WO2008069176A1 - アクチュエータ - Google Patents

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WO2008069176A1
WO2008069176A1 PCT/JP2007/073329 JP2007073329W WO2008069176A1 WO 2008069176 A1 WO2008069176 A1 WO 2008069176A1 JP 2007073329 W JP2007073329 W JP 2007073329W WO 2008069176 A1 WO2008069176 A1 WO 2008069176A1
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movable
conductive
etching
backing
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PCT/JP2007/073329
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Inventor
Hiroshi Obi
Hironori Tomita
Akira Kurozuka
Original Assignee
Panasonic Corporation
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Publication date
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Priority to US12/447,503 priority patent/US7923894B2/en
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    • B81B3/0067Mechanical properties
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    • B81B2203/05Type of movement
    • B81B2203/058Rotation out of a plane parallel to the substrate
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N1/00Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
    • H04N1/04Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa
    • H04N1/113Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using oscillating or rotating mirrors
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N2201/00Indexing scheme relating to scanning, transmission or reproduction of documents or the like, and to details thereof
    • H04N2201/0077Types of the still picture apparatus
    • H04N2201/0082Image hardcopy reproducer

Definitions

  • the present invention relates to an actuator that is a micromechanical structure to which micromachining technology is applied.
  • the invention relates to an optical scanning device used in a laser printer or the like, a reading device such as a barcode reader, a laser projector, or the like. It is done.
  • the mirror portion is supported by two hinges provided on the same straight line.
  • An electrode is provided at a position facing the mirror portion. Due to the electrostatic attractive force generated between the mirror part and the electrode, the mirror part reciprocally vibrates about the two hinges as a torsional rotation axis.
  • Such a vibrating mirror element is simpler in structure than a mirror element that rotates a polygon mirror with a motor, and can be formed in a batch in a semiconductor process. . Further, since the oscillating mirror element has a single reflecting surface, there is no variation in accuracy like a polygon mirror having a plurality of surfaces. In addition, since the operation of the vibrating mirror element is a back-and-forth vibration, it can cope with higher speeds.
  • Patent Document 1 discloses a uniaxial rotation type mirror element
  • Non-Patent Document 1 and Patent Documents 2 and 3 disclose a biaxial rotation type mirror element.
  • the movable part of the uniaxially rotating mirror element is a mirror part supported by a hinge.
  • the mirror part and the fixed part are separated by a separation groove, and the mirror part is driven by an electrostatic attraction generated by applying a driving voltage to the mirror part.
  • the intermediate frame supports the mirror part via a hinge
  • the fixed part supports the intermediate frame via a further hinge.
  • FIG. 13 is a perspective view showing a biaxially rotating resonance mirror element 51.
  • the resonant mirror element 51 supports a first movable part 55 having a mirror surface and the first movable part 55.
  • a second movable part 56 and a fixed part 63 that supports the second movable part 56 are provided.
  • the resonant mirror element 51 further includes an X hinge 61 and a Y hinge 57.
  • the second movable part 56 connects and supports the first movable part 55 via the Y hinge 57.
  • the first movable portion 55 can rotate around the Y hinge 57 with respect to the second movable portion 56, with the axis passing through the Y hinge 57 extending in the Y direction in FIG.
  • the fixed part 63 connects and supports the second movable part 56 via the X hinge 61.
  • the second movable portion 56 is rotatable around the X hinge 61 with respect to the fixed portion 63, with an axis passing through the X hinge 61 extending in the X direction in FIG.
  • the first movable portion 55 includes an X comb-shaped electrode 55 a that generates a driving force for displacing the first movable portion 55 relative to the second movable portion 56 on the outer peripheral portion thereof.
  • the second movable portion 56 includes a Y comb-shaped electrode 64a that generates a driving force for displacing the second movable portion 56 relative to the fixed portion 63 on its outer peripheral portion.
  • an X comb electrode 55b is formed on the inner periphery of the second movable portion 56 so as to face the X comb electrode 55a with a gap therebetween.
  • a Y comb electrode 64b is formed so as to face the Y comb electrode 64a with a gap therebetween.
  • the first movable portion 55 is supported so as to be rotatable around the Y hinge 57 with respect to the second movable portion 56, and the second movable portion 56 rotates around the X hinge 61 with respect to the fixed portion 63.
  • a biaxial rotating type resonant mirror element 51 is realized.
  • the second movable portion 56 includes a first conductive portion 56a for supplying a voltage to the first movable portion 55, and a second conductive portion 56b to which another voltage is supplied.
  • the first conductive portion 56a and the second conductive portion 56b are divided and electrically insulated from each other by the separation groove 66 formed between the first conductive portion 56a and the second conductive portion 56b. As a result, the drive voltage can be applied independently to each of the first movable portion 55 and the second movable portion 56.
  • FIG. 14 is a view showing a cross section of the resonant mirror element 51. This cross-sectional view corresponds to the GG cross section of FIG.
  • the first conductive portion 56a and the second conductive portion 56a are joined by bonding the first conductive portion 56a and the second conductive portion 56b by embedding polysilicon after depositing an insulating layer in the separation groove 66.
  • the conductive portion 56b is not divided. As a result, the first conductive portion 56a and the second conductive portion 56b are displaced together as the second movable portion 56.
  • FIG. 15 is a plan view showing an electrically separated state of the resonant mirror element 51.
  • FIG. X pad to 70 The applied voltage Vx becomes the voltage of the first movable part 55, and the ground pad 72 is connected to the ground level (G)
  • Vx a potential difference of Vx is generated between the first movable part 55 and the second movable part 56.
  • the voltage Vy applied to the Y pad 71 becomes the voltage of the fixed portion 63, and a potential difference of Vy is generated between the fixed portion 63 and the second movable portion 56.
  • Patent Document 1 Japanese Patent Publication No. 2004-239987
  • Patent Document 2 JP 2004-13099 A
  • Patent Document 3 Japanese Unexamined Patent Publication No. 2006-115683
  • Non-Patent Document 1 "AN ELECTROSTATICALLY EXCITED 2D—MICRO—S CANNING—MIRROR WITH AN IN -PLANE CONFIGURATION OF THE DRIVING ELECTRODES” (MEMS2000. Proceedings Piscat away, NJ: IEEE, 2000)
  • the present invention has been made in view of the above problems, and provides a highly reliable actuator that can be easily formed by a simple manufacturing process. Means for solving the problem
  • the actuator according to the present invention includes a movable part and a fixed part that supports the movable part, and the movable part is supplied with a first conductive part to which a first voltage is supplied and a second voltage.
  • the movable part includes a first movable part and a second movable part that supports the first movable part, and the fixed part supports the second movable part.
  • the second movable part includes the first and second conductive parts, and supplies the first voltage to the first movable part via the first conductive part.
  • the second movable part further includes a comb-shaped electrode formed on the second conductive part and the backing part.
  • the thickness of the backing portion is smaller than the thickness of the fixed portion.
  • the first movable portion includes a mirror portion that reflects light
  • the backing portion is formed from a surface opposite to a surface on which the mirror portion of the actuator is provided.
  • the first conductive part and the second conductive part are fixed.
  • the first and second movable parts are formed by etching the first silicon layer of an SOI wafer in which the first and second silicon layers are joined via an insulating layer.
  • the backing portion is formed by etching the second silicon layer.
  • the first conductive part and the second conductive part are separated by a groove formed between the first conductive part and the second conductive part of the second movable part. It is electrically isolated.
  • a dummy groove is formed at a point-symmetrical position with respect to the groove of the second movable part.
  • the first movable part includes the first and second comb electrodes that generate a driving force that displaces the first movable part relative to the second movable part.
  • the first comb electrode extends in a direction perpendicular to the rotation axis of the first movable part, and the second comb electrode extends in a direction parallel to the rotation axis of the first movable part.
  • the second movable part is A third comb electrode and a fourth comb electrode that generate a driving force for displacing the second movable portion relative to the fixed portion; and the third comb electrode rotates the second movable portion.
  • the fourth comb electrode extends in a direction parallel to the rotation axis of the second movable part.
  • An image projection apparatus includes the above-described actuator, a light source that emits a light beam, an optical system that guides the light beam to the actuator, and a driving unit that drives the actuator.
  • the first and second movable parts are formed by etching the first silicon layer of the SOI wafer in which the first and second silicon layers are bonded via the insulating layer.
  • Forming the backing portion by etching the second silicon layer; electrically connecting a predetermined portion formed from the first silicon layer of the second movable portion and the backing portion; And a step.
  • the step of forming the backing portion includes a step of etching the second silicon layer using a mask used when etching the first silicon layer.
  • the backing portion fixes the first conductive portion and the second conductive portion to each other in an electrically insulated state, and the second conductive portion and the backing portion are electrically connected. Yes.
  • the first conductive portion and the second conductive portion can be reliably fixed.
  • the manufacturing process of the actuator can be simplified, and an inexpensive actuator can be provided.
  • the lining portion is not in an electrically floating state, charging of the lining portion can be prevented and stable driving force can be obtained.
  • the movable part includes a first movable part and a second movable part that supports the first movable part, thereby obtaining a biaxial pivoting type actuator.
  • the backing portion includes a comb-shaped electrode.
  • the area where the comb-shaped electrodes face each other in a state where the movable part is rotating can be increased, and a stable driving force can be obtained.
  • the thickness of the backing portion is smaller than the thickness of the fixed portion. to this In addition, the weight of the movable part is reduced, and the force S that secures a large angle at which the movable part can be rotated is reduced.
  • the dummy groove is formed at a point-symmetrical position with respect to the groove of the second movable part, it is possible to suppress an uneven weight balance of the second movable part. .
  • the first movable part includes a comb-shaped electrode extending in a direction parallel to the rotation axis of the first movable part, and the second movable part is a rotation of the second movable part.
  • a comb-shaped electrode extending in a direction parallel to the moving axis is provided.
  • an image projection apparatus of the present invention includes the above-described actuator. Since the actuator according to the present invention has high drive sensitivity, an image projection apparatus with low power consumption can be realized.
  • the backing portion is formed by etching the second silicon layer using a mask used when the first silicon layer is etched. This prevents misalignment of the comb electrode between the first silicon layer and the second silicon layer, so that the gap between adjacent comb electrodes is equal! /, Vertical comb electrode A structure can be realized.
  • FIG. 1 is a perspective view showing a resonant mirror element according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a lower perspective view showing a resonant mirror element according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a plan view showing a resonant mirror element according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a plan view showing an electrically separated state of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a perspective view showing the operation of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6A is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6B is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6C is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6D is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • 6E A sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • 6F A sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 6G is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • 6H] is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 61] A sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • 6J] is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • 6K] is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • 6L] is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • 6M] is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • 6N] is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 60] A sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • 6P] A sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • 6Q] is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 7A is a diagram showing a connection portion of a resonant mirror element and its peripheral portion according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 7B is a diagram showing a connection portion of a resonant mirror element according to an embodiment of the present invention and its peripheral portion.
  • 7C A diagram showing a connecting portion of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention and its peripheral portion.
  • 7D A diagram showing a connecting portion of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention and its peripheral portion. It is a figure which shows the connection part and its peripheral part of the resonant mirror element by embodiment of this invention
  • FIG. 8A is a diagram showing a connecting portion of a resonant mirror element according to an embodiment of the present invention and its peripheral portion.
  • FIG. 8B is a diagram showing a connecting portion of a resonant mirror element according to an embodiment of the present invention and its peripheral portion.
  • FIG. 8C] is a diagram showing the connecting portion of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention and its peripheral portion.
  • 8D] is a diagram showing the connecting portion of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention and its peripheral portion.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view showing the facing area of comb electrodes of a resonant mirror element according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 is a cross-sectional view showing the facing area of the auxiliary comb electrodes of the resonant mirror element according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 12 is a diagram showing an image projection apparatus provided with a resonant mirror element according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 13 is a perspective view showing a two-axis rotating type resonant mirror element.
  • FIG. 15 is a plan view showing an electrically separated state of a biaxially rotating resonant mirror element.
  • FIG. 1 is a perspective view showing a resonant mirror element 1 which is an activator of the present embodiment.
  • the resonant mirror element 1 is manufactured, for example, by processing a so-called SOI (Silicon On Insulator) wafer in which a silicon layer is joined via an insulating layer 2 made of silicon oxide (SiO 2).
  • SOI Silicon On Insulator
  • the first silicon layer is doped with n-type impurities such as phosphorus (P) and arsenic (As) and p-type impurities such as boron (B) to make it conductive.
  • Called Device Layer 3 The second silicon layer is a thick part constituting the wafer body and is referred to as a handle layer 4.
  • the device layer 3 is patterned by etching, which will be described later.
  • a first movable part 5 and a second movable part 6 are formed.
  • the first movable part 5 and the second movable part 6 are collectively referred to as a movable part.
  • the resonant mirror element 1 includes a first movable part 5 having a mirror surface 25, a second movable part 6 that supports the first movable part 5, and a fixed part 13 that supports the second movable part 6. .
  • the resonant mirror element 1 further includes an X hinge 11 and a Y hinge 8.
  • the second movable part 6 connects and supports the first movable part 5 via the Y hinge 8.
  • the first movable part 5 can rotate around the Y hinge 8 relative to the second movable part 6 with the axis passing through the Y hinge 8 extending in the Y direction in FIG.
  • the fixed portion 13 supports the second movable portion 6 by connecting it via the X hinge 11.
  • the second movable portion 6 can rotate around the X hinge 11 with respect to the fixed portion 13 with the axis passing through the X hinge 11 extending in the X direction in FIG.
  • the resonant mirror element 1 has such a gimbal structure.
  • the second movable part 6 is an intermediate frame located between the fixed part 13 that is an outer frame part and the first movable part 5 at the center.
  • the first movable part 5 includes an X comb-shaped electrode 9a and an X auxiliary comb-shaped electrode 10a that generate a driving force that displaces the first movable part 5 relative to the second movable part 6.
  • X comb The mold electrode 9 a extends in a direction perpendicular to the rotation axis of the first movable part 5.
  • the X auxiliary comb-shaped electrode 10 a extends in a direction parallel to the rotation axis of the first movable part 5.
  • the X auxiliary comb-shaped electrode 10a is formed at the edge where the Y hinge 8 of the first movable part 5 is connected, and the X comb electrode 9a is connected to the Y hinge 8 of the first movable part 5! / It ’s formed on the edge! / Since the X auxiliary comb electrode 10a is formed in parallel with the Y hinge 8 and not more than the same length, the X auxiliary comb electrode 10a does not increase the chip size.
  • the second movable part 6 has a Y comb electrode 11a and a Y auxiliary comb electrode 12a that generate a driving force for displacing the second movable part 6 relative to the fixed part 13 on the outer periphery thereof.
  • the Y comb electrode 11 a extends in a direction perpendicular to the rotation axis of the second movable part 6.
  • the Y auxiliary comb-shaped electrode 12 a extends in a direction parallel to the rotation axis of the second movable part 6.
  • the Y auxiliary comb-shaped electrode 12a is formed on the edge where the X hinge 11 of the second movable part 6 is connected, and the Y comb-shaped electrode 11a is connected to the X hinge 11 of the second movable part 6! / It ’s formed on the edge! / Since the Y auxiliary comb-shaped electrode 12a is formed in parallel with the X hinge 11 and not more than the same length, the Y auxiliary comb-shaped electrode 12a does not increase the chip size.
  • the inner peripheral portion of the second movable portion 6 has an X comb electrode 9b facing the X comb electrode 9a with a gap therebetween, and an X auxiliary comb electrode 10a and a gap.
  • X auxiliary comb-shaped electrodes 10b facing each other so as to be spaced apart are formed.
  • the Y comb electrode 1 lb facing the Y comb electrode 1 la with a gap therebetween, and the Y auxiliary comb electrode 12a with a gap therebetween A pair of Y auxiliary comb-shaped electrodes 12b facing each other are formed. The effect of the auxiliary comb electrode will be described later.
  • the first movable part 5 is supported so as to be rotatable around the Y hinge 8 with respect to the second movable part 6, and the second movable part 6 is rotated around the X hinge 11 with respect to the fixed part 13.
  • a biaxial rotating type resonant mirror element 1 is realized.
  • FIG. 6Q is a diagram corresponding to the AA cross section of the resonant mirror element 1 shown in FIG.
  • the second movable part 6 includes a first conductive part 6a for supplying a first voltage to the first movable part 5, and a second conductive part 6b for supplying a second voltage.
  • the first conductive portion is formed by the separation groove 16 formed between the first conductive portion 6a and the second conductive portion 6b.
  • the part 6a and the second conductive part 6b are divided and electrically insulated from each other. Thereby, it is possible to independently apply a drive voltage to each of the first movable part 5 and the second movable part 6.
  • FIG. 2 is a lower perspective view showing the resonant mirror element 1.
  • FIG. 2 shows a cutaway view of some of the constituent elements of the resonant mirror element 1.
  • the resonant mirror element 1 further includes a backing portion 17 that fixes the first conductive portion 6a and the second conductive portion 6b (FIG. 1) to each other in an electrically insulated state.
  • the backing portion 17 fixes the first conductive portion 6a and the second conductive portion 6b from the surface (lower surface) opposite to the surface (upper surface) on which the mirror surface 25 of the resonant mirror element 1 is provided.
  • the thickness of the backing portion 17 is thinner than the thickness of the fixed portion 13.
  • the handle layer 4 is removed at the lower part of the first and second movable parts 5 and 6, so that the first and second movable parts 5 and 6 can rotate. It has become.
  • the handle layer 4 is partially left as the backing part 17.
  • the remaining handle layer 4 and the insulating layer 2 at the same position form a backing portion 17.
  • the thickness of the backing portion 17 is formed to be thinner than the thickness of the fixed portion 13, thereby realizing the weight reduction of the second movable portion 6! /.
  • FIG. 3 is a plan view showing the position of the backing portion 17 in the resonant mirror element 1.
  • the hatched portion shown in FIG. 3 is the backing portion 17, and the separation groove 16 is formed in a region where the backing portion 17 exists. Therefore, even if the first conductive portion 6a and the second conductive portion 6b are separated by the separation groove 16, the first conductive portion 6a and the second conductive portion 6b (FIG. 1) are displaced together. As in the conventional example, a process of embedding and bonding another material in the separation groove 16 is not necessary.
  • the insulating layer 2, the device layer 3, and the node layer 4 have a wafer structure that is firmly bonded in advance, the second movable part 6 formed from the device layer 3, the insulating layer 2 and the node layer 4 are formed.
  • the strength of the layer 4 and the strength of the bond with the formed backing 17 are sufficiently reliable.
  • the separation groove 16 that forms the first conductive portion 6a that is a connection portion that connects the X pad 18 and the first movable portion 5 is in a position that is biased with respect to the rotation axis.
  • the weight balance of the second movable part 6 will be biased, and there will be no need for vertical movement of the second movable part 6 when resonance driven. Resonance may be induced. Therefore, a dummy groove 20 is formed at a point-symmetrical position with respect to the separation groove 16 on the second movable part 6 with respect to the center of the second movable part 6.
  • dummy grooves 20 are formed at positions that are symmetric with respect to the separation groove 16 on the second movable portion 6 with respect to the X rotation axis and at positions that are symmetric with respect to the Y rotation axis. Has been. By forming the dummy groove 20 at a position symmetrical to the separation groove 16, a deviation in weight balance can be suppressed.
  • FIG. 4 is a plan view showing an electrically separated state of the resonant mirror element 1.
  • the separation groove 16 is formed in the second movable portion 6 and is electrically divided into two regions.
  • One region is a region from the X pad 18 to the first movable portion 5 via the X hinge 11, the first conductive portion 6 a, and the Y hinge 8.
  • the other region is a region from the ground pad 21 to the second movable part 6 via the X hinge 11.
  • the second conductive part 6 b and the backing part 17 are electrically connected via the connection part 23 provided in the dummy groove 20.
  • the voltage Vx applied to the X pad 18 becomes the voltage of the first movable part 5, and when the ground pad 21 is set to the ground level (GND), the first movable part 5 and the second movable part 6 A potential difference of Vx occurs between
  • the voltage Vy applied to the Y pad 22 becomes the voltage of the fixed portion 13, and a potential difference of Vy is generated between the fixed portion 13 and the second movable portion 6.
  • the first movable portion 5 and the second movable portion 6 resonate at the respective resonance frequencies.
  • the rotation of the first movable part 5 around the X axis and the rotation around the Y axis can be controlled independently.
  • FIG. 5 is a perspective view showing an operating state of the resonant mirror element 1.
  • the first movable part 5 rotates around the Y hinge 8 with respect to the second movable part 6, and the second movable part 6 and the first movable part 5 together with the fixed part 13 around the X hinge 11 To turn.
  • the laser beam reflected by the first movable unit 5 is two-dimensionally scanned in the XY directions.
  • Figures 6A to 6Q show resonant mirror elements
  • FIG. 2 is a diagram showing a manufacturing process 1, and these cross-sectional views correspond to the AA cross section of FIG. 1.
  • an SOI wafer 30 is prepared.
  • the thickness of device layer 3 is the first movable part 5
  • the thickness of the second movable part 6 is determined in consideration of the resonance frequency of each movable part, the vibration amplitude and rigidity with respect to the drive voltage.
  • the device layer 3 is 50 m
  • the insulating layer 2 is 2 111
  • the handle layer 4 is 300 ⁇ m.
  • the device layer 3 and the handle layer 4 are doped with an n-type impurity such as P or As or a p-type impurity such as B so as to have conductivity.
  • an impurity doping process for providing conductivity is not necessary.
  • a device layer is formed by CVD (Chemical Vapor Deposition).
  • An oxide layer 31 is formed on the surface, a liquid photoresist is formed by spin coating, and a resist pattern 32 is formed through exposure and development.
  • a photoresist for example, AZP4210 and AZ1500 (manufactured by Clariant Japan) can be used.
  • the subsequent resist pattern is also formed through such a photoresist film formation and subsequent exposure 'phenomenon.
  • oxide layer 31 is etched with BHF (buffered hydrofluoric acid) using resist pattern 32 as a mask.
  • BHF buffered hydrofluoric acid
  • Al aluminum
  • A1 layer 33 a liquid photoresist is spun.
  • a film is formed by coating, and after exposure and development, a resist pattern 34 is formed.
  • A1 layer 33 is etched using an aluminum etching solution such as a mixed acid aluminum solution.
  • the resist pattern 34 is removed, and the oxide layer 31 is deeply etched to the device layer 3 by Deep—RIE (Deep Reactive Ion Etching) using the A1 layer 33 as a mask. . .
  • Deep—RIE Deep Reactive Ion Etching
  • protective layer 35 is formed on the surface of A1 layer 33 by spin coating using a liquid photoresist.
  • An oxide is deposited on the surface of the handle layer 4 by CVD to form an oxide layer 36, a liquid photoresist is formed by spin coating, and a resist pattern 37 is formed through exposure and development.
  • oxide layer 36 is formed by BHF using resist pattern 37 as a mask.
  • resist pattern 37 is removed, and oxide layer 36 and handle layer are removed.
  • A1 is deposited on the surface of 4 by vacuum evaporation to form an A1 layer 38, a liquid photoresist is formed by spin coating, and a resist pattern 39 is formed through exposure and development.
  • A1 layer 38 is etched using an aluminum etching solution such as a mixed acid aluminum solution using resist pattern 39 as a mask.
  • the protective layer 35 and the resist pattern 39 are removed.
  • the silicon of the device layer 3 is penetrated to the insulating layer 2 by Deep-RIE.
  • Deep-RIE etching with SF6 gas and side wall protection with C4F8 gas are performed as a Bosch process that performs etching and side wall protection alternately. This condition can also be adopted for deep RIE for subsequent silicon layers.
  • the silicon oxide of the insulating layer 2 is etched through to the handle layer 4 by Deep-RIE.
  • silicon of handle layer 4 is etched by Deep-RIE using A1 layer 33 as a mask. This etching is performed from the insulating layer 2 side of the handle layer 4 to the length of the backing portion 17 (for example, a thickness of 50 am).
  • A1 layer 33 is removed with an aluminum etching solution, and silicon of device layer 3 is penetrating etched to insulating layer 2 by Deep-RIE using oxide layer 31 as a mask.
  • the shapes of the movable parts such as the mirror part 5, the second movable part 6, the comb-shaped electrode, the hinge, the separation groove 16, and the connection part 23 (FIG. 4) are formed.
  • a part of the opening of the mask of the oxide layer 31 coincides with the opening of the mask of the A1 layer 33.
  • silicon of handle layer 4 is etched by deep-RIE using A1 layer 38 as a mask.
  • etching is performed from the surface of the handle layer 4 to the depth of the thickness of the backing portion 17 (FIG. 2).
  • the etching depth was 260 m.
  • the A1 layer 38 is removed with an aluminum etching solution.
  • the silicon of the handle layer 4 is etched by Deep-RIE until it reaches the insulating layer 2. As a result, the backing portion 17 and the outer frame portion 13 (FIG. 1) are formed.
  • the etching depth shown in FIG. 60 is set in consideration of this over-etching.
  • the thickness of the backing part 17 is designed in consideration of the required strength, the resonance frequency of the movable part, the required amplitude with respect to the drive voltage, and the like. Here, the thickness was 50 111.
  • exposed insulating layer 2, oxide film patterns 31 and 36 (FIG. 6P) are removed, and the movable part is released.
  • Aluminum, gold or silver is vacuum deposited on the surface of the first movable part 5 as the reflective film 40.
  • the thickness of the reflective film 40 is, for example, 50 nm, and the material is appropriately selected depending on the wavelength of light used and the required reflectance.
  • the etching is performed using the aluminum layer 33 used when the comb-shaped electrode of the device layer 3 is formed by etching as a mask. .
  • the comb electrode of the backing portion 17 and the handle layer 4 can be formed at the same position as the comb electrode of the device layer 3 without complicating the process. Since the displacement of the comb electrode can be prevented between the device layer 3 and the handle layer 4, a vertical comb electrode structure in which the gap between adjacent comb electrodes is equal can be realized.
  • Etching is also performed in the diameter direction of the SOI wafer 30 simultaneously with the etching in the thickness direction of 6A).
  • the etching of the SOI wafer 30 in the diameter direction is called side etching.
  • FIG. 7A is an enlarged view of the connection portion 23 and its peripheral portion of the resonant mirror element 1 shown in FIG. 7B to 7E are views corresponding to the BB cross section of the connecting portion 23 and its peripheral portion shown in FIG. 7A.
  • the opening is etched first.
  • FIG. 7D side etching starts, and when the side etching proceeds further, as shown in FIG. 7E, the insulating layer 2 fixing the second conductive portion 6b and the handle layer 4 in the connection portion 23 is completely removed. Removed.
  • the insulating layer 2 between the second conductive portion 6b and the backing portion 17 in the connection portion 23 is removed.
  • the second conductive portion 6b and the backing portion 17 in the connection portion 23 can be electrically connected.
  • the electrical connection between the second conductive portion 6b and the backing portion 17 will be described with reference to FIGS. 8A to 8D.
  • FIG. 8A is an enlarged view showing the connection portion 23 of the resonant mirror element 1 and its peripheral portion.
  • FIG. 8B and 8C are diagrams corresponding to the CC cross section of the connecting portion 23 and its peripheral portion shown in FIG. 8A, and FIG. 8D is a diagram corresponding to the DD cross section.
  • the insulating layer 2 shown in FIG. 8B is etched, as shown in FIG. 8C, the insulating layer 2 fixing the second conductive portion 6b and the handle layer 4 in the connecting portion 23 is completely removed.
  • the region of the second conductive portion 6b other than the connection portion 23, the Y hinge anchor 7 (Fig. 1), the insulating layer 2 that fixes the first conductive portion 6a and the handle layer 4 are completely etched by side etching. The etching conditions are set so that it will not be removed! /.
  • the second conductive portion 6b and the backing portion 17 in the connection portion 23 are electrically connected by a sticking (sticking phenomenon).
  • a sticking sticking phenomenon
  • the insulating layer 2 and the oxide film patterns 31 and 36 shown in FIG. 6Q are removed by a wet etching process using HF (hydrofluoric acid) or BHF (buffered hydrofluoric acid). (HF or BHF)
  • HF or BHF hydrogen fluoric acid
  • the removal of the insulating layer 2 and the oxide film patterns 31 and 36 shown in FIG. 6Q may be performed by a dry etching process, or a sticking may be generated (via a gap).
  • a voltage is applied to the ground pad 21 (FIG. 4) to cause a pull-in phenomenon (the second conductive portion 6b collides with the backing portion 17 due to a potential difference between the second conductive portion 6b and the backing portion 17. Phenomenon).
  • the sticking occurs, and the second conductive portion 6b and the backing portion 17 are connected.
  • the connecting portion 23 has an opening structure.
  • connection portion 23 it is also possible to apply a conductor in the connection portion 23 and connect the second conductive portion 6b and the backing portion 17 to each other.
  • the fine wiring drawing device is a device using nano-imprinting technology that finely prints ink containing fine conductors in the same manner as ink-jet ink application in printing technology. In this case, it is preferable to set etching conditions so that the insulating layer 2 in the connection portion 23 is not completely removed by side etching so that the ink containing the fine conductor does not spread outside the connection portion 23.
  • connection portion 23 For example, using a dispenser that applies an adhesive or a small amount of liquid, it is also possible to apply the conductor in the connecting portion 23 and connect the second conductive portion 6b and the backing portion 17 to each other. . In this case as well, it is preferable to set etching conditions so that the insulating layer 2 in the connection portion 23 is not completely removed by side etching so that the conductor does not spread outside the connection portion 23.
  • the function of the auxiliary comb electrode will be described.
  • the relationship between the driving force F and displacement X of an electrostatic actuator is determined by the capacitance C and voltage V between the electrodes.
  • the capacitance C is determined by the facing area S of the electrodes facing each other with a gap g. If the dielectric constant is ⁇ , the capacitance C is
  • FIG. 9 is a cross-sectional view showing the facing area of the comb-shaped electrode of the resonant mirror element 1.
  • the cross-sectional view shown in FIG. 9 corresponds to the EE cross section of the top view shown on the upper side.
  • FIG. 10 is a cross-sectional view showing the facing area of the auxiliary comb electrode of the resonant mirror element 1.
  • the cross-sectional view shown in Fig. 10 corresponds to the FF cross section of the top view shown on the upper side.
  • FIG. 11 is a drawing showing the change in the facing area between the electrodes of the resonant mirror element 1 and the capacitance.
  • Smain is 0 within the range where the comb electrodes overlap each other. Indicates a non-zero value, 0 outside that.
  • C ( ⁇ ) is 0 within the range where the comb electrodes overlap each other. Indicates a non-zero value, 0 outside that.
  • Sside has a smaller peak value due to the smaller number of comb teeth, but it is placed close to the rotation center, so it overlaps in a wider rotation angle range than the main comb electrode. Wide angle range with non-zero values. Therefore, their total Smain + Sside will have a non-zero value over the entire rotation range.
  • C ( ⁇ ) total also increases in the region with a large rotation angle compared to C ( ⁇ ) main.
  • the auxiliary comb electrode has an effect of increasing the capacitance in a region having a large rotation angle as compared with the case where only the main comb electrode is used. When the capacitance is increased by the auxiliary comb electrode, the driving force is increased accordingly.
  • the capacitance change is also applied to a large rotation angle that eliminates the overlap of the main comb electrode. It can be detected reliably. As a result, the rotational angle of the mirror section is feed-knocked into the drive signal, and the resonance drive can be performed more reliably.
  • FIG. 12 is a diagram showing an image projection apparatus 100 including the above-described resonant mirror element 1.
  • the image projection apparatus 100 includes a resonant mirror element 1, a light source 151, a collimating lens 152, a dichroic prism 153, a control unit 156, a laser modulation circuit 157, and a drive unit 158.
  • the collimating lens 152 and the dichroic prism 153 are optical systems that guide the light beam emitted from the light source 151 to the resonant mirror element 1.
  • Control unit 156 controls the operations of laser modulation circuit 157 and drive unit 158 in accordance with image signal 155 input to image projection apparatus 100.
  • the drive unit 158 includes the resonant mirror element 1 To drive.
  • the laser modulation circuit 157 generates a modulation signal corresponding to the image signal 155, and the three light sources 151 emit red (R), green (G), and blue (B) light beams 159 according to the modulation signals. To do.
  • the light beam 159 becomes a substantially parallel light beam by the collimating lens 152, is combined by the dichroic prism 153, and enters the resonant mirror element 1.
  • the light beam 159 incident on and reflected from the resonant mirror element 1 is scanned two-dimensionally by the resonant mirror element 1, is emitted from the opening 154, and displays an image in the projection region 160.
  • the present invention is particularly useful in the technical field of changing the traveling direction of light using a mirror element.
  • it is useful for optical scanning devices used in laser printers, reading devices such as barcode readers, and laser projectors.

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Abstract

 本発明は、第1可動部と、第1可動部を支持する第2可動部、及び裏打ち部とを備える2軸回動型のアクチュエータである。第1可動部と第2可動部それぞれに独立に駆動電圧を印可するための第1導電部と第2導電部は、分離溝により分割され、第2可動部の下部に備えられた裏打ち部により相互に固定された状態で第2可動部に設けられている。このような裏打ち部を設けることにより、第1導電部と第2導電部とを電気的に絶縁した状態で相互に固定すること、及びアクチュエータの製造工程を簡略化すること、を実現している。このような本発明のアクチュエータの第1可動部にミラーを備えることで、2軸回動型のミラー素子を簡素な製造プロセスで提供することが可能である。

Description

明 細 書
ァクチユエータ
技術分野
[0001] 本発明は、マイクロマシユング技術を応用した微小機械構造体であるァクチユエ一 タに関し、例えば、レーザプリンタ等に用いられる光走査装置、バーコードリーダー等 の読み取り装置、レーザプロジェクタなどに用いられる。
背景技術
[0002] マイクロマシユング技術で形成される振動ミラー素子では、例えば、ミラー部が同一 直線上に設けられた 2本のヒンジで支持されている。ミラー部に対向する位置には電 極が設けられている。ミラー部と電極との間に発生する静電引力により、 2本のヒンジ をねじり回転軸としてミラー部は往復振動する。
[0003] このような振動ミラー素子は、モーターでポリゴンミラーを回転させるミラー素子と比 較して構造が簡単で、半導体プロセスでの一括形成が可能なため、小型化が容易で 製造コストも低い。また、振動ミラー素子は単一の反射面を有するため、複数面を有 するポリゴンミラーのような精度のばらつきがない。また、振動ミラー素子の動作は往 復振動であるため、高速化にも対応できる。
[0004] 特許文献 1には 1軸回動型のミラー素子が開示されており、非特許文献 1と特許文 献 2および 3とには 2軸回動型のミラー素子が開示されている。
[0005] 1軸回動型のミラー素子の可動部は、ヒンジで支持されたミラー部である。ミラー部と 固定部とは分離溝で分離されており、ミラー部に駆動電圧を与えることで発生する静 電引力で、ミラー部を駆動している。
[0006] 2軸回動型のミラー素子では、中間フレームがヒンジを介してミラー部を支持し、固 定部がさらなるヒンジを介して中間フレームを支持しており、ミラー部と中間フレーム 部とが可動部を構成して!/、る。
[0007] 図 13を参照して、 2軸回動型のミラー素子を説明する。図 13は、 2軸回動型の共振 ミラー素子 51を示す斜視図である。
[0008] 共振ミラー素子 51は、ミラー面を有する第 1可動部 55と、第 1可動部 55を支持する 第 2可動部 56と、第 2可動部 56を支持する固定部 63とを備える。
[0009] 共振ミラー素子 51は、 Xヒンジ 61および Yヒンジ 57をさらに備える。第 2可動部 56 は、 Yヒンジ 57を介して第 1可動部 55を連結して支持している。第 1可動部 55は、図 13中の Y方向に延びる Yヒンジ 57を通る軸を回動軸として、第 2可動部 56に対し Yヒ ンジ 57周りに回動可能である。固定部 63は、 Xヒンジ 61を介して第 2可動部 56を連 結して支持している。第 2可動部 56は、図 13中の X方向に延びる Xヒンジ 61を通る 軸を回動軸として、固定部 63に対し Xヒンジ 61周りに回動可能である。
[0010] 第 1可動部 55は、第 2可動部 56に対して第 1可動部 55を相対的に変位させる駆動 力を発生する X櫛型電極 55aをその外周部に備えている。第 2可動部 56は、固定部 63に対して第 2可動部 56を相対的に変位させる駆動力を発生する Y櫛型電極 64a をその外周部に備えている。
[0011] また、第 2可動部 56の内周部には、 X櫛型電極 55aとギャップを隔てて嚙み合うよう に対向した X櫛型電極 55bが形成されている。固定部 63の内周部には、 Y櫛型電極 64aとギャップを隔てて嚙み合うように対向した Y櫛型電極 64bが形成されている。
[0012] 上述したように、第 1可動部 55は第 2可動部 56に対し Yヒンジ 57周りに回動可能に 支持され、第 2可動部 56は固定部 63に対し Xヒンジ 61周りに回動可能に支持される ことにより、 2軸回動型の共振ミラー素子 51が実現されている。
[0013] 第 2可動部 56は、第 1可動部 55に電圧を供給するための第 1導電部 56aと、別の 電圧が供給される第 2導電部 56bとを備える。第 1導電部 56aと第 2導電部 56bとの 間に形成された分離溝 66によって、第 1導電部 56aと第 2導電部 56bとは分割され、 互いに電気的に絶縁されている。これにより、第 1可動部 55および第 2可動部 56の それぞれに独立に駆動電圧を印加することができる。
[0014] 図 14は、共振ミラー素子 51の断面を示す図である。この断面図は、図 13の G— G 断面に対応している。図 14を参照して、分離溝 66に絶縁層を堆積させた後にポリシ リコンを埋め込んで、第 1導電部 56aと第 2導電部 56bとを接合することで、第 1導電 部 56aと第 2導電部 56bとが分断されないようにしている。これにより、第 1導電部 56a および第 2導電部 56bは、第 2可動部 56として一体となって変位する。
[0015] 図 15は、共振ミラー素子 51の電気的分離状態を示す平面図である。 Xパッド 70に 印加した電圧 Vxは第 1可動部 55の電圧となり、グランドパッド 72をグランドレベル (G
ND)とすると、第 1可動部 55と第 2可動部 56との間に Vxの電位差が生じる。
[0016] また、 Yパッド 71に印加した電圧 Vyは固定部 63の電圧となり、固定部 63と第 2可 動部 56との間に Vyの電位差が生じる。
[0017] 電圧 Vxと Vyを適切に制御すると、第 1可動部 55および第 2可動部 56はそれぞれ の共振周波数で共振動作する。これにより、 2軸回動型の共振ミラー素子 51では、第
1可動部 55の X軸周りの回動と Y軸周りの回動とを独立に制御することができる。 特許文献 1:特開 2004— 239987号公幸
特許文献 2:特開 2004— 13099号公報
特許文献 3 :特開 2006— 115683号公報
非特許文献 1 : "AN ELECTROSTATICALLY EXCITED 2D— MICRO— S CANNING— MIRROR WITH AN IN -PLANE CONFIGURATION O F THE DRIVING ELECTRODES" (MEMS2000. Proceedings Piscat away, NJ : IEEE, 2000)
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0018] しかしながら、上記のミラー素子では、次のような問題があった。
[0019] 1軸回動型のミラー素子では、 2軸の回動ができず、動作が 1軸の回動に限られて いる。
[0020] 図 13〜図 15に示す 2軸回動型のミラー素子 51では、分離溝 66を埋め込む工程に 時間が力、かりコストアップ要因となる。
[0021] また、分離溝 66が深いほど確実に埋め込むのが難しぐ埋め込みが不完全だと、 振動によって埋め込み部分が損傷を受け、第 1導電部 56aと第 2導電部 56bとが外 れてしまうおそれがあった。
[0022] さらに、分離溝 66中の絶縁層の堆積が不十分だと、第 1導電部 56aと第 2導電部 5
6bとの間の電気的絶縁が不完全となるおそれもあった。
[0023] 本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、簡素な製造プロセスで容易に形 成でき、且つ信頼性の高いァクチユエータを提供する。 課題を解決するための手段
[0024] 本発明のァクチユエータは、可動部と、前記可動部を支持する固定部とを備え、前 記可動部は、第 1電圧が供給される第 1導電部と、第 2電圧が供給される第 2導電部 と、前記第 1導電部と前記第 2導電部とを電気的に絶縁した状態で相互に固定する 裏打ち部とを備え、前記第 2導電部と前記裏打ち部とは電気的に接続されていること を特徴とする。
[0025] ある実施形態によれば、前記可動部は、第 1可動部と、前記第 1可動部を支持する 第 2可動部とを含み、前記固定部は、前記第 2可動部を支持し、前記第 2可動部は、 前記第 1および第 2導電部を備え、前記第 1導電部を介して前記第 1可動部に前記 第 1電圧を供給する。
[0026] ある実施形態によれば、前記第 2可動部は、前記第 2導電部および前記裏打ち部 に形成された櫛型電極をさらに備える。
[0027] ある実施形態によれば、前記裏打ち部の厚さは、前記固定部の厚さよりも薄い。
[0028] ある実施形態によれば、前記第 1可動部は、光を反射するミラー部を備え、前記裏 打ち部は、前記ァクチユエータの前記ミラー部が設けられた面とは反対側の面から前 記第 1導電部と前記第 2導電部とを固定している。
[0029] ある実施形態によれば、前記第 1および第 2可動部は、絶縁層を介して第 1および 第 2シリコン層を接合した SOIウェハの前記第 1シリコン層をエッチングして形成され ており、前記裏打ち部は、前記第 2シリコン層をエッチングして形成されている。
[0030] ある実施形態によれば、前記第 2可動部の前記第 1導電部と前記第 2導電部との間 に形成された溝によって、前記第 1導電部と前記第 2導電部とは電気的に絶縁されて いる。
[0031] ある実施形態によれば、前記第 2可動部の前記溝に対して点対称な位置にダミー 溝が形成されている。
[0032] ある実施形態によれば、前記第 1可動部は、前記第 2可動部に対して前記第 1可動 部を相対的に変位させる駆動力を発生する第 1および第 2櫛型電極を備え、前記第 1櫛型電極は、前記第 1可動部の回動軸と垂直な方向へ延びており、前記第 2櫛型 電極は、前記第 1可動部の回動軸と平行な方向へ延びており、前記第 2可動部は、 前記固定部に対して前記第 2可動部を相対的に変位させる駆動力を発生する第 3お よび第 4櫛型電極を備え、前記第 3櫛型電極は、前記第 2可動部の回動軸と垂直な 方向へ延びており、前記第 4櫛型電極は、前記第 2可動部の回動軸と平行な方向へ 延びている。
[0033] 本発明の画像投射装置は、前記ァクチユエータと、光ビームを出射する光源と、前 記光ビームを前記ァクチユエータへ導く光学系と、前記ァクチユエータを駆動する駆 動部とを備えることを特徴とする。
[0034] 本発明のァクチユエータの製造方法は、絶縁層を介して第 1および第 2シリコン層を 接合した SOIウェハの前記第 1シリコン層をエッチングして前記第 1および第 2可動部 を形成するステップと、前記第 2シリコン層をエッチングして前記裏打ち部を形成する ステップと、前記第 2可動部の前記第 1シリコン層から形成された所定の部分と前記 裏打ち部とを電気的に接続するステップとを包含することを特徴とする。
[0035] 前記裏打ち部を形成するステップは、前記第 1シリコン層をエッチングするときに用 いるマスクを用いて前記第 2シリコン層をエッチングするステップを含む。
発明の効果
[0036] 本発明によれば、裏打ち部は第 1導電部と第 2導電部とを電気的に絶縁した状態 で相互に固定し、第 2導電部と裏打ち部とは電気的に接続されている。これにより、 第 1導電部と第 2導電部とを確実に固定することができる。また、第 1導電部と第 2導 電部との間の溝を埋め込む必要が無!/、ので、ァクチユエータの製造工程を簡略化で き、安価なァクチユエータを提供することができる。また、裏打ち部が電気的にフロー ティングした状態ではないので、裏打ち部の帯電を防止することができ、安定した駆 動力を得ること力できる。
[0037] また、ある実施形態によれば、可動部は第 1可動部と第 1可動部を支持する第 2可 動部とを含み、これにより、 2軸回動型のァクチユエータが得られる。
[0038] また、ある実施形態によれば、裏打ち部は櫛型電極を備える。これにより、可動部が 回動している状態での櫛型電極が互いに対向する面積を増やすことができ、安定し た駆動力を得ることができる。
[0039] また、ある実施形態によれば、裏打ち部の厚さは、固定部の厚さよりも薄い。これに より、可動部の軽量化を実現するとともに、可動部が回動可能な角度を大きく確保す ること力 Sでさる。
[0040] また、ある実施形態によれば、第 2可動部の溝に対して点対称な位置にダミー溝が 形成されていることにより、第 2可動部の重量バランスの偏りを抑えることができる。
[0041] また、ある実施形態によれば、第 1可動部は、第 1可動部の回動軸と平行な方向へ 延びる櫛型電極を備え、第 2可動部は、第 2可動部の回動軸と平行な方向へ延びる 櫛型電極を備えている。これにより、第 1および第 2可動部をより大きな回動角度で駆 動させること力 Sでさる。
[0042] また、本発明の画像投射装置は、上記ァクチユエータを備える。本発明のァクチュ エータの駆動感度は高いので、低消費電力の画像投射装置を実現することができる
[0043] また、本発明のァクチユエータの製造方法は、第 1シリコン層をエッチングするとき に用いるマスクを用いて第 2シリコン層をエッチングして裏打ち部を形成する。これに より、第 1シリコン層と第 2シリコン層との間で櫛型電極の位置ずれを防止することがで きるので、隣り合う櫛型電極間のギャップが等し!/、垂直櫛型電極構造を実現すること ができる。
[0044] 本発明によれば、簡素なプロセスで容易に 2軸回動型のァクチユエータを形成でき 、安価な共振ミラー素子を提供することができる。
図面の簡単な説明
[0045] [図 1]本発明の実施形態による共振ミラー素子を示す斜視図である。
[図 2]本発明の実施形態による共振ミラー素子を示す下部斜視図である。
[図 3]本発明の実施形態による共振ミラー素子を示す平面図である。
[図 4]本発明の実施形態による共振ミラー素子の電気的分離状態を示す平面図であ
[図 5]本発明の実施形態による共振ミラー素子の動作を示す斜視図である。
[図 6A]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。
[図 6B]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。
[図 6C]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。 [図 6D]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。 園 6E]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。 園 6F]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。
[図 6G]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。 園 6H]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。 園 61]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。 園 6J]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。 園 6K]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。 園 6L]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。 園 6M]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。 園 6N]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。 園 60]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。 園 6P]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。 園 6Q]本発明の実施形態による共振ミラー素子の製造工程を示す断面図である。
[図 7A]本発明の実施形態による共振ミラー素子の接続部とその周辺部を示す図であ 園 7B]本発明の実施形態による共振ミラー素子の接続部とその周辺部を示す図であ 園 7C]本発明の実施形態による共振ミラー素子の接続部とその周辺部を示す図であ 園 7D]本発明の実施形態による共振ミラー素子の接続部とその周辺部を示す図であ 園 7E]本発明の実施形態による共振ミラー素子の接続部とその周辺部を示す図であ
[図 8A]本発明の実施形態による共振ミラー素子の接続部とその周辺部を示す図であ 園 8B]本発明の実施形態による共振ミラー素子の接続部とその周辺部を示す図であ 園 8C]本発明の実施形態による共振ミラー素子の接続部とその周辺部を示す図であ 園 8D]本発明の実施形態による共振ミラー素子の接続部とその周辺部を示す図であ 園 9]本発明の実施形態による共振ミラー素子の櫛型電極の対向面積を示す断面図 である。
園 10]本発明の実施形態による共振ミラー素子の補助櫛型電極の対向面積を示す 断面図である。
園 11]本発明の実施形態による共振ミラー素子の電極間の対向面積および静電容 量の変化を示すグラフである。
園 12]本発明の実施形態による共振ミラー素子を備えた画像投射装置を示す図であ 園 13]2軸回動型の共振ミラー素子を示す斜視図である。
園 14]2軸回動型の共振ミラー素子を示す断面図である。
[図 15]2軸回動型の共振ミラー素子の電気的分離状態を示す平面図である。
符号の説明
1 共振ミラー素子
2 絶縁層
3 デバイス層
4 ハンドル層
5 第 1可動部
6 第 2可動部
6a 第 1導電部
6b 第 2導電部
7 Yヒンジアンカー
8 Yヒンジ
9a、 9b X櫛型電極
10a, 10b X補助櫛型電極 Xヒンジ
a, l ib Y櫛型電極 Xヒンジアンカーa, 12b Y補助櫛型電極 固定部
分離溝
裏打ち部
Xノ ッド
ダミー溝
グランドパッド
Υパッド
接続部
SOIウェハ
、 36 酸化物層 、 37 レジストノ ターン 、 38 A1層
、 39 レジストパターン 保護層
反射膜
1 光源
2 コジメー卜レンズ 開口部
5 画像信号
制御部
レーザ変調回路 駆動部
光ビーム 160 投射領域
100 画像投射装置
発明を実施するための最良の形態
[0047] 以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態を説明する。
[0048] (実施形態 1)
まず、図 1を参照して、本発明の第 1の実施形態によるァクチユエータを説明する。 図 1は、本実施形態のァクチユエータである共振ミラー素子 1を示す斜視図である。
[0049] 共振ミラー素子 1は、例えば、酸化シリコン(SiO )から成る絶縁層 2を介して 2つの シリコン層を接合したウエノ、、いわゆる SOI (Silicon On Insulator)ウェハを加工 して製造される。
[0050] 2つのシリコン層のうち、第 1シリコン層にはリン(P)ゃヒ素(As)などの n型不純物や ボロン (B)などの p型不純物をドープして導電性を持たせ、デバイス層 3と称する。第 2シリコン層はウェハ本体を成す厚い部分で、ハンドル層 4と称する。
[0051] デバイス層 3に対して、後述するエッチングによるパターユングを行うことによって第
1可動部 5と第 2可動部 6が形成される。第 1可動部 5と第 2可動部 6とはまとめて可動 部とも称される。
[0052] 共振ミラー素子 1は、ミラー面 25を有する第 1可動部 5と、第 1可動部 5を支持する 第 2可動部 6と、第 2可動部 6を支持する固定部 13とを備える。
[0053] 共振ミラー素子 1は、 Xヒンジ 11および Yヒンジ 8をさらに備える。第 2可動部 6は、 Y ヒンジ 8を介して第 1可動部 5を連結して支持している。第 1可動部 5は、図 1中の Y方 向に延びる Yヒンジ 8を通る軸を回動軸として、第 2可動部 6に対し Yヒンジ 8周りに回 動可能である。固定部 13は、 Xヒンジ 11を介して第 2可動部 6を連結して支持してい る。第 2可動部 6は、図 1中の X方向に延びる Xヒンジ 11を通る軸を回動軸として、固 定部 13に対し Xヒンジ 11周りに回動可能である。共振ミラー素子 1は、このようなジン バル構造を有している。第 2可動部 6は、外枠部である固定部 13と、中心部の第 1可 動部 5との間に位置する中間フレームである。
[0054] 第 1可動部 5は、第 2可動部 6に対して第 1可動部 5を相対的に変位させる駆動力を 発生する X櫛型電極 9aおよび X補助櫛型電極 10aをその外周部に備えている。 X櫛 型電極 9aは、第 1可動部 5の回動軸と垂直な方向へ延びている。 X補助櫛型電極 10 aは、第 1可動部 5の回動軸と平行な方向へ延びている。 X補助櫛型電極 10aは、第 1可動部 5の Yヒンジ 8が接続されたエッジに形成されており、 X櫛型電極 9aは、第 1 可動部 5の Yヒンジ 8が接続されて!/、な!/、エッジに形成されて!/、る。 X補助櫛型電極 1 0aは、 Yヒンジ 8と平行に且つ同等の長さ以下で形成されているので、 X補助櫛型電 極 10aによりチップサイズが大きくなることはない。
[0055] 第 2可動部 6は、固定部 13に対して第 2可動部 6を相対的に変位させる駆動力を発 生する Y櫛型電極 11aおよび Y補助櫛型電極 12aをその外周部に備えている。 Y櫛 型電極 11 aは、第 2可動部 6の回動軸と垂直な方向へ延びている。 Y補助櫛型電極 1 2aは、第 2可動部 6の回動軸と平行な方向へ延びている。 Y補助櫛型電極 12aは、 第 2可動部 6の Xヒンジ 11が接続されたエッジに形成されており、 Y櫛型電極 11aは、 第 2可動部 6の Xヒンジ 11が接続されて!/、な!/、エッジに形成されて!/、る。 Y補助櫛型 電極 12aは、 Xヒンジ 11と平行に且つ同等の長さ以下で形成されているので、 Y補助 櫛型電極 12aによりチップサイズが大きくなることはない。
[0056] また、第 2可動部 6の内周部には、 X櫛型電極 9aとギャップを隔てて嚙み合うように 対向した X櫛型電極 9bと、 X補助櫛型電極 10aとギャップを隔てて嚙み合うように対 向した X補助櫛型電極 10bとが形成されている。固定部 13の内周部には、 Y櫛型電 極 1 laとギャップを隔てて嚙み合うように対向した Y櫛型電極 1 lbと、 Y補助櫛型電極 12aとギャップを隔てて嚙み合うように対向した Y補助櫛型電極 12bとが形成されて V、る。補助櫛型電極の効果にっレ、ては後述する。
[0057] 上述したように、第 1可動部 5は第 2可動部 6に対し Yヒンジ 8周りに回動可能に支持 され、第 2可動部 6は固定部 13に対し Xヒンジ 11周りに回動可能に支持されることに より、 2軸回動型の共振ミラー素子 1が実現されている。
[0058] 第 1可動部 5と第 2可動部 6との間に電位差が生じると、第 1可動部 5は第 2可動部 6 に対して相対的に変位する。図 6Qは、図 1に示す共振ミラー素子 1の A— A断面に 対応した図である。図 1および図 6Qを参照して、第 2可動部 6は、第 1可動部 5に第 1 電圧を供給するための第 1導電部 6aと、第 2電圧が供給される第 2導電部 6bとを備 える。第 1導電部 6aと第 2導電部 6bとの間に形成された分離溝 16によって、第 1導電 部 6aと第 2導電部 6bとは分割され、互いに電気的に絶縁されている。これにより、第 1可動部 5および第 2可動部 6のそれぞれに独立に駆動電圧を印加することができる
[0059] 図 2は、共振ミラー素子 1を示す下部斜視図である。図 2は、共振ミラー素子 1の構 成要素の一部をカットして図示している。共振ミラー素子 1は、第 1導電部 6aと第 2導 電部 6b (図 1)とを電気的に絶縁した状態で相互に固定する裏打ち部 17をさらに備 える。裏打ち部 17は、共振ミラー素子 1のミラー面 25が設けられた面(上面)とは反対 側の面(下面)から第 1導電部 6aと第 2導電部 6bとを固定している。裏打ち部 17の厚 さは、固定部 13の厚さよりも薄い。
[0060] 図 2を参照して、第 1および第 2可動部 5および 6の下部はハンドル層 4が除去され ており、これにより、第 1および第 2可動部 5および 6が回動可能になっている。第 2可 動部 6の下部では、裏打ち部 17としてハンドル層 4が部分的に残されている。この残 されたハンドル層 4とその同じ位置の絶縁層 2とによって、裏打ち部 17が形成されて いる。裏打ち部 17の厚さは固定部 13の厚さよりも薄く形成されており、これにより第 2 可動部 6の軽量化が実現されて!/、る。
[0061] 図 3は、共振ミラー素子 1での裏打ち部 17の位置を示す平面図である。
[0062] 図 3に示す斜線部分が裏打ち部 17であり、分離溝 16はこの裏打ち部 17の存在す る領域内に形成されている。このため、第 1導電部 6aと第 2導電部 6bとを分離溝 16 によって分離しても、第 1導電部 6aと第 2導電部 6b (図 1)とは一体となって変位する 。従来例のように、分離溝 16に別材料を埋め込んで結合する工程は不要である。
[0063] また、絶縁層 2、デバイス層 3およびノ、ンドル層 4は予め強固に接合されたウェハ構 造なので、デバイス層 3から形成された第 2可動部 6と、絶縁層 2およびノヽンドル層 4 力、ら形成された裏打ち部 17との結合強度は十分信頼性の高いものである。
[0064] 埋め込み工程による絶縁の必要もないため、第 1導電部 6aと第 2導電部 6bとの間 の電気的絶縁が不完全となるおそれもなレ、。
[0065] また、 Xパッド 18と第 1可動部 5とを接続する接続部である第 1導電部 6aを形成する 分離溝 16は、回動軸に対して偏った位置にあるので、それだけでは第 2可動部 6の 重量バランスが偏ることになり、共振駆動したときに第 2可動部 6の上下動など不要な 共振を誘発する場合がある。そのため、第 2可動部 6の中心を基準として、第 2可動 部 6上の分離溝 16に対して点対称な位置にダミー溝 20が形成されている。また、第 2可動部 6上の分離溝 16に対して、 X回動軸を基準とした軸対称な位置、および Y回 動軸を基準とした軸対称な位置のそれぞれにダミー溝 20が形成されている。分離溝 16と対称な位置にダミー溝 20を形成することで、重量バランスのずれを抑えることが できる。
[0066] 図 4は、共振ミラー素子 1の電気的分離状態を示す平面図である。
[0067] 図 4において、前述のように、第 2可動部 6には分離溝 16が形成され、電気的に 2 つの領域に分割されている。 1つの領域は、 Xパッド 18から Xヒンジ 11、第 1導電部 6 a、 Yヒンジ 8を経て第 1可動部 5に至る領域である。もう 1つの領域は、グランドパッド 2 1から Xヒンジ 11を経て第 2可動部 6に至る領域である。第 2可動部 6では、ダミー '溝 2 0に設けられた接続部 23を介して、第 2導電部 6bと裏打ち部 17とが電気的に接続さ れている。
[0068] このような構成において、 Xパッド 18に印加した電圧 Vxは第 1可動部 5の電圧となり 、グランドパッド 21をグランドレベル (GND)とすると、第 1可動部 5と第 2可動部 6との 間に Vxの電位差が生じる。
[0069] また、 Yパッド 22に印加した電圧 Vyは固定部 13の電圧となり、固定部 13と第 2可 動部 6との間に Vyの電位差が生じる。
[0070] 電圧 Vxと Vyを適切に制御すると、第 1可動部 5および第 2可動部 6はそれぞれの 共振周波数で共振動作する。これにより、 2軸回動型の共振ミラー素子 1では、第 1可 動部 5の X軸周りの回動と Y軸周りの回動とを独立に制御することができる。
[0071] 図 5は、共振ミラー素子 1の動作状態を示す斜視図である。
[0072] 第 1可動部 5は、第 2可動部 6に対して Yヒンジ 8周りに回動し、第 2可動部 6は第 1 可動部 5とともに、固定部 13に対して Xヒンジ 11周りに回動する。これにより、第 1可 動部 5で反射したレーザビームは X— Y方向に 2次元走査される。
[0073] 次に、共振ミラー素子 1の製造方法を説明する。図 6A〜図 6Qは、共振ミラー素子
1の製造工程を示す図であり、これらの断面図は図 1の A— A断面に対応している。
[0074] 図 6Aを参照して、 SOIウェハ 30を用意する。デバイス層 3の厚さは第 1可動部 5お よび第 2可動部 6の厚さとなり、各可動部の共振周波数や駆動電圧に対する振動振 幅、剛性等を考慮して決定する。ここでは、デバイス層 3を 50 m、絶縁層 2を 2 111 、ハンドル層 4を 300 μ mとする。
[0075] まず、デバイス層 3およびハンドル層 4に Pや Asなどの n型不純物や Bなどの p型不 純物をドープし導電性を持たせる。ただし、デバイス層 3およびノヽンドル層 4が既に導 電性である SOIウェハを用いる場合は、導電性を持たせるための不純物ドープのプ 口セスは必要ない。
[0076] 次に図 6Bを参照して、 CVD (Chemical Vapor Deposition)により、デバイス層
3表面に酸化物層 31を形成し、液状のフォトレジストをスピンコーティングにより成膜 し、露光および現像を経て、レジストパターン 32を形成する。フォトレジストとしては、 例えば、 AZP4210や AZ1500 (クラリアントジャパン製)を使用することができる。以 降のレジストパターンも、このようなフォトレジストの成膜およびその後の露光'現象を 経て形成される。
[0077] 次に図 6Cを参照して、レジストパターン 32をマスクとして酸化物層 31を BHF (バッ ファードフッ酸)によりエッチングする。
[0078] 次に図 6Dを参照して、レジストパターン 32を除去した酸化物層 31の表面に、 Al ( アルミニウム)を真空蒸着により堆積させて A1層 33を形成し、液状のフォトレジストを スピンコーティングにより成膜し、露光および現像を経て、レジストパターン 34を形成 する。
[0079] 次に図 6Eを参照して、レジストパターン 34をマスクとして、混酸アルミ溶液等のアル ミニゥムエッチング溶液を用いて A1層 33をエッチングする。
[0080] 次に図 6Fを参照して、レジストパターン 34を除去し、 A1層 33をマスクとして、酸化 物層 31を Deep— RIE (Deep Reactive Ion Etching)により、デバイス層 3まで 貝通エッチングす。。
[0081] 次に図 6Gを参照して、 A1層 33の表面に液状のフォトレジストを用いてスピンコーテ イングにより保護層 35を形成する。ハンドル層 4の表面に酸化物を CVDで堆積させ て酸化物層 36を形成し、液状のフォトレジストをスピンコーティングにより成膜し、露 光および現像を経て、レジストパターン 37を形成する。 [0082] 次に図 6Hを参照して、レジストパターン 37をマスクとして酸化物層 36を BHFにより
[0083] 次に図 61を参照して、レジストパターン 37を除去し、酸化物層 36およびハンドル層
4の表面に A1を真空蒸着により堆積させて A1層 38を形成し、液状のフォトレジストを スピンコーティングにより成膜し、露光および現像を経て、レジストパターン 39を形成 する。
[0084] 次に図 6Jを参照して、レジストパターン 39をマスクとして混酸アルミ溶液等のアルミ ニゥムエッチング溶液を用いて A1層 38をエッチングする。
[0085] 次に図 6Kを参照して、保護層 35およびレジストパターン 39を除去する。 A1層 33を マスクとして、 Deep— RIEにより、デバイス層 3のシリコンを絶縁層 2まで貫通エツチン グする。 Deep— RIEでは、エッチングと側壁保護を交互に行う Boschプロセスとして 、 SF6ガスによるエッチング、 C4F8ガスによる側壁保護を行う。以降のシリコン層に 対する Deep— RIEについても、この条件を採用することができる。
[0086] 次に図 6Lを参照して、 A1層 33をマスクとして絶縁層 2の酸化シリコンを Deep— RI Eにより、ハンドル層 4まで貫通エッチングする。
[0087] 次に図 6Mを参照して、 A1層 33をマスクとしてハンドル層 4のシリコンを Deep— RIE によりエッチングする。このエッチングでは、ハンドル層 4の絶縁層 2側から裏打ち部 1 7の厚さ分の長さ(例えば、厚さ 50 a m)まで行う。
[0088] 次に図 6Nを参照して、 A1層 33をアルミニウムエッチング溶液により除去し、酸化物 層 31をマスクとして、 Deep— RIEによりデバイス層 3のシリコンを絶縁層 2まで貫通ェ ツチングする。これにより、ミラー部 5、第 2可動部 6、櫛型電極、ヒンジ、分離溝 16、接 続部 23 (図 4)等、可動部の形状が形成される。またこのとき、ハンドル層 4について はエッチングされても問題がないので、酸化物層 31のマスクの開口部の一部は、 A1 層 33のマスクの開口部と一致している。
[0089] 次に図 60を参照して、 A1層 38をマスクとして、 Deep— RIEによりハンドル層 4のシ リコンをエッチングする。このエッチングでは、ハンドル層 4表面から裏打ち部 17 (図 2 )の厚さ分の深さ程度までエッチングする。ここでは、エッチングの深さを 260 mとし た。エッチング後、アルミニウムエッチング溶液により A1層 38を除去する。 [0090] 次に図 6Pを参照して、酸化物層 36をマスクとして、 Deep— RIEにより、ハンドル層 4のシリコンを絶縁層 2に達するまでエッチングする。これにより、裏打ち部 17と外枠 部 13 (図 1 )とが形成される。エッチングが確実に絶縁層 2に達するように若干のォー バーエッチングを行うので、図 60に示したエッチング深さは、このオーバーエツチン グ分を考慮して設定する。裏打ち部 17の厚さは、必要強度、可動部の共振周波数、 駆動電圧に対する必要振幅等を考慮して設計する。ここでは、厚さ 50 111とした。
[0091] 次に図 6Qを参照して、露出した絶縁層 2、酸化膜パターン 31および 36 (図 6P)を 除去して可動部をリリースする。第 1可動部 5の表面に反射膜 40としてアルミ、金また は銀を真空蒸着する。反射膜 40の厚さは例えば 50nmであり、材料は、使用する光 の波長と必要な反射率によって適切に選択する。
[0092] ここで、裏打ち部 17およびハンドル層 4の櫛型電極の形成工程では、デバイス層 3 の櫛型電極をエッチングにより形成するときに用いたアルミ層 33をマスクとしてエッチ ングを行っている。このため、プロセスを複雑化することなぐデバイス層 3の櫛型電極 と同位置に、裏打ち部 17およびノヽンドル層 4の櫛型電極を形成することができる。デ バイス層 3とハンドル層 4との間で櫛型電極の位置ずれを防止することができるので、 隣り合う櫛型電極間のギャップが等しい垂直櫛型電極構造を実現することができる。
[0093] 次に、裏打ち部 17と第 2導電部 6bとを接続部 23 (図 4)を介して電気的に接続する 方法を説明する。
[0094] 絶縁層 2を除去して可動部をリリースするプロセス(図 6Q)では、 SOIウェハ 30 (図
6A)の厚さ方向のエッチングと同時に SOIウェハ 30の直径方向にもエッチングされ る。この SOIウェハ 30が直径方向にエッチングされることをサイドエッチングという。
[0095] 図 7A〜図 7Eを参照してサイドエッチングを詳細に説明する。図 7Aは、図 4に示す 共振ミラー素子 1の接続部 23とその周辺部を拡大して示した図である。図 7B〜図 7E は、図 7Aに示す接続部 23およびその周辺部の B— B断面に対応した図である。
[0096] 図 7Bに示す絶縁層 2をエッチングすると、図 7Cに示すように、開口となっている部 分が先にエッチングされる。続いて図 7Dに示すようにサイドエッチングが始まり、さら にサイドエッチングが進むと図 7Eに示すように接続部 23における第 2導電部 6bとノヽ ンドル層 4を固定していた絶縁層 2は完全に除去される。このようなサイドエッチング によって、接続部 23における第 2導電部 6bと裏打ち部 17との間の絶縁層 2を除去す る。これにより接続部 23における第 2導電部 6bと裏打ち部 17との電気的な接続が可 能となる。この第 2導電部 6bと裏打ち部 17との電気的な接続について図 8A〜図 8D を参照して説明する。
[0097] 図 8Aは、共振ミラー素子 1の接続部 23とその周辺部を拡大して示した図である。
図 8Bおよび図 8Cは、図 8Aに示す接続部 23およびその周辺部の C C断面に対応 した図であり、図 8Dは D— D断面に対応した図である。
[0098] 図 8Bに示す絶縁層 2をエッチングすると、図 8Cに示すように、接続部 23における 第 2導電部 6bとハンドル層 4とを固定していた絶縁層 2は完全に除去される。接続部 23以外の第 2導電部 6bの領域や、 Yヒンジアンカー 7 (図 1)、第 1導電部 6a等とハン ドル層 4とを固定している絶縁層 2については、サイドエッチングによって完全に除去 されることはな!/、ように、エッチング条件が設定されて!/、る。
[0099] 接続部 23における第 2導電部 6bと裏打ち部 17との電気的な接続方法としては、例 えば、ステイツキング (貼付く現象)により第 2導電部 6bと裏打ち部 17とを電気的に接 続させる方法がある。例えば、図 6Qに示した絶縁層 2および酸化膜パターン 31およ び 36の除去を、 HF (フッ化水素酸)または BHF (バッファードフッ酸)を用いたゥエツ トエッチングプロセスで行い、エッチング液(HFまたは BHF)力もウェハを取り出す際 、またはエッチング液を落とすウエット洗浄中に、ステイツキングにより第 2導電部 6bと 裏打ち部 17とは電気的に接続される。
[0100] また、例えば、図 6Qに示した絶縁層 2および酸化膜パターン 31および 36の除去を ドライエッチングプロセスによって行レ、、ステイツキングが発生してレ、なレ、場合(空隙を 介している状態)では、グランドパッド 21 (図 4)に電圧を印加して第 2導電部 6bと裏 打ち部 17と間の電位差に起因するプルイン現象(第 2導電部 6bが裏打ち部 17に衝 突する現象)を発生させる。そのとき、第 2導電部 6bと裏打ち部 17との接触面または 空隙中に水分子等が存在するとステイツキングが発生し、第 2導電部 6bと裏打ち部 1 7とは接続される。
[0101] なお、ステイツキングにより第 2導電部 6bと裏打ち部 17とを接続させるためには接続 部 23の復元力を十分低くしておく必要があり、さらにはサイドエッチングによるエッチ ング量を少なく抑えるために、接続部 23を開口構造とした。
[0102] また、例えば、微細配線描画装置等を用いて、接続部 23内に導体を塗布し、第 2 導電部 6bと裏打ち部 17とを接続することも可能である。微細配線描画装置は、印刷 技術でのインクジェット方式のインク塗布と同様の方法で、微小導体を含むインクを 微細に印刷するナノインプリンティング技術を用いた装置である。この場合は、接続 部 23における絶縁層 2がサイドエッチングにより完全に除去されないようにエッチング 条件を設定し、微小導体を含むインクが接続部 23外部に広がらないようにするのが 好ましい。
[0103] また、例えば、接着剤や少量の液体を塗布するディスペンサーを用いて、導体を接 続部 23内に塗布し、第 2導電部 6bと裏打ち部 17とを接続することも可能である。そ の場合も、接続部 23における絶縁層 2がサイドエッチングにより完全に除去されない ようにエッチング条件を設定し、導体が接続部 23外部に広がらないようにするのが好 ましい。
[0104] 電圧を印加して共振ミラー素子 1を駆動するとき、裏打ち部 1 7が電気的にフローテ イングしている状態では、裏打ち部 17が帯電してしまい所望の電位差を安定して得 られず、安定した駆動力を発生させることができないおそれがある。しかし、上述した ように、裏打ち部 17と第 2導電部 6bとを電気的に接続することにより裏打ち部 17の帯 電を防止することができ、安定した電位差を発生させて安定した駆動力を得ることが できる。また、裏打ち部 17と第 2導電部 6bとは同電位となるので、裏打ち部 17にも櫛 型電極を形成することで、可動部 5および 6が回動している状態での櫛型電極が互い に対向する面積を増やすことができ、安定した駆動力を得ることができる。
[0105] 次に、補助櫛型電極の機能を説明する。一般に、静電ァクチユエータの駆動力 Fと 変位 Xとの関係は、電極間の静電容量 Cと電圧 Vで決まる。静電容量 Cはギャップ gで 対向する電極の対向面積 Sで決まる。誘電率を ε とすると、静電容量 Cは、
0
C (x) = ε S/g (式 1 )
0
と表される。駆動力 Fは、
[数 1] F - C(x)V2
(式 2)
と表される。
[0106] 図 9は、共振ミラー素子 1の櫛型電極の対向面積を示す断面図である。図 9に示す 断面図は、上側に示す上面図の E— E断面に対応している。
[0107] 図 9を参照して、回動中心から rの距離に長さ L、厚さ tの櫛型電極を設けた場合、 ギャップ gを介して対向する電極面積 Sは、回動角を Θとし、櫛歯の数を Nmainとす ると、
Smain = 2Nmain (t · L - L (r + R) Θ /2)
= 2Nmain-L (t- (r+R) Θ /2) (式 3)
と表される。
[0108] 図 10は、共振ミラー素子 1の補助櫛型電極の対向面積を示す断面図である。図 10 に示す断面図は、上側に示す上面図の F— F断面に対応している。
[0109] 図 10を参照して、回動中心から距離 r離れた電極の対向面積 S 'は、
S ' =L (t-r 0 ) (式 4)
と表される。
[0110] 全ての補助櫛型電極を合計したときの、補助櫛型電極の対向面積 Ssideは、
[数 2]
Sside = Sf
(式 5)
と表される。
[0111] 図 11は、共振ミラー素子 1の電極間の対向面積および静電容量の変化を示すダラ フでめる。
[0112] 図 11を参照して、 Smainは、櫛型電極同士が互いにオーバーラップする範囲で 0 でない値を示し、それより外側では 0である。これに対して、静電容量変化 C ( Θ )では
、実際には櫛歯の対向面以外の部分 (櫛歯の先端や、櫛歯のないエッジ等)でもわ ずかに静電容量が発生するため、 C ( Θ ) mainの分布は、 Smainを包含する滑らか な曲泉になる。
[0113] 図 11に示す例では、ミラー部の回動角を ± 15° とし、ミラー部の長さ rを 0. 5mm、 厚さを 50〃 mとすると、およそ ± 5° がオーバーラップの範囲となる。
[0114] 一方、 Ssideは、櫛歯の数が少ない分、ピーク値は小さいが、回動中心から近い部 分に配置するので、メインの櫛型電極より広い回動角の範囲でオーバーラップし、 0 でない値を持つ角度範囲が広い。従って、それらの合計 Smain+ Ssideは、回動範 囲全体に亘つて 0でない値を持つこととなる。また、 C ( Θ ) totalは、回動角の大きな 領域での値も、 C ( Θ ) mainと比較して増大している。このように、補助櫛型電極は、メ インの櫛型電極のみの場合に比べ、回動角の大きな領域の静電容量を増加させる 効果がある。補助櫛歯電極によって静電容量が増加すると、その分、駆動力も増加さ れる。
[0115] また、静電容量を検出することによってミラー部の回動角度を検出する際、メインの 櫛型電極のオーバーラップがなくなるような大きな回動角に対しても、静電容量変化 を確実に検出することができる。これにより、ミラー部の回動角を駆動信号にフィード ノ ックして、より確実に共振駆動を行うことができるようになる。
[0116] (実施形態 2)
次に、図 12を参照して、本発明の第 2の実施形態による画像投射装置 100を説明 する。図 12は、上述した共振ミラー素子 1を備える画像投射装置 100を示す図である
[0117] 画像投射装置 100は、共振ミラー素子 1と、光源 151と、コリメートレンズ 152と、ダイ クロイツクプリズム 153と、制御部 156と、レーザ変調回路 157と、駆動部 158とを備え る。コリメートレンズ 152およびダイクロイツクプリズム 153は、光源 151が出射した光 ビームを共振ミラー素子 1に導く光学系である。
[0118] 制御部 156は、画像投射装置 100に入力される画像信号 155に応じて、レーザ変 調回路 157および駆動部 158の動作を制御する。駆動部 158は共振ミラー素子 1を 駆動する。レーザ変調回路 157は画像信号 155に応じた変調信号を生成し、 3つの 光源 151は、変調信号に応じて、赤色 (R)、緑色(G)、青色(B)の光ビーム 159を出 射する。光ビーム 159は、コリメートレンズ 152で略平行光束となり、ダイクロイツクプリ ズム 153によって合波され、共振ミラー素子 1に入射される。共振ミラー素子 1に入射 して反射する光ビーム 159は、共振ミラー素子 1によって 2次元に走査され、開口部 1 54から出射され投射領域 160に画像を表示する。
産業上の利用可能性
本発明は、ミラー素子を用いて光の進行方向を変更する技術分野で特に有用であ る。例えば、レーザプリンタ等に用いられる光走査装置、バーコードリーダー等の読 み取り装置、レーザプロジェクタなどに有用である。

Claims

請求の範囲
可動部と、
前記可動部を支持する固定部と
を備え、
前記可動部は、
第 1電圧が供給される第 1導電部と、
第 2電圧が供給される第 2導電部と、
前記第 1導電部と前記第 2導電部とを電気的に絶縁した状態で相互に固定する裏 打ち部と
を備え、
前記第 2導電部と前記裏打ち部とは電気的に接続されている、ァクチユエータ。 前記可動部は、第 1可動部と、前記第 1可動部を支持する第 2可動部とを含み、 前記固定部は、前記第 2可動部を支持し、
前記第 2可動部は、前記第 1および第 2導電部を備え、
前記第 1導電部を介して前記第 1可動部に前記第 1電圧を供給する、請求項 1に記 載のァクチユエータ。
前記第 2可動部は、前記第 2導電部および前記裏打ち部に形成された櫛型電極を さらに備える、請求項 2に記載のァクチユエータ。
前記裏打ち部の厚さは、前記固定部の厚さよりも薄い、請求項 3に記載のァクチュ エータ。
前記第 1可動部は、光を反射するミラー部を備え、
前記裏打ち部は、前記ァクチユエータの前記ミラー部が設けられた面とは反対側の 面から前記第 1導電部と前記第 2導電部とを固定している、請求項 2に記載のァクチ ユエータ。
前記第 1および第 2可動部は、絶縁層を介して第 1および第 2シリコン層を接合した S OIウェハの前記第 1シリコン層をエッチングして形成されており、
前記裏打ち部は、前記第 2シリコン層をエッチングして形成されている、請求項 2に 記載のァクチユエータ。 [7] 前記第 2可動部の前記第 1導電部と前記第 2導電部との間に形成された溝によって 、前記第 1導電部と前記第 2導電部とは電気的に絶縁されている、請求項 2に記載の ァクチユエータ。
[8] 前記第 2可動部の前記溝に対して点対称な位置にダミー溝が形成されている、請 求項 7に記載のァクチユエータ。
[9] 前記第 1可動部は、前記第 2可動部に対して前記第 1可動部を相対的に変位させ る駆動力を発生する第 1および第 2櫛型電極を備え、
前記第 1櫛型電極は、前記第 1可動部の回動軸と垂直な方向へ延びており、 前記第 2櫛型電極は、前記第 1可動部の回動軸と平行な方向へ延びており、 前記第 2可動部は、前記固定部に対して前記第 2可動部を相対的に変位させる駆 動力を発生する第 3および第 4櫛型電極を備え、
前記第 3櫛型電極は、前記第 2可動部の回動軸と垂直な方向へ延びており、 前記第 4櫛型電極は、前記第 2可動部の回動軸と平行な方向へ延びている、請求 項 2に記載のァクチユエータ。
[10] 請求項 1に記載のァクチユエータを備えた画像投射装置であって、
前記画像投射装置は、
光ビームを出射する光源と、
前記光ビームを前記ァクチユエータへ導く光学系と、
前記ァクチユエータを駆動する駆動部と
を備えた、画像投射装置。
[11] 請求項 1に記載のァクチユエータの製造方法であって、
前記製造方法は、
絶縁層を介して第 1および第 2シリコン層を接合した SOIウェハの前記第 1シリコン 層をエッチングして前記第 1および第 2可動部を形成するステップと、
前記第 2シリコン層をエッチングして前記裏打ち部を形成するステップと、 前記第 2可動部の前記第 1シリコン層から形成された所定の部分と前記裏打ち部と を電気的に接続するステップと
を包含する、製造方法。 [12] 前記裏打ち部を形成するステップは、前記第 1シリコン層をエッチングするときに用 V、るマスクを用いて前記第 2シリコン層をエッチングするステップを含む、請求項 11に 記載の製造方法。
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