WO2005004319A1 - インバータの出荷自動試験装置およびその試験方法 - Google Patents

インバータの出荷自動試験装置およびその試験方法 Download PDF

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test
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automatic
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French (fr)
Inventor
Toshihisa Tanaka
Original Assignee
Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/40—Testing power supplies
    • G01R31/42—AC power supplies

Definitions

  • the present invention relates to an inverter shipping test apparatus, and more particularly to an inverter shipping test apparatus that can be automatically controlled.
  • FIG. 4 shows a configuration diagram of the above-mentioned conventional shipping test apparatus (1).
  • 40 is a control device for shipping test
  • 43 is an inverter to be tested
  • 44 is a test motor
  • 45 is a coupling
  • 46 is a load motor
  • 47 is a load inverter. Therefore, a load motor 46 is connected to the test motor 44 connected to the DUT 43 via a coupling 45, and a load inverter 47 is connected to the test motor 44 to connect the inverter 43 to the test motor 44.
  • the inverter 47 was controlled manually by using the shipping test controller 40 to perform a shipping test.
  • the power semiconductor element in the DUT inverter 43 is generated.
  • the electrical stress was used to extract the initial defective products.
  • FIG. 5 shows a system diagram of a test apparatus (3) described in Patent Document 1.
  • 100 is an inverter testing device
  • 110 is a phase voltage detector
  • 120 is an insulation transformer
  • 130 is a reactor
  • 140 is a DCCT
  • 150 is a PWM converter
  • 160 is a DC capacitor
  • 201 is an AC power supply
  • 202 is an AC power supply.
  • the rectifier 203 is an inverter.
  • the PWM comparator 150 is configured by bridge-connecting switches 151-156, each of which is composed of a diode connected in anti-parallel with a switching element.
  • an inverter 203 receives DC power supplied from an AC power supply 201 via a rectifier 202, converts DC into three-phase AC by switching control of a built-in DC capacitor and a PWM converter, and outputs it.
  • the control circuit of the inverter 203 inputs the set electric angular velocity cor of the induction motor output from the set rotation speed generation circuit in the control circuit of the inverter test apparatus 100 and the three-phase output current of the inverter 203, When the inverter 203 also drives the induction motor to V, a switching control command of an equivalent PWM change is generated.
  • the inverter test apparatus 100 includes a phase voltage detector 110, an isolation transformer 120, a rear turtle 130, a DCCT 140, a PWM converter 150, and a DC capacitor 160, and the positive and negative sides of the DC capacitor 160 are connected to the DC input of the inverter 203, respectively. Connected in parallel to the positive and negative sides.
  • the PWM converter 150 is connected to the AC output terminal of the inverter 203, which is the device under test, via the insulating transformer 120, the electrical angular velocity is uniquely set, and the order of the differential equation of the induction motor is reduced.
  • the PWM converter 150 is controlled so that the inverter phase current command calculated from the electric constant of the induction motor to be driven by the inverter, the set electric angular velocity, and the inverter AC output voltage is equal to the inverter phase current.
  • the isolation transformer and the PWM converter operate as an equivalent induction motor without a rotating body and without the need to set up structures.
  • Patent Document 1 JP-A-2000-224865
  • the conventional apparatus (1) requires a large amount of test time to operate manually, and requires enormous investment in equipment such as a control device and load equipment. Installation space was required.
  • the present invention solves these problems, and provides an inverter shipping test apparatus that is fast, inexpensive, does not require a large installation space, and that can detect initial defective products of power semiconductor elements. is there.
  • an inverter automatic shipping test apparatus is an automatic shipping test apparatus for driving an inverter as a device under test.
  • the inverter is provided with a test program for generating a desired voltage and current
  • the acceleration and deceleration times of the inverter are automatically controlled to be variable according to the setting of the test program, and the protection function of the inverter is automatically performed. It is characterized by being able to test.
  • the invention according to claim 2 is the shipping automatic test apparatus according to claim 1, further comprising a program for causing the inverter to generate a high voltage or a high current enough to damage the defective power semiconductor of the inverter. It is characterized by having.
  • the invention of the method for automatically testing the shipment of an inverter according to claim 3 is equivalent to the method of claim 2
  • a dynamic test device is connected to the input side of the inverter as a device under test, a no-load test motor is connected to the output side of the inverter, and the inverter is set according to the setting of the test program of the shipping test device.
  • a shipping test is automatically performed using a computer, and the conditions of the shipping test are determined by programming such as acceleration time, deceleration time, and rapid acceleration and deceleration. Since the number of repetitions of deceleration can be set arbitrarily, a high current is generated by rapid acceleration even when the motor is running alone, and a high current is generated by rapid deceleration! ⁇ It is possible to generate voltage. Therefore, it is not necessary to adjust the load motor torque and monitor the output motor current during the manual shipping test, and the shipping test time can be greatly reduced. In addition, there is no need for a shipping test control device or load motor, which can reduce capital investment and save space.
  • FIG. 1 is a configuration diagram of an automatic test apparatus at the time of shipping an inverter according to the present invention.
  • FIG. 2 is a block diagram (a) illustrating an example of a connection relationship between the measuring instrument, the computer, the multiplexer, and the like in FIG. 1, and a block diagram (b) illustrating a schematic configuration inside the computer.
  • FIG. 3 is a diagram showing states of an output current and a bus voltage.
  • FIG. 4 is a configuration diagram of a conventional test apparatus when an inverter is shipped.
  • FIG. 5 is a configuration diagram of a shipping test apparatus according to a conventional example.
  • FIG. 1 is a configuration diagram of an automatic test apparatus at the time of shipping an inverter according to the present invention.
  • reference numeral 10 denotes a control device for shipping test
  • 11 denotes a control unit
  • 12 denotes a power unit
  • 13 denotes an inverter to be tested
  • 14 denotes a test motor.
  • the automatic test apparatus 10 is connected to the input side of the inverter 13 which is the DUT, and the test motor 14 is connected to the output side of the inverter 13.
  • the automatic test apparatus 10 includes a control unit 11 and a power unit 12 controlled by the control unit 11.
  • FIG. 2 is a block diagram (a) showing an example of a connection relationship between the measuring instrument 1lc inside the control unit 11, the computer 16, the multiplexer 1Id, and the like, and a block diagram (b) showing a schematic configuration inside the computer 16.
  • reference numeral 11 denotes a control unit, which includes a measuring device controller lla, a voltage / current generator llb, a measuring device llc, a multiplexer lld, and a computer 16.
  • a power unit 12 (not shown) is connected to the control unit 11.
  • Computer 16 loads and executes the inspection program.
  • the measuring device controller 11a converts a command from the computer 16 into a control command for the measuring device 11c, and controls the measuring device 11c, the multiplexer lid, and the like.
  • the voltage / current generator lib and the measuring instrument 11c measure the analog signal output and the signal from the DUT 13 according to the control command.
  • Multiplexer 1 Id performs inspection in 1 channel Z1 step, Select a channel according to the control command.
  • FIG. 2B is a block diagram showing a schematic configuration of the inside of the computer shown in FIG. 1.
  • reference numeral 16 denotes a computer.
  • the computer 16 is a ROM that stores basic operation programs and the like. 16b, a CPU 16a that performs overall control operation according to a program stored in the ROM 16b, a RAM 16c that stores various programs and data at the time of testing, and an inspection program required for a shipping test. HDD 16e, and a bus interface 16d.
  • a program for a shipping test is created beforehand and stored in the ROM 16b before the execution of the shipping test.
  • the shipping test conditions are determined by the above-mentioned program, but the conditions are determined for each DUT.
  • a rapid acceleration and deceleration test is performed at the specified number of repetitions for the purpose of extracting the initial defective product of the power semiconductor device.
  • the conditions are set as follows. At the time of shipment test, the above program is loaded and executed.
  • Acceleration time Output current force during rapid acceleration rotation Set so that the limit output that does not reach the operation level of the protection function of the S inverter is output.
  • the output current increases as the acceleration time decreases.
  • Deceleration time Set to perform regenerative operation at the limit where the bus voltage does not reach the operation level of the inverter protection function during sudden deceleration. The shorter the deceleration time, the higher the bus voltage.
  • FIG. 3 is a diagram showing the state of the four-state output current and the bus voltage of the test motor.
  • (A) shows four states of the test motor 13. That is, (1) stop, (2) rapid acceleration, (3) steady rotation, and (4) rapid deceleration.
  • (B) is the output current of the inverter 13 corresponding to the four states (A), in other words, the output current flowing through the power semiconductor element.
  • (C) is a bus voltage corresponding to the four states of (A), in other words, a voltage applied to the power semiconductor element.
  • the output current (B) has a large-amplitude waveform as shown at (port).
  • the magnitude of this amplitude is a normal power semiconductor element even when a current flows. If it is an abnormal power semiconductor element such as a contact failure, the value is selected so that it can be sharpened with a strong current.
  • a regenerative voltage is generated by the rapid deceleration of the test motor 13, and the bus voltage (C) has an overvoltage waveform as shown in (c).
  • the magnitude of the overvoltage is selected so that a normal power semiconductor element does not break, but an abnormal power semiconductor element has weak insulation resistance and breaks.
  • a shipping test program is created so as to have the waveforms of (port) of the output current (B) and (c) of the bus voltage (C).
  • the automatic shipping test apparatus for the inverter is provided with the test program for generating the desired voltage and current in the inverter, and the acceleration time and the acceleration time of the inverter are set by setting the test program.
  • Automatic control with variable deceleration time to enable automatic testing of the inverter's protection function, and in particular, to generate a high voltage or high current in the inverter enough to damage the defective power semiconductor of the inverter.
  • the shipping test can be automated, and by conducting the shipping test using the test motor alone, the initial failure of the power semiconductor element can be extracted, and the test time can be reduced and the equipment cost can be reduced. It is possible to reduce the installation space and space.
  • the present invention relates to a shipping test device for an inverter, and is particularly useful for a shipping test device for an inverter that can be automatically controlled.

Abstract

出荷試験の自動化ができ、パワー半導体素子の初期不良の摘出が可能な、かつ試験時間の短縮、設備のコストの低減、設置スペースの省スペース化が可能なインバータの出荷自動試験装置を提供する。 　被試験物としてのインバータ（１３）を駆動する出荷自動試験装置（１０）であってインバータ（１３）に所望の電圧・電流を発生させる試験用プログラムを備え、この試験用プログラムの設定によりインバータ（１３）の加速時間および減速時間を可変として自動制御し、インバータ（１３）の保護機能を自動にて試験可能とし、特に試験用プログラムがインバータ（１３）の不良なパワー半導体を破損させる程度の高電圧又は高電流をインバータ（１３）に発生させるようにした。

Description

明 細 書
インバータの出荷自動試験装置およびその試験方法
技術分野
[0001]
本発明はインバータの出荷試験装置に関するもので、自動制御可能なインバータの 出荷試験装置に関するものである。
背景技術
[0002] 交流電源を直流に変換しさらに交流に変換するインバータが正規の動作をしている 力どうかを出荷時に試験するのに、従来は、（1)被試験物であるインバータに実際に 使用する誘導電動機を接続したり、或いは（2)縮小モデルの誘導電動機を接続して 試験を行ったりしていた。
また、（3)被試験物インバータの交流出力端に絶縁トランスを介して PWMコンパ一 タを接続して試験を行うものもあった (例えば、特許文献 1参照)。
[0003] 図 4は上記従来の出荷試験装置（1)の構成図を示す。
図 4において、 40は出荷試験用制御装置、 43は被試験物であるインバータ、 44は 試験用モータ、 45はカップリング、 46は負荷モータ、 47は負荷用インバータである。 そこで被試験物であるインバータ 43に結線された試験用モータ 44に負荷モータ 4 6をカップリング 45を介して接続し、この試験用モータ 44に負荷用インバータ 47を接 続して、インバータ 43とインバータ 47を出荷試験用制御装置 40を用いてマニュアル 操作にて制御し、出荷試験を行っていた。
そして負荷用モータ 46から試験用モータ 44に逆回転側のトルクをかけることにより 、被試験物インバータ 43に高電圧ならびに高電流を発生させることで、被試験物ィ ンバータ 43内のパワー半導体素子に電気的なストレスをかけて初期不良品の摘出を 行っていた。
しかしながらこの装置では、マニュアルで操作するために試験時間が大幅にかかる 上に制御装置や負荷用設備等の設備投資が莫大であり、広い設置スペースを必要 とした。 [0004] また、上記従来の出荷試験装置（2)にお 、ては、縮小モデルの誘導電動機を接続し て試験を行なうため、実際の誘導電動機および周辺の回転体装置と等価な縮小モ デルをそのつど別に作成しなければならず、場合によってはインバータも縮小モデル を作成しなければならな 、と 、う面倒な問題があった。
[0005] 図 5は、特許文献 1記載の試験装置（3)の系統図を示すものである。
同図において、 100はインバータの試験装置、 110は相電圧検出器、 120は絶縁ト ランス、 130はリアクトノレ、 140は DCCT、 150は PWMコンバータ、 160は直流コン デンサ、 201は交流電源、 202は整流器、 203はインバータである。 PWMコンパ一 タ 150は、スイッチング素子と逆並列に接続されたダイオードで構成されるスィッチ 15 1一 156をブリッジ接続して構成される。
図において、インバータ 203は交流電源 201より整流器 202を経て供給される直流 電力を入力して内蔵する直流コンデンサと、 PWM変換器のスイッチング制御により、 直流を 3相交流に変換して出力する。
この時インバータ 203の制御回路は、インバータの試験装置 100の制御回路内の 設定回転数発生回路より出力される誘導電動機の設定電気角速度 corと、インバー タ 203の 3相出力電流を入力して、インバータ 203があた力も誘導電動機を駆動して V、ると等価な PWM変^^のスイッチング制御指令を発生する。
インバータの試験装置 100は相電圧検出器 110、絶縁トランス 120、リアタトル 130 、 DCCT140、 PWMコンバータ 150、直流コンデンサ 160により構成され、直流コン デンサ 160の正側と負側は各々インバータ 203の直流入力の正側と負側に並列接 続される。
このように被試験装置であるインバータ 203の交流出力端に絶縁トランス 120を介 して PWMコンバータ 150を接続し、電気角速度を一義的に設定して、誘導電動機 の微分方程式の次数を下げて、インバータが駆動しょうとする誘導電動機の電気定 数と設定電気角速度とインバータの交流出力電圧により演算したインバータの相電 流指令とインバータの相電流とが等しくなるように PWMコンバータ 150を制御する。 これによつて、絶縁トランスと PWMコンバータは回転体の無い、構造物のセッティン グの必要の無 1、等価的な誘導電動機として動作をする。 特許文献 1：特開 2000-224865号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0006] しかしながら、既に述べたように、上記従来装置（1)は、マニュアルで操作するために 試験時間が大幅にかかる上に制御装置や負荷用設備等の設備投資が莫大であり、 広 ヽ設置スペースを必要とした。
また、上記従来装置（2)においては、縮小モデルの誘導電動機を接続して試験を 行なうため、実際の誘導電動機および周辺の回転体装置と等価な縮小モデルをそ のつど別に作成しなければならず、場合によってはインバータも縮小モデルを作成し なければならな!/ヽと ヽぅ面倒な問題があった。
また、上記従来装置（3)においては実際の誘導電動機のシミュレーションを行って いるものの、パワー半導体素子の初期不良品の摘出をすることは困難であった。また 、負荷器のトルクを制御するのに、負荷電流をモニターしながら手動で制御する等の 作業が非常に面倒で、試験者には知識と経験が必要であった。
本発明はこれらの課題を解決するもので、高速で、安価で、広い設置スペースを必 要とせず、さらにパワー半導体素子の初期不良品の摘出が可能なインバータの出荷 試験装置を提供するものである。
課題を解決するための手段
[0007] 本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、請求項 1記載のインバータの 出荷自動試験装置の発明は、被試験物としてのインバータを駆動する出荷自動試験 装置であって前記インバータに所望の電圧'電流を発生させる試験用プログラムを備 えたものにおいて、前記試験用プログラムの設定により前記インバータの加速時間お よび減速時間を可変として自動制御し、インバータの保護機能を自動にて試験可能 としたことを特徴とする。
請求項 2記載の発明は、請求項 1記載の出荷自動試験装置において、前記試験用 プログラムが前記インバータの不良なパワー半導体を破損させる程度の高電圧又は 高電流を前記インバータに発生させるプログラムを備えていることを特徴とする。 請求項 3記載のインバータの出荷自動試験方法の発明は、請求項 2記載の出荷自 動試験装置を被試験物としてのインバータの入力側に接続し、前記インバータの出 力側に無負荷の試験用モータを接続し、前記出荷試験装置の前記試験用プロダラ ムの設定により、前記インバータに対して前記試験用モータの急加速ならびに急減 速を繰り返し行わせることで、前記インバータの不良なパワー半導体に高電圧又は 高電流を与えて破損させ、初期不良品を摘出することを可能としたことを特徴とする。 発明の効果
[0008] この発明の試験装置および方法によれば、コンピュータを利用して自動にて出荷試 験を行うものであり、出荷試験の条件はプログラミングにより加速時間、減速時間およ び急加速と急減速の繰り返し回数等を任意に設定できるので、モータ単体の運転で あっても急加速にて高 ヽ電流を発生させ急減速で高！ヽ電圧を発生させることが可能 である。したがってマニュアル出荷試験時に必要な負荷用モータのトルク調整や出 力モータ電流の監視等の作業が不要であり、出荷試験時間の大幅な短縮が可能と なる。また、出荷試験用制御装置や負荷用モータが不要であり、設備投資の削減と 省スペース化を実現できる。
図面の簡単な説明
[0009] [図 1]本発明に係るインバータの出荷時の自動試験装置の構成図である。
[図 2]図 1の計測器とコンピュータとマルチプレクサ等の接続関係の 1例を示すブロッ ク図（a)と、コンピュータの内部の概略構成を示すブロック図（b)である。
[図 3]出力電流と母線電圧の状態を示す線図である。
[図 4]インバータの出荷時の従来の試験装置の構成図である。
[図 5]従来例に係る出荷試験装置の構成図である。
符号の説明
[0010] 10 出荷試験用制御装置
11 制御部
11a 計測器制御器
l ib 電圧，電流発生器
11c 計測器
l id マルチプレクサ 12 パワー部
13 被試験物であるインバータ
14 試験用モータ
16 コンピュータ
16a CPU
16b ROM
16c RAM
16d ノ スインタフェース
16e HDD
発明を実施するための最良の形態
[0011] 以下、本発明について図 1に基づいて詳細に説明する。
実施例 1
[0012] 図 1は本発明に係るインバータの出荷時の自動試験装置の構成図である。
図 1において、 10は出荷試験用制御装置、 11は制御部、 12はパワー部、 13は被 試験物であるインバータ、 14は試験用モータである。
被試験物であるインバータ 13の入力側に本発明に係る自動試験装置 10が接続され 、インバータ 13の出力側に試験用モータ 14が接続されている。
自動試験装置 10は制御部 11と制御部 11により制御されるパワー部 12とから成つ ている。
図 2は制御部 11の内部の計測器 1 lcとコンピュータ 16とマルチプレクサ 1 Id等の 接続関係の 1例を示すブロック図（a)とコンピュータ 16の内部の概略構成を示すプロ ック図（b)である。図 2 (a)において、 11は制御部で、計測器制御器 l la、電圧'電流 発生器 l lb、計測器 l lc、マルチプレクサ l ld、コンピュータ 16からなる。制御部 11 には、図示にないパワー部 12が接続される。コンピュータ 16は検査プログラムのロー ドをし、実行する。計測器制御器 11aはコンピュータ 16からの指令を計測器 11cの制 御コマンドに変換し、計測器 11cやマルチプレクサ l id等を制御する。電圧'電流発 生器 l ibや計測器 11cは制御コマンドに従い、アナログ信号出力と被試験物 13から の信号の計測を行う。マルチプレクサ 1 Idは 1チャンネル Z1ステップで検査を行 、、 制御コマンドに従 、チャンネルを選択する。
[0013] 図 2 (b)は図 1のコンピュータの内部の概略構成を示すブロック図で、図中、 16はコ ンピュータであり、このコンピュータ 16は、基本的な動作プログラム等を格納する RO M 16bと、この ROM 16bに格納されて 、るプログラムに従つて全体的な制御動作を 行う CPU16aと、試験時の各種プログラムやデータを格納する RAM16cと、出荷試 験に必要な検査プログラムが格納される HDD16eと、およびバスインタフェース 16d 等カゝら構成されている。
[0014] そこで、出荷試験実施の前に予め出荷試験用のプログラムを作成して ROM 16bに 格納しておく。出荷試験条件は前述のプログラムにより決定されるが被試験物毎に条 件を確定させる。パワー半導体素子の初期不良品の摘出の目的で規定の繰り返し 回数で急加速および急減速試験を行うが、下記の条件となるように設定する。出荷 試験実施時は前述のプログラムをロードし実行する。
加速時間：急加速回転時に出力電流力 Sインバータの保護機能の動作レベルに到 達しない限界の出力を行うように設定する。加速時間を短くするほど出力電流が大き くなる。
減速時間:急減速時に母線電圧がインバータの保護機能の動作レベルに到達しな い限界の回生動作を行うように設定する。減速時間を短くするほど母線電圧は高くな る。
[0015] 図 3は試験用モータの 4状態出力電流と母線電圧の状態を示す線図である。
図において、（A)は試験用モータ 13の 4状態を表わしている。すなわち、（1)停止、（ 2)急加速、（3)定常回転、（4)急減速である。
(B)は (A)の 4状態に対応するインバータ 13の出力電流、言い換えればパワー半 導体素子に流れる出力電流である。（C)は (A)の 4状態に対応する母線電圧、言い 換えればパワー半導体素子に力かる電圧である。
図において、試験用モータ 13の定常回転時の出力電流 (B)および母線電圧 (C) はそれぞれ (ィ）のような波形となっている。
ところが試験用モータ 13の急加速により、出力電流 (B)は（口）のような大振幅の波 形となっている。この振幅の大きさは、電流が流れても正常なパワー半導体素子であ れば破損しないが、接触不良等の異常なパワー半導体素子であれば力かる電流で 灼ききれる値に選んである。
また、試験用モータ 13の急減速により回生電圧が発生し、母線電圧 (C)は (ハ）の ような過電圧波形となっている。この過電圧の大きさは、正常なパワー半導体素子で あれば破損しな 、が、異常なパワー半導体素子であれば耐絶縁性が弱く破損する 値に選んである。
[0016] したがって、出荷試験用のプログラムを図 2のように、出力電流（B)の（口）および母 線電圧 (C)の (ハ）の波形となるように作成しておくことにより、出荷試験実施時はこの プログラムをロードし実行することで、規定の繰り返し回数で急加速および急減速試 験を実行しパワー半導体素子の初期不良品を摘出することが自動的にできるように なる。
[0017] 以上のように、本発明によれば、インバータの出荷自動試験装置にインバータに所 望の電圧 ·電流を発生させる試験用プログラムを備え、この試験用プログラムの設定 によりインバータの加速時間および減速時間を可変として自動制御し、インバータの 保護機能を自動にて試験可能とし、特に試験用プログラム力 Sインバータの不良なパ ヮー半導体を破損させる程度の高電圧又は高電流を前記インバータに発生させるよ うにしているので、出荷試験の自動化ができ、また試験用モータ単体での出荷試験 を行うことでパワー半導体素子の初期不良の摘出が可能となり、さらに、試験時間の 短縮、設備のコストの低減、設置スペースの省スペース化が可能となった。
産業上の利用可能性
[0018] 本発明はインバータの出荷試験装置に関するもので、特に自動制御可能なインバー タの出荷試験装置に有用である。

Claims

請求の範囲
[1] 被試験物としてのインバータを駆動する出荷自動試験装置であって前記インバータ に所望の電圧 ·電流を発生させる試験用プログラムを備えたものにお 、て、前記試験 用プログラムの設定により前記インバータの加速時間および減速時間を可変として自 動制御し、前記インバータの保護機能を自動にて試験可能としたことを特徴とするィ ンバータの出荷自動試験装置。
[2] 前記試験用プログラムが前記インバータの不良なパワー半導体を破損させる程度の 高電圧又は高電流を前記インバータに発生させるプログラムを備えていることを特徴 とする請求項 1記載の出荷自動試験装置。
[3] 請求項 2記載の出荷自動試験装置を被試験物としてのインバータの入力側に接続し 、前記インバータの出力側に無負荷の試験用モータを接続し、前記出荷試験装置の 前記試験用プログラムの設定により、前記インバータに対して前記試験用モータの急 加速ならびに急減速を繰り返し行わせることで、前記インバータの不良なパワー半導 体に高電圧又は高電流を与えて破損させ、初期不良品を摘出することを可能とした ことを特徴とするインバータの出荷自動試験方法。
PCT/JP2004/008190 2003-07-02 2004-06-11 インバータの出荷自動試験装置およびその試験方法 WO2005004319A1 (ja)

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