WO2004091842A1 - Verfahren zur herstellung von mehrschichtsystemen - Google Patents

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WO2004091842A1
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PCT/DE2004/000732
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Dieter Meier
Raghbir Singh Bhullar
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Lpkf Laser & Electronics Ag
Roche Diagnostics Gmbh
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Definitions

  • the invention relates to a method for producing multilayer systems, which can be used in practice, for example, to produce sensors or photovoltaic solar cells.
  • multilayer systems are mostly designed as flat electrode systems in which the insulation between individual electrodes formed by the electrically conductive layers is determined by the structuring methods and the electrical properties of the substrate.
  • two basic forms are known, which differ in the arrangement of the conductive layers on the substrate.
  • the conductive layers are arranged exclusively on one side of the substrate.
  • the precision of the conductor tracks and the distance between them are determined by the structuring methods.
  • the conductive layers are arranged on both sides of the substrate; their spacing and thus the insulation are determined by the material thickness of the substrate.
  • PVD physical vapor deposition
  • the advantages of these processes are that the layer materials are formed in a very pure state (long free path of the residual gas in the HV or UHV range with thermal evaporation or the use of noble gases in cathode sputtering, vacuum arc, hollow cathode and ion-supported processes) and therefore form dense layers under suitable condensation conditions and rates with thin layers.
  • PECVD Pullasma Enhanced Chemical Vapor Deposition
  • processes are based on the ionization and fragmentation of gaseous monomers in low-pressure plasma.
  • the ionized monomers and their fragments can form firmly adhering layers on suitably modified surfaces, the molecular structure of which, in contrast to classic chemistry, is more irregularly and clearly three-dimensionally oriented.
  • This process also known as plasma polymerization, creates layers whose properties can be influenced, for example, by varying the gas mixture and plasma intensity with the same monomer.
  • Polymers without or with a few polar groups are only of limited suitability for metallization. If atmospheric processes (flame treatment, corona discharge) can be used for painting or printing, side effects of these techniques (roughening) are not suitable for extremely thin layers.
  • the activation of surfaces is a special application of plasma technology, which is used after removal of latent layers (plasma cleaning). Activation here means a modification of the surface, which is necessary in order to achieve better adhesion of the layers to the substrate and to one another.
  • oxygen is typically used in addition to argon, but depending on the area of application, nitrogen or ammonia are also used. Activation processes usually take only a few seconds. After activation, the substrates are prepared for processing and are usually coated in the same system.
  • the object of the present invention is to create an inexpensive method for producing multilayer systems which, by means of a combination of precisely coordinated coating and structuring methods, is able to selectively structure individual layers in a complete composite.
  • a method has thus been developed in which metallic layers are alternately applied to a substrate by means of PVD technology and electrically non-conductive layers by means of PECVD technology, with precise structuring of one or more layers being achieved by selective removal by means of an organic intermediate - Layer (sacrificial layer) is used.
  • this selective structuring can only be carried out using a laser. It has surprisingly been found that the schematic arrangement of layers can be structured in an optimal manner by using the intermediate layer as a sacrificial layer using a laser.
  • a metal layer, followed by the electrically non-conductive layer as a dielectric and a further metal layer, is used to produce a sandwich structure on, for example, a polymeric substrate material by means of PVD or CVD processes.
  • PVD or CVD processes For the function it is now necessary to structure individual levels selectively. This means that there is the option of selectively accessing the dielectric from the upper metal layer. It is also possible to selectively access the metal layer from the metal layer.
  • This intermediate layer which serves as the sacrificial layer, in particular enables the removal of an (arbitrary) layer which essentially penetrates the laser energy unhindered by means of a comparatively small energy input into the sacrificial layer below.
  • This also makes it possible to remove layers which, owing to their material properties, are fundamentally unsuitable for laser ablation, as is the case, for example, with the ceramic layer consisting of MgO.
  • the photon energy introduced into the sacrificial layer releases chemical bonds and the MgO layer above it is ablated.
  • the overall thickness of the layer sequence is essentially less than the total thickness of multilayer systems known from the prior art.
  • a homogeneous layer structure is achieved, which enables precise structuring and thereby reduces the internal and external dimensions. It proves to be particularly advantageous if the selective removal is carried out using laser energy. In this way, previously unattainable structural dimensions can be realized, which moreover permit problem-free adaptation to the respective intended use.
  • laser energy one or more layers can be removed in a simple manner and a desired surface texture, in particular topography, can thus be generated. The structuring can thus be introduced with little effort using methods known per se.
  • Multi-layer systems in which the layer thickness of the non-conductive layers does not exceed 1 ⁇ m are of particular importance for practical and scientific applications, in order to be able to achieve a previously unattainable miniaturization of technical multi-layer systems, which enables a multitude of new applications.
  • the layer structure of the multilayer system could be carried out uniformly over the entire area.
  • a modification in which the individual layers are also applied to layers that have already been structured has proven to be particularly relevant in practice.
  • the multi-layer system is not limited to a uniform layer structure, but also enables a layer structure with different layers in different areas of the multi-layer system that is tailored to specific purposes.
  • the first metallic layer is applied to the surface and, optionally, selectively ablated before the application of the non-conductive layer or already applied selectively to the substrate in order to achieve a 2- or 3-layer structure.
  • the non-conductive layer adheres to both the substrate and the first metallic layer.
  • Another particularly advantageous embodiment of the method according to the invention is also realized if the selective ablation is carried out by means of ion beam technology or electron beam technology, so that the different process parameters can be optimally used for the production of different multilayer systems. Combinations of the different beam ablation methods are also possible, for example to optimize the ablation or the structural dimensions accordingly.
  • a modification in which the structuring is carried out by selective removal of only the second metallic layer is particularly practical. This creates a structuring of the outer metallic layer, in the spaces of which are removed by the removal, a medium to be examined can be introduced. It flat multilayer systems with a high absorption capacity can be realized, the structural dimensions of which can be adapted in particular to the corresponding medium.
  • a fill level or occupancy sensor system can thus be implemented in a simple manner by the first and second metallic layers designed as electrodes, which can ideally also be supplemented by a measuring electrode that relates only to the second metallic layer in order to avoid measurement errors, for example.
  • a measuring electrode in which the structuring is carried out by selective removal of the first metallic layer, the electrically non-conductive layer and the second metallic layer, a measuring electrode, the base of which is formed by the insulating substrate, can also be implemented. so that, for example, the flanks of the recess can be wetted in order to be able to record further specific properties of the medium to be determined or of the individual substance.
  • a particularly good layer composite of the individual layers of the multilayer system is achieved in particular in that a plasma activation is carried out before the application of the metallic layer or the electrically non-conductive layer. In this way, undesired splitting or damage to the layers is avoided even under high loads or aggressive environmental influences.
  • the plasma activation thus enables optimal adhesion of the layers.
  • the substrate can consist of any non-conductive material, but a modification in which the substrate consists of polymer films enables a flexible or mouldable multilayer system.
  • FIG. 2 shows a schematic structure of a further multilayer system.
  • FIG. 1 schematically shows the structure of a multilayer system and its structuring requirements.
  • PVD or CVD processes mentioned.
  • Application of an intermediate layer as a sacrificial layer can be structured using a laser.
  • a metallic layer 12 is applied to a polymeric substrate 11 by known PVD or CVD processes.
  • An organic-based intermediate layer 13 now follows as the sacrificial layer, followed by the actual dielectric 14.
  • Another organic-based sacrificial layer 15 follows.
  • the metallic layer 16 forms the end.
  • an Au layer as a metallic layer 12 of 250 nm is applied to the substrate 11, which is designed as a polyimide substrate, with a layer thickness of 50 ⁇ m by vapor deposition.
  • a Teflon-like layer (C x Fy) with a layer thickness of 150 nm is placed over PECVD as an intermediate layer 13 or sacrificial layer.
  • the actual dielectric 14 follows. This layer has a thickness of 600 nm and consists of MgO.
  • Another intermediate or sacrificial layer 15 follows over this composite. It also consists of C x Fy.
  • a modified layer structure is shown as an example.
  • the Au layer is applied as a metallic layer 12 of 500 nm to the substrate 11, which is embodied as a polyimide substrate and has a layer thickness of 75 ⁇ m, by vapor deposition.
  • a Teflon-like layer C x Fy with a layer thickness of 150 nm is then placed as an intermediate layer 13 by PECVD.
  • the actual dielectric 14 follows. This layer has a thickness of 300 nm and consists of SiO.
  • Another intermediate layer 15 follows over this composite. It also consists of C x Fy.
  • This is followed by an Au layer of 50 nm further metallic layer 16. With a laser energy of 120 mJ / cm 2 , selective ablations of individual layers with structure widths / structure distances of up to 20 ⁇ m could be achieved.
  • the following layer structure can also be implemented.
  • An Au layer of 250 nm is applied as a metallic layer 12 to a substrate 11 made of polyester with a layer thickness of 1 ⁇ m by vapor deposition.
  • a Teflon-like layer C x Fy with a layer thickness of 200 nm is then placed over it as an intermediate layer 13 by PECVD.
  • the actual dielectric 14 follows.
  • This layer has a thickness of 150 nm and consists of MgF 2 .
  • Another intermediate layer 15 follows over this composite. It also consists of C x Fy.
  • This is followed by an Au layer as a metallic layer 16 of 80 nm. With a laser energy of 90mJ / cm 2 selective ablations of individual layers with structure widths / structure distances up to 20 ⁇ m could be achieved.

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von Mehrschichtsystemen auf einem nicht leitenden Substrat (11), bei dem im Wechsel metallische Schichten (12, 16) mittels PVD-Technik und elektrisch nicht leitende Schichten (14) mittels PECVD-Technik abgeschieden und so modifiziert werden, dass die wahlweise selektive Strukturierung einer oder mehrerer Schichten möglich wird Dabei wurde festgestellt, dass nur durch Einführung von „Opferschichten“ (13, 15) eine selektive Strukturierung durch Laserenergie möglich ist. Hierdurch wird erstmals eine Miniaturisierung erreicht, die mit konventionell aufgebauten Mehrschichtsystemen nicht realisierbar ist.

Description

Verfahren zur Herstellung von Mehrschichtsystemen
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von Mehrschichtsystemen, welches in der Praxis beispielsweise eingesetzt werden kann, um Sensoren oder auch photovoltaische So- larzellen herzustellen. Solche Mehrschichtsysteme sind zumeist als ebene Elektrodensysteme ausgeführt, bei denen die Isolation zwischen einzelnen, durch die elektrisch leitfähigen Schichten gebildeten Elektroden, durch die Strukturierungsmethoden und die elektrischen Eigenschaften des Substrates bestimmt werden.
Grundsätzlich sind dabei zwei Grundformen bekannt, die sich durch die Anordnung der leitfähigen Schichten auf dem Substrat unterscheiden. Bei der ersten Grundform sind die leitfähigen Schichten ausschließlich auf einer Seite des Substrates angeordnet. Die Präzision der Leiterzüge und der Abstand zwischen ihnen werden durch die Strukturierungsmethoden bestimmt. Bei der zweiten Grundform sind die leitfähigen Schichten beiderseits des Substrates angeordnet, ihr Abstand und damit die Isolation werden von der Materialstärke des Substrates bestimmt.
Zur Herstellung dünner Schichten aus Metallen, deren Verbindungen und Legierungen ist der Einsatz von PVD-Verfahren (Physical Vapour Deposition) Stand der Technik. Die Vortei- le dieser Verfahren bestehen darin, dass die Schichtmaterialien in sehr reinem Zustand zur Schichtbildung kommen (große freie Weglänge des Restgases im HV- bzw. UHV-Bereich bei thermischer Verdampfung bzw. Einsatz von Edelgasen bei Katodenzerstäubung, Vakuumlichtbogen-, Hohlkatoden- und ionengestützten Verfahren) und deshalb unter geeigneten Kondensationsbedingungen und -raten bei geringen Schichtdicken dichte Schichten bilden. PECVD-Verfahren (Plasma Enhanced Chemical Vapour Deposition) beruhen auf der Ionisation und Fragmentierung gasförmiger Monomere im Niederdruckplasma. Die ionisierten Mo- nomere und deren Fragmente können auf geeignet modifizierten Oberflächen fest haftende Schichten bilden, deren molekulare Struktur jedoch im Gegensatz zur klassischen Chemie unregelmäßiger und deutlich dreidimensional ausgerichtet ist. Dieser auch als Plasmapolymerisation bezeichnete Prozess erzeugt Schichten, deren Eigenschaften bei gleichem Monomer u.a. durch Variation von Gasmischung und Plasmaintensität beeinflusst werden können.
Polymere ohne oder mit wenigen polaren Gruppen eignen sich nur bedingt für die Metallisierung. Kann man für die Lackierung oder das Bedrucken atmosphärische Verfahren (Beflam- men, Koronaentladung) einsetzen, sind Nebeneffekte dieser Techniken (Aufrauung) für extrem dünne Schichten nicht geeignet. Die Aktivierung von Oberflächen ist eine spezielle Anwendung der Plasmatechnologie, die nach Entfernung latenter Schichten (Plasmareinigung) eingesetzt wird. Aktivierung bedeutet hier eine Modifizierung der Oberfläche, die notwendig wird um bessere Haftungen der Schichten auf dem Substrat sowie untereinander zu erzielen. Für Aktivierungsprozesse mit Niederdruckplasma werden neben Argon typischerweise Sauerstoff, je nach Anwendungsgebiet aber auch Stickstoff oder Ammoniak eingesetzt. Die Dauer von Aktivierungsprozessen beträgt in der Regel nur wenige Sekunden. Nach der Akti- vierung sind die Substrate zur Bearbeitung präpariert und werden meist in der gleichen Anlage beschichtet.
Hinsichtlich des praktischen und wissenschaftlichen Einsatzes der insbesondere für die technischen Sensoren bestimmten Mehrschichtsysteme ist die Miniaturisierung von ent- scheidender Bedeutung, die jedoch mit den konventionellen Verfahren nicht weiter verbessert werden kann.
Neben der durch den Stand der Technik bekannten Herstellung solcher Schichten und Mehrschichtsysteme besteht nun die Notwendigkeit, solche Systeme sowohl einzeln als auch schichtweise zu strukturieren, um die volle Funktion bei der Anwendung zu gewährleisten. Dabei kann davon ausgegangen werden, dass sich auch hier der Trend der Miniaturisierung weiter fortsetzt und Strukturen « 50μm interessant werden.
Neben der bekannten fotolithografischen Strukturierung solcher Schichten und Schichtsys- teme ist auch die Laserstrukturierung bekannt geworden. So wird in der DE 39 22 478 A1 ein
Verfahren beschrieben, die die sehr umweltbelastenden photochemischen Prozesse durch die preisgünstigere Laserstrukturierung ersetzen wollen. So wird erfindungsgemäß auf ein kupferkaschiertes Polyimidmaterial eine PMMA- Schicht (Polymethylmetacrylat) aufgebracht, die durch einen Excimer Laser strukturiert wird.
Nach dem Laserstrukturieren wird der bekannte Ätzprozess durchgeführt. In der Patentschrift EP 0 287 843 B1 wir ein Verfahren vorgestellt, welches ebenfalls die Herstellung von Struk- turen mittels Laserbearbeitung ermöglichen soll. Auf ein herkömmliches Leiterplattenmaterial wir eine Pd-haltige Substanz aufgetragen, die durch den Laser ablatiert wird. Das verbleibende Pd reagiert katalytisch stromlos in einem Cu- Bad, so dass ein Schichtaufbau somit additiv erfolgen kann.
Eine weitere Möglichkeit des Aufbaus von Strukturen unter Anwendung der Lasertechnik wird im Patent EP 0 677 985 B1 gezeigt. So werden durch einen Laser (Excimer) in einem islolierenden Trägerkörper Vertiefungen erzeugt, die durch PVD (Physical Vapour Deposition) metallisch leitfähig gemacht werden und dann nachträglich elektrolytisch verstärkt werden können.
In der DE 199 51 721 A1 wird ebenfalls ein Verfahren beschrieben, bei dem unter Anwendung von Laserenergie dünne metallische Schichten im nm-Bereich ablatiert werden können. Dabei ist die Laserenergie in der Lage, die dünnen metallischen Schichten zu durchdringen und an der Grenzfläche zum polymeren Substratmaterial die ersten Moleküllagen aufzubrechen. Durch die nachfolgende Volumenextension (Übergang vom festen in den dampfförmi- gen Zustand) wird die darüber liegende dünne Metallschicht abgesprengt und so strukturiert.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein kostengünstiges Verfahren zur Herstellung von Mehrschichtsystemen zu schaffen, das mittels Kombination präziser abgestimmter Be- schichtungs- und Strukturierungsmethoden in der Lage ist, selektiv einzelne Schichten im kompletten Verbund zu strukturieren.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit einem Verfahren gemäß den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst. Die Unteransprüche betreffen besonders zweckmäßige Weiterbildungen der Erfindung.
Erfindungsgemäß ist also ein Verfahren entwickelt worden, bei dem auf ein Substrat im Wechsel metallische Schichten mittels PVD-Technik und elektrisch nicht leitende Schichten mittels PECVD-Technik aufgebracht werden, wobei präzise Strukturierung einer oder mehrerer Schichten durch selektives Abtragen erreicht wird, indem eine organische Zwischen- schicht (Opferschicht) eingesetzt wird. Erfindungsgemäß hat sich gezeigt, dass diese selektive Strukturierung nur mittels Laser durchgeführt werden kann. Dabei hat sich überraschenderweise gezeigt, dass die schematische Anordnung von Schichten durch die Anwendung der Zwischenschicht als Opferschicht mittels Laser in optimaler Weise strukturiert werden können.
Dabei wird auf ein beispielsweise polymeres Substratmaterial durch PVD- oder CVD- Prozesse eine Metallschicht, gefolgt von der elektrisch nicht leitenden Schicht als Dielektrikum und einer weiteren Metallschicht, ein Sandwich-Aufbau erzeugt. Für die Funktion ist es nun erforderlich, einzelne Ebenen selektiv zu strukturieren. Das bedeutet, dass die Möglich- keit gegeben ist, von der oberen Metallschicht selektiv auf das Dielektrikum zu gelangen. Weiterhin ist es möglich, von der Metallschicht selektiv auf die Metallschicht zu gelangen.
Diese als Opferschicht dienende Zwischenschicht ermöglicht insbesondere den Abtrag einer (beliebigen) Schicht, welche die Laserenergie im Wesentlichen ungehindert durchdringt, mit- tels eines vergleichsweise geringen Energieeintrages in die darunter liegende Opferschicht. Dadurch gelingt es auch solche Schichten abzutragen, die aufgrund ihrer Materialeigenschaften grundsätzlich ungeeignet für die Laserablation sind, wie dies beispielsweise bei der keramischen Schicht, bestehend aus MgO der Fall ist. Durch die in die Opferschicht eingebrachte Photonenenergie werden chemische Bindungen gelöst und die darüber liegende MgO- Schicht ablatiert.
Hierdurch können elektronische Multilayer wesentlich verkleinert werden, indem durch die erfindungsgemäße Kombination der an sich bekannten Verfahren einzelne Schichten mit extrem geringen Schichtdicken realisiert werden. Die darin eingebrachte Strukturierung er- möglicht daher beispielsweise die Herstellung technischer Sensoren mit einem wesentlich verkleinerten Abstand zwischen den Elektroden. Hierdurch werden die erforderlichen Probenmengen, die in den Zwischenraum der Elektroden eingebracht werden müssen, um diese aufzufüllen, wesentlich verringert, so dass auch solche Stoffe untersucht werden können, die nur in sehr kleinen Mengen zur Verfügung stehen. Dabei können zudem die Entsorgungs- kosten der Proben verringert werden, weil die erforderlichen Volumina verringert sind. Die überraschende Erkenntnis der vorliegenden Erfindung ist insbesondere darin zu sehen, dass zur Miniaturisierung im Vergleich zum Stand der Technik Schichten erzeugt werden, die eine geringe Schichtdicke aufweisen. Die Gesamtdicke der Schichtfolge ist im Endeffekt wesentlich geringer als die Gesamtdicke nach dem Stand der Technik bekannter Mehrschichtsys- teme. Durch die Modifizierung der einzelnen Beschichtungen wird ein homogener Schichtaufbau erreicht, der die präzise Strukturierung ermöglicht und dadurch die Verkleinerung der inneren und äußeren Abmaße bewirkt. Dabei erweist es sich als besonders vorteilhaft, wenn das selektive Abtragen mittels Laserenergie durchgeführt wird. Hierdurch lassen sich bisher unerreichte Strukturmaße realisieren, die zudem eine problemlose Anpassung an den jeweiligen Verwendungszweck gestat- ten. Mittels Laserenergie können in einfacher Weise einzelne oder mehrere Schichten abgetragen und damit eine gewünschte Oberflächenbeschaffenheit, insbesondere Topographie, erzeugt werden. Die Strukturierung lässt sich dadurch mit Hilfe an sich bekannter Methoden mit geringem Aufwand einbringen.
Von besonderer Bedeutung sind dabei für praktische und wissenschaftliche Anwendungszwecke solche Mehrschichtsysteme, bei denen die Schichtdicke der nicht leitenden Schichten 1 μm nicht übersteigt, um so eine bisher unerreichbare Miniaturisierung von technischen Mehrschichtsystemen realisieren zu können, durch die eine Vielzahl neuer Anwendungen ermöglicht werden.
Der Schichtaufbau des Mehrschichtsystems könnte über die Gesamtfläche einheitlich ausgeführt werden. Als besonders praxisrelevant erweist sich hingegen auch eine Abwandlung, bei der die Einzelschichten auch auf bereits strukturierte Schichten aufgebracht werden. Hierdurch ist das Mehrschichtsystem nicht auf einen einheitlichen Schichtaufbau beschränkt, sondern ermöglicht darüber hinaus einen auf spezielle Einsatzzwecke abgestimmten Schichtaufbau mit verschiedenen Schichten in unterschiedlichen Bereichen des Mehrschichtsystems. Die erste metallische Schicht wird hierzu flächig aufgetragen und wahlweise vor dem Auftragen der nicht leitenden Schicht selektiv ablatiert oder bereits selektiv auf das Substrat aufgebracht, um so einen 2- oder 3-Schicht-Aufbau zu realisieren. Die nicht leitende Schicht haftet dabei sowohl auf dem Substrat, als auch auf der ersten metallischen Schicht.
Eine andere besonders vorteilhafte Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens wird auch dann realisiert, wenn das selektive Abtragen mittels lonenstrahltechnik oder Elektro- nenstrahltechnik durchgeführt wird, um so die unterschiedlichen Prozessparameter in opti- maier Weise für die Herstellung unterschiedlicher Mehrschichtsysteme zu nutzen. Dabei sind zudem auch Kombinationen der verschiedenen Strahlabtragsverfahren möglich, um so beispielsweise die Ablation oder die Strukturmaße entsprechend optimieren zu können.
Besonders praxisnah ist eine Abwandlung, bei der die Strukturierung durch selektives Abtra- gen ausschließlich der zweiten metallischen Schicht durchgeführt wird. Hierdurch entsteht eine Strukturierung der äußeren metallischen Schicht, in deren durch den Abtrag eingebrachten Zwischenräumen ein zu untersuchendes Medium eingebracht werden kann. Es sind dadurch flache Mehrschichtsysteme mit einer hohen Aufnahmekapazität realisierbar, deren Strukturmaße insbesondere an das entsprechende Medium angepasst werden können.
Bei einer weiteren vorteilhaften Abwandlung, bei der die Strukturierung durch selektives Abtragen der zweiten metallischen Schicht sowie der elektrisch nicht leitenden Schicht durchgeführt wird, entsteht eine Aussparung des Mehrschichtsystems, deren Flanken von der zweiten metallischen Schicht sowie der nicht leitenden Schicht und deren Grund durch die Oberfläche der ersten metallischen Schicht gebildet sind. Durch die als Elektroden ausgeführte erste und zweite metallische Schicht kann so in einfacher Weise beispielsweise eine Füllstands- oder Belegungssensorik realisiert werden, die in idealer Weise auch durch eine lediglich auf die zweite metallische Schicht bezogene Messelektrode ergänzt werden kann, um so beispielsweise Messfehler zu vermeiden.
Weiterhin ist bei einer besonders günstigen Ausführungsform der Erfindung, bei der die Strukturierung durch selektives Abtragen der ersten metallischen Schicht, der elektrisch nicht leitenden Schicht sowie der zweiten metallischen Schicht durchgeführt wird, zusätzlich auch eine Messelektrode realisierbar, deren Grund durch das isolierende Substrat gebildet ist, so dass dabei beispielsweise die Benetzung der Flanken der Aussparung realisierbar ist, um weitere spezifische Eigenschaften des zu bestimmenden Mediums bzw. der individuellen Substanz erfassen zu können.
Ein besonders guter Schichtverbund der Einzelschichten des Mehrschichtsystems wird insbesondere dadurch erreicht, dass vor dem Aufbringen der metallischen Schicht oder der elektrisch nicht leitenden Schicht eine Plasmaaktivierung durchgeführt wird. Hierdurch wird auch bei hoher Belastung oder aggressiven Umgebungseinflüssen eine unerwünschte Abspaltung oder Schädigung der Schichten vermieden. Die Plasmaaktivierung ermöglicht so eine optimale Adhäsion der Schichten.
Das Substrat kann dabei aus einem beliebigen nichtleitenden Material bestehen, wobei jedoch eine Abwandlung, bei der das Substrat aus Polymerfolien besteht, ein flexibles oder formbares Mehrschichtsystem ermöglicht.
Die Erfindung lässt verschiedene Ausführungsformen zu. Zur weiteren Verdeutlichung ihres Grundprinzips ist eine davon in der Zeichnung dargestellt und wird nachfolgend beschrieben. Diese zeigt in Fig.1 eine schematisch der Aufbau eines Mehrschichtsystems;
Fig.2 einen schematischen Aufbau eines weiteren Mehrschichtsystems.
Figur 1 zeigt schematisch den Aufbau eines Mehrschichtsystems und dessen Anforderungen an die Strukturierung. Auf ein polymeres Substratmaterial 1 wir durch die genannten PVD- oder CVD- Prozesse eine Metallschicht 2, gefolgt von einer elektrisch nichtleitenden Schicht 3 als Dielektrikum und einer weiteren Metallschicht 4 ein Sandwich- Aufbau erzeugt. Für die Funktion ist es nun gewünscht, einzelne Ebenen selektiv zu strukturieren. Das bedeutet, dass die Möglichkeit gegeben sein muss, von der Metallschicht 4 selektiv auf das Dielektrikum 3 zu gelangen. Weiterhin ist es realisierbar, von der Metallschicht 4 selektiv auf die Metallschicht 2 zu gelangen. Diese Sandwich- Anordnung kann sich beliebig wiederholen.
Erfindungsgemäß hat sich gezeigt, dass diese selektive Strukturierung in einfacher Weise mittels Laser durchgeführt werden kann. Dabei hat sich überraschenderweise gezeigt, dass die in Figur 1 gezeigte schematische Anordnung von Schichten in optimaler Weise durch die
Anwendung einer Zwischenschicht als Opferschicht mittels Laser strukturiert werden können.
Dieser Aufbau wird anhand der Figur 2 näher beschrieben. Auf ein polymeres Substrat 11 wird durch an sich bekannte PVD- oder CVD-Verfahren eine metallische Schicht 12 aufgetragen. Es folgt nun eine organisch basierende Zwischenschicht 13 als Opferschicht, gefolgt vom eigentlichen Dielektrikum 14. Es folgt eine weitere organisch basierende Opferschicht 15. Den Abschluss bildet die metallische Schicht 16.
Zur Herstellung der Mehrschichtsystemen wird auf das als Polyimidsubstrat ausgeführte Substrat 11 mit einer Schichtstärke von 50μm durch Bedampfung eine Au-Schicht als metallische Schicht 12 von 250nm aufgebracht. Anschließend wird durch PECVD eine teflonartige Schicht (CxFy) mit einer Schichtstärke von 150nm als Zwischenschicht 13 bzw. Opferschicht darüber gelegt. Es folgt das eigentliche Dielektrikum 14. Diese Schicht hat eine Stärke von 600nm und besteht aus MgO. Über diesen Verbund folgt eine weitere Zwischen- bzw. Opferschicht 15. Sie besteht ebenfalls aus CxFy. Es schließt sich eine Au-Schicht als weitere metallische Schicht 16 von 50nm an. Bei einer Laserenergie von 75mJ/cm2 konnten selektive Ablationen einzelner Schichten mit Strukturbreiten/ Strukturabständen bis 50μm erreicht werden.
Anhand derselben Figur 2 wird beispielhaft ein abgewandelter Schichtaufbau dargestellt. Auf das als Polyimidsubstrat ausgeführte Substrat 11 mit einer Schichtstärke von 75μm wird durch Bedampfung die Au-Schicht als metallische Schicht 12 von 500nm aufgebracht. Anschließend wird durch PECVD eine teflonartige Schicht CxFy mit einer Schichtstärke von 150nm als Zwischenschicht 13 darüber gelegt. Es folgt das eigentliche Dielektrikum 14. Diese Schicht hat eine Stärke von 300nm und besteht aus SiO. Über diesen Verbund folgt eine weitere als Zwischenschicht 15. Sie besteht ebenfalls aus CxFy. Es schließt sich eine Au- Schicht von 50nm weitere metallische Schicht 16 an. Bei einer Laserenergie von 120mJ/cm2 konnten selektive Ablationen einzelner Schichten mit Strukturbreiten/ Strukturabständen bis 20μm erreicht werden.
Ebenso ist ein nachstehender Schichtaufbau realisierbar. Auf ein als Polyester ausgeführtes Substrat 11 mit einer Schichtstärke von 1 μm wird durch Bedampfung eine Au-Schicht von 250nm als metallische Schicht 12 aufgebracht. Anschließend wird durch PECVD eine teflonartige Schicht CxFy mit einer Schichtstärke von 200nm als Zwischensicht 13 darüber gelegt. Es folgt das eigentliche Dielektrikum 14. Diese Schicht hat eine Stärke von 150nm und besteht aus MgF2. Über diesen Verbund folgt eine weitere Zwischenschicht 15. Sie besteht ebenfalls aus CxFy. Es schließt sich eine Au-Schicht als metallische Schicht 16 von 80nm an. Bei einer Laserenergie von 90mJ/cm2 konnten selektive Ablationen einzelner Schichten mit Strukturbreiten/ Strukturabständen bis 20μm erreicht werden.

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zur Herstellung von Mehrschichtsystemen, bei dem auf ein Substrat im Wechsel metallische Schichten mittels PVD-Technik und elektrisch nicht leitende Schichten mittels PECVD-Technik aufgebracht werden, wobei eine präzise Strukturierung einer oder mehrerer Schichten durch selektives Abtragen erreicht wird, indem eine organische Zwischenschicht (Opferschichten) eingesetzt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass organische Zwischenschich- ten (Opferschichten) auf Basis teflonartiger Verbindungen CxFy verwendet werden.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass organische Zwischenschichten (Opferschichten) auf Basis teflonartiger Verbindungen CxFy verwendet werden und mittels PECVD hergestellt werden.
4. Verfahren nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das selektive Abtragen mittels Laserenergie durchgeführt wird.
5. Verfahren nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeich- net, dass das selektive Abtragen mittels Laserenergie durchgeführt wird und die Laserenergie im Bereich 40-450mJ/cm2 liegt.
6. Verfahren nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die metallischen Schichten als wesentliche Bestandteile Kupfer, Silber, Gold, Pla- tin, Palladium, Nickel oder Aluminium aufweisen.
7. Verfahren nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Schichtdicke der elektrisch nicht leitenden Schichten 1 μm nicht übersteigt.
8. Verfahren nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeich- net, dass die Einzelschichten auch auf bereits strukturierte Schichten aufgebracht werden.
9. Verfahren nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das selektive Abtragen mittels lonenstrahltechnik durchgeführt wird.
10. Verfahren nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das selektive Abtragen mittels Elektronenstrahl durchgeführt wird.
11. Verfahren nach zumindest einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat aus Polymerwerkstoffen besteht.
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