TWM585355U - 測試設備及其多層測試機台 - Google Patents

Abstract

一種多層測試機台，用以對一第一待檢測物以及一第二待檢測物進行檢測，包括一第一軌道單元、一第一載板、一第一活動針板、一第二軌道單元、一第二載板以及一第二活動針板，第一載板呈放第一待檢測物，第一載板置於第一軌道單元，第一活動針板適於沿一第一方向移動並耦接第一待檢測物，以對第一待檢測物進行檢測，第二載板呈放第二待檢測物，第二載板置於第二軌道單元，第二活動針板適於沿一第二方向移動並耦接第二待檢測物，以對第二待檢測物進行檢測，多層測試機台可以分層測試兩個以上之待檢測物。

Description

測試設備及其多層測試機台

本創作之實施例係有關於一種多層測試機台，特別係有關於一種可分層測試兩個以上之待檢測物的多層測試機台。

習知之電路板測試機台，僅能一次對單一片電路板進行測試，當電路板的產量增加時，必須增加電路板測試機台的數量以及自動化輸送路徑的數量，也因此大幅增加了工廠內的機台設置空間的需求，提高了生產成本。

在一實施例中，本創作之實施例提供一種多層測試機台，用以對一第一待檢測物以及一第二待檢測物進行檢測，包括一第一軌道單元、一第一載板、一第一活動針板、一第二軌道單元、一第二載板以及一第二活動針板。第一載板呈放第一待檢測物，第一載板置於第一軌道單元。第一活動針板適於沿一第一方向移動並耦接第一待檢測物，以對第一待檢測物進行檢測。第二載板呈放第二待檢測物，第二載板置於第二軌道單元。第二活動針板適於沿一第二方向移動並耦接第二待檢測物，以對第二待檢測物進行檢測，第一方向相反於第二方向。

應用本創作實施例之多層測試機台，可以單一個多層測試機台檢測至少兩個以上之待檢測物，因此可節省工廠內部的機台置放空間。特別是，可節省自動化輸送路徑的設置空間，而以較低的成本完成待檢測物的檢測。

第1圖係顯示本創作實施例之測試設備T的示意圖。參照第1圖，在一實施例中，本創作提供一種測試設備T，用以對一第一待檢測物以及一第二待檢測物進行檢測，包括一多層測試機台TS以及一接駁台TR。

第2圖係顯示本創作實施例之多層測試機台TS的細部結構示意圖。參照第2圖，多層測試機台TS包括一第一軌道單元1、一第一載板19、一第一活動針板181、一第二軌道單元2、一第二載板29以及一第二活動針板281。第一載板19用以呈放第一待檢測物，第一載板19置於第一軌道單元1。第一活動針板181適於沿一第一方向Z1移動並耦接第一待檢測物，以對第一待檢測物進行檢測。第二載板29用以呈放第二待檢測物，第二載板29置於第二軌道單元2。第二活動針板281適於沿一第二方向Z2移動並耦接第二待檢測物，以對第二待檢測物進行檢測，第一方向Z1相反於第二方向Z2。搭配參照第1、2圖，接駁台TR適於將第一載板19於第一軌道單元1進行取放，並適於將第二載板29於第二軌道單元2進行取放。

在一實施例中，第一待檢測物以及第二待檢測物可以為電路板，或其他需要電性檢測之電子裝置。

第3A、3B、3C以及3D圖係顯示本創作實施例之第一軌道單元的細部結構示意圖。搭配參照第3A、3B、3C以及3D圖，在一實施例中，第一軌道單元1包括一浮軌11以及一基座12，浮軌11相對基座12於一第一浮軌位置(第3B圖)以及一第二浮軌位置(第3C圖)之間移動。當第一活動針板181耦接第一待檢測物時，浮軌11被移動至第二浮軌位置(第3C圖)。當第一活動針板181遠離第一待檢測物時，浮軌11被移動回復至第一浮軌位置(第3B圖)。

搭配參照第3A、3B、3C以及3D圖，在一實施例中，第一軌道單元1更包括一復位彈簧13，復位彈簧13設於浮軌11與基座12之間，當浮軌11位於第二浮軌位置(第3C圖)時，復位彈簧13對浮軌11提供一彈力，使浮軌11傾向回復至第一浮軌位置。

搭配參照第3A、3B、3C以及3D圖，在一實施例中，浮軌11包括一導柱111，基座12包括一通孔121，導柱111穿過通孔121，復位彈簧13套設於導柱111之上，復位彈簧13之一端抵接浮軌11，復位彈簧13之另一端抵接基座12。

搭配參照第3A、3B、3C以及3D圖，在一實施例中，浮軌11包括一浮軌本體112、一浮軌嵌套113以及複數個浮軌滾輪114，浮軌滾輪114設於浮軌嵌套113，浮軌嵌套113連接浮軌本體112，第一載板適於接觸浮軌滾輪114並於浮軌滾輪114之上滑動。

搭配參照第3A、3B、3C以及3D圖，在一實施例中，浮軌11包括一浮軌限位肋115，浮軌限位肋115設於浮軌本體112，浮軌限位肋115相對於浮軌本體112的高度高於浮軌滾輪114。藉此浮軌限位肋115限制第一載板的位置。

第4A以及4B圖係顯示本創作實施例之第二軌道單元的細部結構示意圖。搭配參照第4A以及4B圖，在一實施例中，多層測試機台TS更包括一機台支架31，第二軌道單元2包括一滑軌21，滑軌21固接機台支架31。

搭配參照第4A以及4B圖，在一實施例中，滑軌21包括一滑軌本體211、一滑軌嵌套212以及複數個滑軌滾輪213，滑軌滾輪213設於滑軌嵌套212，滑軌嵌套212連接滑軌本體211，第二載板適於接觸滑軌滾輪213並於滑軌滾輪213之上滑動。

搭配參照第4A以及4B圖，在一實施例中，滑軌21包括一滑軌限位肋214，滑軌限位肋214設於滑軌本體211，滑軌限位肋214相對於滑軌本體211的高度高於滑軌滾輪213。藉此滑軌限位肋214限制第二載板的位置。

參照第2圖，在一實施例中，多層測試機台TS更包括一第一固定針板182以及一第二固定針板282，第一固定針板182以及第二固定針板282固接機台支架31，第一固定針板182沿第二方向Z2朝向第一載板，第二固定針板282沿第一方向Z1朝向第二載板。

參照第2、3B以及3C圖，在一實施例中，當第一活動針板181沿第一方向移動Z1並耦接置於第一載板19上之第一待檢測物時，第一載板19連同第一待檢測物被第一活動針板181下壓，進而浮軌11被第一活動針板181推動從第一浮軌位置(第3B圖)至第二浮軌位置(第3C圖)，直到第一待檢測物同時耦接第一固定針板182，接著可對第一待檢測物進行檢測。

參照第2、4A以及4C圖，在一實施例中，當第二活動針板281沿第二方向Z2移動並耦接置於第二載板29上之第二待檢測物時，第二載板29連同第二待檢測物被第二活動針板281抬起，直到第二待檢測物同時耦接第二固定針板282，接著可對第二待檢測物進行檢測。

再請參照第2圖，在一實施例中，多層測試機台TS更包括一第一汽缸183以及一第二汽缸283，第一汽缸183適於推動第一活動針板181，第二汽缸283適於推動第二活動針板281。

參照第5A以及5B圖，在一實施例中，接駁台TR包括一台座43、一第一移動模組41、一第二移動模組42以及一夾持單元44，台座43連接第一移動模組41並透過第一移動模組41沿一垂直方向Z移動，第二移動模組42設於台座43，夾持單元44連接第二移動模組42並透過第二移動模42組沿一水平方向Y移動，夾持單元44適於以可選擇的方式夾持第一載板以及第二載板，藉此將第一載板置入第一軌道單元或將第一載板從第一軌道單元取出，並將第二載板置入第二軌道單元或將第二載板從第二軌道單元取出。其中，第一待檢測物置於第一載板上，第二待檢測物置於第二載板上，第一待檢測物及第二待檢測物可為電路板。

參照第5A以及5B圖，在一實施例中，夾持單元44包括一電磁鐵，電磁鐵適於吸附及釋放第一載板以及第二載板。

在一實施例中，一自動化輸送路徑(圖上未顯示)將尚未被檢測之等待檢測物輸送至接駁台TR以等待進行檢測，在進入多層測試機台TS檢測完畢後，自動化輸送路徑將已檢測完畢之等待檢測物帶離接駁台TR。

應用本創作實施例之多層測試機台，可以單一個多層測試機台檢測至少兩個以上之待檢測物，因此可節省工廠內部的機台置放空間。特別是，可節省自動化輸送路徑的設置空間，而以較低的成本完成待檢測物的檢測。

T‧‧‧測試設備

TS‧‧‧多層測試機台

TR‧‧‧接駁台

1‧‧‧第一軌道單元

11‧‧‧浮軌

111‧‧‧導柱

112‧‧‧浮軌本體

113‧‧‧浮軌嵌套

114‧‧‧浮軌滾輪

115‧‧‧浮軌限位肋

12‧‧‧基座

121‧‧‧通孔

13‧‧‧復位彈簧

181‧‧‧第一活動針板

182‧‧‧第一固定針板

183‧‧‧第一汽缸

19‧‧‧第一載板

2‧‧‧第二軌道單元

21‧‧‧滑軌

211‧‧‧滑軌本體

212‧‧‧滑軌嵌套

213‧‧‧滑軌滾輪

214‧‧‧滑軌限位肋

281‧‧‧第二活動針板

282‧‧‧第二固定針板

283‧‧‧第二汽缸

29‧‧‧第二載板

31‧‧‧機台支架

41‧‧‧第一移動模組

42‧‧‧第二移動模組

43‧‧‧台座

44‧‧‧夾持單元

Z1‧‧‧第一方向

Z2‧‧‧第二方向

Z‧‧‧垂直方向

Y‧‧‧水平方向

第1圖係顯示本創作實施例之測試設備的示意圖。 第2圖係顯示本創作實施例之多層測試機台的細部結構示意圖。 第3A圖係顯示本創作實施例之第一軌道單元的細部結構示意圖。 第3B圖係顯示本創作實施例之第一軌道單元的細部結構示意圖，其中，浮軌相對基座位於第一浮軌位置。 第3C圖係顯示本創作實施例之第一軌道單元的細部結構示意圖，其中，浮軌相對基座位於第二浮軌位置。 第3D圖係顯示本創作實施例之浮軌以及基座的細部結構示意圖。 第4A圖係顯示本創作實施例之第二軌道單元的細部結構示意圖。 第4B圖係顯示本創作實施例之滑軌的細部結構示意圖。 第4C圖係顯示本創作實施例之第二軌道單元的細部結構示意圖，其中第二活動針板耦接第二待檢測物。 第5A以及5B圖係顯示本創作實施例之接駁台的細部結構示意圖。

Claims (20)

1. 一種多層測試機台，用以對一第一待檢測物以及一第二待檢測物進行檢測，包括： 一第一軌道單元； 一第一載板，呈放該第一待檢測物，該第一載板置於該第一軌道單元； 一第一活動針板，適於沿一第一方向移動並耦接該第一待檢測物，以對該第一待檢測物進行檢測； 一第二軌道單元； 一第二載板，呈放該第二待檢測物，該第二載板置於該第二軌道單元；以及 一第二活動針板，適於沿一第二方向移動並耦接該第二待檢測物，以對該第二待檢測物進行檢測，該第一方向相反於該第二方向。
2. 如申請專利範圍第1項所述之多層測試機台，其中，該第一軌道單元包括一浮軌以及一基座，該浮軌相對該基座於一第一浮軌位置以及一第二浮軌位置之間移動，當該第一活動針板耦接該第一待檢測物時，該浮軌被移動至該第二浮軌位置，當該第一活動針板分離該第一待檢測物時，該浮軌被移動回復至該第一浮軌位置。
3. 如申請專利範圍第2項所述之多層測試機台，其中，該第一軌道單元更包括一復位彈簧，該復位彈簧設於該浮軌與該基座之間，當該浮軌位於該第二浮軌位置時，該復位彈簧對該浮軌提供一彈力，使該浮軌傾向回復至該第一浮軌位置。
4. 如申請專利範圍第3項所述之多層測試機台，其中，該浮軌包括一導柱，該基座包括一通孔，該導柱穿過該通孔，該復位彈簧套設於該導柱之上，該復位彈簧之一端抵接該浮軌，該復位彈簧之另一端抵接該基座。
5. 如申請專利範圍第3項所述之多層測試機台，其中，該浮軌包括一浮軌本體、一浮軌嵌套以及複數個浮軌滾輪，該等浮軌滾輪設於該浮軌嵌套，該浮軌嵌套連接該浮軌本體，該第一載板適於接觸該等浮軌滾輪並於該等浮軌滾輪之上滑動。
6. 如申請專利範圍第5項所述之多層測試機台，其中，該浮軌更包括一浮軌限位肋，該浮軌限位肋設於該浮軌本體，該浮軌限位肋相對於該浮軌本體的高度高於該等浮軌滾輪。
7. 如申請專利範圍第2項所述之多層測試機台，其更包括一機台支架，該第二軌道單元包括一滑軌，該滑軌固接該機台支架。
8. 如申請專利範圍第7項所述之多層測試機台，其中，該滑軌包括一滑軌本體、一滑軌嵌套以及複數個滑軌滾輪，該等滑軌滾輪設於該滑軌嵌套，該滑軌嵌套連接該滑軌本體，該第二載板適於接觸該等滑軌滾輪並於該等滑軌滾輪之上滑動。
9. 如申請專利範圍第8項所述之多層測試機台，其中，該滑軌更包括一滑軌限位肋，該滑軌限位肋設於該滑軌本體，該滑軌限位肋相對於該滑軌本體的高度高於該滑軌滾輪。
10. 如申請專利範圍第7項所述之多層測試機台，其更包括一第一固定針板以及一第二固定針板，該第一固定針板以及該第二固定針板固接該機台支架，該第一固定針板沿該第二方向朝向該第一載板，該第二固定針板沿該第一方向朝向該第二載板。
11. 如申請專利範圍第10項所述之多層測試機台，其中，當該第一活動針板沿該第一方向移動並耦接該第一待檢測物時，該浮軌被移動至該第二浮軌位置，該第一待檢測物並同時耦接該第一固定針板。
12. 如申請專利範圍第11項所述之多層測試機台，其中，當該第二活動針板沿該第二方向移動並耦接該第二待檢測物時，該第二待檢測物被抬起並同時耦接該第二固定針板。
13. 如申請專利範圍第1項所述之多層測試機台，其更包括一第一汽缸以及一第二汽缸，該第一汽缸適於推動該第一活動針板，該第二汽缸適於推動該第二活動針板。
14. 一種測試設備，用以對一第一待檢測物以及一第二待檢測物進行檢測，包括： 一多層測試機台，包括： 一第一軌道單元； 一第一載板，呈放該第一待檢測物，該第一載板置於該第一軌道單元； 一第一活動針板，適於沿一第一方向移動並耦接該第一待檢測物，以對該第一待檢測物進行檢測； 一第二軌道單元； 一第二載板，呈放該第二待檢測物，該第二載板置於該第二軌道單元；以及 一第二活動針板，適於沿一第二方向移動並耦接該第二待檢測物，以對該第二待檢測物進行檢測，該第一方向相反於該第二方向；以及 一接駁台，適於將該第一載板於該第一軌道單元進行取放，並適於將該第二載板於該第二軌道單元進行取放。
15. 如申請專利範圍第14項所述之測試設備，其中，該接駁台包括一台座、一第一移動模組、一第二移動模組以及一夾持單元，該台座連接該第一移動模組並透過該第一移動模組沿一垂直方向移動，該第二移動模組設於該台座，該夾持單元連接該第二移動模組並透過該第二移動模組沿一水平方向移動，該夾持單元適於以可選擇的方式夾持該第一載板以及該第二載板。
16. 如申請專利範圍第15項所述之測試設備，其中，該夾持單元包括一電磁鐵，該電磁鐵適於吸附及釋放該第一載板以及該第二載板。
17. 如申請專利範圍第14項所述之測試設備，其中，該第一軌道單元包括一浮軌以及一基座，該浮軌相對該基座於一第一浮軌位置以及一第二浮軌位置之間移動，當該第一活動針板耦接該第一待檢測物時，該浮軌被移動至該第二浮軌位置，當該第一活動針板分離該第一待檢測物時，該浮軌被移動回復至該第一浮軌位置。
18. 如申請專利範圍第17項所述之測試設備，其中，該多層測試機台更包括一機台支架，該第二軌道單元包括一滑軌，該滑軌固接該機台支架。
19. 如申請專利範圍第18項所述之測試設備，其中，該多層測試機台更包括一第一固定針板以及一第二固定針板，該第一固定針板以及該第二固定針板固接該機台支架，該第一固定針板沿該第二方向朝向該第一載板，該第二固定針板沿該第一方向朝向該第二載板。
20. 如申請專利範圍第19項所述之測試設備，其中，當該第一活動針板沿該第一方向移動並耦接該第一待檢測物時，該浮軌被移動至該第二浮軌位置，該第一待檢測物並同時耦接該第一固定針板，當該第二活動針板沿該第二方向移動並耦接該第二待檢測物時，該第二待檢測物被抬起並同時耦接該第二固定針板。