TWM561205U - 一種滾針影像檢測機 - Google Patents

Abstract

本創作公開了一種滾針影像檢測機，包括旋轉透光載盤，旋轉透光載盤連接有驅動其轉動的載盤驅動機構，沿旋轉透光載盤的周向依次設有上料機構、檢測機構和下料機構，上料機構連接旋轉透光載盤，檢測機構包括滾針上表面檢測機構、滾針側面檢測機構和滾針下表面檢測機構，上料機構的下游且檢測機構的上游之間還設有監測滾針進入檢測軌跡的第一感測器，還設有控制系統 ，第一感測器、檢測機構和下料機構皆與控制系統電連接。本創作能自動對滾針進行檢測，降低了勞動成本，大大解放了工作人員的雙手，而且檢測精度高 ，能實現對於滾針的外表面進行全方位的檢測，檢測效率快，檢測一個滾針所需的時間短，降低了企業的檢測成本。

Description

一種滾針影像檢測機

本創作涉及軸承關鍵零部件檢測技術領域，特別是涉及一種滾針 影像檢測機。

滾針軸承是帶圓柱滾子的滾子軸承，相對其直徑，滾子既細又長 。這種滾子稱為滾針。儘管具有較小的截面，軸承仍具有較高的 負荷承受能力，滾針軸承裝有細而長的滾子，因此徑向結構緊湊 ，其內徑尺寸和載荷能力與其它類型軸承相同時，外徑最小，特 別適用於徑向安裝尺寸受限制的支承結構。根據使用場合不同， 可選用無內圈的軸承或滾針和保持架元件，此時與軸承相配的軸 頸表面和外殼孔表面直接作為軸承的內、外滾動表面，為保證載 荷能力和運轉性能與有套圈軸承相同，軸承或外殼孔滾道表面的 硬度，加工精度和表面品質應與軸承套圈的滾道相仿。此種軸承 僅能承受徑向載荷。

目前市面上對於滾針軸承的滾針檢測主要是檢測滾針表面是否有 劃痕和鏽，通常是人工檢測，人工檢測不僅檢測速度慢，而且長 時間檢測容易出現疲勞導致檢測精度降低，工人的勞動強度大， 長時間用眼導致工人的視力下降，而且檢測效果不理想，這大大 增加了檢測成本。

為了克服上述缺點，本領域技術人員積極創新研究，以期創設出 一種本創作的滾針影像檢測機。

本創作主要解決的技術問題是提供了一種滾針影像檢測機，能自 動對滾針進行檢測，降低了勞動成本，大大解放了工作人員的雙 手，而且檢測精度高，能實現對於滾針的外表面進行全方位的檢 測，檢測效率快，檢測一個滾針所需的時間短，降低了企業的檢 測成本。

為解決上述技術問題，本創作採用的一個技術方案是：提供一種 滾針影像檢測機，包括旋轉透光載盤，所述旋轉透光載盤連接有 驅動其轉動的載盤驅動機構，沿所述旋轉透光載盤的周向依次設 有上料機構、檢測機構和下料機構，所述上料機構連接所述旋轉 透光載盤，所述檢測機構包括滾針上表面檢測機構、滾針側面檢 測機構和滾針下表面檢測機構，所述上料機構的下游且所述檢測 機構的上游之間還設有監測滾針進入檢測軌跡的第一感測器，還 設有控制系統，所述第一感測器、所述檢測機構和所述下料機構 皆與所述控制系統電連接。

進一步地說，所述滾針上表面檢測機構位於所述自動上料機構的 下游，所述滾針側面檢測機構位於所述滾針上表面測試機構的下 游，所述滾針下表面檢測機構位於所述滾針側面檢測機構的下游 ，所述下料機構位於所述滾針下表面檢測機構的下游。

進一步地說，所述上料機構包括物料分度盤、定位分度盤、定位 感測器、電機和運送槽，所述運送槽位於所述旋轉透光載盤的上 表面且位於所述物料分度盤的邊緣，所述運送槽為弧形，所述物 料分度盤和所述定位分度盤分度相同且固定於同一轉軸，所述電 機和所述轉軸通過皮帶輪連接，所述定位感測器位於所述定位分 度盤處，所述物料分度盤的外邊緣按分度均勻設有若干個滾針槽 ，每個所述滾針槽皆為直徑大於滾針的半圓弧形。

進一步地說，所述滾針上表面檢測機構包括第一攝像機、第一環 形光源和第一背光源，所述第一背光源位於所述旋轉透光載盤的 下方，所述第一環形光源位於所述旋轉透光載盤的上方，所述第 一環形光源與所述第一背光源的位置相對應，所述第一環形光源 的正上方設有所述第一攝像機。

進一步地說，所述滾針側面檢測機構包括位於同一平面的三個相 互呈120°設置的第二攝像機，三個所述第二攝像機的中心設有第 二背光源。

進一步地說，所述滾針下表面檢測機構包括第三攝像機、第三環 形光源和第三背光源，所述第三攝像機位於所述旋轉透光載盤的 下方，所述第三環形光源位於所述旋轉透光載盤和所述第三攝像 機之間，所述第三背光源位於所述第三環形光源的正上方且位於 所述旋轉透光載盤上方。

進一步地說，所述下料機構根據品質分設有至少2個，每個所述 下料機構皆包括吹氣噴頭和收料倉，所述吹氣噴頭外接氣源，所 述吹氣噴頭處設有電磁閥，所述吹氣噴頭的位置對應所述收料倉 的位置。

進一步地說，所述載盤驅動機構為伺服電機。

進一步地說，所述旋轉透光載盤是表面光滑的玻璃圓盤。

進一步地說，所述上料機構還包括將滾針排入所述滾針槽的振動 盤。

進一步地說，所述第一感測器為光電感測器。

本創作的有益效果是：

一、本創作通過滾針上表面檢測機構、滾針側面檢測機構、滾針 下表面檢測機構，對滾針的整個外表面進行全面檢測，並且通過 自動上下料、自動輸送結構，實現滾針的外表面的全自動檢測， 降低了勞動成本，解放了勞動人員的雙手，提高了檢測效率，設 計合理，便於操作；

二、本創作的檢測機構的攝像機對應於滾針的移動軌道，經過第 一感測器的滾針被計時，到達上表面檢測機構時第一攝像機拍照 並將照片傳回控制系統，滾針到達側面檢測機構時三個第二攝像 機可將滾針側面360°全方位拍照後傳回控制系統，經過計時到達 滾針下表面檢測機構的滾針在第三攝像機拍照後，控制系統即可 判斷滾針的品質，檢測精度高，速度快；

三、本創作的下料機構至少設有兩個，可以根據品質區分滾針， 分為優等品、合格品、不合格品，不合格品還可分為上表面不合 格品、側面不合格品、下表面不合格品或都不合格品，設計合理 ，便於使用。

上述說明僅是本創作技術方案的概述，為了能夠更清楚瞭解本新 型的技術手段，並可依照說明書的內容予以實施，以下以本創作 的較佳實施例並配合附圖詳細說明如後。

以下通過特定的具體實施例說明本創作的具體實施方式，本領域 技術人員可由本說明書所揭示的內容輕易地瞭解本創作的優點及 功效。

本創作也可以其它不同的方式予以實施，即，在不背離本創作所 揭示的範疇下，能予不同的修飾與改變。

實施例：一種滾針影像檢測機，如圖1-圖8所示，包括旋轉透光載 盤1，所述旋轉透光載盤連接有驅動其轉動的載盤驅動機構，沿 所述旋轉透光載盤的周向依次設有上料機構2、檢測機構和下料 機構7，所述上料機構連接所述旋轉透光載盤，所述檢測機構包 括滾針上表面檢測機構4、滾針側面檢測機構5和滾針下表面檢測 機構6，所述上料機構的下游且所述檢測機構的上游之間還設有 監測滾針進入檢測軌跡的第一感測器3，還設有控制系統，所述 第一感測器、所述檢測機構和所述下料機構皆與所述控制系統電 連接。

所述滾針上表面檢測機構位於所述自動上料機構的下游，所述滾 針側面檢測機構位於所述滾針上表面測試機構的下游，所述滾針 下表面檢測機構位於所述滾針側面檢測機構的下游，所述下料機 構位於所述滾針下表面檢測機構的下游。

所述上料機構包括物料分度盤21、定位分度盤22、定位感測器 23、電機24和運送槽25，所述運送槽位於所述旋轉透光載盤的上 表面且位於所述物料分度盤的邊緣，所述運送槽為弧形，所述物 料分度盤和所述定位分度盤分度相同且固定於同一轉軸，所述電 機和所述轉軸通過皮帶輪連接，所述定位感測器位於所述定位分 度盤處，所述物料分度盤的外邊緣按分度均勻設有若干個滾針槽 211，每個所述滾針槽皆為直徑大於滾針的半圓弧形。

所述滾針上表面檢測機構包括第一攝像機41、第一環形光源42和 第一背光源43，所述第一背光源位於所述旋轉透光載盤的下方， 所述第一環形光源位於所述旋轉透光載盤的上方，所述第一環形 光源與所述第一背光源的位置相對應，所述第一環形光源的正上 方設有所述第一攝像機。

所述滾針側面檢測機構包括位於同一平面的三個相互呈120°設置 的第二攝像機51，三個所述第二攝像機的中心設有第二背光源 52。

所述滾針下表面檢測機構包括第三攝像機61、第三環形光源62和 第三背光源63，所述第三攝像機位於所述旋轉透光載盤的下方， 所述第三環形光源位於所述旋轉透光載盤和所述第三攝像機之間 ，所述第三背光源位於所述第三環形光源的正上方且位於所述旋 轉透光載盤上方。

所述下料機構根據品質分設有至少2個，每個所述下料機構皆包 括吹氣噴頭73和收料倉72，所述吹氣噴頭外接氣源，所述吹氣噴 頭處設有電磁閥71，所述吹氣噴頭的位置對應所述收料倉的位置 。

所述載盤驅動機構為伺服電機。

所述旋轉透光載盤是表面光滑的玻璃圓盤。

所述上料機構還包括將滾針排入所述滾針槽的振動盤（圖未示 出）。

所述第一感測器為光電感測器。

本創作的工作原理和工作過程如下： 本創作在使用過程中，首先滾針放入滾針槽中，物料分度盤轉動 將滾針送至旋轉透光載盤上，滾針跟隨旋轉透光載盤轉動，滾針 經過第一感測器時，開始計時，在滾針到達滾針上表面檢測機構 時，第一攝像機拍照，將滾針上表面的照片傳至控制系統，滾針 到達滾針側面檢測機構時，3個呈120°角度第二攝像機工作，將拍 攝的滾針側面的照片傳至控制系統，滾針隨旋轉透光載盤轉動到 達滾針下表面檢測機構時，第三攝像機工作，將拍攝好的滾針下 表面的照片傳至控制系統，然後控制系統根據滾針上表面的圖片 、滾針側面的圖片和滾針下表面的圖片判斷滾針表面是否有劃痕 和鏽，將合格品吹至第一個下料機構的收料倉，將不合格品吹至 第二個下料機構的收料倉。

以上所述僅為本創作的實施例，並非因此限制本創作的專利範圍 ，凡是利用本創作說明書及附圖內容所作的等效結構，或直接或 間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括在本創作的專利保 護範圍內。

1‧‧‧旋轉透光載盤
2‧‧‧上料機構
21‧‧‧物料分度盤
211‧‧‧滾針槽
22‧‧‧定位分度盤
23‧‧‧定位感測器
24‧‧‧電機
25‧‧‧運送槽
3‧‧‧第一感測器
4‧‧‧滾針上表面檢測機構
41‧‧‧第一攝像機
42‧‧‧第一環形光源
43‧‧‧第一背光源
5‧‧‧滾針側面檢測機構
51‧‧‧第二攝像機
52‧‧‧第二背光源
6‧‧‧滾針下表面檢測機構
61‧‧‧第三攝像機
62‧‧‧第三環形光源
63‧‧‧第三背光源
7‧‧‧下料機構
71‧‧‧電磁閥
72‧‧‧收料倉
73‧‧‧吹氣噴頭

圖1是本創作的結構示意圖；

圖2是本創作的上料機構的結構示意圖；

圖3是本創作的滾針上表面檢測機構的結構示意圖；

圖4是本創作的滾針側面檢測機構的結構示意圖；

圖5是本創作的滾針下表面檢測機構的結構示意圖；

圖6是本創作的另一結構示意圖；

圖7是本創作圖6的A部放大圖；

圖8是本創作的俯視結構示意圖；

Claims (10)

1. 一種滾針影像檢測機，其特徵在於： 包括旋轉透光載盤（1），所述旋轉透光載盤連接有驅動其轉動 的載盤驅動機構，沿所述旋轉透光載盤的周向依次設有上料機 構（2）、檢測機構和下料機構（7），所述上料機構連接所述旋 轉透光載盤，所述檢測機構包括滾針上表面檢測機構（4）、滾 針側面檢測機構（5）和滾針下表面檢測機構（6），所述上料機 構的下游且所述檢測機構的上游之間還設有監測滾針進入檢測 軌跡的第一感測器（3），還設有控制系統，所述第一感測器、 所述檢測機構和所述下料機構皆與所述控制系統電連接。
2. 如申請專利範圍第1項所述的一種滾針影像檢測機，其特徵在於: 所述滾針上表面檢測機構位於所述自動上料機構的下游，所述 滾針側面檢測機構位於所述滾針上表面測試機構的下游，所述 滾針下表面檢測機構位於所述滾針側面檢測機構的下游，所述 下料機構位於所述滾針下表面檢測機構的下游。
3. 如申請專利範圍第1項所述的一種滾針影像檢測機，其特徵在於: 所述上料機構包括物料分度盤（21）、定位分度盤（22）、定位 感測器（23）、電機（24）和運送槽（25），所述運送槽位於所 述旋轉透光載盤的上表面且位於所述物料分度盤的邊緣，所述運 送槽為弧形，所述物料分度盤和所述定位分度盤分度相同且固定 於同一轉軸，所述電機和所述轉軸通過皮帶輪連接，所述定位感 測器位於所述定位分度盤處，所述物料分度盤的外邊緣按分度均 勻設有若干個滾針槽（211），每個所述滾針槽皆為直徑大於滾 針的半圓弧形。
4. 如申請專利範圍第1項所述的一種滾針影像檢測機，其特徵在於: 所述滾針上表面檢測機構包括第一攝像機（41）、第一環形光源 （42）和第一背光源（43），所述第一背光源位於所述旋轉透光載 盤的下方，所述第一環形光源位於所述旋轉透光載盤的上方，所 述第一環形光源與所述第一背光源的位置相對應，所述第一環形 光源的正上方設有所述第一攝像機。
5. 如申請專利範圍第1項所述的一種滾針影像檢測機，其特徵在於: 所述滾針側面檢測機構包括位於同一平面的三個相互呈120°設置 的第二攝像機（51），三個所述第二攝像機的中心設有第二背光 源（52）。
6. 如申請專利範圍第1項所述的一種滾針影像檢測機，其特徵在於: 所述滾針下表面檢測機構包括第三攝像機（61）、第三環形光源 （62）和第三背光源（63），所述第三攝像機位於所述旋轉透光載 盤的下方，所述第三環形光源位於所述旋轉透光載盤和所述第三 攝像機之間，所述第三背光源位於所述第三環形光源的正上方且 位於所述旋轉透光載盤上方。
7. 如申請專利範圍第1項所述的一種滾針影像檢測機，其特徵在於: 所述下料機構根據品質分設有至少2個，每個所述下料機構皆包 括吹氣噴頭（73）和收料倉（72），所述吹氣噴頭外接氣源，所 述吹氣噴頭處設有電磁閥（71），所述吹氣噴頭的位置對應所述 收料倉的位置。
8. 如申請專利範圍第1項所述的一種滾針影像檢測機，其特徵在於: 所述載盤驅動機構為伺服電機。
9. 如申請專利範圍第1項所述的一種滾針影像檢測機，其特徵在於: 所述旋轉透光載盤是表面光滑的玻璃圓盤。
10. 如申請專利範圍第3項所述的一種滾針影像檢測機，其特徵在 於:所述上料機構還包括將滾針排入所述滾針槽的振動盤。