TWM415304U - Inspection system for flat panel display defect - Google Patents

Description

M415304 五、新型說明： 【新型所屬之技術領域】 本創作係關於一種檢測系統，特別是針對平面顯 示器缺陷檢測的系統。 【先前技術】 近年來，平面顯示器已經廣泛地被用來取代陰極

管(CRT)，由於其應用與消費者的日常生活息息相關， 因此，液晶顯示器及電漿顯示器等平面顯示器的需東 曰益增加。廠商亦投入大筆的經費以對平面顯示器_ 技術進行研發，尤其是朝大尺寸平面顯示器技術的二 展0 、 平面顯示器相關產業包括液晶顯示器（LCD 紙、有機發光半導體顯示器（〇LED djsp丨ay)等。 已經具有薄型化、省電、省能源、輕量化、

旦貝如升、視覺效果更佳以及更符合新時代生活 的人機溝通媒介等優點。 來 然而’在將背光模組、軸電路等元 示器面板以構成平面顯示器之前，顯示器面板 = ，檢測面板是否有異物或義殘留 致、是否有面板上的基板間隙是否〜 開來。料痕荨偏’以便將良品與不良品區障 對平面顯示器進行檢测的習 學檢測系統掃描檢測，作業人„ ^匕括以自動先 對顯示器通電騎檢測/、物作顯微鏡檢測或是 4 M415304 學檢幕尺时增加，利用自動光 .檢測存在於顯示器=⑽一)配合影像擷取，來 耗費-天的時間，，個缺陷，相當費時，往往 若是由作業人員操作兩個工件的檢測。而 不僅不易查找出問題===顯示器進行檢測， ”另外，直接檢測顯示力成本。 :雖然省時’但二二=斷是否存在缺 作廢。但是對於製作單償 ^準，這個顯示器只能 不符合經濟致益。 、门的平面顯示器來說，相當 裝置種檢測平面顯示器的方法及 間及人力成本的問題之外，’花費太多檢測時 所在，增加進- 【新型内容】 有4ί於上述課題，本創作蔣极 檢測系統，可節省檢測 /、—種平面顯示器缺陷 系統包括一控制穿置及铬、間。平面顯示器缺陷檢測 設備對平面顯制裝置控制檢測 常的亮點或亮線，以判別是否有;度陷;=有+溫= 或亮線所在之處，即為缺陷存 置’在觀察到表面溫度影像有 :及—光學檢測裳 或亮線所在區域進行掃描，錄"+二讀時’對該亮點 步得知缺陷類型及位置。 光予衫像，以進一 關於本創作之優點與精神， 明及所附圖式得到進一步的 a由以下的創作說 參考與說明，非以對本創作加以限=而所附圖式僅供 【實施方式】 為使本創作之上述目的、 懂，下文依本創作所提供的平和優點能更明顯易 法，特舉較佳實施例，並 4不盗檢測系統及方 說明如下。 -5所附相關圖式，作詳細 請參照圖1,為本創作所提供 統1其中一實施例，用以對— ’、、千^面顯不器檢測系 測。平面顯示器檢測系統至小' 員示态2進行缺陷檢 控制裝置11。 夕匕括—檢測設備10及— 檢測設備10包括—雷调 度感测裝置101、一光學檢測杜、w器100、一紅外線溫 對待測的平面顯示器2提^裳置1〇2。電源供應器100 檢測。 ’、工作電壓及電流，以進行 紅外線溫度感测裝詈1 i 合二極體1010(CC〇)，用來旦配備有一紅外線電荷耦 表面溫度，麟2通電後的 出，可選擇以一灰階或彩色的^面：;結果輪 本發明實施例中，係使用像顯示。在 定用中砥紅外線溫度感測器，所 使用的红外線波長範圍大約800至1060 nm。 當平面顯示器中存在斷路、短路或電阻過高等缺 陷時，缺陷點的溫度會高於其他區域，所以，會在表 面溫度影像上顯示亮點；另外，和缺陷點同一排或一 列的像素點，由於共用同一個電極，其溫度也同樣會 受到缺陷點影響，而在表面溫度影像顯示亮線。也就 是說，亮點或亮線所在之處，即為缺陷存在之處。 雖然可以立即確定缺陷存在區域，但還需要利用 一光學檢測裝置102,才能進一步確定缺陷類型及位置 時。要注意的是，此時光學檢測裝置102只要針對缺陷 存在的區域進行掃描即可，不需要再像習知技術一 般，耗費很長時間，掃描整個平面顯示器2。 光學檢測裝置102包括一可見光電荷耦合二極體 1020，以輸出缺陷存在區域的光學影像。所述的光學 檢測裝置102最佳為一自動光學檢測裝置。 控制裝置11可以是一電腦或一處理器，用以控制 紅外線溫度感測裝置101及光學檢測裝置102，對平面 顯示器2量測表面溫度及拍攝影像。 在一較佳實施例中，為了自動化檢測流程，進一 步節省檢測時間及人力成本，本發明之控制裝置11更 包括一處理分析模組110，分別與紅外線溫度感測裝置 101及光學感測裝置102電性連接。當紅外線溫度感測 裝置101輸出待測平面顯示器2的表面溫度影像後，將 數據傳送至處理分析模組110進行分析。 處理分析模組110會計算表面溫度影像每一像素 點的表面溫度與一參考值之間的溫度差值，以得知亮 M415304 點或亮線所在之位置的座標數據。只要溫度差值大於 —預設值’處理分析模組110標示這些像素點，使光學 檢測裝置102能掃描該些像素點，以進一步確認缺陷所 在位置。 所述的參考值是指一標準平面顯示器的表面平均 溫度。所以，在本發明實施例中，處理分析模組11〇 更包括一資料庫1100，以儲存不同尺寸及種類平面顯 示器的表面平均溫度，作為參考值。 請再參照圖1，本發明實施例之檢測設備1 〇更包括 一滑動軌103、一控制執1 〇4、一 X轴驅動元件1 〇5、第 一丫轴驅動元件106及一第二Y轴驅動元件1 〇7。

控制執104兩端垂直架設於相互平行的二滑動執 103之間，紅外線溫度感測裝置1〇1及光學檢測裴置 102則分別設置於控制軌1〇4前後兩側。 X X軸驅動元件105驅動控制軌104在水平方向移 動，藉此調整紅外線溫度感測裝置彳及光學檢測裝置 102的X軸座標。 '、 第一及第一 Y軸驅動元件1 〇6、1 〇7則分別驅動紅 外線溫度感測裝置101，及光學檢測裝置1〇2沿控制執 1 04轴向移動。 當電源供應器101對待測平面顯示器2供電後，控 制裝置11調整紅外線溫度感測裴置彳〇彳的χ軸及γ軸座 標，使紅外線溫度感測裝置101能夠量測平面顯示器2 的表面溫度。 經由分析表面溫度影像，得到缺陷存在區域的座 標數據後’控制裝置11再控制光學檢測裝置102的X軸 8 及Y軸座標，使之進行細部掃瞎。 综上所述，本創作之平面顯示器拾 :時間内確定是否有缺陷存在。過=== 置對一個顯千哭丨丨β批#丨星Μ先学檢别哀 缺祿 讀於&相面板查找 或進仃檢測時，可能甚至要耗費〜天的時間。本 作3外線溫度感測裝置配合光學檢測裝置來檢 二需要花費數十秒鐘時間，就#成一個平面顯 間讀測’相較於習知技術而言，大Μ省了檢測時 採用Ϊΐί外’本發明之檢測方法相較於習知技術中 ，松測的方法而言’不僅檢測返速，同時可以 ί 問題所在，以判斷是否進行_。對於高 生：t而言，本發明之檢測方式可以降低廢品產 定太雖以較佳實例闡明如上’然其並非用以限 此神!發明實體僅止於上述實施例。凡熟悉 產生相同的功效。是以，在不脫離件或方 磕 隹个贶雖本創作之精神與範 可斤乍之修改，均應包含在下述之申請專利範圍内。 【圖式簡單說明】 圖1本創作實施例之平面顯示器缺陷檢測系統。 【主要元件符號說明】 1:平面顯示器缺陷檢測系統 10 :檢測設備 11 :控制裝置 110 :處理分析模組 100 :電源供應器 1100 :資料庫 M415304 1010:紅外線電荷耦合二極體101 :紅外線溫度感測裝置 1020 :可見光電荷耦合二極體102 :光學檢測裝置 104:控制轨 103 :滑動軌 105 : X轴驅動元件 106 :第一 丫軸驅動元件 2 :平面顯示器 107 :第二Y軸驅動元件

Claims (1)

1. •、申請專利範圍： 平面顯示器檢測系統，用以對—平面顯示器進行 控：ί测，包括一控制裝置及一檢測設備，該控制裝置 備，對該平面顯示器進行檢測，其中，該 一電源供應器，以對該平面顯示器供電進行操 '、二，外線溫度感縣置，以量龍平面顯示器的表面 /皿又，亚輸出一表面溫度影像，以藉由 =象是否有溫度異常的亮點或亮線來是否表= ;及其中，該焭點或亮線所在之處，即為缺陷存在之 二光學檢測裝置，#該表面溫度影像有亮 難置直接賴亮點或亮線存在之= ’亚輸出1學影像，以進—步得知缺陷類型及 2. 如申請專利範圍第彳項所述的檢測系統，該控制 包括-處理分析模組，計算表面溫度影像每—像素 表面溫度與—參考值的溫度差值，以得知該亮點或亮線 所在之位置的座標數據。 v' 3. 如申請專利範圍第2項所述的檢測系統，該處理 模ί更包括—資料庫，用以儲存不同尺寸及種類平面顯 不态的表面平均溫度，做為該參考值。 、 M415304 4. 如申請專利範圍第1項所述的檢測系統，該紅外線溫 度感測裝置包括一紅外線電荷耦合二極體，以輸出該表 面溫度影像。 5. 如申請專利範圍第1項所述的檢測系統，該光學檢測 裝置包括一可見光電荷耦合二極體，以輸出該光學影 像。 6. 如申請專利範圍第1項所述的檢測系統，該檢測設備 更包括： 二滑動軌，該二滑動執相互平行；及 一控制軌，該控制軌垂直架設於該二滑動執，並可 沿著該二滑動執移動，該紅外線溫度感測裝置及該光學 檢測裝置架設於該控制軌前後兩側，並可沿該控制軌軸 向移動。 7. 如申請專利範圍第6項所述的檢測系統，該檢測設備 更包括： 一 X軸驅動元件，設置於該控制軌，用以調整該紅 外線溫度感測裝置或該光學檢測裝置的X座標； 一第一 Y軸驅動元件，設置於該控制軌與該紅外線 溫度感測裝置之間，以調整該紅外線溫度感測裝置的Y 座標；及 一第二Y軸驅動元件，設置於該控制軌與該光學檢 測裝置之間，以調整該光學檢測裝置的Y座標。 α