WO2006011449A1 - Memsフィルタ装置およびその製造方法 - Google Patents

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mems
mems filter
manufacturing
resonator
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Akinori Hashimura
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Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
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Definitions

  • the present invention relates to a MEMS filter device and a method for manufacturing the same, and more particularly to a connection structure of a MEMS filter formed using a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) technique and a nanotube / nanowire technique.
  • MEMS Micro Electro Mechanical Systems
  • Silicon single crystal, polycrystalline, amorphous silicon is a material mainly used in MEMS filters. Silicon is widely used because it has good mechanical and electrical characteristics as well as good compatibility with the IC process, but various methods have been proposed as filter excitation and detection methods. ing. Among these many methods, filters using capacitive resonators can produce a fine structure relatively easily in the process, so it is expected to realize a GHz band MEMS filter. Has been.
  • the configuration of the current capacitive MEMS filter mainly consists of a structure in which a number of MEMS resonators are mechanically connected by a beam such as a microphone-sized beam, and the center frequency of the filter is the connected MEMS. It is determined by the resonance frequency of the resonator. In addition, by connecting a large number of MEMS resonators, the same number of frequency modes as the MEMS resonators appear due to phase changes.
  • the frequency bandwidth of the MEMS filter is determined by the spring constant k of the connecting body connecting the resonators and the spring constant k of the connection part of the MEMS resonator and the connecting body.
  • Non-Patent Document 1 is an example of a capacitive MEMS filter, which uses a structure in which two polycrystalline silicon doubly-supported MEMS resonators are connected by a polycrystalline silicon beam.
  • the center frequency of the filter is 8 MHz
  • the Q value is 0 to 450
  • the frequency bandwidth is 0.2 to 2.5%
  • the pass loss is 2 dB or less.
  • the design specifications of the MEMS resonator are 40.8 m long, 8 ⁇ m wide, 1.2 ⁇ m thick, and the connecting beam is 20.35 ⁇ m long, 0.75 m wide, 1 thick. The dimensions are relatively close to those of a resonator.
  • the mass of the connected body May be added to the mass of the M EMS resonator and the center frequency of the filter may shift.
  • Such mass loading effects force It may not be possible to obtain the desired passing waveform by being reflected in the filter characteristics.
  • Non-Patent Document 2 shows an example in which three MEMS resonators are mechanically connected. This case is shown in the block diagram of FIG.
  • the structure includes a first MEMS resonator 10, a second MEMS resonator 12, and a third MEMS resonator 14, and further includes a first connecting beam 16 and a second connecting beam 18 that connect them.
  • FIG. 29 shows the electrical equivalent circuit of FIG. 1, which corresponds to the case where the first and second connecting beams 16, 18 have a length of ⁇ / 8 or less.
  • Reference numerals 20, 22, and 24 denote the first to third MEMS resonators 10, 12, and 14, and reference numerals 26 and 28 denote the first and second connecting beams 16, 18. In the case of Fig.
  • the mass of the first connecting beam 16 is indicated by inductors L26a and 26b
  • the mass of the second connecting beam 18 is indicated by inductors L28a and 28b
  • the value of each L is the value of the connecting beam. Equal to 1/2 of the static mass.
  • Equation 3 Z is the impedance of the inductor L, w is the resonant frequency, and M is
  • C 1 Represents the static spring constant of the connecting beam.
  • FIG. 30 shows an example of the passing waveform of the three-stage MEMS filter. If the mass of the connecting beam can be ignored, the force that the passing waveform should represent a waveform close to the ideal waveform 30 is the first and second connecting beams 16, which are coupled to the left and right by the second MEMS resonator 12. Due to the effect of the mass of 18, the mass increases compared to the first MEMS resonator and the third MEMS resonator. As a result, the result has a waveform 32 distorted by the influence.
  • the author in Non-Patent Document 2 proposes two methods for this problem.
  • this method can reduce the influence of the mass load.
  • Patent Document 1 has a structure including a radial contour mode disk type MEMS resonator having a vibration frequency of ⁇ 1 GHz.
  • This circumferential contour mode is a mode in which the center of the disk shape is a node and vibrates uniformly on a horizontal plane.
  • the electrodes are placed around the disk shape and vibrated by electrostatic force to detect the vibration capacity change ratio.
  • the disc-type resonator can be applied to MEMS filters, and provides a connection body with beams and U-shape.
  • Non-Patent Document 1 Frank Bannon III, John R. Clark, CT-C. Nguyen, "High-Q HF Micro mechanical Filters, IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol.35, no.4, 2000
  • Non-patent Reference 2 Ku Wang, CT-C. Nguyen, "Higher Order Medium Frequency Micro mechanicaltilectronic Filters, Journal of Microelectromechanical Systems, vol. 8, no. 4, 1999
  • Patent Document 1 US Patent 2003-6628177
  • the length of the design value cannot be actually obtained due to the manufacturing error due to the processing limit for manufacturing the connecting beam. Is expected.
  • the length of the connecting beam is fixed to one value by design, so changing the spring constant depends only on the width of the connecting body.
  • the width is limited by the top-down technology normally used in the IC manufacturing process, it will be difficult to produce the nano-order width required for high-frequency filters in the future.
  • the spring constant k of the coupling body In order to obtain the Q value or frequency bandwidth of a MEMS filter, it is determined only by the spring constant k of the coupling body.
  • the spring constant k depends on the shape of the connected body.
  • Patent Document 1 proposes a structure including a circumferential contour mode disk type MEMS resonator having a vibration frequency of ⁇ 1 GHz.
  • the center of the disk shape is a node. Vibrate uniformly on a horizontal plane.
  • the coupled body is rc
  • the present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a MEMS filter coupling body that is flexible in design and can ignore the influence of mass load. Means for solving the problem
  • the present invention uses a nano-sized coupling body, such as a carbon nano tube (CNT), having a mass sufficiently smaller than that of a micro-sized MEMS resonator as a coupling portion.
  • a nano-sized coupling body such as a carbon nano tube (CNT)
  • CNT carbon nano tube
  • the connected body is sufficiently smaller than the MEMS resonator and has a mass of 1 x 10 " 15 kg or less.
  • a nano-sized linking body such as a carbon nanotube for the linking part, it is manufactured by a bottom-up technology using self-organization of a material rather than relying on a top-down technology. It was discovered with the focus on this fact, and it was made possible to give design flexibility by manufacturing with the bottom-up technology.
  • the present invention is a method of using CNT or a nano-sized linking body having the same size as that of a MEMS filter and mechanically coupling them.
  • the current CNT manufacturing technology proposes two coupling methods to make use of the widely known force MEMS filter.
  • a CNT and a MEMS resonator as a coupling body are integrated.
  • the next step is to grow and connect CNTs between two or more MEMS resonators that are desirable in design.
  • the manufacture of the CNT and the MEMS resonator as the coupling body is separated and configured, and the CNT and the MEMS resonator are connected in the last step. For example, separate CNTs are moved around the desired MEMS resonator by design and connected.
  • the MEMS filter device of the present invention includes a vibrating body formed so as to be capable of mechanical vibration, and an electrode disposed at a predetermined interval with respect to the vibrating body.
  • a plurality of electromechanical resonators that can be replaced are connected via a connecting body, and the connecting body is a nano-sized linear body.
  • the coupling body is a carbon nanotube (CN T) is included.
  • an extremely fine structure can be formed with high accuracy by self-organization.
  • the MEMS filter device of the present invention includes a structure in which the coupling body is a nanowire. According to this configuration, it is possible to form an extremely fine structure with high accuracy by self-organization.
  • the vibrator has a quadrangular shape, constitutes a MEMS resonator having at least one node, and includes at least one support mechanism supported by the substrate.
  • the shape is stable, the support at the node is easy, and the connection is easy.
  • the MEMS filter device of the present invention includes one in which the coupling body is composed of a plurality.
  • the MEMS filter device of the present invention includes a device in which the coupling body connects a plurality of locations of the vibrating body.
  • connection can be strengthened.
  • the spring constant can be reduced.
  • the MEMS filter device of the present invention includes a device that is the above-described coupled force coiled body.
  • the MEMS filter device of the present invention includes one in which the support mechanism is composed of carbon nanotubes.
  • the MEMS filter device of the present invention includes one in which the coupling body is coupled at a node of the vibrating body.
  • the manufacturing method of the MEMS filter device of the present invention includes at least two vibrating bodies formed so as to be capable of mechanical vibration, and electrodes disposed at predetermined intervals with respect to the vibrating bodies.
  • the manufacturing method of the MEMS filter device of the present invention includes a step of forming the connection structure, a step of forming a catalyst at a predetermined position of the vibrating body, and growing the connection body from the catalyst. Including things.
  • the MEMS filter device manufacturing method of the present invention includes a process force for forming the connection structure and a step of moving and arranging the connection body at a predetermined position of the vibrating body.
  • the method for manufacturing a MEMS filter device of the present invention includes a process including the step of forming the connecting structure and the step of forming carbon nanotubes.
  • the method for manufacturing a MEMS filter device of the present invention includes a method including a step of forming carbon nanowires.
  • the method of manufacturing a MEMS filter device of the present invention includes the step of forming the connection structure.
  • 1S By applying a negative DC voltage to the first MEMS resonator and applying a positive DC voltage to the second MEMS resonator provided adjacent to the first MEMS resonator It includes a step of growing carbon nanotubes or carbon nanowires.
  • the connected body can be efficiently grown, and a large number of connected bodies can be efficiently formed at the same time by connecting and arranging MEMS resonators and alternately applying positive and negative voltages. be able to. Further, a large number of them may be connected at the same time, and may be appropriately cut and separated after growth.
  • the step of forming the connection structure includes a step of disposing the connection body at a position corresponding to a node of the vibration body.
  • the manufacturing method of the MEMS filter device of the present invention includes a step of forming the connection structure, a step of arranging the connection body in a desired region of the vibrating body using a probe of an atomic force microscope (AFM), and And a step of moving and arranging the conductive particles to a desired region of the vibrator using a pulse generated by a probe of a scanning tunneling microscope (STM) prior to coupling of the connecting body.
  • AFM atomic force microscope
  • STM scanning tunneling microscope
  • the process force for forming the connecting structure is performed.
  • the sacrificial layer is removed in the MEMS process for performing the shape processing of the vibrating body, and the shape processing of the vibrating body is performed. Prior to execution.
  • the MEMS filter of the present invention by using nano-sized CNTs that can be manufactured easily and at low cost for the mechanical coupling of the MEMS resonator, the influence of mass load can be reduced. It is possible to provide a structure that is not reflected in the above.
  • CNT the Q value and frequency bandwidth of MEMS filters can be designed flexibly. It becomes possible to have sex.
  • FIG. 1 is a diagram showing a MEMS filter device according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram showing a stationary state of the MEMS resonator in which the first embodiment of the present invention is represented by finite element analysis.
  • FIG. 3 is a diagram showing a vibration state of the MEMS resonator in which the first embodiment of the present invention is represented by finite element analysis.
  • FIG. 4 A diagram showing the vibration direction and longitudinal vibration mode of the coupled body in the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 A diagram showing the manufacturing process of the MEMS filter device in the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a diagram showing the manufacturing process of the MEMS filter device in the first embodiment of the invention.
  • FIG. 7 is a diagram showing the manufacturing process of the MEMS filter device in the first embodiment of the invention.
  • FIG. 9 is a diagram showing a manufacturing process of the MEMS filter device in the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 is a diagram showing a manufacturing process of the MEMS filter device in the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 11 is an explanatory view showing a process for forming a connector in Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 12 is a perspective view in which the connecting body 38 according to Embodiment 1 of the present invention is grown at the upper and lower corners.
  • FIG. 13 is a view having a waveform in the connecting body 38 according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 14 is a diagram showing a configuration in which a plurality of linked bodies 38 according to Embodiment 1 of the present invention are arranged in parallel.
  • FIG. 15 is a view showing a modified example of a connecting portion (a triangular claw is formed at a corner of the MEMS resonator) of the connecting body 38 in Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 16 is a view showing a modified example of the connecting portion of the connecting body 38 according to Embodiment 1 of the present invention (a force punch is configured at the corner of the MEMS resonator).
  • FIG. 17 A diagram showing a manufacturing process of the MEMS filter device in the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 18 A diagram showing a manufacturing process of the MEMS filter device in the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 20 The figure which shows the manufacturing process of the MEMS filter apparatus in Embodiment 2
  • FIG. 21 The MEMS filter apparatus in Embodiment 2 of this invention Diagram showing manufacturing process
  • FIG. 22 is a diagram showing a manufacturing process of the MEMS filter device according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 23 is a diagram showing the MEMS filter device according to the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 24 is a process diagram for moving the connecting body 74 using the AFM according to the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 25 is a diagram illustrating the connection of the connecting body 74 to the conductive particles 82 using the STM according to the third embodiment of the present invention. Connection process attached with
  • FIG. 26 is a modified view in which the connecting body 74 in Embodiment 3 of the present invention has a coil shape.
  • FIG. 27 is a process diagram for connecting the coupling body 74 to the second MEMS resonator 72 in the third embodiment of the present invention.
  • Equation (1) the frequency bandwidth of the MEMS filter is expressed by equation (1).
  • Q is ME
  • rc cij Represents the spring constant of the connected body.
  • the width and diameter of the connected body which was difficult to manufacture with conventional top-down technology, can be configured with nano-sizes.
  • the connected body is coupled in the longitudinal vibration mode (Extensional Mode).
  • the spring constant of CNT is expressed by equation (2).
  • E is the Young's modulus of CNT
  • A is the cross-sectional area
  • L is the length.
  • 3BW (f./C y ) * (k clJ / k rc )
  • the mass of the coupled body is the density force of the CNT.
  • the force that can be calculated.
  • the mass can be reduced by several orders of magnitude or more compared to a normal micro-size M EMS resonator (details will be described later in Embodiment 1). ).
  • the influence of the mass of the coupling body can be ignored, there is no restriction on the length of ⁇ / 4, and the vicinity of the node where the MEMS resonator mass m corresponding to the connection site between the MEMS resonator and the coupling body is maximum. In addition, it is not necessary to limit the arrangement.
  • Equation (1) k / k shown in Equation (1) can be changed freely, giving design freedom.
  • k can be increased by connecting multiple CNTs in parallel, and k can be decreased or decreased by using CNTs such as coil shapes and waveforms. It is a spear.
  • FIG. 1 is a perspective view showing the MEMS filter device according to the first embodiment of the present invention, which is connected according to the first connection method of the MEMS filter. 2 and 3, the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.
  • this MEMS filter device is characterized in that the first and second MEMS resonators 34 and 36 are connected by a first coupling body 38 made of CNTs.
  • the first and second MEMS resonators 34 and 36 have the same structure, and form a square-shaped vibrator as shown in FIG. 1 and mechanically connected by the first coupling body 38.
  • Cylinder 42 is connected to the center of each MEMS resonator. This acts as a support to support the structures 34 and 36 and is connected to the substrate, not shown.
  • the dimensions of the MEMS resonators 34 and 36 are vertical and horizontal, the deviation is 7 m, the thickness is 2 m, and the diameter and height of the support column 42 are approximately: m.
  • This MEMS resonator was calculated using Finite Element Analysis (FEA), and the resonance frequency was ⁇ 1GHz in the horizontal vibration mode.
  • Fig. 2 shows the stationary state of this MEMS resonator
  • Fig. 3 shows the vibration state of the resonator. In this vibration mode, resonance occurs such that the phase of the center of one side and the angle differ by 180 °, and the corners of the MEMS resonators 34 and 36 also vibrate horizontally. It will be connected by vibration.
  • the displacement direction of each resonance point is indicated by an arrow.
  • the first connecting body 38 has a hollow fiber shape as shown in FIG.
  • the connection body 38 vibrates in the direction of the arrow.
  • the support 42 is arranged near the resonance node of the MEMS resonators 34 and 36, and is located at the center of each MEMS resonator.
  • a DC bias voltage of a magnitude Vp is applied via the support column 42 to separate each side of the first MEMS resonator 34 from a predetermined interval.
  • an AC input voltage is applied to the fixed electrode 41 formed in this manner, an electrostatic force is generated between the vibrator of the MEMS resonator 34 and the fixed electrode 41, and the MEMS resonator is vibrated.
  • FIG. 1 shows a MEMS filter device formed only by the first and second MEMS resonators and the first coupling body 38, another MEMS resonator may be coupled.
  • FIG. 5 to 10 show the manufacturing process represented along the cross section indicated by the broken line 43 in FIG.
  • an oxide film 92 made of an oxide silicon film is formed on the surface of a silicon substrate as the base layer 90.
  • RIE reactive ion etching
  • SOI silicon-on-insulator
  • the anisotropic etching process used is performed to form the groove 96 (FIG. 5).
  • the thickness of the base layer 90 is equal to the height of the first and second MEMS resonators
  • the thickness of the oxide layer 92 is equal to the height of the pillars 42. Select the thickness of each layer.
  • an SOI substrate having a base layer 90 of 2 ⁇ m, a silicon oxide layer 92 of 1 ⁇ m, and a silicon layer 94 constituting the device layer of 300 to 500 m is prepared. Etching is performed using anisotropic etching using CF. First, the silicon layer 94 is etched.
  • the oxide film 92 is also etched.
  • a polysilicon layer to be the support column 42 is formed in the groove 96.
  • a polysilicon film is formed by the LP CVD method, and after the film formation, the polysilicon on the silicon layer 94 is etched back and removed.
  • the detection electrode 41 in FIG. 1 can also be formed in the same step.
  • a sacrificial layer 102 is formed.
  • a resist or the like is used as the sacrificial layer 102.
  • a portion (hereinafter referred to as a corner) 104 corresponding to a corner of the MEMS resonators 34 and 36 has a smaller thickness than other resist films.
  • various methods can be considered, such as using a material with a high resist viscosity, stacking the film thickness as thin as possible compared to the height of the MEMS resonators 34 and 36, or soft beta and hard beta temperatures. By optimizing the time, it is possible to form the resist so that the angular force of this MEMS resonator flows.
  • dry etching is performed by RIE or the like, and the sacrificial layer 102 is thinned to such an extent that the corner 104 of the MEMS resonator appears on the surface.
  • a catalyst 106 such as platinum is formed at a corner 104 with a thickness of several degrees by vacuum deposition, and the sacrificial layer 102 and the catalyst 106 which is a deposited material deposited thereon are made of acetone or the like. Remove in lifted ultrasonic reservoir (lift-off). Finally, MEMS resonators 34 and 36 In order to release the substrate force, the oxide film layer 92 and the like are removed with HF solution (see FIG. 10).
  • CNTs are arranged at intervals in the CVD chamber. Grow and connect and connect each vibrator.
  • FIG. 11 is a block diagram of a CNT growth apparatus used for manufacturing the MEMS filter device according to the first embodiment of the present invention.
  • the next step is to use a manufacturing method such as CNT.
  • a catalyst is installed in the above MEMS resonator, and CNTs are grown and connected in the CVD chamber.
  • the first, second, third, and fourth MEMS resonators 34, 36, 44, and 46 are marked with a negative DC voltage 56 so that the electric wiring 52 has a negative potential and the electric wiring 54 has a positive potential.
  • the first, 3MEMS # 3 ⁇ 434, and 44 force S minus, and the second, 4MEMS # 3 ⁇ 436, and 46 force S positive potentials, respectively, are obtained.
  • the CNTs 38, 40, 48 grow from a negative electrode to a positive electrode.
  • the growth direction is indicated by the arrows in Fig. 5.
  • a broken line 50 indicates that the MEMS resonator and the connected body continue after this, similarly to the vibrating body of the connected body 40 and the MEMS resonator 36.
  • FIGS. 12, 13, and 14 show modifications of the first embodiment of the present invention.
  • Each figure has a configuration in which the coupling body 38 is deformed, and this makes it possible to change the spring constant k of the equation (1).
  • Figure 12
  • the dimensions of the coupling body 38 in Figs. 13 and 14 vary depending on the design, and the CNT is a single-walled CNT (SW CNT) or multi-walled CNT (MWCNT) depending on the force Diameter can be grown from about lnm to 50nm and length from about 1 ⁇ m to 5 ⁇ m.
  • FIG. 12 shows a structure in which the connected body CNT 38 is connected between the upper and lower corners, and is produced by attaching the catalyst 58 to the corners on both sides.
  • FIG. 13 shows a structure having a shape in which the length of the coupling body 38 is made longer and droops in a waveform.
  • CNTs are known to grow by chemical reaction between dissolved catalyst particles and carbon-based gas molecules!
  • the place where chemical reaction occurs depends on the type of material used as catalyst 58.For example, when iron (Fe) is used as catalyst 58, the place where chemical reaction occurs is at the interface between the first negative electrode and the CNT. As a result, even if CNT reaches the positive electrode, it continues to grow, and as a result, it has a waveform shape.
  • k can be reduced, and the design flexibility of k / k expressed by Equation (1) can be provided.
  • FIG. 14 has a configuration in which a plurality of linked bodies 38 are arranged in parallel.
  • a catalyst 58 that is larger than the catalyst 58 in FIGS. 12 and 13
  • a plurality of linked bodies 38 grow, and as a result, the configuration in FIG. 14 is possible.
  • k can be increased. Therefore, Figure 12,
  • k of the coupled body can be changed.
  • the dimensions of the CNTs of FIGS. 12-14 are determined by the k of the design. For example, non-patent
  • the CNT length L is calculated as: Lm: 12 nm in diameter, and L is calculated as 3 ⁇ m, the diameter is 20 nm. Is calculated.
  • E lE12Pa.
  • the position of the CNT is arranged at the square corner of the MEMS resonator, but the place is not limited to be equal to the design value k of the equation (1).
  • the square corner of the MEMS resonator is a triangular claw, or the cantilever force cantilever is formed on the square corner of the MEMS resonator as shown in Fig. 16.
  • the square corner of the MEMS resonator is a triangular claw, or the cantilever force cantilever is formed on the square corner of the MEMS resonator as shown in Fig. 16.
  • the support 42 is made of polysilicon.
  • this embodiment an example in which a portion corresponding to this support is made of CNT 12 will be described.
  • a hole is formed in a portion corresponding to a node of the vibrating body, and the CNT is grown by natural texture so that it can be passed through the hole.
  • the connection portion is filled with polysilicon or the like to form a strong connection.
  • 17 to 22 show a manufacturing process represented by a cross section corresponding to the cross section of the broken line 43 in FIG.
  • FIG. 17 shows the same process as FIG. 5, and
  • FIG. 17 shows the state before removing the sacrificial layer 110 made of the photoresist used as a mask for forming the trench 96 in FIG.
  • a catalyst 106 is formed by a vacuum deposition method (Fig. 18).
  • the deposition device is used to avoid sticking to the side of the groove 96.
  • the CNT 112 is grown on the catalyst 106 left at the bottom of the groove 96.
  • the silicon oxide film 114 is filled in the trench 96 by LPCVD.
  • the silicon oxide film 114 is formed up to the height of the support 42.
  • the LPCV D method may be used.
  • the silicon oxide film remaining on the silicon layer 94 must be removed by CMP or the like.
  • a silicon oxide film is formed on the upper layer by sputtering, and after the film formation, the sacrificial layer is removed and a lift-off process is performed to remove the silicon oxide film on the sacrificial layer. Oxidized film is not deposited in any place.
  • the silicon oxide film was used, but the material is not limited, and any film quality that can be removed in a later step is acceptable.
  • metal is deposited by vacuum deposition, and the sacrificial layer is removed by lift-off. Then, a method in which metal is not deposited in an unnecessary place may be taken.
  • the trench 96 which becomes the part of the MEMS resonator, is filled with polysilicon or the like by LPCVD, and the polysilicon remaining on the silicon layer 94 constituting the device layer is CMP or the like. Remove with.
  • FIG. 22 shows a process similar to that shown in FIG. 10, in which the patterning of the vibrator and formation of the catalyst are performed and the silicon oxide film 92 is removed to form the vibrator. The manufacturing process is executed, and a vibrator using CNT as a support is formed.
  • FIG. 23 shows a second coupling method of the MEMS filter according to the third embodiment of the present invention. 24, 25, and 26, the same components as those in FIG. 23 are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.
  • the central portion corresponding to the node of the first and second MEMS resonators 70 and 72 having a square shape is formed in the first coupling body 74 made of CNT. It is characterized by mechanical connection. The rest is the same as that of the first embodiment shown in FIG. 1, and includes a fixed electrode 76 of each MEMS resonator.
  • the manufacturing method corresponds to the above-described second coupling method, in which the vibrators of the first and second MEMS resonators 70 and 72 are formed and then coupled by the coupling body 74.
  • the MEMS resonator vibration mode of the first embodiment is used as the vibration mode.
  • the center of the square is a node.
  • the support 84 is supported from the center of the lower surface of the MEMS resonators 70 and 72, and the MEMS resonator corresponding to the connection part of the MEMS resonator and the coupling body represented by the formula (1)
  • the MEMS resonators 70 and 72 are connected to the joint rc using the connecting body 74.
  • FIGS. 24, 25, 26, and 27 to simplify the force configuration using the second coupling method, the diagram represented by FIGS. 24, 25, and 26 is represented by Embodiment 3 in FIG. Only the first MEMS resonator 70 and the first coupling body 74 will be described.
  • the manufacturing of the coupling body and the MEMS resonator is separated, and the method of connecting the coupling body to the MEMS resonator in the last step is used.
  • the first nano-sized coupling body 74 A way to move is needed. Therefore, in Fig. 22, using an atomic force microscope (AFM) or the like, van der Waalska acts between the coupling body 74 and the AFM probe 78 to move the adsorbed coupling body 74 to the center point of the square shape. To do.
  • the coupling body 74 is further brought closer to the MEMS resonator 70 and brought into contact with the vicinity of the desired center.
  • the conductive particles 82 are provided at the connection site by using a scanning probe microscope (STM) 80 or the like.
  • STM scanning probe microscope
  • the conductive particles 82 are deposited on the end portion of the probe 80 by the electrostatic force acting on the electric field, and this is moved to the connection site.
  • FIG. 27 is a continuation of FIG. 25 and shows a process of connecting the first coupling body 74 to the second MEMS resonator 72.
  • the AFM probe 78 and the CNT end 74 are kept in contact with each other in FIG. 22 and moved to the square center of the second MEMS resonator 72, and the conductor particles 82 are moved in FIG.
  • the conductive particles 88 are arranged at the connection site between the second MEMS resonator 72 and the first coupling body 74.
  • FIG. 26 shows a variation of FIG. 25, in which the first connecting body 74 is formed into a coil shape while the AFM probe 78 is moving. With this configuration, k in equation (1) can be reduced.
  • nanowires that can be manufactured by, for example, bottom-up technology, in which the coupling body that couples the MEMS resonators is made of CNTs, may be used.
  • the type of CNT for example, either single-wall CNT (SWCNT) or multi-wall CNT (MWCNT) may be used.
  • the MEMS filter according to the present invention is a MEMS filter that is not affected by mass load by using nano-sized CNTs that can be manufactured easily and at low cost for the mechanical coupling of MEMS resonators. It provides a small, high-performance, mopile terminal that offers characteristics and flexibility in design.

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Abstract

 設計に柔軟性があり、質量負荷の影響を無視することのできるMEMSフィルタの連結体を提供することを目的とし、カーボンナノチューブ(Carbon Nanotube;CNT)など、マイクロサイズMEMS共振器に比べて質量が非常に小さい、ナノサイズの連結体を連結部に使用することにより、質量負荷の影響がMEMSフィルタの特性に反映されない構造を提供する。

Description

明 細 書
MEMSフィルタ装置およびその製造方法
技術分野
[0001] 本発明は、 MEMSフィルタ装置およびその製造方法に係り、特に MEMS (Micro Electro Mechanical Systems)技術とナノチューブ ·ナノワイヤー技術を用いて形成し た MEMSフィルタの連結構造に関するものである。
背景技術
[0002] MEMSフィルタにおいて主に使用されている材料としては、シリコン(単結晶、多結 晶、アモルファスシリコン)があげられる。シリコンは ICプロセスとの親和性が良好であ るだけでなぐ機械 ·電気特性が良好であることから広く使用されているが、フィルタの 励振や検出方法としては、現在でも種々の方法が提案されている。これら多数の方 法の中でも、静電容量型共振器を使用したフィルタはプロセス上、比較的簡単に微 細構造を作製することが可能であることから、 GHz帯の MEMSフィルタの実現が期 待されている。
[0003] 主に現在の静電容量型 MEMSフィルタの構成は、多数の MEMS共振器がマイク 口サイズの梁などで機械的に連結された構造になっており、フィルタの中心周波数は 連結した MEMS共振器の共振周波数で決定される。又、多数の MEMS共振器を 連結させること〖こよって、 MEMS共振器と同じ数だけの周波数モードが、位相変化 によって現れるようになつている。そして MEMSフィルタの周波数帯域幅は、各共振 器を連結する連結体のばね定数 k と、 MEMS共振器と連結体の接続部位のばね 定数 kと〖こよって決定される。
rc
[0004] 非特許文献 1は静電容量型 MEMSフィルタの例であり、 2つの多結晶シリコン製両 持ち梁 MEMS共振器を、多結晶シリコン梁で連結した構造を用いている。フィルタの 中心周波数は 8MHzで Q値力 0〜450、又、周波数帯域幅が 0. 2〜2. 5%、通過 損失が 2dB以下という結果が達成されている。 MEMS共振器の設計仕様は、長さ 4 0. 8 m、幅 8 μ m、厚さ 1. 2 μ mで、連結梁は長さ 20. 35 μ m、幅 0. 75 m、厚 さ 1. と、比較的共振器と近い寸法で構成されている。この非特許文献 1のよう に、 MEMS共振器とこれを連結する連結体としての連結梁とが、同等のマイクロサイ ズであって、弾性波えの 1/8以下の長さで構成された場合、その連結体の質量が M EMS共振器の質量に加算され、フィルタの中心周波数がずれてしまうことがある。こ のような質量負荷による影響 (mass loading effects)力 フィルタ特性に反映されてし まうことで所望の通過波形を得ることができないことがある。
[0005] また、非特許文献 2では、 MEMS共振器を機械的に 3つ連結した例が示されてお り、この場合を図 28のブロック図で示す。第 1の MEMS共振器 10、第 2の MEMS共 振器 12、第 3の MEMS共振器 14を含む構成であり、これらを接続する第 1の連結梁 16、第 2の連結梁 18を更に含む構成を示す。又、図 29は図 1の電気的等価回路を 示しており、前記第 1および第 2の連結梁 16, 18が、 λ /8以下の長さで構成された 時に対応する。 20, 22, 24は前記第 1乃至第 3の MEMS共振器 10, 12、 14を示し 、 26, 28は前記第 1および第 2の連結梁 16, 18を示す。図 29の場合、第 1の連結梁 16の質量は、インダクター L26a、 26bで示され、第 2の連結梁 18の質量は、インダク ター L28a、 28bで示され、各 Lの値は連結梁の静的質量の 1/2に等しくなる。
[0006] これを式 3で示すと、 Zはインダクター Lのインピーダンス、 wは共振周波数、 Mは
L 1 連結梁の静的質量に等しくなる。又、連結梁のばね定数 26c、 28cはコンデンサー C の逆数で表される。これを式 4で示すと、 Zはコンデンサー Cのインピーダンス、 kは
C 1 連結梁の静的ばね定数を表す。
[数 3]
Figure imgf000004_0001
π f 画
Figure imgf000004_0002
[0007] 図 30に、この 3段の MEMSフィルタの通過波形の 1例を示す。連結梁の質量を無 視することができれば、通過波形は理想波形 30に近い波形を表すはずである力 第 2の MEMS共振器 12が、左右に結合する第 1および第 2の連結梁 16, 18の質量の 影響によって、第 1の MEMS共振器、第 3の MEMS共振器と比較して質量が増加し 、その影響で歪んだ波形 32などを有する結果になる。このような問題力も非特許文 献 2における著者は、 2つの方法を提案している。
[0008] その 1つは、連結体をえ /4の長さで設計することによって、図 29の等価回路で示す 連結体 26の 26a,26b力 26cのコンデンサー Cのマイナスの値に置き換えられる。こ れによって、連結梁の質量が、 MEMSフィルタの特性に現れない方法を使用した。 又、もう 1つの方法として、連結体と MEMS共振器が結合する配置を変え、共振時の 振動振幅が小さい節に連結梁を結合することで、 MEMS共振器と連結体の接続部 位にあたる MEMS共振器質量 mとばね定数 k 1S 連結梁の質量 m とばね定数 k
rc rc cij ci jに比べて、比較的大きい値が得られることから、この方法では、質量負荷の影響を低 減することができる。
[0009] 特許文献 1では、振動周波数が〜 1GHzの円周等高(Radial Contour)モード円盤 型 MEMS共振器を含む構造を有している。この円周等高モードでは、円盤型の中 心を節とし水平面上で均一に振動するモードで、電極は円盤型の周りに設け、静電 力で振動させ、振動容量変化比を検出している。円盤型共振器は MEMSフィルタに も応用でき、梁や U型を有する連結体を提供している。
[0010] 非特許文献 1: Frank Bannon III, John R. Clark, C.T.- C. Nguyen, "High- Q HF Micro mechanicalFilters , IEEE Journal of Solid— State Circuits, vol.35, no.4, 2000 非特許文献 2 : Ku Wang, C.T.-C. Nguyen, "Higher Order Medium Frequency Micro mechanicaltilectronic Filters , Journal of Microelectromechanical Systems, vol. 8, n o.4, 1999
特許文献 1 :米国特許 2003— 6628177号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0011] このように、多結晶シリコン連結梁を利用した上記 MEMSフィルタの構成では、フィ ルタを構成する共振器と連結梁が同じマイクロサイズであるため、質量負荷の影響が フィルタ特性に反映されるという課題があった。また、今後さらに高い周波数で MEM Sフィルタが設計される場合、 MEMS共振器の構造寸法がさらに小さくなることが考 えられ、従来の構成では連結梁から発生する質量負荷の影響がさらに増加すること が予想される。この課題を解決するために、さらに 2つの方法 (非特許文献 2参照)が 提案されて 、るが、 、ずれの MEMSフィルタも高周波用のフィルタとして用いるために は課題が残されている。
[0012] また、上述した λ /4の長さの連結体を用いる方法では、連結梁を作製するための 加工限界による製造誤差が影響して、実際に設計値の長さが得られないことが予想 される。又、この方法では、連結梁の長さが設計上 1つの値に固定されるので、ばね 定数を変えるには連結体の幅のみに依存してくる。一方、幅は通常 ICの製造工程で 使用されるトップダウン技術の限界があるため、今後、高周波用のフィルタに必要な ナノオーダーの幅を作製するのは困難になる。
[0013] 又、第 2の方法として、連結体が共振器の節となるように配置する手法を使用したが 、これでは共振器の構造あるいは連結体の配置に厳しい限定力 Sかかってしまい、設 計が複雑になる。さらには、連結体を共振器の節の付近に配置することによって、 Μ EMS共振器と連結体の接続部位のばね定数 kがある程度固定されてしまい、所望 rc
な MEMSフィルタの Q値、あるいは周波数帯域幅を得るには、連結体のばね定数 k のみで決定されてしまう。このように、ばね定数 k は、連結体の形状に依存するため
、設計の柔軟性に欠けている。
[0014] また特許文献 1で、振動周波数が〜 1GHzの円周等高モード円盤型 MEMS共振 器を含む構造が提案されて 、るが、この円周等高モードでは円盤型の中心を節とし て、水平面上で均一に振動する。このモードを使用した場合、 MEMS共振器と連結 体の接続部位にあたる MEMS共振器のばね定数 kを増大するためには、連結体を rc
節の付近カゝら連結する必要がある。しかし、特許文献 1で示されている MEMS共振 器を MEMSフィルタとして連結する場合、フォトリソグラフィー ·プロセスなどから製作 される連結梁では、連結体を円盤型 MEMS共振器の中心部から連結させることが 困難になる。し力も Q値が高い 1次円周等高モードで振動させると、各円盤型 MEM S共振器の半径が 2. 76 mにまで収縮され、結果、マイクロサイズの連結体を繋げ れば、質量負荷の影響が大きくなつてしまうことが考えられる。
[0015] 本発明は、前記実情に鑑みてなされたもので、設計に柔軟性があり、質量負荷の 影響を無視することのできる MEMSフィルタの連結体を提供することを目的とする。 課題を解決するための手段
[0016] 上記目的を達成するため、本発明は、カーボンナノチューブ(Carbon Nano Tube;C NT)など、マイクロサイズ MEMS共振器に比べて質量が十分に小さい、ナノサイズ の連結体を連結部に使用することにより、質量負荷の影響が MEMSフィルタの特性 に反映されな 、構造を提案するものである。なお従来の MEMS共振器の質量を参 考にした上、連結体としては、 MEMS共振器に比べて十分に質量が小さぐ 1 X 10" 15kg以下であるのが望まし 、。
[0017] また、本発明では、カーボンナノチューブなどのナノサイズの連結体を連結部に使 用することにより、トップダウン技術に頼るのではなぐ材料の自己組織ィ匕を利用した ボトムアップ技術で製造可能であることを発見し、これに着目してなされたもので、ボ トムアップ技術で製造することにより設計にも柔軟性をもたせることを可能とする。
[0018] 本発明は、 CNTあるいはこれと同程度のサイズをもつナノサイズの連結体を MEM Sフィルタの連結体として用い、機械的に結合させる方法である。現在の CNT製造技 術は幅広く知られている力 MEMSフィルタに活用するために、 2つの連結方法を提 案する。
[0019] まず本発明の第 1では、連結体となる CNTと MEMS共振器を集積させて構成する 。製造に際しては、 MEMS共振器の製造工程後、次の工程として設計上、望ましい 2つ以上の MEMS共振器の間に CNTを成長させ、連結する。
また本発明の第 2では、連結体となる CNTと MEMS共振器の製造を分離して構成 し、最後の工程で CNTと MEMS共振器を連結したものである。例えば、分離して構 成された CNTを設計上、望ましい MEMS共振器周辺に移動させ、連結する。
[0020] すなわち、本発明の MEMSフィルタ装置は、機械的振動可能に形成された振動体 と、前記振動体に対して所定の間隔を隔てて配設された電極とを有し、電気機械変 換を可能にする電気機械共振器を、連結体を介して複数個連結してなり、前記連結 体がナノサイズの線状体であることを特徴とする。
この構成により、質量負荷の影響を低減し、特性の優れたフィルタ装置を提供する ことが可能となる。
[0021] また、本発明の MEMSフィルタ装置は、前記連結体がカーボンナノチューブ (CN T)であるものを含む。
この構成〖こよれば、自己組織ィ匕により極めて微細な構造体を精度よく形成すること ができる。
[0022] また、本発明の MEMSフィルタ装置は、前記連結体はナノワイヤであるものを含む この構成〖こよれば、自己組織ィ匕により極めて微細な構造体を精度よく形成すること ができる。
[0023] また、本発明の MEMSフィルタ装置は、前記振動体は、四角形をなし、少なくとも 1 つの節を有する MEMS共振器を構成すると共に、基板に支持せしめられる少なくと も 1つの支持機構を具備したものを含む。
この構成によれば、形状が安定しており、節での支持が容易である上、連結が容易 である。
[0024] また、本発明の MEMSフィルタ装置は、前記連結体が複数本で構成されるものを 含む。
この構成により、より強固な連結が可能となる。
[0025] また、本発明の MEMSフィルタ装置は、前記連結体が前記振動体の複数箇所を 接続するものを含む。
この構成により、連結を強固にすることができる。また振動体の上下に連結体が形 成される場合、ばね定数の低減が可能となる。
[0026] また、本発明の MEMSフィルタ装置は、前記連結体力コイル状体であるものを含 む。
この構成により、ばね定数の低減が可能となり、設計に柔軟性を持たせることができ る。
[0027] また、本発明の MEMSフィルタ装置は、前記支持機構がカーボンナノチューブで 構成されているものを含む。
この構成により、振動に自由度を持たせることができるだけでなぐ通常の MEMS 共振器で、支持機構カゝら試作基板に逃げる弾性波損失による Q値の劣化も低減する ことができる。またこの支持機構と連結体とを兼ねるようにすれば、より高度の振動を 実現することができる。
[0028] また、本発明の MEMSフィルタ装置は、前記連結体は前記振動体の節で連結され ているものを含む。
この構成により、より質量負荷の影響を低減することができる。
[0029] また、本発明の MEMSフィルタ装置の製造方法は、機械的振動可能に形成された 少なくとも 2つの振動体と、前記各振動体に対して所定の間隔を隔てて配設された電 極とを有し、電気機械変換を可能にする電気機械共振器を、基板上に近接して配置 形成する工程と、前記振動体を、ボトムアップ技術により、ナノサイズの線状体からな る連結体で接続する連結構造を形成する工程とを含むことを特徴とする。
この方法によれば、極めて容易に質量負荷の影響が少なぐ高精度の MEMSフィ ルタ装置を提供することができる。
[0030] また、本発明の MEMSフィルタ装置の製造方法は、前記連結構造を形成する工程 力 前記振動体の所定の位置に触媒を形成し、前記触媒から前記連結体を成長す る工程を含むものを含む。
この構成によれば、触媒の形成箇所を特定することにより、極めて位置精度よく連 結体を形成することができる。
[0031] また、本発明の MEMSフィルタ装置の製造方法は、前記連結構造を形成する工程 力 前記振動体の所定の位置で前記連結体を移動し配置する工程を含むものを含 む。
この構成によれば、連結位置を調整し、より高精度の位置決めを実現することが可 能となる。
[0032] また、本発明の MEMSフィルタ装置の製造方法は、前記連結構造を形成する工程 力 カーボンナノチューブを形成する工程を含むものを含む。
[0033] また、本発明の MEMSフィルタ装置の製造方法は、カーボンナノワイヤを形成する 工程を含むものを含む。
この構成〖こよれば、自己組織ィ匕により、極めて微細な構造体を精度よく形成するこ とがでさる。
[0034] また、本発明の MEMSフィルタ装置の製造方法は、前記連結構造を形成する工程 1S 第 1の MEMS共振器に負の DC電圧を印加するとともに、前記第 1の MEMS共 振器に隣接して設けられた第 2の MEMS共振器には、正の DC電圧を印加せしめる ことによってカーボンナノチューブまたはカーボンナノワイヤを成長させる工程を含む ことを特徴とする。
この構成によれば、連結体を効率よく成長させることができ、また、 MEMS共振器 を連結配置し、交互に正および負の電圧を印加することにより、同時に多数の連結 体を効率よく形成することができる。また多数個同時に連結しておき、成長後に適宜 切断分離してもよい。
[0035] また、本発明の MEMSフィルタ装置の製造方法は、前記連結構造を形成する工程 が、前記振動体の節に相当する位置に前記連結体を配置する工程を含むものを含 む。
この構成によれば、位置合わせが容易で、より質量負荷の影響を低減した構造体 を容易に形成することが可能となる。
[0036] また、本発明の MEMSフィルタ装置の製造方法は、前記連結構造を形成する工程 力 原子力顕微鏡 (AFM)のプローブを用いて前記連結体を前記振動体の所望の 領域に配置する工程と、前記連結体の結合に先立ち、走査型トンネル顕微鏡 (STM )のプローブで生成されるパルスを用いて導電性粒子を前記振動体の所望の領域に 移動させ配置する工程とを含む。
この方法によれば、より高精度の位置決めが可能となる。
[0037] また、本発明の MEMSフィルタ装置の製造方法は、前記連結構造を形成する工程 力 前記振動体の形状加工を行なう MEMS工程において犠牲層を除去し、前記振 動体の形状加工を行なうに先立ち、実行される。
この構成によれば、振動体の形状加工により、より強固な接続が可能となる。
発明の効果
[0038] 本発明の MEMSフィルタによれば、簡易でかつ低コストで製造可能なナノサイズの CNTなどを MEMS共振器の機械的連結体に使用することにより、質量負荷の影響 を MEMSフィルタの特性に反映させない構造を提供することができる。又、 CNTを 活用することによって、 MEMSフィルタの Q値や周波数帯域幅の設計の際に、柔軟 性を持たせることが可能となる。
図面の簡単な説明
[図 1]本発明の実施の形態 1における MEMSフィルタ装置を示す図
[図 2]本発明の実施の形態 1を有限要素解析で表した MEMS共振器の静止状態を 示す図
[図 3]本発明の実施の形態 1を有限要素解析で表した MEMS共振器の振動状態を 示す図
[図 4]本発明の実施の形態 1における連結体の振動方向と縦振動モードを示す図 [図 5]本発明の実施の形態 1における MEMSフィルタ装置の製造工程を示す図 [図 6]本発明の実施の形態 1における MEMSフィルタ装置の製造工程を示す図 [図 7]本発明の実施の形態 1における MEMSフィルタ装置の製造工程を示す図 [図 8]本発明の実施の形態 1における MEMSフィルタ装置の製造工程を示す図 [図 9]本発明の実施の形態 1における MEMSフィルタ装置の製造工程を示す図 [図 10]本発明の実施の形態 1における MEMSフィルタ装置の製造工程を示す図 [図 11]本発明の実施の形態 1における連結体の形成工程を示す説明図
[図 12]本発明の実施の形態 1における連結体 38を上下の角に成長させた斜視図 [図 13]本発明の実施の形態 1における連結体 38に波形を有する図
[図 14]本発明の実施の形態 1における連結体 38を並列に複数並べる構成を有する 図
[図 15]本発明の実施の形態 1における連結体 38の連結部(MEMS共振器の角に三 角爪を構成した)の変形例を示す図
[図 16]本発明の実施の形態 1における連結体 38の連結部(MEMS共振器の角に力 ンチレバーを構成した)の変形例を示す図
[図 17]本発明の実施の形態 2における MEMSフィルタ装置の製造工程を示す図 [図 18]本発明の実施の形態 2における MEMSフィルタ装置の製造工程を示す図 [図 19]本発明の実施の形態 2における MEMSフィルタ装置の製造工程を示す図 [図 20]本発明の実施の形態 2における MEMSフィルタ装置の製造工程を示す図 [図 21]本発明の実施の形態 2における MEMSフィルタ装置の製造工程を示す図 [図 22]本発明の実施の形態 2における MEMSフィルタ装置の製造工程を示す図 [図 23]本発明の実施の形態 3における MEMSフィルタ装置を示す図
[図 24]本発明の実施の形態 3における AFMを使用して連結体 74を移動する工程図 [図 25]本発明の実施の形態 3における STMを使用して連結体 74を導電体粒子 82 で付着する接続工程図
[図 26]本発明の実施の形態 3における連結体 74にコイル形を有する変形図
[図 27]本発明の実施の形態 3における連結体 74を第 2の MEMS共振器 72に接続 する工程図
[図 28]従来例の MEMS共振器を機械的に 3つ連結したブロック図
圆 29]図 1の電気的等価回路図
[図 30]図 28の構造 3段の MEMSフィルタ通過波形図
符号の説明
10、 12、 14 第 1、 2、 3の MEMS共振器
16、 18 第 1、 2の連結梁
20 第 1の MEMS共振器の等価回路
22 第 2の MEMS共振器の等価回路
24 第 3の MEMS共振器の等価回路
26、 28 第 1、 2の連結梁の等価回路
30 理想波形
32 歪んだ波形
34、 36 第 1、 2の MEMS共振器
38、 40、 48 第 1、 2、 3の連結体
41 固定電極
42 支柱
43 破線
44、 46 第 3、 4の MEMS共振器
50 破線
52、 54 マイナス、プラス電気配線 56 バイアス直流電圧
58 触媒
70、 72 第 1、 2の MEMS共振器
74、 76 第 1、 2の連結体
78 AFMプローブ
80 STMプローブ
82、 88 第 1、 2導電体粒子
86 直流パルス電圧
90 SOI基板のシリコン層(ベース層)
92 SOI基板の酸化シリコン層
94 SOI基板のシリコン層(デバイス層)
96 溝
102 犠牲層
104 MEMS共振器 34と 36の角部分
106 触媒
110 96を構成するための犠牲層
112 CNT
114 CVD酸化シリコン膜
116 CVDポリシリコン
発明を実施するための最良の形態
[0041] 以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しつつ詳細に説明する。
[0042] 本発明の実施の形態を説明するに先立ち、本発明の原理について説明する。
まず、 MEMSフィルタの周波数帯域幅は式(1)で表される。式(1)中、 Q は ME
MSフィルタの Q値、 BWは周波数帯域幅、 f は MEMSフィルタの中心周波数、 Cは 正規化した結合係数、 kは CNTが連結する MEMS共振器の実効ばね定数、 k は
rc cij 連結体のばね定数を表す。ボトムアップ技術で製造可能な CNTなどを使用すること により、従来のトップダウン技術では製造が困難であった連結体の幅や直径がナノサ ィズで構成可能となる。さらに、連結体が縦振動モード (Extensional Mode)で結合さ れる場合、 CNTのばね定数は式(2)で表される。式(2)中、 Eは CNTのヤング率、 A は断面面積、 Lは長さを表す。
[数 1]
QF i i t e r= ί。/BW=Cij(krc/kcij)
3BW = (f。/Cy)*(kclJ/krc)
[数 2] k = F/AL = EA/L
[0043] 連結体の質量は CNTの密度力 算出することができる力 通常のマイクロサイズ M EMS共振器と比べると数桁以上の質量低減が可能となる(詳細は実施の形態 1で後 述する)。本発明によれば、連結体の質量の影響が無視できるため、 λ/4の長さの 制約がなくなり、 MEMS共振器と連結体の接続部位にあたる MEMS共振器質量 m が最大となる節の付近に、配置を限定する必要がなくなる。
[0044] これにより、連結体の位置を変えることができ、 kを広い範囲で可変とすることがで
rc
きるため、式(1)で示される k /k を自由に変えることができ、設計に自由度を持たせ
rc cij
ることが可能となる。又、数桁以上質量が軽い CNTを使用するため、 CNTを複数並 列に連結することにより k を増加させ、コイル形や波形などの CNTを使用することに より k を減少、させることも可會である。
[0045] (実施の形態 1)
次に本発明の実施の形態 1について説明する。図 1は、本発明の実施の形態 1の MEMSフィルタ装置を示す斜視図であり、 MEMSフィルタの第 1の連結方法に従つ て連結したものである。図 2、 3において、図 1と同じ構成要素については同じ符号を 用い、説明を省略する。
[0046] この MEMSフィルタ装置は、図 1に示すように、第 1および第 2の MEMS共振器 34 , 36を、 CNTで構成された第 1の連結体 38で接続したことを特徴とする。この第 1お よび第 2の MEMS共振器 34, 36は、同じ構造を有しており、図 1に示すように、四角 形状の振動子を構成し、第 1の連結体 38によって機械的接続がなされている。円柱 42は各 MEMS共振器の中心部に接続されている。これは構造体 34と 36を支える 支柱の役割をするもので、図示しな 、基板に連結されて 、る。
[0047] この各 MEMS共振器 34, 36の寸法は、縦、横カ^、ずれも 7 m、厚さ 2 mで、支 柱 42の直径と高さは、ほぼ: m程度である。この MEMS共振器は、有限要素解析 (Finite Element Analysis; FEA)を使って算出した結果、共振周波数が水平振動の 振動モードで〜 1GHzである。図 2ではこの MEMS共振器の静止状態を表し、図 3 では共振器の振動状態を示す。この振動モードでは、 1辺の中心と角の位相が 180 ° 異なるように共振し、各 MEMS共振器 34、 36の角も水平振動するため、図 1に示 す第 1の連結体 38は縦振動で連結されることになる。各共振点の変位方位は矢印で 示す。
[0048] この第 1の連結体 38は、要部拡大図を図 4に示すように中空糸形状をなしている。
この MEMSフィルタ装置では、左右に各 MEMS共振器が連結されるため、連結体 3 8は矢印の方向に振動する。図 1の MEMSフィルタ装置において、支柱 42は、 ME MS共振器 34, 36の共振時の節の付近に配置され、各 MEMS共振器の中心に位 置している。
[0049] 次に、この MEMSフィルタ装置の操作について説明する。
まず、 MEMSフィルタ装置の操作時には、図 1に示すように、支柱 42を介して、大 きさ Vpの DCバイアス電圧を印加し、第 1の MEMS共振器 34の各辺と所定の間隔を 隔てて形成された固定電極 41に、 AC入力電圧を印加することによって、 MEMS共 振器 34の振動子と固定電極 41の間に静電気力を生起せしめ、 MEMS共振器を振 動させる。
この MEMSフィルタ装置の場合、第 2の MEMS共振器 36の固定電極 41から出力 電流を検出することにより、最終的にこの装置の出力特性として測定する。なお、図 1 では第 1、 2の MEMS共振器と第 1の連結体 38のみで形成した MEMSフィルタ装置 を示すが、さらに別の MEMS共振器を連結してもよい。
[0050] 次に、この MEMSフィルタ装置の製造工程について説明する。
図 5乃至 10は、図 1の破線 43で示す断面に沿って表された製造工程を示す。 まず、ベース層 90としてのシリコン基板表面に、酸ィ匕シリコン膜からなる酸ィ匕膜 92 を介して、デバイス形成層としての所望のキャリア濃度のシリコン層 94を貼着した SO I ( Silicon-On-Insulator )基板に、フォトリソグラフィにより形成したマスクを介して反 応性イオンエッチング (RIE)を用いた異方性エッチング工程を行 、、溝 96を形成す る(図 5)。ここでベース層 90の厚みは、第 1および第 2の MEMS共振器の高さに等 しぐ酸ィ匕層 92の厚みは支柱 42の高さに等しくなるため、あら力じめ SOI基板の各層 の厚みを選択する。例としてベース層 90が 2 μ m、酸化シリコン層 92が 1 μ m、デバ イス層を構成するシリコン層 94が 300〜500 mとした SOI基板を用意する。またェ ツチングは CFを用いた異方性エッチングを用い、まず、シリコン層 94をエッチングし
4
、続いて酸ィ匕膜 92もエッチングをする。
[0051] 次に図 6に示すように、溝 96に支柱 42となるポリシリコン層を形成する。ここでは LP CVD法によりポリシリコン膜を成膜し、成膜後に、シリコン層 94上のポリシリコンをエツ チバックし、除去する。
[0052] そして図 7に示すように、同様にフォトリソグラフィによってマスクパターンを形成した 後、 RIEで異方性エッチングを行い、第 1および第 2の MEMS共振器 (の振動体) 34 と 36を形成する。この工程における断面図では表わされないが、図 1の検出電極 41 も同じ工程で形成することが可能である。
[0053] 次に図 8に示すように、犠牲層 102を形成する。この場合、犠牲層 102としては、例 えばレジストなどを使用する。しかし、スピナ一等を用いてスピンコートする際、 MEM S共振器 34と 36の角に相当する部分 (以下角) 104が、他のレジスト膜厚より薄いこ とを有する。これについて、さまざまな方法が考えられる力 例えばレジストの粘度が 高い材料を使用したり、膜厚を MEMS共振器 34と 36の高さと比較してなるべく薄く 積んだり、あるいはソフトベータ、ハードベータの温度と時間を最適化して、レジストを この MEMS共振器の角力 流れるように形成することが可能である。
[0054] そして図 9に示すように、 RIE等などでドライエッチングを行 、、 MEMS共振器の角 104が表面に現れる程度に犠牲層 102を薄くする。
[0055] 次に、真空蒸着法により、角 104に白金などの触媒 106を数應程度の厚みで形成 し、犠牲層 102とその上に堆積された蒸着物である触媒 106を、アセトンなどを充填 した超音波容液器中で除去する(リフトオフ)。又、最後に MEMS共振器 34と 36を 基板力も開放するため、 HF液で酸ィ匕膜層 92などを除去する(図 10参照)。
[0056] このようにして、触媒の形成された MEM共振器 34, 36の振動体の角 104に、 CN T形成用の触媒 106を形成したのち、 CVDのチャンバ一内でその間隔に CNTを成 長させ連結させ、各振動体を接続する。
[0057] 図 11は、本発明の実施の形態 1における MEMSフィルタ装置の製造に用いられる CNTの成長装置のブロック図を示す。第 1の連結方法で用 1ヽられる成長装置では、 フィルタとなる MEMS共振器の形状力卩ェを行なった後、次の工程として CNTなどの 製造方法を使用して、設計上、望ましい 2つ以上の MEMS共振器に触媒を設置し、 CVDのチャンバ一内で、その間隔に CNTを成長させ連結させる。この時、第 1、 2、 3、 4MEMS共振器 34, 36、 44、 46にノ ィァス直流電圧 56を印カロすることによって 、電気配線 52がマイナス電位、電気配線 54がプラス電位となるようにし、それぞれに 繁カ Sる第 1、 3MEMS#¾34, 44力 Sマイナス、第 2、 4MEMS#¾36, 46力 Sプ ラス電位になる。
[0058] これによつて、 CNT38、 40、 48はマイナスからプラス電極に成長する。成長方向を 図 5の矢印で示す。破線 50は、この後にも前記連結体 40、 MEMS共振器 36の振動 体と同様に、 MEMS共振器と連結体が続くことを示すが、本連結方法を活用するこ とによって、複数の CNTを同時に成長させることが可能となり、時間やコストの低減も 可能である。以上のボトムアップ技術により、高精度のナノサイズオーダーの連結体 が製造可能となる。
[0059] なお、本実施の形態 1の MEMSフィルタ装置を形成する際には、 CNTで構成され た連結体を切断すればよぐ多数個の MEMSフィルタ装置を同時形成することがで きる。
また 3個以上の MEMSフィルタを連結した MEMSフィルタ装置の実現も容易であ る。
[0060] 図 12、図 13、図 14に、本発明の実施の形態 1の変形例を示す。この例では、図 12 , 13, 14における連結体付近を拡大した図を示す。各図が連結体 38を変形した構 成になっており、これによつて式(1)のばね定数 k を変えることを可能とする。図 12、
cij
図 13、図 14の連結体 38の寸法は設計によって変わり、又、 CNTが単層 CNT(SW CNT)か多層 CNT(MWCNT)にもよつて変わってくる力 直径は約 lnmから 50nm 、長さは約 1 μ mから 5 μ mで成長が可能である。図 12は連結体 CNT38を上下の角 の間に連結した構成で、触媒 58を両側の角に付着することによって作製される。
[0061] 図 12のように連結体 38が上下に配置された構成では、連結体の k を増加させるこ とが可能となる。又、図 12の破線で示す円は触媒 58が下面に付着している事を示し ている。
[0062] 図 13は連結体 38の長さをより長くし、波形に垂れるような形状を有する構造である 。もともと CNTは、溶けた触媒粒子と炭素系ガスの分子との化学反応によって成長す ることが知られて!/ヽる。また触媒 58として用いる材料の種類によって化学反応を起こ す場所が異なり、例えば、触媒 58として鉄 (Fe)を用いた場合、化学反応を起こす場 所は、最初のマイナス電極と CNTの境界面に現れ、その結果、 CNTがプラス電極に 到達しても成長が続き、その結果、波形を有する形状を有することになる。図 13のよ うに連結体 38に波形を有することにより k を減少させることが可能となり、式(1)で表 される k /k の設計の柔軟性をもたせることができる。
rc cij
[0063] 図 14は、連結体 38を並列に複数並べる構成を有する。この構成は、図 12、 13の 触媒 58と比べて大きな触媒 58を付着することによって連結体 38が複数成長し、結 果、図 14の構成が可能となる。図 8の場合、 k の増加が可能となる。よって、図 12、
cij
図 13、図 14の構成では、連結体の k を変化させることができる。
cij
[0064] 図 12乃至図 14の CNTの寸法は、設計の k によって決定される。例えば、非特許
cij
文献 1の k = 113N/mを使用した場合、式(2)より、 CNTの長さ Lを: L mで計算す れば直径が 12nm、 Lを 3 μ mで計算すれば、直径が 20nmと算出される。ここで CNT のヤング率は E= lE12Paとした。又、 CNT質量は M= p XVで示され、 Mは質量、 は密度、 Vは体積を表す。 CNTを円筒として考えると p = 1400kg/m3を使用する ことで、 Lが の場合は M= l. 13 IE - 22kg, Lが 3 mの場合は M= 1. 319E 18kgが算出できる。
[0065] これに対し、従来例で説明した非特許文献 1の多結晶シリコン連結梁の質量は、同 様な方法を使用して算出すると、 M = 6. 670E— 14kgとなる。これらの比較によって CNTを連結体に使用することで、 4桁以上の質量減少が可能となることが明らかにな る。
[0066] なお、図 12乃至図 14において、 CNTの位置は MEMS共振器の四角型の角に配 置されたが、場所については限定することなぐ式(1)の設計値 kに等しくなるように
rc
すれば良い。
[0067] 又、 CNTの成長がしゃすい場所を選択することによってより、強固な連結構造を得 ることが可能となる。例えば、図 15に示すように MEMS共振器の四角型の角を三角 爪にしたり、あるいは図 16に示すように MEMS共振器の四角型の角に片持ち梁力 ンチレバーを形成した構造にすることで、 1本の CNTをより所望の配置となるように成 長させることが可會となる。
三角爪にすることにより、連結部の面積力 S小さくてもより強固な接続が可能となる。 また片持ち梁カンチレバーを形成することにより、より確実な振動を実現することがで きる。
[0068] 式(1)の設計値 kは、 MEMS共振器によっても変化するが、例えば非特許文献 1
rc
の MEMS共振器で振幅が大きい付近では、ばね定数が低く k = 1362N/mで表さ
rc
れ、又、ばね定数が高い節の付近では k =96061NZmで表される。設計上所望
rc
の k /k が要求される場合、たとえ実際の CNTのばね定数 k が算出式 (2)力も相違 rc cij cij
しても、 kが 94000NZm以上と広い範囲で変化できるため、 k /k を設計上所望
rc rc cij
の値に設定することができる。
[0069] なお、本実施の形態 1において、四角型の MEMS共振器 34、 36を 2個連結したが 、図 1 Uこ示したよう【こ、 MEMS共振器 34、 36、 44、 46を 4偶連結したまま用!ヽても よぐ構造には限定はなぐ連結体 38が成長し易い構成を用いるようにすれば良い。
[0070] (実施の形態 2)
次に本発明の実施の形態 2について説明する。
本発明の実施の形態 1における支柱 42は、ポリシリコンで構成した力 本実施の形 態では、この支柱に相当する部分を CNT12で構成する例について説明する。
[0071] 本実施の形態では、振動体の節に相当する部分に孔を形成しておき、この孔に揷 通せしめられるように、自然組織ィ匕により CNTを成長した後、振動体との接続部にポ リシリコンなどを充填し、強固な接続を得るように形成することを特徴とする。 [0072] 図 17乃至 22は、図 1の破線 43の断面に相当する断面で表された製造工程を示す 。図 17は図 5と同様の工程で、図 17は図 5において溝 96を形成するためのマスクと して用いたフォトレジストからなる犠牲層 110を除去する前を示す。
[0073] そして真空蒸着法により、触媒 106を形成する(図 18)。この例では、蒸着装置を使 用することで溝 96の側面に付着するのを避けるようにする。
そして図 19に示すように、リフトオフにより犠牲層 110を除去する工程後、溝 96の 底に残された触媒 106に CNT112を成長させる。
又、図 20では、 CNT112の成長後、 LPCVD法により、溝 96内に酸化シリコン膜 1 14を埋める。ここでは支柱 42の高さまで酸ィ匕シリコン膜 114を形成する。又、 LPCV D法を用いても良いが、 LPCVD法を用いた場合は、シリコン層 94の上に残った酸ィ匕 シリコン膜は CMPなどで除去する必要があるため、あら力じめ犠牲層を形成しておき 、この上層にスパッタ法により酸ィ匕シリコン膜を成膜し、成膜後犠牲層を除去すると共 に犠牲層上の酸ィ匕シリコン膜を除去するリフトオフ工程を行い、不要な場所には酸ィ匕 膜が堆積されな 、ようにしても良 、。
なお、ここでは酸ィ匕シリコン膜を用いたが、材料には限定は無ぐ後の工程で除去 できる膜質であれば良ぐ例えば真空蒸着法により、メタルを蒸着し、リフトオフにより 犠牲層を除去して不要な場所にメタルが堆積されない方法をとつても良い。
[0074] 次に図 21に示すように、 MEMS共振器の部分となる溝 96を LPCVD法によりポリ シリコンなどで埋めて、デバイス層を構成するシリコン層 94の上に残ったポリシリコン は CMPなどで除去する。
[0075] 最後に図 22は図 10で示したのと同様の工程を示し、振動子のパターユング、触媒 の形成とともに酸ィ匕シリコン膜 92を除去し振動子を形成する図 20〜22の製造工程 を実行し、 CNTを支柱に用いた振動子が形成される。
この構成により、 CNTの形成と MEMS工程を一体ィ匕することにより、製造が容易と なる上、振動子と連結体との結合を強固にすることができ、位置合わせも極めて容易 である。
[0076] (実施の形態 3)
図 23は本発明の実施の形態 3における MEMSフィルタの第 2の連結方法を示す。 図 24、 25、 26において、図 23と同じ構成要素については同じ符号を用い、説明を 省略する。
[0077] 本実施の形態では、図 23に示すように、四角型を有する第 1、 2の MEMS共振器 7 0、 72の節に相当する中心部を、 CNTからなる第 1の連結体 74で機械的に接続した ことを特徴とするものである。他は図 1に示した実施の形態 1と同様であり、各 MEMS 共振器の固定電極 76を含む構成である。
また製造方法としては前述した第 2の連結方法に相当するもので、第 1、 2の MEM S共振器 70、 72の振動子を形成したのち、連結体 74で連結するという方法をとる。
[0078] また振動モードとして、実施の形態 1の MEMS共振器振動モードを使用することを 前提とする。この振動モードでは四角型の中心を節としている。このため最適な構造 として図 23に示すように、支柱 84を MEMS共振器 70, 72の下面中心から支える他 、式(1)から示される MEMS共振器と連結体の接続部位にあたる MEMS共振器ば ね定数 kを増加させるため、連結体 74を用いて MEMS共振器 70, 72を、その節付 rc
近で連結する。
[0079] 図 24、 25、 26、 27では第 2の連結方法を使用する力 構成を簡潔にするため、図 24、 25、 26で表す図は、図 23の実施の形態 3で表される第 1の MEMS共振器 70と 第 1の連結体 74のみについて説明する。
なお第 2の連結方法では、連結体と MEMS共振器の製造を分離して構成し、最後 の工程で連結体を MEMS共振器に接続する方法を用 、、ナノサイズの第 1の連結 体 74を移動する方法が必要となる。そこで図 22では、原子間力顕微鏡 (Atomic For ce Microscope ;AFM)などにより、連結体 74と AFMプローブ 78との間にファンデル ワールスカを働かせ、吸着した連結体 74を四角型の中心点まで移動する。図 25は、 さらに連結体 74を MEMS共振器 70に近づけ所望の中心付近に接触させる。その 場合、走査形プローブ顕微鏡 (Scanning Tunneling Microscope; STM)80などにより 、接続部位に導電体粒子 82を設ける。 STMプローブ 80に直流電圧をパルス電圧で 印加することで、その電界で働く静電力により、導電体粒子 82をプローブ 80の端部 に蒸着し、これを接続部位に移動する。
[0080] また、 STMのプローブ 80に蒸着した導電体粒子 82を第 1の MEMS共振器 70と 第 1の連結体 74の接続部位に配置するには、同様に直流パルス電圧 86を印加する ことによって可能となる。図 27は図 25の続きで、第 1の連結体 74を第 2の MEMS共 振器 72に接続する工程を示す。ここでは、図 22で AFMプローブ 78と CNTの端部 7 4が接触している状態を保ち、第 2の MEMS共振器 72の四角型中心部に移動させ、 図 25で導電体粒子 82を移動させた方法と同様の手段を使用し、導電体粒子 88を 第 2の MEMS共振器 72と第 1の連結体 74の接続部位に配置する。この工程によつ て、第 1と第 2の MEMS共振器 70、 72は、第 1の連結体 74によって接続される。図 2 6は図 25の変形図を示し、 AFMプローブ 78の移動中、第 1の連結体 74をコイル状 に成形したものである。この構成により、式(1)の k を減少することが可能となる。
[0081] なお、本実施の形態 1乃至 3において、 MEMS共振器を連結する連結体を CNT で構成した、例えばボトムアップ技術で製造可能な他のナノワイヤであっても良 、。 又、 CNTの種類は、例えば単層 CNT(SWCNT)、多層 CNT(MWCNT)のどちら を使用しても良い。
[0082] 本発明は前記実施の形態に限定されることなぐ適宜変更可能である。
産業上の利用可能性
[0083] 本発明に力かる MEMSフィルタは、簡易でし力も低コスト製造可能なナノサイズの CNTなどを、 MEMS共振器の機械的連結体に使用することによって、質量負荷の 影響のない MEMSフィルタ特性を提供するとともに、設計に柔軟性を有する、小型、 高性能の、モパイル端末を実現するものである。

Claims

請求の範囲
[1] 機械的振動可能に形成された振動体と、前記振動体に対して所定の間隔を隔てて 配設された電極とを有し、電気機械変換を可能にする電気機械共振器を、連結体を 介して複数個連結してなり、
前記連結体がナノサイズの線状体である MEMSフィルタ装置。
[2] 請求項 1に記載の MEMSフィルタ装置であって、
前記連結体はカーボンナノチューブ(CNT)である MEMSフィルタ装置。
[3] 請求項 1に記載の MEMSフィルタ装置であって、
前記連結体はナノワイヤである MEMSフィルタ装置。
[4] 請求項 1に記載の MEMSフィルタ装置であって、
前記振動体は、四角形をなし、少なくとも 1つの節を有する MEMS共振器を構成 すると共に、基板に支持せしめられるように少なくとも 1つの支持機構を具備した ME MSフィルタ装置。
[5] 請求項 1に記載の MEMSフィルタ装置であって、
前記連結体は複数本で構成される MEMSフィルタ装置。
[6] 請求項 1に記載の MEMSフィルタ装置であって、
前記連結体は前記振動体の複数箇所を接続するように構成された MEMSフィルタ 装置。
[7] 請求項 1に記載のフィルタ装置であって、
前記連結体はコイル状体である MEMSフィルタ装置。
[8] 請求項 4に記載の MEMSフィルタ装置であって、
前記支持機構はカーボンナノチューブで構成される MEMSフィルタ装置。
[9] 請求項 1に記載の MEMSフィルタ装置であって、
前記連結体は前記振動体の節で連結される MEMSフィルタ装置。
[10] 機械的振動可能に形成された少なくとも 2つの振動体と、前記各振動体に対して所 定の間隔を隔てて配設された電極とを有し、電気機械変換を可能にする電気機械共 振器を、基板上に近接して配置形成する工程と、
前記振動体を、ボトムアップ技術により、ナノサイズの線状体からなる連結体で接続 する連結構造を形成する工程とを含む MEMSフィルタ装置の製造方法。
[11] 請求項 10に記載の MEMSフィルタ装置の製造方法であって、
前記連結構造を形成する工程は、前記振動体の所定の位置に触媒を形成し、前 記触媒力 前記連結体を成長する工程を含む MEMSフィルタ装置の製造方法。
[12] 請求項 10に記載の MEMSフィルタ装置の製造方法であって、
前記連結構造を形成する工程は、前記振動体の所定の位置で前記連結体を移動 し配置する工程を含む MEMSフィルタ装置の製造方法。
[13] 請求項 10に記載の MEMSフィルタ装置の製造方法であって、
前記連結構造を形成する工程は、
カーボンナノチューブを形成する工程を含む MEMSフィルタ装置の製造方法。
[14] 請求項 10に記載の MEMSフィルタ装置の製造方法であって、
カーボンナノワイヤを形成する工程を含む MEMSフィルタ装置の製造方法。
[15] 請求項 13乃至 14のいずれかに記載の MEMSフィルタ装置の製造方法であって、 前記連結構造を形成する工程が、第 1の MEMS共振器に負の DC電圧を印加す るとともに、前記第 1の MEMS共振器に隣接して設けられた第 2の MEMS共振器に は、正の DC電圧を印加せしめることによってカーボンナノチューブまたはカーボンナ ノワイヤを成長させる工程を含む MEMSフィルタ装置の製造方法。
[16] 請求項 10に記載の MEMSフィルタ装置の製造方法であって、
前記連結構造を形成する工程は、前記振動体の節に相当する位置に前記連結体 を配置する工程を含む MEMSフィルタ装置の製造方法。
[17] 請求項 10に記載の MEMSフィルタ装置の製造方法であって、
前記連結構造を形成する工程は、原子力顕微鏡 (AFM)のプローブを用いて前記 連結体を前記振動体の所望の領域に配置する工程と、
前記連結体の結合に先立ち、走査型トンネル顕微鏡 (STM)のプローブで生成さ れるパルスを用いて導電性粒子を前記振動体の所望の領域に移動させ配置するェ 程とを含むフィルタ装置の製造方法。
[18] 請求項 10に記載のフィルタ装置の製造方法であって、
前記連結構造を形成する工程は、前記振動体の形状加工を行なう MEMS工程に おいて犠牲層を除去し、前記振動体の形状加工を行なうに先立ち、実行される ME MSフィルタ装置の製造方法。
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