TWI822319B

TWI822319B - 設定方法及測試機

Info

Publication number: TWI822319B
Application number: TW111134188A
Authority: TW
Inventors: 黃軍衛; 黃煜斌; 王耀南
Original assignee: 致茂電子股份有限公司
Priority date: 2022-09-08
Filing date: 2022-09-08
Publication date: 2023-11-11
Also published as: TW202411682A

Abstract

一種設定方法，其包含後續步驟。控制測試機以將測試機之腳位設定為第一狀態，俾以讀取功能模組之第一狀態資料。控制測試機以將測試機之腳位設定為第二狀態，俾以讀取功能模組之第二狀態資料。若第一狀態資料等於第二狀態資料，根據第一狀態資料以控制測試機對功能模組進行設定。若第一狀態資料不等於第二狀態資料，根據第一狀態資料及第二狀態資料以控制測試機對功能模組進行設定。

Description

設定方法及測試機

本案係有關於一種設定方法及測試機，且特別是有關於一種兼容舊有模組與新模組之設定方法及測試機。

高容量電容器、鋰電池、其他電容器、各種電感器…等等產品，在做可靠度或壽命測試時，經常需要大範圍的測試條件以測試各種狀態。早期的設備，多是每個規格個別獨立，當需要做大範圍測試時，需要更換多個不同規格模組，每個模組都有自己的位置編號，因而經常發生編號不敷使用之情狀。

倘若因編號不敷使用而更換模組，於更換完模組後，還要對控制主機做更換模組後的參數設定，如果設定錯誤或未設定，則會造成輸出錯誤，從而導致錯誤的測試結果。

現有的模組架構，每個規格使用一個型號，因此，既有硬體已限制了型號數量，且每個型號只有一種規格，限制了客戶可用範圍，間接影響客戶採購意願。倘若客戶更換不同規格模組，需要重新設定參數。再者，市面上沒有適當的設備，有這類廣範圍的功能模組。如上所述，現有的模組架構存在諸多不便與限制，有待業界研發出新的模組架構予以解決。

本案內容之一技術態樣係關於一種設定方法，此設定方法包含後續步驟。控制測試機以將測試機之腳位設定為第一狀態，俾以讀取功能模組之第一狀態資料；控制測試機以將測試機之腳位設定為第二狀態，俾以讀取功能模組之第二狀態資料；若第一狀態資料等於第二狀態資料，根據第一狀態資料以控制測試機對功能模組進行設定；以及若第一狀態資料不等於第二狀態資料，根據第一狀態資料及第二狀態資料以控制測試機對功能模組進行設定。

本案內容之另一技術態樣係關於一種測試機，此測試機包含記憶體以及處理器。記憶體用以儲存複數個指令。處理器用以讀取該些指令，並執行後續步驟。控制測試機以將測試機之腳位設定為第一狀態，俾以讀取功能模組之第一狀態資料；控制測試機以將測試機之腳位設定為第二狀態，俾以讀取功能模組之第二狀態資料；若第一狀態資料等於第二狀態資料，根據第一狀態資料以控制測試機對功能模組進行設定；以及若第一狀態資料不等於第二狀態資料，根據第一狀態資料及第二狀態資料以控制測試機對功能模組進行設定。

因此，根據本案之技術內容，本案實施例所示之設定方法及測試機可同時辨別舊有之模組以及新的模組，如此一來，使用者除可採用本案實施例所示之設定方法及測試機來進行舊有模組之測試，亦可對新的模組進行設定。

為了使本揭示內容的敘述更加詳盡與完備，下文針對了本案的實施態樣與具體實施例提出了說明性的描述；但這並非實施或運用本案具體實施例的唯一形式。實施方式中涵蓋了多個具體實施例的特徵以及用以建構與操作這些具體實施例的方法步驟與其順序。然而，亦可利用其他具體實施例來達成相同或均等的功能與步驟順序。

除非本說明書另有定義，此處所用的科學與技術詞彙之含義與本案所屬技術領域中具有通常知識者所理解與慣用的意義相同。此外，在不和上下文衝突的情形下，本說明書所用的單數名詞涵蓋該名詞的複數型；而所用的複數名詞時亦涵蓋該名詞的單數型。

另外，關於本文中所使用之「耦接」，可指二或多個元件相互直接作實體或電性接觸，或是相互間接作實體或電性接觸，亦可指二或多個元件相互操作或動作。

第1圖係依照本揭露一實施例繪示一種測試機100的示意圖。如圖所示，測試機100包含記憶體110以及處理器120。記憶體110耦接於處理器120。記憶體110用以儲存複數個指令。處理器120用以讀取該些指令，並執行第2圖所示之設定方法200的步驟。

在一些實施例中，記憶體110可包含但不限於快閃(flash)記憶體、硬碟(HDD)、固態硬碟(SSD)、動態隨機存取記憶體(DRAM)或靜態隨機存取記憶體(SRAM)。在一些實施例中，記憶體110作為一種非暫態電腦可讀取媒體，儲存了複數個電腦可執行指令，上述電腦可執行指令關聯於一種設定方法200。

在一些實施例中，處理器120可包含但不限於單一處理器以及多個微處理器之集成，例如，中央處理器(CPU)或繪圖處理器(GPU)等。上述(微)處理器120電性耦接於記憶體110，藉此，處理器120可自記憶體110存取電腦可執行指令，並依據電腦可執行指令執行特定應用程序，藉以實施前述設定方法200。為了更佳地理解測試機100以及設定方法200，其詳細步驟將於下面段落中解釋之。

請一併參閱第1圖與第2圖，於步驟210中，測試機100之處理器120可用以控制測試機100以將測試機100之腳位131設定為第一狀態，俾以讀取功能模組500之第一狀態資料。舉例而言，測試機100之腳位131可為測試機100上的danger pin，但本案不以此為限。上述腳位131可被設定為1，一旦腳位131被設定為1，則腳位131可被用以讀取功能模組500之模組型號(Module)。在一實施例中，功能模組500包含狀態電路510，測試機100之處理器120可透過腳位131以讀取功能模組500的狀態電路510之模組型號(Module)。

於步驟220中，處理器120用以控制測試機100以將測試機100之腳位131設定為第二狀態，俾以讀取功能模組500之第二狀態資料。舉例而言，腳位131可被設定為0，一旦腳位131被設定為0，則腳位131可用以讀取功能模組500之模組額定輸出(Rating)。需說明的是，腳位131不以設定為0或1為限，本案亦可依據實際需求而設定適當之腳位131的參數。在一實施例中，測試機100之處理器120可透過腳位131以讀取功能模組500的狀態電路510之模組額定輸出(Rating)。

於步驟230中，若第一狀態資料等於第二狀態資料，處理器120根據第一狀態資料以控制測試機100對功能模組500進行設定。舉例而言，若功能模組500之模組型號(Module)等於功能模組500之模組額定輸出(Rating)，此時，處理器120會依據單階編碼之模組型號(Module)來控制測試機100以對功能模組500進行設定。倘若單階編碼之模組型號(Module)對應於舊有的模組，則本案可採用舊有的模組以對功能模組500進行設定。

於步驟240，若第一狀態資料不等於第二狀態資料，處理器120根據第一狀態資料及第二狀態資料以控制測試機100對功能模組500進行設定。舉例而言，若功能模組500之模組型號(Module)不等於功能模組500之模組額定輸出(Rating)，此時，處理器120會依據二階編碼之模組型號(Module)以及模組額定輸出(Rating)一併來控制測試機100以對功能模組500進行設定。倘若二階編碼之模組型號(Module) 及模組額定輸出(Rating)可對應於新模組，則本案更可採用新模組以對功能模組500進行設定。

如上所示，本案之測試機100及設定方法200可提供單階位置型號(Module)之辨識，亦可提供二階模組額定輸出(Rating)範圍辨識。再者，本案之測試機100及設定方法200可提供經由二階模組額定輸出(Rating)辨識所組成的測試結果參數，亦可於自動辨識型號(Module)及模組額定輸出(Rating)後，依據所辨識之組合規格，自動調整其輸出參數，藉以避免人為操作錯誤。

此外，由於本案之測試機100及設定方法200可依據判別結果而分別提供單階編碼(舊模組)以及二階編碼(新模組)之模式來對功能模組500進行設定，因此，本案之測試機100及設定方法200可兼容舊模組之模式以及新模組之模式，十分便於使用者擴展測試產品規格範圍。

在一實施例中，處理器120更用以於測試機100之腳位131設定第一狀態時，透過複數個識別腳133、135、137以讀取功能模組500之第一狀態資料。舉例而言，測試機100可透過多個識別腳133、135、137與功能模組500連接，然本案不以第1圖所示之3個識別腳為限，本案亦可依據實際需求而設定適當之識別腳數量。當測試機100之腳位131設定為1時，處理器120可透過識別腳133、135、137以讀取功能模組500之模組型號(Module)。在一實施例中，測試機100之處理器120可透過識別腳133、135、137以讀取功能模組500的狀態電路510之模組型號(Module)。本案可藉由識別腳來讀取多位元編碼資料，若以識別腳133、135、137為例，本案可讀取到3位元編碼資料，然本案不以此為限，本案亦可依據實際需求而設定適當之識別腳數量以讀取所需之多位元編碼資料。

在一實施例中，處理器120更用以於測試機100之腳位131設定為第二狀態時，透過識別腳133、135、137以讀取功能模組500之第二狀態資料。舉例而言，測試機100可透過多個識別腳133、135、137與功能模組500連接，然本案不以第1圖所示之3個識別腳為限，本案亦可依據實際需求而設定適當之識別腳數量。當測試機100之腳位131設定為0時，處理器120可透過識別腳133、135、137以讀取功能模組500之模組額定輸出(Rating)。在一實施例中，測試機100之處理器120可透過識別腳133、135、137以讀取功能模組500的狀態電路510之模組額定輸出(Rating)。本案可藉由識別腳來讀取多模組設定資料，例如本案可讀取到發光二極體設定資料、可编程增益放大器（Programmable Gain Amplifier， PGA）設定資料等等，然本案不以此為限，本案亦可依據實際需求而讀取到它種設定資料。

在一實施例中，請參閱第1圖與第2圖，當功能模組500依照前述設定方法200被設定完成後，功能模組500可透過其測試電路520以測試待測模組600。在另一實施例中，待測模組600可為電池測試模組，例如100伏特(V)之電池測試模組、200伏特(V)之電池測試模組…等等。此外，功能模組500亦可為電容器測試模組、電感器測試模組…等等電子元件，然本案不以此為限。

為使本案之設定方法易於理解，請參閱第3圖，第3圖係依照本揭露另一實施例繪示一種設定方法300之流程示意圖。

請一併參閱第1圖與第3圖，於設定方法300開始執行後，如步驟310所示，先由處理器120設定測試機100之腳位131為1。接著，於步驟320中，若腳位131設定為1，則處理器120讀取功能模組500之模組型號(Module)。在一實施例中，功能模組500之模組型號(Module)列表如後。

表1

Module
Danger	A2	A1	A0
1	0	0	0
1	0	0	1
1	0	1	0
1	0	1	1
1	1	0	0
1	1	0	1
1	1	1	0
1	1	1	1

如表1所示，Danger欄位表示測試機100之腳位131所設定的值。倘若Danger欄位為1，表示測試機100之腳位131被設定為1，此時，處理器120讀取功能模組500之模組型號(Module)。

請參閱第1圖與表1，處理器120更用以於測試機100之腳位131設定為1時，透過複數個識別腳133、135、137以讀取功能模組500之模組型號(Module)，由識別腳133、135、137所讀取到的資料分別為A0、A1、A2，所有功能模組500之模組型號(Module)為表1中所示之000、001、010、011、100、101、110、111等8個型號，然本案不以此為限，本案亦可依據實際需求以設定合適的模組型號(Module)數量。

隨後，請繼續參閱第3圖，如步驟330所示，由處理器120設定測試機100之腳位131為0。接著，於步驟340中，若腳位131設定為0，則處理器120讀取功能模組500之模組額定輸出值(Rating)。在一實施例中，功能模組500之模組額定輸出值(Rating) 列表如後。

表2

Rating
Danger=0	A2	A1	A0	LED	PGA206
H1	H2	M1	M2	L1	L2	V_A1	V_A0	I_A1	I_A0
HV range	0	1	1	0	0	1	1	1	1	0	0	1	0
Medium range	1	0	1	1	1	0	0	1	1	0	1	1	1
LV range	1	1	0	1	1	1	1	0	0	1	0	0	0

如表2所示，Danger欄位表示測試機100之腳位131所設定的值，倘若Danger欄位為0，表示測試機100之腳位131被設定為0，此時，處理器120讀取功能模組500之模組額定輸出值(Rating)。

於步驟350中，處理器120判斷模組型號(Module)是否等於模組額定輸出值(Rating)。倘若模組型號(Module)等於模組額定輸出值(Rating)，代表較為可能是舊模組，此時，執行步驟360，採用單階編碼之模組型號(Module)，以對功能模組500進行設定。

另一方面，倘若模組型號(Module)不等於模組額定輸出值(Rating)，代表較為可能是新模組，此時，執行步驟370，採用二階編碼之模組型號(Module) 及模組額定輸出(Rating)，以對功能模組500進行設定。請參閱表2，本案可根據模組額定輸出值(Rating)以適應性地對功能模組500進行設定及相關控制，例如以模組額定輸出值(Rating)中的發光二極體(LED)相關參數來對功能模組500進行設定及相關控制，抑或以模組額定輸出值(Rating)中的可程式化邏輯閘陣列(PGA206)相關參數來對功能模組500進行設定及相關控制。

由上述本案實施方式可知，應用本案具有下列優點。本案實施例所示之設定方法及測試機可同時辨別舊有之模組以及新的模組，如此一來，使用者除可採用本案實施例所示之設定方法及測試機來進行舊有模組之測試，亦可對新的模組進行設定。

雖然上文實施方式中揭露了本案的具體實施例，然其並非用以限定本案，本案所屬技術領域中具有通常知識者，在不悖離本案之原理與精神的情形下，當可對其進行各種更動與修飾，因此本案之保護範圍當以附隨申請專利範圍所界定者為準。

100:測試機 110:記憶體 120:處理器 200:方法 210~240:步驟 300:方法 310~370:步驟 500:功能模組 510:狀態電路 520:測試電路 600:待測模組

為讓本揭露之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂，所附圖式之說明如下：第1圖係依照本揭露一實施例繪示一種測試機的示意圖。第2圖係依照本揭露一實施例繪示一種設定方法之流程示意圖。第3圖係依照本揭露一實施例繪示一種設定方法之流程示意圖。根據慣常的作業方式，圖中各種特徵與元件並未依比例繪製，其繪製方式是為了以最佳的方式呈現與本揭露相關的具體特徵與元件。此外，在不同圖式間，以相同或相似的元件符號來指稱相似的元件/部件。

國內寄存資訊(請依寄存機構、日期、號碼順序註記) 無國外寄存資訊(請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記) 無

200:設定方法

210~240:步驟

Claims

一種設定方法，包含以下步驟：控制一測試機以將該測試機之一腳位設定為一第一狀態，俾以讀取一功能模組之一第一狀態資料；控制該測試機以將該測試機之該腳位設定為一第二狀態，俾以讀取該功能模組之一第二狀態資料；判斷該第一狀態資料是否等於該第二狀態資料；若該第一狀態資料等於該第二狀態資料，根據該第一狀態資料以控制該測試機對該功能模組進行設定；以及若該第一狀態資料不等於該第二狀態資料，根據該第一狀態資料及該第二狀態資料以控制該測試機對該功能模組進行設定。
如請求項1所述之設定方法，其中控制該測試機以將該測試機之該腳位設定為該第一狀態，俾以讀取該功能模組之該第一狀態資料的步驟包含：於該測試機之該腳位設定為該第一狀態時，透過複數個識別腳以讀取功能模組之該第一狀態資料。
如請求項2所述之設定方法，其中控制該測試機以將該測試機之該腳位設定為該第二狀態，俾以讀取該功能模組之該第二狀態資料的步驟包含：於該測試機之該腳位設定為該第二狀態時，透過該些識別腳以讀取功能模組之該第二狀態資料。
如請求項1至3任一者所述之設定方法，其中該功能模組之該第一狀態資料包含一模組型號，且該功能模組之該第二狀態資料包含一模組額定輸出值。
如請求項1至3任一者所述之設定方法，其中該功能模組之該第一狀態資料包含一多位元編碼資料，且該功能模組之該第二狀態資料包含一多模組設定資料。
一種測試機，包含：一記憶體，用以儲存複數個指令；以及一處理器，用以讀取該些指令，並執行以下步驟：控制該測試機以將該測試機之一腳位設定為一第一狀態，俾以讀取一功能模組之一第一狀態資料；控制該測試機以將該測試機之該腳位設定為一第二狀態，俾以讀取該功能模組之一第二狀態資料；判斷該第一狀態資料是否等於該第二狀態資料；若該第一狀態資料等於該第二狀態資料，根據該第一狀態資料以控制該測試機對該功能模組進行設定；以及若該第一狀態資料不等於該第二狀態資料，根據該第一狀態資料及該第二狀態資料以控制該測試機對該功能模組進行設定。
如請求項6所述之測試機，其中該處理器更用以於該測試機之該腳位設定為該第一狀態時，透過複數個識別腳以讀取功能模組之該第一狀態資料。
如請求項7所述之測試機，其中該處理器更用以於該測試機之該腳位設定為該第二狀態時，透過該些識別腳以讀取功能模組之該第二狀態資料。
如請求項6至8任一者所述之測試機，其中該功能模組之該第一狀態資料包含一模組型號，且該功能模組之該第二狀態資料包含一模組額定輸出值。
如請求項6至8任一者所述之測試機，其中該功能模組之該第一狀態資料包含一多位元編碼資料，且該功能模組之該第二狀態資料包含一多模組設定資料。