検出作業)を完了する(ステップS15)。
 なお作業者が欠陥を目視確認したら、欠陥の部位や種類を探傷画像分析装置10に記憶させておき、欠陥検査の作業完了後に、記憶させていた欠陥部位を欠陥種類毎に表示画面31上に表示するように設定することもできる。
 このように、探傷画像分析装置10が自動操作を行い、各欠陥の種類に応じて、最適な種類の画像が最適な配置状態で、しかも、最適な表示範囲(倍率)と最適なコントラストで、順次、画像表示装置30の表示画面31に表示される。このため、作業者は画像の選択や表示位置や表示倍率等の変更操作をすることなく、表示画面を見て欠陥の検査を行うことができる。
 したがって、短時間で容易に欠陥の検査ができると共に、経験の浅い検査員であっても検査漏れなく正確に欠陥検査をすることができる。
 また、欠陥の種類と板厚、形状、材質を基に、第2の探傷条件データベースDB2から、使用する探傷画像、画像の配置パターン、コントラストを取得するため、全ての検査手順コマンドに、個々に、使用する探傷画像、画像の配置パターン、コントラストを登録しておく必要がなくなる。このため、全体として、探傷条件データベースを作成することが容易になる。
 更に、検査対象部位の板厚は板厚計測装置70により実計測するため、板厚データをデータベースに記憶しておく必要はない。したがって、検査対象物毎に板厚のバラツキがあっても、正しい設定条件(板厚寸法)を用いて探傷検査をすることができる。
 本発明は、航空機の翼の欠陥を検出する場合のみならず、超音波探傷により欠陥検出をすることができる各種の検査対象製品について、超音波探傷により欠陥検出する際に適用することができる。
 10 探傷画像分析装置
 20 入力装置
 30 画像表示装置
 31 表示画面
 40 探傷条件データベース部
 50 探傷画像信号用データベース部
 60 三次元CADモデル部
 70 板厚計測装置

Claims (3)

  1.  同一の探傷波形信号を複数種類の異なる信号変換処理手法により信号変換して得た複数の探傷画像信号が記憶された探傷画像信号用データベース部と、
     検査する欠陥の種類と、検査する欠陥の種類に応じて使用する探傷画像と、使用する探傷画像の配置パターンと、使用する探傷画像の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲と、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値を情報として有する多数の検査手順コマンドが実行順番に沿い並んで構築された探傷条件データベースが記憶された探傷条件データベース部と、
     探傷画像分析装置とで構成されており、
     前記探傷画像分析装置は、
     前記探傷条件データベースの検査手順コマンドを、外部からの入力指令に基づき順に取り込み、検査手順コマンドを取り込む毎に、取り込んだ当該検査手順コマンドで示す探傷画像に対応する探傷画像信号を前記探傷画像信号用データベース部から取り込み、この探傷画像信号に基づく探傷画像を、当該検査手順コマンドで示す画像の配置パターンで、当該検査手順コマンドで示す表示範囲とコントラストで表示装置に表示させる、
     ことを特徴とする超音波探傷画像の分析装置。
  2.  同一の探傷波形信号を複数種類の異なる信号変換処理手法により信号変換して得た複数の探傷画像信号が記憶された探傷画像信号用データベース部と、
     検査する欠陥の種類と、使用する探傷画像の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲を情報として有する多数の検査手順コマンドが実行順番に沿い並んで構築された第1の探傷条件データベースと、欠陥の種類と、板厚と、形状と、材質とを組み合わせた各パターン毎に、使用する探傷画像と、使用する探傷画像の配置パターンと、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値を規定する第2の探傷条件データベースとが記憶された探傷条件データベース部と、
     検査対象物の板厚、形状、材質のデータを少なくとも有する設計データを有するCADモデル部と、
     探傷画像分析装置とで構成されており、
     前記探傷画像分析装置は、
     前記第1の探傷条件データベースの検査手順コマンドを、外部からの入力指令に基づき順に取り込み、
     検査手順コマンドを取り込む毎に、取り込んだ当該検査手順コマンドで示す表示範囲に対応する検査対象物の対応部分の板厚、形状、材質を前記CADモデルから取り込んで検査手順コマンドに組み込むと共に、第2の探傷条件データベースを参照して、欠陥の種類と前記CADモデルから取り込んだ板厚、形状、材質の組み合わせパターンに対して規定されている、使用する探傷画像と、使用する探傷画像の配置パターンと、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値を取り込み、
     使用する探傷画像に対応する探傷画像信号を前記探傷画像信号用データベース部から取り込み、この探傷画像信号に基づく探傷画像を、取り込んだ画像の配置パターンで、取り込んだ表示範囲とコントラストで表示装置に表示させる、
     ことを特徴とする超音波探傷画像の分析装置。
  3.  同一の探傷波形信号を複数種類の異なる信号変換処理手法により信号変換して得た複数の探傷画像信号が記憶された探傷画像信号用データベース部と、
     検査する欠陥の種類と、使用する探傷画像の画像領域のうちで表示する画像領域の範囲を示す表示範囲を情報として有する多数の検査手順コマンドが実行順番に沿い並んで構築された第1の探傷条件データベースと、欠陥の種類と、板厚と、形状と、材質とを組み合わせた各パターン毎に、使用する探傷画像と、使用する探傷画像の配置パターンと、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値を規定する第2の探傷条件データベースとが記憶された探傷条件データベース部と、
     検査対象物の形状、材質のデータを少なくとも有する設計データを有するCADモデル部と、
     検査対象物の板厚を計測する板厚計測装置と、
     探傷画像分析装置とで構成されており、
     前記探傷画像分析装置は、
     前記第1の探傷条件データベースの検査手順コマンドを、外部からの入力指令に基づき順に取り込み、
     検査手順コマンドを取り込む毎に、取り込んだ当該検査手順コマンドで示す表示範囲に対応する検査対象物の対応部分の形状、材質を前記CADモデルから取り込んで検査手順コマンドに組み込むと同時に取り込んだ当該検査手順コマンドで示す表示範囲に対応する検査対象物の対応部分の板厚として前記板厚計測装置により計測した板厚を取り込むと共に、第2の探傷条件データベースを参照して、欠陥の種類と前記CADモデル及び前記板厚計測装置から取り込んだ板厚、形状、材質の組み合わせパターンに対して規定されている、使用する探傷画像と、使用する探傷画像の配置パターンと、表示範囲の画像のコントラストを規定するコントラスト指示値を取り込み、
     使用する探傷画像に対応する探傷画像信号を前記探傷画像信号用データベース部から取り込み、この探傷画像信号に基づく探傷画像を、取り込んだ画像の配置パターンで、取り込んだ表示範囲とコントラストで表示装置に表示させる、
     ことを特徴とする超音波探傷画像の分析装置。
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