UA26902C2 - Спосіб перевірки ступеhя точhості або hадійhості засобів вимірюваhhя і пристрій для його здійсhеhhя - Google Patents

Спосіб перевірки ступеhя точhості або hадійhості засобів вимірюваhhя і пристрій для його здійсhеhhя

Info

Publication number
UA26902C2
UA26902C2 UA4742336A UA4742336A UA26902C2 UA 26902 C2 UA26902 C2 UA 26902C2 UA 4742336 A UA4742336 A UA 4742336A UA 4742336 A UA4742336 A UA 4742336A UA 26902 C2 UA26902 C2 UA 26902C2
Authority
UA
Ukraine
Prior art keywords
reliability
accuracy
measurement
measuring means
check
Prior art date
Application number
UA4742336A
Other languages
English (en)
Russian (ru)
Inventor
Грегорі ГОУЛД
Original Assignee
Грегорі ГОУЛД
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Грегорі ГОУЛД filed Critical Грегорі ГОУЛД
Priority to UA4742336A priority Critical patent/UA26902C2/uk
Publication of UA26902C2 publication Critical patent/UA26902C2/uk

Links

Landscapes

  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)

Abstract

Спосіб перевірки ступеня точності або надійності засобів вимірювання, використовуваних при вимірюванні однієї або більше характеристик сипучого матеріалу, включає етапи вимірювання однієї або більше характеристик сипучого матеріалу за допомогою засобів вимірювання. Одночасно вимірюється одна або більше змінних, незалежних від засобів вимірювання характеристик сипучого матеріалу, але таких, що прямо або опосередковано впливають на нормальну роботу засобів вимірювання і на точність або надійність результатів, отриманих засобами вимірювання, з порівнянням з відповідним еталоном.
UA4742336A 1989-11-14 1989-11-14 Спосіб перевірки ступеhя точhості або hадійhості засобів вимірюваhhя і пристрій для його здійсhеhhя UA26902C2 (uk)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
UA4742336A UA26902C2 (uk) 1989-11-14 1989-11-14 Спосіб перевірки ступеhя точhості або hадійhості засобів вимірюваhhя і пристрій для його здійсhеhhя

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
UA4742336A UA26902C2 (uk) 1989-11-14 1989-11-14 Спосіб перевірки ступеhя точhості або hадійhості засобів вимірюваhhя і пристрій для його здійсhеhhя

Publications (1)

Publication Number Publication Date
UA26902C2 true UA26902C2 (uk) 1999-12-29

Family

ID=74347803

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
UA4742336A UA26902C2 (uk) 1989-11-14 1989-11-14 Спосіб перевірки ступеhя точhості або hадійhості засобів вимірюваhhя і пристрій для його здійсhеhhя

Country Status (1)

Country Link
UA (1) UA26902C2 (uk)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
IS4971A (is) Aðferð til að greina ástand lífveru með mælingu ápeptíðum
JPS51114985A (en) Mothod to analyse urine, etc.
JPS5226888A (en) Automatic tension testing machine
AU556377B2 (en) Diffuse reflectivity of small sample surface
SG60052A1 (en) Semiconductor device testing apparatus
EP0840109A3 (en) Moisture/yield monitor grain simulator
ES457368A1 (es) Dispositivo para el ensayo de dureza de materiales.
AU4275889A (en) Method and apparatus for auditing means used for measuring characteristics of a bulk material and for extracting an aliquot from a bulk material
ES460838A1 (es) Transductor compuesto para la medicion de condiciones fisi- cas.
UA26902C2 (uk) Спосіб перевірки ступеhя точhості або hадійhості засобів вимірюваhhя і пристрій для його здійсhеhhя
DE3380315D1 (en) Measuring circuit device
MY105169A (en) Method of and apparatus for weighing and taking out powdered dye
AU621769B2 (en) Totalizer apparatus for flow rate measurement devices
ATE24051T1 (de) Digitale elektrische laengen- oder winkelmesseinrichtung.
JPS56116637A (en) Detector for semiconductor device
JPS5311080A (en) Colorimeter
JPS57204470A (en) Testing device for measurement of semiconductor device
JPS5739308A (en) Automatic measuring device for crack length
SE8803114D0 (sv) Method and apparatus for producing a quench calibration for a liquid scintillation counter
JPS5683045A (en) Wafer probe
JPS545632A (en) Test method for memory unit
JPS55104144A (en) Level check system of test signal delivery
JPS56114749A (en) Measuring apparatus for moisture content of grain in dryer
JPS52155065A (en) Wafer insepaction method
JPS5253478A (en) Infrared gas analysis apparatus