CN207439372U - 检测系统 - Google Patents
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Abstract
一种检测系统包含:线扫描相机、运载装置、遮光单元、光源装置,其间隔地设置于同一轴在线。线扫描相机用以扫描待测件以产生扫描信息;光源装置作为扫描用光源。遮光单元可选择性地改变进入线扫描相机的光量。运载装置用以运载待测件。处理装置能接受扫描信息,据以产生多个位置资料及亮度资料,且能依据默认资料比对各个亮度资料,以选择性地产生警示信号。遮光单元未遮蔽光源装置时,进入线扫描相机的光量定义为1;遮光单元遮蔽部分的光源装置时,进入线扫描相机的光量不大于1/2。如此,可检测出待测件的表面平整度或厚度变化。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种检测系统,特别是一种用以检测待测件的表面平整度或厚度变化的检测系统。
背景技术
对于薄膜的相关制造或是应用厂商而言,如何有效地对薄膜进行表面平整度或厚度变化的检测,是最重要的问题之一。现今常见的薄膜表面平整度及厚度变化的检测设备,结构多为复杂且昂贵。为此,对于相关厂商而言,如何以相对简单的结构及相对较低的成本,进行薄膜的检测成为的最重要的课题。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提供一种检测系统,用以解决现有技术中,薄膜的表面平整度或厚度的检测设备,结构复杂、成本高的问题。
为了实现上述目的,本实用新型提供一种检测系统,其包含:一线扫描相机、一光源装置、一遮光单元、一运载装置及一处理装置。线扫描相机用以撷取一待检测件的表面影像,以对应产生一扫描信息。光源装置设置于线扫描相机的下方,光源装置包含有一出光面,出光面面对线扫描相机设置。遮光单元设置于所述光源装置,且所述遮光单元对应遮蔽由所述出光面射出的部分光束。运载装置设置于线扫描相机及光源装置之间,运载装置用以运载待检测件。处理装置电性连接线扫描相机,处理装置能接受扫描信息,并依据扫描信息对应产生多个位置资料及相对应的多个亮度资料;其中,处理装置能依据一默认资料,比对各个亮度资料,以选择性地产生一警示信号。其中,遮光单元未遮蔽光源装置时,通过出光面而进入线扫描相机的光量定义为1;遮光单元遮蔽部分的出光面时,通过未被遮蔽的出光面而进入线扫描相机的光量不大于1/2。
优选地,检测系统还包含有一警示模块,其电性连接处理装置,警示模块能接收警示信号,以对应产生声音、灯光的其中之一或其组合。
优选地,检测系统还包含有一显示设备,其电性连接处理装置,显示设备能接受并显示多个位置资料及多个亮度资料。
优选地,检测系统还包含有一连动装置,其电性连接处理装置及遮光单元,处理装置能通过连动装置控制遮光单元,以调整遮光单元遮蔽出光面的面积。
优选地,检测系统还包含有一输入设备,其电性连接处理装置,处理装置能依据输入设备所传递的一输入信息,对应控制连动装置,以对应调整遮光单元遮蔽出光面的面积。
优选地,遮光单元能拆卸地固定设置于光源装置。
优选地,光源装置的彼此相对的两端分别具有一第一调整结构,遮光单元的彼此相对的两端分别具有一第二调整结构,遮光单元能通过多个锁固件、第一调整结构及第二调整结构的相互配合,而固定设置于光源装置,并选择性地调整遮光单元遮蔽出光面的面积。
优选地,第一调整结构及第二调整结构分别包含有多个穿孔,第一调整结构的多个穿孔彼此间隔地设置,第二调整结构的多个第二调整结构的多个穿孔彼此间隔地设置,且第一调整结构的多个穿孔与第二调整结构的多个穿孔彼此位置相对地设置。
优选地,检测系统包含有多个遮光单元,各个遮光单元为L型构件,各个遮光单元包含有一固定部及一遮蔽部;各个遮光单元固定设置于光源装置时,固定部对应固定设置于光源装置,遮蔽部对应遮蔽出光面的部分;其中,多个遮光单元的遮蔽部的面积彼此不同。
为了实现上述目的,本实用新型提供一种检测系统,其包含:一线扫描相机、一光源装置、一运载装置及一处理装置。线扫描相机用以撷取一待检测件的表面影像,以对应产生一扫描信息。光源装置设置于线扫描相机的下方,光源装置包含有一出光面,出光面的部分面对线扫描相机设置。运载装置设置于线扫描相机及光源装置之间,运载装置用以运载待检测件。处理装置电性连接线扫描相机,处理装置能接受扫描信息,并依据扫描信息对应产生多个位置资料及相对应的多个亮度资料;其中,处理装置能依据一默认资料,比对各个亮度资料,以选择性地产生一警示信号。其中,通过出光面射出的光量定义为1;通过出光面而对应进入线扫描相机的光量不大于1/2。
本实用新型的有益效果可以在于:用户可以通过改变遮光单元遮蔽出光面的部分,据以通过线扫描相机及处理装置的配合,而可利用光量的变化,从而判断待检测件表面的平整状况或表面涂布的厚度。另外,本实用新型的检测系统整体结构简单、成本相对较低。
附图说明
图1为本实用新型的检测系统的示意图。
图2为本实用新型的检测系统的方块示意图。
图3为本实用新型的检测系统的其中一实施例的分解示意图。
图4为图3的组装示意图。
图5为本实用新型的检测系统的另一实施例的示意图。
图6为本实用新型的检测系统所输出的灰阶图。
图7为本实用新型的检测系统的又一实施例的方块示意图。
图8为本实用新型的检测系统的再一实施例的示意图。
具体实施方式
请一并参阅图1及图2,其为本实用新型的检测系统的示意图。如图所示,检测系统1包含有一线扫描相机10、一光源装置20、一遮光单元30、一运载装置40及一处理装置50。线扫描相机10用以撷取一待检测件A的表面影像,以对应产生一扫描信息101。线扫描相机10的相关规格,可依据实际需求加以选择,于此不加以限制。
光源装置20设置于线扫描相机10的下方,光源装置20包含有一出光面201,出光面201面对线扫描相机10设置,而光源装置20所产生的光束能通过出光面201进入线扫描相机10,以作为线扫描相机10撷取待检测件A的光源。在实际应用中,光源装置20可以是包含有多个发光二极管及导光板,多个发光二极管所发出的光束能通过导光板的作用,而均匀地由出光面201射出;当然,光源装置20不局限于利用发光二极管作产生光束。
遮光单元30可活动地设置于光源装置20,而可选择性地遮蔽部分的出光面201,以选择性地改变进入线扫描相机10的光量。遮光单元30例如可以是钢板、低透光或不透光胶带、或是任何低透光或不透光的构件,于此不加以限制。如图3所示,在实际应用中,光源装置20邻近于出光面201的两侧可以是具有一第一调整结构21,而遮光单元30的两侧则可以是对应具有一第二调整结构31,借此,遮光单元30能通过第一调整结构21、第二调整结构31及多个锁固件S的相互配合,而固定设置于光源装置20,并据以选择性地遮蔽光源装置20的出光面201。于图3的实施例中,使用者可以是通过调整第一调整结构21、第二调整结构31及所述锁固件S彼此间的相对位置,以调整遮光单元30遮蔽出光面201的面积。
在实际应用中,第一调整结构21及第二调整结构31可以是包含有有多个彼此间隔设置的穿孔,且第一调整结构21的多个穿孔可以是与第二调整结构31的多个穿孔彼此位置相对地设置。其中,各个穿孔的数量及彼此间的间距,则可依据需求加以变化,图中所绘示的穿孔数量、大小、间隔仅为示范态样,并不以此为限。在不同的实施例中,第一调整结构21及第二调整结构31例如可以是滑轨及滑块的配合方式,或者其他任意可彼此相对活动的组件,而用户可以还快速地、还方便地改变遮光单元30遮蔽出光面201的面积。在实际应用中,第一调整结构21及第二调整结构31可以是能拆卸地固定设置于光源装置20,如此,可以是通过设计第一调整结构21及第二调整结构31固定设置于光源装置20的相关结构,而使第一调整结构21及第二调整结构31可以固定设置于不同尺寸的光源装置20。
如图4所示,在另外的实施例中,检测系统1可以是包含有多个遮光单元30(图中仅绘示其中一个遮光单元30)。各个遮光单元30可以是呈现为L型结构,而各个遮光单元30可以是包含有一遮蔽部301及一固定部302,各个遮光单元30固定设置于光源装置20时,固定部302对应固定设置于光源装置20,遮蔽部301则对应遮蔽出光面201的部分。其中,多个遮光单元30的遮蔽部301的面积彼此不同。如此,用户可以安装不同的遮光单元30于光源装置20,以改变遮光单元30遮蔽光源装置20的出光面201的面积。
运载装置40设置于线扫描相机10及光源装置20之间,运载装置40用以运载所述待检测件A。运载装置40可以是任何可使待检测件A逐步于前进的装置,于此不加以限制。
处理装置50电性连接线扫描相机10,处理装置50能接受扫描信息101,并依据扫描信息101对应产生多个位置资料501及相对应的多个亮度资料502。处理装置50能依据一默认资料503,比对各个亮度资料502,以选择性地产生一警示信号504。在较佳的应用中,检测系统1还可以包含有一显示设备70,处理装置50可以是电性连接显示设备70,而显示设备70则能对应显示多个位置资料501及亮度资料502,例如可以是以灰阶图的方式呈现。
进一步来说,遮光单元30未遮蔽光源装置20时,通过出光面201而进入线扫描相机10的光量定义为1;遮光单元30设置于光源装置20,并遮蔽部分的出光面201时,通过出光面201而进入线扫描相机10的光量不大于1/2。当待检测件A的厚度或是表面不平整时,线扫描相机10将接受明显不同的光量,据此处理装置50于相对应的位置,将接收到明显不同的亮度值。如此,相关用户即可通过处理装置50所呈现出的亮度资料502,而了解待检测件的表面平整度或厚度变化。
还具体来说,在遮光单元30未遮蔽待检测件A的状态下,处理装置50所产生的多个亮度资料502,以灰阶值来说,可能大致皆会落在255,因此,相关使用者并无法据以看出待检测件A的表面平整度或厚度的变化。而,当遮光单元30遮蔽光源装置20的部分出光面201时,在表面平整的状态下,处理装置50所产生的亮度资料502,以灰阶值来说可能是128,而线扫描相机10扫描到表面不平整处时,处理装置50所对应产生的亮度资料502,以灰阶值来说可能变为200;借此,用户即可通过亮度资料502的变化,而了解待检测件A的表面平整度或是厚度变化。
请参阅图5,在不同实施例中,检测系统1还包含有一警示模块60、一连动装置80及一输入设备90。警示模块60电性连接处理装置50,警示模块60能接收警示信号504,以对应产生声音、灯光的其中之一或其组合。在不同的应用中,所述警示模块60亦可以是电性连接显示设备70,而可对应于显示画面中显示相关的警示信号。
连动装置80电性连接处理装置50,且连动装置80、遮光单元30及光源装置20彼此相互连接。而,处理装置50能通过连动装置80控制遮光单元30,以调整遮光单元30遮蔽出光面201的面积。关于连动装置80、遮光单元30与光源装置20彼此间的连接方式,可依据需求加以变化,例如可以是线轨模块等,于此不加以限制。
输入设备90电性连接处理装置50,处理装置50能依据输入设备90所传递的一输入信息901,对应控制连动装置80,以对应调整遮光单元30遮蔽出光面201的面积。换句话说,使用者可以是通过输入设备90,以控制遮光单元30相对于光源装置20作动,据以改变遮光单元30遮蔽出光面201的面积。当然,在较佳的应用中,处理装置50能对应于显示设备70中,显示输入设备90所输入的相关数值,以便使用者操作控制。
请参阅图8,其为本实用新型的检测系统的再一实施例的示意图。如图所示,本实施例与前述实施例最大差异在于,检测系统1可以是不包含有遮光单元30,而通过出光面201射出的光束只有不大于二分之一的量进入线扫描相机10。亦即,通过出光面201射出的光量定义为1,则通过出光面201而进入线扫描相机10的光量是小于1/2。在实际应用中,可以是使线扫描相机10的撷取镜头(图未标示)不是对应设置于出光面201的正上方,而使线扫描相机10的可撷取的影像范围,仅有一半是对应落在出光面201。如此,线扫描相机10在检测的过程中,所对应撷取的影像,其亮度将普遍偏低;但,当待检测件A存在有缺陷时,通过出光面201的光束将可能被缺陷(例如厚度不均、表面涂布不均)折射,而使得线扫描相机10撷取到还多的光量,从而使得线扫描相机10所撷取的影像在特定位置的亮度提升,借此,可有效地检测出待检测件A的何处存在有缺陷。
综合上述,用户可以通过改变遮光单元遮蔽出光面的部分,据以通过线扫描相机及处理装置的配合,而可利用光量的变化,从而判断待检测件表面的平整状况或表面涂布的厚度。
Claims (10)
1.一种检测系统,其特征在于,所述检测系统包含:
一线扫描相机,用以撷取一待检测件的表面影像,以对应产生一扫描信息;
一光源装置,设置于所述线扫描相机的下方,所述光源装置包含有一出光面,所述出光面面对所述线扫描相机设置;
一遮光单元,设置于所述光源装置,且所述遮光单元对应遮蔽由所述出光面射出的部分光束;
一运载装置,设置于所述线扫描相机及所述光源装置之间,所述运载装置用以运载所述待检测件;以及
一处理装置,电性连接所述线扫描相机,所述处理装置能接受所述扫描信息,并依据所述扫描信息对应产生多个位置资料及相对应的多个亮度资料;其中,所述处理装置能依据一默认资料,比对各个所述亮度资料,以选择性地产生一警示信号;
其中,所述遮光单元未遮蔽所述光源装置时,通过所述出光面而进入所述线扫描相机的光量定义为1;所述遮光单元遮蔽部分的所述出光面时,通过未被遮蔽的所述出光面而进入所述线扫描相机的光量不大于1/2。
2.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,所述检测系统还包含有一警示模块,其电性连接所述处理装置,所述警示模块能接收所述警示信号,以对应产生声音、灯光的其中之一或其组合。
3.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,所述检测系统还包含有一显示设备,其电性连接所述处理装置,所述显示设备能接受并显示多个所述位置资料及多个所述亮度资料。
4.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,所述检测系统还包含有一连动装置,其电性连接所述处理装置及所述遮光单元,所述处理装置能通过所述连动装置控制所述遮光单元,以调整所述遮光单元遮蔽所述出光面的面积。
5.根据权利要求4所述的检测系统,其特征在于,所述检测系统还包含有一输入设备,其电性连接所述处理装置,所述处理装置能依据所述输入设备所传递的一输入信息,对应控制所述连动装置,以对应调整所述遮光单元遮蔽所述出光面的面积。
6.根据权利要求1所述的检测系统,其特征在于,所述遮光单元能拆卸地固定设置于所述光源装置。
7.根据权利要求6所述的检测系统,其特征在于,所述光源装置的彼此相对的两端分别具有一第一调整结构,所述遮光单元的彼此相对的两端分别具有一第二调整结构,所述遮光单元能通过多个锁固件、所述第一调整结构及所述第二调整结构的相互配合,而固定设置于所述光源装置,并选择性地调整所述遮光单元遮蔽所述出光面的面积。
8.根据权利要求7所述的检测系统,其特征在于,所述第一调整结构及所述第二调整结构分别包含有多个穿孔,所述第一调整结构的多个所述穿孔彼此间隔地设置,所述第二调整结构的多个所述第二调整结构的多个所述穿孔彼此间隔地设置,且所述第一调整结构的多个所述穿孔与所述第二调整结构的多个所述穿孔彼此位置相对地设置。
9.根据权利要求6所述的检测系统,其特征在于,所述检测系统包含有多个所述遮光单元,各个所述遮光单元为L型构件,各个所述遮光单元包含有一固定部及一遮蔽部;各个所述遮光单元固定设置于所述光源装置时,所述固定部对应固定设置于所述光源装置,所述遮蔽部对应遮蔽所述出光面的部分;其中,多个所述遮光单元的遮蔽部的面积彼此不同。
10.一种检测系统,其特征在于,所述检测系统包含:
一线扫描相机,其用以撷取一待检测件的表面影像,以对应产生一扫描信息;
一光源装置,设置于所述线扫描相机的下方,所述光源装置包含有一出光面,所述出光面的部分面对所述线扫描相机设置;
一运载装置,其设置于所述线扫描相机及所述光源装置之间,所述运载装置用以运载所述待检测件;以及
一处理装置,其电性连接所述线扫描相机,所述处理装置能接受所述扫描信息,并依据所述扫描信息对应产生多个位置资料及相对应的多个亮度资料;其中,所述处理装置能依据一默认资料,比对各个所述亮度资料,以选择性地产生一警示信号;
其中,通过所述出光面射出的光量定义为1;通过所述出光面而对应进入线扫描相机的光量不大于1/2。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201721197035.4U CN207439372U (zh) | 2017-09-18 | 2017-09-18 | 检测系统 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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Family
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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CN201721197035.4U Active CN207439372U (zh) | 2017-09-18 | 2017-09-18 | 检测系统 |
Country Status (1)
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI699513B (zh) * | 2019-04-11 | 2020-07-21 | 大陸商業成科技(成都)有限公司 | 檢測治具及檢測系統 |
CN117201684A (zh) * | 2023-02-24 | 2023-12-08 | 无锡宇宁智能科技有限公司 | 激光定位灯亮灭控制机构及相应的激光定位扫描装置 |
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2017
- 2017-09-18 CN CN201721197035.4U patent/CN207439372U/zh active Active
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