WO1997019204A1 - Method and apparatus for surface treatment - Google Patents

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WO1997019204A1
WO1997019204A1 PCT/JP1996/003434 JP9603434W WO9719204A1 WO 1997019204 A1 WO1997019204 A1 WO 1997019204A1 JP 9603434 W JP9603434 W JP 9603434W WO 9719204 A1 WO9719204 A1 WO 9719204A1
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gas
surface treatment
supply
nitrogen
processing
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PCT/JP1996/003434
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French (fr)
Japanese (ja)
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Takuya Miyakawa
Shoji Tsutsui
Yoshiaki Mori
Masaki Kato
Yohei Kurashima
Original Assignee
Seiko Epson Corporation
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Publication date
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23GCLEANING OR DE-GREASING OF METALLIC MATERIAL BY CHEMICAL METHODS OTHER THAN ELECTROLYSIS
    • C23G5/00Cleaning or de-greasing metallic material by other methods; Apparatus for cleaning or de-greasing metallic material with organic solvents
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K1/00Soldering, e.g. brazing, or unsoldering
    • B23K1/20Preliminary treatment of work or areas to be soldered, e.g. in respect of a galvanic coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49579Lead-frames or other flat leads characterised by the materials of the lead frames or layers thereon
    • H01L23/49586Insulating layers on lead frames
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3489Composition of fluxes; Methods of application thereof; Other methods of activating the contact surfaces

Definitions

  • the present invention relates to a surface treatment method for modifying a surface of an object to be processed, such as a semiconductor device, a crystal oscillator, a circuit board, or a wire, and a surface treatment method and an apparatus therefor.
  • the direct discharge treatment method in which the object to be processed is exposed to plasma is not preferable because the physical properties of the object to be processed are likely to be destroyed due to plasma damage.
  • the surface of the object to be processed is a metal, strong plasma is generated intensively at the protruding portion, and the entire surface to be processed cannot be uniformly processed.
  • an object of the present invention is to provide a surface treatment method and a device capable of performing a treatment for modifying the surface of an object to be processed in a state where there is no plasma damage, and having a high degree of freedom in an installation place of the object. Is to do.
  • Still another object of the present invention is to provide a surface treatment apparatus capable of performing surface treatment for modifying the surface of an object to be treated with low running cost from gas or liquid which can be obtained at low cost, and a method thereof.
  • the present invention is characterized in that the surface of the object to be treated is treated by bringing a treatment gas containing nitrogen oxide into contact with the surface of the object to be treated.
  • nitrogen oxides can reduce the oxides formed on the surface of the object to be reformed and modify the surface of the object.
  • the nitrogen oxide may replace the oxide formed on the surface of the object with nitrogen oxide combined with a substance forming the surface to modify the surface of the object. it can.
  • N 2 0, N 0, N 0 2 As the process gas containing the nitrogen oxides, N 2 0, N 0, N 0 2 as possible out and the like.
  • the Pb is reduced oxide PbO of the surface of the object.
  • NO is generated, which further contributes to the modification of the surface of the object to be processed.
  • the surface of the object to be processed can be modified by using nitrogen oxides such as N 20 , N 0, and NO 2 as the processing gas.
  • Another process gas containing the nitrogen oxides mention may be made of a gas containing HN0 3, HN_ ⁇ 2, H 2 N 2 0 2 acid and the like.
  • the above-described processing gas may be supplied directly from the cylinder to the object to be processed, or the processing gas may be generated and supplied by any of the following methods.
  • the processing gas can be generated by generating a discharge in an atmosphere in which a supply gas containing oxygen atoms (0) and nitrogen atoms (N) is supplied.
  • the feed gas can Rukoto like for example an oxygen gas 0 2 and nitrogen gas N 2.
  • Other feed gases, to oxygen gas 0 2 and nitrogen gas N 2 can be mentioned those of pure water was added to the water H 2 0 Japanese.
  • other supply gases include, but are not limited to, nitrogen gas N 2 and water H 20 , or compressed air and water H 20 .
  • HN0 3, HN_ ⁇ 2, H 2 N 2 0 2 may also be generated.
  • the peak-to-peak voltage of the discharge voltage can be relatively increased, and the discharge voltage can be stabilized without supplying He or the like which is a plasma generation gas. To generate a discharge. It is not necessary to use He to generate such a stable atmospheric pressure plasma, and the running cost can be reduced.
  • the processing gas can be generated by heating an atmosphere in which a supply gas containing oxygen atoms (0) and nitrogen atoms (N) is supplied.
  • a supply gas containing oxygen atoms (0) and nitrogen atoms (N)
  • N nitrogen atoms
  • the same gas as in the case of discharge decomposition can be adopted.
  • the feed gas is decomposed by thermal energy, N 2 0, N0, NO 2 is produced.
  • the hydrogen atom (H) is present, HN 0 3
  • Many HN0 2, H 2 N 2 0 2 made fresh from increases the processing efficiency.
  • the pair of electrodes for plasma generation has first and second electrodes arranged with a dielectric interposed therebetween, and the first and second electrodes are connected to each other on each surface facing the dielectric. It is preferable that first and second recesses are formed at non-directional positions, and a supply gas is introduced into at least one of the first and second recesses.
  • Still another method of generating the processing gas includes irradiating an atmosphere supplied with a supply gas containing oxygen atoms (0) and nitrogen atoms (N) with light to generate the processing gas. It can.
  • the feed gas of this case be the same as the above case, the feed gas is photolyzed, N 2 0, N0, N0 2 is generated. Again, the hydrogen atom (H) is present, HN 0 3 more than HN0 2, H 2 N 2 0 2 is produced, the process efficiency is increased.
  • oxygen (O 2 ) gas and nitrogen It is preferable to use elemental (N 2 ) gas and to also use nitrogen gas as a carrier gas. Since nitrogen gas is inexpensive, the running cost can be reduced even when used in large quantities as a carrier gas.
  • At least one feed gas may be contacted at the middle supply of that water.
  • the humidity of the processing gas generation atmosphere increases, and there is an advantage that generation of ozone that oxidizes the object to be processed can be suppressed.
  • N 2 O as a processing gas contributes to the modification of the surface of the object to be processed, for example, as in the above-mentioned formula (3).
  • N 20 was generated as a processing gas.
  • N 2 0 as the processing gas can modify the surface of the object to be processed, as in the above formula (2).
  • the absolute amount of oxygen supply amount is supplied that it more than 3% of the oxygen gas is small, because even small amounts of N 2 0 that occur, the processing rate is lowered.
  • the supply amount of oxygen is preferably 15% by volume or less, and more preferably 10% by volume or less. More preferably, the content is set to 5 to 10% by volume, and it has been found that the efficiency of reforming the surface of the object to be treated is superior to the case where the oxygen supply amount is outside this range.
  • the optimal value of the supply amount of oxygen is around 10% by volume at which the generation amount of NO 2 is maximized.
  • Yet another method of generating process gas is to use a salt composed of metal and nitrogen compounds.
  • Yet another method for generating a treatment gas is to contact the Kiyariagasu to any aqueous solution of Kano acid H 2 N 2 0 2, HN 02, HN0 3.
  • the carrier gas contains the above-mentioned acid
  • the surface of the object to be processed can be modified by, for example, any one of the above-described formulas (4) to (6).
  • the method further includes a step of forcibly exhausting the processing gas and the reaction product supplied to the object to be processed, and a step of trapping the processing gas and the reaction product in the middle of the exhaustion.
  • the device of the present invention includes a forced exhaust means and a trap means. As a result, it can be recovered without scattering it to the atmosphere such as nitrogen oxides.
  • catalysts for recovering nitrides and the like, and purifying means for activated carbon and the like can be easily discarded and can reduce running costs.
  • An object to be processed suitable for this type of processing includes a circuit board, an electronic component such as an integrated circuit (IC), a wire to be soldered, or a crystal unit.
  • IC integrated circuit
  • wire to be soldered or a crystal unit.
  • FIG. 1 is a schematic explanatory view showing an embodiment of the present invention in which a processing gas is generated by a discharge decomposition method.
  • FIG. 2 is a schematic explanatory view showing an embodiment of the present invention in which a processing gas is generated by a pyrolysis method.
  • FIG. 3 is a schematic explanatory view showing an embodiment of the present invention in which a processing gas is generated by a photolysis method.
  • FIG. 4 is a schematic explanatory view showing an embodiment of the present invention for generating a processing gas by an electrolysis method.
  • FIG. 5 is a schematic explanatory view showing an embodiment of the present invention in which an aqueous solution of an acid is brought into contact with a carrier gas to generate a processing gas.
  • FIG. 6 is a schematic explanatory view showing an embodiment of the present invention in which a supply gas is brought into contact with water to generate a processing gas.
  • FIG. 7 is a characteristic diagram showing the wettability of solder of a work surface-treated according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a schematic diagram illustrating measurement of the wettability of the solder in FIG.
  • FIG. 9 is a schematic explanatory view showing the entire configuration of the surface treatment apparatus according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 is a schematic explanatory view showing the internal configuration of the surface treatment unit shown in FIG.
  • FIG. 11 is a schematic explanatory view showing the configuration of the plasma generating section shown in FIG.
  • FIG. 12 is a schematic explanatory view showing another first embodiment of the processing gas generator shown in FIG.
  • FIG. 13 is a schematic explanatory view showing another second embodiment of the processing gas generator shown in FIG.
  • FIG. 14 is a schematic explanatory diagram showing another first configuration of the plasma generating unit.
  • FIG. 15 is a schematic explanatory view showing another second configuration of the plasma generating unit.
  • FIG. 16 is a schematic explanatory view showing another first internal configuration of the surface treatment unit shown in FIG.
  • FIG. 17 is a schematic explanatory view showing another second internal configuration of the surface treatment unit shown in FIG.
  • FIG. 18 is a schematic explanatory view showing an embodiment in which a line type processing apparatus is constituted by a surface treatment unit.
  • FIG. 19 is a schematic sectional view showing the air supply / exhaust section of the surface treatment unit shown in FIG.
  • FIG. 20 is a schematic explanatory view showing an embodiment in which a processing apparatus for a stand and a eve is constituted by a surface treatment unit.
  • FIG. 21 is a schematic sectional view showing a supply / exhaust section of the surface treatment unit shown in FIG.
  • FIG. 22 is a schematic explanatory view showing an embodiment in which a rod-type processing apparatus is constituted by a surface treatment unit.
  • FIG. 23 is a schematic sectional view showing a supply / exhaust portion of the surface treatment unit shown in FIG.
  • Fig. 24 shows the construction of a toaster-type processing unit using a surface treatment unit. It is a schematic explanatory view showing an example.
  • FIG. 25 is a schematic sectional view showing a supply / exhaust section of the surface treatment unit shown in FIG.
  • FIG. 26 is a schematic explanatory view showing an embodiment in which a batch processing type processing apparatus is constituted by a surface processing unit.
  • a processing gas containing nitrogen oxides N 20 , N 0, NO H 2 N 2 O 2 , HN 02, HNOs, etc. is brought into contact with the processing object, and the surface of the processing object is modified by this highly reactive processing gas.
  • This highly reactive processing gas may be supplied from the cylinder to the workpiece via the supply pipe, but the processing gas is generated by any of the six methods shown in Figs. 1 to 6. You can also.
  • a common configuration includes a processing gas generation container 1 and a processing gas supply pipe 2 that guides the generated processing gas toward an object to be processed.
  • oxygen atoms (0) and nitrogen atoms (N), which are processing gases, are treated in a processing gas generation vessel 1 to which a processing gas supply pipe 2 and a supply gas supply pipe 3 are connected.
  • the supplied gas is decomposed by the discharge at or near atmospheric pressure to generate the processing gas.
  • a plasma generating section 4 having a pair of electrodes is provided in the processing gas generating container 1.
  • nitrogen gas N 2 was supplied at 5 liters / min as a supply gas.Oxygen gas was supplied at 200 cc / min each, and-the power supply frequency supplied to the pair of electrodes was changed. At about 10 kHz, a discharge was generated at a peak-to-peak discharge voltage of AC 10 kVpp. At this time, in this example, the supply amount of oxygen was approximately 3.85% by volume (100 ⁇ 200/5200), and oxygen and nitrogen were decomposed to generate NO. By supplying this NO to the object as a processing gas, As shown in the above equation (2), the surface of the object to be processed could be modified.
  • the use of a power supply frequency as low as 10 kHz enabled stable discharge without supplying He.
  • the running cost can be reduced.
  • the peak-to-peak voltage of the discharge voltage must be higher than a certain value using a low frequency. According to the experiments of the present inventors, the above-described discharge can be confirmed at each of the AC voltages of DC voltage, 10 kHz, 30 kHz, and 40 kHz, and from the viewpoint of securing a large peak-to-peak voltage of the discharge voltage, 50 kHz An AC or DC voltage with a low frequency below z has been found to be useful.
  • the feed gas such as oxygen gas 0 2 and nitrogen gas N 2 is provided with a heater 5 for heating the process gas generation container 1 to be introduced .
  • the process gas generating vessel 1 and the feed gas is thermally decomposed by thermal energy, that is generating a process gas containing nitrogen oxides N 2 0, N0, N0 2.
  • the same kind of gas as the embodiment of FIG. 1 was supplied at the same flow ratio as the supply gas.
  • the set temperature of the heater 5 was set to 800 ° C.
  • NO was able to be generated as a processing gas, as in the embodiment of FIG.
  • by changing the supply amount of oxygen it is possible to increase the generation amount NO, the or N 2 0 is another nitrogen oxide, N0 2, etc. can also be generated.
  • the supply gases for example, oxygen gas and nitrogen gas are photo-decomposed.
  • a UV lamp 6 for irradiating light for example, ultraviolet light, is provided in the processing gas generation container 1.
  • Oxygen and nitrogen gas were supplied as the supply gas at the same flow ratio as in the embodiment of Figs.
  • the lamp output of the UV lamp 6 is set to 100 mW / cm 2 and the wavelength of the emitted light is set to 400 nm
  • NO is generated as a processing gas as in the embodiment of FIGS. 1 and 2. I was able to. Also in this case, by changing the supply amount of oxygen, the generation amount of N 0 can be increased, or other nitrogen oxides such as N 20 and NO 2 can be generated.
  • a processing gas is generated by electrolyzing an aqueous solution of a salt composed of an alkali metal and a nitrogen compound in a processing gas generation vessel 1 to which a processing gas supply pipe 2 is connected.
  • an aqueous solution of the above-mentioned salt aqueous solution was accommodated in the processing gas generation container 1, and the electrodes 8 a and 8 b were arranged in each area partitioned by the partition plate 7.
  • the electrodes 8 a, 8 b in the example was applied to DC 24 V, and can generate a processing gas containing HN0 3, HN0 2, H 2 N 202.
  • aqueous solution of a salt suitable for electrolysis can be cited NaN0 3, KN0 3 nitrate such as, nitrite, such as N a N0 2, an aqueous solution of the following nitrite such as N a NO.
  • the processing gas supply pipe 2 also serving as a carrier gas supply pipe is a first branch pipe that guides the carrier gas into the processing gas generation vessel 1. 2a, and a second branch pipe 2b for leading out the processing gas generated in the processing gas generating container 1.
  • the carrier gas HN0 3, HN0 2 or is contacted with an aqueous solution of H 2 N 2 0 2 acid to generate a processing gas containing a liquid of the acid.
  • FIG. 6 shows a modification of the embodiment of FIG. And a second gas supply pipe 3b for supplying the other gas, and a container 9 for bringing the other gas into contact with water in the middle of the second gas supply pipe 3b. Obedience Then, the other gas containing water is introduced into the processing gas producing container 1. Result of this, the reaction is mainly caused in the above-mentioned formula (8) (9), HN 0 2 or will contain H 2 N 2 0 2 as a process gas. As a result, the reactions of the above-mentioned formulas (5) and (6) mainly occur, and the surface treatment of the object to be processed can be promoted.
  • FIG. 7 shows the evaluation results.
  • the evaluation value of the wettability of the lead frame is indicated by the value of the buoyancy acting on the lead frame.
  • the value of buoyancy reflecting this wettability is, for example, a value measured by a measuring device schematically shown in FIG.
  • a panel 701 which is an elastic body, is connected to one end of a surface-treated lead frame 12 and the other end of the lead frame 12 is The buoyancy is measured as the tension of the lead frame 12 with respect to the panel 01 when immersed in the solder 703 and lowered.
  • the solder flips the lead frame 12 and the lead frame 12 moves in the direction of arrow a.
  • the tension on the panel 701 becomes a negative value.
  • the lead frame 12 moves in the direction of arrow b. At this time, the tension applied to the spring 701 is a positive value.
  • the processing gas generated in the processing gas generation container 1 of the present invention can maintain the high reactivity of the processing gas until the processing gas is exposed to the object.
  • the active species such as fluorine radicals generated in the plasma generation unit as in the conventional art have their lifetimes interrupted during the exposure to the workpiece disposed outside the plasma generation unit.
  • the present inventors conducted the following experiment.
  • the processing gas supply pipe connected to the plasma generation unit is a 1 / 4-diameter size (6.35 mm in outer diameter and 3.17 mm in inner diameter) that is generally used as a piping tube
  • the supply gas flow rate and tube cross-sectional area From this, I tried to find the flow rate of the processing gas. If the flow rate of the supply gas is 100 cc / min, the flow rate of the processing gas is 21.12 cm / s. Since the lifetime of the fluorine radical is 1/1000 s or less, it can be seen that the fluorine radical disappears at a position 0.012 cm away from the plasma generating part.
  • FIG. 9 is a schematic explanatory view showing the entire configuration of the surface treatment apparatus according to the present embodiment.
  • the work to be soldered is an IC 10
  • the IC 10 is placed on, for example, a conveyor line 14, and is sequentially conveyed in a direction from the back surface to the front surface of the drawing.
  • the lead frame 12 of the IC 10 has been solder-plated in advance. Therefore, although the surface of the lead frame 12 is covered with lead Pb and tin Sn, it is oxidized to lead PbO and tin oxide SnO.
  • the present embodiment reduces the lead oxide PbO and tin oxide SnO formed on the surface of the lead frame 12 to reduce the wettability of the solder of the lead frame 12. To improve the performance.
  • a surface treatment unit 30 and an air supply connection pipe 20 and an exhaust connection pipe 24 connected thereto are provided.
  • the processing gas generated inside the surface treatment unit 30 is introduced into the air supply connection pipe 20, and is processed through the air supply section 22 which spreads on the umbrella above the IC 10.
  • the gas is exposed to the IC 10, especially the lead frame 12.
  • the exhaust connection pipe 24 is for sucking the processing gas exposed to the lead frame 12 and forcibly exhausting the processing gas through the surface processing unit 30.
  • the supply gas from the supply gas generator 600 is supplied to the surface unit 30.
  • the supply gas generation section 600 is provided with a gas output section 6 19, a first gas supply pipe 657, a second gas supply pipe 658, and a steam mixer 659.
  • Oxygen and nitrogen, nitrogen alone, or compressed air are supplied as supply gases from the gas output section 6 19.
  • a first gas supply pipe 657 and a second gas supply pipe 658 composed of two gas supply pipes 658a and 658b are connected to the gas output section 619. .
  • the first gas supply pipe 657 is provided with a valve 662 for ON-OFF the supply gas output and a flowmeter 664 for adjusting the flow rate of the supply gas.
  • the flow rate of nitrogen and oxygen, nitrogen, or compressed air from the gas output section 6 19 is adjusted by a flow meter 664 via a valve 662 of a first gas supply pipe 657.
  • the gas supply pipe 658a is provided with a valve 636 for turning on / off the supply gas output, and the gas supply pipe 658b is supplied with the supply gas.
  • a flow meter 666 for adjusting the gas flow is provided.
  • the gas supplied from the gas output section 6 19 is introduced into the steam mixer 659 via the valve 663 of the gas supply pipe 658a, and is supplied to the steam mixer 659 by water, for example, pure water 6 60 is heated by the heater 661, and is turned into steam.
  • the supply gas introduced into the steam mixer 659 contains steam.
  • the supply gas containing this moisture is introduced into the gas supply pipe 658b, and the flow rate is adjusted by the flow meter 665.
  • a supply gas containing no water is led
  • a supply gas containing water is led.
  • the ratio of the water-free gas supplied to the surface treatment unit 30 to the water supplied gas depends on the ON / OFF of the valve 652 of the first gas supply pipe 657 and The flow rate can be arbitrarily adjusted by adjusting the flow rate of the flow meter 664, turning on / off the valve of the second gas supply pipe 658, and adjusting the flow rate of the flow meter 666.
  • the wettability of the lead frame 12 of the IC 10 can be improved.
  • the surface treatment unit 30 includes a gas supply pipe 40, a power supply 50, a plasma generation section 60, an exhaust pipe 70, and trap means inside one housing 32. It is equipped with a catalyst 80.
  • the gas supply pipe 40 is connected to the upstream and downstream sides of the plasma generation section 60 shown in FIG. 10 respectively, and a flow meter 42 is provided in the middle of the gas supply pipe 40 on the upstream side. It has been.
  • the above-described supply gas is introduced into the gas supply pipe 40 by using equipment in the factory.
  • the downstream end of the gas supply pipe 40 is connected to a supply connection pipe 20 shown in FIG.
  • the plasma generation unit 60 receives power supply from the power supply 50 and generates plasma under atmospheric pressure or a pressure near the atmospheric pressure. As shown in FIG. 11, this plasma generating section 60 is provided with a dielectric, for example, a porous insulator 64 between a pair of electrodes 62 a and 62 b, so that each electrode 6 2a and 62b are arranged facing each other.
  • a power supply 50 is connected to one electrode 62a, the other electrode 62b is grounded, and a relatively low frequency AC voltage or DC voltage of 50 kHz or less is applied between the electrodes. You.
  • the power supply 50 applies a relatively low-frequency AC voltage or DC voltage of 50 kHz or less, preferably 0 to 50 kHz, to the pair of electrodes 62 a and 62 b. It has a plug 52 that plugs into the outlet.
  • the reason why the power supply 50 outputs an AC voltage having a relatively low frequency is as follows.
  • An exhaust pipe 70 for forcibly exhausting the processing gas exposed to the lead frame 12 is provided inside the body 32 of the surface treatment unit 30.
  • the exhaust pipe 70 in the surface treatment unit 30 is connected to an exhaust connection pipe 24 shown in FIG.
  • the exhaust pipe 70 is provided with a purifying means for purifying the processing gas, for example, a catalyst 80.
  • a purifying means for purifying the processing gas for example, a catalyst 80.
  • NO x is present in the processing gas exposed to the object. This NO x contributes to the surface treatment of the lead frame 12 of the IC 10, but NO x that did not contribute to the surface treatment or the reaction products newly generated by the reaction during the treatment are exhausted. .
  • the exhaust gas is brought into contact with the catalyst 80 to chemically purify the processing gas. Moreover, the catalyst can be discarded without special treatment.
  • activated carbon having, for example, an adsorption function
  • exhaust components can be adsorbed on activated carbon.
  • This activated carbon can be incinerated and discarded.
  • the running cost can be reduced as compared with the case where CF 3 is conventionally used as a processing gas and alumina is used as a trapping means.
  • the supply gas is introduced into the gas supply pipes 40 of the surface treatment unit 30 by using the equipment arranged in the factory.
  • the flow rate of this supply gas is adjusted by a flow meter 42 provided in the gas supply pipe 40 in the middle.
  • the supply gas whose flow rate has been adjusted is introduced into the plasma generator 60.
  • a pair of electrodes 62 a and 62 b provided in the plasma generating section 60 have a relatively low frequency of 10 to 50 kHz. An AC voltage having a wave number is applied.
  • the supplied gas is excited and decomposed, and becomes a processing gas containing nitrogen oxides.
  • the processing gas derived from the gas supply pipe 40 of the surface treatment unit 30 is supplied to the IC 10 from the supply section 22 via the supply connection pipe 20 connected to the surface treatment unit 30. Exposure to the surface. Thereby, the lead frame 12 of IC 10 is surface-treated.
  • the processing gas exposed to the lead frame 12 is introduced into the inside of the surface treatment unit 30 via the exhaust connection pipe 24.
  • the above gas is guided to the catalyst 80 via the exhaust pipe 70.
  • the gas supply pipe 658a is provided with a steam mixing pipe as shown in FIG. What is necessary is just to add the structure which contacts the pure water 660 in the vessel 609.
  • the supply gas led to the gas supply pipe 658a in FIG. 12 is led into pure water, and is brought into direct contact with the pure water and then sent out as a gas containing water. In this case, it is expected that the concentration of water in the gas to be sent out can be increased, and efficient surface treatment can be performed.
  • the number of gas supply pipes for guiding the supply gas from the gas output section 6 19 is one, and the supply gas guided from the gas supply pipe 6 58 a via the valve 6 63 is provided. May be passed through pure water.
  • the steam mixer of the processing gas generator shown in FIGS. 9 and 12 can be mounted in the surface treatment unit 30 shown in FIG.
  • Experiment 3 and Experiment 4 are compared.
  • the processing gas of the compressed air containing water used in Experiment 3 generated more ⁇ ⁇ 2— than the processing gas consisting of only the compressed air used in Experiment 4, and the wettability was higher in Experiment 3 Turned out to be good.
  • NO- in the processing gas to be exposed to the workpiece tends to NO 2 by reduction of oxides of the workpiece surface
  • the wettability of the solder the more NO 2 larger amount is improved in the exhaust gas considered Can be That is, the generation of a large amount of NO 2 promotes the reduction of the oxide present on the surface of the lead frame 12, and can enhance the wettability of the lead frame 12.
  • Experiment 1 and Experiment 3 are compared assuming that the same processing gas is used but the electrodes are different.
  • FIG. 14 a schematic configuration of the A type electrode used for the electrode under the plasma condition is shown in FIG. 14, and a schematic configuration of the electrode of the B type is shown in FIG.
  • the A-type electrode in FIG. 14 is a pair of electrodes composed of an electrode 65 a connected to a power source 50 and an electrode 65 b grounded.
  • a dielectric 64 is arranged between the pair of electrodes 65a and 65b.
  • a concave portion 66 penetrating in the front-back direction of the drawing is formed on the surface of the electrode 65a facing the dielectric 64. Atmospheric pressure or pressure near it Under the force, the power supply from the power source 50 causes the supply gas to pass through the concave portion 66, thereby generating a plasma discharge in the concave portion 66.
  • the B-type electrode shown in FIG. 15 has a first electrode 67a and a second electrode 67b arranged with a dielectric 64 interposed therebetween. Unlike the electrodes of FIG. 14, the first and second electrodes 67a, 67b are respectively provided on each surface facing the dielectric 64, with the first and second concave portions 68a, 6 8b is formed. The first and second concave portions 68a and 68b penetrate in the front and back direction of the drawing. Further, the first and second concave portions 68a and 68b are formed at positions not opposed to each other.
  • the B-type electrode shown in Fig. 15 has a smaller stray capacitance between a pair of electrodes, and can use the power consumed by this stray capacitance as power for surface discharge. This is probably because the plasma density increases and the decomposition rate increases.
  • FIG. 9 Another configuration of the surface treatment unit 30 of FIG. 9 will be described with reference to FIGS. 16 and 17.
  • FIG. 16 is a diagrammatic representation of the surface treatment unit 30 of FIG. 9
  • a gas supply pipe 41 is further mounted inside the housing 32. is there. Compressed air from a pump or nitrogen from a cylinder is introduced into the gas supply pipe 41 and supplied to the plasma generation unit 60. On the other hand, steam is supplied from the gas supply pipe 40. O 96 34
  • a gas output unit 6 19 can be mounted in advance in the surface treatment unit 120.
  • the supply gas from the gas generation section 61 9 is led through the gas supply pipe 40, the flow rate is adjusted by the flow meter 42, and supplied to the plasma generation section 60.
  • the line-type surface treatment unit 160 shown in FIGS. 18 and 19 is provided at an upper position facing, for example, a plate-like work 500 conveyed by the conveyor line 14. .
  • the surface treatment unit 160 has a supply / exhaust unit 162 at the lower part of the housing 161.
  • the air supply / exhaust section 16 2 has a double-walled structure composed of an air supply pipe 16 4 and an exhaust pipe 16 6.
  • the air supply pipe 164 is arranged at the center, and the exhaust pipe 166 is arranged around the air supply pipe 166.
  • the lower end of the exhaust pipe 166 has an umbrella-like shape.
  • the work 500 When the work 500 is conveyed intermittently or continuously by the conveyor line 14, the work 500 faces the air supply / exhaust section 162 of the surface treatment unit, and the work 500 The surface will be surface treated. Thus, while the surface treatment unit 160 is fixed, a large number of works 500 can be continuously surface-treated on the entire surface of the work 500.
  • the stand type surface treatment unit 200 shown in FIG. 20 has a housing 201 having a mountable bottom surface.
  • the processing gas is introduced into the casing 201 as described above, and the exhaust gas is exhausted via the catalyst.
  • the housing 201 is provided with an air supply connection pipe 210 and an exhaust connection pipe 230 extending upward.
  • the air supply connection pipe 210 is bent and has an air supply part 220 opened at the lower end.
  • An umbrella-shaped diffusion prevention plate 222 is provided around the air supply section 220 to prevent the diffusion of the processing gas. Have been killed.
  • the exhaust connection pipe 230 has an umbrella-shaped exhaust suction portion 240 whose opening area increases upward as it faces upward.
  • the arranged tip portion 2 52 is arranged at a position immediately below the air supply portion 220.
  • the distal end portion 250 of the wire rod 250 is subjected to the surface treatment with the processing gas derived from the air supply section 220, and the exposed processing gas is discharged to the exhaust suction section 240 and the exhaust connection pipe 2 It will be led to the catalyst in the housing 201 through 30.
  • the stand type surface treatment unit 200 by using the stand type surface treatment unit 200, a local atmosphere of the treatment gas can be created in the air, and the workpiece such as the wire rod 250 can be easily surface treated. Becomes possible.
  • the surface treatment unit 300 itself is constituted by a cylindrical housing 301 such as a soldering iron, for example.
  • the air supply connection pipe 310 and the exhaust connection pipe 320 connected to the housing 301 have a double pipe structure, and the processing gas is processed by the inside air supply connection pipe 310.
  • the exposed processing gas is led out toward the inside of the housing 301 from the exhaust connection pipe 320 on the outside.
  • the distal end of the exhaust connection pipe 320 has an umbrella-like shape as shown in FIGS.
  • the surface treatment unit 300 itself is configured in a rod shape, it becomes possible to perform surface treatment of various works by manually operating the surface treatment unit 300 itself.
  • the surface treatment unit 400 shown in FIGS. 24 and 25 has a slit-shaped insertion portion 4 on one surface of the housing 401, for example, on the upper surface thereof, into which a plate-shaped work 500 can be inserted. It has ten.
  • An exhaust pipe 420 is connected to the slit-shaped insertion section 410.
  • a processing gas supply pipe 430 having one end opened at the side wall is provided. According to this configuration, by inserting the plate-shaped work 500 into the slit-shaped insertion portion 410 provided on the upper surface of the housing 401, both sides of the work 500 can be inserted.
  • the processing gas is sprayed more, so that both surfaces of the plate-like workpiece 500 can be simultaneously subjected to the surface treatment.
  • the processing gas supply pipe 430 may be opened only on one side wall of the slit-shaped insertion portion 410.
  • FIG. 26 shows an apparatus for processing a large number of workpieces in a batch system.
  • This device connects the air supply pipe 20 and the exhaust pipe 24 connected to the above-mentioned surface treatment unit 30 (or 110 or 120) to a batch processing box 450. ing.
  • the batch processing box 450 accommodates a large number of works 510 therein.
  • the workpieces 50 to be batch-processed may be, for example, a TAB tape wound in a roll, in addition to the above-mentioned IC 10, wire rod 250, and plate-shaped workpiece 500.
  • this batch processing type it is possible to perform surface treatment on a large number of works 5 10 at a time.
  • the work surface-treated by the treatment method of the present invention can maintain the improved wettability of the solder for a relatively long time after the surface treatment, the work is stored until the soldering after the batch processing. Also, good soldering can be performed.

Abstract

A method and apparatus for surface treatment, wherein a workpiece is exposed to an activated gas containing nitrogen and water at an atmospheric pressure to modify the surface of the workpiece. To improve wettability of a soldered lead frame (12), oxygen is fed from a gas supply (619) to a plasma generator in a surface treatment unit (30) through a first pipe (657). Nitrogen is fed from the gas supply (619) into a container (659) of pure water (660) through a second pipe (658), and the wet nitrogen is introduced to the plasma generator in the surface treatment unit (30). The gas supplied into the plasma generator is excited and decomposed by an electrode to which a D.C. voltage or a low-frequency A.C. voltage of not higher than 50 KHz is applied, and a plasma containing nitrogen oxides is generated. An IC (10) is exposed to this plasma for the surface treatment of the lead frame (12). Oxides on the surface of the lead frame (12) are reduced or their oxides are substituted by nitrogen oxides, and the surface of the lead frame (12) is modified.

Description

明 細 書 表面処理方法及びその装置  Description Surface treatment method and apparatus
[技術分野]  [Technical field]
本発明は、 半導体装置、 水晶発振子、 回路基板又は線材などの被処理体を表面 処理して、 被処理体の表面を改質させる表面処理方法及びその装置に関する。  The present invention relates to a surface treatment method for modifying a surface of an object to be processed, such as a semiconductor device, a crystal oscillator, a circuit board, or a wire, and a surface treatment method and an apparatus therefor.
[背景技術]  [Background technology]
従来より、 真空プラズマにより生成される水素原子により金属表面を清浄化さ せる方法 (特開平 2— 1 9 0 4 8 9 ) や、 真空プラズマクリ一ニングにより基板 の半田の濡れ性を改善する方法 (特開平 3— 1 7 4 9 7 2 ) が提案されている。 本願出願人は、 従来の真空プラズマに代えて、 大気圧プラズマによりガスを活 性化し、 イオン、 励起種等の活性種により、 半田付けされるワークの濡れ性を向 上させる技術を既に提案している (W 0 9 4 / 2 2 6 2 8、 特願平 7— 2 9 5 0 ) ( ここで、 上述した真空プラズマ及び大気圧プラズマを利用した処理では、 いず れもプラズマにより励起された活性種により表而処理を行っている。 Conventionally, a method of cleaning a metal surface with hydrogen atoms generated by vacuum plasma (Japanese Patent Laid-Open No. 2-190489) and a method of improving solder wettability of a substrate by vacuum plasma cleaning (Japanese Unexamined Patent Publication No. 3-174792) has been proposed. The present applicant has already proposed a technology for activating gas by atmospheric pressure plasma instead of the conventional vacuum plasma, and improving the wettability of a work to be soldered by active species such as ions and excited species. (W094 / 222628, Japanese Patent Application No. 7-29550) ( Here, in the above-described processing using vacuum plasma and atmospheric pressure plasma, both are excited by plasma. Metakinesis is performed with the active species.
ここで、 被処理体をプラズマに晒す直接放電処理方式では、 プラズマダメージ に起因した被処理体の物理的性質の破壊が生じやすく、 好ましくない。 特に、 被 処理体の被処理面が金属であると、 突起した部分に集中的に強いプラズマが生成 され、 被処理面全体を均一に処理できなくなる。  Here, the direct discharge treatment method in which the object to be processed is exposed to plasma is not preferable because the physical properties of the object to be processed are likely to be destroyed due to plasma damage. In particular, if the surface of the object to be processed is a metal, strong plasma is generated intensively at the protruding portion, and the entire surface to be processed cannot be uniformly processed.
一方、 プラズマ発生部にて生成された活性極を、 プラズマに晒されない位置に 配置された被処理体に導いて処理する間接放電処理方式も提案されている。 この 場合には、 上述したプラズマダメージは生じない。  On the other hand, there has been proposed an indirect discharge treatment method in which an active electrode generated in a plasma generation unit is guided to an object disposed at a position not exposed to plasma for treatment. In this case, the above-described plasma damage does not occur.
しかし、 この活性種には寿命があり、 この寿命が比較的短いため、 被処理体を プラズマ発生部より離れた位置に置くことで、 衷面処理が不能になるか、 あるい は処理効率が大幅に低下してしまう。 従って、 この間接放電処理方式は、 被処理 体の設置場所に制約が生じて実用的でない。  However, since this active species has a long life and its life is relatively short, placing the workpiece far from the plasma generation unit makes it impossible to perform the surface treatment or increases the processing efficiency. It will drop significantly. Therefore, this indirect discharge treatment method is not practical because there are restrictions on the installation location of the object to be treated.
また、 例えば C F 4をを放電分解して得られるフッ素 F 2を用いて表面処理する 方法もあるが、 腐蝕ガスであるフッ素を大気に放出せずに回収する場合には、 酸 化アルミニウムを含むトラップ装置を用いてする。 このトラップ装置では、 フッ 素を酸化アルミニゥムでトラップすることで、 フッ化アルミニゥムが生成される。 このフッ化アルミニウムは、 専門の業者でしか廃棄できないので、 排気処理に手 間とコス 卜がかかるという問題もあった。 In addition, for example, there is a method of performing surface treatment using fluorine F2 obtained by discharge-decomposing CF4.However, when recovering fluorine as a corrosive gas without releasing it to the atmosphere, it includes aluminum oxide. Using a trap device. This trap device By trapping the element with aluminum oxide, aluminum fluoride is generated. Since this aluminum fluoride can only be disposed of by a specialized contractor, there is also a problem that exhaust processing takes time and costs.
そこで、 本発明の目的とするところは、 プラズマダメージがない状態で被処理 体の表面を改質させる処理ができ、 しかも被処理体の設置場所の自由度が大きい 表面処理方法及びその装置を提供することにある。  Therefore, an object of the present invention is to provide a surface treatment method and a device capable of performing a treatment for modifying the surface of an object to be processed in a state where there is no plasma damage, and having a high degree of freedom in an installation place of the object. Is to do.
本発明のさらに他の目的は、 安価に入手できるガス、 液体から低ランニングコ ストにて被処理体の表面を改質させる表面処理が可能な表面処理装置及びその方 法を提供することにある。  Still another object of the present invention is to provide a surface treatment apparatus capable of performing surface treatment for modifying the surface of an object to be treated with low running cost from gas or liquid which can be obtained at low cost, and a method thereof.
本発明のさらに他の目的は、 被処理体を酸化させるオゾンの発生を抑制しなが ら、 被処理体の表面を改質することができる表面処理方法及びその装置を提供す ることにある。  It is still another object of the present invention to provide a surface treatment method and a device capable of modifying the surface of a target object while suppressing generation of ozone that oxidizes the target object. .
本発明のさらに他の目的は、 排気された処理ガスを トラップした後の処理が容 易で、 ランニングコストを低減できる表面処理方法及びその装置を提供すること にめる。  It is still another object of the present invention to provide a surface treatment method and an apparatus therefor, in which the treatment after trapping the exhausted treatment gas is easy and the running cost can be reduced.
[発明の開示]  [Disclosure of the Invention]
本発明は、 窒素酸化物を含む処理ガスを被処理体の表面に接触させて、 前記被 処理体の表面を処理することを特徴とする。  The present invention is characterized in that the surface of the object to be treated is treated by bringing a treatment gas containing nitrogen oxide into contact with the surface of the object to be treated.
これらの窒素酸化物は、 被処理体の表面に形成された酸化物を還元して、 被処 理体の表面を改質することができる。 あるいはこの窒素酸化物は、 被処理体の表 面に形成された酸化物を、 該表面を形成する物質と結合された窒素酸化物に置換 して、 被処理体の表面を改質することができる。  These nitrogen oxides can reduce the oxides formed on the surface of the object to be reformed and modify the surface of the object. Alternatively, the nitrogen oxide may replace the oxide formed on the surface of the object with nitrogen oxide combined with a substance forming the surface to modify the surface of the object. it can.
この窒素酸化物を含む処理ガスとして、 N 2 0、 N 0、 N 0 2を挙げることがで きる。 As the process gas containing the nitrogen oxides, N 2 0, N 0, N 0 2 as possible out and the like.
被処理体の表面を予め半田処理した場合であって、 半田処理後に酸化されてし まった表面を、 上記の処理ガスによって改質する場合を例に挙げて説明する。 こ の場合、 被処理体の表面には、 酸化鉛 P b O又は酸化スズ S n Oが形成されてい る。 上記の窒素酸化物は、 これらの酸化物と下記の通り反応して、 被処理体の表 面を改質させる。 例えば、 処理ガスとして N 0 2を用いると、 2 P b 0+ 2 N〇2→P b (N〇3) 2 + P b '·· ( 1) となり、 被処理体表面の酸化物 PbOが窒素酸化物 Pb (N03) 2に置換され る。 The case where the surface of the object to be processed is preliminarily soldered and the surface that has been oxidized after the soldering is modified by the above processing gas will be described as an example. In this case, lead oxide PbO or tin oxide SnO is formed on the surface of the object. The nitrogen oxides react with these oxides as described below to modify the surface of the object. For example, if N 2 is used as the processing gas, 2 Pb 0+ 2 N〇 2 → P b (N〇 3 ) 2 + P b '(1), and the oxide PbO on the surface of the workpiece is replaced with nitrogen oxide Pb (N0 3 ) 2 You.
また、 処理ガスとして N2〇を用いると、 Also, when N 2と し て is used as the processing gas,
PbO + N20- 2NO + Pb … ( 2 ) となり、 この場合は、 被処理体表面の酸化物 PbOが還元されて Pbとなる。 このとき、 NOが発生し、 これがさらに被処理体表面の改質に寄与する。 PbO + N 2 0- 2NO + Pb ... (2) , and this case, the Pb is reduced oxide PbO of the surface of the object. At this time, NO is generated, which further contributes to the modification of the surface of the object to be processed.
処理ガスとして、 NOを用いると、  If NO is used as the processing gas,
P bO+NO→N〇2 + Pb - ( 3 ) となり、 この場合も被処理体表面の酸化物 PbOが還元されて Pbとなる。 こ のとき、 N02が発生し、 これがさらに上述の通り被処理体表面の改質に寄与する。 ここで、 酸化物 PbOが還元されて Pbとなると、 例えば半田の濡れ性が向上 する。 酸化物 PbOを窒素酸化物 Pb (N03) 2に置換することでも、 還元の場 合ほどではないが半田の濡れ性は向上する。 窒素酸化物 Pb (NOs) 2に置換し た場合には、 本発明の表面処理後に比較的長い時間大気に放置しても酸化されな い点で優れている。 以上のことは、 酸化物 S ηθ等の他の酸化物についても同様 に成 する。 P bO + NO → N_〇 2 + Pb - (3), and the oxide PbO in this case the surface of the object is being reduced Pb. At this time, N0 2 is generated, which further contributes to the modification of the street above the surface of the object. Here, when the oxide PbO is reduced to Pb, for example, the wettability of the solder is improved. Also by replacing the oxide PbO nitrogen oxides Pb (N0 3) 2, but not to the extent situ Go the reduction is improved wettability of the solder. Substitution with nitrogen oxide Pb (NOs) 2 is excellent in that it is not oxidized even after being left in the air for a relatively long time after the surface treatment of the present invention. The above is similarly applied to other oxides such as the oxide S ηθ.
以上の通り、 本発明では N20、 N0、 NO 2等の窒素酸化物を処理ガスとして 用いることで、 被処理体の表面を改質できることが分かる。 As described above, it can be seen that in the present invention, the surface of the object to be processed can be modified by using nitrogen oxides such as N 20 , N 0, and NO 2 as the processing gas.
この窒素酸化物を含む他の処理ガスとして、 HN03、 HN〇2、 H2N202等の 酸を含むガスを挙げることができる。 Another process gas containing the nitrogen oxides, mention may be made of a gas containing HN0 3, HN_〇 2, H 2 N 2 0 2 acid and the like.
処理ガスとして HN03を含むガスを用いると、 With the gas containing HN0 3 as the processing gas,
PbO + 2HN03→Pb (N03) 2 + H2O "' (4) となり、 被処理体表面の酸化物 PbOが窒素酸化物 Pb (NOs) 2に置換され る。 PbO + 2HN0 3 → Pb (N0 3) 2 + H2O "'(4) , and the Ru is an oxide PbO of the surface of the object is a substituted nitrogen oxides Pb (NOs) 2.
また、 処理ガスとして HN02を含むガスを用いると、 Moreover, the use of gas containing HN0 2 as a process gas,
PbO + HN02→Pb + HN03 … ( 5 ) となり、 この場合も被処理体表面の酸化物 P b 0が窒素酸化物 P b (NO 3) 2 に置換される。 このとき、 HN03が発生し、 これがさらに被処理体の改質に寄与 する。 PbO + HN0 2 → Pb + HN0 3 ... (5) , and this case is also oxide P b 0 of the object surface nitrogen oxides P b (NO 3) is replaced by 2. At this time, HN0 3 occurs, which further contributes to the modification of the object I do.
処理ガスとして、 H2N202を含むガスを用いると、 As the process gas, the use of gas containing H 2 N 2 0 2,
2 P b 0 + H2N22→2 P b + 2 HN02 - ( 6 ) となり、 この場合も被処理体表面の酸化物 Pb〇が還元されて Pbとなる。 こ のとき、 HN02が発生し、 これがさらに被処理体の改質に寄与する。 2 Pb 0 + H 2 N 22 → 2 Pb + 2 HN 0 2- (6) In this case as well, the oxide Pb〇 on the surface of the object to be treated is reduced to Pb. At this time, HN0 2 occurs, which further contributes to the modification of the object.
本発明は、 上述した処理ガスをボンベより直接被処理体に向けて供給しても良 いが、 下記のいずれかの方法により処理ガスを生成して供給することでも良い。 処理ガスを生成する一つの方法として、 酸素原子 (0) と窒素原子 (N) とを 含む供給ガスが供給される雰囲気中にて放電を生成して、 前記処理ガスを生成す ることができる。 供給ガスとしては、 例えば酸素ガス 02及び窒素ガス N2を挙げ ることができる。 他の供給ガスとして、 酸素ガス 02及び窒素ガス N2に水 H20特 に純水を加えたものを挙げることができる。 さらに、 他の供給ガスとして、 窒素 ガス N2と水 H20、 あるいは圧縮空気と水 H20を挙げることができるが、 これら に限定されるものではない。 In the present invention, the above-described processing gas may be supplied directly from the cylinder to the object to be processed, or the processing gas may be generated and supplied by any of the following methods. As one method of generating the processing gas, the processing gas can be generated by generating a discharge in an atmosphere in which a supply gas containing oxygen atoms (0) and nitrogen atoms (N) is supplied. . The feed gas can Rukoto like for example an oxygen gas 0 2 and nitrogen gas N 2. Other feed gases, to oxygen gas 0 2 and nitrogen gas N 2 can be mentioned those of pure water was added to the water H 2 0 Japanese. Further, other supply gases include, but are not limited to, nitrogen gas N 2 and water H 20 , or compressed air and water H 20 .
これらの供給ガスは放電により分解され、 酸素原子 (0) と窒素原子 (N) と の結合により、 N20、 N0、 N02が生成される。 従って、 上述の式 ( 1) 〜 (3) のいずれか 1以上の反応が生じて、 被処理体の表面を改質できる。 These feed gas is decomposed by electric discharge, by binding an oxygen atom (0) and nitrogen atom (N), N 2 0, N0, N0 2 is generated. Therefore, a reaction of one or more of the above-described formulas (1) to (3) occurs, and the surface of the object to be processed can be modified.
さらに、 水 H 20の添加により水素原子 (H) が存在すると、 下記の通りの反応 により、 HN03、 HN〇2、 H2N 202も生成され得る。 Further, the hydrogen atom by the addition of water H 2 0 (H) is present, by reaction as described below, HN0 3, HN_〇 2, H 2 N 2 0 2 may also be generated.
2NO + 4H20→2HN03+3H2 ··· ( 7 ) 2NO + 4H 2 0 → 2HN0 3 + 3H 2 ··· (7)
2NO + 2H20→2HN02 + H2 - (8) 2NO + 2H 2 0 → 2HN02 + H 2 - (8)
2 ΝΟ + 2 H20→H2N22 + H2 + 02 - (9) 従って、 水の添加により、 ( 1 ) 〜 ( 3 ) のいずれか 1以上の反応と、 (4) 〜 (6) のいずれか 1以上の反応とが行われて、 被処理体の表面を改質すること が分かる。 このため、 被処理体の表面を改質処理の効率が高まるという利点があ る。 なお、 式 (7) の反応は、 式 (8) (9) に比べて起きにくい。 このため、 HN03は生成され難く、 ΗΝ02、 ΗζΝ202が比較的多く生成されるので、 上述 の式 (5) (6) の反応により、 酸化物が還元されるので、 被処理体の表面の改 質処理の効率がさらに高まる。 この供給ガスを励起させる放電を生成するために、 大気圧又はその近傍の圧力 下で、 50の kH z以下の低周波数の交流電圧又は直流電圧が印加される一対の 電極を用いることができる。 2 ΝΟ + 2 H 2 0 → H 2 N 22 + H 2 + 0 2- (9) Therefore, by the addition of water, one or more of the reactions (1) to (3) and (4) It can be seen that any one or more of the reactions (6) to (6) are performed to modify the surface of the object to be processed. For this reason, there is an advantage that the efficiency of the modification treatment of the surface of the object to be treated is increased. The reaction of equation (7) is less likely to occur than equations (8) and (9). Therefore, HN0 3 is hard to be generated, Itanyu0 2, since ΗζΝ 2 0 2 is relatively large product, by reaction of the above equation (5) (6), since the oxide is reduced, the target object The efficiency of the surface reforming process is further improved. A pair of electrodes to which a low frequency AC or DC voltage of 50 kHz or less is applied at or near atmospheric pressure to generate a discharge that excites the supply gas can be used.
上述の低周波数の交流電圧又は直流電圧を一対の電極間に印加すると、 放電電 圧のピーク ツー ピーク電圧を比較的大きくでき、 プラズマ生成用ガスである He等を供給しなくても、 安定して放電を生成することができる。 このような安 定した大気圧プラズマを生成するのに、 必ずしも H eを用いる必要が無くなり、 ランニングコストを低減できる。  When the low-frequency AC voltage or DC voltage described above is applied between a pair of electrodes, the peak-to-peak voltage of the discharge voltage can be relatively increased, and the discharge voltage can be stabilized without supplying He or the like which is a plasma generation gas. To generate a discharge. It is not necessary to use He to generate such a stable atmospheric pressure plasma, and the running cost can be reduced.
処理ガスを生成する他の一つの方法として、 酸素原子 (0) と窒素原子 (N) とを含む供給ガスが供給される雰囲気を加熱して、 前記処理ガスを生成すること ができる。 供給ガスとしては放電分解の場合と同じものを採用できる。 この供給 ガスは熱エネルギーにより分解され、 N20、 N0、 NO 2が生成される。 この場 合も、 水素原子 (H) が存在すると、 HN 03より多くの HN02、 H2N 202が生 成され、 処理効率が高まる。 As another method for generating the processing gas, the processing gas can be generated by heating an atmosphere in which a supply gas containing oxygen atoms (0) and nitrogen atoms (N) is supplied. As the supply gas, the same gas as in the case of discharge decomposition can be adopted. The feed gas is decomposed by thermal energy, N 2 0, N0, NO 2 is produced. In this case also, the hydrogen atom (H) is present, HN 0 3 Many HN0 2, H 2 N 2 0 2 made fresh from increases the processing efficiency.
ここで、 プラズマ生成用の一対の電極は、 誘電体を挟んで配置される第 1、 第 2の電極を有し、 この第 1、 第 2の電極は、 誘電体と対面する各面の互いに非対 向となる位置に第 1、 第 2の凹部が形成され、 前記第 1、 第 2の凹部の少なくと も一方に供給ガスが導入されることが好ましい。  Here, the pair of electrodes for plasma generation has first and second electrodes arranged with a dielectric interposed therebetween, and the first and second electrodes are connected to each other on each surface facing the dielectric. It is preferable that first and second recesses are formed at non-directional positions, and a supply gas is introduced into at least one of the first and second recesses.
こうすると、 第 1, 第 2の電極間の浮遊容量が減少する。 その浮遊容量にて消 費されていた分の電力を放電電力として使用できるので、 安定したプラズマを維 持でき、 あるいはプラズマ密度を高めることができ、 処理レートを向上させるこ とかできる。  This reduces the stray capacitance between the first and second electrodes. Since the power consumed by the stray capacitance can be used as the discharge power, stable plasma can be maintained or the plasma density can be increased, and the processing rate can be improved.
処理ガスを生成するさらに他の一つの方法として、 酸素原子 (0) と窒素原子 (N) とを含む供給ガスが供給される雰囲気に光を照射して、 前記処理ガスを生 成することができる。 この場合の供給ガスも上記の場合と同じでよく、 この供給 ガスが光分解され、 N20、 N0、 N02が生成される。 この場合も、 水素原子 (H) が存在すると、 HN 03より多くの HN02、 H2N 202が生成され、 処理効 率が高まる。 Still another method of generating the processing gas includes irradiating an atmosphere supplied with a supply gas containing oxygen atoms (0) and nitrogen atoms (N) with light to generate the processing gas. it can. The feed gas of this case be the same as the above case, the feed gas is photolyzed, N 2 0, N0, N0 2 is generated. Again, the hydrogen atom (H) is present, HN 0 3 more than HN0 2, H 2 N 2 0 2 is produced, the process efficiency is increased.
上記の 3つの方法のいずれにおいても、 供給ガスとして、 酸素 (02) ガスと窒 素 (N 2 ) ガスとを用い、 かつ、 窒素ガスをキャリアガスとして兼用することが好 ましい。 窒素ガスは安価であるので、 キャリアガスとして大量に用いてもラン二 ングコストを低減できる。 In any of the above three methods, oxygen (O 2 ) gas and nitrogen It is preferable to use elemental (N 2 ) gas and to also use nitrogen gas as a carrier gas. Since nitrogen gas is inexpensive, the running cost can be reduced even when used in large quantities as a carrier gas.
供給ガス中に水 H 2 0を含ませる方法として、 少なくとも 1種の供給ガスを、 そ の供給途中にて水と接触させると良い。 供給ガスに水が含まれていると、 処理ガ ス生成雰囲気の湿度が高まり、 被処理体を酸化させるオゾンの発生を抑制できる 利点もある。 As a method to include water H 2 0 in the feed gas, at least one feed gas, may be contacted at the middle supply of that water. When water is contained in the supply gas, the humidity of the processing gas generation atmosphere increases, and there is an advantage that generation of ozone that oxidizes the object to be processed can be suppressed.
ここで、 酸素ガスと窒素ガスとの流量比の設定を変えることで、 生成される処 理ガスの種類を変更することができる。 本発明者等の実験によれば、 酸素ガスの 供給量を 1 5体積%以下とすると、 N Oを発生させることができることが確認さ れた。 処理ガスとしての N Oは、 例えば上述の式 (3 ) の通り被処理体表面の改 質に寄与する。  Here, by changing the setting of the flow ratio between the oxygen gas and the nitrogen gas, the type of the processing gas to be generated can be changed. According to experiments performed by the present inventors, it was confirmed that N 2 O could be generated when the supply amount of oxygen gas was 15% by volume or less. N 2 O as a processing gas contributes to the modification of the surface of the object to be processed, for example, as in the above-mentioned formula (3).
さらに、 本発明者等の実験によれば、 酸素ガスの供給量が 1 0体積%を越える と、 処理ガスとして N 0 2が発生することが確認された。 処理ガスとしての N 0 2 は、 上述の式 ( 1 ) の通り、 被処理体表面の酸化物を窒素酸化物に置換して、 被 処理体表面を改質することができる。 この場合、 例えば半田の濡れ性を改善する 際には還元の場合と比べて効果が劣るため、 N 0 2の発生量を低減するために、 酸 素の供給利用を 1 0体積%以下にすればよい。 Further, according to experiments of the present inventors, when the supply amount of the oxygen gas exceeds 1 0 vol%, that N 0 2 is produced as a processing gas was confirmed. N 0 2 as a processing gas, as the above equation (1), and an oxide of the surface of the object is replaced with nitrogen oxides, it is possible to modify the surface of the object. In this case, for example, since in improving solder wettability poorer effect than in the case of reduction, in order to reduce the generation of N 0 2, the supply use of oxygen to 1 0% by volume or less I just need.
さらに、 本発明書等の実験によれば、 酸素ガスの供給量が 3体積%以下である と、 処理ガスとして N 2 0が発生することが確認された。 処理ガスとしての N 20 は、 上述した式 ( 2 ) の通り、 被処理体表面を改質することができる。 ただし、 酸素ガスの供給量が 3体積%以下だと供給される酸素の絶対量が少なく、 発生す る N 2 0の量も少ないため、 処理レートは低くなる。 Further, according to experiments in the present invention and the like, it was confirmed that when the supply amount of oxygen gas was 3% by volume or less, N 20 was generated as a processing gas. N 2 0 as the processing gas can modify the surface of the object to be processed, as in the above formula (2). However, the absolute amount of oxygen supply amount is supplied that it more than 3% of the oxygen gas is small, because even small amounts of N 2 0 that occur, the processing rate is lowered.
以上のことを考慮すると、 酸素の供給量は、 好ましくは 1 5体積%以下、 さら に好ましくは 1 0体積%以下とするのがよい。 さらに好ましくは、 5〜 1 0体積 %とするのが良く、 この範囲を外れた酸素供給量の場合よりも、 被処理体表面の 改質効率が優れることが分かった。 酸素の供給量の最適値は、 N O 2の発生量が最 大となる 1 0体積%前後である。 In consideration of the above, the supply amount of oxygen is preferably 15% by volume or less, and more preferably 10% by volume or less. More preferably, the content is set to 5 to 10% by volume, and it has been found that the efficiency of reforming the surface of the object to be treated is superior to the case where the oxygen supply amount is outside this range. The optimal value of the supply amount of oxygen is around 10% by volume at which the generation amount of NO 2 is maximized.
処理ガスを生成するさらに他の方法は、 アル力リ金属と窒素化合物から成る塩 W Yet another method of generating process gas is to use a salt composed of metal and nitrogen compounds. W
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の水溶液を電気分解して、 窒素化合物を生成することである。 この電気分解によ り、 HN03、 HN02、 H2N 202を生成できる。 Is to electrolyze the aqueous solution to produce nitrogen compounds. Ri by this electrolysis, can generate HN0 3, HN0 2, H 2 N 2 0 2.
処理ガスを生成するさらに他の方法は、 H2N 202、 HN 02, HN03のいずれ かの酸の水溶液にキヤリアガスを接触させることである。 このキヤリアガスが上 記の酸を含むことで、 例えば上述した式 (4) 〜 (6) のいずれかの反応により、 被処理体の表面を改質することができる。 Yet another method for generating a treatment gas, is to contact the Kiyariagasu to any aqueous solution of Kano acid H 2 N 2 0 2, HN 02, HN0 3. When the carrier gas contains the above-mentioned acid, the surface of the object to be processed can be modified by, for example, any one of the above-described formulas (4) to (6).
本発明では、 被処理体に向けて供給された処理ガス及び反応生成物を強制排気 する工程と、 その排気途中にて、 処理ガス及び反応生成物をトラップする工程と、 をさらに有することが好ましい。 このために、 本発明装置では、 強制排気手段と トラップ手段とを備える。 これにより、 窒素酸化物など大気に散乱させずに回収 できる。 特に、 窒化物等を回収する触媒、 活性炭等の浄化手段は、 廃棄すること が容易であり、 ランニングコス トを低減できる。  In the present invention, it is preferable that the method further includes a step of forcibly exhausting the processing gas and the reaction product supplied to the object to be processed, and a step of trapping the processing gas and the reaction product in the middle of the exhaustion. . For this purpose, the device of the present invention includes a forced exhaust means and a trap means. As a result, it can be recovered without scattering it to the atmosphere such as nitrogen oxides. In particular, catalysts for recovering nitrides and the like, and purifying means for activated carbon and the like can be easily discarded and can reduce running costs.
この種の処理に適する被処理体として、 回路基板、 集積回路 (I C) などの電 子部品、 半田付けされる線材、 あるいは水晶振動子を挙げることができる。  An object to be processed suitable for this type of processing includes a circuit board, an electronic component such as an integrated circuit (IC), a wire to be soldered, or a crystal unit.
[図面の簡単な説明]  [Brief description of drawings]
第 1図は、 放電分解方式にて処理ガスを生成する本発明の実施例を示す概略説 明図である。  FIG. 1 is a schematic explanatory view showing an embodiment of the present invention in which a processing gas is generated by a discharge decomposition method.
第 2図は、 熱分解方式にて処理ガスを生成する本発明の実施例を示す概略説明 図である。  FIG. 2 is a schematic explanatory view showing an embodiment of the present invention in which a processing gas is generated by a pyrolysis method.
第 3図は、 光分解方式にて処理ガスを生成する本発明の実施例を示す概略説明 図である。  FIG. 3 is a schematic explanatory view showing an embodiment of the present invention in which a processing gas is generated by a photolysis method.
第 4図は、 電気分解方式にて処理ガスを生成する本発明の実施例を示す概略説 明図である。  FIG. 4 is a schematic explanatory view showing an embodiment of the present invention for generating a processing gas by an electrolysis method.
第 5図は、 酸の水溶液とキヤリアガスとを接触させて処理ガスを生成する本発 明の実施例を示す概略説明図である。  FIG. 5 is a schematic explanatory view showing an embodiment of the present invention in which an aqueous solution of an acid is brought into contact with a carrier gas to generate a processing gas.
第 6図は、 供給ガスを水と接触させて処理ガスを生成する本発明の実施例を示 す概略説明図である。  FIG. 6 is a schematic explanatory view showing an embodiment of the present invention in which a supply gas is brought into contact with water to generate a processing gas.
第 7図は、 本発明の実施例により表面処理されたワークの半田の濡れ性を示す 特性図である。 第 8図は、 第 7図の半田の濡れ性を測定を説明する模式図である。 第 9図は、 本発明の実施例に係る表面処理装置の全体構成を示す概略説明図で める。 FIG. 7 is a characteristic diagram showing the wettability of solder of a work surface-treated according to the embodiment of the present invention. FIG. 8 is a schematic diagram illustrating measurement of the wettability of the solder in FIG. FIG. 9 is a schematic explanatory view showing the entire configuration of the surface treatment apparatus according to the embodiment of the present invention.
第 1 0図は、 第 9図に示す表面処理ュニットの内部構成を示す概略説明図であ る。  FIG. 10 is a schematic explanatory view showing the internal configuration of the surface treatment unit shown in FIG.
第 1 1図は、 第 1 0図に示すプラズマ発生部の構成を示す概略説明図である。 第 1 2図は、 第 9図に示す処理ガス生成部の他の第 1実施例を示す概略説明図 ある。  FIG. 11 is a schematic explanatory view showing the configuration of the plasma generating section shown in FIG. FIG. 12 is a schematic explanatory view showing another first embodiment of the processing gas generator shown in FIG.
第 1 3図は、 第 9図に示す処理ガス生成部の他の第 2実施例を示す概略説明図 である。  FIG. 13 is a schematic explanatory view showing another second embodiment of the processing gas generator shown in FIG.
第 1 4図は、 プラズマ発生部の他の第 1の構成を示す概略説明図である。 第 1 5図は、 プラズマ発生部の他の第 2の構成を示す概略説明図である。 第 1 6図は、 第 9図に示す表面処理ュニットの他の第 1の内部構成を示す概略 説明図である。  FIG. 14 is a schematic explanatory diagram showing another first configuration of the plasma generating unit. FIG. 15 is a schematic explanatory view showing another second configuration of the plasma generating unit. FIG. 16 is a schematic explanatory view showing another first internal configuration of the surface treatment unit shown in FIG.
第 1 7図は、 第 9図に示す表面処理ュニッ 卜の他の第 2の内部構成を示す概略 説明図である。  FIG. 17 is a schematic explanatory view showing another second internal configuration of the surface treatment unit shown in FIG.
第 1 8図は、 表面処理ュニットによりラインタイプの処理装置を構成した実施 例を示す概略説明図である。  FIG. 18 is a schematic explanatory view showing an embodiment in which a line type processing apparatus is constituted by a surface treatment unit.
第 1 9図は、 第 1 8図に示す表面処理ュニッ卜の給排気部を示す概略断面図で あ  FIG. 19 is a schematic sectional view showing the air supply / exhaust section of the surface treatment unit shown in FIG.
第 2 0図は、 表面処理ュニヅトによりスタンド夕イブの処理装置を構成した実 施例を示す概略説明図である。  FIG. 20 is a schematic explanatory view showing an embodiment in which a processing apparatus for a stand and a eve is constituted by a surface treatment unit.
第 2 1図は、 第 2 0図に示す表面処理ュニッ 卜の給排気部を示す概略断面図で あ 。  FIG. 21 is a schematic sectional view showing a supply / exhaust section of the surface treatment unit shown in FIG.
第 2 2図は、 表面処理ュニヅトにより棒状タイプの処理装置を構成した実施例 を示す概略説明図である。  FIG. 22 is a schematic explanatory view showing an embodiment in which a rod-type processing apparatus is constituted by a surface treatment unit.
第 2 3図は、 第 2 2図に示す表面処理ュニッ 卜の給排気部を示す概略断面図で ある。  FIG. 23 is a schematic sectional view showing a supply / exhaust portion of the surface treatment unit shown in FIG.
第 2 4図は、 表面処理ュニットにより トースタータイプの処理装置を構成した 実施例を示す概略説明図である。 Fig. 24 shows the construction of a toaster-type processing unit using a surface treatment unit. It is a schematic explanatory view showing an example.
第 25図は、 第 24図に示す表面処理ュニッ トの給排気部を示す概略断面図で ある。  FIG. 25 is a schematic sectional view showing a supply / exhaust section of the surface treatment unit shown in FIG.
第 26図は、 表面処理ュニットによりバッチ処理タイプの処理装置を構成した 実施例を示す概略説明図である。  FIG. 26 is a schematic explanatory view showing an embodiment in which a batch processing type processing apparatus is constituted by a surface processing unit.
[発明を実施するための最良の形態] [Best Mode for Carrying Out the Invention]
以下、 本発明の表面処理方法及び表面処理装置について、 図面を参照して具体 的に説明する。  Hereinafter, the surface treatment method and the surface treatment apparatus of the present invention will be specifically described with reference to the drawings.
く処理ガスの生成方法について >  How to generate process gas>
本発明では、 窒素酸化物 N20、 N0、 NO H2N2O2, HN02、 HNOsな どを含む処理ガスを被処理体に接触させ、 この反応性の高い処理ガスにより、 被 処理体の表面を改質させる処理をしている。 この反応性の高い処理ガスは、 ボン ベから供給管を介して被処理体に供給してもよいが、 処理ガスを第 1図〜第 6図 の 6通りの方法のいずれかの方法で生成することもできる。 In the present invention, a processing gas containing nitrogen oxides N 20 , N 0, NO H 2 N 2 O 2 , HN 02, HNOs, etc. is brought into contact with the processing object, and the surface of the processing object is modified by this highly reactive processing gas. The quality is being processed. This highly reactive processing gas may be supplied from the cylinder to the workpiece via the supply pipe, but the processing gas is generated by any of the six methods shown in Figs. 1 to 6. You can also.
第 1図〜第 6図において、 共通する構成として、 処理ガス生成用容器 1と、 生 成された処理ガスを被処理体に向けて導く処理ガス供給管 2とを有する。  1 to 6, a common configuration includes a processing gas generation container 1 and a processing gas supply pipe 2 that guides the generated processing gas toward an object to be processed.
(放電分解方式)  (Discharge decomposition method)
第 1図の実施例では、 処理ガス供給管 2及び供給ガス供給管 3が連結された処 理ガス生成用容器 1内にて、 処理ガスである酸素原子 (0)及び窒素原子 (N) を含む供給ガスを、 大気圧又はその近傍の圧力下での放電により分解して、 処理 ガスを生成している。 このために、 処理ガス生成用容器 1内に、 一対の電極を備 えたプラズマ発生部 4を設けている。  In the embodiment shown in FIG. 1, oxygen atoms (0) and nitrogen atoms (N), which are processing gases, are treated in a processing gas generation vessel 1 to which a processing gas supply pipe 2 and a supply gas supply pipe 3 are connected. The supplied gas is decomposed by the discharge at or near atmospheric pressure to generate the processing gas. For this purpose, a plasma generating section 4 having a pair of electrodes is provided in the processing gas generating container 1.
第 1図の装置を用いて、 供給ガスとして、 窒素ガス N2を 5リッ トル/ mi nで. 酸素ガスを 200 c c/m i nでそれそれ供給し、 - 対の電極に供給される電源 周波数を約 10 kH zとし、 放電電圧のビーク ツー ピーク電圧が AC 10k Vp pで放電を生じさせた。 このとき、 本実施例では酸素の供給量がほぼ 3. 8 5体積% ( 100 x 200/5200) であり、 酸素と窒素が分解されて、 NO を発生することができた。 この NOを処理ガスとして被処理体に供給することで、 上述の式 (2) の通り、 被処理体の表面を改質することができた。 Using the apparatus of FIG. 1, nitrogen gas N 2 was supplied at 5 liters / min as a supply gas.Oxygen gas was supplied at 200 cc / min each, and-the power supply frequency supplied to the pair of electrodes was changed. At about 10 kHz, a discharge was generated at a peak-to-peak discharge voltage of AC 10 kVpp. At this time, in this example, the supply amount of oxygen was approximately 3.85% by volume (100 × 200/5200), and oxygen and nitrogen were decomposed to generate NO. By supplying this NO to the object as a processing gas, As shown in the above equation (2), the surface of the object to be processed could be modified.
なお、 上述した通り、 酸素の供給量を変更することで、 NOの発生量を増大さ せることができ、 あるいは他の窒素酸化物である N20、 N02などを発生させる こともできる。 Incidentally, as described above, by changing the supply amount of oxygen, it is possible to increase the generation amount NO, the or a other nitrogen oxides N 2 0, N0 2, etc. can also be generated.
また、 上記のように、 電源周波数を 10 kH zと低周波数を用いるいることで、 Heを供給しなくても安定して放電を起こすことができた。 この結果、 ランニン グコストを低減できる。 なお、 Heを供給せずに放電を安定して起こすためには、 低周波数を用いて放電電圧のピーク ツー ピーク電圧がある値以上大きいこと が必要である。 本発明者等の実験によれば、 直流電圧、 10kHz、 30kHz、 40 kH zの各交流電圧で上述の放電が確認でき、 放電電圧のピーク ツー ピ ーク電圧を大きく確保できる観点から、 50 kH z以下の低周波数の交流電圧又 は直流電圧が有用であることが分かった。  In addition, as described above, the use of a power supply frequency as low as 10 kHz enabled stable discharge without supplying He. As a result, the running cost can be reduced. In order to stably generate a discharge without supplying He, the peak-to-peak voltage of the discharge voltage must be higher than a certain value using a low frequency. According to the experiments of the present inventors, the above-described discharge can be confirmed at each of the AC voltages of DC voltage, 10 kHz, 30 kHz, and 40 kHz, and from the viewpoint of securing a large peak-to-peak voltage of the discharge voltage, 50 kHz An AC or DC voltage with a low frequency below z has been found to be useful.
(熱分解方式)  (Pyrolysis method)
第 2図では、 第 1図の加熱器 4に代えて、 供給ガス例えば酸素ガス 02と窒素ガ ス N 2が導入される処理ガス生成用容器 1内を加熱する加熱器 5を設けている。 そして、 第 2図では、 処理ガス生成用容器 1内にて、 供給ガスを熱エネルギー により熱分解して、 窒素酸化物 N20、 N0、 N02を含む処理ガスを生成してい る。 In Figure 2, instead of the heater 4 of FIG. 1, the feed gas such as oxygen gas 0 2 and nitrogen gas N 2 is provided with a heater 5 for heating the process gas generation container 1 to be introduced . Then, in the second figure, in the process gas generating vessel 1 and the feed gas is thermally decomposed by thermal energy, that is generating a process gas containing nitrogen oxides N 2 0, N0, N0 2.
本実施例では、 供給ガスとして、 第 1図の実施例と同じ種類のガスを同じ流量 比にて供給した。 加熱器 5の設定温度を 800°Cとしたところ、 第 1図の実施例 と同じく、 処理ガスとして NOを生成することができた。 この場合も、 酸素の供 給量を変更することで、 NOの発生量を増大させることができ、 あるいは他の窒 素酸化物である N20、 N02などを発生させることもできる。 In this embodiment, the same kind of gas as the embodiment of FIG. 1 was supplied at the same flow ratio as the supply gas. When the set temperature of the heater 5 was set to 800 ° C., NO was able to be generated as a processing gas, as in the embodiment of FIG. In this case also, by changing the supply amount of oxygen, it is possible to increase the generation amount NO, the or N 2 0 is another nitrogen oxide, N0 2, etc. can also be generated.
(光分解方式)  (Photolysis method)
第 3図の実施例では、 処理ガス供給管 2及び原料ガス供給管 3が連結された処 理ガス生成用容器 1内にて、 供給ガスである例えば酸素ガスと窒素ガスとを光分 解して、 処理ガスを生成している。 このために、 処理ガス生成用容器 1内に光例 えば紫外線を照射する UVランプ 6を設けている。  In the embodiment shown in FIG. 3, in the processing gas generation vessel 1 to which the processing gas supply pipe 2 and the source gas supply pipe 3 are connected, the supply gases, for example, oxygen gas and nitrogen gas are photo-decomposed. To generate process gas. For this purpose, a UV lamp 6 for irradiating light, for example, ultraviolet light, is provided in the processing gas generation container 1.
供給ガスとして酸素及び窒素ガスを第 1図, 第 2図の実施例と同じ流量比で導 入し、 U Vランプ 6のランプ出力を 100 mW/cm2とし、 出射される光の波長 を 400 nmとしたところ、 第 1図, 第 2図の実施例と同じく、 処理ガスとして NOを生成することができた。 この場合も、 酸素の供給量を変更することで、 N 0の発生量を増大させることができ、 あるいは他の窒素酸化物である N20、 NO 2などを発生させることもできる。 Oxygen and nitrogen gas were supplied as the supply gas at the same flow ratio as in the embodiment of Figs. When the lamp output of the UV lamp 6 is set to 100 mW / cm 2 and the wavelength of the emitted light is set to 400 nm, NO is generated as a processing gas as in the embodiment of FIGS. 1 and 2. I was able to. Also in this case, by changing the supply amount of oxygen, the generation amount of N 0 can be increased, or other nitrogen oxides such as N 20 and NO 2 can be generated.
(電気分解方式)  (Electrolysis method)
第 4図の実施例は、 処理ガス供給管 2が連結された処理ガス生成用容器 1内に て、 アルカリ金属と窒素化合物から成る塩の水溶液を電気分解して、 処理ガスを 生成している。 このために、 処理ガス生成用容器 1内に上記塩の水溶液の水溶液 を収容し、 仕切り板 7にて仕切られた各領域に電極 8 a, 8bを配置した。 この 電極 8 a, 8 bに例えば D C 24 Vを印加したところ、 HN03、 HN02、 H2N 202を含む処理ガスを生成できた。 In the embodiment of FIG. 4, a processing gas is generated by electrolyzing an aqueous solution of a salt composed of an alkali metal and a nitrogen compound in a processing gas generation vessel 1 to which a processing gas supply pipe 2 is connected. . For this purpose, an aqueous solution of the above-mentioned salt aqueous solution was accommodated in the processing gas generation container 1, and the electrodes 8 a and 8 b were arranged in each area partitioned by the partition plate 7. The electrodes 8 a, 8 b in the example was applied to DC 24 V, and can generate a processing gas containing HN0 3, HN0 2, H 2 N 202.
なお、 電気分解に適する塩の水溶液としては、 NaN03、 KN03などの硝酸 塩、 N a N02などの亜硝酸塩、 N a NOなどの次亜硝酸塩の水溶液を挙げること ができる。 As the aqueous solution of a salt suitable for electrolysis, can be cited NaN0 3, KN0 3 nitrate such as, nitrite, such as N a N0 2, an aqueous solution of the following nitrite such as N a NO.
(酸の水溶液とキヤリァガスとの接触方式について) 第 5図の実施例は、 キャリアガス供給管を兼ねる処理ガス供給管 2は、 キヤリ ァガスを処理ガス生成用容器 1内に導く第 1の分岐管 2 aと、 処理ガス生成用容 器 1内にて発生した処理ガスを導出する第 2の分岐管 2 bとを有する。 キャリア ガスを HN03、 HN02又は H2N202の酸の水溶液と接触させ、 その酸の液体を 含む処理ガスを生成している。 この酸の液体を含むキヤリァガスを被処理体に接 触させることで、 上述の式 (4) 〜 (6) のいずれかの反応式により、 被処理体 の表面を改質することができる。 (Regarding the contact method between the aqueous acid solution and the carrier gas) In the embodiment shown in FIG. 5, the processing gas supply pipe 2 also serving as a carrier gas supply pipe is a first branch pipe that guides the carrier gas into the processing gas generation vessel 1. 2a, and a second branch pipe 2b for leading out the processing gas generated in the processing gas generating container 1. The carrier gas HN0 3, HN0 2 or is contacted with an aqueous solution of H 2 N 2 0 2 acid to generate a processing gas containing a liquid of the acid. By bringing the carrier gas containing the acid liquid into contact with the object to be processed, the surface of the object to be processed can be modified by any of the reaction formulas (4) to (6) described above.
(供給ガスと水との接触方式について)  (About the contact method between supply gas and water)
ここで、 第 1図〜第 3図の実施例では、 処理容器 1内に水 H20を導入すること が好ましい。 第 1図の実施例の変形例を示す第 6図では、 水を収容した容器酸素 ガス及び窒素ガスの一方のガスを直接に処理ガス生成用容器 1に供給する第 1の ガス供給管 3 aと、 その他方のガスを供給する第 2のガス供給管 3 bと、 第 2の ガス供給管 3 b途中にて他方のガスを水と接触させる容器 9とを設けている。 従 つて、 他方のガスは水を含んだ状態で、 処理ガス生成用容器 1に導入される。 こ の結果、 上述した式 ( 8 ) ( 9 ) の反応が主に生じて、 処理ガスとして H N 0 2又 は H 2 N 2 0 2が含まれることになる。 この結果、 上述した式 ( 5 ) ( 6 ) の反応が 主に生じて、 被処理体の表面処理を促進できる。 Here, in the embodiment shown in FIGS. 1 to 3, it is preferable to introduce water H 20 into the processing vessel 1. FIG. 6 shows a modification of the embodiment of FIG. And a second gas supply pipe 3b for supplying the other gas, and a container 9 for bringing the other gas into contact with water in the middle of the second gas supply pipe 3b. Obedience Then, the other gas containing water is introduced into the processing gas producing container 1. Result of this, the reaction is mainly caused in the above-mentioned formula (8) (9), HN 0 2 or will contain H 2 N 2 0 2 as a process gas. As a result, the reactions of the above-mentioned formulas (5) and (6) mainly occur, and the surface treatment of the object to be processed can be promoted.
また、 供給ガスに水が含まれていると、 処理ガス生成用容器 1内での湿度が高 まり、 この結果、 被処理体を酸化させるオゾンの発生が抑制される。  Further, when water is contained in the supply gas, the humidity in the processing gas generation container 1 increases, and as a result, generation of ozone that oxidizes the target object is suppressed.
(被処理体の濡れ性向上の評価について) ここで、 被処理体を I Cのリードフレームとし、 表面処理されたリードフレー ム 1 2の濡れ性について評価してみた。 この評価結果を第 7図に示す。 第 7図で は、 リードフレームの濡れ性の評価値を、 リードフレームに作用する浮力の値で で示している。 この濡れ性を反映する浮力の値は、 例えば第 8図に模式的に示す 測定装置で測定した値である。  (Evaluation of improvement of wettability of target object) Here, the target object was used as an IC lead frame, and the wettability of the surface-treated lead frame 12 was evaluated. FIG. 7 shows the evaluation results. In FIG. 7, the evaluation value of the wettability of the lead frame is indicated by the value of the buoyancy acting on the lead frame. The value of buoyancy reflecting this wettability is, for example, a value measured by a measuring device schematically shown in FIG.
第 8図の測定装置は、 表面処理されたリードフレーム 1 2の一方の端に弾性体 であるパネ 7 0 1を接続し、 リ一ドフレーム 1 2の他方の端を容器 7 0 2内の半 田 7 0 3内に浸して釣り下げたときの、 パネ Ί 0 1に対するリードフレーム 1 2 の張力を浮力として測定している。 半田の濡れ性が悪いときには、 半田がリード フレーム 1 2をはじいて、 リードフレーム 1 2は矢印 aの方向に移動する。 この ときのパネ 7 0 1に対する張力はマイナスの値となる。 一方、 半田の濡れ性が良 いときには、 リードフレーム 1 2は矢印 bの方向に移動する。 このときのバネ 7 0 1に対する張力はプラスの値となる。  In the measuring apparatus shown in FIG. 8, a panel 701, which is an elastic body, is connected to one end of a surface-treated lead frame 12 and the other end of the lead frame 12 is The buoyancy is measured as the tension of the lead frame 12 with respect to the panel 01 when immersed in the solder 703 and lowered. When the wettability of the solder is poor, the solder flips the lead frame 12 and the lead frame 12 moves in the direction of arrow a. At this time, the tension on the panel 701 becomes a negative value. On the other hand, when the wettability of the solder is good, the lead frame 12 moves in the direction of arrow b. At this time, the tension applied to the spring 701 is a positive value.
この第 8図の測定装置にて、 供給ガスの種類を変えて処理した複数のリードフ レーム 1 2について測定した。 第 7図に示すように、 リードフレーム 1 2に対し て表面処理を行わない無処理のときには、 半田の濡れ性が悪く、 浮力はマイナス の値となった。  Using the measuring device shown in FIG. 8, measurements were made on a plurality of lead frames 12 processed by changing the kind of supply gas. As shown in FIG. 7, when no surface treatment was applied to the lead frame 12, the solder wettability was poor and the buoyancy was a negative value.
一方、 供給ガスとして酸素と水素を用い、 かつ、 酸素の供給量 (体積%) を変 えた場合、 いずれも浮力はブラスの値となり、 半田の濡れ性が向上していること が分かる。 特に、 酸素の供給量が 1 0体積%の時に浮力の値が最大となり、 半田 の濡れ性が最も改善されるたことが分かる。 さらに、 酸素の供給量が 5〜1 0体 積%のとき、 それ以外の供給量の場合よりも半田の濡れ性が改善されたことが分 かる。 On the other hand, when oxygen and hydrogen were used as the supply gas and the supply amount (volume%) of oxygen was changed, the buoyancy became a brass value in each case, indicating that the wettability of the solder was improved. In particular, it can be seen that the value of buoyancy was maximum when the supply amount of oxygen was 10% by volume, and that the wettability of the solder was most improved. Furthermore, when the supply amount of oxygen was 5 to 10% by volume, it was found that the wettability of the solder was improved as compared with the case of other supply amounts. Call
さらに、 窒素及び酸素 ( 15体積%) を供給し、 さらに水を添加したところ、 水の添加の無い場合と比較して、 浮力のプラス値が大きくなつた。 これは、 上述 した通り、 処理ガスとして HN02又は H2N 202が含まれることになり、 半田の 濡れ性がさらに向上したことを示している。 Furthermore, when nitrogen and oxygen (15% by volume) were supplied and water was added, the positive value of buoyancy increased compared to the case where no water was added. This, as described above, would contain HN0 2 or H 2 N 2 0 2 as a process gas, solder wettability indicating that further improved.
また、 供給ガスを N2 + H20とした場合、 及び供給ガスを圧縮空気 + H20とし た場合のそれそれについても、 浮力がプラス値となり、 半田の濡れ性が向上した ことを示している。  Also, when the supply gas was N2 + H20 and when the supply gas was compressed air + H20, the buoyancy was a positive value, indicating that the solder wettability was improved.
ここで、 本発明の処理ガス生成用容器 1にて生成された処理ガスは、 その処理 ガスの高い反応性を、 被処理体に暴露させるまで維持できる。 一方、 従来のよう にプラズマ発生部にて生成されたフッ素ラジカル等の活性種は、 プラズマ発生部 外に配置した被処理体に暴露される途中にて、 その寿命が途絶えてしまう。 この ことについて、 本発明者などは下記の実験を行った。  Here, the processing gas generated in the processing gas generation container 1 of the present invention can maintain the high reactivity of the processing gas until the processing gas is exposed to the object. On the other hand, the active species such as fluorine radicals generated in the plasma generation unit as in the conventional art have their lifetimes interrupted during the exposure to the workpiece disposed outside the plasma generation unit. In this regard, the present inventors conducted the following experiment.
プラズマ発生部に連結される処理ガス供給管として、 一般に配管チューブとし ていられている 1/4径サイズ (外径 6. 35mm、 内径 3. 17mm) を使用 した場合、 供給ガス流量とチューブ断面積とから、 処理ガスの流速を求めてみた。 供給ガスの流量を 100 c c/mi nとした場合、 処理ガスの流速は 2 1. 12 cm/sとなる。 フッ素ラジカルの寿命は 1 / 1000 s以下であるので、 ブラ ズマ発生部から 0. 02 1 1 c m離れた位置でフッ素ラジカル消滅してしまうこ とが分かる。  If the processing gas supply pipe connected to the plasma generation unit is a 1 / 4-diameter size (6.35 mm in outer diameter and 3.17 mm in inner diameter) that is generally used as a piping tube, the supply gas flow rate and tube cross-sectional area From this, I tried to find the flow rate of the processing gas. If the flow rate of the supply gas is 100 cc / min, the flow rate of the processing gas is 21.12 cm / s. Since the lifetime of the fluorine radical is 1/1000 s or less, it can be seen that the fluorine radical disappears at a position 0.012 cm away from the plasma generating part.
ぐ実施例装置全体の全体構成 >  Example overall configuration of the apparatus>
第 9図は、 本実施例にかかる表面処理装置の全体構成を示す概略説明図である。 第 9図に示す実施例において、 半田付けされるワークを I C 10とし、 I C 1 0は、 例えばコンベアライン 14上に載置され、 図面の裏面から表面に向かう方 向に順次搬送される。 ここで、 I C 10のリードフレーム 12は、 予め半田メヅ キ処理されている。 従って、 リ一ドフレーム 12の表面は、 鉛 Pb及びスズ Sn で覆われているが、 これが酸化されることで、 酸化鉛 PbO及び酸化スズ SnO となっている。 本実施例は、 このリードフレーム 12の表面に形成された酸化鉛 PbO及び酸化スズ SnOを還元することで、 リードフレーム 12の半田の濡れ 性の向上を図っている。 この I C 1 0のリードフレーム 1 2を表面処理するため に、 表面処理ユニッ ト 3 0と、 それに連結される給気連結管 2 0及び排気連結管 2 4が設けられている。 FIG. 9 is a schematic explanatory view showing the entire configuration of the surface treatment apparatus according to the present embodiment. In the embodiment shown in FIG. 9, the work to be soldered is an IC 10, and the IC 10 is placed on, for example, a conveyor line 14, and is sequentially conveyed in a direction from the back surface to the front surface of the drawing. Here, the lead frame 12 of the IC 10 has been solder-plated in advance. Therefore, although the surface of the lead frame 12 is covered with lead Pb and tin Sn, it is oxidized to lead PbO and tin oxide SnO. The present embodiment reduces the lead oxide PbO and tin oxide SnO formed on the surface of the lead frame 12 to reduce the wettability of the solder of the lead frame 12. To improve the performance. In order to surface-treat the lead frame 12 of the IC 10, a surface treatment unit 30 and an air supply connection pipe 20 and an exhaust connection pipe 24 connected thereto are provided.
給気連結管 2 0には、 表面処理ュニッ 卜 3 0内部にて生成された処理ガスが導 入され、 I C 1 0の上方にて傘上に広がる給気部 2 2を介して、 その処理ガスを I C 1 0の特にリードフレーム 1 2に暴露させている。 排気連結管 2 4は、 リ一 ドフレーム 1 2に暴露された処理ガスを吸引して、 表面処理ュニッ ト 3 0を介し て強制排気するためのものである。  The processing gas generated inside the surface treatment unit 30 is introduced into the air supply connection pipe 20, and is processed through the air supply section 22 which spreads on the umbrella above the IC 10. The gas is exposed to the IC 10, especially the lead frame 12. The exhaust connection pipe 24 is for sucking the processing gas exposed to the lead frame 12 and forcibly exhausting the processing gas through the surface processing unit 30.
表面ュニッ ト 3 0には、 供給ガス生成部 6 0 0からの供給ガスが供給される。 この供給ガス生 部 6 0 0には、 ガス出力部 6 1 9、 第 1のガス供給管 6 5 7、 第 2のガス供給管 6 5 8、 水蒸気混合器 6 5 9が設けられている。  The supply gas from the supply gas generator 600 is supplied to the surface unit 30. The supply gas generation section 600 is provided with a gas output section 6 19, a first gas supply pipe 657, a second gas supply pipe 658, and a steam mixer 659.
ガス出力部 6 1 9からは酸素及び窒素、 窒素のみ、 あるいは圧縮空気が、 供給 ガスとして供給される。  Oxygen and nitrogen, nitrogen alone, or compressed air are supplied as supply gases from the gas output section 6 19.
ガス出力部 6 1 9には、 第 1のガス供給管 6 5 7、 及び 2本のガス供給管 6 5 8 a、 6 5 8 bから成る第 2のガス供給管 6 5 8が接続される。  A first gas supply pipe 657 and a second gas supply pipe 658 composed of two gas supply pipes 658a and 658b are connected to the gas output section 619. .
第 1のガス供給管 6 5 7には、 供給ガスの出力を O N 0 F Fするバルブ 6 6 2、 供給ガスの流量を調整する流量計 6 6 4が設けられている。 ガス出力部 6 1 9からの窒素及び酸素、 窒素、 あるいは圧縮空気は、 第 1のガス供給管 6 5 7の バルブ 6 6 2を介して、 流量計 6 6 4で流量調整される。  The first gas supply pipe 657 is provided with a valve 662 for ON-OFF the supply gas output and a flowmeter 664 for adjusting the flow rate of the supply gas. The flow rate of nitrogen and oxygen, nitrogen, or compressed air from the gas output section 6 19 is adjusted by a flow meter 664 via a valve 662 of a first gas supply pipe 657.
第 2のガス供給管 6 5 8のうちのガス供給管 6 5 8 aには、 供給ガスの出力を O N / O F Fするバルブ 6 6 3が設けられ、 ガス供給管 6 5 8 bには、 供給ガス の流量を調整する流量計 6 6 5が設けられる。 ガス出力部 6 1 9からの供給ガス は、 ガス供給管 6 5 8 aのバルブ 6 6 3を介して水蒸気混合器 6 5 9に導入され 水蒸気混合器 6 5 9では、 水、 例えば純水 6 6 0がヒーター 6 6 1で熱せられ、 水蒸気となっている。 これにより、 水蒸気混合器 6 5 9に導入された供給ガスは、 水蒸気を含む。 この水分を含んだ供給ガスは、 ガス供給管 6 5 8 bに導入されて、 流量計 6 6 5でその流量が調整される。  Of the second gas supply pipes 658, the gas supply pipe 658a is provided with a valve 636 for turning on / off the supply gas output, and the gas supply pipe 658b is supplied with the supply gas. A flow meter 666 for adjusting the gas flow is provided. The gas supplied from the gas output section 6 19 is introduced into the steam mixer 659 via the valve 663 of the gas supply pipe 658a, and is supplied to the steam mixer 659 by water, for example, pure water 6 60 is heated by the heater 661, and is turned into steam. As a result, the supply gas introduced into the steam mixer 659 contains steam. The supply gas containing this moisture is introduced into the gas supply pipe 658b, and the flow rate is adjusted by the flow meter 665.
このように、 第 1のガス供給管 6 5 7では、 水を含まない供給ガスが導かれ、 第 2のガス供給管 6 5 8では、 水を含む供給ガスが導かれる。 なお、 表面処理ュ ニッ ト 3 0に供給される、 水を含まない供給ガスと、 水を供給ガスとの割合は、 第 1のガス供給管 6 5 7のバルブ 6 5 2の O N/O F F及び流量計 6 6 4の流量 調整、 及び第 2のガス供給管 6 5 8のバルブの O N/ O F F及び流量計 6 6 5の 流量調整により、 任意に調整することができる。 Thus, in the first gas supply pipe 657, a supply gas containing no water is led, In the second gas supply pipe 658, a supply gas containing water is led. The ratio of the water-free gas supplied to the surface treatment unit 30 to the water supplied gas depends on the ON / OFF of the valve 652 of the first gas supply pipe 657 and The flow rate can be arbitrarily adjusted by adjusting the flow rate of the flow meter 664, turning on / off the valve of the second gas supply pipe 658, and adjusting the flow rate of the flow meter 666.
第 9図の構成によって表面処理することにより、 ワークである I C 1 0のリー ドフレーム 1 2の濡れ性を向上させることができる。  By performing the surface treatment with the configuration shown in FIG. 9, the wettability of the lead frame 12 of the IC 10 can be improved.
(表面処理ュニッ ト 3 0の構造)  (Structure of surface treatment unit 30)
この表面処理ュニッ ト 3 0は、 第 1 0図に示すように、 1つの筐体 3 2内部に、 ガス給気管 4 0、 電源 5 0、 プラズマ発生部 6 0、 排気管 7 0及びトラップ手段 である触媒 8 0を搭載している。  As shown in FIG. 10, the surface treatment unit 30 includes a gas supply pipe 40, a power supply 50, a plasma generation section 60, an exhaust pipe 70, and trap means inside one housing 32. It is equipped with a catalyst 80.
ガス給気管 4 0は、 第 1 0図に示すプラズマ発生部 6 0の上流側及び下流側に それそれ連結され、 上流側のガス給気管 4 0の途中には、 流量計 4 2が配設され ている。 このガス給気管 4 0には、 工場内の設備を利用して、 上述した供給ガス が導入される。 また、 ガス給気管 4 0の下流側の開口端は、 第 9図に示す給気連 結管 2 0に接続されている。  The gas supply pipe 40 is connected to the upstream and downstream sides of the plasma generation section 60 shown in FIG. 10 respectively, and a flow meter 42 is provided in the middle of the gas supply pipe 40 on the upstream side. It has been. The above-described supply gas is introduced into the gas supply pipe 40 by using equipment in the factory. The downstream end of the gas supply pipe 40 is connected to a supply connection pipe 20 shown in FIG.
プラズマ発生部 6 0は、 電源 5 0からの電源供給を受けて、 大気圧又はその近 傍の圧力下にてプラズマを発生するものである。 このプラズマ発生部 6 0は、 第 1 1図に示すように、 一対の電極 6 2 a及び 6 2 bの間に誘電体例えば多孔質絶 縁体 6 4が配置されることで、 各電極 6 2 a及び 6 2 bが対向配置されている。 一方の電極 6 2 aには電源 5 0が接続され、 他方の電極 6 2 bは接地されて、 5 0 k H z以下の比較的低周波数の交流電圧又は直流電圧が各電極間に印加される。 電源 5 0は、 5 0 k H z以下好ましくは 0〜 5 0 k H zの比較的低周波数の交 流電圧又は直流電圧を、 一対の電極 6 2 a、 6 2 bに印加するもので、 コンセン トに差し込まれるプラグ 5 2を有する。  The plasma generation unit 60 receives power supply from the power supply 50 and generates plasma under atmospheric pressure or a pressure near the atmospheric pressure. As shown in FIG. 11, this plasma generating section 60 is provided with a dielectric, for example, a porous insulator 64 between a pair of electrodes 62 a and 62 b, so that each electrode 6 2a and 62b are arranged facing each other. A power supply 50 is connected to one electrode 62a, the other electrode 62b is grounded, and a relatively low frequency AC voltage or DC voltage of 50 kHz or less is applied between the electrodes. You. The power supply 50 applies a relatively low-frequency AC voltage or DC voltage of 50 kHz or less, preferably 0 to 50 kHz, to the pair of electrodes 62 a and 62 b. It has a plug 52 that plugs into the outlet.
このように、 電源 5 0にて比較的低周波数の交流電圧が出力される理由は、 下 記の通りである。  The reason why the power supply 50 outputs an AC voltage having a relatively low frequency is as follows.
即ち、 従来より大気圧プラズマを生成するためには、 比較的プラズマの立ち易 いヘリウムガス H eを大量に必要としていた。 この場合には、 一対の電極間に印 加される交流電圧の周波数を、 商用周波数である 1 3 . 5 6 M H zとすることが できた。 しかしながら、 比較的高価なヘリウムガスを用いずに、 窒素及び酸素又 は圧縮空気等の雰囲気では、 商用周波数である 1 3 . 5 6 M H zの交流電圧では 大気圧プラズマを生成することができない。 ところが、 低周波数の交流電圧の場 合、 その p e a k t o p e a k電圧を大きくすることができ、 結果としてプ ラズマの生成に寄与するエネルギーを確保できると推測される。 よって、 0〜5 0 k H zの比較的低周波数の交流電圧又は直流電圧を一対の電極に印加すること で、 大気圧プラズマを安定して生成できる。 That is, in order to generate atmospheric-pressure plasma, a large amount of helium gas He, which is relatively easy to generate plasma, was required. In this case, mark between the pair of electrodes. The frequency of the applied AC voltage could be set to the commercial frequency of 13.5.6 MHz. However, without using relatively expensive helium gas, atmospheric pressure plasma cannot be generated at an AC voltage of 13.56 MHz, which is a commercial frequency, in an atmosphere such as nitrogen and oxygen or compressed air. However, in the case of low-frequency AC voltage, the peak-to-peak voltage can be increased, and as a result, it is estimated that energy that contributes to plasma generation can be secured. Therefore, by applying an AC voltage or a DC voltage having a relatively low frequency of 0 to 50 kHz to the pair of electrodes, the atmospheric pressure plasma can be generated stably.
しかも、 安価な窒素及び酸素、 あるいは圧縮空気を用いて、 大気圧又はその近 傍の圧力下にて安定してプラズマを生成することができる。  Moreover, it is possible to generate plasma stably at or near atmospheric pressure using inexpensive nitrogen and oxygen or compressed air.
表面処理ュニッ ト 3 0の箧体 3 2内部には、 リードフレーム 1 2に暴露された 処理ガスを強制排気するための排気管 7 0が設けられている。 この表面処理ュニ ッ ト 3 0内の排気管 7 0は、 第 9図に示す排気連結管 2 4と接続される。  An exhaust pipe 70 for forcibly exhausting the processing gas exposed to the lead frame 12 is provided inside the body 32 of the surface treatment unit 30. The exhaust pipe 70 in the surface treatment unit 30 is connected to an exhaust connection pipe 24 shown in FIG.
さらに、 この排気管 7 0には、 処理ガスを浄化する浄化手段、 例えば触媒 8 0 が設けられている。 ここで、 被処理体に暴露される処理ガス中には N O xが存在す る。 この N O xは I C 1 0のリードフレーム 1 2の表面処理に寄与するが、 その表 面処理に寄与しなかった N O x、 あるいは処理時の反応により新たに生じた反応生 成物が排気される。 この排気ガスを触媒 8 0に接触させ、 処理ガスを化学的に浄 化することができる。 しかも、 この触媒の特別な処理をせずに廃棄できる。  Further, the exhaust pipe 70 is provided with a purifying means for purifying the processing gas, for example, a catalyst 80. Here, NO x is present in the processing gas exposed to the object. This NO x contributes to the surface treatment of the lead frame 12 of the IC 10, but NO x that did not contribute to the surface treatment or the reaction products newly generated by the reaction during the treatment are exhausted. . The exhaust gas is brought into contact with the catalyst 80 to chemically purify the processing gas. Moreover, the catalyst can be discarded without special treatment.
特に、 例えば吸着作用を備える活性炭を用いれば、 排気成分を活性炭に吸着さ せることができる。 この活性炭は、 焼却して廃棄することができる。 このように、 活性炭を用いると、 従来、 処理ガスとして C F .,を使用し、 トラップ手段としてァ ルミナを用いた場合と比較して、 ランニングコストを低下させることができる。  In particular, if activated carbon having, for example, an adsorption function is used, exhaust components can be adsorbed on activated carbon. This activated carbon can be incinerated and discarded. As described above, when activated carbon is used, the running cost can be reduced as compared with the case where CF 3 is conventionally used as a processing gas and alumina is used as a trapping means.
(第 1 0図の表面処理ュニッ トを用いた表面処理方法)  (Surface treatment method using the surface treatment unit in Fig. 10)
第 1 0図に示す実施例では、 供給ガスが、 工場内に配置された設備を用いて、 表面処理ュニッ ト 3 0のガス給気管 4 0にそれそれ導入される。 この供給ガスは、 ガス給気管 4 0に途中に設けられた流量計 4 2により流量調整されている。 流量 調整された供給ガスは、 プラズマ発生部 6 0に導入される。 プラズマ発生部 6 0 内に設けられた一対の電極 6 2 a、 6 2 bには、 1 0〜 5 0 k H zの比較的低周 波数の交流電圧が印加されている。 In the embodiment shown in FIG. 10, the supply gas is introduced into the gas supply pipes 40 of the surface treatment unit 30 by using the equipment arranged in the factory. The flow rate of this supply gas is adjusted by a flow meter 42 provided in the gas supply pipe 40 in the middle. The supply gas whose flow rate has been adjusted is introduced into the plasma generator 60. A pair of electrodes 62 a and 62 b provided in the plasma generating section 60 have a relatively low frequency of 10 to 50 kHz. An AC voltage having a wave number is applied.
プラズマ発生部 6 0内では、 供給ガスが励起されて分解され、 窒素酸化物を含 む処理ガスとなる。 表面処理ュニッ ト 3 0のガス給気管 4 0より導出された処理 ガスは、 この表面処理ユニッ ト 3 0に連結された給気連結管 2 0を介して、 給気 部 2 2より I C 1 0の表面に暴露される。 これにより、 I C 1 0のリードフレー ム 1 2が、 表面処理される。  In the plasma generating section 60, the supplied gas is excited and decomposed, and becomes a processing gas containing nitrogen oxides. The processing gas derived from the gas supply pipe 40 of the surface treatment unit 30 is supplied to the IC 10 from the supply section 22 via the supply connection pipe 20 connected to the surface treatment unit 30. Exposure to the surface. Thereby, the lead frame 12 of IC 10 is surface-treated.
一方、 リードフレーム 1 2に暴露された処理ガスは、 排気連結管 2 4を介して 表面処理ュニッ ト 3 0の内部に導入される。 表面処理ュニッ ト 3 0では、 排気管 7 0を介して上記ガスを触媒 8 0に導いている。  On the other hand, the processing gas exposed to the lead frame 12 is introduced into the inside of the surface treatment unit 30 via the exhaust connection pipe 24. In the surface treatment unit 30, the above gas is guided to the catalyst 80 via the exhaust pipe 70.
なお、 水分を含む処理ガスを生成するには、 第 9図に示した処理ガス生成部 6 0 0の他に、 第 1 2図に示すように、 ガス供給管 6 5 8 aが、 水蒸気混合器 6 5 9内の純水 6 6 0と接触する構成を付加すればよい。 第 1 2図のガス供給管 6 5 8 aに導かれる供給ガスは、 純水内に導かれて、 純水と直接接触された後に、 水 分を含んだガスとして送出される。 この場合、 送出されるガス中の水分濃度を高 めることが期待でき、 効率の良い表面処理を行うことができる。  In addition, in order to generate the processing gas containing water, in addition to the processing gas generating section 600 shown in FIG. 9, the gas supply pipe 658a is provided with a steam mixing pipe as shown in FIG. What is necessary is just to add the structure which contacts the pure water 660 in the vessel 609. The supply gas led to the gas supply pipe 658a in FIG. 12 is led into pure water, and is brought into direct contact with the pure water and then sent out as a gas containing water. In this case, it is expected that the concentration of water in the gas to be sent out can be increased, and efficient surface treatment can be performed.
さらに、 第 1 3図に示すように、 ガス出力部 6 1 9から供給ガスを導くガス供 給管を 1本とし、 ガス供給管 6 5 8 aからバルブ 6 6 3を介して導かれる供給ガ スを純水に通すようにしてもよい。  Further, as shown in FIG. 13, the number of gas supply pipes for guiding the supply gas from the gas output section 6 19 is one, and the supply gas guided from the gas supply pipe 6 58 a via the valve 6 63 is provided. May be passed through pure water.
また、 第 9図、 第 1 2図に示す処理ガス生成部のうちの水蒸気混合器を、 第 9 図の表面処理ュニッ 卜 3 0内に搭載することも可能である。  Further, the steam mixer of the processing gas generator shown in FIGS. 9 and 12 can be mounted in the surface treatment unit 30 shown in FIG.
次に、 各種の供給ガスをプラズマ放電により励起して分解し、 窒素酸化物であ る処理ガスを生成し、 それをワークに暴露した後の排気ガス中に含まれる成分に ついて、 表 1に示す。  Next, various supply gases are excited and decomposed by plasma discharge to generate nitrogen oxide processing gas, and the components contained in the exhaust gas after exposure to the workpiece are shown in Table 1. Show.
(以下余白) 【表 1】 (Hereinafter the margin) 【table 1】
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表 1において、 実験 1 ~ 4はいずれも本実施例のものであり、 電極の種類 Α, Βについては後述する。  In Table 1, all of Experiments 1 to 4 are of this example, and the types of electrodes Α and Β will be described later.
まず、 実験 3と実験 4とを比較する。 実験 4で使用した圧縮空気のみから成る 処理ガスよりも、 実験 3で使用した水分を含む圧縮空気の処理ガスのほうが、 Ν 〇2—が多く発生されており、 実験 3の場合のほうが濡れ性が良いことがわかった。 ここで、 ワークに暴露される処理ガス中の N O—は、 ワーク表面の酸化物を還元 して N O 2 に成り易く、 排気ガス中に N O 2 が多く存在するほど半田の濡れ性が 向上すると考えられる。 すなわち、 N 0 2 が多く発生することにより、 リードフ レーム 1 2の表面に存在する酸化物の還元が促進されて、 リードフレーム 1 2の 濡れ性を高めることができる。 First, Experiment 3 and Experiment 4 are compared. The processing gas of the compressed air containing water used in Experiment 3 generated more Ν 〇 2— than the processing gas consisting of only the compressed air used in Experiment 4, and the wettability was higher in Experiment 3 Turned out to be good. Here, NO- in the processing gas to be exposed to the workpiece, tends to NO 2 by reduction of oxides of the workpiece surface, the wettability of the solder the more NO 2 larger amount is improved in the exhaust gas considered Can be That is, the generation of a large amount of NO 2 promotes the reduction of the oxide present on the surface of the lead frame 12, and can enhance the wettability of the lead frame 12.
次に、 同じ処理ガスを用いているが、 電極が異なる場合として、 実験 1と実験 3とを比較する。  Next, Experiment 1 and Experiment 3 are compared assuming that the same processing gas is used but the electrodes are different.
この比較では、 Aタイプの電極を用いた実験 1における N 0 2—、 N 0 3—の発生 量よりも、 Bタイプの電極を用いた実験 3における N 0 2—、 N 0 3 の発生量のほ うが多く、 実験 3のほうが半田の濡れ性がより改善されることがわかった。 In this comparison, the amount of N 0 2 — and N 0 3 generated in Experiment 3 using the B-type electrode was larger than the amount generated N 0 2 — and N 0 3 — in Experiment 1 using the A-type electrode. It was found that in Experiment 3, the wettability of the solder was more improved.
ここで、 プラズマ条件の電極に用いている Aタイプ電極の概略的な構成を第 1 4図に示し、 B夕イブの電極の概略的な構成を第 1 5図に示す。  Here, a schematic configuration of the A type electrode used for the electrode under the plasma condition is shown in FIG. 14, and a schematic configuration of the electrode of the B type is shown in FIG.
第 1 4図の Aタイプの電極は、 電源 5 0が接続された電極 6 5 aと、 接地され た電極 6 5 bとから成る一対の電極である。 この一対の電極 6 5 a、 6 5 bの間 には誘電体 6 4が配置されている。 電極 6 5 aの、 誘電体 6 4に対向する面には、 図面の表裏方向に貫通する凹部 6 6が形成されている。 大気圧又はその近傍の圧 力下にて、 電源 5 0からの電源供給を受けることにより、 凹部 6 6を供給ガスが 通過することで、 凹部 6 6内にてプラズマ放電が生成される。 The A-type electrode in FIG. 14 is a pair of electrodes composed of an electrode 65 a connected to a power source 50 and an electrode 65 b grounded. A dielectric 64 is arranged between the pair of electrodes 65a and 65b. On the surface of the electrode 65a facing the dielectric 64, a concave portion 66 penetrating in the front-back direction of the drawing is formed. Atmospheric pressure or pressure near it Under the force, the power supply from the power source 50 causes the supply gas to pass through the concave portion 66, thereby generating a plasma discharge in the concave portion 66.
また、 第 1 5図の Bタイプの電極は、 誘電体 6 4を挾んで配置される第 1の電 極 6 7 aと第 2の電極 6 7 bを有する。 第 1 4図の電極とは異なり、 第 1、 第 2 の電極 6 7 a、 6 7 bがそれそれ誘電体 6 4と対向する各面に、 第 1、 第 2の凹 部 6 8 a、 6 8 bが形成されている。 この第 1、 第 2の凹部 6 8 a、 6 8 bは、 図面の表裏面方向で貫通している。 さらに、 この第 1、 第 2の凹部 6 8 a、 6 8 bは、 互いに対向しない位置に形成されている。 この第 1、 第 2の凹部 6 8 a、 6 8 bのいずれか一方又は双方に供給ガスを通過させると、 第 1、 第 2の凹部 6 8 a、 6 8 b内でプラズマが生成され、 供給ガスが分解されて窒素酸化物を含む 処理ガスが生成される。  The B-type electrode shown in FIG. 15 has a first electrode 67a and a second electrode 67b arranged with a dielectric 64 interposed therebetween. Unlike the electrodes of FIG. 14, the first and second electrodes 67a, 67b are respectively provided on each surface facing the dielectric 64, with the first and second concave portions 68a, 6 8b is formed. The first and second concave portions 68a and 68b penetrate in the front and back direction of the drawing. Further, the first and second concave portions 68a and 68b are formed at positions not opposed to each other. When the supply gas passes through one or both of the first and second concave portions 68a and 68b, plasma is generated in the first and second concave portions 68a and 68b, The feed gas is decomposed to produce a processing gas containing nitrogen oxides.
第 1 5図に示す Bタイプの電極を用いた方が、 N 0 2 、 N O の発生量が多い 理由は下記の通りである。 すなわち、 第 1 5図に示す Bタイプの電極のほうが、 一対の電極間の浮遊容量が减少し、 この浮遊容量にて消費される分の電力を、 沿 面放電のための電力として使用できるので、 プラズマ密度が高まり、 分解レート が高いからと考えられる。 It is preferable to use an electrode of type B shown in the first 5 FIG reason the amount of generated N 0 2, NO is large is as follows. In other words, the B-type electrode shown in Fig. 15 has a smaller stray capacitance between a pair of electrodes, and can use the power consumed by this stray capacitance as power for surface discharge. This is probably because the plasma density increases and the decomposition rate increases.
このように、 排気ガス中に N O 、 N O 3 が多いほど、 被処理体表面の酸化物 を還元する表面処理が促進されたと考えられる。 よって、 Bタイプの電極を用い てブラズマ放電を生成する実験 3の表面処理のほうが、 実験 1の表面処理よりも 濡れ性が良くなると考えられる。 なお、 表 1の発生ガスは、 処理ガスを触媒と接 触させて浄化することで、 1 0一2〜 1 O ^ m g /m 3のオーダまで低下させること ができた。 Thus, it is considered that the more NO and NO 3 in the exhaust gas, the more the surface treatment for reducing oxides on the surface of the object was promoted. Therefore, it is considered that the surface treatment in Experiment 3 in which plasma discharge is generated using the B-type electrode has better wettability than the surface treatment in Experiment 1. Incidentally, the generated gas in Table 1, the process gas by purifying by touch contact with the catalyst, could be reduced to the order of 1 0 one 2 ~ 1 O ^ mg / m 3.
(第 9図の表面処理ュニッ トの変形例)  (Modified example of the surface treatment unit in Fig. 9)
次に、 第 9図の表面処理ュニッ ト 3 0の他の構成を、 第 1 6図及び第 1 7図を 参照して説明する。  Next, another configuration of the surface treatment unit 30 of FIG. 9 will be described with reference to FIGS. 16 and 17. FIG.
第 1 6図に示す表面処理ュニッ ト 1 1 0と、 第 1 0図に示す表面処理ュニッ ト 3 0との相違点は、 筐体 3 2内にさらにガス給気管 4 1を搭載した点である。 ポ ンプからの圧縮空気、 又はボンベからの窒素が、 このガス給気管 4 1に導入され て、 プラズマ生成部 6 0に供給される。 一方、 ガス給気管 4 0からは水蒸気が供 O 96 34 The difference between the surface treatment unit 110 shown in Fig. 16 and the surface treatment unit 30 shown in Fig. 10 is that a gas supply pipe 41 is further mounted inside the housing 32. is there. Compressed air from a pump or nitrogen from a cylinder is introduced into the gas supply pipe 41 and supplied to the plasma generation unit 60. On the other hand, steam is supplied from the gas supply pipe 40. O 96 34
20  20
給されるので、 濡れ性の高い、 表面処理を行うことができる。 Since it is supplied, surface treatment with high wettability can be performed.
また、 第 1 7図に示すように、 表面処理ュニッ ト 1 2 0内に、 予めガス出力部 6 1 9を搭載しておくことも可能である。 このガス生成部 6 1 9からの供給ガス をガス給気管 4 0で導いて、 流量計 4 2で流量調整し、 プラズマ生成部 6 0に供 給する。  Further, as shown in FIG. 17, a gas output unit 6 19 can be mounted in advance in the surface treatment unit 120. The supply gas from the gas generation section 61 9 is led through the gas supply pipe 40, the flow rate is adjusted by the flow meter 42, and supplied to the plasma generation section 60.
<表面処理ュニッ トの各種夕ィブについて >  <About various evenings of the surface treatment unit>
次に、 上述した表面処理ュニッ ト 3 0 , 1 0 0及び 1 1 0の形状もしくはそれ らに連結される給気連結管 2 0、 排気連結管 2 4の形状を変更した各種夕イブに ついて、 第 1 8図以降を参照して説明する。  Next, various types of eves in which the shape of the above-mentioned surface treatment units 30, 100, and 110, or the shapes of the air supply connection pipe 20 and the exhaust connection pipe 24 connected thereto are changed. This will be described with reference to FIGS.
( 1 ) ラインタイプ  (1) Line type
第 1 8図及び第 1 9図に示すラインタイプの表面処理ュニッ ト 1 6 0は、 コン ベアライン 1 4により搬送される例えば板状のワーク 5 0 0と対向する上方位置 に、 設けられている。 この表面処理ュニッ ト 1 6 0は、 筐体 1 6 1の下部に給排 気部 1 6 2を備えている。 この給排気部 1 6 2は、 給気管 1 6 4及び排気管 1 6 6にて二重間構造を構成している。 本実施例では、 中心部に給気管 1 6 4を配置 し、 その周囲に排気管 1 6 6を配置し、 排気管 1 6 6の下端部は、 傘状に広がる 形状となっている。  The line-type surface treatment unit 160 shown in FIGS. 18 and 19 is provided at an upper position facing, for example, a plate-like work 500 conveyed by the conveyor line 14. . The surface treatment unit 160 has a supply / exhaust unit 162 at the lower part of the housing 161. The air supply / exhaust section 16 2 has a double-walled structure composed of an air supply pipe 16 4 and an exhaust pipe 16 6. In the present embodiment, the air supply pipe 164 is arranged at the center, and the exhaust pipe 166 is arranged around the air supply pipe 166. The lower end of the exhaust pipe 166 has an umbrella-like shape.
コンベアライン 1 4によりワーク 5 0 0が間欠的にあるいは連続的に搬送され ると、 このワーク 5 0 0が表面処理ュニッ トの給排気部 1 6 2と対向することで、 ワーク 5 0 0の表面が表面処理されることになる。 これにより、 表面処理ュニッ ト 1 6 0を固定しながらも、 ワーク 5 0 0の全面について、 多数のワーク 5 0 0 を連続的に表面処理することが可能となる。  When the work 500 is conveyed intermittently or continuously by the conveyor line 14, the work 500 faces the air supply / exhaust section 162 of the surface treatment unit, and the work 500 The surface will be surface treated. Thus, while the surface treatment unit 160 is fixed, a large number of works 500 can be continuously surface-treated on the entire surface of the work 500.
( 2 ) スタンドタイプ  (2) Stand type
第 2 0図に示すスタンドタイプの表面処理ュニッ ト 2 0 0は、 載置可能な底面 を有する筐体 2 0 1を有している。 この筐体 2 0 1内部には、 上述した通り処理 ガスが導入され、 触媒を経由して排気ガスが排気される。 この筐体 2 0 1には、 上方に伸びる給気連結管 2 1 0及び排気連結管 2 3 0が設けられている。 給気連 結管 2 1 0は屈曲され、 下端にて開口する給気部 2 2 0を有する。 この給気部 2 2 0の周囲には、 処理ガスの拡散を防止するための傘状の拡散防止板 2 2 2が設 けられている。 一方、 排気連結管 2 3 0は、 拡散防止板 2 2 2と対向する位置に、 上方に向かうに従い開口面積の増大する傘状の排気吸引部 2 4 0が形成されてい る ο The stand type surface treatment unit 200 shown in FIG. 20 has a housing 201 having a mountable bottom surface. The processing gas is introduced into the casing 201 as described above, and the exhaust gas is exhausted via the catalyst. The housing 201 is provided with an air supply connection pipe 210 and an exhaust connection pipe 230 extending upward. The air supply connection pipe 210 is bent and has an air supply part 220 opened at the lower end. An umbrella-shaped diffusion prevention plate 222 is provided around the air supply section 220 to prevent the diffusion of the processing gas. Have been killed. On the other hand, the exhaust connection pipe 230 has an umbrella-shaped exhaust suction portion 240 whose opening area increases upward as it faces upward.
そして、 第 2 0図及び第 2 1図に示すとおり、 ワークとして例えば端部の被覆 材がはがされた線材 2 5 0の先端部を表面する処理に際して、 この線材 2 5 0の 予めメツキ処理された先端部 2 5 2を給気部 2 2 0の直下の位置に配置する。 こ うすると、 給気部 2 2 0より導出される処理ガスにより線材 2 5 0の先端部 2 5 2が表面処理され、 その曝露された処理ガスは排気吸引部 2 4 0及び排気連結管 2 3 0を介して筐体 2 0 1内の触媒に導かれることになる。  Then, as shown in FIGS. 20 and 21, at the time of processing the surface of the tip of the wire 250 from which the coating material at the end has been peeled off as a work, for example, The arranged tip portion 2 52 is arranged at a position immediately below the air supply portion 220. In this way, the distal end portion 250 of the wire rod 250 is subjected to the surface treatment with the processing gas derived from the air supply section 220, and the exposed processing gas is discharged to the exhaust suction section 240 and the exhaust connection pipe 2 It will be led to the catalyst in the housing 201 through 30.
このように、 スタンドタイプの表面処理ユニッ ト 2 0 0を用いることで、 空気 中に局所的な処理ガスの雰囲気を作ることができ、 線材 2 5 0などのワークを容 易に表面処理することが可能となる。  In this way, by using the stand type surface treatment unit 200, a local atmosphere of the treatment gas can be created in the air, and the workpiece such as the wire rod 250 can be easily surface treated. Becomes possible.
( 3 ) 棒状タイプ  (3) Rod type
第 2 2図及び第 2 3図に示す実施例は、 表面処理ュニッ ト 3 0 0自体を、 例え ば半田ごてのような筒状の筐体 3 0 1にて構成したものである。 この筐体 3 0 1 に連結された給気連結管 3 1 0及び排気連結管 3 2 0は二重管構造となっており、 内側の給気連結管 3 1 0により処理ガスがワーク 5 0 0に向けて導出され、 外側 の排気連結管 3 2 0よりその曝露された処理ガスが筐体 3 0 1内部に導かれる。 排気連結管 3 2 0の先端部は、 排気領域を拡大する観点から、 第 2 2図及び第 2 3図に示すとおり、 傘状に広がる形状とすることが好ましい。  In the embodiment shown in FIGS. 22 and 23, the surface treatment unit 300 itself is constituted by a cylindrical housing 301 such as a soldering iron, for example. The air supply connection pipe 310 and the exhaust connection pipe 320 connected to the housing 301 have a double pipe structure, and the processing gas is processed by the inside air supply connection pipe 310. The exposed processing gas is led out toward the inside of the housing 301 from the exhaust connection pipe 320 on the outside. As shown in FIGS. 22 and 23, it is preferable that the distal end of the exhaust connection pipe 320 has an umbrella-like shape as shown in FIGS.
このように、 表面処理ユニッ ト 3 0 0自体を棒状タイプに構成すれば、 この表 面処理ュニッ ト 3 0 0自体を手で操作して、 各種ワークの表面処理を行うことが 可能となる。  As described above, if the surface treatment unit 300 itself is configured in a rod shape, it becomes possible to perform surface treatment of various works by manually operating the surface treatment unit 300 itself.
( 4 ) ト一ス夕一タイプ  (4) Tooth and evening type
第 2 4図及び第 2 5図に示す表面処理ュニッ ト 4 0 0は、 筐体 4 0 1の一面例 えばその上面に、 板状のワーク 5 0 0を挿入できるスリッ ト状の挿入部 4 1 0を 有している。 このスリツ ト状の挿入部 4 1 0には排気管 4 2 0が連結されている。 一方、 スリツ ト状の挿入部 4 1 0の例えば両側壁には、 該側壁にて一端が開口す る処理ガス給気管 4 3 0が設けられている。 この構成によれば、 板状のワーク 5 0 0を、 筐体 4 0 1の上面に設けられたス リッ ト状の揷入部 4 1 0内部に挿入することで、 このワーク 5 0 0の両面より処 理ガスが吹き付けられ、 板状のワーク 5 0 0の両面を同時に表面処理することが 可能となる。 なお、 ワーク 5 0 0の片面のみが表面処理されるものにあっては、 処理ガス給気管 4 3 0をスリッ ト状の挿入部 4 1 0の一方の側壁のみに開口させ ればよい。 The surface treatment unit 400 shown in FIGS. 24 and 25 has a slit-shaped insertion portion 4 on one surface of the housing 401, for example, on the upper surface thereof, into which a plate-shaped work 500 can be inserted. It has ten. An exhaust pipe 420 is connected to the slit-shaped insertion section 410. On the other hand, for example, on both side walls of the slit-shaped insertion portion 410, a processing gas supply pipe 430 having one end opened at the side wall is provided. According to this configuration, by inserting the plate-shaped work 500 into the slit-shaped insertion portion 410 provided on the upper surface of the housing 401, both sides of the work 500 can be inserted. The processing gas is sprayed more, so that both surfaces of the plate-like workpiece 500 can be simultaneously subjected to the surface treatment. In the case where only one surface of the work 500 is subjected to the surface treatment, the processing gas supply pipe 430 may be opened only on one side wall of the slit-shaped insertion portion 410.
( 5 ) バッチ処理夕イブ  (5) Batch processing
第 2 6図は、 多数のワークをバッチ式で処理する装置を示している。 この装置 は、 上述の表面処理ュニッ ト 3 0 (又は 1 1 0又は 1 2 0 ) に接続された給気連 結管 2 0及び排気連結管 2 4を、 バッチ処理ボックス 4 5 0に連結している。 こ のバッチ処理ボックス 4 5 0は、 内部に多数のワーク 5 1 0を収容するものであ る。 バッチ処理されるワーク 5 1 0としては、 上述の I C 1 0、 線材 2 5 0、 板 状のワーク 5 0 0の他、 例えばロール状に巻回された T A Bテープであってもよ レヽ  FIG. 26 shows an apparatus for processing a large number of workpieces in a batch system. This device connects the air supply pipe 20 and the exhaust pipe 24 connected to the above-mentioned surface treatment unit 30 (or 110 or 120) to a batch processing box 450. ing. The batch processing box 450 accommodates a large number of works 510 therein. The workpieces 50 to be batch-processed may be, for example, a TAB tape wound in a roll, in addition to the above-mentioned IC 10, wire rod 250, and plate-shaped workpiece 500.
このバッチ処理タイプによれば、 一度に多数のワーク 5 1 0を表面処理するこ とが可能となる。 なお、 本発明の処理方法に表面処理されたワークは、 改善され たその半田の濡れ性を、 表面処理後比較的長い時間維持することができるため、 バッチ処理後半田付けまでワークをストツクしておいても、 良好な半田付けを行 うことができる。  According to this batch processing type, it is possible to perform surface treatment on a large number of works 5 10 at a time. In addition, since the work surface-treated by the treatment method of the present invention can maintain the improved wettability of the solder for a relatively long time after the surface treatment, the work is stored until the soldering after the batch processing. Also, good soldering can be performed.

Claims

請求の範囲 The scope of the claims
1. 窒素酸化物を含む処理ガスを被処理体の表面に接触させて、 前記被処理体の 表面を処理することを特徴とする表面処理方法。  1. A surface treatment method characterized by treating a surface of an object to be treated by bringing a treatment gas containing nitrogen oxide into contact with the surface of the object to be treated.
2. 請求項 1において、  2. In claim 1,
前記処理ガスが、 N20、 N0、 N02のいずれかを含むことを特徴とする表面 処理方法。 The process gas is, N 2 0, N0, N0 surface treatment method characterized by comprising either 2.
3. 請求項 1において、  3. In claim 1,
前記処理ガスが、 H2N 202、 HN 02, HN03のいずれかの酸を含むことを特 徴とする表面処理方法。 The process gas is, H 2 N 2 0 2, HN 02, HN0 surface treatment method according to feature to include any acid 3.
4. 請求項 2において、 4. In claim 2,
酸素原子 (〇) と窒素原子 (N) とを含む供給ガスが供給される雰囲気中にて 放電を生成して、 前記処理ガスを生成する工程をさらに有することを特徴とする 表面処理方法。  A surface treatment method, further comprising the step of: generating a discharge in an atmosphere in which a supply gas containing oxygen atoms (〇) and nitrogen atoms (N) is supplied to generate the treatment gas.
5. 請求項 2又は 3において、  5. In claim 2 or 3,
酸素原子と窒素原子と水素原子とを含む供給ガスが供給される雰囲気中にて放 電を生成して、 前記処理ガスを生成する工程をさらに有することを特徴とする表 面処理方法。  A surface treatment method, further comprising the step of generating a discharge gas in an atmosphere in which a supply gas containing oxygen atoms, nitrogen atoms, and hydrogen atoms is supplied to generate the processing gas.
6. 請求項 4又は 5において、  6. In Claim 4 or 5,
大気圧又はその近傍の圧力下で、 50の kH z以下の低周波数の交流電圧又は 直流電圧が印加される一対の電極により、 前記供給ガスを励起して放電を生成す ることを特徴とする表面処理方法。  A discharge is generated by exciting the supply gas by a pair of electrodes to which a low-frequency AC voltage or DC voltage of 50 kHz or less is applied at or near atmospheric pressure. Surface treatment method.
7. 請求項 6において、  7. In claim 6,
前記一対の電極は、 誘電体を挟んで配置される第 1、 第 2の電極を有し、 前記第 1、 第 2の電極は、 前記誘電体と対面する各面の互いに非対向となる位 置に第 1、 第 2の凹部が形成され、  The pair of electrodes has first and second electrodes disposed with a dielectric interposed therebetween, and the first and second electrodes are located on opposite sides of each surface facing the dielectric. First and second recesses are formed in the
前記第 1、 第 2の凹部の少なくとも一方に前記供給ガスが導入されることを特 徴とする表面処理装置。  A surface treatment apparatus characterized in that the supply gas is introduced into at least one of the first and second recesses.
8. 請求項 2において、  8. In claim 2,
酸素原子 (0) と窒素原子 (N) とを含む供給ガスが供給される雰囲気を加熱 して、 前記処理ガスを生成する工程をさらに有することを特徴とする表面処理方 法。 Heats the atmosphere in which the supply gas containing oxygen atoms (0) and nitrogen atoms (N) is supplied And a step of generating the processing gas.
9 . 請求項 2又は 3において、  9. In Claim 2 or 3,
酸素原子と窒素原子と水素原子とを含む供給ガスが供給される雰囲気を加熱し て、 前記処理ガスを生成する工程をさらに有することを特徴とする表面処理方法。 A surface treatment method, further comprising: heating an atmosphere to which a supply gas containing oxygen atoms, nitrogen atoms, and hydrogen atoms is supplied to generate the treatment gas.
1 0 . 請求項 2において、 10. In claim 2,
酸素原子と窒素原子とを含む供給ガスが供給される雰囲気に光を照射して、 前 記処理ガスを生成する工程をさらに有することを特徴とする表面処理方法。  A surface treatment method further comprising the step of: irradiating light to an atmosphere supplied with a supply gas containing oxygen atoms and nitrogen atoms to generate the treatment gas.
1 1 . 請求項 2又は 3において、  1 1. In Claim 2 or 3,
酸素原子と窒素原子と水素原子とを含む供給ガスが供給される雰囲気に光を照 射して、 前記処理ガスを生成する工程をさらに有することを特徴とする表面処理 方法。  A surface treatment method, further comprising: irradiating light to an atmosphere supplied with a supply gas containing oxygen atoms, nitrogen atoms, and hydrogen atoms to generate the treatment gas.
1 2 . 請求項 4又は 8又は 1 0において、  1 2. In claim 4 or 8 or 10,
前記供給ガスとして、 酸素 (0 ガスと窒素 (N 2 ) ガスとを供給し、 前記窒 素ガスをキヤリアガスとして兼用することを特徴とする表面処理方法。 A surface treatment method, wherein oxygen (0 gas and nitrogen (N 2 ) gas are supplied as the supply gas, and the nitrogen gas is also used as a carrier gas.
1 3 . 請求項 5又は 9又は 1 1において、  1 3. In claim 5 or 9 or 11,
前記供給ガスとして、 酸素 (0 2 ) ガスとキャリアガスとして兼用される窒素 ( N 2 ) ガスとを供給し、 かつ、 前記酸素ガス及び窒素ガスの少なくとも一方を供 給途中にて水と接触させることを特徴とする表面処理方法。 As the feed gas, oxygen (0 2) nitrogen which is also used as a gas and the carrier gas (N 2) supply a gas and is contacted with water at least one at supply course of the oxygen gas and nitrogen gas A surface treatment method comprising:
1 4 . 請求項 5又は 9又は 1 1において、  14. In claim 5 or 9 or 11,
前記供給ガスとして、 窒素 (N 2 ) ガスを供給し、 かつ、 前記窒素ガスをその 供給途中にて水と接触させることを特徴とする表面処理方法。  A surface treatment method, comprising supplying a nitrogen (N 2) gas as the supply gas, and bringing the nitrogen gas into contact with water during the supply.
1 5 . 請求項 5又は 9又は 1 1において、  15. In claim 5 or 9 or 11,
前記供給ガスとして、 圧縮空気を供給し、 かつ、 前記圧縮空気をその供給途中 にて水と接触させることを特徴とする表面処理方法。  A surface treatment method comprising: supplying compressed air as the supply gas; and bringing the compressed air into contact with water during the supply.
1 6 . 請求項 1 2又は 1 3において、  16. In claim 12 or 13,
前記酸素ガスの供給量を、 1 5体積%以下としたことを特徴とする表面処理方 法。  A surface treatment method, wherein the supply amount of the oxygen gas is set to 15% by volume or less.
1 7 . 請求項 1 2又は 1 3において、 前記酸素ガスの供給量を、 10体積%以下としたことを特徴とする表面処理方 法。 17. In claim 12 or 13, A surface treatment method, wherein the supply amount of the oxygen gas is set to 10% by volume or less.
18. 請求項 12又は 13において、  18. In Claim 12 or 13,
前記酸素ガスの供給量を、 5〜10体積%としたことを特徴とする表面処理方 法。  A surface treatment method, wherein the supply amount of the oxygen gas is 5 to 10% by volume.
19 · 請求項 3において、  19 · In Claim 3,
アル力リ金属と窒素化合物から成る塩の水溶液を電気分解して、 前記窒素化合 物を生成する工程をさらに有することを特徴とする表面処理方法。  A surface treatment method, further comprising a step of electrolyzing an aqueous solution of a salt composed of an alkali metal and a nitrogen compound to generate the nitrogen compound.
2.0. 請求項 3において、 2.0. In Claim 3,
H2N2O2, HN 02, HN03のいずれかの水溶液にキャリアガスを接触させて 前記処理ガスを生成する工程をさらに有することを特徴とする表面処理方法。 21. 請求項 1乃至 18のいずれかにおいて、 H2N2O2, HN 02, HN0 surface treatment method characterized by any of the aqueous solution of 3 by contacting the carrier gas further comprises the step of generating the processing gas. 21. In any one of claims 1 to 18,
前記被処理体に向けて供給された前記処理ガス及び反応生成物を強制排気する 工程と、  Forcibly exhausting the processing gas and the reaction product supplied toward the object to be processed;
排気途中にて、 前記処理ガス及び反応生成物を トラップする工程と、 をさらに有することを特徴とする表面処理方法。  A step of trapping the processing gas and the reaction product during the evacuation.
22. 請求項 1乃至 21のいずれかにおいて、  22. In any one of claims 1 to 21,
前記処理ガスを前記被処理体の表面に接触させて、 前記被処理体の表面の酸化 物を還元し、 あるいは前記酸化物を窒素酸化物に置換して、 前記表面での半田の 濡れ性を向上させることを特徴とする表面処理方法。  The processing gas is brought into contact with the surface of the object to be processed to reduce an oxide on the surface of the object to be processed or to replace the oxide with a nitrogen oxide to improve the wettability of the solder on the surface. A surface treatment method characterized by improving.
23. 請求項 17において、  23. In claim 17,
前記被処理対が回路基板であることを特徴とする表面処理方法。  A surface treatment method, wherein the pair to be treated is a circuit board.
19. 請求項 17において、  19. In claim 17,
前記被処理体が電子部品であることを特徴とする表面処理方法。  A surface treatment method, wherein the object to be processed is an electronic component.
20. 請求項 17において、  20. In claim 17,
前記被処理体が集積回路であり、 その被処理面が前記集積回路のボンディング 面であることを特徴とする表面処理方法。  A surface treatment method, wherein the object to be processed is an integrated circuit, and the surface to be processed is a bonding surface of the integrated circuit.
21. 請求項 17において、  21. In claim 17,
前記被処理体が、 半田付けされる線材であることを特徴とする表面処理方法。 The surface treatment method, wherein the object to be processed is a wire to be soldered.
22. 請求項 17において、 22. In claim 17,
前記被処理体の被処理表面は、 水晶振動子の電極であることを特徴とする表面 処理方法。  A surface treatment method, wherein the surface of the object to be processed is an electrode of a quartz oscillator.
23. NO、 N02、 N2〇、 HN03、 HN02、 H 2 N 202の中から選ばれる一又 は複数の窒素酸化物を含む処理ガスを被処理体の表面に導く処理ガス供給手段を 有し、 被処理体の表面を処理することを特徴とする表面処理装置。 23. NO, N0 2, N 2 〇, HN0 3, HN0 2, H 2 N 2 0 one or selected from among 2 leads the process gas containing a plurality of nitrogen oxide on the surface of the object to be processed process gas A surface treatment apparatus, comprising: a supply unit, for treating a surface of an object to be treated.
24. 請求項 23において、 24. In claim 23,
前記処理ガス供給手段に接続され、 酸素原子 (0) と窒素原子 (N) とを含む 供給ガスが供給される雰囲気中にて放電を生成して、 前記処理ガスのうち N〇、 NO 2、 N20のいずれかを生成する処理ガス生成手段をさらに有することを特徴 とする表面処理装置。 A discharge is generated in an atmosphere in which a supply gas containing oxygen atoms (0) and nitrogen atoms (N) is supplied and connected to the processing gas supply means, and N〇, NO 2 , A surface treatment apparatus further comprising a treatment gas generation means for generating any one of N 20 .
25. 請求項 23において、 25. In claim 23,
前記処理ガス供給手段に接続され、 酸素原子 (0) と窒素原子 (N) と水素原 子 (H) を含む供給ガスが供給される雰囲気中にて放電を生成して、 前記処理ガ スを生成する処理ガス生成手段をさらに有することを特徴とする表面処理装置。  A discharge is generated in an atmosphere in which a supply gas including an oxygen atom (0), a nitrogen atom (N), and a hydrogen atom (H) is supplied to the processing gas supply means, and the processing gas is supplied. A surface treatment apparatus further comprising a processing gas generation unit for generating the processing gas.
26. 請求項 23において、 26. In claim 23,
前記処理ガス供給手段に接続され、 酸素原子 (◦) と窒素原子 (N) とを含む 供給ガスが供給される雰囲気を加熱して、 前記処理ガスのうち N0、 N02、 N2 0のいずれかを生成する処理ガス生成手段をさらに有することを特徴とする表面 処理装置。 Said processing are connected to gas supply means, an oxygen atom by heating the atmosphere in which the feed gas is supplied comprising a (◦) and nitrogen atom (N), which of N0, N0 2, N 2 0 of the process gas A surface treatment apparatus further comprising a processing gas generating means for generating a gas.
27. 請求項 23において、  27. In claim 23,
前記処理ガス供給手段に接続され、 酸素原子 (0) と窒素原子 (N) と水素原 子 (H) を含む供給ガスが供給される雰囲気を加熱して、 前記処理ガスを生成す る処理ガス生成手段をさらに有することを特徴とする表面処理装置。  A processing gas connected to the processing gas supply means and heating an atmosphere supplied with a supply gas containing oxygen atoms (0), nitrogen atoms (N), and hydrogen atoms (H) to generate the processing gas A surface treatment apparatus further comprising a generation unit.
28. 請求項 23において、  28. In claim 23,
前記処理ガス供給手段に接続され、 酸素原子 (0) と窒素原子 (N) とを含む 供給ガスが供給される雰囲気に光を照射して、 前記処理ガスのうち N0、 N02、 N 20のいずれかを生成する処理ガス生成手段をさらに有することを特徴とする表 面処理装置。 Connected to the process gas supply means, a feed gas containing the oxygen atom (0) and nitrogen atom (N) is irradiated with light in an atmosphere to be supplied, N0 of the process gas, N0 2, N 2 0 A surface treatment apparatus further comprising a processing gas generation means for generating any one of the above.
29. 請求項 23において、 29. In claim 23,
前記処理ガス供給手段に接続され、 酸素原子 (0) と窒素原子 (N) と水素原 子 (H) を含む供給ガスが供給される雰囲気に光を照射して、 前記処理ガスを生 成する処理ガス生成手段をさらに有することを特徴とする表面処理装置。  The processing gas is generated by irradiating light to an atmosphere connected to the processing gas supply means and supplied with a supply gas containing oxygen atoms (0), nitrogen atoms (N), and hydrogen atoms (H). A surface treatment apparatus further comprising a treatment gas generation unit.
30. 請求項 23において、  30. In claim 23,
前記処理ガス供給手段に接続され、 アル力リ金属と窒素化合物から成る塩の水 溶液を電気分解して、 前記処理ガスを生成する処理ガス生成手段をさらに有する ことを特徴とする表面処理装置。  A surface processing apparatus further comprising a processing gas generating means connected to the processing gas supply means and configured to electrolyze an aqueous solution of a salt comprising an alkali metal and a nitrogen compound to generate the processing gas.
3 1. 請求項 23において、 3 1. In claim 23,
前記処理ガス供給手段に接続され、 H2N 202、 HN02、 HN03のいずれかの 水溶液にキャリアガスを接触させて、 H2N 202、 HN02、 HN03のいずれかを 含む前記処理ガスを生成する処理ガス生成手段をさらに有することを特徴とする 表面処理装置。 Said processing are connected to gas supply means, by contacting the H 2 N 2 0 2, HN0 2, HN0 3 of one of the aqueous solution in the carrier gas, one of H 2 N 2 0 2, HN0 2, HN0 3 And a processing gas generating means for generating the processing gas.
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