TWM469964U - 快速檢測篩選機 - Google Patents

Description

快速檢測篩選機

本創作係有關於一種篩選機之設計，特別是指一種快速檢測篩選機。

參閱圖1，習知檢測篩選機1包含有一可將複數物件2一一整列輸出之整列裝置11，一可承接該整列裝置11輸出該每一物件2之轉盤12，一設於該轉盤12一側且針對該每一物件2進行分析檢測之檢測裝置13，一針對該檢測裝置檢測13分析後之該物件2進行分選、集收之退料裝置14，以及一分別與該檢測裝置13及退料裝置連結14之運算裝置15；其中，該退料裝置14於該轉盤12一側設有二可分別集收良品與劣品之集收筒141，以及分別對應該等集收筒141之退料件142；檢測時，藉由該整列裝置11將該物件2一一整列送出，且透過該轉盤12的傳送得以一一將該每一物件2依序傳遞至檢測位置處進行檢測，俾使該每一物件2受到該檢測裝置13之影像擷取，同時將所擷取之資料傳遞至該運算裝置15中進行分析、判斷該每一物件2的良劣，最後將判斷、分析結果傳經該退料裝置14接收，俾利作動該退料件142進行該等物件2良劣分選與集收。

惟，實際使用後發現，檢測過程中，皆係由該轉盤12帶動檢測後該每一物件2至檢測處進行影像擷取，且利用該運算裝置15進行影像解析、判別，為求該等物件2能精準計算，故該檢測裝置13所擷取之影像圖檔所佔記憶容量大，除此之外，該運算裝置15在進行該等物件2之分析、判別之餘，還需要再儲存記憶該每一物件2於檢測後之位置，以便做為該退料裝置退料啟動與否之依據，故該運算裝置15長時間在單一該檢測裝置13的大記憶容量作用下，容易影響該運算裝置15之影像處理速度，相對地該檢測速度亦會大幅降低，進而影響該檢測篩選機1之檢測品質，故該運算裝置15之運算能力有限；此時，若為求加速檢測能力的提昇，更無法大幅擴增多數組之該檢測裝置13及相對應配置之整列裝置11等設備，若硬要去增加該檢測裝置13，則該運算裝置15又會因多影像而大幅佔據該運算裝置15之記憶容量，更加影響該運算裝置15之影像處理速度；是以，該運算裝置15可容許的計算能力有限，單一的運算已接近可計算之極限，此時不是一味地加設多數組之檢測裝置13及相對應配置之整列裝置11等設備就可以提昇檢測速度的，反而使該運算裝置15的計算更加緩慢，實有待改進。

因此，本新型之目的，是在提供一種快速檢測篩選機，其利用轉盤上開設有一落料槽之特殊設計，使得物件經分析、判斷檢測之不良品部份得以立即吹入該落料槽中集收，以免 除再記憶檢測後續退料之分配集收位置，以大幅提升檢測品質與速度。

於是，本新型快速檢測篩選機包含有一整列裝置， 一承接該整列裝置之轉盤，一設於該轉盤一側之檢測裝置，一針對該檢測裝置分析後之物件進行分選、集收之退料裝置以及一分別與該檢測裝置及退料裝置連結之運算裝置；其中，該轉盤上且相反該轉盤周緣處開設有落料槽，使該落料槽與該轉盤周緣間形成有一供該等物件輸送之輸送區，俾供待檢測該物件進行輸送；因此，對於該轉盤上開設有該落料槽之特殊設計，使得該轉盤上之該檢測裝置與相對應之該整列裝置可以額外多加設幾組型態存在設置以進行檢測，藉此，當該等整列裝置同步將待檢測該物件輸出，且依序於該輸送區受到該檢測裝置之影像擷取，並配合該運算裝置之分析、判斷，使得該退料裝置之退料件針對檢測後不良品之該物件予以退料至該落料槽中集收，使該運算裝置可免除再記憶後續退料良品與不良品之分配集收位置，同時亦使該運算裝置檢測判斷時間不會受到影響，不但可有效增進該運算裝置之分析、判斷之檢測速度，更可使檢測過程中得以持續且無間斷進行，大大提升檢測品質與速率。

〔習知〕

1‧‧‧檢測篩選機

11‧‧‧整列裝置

12‧‧‧轉盤

13‧‧‧檢測裝置

14‧‧‧退料裝置

15‧‧‧運算裝置

141‧‧‧集收筒

142‧‧‧退料件

2‧‧‧物件

〔本新型〕

3‧‧‧快速檢測篩選機

31‧‧‧整列裝置

32‧‧‧轉盤

33‧‧‧檢測裝置

34‧‧‧退料裝置

35‧‧‧運算裝置

321‧‧‧落料槽

322‧‧‧輸送區

341‧‧‧退料件

342‧‧‧集收筒

4‧‧‧物件

圖1是習知檢測篩選機示意圖。

圖2是本新型之一較佳實施例之示意圖。

圖3是本新型另一較佳實施例之示意圖。

有關本新型之前述及其他技術內容、特點與功效，在以下配合參考圖式之較佳實施例的詳細說明中，將可清楚的明白。

參閱圖2，本新型之一較佳實施例，該快速檢測篩選機3包含有可將複數物件4一一整列輸出之整列裝置31，一可承接該整列裝置31輸出該每一物件4之轉盤32，一設於該轉盤32一側且針對該每一物件4進行分析檢測之檢測裝置33，一針對該檢測裝置33檢測分析後之該物件4進行分選、集收之退料裝置34，以及分別與該整列裝置31、該轉盤32、該檢測裝置33及該退料裝置34連結之運算裝置35；其中，該退料裝置34具有一設於該轉盤32上方且可使該等物件4位移之退料件341，一承接該等物件4且設於該轉盤32周緣之集收筒342，而前述該退料件341可為一撥動桿，亦或為一高壓氣嘴之設計，以下說明係以圖中表示為之；另，該轉盤32上且相反於該轉盤32周緣處開設有落料槽321，使該落料槽321與該轉盤32間形成有一供該等物件4輸送之輸送區322，而前述該落料槽321與該集收筒342可針對該等物件4檢測後所得之結果分析集收；特別的是，鑒於該轉盤32上具有該落料槽321之特殊設計，除原有設於該轉盤32上之該檢測裝置33及相對應配置之該整列裝置31、該退料裝置34外，亦可額外加設多組型態之設置存在，即如圖3所示。

參閱圖3，首先由該等整列裝置31將該等物件4(如螺 絲、螺帽等，圖中係以螺帽表示)一一輸出至該轉盤32之該輸送區322上，以使得該等物件4在該轉盤32轉動過程中快速傳送至檢測處，這時該檢測裝置33即會針對該物件4進行影像擷取，同時利用該運算裝置35針對該每一檢測裝置33所擷取之影像進行良劣的解析、判別，此時當下若解析、判別為劣品時，該運算裝置35便會迅速發出一作動指示連結該退料裝置34，以使設於該轉盤3上方之該退料件341立即產生作動，俾將判別為劣品之該物件4位移退料之該落料槽321內集收，反觀，若該運算裝置35判別檢測之該物件4為良品時，該運算裝置35不會發出任一作動指示連結至該退料裝置34中，使受檢測為良品之該物件4仍置於該輸送區322上，且在該轉盤32動傳送下，直至落入設於該轉盤32周緣處之該集收筒342內集收；是以，該運算裝置35藉由該轉盤32上開設於該落料槽321之特殊設計，無論是針對原有該檢測裝置33、該整列裝置31及該退料裝置34，亦同時額外增設之多數組之該檢測裝置33及對應配置之該整列裝置31、該退料裝置34等設備存在設置，該運算裝置35僅需專注的針對該等檢測裝置33傳送之擷取影像進行解析、判別精準計算，即劣品才會立即指示該等退料裝置34產生作動，且該運算裝置35無需再記憶該每一物件4於檢測之位置，而使該運算裝置35之記憶容量被大幅佔據，藉此不但可有效提昇該運算裝置35之運算能力外，同時亦可有效加速檢測能力的提昇，更可使檢測過程中得以持續且無間斷進行，大大 提升檢測品質與速率。

歸納前述，本新型藉由轉盤上開設有落料槽之特殊 設計，使得該落料槽與該轉盤周緣間形成有一供該等物件輸送之輸送區，以使運算裝置僅需解析、判別檢測擷取之該物件影像，且針對不良品部份予以位移至該落料槽內集收，使得該運算裝置得以免除再記憶後續退料之分配集收位置，不但可有效增進該運算裝置之分析、判斷之檢測速度，藉此更可於該轉盤上額外設置多組相對應之設備設置存在，俾同步進行檢測，以使檢測過程中得以持續且無間斷進行，大大提升檢測品質與速率，故確實能達到本新型之目的。

惟以上所述者，僅為說明本新型之較佳實施例而 已，當不能以此限定本新型實施之範圍，即大凡依本新型申請專利範圍及新型說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆應仍屬本新型專利涵蓋之範圍內。

3‧‧‧快速檢測篩選機

31‧‧‧整列裝置

32‧‧‧轉盤

33‧‧‧檢測裝置

34‧‧‧退料裝置

35‧‧‧運算裝置

321‧‧‧落料槽

322‧‧‧輸送區

341‧‧‧退料件

342‧‧‧集收筒

4‧‧‧物件

Claims (3)

1. 一種快速檢測篩選機，其包含有可將複數物件一一整列輸出之整列裝置，一可承接該整列裝置輸出該每一物件之轉盤，一設於該轉盤一側且針對該每一物件進行分析檢測之檢測裝置，一針對該檢測裝置檢測分析後之該物件進行分選、集收之退料裝置，以及一分別與該檢測裝置及該退料裝置連結之運算裝置；其中，該退料裝置具有一設於該轉盤上方且可使該等物件位移之退料件，以及一承接該等物件且設於該轉盤周緣之集收筒；其特徵在於；該轉盤上且相反於該轉盤周緣處開設有落料槽，使該落料槽與該轉盤周緣間形成有一供該等物件輸送之輸送區，該落料槽與集收筒可針對該等物件品檢後所得之結果分別集收。
2. 根據申請專利範圍第1項所述快速檢測篩選機，其中，該退料件可為一撥動桿。
3. 根據申請專利範圍第1項所述快速檢測篩選機，其中，該退料件可為一高壓氣嘴。