TWM557744U - 靶材貼合結構改良 - Google Patents
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Abstract
本創作係揭露一種靶材貼合結構改良,其包含以一第一焊料粘接之一靶材與一背板,其特徵在於一凹陷間隙及複數填設其中之第二焊料片。該凹陷間隙係形成於第一焊料外周緣。各第二焊料片係疊設於凹陷間隙中,且各第二焊料片之熱熔溫度高於第一焊料。藉由上述構件之組成,各第二焊料片透過加熱形成熱熔,使第一、二焊料、靶材與背板等彼此因金屬間作用力於冷卻後形成合金,除達到焊合目的外,更可透過第二焊料繞圍於第一焊料外周側,避免第一焊料因熱熔而溢出之缺失。
Description
本創作係有關於靶材貼合工藝相關之技術領域,尤其是指一種靶材貼合結構改良。
濺鍍工藝(sputtering)係指一種用來形成金屬薄膜的物理氣相沉積(PVD)方法,此方法能夠應用於液晶顯示面板、電漿顯示面板或是半導體的微型電路的製程中。
所謂的濺鍍,是利用磁場或電場使得電漿中之離子轟擊濺鍍材(target),以造成濺鍍材表面(正面)之原子濺出,並且飛向靶材(被濺鍍物)。之後,飛向靶材的濺鍍材原子會附著於靶材表面,以在靶材表面上形成一層金屬層,當靶材不斷受到高能量的離子轟擊時,會使得靶材溫度持續升高,再加上高階產品需搭配高膜厚,因此濺鍍時間會倍增,靶材溫度也會再提高。
為使靶材在上述濺鍍製程中,其溫度能得以控制,多會配合一背板設置,藉由背板本身設置之熱交換系統(例如,液冷管),以降低靶材之溫度,然而仍會有因溫度累積之影響,致使連接靶材與背板之焊材形成熱熔,導致焊材溢出的缺失。
習知靶材貼合技術為解決上述問題,曾有前案提
出教示,例如我國專利公告第I553140號等前案所揭露者,大致係使用焊料將濺鍍靶與背板接合之濺鍍靶-背板接合體,其特徵在於:以熔點為600~3500℃,軸向剖面形狀為圓形、橢圓形或矩形之線狀材料將濺鍍靶與背板間之焊料的外緣覆蓋。
雖說習知前案可以避免焊料露出,但仍有諸多缺失仍未完善,例如:
1.習知前案係利用高熔點之線材塞設於濺鍍靶與背板間之間隙,然而線材能塞入間隙必然小於該間隙,導致線材無法確實塞滿該間隙。
2.該間隙之大小係由焊料所形成,故不可能呈現穩定大小之間隙,故如欲以硬迫方式將線材塞入該間隙,明顯存有難度。
3.再者,以硬迫方式將線材塞入間隙,反造成對濺鍍靶與背板形成分離的推力,待焊料熱熔時反增加濺鍍靶與背板分離的分量。
有鑑於上述習知技藝之問題與缺失,本創作之主要目的,就是在於利用不同熔點之焊材作為粘劑,讓靶材於高膜厚(應用於高解析度面板)的濺鍍過程中,可因應高溫度作業環境之需求。
為達成上述目的,本創作提出一種靶材貼合結構改良,其包含以一第一焊料粘接之一靶材與一背板,其特徵在於一凹陷間隙及複數填設其中之第二焊料片。該凹陷間隙係凹陷形成於第一焊料外周緣。各第二焊料片係疊設於凹陷間隙中,且各第二焊料片之熱熔溫度高於第一焊料。藉由上述構件
之組成,各第二焊料片透過加熱形成熱熔,使第一、二焊料、靶材與背板等彼此因金屬間作用力於冷卻後形成合金,除達到焊合目的外,更可透過第二焊料繞圍於第一焊料外周側,避免第一焊料因熱熔而溢出之缺失。
10‧‧‧靶材
20‧‧‧背板
30‧‧‧第一焊料
32‧‧‧凹陷間隙
40‧‧‧第二焊料片
H‧‧‧加熱器
第1圖 係本創作實施例示意圖(一)。
第2圖 係本創作實施例示意圖(二)。
第3圖 係本創作實施例示意圖(三)。
以下請參照相關圖式進一步說明本創作靶材貼合結構實施例。為便於理解本創作實施方式,以下相同零件係採相同符號標示說明。
請參閱第1至3圖所示,有關靶材貼合結構其包含以一第一焊料30粘接之一靶材10與一背板20,其特徵在於:
一凹陷間隙32,係凹陷形成於第一焊料30外周緣,並位於靶材10與背板20間,深度界於5~15mm。
複數第二焊料片40,係疊設於凹陷間隙32中,以消除靶材10與背板20間之凹陷間隙32,配合加熱器H讓第二焊料片40形成熱熔,最終第二焊料40、第一焊料30、靶材10與背板20彼此因金屬間作用力於冷卻後形成合金(如第3圖所示),進而達到焊合目的。實施時,第二焊料片40係選自比例Sn:Zn=9:1的錫鋅合金,且熱熔溫度界於190~200℃,高於第一焊料30之熱熔溫度。
實施時,靶材10係選自鉬、鋁、或無氧銅其中之一或其組合。而背板20則選自無氧銅。至於第一焊料30係選自純度99.99的銦,又熱熔溫度界於180~189℃。
藉由上述靶材貼合結構應用於高膜厚(高解析度面板)的濺鍍製程時,緃使製程環境溫度上升導致第一焊料30被熱熔時,由於濺鍍過程中累積溫度不會高於第二焊料片40之熱熔溫度,故第二焊料片40則對熱熔之第一焊料30形成了圍堵,避免溢出迫使製程的中斷,更可維持靶材10與背板20之連結力,避免靶材10變形或脫離背板40。
以上所述說明,僅為本創作的較佳實施方式而已,意在明確本創作的特徵,並非用以限定本創作實施例的範圍,本技術領域內的一般技術人員根據本創作所作的均等變化,以及本領域內技術人員熟知的改變,仍應屬本創作涵蓋的範圍。
Claims (8)
- 一種靶材貼合結構改良,其包含以一第一焊料粘接之一靶材與一背板,其特徵在於:一凹陷間隙,係凹陷形成於該第一焊料外周緣,且位於該靶材與該背板間;以及複數第二焊料片,係疊設於該凹陷間隙中,且各該第二焊料片之熱熔溫度高於該第一焊料;其中,各該第二焊料片透過加熱形成熱熔,最終該第二焊料、該第一焊料、該靶材與該背板彼此因金屬間作用力於冷卻後形成合金,進而達到焊合且對該第一焊料形成圍堵避免其熱熔溢出。
- 如申請專利範圍第1項所述之靶材貼合結構改良,其中該凹陷間隙之深度界於5~15mm。
- 如申請專利範圍第1項所述之靶材貼合結構改良,其中各該第二焊料片係選自比例Sn:Zn=9:1的錫鋅合金。
- 如申請專利範圍第3項所述之靶材貼合結構改良,其中各該第二焊料片之熱熔溫度界於190~200℃。
- 如申請專利範圍第4項所述之靶材貼合結構改良,其中該靶材係選自鉬、鋁、或無氧銅其中之一或其組合。
- 如申請專利範圍第5項所述之靶材貼合結構改良,其中該背板係選自無氧銅。
- 如申請專利範圍第6項所述之靶材貼合結構改良,其中該第一焊料係選自純度99.99的銦。
- 如申請專利範圍第7項所述之靶材貼合結構改良,其中該第一焊料之熱熔溫度界於180~189℃。
Priority Applications (1)
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TW106217494U TWM557744U (zh) | 2017-11-24 | 2017-11-24 | 靶材貼合結構改良 |
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TW106217494U TWM557744U (zh) | 2017-11-24 | 2017-11-24 | 靶材貼合結構改良 |
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Publication Number | Publication Date |
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TWM557744U true TWM557744U (zh) | 2018-04-01 |
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ID=62643440
Family Applications (1)
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TW106217494U TWM557744U (zh) | 2017-11-24 | 2017-11-24 | 靶材貼合結構改良 |
Country Status (1)
Country | Link |
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TW (1) | TWM557744U (zh) |
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2017
- 2017-11-24 TW TW106217494U patent/TWM557744U/zh unknown
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