TWM461790U - 具弧狀接觸稜線之測試探針 - Google Patents

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Description

具弧狀接觸稜線之測試探針
本新型係有關於一種具弧狀接觸稜線之測試探針，尤指一種測試探針之檢測端，係含有多數探爪，且各該探爪分別形成有一接觸稜線，且令各該接觸稜線係成一弧形曲線，以增加與被檢測物之錫球接觸面積者。
目前所生產的中央處理器、積體電路…等電子裝置，通常係以多數錫球構成其電性連接面，當製作完成後，必需藉由探針檢測各錫球，以確定電子裝置之各項功能是否正常，而為品質管制的重要項目之一。
習知應用於檢測電子裝置錫球電性特性之探針，其檢測端有呈錐狀者，在檢測時，以其前端抵壓於對應錫球上，以達電性連接，進而獲取電性特性；惟此一方式，由於錐狀之探針頭，在接觸錫球時，係以單點方式接觸，電性連接特性極不穩定，常因接觸不良等因素，而造成檢測值不準確的缺點。
緣此，如中華民國新型專利申請案第M429101及M427570號，即分別揭示一種呈多爪型式之探針，各爪係呈尖銳之錐狀，在檢測時，係以各爪之尖點抵靠於檢測點的錫球上，而呈多點接觸，以改善前項所述習知探針以單點接觸的缺點，藉由多點接觸增加測試時電性連接的穩定性。
然而，雖然該第M429101及M427570號兩習知前案，在檢測 時，可以達到多點接觸的目的，但由於探針之直徑極細，可形成之探針爪數量有限，最多為4~5爪，亦言之，其與受測錫球之接觸點，最多為4~5點的接觸，但通常會少於4~5個接觸點，這樣少量的接觸點，還是會有電性連接不穩定缺點。另外由於檢測的接觸方式，是呈點接觸，且各檢測點的間距極為趨近，因此在各相鄰檢測接觸點間，極易產生電磁干擾，而影響檢測之精準度，而有改進的必要。
本案創作人有鑑於此，乃加予研究創新，揭示出本新型所示具弧狀接觸稜線之測試探針。
本新型之目的旨在提供一種具弧狀接觸稜線之測試探針，係含有一桿體，於該桿體之第一端界定形成一檢測端，該檢測端係含有多數探爪，各該探爪分別形成一接觸稜線，令各該接觸稜線係成一弧形線者，如是藉由各該探爪呈弧狀之接觸稜線，吻合地接觸一檢測物呈圓弧曲面之錫球表面，以增加接觸面積，提升檢測的準確度者。
本新型所揭示具弧狀接觸稜線之測試探針，其所形成之探爪數目，本新型並不予自限。
本新型所揭示具弧狀接觸稜線之測試探針，在製造上，可以令兩個或兩個以上，切削長度大於該測試探針直徑之切削圓柱(可由切削刀具旋轉所構成)，呈交錯狀分別切削該測試探針的檢測端，以在該檢測端形成多數具有弧狀接觸稜線之探爪者。如，令兩切削圓柱之交錯點，係通過位於該測試探針之圓周同一點上，使所形成之接觸稜線，係呈現由該測試探針之圓周至軸心的弧形內凹曲線者；惟本新型並不自限其製造方法者。
本新型所揭示具弧狀接觸稜線之測試探針，係滑套於一套筒中，並於該套筒內頂撐有第一彈簧，使該第一彈簧可以彈性地抵壓於檢測物之對應錫球上，於應用時，該套筒係穿套於檢測治具之套穴中者；本新型所揭示之測試探針，進一步於其外緣，突設有突緣部，令該突緣部與該檢測治具之套穴間，係頂撐有第二彈簧，使該測試探針受第一彈簧及第二彈簧之彈性頂撐，彈性地抵靠在檢測物之對應錫球表面上，以確保電性連接之穩定，使檢測之電性數據可更為精準。
本新型所揭示具弧狀接觸稜線之測試探針，由於該測試探針是由各該探爪呈弧形曲線之接觸稜線與所檢測之檢測物的錫球呈線接觸，吻合地接觸，因此本新型之測試探針與所測之錫球表面，是呈多道線接觸，較習知以點接觸者，增加其接觸面積，以確保良好的電性連接特性，使檢測所得結果可以更為精準。
另外，由於本新型所揭示具弧狀接觸稜線之測試探針，其與檢測物之錫球表面係呈線接觸，因此不會產生電極集中在尖點的效應，因此可以降低干擾，使檢測更為精準，而顯本新型之新穎性並具產業利用性。
本新型之可取實體，可由以下之圖式及所附之實施方式，而得以明晰之。
(10)‧‧‧測試探針
(11)‧‧‧桿體
(12)‧‧‧探爪
(121)‧‧‧接觸稜線
(13)‧‧‧突緣部
(20)‧‧‧檢測物
(21)‧‧‧錫球
(30)‧‧‧套筒
(31)‧‧‧第一彈簧
(32)‧‧‧第二彈簧
(40)‧‧‧檢測治具
(41)‧‧‧套穴
(C)‧‧‧切削圓柱
(P)‧‧‧圓周上的一點
第一圖：係本新型之立體圖。
第二圖：係本新型局部剖面結構應用狀態示意圖。
第三圖：係本新型成型各該探爪之示意圖。
第四圖：係本新型進行檢測之應用狀態圖。
第五圖：係本新型另一實施例應用狀態圖。
請參閱第一圖及第二圖所示，本新型係有關於一種具弧狀接觸稜線之測試探針(10)，係含有一桿體(11)，於該桿體(11)之第一端界定形成一檢測端，該檢測端係含有多數探爪(12)，各該探爪(12)分別形成一接觸稜線(121)，令各該接觸稜線(121)係成一弧形線者，如是藉由各該探爪(12)呈弧狀之接觸稜線(121)，吻合地接觸一檢測物(20)呈圓弧曲面之錫球(21)表面，以增加接觸面積，提升檢測的準確度者。
本新型所揭示具弧狀接觸稜線之測試探針，其所形成之探爪(12)數目，本新型並不予自限。
本新型所揭示具弧狀接觸稜線之測試探針，在製造上，如第三圖所示，可以令兩個或兩個以上，切削長度大於該測試探針(10)直徑之切削圓柱(C)〔可由切削刀具旋轉所構成〕，呈交錯狀分別切削該測試探針(10)的檢測端，以在該檢測端形成多數具有弧狀接觸稜線(121)之探爪(12)者。如第三圖所示，係令兩切削圓柱(C)之交錯點，通過位於該測試探針(10)圓周上同一點(P)上，使所形成之各接觸稜線(121)，係呈現由該測試探針(10)之圓周至軸心的弧形內凹曲線者，也使各該探爪(12)之前端呈尖狀者。惟本新型並不自限其製造方法，也可以擠壓、衝壓等方式成型者。
如第四圖所示，本新型所揭示具弧狀接觸稜線之測試探針(10)，係滑套於一套筒(30)中，並於該套筒(30)內頂撐有第一彈簧(31)，使該測試探針(10)可以彈性地抵壓於檢測物(20)之對應錫球(21)上，於應用時， 該套筒(30)係穿套於檢測治具(40)之套穴(41)中者；如第五圖所示，本新型所揭示之測試探針(10)，進一步於其外緣，突設有突緣部(13)，令該突緣部(13)與該檢測治具(40)之套穴(41)間，係頂撐有第二彈簧(32)，使該測試探針(10)受第一彈簧(31)及第二彈簧(32)之彈性頂撐，彈性地抵靠在檢測物(20)之對應錫球(21)表面上，以確保電性連接之穩定，使檢測之電性數據可更為精準。
本新型所揭示具弧狀接觸稜線之測試探針，由於該測試探針(10)是由各該探爪(12)呈弧形曲線之接觸稜線(121)與所檢測之檢測物(20)的錫球(21)，吻合地接觸，因此本新型之測試探針(10)與所測之錫球(21)表面，是呈多道線接觸，較習知以點接觸者，更可增加其接觸面積，以確保良好的電性連接特性，使檢測所得結果可以更加的精準。
另外，由於本新型所揭示具弧狀接觸稜線之測試探針(10)，其與檢測物(20)之錫球(21)表面係呈線接觸，因此不會產生電極集中在尖點的效應，因此可以降低干擾，使檢測更為精準，而顯本新型之新穎性及具產業利用性。
本新型所揭示之測試探針，其結構、形狀，可於不違本新型之精神及範疇下，予以修飾應用，本新型並不自限於上述之實施方式。
(10)‧‧‧測試探針
(11)‧‧‧桿體
(12)‧‧‧探爪
(121)‧‧‧接觸稜線
(20)‧‧‧檢測物
(21)‧‧‧錫球

Claims (3)

  1. 一種具弧狀接觸稜線之測試探針，係含有一桿體，於該桿體之第一端界定形成一檢測端，該檢測端係含有多數探爪，各該探爪分別形成一接觸稜線，令各該接觸稜線係成一弧形線，以藉由各該探爪呈弧狀之接觸稜線，吻合地接觸一檢測物呈圓弧曲面之錫球表面者。
  2. 如申請專利範圍第1項所示具弧狀接觸稜線之測試探針，其中所形成之各該接觸稜線，係由該測試探針之圓周至軸心的弧形內凹曲線者。
  3. 如申請專利範圍第1項所示具弧狀接觸稜線之測試探針，其中該測試探針，係滑套於一套筒中，並於該套筒內頂撐有第一彈簧，使該測試探針可以彈性地抵壓於檢測物之對應錫球上，上述該套筒係穿套於一個檢測治具的套穴中，另於該測試探針之外緣，突設有突緣部，令該突緣部與該檢測治具之套穴間，係頂撐有第二彈簧者。
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