TWM560699U - 被動元件自動檢測機構 - Google Patents

Abstract

一種被動元件自動檢測機構，包括一機台，於該機台上設有可將複數被動元件依序向前傳送之一進料模組、可接收該進料模組之被動元件並將其順時針寸轉運送之一分割盤及可接收該分割盤上經檢測完成之被動元件並將其由一輸出軌道向外傳送，尤其是於該分割盤運送該複數被動元件的路徑上設有複數測試器可供對經過之被動元件進行層間測試、直流電阻測試、串聯電感/電阻測試、極性測試、極性轉換及外觀檢測之程序；藉由上述結構係可自動對被動元件進行各種檢測，以符合各種安全規範需求及大幅提昇檢測效率者。

Description

被動元件自動檢測機構

本創作係一種被動元件檢測機之結構方面的技術領域，尤指一種可自動對被動元件進行各種檢測，以符合各種安全規範需求及大幅提昇檢測效率之被動元件自動檢測機構者。

一般之被動元件在製作完成後，通常係需依據各種安全規範的需求進行各種檢測，如層間測試、直流電阻測試、串聯電感測式、串聯電阻測式、外觀檢查……等，以取得相對應數據並進行篩檢後，才會將良品以同一極性方向地傳送出去。目前之被動元件進行檢測之方式，通常是分別依序將被動元件運送到各種專門檢測單項數據之檢測機，如層間測試機、直流電阻測試機、串聯電感測試機、串聯電阻測試機及外觀檢查機……等進行檢測及篩檢，再送至一噴墨機噴上檢測合格之標識符號，最後送到一包裝機進行極性方向之測試、轉換、噴墨及包裝。因此整個檢測流程的時間及人力會被大量浪費在被動元件於各檢測機台之間的運送中，而使檢測效率不佳，尤其是如此多的被動元件檢測機、噴墨機及包裝機不但會佔用大量的空間及人力，而且更是會使設備成本大幅增加。

本創作之主要目的係在於解決被動元件於檢測流程中需於多台各種類檢測機之間運送及檢測所存在之檢測效率不佳、佔空間及成本高等諸多問題。

本創作所述之被動元件自動檢測機構，係包括一機台及設於該機台上之一進料模組、一分割盤、一層間測試器、一直流電阻測試器、一串聯電感/電阻測試器、第一極性測試器、一極性轉換器、一第二極性測試器、一CCD外觀檢測器、一吸塵單元及一輸出軌道。其中，該進料模組係可供將複數被動元件依序向前傳送。該分割盤的周面係等間隔設有複數缺槽，每一缺槽可依序接收一個來自該進料模組之被動元件，該分割盤係可順時針寸轉，每一寸轉角度為一格。該層間測試器係可供對經過的被動元件進行層間測試。該直流電阻測試器係可對經過的被動元件進行直流電阻測試。該串聯電感/電阻測試器係可對經過的被動元件進行串聯電感/電阻測試。該第一極性測試器係可對經過的被動元件進行極性測試，以判別被動元件之極性方向。該極性轉換器係位於該第一極性測試器之後，可供將經該第一極性測試器檢測出之反向的被動元件轉換至正向。該CCD外觀檢測器係可擷取經過之被動元件的影像並進行外觀之檢查。該吸塵單元係位於上述所有測試器、檢測器及極性轉換器之後，可供將缺槽中除被動元件以外的雜質吸出。該輸出軌道係位於該吸塵單元之後，可供將檢測完成及極性轉換成正向之被動元件依序向外傳送。

本創作所提供之被動元件自動檢測機構，係可藉由該些依序設於該分割盤運送被動元件之路徑上的層間測試器、直流電阻測試器、串聯電感/電阻測試器、第一極性測試器及CCD外觀檢測器對經過的被動元件進行檢測，使其在同一機台中即可取得該被動元件之層間測試、直流電阻測試、串聯電感/電阻測試、極性測試、外觀檢測等相關數據，以供進行良品及不良品之快速篩檢。而且，可藉由極性轉換器將反向之被動元件轉換成正向，以便之後的封裝作業。所以可大幅提昇被動元件之檢測效率及可降低設備的購置成本。

10‧‧‧機台

11‧‧‧層間測試不良品排出孔

12‧‧‧直流電阻測試不良品排出孔

13‧‧‧串聯電感測試不良品排出孔

14‧‧‧串聯電阻測試不良品排出孔

15‧‧‧極性測試不良品排出孔

16‧‧‧外觀檢測不良品排出孔

17‧‧‧重測排除孔

20‧‧‧進料模組

30‧‧‧分割盤

31‧‧‧缺槽

40‧‧‧層間測試器

400‧‧‧探針

41‧‧‧直流電阻測試器

410‧‧‧探針

42‧‧‧串聯電感/電阻測試器

43‧‧‧第一極性測試器

44‧‧‧極性轉換器

440‧‧‧旋轉件

441‧‧‧容槽

45‧‧‧第二極性測試器

50‧‧‧CCD外觀檢測器

60‧‧‧吸塵單元

70‧‧‧輸出軌道

71‧‧‧噴墨單元

72‧‧‧CCD噴墨檢測單元

第1圖係本創作之系統方塊圖。

第2圖係本創作各構件之位置配置示意圖。

第3圖係本創作之層間檢測器及電感測試器、電阻測試器的立體外觀示意圖。

第4圖係本創作之直流電阻測試器及第一、二極性測試器之側面示意圖。

第5圖係本創作之極性轉換器之立體外觀示意圖。

請參閱第1~5圖所示，係顯示本創作所述之被動元件自動檢測機構包括一機台10及設於該機台10上之一進料模組20、一分割盤30、一層間測試器40、一直流電阻測試器41、一串 聯電感/電阻測試器42、一第一極性測試器43、一極性轉換器44、一第二極性測試器45、一CCD外觀檢測器50、一吸塵單元60、一輸出軌道70、一噴墨單元71及一CCD噴墨檢測單元72。其中：該機台10，係頂面具有一層間測試不良品排出孔11、一直流電阻測試不良品排出孔12、一串聯電感測試不良品排出孔13、一串聯電阻測試不良品排出孔14、一極性測試不良品排出孔15、一外觀檢測不良品排出孔16及一重測排出孔17。上述之排出孔係分別各配合有一吹氣單元(圖中未示)可供將分割盤30上相對應之不良品吹入相應的排出孔中。

該進料模組20，係可供將複數被動元件依序向前傳送到該分割盤30。

該分割盤30，係可在該機台10上順時針寸轉，該分割盤30的周面等間隔設有複數缺槽31，該分割盤30的寸轉角度為一格，每一缺槽31可依序接收一個來自該進料模組20之被動元件，並將其順時針運送。在本創作中，該分割盤30上係具有50格缺槽31，並將其定義為50個工位，以對正該進料模組20進料處之該缺槽31定義為第1工位，然後順時針依多遞增工位直至第50工位。

該層間測試器40，係位於第6工位處，可供對經過的被動元件進行層間測試，以取得被動元件進行非破壞性的耐電氣衝擊數據。該層間測試不良品排出孔11係位於第8工位處，可供將層間測試值超出標準範圍的不良品排出。

該直流電阻(DCR)測試器41，係位於第10工位處，可供對經過的被動元件進行直流電阻測試，以取得被動元件之直流電阻數據。該直流電阻測試不良品排出孔12係位於第12工位處，可供將直流電阻測試值超出標準範圍的不良品排出。

該串聯電感/電阻(LS/RS)測試器42，係位於第14工位處，可供對經過的被動元件進行串聯電感/電阻測試，以取得被動元件之串聯電感值及串聯電阻值。該串聯電感測試不良品排出孔13係位於第17工位處，可供將串聯電感測試值超出標準範圍的不良品排出。該串聯電阻測試不良品排出孔14係位於第19工位處，可供將串聯電阻測試值超出標準範圍的不良品排出。

該第一極性測試器43，係位於第21工位處，可供對經過的被動元件進行極性測試，以取得被動元件之極性方向。

該極性轉換器44，係位於第24工位處，可供將經該第一極性測試器43檢測出之反向的被動元件轉換至正向。

該第二極性測試器45，係位於第27工位處，可供對經過之被動元件進行極性測試，以再次確定被動元件之極性方向。該極性測試不良品排出孔15係位於第29工位處，可供將極性方向錯誤的被動元件排出。

該CCD外觀檢測器50，係位於第30工位處，可供擷取經過之被動元件的影像並進行外觀之檢查。該外觀檢測不良品排出孔16係位於第31工位處，可供將外觀有瑕疵的被動元件排出。

該吸塵單元60，係位於第33工位處，可供將該分割盤30上經過其下方之缺槽31中除被動元件以外的粉塵、灰塵……等雜質吸出。該重測排除孔17係位於第46工位處，可以讓萬一在測試時發生當機或其他因素造成停機之情形下供將該分割盤30上所有的被動元件全部排出，以免未經測試的被動元件被包裝。

該輸出軌道70，係設於該分割盤30運送被動元件的路徑上，且位於該吸塵單元60之後。該輸出軌道70可供將檢測完成及極性轉換成正向後之被動元件依序向外傳送。

該噴墨單元71，係位於該輸出軌道70的上方，可供於檢測完成之被動元件上噴上檢測合格之符號。

該CCD噴墨檢測單元72，係位於該輸出軌道70的上方且並位於該噴墨單元71之後，可供檢測被動元件上之檢測合格符號是否清晰。

請參閱第3圖所示，係指出該層間測試器40係具有同步昇降之複數探針400，該複數探針400係位在該分割盤30之相對應缺槽31的下側。該複數探針400上昇時可接觸該相對應缺槽31中之被動元件以進行充壓及檢測出相對應之數據。而該串聯電感/電阻測試器42之結構係與該層間測試器40相同，僅是測試之數據不同。

請參閱第4圖所示，係指出該直流電阻測試器41係具有同步昇降之複數探針410，該複數探針410係位在該分割盤30之相對應缺槽31的下側，該複數探針410上昇時可接觸該相對應 缺槽31中之被動元件以進行充壓及檢測出相對應之數據。而該第一極性測試器43及第二極性測試器45之結構與該直流電阻測試器41相同，僅是測試之數據不同。

請參閱第5圖所示，係指出該極性轉換器44係具有可轉動之一旋轉件440，該旋轉件440係位於該分割盤30的外側，於該旋轉件440之頂面具有貫穿到兩相對側呈開口狀之一容槽441可供容納該被動元件。該機台10上係配合設有兩吹氣單元(圖中未示)分別位於該旋轉件440的內側及外側，位在內側之吹氣單元係可供將極性反向的被動元件由該分割盤30的缺槽31吹到該旋轉件440的容槽441中，位在外側之吹氣單元係可將經該旋轉件440旋轉180度之極性正向的被動元件由該旋轉件440的容槽441吹回該分割盤30的缺槽31中。

本創作所提供之被動元件自動檢測機構係可藉由該些依序設於該分割盤30運送被動元件之路徑上的層間測試器40、直流電阻測試器41、串聯電感/電阻測試器42、第一極性測試器43、第二極性測試器45及CCD外觀檢測器50對經過的被動元件進行各種數據及外觀的檢測，使其在同一機台中即可取得該被動元件之層間測試、直流電阻測試、串聯電感/電阻測試、極性測試、外觀檢測等相關數據，以供利於進行良品及不良品之快速篩檢。而且，可利用該吸塵單元60將被動元件以外的粉塵等雜質吸出，以及可藉由極性轉換器44將反向之被動元件轉換成正向，以便之後的封裝作業。所以可大幅提昇被動元件之檢測效率及可降 低設備的購置成本。

Claims (10)

1. 一種被動元件自動檢測機構，包括：一機台；一進料模組，係設於該機台上可供將複數被動元件依序向前傳送；一分割盤，係可順時針寸轉地設在該機台上，該分割盤的周面等間隔設有複數缺槽，該分割盤的寸轉角度為一格，使每一缺槽可依序接收一個來自該進料模組之被動元件，並將其順時針運送；一層間測試器，係設於該機台上可供對經過的被動元件進行層間測試，以取得被動元件進行非破壞性的耐電氣衝擊數據；一直流電阻(DCR)測試器，係設於該機台上且位於該層間測試器之後，可供對經過的被動元件進行直流電阻測試，以取得被動元件之直流電阻數據；一串聯電感/電阻(LS/RS)測試器，係設於係設於該機台上且位於該直流電阻(DCR)測試器之後，可供對經過的被動元件進行串聯電感/電阻測試，以取得被動元件之串聯電感值及串聯電阻值；一第一極性測試器，係設於該機台上且位於該串聯電感/電阻(LS/RS)測試器之後，可供對經過的被動元件進行極性測試，以取得被動元件之極性方向；一極性轉換器，係設於該機台上且位於該第一極性測試器之後，可供將經該第一極性測試器檢測出之反向的被動元 件轉換至正向；一第二極性測試器，係設在該機台上且位於該極性轉換器之後，可供對經過之被動元件進行極性測試，以確定被動元件之極性方向；一CCD外觀檢測器，係設於該機台上且位於該第二極性測試器之後，可供擷取經過之被動元件的影像並進行外觀之檢查；以及一輸出軌道，係設於該機台上且位於該CCD外觀檢測器之後，可供將檢測完成及極性轉換成正向之被動元件依序向外傳送。
2. 如請求項1所述之被動元件自動檢測機構，其中該機台上係具有一層間測試不良品排出孔、一直流電阻測試不良品排出孔、一串聯電感測試不良品排出孔、一串聯電阻測試不良品排出孔、一極性測試不良品排出孔及一外觀檢測不良品排出孔，該層間測試不良品排出孔係位於該層間測試器之後，可供將層間測式值超出標準範圍的不良品排出，該直流電阻測試不良品排出孔係位於該直流電阻測試器之後可供將直流電阻測試超值出標準範圍的不良品排出，該串聯電感測試不良品排出孔係位於該串聯電感/電阻測試器之後，可供將串聯電感測試值超出標準範圍的不良品排出，該串聯電阻測試不良品排出孔係位於該串聯電感/電阻測試器之後，可供將串聯電阻測試值超出標準範圍的不良品排出，該極性測試不良品排出孔係位於該第二極性測試器之後但位於該吸塵單元之前，可供將經該第二極性測試器確定為極性方向錯誤的被動元件排出，該外觀檢測不良 品排出孔係位於該CCD外觀檢測器之後但位於該吸塵單元之前，可供將經該CCD外觀檢測器檢測出外觀有瑕疵的被動元件排出。
3. 如請求項2所述之被動元件自動檢測機構，更包括有一吸塵單元，該吸塵單元係設於該機台上且位於該CCD外觀檢測器之後，可供將缺槽中除被動元件以外的雜質吸出。
4. 如請求項3所述之被動元件自動檢測機構，其中該機台上更具有一重測排除孔，該重測排除孔係位於該吸塵單元之後，可以在發生當機或其他因素造成停機之情形下供將該分割盤上所有的被動元件全部排出。
5. 如請求項4所述之被動元件自動檢測機構，其中該分割盤上係具有50格缺槽，並將其分別定義為50個工位，以對正該進料模組進料處之該缺槽定義為第1工位，然後順時針依多遞增工位直至第50工位，該層間測試器位於第6工位，該層間測試不良品排出孔位於第8工位，該直流電阻(DCR)測試器位於第10工位，該直流電阻測試不良品排出孔位於第12工位，該串聯電感/電阻(LS/RS)測試器位於第14工位，該串聯電感測試不良品排出孔位於第17工位，該串聯電阻測試不良品排出孔位於第19工位，該第一極性測試器位於第21工位，該極性轉換器，位於第24工位，該第二極性測試器位於第27工位，該極性測試不良品排出孔位於第29工位，該CCD外觀檢測器位於第30工位，該外觀檢測不良品排出孔位於第31工位，該吸塵單元位於第33工位，該重測排除孔位於第46工位。
6. 如請求項5所述之被動元件自動檢測機構，其中該機台上係設 有複數吹氣單元，該複數吹氣單元係設於對應上述各不良品排出孔處，可供將分割盤之缺槽中相對應的不良品吹入相應的不良品排出孔中。
7. 如請求項5所述之被動元件自動檢測機構，其中該層間測試器係具有同步昇降之複數探針，該複數探針係位在該分割盤之相對應缺槽的下側，該複數探針上昇時可接觸該相對應缺槽中之被動元件以進行充壓及檢測出相對應之數據，該串聯電感/電阻測試器之結構與該層間測試器相同。
8. 如請求項5所述之被動元件自動檢測機構，其中該直流電阻測試器係具有同步昇降之複數探針，該複數探針係位在該分割盤之相對應缺槽的下側，該複數探針上昇時可接觸該相對應缺槽中之被動元件以進行充壓及檢測出相對應之數據，該第一極性測試器及第二極性測試器之結構與該直流電阻測試器相同。
9. 如請求項5所述之被動元件自動檢測機構，其中該極性轉換器係具有可轉動之一旋轉件，該旋轉件係位於該分割盤的外側，於該旋轉件之頂面具有貫通到兩相對側呈開口狀之一容槽可供容納該被動元件，該機台上係設有兩吹氣單元分別位於該旋轉件的內側及外側，位在內側之吹氣單元係可供將極性反向的被動元件由該分割盤的缺槽吹到該旋轉件的容槽中，位在外側之吹氣單元係可將經該旋轉件旋轉180度之極性正向的被動元件由該旋轉件的容槽吹回該分割盤的缺槽中。
10. 如請求項5所述之被動元件自動檢測機構，更包括有一噴墨單元及一CCD噴墨檢測單元，該噴墨單元係位於該輸出軌道的上方，可供於檢測完成之被動元件上噴上檢測合格之符號，該 CCD噴墨檢測單元係位於該輸出軌道的上方且並位於該噴墨單元之後，可供檢測被動元件上之檢測合格符號是否清晰。