TWI835494B - 信號抖動自動量測方法 - Google Patents

Abstract

一種信號抖動自動量測方法，由一信號採集模組及一測試模組執行，用於量測一待測物所輸出的一第一待測信號，主要是信號採集模組根據預設傳輸格式轉換第一待測信號以獲取第二待測信號，該測試模組再根據預設觸發電壓及預設標準波形的半個週期時間分析第二待測信號，以獲得待測波形，並據以取得第一及第二量測值，且判斷第一量測值是否大於一相關於第二量測值的第一預設值，當判斷為是時，該測試模組根據待測波形，產生一具有第一信號抖動範圍的第一波形輸出，並據以產生一第一測試報告。

Description

信號抖動自動量測方法

本發明是有關於一種量測方法，特別是指一種信號抖動自動量測方法。

現有信號抖動（jitter）為信號實際轉換位置與其理想轉換位置在時間上的位移。對於資料傳送系統而言，信號抖動會造成資料傳輸的錯誤，降低系統的可靠度，甚至造成系統的誤動作，因此，信號抖動分析是不容忽視的問題。

目前對一待測信號進行信號抖動分析時，由於該待測信號的波形變化很大，導致現有信號量測器（如示波器）無法採用一固定方法或一固定觸發參數來達成自動量測該待測信號的一信號抖動範圍。因此，現有技術需以人工的方式，由使用者手動調整該信號量測器之各項參數，以標示出正確的該信號抖動範圍，造成現有技術無法達到全自動化量測。此外，當該待測信號具有較大的雜訊時，甚至可能發生量測錯誤，導致所標示出的該信號抖動範圍不正確。因此，現有量測該待測信號的該信號抖動範圍的方式仍有改進的空間。

因此，本發明的目的，即在提供一種能夠正確自動量測信號抖動範圍的信號抖動自動量測方法。

於是，本發明信號抖動自動量測方法，由一包含一信號採集模組及一測試模組的測試系統執行，用於量測一待測物根據一輸入電壓運作而輸出的一第一待測信號，該信號抖動自動量測方法包含一步驟(A)、一步驟(B)、一步驟(C)，及一步驟(D)。

該步驟(A)利用該信號採集模組根據一預設傳輸格式轉換該第一待測信號，以獲取一第二待測信號並輸出至該測試模組。

該步驟(B)利用該測試模組根據一預設觸發電壓及一預設標準波形的一半個週期時間，分析該第二待測信號，以獲得一待測波形，並自該待測波形取得一第一量測值，及一第二量測值，該預設觸發電壓與該待測波形於該半個週期時間具有多個交點，該等交點中的一第一個交點及一第二個交點所界定出的一時間區間作為該第一量測值，該等交點中的該第一個交點及一最後一個交點所界定出的一時間區間作為該第二量測值，該預設觸發電壓相關於該輸入電壓。

該步驟(C)利用該測試模組判斷該第一量測值是否大於一第一預設值，該第一預設值相關於該第二量測值。

該步驟(D)當步驟(C)判斷為是時，利用該測試模組根據該待測波形，產生一具有一第一信號抖動範圍的第一波形輸出，並據以產生一第一測試報告。

本發明的功效在於：利用該測試模組取得正確對應該第二待測信號的一完整正半波波形的該預設觸發電壓，來擷取正確的該半個週期時間的該完整正半波波形作為該待測波形，並據以產生具有正確第一信號抖動範圍的該第一測試報告，進而達到全自動化訊號抖動量測之功效。

參閱圖1，本發明信號抖動自動量測方法的一實施例，由一測試系統執行，用於量測一待測物10根據一輸入電壓運作而輸出的一第一待測信號Ts。該待測物10例如為一主機板的一中央處理器、一基板管理控制器、一複雜可編程邏輯控制器等設置於該主機板上的電子元件。該第一待測信號Ts例如為該中央處理器的一電源信號、一變壓器的一狀態訊號、一基板管理控制器的一時鐘訊號、一基板管理控制器的一心跳訊號，但不限於此。在本實施例中，該測試系統包含一用於擷取該第一待測信號Ts波形的信號採集模組1，及一電連接該信號採集模組1的測試模組2。該信號採集模組1例如可以採用一個訊號轉換器，以將採集的該第一待測信號Ts的訊號格式轉換成具有該測試模組2能接收的格式的一第二待測信號，或例如是一具有複雜可編程邏輯控制器/微處理器的轉換電路模組，只要能將所採集到的該第一待測信號Ts的訊號格式轉成具有該測試模組2能讀的訊號格式的該第二待測信號即可，又或例如為一類比至數位轉換器(analog to digital converter)、一數位至類比轉換器(digital to analog converter)。該測試模組2例如為執行一測試程式的一筆記型電腦、一桌上型電腦或一測試機台。

參閱圖2至圖4，詳細來說，該測試系統所執行之本發明信號抖動自動量測方法包含以下步驟。

在步驟30中，該信號採集模組1根據一預設傳輸格式轉換該第一待測信號Ts，以獲取該第二待測信號並輸出至該測試模組2。

在步驟31中，該測試模組2根據一預設觸發電壓及一預設標準波形的一半個週期時間(即，T/2，T為該預設標準波形的一個週期時間)，分析該第二待測信號，以獲得一待測波形，並自該待測波形取得一第一量測值M1，及一第二量測值M2。該預設觸發電壓與該待測波形於該半個週期時間具有多個交點，該等交點中的一第一個交點及一第二個交點所界定出的一時間區間作為該第一量測值。該等交點中的該第一個交點及一最後一個交點所界定出的一時間區間作為該第二量測值。進一步參閱圖5，該第二待測信號包括相似的多個波形，圖5為該第二待測信號之該等波形中的一者的一部分，但不限於此。在本實施例中，該測試模組2根據該預設觸發電壓與該第二待測信號依序相交處取得多個交點，且將該等交點中的一第一個交點(例如，圖5中最左邊的一交點P1)作為當下的該預設觸發電壓所對應的一起始交點，並由該起始交點P1起算該半個週期時間所對應到的波形作為該待測波形所對應的一待測正半週期。接著，依據一時間軸t，由該待測波形的該待測正半週期中依序找出該預設觸發電壓與該待測波形的其他交點(例如，圖5的交點P2、P3、P4)，並於其他交點各自與該起始交點P1所界定出的一時間區間中找出一對應最短時間的時間區間作為該第一量測值M1 (例如，圖5中之該起始交點P1與當下的該預設觸發電壓所對應的第二個交點P2間的寬度所指示的一時間區間)，以及一對應最長時間的時間區間作為該第二量測值M2(例如，圖5中之該起始交點(即，第一個交點P1)與當下的該預設觸發電壓所對應的第四個交點(即，最後一個交點P4)間的寬度所指示的一時間區間)，其中，若是該測試模組2第一次分析該第二待測信號且尚未設定該起始交點，則該測試模組2依據該時間軸t取得該預設觸發電壓與該第二待測信號的該等待測波形相交的第一個交點作為該待測波形的起始交點。在本實施例中，該預設觸發電壓相關於該輸入電壓，例如，該預設觸發電壓為該輸入電壓乘以一預設百分數，其中該預設百分數為50%。該預設觸發電壓可由使用者所預先設定並儲存至該測試模組2。

在步驟32中，該測試模組2判斷該第一量測值是否大於一第一預設值。當判斷為是時，流程進行步驟33；當判斷為否時，流程進行步驟35。該第一預設值相關於該第二量測值。在本實施例中，該第一預設值為該第二量測值乘以一檢測百分數，該檢測百分數為10%，但不限於此，也可以是大於0%且小於20%的其他檢測百分數。需說明的是，若步驟32判斷為是，代表該測試模組2根據該預設觸發電壓自該第二待測信號所取得的該待測波形為正確波形範圍；反之，若步驟32判斷為否，即該第一量測值小於該第二量測值的10%，則視為該第一量測值遠小於該第二量測值，代表該測試模組2根據該預設觸發電壓自該第二待測信號所取得的該待測波形為錯誤波形範圍，需由該測試模組2對該預設觸發電壓進行調整。

在步驟33中，該測試模組2根據該待測波形，產生一具有一第一信號抖動範圍的第一波形輸出，並據以產生一第一測試報告。

在步驟34中，該測試模組2根據該預設觸發電壓及該半個週期時間，分析該第二待測信號，以獲得至少一個新待測波形，並將該待測波形與該至少一個新待測波形進行波形累加，以產生一具有一新第一信號抖動範圍的新第一波形輸出，並據以產生一新第一測試報告。該至少一個新待測波形是在獲得該待測波形之後才取得。在本實施例中，該測試模組2是由當下分析的該待測正半週期(即，對應的該待測波形)後，根據該預設觸發電壓與該第二待測信號所取得的另一第一個交點作為下一個新待測波形的一起始交點，且取得該至少一個新待測波形中的每一者的取得方式與獲取該待測波形之方式相似，為求簡潔起見，於此不再贅述。

在步驟35中，該測試模組2調升該預設觸發電壓，以產生一第一觸發電壓。在本實施例中，為達到調升該預設觸發電壓之目的，該測試模組2將該輸入電壓乘以一第一調整百分數，以產生該第一觸發電壓作為該預設觸發電壓調升後的結果，其中，該第一調整百分數為該預設百分數加上一驗證比例，例如，該預設百分數為50%，當該驗證比例為1%時，則該第一調整百分數為51%(即，50%+1%=51%)，但不限於此，該驗證比例也可以是0%~100%的任何比例。在另一實施例中，該第一調整百分數為該預設百分數乘以一新驗證比例，且100%＞該新驗證比例＞該預設百分數。

在步驟36中，該測試模組2根據該第一觸發電壓及該半個週期時間，分析該第二待測信號，以獲得一第一待測波形，並自該第一待測波形取得一第三量測值。該第一觸發電壓與該第一待測波形於該半個週期時間具有多個第一交點，該等第一交點中的一第一個第一交點及一第二個第一交點所界定出的一時間區間作為該第三量測值。步驟36之詳細方法與步驟31相似，於此不再贅述。

在步驟37中，該測試模組2判斷該第三量測值是否小於該第一量測值。當判斷為是時，流程進行步驟39；當判斷為否時，流程進行步驟38。

在步驟38中，該測試模組2依據該時間軸，由該預設觸發電壓與該待測波形於該半個週期時間所具有的該等交點中，將當下的該起始交點的下一個交點作為一新起始交點(即，步驟31的該第二個交點)，並進行步驟31，根據取得該待測波形與該等第一及第二量測值M1、M2之相似操作，重新取得新的一待測波形，並自新的該待測波形取得新的一第一量測值及一第二量測值。

在步驟39中，該測試模組2調降該第一觸發電壓，以產生一第二觸發電壓。在本實施例中，為達到調降該第一觸發電壓之目的，該測試模組2將該輸入電壓乘以一第二調整百分數，以產生該第二觸發電壓作為該第一觸發電壓調降後的結果。詳細而言，該測試模組2調整該第一調整百分數來作為該第二調整百分數，以調降該第一觸發電壓，也就是說，該測試模組2將該預設百分數加上該驗證比例來獲取該第一調整百分數之計算，調整為將該預設百分數乘以一調降比例，來獲取該第二調整百分數，其中，0%＜該調降比例＜100%，例如該調降比例為50%，該第二調整百分數為25%，該第二觸發電壓等於該輸入電壓乘以25%，但不限於此。在另一實施例中，該第二觸發電壓等於該預設百分數減去該調降比例後所得的結果再乘上該輸入電壓，其中，該調降比例為30%，則該第二觸發電壓等於該輸入電壓乘以20%，其中，0%＜該調降比例＜該預設百分數，但不限於此。

在步驟40中，該測試模組2根據該第二觸發電壓及該半個週期時間，分析該第二待測信號，以獲取一第二待測波形。

在步驟41中，該測試模組2根據該第二觸發電壓與該第二待測波形，獲得一第四量測值，及一第五量測值。該第二觸發電壓與該第二待測波形於該半個週期時間具有多個第二交點，該等第二交點中的一第一個第二交點及一第二個第二交點所界定出的一時間區間作為該第四量測值。該等第二交點中的該第一個第二交點及一最後一個第二交點所界定出的一時間區間作為該第五量測值。步驟40、41之詳細方法與步驟31相似，於此不再贅述。

在步驟42中，該測試模組2判斷該第四量測值是否大於一第二預設值。當判斷為是時，流程進行步驟43；當判斷為否時，流程進行步驟44。該第二預設值相關於該第五量測值。在本實施例中，該測試模組2將該第五量測值乘以一第三調整百分數，以獲得該第二預設值，該第三調整百分數為10%，但不限於此，也可以是大於0%且小於20%的其他調整百分數。

在步驟43中，該測試模組2根據該第二待測波形，產生一具有一第二信號抖動範圍的第二波形輸出，並據以產生一第二測試報告。需說明的是，在其他實施例中，在步驟43與結束之間還具有與步驟34相似之操作，以將該第二待測波形與至少一個新第二待測波形進行波形累加，以產生一具有一新第二信號抖動範圍的新第二波形輸出，並據以產生一新第二測試報告。

在步驟44中，該測試模組2判斷該第二觸發電壓是否小於一第三預設值。當判斷為是時，流程進行步驟45；當判斷為否時，流程進行步驟50。該第三預設值相關於該輸入電壓且遠小於該預設觸發電壓。在本實施例中，該測試模組2將該輸入電壓乘以另一第二調整百分數，以獲得該第三預設值，該另一第二調整百分數為1%，也可以是大於0%且小於5%的任意百分數，但不限於此。

在步驟45中，該測試模組2根據該輸入電壓及另一第一調整百分數，產生一第三觸發電壓。在本實施例中，該第二測試模組2對該預設百分數進行運算來產生該另一第一調整百分數，進而產生該第三觸發電壓，因此，該第三觸發電壓大於該預設觸發電壓。詳細而言，該測試模組2將該預設百分數乘以一調升比例後所得之結果與該預設百分數相加，以產生該另一第一調整百分數，以產生大於該預設觸發電壓的該第三觸發電壓，其中，0%＜該調升比例＜該預設百分數，例如，該調升比例固定為50%，則該另一第一調整百分數等於該預設百分數與該預設百分數乘以50%所得之一結果相加，也就是說，該另一第一調整百分數等於75%，但不限於此。

在步驟46中，該測試模組2根據該第三觸發電壓及該半個週期時間，分析該第二待測信號，以獲取一第三待測波形。

在步驟47中，該測試模組2根據該第三觸發電壓與該第三待測波形，獲得一第六量測值，及一第七量測值。該第三觸發電壓與該第三待測波形於該半個週期時間具有多個第三交點，該等第三交點中的一第一個第三交點及一第二個第三交點所界定出的一時間區間作為該第六量測值。該等第三交點中的該第一個第三交點及一最後一個第三交點所界定出的一時間區間作為該第七量測值。步驟46、47之詳細方法與步驟31相似，於此不再贅述。

在步驟48中，該測試模組2判斷該第六量測值是否大於一第四預設值。當判斷為是時，流程進行步驟49；當判斷為否時，流程進行步驟51。該第四預設值相關於該第七量測值。在本實施例中，該測試模組2將該第七量測值乘以另一第三調整百分數，以獲得該第四預設值，該另一第三調整百分數為10%。

在步驟49中，該測試模組2根據該第三待測波形，產生一具有一第三信號抖動範圍的第三波形輸出，並據以產生一第三測試報告。需說明的是，在其他實施例中，在步驟49與結束之間還具有與步驟34相似之操作，以將該第三待測波形與至少一個新第三待測波形進行波形累加，以產生一具有一新第三信號抖動範圍的新第二波形輸出，並據以產生一新第三測試報告。

在步驟50中，該測試模組2調降該第二觸發電壓，以產生一第四觸發電壓，且將該第四觸發電壓作為步驟40的該第二觸發電壓，並重新進行步驟40、步驟41、步驟42，在本實施例中，該測試模組2是依照與步驟39雷同的方式來調降並更新該第二觸發電壓，也就是說，該測試模組2將調整前的該第二調整百分數乘以該調降比例以作為新的該第二調整百分數，其中，0%＜該調降比例＜100%，例如，該調降比例固定為50%，而調整前的該第二調整百分數為25%，則新的該第二調整百分數等於調整前的該第二調整百分數(25%)乘以該調降比例(50%)，也就是說，新的該第二調整百分數為12.5%，而步驟50的該第二觸發電壓(即，該第四觸發電壓) 等於該輸入電壓乘以12.5%，但不限於此。在另一實施例中，該第二觸發電壓等於調整前的該第二調整百分數減去該調降比例後所得的結果再乘上該輸入電壓，例如，該調降比例固定為30%，則該第二觸發電壓等於該輸入電壓乘以20%，其中，0%＜該調降比例＜該預設百分數，但不限於此。

在步驟51中，該測試模組2調升該另一第一調整百分數，以產生一新第一調整百分數，且將該新第一調整百分數作為步驟45的該另一第一調整百分數，並重新進行步驟45、步驟46、步驟47、步驟48，在本實施例中，該測試模組2調升該另一第一調整百分數，進而產生大於調整前的該第三觸發電壓的新的該第三觸發電壓，詳細而言，該測試模組2將調整前的該另一調整百分數乘以該調升比例後所得的結果再加上該預設百分數，作為新的該另一第一調整百分數，以調升當下的該第三觸發電壓，例如，該預設百分數固定為，該預設百分數固定為50%，而調整前的該另一調整百分數為75%，其中，0%＜該調升比例＜該預設百分數，則新的該另一第一調整百分數等於87.5%(即，50%+75%*50%)；若該調整前的該另一調整百分數為87.5%，則該新的該另一調整百分數為93.75%，依此類推，進一步而言，新的該第三觸發電壓等於調整前的該第三觸發電壓乘以新的該另一第一調整百分數，也就是說，該新的第三觸發電壓也會因為新的該另一第一調整百分數被調升而連帶的調升，但不限於此。

綜上所述，本發明信號抖動自動量測方法利用該測試模組2取得正確對應該第二待測信號之該等波形中的一者的一完整正半波波形的一目標觸發電壓（即，該預設觸發電壓或該第二觸發電壓或該第三觸發電壓），並根據該目標觸發電壓與該第二待測波形的一起始交點及該半個週期時間所對應的最後一個交點，來擷取正確的該半個週期時間的該完整正半波波形作為該待測波形/該第二待測波形/該第三待測波形（即，單一完整正半波形的量測結果），並據以產生該第一測試報告/該第二測試報告/該第三測試報告（即，分析所擷取的該待測波形/該第二待測波形/該第三待測波形的高電壓的高電位穩定範圍及抖動範圍作為量測值，並記錄此量測結果及量測值以產生此測試報告），如此一來，本發明信號抖動自動量測方法具有全自動化訊號抖動量測之功效，且可避免測試人員花費一段時間調整現有技術之該信號量測器的各項參數以進行量測後卻發現量測值錯誤、並根據錯誤的波形圖產生錯誤的測試報告。

惟以上所述者，僅為本發明的實施例而已，當不能以此限定本發明實施的範圍，凡是依本發明申請專利範圍及專利說明書內容所作的簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋的範圍內。

10:待測物

1:信號採集模組

2:測試模組

30~51:步驟

M1、M2:寬度

P1~P4:交點

t:時間軸

T:週期時間

Ts:第一待測信號

本發明的其他的特徵及功效，將於參照圖式的實施方式中清楚地呈現，其中： 圖1是一方塊圖，說明執行本發明信號抖動自動量測方法之一實施例的一測試系統； 圖2至圖4是流程圖，說明該實施例的該信號抖動自動量測方法；及 圖5是一波形圖，說明該實施例的一待測波形的一正半週期。

30~39:步驟

Claims (10)

1. 一種信號抖動自動量測方法，由一包含一信號採集模組及一測試模組的測試系統執行，用於量測一待測物根據一輸入電壓運作而輸出的一第一待測信號，該信號抖動自動量測方法包含以下步驟：(A)利用該信號採集模組根據一預設傳輸格式轉換該第一待測信號，以獲取一第二待測信號並輸出至該測試模組；(B)利用該測試模組根據一預設觸發電壓及一預設標準波形的一半個週期時間，分析該第二待測信號，以獲得一待測波形，並自該待測波形取得一第一量測值，及一第二量測值，該預設觸發電壓與該待測波形於該半個週期時間具有多個交點，該等交點中的一第一個交點及一第二個交點所界定出的一時間區間作為該第一量測值，該等交點中的該第一個交點及一最後一個交點所界定出的一時間區間作為該第二量測值，該預設觸發電壓相關於該輸入電壓；(C)利用該測試模組判斷該第一量測值是否大於一第一預設值，該第一預設值相關於該第二量測值；及(D)當步驟(C)判斷為是時，利用該測試模組根據該待測波形，產生一具有一第一信號抖動範圍的第一波形輸出，並據以產生一第一測試報告。
2. 如請求項1所述的信號抖動自動量測方法，在步驟(D)後，還包含以下步驟： (E)利用該測試模組根據該預設觸發電壓及該半個週期時間，分析該第二待測信號，以獲得至少一個新待測波形，並將該待測波形與該至少一個新待測波形進行波形累加，以產生一具有一新第一信號抖動範圍的新第一波形輸出，並據以產生一新第一測試報告，該至少一個新待測波形是在獲得該待測波形之後才取得。
3. 如請求項1所述的信號抖動自動量測方法，其中，該預設觸發電壓為該輸入電壓的一半，該第一預設值為該第二量測值乘以一檢測百分數，該檢測百分數為10%。
4. 如請求項1所述的信號抖動自動量測方法，其中，當步驟(C)判斷為否時，還包含以下步驟：(F)利用該測試模組調升該預設觸發電壓，以產生一第一觸發電壓；(G)利用該測試模組根據該第一觸發電壓及該半個週期時間，分析該第二待測信號，以獲得一第一待測波形，並自該第一待測波形取得一第三量測值，該第一觸發電壓與該第一待測波形於該半個週期時間具有多個第一交點，該等第一交點中的一第一個第一交點及一第二個第一交點所界定出的一時間區間作為該第三量測值；(H)利用該測試模組判斷該第三量測值是否小於該第一量測值；(I)當步驟(H)判斷為是時，利用該測試模組調降該第一觸發電壓，以產生一第二觸發電壓；(J)利用該測試模組根據該第二觸發電壓及該半個 週期時間，分析該第二待測信號，以獲取一第二待測波形；(K)利用該測試模組根據該第二觸發電壓與該第二待測波形，獲得一第四量測值，及一第五量測值，該第二觸發電壓與該第二待測波形於該半個週期時間具有多個第二交點，該等第二交點中的一第一個第二交點及一第二個第二交點所界定出的一時間區間作為該第四量測值，該等第二交點中的該第一個第二交點及一最後一個第二交點所界定出的一時間區間作為該第五量測值；(L)利用該測試模組判斷該第四量測值是否大於一第二預設值，該第二預設值相關於該第五量測值；及(M)當步驟(L)判斷為是時，利用該測試模組根據該第二待測波形，產生一具有一第二信號抖動範圍之第二波形輸出，並據以產生一第二測試報告。
5. 如請求項4所述的信號抖動自動量測方法，其中，該測試模組將該輸入電壓乘以一第一調整百分數，以產生該第一觸發電壓，將該輸入電壓乘以一第二調整百分數，以產生該第二觸發電壓，將該第五量測值乘以一第三調整百分數，以獲得該第二預設值，該第一調整百分數為51%，該第二調整百分數為25%，該第三調整百分數為10%。
6. 如請求項4所述的信號抖動自動量測方法，其中，當步驟(L)判斷為否時，還包含以下步驟：(N)利用該測試模組判斷該第二觸發電壓是否小於 一第三預設值，該第三預設值相關於該輸入電壓且遠小於該預設觸發電壓；(O)當步驟(N)判斷為是時，利用該測試模組根據該輸入電壓及另一第一調整百分數，產生一第三觸發電壓，該第三觸發電壓大於該預設觸發電壓；(P)利用該測試模組根據該第三觸發電壓及該半個週期時間，分析該第二待測信號，以獲取一第三待測波形；(Q)利用該測試模組根據該第三觸發電壓與該第三待測波形，獲得一第六量測值，及一第七量測值，該第三觸發電壓與該第三待測波形於該半個週期時間具有多個第三交點，該等第三交點中的一第一個第三交點及一第二個第三交點所界定出的一時間區間作為該第六量測值，該等第三交點中的該第一個第三交點及一最後一個第三交點所界定出的一時間區間作為該第七量測值；(R)利用該測試模組判斷該第六量測值是否大於一第四預設值，該第四預設值相關於該第七量測值；及(S)當步驟(R)判斷為是時，利用該測試模組根據該第三待測波形，產生一具有一第三信號抖動範圍之第三波形輸出，並據以產生一第三測試報告。
7. 如請求項6所述的信號抖動自動量測方法，其中，當步驟(N)判斷為否時，利用該測試模組將步驟(I)所產生的該第二觸發電壓調降，以產生一第四觸發電壓，且將該第四觸發電壓作為步驟(J)的該第二觸發電壓，並重新進行步 驟(J)、步驟(K)、步驟(L)。
8. 如請求項6所述的信號抖動自動量測方法，其中，當步驟(R)判斷為否時，利用該測試模組將步驟(O)的該第一調整百分數調升，以產生一新第一調整百分數，且將該新第一調整百分數作為步驟(O)的該另一第一調整百分數，並重新進行步驟(O)、步驟(P)、步驟(Q)、步驟(R)。
9. 如請求項6所述的信號抖動自動量測方法，其中，該測試模組將該輸入電壓乘以另一第二調整百分數，以獲得該第三預設值，該另一第二調整百分數為1%。
10. 如請求項9所述的信號抖動自動量測方法，其中，該測試模組將該第七量測值乘以另一第三調整百分數，以獲得該第四預設值，該另一第三調整百分數為10%。

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