TWM562969U - 瑕疵品標示裝置 - Google Patents

Abstract

本創作提供一種瑕疵品標示裝置，包括：一工作站電腦，包含一螢幕，該工作站電腦從一自動檢測機電腦接收複數個待測物之瑕疵檢測，並由該螢幕顯示該等待測物之瑕疵檢測；一發光裝置，包含複數個發光單元，該發光裝置從該工作站電腦接收複數個訊號，以驅動該等發光單元，該等訊號分別關於該等待測物之瑕疵品；以及，一外框機構，固定一放置該等待測物之待測托盤，並界定該待測托盤上的該等待測物與該發光裝置的該等發光單元之間的對應位置。

Description

瑕疵品標示裝置

本創作係關於一種瑕疵品標示裝置，更明確地說明，本創作是一種在目視覆判檢測過程在待測托盤上標示瑕疵品位置之瑕疵品標示裝置。

消費電子產品的輕薄短小需求，相關的電路板檢測機台所要檢出的電子元件缺陷也越來越多樣，為了需要檢出這些不同種類的缺陷，所需的自動光學檢測系統(Automated Optical Inspection，簡稱AOI)或自動外觀檢測系統(Automated Visual Inspection，簡稱AVI)也越來越複雜。

面對這些製造商的需求，AOI/AVI機台檢出瑕疵品之後，會根據程式邏輯判斷，在料件影像上標示出判斷NG的瑕疵點，但有時候一些瑕疵點的種類是可以被接受的，所以後續仍須經過檢測人員的目視覆判，做最終的判定。

一般來說，印刷電路板(PCB)的硬板製程與軟性印刷電路(FPC)的軟板製程會有一大片連板(sheet)，也就是一大片的板材上，同 時會存在相同料件的多數量單位板，在製程處理上方便一次檢測作業，或是到後段的組裝階段時，使用一般分開獨立料件的單位PCB硬板與FPC軟板或上件後的軟硬板，其大小已經切開成為獨立的小單位，尤其是最後已經打上表面安裝技術(Surface-Mount Technology，簡稱SMT)電子料件的最後成本，必須在出貨前做最後的瑕疵檢測，確保最終上件的料件沒問題，檢測料件才可以出貨。

請參考第一圖，顯示一種習知製程站的示意圖。在PCB硬板與FPC軟板的製程站，複數個待測物2會放置在一個托盤1上，該托盤1藉由傳送機構3的輸送皮帶依箭頭方向會經過自動檢測機(AOI/AVI)的檢測區11，由自動檢測機電腦10執行瑕疵檢測，做完檢測之後，會記錄該托盤1上判定的瑕疵位置與種類。

完成檢測之後，發現有瑕疵料件的托盤1將由人員搬至人工複檢站20。人工複檢站20配置有一工作站電腦21(PC)與一工作站螢幕22，由檢測人員操作該工作站電腦21從自動檢測機電腦10取得該托盤1的檢測數據，並顯示於該工作站螢幕22，讓檢測人員做一次人工目視複檢動作，確保哪些是不良品需要做置換處理。此人工複檢站20為人工目檢檢測站，工作站電腦21從自動檢測機電腦10取得該托盤1的檢測數據，讓工作站螢幕22顯示測試料件的缺陷影像。工作站電腦21所執行的軟體可以讓檢測人員再次目視辨識該NG的瑕疵點是否是嚴重或是輕微，做最後的判斷標準。

在判斷後，檢測人員需要針對這些缺點做標註處理，例如貼標籤等標記，如果已經是獨立單片的SMT上件料，或單位PCB硬板與FPC軟板，根據目視判斷後的結果，把該托盤1上覆判為瑕疵料件拿走處理，擺放 OK料件上去補齊，再讓該托盤1繼續後面的生產步驟。

然而，正因為檢測人員需要正確標示瑕疵料件與做後續補料的動作，所以往往會因為該托盤1上瑕疵料件過多，或是人員稍一分心，而導致實際處理有將瑕疵料件遺漏的風險，如第一圖所示人員的視線(如虛線箭頭所示)在該托盤1與工作站螢幕22之間再三確認瑕疵料件的位置(左排第2個或第3個位置；右排第3個或第4個位置)，若無正確把瑕疵料件貼上標籤辨識，或是把瑕疵料件留下，誤把OK料件拿走處理等，將造成誤判與漏判問題發生。

本創作的目的之一是提供一種瑕疵品標示裝置，利用托盤背面發光標註方式，將該托盤所承載的瑕疵品直接標註，讓人員可直覺地對應拿出瑕疵品位置。

為了達到上述創作目的，本創作提供一種瑕疵品標示裝置，包括：一發光裝置，包含複數個發光單元，該發光裝置從一工作站電腦接收複數個訊號，以驅動該等發光單元，該等訊號分別關於複數個待測物之瑕疵品；以及，一外框機構，固定一放置該等待測物之待測托盤，並界定該待測托盤上的該等待測物與該發光裝置的該等發光單元之間的對應位置。

為了達到上述創作目的，本創作提供一種瑕疵品標示裝置，包括：一工作站電腦，包含一螢幕，該工作站電腦從一自動檢測機電腦接收複數個待測物之瑕疵檢測，並由該螢幕顯示該等待測物之瑕疵檢測；一 發光裝置，包含複數個發光單元，該發光裝置從該工作站電腦接收複數個訊號，以驅動該等發光單元，該等訊號分別關於該等待測物之瑕疵品；以及，一外框機構，固定一放置該等待測物之待測托盤，並界定該待測托盤上的該等待測物與該發光裝置的該等發光單元之間的對應位置。

其中，該發光單元為一LED燈或一液晶顯示螢幕在不同位置所顯示的色塊。該待測托盤的瑕疵品與良品可由該發光單元以不同發光顏色區別或以發光與不發光區別。

其中，該發光裝置安裝於該外框機構的下方，且該等發光單元外露於該外框機構的上表面，以對應該待測托盤上的該等待測物。

其中，該待測托盤開設複數個穿孔，該等穿孔分別位於放置該等待測物之周圍，且每一穿孔對應一發光單元；或者該待測托盤放置該等待測物之位置為透明狀或半透明狀，且該等待測物之位置下方分別對應該等發光單元。

根據本創作的瑕疵品標示裝置，利用托盤背面發光標註方式，在人工目視瑕疵檢測程序中，檢測人員根據工作站螢幕顯示資訊把有問題或瑕疵的料號再做一次目視覆判，待覆判標示完畢之後，工作站電腦會輸出關於瑕疵品的訊號到發光裝置，在瑕疵品料件旁邊直接示警，由檢測人員直覺地對應拿出瑕疵品料件置換，避免傳統方法在過程中只靠工作站螢幕與托盤之間再三目視確認後才取出瑕疵品料件，確保不會失誤錯拿良品而導致不良品流出的問題。

1‧‧‧托盤

2‧‧‧待測物

3‧‧‧傳送機構

10‧‧‧自動檢測機電腦

11‧‧‧檢測區

20‧‧‧人工複檢站

21‧‧‧工作站電腦

22‧‧‧工作站螢幕

30‧‧‧瑕疵品標示裝置

31‧‧‧工作站電腦

32‧‧‧工作站螢幕

33‧‧‧外框機構

34‧‧‧待測托盤

35‧‧‧發光裝置

36‧‧‧發光單元

40‧‧‧使用者介面

41,42,43‧‧‧視窗

44,45,46‧‧‧放大圖

第一圖是習知製程站的示意圖。

第二圖是本創作瑕疵品標示裝置的架構圖。

第三圖是本創作裝置工作站螢幕的畫面圖。

第四A圖是本創作第一種實施例放置待測托盤前、後之俯視圖。

第四B圖是本創作第二種實施例放置待測托盤前、後之俯視圖。

第四C圖是本創作第三種實施例放置待測托盤前、後之俯視圖。

首先參考第二圖，係顯示本創作瑕疵品標示裝置的架構圖。在本創作的較佳實施例中，一種瑕疵品標示裝置30包括一工作站電腦(PC)31與一工作站螢幕32，其中該工作站電腦31電連接一自動檢測機電腦10，該自動檢測機可為一AOI設備或一AVI設備。當承載複數個待測物2之待測托盤34進入該自動檢測機的檢測區11後，自動檢測機電腦10可取得待測托盤34的全景影像，並對每一個待測物2根據程式邏輯判斷，在料件影像上標示出判斷NG的瑕疵點，並記錄該待測托盤34上判定的瑕疵位置與種類。之後，檢測出有瑕疵的待測托盤34將被移至人工複檢站，由檢測人員操作工作站電腦31所執行的軟體，從自動檢測機電腦10接收該待測托盤34上複數個待測物2之瑕疵檢測及其記錄，並將各瑕疵點的放大影像顯示於工作站螢幕32，如第三圖所示。稍後將進一步說明工作站螢幕32顯示的畫面。

本創作瑕疵品標示裝置30包括一外框機構33與一發光裝置35，其中該發光裝置35電連接該工作站電腦31且包含複數個發光單元36，該 發光裝置35從該工作站電腦31接收複數個訊號以驅動該等發光單元36，該等訊號分別關於該工作站螢幕32正顯示一待測托盤34上複數個待測物2之瑕疵品。此外，該外框機構33具有一結構特徵以固定承載複數個待測物2之待測托盤34以及發光裝置35的該等發光單元36，並使該等發光單元36的位置分別對應複數個待測物2，其中該發光裝置35安裝於該外框機構33的下方，且該等發光單元36外露於該外框機構33的上表面，以對應該待測托盤34所承載的該等待測物2。該結構特徵的一部分可為一符合該待測托盤34底部輪廓的外框結構，或為數個定位銷以配合該待測托盤34底部對應設置的定位孔；該結構特徵的另一部分可為複數個穿孔，每一穿孔對應一發光單元36，而使一個或兩個發光單元36對應該待測托盤34上一個待測物2。

當承載複數個待測物2之待測托盤34經過自動檢測機檢測有瑕疵存在時，該待測托盤34會被人員搬移至人工複檢站且放置在外框機構33。為了使檢測人員便於從該待測托盤34的俯視或上面觀察到該等發光單元36的位置分別對應複數個待測物2，在本創作的不同實施例中，該待測托盤34有不同的實施方式，如第四A圖與第四B圖所示，該待測托盤34在放置每個待測物2的周圍開設一個或兩個穿孔，使該待測托盤34放置於外框機構33，每個待測物2周圍的穿孔分別對應齊下方的發光單元36，以便於檢測人員觀察發光單元36是否發光；如第四C圖所示，該待測托盤34放置該等待測物2之位置為透明狀或半透明狀，以便於檢測人員觀察位於待測物2下方的發光單元36是否發光。

在本創作的不同實施例中，一發光單元36發光可表示其對應該待測托盤34的待測物2是瑕疵品，如第四A圖與第四C圖所示；或一發光單 元36發光不同顏色可分別表示其對應該待測托盤34的待測物2是瑕疵品或良品，如第四B圖所示。

接著參考第三圖，係顯示本創作裝置工作站螢幕的畫面圖。在本創作的較佳實施例中，該工作站電腦31所執行的軟體提供一使用者介面40顯示於工作站螢幕32。該使用者介面40包含：視窗41、42、43，其中視窗41顯示正放置於外框機構33上的待測托盤34的相關資訊與從自動檢測機電腦10接收該待測托盤34的瑕疵檢測記錄；視窗42顯示該待測托盤34的全景影像，以供檢測人員確認工作站螢幕32顯示的數個待測物2與置於外框機構33上的待測托盤34的數個實體待測物2之對應關係；視窗43顯示其中一個待測物2，如視窗42中被標示符號「X」的待測物2，被自動檢測機電腦10判斷出數個瑕疵點的放大圖44、45、46，其中圓形虛線表示該瑕疵點的位置。

當檢測人員覆判過該待測托盤34所有被自動檢測機電腦10標示符號「X」的待測物2後，若該待測物2的瑕疵點可以接受，則符號「X」可以消除，若確認該待測物2的瑕疵點無法接受，則保留符號「X」。

一旦在人工複檢站完成目視覆判後，檢測人員將以滑鼠點擊視窗41中的「複檢確認」鍵，使工作站電腦31輸出複數個訊號至發光裝置35，讓對應視窗42中標示符號「X」的兩實體待測物2下方的發光單元36發亮，以表示該兩實體待測物2係經目視覆判後為瑕疵品，而便於檢測人員從該待測托盤34上直覺地透過發光標示來置換瑕疵品，並補上良品。一旦完成所有置換動作之後，放置所有良品的托盤34將搬到下一個工作站，而將下一個托盤34放上外框機構33掃描新的料號條碼後，所有發光單元36將會重置歸零為原狀態(未發光狀態)。

在本創作的一種實施例，該工作站電腦31與發光裝置35之間傳輸線為USB傳輸線或其他控制格式傳輸線，該傳輸線除了傳輸該工作站電腦31所輸出的複數個訊號外，亦提供發光裝置35的電源。在本創作的不同實施例中，該工作站電腦31所輸出的複數個訊號亦因應發光裝置35使用不同的發光單元36而有相應的不同。

請參考第四A圖，顯示本創作第一種實施例放置待測托盤前、後之俯視圖，其中左圖為放置待測托盤34前，外框機構33的俯視圖，該外框機構33的上表面外露複數個發光單元36，較佳為一具有不同發光顏色的LED燈且一個發光單元36將對應一個實體待測物2；中圖為放置待測托盤34至外框機構33的俯視圖，該待測托盤34在每一個待測物2旁開設一個穿孔，便於檢測人員觀察位於實體待測物2下方的發光單元36是否發光；右圖為放置待測托盤34後該發光裝置35從工作站電腦31接收複數個訊號驅動該等發光單元36的俯視圖，請配合第三圖所示視窗42標示符號「X」的待測物2，其中發光裝置35依接收的訊號驅動該等發光單元36，標示兩個黑點的發光單元36所對應實體待測物2即為目視覆判後的瑕疵品，其餘發光單元36所對應實體待測物2即為良品。此外，熟悉此技術之人亦可變更第一種實施例，由單色LED燈實施發光單元36，而該發光裝置35從工作站電腦31接收複數個訊號驅動該等發光單元36，標示符號「X」位置對應的LED燈發光即為瑕疵品，而不發光的LED燈即為良品。

請參考第四B圖，顯示本創作第二種實施例放置待測托盤前、後之俯視圖，其中左圖為放置待測托盤34前，外框機構33的俯視圖，該外框機構33的上表面外露複數個發光單元36,37，較佳為一單一發光顏色的 LED燈且兩個發光單元36,37將對應一個實體待測物2；中圖為放置待測托盤34至外框機構33的俯視圖，該待測托盤34在每一個待測物2旁開設兩個穿孔，便於檢測人員觀察位於實體待測物2下方的兩個發光單元36,37是否發光；右圖為放置待測托盤34後該發光裝置35從工作站電腦31接收複數個訊號驅動該等發光單元36.37的俯視圖，請配合第三圖所示視窗42標示符號「X」的待測物2，其中發光裝置35依接收的訊號驅動該等發光單元36,37，標示兩個發光單元37發光所對應實體待測物2即為目視覆判後的瑕疵品，其餘發光單元36發光所對應實體待測物2即為良品。

請參考第四C圖，顯示本創作第三種實施例放置待測托盤前、後之俯視圖，其中左圖為放置待測托盤34前，外框機構33的俯視圖，該外框機構33的上表面外露複數個發光單元36，而發光裝置35為一液晶顯示螢幕，且該等發光單元36為該液晶顯示螢幕在不同位置所顯示的色塊且將對應一個實體待測物2；中圖為放置待測托盤34至外框機構33的俯視圖，該待測托盤34在放置該等待測物2之位置為透明狀或半透明狀，便於檢測人員觀察位於實體待測物2下方的發光單元36是否發光；右圖為放置待測托盤34後該發光裝置35從工作站電腦31接收複數個訊號驅動該等發光單元36的俯視圖，請配合第三圖所示視窗42標示符號「X」的待測物2，其中發光裝置35依接收的訊號驅動該等發光單元36，標示兩個發光單元36發光所對應實體待測物2即為目視覆判後的瑕疵品，其餘發光單元36未發光所對應實體待測物2即為良品。

Claims (10)

1. 一種瑕疵品標示裝置，包括：一工作站電腦，包含一螢幕，該工作站電腦從一自動檢測機電腦接收複數個待測物之瑕疵檢測，並由該螢幕顯示該等待測物之瑕疵檢測；一發光裝置，包含複數個發光單元，該發光裝置從該工作站電腦接收複數個訊號，以驅動該等發光單元，該等訊號分別關於該等待測物之瑕疵品；以及一外框機構，固定一放置該等待測物之待測托盤，並界定該待測托盤上的該等待測物與該發光裝置的該等發光單元之間的對應位置。
2. 如申請專利範圍第1項所述之瑕疵品標示裝置，其中該發光單元為一LED燈或一液晶顯示螢幕在不同位置所顯示的色塊。
3. 一種瑕疵品標示裝置，包括：一發光裝置，包含複數個發光單元，該發光裝置從一工作站電腦接收複數個訊號，以驅動該等發光單元，該等訊號分別關於複數個待測物之瑕疵品；以及一外框機構，固定一放置該等待測物之待測托盤，並界定該待測托盤上的該等待測物與該發光裝置的該等發光單元之間的對應位置。
4. 如申請專利範圍第3項所述之瑕疵品標示裝置，其中該工作站電腦包含一螢幕，且該工作站電腦從一自動檢測機電腦接收複數個待測物之瑕疵檢測，並由該螢幕顯示該等待測物之瑕疵檢測。
5. 如申請專利範圍第3項所述之瑕疵品標示裝置，其中該發光裝置安裝於該外框機構的下方，且該等發光單元外露於該外框機構的上表面，以對應該待測托盤上的該等待測物。
6. 如申請專利範圍第5項所述之瑕疵品標示裝置，其中該待測托盤開設複數 個穿孔，該等穿孔分別位於放置該等待測物之周圍，且每一穿孔對應一發光單元。
7. 如申請專利範圍第6項所述之瑕疵品標示裝置，其中該發光單元為一具有不同發光顏色之LED燈，且表示該待測物為瑕疵品之發光顏色不同於表示該待測物為良品之發光顏色。
8. 如申請專利範圍第5項所述之瑕疵品標示裝置，其中該待測托盤放置該等待測物之位置為透明狀或半透明狀，且該等待測物之位置下方分別對應該等發光單元。
9. 如申請專利範圍第8項所述之瑕疵品標示裝置，其中該發光單元為一LED燈。
10. 如申請專利範圍第8項所述之瑕疵品標示裝置，其中該發光裝置為一液晶顯示螢幕，且該等發光單元為該液晶顯示螢幕在不同位置所顯示的色塊。