TWM511039U - 光學用膜片的整平輸送檢測裝置 - Google Patents

Description

光學用膜片的整平輸送檢測裝置

本創作係關於一種貼合在光學基件上改變光波之傳遞特性的多層膜片(例如：使用於數位相機、窗隔熱材、液晶顯示器的螢幕偏光片、筆記型電腦、手機、PET保護膜、傳真機、雷射印表機、雷射唱盤、影碟機等眾多的光學儀器或光電設備)的檢測輸送裝置；尤指，該光學用膜片製成後於黏合光學基件前，進行良品或不良品的檢測作業的輸送中，能平坦的將薄型大面積且易翹曲不平的膜片整平供給光學檢測裝置進行檢測作業者。

習知的光學用膜片(P)(例如：液晶顯示器的螢幕偏光片)於各膜片層製成再疊合成型後(該偏光片構成為習知技藝，在此不予於贅述)，即精密裁切加工成預定黏合的螢幕尺寸；但因各膜片層於製作中可能受環境、設備或其他因素的影響(例如：微粒塵、設備的汚染和穏定性等)，致有可能偏光片(P1)製成後產生缺陷而必須預先進行檢測，以防止貼合光學基件(LCD面板)後造成不良品而發生更大的效益損失，及增加作業上的困擾；且該疊合成多層的偏光片(P1)為因應不同的螢幕所需的尺寸，和裁切更有效益的適用數量以降低製作成本，其初始製成係以大面積捲狀的形態製 成，但因薄型大面積的偏光片(P1)製成後裁切成片狀後容易呈現易翹曲的膠片狀態(該偏光片(P1)現今的製程約可得0.3mm厚度，若再提昇製作技術則可再降低厚度)，以往係由眾多的技術人工以手持或固定面向光源，逐一的目視該偏光片(P1)進行檢查判知作業，但為降低人工成本而省人化的提昇以輸送裝置中設置光學檢測儀器自動判讀檢知，且該輸送自動檢測的輸送裝置必須整平呈受光學儀器檢測設備的整面性或線性的照射測知，須將該偏光片(P1)放置於一平檯板面(T)上平躺托置，使用數個滾輪組(R)輥夾該偏光片(P1)的二側邊(P2)行進，再於預定位置裝設光學儀器檢測設備，使投射檢測光線測知該偏光片(P1)上是否有缺陷。

然而，因偏光片(P1)二側邊(P2)有一定寬度承受各滾輪組(R)的輥夾推壓行進，該受輥夾的偏光片側邊(P2)表面上可能受損，或會阻礙檢測光線的投射和檢知；再者，該偏光片(P1)受該各滾輪組(R)輥夾於該平檯板面(T)上摩擦拖行，可能使該偏光片(P1)保護膜的表面發生擦傷而使檢測失準或因磨擦變成不良品，相對造成誤判為成為不良品的缺陷和浪費；進者，固定間距的滾輪組(R)僅能針對相應尺寸的偏光片(P1)應用，即使可調間距的各滾輪組(R1)和為二片式平檯板面(T1)齊平並排的設計(例如：第一圖假想線所繪示)，其可檢測的尺寸亦為有限而限制裝置的使用率，或增加不同尺寸的偏光片(P1)輸送檢測裝置的設置；更者，現今可撓捲易於攜帶的膠片型螢幕正在發展應用中，其無框邊螢幕的形態可為未來的趨勢，而使該偏光片(P1)二側邊(P2)受輥夾的作業方 式，將增加再裁切的加工程序，及增加偏光片側邊(P2)廢料成本，且各膜片層亦需加大面積的製作成本，而現其缺失。

本案創作人有鑒於此，仍再詳加研究改進，揭示出一種光學用膜片的整平輸送檢測裝置。

本創作之主要目的係在於提供一種光學用膜片的整平輸送檢測裝置，能提供均佈的負壓吸持力使光學用膜片，使提高光學用膜片的平坦度接受光學儀器全面性的檢測作業。

本創作之次一目的係在於提供一種光學用膜片的整平輸送檢測裝置，使光學用膜片僅受吸持而無機件的壓夾滾推二側邊料的動作，不會產生光學用膜片邊料的受損，勿須裁切邊料而可最大化的應用，以避免去除側邊廢料的發生，節省製作成本和減少製造工程。

本創作之另一目的係在於提供一種光學用膜片的整平輸送檢測裝置，使光學用膜片是受吸持的貼附於輸送皮帶上隨著移動，而不會有摩擦拖行致光學用膜片表面受損的狀況發生，以提高檢測的效益，和降低誤判不良品的製造成本。

本創作之再一目的係在於提供一種光學用膜片的整平輸送檢測裝置，能依各種尺寸的光學用膜片最大化設計，使光學用膜片整平輸送的適用的範圍廣而無受大小的限制，以提高光學用膜片整平輸送設備的傢動率，且提昇整平的平坦率而提高檢測的工作效益，及可減少不同尺寸光學用膜片使用整平檢測裝置 的數量，以降低製造成本。

茲就所附諸圖式配合下列說明，將本創作可行的實施例進一步說明而得以具體明晰之。

〔習知〕

(P)‧‧‧光學用膜片

(P1)‧‧‧偏光片

(P2)‧‧‧偏光片側邊

(T)‧‧‧平檯板面

(T1)‧‧‧二片式平檯板面

(R)‧‧‧滾輪組

(R1)‧‧‧可調滾輪組

〔本創作〕

(1)‧‧‧投片機構

(11)‧‧‧框架

(12)‧‧‧托置台

(13)‧‧‧真空吸持機構

(2)‧‧‧清潔機構

(3)‧‧‧整平輸送機構

(31)‧‧‧輸送皮帶

(311)‧‧‧通氣孔

(32)‧‧‧間托板

(33)‧‧‧托置台

(331)‧‧‧吸氣孔

(332)‧‧‧氣室

(333)‧‧‧氣槽

(334)‧‧‧通氣溝

(4)‧‧‧透射檢測機構

(41)‧‧‧透射光源裝置

(42)‧‧‧影像接收裝置

(5)‧‧‧反射檢測機構

(51)‧‧‧反射光源裝置

(52)‧‧‧反射鏡

(53)‧‧‧影像接收裝置

(6)‧‧‧分類輸送機構

(61)‧‧‧輸送皮帶

(611)‧‧‧通氣孔

(62)‧‧‧間托板

(63)‧‧‧托置台

(631)‧‧‧吸氣孔

(632)‧‧‧氣室

(633)‧‧‧氣槽

(64)‧‧‧通氣溝

(7)‧‧‧儲料台

(71)‧‧‧良品儲料槽

(72)‧‧‧不良品儲料槽

(8)‧‧‧操控裝置

(81)‧‧‧操作面盤

(82)‧‧‧正壓氣體裝置

(P)‧‧‧光學用膜片

(P0)‧‧‧小尺寸光學用膜片

第一圖係習用光學膜片輸送裝置正面的簡單示意圖。

第二圖係習用光學膜片輸送裝置側面的簡單示意圖。

第三圖係本創作整體的側視剖面示意圖。

第四圖係本創作整體的俯視剖面示意圖。

第五圖係本創作整平輸送機構的側視剖面示意圖。

第六圖係本創作整平輸送機構的俯視示意圖。

第七圖係第六圖I-I方向的剖面示意圖。

第八圖係第六圖Ⅱ-Ⅱ方向的剖面示意圖。

第九圖係本創作整平輸送機構的剖面放大示意圖。

第十圖係第九圖的俯視示意圖。

第十一圖係本創作分類輸送機構另一實施例簡單剖面示意圖。

參閱第三~六圖所示，本創作係包括：一投片機構(1)，一清潔機構(2)，一整平輸送機構(3)，一透射檢測機構(4)，一反射檢測機構(5)，一分類輸送機構(6)，一儲料台(7)，一操控裝置(8)等部份所構成者。

參閱第三、四圖所示，該投片機構(1)係以一框架(11) 內垂直設置感應操控昇降橫移的數個托置台(12)和吸持光學用膜片(P)的真空吸持機構(13)，將該各光學用膜片(P)送入該清潔機構(2)內清理表面落塵或汚物後，以預定行進速度自動的進入該整平輸送機構(3)的輸送皮帶(31)上。(該投片機構(1)和該清潔機構(2)皆為習知的技藝，在此不予贅述，圖亦未詳繪)

參閱第五~十圖所示，該整平輸送機構(3)的輸送皮帶(31)係依預定檢測判知性能的光學檢測儀器的數量而分段設置，且各段輸送皮帶(31)間介設有間托板(32)供光學用膜片(P)無縫串接的行進輸送。該各輸送皮帶(31)上預定間距均佈的穿設諸多通氣孔(311)，及對應的固設一托置台(33)觸托於該各輸送皮帶(31)行進面的正下方。

該各托置台(33)對應該各輸送皮帶(31)眾多通氣孔(311)相鄰行列間的交叉點位置各穿設一吸氣孔(331)連通一氣室(332)，及該各吸氣孔(331)延設對稱挖設預定深度的數氣槽(333)鄰近該各通氣孔(311)行進軌道，和平行該各輸送皮帶(31)行進方向挖設一通氣溝(334)連通該各吸氣孔(331)，藉由吸氣裝置(例如：真空泵等吸氣設備)連接該氣室(332)操作該輸送皮帶(31)行進面上的各通氣孔(311)發生負壓吸力(該吸氣裝置為習知技藝，在此不予於贅述，圖亦未繪示)，使進入該輸送皮帶(31)行進面上的光學用膜片(P)能近似平坦的高平坦度被吸持行進。

該透射檢測機構(4)的透射光源裝置(41)設置於該整平輸送機構(3)二段輸送皮帶(31)間高透光率透明材質製成的間托板(32)下方投射光線，及透過該光學用膜片(P)和感光耦合元件(CCD)製成的影像接收裝置(42)發生光電效應產生影像，使逹到光 學用膜片(P)的檢測作業。該光學用膜片(P)於輸送皮帶(31)行進的上方設置該反射檢測機構(5)的反射光源裝置(51)射出光線，經過反射鏡(52)投射到該光學用膜片(P)表面反射入影像接收裝置(53)發生光電效應產生影像進行檢測作業。(該各光學檢測機構數量和順序可依光學用膜片(P)欲檢測的性質功效而設置，此為習知的技藝且非為本創作訴求的範圍，在此不予於贅述)

該分類輸送機構(6)設置於裝設檢測裝置的整平輸送機構(3)之後，且相應該光學用膜片(P)設置的檢測列數而設置同數的輸送皮帶(61)，能各自昇降操作的將良品或不良品的光學用膜片(P)分別送進該儲料台(7)內設置的良品儲料槽(71)或不良品儲料槽(72)內。

該分類輸送機構(6)各輸送皮帶(61)和該整平輸送機構(3)間亦設置有間托板(62)無縫串接，並於各輸送皮帶(61)上預定間距均佈的穿設諸多通氣孔(611)，及對應的固設一托置台(63)觸托於該各輸送皮帶(31)行進面的正下方，且該各托置台(63)對應該各輸送皮帶(61)的眾多通氣孔(611)相鄰行列間的交叉點位置各穿設一吸氣孔(631)連通一氣室(632)，及該各吸氣孔(631)對稱的延接挖設預定深度的數氣槽(633)鄰近該各通氣孔(611)行進軌道，和平行該各輸送皮帶(61)行進方向挖設一通氣溝(634)連通該各吸氣孔(631)，藉由吸氣裝置連接該氣室(632)操作該輸送皮帶(61)行進面上的各通氣孔(611)發生負壓吸力。

該操控裝置(8)設置一操作面盤(81)連接各組件的動力裝置和各光學檢測儀器，能依預設或設定的作業時序操作該光學用膜片(P)的進料、清潔、吸持整平、吸持輸送、檢測判定和分 料儲置的作業，並操控一正壓氣體裝置(82)設置於整平輸送機構(3)輸送皮帶(31)的上方，能排流出正壓的清潔空氣流氣幕施加於該各輸送皮帶(31)上的光學用膜片(P)，使提昇光學用膜片(P)更佳的貼附平坦度供給光學檢測儀器更精準的檢測判知，及防止周圍的微塵落附成新的缺陷而影響光學儀器的檢測。

於使用本創作時，可依光學用膜片(P)的最大尺寸設計單列或多列進料的投片機構(1)同列數的托置台(12)和真空吸持機構(13)，及對應光學用膜片(P)列數的寬度設置該整平輸送機構(3)輸送皮帶(31)寬度，並可因應使用不同性質和效能的光學檢測儀器數量分設數段的輸送皮帶(31)串接輸送，且該整平輸送機構(3)上設置該光學用膜片(P)同列數的透射檢測機構(4)和反射檢測機構(5)，及同列數的分類輸送機構(6)串接。本創作該整平輸送機構(3)的輸送皮帶(31)寬度因以單列或多列的最大尺寸光學用膜片(P)設計，所以只要能受輸送皮帶(31)成列的通氣孔(311)吸持的小尺寸光學用膜片(P0)亦可應用(參閱第六圖所示)。

當各列的光學用膜片(P)經過投片機構(1)的送料和清潔機構(2)的清理進入該整平輸送機構(3)的輸送皮帶(31)上方，該各光學用膜片(P)的前緣即受該輸送皮帶(31)上的通氣孔(311)均佈的負壓吸持力拉平貼附前進；經過透射檢測機構(4)和反射檢測機構(5)等檢知光學用膜片(P)良品或不良品，由該操控裝置(8)記憶操控該各光學用膜片(P)完全進入該分類輸送機構(6)的輸送皮帶(61)後，即操作不良品光學用膜片(P)的輸送皮帶(61)降下對準該儲料台 (7)的不良品儲料槽(72)增速的投入儲置後，即昇起回復預定的轉速承接下一光學用膜片(P)的輸入，而良品光學用膜片(P)的輸送皮帶(61)則保持預定的輸送速度投入該儲料台(7)良品儲料槽(71)儲置。本創作該分類輸送機構(6)各輸送皮帶(61)亦可不設置托置台(63)進行光學用膜片(P)的輸送作業。(參閱第十一圖所示)

綜合所陳，本創作依上述之構成、功能及各項目的之敘述，能提供光學用膜片無限制的整平輸送功能，更有均佈的負壓吸持力能使光學用膜片更為平坦無翹曲的接受光學儀器全面性的檢測作業，並且光學用膜片僅受吸持而無機件的壓夾動作，能使光學用膜片的表面不會受到損傷，且光學用膜片是受吸持的隨著輸送皮帶移動，更不會有摩擦拖行致表面受傷致檢測失準的狀況，且可最大化尺寸的設計而無受大小的限制，以提高不同尺寸光學用膜片整平輸送的適用效能，減少裝置備用的數量，而足資証明本創作的構造裝置新穎進步性，既能增進功效，以進一步的提昇光學用膜片整平輸送檢測作業的工作效率和簡化作業的程序動作，並且降低人力操作的工作量，並可免除滾輪組壓夾推移的摩擦耗損，致顯裝置的效能，且又未曾有相同或類似特徵之物品見於國內外刊物或公開使用，實已符合專利法條之要件。

本創作為說明方便所揭露之各構組件的機能外觀、配置和整體效用之精神及範疇，可作相當之變更與轉換或修飾，亦應視為本創作相同的表現範疇。

(1)‧‧‧投片機構

(11)‧‧‧框架

(12)‧‧‧托置台

(13)‧‧‧真空吸持機構

(2)‧‧‧清潔機構

(3)‧‧‧整平輸送機構

(31)‧‧‧輸送皮帶

(32)‧‧‧間托板

(33)‧‧‧托置台

(4)‧‧‧透射檢測機構

(41)‧‧‧透射光源裝置

(42)‧‧‧影像接收裝置

(5)‧‧‧反射檢測機構

(51)‧‧‧反射光源裝置

(52)‧‧‧反射鏡

(53)‧‧‧影像接收裝置

(6)‧‧‧分類輸送機構

(61)‧‧‧輸送皮帶

(62)‧‧‧間托板

(63)‧‧‧托置台

(7)‧‧‧儲料台

(71)‧‧‧良品儲料槽

(72)‧‧‧不良品儲料槽

(8)‧‧‧操控裝置

(81)‧‧‧操作面盤

(82)‧‧‧正壓氣體裝置

(P)‧‧‧光學用膜片

Claims (4)

1. 一種光學用膜片的整平輸送檢測裝置，包括：一投片機構，操控的將疊置的光學用膜片依序進給者；一清潔機構，承接該投片機構進給的光學用膜片進行表面的清理者；一整平輸送機構，分設數段輸送皮帶接置進給的光學用膜片，以負壓吸持貼平的狀態行進者；一透射檢測機構，設置於該整平輸送機構的二段輸送皮帶間投射檢測光線，透射過欲檢測的光學用膜片檢測判知者；一反射檢測機構，設置在該整平輸送機構的相應段的輸送皮帶上投射檢測光線於該欲檢測的光學用膜片上，使反射檢測光線判知者；一分類輸送機構，對應光學用膜片輸送欲檢測的列數設置同數輸送皮帶，操控的預定輸送速度和分類位置作動者；一儲料台，對應該分類輸送機構各輸送皮帶的運動設置良品儲料置槽和不良品儲料槽者；一操控裝置，連接各組件的動力裝置和各光學檢測儀器和一正壓氣體裝置，依預設的作業時序操作該光學用膜片的進料、清潔、吸持整平、吸持輸送、檢測判定和分料儲置的作業者，其特徵在於：該整平輸送機構的輸送皮帶依預定檢測判知性能的光學檢測儀器的數量而分段設置，且各段輸送皮帶間介設有間托板供光學用膜片無縫串接的行進輸送，該各輸送皮帶上預定間距均佈的穿設諸多通氣孔，及對應的固設一托置台觸托於該各輸送皮帶行進面的正下方，該各托置台對應該各輸送皮帶眾多通氣孔相鄰行列間的交叉點位置各穿設一吸氣孔連通一氣室連接吸氣裝置發生負壓吸力，及該各吸氣孔對稱的延設預定深度的數氣槽鄰近該輸送皮帶各通氣孔行進軌道，和平行該各輸送皮帶行進方向挖設 一通氣溝連通該各吸氣孔者；該分類輸送機構串接於該整平輸送機構之後，且相應該光學用膜片設置的檢測列數而設置同數的輸送皮帶，且操控的各自昇降將良品或不良品的光學用膜片分別送進該儲料台內設置的良品儲料槽或不良品儲料槽內，並於各輸送皮帶和該整平輸送機構間亦設置有間托板無縫串接，及各輸送皮帶上預定間距均佈的穿設諸多通氣孔，並對應的固設一托置台觸托於該各輸送皮帶行進面的正下方，且該各托置台對應該各輸送皮帶穿設的眾多通氣孔相鄰行列間的交叉點位置各穿設一吸氣孔連通一氣室連接吸氣裝置發生負壓吸力，及該各吸氣孔對稱的延設預定深度的數氣槽鄰近該各輸送皮帶通氣孔的行進軌道，和平行該各輸送皮帶行進方向挖設一通氣溝連通該各吸氣孔者。
2. 如申請專利範圍第1項所述的光學用膜片的整平輸送檢測裝置，其中透射檢測機構的檢測光源為透射效能時，係設置在該整平輸送機構二段輸送皮帶間，經過高透光率透明材質製成的間托板投射光線，透過該光學用膜片和影像接收裝置發生光電效應產生影像，逹到光學用膜片的檢測作業者。
3. 如申請專利範圍第1項所述的光學用膜片的整平輸送檢測裝置，其中該反射檢測機構的檢測光源為反射效能時，係設置在該整平輸送機構相應段的輸送皮帶上方射出光線，經過反射投射入影像接收裝置發生光電效應產生影像進行檢測作業者。
4. 如申請專利範圍第1項所述的光學用膜片的整平輸送檢測裝置，其中各光學用膜片檢測出良品或不良品係由該操控裝置記憶，於該光學用膜片完全進入該分類輸送機構的輸送皮帶後，即操 作不良品光學用膜片的輸送皮帶降下對準該儲料台的不良品儲料槽增速的投入儲置後再昇起回復預定的轉速承接下一光學用膜片的輸入，而良品光學用膜片則保持預定的輸送速度投入該儲料台的良品儲料槽儲置者。