WO2005108959A1 - Dispositif et procede de mesure de la reflectivite d'une cellule solaire - Google Patents

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WO2005108959A1
WO2005108959A1 PCT/FR2005/050305 FR2005050305W WO2005108959A1 WO 2005108959 A1 WO2005108959 A1 WO 2005108959A1 FR 2005050305 W FR2005050305 W FR 2005050305W WO 2005108959 A1 WO2005108959 A1 WO 2005108959A1
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WO
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solar cell
light
diffuser
wavelength
reflectivity
Prior art date
Application number
PCT/FR2005/050305
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Inventor
Claude Levy-Clement
Lars Korte
Stéphane BASTIDE
Original Assignee
Centre National De La Recherche Scientifique
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Publication date
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
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    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems

Definitions

  • the present invention relates to a device and a method for measuring the reflectivity of a solar cell.
  • Solar cells are the subject of intense research and many advances have recently been reported in terms of their performance. It seems necessary from a mass production perspective, to have non-destructive techniques to control the quality of the solar cells manufactured. An important parameter is then the optical reflectivity of the solar cell.
  • Detection devices are known, for example, US Pat. Nos. 5,367,174 and EP 0 619 484 which aim to detect mechanical faults and cracks in solar cells and / or wafers of integrated circuits (wafer). However, these devices do not provide for carrying out optical reflectivity measurements on the surface of a solar cell in order to determine the optical characteristics of this surface.
  • a number of systems are also known for measuring the optical reflectivity of the surface of a solar cell.
  • a light beam is sent to a sample that one seeks to characterize and its response is measured by means of a detector. This response can be reflected or transmitted light.
  • spectrophotometers are generally used to determine the optical reflectivity curves of solar cells.
  • the spectrophotometer of patent WO 0067001 measures the reflectivity over the entire surface of a solar cell uniformly. An average reflectivity curve is obtained for the entire surface.
  • This system includes a very bulky and inconvenient integrating sphere.
  • the surface area of the sample measured by a spectrophotometer is of the order of a few mm 2 .
  • a standard spectrophotometer is not equipped with a mechanism enabling the sample or the illumination beam to be moved in order to measure several regions of the same sample. This movement, which must be carried out by the operator, causes a substantial loss of time. For the same reason, it is very difficult to be able to make comparative measurements of the surface of a solar cell before and after a treatment, since it is difficult to place the treated surface again at the measurement point before treatment.
  • the spectrophotometer is a very expensive device.
  • the scanner which is an electronic image scanning device.
  • An image to be scanned is scanned by a beam emitted by a light source.
  • the light beam is absorbed if it is received by a "black color” area of the original image or reflected if it is received by a "white color” area.
  • the reflected beam is sent to a detector.
  • the detected light signals are then transformed into electronic pulses, then into digital data by an analog-digital converter.
  • Scanners have very attractive characteristics since they are compact, reliable and inexpensive. However, a direct measurement of the reflectivity of a solar cell with a scanner is not possible.
  • the reflection of the beam emitted by the light source on the surface of the solar cell is specular and therefore cannot be picked up by the load sensor detection element of the scanner (charge coupled device - "CCD").
  • CCD charge coupled device
  • the latter is in fact mounted in fixed geometry outside of direct reflection on a carriage with the light source, the carriage moving longitudinally to allow scanning of the surface of the original image.
  • By placing a mirror directly on the scanner we do not obtain, as we might expect, a "white” image, but a black image.
  • the objective of the present invention is to provide a device and a method for measuring the reflectivity of a surface of a solar cell, simple in their design and in their operating mode, very fast and economical making it possible to measure in a single times the reflectivity of the surface of a solar cell and implementing a scanner.
  • the invention relates to a method for measuring the reflectivity of a surface of a solar cell in which - said surface is illuminated by monochromatic light at a wavelength ⁇ or polychromatic at several wavelengths ⁇ j generated by a light source, - part of the light reflected in the half-space delimited by the surface of the solar cell is measured point by point, said measurement being converted into an electrical signal.
  • the light from the source is scattered by a light diffuser before illuminating the surface of the solar cell
  • - the light reflected by the surface of the solar cell is itself scattered by said diffuser before d '' be converted into an electrical signal
  • - the electrical signal is processed for a given area of the surface of the solar cell by comparison with a set of predetermined parameters, said set of parameters comprising average measurements of the reflectivity of the diffuser not previously covered performed for the wavelength ⁇ or each of the different wavelengths ⁇ j of said light, to determine the reflectivity of the surface of the solar cell for the area given for the wavelength ⁇ or each of the wavelengths ⁇ j different from said light generated by said light source.
  • the present invention also relates to the following characteristics which must be considered in isolation or according to all their technically possible combinations: - a calibration of the light diffuser is carried out to obtain said predetermined parameters of the uncovered diffuser, said calibration being carried out by sending monochromatic light at a wavelength ⁇ or polychromatic light at several different wavelengths ⁇ j over said diffuser and measuring at least part of the light reflected by said diffuser for the length of wave ⁇ or each of the different wavelengths ⁇ j of said light generated by said light source, - the set of predetermined parameters comprises at least one additional measurement corresponding to a calibration of the light diffuser with a reference sample, said diffuser being placed between the re sample ference and said light source, - the reference sample is chosen from a group comprising a sheet of paper and a mirror-polished silicon wafer, - the given area of the surface of the solar cell comprises only part of the surface of the solar cell, - the area given surface of the solar cell includes eight square areas distributed on the surface of the solar cell, -
  • the invention also relates to a device for measuring the reflectivity of a surface of a solar cell, said device comprising a scanner.
  • the scanner comprises a light diffuser placed directly in contact with the solar cell and a light source emitting monochromatic light at a wavelength ⁇ or polychromatic at several different wavelengths ⁇ j and the device comprises processing unit receiving electrical signals Si emitted by said scanner, each of said signals Si being representative of a measure of the reflectivity of a given area of the surface of the solar cell for the wavelength ⁇ or for a length d ⁇ j wave given.
  • a scanner is called any device comprising a light source and a detector, in which a surface of an object to be measured is scanned by a beam emitted by the light source, the beam reflected by this surface being detected and transformed. in electrical impulses. The object's surface is scanned more quickly.
  • the storage unit is typically a memory for storing data.
  • the electronic means can also be used to load from the storage unit at least one additional parameter corresponding to a calibration of the light diffuser with a reference sample for this wavelength ⁇ or for a given wavelength ⁇ j.
  • the light diffuser comprises a sheet of tracing paper
  • the light diffuser comprises a frosted glass pane, said pane serving as means for supporting the solar cell to be measured
  • the scanner comprises a photosensitive multi-point detector.
  • FIG. 1 is a schematic representation of a device for measuring the reflectivity of a solar cell, according to a mode of realization of the invention
  • - Figure 2 is a schematic representation of images of a microcrystalline silicon wafer placed on a light diffuser, according to a first embodiment of the invention
  • - Figure 3 compares the reflectivity measurements of a solar cell made with a scanner (the ordinate axis) and with a spectrophotometer (the abscissa axis).
  • An object of the present invention is to measure the effective reflectivity
  • the effective reflectivity thus defined has the advantage of reappearing in the formula which is used to calculate the energy efficiency ⁇ of a solar cell which is probably the most important coefficient of merit. This coefficient is proportional to 1 minus the effective reflectivity, ie ⁇ ⁇ (1-R e ) To arrive at such a measurement of the effective reflectivity, it is necessary to determine the reflectivity of a surface of a solar cell for each of the wavelengths ⁇ j.
  • the first step in the method of measuring the reflectivity of a surface of a solar cell consists in acquiring one or more point-by-point measurements of at least part of the light reflected in the half-space delimited by the surface of the solar cell, through a light diffuser.
  • the diffuser here has two functions. First of all, it diffuses the light coming from the light source which has an angular distribution. Then, it distributes the light reflected by the surface of the solar cell over a very wide range of angles, including the angle at which the detector "sees" the surface of the solar cell.
  • the light diffuser is, for example, the glass of a scanner which is frosted, a sheet of tracing paper or the like.
  • the surface of the solar cell to be measured covers the sheet of tracing paper placed, for example, on the glass of a scanner.
  • the scanner comprises a light source emitting monochromatic or polychromatic light towards the surface of the solar cell to be measured, means making it possible to move the light source so that the emitted light scans the surface of said cell and a detector for collecting the reflected light.
  • the latter is for example a multi-point photosensitive detector, advantageously a detector with charge transfer device ("charge-coupled diode" - CCD).
  • a point by point measurement by the detector of at least part of the reflected and scattered light, the light intensity of the light reflected at a point on the surface of the solar cell, then scattered by the light diffuser and measured for the wavelength ⁇ or each of the different wavelengths ⁇ j of this light generated by this light source.
  • the detector is a CCD detector comprising a matrix of elementary detectors, also called pixels, to the region of the surface imaged by a pixel.
  • These measurements are converted into electrical signals, which are sent at the output of the photosensitive detector to a real-time processing unit for storage (step 2).
  • the processing unit for example a computer, also includes means making it possible to display the measurements obtained, for example a screen.
  • These signals are then digitally processed for a given area of the surface of the solar cell with software (step 3).
  • This area can then correspond to only part or to the whole surface of the solar cell.
  • a set of predetermined parameters is then loaded onto the processing unit.
  • These predetermined parameters include at least average measurements of the reflectivity of the uncovered light diffuser, each of these average measurements being carried out for a different wavelength ⁇ j in the case of a polychromatic light source 4 with several lengths of wave ⁇ j.
  • Each average measurement is obtained by a statistical processing of a set of measurements of the reflectivity of the light diffuser not covered for the corresponding wavelength ⁇ j.
  • Each measurement in this set is obtained by calibrating the light diffuser. This calibration is carried out for each of the different wavelengths ⁇ j of this light emitted by the light source by sending a wavelength ⁇ j on the uncovered diffuser and measuring at least part of the light reflected by it.
  • Each of these predetermined parameters thus defines a zero reflectivity value of the light diffuser for said wavelength ⁇ j.
  • the set of predetermined parameters comprises at least one average measurement of the reflectivity of the uncovered diffuser made for this wavelength ⁇ .
  • This set of predetermined parameters makes it possible to eliminate the spurious signal corresponding to the reflection due to the light diffuser 6, ie mainly on its underside receiving the light beam during the measurement.
  • the set of parameters further comprises one or more additional measurements corresponding to a calibration of the light diffuser with a different reference sample, the reflectivity of which at the wavelength ⁇ or for each different wavelengths ⁇ j is known, said diffuser being placed between the reference sample and said light source.
  • This sample is then chosen from a group comprising, for example mirror polished silicon, a sheet of paper, etc.
  • the reflectivity for the given area of the surface of the solar cell for the wavelength is then determined by digital processing.
  • ⁇ of the monochromatic light or each of the different wavelengths ⁇ j of the polychromatic light generated by the light source 4 by comparing the measured value of the reflectivity of the light diffuser in the presence of the solar cell for this area and for the length d wave ⁇ or a wavelength ⁇ j given with respect to the zero reflectivity value of the corresponding diffuser (step 4).
  • the processing means can also directly control external devices placed on an installation for manufacturing the solar cells to be measured (step 5).
  • the reflectivity measurements supplied to layer deposition devices make it possible to adapt the deposition of anti-reflection layers to the surface of the solar cell, for example.
  • the invention also relates to a device for measuring the reflectivity of a surface 1 of a solar cell 2, said device comprising a scanner 3 comprising means for supporting the sample to be measured.
  • the scanner 3 comprises a light source 4 intended to generate a monochromatic light of a wavelength ⁇ or polychromatic at several different wavelengths ⁇ j and to send it to the surface 1 of a solar cell 2. This light is scattered on its path by a light diffuser 6 which is either a frosted glass pane serving as support means, a sheet of tracing paper placed on said support means of the scanner or the like.
  • FIG. 1 shows such a measuring device in the particular embodiment where the light diffuser 6 is constituted by a frosted glass pane serving as support means for the scanner of the solar cell to be measured.
  • the light reflected by the surface 1 of the solar cell 2 which is itself diffused by the diffuser 6, is at least partly received by a detector 7.
  • This detector 7 is for example, a multi-point photosensitive detector, each of the points being assigned a pair of coordinates (x, y).
  • the light source 4 and the detector 7 are mounted on a carriage 8 which can move so that the light waves scan the surface 1 of the solar cell 2. The movement of this carriage 8 is advantageously controlled by electronic control means external.
  • the measurement device also comprises a processing unit 9 receiving signals emitted by said scanner 3 and means making it possible to display said signals, for example, a screen 10, as well as software for processing the data as described above.
  • the electronic control means are preferably mounted on the processing unit 9.
  • FIG. 2 gives a first embodiment of the invention for the measurement of the reflectivity of the surface 1 of a solar cell 2 implementing a scanner 3.
  • the solar cell 2 is a multi-crystalline silicon wafer dimensions 12.5 x 12.5 cm 2 .
  • the measurements are carried out in eight zones 11 distributed on the surface 1 of the solar cell 2 by a scanner 3 comprising a CCD detector 7.
  • Each of these zones 11 corresponds to 1x1 cm 2, for example 79 x 79 pixels at a resolution of 200 dpi ("dots per inch" - which is a resolution more than sufficient for the proposed treatment.
  • the dimensions of these zones 11 correspond to the regions usually measured using a spectrophotometer and are represented in FIG. 2a) by squares having a white outline.
  • the measurement sequence is as follows: (a) We place a light diffuser 6 on the glass plate of a scanner 3.
  • the scanner driver 3 we deactivate all the automatic mechanisms controlling, for example, exposure, the gray values considered to be black and white, and we choose the exposure parameters so that the average gray value is almost black (for example, 2-3% of the maximum value).
  • the maximum measurable reflectivity to, for example, 40% and thus gain in resolution in the interesting reflectivity range from 0 to 40%.
  • the results are reproducible and do not depend on factors such as the duration of operation of the scanner 3 (cold / hot lamp) or the "aging" of the lamp 4.
  • the wafers 2 are measured with the scanner 3 with a resolution of 200 dpi, in 16 bit black and white or 24 bit colors. Each wafer 2 is measured with the scanner 3 four times. Between each acquisition, the plate 2 is rotated 90 ° counterclockwise. The four measurement acquisitions are necessary because it has been found that the diffuser 6 cannot compensate for the part of the specular reflection of certain grains of multicrystalline silicon, and it is therefore necessary to calculate the average of the four orientations. A better diffuser would make a single acquisition. (d) Using standard software, the average reflectivity is calculated. The same measurements are made on the other three images (90, 180 and 270 °).
  • FIG. 2a corresponds to an image of the solar cell produced with said scanner for a rotation of 0 ° on the upper side 17 of the solar cell.
  • Figure 2b) corresponds to an image of the solar cell for a rotation of 90 ° anticlockwise with respect to the previous figure.
  • FIGS. 2c) and 2d) correspond to the images of the solar cell produced with said scanner after rotation of the latter by an angle of 180 ° and 270 ° respectively with respect to FIG.
  • a scanner 3 allows the "measurement" of the reflectivity from the surface 1 of a solar cell 2 in the range of wavelengths of light, that is, between ⁇ 400 and 700 nm.
  • the three red / green / blue (RGB) components of a "pixel" of the image acquired with the scanner 3 correspond in a first approximation to the convolution of the sensitivity curve S R ( ⁇ ) / Sv ( ⁇ ) / S ⁇ ( ⁇ ) of detector 7 which is a CCD detector sensitive to red / green / blue, with the power of the light reflected at a point on the surface 1 of the solar cell with coordinates (x, y).
  • the electrical signal "seen” by the scanner in red / green / blue r S c (x, y) / Vsc (x, y) / b S c (x > y) is proportional to the convolution of the reflected light power spectrum P ( ⁇ ) with the three sensitivity curves of the scanner, r (x, y) / v (x, y) / b (x, y).
  • the sensitivity curves of scanner 3 are quite wide and scanner 3 is therefore not sensitive to rapid variations in the R ( ⁇ ) spectrum.
  • the reflectivity curves of our samples are flat, and we can assume that the RGB colors give, properly calibrated, a good estimate of the reflectivity in the range of wavelengths where their respective sensitivity is maximum.
  • the reflectivity curves were measured using a standard spectrophotometer in several regions of the same sample having different reflection properties, then their effective reflectivities R e were calculated. These effective reflectivities were compared with the average gray value obtained for the color images (100 x 100 pixels) produced with the method of the present invention by implementing a scanner.
  • Figure 3 shows the results obtained for the two types of measurement (R e calibrated as a percentage and R SC anner not calibrated) with different types of samples: mirror polished silicon, textured silicon (by soda, by electrochemistry) with and without Ti0 2 anti-reflective layer , white paper.
  • the abscissa axis 12 represents R e in percentage and the ordinate axis 13 represents the gray values of R SCa nn e r on an arbitrary scale, defined by the 16-bit resolution of the scanned images.
  • Values 14 obtained using a white sheet of paper as a reference sample for obtaining a set of predetermined parameters, with a fairly flat curve R ( ⁇ ), but with an R e equal to 98% are also presented.
  • a first curve 15 (in solid line) and a second curve 16 (in dotted line) represent calculated adjustment curves.
  • the first one curve 15 which uses the values 14 obtained using a sheet of paper shows a better fit.
  • the precision obtained is quite sufficient.
  • This precision can nevertheless be improved by further optimizing the light diffuser 6, for example by taking not a sheet of tracing paper but a frosted glass for the scanner glass, and by using not only the gray value defined above, but all the additional information related to the three R / G / B colors.

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Abstract

L'invention concerne un dispositif et un procédé de mesure de la réflectivité d'une surface (1) d'une cellule solaire (2) dans lequel ladite surface (1 ) étant éclairée par une lumière monochromatique à une longueur d'onde λ ou polychromatique à plusieurs longueurs d'onde λi (5), on mesure point par point une partie de la lumière réfléchie dans le demi-espace délimité par la surface (1 ) de la cellule solaire (2), ladite mesure étant convertie en un signal électrique. Selon l'invention, la lumière générée par la source (4) est diffusée par un diffuseur de lumière (6) avant d'éclairer la surface (1 ) de la cellule solaire, la lumière réfléchie par ladite surface (1 ) étant elle- même diffusée par ledit diffuseur (6). On traite le signal électrique pour une zone donnée de ladite surface (1 ) par comparaison avec un jeu de paramètres prédéterminés, ledit jeu de paramètres comprenant des mesures moyennes de la réflectivité du diffuseur (6) réalisées pour la longueur d'onde λ ou chacune des longueurs d'onde différentes λi de ladite lumière, pour déterminer la réflectivité de ladite surface (1 ) de la zone donnée pour la longueur d'onde λ ou chacune des longueurs d'onde λi différentes de ladite lumière.

Description

DISPOSITIF ET PROCEDE DE MESURE DE LA REFLECTIVITE D'UNE CELLULE SOLAIRE
La présente invention concerne un dispositif et un procédé de mesure de la réflectivité d'une cellule solaire. Les cellules solaires font l'objet d'intenses recherches et de nombreuses avancées ont été récemment rapportées quant à leur rendement. Il apparaît nécessaire dans une perspective de production de masse, de disposer de techniques non destructives permettant de contrôler la qualité des cellules solaires fabriquées. Un paramètre important est alors la réflectivité optique de la cellule solaire. On connaît des dispositifs de détection, par exemple, des brevets US 5 367 174 et EP 0 619 484 qui visent à détecter des défauts mécaniques et des fissures sur des cellules solaires et/ou des galettes de circuits intégrés (wafer). Cependant, ces dispositifs ne prévoient pas d'effectuer des mesures de réflectivité optique sur la surface d'une cellule solaire afin de déterminer les caractéristiques optiques de cette surface. On connaît par ailleurs un certain nombre de systèmes permettant de mesurer la réflectivité optique de la surface d'une cellule solaire. Typiquement dans ces systèmes de mesure, un faisceau lumineux est envoyé sur un échantillon que l'on cherche à caractériser et sa réponse est mesurée au moyen d'un détecteur. Cette réponse peut être la lumière réfléchie ou transmise. Dans ces systèmes des spectrophotomètres sont généralement mis en œuvre pour déterminer les courbes de réflectivité optique de cellules solaires. Par exemple, le spectrophotomètre du brevet WO 0067001 mesure la réflectivité sur toute la surface d'une cellule solaire uniformément. On obtient une courbe de réflectivité moyenne pour toute la surface. Ce système comprend une sphère intégrante très encombrante et peu pratique. Ces dispositifs présentent de nombreux désavantages: - Le temps nécessaire pour l'acquisition d'une courbe de réflectivité est de l'ordre de plusieurs minutes. Or dans un objectif de contrôle et de surveillance de fabrication, il est non seulement nécessaire de disposer de techniques qui soient non destructives mais également rapides. - La région de surface de l'échantillon mesurée par un spectrophotomètre est de l'ordre de quelques mm2. Or un spectrophotomètre standard n'est pas équipé d'un mécanisme permettant de déplacer l'échantillon ou le faisceau d'illumination afin de mesurer plusieurs régions d'un même échantillon. Ce déplacement qui doit être réalisé par l'opérateur, occasionne une perte substantielle de temps. Pour la même raison, il est très difficile de pouvoir faire des mesures comparatives de la surface d'une cellule solaire avant et après un traitement, puisqu'il est difficile de placer de nouveau la surface traitée au point de mesure avant traitement. - Enfin, le spectrophotomètre est un appareil très coûteux. On connaît, par ailleurs, le scanner qui est un appareil électronique de numérisation d'images. Une image à numériser est balayée par un faisceau émis par une source de lumière. Le faisceau de lumière est absorbé s'il est reçu par une zone de "couleur noire" de l'image originale ou réfléchi s'il est reçu par une zone de "couleur blanche". Le faisceau réfléchi est envoyé vers un détecteur. Les signaux lumineux détectés sont alors transformés en impulsions électroniques, puis en données numériques par un convertisseur analogique-digital. Les scanners présentent des caractéristiques très attractives puisqu'ils sont compacts, fiables et peu onéreux. Cependant, une mesure directe de la réflectivité d'une cellule solaire avec un scanner n'est pas possible. La réflexion du faisceau émis par la source de lumière à la surface de la cellule solaire est spéculaire et ne peut donc pas être captée par l'élément de détection à capteur de charges du scanner (charge coupled device -"CCD"). Ce dernier est en effet monté en géométrie fixe en dehors de la réflexion directe sur un chariot avec la source de lumière, le chariot se déplaçant longitudinalement pour permettre le balayage de la surface de l'image originale. En posant un miroir directement sur le scanner, on n'obtient donc pas, comme on pourrait l'attendre, une image "blanche", mais une image noire. L'objectif de la présente invention est de proposer un dispositif et un procédé de mesure de la réflectivité d'une surface d'une cellule solaire, simples dans leur conception et dans leur mode opératoire, très rapides et économiques permettant de mesurer en une seule fois la réflectivité de la surface d'une cellule solaire et mettant en œuvre un scanner. A cet effet, l'invention concerne un procédé de mesure de la réflectivité d'une surface d'une cellule solaire dans lequel - ladite surface est éclairée par une lumière monochromatique à une longueur d'onde λ ou polychromatique à plusieurs longueurs d'onde λj générée par une source lumineuse, - on mesure point par point une partie de la lumière réfléchie dans le demi-espace délimité par la surface de la cellule solaire, ladite mesure étant convertie en un signal électrique. Selon l'invention, - la lumière de la source est diffusée par un diffuseur de lumière avant d'éclairer la surface de la cellule solaire, - la lumière réfléchie par la surface de la cellule solaire est elle-même diffusée par ledit diffuseur avant d'être convertie en un signal électrique, - on traite le signal électrique pour une zone donnée de la surface de la cellule solaire par comparaison avec un jeu de paramètres prédéterminés, ledit jeu de paramètres comprenant des mesures moyennes de la réflectivité du diffuseur non recouvert préalablement réalisées pour la longueur d'onde λ ou chacune des longueurs d'onde différentes λj de ladite lumière, pour déterminer la réflectivité de la surface de la cellule solaire pour la zone donnée pour la longueur d'onde λ ou chacune des longueurs d'onde λj différentes de ladite lumière générée par ladite source lumineuse. Dans différents modes de réalisation, la présente invention concerne également les caractéristiques suivantes qui devront être considérées isolément ou selon toutes leurs combinaisons techniquement possibles : - on effectue une calibration du diffuseur de lumière pour obtenir lesdits paramètres prédéterminés du diffuseur non recouvert, ladite calibration étant réalisée par l'envoi d'une lumière monochromatique à une longueur d'onde λ ou polychromatique à plusieurs longueurs d'onde différentes λj sur ledit diffuseur et la mesure d'au moins une partie de la lumière réfléchie par ledit diffuseur pour la longueur d'onde λ ou chacune des longueurs d'ondes différentes λj de ladite lumière générée par ladite source lumineuse, - le jeu de paramètres prédéterminés comprend au moins une mesure supplémentaire correspondant à une calibration du diffuseur de lumière avec un échantillon de référence, ledit diffuseur étant placé entre l'échantillon de référence et ladite source de lumière, - l'échantillon de référence est choisi dans un groupe comprenant une feuille de papier et une plaquette de silicium poli miroir, - la zone donnée de la surface de la cellule solaire comprend une partie seulement de la surface de la cellule solaire, - la zone donnée de la surface de la cellule solaire comprend huit zones carrées réparties à la surface de la cellule solaire, - la zone donnée de la surface de la cellule solaire est la totalité de la surface de la cellule solaire. - on réalise au moins quatre mesures de réflectivité de la surface de la cellule solaire, ledit objet subissant une rotation d'un angle de 90° entre chacune des mesures. L'invention concerne également un dispositif de mesure de la réflectivité d'une surface d'une cellule solaire, ledit dispositif comprenant un scanner. Selon l'invention, le scanner comprend un diffuseur de lumière placé directement en contact avec la cellule solaire et une source lumineuse émettant une lumière monochromatique à une longueur d'onde λ ou polychromatique à plusieurs longueurs d'onde différentes λj et le dispositif comprend une unité de traitement recevant des signaux électriques Si émis par ledit scanner, chacun desdits signaux Si étant représentatif d'une mesure de la réflectivité d'une zone donnée de la surface de la cellule solaire pour la longueur d'onde λ ou pour une longueur d'onde λj donnée. On appelle, ici, un scanner tout dispositif comportant une source de lumière et un détecteur, dans lequel une surface d'un objet à mesurer est balayée par un faisceau émis par la source de lumière, le faisceau réfléchi par cette surface étant détecté et transformé en impulsions électriques. Le balayage de la surface de l'objet s'effectue de plus rapidement. Dans différents modes de réalisation, la présente invention concerne également les caractéristiques suivantes qui devront être considérées isolément ou selon toutes leurs combinaisons techniquement possibles : - l'unité de traitement comprend: • une unité de stockage de données, • des moyens électroniques pour charger à partir de l'unité de stockage au moins un couple de paramètres prédéterminés comprenant une valeur de calibration dudit diffuseur de lumière non recouvert et la longueur d'onde λ ou ladite longueur d'onde λj pour laquelle cette calibration a été préalablement réalisée, lesdits moyens électroniques produisant au moins un signal électrique S2 représentatif d'une mesure moyenne de la réflectivité du diffuseur non recouvert pour cette longueur d'onde λ ou pour une longueur d'onde λj donnée, • des moyens électroniques de comparaison produisant au moins un signal S=SrS2, • des moyens de visualisation du signal S.
L'unité de stockage est typiquement une mémoire permettant de stocker des données. Les moyens électroniques peuvent également servir à charger de l'unité de stockage au moins un paramètre supplémentaire correspondant à une calibration du diffuseur de lumière avec un échantillon de référence pour cette longueur d'onde λ ou pour une longueur d'onde λj donnée. - le diffuseur de lumière comprend une feuille de papier calque, - le diffuseur de lumière comprend une vitre en verre dépoli, ladite vitre servant de moyens de support de la cellule solaire à mesurer, - le scanner comprend un détecteur photosensible multipoints. Dans différents modes de réalisation possibles, l'invention sera décrite plus en détail en référence aux dessins annexés dans lesquels : - la figure 1 est une représentation schématique d'un dispositif de mesure de la réflectivité d'une cellule solaire, selon un mode de réalisation de l'invention; - la figure 2 est une représentation schématique d'images d'une plaquette de silicium microcristallin placée sur un diffuseur de lumière, selon un premier mode de mise en œuvre de l'invention; - la figure 3 compare les mesures de la réflectivité d'une cellule solaire réalisées avec un scanner (l'axe des ordonnées) et avec un spectrophotomètre (l'axe des abscisses). Un objet de la présente invention est de mesurer la réflectivité effective
Reff des cellules solaires (ou de tout autre matériau ayant des propriétés optiques similaires). La réflectivité effective est, dans le contexte des applications photovoltaïques, définie comme l'intégrale sur toutes les longueurs d'ondes λ du produit de la réflectivité d'une cellule solaire, R(λ), et de la puissance de la lumière venant du soleil, PSOι(λ), c'est-à-dire: Re = {(f?(λ)xP∞/(λ)Vλ
La réflectivité effective définie ainsi a l'avantage de réapparaître dans la formule qui est utilisée pour calculer le rendement énergétique η d'une cellule solaire qui est probablement le coefficient de mérite le plus important. Ce coefficient est proportionnel à 1 moins la réflectivité effective, i.e. η ~ (1-Re ) Pour parvenir à une telle mesure de la réflectivité effective, il est nécessaire de déterminer la réflectivité d'une surface d'une cellule solaire pour chacune des longueurs d'onde λj. La première étape du procédé de mesure de la réflectivité d'une surface d'une cellule solaire consiste en l'acquisition d'une ou plusieurs mesures point par point d'au moins une partie de la lumière réfléchie dans le demi-espace délimité par la surface de la cellule solaire, au travers d'un diffuseur de lumière. Pour cela, on envoie une lumière monochromatique à une longueur d'onde λ ou polychromatique à plusieurs longueurs d'onde λj différentes, générée par une source lumineuse vers la surface de la cellule solaire, un diffuseur de lumière étant placé entre cette surface et la source de lumière. Le diffuseur a ici deux fonctions. Tout d'abord, il diffuse la lumière venant de la source de lumière qui présente une distribution angulaire. Ensuite, il distribue la lumière réfléchie par la surface de la cellule solaire sur une gamme d'angles très étendue, y compris l'angle sous lequel le détecteur "voit" la surface de la cellule solaire. Le diffuseur de lumière est, par exemple, la vitre d'un scanner qui est dépolie, une feuille de papier calque ou autre. Dans ce dernier cas, la surface de la cellule solaire à mesurer recouvre la feuille de papier calque posée, par exemple, sur la vitre d'un scanner. Le scanner comprend une source lumineuse émettant une lumière monochromatique ou polychromatique vers la surface de la cellule solaire à mesurer, des moyens permettant de déplacer la source lumineuse de sorte que la lumière émise balaye la surface de ladite cellule et un détecteur pour collecter la lumière réfléchie. Ce dernier est par exemple un détecteur photosensible multipoints, avantageusement un détecteur à dispositif à transfert de charges ("charge-coupled diode"- CCD). On entend par une "mesure point par point" par le détecteur d'au moins une partie de la lumière réfléchie et diffusée, l'intensité lumineuse de la lumière réfléchie en un point de la surface de la cellule solaire, puis diffusée par le diffuseur de lumière et mesurée pour la longueur d'onde λ ou chacune des longueurs d'onde différentes λj de cette lumière générée par cette source lumineuse. Ce point correspond, dans le mode de réalisation particulier où le détecteur est un détecteur CCD comportant une matrice de détecteurs élémentaires, encore appelés pixels, à la région de la surface imagée par un pixel. Ces mesures sont converties en signaux électriques, lesquels sont envoyés en sortie du détecteur photosensible vers une unité de traitement en temps réel pour stockage (étape 2). L'unité de traitement, par exemple un ordinateur, comporte également des moyens permettant de visualiser les mesures obtenues, par exemple un écran. On traite ensuite numériquement ces signaux pour une zone donnée de la surface de la cellule solaire avec un logiciel (étape 3). Cette zone peut alors correspondre à une partie seulement ou à la totalité de la surface de la cellule solaire. On définit dans un premier temps l'intensité lumineuse mesurée l(λ) pour la longueur d'onde λ ou l(λj) pour chacune des longueurs d'onde différentes λj de cette lumière générée par la source lumineuse pour cette zone, en sommant les intensités de lumière réfléchie et diffusée, mesurées point par point, i.e. pour chacun des points de cette zone, par le détecteur. On charge ensuite sur l'unité de traitement un jeu de paramètres prédéterminés. Ces paramètres prédéterminés comprennent au moins des mesures moyennes de la réflectivité du diffuseur de lumière non recouvert, chacune de ces mesures moyennes étant réalisée pour une longueur d'onde λj différente dans le cas d'une source de lumière 4 polychromatique à plusieurs longueurs d'onde λj. Chaque mesure moyenne est obtenue par un traitement statistique d'un ensemble de mesures de la réflectivité du diffuseur de lumière non recouvert pour la longueur d'onde λj correspondante. Chaque mesure de cet ensemble est obtenue par une calibration du diffuseur de lumière. Cette calibration est réalisée pour chacune des longueurs d'onde différentes λj de cette lumière émise par la source lumineuse par l'envoi d'une longueur d'onde λj sur le diffuseur non recouvert et la mesure d'au moins une partie de la lumière réfléchie par celui-ci. Chacun de ces paramètres prédéterminés définit ainsi une valeur de réflectivité nulle du diffuseur de lumière pour ladite longueur d'onde λj. Bien entendu, dans le cas d'une source de lumière 4 monochromatique à une longueur d'onde λ, le jeu de paramètres prédéterminés comprend au moins une mesure moyenne de la réflectivité du diffuseur non recouvert réalisée pour cette longueur d'onde λ. Ce jeu de paramètres prédéterminés permet d'éliminer le signal parasite correspondant à la réflexion due au diffuseur de lumière 6, i.e. principalement sur sa face inférieure recevant le faisceau de lumière lors de la mesure. Si on cherche à effectuer des mesures calibrées en pourcentage, le jeu de paramètres comprend de plus une ou plusieurs mesures supplémentaires correspondant à une calibration du diffuseur de lumière avec un échantillon de référence différent dont la réflectivité à la longueur d'onde λ ou pour chacune des longueurs d'onde différentes λj est connue, ledit diffuseur étant placé entre l'échantillon de référence et ladite source de lumière. Cet échantillon est alors choisi dans un groupe comprenant, par exemple du silicium poli miroir, une feuille de papier, etc.. On détermine ensuite par traitement numérique la réflectivité pour la zone donnée de la surface de la cellule solaire pour la longueur d'onde λ de la lumière monochromatique ou chacune des longueurs d'onde différentes λj de la lumière polychromatique générée par la source lumineuse 4 en comparant la valeur mesurée de la réflectivité du diffuseur de lumière en présence de la cellule solaire pour cette zone et pour la longueur d'onde λ ou une longueur d'onde λj donnée par rapport à la valeur de réflectivité nulle du diffuseur correspondante (étape 4). Les moyens de traitement peuvent également commander directement des appareils externes placés sur une installation de fabrication des cellules solaires à mesurer (étape 5). Les mesures de réflectivité fournies à des appareils de dépôt de couches permettent d'adapter le dépôt de couches anti-reflets à la surface de la cellule solaire, par exemple. L'invention concerne également un dispositif de mesure de la réflectivité d'une surface 1 d'une cellule solaire 2, ledit dispositif comprenant un scanner 3 comportant des moyens pour supporter l'échantillon à mesurer. Le scanner 3 comprend une source lumineuse 4 destinée à générer une lumière monochromatique d'une longueur d'onde λ ou polychromatique à plusieurs longueurs d'onde λj différentes et à l'envoyer vers la surface 1 d'une cellule solaire 2. Cette lumière est diffusée sur son trajet par un diffuseur de lumière 6 qui est soit une vitre en verre dépoli servant de moyens de support, une feuille de papier calque posée sur lesdits moyens de support du scanner ou autre. La surface 1 de cette cellule solaire 2 est placée directement en contact avec le diffuseur. La Figure 1 montre un tel dispositif de mesure dans le mode de réalisation particulier où le diffuseur de lumière 6 est constitué par une vitre en verre dépoli servant de moyens de support du scanner de la cellule solaire à mesurer. La lumière réfléchie par la surface 1 de la cellule solaire 2 qui est elle-même diffusée par le diffuseur 6, est au moins en partie reçue par un détecteur 7. Ce détecteur 7 est par exemple, un détecteur photosensible multipoints, chacun des points étant affecté d'un couple de coordonnées (x, y). La source de lumière 4 et le détecteur 7 sont montés sur un chariot 8 qui peut se déplacer de sorte que les ondes lumineuses balayent la surface 1 de la cellule solaire 2. Le mouvement de ce chariot 8 est commandé avantageusement par des moyens de commande électroniques externes. Le dispositif de mesure comprend également une unité de traitement 9 recevant des signaux émis par ledit scanner 3 et des moyens permettant de visualiser lesdits signaux, par exemple, un écran 10, ainsi qu'un logiciel pour le traitement des données tel que décrit précédemment. Les moyens de commande électroniques sont préférentiel lement montés sur l'unité de traitement 9. On décrira maintenant différents exemples de mesures nouvelles et utiles de la réflectivité d'un objet conformes à l'invention et que ce procédé permet de réaliser. EXEMPLE 1 La figure 2 donne un premier mode de mise en œuvre de l'invention pour la mesure de la réflectivité de la surface 1 d'une cellule solaire 2 mettant en œuvre un scanner 3. La cellule solaire 2 est une plaquette de silicium multicristallin de dimensions 12,5 x 12,5 cm2. Les mesures sont effectuées dans huit zones 11 réparties à la surface 1 de la cellule solaire 2 par un scanner 3 comportant un détecteur CCD 7. Chacune de ces zones 11 correspond à 1x1 cm2 soient par exemple 79 x 79 pixels à une résolution de 200 dpi ("dots per inch" - points par pouce), ce qui est une résolution largement suffisante pour le traitement envisagé. Les dimensions de ces zones 11 correspondent aux régions mesurées habituellement à l'aide d'un spectrophotomètre et sont représentées sur la figure 2a) par des carrés ayant un contour blanc. La séquence de mesure est la suivante: (a) On pose un diffuseur de lumière 6 sur la plaque de verre d'un scanner 3. (b) On définit le point de "0% réflectivité" (réflectivité résiduelle), c'est-à- dire un jeu de paramètres prédéterminés obtenus en scannant le diffuseur 6 non recouvert par une cellule solaire et en laissant le couvercle du scanner 3 ouvert (on a préalablement vérifié que la puissance de la lumière ambiante ne soit pas trop forte). On effectue également un échantillonnage avec des références aux réflectivités connues, par exemple du silicium poli miroir, une feuille de papier, etc. que l'on pose sur le diffuseur 6. A l'aide de ces données, on peut obtenir des mesures calibrées en pourcentage. Pour acquérir ces mesures, on utilise un logiciel de traitement d'images standard. Dans le pilote du scanner 3, on désactive tous les mécanismes automatiques contrôlant par exemple l'exposition, les valeurs de gris considérées comme noir et comme blanc et on choisit les paramètres d'exposition de façon que la valeur de gris moyen soit presque noire (par exemple, 2-3% de la valeur maximale). En changeant la valeur associée au blanc de l'image, on peut aussi limiter le maximum de réflectivité mesurable à, par exemple, 40% et ainsi gagner en résolution dans la gamme de réflectivité intéressante de 0 à 40%. Pour chaque nouveau diffuseur 6, il n'est nécessaire de faire cet échantillonnage qu'une seule fois car les paramètres d'exposition choisis peuvent être enregistrés dans le pilote du scanner 3. Avantageusement, les résultats sont reproductibles et ne dépendent pas de facteurs tels que la durée de marche du scanner 3 (lampe froide/chaude) ou le "vieillissement" de la lampe 4. (c) Les plaquettes 2 sont mesurées avec le scanner 3 avec une résolution de 200 dpi, en 16 bits noir et blanc ou 24 bits couleurs. Chaque plaquette 2 est mesurée avec le scanner 3 quatre fois. Entre chaque acquisition, la plaquette 2 est tournée de 90° dans le sens inverse des aiguilles d'une montre. Les quatre acquisitions de mesure sont nécessaires parce qu'on a trouvé que le diffuseur 6 ne peut pas compenser la part de la réflexion spéculaire de certains grains du silicium multicristallin, et il faut donc calculer la moyenne des quatre orientations. Un meilleur diffuseur permettrait d'effectuer une seule acquisition. (d) A l'aide d'un logiciel standard, la réflectivité moyenne est calculée. Les mêmes mesures sont faites sur les trois autres images (90, 180 et 270°). On obtient des valeurs de réflectivité moyennes pour les orientations Oo7'90o7'180°7'2700' ainsi que les moyennes obtenues de ces quatre angles. La mise en œuvre d'un meilleur diffuseur 6, par exemple, une vitre en verre dépoli, permettrait de réduire ce nombre d'acquisitions à une seule. La figure 2a) correspond à une image de la cellule solaire réalisée avec ledit scanner pour une rotation de 0° du coté supérieure 17 de la cellule solaire. La figure 2b) correspond à une image de la cellule solaire pour une rotation de 90° dans le sens inverse des aiguilles d'une montre par rapport à la figure précédente. Les figures 2c) et 2d) correspondent aux images de la cellule solaire réalisées avec ledit scanner après rotation de celle-ci d'un angle de 180° et 270° respectivement par rapport à la figure 2a). On remarque que la réflectivité (valeur de gris) de quelques points (grains) de la surface 1 de la plaquette de silicium multicristallin 2 change avec l'orientation de sa surface 1. EXEMPLE 2 Un scanner 3 permet la "mesure" de la réflectivité de la surface 1 d'une cellule solaire 2 dans la gamme des longueurs d'ondes de la lumière, c'est -à- dire, entre ~400 et 700 nm. Les trois composantes rouge/vert/bleu (RVB) d'un "pixel" de l'image acquise avec le scanner 3 correspondent dans une première approximation à la convolution de la courbe de sensibilité SR(λ)/Sv(λ)/Sβ(λ) du détecteur 7 qui est un détecteur CCD sensible au rouge/vert/bleu, avec la puissance de la lumière réfléchie en un point de la surface 1 de la cellule solaire de coordonnées (x, y). Cette puissance de la lumière réfléchie peut s'écrire sous la forme : P(λ)= R(λ;x,y) x PL(λ) où Pι_(λ) est la puissance de la source de lumière 4 du scanner 3 qui éclaire l'échantillon 2, et R(λ;x,y) est la réflectivité locale de l'échantillon 2. Le signal électrique "vu" par le scanner dans le rouge/vert/bleu rSc(x,y)/Vsc(x,y)/bSc(x>y) est proportionnel à la convolution du spectre de puissance de lumière réfléchie P (λ) avec les trois courbes de sensibilité du scanner, r(x,y)/v(x,y)/b(x,y). Il est alors défini à partir des équations suivantes : rsc(x, y)= j S R (λ ) x R (λ ; x , y ) x P L (λ λ , vsc(x, y)= j S v (λ ) x R (λ ; x , y ) x P L (λ λ , bsc(x, y)= j S β (λ ) x R (λ ; x , y ) x P L (λ λ .
Les courbes de sensibilité du scanner 3 sont assez étendues et le scanner 3 n'est donc pas sensible aux variations rapides dans le spectre R(λ).
Cependant, les courbes de réflectivité de nos échantillons sont plates, et nous pouvons supposer que les couleurs RVB donnent, proprement calibrées, une bonne estimation de la réflectivité dans la gamme des longueurs d'ondes où leur sensibilité respective est maximale. Pour vérifier cette supposition, les courbes de réflectivité ont été mesurées à l'aide d'un spectrophotomètre standard dans plusieurs régions d'un même échantillon présentant des propriétés de réflexion différentes, puis leurs réflectivités effectives Re ont été calculées. Ces réflectivités effectives ont été comparées avec la valeur de gris moyen obtenue pour les images en couleur (100 x 100 pixels) réalisées avec le procédé de la présente invention en mettant en œuvre un scanner. La valeur de gris est définie comme suit: 1 RScanner (χ, y) = - (rsc(χ, y) + vcs (x, y) + bcs(χ, y)) La Figure 3 montre les résultats obtenus pour les deux types de mesures (Re calibrée en pourcentage et RSCanner non calibrée) avec différents types d'échantillons : silicium poli miroir, silicium texture (par la soude, par électrochimie) avec et sans couche antireflet au Ti02, papier blanc. L'axe des abscisses 12 représente Re en pourcentage et l'axe des ordonnées 13 représente les valeurs de gris de RSCanner sur une échelle arbitraire, définie par la résolution de 16 bits des images scannées. Des valeurs 14 obtenues en utilisant une feuille de papier blanc en guise d'échantillon de référence pour l'obtention d'un jeu de paramètres prédéterminés, avec une courbe R(λ) assez plate, mais avec un Re égale à 98% sont également présentées. Une première courbe 15 (en trait plein) et une deuxième 16 courbe (en trait pointillé) représentent des courbes calculées d'ajustement. La première courbe 15 qui utilise les valeurs 14 obtenues en utilisant une feuille de papier montre un meilleur ajustement. On voit que la région des réflectivités des échantillons entre 5 et 40%, est très bien décrite par une droite, et que pour une valeur RSCanner mesurée, on peut conclure sur la valeur Re avec une incertitude de + 2-3%.
Pour notre objectif, c'est-à-dire l'estimation rapide de la qualité d'un traitement de surface d'une cellule solaire en terme de réflectivité effective, la précision obtenue est bien suffisante. Cette précision peut néanmoins être améliorée en optimisant encore le diffuseur de lumière 6, par exemple en prenant non pas une feuille de papier calque mais un verre dépoli pour la vitre du scanner, et en utilisant non seulement la valeur de gris définie ci-dessus, mais toute l'information supplémentaire liée aux trois couleurs R/V/B.

Claims

REVENDICATIONS
1. Procédé de mesure de la réflectivité d'une surface (1 ) d'une cellule solaire (2) dans lequel - ladite surface (1 ) est éclairée par une lumière monochromatique à une longueur d'onde λ ou polychromatique à plusieurs longueurs d'onde λj (5) générée par une source lumineuse (4), - on mesure point par point une partie de la lumière réfléchie dans le demi-espace délimité par la surface (1 ) de la cellule solaire (2), ladite mesure étant convertie en un signal électrique, caractérisé en ce que, - la lumière de la source (4) est diffusée par un diffuseur de lumière (6) avant d'éclairer la surface (1 ) de la cellule solaire, - la lumière réfléchie par la surface (1 ) de la cellule solaire est elle- même diffusée par ledit diffuseur (6) avant d'être convertie en un signal électrique, - on traite le signal électrique pour une zone donnée de la surface (1 ) de la cellule solaire par comparaison avec un jeu de paramètres prédéterminés, ledit jeu de paramètres comprenant des mesures moyennes de la réflectivité du diffuseur (6) non recouvert, préalablement réalisées pour la longueur d'onde λ ou chacune des longueurs d'onde différentes λj de ladite lumière pour déterminer la réflectivité de la surface (1 ) de la cellule solaire (2) pour la zone donnée pour la longueur d'onde λ ou chacune des longueurs d'onde différentes λj de ladite lumière générée par ladite source lumineuse (4).
2. Procédé de mesure selon la revendication 1 , caractérisé en ce qu'on effectue une calibration du diffuseur de lumière (6) pour obtenir lesdits paramètres prédéterminés du diffuseur non recouvert, ladite calibration étant réalisée par l'envoi d'une lumière (5) monochromatique à une longueur d'onde λ ou polychromatique à plusieurs longueurs d'onde λj sur ledit diffuseur (6) et la mesure d'au moins une partie de la lumière réfléchie par ledit diffuseur (6) pour la longueur d'onde λ ou chacune des longueurs d'ondes différentes λj de ladite lumière.
3. Procédé de mesure selon la revendication 2, caractérisé en ce que le jeu de paramètres prédéterminés comprend au moins une mesure supplémentaire correspondant à une calibration du diffuseur de lumière (6) avec un échantillon de référence, ledit diffuseur (6) étant placé entre l'échantillon de référence et ladite source de lumière.
4. Procédé de mesure selon la revendication 3, caractérisé en ce que l'échantillon de référence est choisi dans un groupe comprenant une feuille de papier et une plaquette de silicium poli miroir.
5. Procédé de mesure selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que la zone donnée de la surface de la cellule solaire (2) comprend une partie seulement de la surface (1 ) de la cellule solaire.
6. Procédé de mesure selon la revendication 5, caractérisé en ce que la zone donnée de la surface de la cellule solaire comprend huit zones carrées
(11 ) réparties à la surface (1 ) de la cellule solaire (2).
7. Procédé de mesure selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que la zone donnée de la surface de la cellule solaire (2) est la totalité de la surface (1 ) de la cellule solaire (2).
8. Procédé de mesure selon l'une quelconque des revendications 1 à 7, caractérisé en ce qu'on réalise au moins quatre mesures de réflectivité de la surface (1 ) de la cellule solaire (2), ladite cellule solaire (2) subissant une rotation d'un angle de 90° entre chacune des mesures.
9. Dispositif de mesure de la réflectivité d'une surface d'une cellule solaire, ledit dispositif comprenant un scanner (3), caractérisé en ce que le scanner (3) comprend un diffuseur de lumière (6) placé directement en contact avec la cellule solaire (2) et une source lumineuse (4) émettant une lumière (5) monochromatique à une longueur d'onde λ ou polychromatique à plusieurs longueurs d'onde différentes λj et le dispositif comprend une unité de traitement (9) recevant des signaux électriques Si émis par ledit scanner (3), chacun desdits signaux Si étant représentatif d'une mesure de la réflectivité d'une zone donnée de la surface de la cellule solaire pour la longueur d'onde λ ou pour une longueur d'onde λj donnée.
10. Dispositif de mesure selon la revendication 9, caractérisé en ce que l'unité de traitement comprend: - une unité de stockage de données, - des moyens électroniques pour charger à partir de l'unité de stockage au moins un couple de paramètres prédéterminés comprenant une valeur de calibration dudit diffuseur de lumière (6) non recouvert et la longueur d'onde λ ou ladite longueur d'onde λj pour laquelle cette calibration a été préalablement réalisée, lesdits moyens électroniques produisant au moins un signal électrique S2 représentatif d'une mesure moyenne de la réflectivité du diffuseur (6) non recouvert pour la longueur d'onde λ ou pour une longueur d'onde λj donnée, - des moyens électroniques de comparaison produisant au moins un signal S=SrS2, - des moyens de visualisation du signal S.
11. Dispositif de mesure selon la revendication 9 ou 10, caractérisé en ce que le diffuseur de lumière (6) comprend une feuille de papier calque.
12. Dispositif de mesure selon la revendication 9 ou 10, caractérisé en ce que le diffuseur de lumière (6) comprend une vitre en verre dépoli, ladite vitre servant de moyens de support de la cellule solaire (2) à mesurer.
13. Dispositif de mesure selon l'une quelconque des revendications 9 à 12, caractérisé en ce que le scanner (3) comprend un détecteur photosensible multipoints (7).
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