TWM491179U - 真空吸引測試裝置 - Google Patents

Description

真空吸引測試裝置

本創作為一種真空吸引測試裝置，主要利用平面對平面的接觸方式，應用於軟銘板或觸控面板的測試，以降低對面板的損害機率，同時藉二段真空吸引測試，簡化測試面板是否為良品的程序，而獲致產業上之實用價值者。

習知對觸控面板或軟銘板的線路測試方式，通常是利用測試探針直接來壓觸面板，以取得面板對應位置的線路是否(電路感應是否)正確，而判斷該待測物品是否為良品。其缺點包括在以探針壓觸面板時，可能會壓傷面板的測試點表面或形成凹點；另外，其每測試一種面板時，需配合製作一組治具，耗時費力且成本又高；而習知的方法之一項重大缺點為對於細線路之測試時，對位非常困難，甚至是無法測試，故有待改善。

本創作為一種真空吸引測試裝置，主要應用於軟銘板或觸控面板的測試，其構造主體為一真空吸氣主機台，上部設有可吸真空的測試平台，測試平台的上層結合以具有測試線路及多個接觸點的電路板，電路板上的線路係延伸連接於測試平台後側位置的連接器，而其前端設有一段吸氣金屬板，使用測試時，可提供待測面板放置於上部，將測試平台和金板抽真空，使待測面板與測試平台形成平面對平面的接觸方式，再利用電 路板和金屬板，以二階段方式來測試，可分別測試面板短、斷路及迴路電阻值的正確性，故可避免面板受到壓傷，並簡化測試該待測面板是否為良品的程序，且可提高測試之精準性，乃獲致實用進步性者。

(1)‧‧‧真空吸氣主機台

(11)‧‧‧測試平台

(12)‧‧‧金屬板

(13)‧‧‧氣缸

(2)‧‧‧電路板

(21)‧‧‧線路

(x1)(x2)(x3)‧‧‧接觸點

(22)‧‧‧連接器

(3)‧‧‧待測面板

(31)‧‧‧出PIN端

(32)‧‧‧面板線路

(4a)(4b)‧‧‧Y軸導軌

(41)‧‧‧X軸導軌

(42)(43)‧‧‧電子顯微鏡組

圖一為本創作之立體圖

圖二為本創作第一階段測試示意圖

圖三為本創作第二階段測試下移金屬板之動作示意圖

請先參閱圖一所示，本創作為一種真空吸引測試裝置，主要應用於軟銘板或觸控面板的測試，其構造主體為一真空吸氣主機台(1)，上部設有一可吸真空的測試平台(11)，測試平台(11)的上層結合以具有測試線路(21)和多個接觸點(x1)(x2)(x3)等的電路板(2)，電路板(2)上的測試線路(21)和多個接觸點(x1)(x2)(x3)等，是依據待測面板(3)之面板線路(32)上的測試點來設計，各測試線路(21)之一端則延伸連接於測試平台(11)後側上部位置的連接器(22)，並各再延伸連接至測試主機處，而在測試平台(11)的前端設有一吸氣金屬板(12)，金屬板(12)之下端結合於一汽缸(13)，而可受其帶動上下移動，且另以連接線延伸至測試主機處。另於主機台(1)上，電路板(2)的兩側各設有一Y軸導軌(4a)(4b)，提供一X軸導軌(41)的兩端跨接，以結合二電子顯微鏡組(42)(43)，可在X軸導軌(41)上橫向移動者。

使用測試時，如圖二所示，係先將待測面板(3)設有面板線路(32)之一面朝下放置在電路板上(2)，該待測面板(3)例如為軟銘板或PET 材質之觸控面板，而利用二電子顯微鏡組(42)(43)來對位，以獲得正確的擺放位置，然後將測試平台(11)和金屬板(12)抽真空，使待測面板(3)緊緊的吸附於電路板(2)和金屬板(12)的表面，而形成完全貼附接觸狀態，此時待測面板(3)的面板線路(32)全部待測試點可經由電路板(2)區域之測試線路(21)及各接觸點(x1)(x2)(x3)等，和金屬板(12)全短路區域，透過測試主機以開/斷(OPEN/SHORT)的方式，進行對每一條線路頭尾電阻值量測和斷路與否的量測動作，乃依序完成第一階段對待測面板(3)之每一線路的測試。之後，對金屬板(12)部份放氣，再以氣缸(13)將金屬板(12)下拉，使待測面板(3)原本之測試點頭出PIN端(31)與金屬板(12)分離不接觸，而其他部份仍吸附在電路板(2)上，如圖三所示，此時可利用測試主機再依序測試各線路間是否為絕緣狀態，並判斷其間是否有短路或微短路之情況，完成第二階段方式之測試，藉此可有效率和準確的測得待測面板的開/斷/電阻/絕緣等數值，進而達到判定待測物為良品與否者。

綜上所述，本創作利用巧妙的組合裝置，在一道組合程序，二階段測試方式下，可有效率的完成觸控面板的品管測試，且藉由平面對平面的接觸方式，可避免造成面板受損的疑慮，而克服習知之缺失，故本創作顯已具備專利之要件，爰依法提出申請。

(1)‧‧‧真空吸氣主機台

(11)‧‧‧測試平台

(12)‧‧‧金屬板

(13)‧‧‧氣缸

(2)‧‧‧電路板

(21)‧‧‧測試線路

(x1)(x2)(x3)‧‧‧接觸點

(22)‧‧‧連接器

(3)‧‧‧待測面板

(31)‧‧‧出PIN端

(32)‧‧‧面板線路

(4a)(4b)‧‧‧Y軸導軌

(41)‧‧‧X軸導軌

(42)(43)‧‧‧電子顯微鏡組

Claims (3)

1. 一種真空吸引測試裝置，具有一真空吸氣主機台，上部設有可吸真空的測試平台和金屬板，該測試平台的上層結合以具有測試線路和多個接觸點的電路板，是依據待測面板之測試點位置設置，而各線路之一端則延伸連接於測試平台後側上部位置的連接器，並各再延伸連接至測試主機處，另在金屬板下端結合於一汽缸，可藉汽缸來帶動金屬板上下移動者。
2. 如申請專利範圍第1項所之真空吸引測試裝置，其中電路板的兩側各設有一Y軸導軌，提供一X軸導軌的兩端跨接，X軸導軌上設有二電子顯微鏡組，可在X軸導軌上橫向移動。
3. 如申請專利範圍第1項所之真空吸引測試裝置，其中電路板及金屬板上可供放置待測面板，並在吸真空時，使電路板和金屬板與待測面板形成平面對平面的緊密貼合接觸者。