WO2004112074A3 - Source d'ions de desorption laser - Google Patents

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Edward W Sheehan
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Abstract

L'invention concerne des procédés d'ionisation à la pression atmosphérique, à pression intermédiaire et de désorption-ionisation laser sous vide et des sources d'ions qui sont conçus pour augmenter le rendement de l'ionisation et le rendement de transmissions d'ions à une masse afin de charger l'analyseur ou l'analyseur de mobilité des ions. Un champ électrique est appliqué sur la région d'un échantillon cible afin d'accumuler les ions générés par une sources d'ions locale sur un échantillon en phase solide ou liquide avant d'appliquer une impulsion de désorption laser. Le champ électrique est modifié juste avant ou pendant l'impulsion de désorption laser afin de stimuler la désorption de l'espèce chargée et d'améliorer le rendement d'ionisation de l'espèce de l'échantillon désorbé. Après un certain délai, le champ électrique peut être de nouveau modifié afin d'optimiser la focalisation et la transmission d'ions à un spectromètre de masse ou à un analyseur de mobilité des ions. L'espèce chargée peut être également ajoutée à la région du panache de l'échantillon désorbé afin de stimuler les réactions ions-molécules entre les ions ajoutés et l'espèce de l'échantillon neutre désorbé, renforçant ainsi le rendement d'ionisation de l'échantillon désorbé et/ou créant une espèce d'ion souhaitée. Les cycles de modifications du champ électrique sont répétés dans une séquence chronométrée à raison d'une ou plusieurs impulsion de désorption laser par cycle de modification du champ électrique. Des modes de réalisation selon l'invention font intervenir des procédés et des dispositifs d'ionisation à la pression atmosphérique, à pression intermédiaire et de désorption-ionisation laser sous pression source afin d'augmenter la flexibilité analytique et d'améliorer la sensibilité d'analyse par spectrométrie de masse.
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