WO2001023870A1 - Verfahren und vorrichtung zur erkennung von defekten in und an transparenten objekten - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur erkennung von defekten in und an transparenten objekten Download PDF

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WO2001023870A1
WO2001023870A1 PCT/EP2000/009489 EP0009489W WO0123870A1 WO 2001023870 A1 WO2001023870 A1 WO 2001023870A1 EP 0009489 W EP0009489 W EP 0009489W WO 0123870 A1 WO0123870 A1 WO 0123870A1
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WO
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camera
defects
image
lens
image processing
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PCT/EP2000/009489
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English (en)
French (fr)
Inventor
Christian Dullin
Wolfgang Fried
Thomas Koerbs
Herbert Schulze
Original Assignee
Friedrich-Schiller-Universität Jena
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Publication date
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens

Definitions

  • the invention relates to a method and a device for the detection of defects in and on transparent, possibly also structured objects, in particular for the detection of very low-contrast and thus difficult to detect defects such as z. B. arise in the manufacturing process of lenses for car headlights.
  • Typical errors include inclusions of gas bubbles or foreign particles, curved edged shoulders, differences in thickness of the material and refractive index changing area deviations.
  • Inclusion errors and paragraph errors are usually made recognizable in the case of oblique light incidence due to scattering effects or changed light refraction and diffraction based on the model of the classic Abbe lighting equipment.
  • patterns projected by the object are mostly evaluated.
  • US Pat. No. 3,925,049 describes an illumination method for representing the errors mentioned in the still subjective flat glass test. Then the glass defects become clearly visible due to the more effective aberrations when the light falls flat. It is disadvantageous that the tester has to inspect the flat glass panes directly visually in a test booth and mark defects manually.
  • Scattered light measuring head is a very sensitive measuring device for the mentioned low-contrast defects, which can also be distinguished.
  • the process-related, complex, point-like inspection of the object surfaces with angle-resolved scattered light analysis the use remains practically limited to particularly important individual tests.
  • the test object itself must not be structured.
  • a special method for the detection of surface defects in windshields for motor vehicles is described in DE 39 37 559 A1 described.
  • a refractive power analysis of the pane is carried out with the aid of a projected grid. For this purpose, the image of the grid influenced by the windshield to be examined is overlaid with a reference grid and the resulting superponate is evaluated using the Moire image processing.
  • DE 19 74 13 84 AI also claims a method for the use of contrast patterns, the image of which is influenced by the test object. This is the special task of recognizing the very diverse, structureless, semi-transparent contamination of transparent objects, especially bottles. Depending on the concrete object shape, the object size and the type of error, different contrast patterns are provided. It remains to be checked whether the errors mentioned at the beginning can be demonstrated with sufficient sensitivity using adapted contrast patterns. However, the testing effort is relatively high.
  • the matrix of point light sources used in DE 19 73 15 45 Cl solves the projection of a grid in a special way.
  • the imaging optics map the point light sources themselves into the image plane.
  • the invention is therefore based on the object of identifying defects of the type mentioned in and on transparent objects, which may or may not be self-structured, in particular defects which are low in contrast and difficult to visually detect, such as those which arise, for example, during the manufacturing process of lenses for vehicle headlights, with as little effort as possible.
  • the process is intended for both a visual Test object inspection as well as for an objective evaluation with an image processing system, possibly directly in the manufacturing process of the objects to be examined, to be able to select objects with intolerable defects.
  • the defects should be distinguishable from simple or complicated structures that may be predetermined on or in the object.
  • the object is achieved in that the object is illuminated by a sufficiently coherent point source.
  • At least one optical imaging element (condenser) arranged on the high-source side immediately in front of the object images this point source on the lens (preferably on its entrance pupil) of a camera.
  • this lens reproduces an object image without recognizable defects when it is focused on the object.
  • a change in the phase position of the light source image and diffraction image of the defects acting as phase objects makes it possible to image a high-contrast image of the defects on the receiving surface of the camera.
  • the object structures acting as amplitude objects can thus be distinguished from the defects acting as phase objects. In this way, all types of defects can be optically detected. In particular, it is possible to clearly identify defects with very little contrast, regardless of a given object structure, which has hitherto not been possible with the conventional use of dark field lighting known per se.
  • the object can be captured completely or in partial images. It is advantageous to use an adaptive image processing system, for example using a neural network, for evaluating the camera images. Different procedures for error discrimination in the captured images are possible.
  • images of an object are advantageously generated for at least two focus positions, which can be expanded individually or in relation to one another.
  • the image processing system consists of a module for the acquisition of features and an adaptable module for classification. In the first step, the module for feature acquisition is used to assign different structures in the pictures to their local position in the picture. For example, this can be done by dividing the recorded image into partial images or by contour recognition.
  • a second step significant features are calculated, depending on the task or the object to be examined, by using methods of image processing, data analysis and / or the calculation of various z.
  • the results of the classification of the feature vector by this method depend on a training phase to be carried out beforehand.
  • training phase training data records of example objects with known error classes are presented to the entire image processing system, for example, and a desired target output is specified for the learning process for each individual example object.
  • the method independently decides which error class the presented patterns belong to. In this manner is not only an automatic detection of defects of eintrain striv types of errors, but also an automatic selection based on prior g e g a level fault tolerance possible.
  • suitable characteristics for classification can also be evaluated directly.
  • FIG. 1 shows a basic illustration of the opto-mechanical structure of the measuring arrangement according to the invention with a connected evaluation unit
  • FIG. 1 a measuring arrangement for defect detection in or on a transparent object 1 is shown in its basic structure.
  • the object 1 to be examined is located on a transport and positioning device 2, which is integrated, for example, in a flow line of the manufacturing or processing process, which is not shown in the drawing for reasons of clarity, in order to automatically recognize and select objects 1 with intolerable defects in the process can.
  • the object 1 is illuminated with a light emitter diode 3, the radiation from the light emitter diode 3 being imaged onto a camera lens 5 of a matrix camera 6 via a condenser 4 arranged directly in front of the lens 1.
  • the camera lens 5 can be focused on different planes in the area of the object 1, the plane selected with the focusing being imaged in each case on a receiver surface 7 of the matrix camera 6.
  • lens focusing a camera lens 5 is set exactly to the plane in which object 1 is located.
  • the object 1 is imaged sharply onto the receiver surface 7 of the matrix camera 6, so that its possibly existing object structures for distinguishing between object defects to be determined, which are not recognizable in the lens focusing a, are made visible.
  • lens focussing b and c the camera lens 5 is set to a level in front of or behind the level with the object 1.
  • high-contrast defect contours are created by changing the phase position of the light source image and diffraction image of the defects, which are imaged on the receiver surface 7.
  • a bright defect image is produced
  • a dark defect image is produced in relation to the background brightness.
  • the different lens focussing a, b, c can thus (depending on the setting of the camera lens 5) capture both an object image without recognizable defects (however with object structures that may be present) and an object image with high-contrast images of existing defects on the receiver surface 7 of the matrix camera 6 ,
  • the object focusses a, b, c are found in a continuous passage through a focus area which certainly contains the object focusses a, b, c. In this way, defects that are otherwise difficult to detect are clearly displayed, differentiated from given object structures and can be evaluated either manually or automatically.
  • an evaluation unit 8 is connected to the matrix camera 6, which can consist of a monitor in the case of a manual control of the objects 1 and which contains an adaptive image processing system for automatic image evaluation.
  • the matrix camera 6 is coupled to an adaptive image processing system as an evaluation stage 8.
  • This consists of a module 9 for feature acquisition and a neural network 10.
  • module 9 for feature acquisition the image taken with the matrix camera 6 is subdivided into partial images. Each sub-image is assigned an associated pair of coordinate values (x ⁇ y so that a location area is assigned to each detected error. Subsequently, various statistical parameters, in the simplest case the histogram of the gray values, are calculated in the sub-images. These are combined to form a feature vector and subsequently classified by the neural network 10.
  • the classification capabilities of the neural network 10 depend on a training phase to be carried out beforehand, in which images ' with known error classes are presented to the entire image processing system and a desired target output is given to the neural network 10.
  • the division of the images into the The desired error classes are carried out by a trainer 11, who is familiar with the problem to be solved.
  • the neural network 10 independently decides which error class the presented image relates to
  • a control stage 12 which can be connected to the evaluation unit 8
  • a selection of the examined objects 1 is finally carried out, for example the separation from the manufacturing or Machining process, as well as the setting 'of the lens focussing a b, c of the camera lens 5 made.

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Abstract

Die Erfindung betrifft die Erkennung von Defekten in und an transparenten Objekten, wie Streuscheiben für Fahrzeugscheinwerfer, die gegebenenfalls selbst strukturiert sind. Typische Fehler sind u. a. Einschlüsse von Gasbläschen oder Fremdpartikeln, gekrümmte kantenförmige Absätze, Dickenunterschiede des Materials und brechungsindexverändernde Flächenabweichungen. Aufgabe war es, insbesondere kontrastarme und visuell schwer erkennbare Defekte, möglichst aufwandgering festzustellen und die Defekte von vorgegebenen Objektstrukturen unterscheiden zu können. Das Verfahren soll sowohl für eine visuelle Prüflingskontrolle als auch für eine objektive Auswertung mit einem Bildverarbeitungssystem, ggf. unmittelbar im Herstellungsprozess der zu untersuchenden Objekte, geeignet sein, um Objekte mit nicht tolerierbaren Defekten zu selektieren. Erfindungsgemäß werden das Prüfobjekt (1) mit einer hinreichend kohärenten Strahlung einer Punktlichtquelle (3) über mindestens ein optisches Abbildungselement (4) durchleuchtet und ein Kameraobjektiv (5) auf eine oder vorzugsweise unterschiedliche Ebenen des Objektes (1) fokussiert. Jedes Kamerabild wird für jede gewählte Objektivfokussierung (a, b, c) nach vorliegenden Grauwerten ausgewertet. Auf diese Weise können optisch alle Arten von Defekten detektiert werden. Insbesondere gelingt es, sehr kontrastarme Defekte unabhängig von einer vorgegebenen Objektstruktur, deutlich festzustellen, was mit der Anwendung der an sich bekannten Dunkelfeldbeleuchtung bisher nicht möglich war.

Description

Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von Defekten in und an transparenten Objekten
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Erkennung von Defekten in und an transparenten, gegebenenfalls auch strukturierten Objekten, insbesondere zur Erkennung sehr kontrastarmer und damit schwer erkennbarer Defekte, wie sie z. B. im HersteUungsprozess von Streuscheiben für Autoscheinwerfer entstehen. Typische Fehler sind u. a. Einschlüsse von Gasbläschen oder Fremdpartikeln, gekrümmte kantenförmige Absätze, Dickenunterschiede des Materials und Brechungsindex verändernde Flächenabweichungen. Es besteht seit langem die Forderung, solche visuell schwer feststellbaren Defekte zuverlässig zu erkennen und Objekte mit nicht tolerierbaren Defekten, beispielsweise unmittelbar im Fertigungs- bzw. Bearbeitungs- prozess auszusortieren. Die in einzelnen Branchen bekannt gewordenen Prüfmethoden nutzen, wie nachfolgende Beispiele belegen, unterschiedliche optische Verfahren. Einschlussfehler und Absatzfehler werden danach zumeist bei schrägen Lichteinfall durch Streueffekte oder veränderte Lichtbrechung und Beugung nach dem Vorbild des klassischen Abbeschen Beleuchtungsapparats erkennbar gemacht. Um Verzerrungen durch Flächenfehler (Brechkraftänderungen) detektieren zu können, werden dagegen meist durch das Objekt projizierte Muster ausgewertet. Tn der US 3,925,049 wird ein Beleuchtungsverfahren zur Darstellung genannter Fehler bei der noch subjektiven Flachglasprüfung beschrieben. Danach werden die Glasdefekte auf Grund der bei flachem Lichteinfall verstärkt wirksamen Aberrationen deutlich sichtbar. Nachteilig ist, dass der Prüfer in einer Prüfkabine die Flachglasscheiben direkt visuell begutachten und Fehler manuell markieren muss. Daraus folgen die für die subjektive Sichtkontrolle typischen Probleme, wie starke Abhängigkeit des Einsatzortes der Prüfperson von den Umweltbedingungen, Abhängigkeit der Fehlerquote vom Ermüdungszustand der Prüfperson und von der geforderten Prüfgeschwindigkeit. Die schräge Beleuchtung wird in weiteren Erfindungen aufgegriffen. In der US 4,306,808 wird ein automatisches Inspektionssystem speziell für einen typischen Floatglasfehler (Typ Ziήntropfen) vorgestellt. Das fortlaufende Glasband wird bei diesem System mit einem flach einfallenden Laserstrahl punktweise in einer Linie über die gesamte Breite des Glasbandes abgetastet. Mit zwei Fotodetektoren die jeweils mit einem Linienfaserbündel die gesamte Abtastbreite des Lasers erfassen, vorgeschalteten Zylinderlinsen und Spiegeln wird der durch veränderte Brechung an dem speziellen Glasfehler gegenüber dem normalen Strahlungsverlauf veränderte Verlauf selektiert. Nachteilig bei diesem Verfahren ist die spezielle Ausrichtung auf einen Fehlertyp und eine bestimmte Fehlergröße.
Ein breiteres Anwendungsfeld wird durch die DE 41 39 094 AI erreicht. Gezielt wird durch die bekannten Methoden schräges Einstrahlen bzw. zentrale Aperturabschattung ein Dunkelfeld-Beleuchtungsverfahren zur kontrastreichen Abbildung von Defekten in Flachglasscheiben realisiert. Durch die bandförmige Beleuchtung und eine angepasste zellenförmige Auswertung werden Flächenfehler nicht detektiert. Der Prüfaufwand ist auch hier relativ hoch. Außerdem ist zu beachten, dass für eine empfindliche Fehlerdetektion die Ausrichtung der Defekte in eine durch das Beleuchtungsband vorgegebene Vorzugsrichtung vorausgesetzt wird.
In der DE 19 80 95 05 AI wird ebenfalls eine Anordnung mit zentraler bandförmiger Abschattung vorgestellt. Diese wird aufwendig durch Hilfsstrahlungsquellen ergänzt, die das Objekt aus verschiedenen Pachtungen schräg mit parallelen Bündeln durchstrahlen. Damit sollen Defekte erkannt werden, die eine von der Bandabschattung vorgegebenen Vorzugsrichtung abweichende Ausrichtung aufweisen. Der in DE 19 82 46 23 AI vorgestellte miniaturisierte
Streulichtmesskopf ist ein sehr empfindliches Messmittel für die genannten kontrastarmen Defekte, die damit auch unterschieden werden können. Durch die verfahrensbedingte aufwendige punktformige Inspektion der Objektoberflächen mit winkelaufgelöster Streulichtanalyse bleibt der Einsatz jedoch praktisch auf besonders bedeutende Einzelprüfungen beschränkt. Das Prüfobjekt selbst darf, wie bei den schon dargestellten Lösungen, nicht strukturiert sein. Ein spezielles Verfahren zur Detektion von Flächenfehlern in Windschutzscheiben für Kraftfahrzeuge wird in der DE 39 37 559 A1 beschrieben. Mit Hilfe eines projizierten Rasters wird eine Brechkraftanalyse der Scheibe durchgeführt. Dazu wird das Bild des von der zu untersuchenden Windschutzscheibe beeinflussten Rasters mit einem Referenzraster überlagert und das entstehende Superponat mit Hilfe der Moire-Bildverarbeitung ausgewertet. Weil das für das Verfahren störende Bild der Objektscheibe bewusst unterdrückt wird, sind alle anderen eingangs genannten Fehler nicht nachweisbar. Ein Verfahrensanspruch auf den Einsatz von Kontrastmustern, deren durch das Prüfobjekt beeinflusste Abbild auszuwerten ist, wird auch in der DE 19 74 13 84 AI erhoben. Hier besteht die spezielle Aufgabe, damit die sehr mannigfaltig auftretenden strukturlosen, semitransparenten Verunreinigungen von transparenten Gegenständen, insbesondere von Flaschen, zu erkennen. Abhängig von der konkreten Objektform, der Objektgröße und der Fehlerart sind verschiedene Kontrastmuster vorgesehen. Es bleibt zu prüfen, ob mit angepassten Kontrastmustern die eingangs genannten Fehler mit hinreichender Empfindlichkeit nachzuweisen sind. Der Prüfaufwand wird damit jedoch relativ hoch. Die in DE 19 73 15 45 Cl eingesetzte Matrix aus Punktlichtquellen löst die Projektion eines Rasters auf besondere Weise. Die Abbildungsoptik bildet die Punktlichtquellen selbst in die Bildebene ab. Die Darstellung ist jedoch auf die Flächenfehlerprüfung von Reflexionsflächen, insbesondere die fehlerhafte Neigung der Oberfläche einer CD, beschränkt. Zusammenfassend ist festzustellen, dass sowohl die genannten Verfahren der Kontrastmusterabbildung als auch die unter dem Begriff schräge Beleuchtung (Dunkelfeldbeleuchtung) zusammenfassbaren Verfahren nur Teillösungen der gestellten Prüfaufgabe liefern. Insbesondere liegen keine hinreichenden Lösungen für strukturierte Objekte vor.
Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zu Grunde, Defekte eingangs genannter Art in und auf transparenten Objekten, die gegebenenfalls selbst strukturiert sind, insbesondere kontrastarme und visuell schwer erkennbare Defekte, wie • sie beispielsweise beim HersteUungsprozess von Streuscheiben für Fahrzeugscheinwerfer entstehen, möglichst aufwandgering festzustellen. Das Verfahren soll sowohl für eine visuelle Prüflingskontrolle als auch für eine objektive Auswertung mit einem Bildverarbeitungssystem, ggf. unmittelbar im HersteUungsprozess der zu untersuchenden Objekte, geeignet sein, um Objekte mit nicht tolerierbaren Defekten zu selektieren. Darüber hinaus sollen die Defekte von ggf. am oder im Objekt vorgegebenen einfachen oder auch komplizierten Strukturen unterscheidbar sein.
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, dass das Objekt durch eine hinreichend kohärente Punktquelle beleuchtet wird. Mindestens ein Hchtquellenseitig unmittelbar vor dem Objekt angeordnetes optisches Abbildungselement (Kondensor) bildet diese Punktquelle auf das Objektiv (vorzugsweise auf dessen Eintrittspupille) einer Kamera ab. Bedingt durch die von der hinreichend kohärenten Punktquelle ausgehenden ungerichteten Strahlen, bildet dieses Objektiv bei Fokussierung auf das Objekt ein Objektbild ohne erkennbare Defekte ab. Bei gezielter Defokussierung in Bezug auf das Objekt wird jedoch durch veränderte Phasenlage von Lichtquellenbild und Beugungsbild der als Phasenobjekte wirkenden Defekte ein kontrastreiches Bild der Defekte auf der Empfangerfläche der Kamera abbildbar. Die als Amplitudenobjekte wirkenden Objektstrukturen können damit von den als Phasenobjekte wirkenden Defekten unterschieden werden. Auf diese Weise können optisch alle Arten von Defekten detektiert werden. Insbesondere gelingt es, sehr kontrastarme Defekte unabhängig von einer vorgegebenen Objektstruktur, deutlich festzustellen, was mit der üblichen Anwendung der an sich bekannten Dunkelfeldbeleuchtung bisher nicht gelang.
Je nach Größe des Objektes oder des Defektbereiches kann das Objekt jeweils vollständig oder in Teilbildern erfasst werden. Es ist vorteilhaft, zur Auswertung der Kamerabilder ein lernfähiges Bildverarbeitungssystem, beispielsweise unter Verwendung eines Neuronalen Netzes, einzusetzen. Es sind unterschiedliche Vorgehensweisen zur Fehlerdiskriminierung in den aufgenommenen Bildern möglich. Vorteilhafterweise werden zur Defekterkennung Bilder eines Objektes für mindestens zwei Fokuslagen erzeugt, welche einzeln oder in Beziehung zueinander ausgeweitet werden können. Grundsätzlich besteht das Bildverarbeitungssystem aus einem Modul zur Merkmalsgewinnung und einem lernfähigen Modul zur Klassifikation. Mit Hilfe des Moduls zur Merkmalsgewinnung wird in einem ersten Schritt eine Zuordnung verschiedener Strukturen in den Bildern zu ihrer örtlichen Lage im Bild vorgenommen. Beispielsweise kann dies durch Unterteilung des aufgenommen Bildes in Teilbilder oder durch eine Konturerkennung erfolgen. In einem zweiten Schritt folgt eine Berechnung von signifikanten Merkmalen, je nach Aufgabenstellung bzw. zu untersuchendem Objekt durch Anwendung von Verfahren der Bildverarbeitung, der Datenanalyse und/oder der Berechnung verschiedenster z. B. statistischer Parameter. Diese werden in einem Merkmalvektor zusammengefasst und einem lernfähigen Verfahren zur automatischen Klassifikation übergeben. Die Ergebnisse der Klassifikation des Merkmalvektors durch dieses Verfahren hängen von einer vorher durchzuführenden Trainingsphase ab. In der Trainingsphase werden beispielsweise dem gesamten Bildverarbeitungssystem Trainingsdatensätze von Beispielobjekten mit bekannten Fehlerklassen präsentiert und dem lernfahigen Verfahren für jedes einzelne Beispielobjekt eine gewünschte Sollausgabe vorgegeben. In der späteren Detektion von Fehlern der zu untersuchenden Objekte entscheidet das Verfahren selbständig welcher Fehlerklasse die präsentierten Muster angehören. Auf diese Art und Weise ist nicht nur eine automatische Erkennung von Defekten der eintrainierten Fehlerarten, sondern auch eine automatische Selektion anhand vorgegebener Fehlertoleranzen möglich. Objektabhängig können auch geeignete Merkmale zur Klassifikation direkt ausgewertet werden.
Die Erfindung soll nachstehend anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert werden. Es zeigen:
Fig. 1 : eine Prinzipdarstellung des opto-mechanischen Aufbaus der erfindungsgemäßen Messanordnung mit angeschlossener Auswerteeinheit und
Fig. 2: eine Auswerteeinheit unter Anwendung eines lernfähigen Neuronalen Netzes. In Fig. 1 ist eine Messanordnung zur Defekterkennung in bzw. an einem transparenten Objekt 1 in ihrem Prinzipaufbau dargestellt. Das zu untersuchende Objekt 1 befindet sich auf einer Transport- und Positioniereinrichtung 2, die beispielsweise in eine aus Übersichtsgründen nicht in der Zeichnung offenbarte Fließlinie des Herstellungs- oder Bearbeitungsprozesses integriert ist, um Objekte 1 mit nicht tolerierbaren Defekten automatisch im Prozess zu erkennen und selektieren zu können. Das Objekt 1 wird mit einer Lichtemitterdiode 3 durchleuchtet, wobei die Strahlung der Lichtemitterdiode 3 über einen unmittelbar vor dem Objektiv 1 angeordneten Kondensor 4 auf ein Kameraobjektiv 5 einer Matrixkamera 6 abgebildet wird. Das Kameraobjektiv 5 ist auf unterschiedliche Ebenen im Bereich des Objektes 1 fokussierbar, wobei die mit der Fokussierung gewählte Ebene jeweils auf eine Empfängerfläche 7 der Matrixkamera 6 abgebildet wird. Bei einer Objektivfokussierung a wird das Kameraobjektiv 5 exakt auf diejenige Ebene eingestellt, in welcher sich das Objekt 1 befindet. Bei dieser Fokussierung wird das Objekt 1 scharf auf die Empfängerfläche 7 der Matrixkamera 6 abgebildet, so dass auch seine eventuell vorhandenen Objektstrukturen zur Unterscheidung von festzustellenden Objektdefekten, die in der Objektivfokussierung a nicht erkennbar sind, sichtbar gemacht werden. In Objektivfokussierungen b und c wird das Kameraobjektiv 5 jeweils auf eine Ebene vor oder hinter die Ebene mit dem Objekt 1 eingestellt. Bei vorhandenen Objektdefekten entstehen dabei durch veränderte Phasenlage von Lichtquellenbild und Beugungsbild der Defekte kontrastreiche Defektkonturen, die auf die Empfängerfläche 7 abgebildet werden. Bei Fokussierung auf eine objektivseitige Ebene vor dem Objekt 1 (Objektivfokussierung b) entsteht ein helles Defektbild, und bei Fokussierung auf eine quellenseitige Ebene hinter dem Objekt 1 (Objektivfokussierung c) entsteht ein dunkles Defektbild in Bezug auf die Hintergrundhelligkeit. Die unterschiedlichen Objektivfokussierungen a, b, c lassen somit (abhängig von der Einstellung des Kameraobjektivs 5) sowohl ein Objektbild ohne erkennbare Defekte (jedoch mit ggf. vorhandenen Objektstrukturen) als auch ein Objektbild mit kontrastreichen Bildern vorhandener Defekte auf der Empfängerfläche 7 der Matrixkamera 6 erfassen. Für eine gesteuerte Fokussierung sind angepasst auf die konkrete Prüfaufgabe verschiedene an sich bekannte Autofokusverfahren einzusetzen. Im Ausführungsbeispiel werden die Objektfokussierungen a, b, c in einem kontinuierlichen Durchfahren eines Fokusbereiches, der mit Sicherheit die Objektfokussierungen a, b, c, enthält, aufgefunden. Auf diese Weise können auch ansonsten schwer erkennbare kontrastarme Defekte deutlich dargestellt, von vorgegebenen Objektstrukturen unterschieden und wahlweise manuell oder automatisch ausgewertet werden. An die Matrixkamera 6 ist dazu eine Auswerteeinheit 8 angeschlossen, die im Fall einer manuellen Kontrolle der Objekte 1 aus einem Monitor bestehen kann und die für eine automatische Bildauswertung ein lernfähiges Bildverarbeitungssystem enthält.
In Fig. 2 ist die Matrixkamera 6 mit einem lernf higen Bildverarbeitungssystem als Auswertestufe 8 gekoppelt. Dieses besteht aus einem Modul 9 zur Merkmalsgewinnung und einem Neuronalen Netz 10. Mit Hilfe des Moduls 9 zur Merkmalsgewinnung erfolgt die Unterteilung des mit der Matrixkamera 6 aufgenommen Bildes in Teilbilder. Jedem Teilbild wird dabei ein zugehöriges Koordinatenwertepaar (x^y zugeordnet, so dass jedem erkanntem Fehler ein Ortsbereich zugewiesen wird. Anschließend erfolgt die Berechnung verschiedener statistischer Parameter, im einfachsten Falle des Histogrammes der Grauwerte, in den Teilbildern. Diese werden zu einem Merkmalsvektor zusammengestellt und nachfolgend durch das Neuronale Netz 10 klassifiziert. Die Klassiflkationsiahigkeiten des Neuronalen Netzes 10 hängen von einer vorher durchzuführenden Trainingsphase ab. In dieser werden dem gesamten Bildverarbeitungssystem Bilder' mit bekannten Fehlerklassen präsentiert und dem Neuronalen Netz 10 eine gewünschte Sollausgabe vorgegeben. Die Einteilung der Bilder in die gewünschten Fehlerklassen erfolgt durch einen Trainer 11 , welcher mit der zu lösenden Problemstellung vertraut ist. Bei der späteren automatischen Detektion von Fehlern entscheidet das Neuronale Netz 10 selbständig, welcher Fehlerklasse das präsentierte Bild angehört. Durch eine an die Auswerteeinheit 8 anschließbare Steuerstufe 12 wird abschließend eine Selektion der untersuchten Objekte 1, beispielsweise die Aussonderung aus dem Herstellungs- oder Bearbeitungsprozess, sowie die Einstellung'der Objektivfokussierungen a, b, c des Kameraobjektivs 5 vorgenommen.
Bezugszeichenliste
1 Objekt
2 - Transport- und Positioniereinrichtung
3 - Lichtemitterdiode
4 - Kondensor
5 - Kameraobjektiv
6 - Matrixkamera
7 - Kamerachip
8 - Auswerteeinheit
9 - Modul zur Merkmalsgewinnung
10 - Neuronales Netz
1 1 - Trainer
12 - Steuerstufe a, b, c - Objektivfokussierungen

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zur Erkennung von Defekten in und an transparenten Objekten, bei dem das Bild des zu untersuchenden und durch eine punktformige Strahlungsquelle durchleuchteten Objektes mit einer
Kamera zur visuellen Kontrolle und/oder zur Auswertung mit einer Bildverarbeitungssoftware aufgenommen wird, dadurch gekennzeichnet, dass das Objekt mit einer von der punktförmigen Strahlungsquelle ausgehenden hinreichend kohärenten Strahlung über mindestens ein optisches Abbildungselement beleuchtet wird, welches die Strahlungsquelle auf ein Objektiv der Kamera abbildet, das zur Erzeugung wenigstens eines Objektbildes auf mindestens eine Ebene im Bereich des Objektes fokussiert wird, und dass das Kamerabild jeweils in Bezug auf durch die hinreichend kohärente Strahlung und die damit verbundenen Interferenzeffekte bei der optischen Abbildung des Objektes hervorgerufenen kontrastreichen Defektstrukturen kontrolliert bzw. nach Grauwerten ausgewertet wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass das
Objektiv der Kamera nacheinander auf mindestens zwei unterschiedliche Ebenen im Bereich des Objektes fokussiert wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass jedes Kamerabild mit einer lernfähigen Bildverarbeitungssoftware nach
Graustufen ausgewertet wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Bildverarbeitungssoftware das Kamerabild jeweils in auszuwertende Teilbilder für die Merkmalsgewinnung zerlegt.
5. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Bildverarbeitungssoftware aus dem Kamerabild eine Liste von Konturen für die Merkmalsgewinnung erzeugt.
6. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass jedem gewonnenen Merkmal ein Koordinatenwertepaar (x^y zugeordnet wird, um einem Defekt jeweils einen Ort zuzuordnen.
7. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass das
Kamerabild mit einem lernfähigen Neuronalen Netz ausgewertet wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass zur Berechnung des Merkmalsvektors als Eingabe für das Neuronale
Netz an sich bekannte Methoden der Bildverarbeitung, der
Datenanalyse und statistische Merkmale von Bildern einzeln oder in
Kombination Verwendung finden.
9. Vorrichtung zur Erkennung von Defekten in und an transparenten
Objekten mit einer punktformigen Strahlungsquelle zur Durchleuchtung des Objektes und mit einer Kamera zur Aufnahme des Bildes vom durchleuchteten Objekt, dadurch gekennzeichnet, dass zur Beleuchtung des zu untersuchenden Objekts (1) eine Punktlichtquelle (3) mit hinreichend kohärenter Strahlung in
Verbindung mit mindestens einem optischen Abbildungselement (4) vorgesehen ist, welches die Punktlichtquelle (3) auf ein Objektiv (5) der Kamera (6), abbildet, und dass das Objektiv (5) zum Zweck der Erzeugung wenigstens eines Objektbildes in der Empfängerεbene der Kamera (6) auf mindestens eine Ebene im Bereich des
Objektes (1) fokussierbar ist.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass als punktformige Strahlungsquelle (3) zur Durchleuchtung des zu untersuchenden Objektes (1) eine Lichtemitterdiode vorgesehen ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass das mindestens eine optische Abbildungselement (4) mit einer Fresnellinse realisiert ist.
12. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass das zu untersuchende Objekt (1) in möglichst geringem Abstand zu dem mindestens einen optischen Abbildungselement (4) angeordnet ist.
13. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass an die Kamera (6) ein Monitor zur visuellen Kontrolle angeschlossen ist.
14. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass- an die Kamera (6) eine Auswerteeinheit (8) mit einer lernf higen Bildverarbeitungssoftware angeschlossen ist.
15. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Auswerteeinheit (8) einen Modul (9) zur Merkmalsgewinnung und ein Neuronales Netz (10) enthält.
16. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass das Objektiv (5) von der Kamera (6) zum Zweck seiner Fokussierung auf unterschiedliche Ebenen im Bereich des Objektes (1) mit einer
Steuerstufe (12) gekoppelt ist.
17. Vorrichtung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass die Steuerstufe (\7 mit der Auswerteeinheit δ^ in Verbindunσ steht.
PCT/EP2000/009489 1999-09-29 2000-09-28 Verfahren und vorrichtung zur erkennung von defekten in und an transparenten objekten WO2001023870A1 (de)

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Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19948140.7 1999-09-29
DE1999148140 DE19948140A1 (de) 1999-09-29 1999-09-29 Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von Defekten in und an transparenten Objekten

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