TWM564710U - Detection Systems - Google Patents

Abstract

一種檢測系統包含：線掃描相機、運載裝置、遮光單元、光源裝置，其間隔地設置於同一軸線上。線掃描相機用以掃描待測件以產生掃描資訊；光源裝置作為掃描用光源。遮光單元可選擇性地改變進入線掃描相機的光量。運載裝置用以運載待測件。處理裝置能接受掃描資訊，據以產生多個位置資料及亮度資料，且能依據預設資料比對各個亮度資料，以選擇性地產生警示訊號。遮光單元未遮蔽光源裝置時，進入線掃描相機的光量定義為1；遮光單元遮蔽部分的光源裝置時，進入線掃描相機的光量不大於1/2。如此，可檢測出待測件的表面平整度或厚度變化。

Description

檢測系統

本創作涉及一種檢測系統，特別是一種用以檢測待測件的表面平整度或厚度變化的檢測系統。

對於薄膜的相關製造或是應用廠商而言，如何有效地對薄膜進行表面平整度或厚度變化的檢測，是最重要的問題之一。現今常見的薄膜表面平整度及厚度變化的檢測設備，結構多為複雜且昂貴。為此，對於相關廠商而言，如何以相對簡單的結構及相對較低的成本，進行薄膜的檢測成為的最重要的課題。

緣此，本創作人乃潛心研究並配合學理的運用，而提出一種設計合理且有效改善上述問題的本創作。

本創作的主要目的在於提供一種檢測系統，用以解決現有技術中，薄膜的表面平整度或厚度的檢測設備，結構複雜、成本高的問題。

為了實現上述目的，本創作提供一種檢測系統，其包含：一線掃描相機、一光源裝置、一遮光單元、一運載裝置及一處理裝置。線掃描相機用以擷取一待檢測件的表面影像，以對應產生一掃描資訊。光源裝置設置於線掃描相機的下方，光源裝置包含有一出光面，出光面面對線掃描相機設置。遮光單元設置於所述光源裝置，且所述遮光單元對應遮蔽由所述出光面射出的部份光束。運載裝置設置於線掃描相機及光源裝置之間，運載裝置用以運載待檢測件。處理裝置電性連接線掃描相機，處理裝置能接受 掃描資訊，並依據掃描資訊對應產生多個位置資料及相對應的多個亮度資料；其中，處理裝置能依據一預設資料，比對各個亮度資料，以選擇性地產生一警示訊號。其中，遮光單元未遮蔽光源裝置時，通過出光面而進入線掃描相機的光量定義為1；遮光單元遮蔽部分的出光面時，通過未被遮蔽的出光面而進入線掃描相機的光量不大於1/2。

為了實現上述目的，本創作提供一種檢測系統，其包含：一線掃描相機、一光源裝置、一運載裝置及一處理裝置。線掃描相機用以擷取一待檢測件的表面影像，以對應產生一掃描資訊。光源裝置設置於線掃描相機的下方，光源裝置包含有一出光面，出光面的部份面對線掃描相機設置。運載裝置設置於線掃描相機及光源裝置之間，運載裝置用以運載待檢測件。處理裝置電性連接線掃描相機，處理裝置能接受掃描資訊，並依據掃描資訊對應產生多個位置資料及相對應的多個亮度資料；其中，處理裝置能依據一預設資料，比對各個亮度資料，以選擇性地產生一警示訊號。其中，通過出光面射出的光量定義為1；通過出光面而對應進入線掃描相機的光量不大於1/2。

本創作的有益效果可以在於：使用者可以透過改變遮光單元遮蔽出光面的部分，據以透過線掃描相機及處理裝置的配合，而可利用光量的變化，從而判斷待檢測件表面的平整狀況或表面塗佈的厚度。另外，本創作的檢測系統整體結構簡單、成本相對較低。

為使能更進一步瞭解本創作的特徵及技術內容，請參閱以下有關本創作的詳細說明與附圖，然而所附圖式僅提供參考與說明用，並非用來對本創作加以限制者。

1‧‧‧檢測系統

10‧‧‧線掃描相機

101‧‧‧掃描資訊

20‧‧‧光源裝置

21‧‧‧第一調整結構

201‧‧‧出光面

30‧‧‧遮光單元

301‧‧‧遮蔽部

302‧‧‧固定部

31‧‧‧第二調整結構

40‧‧‧運載裝置

50‧‧‧處理裝置

501‧‧‧位置資料

502‧‧‧亮度資料

503‧‧‧預設資料

504‧‧‧警示訊號

60‧‧‧警示模組

70‧‧‧顯示裝置

80‧‧‧連動裝置

90‧‧‧輸入裝置

901‧‧‧輸入資訊

A‧‧‧待檢測件

S‧‧‧鎖固件

圖1為本創作的檢測系統的示意圖。

圖2為本創作的檢測系統的方塊示意圖。

圖3為本創作的檢測系統的其中一實施例的分解示意圖。

圖4為圖3的組裝示意圖。

圖5為本創作的檢測系統的另一實施例的示意圖。

圖6為本創作的檢測系統所輸出的灰階圖。

圖7為本創作的檢測系統的又一實施例的方塊示意圖。

圖8為本創作的檢測系統的再一實施例的示意圖。

以下係藉由特定的具體實例說明本創作之檢測系統的實施方式，熟悉此技術之人士可由本說明書所揭示之內容輕易地瞭解本創作之其他優點與功效。本創作亦可藉由其他不同的具體實例加以施行或應用，本說明書中的各項細節亦可基於不同觀點與應用，在不悖離本創作之精神下進行各種修飾與變更。又本創作之圖式僅為簡單說明，並非依實際尺寸描繪，亦即未反應出相關構成之實際尺寸，先予敘明。以下之實施方式係進一步詳細說明本創作之觀點，但並非以任何觀點限制本創作之範疇。

請一併參閱圖1及圖2，其為本創作的檢測系統的示意圖。如圖所示，檢測系統1包含有一線掃描相機10、一光源裝置20、一遮光單元30、一運載裝置40及一處理裝置50。線掃描相機10用以擷取一待檢測件A的表面影像，以對應產生一掃描資訊101。線掃描相機10的相關規格，可依據實際需求加以選擇，於此不加以限制。

光源裝置20設置於線掃描相機10的下方，光源裝置20包含有一出光面201，出光面201面對線掃描相機10設置，而光源裝置20所產生的光束能通過出光面201進入線掃描相機10，以作為線掃描相機10擷取待檢測件A的光源。在實際應用中，光源裝置20可以是包含有多個發光二極體及導光板，多個發光二極體所發出的光束能通過導光板的作用，而均勻地由出光面201射出；當然，光源裝置20不侷限於利用發光二極體作產生光束。

遮光單元30可活動地設置於光源裝置20，而可選擇性地遮蔽部分的出光面201，以選擇性地改變進入線掃描相機10的光量。遮光單元30例如可以是鋼板、低透光或不透光膠帶、或是任何低透光或不透光的構件，於此不加以限制。如圖3所示，在實際應用中，光源裝置20鄰近於出光面201的兩側可以是具有一第一調整結構21，而遮光單元30的兩側則可以是對應具有一第二調整結構31，藉此，遮光單元30能透過第一調整結構21、第二調整結構31及多個鎖固件S的相互配合，而固定設置於光源裝置20，並據以選擇性地遮蔽光源裝置20的出光面201。於圖3的實施例中，使用者可以是透過調整第一調整結構21、第二調整結構31及所述鎖固件S彼此間的相對位置，以調整遮光單元30遮蔽出光面201的面積。

在實際應用中，第一調整結構21及第二調整結構31可以是包含有有多個彼此間隔設置的穿孔，且第一調整結構21的多個穿孔可以是與第二調整結構31的多個穿孔，彼此位置相對地設置。其中，各個穿孔的數量及彼此間的間距，則可依據需求加以變化，圖中所繪示的穿孔數量、大小、間隔僅為示範態樣，並不以此為限。在不同的實施例中，第一調整結構21及第二調整結構31例如可以是滑軌及滑塊的配合方式，或者其他任意可彼此相對活動的組件，而使用者可以更快速地、更方便地改變遮光單元30遮蔽出光面201的面積。在實際應用中，第一調整結構21及第二調整結構31可以是可拆卸地固定設置於光源裝置20，如此，可以是透過設計第一調整結構21及第二調整結構31固定設置於光源裝置20的相關結構，而使第一調整結構21及第二調整結構31可以固定設置於不同尺寸的光源裝置20。

如圖4所示，在另外的實施例中，檢測系統1可以是包含有多個遮光單元30(圖中僅繪示其中一個遮光單元30)。各個遮光單元30可以是呈現為L型結構，而各個遮光單元30可以是包含有 一遮蔽部301及一固定部302，各個遮光單元30固定設置於光源裝置20時，固定部302對應固定設置於光源裝置20，遮蔽部301則對應遮蔽出光面201的部分。其中，多個遮光單元30的遮蔽部301的面積彼此不同。如此，使用者可以安裝不同的遮光單元30於光源裝置20，以改變遮光單元30遮蔽光源裝置20的出光面201的面積。

運載裝置40設置於線掃描相機10及光源裝置20之間，運載裝置40用以運載所述待檢測件A。運載裝置40可以是任何可使待檢測件A逐步於前進的裝置，於此不加以限制。

處理裝置50電性連接線掃描相機10，處理裝置50能接受掃描資訊101，並依據掃描資訊101對應產生多個位置資料501及相對應的多個亮度資料502。處理裝置50能依據一預設資料503，比對各個亮度資料502，以選擇性地產生一警示訊號504。在較佳的應用中，檢測系統1更可以包含有一顯示裝置70，處理裝置50可以是電性連接顯示裝置70，而顯示裝置70則能對應顯示多個位置資料501及亮度資料502，例如可以是以灰階圖的方式呈現。

進一步來說，遮光單元30未遮蔽光源裝置20時，通過出光面201而進入線掃描相機10的光量定義為1；遮光單元30設置於光源裝置20，並遮蔽部分的出光面201時，通過出光面201而進入線掃描相機10的光量不大於1/2。當待檢測件A的厚度或是表面不平整時，線掃描相機10將接受明顯不同的光量，據此處理裝置50於相對應的位置，將接收到明顯不同的亮度值。如此，相關使用者即可透過處理裝置50所呈現出的亮度資料502，而瞭解待檢測件的表面平整度或厚度變化。

更具體來說，在遮光單元30未遮蔽待檢測件A的狀態下，處理裝置50所產生的多個亮度資料502，以灰階值來說，可能大致皆會落在255，因此，相關使用者並無法據以看出待檢測件A的表面平整度或厚度的變化。而，當遮光單元30遮蔽光源裝置20 的部分出光面201時，在表面平整的狀態下，處理裝置50所產生的亮度資料502，以灰階值來說可能是128，而線掃描相機10掃描到表面不平整處時，處理裝置50所對應產生的亮度資料502，以灰階值來說可能變為200；藉此，使用者即可透過亮度資料502的變化，而瞭解待檢測件A的表面平整度或是厚度變化。

請參閱圖5，在不同實施例中，檢測系統1更包含有一警示模組60、一連動裝置80及一輸入裝置90。警示模組60電性連接處理裝置50，警示模組60能接收警示訊號504，以對應產生聲音、燈光的其中之一或其組合。在不同的應用中，所述警示模組60亦可以是電性連接顯示裝置70，而可對應於顯示畫面中顯示相關的警示訊號。

連動裝置80電性連接處理裝置50，且連動裝置80、遮光單元30及光源裝置20彼此相互連接。而，處理裝置50能透過連動裝置80控制遮光單元30，以調整遮光單元30遮蔽出光面201的面積。關於連動裝置80、遮光單元30與光源裝置20彼此間的連接方式，可依據需求加以變化，例如可以是線軌模組等，於此不加以限制。

輸入裝置90電性連接處理裝置50，處理裝置50能依據輸入裝置90所傳遞的一輸入資訊901，對應控制連動裝置80，以對應調整遮光單元30遮蔽出光面201的面積。換句話說，使用者可以是透過輸入裝置90，以控制遮光單元30相對於光源裝置20作動，據以改變遮光單元30遮蔽出光面201的面積。當然，在較佳的應用中，處理裝置50能對應於顯示裝置70中，顯示輸入裝置90所輸入的相關數值，以便使用者操作控制。

請參閱圖8，其為本創作的檢測系統的再一實施例的示意圖。如圖所示，本實施例與前述實施例最大差異在於，檢測系統1可以是不包含有遮光單元30，而通過出光面201射出的光束只有不大於二分之一的量進入線掃描相機10。亦即，通過出光面201射 出的光量定義為1，則通過出光面201而進入線掃描相機10的光量是小於1/2。在實際應用中，可以是使線掃描相機10的擷取鏡頭(圖未標示)不是對應設置於出光面201的正上方，而使線掃描相機10的可擷取的影像範圍，僅有一半是對應落在出光面201。如此，線掃描相機10在檢測的過程中，所對應擷取的影像，其亮度將普遍偏低；但，當待檢測件A存在有缺陷時，通過出光面201的光束將可能被缺陷(例如厚度不均、表面塗佈不均)折射，而使得線掃描相機10擷取到更多的光量，從而使得線掃描相機10所擷取的影像在特定位置的亮度提升，藉此，可有效地檢測出待檢測件A的何處存在有缺陷。

綜合上述，使用者可以透過改變遮光單元遮蔽出光面的部分，據以透過線掃描相機及處理裝置的配合，而可利用光量的變化，從而判斷待檢測件表面的平整狀況或表面塗佈的厚度。

以上所述僅為本創作的較佳可行實施例，非因此侷限本創作的專利範圍，故舉凡運用本創作說明書及圖式內容所做的等效技術變化，均包含於本創作的保護範圍內。

Claims (10)

1. 一種檢測系統，其包含：一線掃描相機，其用以擷取一待檢測件的表面影像，以對應產生一掃描資訊；一光源裝置，設置於所述線掃描相機的下方，所述光源裝置包含有一出光面，所述出光面面對所述線掃描相機設置；一遮光單元，其設置於所述光源裝置，且所述遮光單元對應遮蔽由所述出光面射出的部份光束；一運載裝置，其設置於所述線掃描相機及所述光源裝置之間，所述運載裝置用以運載所述待檢測件；以及一處理裝置，其電性連接所述線掃描相機，所述處理裝置能接受所述掃描資訊，並依據所述掃描資訊對應產生多個位置資料及相對應的多個亮度資料；其中，所述處理裝置能依據一預設資料，比對各個所述亮度資料，以選擇性地產生一警示訊號；其中，所述遮光單元未遮蔽所述光源裝置時，通過所述出光面而進入所述線掃描相機的光量定義為1；所述遮光單元遮蔽部分的所述出光面時，通過未被遮蔽的所述出光面而進入所述線掃描相機的光量不大於1/2。
2. 如請求項1所述的檢測系統，其中，所述檢測系統更包含有一警示模組，其電性連接所述處理裝置，所述警示模組能接收所述警示訊號，以對應產生聲音、燈光的其中之一或其組合。
3. 如請求項1所述的檢測系統，其中，所述檢測系統更包含有一顯示裝置，其電性連接所述處理裝置，所述顯示裝置能接受並顯示多個所述位置資料及多個所述亮度資料。
4. 如請求項1所述的檢測系統，其中，所述檢測系統更包含有一連動裝置，其電性連接所述處理裝置及所述遮光單元，所述處理裝置能透過所述連動裝置控制所述遮光單元，以調整所述遮光單元遮蔽所述出光面的面積。
5. 如請求項4所述的檢測系統，其中，所述檢測系統更包含有一輸入裝置，其電性連接所述處理裝置，所述處理裝置能依據所述輸入裝置所傳遞的一輸入資訊，對應控制所述連動裝置，以對應調整所述遮光單元遮蔽所述出光面的面積。
6. 如請求項1所述的檢測系統，其中，所述遮光單元可拆卸地固定設置於所述光源裝置。
7. 如請求項6所述的檢測系統，其中，所述光源裝置的彼此相對的兩端分別具有一第一調整結構，所述遮光單元的彼此相對的兩端分別具有一第二調整結構，所述遮光單元能透過多個鎖固件、所述第一調整結構及所述第二調整結構的相互配合，而固定設置於所述光源裝置，並選擇性地調整所述遮光單元遮蔽所述出光面的面積。
8. 如請求項7所述的檢測系統，其中，所述第一調整結構及所述第二調整結構分別包含有多個穿孔，所述第一調整結構的多個所述穿孔彼此間隔地設置，所述第二調整結構的多個所述穿孔彼此間隔地設置，且所述第一調整結構的多個所述穿孔與所述第二調整結構的多個所述穿孔，彼此位置相對地設置。
9. 如請求項6所述的檢測系統，其中，所述檢測系統包含有多個所述遮光單元，各個所述遮光單元為L型構件，各個所述遮光單元包含有一固定部及一遮蔽部；各個所述遮光單元固定設置於所述光源裝置時，所述固定部對應固定設置於所述 光源裝置，所述遮蔽部對應遮蔽所述出光面的部分；其中，多個所述遮光單元的遮蔽部的面積彼此不同。
10. 一種檢測系統，其包含：一線掃描相機，其用以擷取一待檢測件的表面影像，以對應產生一掃描資訊；一光源裝置，設置於所述線掃描相機的下方，所述光源裝置包含有一出光面，所述出光面的部份面對所述線掃描相機設置；一運載裝置，其設置於所述線掃描相機及所述光源裝置之間，所述運載裝置用以運載所述待檢測件；以及一處理裝置，其電性連接所述線掃描相機，所述處理裝置能接受所述掃描資訊，並依據所述掃描資訊對應產生多個位置資料及相對應的多個亮度資料；其中，所述處理裝置能依據一預設資料，比對各個所述亮度資料，以選擇性地產生一警示訊號；其中，通過所述出光面射出的光量定義為1；通過所述出光面而對應進入線掃描相機的光量不大於1/2。