WO2006104112A1

WO2006104112A1 - シャッター制御装置及びディスク装置、並びにディスク挟み込み判定用コンピュータプログラム

Info

Publication number: WO2006104112A1
Application number: PCT/JP2006/306190
Authority: WO
Inventors: Hiroyuki Matsumoto; Takeshi Matsumoto; Katsunori Tamamura; Takao Yoshida; Fumito Inaba; Makoto Ikehata
Original assignee: Pioneer Corporation
Priority date: 2005-03-28
Filing date: 2006-03-27
Publication date: 2006-10-05
Also published as: JPWO2006104112A1; US20090037943A1; US7877762B2; JP4291864B2

Abstract

　ディスク挿入口にシャッターを備えるディスク装置において、シャッターがディスクを挟み込んだ状態を確実に判定することを課題とする。このディスク挟み込み判定は、ディスク挿入口を開閉するシャッターを備えるディスク装置において、前記シャッターを閉じる際に用いる。ディスク装置のシャッターが閉じる過程において、前記シャッターの位置を検出する。そして、所定の式で定義されるシャッター位置指標ＨCを算出して（ステップＳ２０１）、これを第１のシャッター位置指標ＨCとする。そして、第１のシャッター位置指標ＨCと、これを算出する前に算出した第２のシャッター位置指標ＨC-1との差と、所定の閾値αとを比較して（ステップＳ２０３）、シャッターにディスクが挟まれているか否かを判定する。

Description

明細書

シャッター制御装置及びディスク装置、並びにディスク挟み込み判定用コンピュータプログラム

技術分野

[0001] 本発明は、筐体内に機器類が配置されたディスク装置に関する。

背景技術

[0002] 光ディスク等の再生や光ディスク等に記録'再生するためのディスク装置は、近年における画像や音声の記録 Z再生装置やコンピュータ等の普及によって、広く用いられるようになってきている。例えば、特許文献 1には、ディスク挿入口にシャッターを備えたディスク装置が開示されて!ヽる。

[0003] 特許文献 1：特開 2001— 101744号公報

発明の開示

発明が解決しょうとする課題

[0004] ところで、例えばユーザーの誤操作等が原因でシャッターにディスクを挟み込んだ場合、ディスクを傷付けたり、シャッターの開閉機構に過負荷を与えたりするので、デイスクをシャッターに挟み込んだ場合は、これを確実に検出して、シャッターの閉動作を中止する必要がある。特許文献 1に開示されているディスク装置は、この点について開示されておらず、ディスクをシャッターに挟み込んだ場合の検出には改善の余地がある。

[0005] そこで、本発明は、上述した課題をその一例として解決するものであって、ディスク挿入口にシャッターを備えるディスク装置において、シャッターがディスクを挟み込んだ状態を確実に判定できるシャッター制御装置及びディスク装置、並びにディスク挟み込み判定用コンピュータプログラムを提供することを目的とする。

課題を解決するための手段

[0006] 請求項 1に記載の発明は、ディスクを回転させるディスク駆動部へ前記ディスクを挿入するためのディスク揷入口を開閉するシャッターを制御するものであり、式（1)によつて定義されるシャッター位置指標を計算する演算部と、前記演算部によって計算された前記シャッター位置指標を格納する記憶部と、前記演算部によって計算された第 1のシャッター位置指標と、前記記憶部に格納されている、第 1のシャッター位置指標以前に計算された第 2のシャッター位置指標とに基づいて、前記シャッターに前記ディスクが挟まれてヽるか否かを判定する挟み込み判定部と、を含むことを特徴とするシャッター制御装置である。

式（1)：シャッター位置指標 = {前回のシャッター位置指標 X (シャッター位置指標計算回数 1) +今回のシャッターの位置 }Zシャッター位置指標計算回数

[0007] 請求項 8に記載の発明は、ディスクを回転させるディスク駆動部へ前記ディスクを挿入するためのディスク揷入口を開閉するシャッターを備えるディスク装置において、前記シャッターを閉じるにあたり、前記シャッターが閉じる過程において、前記シャツタ一の位置を検出する手順と、式 (1)で定義されるシャッター位置指標を算出し、これを第 1のシャッター位置指標とする手順と、算出した前記第 1のシャッター位置指標と、前記第 1のシャッター位置指標よりも前に算出した第 2のシャッター位置指標とに基づいて、前記シャッターに前記ディスクが挟まれているか否かを判定する手順と、を含むことを特徴とするディスク挟み込み判定用コンピュータプログラムである。

式（1)：シャッター位置指標 = {前回のシャッター位置指標 X (シャッター位置指標計算回数 1) +今回のシャッターの位置 }Zシャッター位置指標計算回数図面の簡単な説明

[0008] [図 1]図 1は、この実施の形態に係るディスク装置を示す概略図である。

[図 2]図 2は、この実施の形態に係るシャッター制御装置の構成例を示す説明図である。

[図 3]図 3は、この実施の形態に係るシャッター開閉制御の手順例を示すフローチヤートである。

[図 4]図 4は、シャッターを閉じる過程におけるロータリーエンコーダの出力の時間変化を示す説明図である。

[図 5]図 5は、閾値決定に用いる閾値決定マップの一例を示す説明図である。

[図 6]図 6は、この実施の形態に係るディスクの挟み込み判定方法の手順を示すフロ一チャートである。 [図 7]図 7は、シャッターを閉じる過程におけるシャッター位置指標の時間変化を示す説明図である。

[図 8]図 8は、この実施の形態の変形例に係るシャッター開閉制御の手順例を示すフローチャートである。

[図 9]図 9は、閾値決定に用いる閾値決定マップの一例を示す説明図である。

[図 10]図 10は、この変形例に係るディスクの挟み込み判定方法の処理手順を示すフローチャートである。

[図 11]図 11は、シャッターを閉じる過程におけるシャッター位置指標の時間変化を示す説明図である。

[図 12]図 12は、この変形例に係るディスクの挟み込み判定方法の処理手順を示すフローチャートである。

[図 13]図 13は、シャッターを閉じる過程におけるシャッター位置指標の時間変化を示す説明図である。

[図 14]図 14は、シャッターの駆動タイミングを示すタイミングチャートである。

符号の説明

1 ディスク装置

2 筐体

3 ディスク駆動部

4 ディスク搬送装置

5 モーター

5D モータードライバ

6 シャッター

8 ディスク

9 ディスク挿入 PI

10 シャッター制御装置

11 CPU

12 記憶部

13 カウンタ 13 計算用カウンタ

1

13 判定用カウンタ

2

14 挟み込み判定部

15 感度変更部

16 演算部

20 ロータリーエンコーダ

21 温度センサ

30、 31 閾値決定マップ

発明を実施するための最良の形態

[0010] 以下、この発明につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、この発明を実施するための最良の形態によりこの発明が限定されるものではない。また、以下に説明する実施の形態における構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、あるいは実質的に同一のものが含まれる。また、本発明はディスク挿入口に自動で開閉するシャッターを備えるディスク装置であれば適用でき、ディスクの種類は問わな!/、。

[0011] (実施の形態）

実施の形態に係るディスク装置は、ディスク挿入口に自動で開閉するシャッターを備えるディスク装置であり、シャッターが閉じる過程におけるシャッターの位置に基づき、前記シャッターに前記ディスクが挟まれているか否かを判定する。そして、前記シャッターの動き易さを規定するシャッター動作パラメータによって、前記判定の感度を変更する点に特徴がある。

[0012] 図 1は、この実施の形態に係るディスク装置を示す概略図である。このディスク装置 1は、筐体 2の内部にディスク駆動部 3を備える。筐体 2には、ディスク挿入口 9が設けられており、ディスク 8をディスク揷入口 9から筐体 2内へ挿入する。すると、ディスク 8 は、ディスク搬送装置 4によってディスク駆動部 3まで搬送される。

[0013] ディスク揷入口 9は、シャッター 6が矢印 S方向へ動作することにより開閉される。シャッター 6は、ディスク 8の誤挿入を防ぐために設けられる。シャッター 6は、シャッター駆動手段であるモーター 5が、伝達ギヤ 7a、 7bを介して駆動する。モーター 5、伝達ギヤ 7a、 7b等が、シャッター駆動機構を構成する。 [0014] シャッター 6の位置は、伝達ギヤ 7aに設けられる位置検出手段によって検出される。この実施の形態において、位置検出手段には、例えばロータリーエンコーダ 20が用いられる。また、筐体 2内のシャッター駆動機構近傍には温度センサ 21が設けられており、これによつてシャッター駆動機構近傍の温度を測定する。筐体 2内にはシャツター制御装置 10が備えられている。シャッター制御装置 10は、ロータリーエンコーダ 20、温度センサ 21から取得した情報に基づいてモーター 5を駆動して、シャッター 6 を開閉する。次に、シャッター制御装置 10について説明する。

[0015] 図 2は、この実施の形態に係るシャッター制御装置の構成例を示す説明図である。

図 2に示すように、シャッター制御手段であるシャッター制御装置 10は、 CPU (Centr al Processing Unit:中央演算装置） 11と、記憶部 12と、入力及び出力ポート 171、 1 70と、カウンタ 13と、これらを接続するバス 18とを含んで構成される。

[0016] シャッター制御装置 10は、挟み込み判定部 14と、感度変更部 15と、演算部 16とを含んで構成される。これらが、この実施の形態に係る制御を実行する部分となる。この実施の形態において、挟み込み判定部 14と、感度変更部 15と、演算部 16とは、シャッター制御装置 10を構成する CPU11の一部として構成される。

[0017] CPU11と記憶部 12とカウンタ 13とは、バス 18、入力ポート 171及び出力ポート 17 Oを介して接続される。これにより、シャッター制御装置 10を構成する挟み込み判定部 14と、感度変更部 15と、演算部 16とは、相互に制御データをやり取りしたり、一方に命令を出したりできるようになつている。

[0018] 入力ポート 171には、入力インターフェイス 191が接続されている。入力インターフエイス 191には、ロータリーエンコーダ 20、温度センサ 21その他の、シャッター 6の開閉制御に必要な情報を取得するセンサ類が接続されている。これらのセンサ類から出力される信号は、入力インターフェイス 191内の AZDコンバータ 25aやディジタルバッファ 25bにより、 CPU11が利用できる信号に変換されて入力ポート 171へ送られる。これにより、 CPU11は、この実施の形態に係るシャッター 6の開閉制御に必要な情報を取得することができる。

[0019] 出力ポート 170には、出力インターフェイス 190が接続されている。出力インターフェイス 190には、モーター 5を駆動するモータードライバ 5Dが接続されている。出力インターフェイス 190は、制御回路 26a、 26b等を備えており、 CPU11で演算された制御信号に基づき、前記制御対象を動作させる。このような構成により、前記センサ類からの検出信号に基づき、この実施の形態に係るシャッター制御装置 10は、この実施の形態に係るシャッター開閉制御を実行することができる。

[0020] 記憶部 12には、この実施の形態に係るシャッター開閉制御の処理手順を含むコンピュータプログラムや制御マップ等が格納されている。ここで、記憶部 12は、 RAM (R andom Access Memory)のような揮発性のメモリ、フラッシュメモリ等の不揮発性のメモリ、あるいはこれらの組み合わせにより構成することができる。

[0021] 上記コンピュータプログラムは、 CPU11へすでに記録されているコンピュータプログラムと組み合わせによって、この実施の形態に係るシャッター開閉制御の処理手順を実現できるものであってもよい。また、このシャッター制御装置 10は、前記コンビュータプログラムの代わりに専用のハードウェアを用いて、挟み込み判定部 14、感度変更部 15及び演算部 16の機能を実現するものであってもよい。次に、このシャッター制御装置 10を用いて、この実施の形態に係るシャッター 6の開閉を制御する手順を説明する。なお、次の説明にあたっては、適宜図 1、図 2を参照されたい。

[0022] 図 3は、この実施の形態に係るシャッター開閉制御の手順例を示すフローチャートである。図 4は、シャッターを閉じる過程におけるロータリーエンコーダの出力の時間変化を示す説明図である。図 5は、閾値決定に用いる閾値決定マップの一例を示す説明図である。シャッター制御装置 10が備える挟み込み判定部 14は、挟み込み検知数 mを 0にリセットする（ステップ S 101)。ここで、挟み込み検知数 mは、シャッター制御装置 10が、シャッター 6にディスク 8が挟まれた場合を検出した回数である。挟み込み検知数 mは、シャッター制御装置 10の記憶部 12へ格納される。

[0023] 図 4に示すように、シャッター 6が閉じている過程においては、ロータリーエンコーダ 20の出力を換算したシャッター移動量 Pは、時間 tの経過とともに一定の割合で増加する。し力し、シャッター 6がディスク 8を挟んだ場合（図 4の時刻 t )、シャッター 6の動

1

きは停止するので、所定の時間が経過してもロータリーエンコーダ 20の出力は Pの

1 ままは変化しなくなる（図 4の点線)。したがって、例えば、所定の時間が経過しても口一タリーエンコーダ 20の出力が所定の範囲 A内に収まっている場合には、シャッター 6がディスク 8を挟み込んでいると判定することができる。すなわち、シャッター 6が閉じる過程におけるシャッター 6の位置に基づいて、シャッター 6がディスク 8を挟んだか否かを判定できる。

[0024] 演算部 16は、温度センサ 21が検出したシャッター駆動機構の周辺における温度（以下周囲温度) Tを取得し (ステップ S 102)、シャッター 6がディスク 8を挟んだ力否かを判定する際の閾値 αを決定する (ステップ S 103)。ここで、前記閾値を変更することにより、シャッター 6がディスク 8を挟んだ力否かを判定する際の感度を変更すること力 Sできる。図 4に示す例では、前記所定の範囲 Aが閾値となる。この実施の形態において、閾値 αは、図 5に示す閾値決定マップ 30から決定される。図 5に示すように、閾値決定マップ 30は、周囲温度 Τと挟み込み検知数 mとから閾値 ocを決定するように構成される。

[0025] ここで、前記感度を低くすると!/、うことは、シャッター 6がディスク 8を挟んだ状態が検出しに《なることをいい、前記感度を高くするということは、シャッター 6がディスク 8を挟んだ状態が検出し易くなることをいう。この実施の形態においては、シャッター 6の位置の変化量に基づ!/、てシャッター 6がディスク 8を挟んだか否かを判定する。あるシャッター 6の位置の変化量において、前記感度が低い場合にはシャッター 6がデイスク 8を挟んでいないと判定しても、前記感度が高い場合には、同じシャッター 6の位置の変化量であっても、シャッター 6がディスク 8を挟んでいると判定されることになる。

[0026] この実施の形態においては、シャッター 6の動き易さを規定するシャッター動作パラメータとして周囲温度 Tを用いる。シャッター 6の動き易さは、シャッター 6の駆動機構の周囲温度 Tに影響を受けるからである。なお、周囲温度 Tの他に、シャッター 6の駆動機構の周辺における湿度や、モーター 5を駆動するモーター駆動電流等をシャツター動作パラメータとして用いてもょ、。

[0027] 図 5に示す閾値決定マップ 30において、周囲温度は T < T < Τである。そして α

1 2 3 1

< a < a 、 a < a < a である。すなわち、周囲温度 Tが低くなるにしたがって

1 12 13 21 22 23

閾値 αを変更 (この実施の形態では小さく）する。これは、周囲温度 Τが低くなるにしたがって、シャッター 6がディスク 8を挟み込んだ力否かを判定する際の感度を変更（この実施の形態では低く）することを意味する。これは次の理由による。 [0028] シャッター駆動機構の動きは周囲温度に影響を受ける。周囲温度が低いと、例えばシャッター駆動機構が備える伝達ギヤ _7a、 7bに塗布される潤滑油の粘性が上昇し、シャッター駆動機構が動きにくくなることがある。その結果、閾値 αが大きい、すなわち感度が高、と、シャッター駆動機構が動き難くなつたことをディスクの挟み込みであると誤判定する場合がある。このため、周囲温度に応じて閾値 α (すなわち感度)を変更して、シャッター 6がディスク 8を挟み込んだ力否かの判定精度を向上させている

[0029] また、この実施の形態にお!、ては、挟み込み検知数 mが挟み込み数 Μよりも大きヽ場合の閾値 exは、挟み込み検知数 mが挟み込み数 M以下の場合における閾値 ocよりも小さくする。これは、挟み込み検知数 mが所定の値を超えると、シャッター 6がディスク 8を挟み込んだか否かを判定する際の感度を低くすることを意味する。これは次の理由による。

[0030] 何らかの理由により、シャッター駆動機構が動き難くなつた場合、閾値 αが大きい、すなわち感度が高いと、シャッター駆動機構が動き難くなつたことをディスクの挟み込みであると誤判定する場合がある。その結果、ディスク 8がシャッター 6に挟まれていないにも関わらず、シャッター 6を閉じる動作を何回もやり直す (リトライする）ことになり、シャッター 6を閉じる動作が完了するまで余計な時間を要する。

[0031] このため、この実施の形態においては、シャッター 6にディスク 8が挟まれたと判定された回数、すなわち挟み込み検知数 mが、所定の挟み込み数 Mよりも多くなつた場合には、閾値 αを小さくして、すなわちシャッター 6にディスク 8が挟まれたか否かを判定する感度を低下させてリトライする。これによつて、単にシャッター駆動機構が動きに《なった場合の誤判定を回避して、確実にシャッター 6を閉じることができる。通常、ユーザーの誤操作は数多く連続する訳ではないので、挟み込み検知数 mに応じて閾値 α (すなわち感度）を変化させることにより、シャッター 6がディスク 8を挟み込んだ力否かの判定精度を向上させることができる。

[0032] 閾値決定マップ 30は、シャッター制御装置 10の記憶部 12に格納されている。感度変更部 15は、温度センサ 21が検出した周囲温度 Τ及び挟み込み検知数 mを閾値決定マップ 30に与え、閾値決定マップ 30はそれらに対応する閾値 aを感度変更部 15 に返す。これによつて閾値 αが決定される (ステップ S103)。次に挟み込み判定部 1 4は、ロータリーエンコーダ 20によって検出されたシャッター 6の位置を取得して (ステップ S 104)、決定された閾値 α及びシャッター 6の位置から、シャッター 6がディスク 8 を挟み込んだ否かを判定する (ステップ S105)。次に、この判定について説明する。

[0033] この実施の形態においては、上記図 4で説明したように、所定期間におけるロータリ一エンコーダ 20の出力変化、すなわち所定期間におけるシャッター 6の位置の変化量力所定の範囲 A内にある力否かで、ディスク 8の挟み込みが発生した力否かを判定してもよい。しかし、図 4に示すように、位置検出手段であるロータリーエンコーダ 2 0の出力にはノイズがのる。このため、範囲 Aを大きくすると、すなわち感度を高くすると、ディスク 8が挟まれていないにも関わらず、ノイズによってディスク 8がシャッター 6 に挟まれていると誤判定されてしまう場合がある。この場合、シャッター 6を再度閉じなおすリトライ動作に移行するため、シャッター 6を閉じ終わるまでに時間を要してしまつ。

[0034] 一方、範囲 Aを小さくすると、すなわち感度を低くすると、ディスク 8がシャッター 6に挟まれて!/、るにも関わらず、ディスク 8はシャッター 6に挟まれてヽな、と判定されてしまう場合がある。この場合、ディスク 8を傷付けたり、シャッター駆動機構に過負荷を与えたりする。そこで、この実施の形態では、次に説明するディスクの挟み込み判定方法により、確実にディスクの挟み込みを判定できるようにして、る。

[0035] 図 6は、この実施の形態に係るディスクの挟み込み判定方法の手順を示すフローチヤートである。このディスクの挟み込み判定方法は、シャッター 6の平均的な移動量を用い、その変化量によってディスク 8の挟み込みを判定する。これによつて、ノイズの影響を低減して、確実にディスク 8の挟み込みを検出する。シャッター 6の平均的な移動量としては、例えば、移動平均を用いてもよいが、この実施の形態においては、式 (1)で表すシャッター 6の平均的な移動量 (以下シャッター位置指標）を用いる。

[0036] H = {H X (C P

c-i -D + }/C " ' {l)

c c

ここで、 Hは、シャッター位置指標であり、 Pはロータリーエンコーダ 20の出力から求めたシャッター 6の位置（シャッター位置）である。また、 Cは計算用カウント数であり、シャッター位置指標 Hを計算した回数 (シャッター位置指標計算回数)となる。計算用カウント数 Cは、通常、ロータリーエンコーダ 20の出力を取得する回数であり、ロータリーエンコーダ 20の出力のサンプリング回数となる。 H、 Pの添え字 Cは、 C番目におけるシャッター位置指標 H、シャッター移動量 Pであることを示す。

[0037] 式（1)からわ力るように、この実施例におけるシャッター位置指標（第 1のシャッター位置指標) Hは、前回までのシャッター位置指標 (第 2のシャッター位置指標) H に

C C-1

、前回までのカウント数 (C—1)を乗じた値と、今回のシャッター移動量 Pとを加算し

C

た値を、今回の計算用カウント数 cで除した値である。前回までのシャッター位置指標 H は、シャッター制御装置 10の記憶部 12に格納される。また、計算用カウント数

C-1

Cは、カウンタ 13の計算用カウンタ 13 (図 2参照）の値である。

1

[0038] シャッター 6の平均的な移動量として、例えば移動平均を用いると、移動平均の計算にあたっては、移動平均の計算に用いるシャッター移動量を、必要な数だけ記憶部 12に格納する必要がある。このため、記憶部 12の容量に制限がある場合には、記憶部 12を有効に使用できない。しかし、この実施の形態に係るディスクの挟み込み判定方法では、式（1)で定義されるシャッター位置指標 Hを用いるので、シャッター位置指標 Hの計算にあたっては、記憶部 12に前回のシャッター位置指標 H のみを

C-1 格納しておけばよい。このため、例えば移動平均を用いる場合と比較して、記憶部 1 2に格納するデータ量は少なくて済む。

[0039] 例えば、移動平均の計算に 10個のシャッター移動量 Pを要する場合、この実施の形態に係るシャッター位置指標 Hの計算にあたっては、前回のシャッター位置指標 H のみでよい。これによつて、この実施の形態に係るディスクの挟み込み判定方法で

C-1

は、記憶部 12の使用量を低減して、これを有効活用できる。特に、コスト等の観点から、記憶部 12の容量が限られる場合に好ましい。

[0040] この実施の形態に係るディスクの挟み込み判定方法を実行するにあたって、挟み込み判定部 14は、取得したロータリーエンコーダ 20の出力を、シャッター制御装置 1 0が備える感度変更部 15に与える。感度変更部 15は、取得したロータリーェンコ一ダ 20の出力を、シャッター移動量に変換し、式（1)に基づき、計算用カウント数じにおけるシャッター位置指標 Hを計算する (ステップ S201)。なお、計算用カウント数 C

C

は、挟み込み検知数 mを 0にリセットするときに（図 3のステップ S101)、 C= lにセットされる。すなわち、計算用カウンタ 13 (図 2参照)の初期値を 1にセットする。

1

[0041] 例えば、計算用カウント数 C=lのとき、 H = {H X (1— 1) +P

1 0 1 }Zl = Pとなる。ま

1 た、計算用カウント数 C= 10のとき、 H = {H X (10

10 10 -D +P }/10= (9 X H +

10 10

P ) Z10となる。感度変更部 15がシャッター位置指標 Hを計算したら (ステップ S 20

10 C

1)、感度変更部 15は、計算用カウンタ 13の計数値を 1増力！]させる。すなわち、現在

1

の計算用カウント数 Cに 1を加算した値を、新たな計算用カウント数 Cとする (ステップ S202)。なお、計算用カウント数 Cは、記憶部 12に格納してもよい。

[0042] 次に、感度変更部 15は、計算した今回のシャッター位置指標 Hと、前回のシャツタ

C

一位置指標 H との差 Δ Hを計算し、これを挟み込み判定部 14に返す。そして、感

C-1

度変更部 15は、計算した今回のシャッター位置指標 Hを前回のシャッター位置指

C

標 H の代わりに、記憶部 12へ格納する。挟み込み判定部 14は、感度変更部 15か

C-1

ら受け取った Δ Η=Η — Η を、ステップ S 103 (図 3参照）で決定した閾値 _αと比較

C C-1

する（ステップ S 203)。

[0043] Η — Η 〉 αである場合 (ステップ S203 :Yes)、ディスク 8はシャッター 6に挟まれ

C C-1

ていないと判定する（ステップ S204)。一方、 H — H ≤ひである場合 (ステップ S 2

C C-1

03 : No)、ディスク 8はシャッター 6に挟まれたと判定する（ステップ S205)。この判定について説明する。

[0044] 図 7は、シャッターを閉じる過程におけるシャッター位置指標の時間変化を示す説明図である。なお、シャッター位置指標 H、時刻 tの添え字は、上記計算用カウント数 Cを表すものとする。シャッター 6が閉じると時間 tの経過とともにロータリーエンコーダ 20の出力は大きくなり、シャッター移動量 Pもそれにともなって大きくなる。したがって、式（1)からわ力るように、シャッター 6が閉じると、時間 tの経過とともにシャッター位置指標 Hも上昇する（図 7)。

[0045] シャッター 6の移動速度は略一定なので、単位時間 Δ tにおけるシャッター移動量 P も略一定になる。そして、シャッター 6が閉じる過程においては、シャッター位置指標 Hは時間 tに比例して増加する（図 7)。したがって、単位時間 A tにおけるシャッター位置指標 Hの変化が、予め定めた所定の閾値 αよりも大きい場合には、シャッター 6 はディスク 8を挟み込むことなく正常に移動していると判定できる。 [0046] いま、時間 tでディスク 8がシャッター 6に挟まれたとする。時刻 t におけるシャツタ

X X+1

一位置指標 H は、式（1)から、 {H X (X+ 1 - 1) +P }/ (Χ+ 1) = (ΧΧ Η

X+1 X+1 X+1 X+1

+p ) Z (x+ i)となる。ここで、時刻 t におけるシャッター移動量 P は、略 0にな

X+1 X+1 X+1 るので、 H -H < αとなり、シャッター位置指標 Ηと閾値とを用いれば、ディスク

X+1 X

8がシャッター 6に挟まれた力否かを判定することができる。

[0047] ここで、図 3に戻って説明する。挟み込み判定部 14による判定の結果 (ステップ S1 05)、ディスク 8の挟み込みが発生して!/ヽな、場合は (ステップ S 106： No)、挟み込み判定部 14は、シャッター 6が完全に閉じた力否かを判定する (ステップ S112)。シャッター 6が完全に閉じた場合には、このシャッター駆動制御は終了する (ステップ S 112 :Yes)。シャッター 6が完全に閉じていない場合 (ステップ S I 12 : No)、シャツタ一 6が完全に閉じるまでステップ S 102〜ステップ S106を繰り返す。

[0048] ディスク 8の挟み込みが発生した場合は (ステップ S 106： Yes)、挟み込み判定部 1 4はシャッター 6を停止させ (ステップ S107)、挟み込み検知数 mに 1を加算する (ステップ S 108)。これにより、挟み込み検知数 mによって、ディスク 8がシャッター 6に 1回挟まれたことを表す。次に、挟み込み判定部 14は、予め規定した最大挟み込み数 M と挟み込み検知数 mとを比較する (ステップ S 109)

max 。

[0049] その結果、挟み込み検知数 mが最大挟み込み数 M 以下である場合には (ステツ max

プ S 109 : No)、シャッター 6を初期位置（全開位置）に戻して、再度シャッター 6を閉じる（リトライ:ステップ S l l l)。そして、ステップ S 102からの手順を繰り返す。挟み込み検知数 mが最大挟み込み数 M よりも大きい場合 (ステップ S 109 : Yes)、挟み込 max

み判定部 14は、シャッター駆動機構に何らかの異常が発生していると判定して、エラ一信号を発信し (ステップ S 110)、このシャッター駆動制御を終了する。

[0050] (変形例）

次に、この実施の形態に係るシャッター駆動制御の変形例について説明する。この変形例に係るシャッター駆動制御は、上記実施の形態に係るシャッター駆動制御と略同様であるが、挟み込み数の回数に応じて閾値を変更する手順が異なる。他は上記実施の形態と同様である。なお、この変形例に係るシャッター開閉制御は、上記実施の形態で説明したシャッター制御装置 10により実現できる。 [0051] 図 8は、この実施の形態の変形例に係るシャッター開閉制御の手順例を示すフローチャートである。図 9は、閾値決定に用いる閾値決定マップの一例を示す説明図である。この変形例に係るシャッター開閉制御におけるステップ S 101 '及びステップ S 10 2'は、上記実施の形態のステップ S 101及びステップ S102と同様である。演算部 16 力シャッター 6がディスク 8を挟み込んだか否かを判定する際の閾値 aを決定するにあたり（ステップ S103')、この変形例では、図 9に示す閾値決定マップ 31を用いる

[0052] 図 9に示すように、閾値決定マップ 31は、周囲温度 Tから閾値 αを決定するように構成される。図 9に示す閾値決定マップ 31において、周囲温度は Τ <Τ <Τである

1 2 3

。そして α < α < αである。すなわち、周囲温度 Τが低くなるにしたがって閾値 α

1 2 3

を小さくする。これは、周囲温度 Τが低くなるにしたがって、シャッター 6がディスク 8を挟み込んだ力否かを判定する際の感度を低くすることを意味する。この理由は、上記実施の形態で説明した通りである。

[0053] 閾値 aを決定 (ステップ S 103')した後におけるステップ S 104'〜ステップ S 108'は、上記実施の形態のステップ S104〜ステップ S 108と同様である。挟み込み判定部 14が挟み込み検知数 mに 1を加算したら (ステップ S108')、予め規定した挟み込み数 Mと加算後の挟み込み検知数 mとを比較する (ステップ S 109')。

[0054] その結果、挟み込み検知数 mが挟み込み数 M以下である場合には (ステップ S 10 9'： No)、シャッター 6を初期位置（全開位置）に戻して、再度シャッター 6を閉じる（リトライ:ステップ S 112')。そして、ステップ S102'からの手順を繰り返す。挟み込み検知数 mが挟み込み数 Mよりも大きい場合には (ステップ S 109' : Yes)、感度変更部 15 は、閾値 αを変更する（ステップ S 110')。この例では、現在の閾値ひに、予め定めた閾値変更量 Δ aを減算した値（ α— Δ α )を、新たな閾値とする (ステップ S110')。これによつて、シャッター 6にディスク 8が挟まれた力否かを判定する感度が低くなるので、単にシャッター駆動機構が動きに《なった場合の誤判定を回避して、確実にシャッター 6を閉じることができる。

[0055] 次に、挟み込み判定部 14は、予め規定した最大挟み込み数 Μ と挟み込み検知 max

数 mとを比較する (ステップ Sl l l')。その結果、挟み込み検知数 mが最大挟み込み数 M 以下である場合には (ステップ Si l l' :No)リトライして (ステップ SI 12')、ステ max

ップ S102 'からの手順を繰り返す。挟み込み検知数 mが最大挟み込み数 M よりも max 大きい場合 (ステップ SI 11' : Yes)、挟み込み判定部 14は、シャッター駆動機構に何らかの異常が発生していると判定して、エラー信号を発信し (ステップ S 114')、このシャッター駆動制御を終了する。

[0056] (ディスクの挟み込み判定方法の第 1変形例）

次に、ディスクの挟み込み判定方法の第 1変形例について説明する。この変形例に係るディスクの挟み込み判定方法は、上記実施の形態に係るディスクの挟み込み判定方法と略同様である力シャッターが閉じ始めて力所定の期間は挟み込みを判定せず、シャッター位置指標が安定してから挟み込みを判定する点が異なる。他の構成は、上記実施の形態と同様である。なお、この変形例に係るディスクの挟み込み判定方法は、上記実施の形態で説明したシャッター制御装置 10により実現できる。

[0057] 図 10は、この変形例に係るディスクの挟み込み判定方法の処理手順を示すフローチャートである。図 11は、シャッターを閉じる過程におけるシャッター位置指標の時間変化を示す説明図である。この変形例に係るディスクの挟み込み判定方法のステツプ S301、ステップ S302は、上記実施の形態に係るディスクの挟み込み判定方法のステップ S201、ステップ S202と同様である。

[0058] ステップ S303において、演算部 16は、現在の計算用カウント数 Cと予め定めた所定のマスクカウント数 Cmとを比較する。現在の計算用カウント数 C力マスクカウント数 Cm以下である場合には（ステップ S303 :No、図 11)、ステップ S301、ステップ S3 02を繰り返す。これにより、シャッターが閉じ始めて力所定の期間においては、シャッター位置指標 Hが安定するまでデータを蓄積する。

[0059] 現在の計算用カウント数 C力マスクカウント数 Cmよりも大き、場合には (ステップ S 303 : Yes,図 11)、感度変更部 15は、計算した今回のシャッター位置指標 Hと、前

C

回のシャッター位置指標 H との差 Δ Hを計算し、これを挟み込み判定部 14に返す

C-1

。そして、感度変更部 15は、計算した今回のシャッター位置指標 Hを前回のシャツタ

C

一位置指標 H の代わりに、記憶部 12へ格納する。

C-1

[0060] ステップ S304〜ステップ S306は、上記実施の形態におけるステップ S203〜ステップ S 205と同様である。この変形例のようにすれば、シャッター位置指標 Hが安定するまでデータを蓄積してから挟み込みを判定するので、シャッター 6がディスク 8を挟み込んだ力否かの判定精度をより向上させることができる。

[0061] (ディスクの挟み込み判定方法の第 2変形例）

次に、ディスクの挟み込み判定方法の第 2変形例について説明する。この変形例に係るディスクの挟み込み判定方法は、上記実施の形態に係るディスクの挟み込み判定方法と略同様であるが、シャッター位置指標を計算する度にディスク挟み込みの判定をするのではなぐ所定回数シャッター位置指標を算出する毎にディスクがシャツタ一に挟まれたカゝ否かの判定をする点が異なる。他の構成は、上記実施の形態と同様である。なお、この変形例に係るディスクの挟み込み判定方法は、上記実施の形態で説明したシャッター制御装置 10により実現できる。

[0062] 図 12は、この変形例に係るディスクの挟み込み判定方法の処理手順を示すフローチャートである。図 13は、シャッターを閉じる過程におけるシャッター位置指標の時間変化を示す説明図である。図 14は、シャッターの駆動タイミングを示すタイミングチヤートである。この変形例に係るディスクの挟み込み判定方法のステップ S401、ステツプ S402は、上記実施の形態に係るディスクの挟み込み判定方法のステップ S 201、ステップ S202と同様である。

[0063] ステップ S403において、演算部 16は、現在の挟み込み判定用カウント数 Kに 1を加算した値を、新たな挟み込み判定用カウント数 Kとする。この挟み込み判定用カウント数 Kを計数するため、シャッター制御装置 10のカウンタ 13に備えられる挟み込み判定用カウンタ 13を用いる。なお、判定用カウント数 Kは、挟み込み検知数 mを 0に

2

リセットするときに（図 3のステップ S101)、K= 1にセットされている。すなわち、挟み込み判定用カウンタ 13 (図 2参照）の初期値が 1にセットされる。

2

[0064] 演算部 16は、新たな挟み込み判定用カウント数 Kと、待機カウント数 Kとを比較する（ステップ S404)。 K<Kの場合 (ステップ S404 ;No)、演算部 16は、 K=Kになるまで、計算用カウント数 C及び挟み込み判定用カウント数 Κを計数する。なお、判定用カウント数 Κの計数値は、記憶部 12に格納してもよい。 Κ=Κの場合 (ステップ S4 04 : Yes)、演算部 16は、判定用カウント数 Kを 1にリセットする（ステップ S405)。 [0065] 次に、演算部 16は、計算した今回のシャッター位置指標 Hと、前回の挟み込み判

C

定に用いたシャッター位置指標のうち新、方のシャッター位置指標 H との差

C-(Ki-l)

Δ Ηを計算し、これを挟み込み判定部 14に返す。そして、感度変更部 15は、計算した今回のシャッター位置指標 Hを、前回の挟み込み判定で用いた前記シャッター位

C

置指標 H の代わりに、記憶部 12へ格納する。ステップ S406〜ステップ S408は

C-(Ki-l)

、上記実施の形態におけるステップ S203〜ステップ S205と同様である。なお、この変形例においては、今回のシャッター位置指標 Hを計算するために用いる前回のシ

C

ャッター位置指標 H の他に、挟み込み判定で用いる、前回の挟み込み判定で用い

C-1

た前記シャッター位置指標 H を記憶部 12に格納する必要がある。しかし、移動

C-(Ki-l)

平均を用ヽる場合と比較すると、記憶部 12の使用量は極めて少な、。

[0066] 単位時間あたりにおけるシャッター 6の移動量が小さ!/、ため、単位時間あたりにおけるシャッター位置指標 Hの変化が小さい場合には、シャッター位置指標を算出する毎に挟み込みの判定をする場合、閾値 αを小さぐすなわち判定の感度を低く設定しないとディスク 8がシャッター 6に挟まれていないにも関わらず、ディスク 8の挟み込みが発生したと判定されるおそれがある。しかし、閾値 αを小さくすると、ノイズ等の影響を受けやすぐ挟み込みの判定ができなくなるおそれが高くなる。しかし、この変形例のようにすれば、シャッター位置指標を算出する毎に挟み込みの判定をする必要はなくなる。その結果、閾値 αをある程度大きぐすなわち判定の感度をある程度高く設定しても、挟み込みが発生した力否かを判定できる。これによつて、挟み込みの判定精度が向上するので、確実に挟み込みを判定できる。

[0067] また、図 13に示すように、シャッター 6が移動、停止を繰り返すことにより間欠的に移動する場合がある。このような場合、シャッター位置指標 Ηは、シャッター 6の移動にともなって階段状に変化する（図 13)。図 13に示す例では、図 14に示すように、単位時間 A t毎にモーター 5の駆動信号 Dが A tだけ流れるが、この信号が発生してい

1

るときにのみモーター 5が回転してシャッター 6が移動する。これにより、図 13に示す例では、単位時間 A t毎に、シャッター 6が所定量ずつ閉じる。

[0068] このように、シャッター 6が間欠的に移動する場合、単位時間 A tにおいて、モータ一 5に駆動信号 Dが流れていない時間（ A t— A t )においては、シャッター 6は移動してヽな、。シャッター 6が移動して!/ヽな、と、シャッター位置指標 Hが閾値 aよりも小さくなつて、ディスク 8がシャッター 6に挟まれていないにも関わらず、ディスク 8の挟み込みが発生したと判定されるおそれがある。

[0069] この変形例において、シャッター 6の移動があつたとき（例えば、モーター 5に駆動信号 Dが流れたとき）に挟み込みの判定をし、シャッター 6が移動していないときには挟み込みの判定を休止する。このようにすれば、シャッター位置指標 Hの変化があつたときに挟み込みを判定するので、ディスク挟み込みの判定精度が向上し、確実に挟み込みを判定できる。

[0070] なお、間欠的にシャッター 6が移動するときにおいて、シャッター位置指標を計算する度にディスク挟み込みの判定をしてもよい。この場合、今回のシャッター位置指標 Hと、前回のシャッター位置指標 H との差 Δ Ηが、閾値 αよりも小さくなる回数が、

C C-1

所定回数連続した場合に、ディスク挟み込みが発生したと判定することが好ま、。連続する所定回数は、例えば、シャッター 6が 2回間欠移動する期間に相当する、シャッター位置指標の計算回数とすることができる。このようにすれば、シャッター位置指標を計算する度にディスク挟み込みの判定をする場合でも、ディスク挟み込みの判定精度を向上させることができる。

[0071] 以上、この実施の形態及びその変形例では、シャッターが閉じる過程における前記シャッターの位置に基づ、て、前記シャッターに前記ディスクが挟まれて、るか否かを判定し、かつ、前記シャッターの動き易さを規定するシャッター動作パラメータによつて、前記判定の感度を変更する。これによつて、シャッター駆動機構の周囲温度等の変化によって、シャッター駆動機構の動き易さに変化があった場合でも、シャッターがディスクを挟み込んだ状態を確実に判定できる。

[0072] また、この実施の形態及びその変形例では、所定の式により定義されるシャッター位置指標を用いて、シャッターに前記ディスクが挟まれている力否かを判定する。これによって、シャッターの位置を検出するロータリーエンコーダ等の出力力ィズの影響を受けている場合でも、力かる影響を極小にして、シャッターがディスクを挟み込んだ状態を確実に判定できる。なお、この実施の形態やその変形例と同様の構成を備えるものは、実施の形態やその変形例と同様の作用、効果を発揮する。産業上の利用可能性

以上のように、本発明に係るシャッター制御装置及びディスク装置、並びにディスク挟み込み判定用コンピュータプログラムは、筐体内に機器類が配置されたディスク装置に有用であり、特に、シャッターがディスクを挟み込んだ状態を判定することに適している。

Claims

請求の範囲

[1] ディスク（8)を回転させるディスク駆動部（3)へ前記ディスク（8)を挿入するためのディスク挿入口（9)を開閉するシャッター（6)を制御するものであり、

式 (1)によって定義されるシャッター位置指標を計算する演算部（16)と、前記演算部（16)によって計算された前記シャッター位置指標を格納する記憶部（ 12)と、

前記演算部（16)によって計算された第 1のシャッター位置指標と、前記記憶部（12 )に格納されている、第 1のシャッター位置指標以前に計算された第 2のシャッター位置指標とに基づ、て、前記シャッターに前記ディスクが挟まれて、る力否かを判定する挟み込み判定部（14)と、

を含むことを特徴とするシャッター制御装置。

[2] 前記シャッター（6)が閉じ始めて力も所定の期間が経過するまでは、前記演算部（

16)が、前記シャッター位置指標の計算のみを実行し、

前記挟み込み判定部（14)は、前記所定の期間が経過してから、前記シャッター（6

)が前記ディスク（8)を挟み込んだ力否かを判定することを特徴とする請求項 1に記載のシャッター制御装置。

[3] 前記挟み込み判定部（14)は、

前記演算部（16)が前記シャッター位置指標を所定回数算出する毎に、今回算出したシャッター位置指標と、前回の前記判定に用いたシャッター位置指標のうち新し

Vヽ方のシャッター位置指標とを用いて、前記判定をすることを特徴とする請求項 1に記載のシャッター制御装置。

[4] さらに、前記シャッター（6)の動き易さを規定するシャッター動作パラメータによって

、前記判定の感度を変更する感度変更部（15)を備えることを特徴とする請求項 1に記載のシャッター制御装置。

[5] 前記シャッター動作パラメータは、前記シャッター（6)を開閉するシャッター駆動機構（5、 7a、 7b)の周囲温度であり、前記感度変更部（15)は、前記周囲温度が低くなるにしたがって、前記判定の感度を変更することを特徴とする請求項 4に記載のシャッター制御装置。

[6] 前記シャッター（6)に前記ディスク (8)が挟まれたと判定した回数が、予め定めた所定の回数を超えた場合には、

前記感度変更部（15)は、前記判定の感度を低くすることを特徴とする請求項 4に記載のシャッター制御装置。

[7] ディスク（8)を回転させるディスク駆動部（3)へ前記ディスク（8)を挿入するためのディスク揷入口（9)と、

前記ディスク挿入口（9)を開閉するシャッター（6)と、

請求項 1〜6のいずれか 1項に記載のシャッター制御装置（10)と、

前記シャッター（6)の位置を検出して、前記シャッター制御装置（10)に与える位置検出手段 (20)と、

を備えることを特徴とするディスク装置。

[8] ディスク（8)を回転させるディスク駆動部（3)へ前記ディスクを挿入するためのディスク揷入口（9)を開閉するシャッター（6)を備えるディスク装置（1)において、前記シャッター（9)を閉じるにあたり、

前記シャッター（9)が閉じる過程において、前記シャッター（9)の位置を検出する手順と、

式 (1)で定義されるシャッター位置指標を算出し、これを第 1のシャッター位置指標とする手順と、

算出した前記第 1のシャッター位置指標と、前記第 1のシャッター位置指標よりも前に算出した第 2のシャッター位置指標とに基づいて、前記シャッター（9)に前記ディスク（8)が挟まれて、る力否かを判定する手順と、

を含むことを特徴とするディスク挟み込み判定用コンピュータプログラム。式（1)：シャッター位置指標 = {前回のシャッター位置指標 X (シャッター位置指標計算回数 1) +今回のシャッターの位置 }Zシャッター位置指標計算回数

[9] 前記シャッター（6)が閉じ始めて力も所定の期間が経過するまでは、前記シャツタ一位置指標の計算のみを実行し、前記所定の期間が経過してから、前記シャッターが前記ディスク（8)を挟み込んだか否かを判定することを特徴とする請求項 8に記載のディスク挟み込み判定用コンビユータプログラム。

[10] 前記シャッター位置指標を所定回数算出する毎に、今回算出したシャッター位置指標と、前回の前記判定に用いたシャッター位置指標のうち新、方のシャッター位置指標とを用いて、前記判定をすることを特徴とする請求項 8に記載のディスク挟み込み判定用コンピュータプログラム。

[11] 前記シャッター（6)の動き易さを規定するシャッター動作パラメータによって、前記判定の感度を変更することを特徴とする請求項 8に記載のディスク挟み込み判定用コンピュータプログラム。

[12] 前記シャッター動作パラメータは、前記シャッター（6)を開閉するシャッター駆動機構（5、 7a、 7b)の周囲温度であり、前記周囲温度が低くなるにしたがって、前記判定の感度を変更することを特徴とする請求項 11に記載のディスク挟み込み判定用コンピュータプログラム。

[13] 前記シャッター（6)に前記ディスク (8)が挟まれたと判定した回数が、予め定めた所定の回数を超えた場合には、前記判定の感度を低くすることを特徴とする請求項 10 に記載のディスク挟み込み判定用コンピュータプログラム。